專利名稱：光盤缺陷管理區(qū)信息的驗(yàn)證方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光盤記錄和重現(xiàn)技術(shù)，更具體地說，是涉及一種驗(yàn)證(verifying)可記錄和可重現(xiàn)光盤的缺陷管理區(qū)信息的方法。
數(shù)字多功能光盤-隨機(jī)存儲(chǔ)存儲(chǔ)器(DVD-RAM)光盤具有缺陷管理功能，即用正常的可記錄的區(qū)替換有缺陷的區(qū)，并將管理缺陷區(qū)(defective area)所必需的信息存儲(chǔ)在被稱為缺陷管理區(qū)(DMA)的部分。DMA被重復(fù)地記錄在光盤的四個(gè)部分中兩個(gè)部分在導(dǎo)入?yún)^(qū)，兩個(gè)部分在導(dǎo)出區(qū)。DMA信息包括光盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)、主缺陷列表(PLD)和次缺陷列表(SLD)。
DMA信息除了缺陷信息之外，還包括備用區(qū)信息和每一區(qū)域(zone)的起始邏輯扇區(qū)號(hào)(start logical sector number)的重要信息，而該DMA信息是在光盤初始化時(shí)或在光盤使用中所執(zhí)行的確認(rèn)(certification)中檢測出來的。
包含在DMA中的某些信息可以被立即讀取和使用。另一方面，DMA包括隨光盤上的位置和缺陷的數(shù)量而變化的信息。即，根據(jù)登記在DMA中的缺陷信息的給定的算法，僅通過執(zhí)行復(fù)雜的計(jì)算就能獲得例如每一區(qū)域起始邏輯扇區(qū)數(shù)的位置信息或第一邏輯扇區(qū)號(hào)的位置信息的某些信息。
因?yàn)檫@種DMA信息與物理數(shù)據(jù)記錄位置密切相關(guān)，所以當(dāng)DMA信息錯(cuò)誤時(shí)，對(duì)其可以在給定的記錄和重現(xiàn)裝置中使用的例如光盤的這種記錄介質(zhì)，即使該光盤上的DMA信息已經(jīng)在另一記錄和重現(xiàn)裝置中生成或更新，也不能與兩種記錄和重現(xiàn)裝置都兼容。為了克服這個(gè)問題，需要一種驗(yàn)證記錄和重現(xiàn)裝置從光盤正確地讀取了DMA信息并在光盤上正確地記錄了DMA信息的手段或方法。
為解決上述問題，本發(fā)明的第一個(gè)目的是提供一種驗(yàn)證方法，該驗(yàn)證方法用來驗(yàn)證光盤上的缺陷管理區(qū)(DMA)信息在光盤記錄和重現(xiàn)裝置中被正確地記錄和更新，該光盤記錄和重現(xiàn)裝置檢測光盤上的缺陷并將該缺陷信息記錄在DMA中。
本發(fā)明的第二個(gè)目的是提供一種驗(yàn)證方法，該方法用來驗(yàn)證光盤上的缺陷管理區(qū)(DMA)信息在用于可重復(fù)記錄和重現(xiàn)的DVD-RAM光盤的光盤記錄和重現(xiàn)裝置中被正確地記錄和更新，該光盤記錄和重現(xiàn)裝置檢測光盤上的缺陷并將該缺陷信息記錄在DMA中。
本發(fā)明的第三個(gè)目的是提供一種驗(yàn)證方法，該驗(yàn)證方法用來驗(yàn)證光記錄和重現(xiàn)裝置使用包含與實(shí)際缺陷無關(guān)的預(yù)定的缺陷信息的測試光盤，不受光盤有缺陷信息的實(shí)際狀態(tài)的影響，在相同的條件下總能正確讀取和處理缺陷信息。
本發(fā)明另外的目的和優(yōu)點(diǎn)的一部分將在下文的描述中給予闡述，一部分從下文的描述中明顯可以看出，或從本發(fā)明的應(yīng)用中得出。
為實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的上述和其它目的，本發(fā)明提供了一種驗(yàn)證在向具有DMA信息的光盤記錄信息或從具有DMA信息的光盤重現(xiàn)信息記錄和重現(xiàn)裝置中，在測試模式下執(zhí)行了測試DMA信息生成和更新的處理后，DMA信息被正確地生成或更新的方法。該方法包括讀取生成的或被更新的DMA信息，通過使用用于測試模式的預(yù)先設(shè)定的參考DMA信息驗(yàn)證生成的或更新的DMA信息，并提供驗(yàn)證的結(jié)果。
通過參考附圖對(duì)實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)描述，本發(fā)明的上述目的和優(yōu)點(diǎn)將變得更清楚，其中
圖1是表示為驗(yàn)證缺陷管理區(qū)(DMA)的結(jié)構(gòu)所安排的檢查項(xiàng)目表；圖2是表示為驗(yàn)證光盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)所安排的檢查項(xiàng)目表；圖3是表示為驗(yàn)證主缺陷列表(PDL)的結(jié)構(gòu)所安排的檢查項(xiàng)目表；圖4是表示為驗(yàn)證次缺陷列表(SDL)的結(jié)構(gòu)所安排的檢查項(xiàng)目表；圖5A至5D是根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的一種驗(yàn)證DMA信息的方法的流程圖。
詳細(xì)參照本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例，說明附圖中的示例，其中相同的數(shù)字標(biāo)號(hào)在全文中指相同的部件。通過參照附圖對(duì)本發(fā)明的實(shí)施例進(jìn)行描述以對(duì)本發(fā)明進(jìn)行說明。
本發(fā)明中所用的光盤是具有4.7千兆字節(jié)(GB)容量的相位變化記錄DVD-RAM光盤。DVD-RAM光盤在“2.0版可重寫光盤DVD規(guī)范”中定義。
對(duì)于DVD-RAM光盤的情況，假設(shè)每一缺陷管理處理是由驅(qū)動(dòng)器執(zhí)行的，這使得文件系統(tǒng)或主機(jī)接口能夠記錄或重現(xiàn)不含有與物理缺陷管理相關(guān)的信息的文件。因此，大多數(shù)驅(qū)動(dòng)器不能在缺陷管理區(qū)(DMA)中記錄信息或重現(xiàn)信息，此外，大多數(shù)驅(qū)動(dòng)器沒有提供用于在缺陷管理區(qū)(DMA)中記錄信息或重現(xiàn)信息的標(biāo)準(zhǔn)命令。但是，必須通過這樣的方法準(zhǔn)備一種環(huán)境，即，數(shù)據(jù)能夠由能對(duì)DMA進(jìn)行分析信息的計(jì)算機(jī)讀取，以確定DMA信息是否被正確地形成，并且必須能夠在對(duì)應(yīng)的DMA中準(zhǔn)確地記錄信息以形成標(biāo)準(zhǔn)測試光盤。
這里，DVD-RAM記錄和重現(xiàn)裝置的記錄和重現(xiàn)結(jié)構(gòu)被分為文件系統(tǒng)層、用于主計(jì)算機(jī)與記錄和重現(xiàn)裝置接口的主機(jī)接口層、用于記錄和重現(xiàn)物理信號(hào)的物理驅(qū)動(dòng)層和記錄介質(zhì)層。光盤的物理扇區(qū)數(shù)由記錄介質(zhì)和物理驅(qū)動(dòng)分配，光盤的邏輯扇區(qū)數(shù)由主機(jī)接口和文件系統(tǒng)分配。因此，DMA信息的寫入和讀取是在物理驅(qū)動(dòng)層和其以下的層執(zhí)行的。
但是，當(dāng)用戶數(shù)據(jù)實(shí)際上由文件系統(tǒng)記錄時(shí)，僅使用邏輯扇區(qū)號(hào)將用戶數(shù)據(jù)傳輸?shù)接涗浐椭噩F(xiàn)裝置，并且該記錄和重現(xiàn)裝置使用缺陷管理信息將邏輯扇區(qū)號(hào)變換為指示數(shù)據(jù)實(shí)際被記錄的位置的物理扇區(qū)號(hào)。因此，當(dāng)光盤中含有的缺陷管理信息在給定的記錄和重現(xiàn)裝置中被錯(cuò)誤地讀取和寫入時(shí)，在另一記錄和重現(xiàn)裝置中不能準(zhǔn)確地從光盤中讀取或向光盤寫入數(shù)據(jù)。
通過在不含信息的空盤上形成已知的物理缺陷所得到的第一測試光盤，被用于沒有確認(rèn)的初始化(initialization without certificate)和確認(rèn)的初始化中。通過將具有預(yù)定內(nèi)容的DMA和第一鏡像文件記錄在第一測試光盤上得到的第二光盤，被用于確認(rèn)的再初始化、第二缺陷列表(SDL)轉(zhuǎn)換的再初始化(reinitialization)和清除G2列表和SDL的再初始化中，該第一鏡像文件滿足補(bǔ)充備用區(qū)未滿的狀態(tài)。通過將具有預(yù)定內(nèi)容的DMA和第二鏡像文件記錄在第一測試光盤上得到的第三光盤，被用于驗(yàn)證補(bǔ)充備用區(qū)延伸的模式，該第二鏡像文件滿足具有足夠的SDL缺陷來填充補(bǔ)充備用區(qū)的狀態(tài)。通過將第三鏡像文件記錄在第一測試光盤上得到的第四光盤，被用于驗(yàn)證記錄是否是根據(jù)錯(cuò)誤的DMA信息執(zhí)行的模式，該第三鏡像文件滿足在預(yù)定的DMA內(nèi)容中每一區(qū)的起始邏輯扇區(qū)數(shù)故意錯(cuò)誤記錄的狀態(tài)。因此，驗(yàn)證在上述的每一模式下DMA信息是否被正確地生成或更新。SDL轉(zhuǎn)換的再初始化和清除G2列表和SDL的再初始化可以稱為沒有確認(rèn)的再初始化。在沒有確認(rèn)的再初始化中，可以使用第一測試光盤，即，沒有記錄數(shù)據(jù)的空盤。只要沒有“信息”記錄在第一測試光盤或第一測試光盤僅有“已知物理缺陷”，則第一測試光盤可以被認(rèn)為是空盤。
在上述的每一驗(yàn)證模式下，生成的或更新的DMA信息包含DMA結(jié)構(gòu)、光盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)、主缺陷列表(PLD)結(jié)構(gòu)和SDL結(jié)構(gòu)。
如圖1所示，用于驗(yàn)證DMA結(jié)構(gòu)的檢查項(xiàng)目包括DMA1至DMA4的錯(cuò)誤條件、在DDS1至DDS4中和在SDL1至SDL4中的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器、在SDL1至SDL4中的SDL更新計(jì)數(shù)器和DMA1至DMA4的內(nèi)容。
DMA項(xiàng)目的錯(cuò)誤條件是用于檢查在DMA中是否存在錯(cuò)誤，其中兩個(gè)DMA位于導(dǎo)入?yún)^(qū)，兩個(gè)DMA位于導(dǎo)出區(qū)。在DMA1、DMA2、DMA3和DMA4這四個(gè)DMA任何一個(gè)中，不能存在不可校正的錯(cuò)誤。如果在任何一個(gè)DMA中檢測出不可校正的錯(cuò)誤，則確定相關(guān)的驗(yàn)證失敗，并且需要使用新的測試光盤重新進(jìn)行測試。
為了驗(yàn)證在沒有確認(rèn)的初始化下的DDS/PDL和SDL更新計(jì)數(shù)器項(xiàng)目，檢查值“M+k，”和值k是否都為“0.”，值“M+k，”指示在DDS1、DDS2、DDS3和DDS4這四個(gè)DDS和SDL1、SDL2、SDL3和SDL4這四個(gè)SDL中的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值，值k指示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的增量，該增量表示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器“M”在測試前和測試后的差。此外，也檢查八個(gè)DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值是否相同。這里，每一DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值指示在DDS/PDL塊中執(zhí)行的更新和重寫的總的次數(shù)。每一DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值在初始化開始時(shí)必須設(shè)置為“0”，并當(dāng)DDS/PDL塊被更新或重寫時(shí)增加1。當(dāng)初始化完成時(shí)，DDS/PDL塊和SDL塊的更新計(jì)數(shù)器值必須相同。類似地，檢查值N和值k是否都為“0”，值N指示在SDL1、SDL2、SDL3和SDL這四個(gè)SDL中的SDL更新計(jì)數(shù)器的值，值k指示計(jì)數(shù)器的增量。此外，也檢查四個(gè)SDL更新計(jì)數(shù)器的值是否相同。
但是，因?yàn)樵跊]有確認(rèn)的初始化模式下DMA信息僅生成一次，所以不執(zhí)行更新。因此，DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器值必須設(shè)置為“0”，該“0”值是DMA信息第一次寫入時(shí)設(shè)定的。
在具有驗(yàn)證的初始化模式下，檢查值M是否為“0，”，值M指示在DDS1、DDS2、DDS3和DDS4這四個(gè)DDS以及在SDL1、SDL2、SDL3和SDL這四個(gè)SDL中的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值，并且檢查值k是否為“1.”，值k指示指示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的增量。此外，也檢查值“N+k”是否為“0，”及值k是否為“1.”，值“N+k”指示在SDL1、SDL2、SDL3和SDL這四個(gè)SDL中的SDL更新計(jì)數(shù)器的值，值k指示SDL更新計(jì)數(shù)器的增量，該增量表示SDL更新計(jì)數(shù)器“N”在測試前和測試后的差。并且檢查四個(gè)SDL更新計(jì)數(shù)器的值是否相同。
在用于檢測光盤上的缺陷的確認(rèn)開始之前，DMA的基本結(jié)構(gòu)被記錄。在DMA的DDS中的光盤確認(rèn)標(biāo)志中指示“在進(jìn)行中”的位的值設(shè)置為“1b”的狀態(tài)下，當(dāng)每一更新計(jì)數(shù)器的值設(shè)定為“0”時(shí)，確認(rèn)開始，“0”是當(dāng)確認(rèn)開始時(shí)的初始值。當(dāng)完成了確認(rèn)后，DMA由關(guān)于在DMA中的缺陷的記錄信息更新時(shí)，該更新計(jì)數(shù)器的值增加1。
在沒有確認(rèn)的再初始化的模式下，檢查值M是否為“原先的值”，值M指示在DDS1、DDS2、DDS3和DDS4這四個(gè)DDS和SDL1、SDL2、SDL3和SDL4這四個(gè)SDL中的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值，并檢查值k是否為“1.”，值k指示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的增量。“原先的值”是指在測試前的值‘M”。并且也檢查八個(gè)DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值是否相同。此外，檢查值N是否為“原先的值”，值N指示在SDL1、SDL2、SDL3和SDL這四個(gè)SDL中的SDL更新計(jì)數(shù)器的值，并且檢查值k是否為“1”，值k指示SDL更新計(jì)數(shù)器的增量?！霸鹊闹怠笔侵冈跍y試前的值‘N”。并且檢查四個(gè)SDL更新計(jì)數(shù)器的值是否相同。
在具有確認(rèn)的再初始化的模式下，檢查值M是否為“原先的值”，值M指示在DDS1、DDS2、DDS3和DDS4這四個(gè)DDS和SDL1、SDL2、SDL3和SDL4這四個(gè)SDL中的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值，并檢查值k是否為“2”，值k指示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的增量。并且也檢查八個(gè)DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值是否相同。此外，檢查值N是否為“原先的值”，值N指示在SDL1、SDL2、SDL3和SDL這四個(gè)SDL中的SDL更新計(jì)數(shù)器的值，并且檢查值k是否為“2”，值k指示SDL更新計(jì)數(shù)器的增量。并且檢查四個(gè)SDL更新計(jì)數(shù)器的值是否相同。
為了驗(yàn)證DMA的內(nèi)容，檢查DMA1、DMA2、DMA3和DMA4這四個(gè)DMA的內(nèi)容是否相同。
如圖2所示，用于驗(yàn)證DMA中的DDS的檢查項(xiàng)目包括DDS標(biāo)識(shí)符、光盤確認(rèn)標(biāo)志位、DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器、組數(shù)、區(qū)域數(shù)、主備用區(qū)的位置、第一邏輯扇區(qū)號(hào)(LSN0)的位置和每一區(qū)域的起始LSN等。
驗(yàn)證DDS標(biāo)識(shí)符為“0A0Ah”。檢查位位置b7的值是否為“0b”，位位置b7在一字節(jié)的光盤確認(rèn)標(biāo)志位中指示在進(jìn)行/未進(jìn)行。如果位位置b7的值為“0b”，指示格式化已經(jīng)完成。如果位位置b7的值為“1b”，指示格式化在進(jìn)行中。因此，當(dāng)位位置b7的值為“1b”，則指示格式化失敗。
此外，檢查在光盤確認(rèn)標(biāo)志位中的保留位位置b6至b2的值是否均為“0b”。檢查在光盤確認(rèn)標(biāo)志位中指示用戶確認(rèn)標(biāo)志的位位置b1值，在沒有確認(rèn)的初始化的模式下是否為“0b”，在確認(rèn)的初始化的模式、沒有確認(rèn)的再初始化的模式和確認(rèn)的再初始化的模式下是否為“1b”。也檢查在光盤確認(rèn)標(biāo)志位中指示光盤制造商確認(rèn)標(biāo)志的位位置b0值，在沒有確認(rèn)的初始化的模式和確認(rèn)的初始化的模式下是否為“0b”，在沒有確認(rèn)的再初始化的模式和確認(rèn)的再初始化的模式下是否為“1b”。
為了驗(yàn)證對(duì)應(yīng)的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器，檢查在沒有確認(rèn)的初始化的模式下，指示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值的值M和指示該計(jì)數(shù)器增量的值k是否均為“0”。在確認(rèn)的初始化的模式下，檢查指示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值的值M是否為“0”，并檢查指示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的增量的值k是否為“1”。在沒有確認(rèn)的再初始化的模式下，檢查指示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值的值M是否為“原先的值”，并檢查指示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的增量的值k是否為“1”。在確認(rèn)的再初始化的模式下，檢查指示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值的值M是否為“原先的值”，并檢查指示該計(jì)數(shù)器的增量的值k是否為“2”。
還檢查組的數(shù)量值是否為“0001h”,“0001h”指示組的數(shù)量是1，并檢查區(qū)的數(shù)量值是否為“0023h”,“0023h”指示區(qū)的數(shù)量是35。為了驗(yàn)證主備用區(qū)的位置，檢查主備用區(qū)的第一扇區(qū)號(hào)是否為“031000h”及主備用區(qū)的最后一個(gè)扇區(qū)號(hào)是否為“0341FFh”。
在沒有確認(rèn)的初始化的模式下，檢查LSN0的位置是否為指示沒有缺陷的預(yù)定的邏輯扇區(qū)號(hào)，并在確認(rèn)的初始化的模式、在沒有確認(rèn)的再初始化的模式和確認(rèn)的再初始化的模式下，根據(jù)登記在PDL中的缺陷數(shù)量被確定。
在沒有確認(rèn)的初始化的模式下，檢查每一區(qū)的起始LSN，即第二區(qū)-區(qū)1至第35區(qū)-區(qū)34的每一起始LSN是否為指示沒有缺陷的預(yù)定的邏輯扇區(qū)號(hào)，并在確認(rèn)的初始化的模式、在沒有確認(rèn)的再初始化的模式和確認(rèn)的再初始化的模式下，根據(jù)登記在PDL中的缺陷數(shù)量被確定。這里，關(guān)于第一測試光盤上所有的缺陷扇區(qū)的信息應(yīng)該登記在PDL中以驗(yàn)證PDL結(jié)構(gòu)是否正確及被檢測的驅(qū)動(dòng)器是否能正常地檢測缺陷。
在驗(yàn)證記錄是否是根據(jù)錯(cuò)誤的DMA信息執(zhí)行的模式下，每一區(qū)的起始LSN故意被錯(cuò)誤地記錄。
檢查DDS結(jié)構(gòu)中剩下的保留區(qū)(字節(jié)位置396至2047)是否都為“00h”。
如圖3所示，用于驗(yàn)證DMA中的PDL結(jié)構(gòu)的檢查項(xiàng)目包括PDL標(biāo)識(shí)符、PDL中的條目(entry)數(shù)和PDL條目的完整性(integrity)等。
檢查PDL標(biāo)識(shí)符是否為“0001h”。對(duì)沒有確認(rèn)的初始化的模式的情況，檢查PDL中的條目數(shù)量是否為“0”。在其它的模式下，檢查PDL中的條目數(shù)量是否為已知的物理缺陷和在制造過程中光盤上產(chǎn)生的不同的缺陷的數(shù)量。
根據(jù)沒有確認(rèn)的初始化，在用于PDL條目類型和PDL條目區(qū)應(yīng)該沒有信息存在。因此，檢查PDL類型和PDL條目是否為指示未使用區(qū)的“FFh”。
在確認(rèn)的初始化的模式下，檢查PDL條目類型是否為“10b”,“10b”指示在用戶確認(rèn)中檢測出的缺陷扇區(qū)的G1列表。PDL中的缺陷扇區(qū)數(shù)按升序被寫入。在對(duì)應(yīng)于已知物理缺陷數(shù)量的PDL條目都被寫入，并且關(guān)于在制造中光盤上產(chǎn)生的不同缺陷扇區(qū)的所有信息被寫入后，檢查剩下的未使用區(qū)是否為“FFh”。
P列表包括由制造商檢測出的缺陷扇區(qū)。G1列表包括在用戶確認(rèn)過程中檢測出的缺陷扇區(qū)。在再初始化的情況下，在再初始化之前的原先的SDL被轉(zhuǎn)換成G2列表。P列表、G1列表和G2列表包含在PDL中。
在確認(rèn)的再初始化的模式下，檢查PDL條目類型是否為“00b”或“10b”,“00b”指示已知的P列表，“10b”指示在用戶確認(rèn)中產(chǎn)生的缺陷扇區(qū)的G1列表。在PDL中的缺陷扇區(qū)數(shù)量被按升序?qū)懭搿?br>
在SDL轉(zhuǎn)換的再初始化的模式下，PDL條目類型可以指示上述的三種類型中的一種。換言之，PDL條目類型可以是指示P列表的“00b”，指示在用戶確認(rèn)中產(chǎn)生的缺陷扇區(qū)的G1列表的“10b”或指示在SDL轉(zhuǎn)換后得到的G2列表的“11b”。在PDL中的缺陷扇區(qū)數(shù)量被按升序?qū)懭搿?br>
在SDL轉(zhuǎn)換的再初始化的模式下，根據(jù)線性替換算法處理的SDL條目被刪去并被PDL條目(即G2列表)所替換，該P(yáng)DL條目是根據(jù)滑動(dòng)替換算法(slippingreplacement algorithm)在SDL條目中通過對(duì)包含在一個(gè)缺陷塊中的16個(gè)重新分配的扇區(qū)進(jìn)行處理得到的。P列表和G1列表保持不變，原先的G2列表的條目和原先的SDL的條目被登記在新的G2列表中。新的SDL列表處于空狀態(tài)(nullstate)。但是，當(dāng)SDL的條目數(shù)超過PDL中可登記的最大條目數(shù)時(shí)，即當(dāng)原先的SDL溢出新的G2列表時(shí)，所產(chǎn)生的剩下的SDL條目可以被登記在新的SDL中。
在清除G2列表和SDL的再初始化的模式下，檢查PDL條目類型是否為指示已知的P列表的“00b”或指示在用戶確認(rèn)中產(chǎn)生的缺陷扇區(qū)的G1列表的“10b”。在PDL中的缺陷扇區(qū)數(shù)量被按升序?qū)懭搿?br>
清除G2列表和SDL的再初始化是使用光盤時(shí)，僅使用P列表來初始化光盤，或通過去掉重新分配的用于線性替換的扇區(qū)，返回到最近的確認(rèn)的狀態(tài)。在這種再初始化中，SDL和PDL中的G2列表被處理，并且更新了的PDL包括P列表和G1列表。這三種再初始化模式在“2.0版可重寫光盤DVD規(guī)范”定義。
如圖4所示，驗(yàn)證DMA中的SDL結(jié)構(gòu)的檢查項(xiàng)目包括SDL標(biāo)識(shí)符、SDL更新計(jì)數(shù)器、次備用區(qū)(SSA)的起始扇區(qū)數(shù)、邏輯扇區(qū)的總數(shù)、DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器、備用區(qū)滿標(biāo)志位、SDL中的條目數(shù)、SDL條目的完整性、未使用區(qū)和保留區(qū)等。
檢查SDL標(biāo)識(shí)符是否為“0002h”。為了驗(yàn)證對(duì)應(yīng)的SDL更新計(jì)數(shù)器，在沒有確認(rèn)的初始化模式下，檢查指示SDL更新計(jì)數(shù)器的值的值N和指示SDL更新計(jì)數(shù)器的增量的值k是否均為“0”。在確認(rèn)的初始化模式下，檢查指示SDL更新計(jì)數(shù)器的值的值N是否為“0”，并檢查指示SDL更新計(jì)數(shù)器的增量分值k是否為“1”。在沒有確認(rèn)的再初始化模式下，檢查指示SDL更新計(jì)數(shù)器的值的值N是否為“原先的值”，并檢查指示SDL更新計(jì)數(shù)器的增量的值k是否為“1”。在確認(rèn)的再初始化模式下，檢查指示SDL更新計(jì)數(shù)器的值的值N是否為“原先的值”，并檢查指示SDL更新計(jì)數(shù)器的增量的值k是否為“2”。
為了驗(yàn)證對(duì)應(yīng)的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器，在沒有確認(rèn)的初始化模式下，檢查指示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值的值M和指示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的增量的值k是否均為“0”。在確認(rèn)的初始化模式下，檢查指示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值的值M是否為“0”，并檢查指示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的增量的值k是否為“1”。在沒有確認(rèn)的再初始化模式下，檢查指示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值的值M是否為“原先的值”，并檢查指示該計(jì)數(shù)器的增量的值k是否為“1”。在確認(rèn)的再初始化模式下，檢查指示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值的值M是否為“原先的值”，并檢查指示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的增量的值k是否為“2”。
在沒有確認(rèn)的初始化的模式下，假設(shè)次備用區(qū)的起始扇區(qū)數(shù)為對(duì)應(yīng)與于次備用區(qū)大小的起始扇區(qū)數(shù)，該次備用區(qū)由用戶在初始化時(shí)指定，并且邏輯扇區(qū)的總數(shù)為對(duì)應(yīng)該備用區(qū)的大小設(shè)定的邏輯扇區(qū)的總數(shù)。并且也假設(shè)在字節(jié)位置不存在關(guān)于SDL條目的信息，該字節(jié)位置指示備用區(qū)滿標(biāo)志、SDL中的條目數(shù)、SDL條目的完整性和備用區(qū)的完整性。因此，備用區(qū)滿標(biāo)志必須指示備用區(qū)未滿。SDL中條目數(shù)的值必須為“0”。通常，認(rèn)為在指示SDL條目完整性和備用區(qū)完整性的區(qū)內(nèi)沒有信息存在。因此，檢查SDL條目將被記錄的區(qū)是否設(shè)定為指示未使用區(qū)的“FFh”。但是，當(dāng)用于測試的C-1光盤狀態(tài)很差時(shí)，SDL條目可能產(chǎn)生。因此，最好是使用狀態(tài)良好的C-1光盤。
在確認(rèn)的初始化的模式和確認(rèn)的再初始化的模式下，檢查SSA的起始扇區(qū)號(hào)和邏輯扇區(qū)的總數(shù)是否依SSA的大小為適當(dāng)?shù)闹?，SSA的大小由用戶在初始化時(shí)指定。還假設(shè)備用區(qū)滿標(biāo)志指示SSA未滿的狀態(tài)，并且SDL中的條目數(shù)的值被設(shè)定為通常指示沒有信息存在的“0”。因?yàn)镾DL總的使用的區(qū)是已知的，如果檢查了SDL中的條目數(shù)，SDL的未使用區(qū)的大小可以被確定。因此，檢查測試光盤DMA鏡像文件的未使用區(qū)的大小是否等于根據(jù)SDL中的條目數(shù)已知的SDL的未使用區(qū)的大小，并檢查未使用區(qū)是否被設(shè)定為“FFh”。此外，檢查所有保留區(qū)的期望值是否為“00h”。
在SDL轉(zhuǎn)換再初始化中，檢查SSA的起始扇區(qū)號(hào)和邏輯扇區(qū)的總數(shù)是否為依SSA的大小為適當(dāng)?shù)闹?，SSA的大小由用戶在初始化時(shí)指定。還假設(shè)備用區(qū)滿標(biāo)志指示SSA未滿的狀態(tài)。SDL中的條目數(shù)可以被設(shè)定為沒有轉(zhuǎn)換到G2列表仍在SDL中條目數(shù)。SDL條目的完整性可能包括沒有轉(zhuǎn)換為G2列表的條目的SDL條目。因?yàn)榧僭O(shè)在指示剩余SDL條目的完整性和備用區(qū)的完整性的字節(jié)位置中沒有信息存在，所以檢查字節(jié)位置是否被設(shè)定為指示未使用區(qū)的“FFh”。
在清除G2列表和SDL再初始化模式下，檢查SSA的起始扇區(qū)數(shù)和邏輯扇區(qū)的總數(shù)是否為依SSA的大小為適當(dāng)?shù)闹?，SSA的大小由用戶在初始化時(shí)指定。還假設(shè)備用區(qū)滿標(biāo)志指示SSA未滿的狀態(tài)，并且SDL中的條目數(shù)的值被設(shè)定為指示沒有信息存在的“0”。因?yàn)榧僭O(shè)在指示SDL條目的完整性和備用區(qū)的完整性的字節(jié)位置中沒有信息存在，所以檢查字節(jié)位置是否被設(shè)定為指示未使用區(qū)的“FFh”。
在驗(yàn)證補(bǔ)充備用區(qū)擴(kuò)展的模式下，檢查指示備用區(qū)滿標(biāo)志位中補(bǔ)充備用區(qū)的字節(jié)位置“b1”是否為指示滿狀態(tài)的“1b”。并且還檢查SSA的起始扇區(qū)數(shù)號(hào)是否被分配為32的倍數(shù)，以及是否為對(duì)應(yīng)于糾錯(cuò)碼(EEC)塊的第一扇區(qū)的扇區(qū)數(shù)。
在確認(rèn)的初始化、沒有確認(rèn)的再初始化和確認(rèn)的再初始化模式下，當(dāng)主備用區(qū)滿時(shí)，指示在一字節(jié)的備用區(qū)滿標(biāo)志位中主備用區(qū)滿標(biāo)志的位位置“b0”被設(shè)定為“1b”，當(dāng)主備用區(qū)未滿時(shí)，其被設(shè)定為“0b”。
圖5A至5D是根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的驗(yàn)證光盤的DMA信息的方法的流程圖。公開了驗(yàn)證在各種測試模式下執(zhí)行了生成或更新DMA信息的處理后，DMA信息被正確生成或更新的方法。
參照?qǐng)D5A至5D，在步驟S101中，檢查在DMA1、DMA2、DMA3和DMA4中的數(shù)據(jù)是否相同，其中DMA1、DMA2、DMA3和DMA4中的兩個(gè)位于導(dǎo)入?yún)^(qū)，兩個(gè)位于導(dǎo)出區(qū)。如果在四個(gè)DMA中的任何一個(gè)數(shù)據(jù)不同，在步驟S102中停止DMA驗(yàn)證。在步驟S101中，圖1所示的DMA的所有內(nèi)容都被檢查。
如果在步驟S101中，四個(gè)DMA中的數(shù)據(jù)相同，則在步驟S103中檢查DDS的標(biāo)識(shí)符(ID)。如果DDS ID與預(yù)定的DDS ID不同，則在步驟S104中通知用戶ID錯(cuò)誤，處理轉(zhuǎn)到步驟S105。
如果在步驟S103中ID與預(yù)定的DDS ID相同，則在步驟S105中檢查按照初始化模式的光盤確認(rèn)標(biāo)志。如果按照初始化模式的光盤確認(rèn)標(biāo)志沒有被正確設(shè)定，則在步驟S106中通知用戶光盤確認(rèn)標(biāo)志錯(cuò)誤，處理轉(zhuǎn)到步驟S107。
如果在步驟S105中，按照初始化模式的光盤確認(rèn)標(biāo)志被正確設(shè)定，則在步驟S107檢查按照初始化模式的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器。如果DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器沒有被正確設(shè)定，則在步驟S108中通知用戶DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器錯(cuò)誤，處理轉(zhuǎn)到步驟S109。
如果在步驟S107中，按照初始化模式的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器被正確設(shè)定，則在步驟S109檢查光盤中的組的數(shù)量。如果組的數(shù)量沒有被正確設(shè)定，則在步驟S110中通知用戶組的數(shù)量錯(cuò)誤，處理轉(zhuǎn)到步驟S111。
如果在步驟S109中，在一種光盤中的組的數(shù)量被正確設(shè)定，則在步驟S111中檢查光盤中的區(qū)的數(shù)量。如果區(qū)的數(shù)量沒有被正確設(shè)定，則在步驟S112中通知用戶區(qū)的數(shù)量錯(cuò)誤，處理轉(zhuǎn)到步驟S113。在本發(fā)明的實(shí)施例中，光盤的類型為DVD-RAM，組的數(shù)量為1，區(qū)的數(shù)量為35。
如果在步驟S111中，在一種光盤中的區(qū)的數(shù)量被正確設(shè)定，則在步驟S113中檢查光盤中的主備用區(qū)(PSA)的位置。如果PSA的位置沒有被正確設(shè)定，則在步驟S114中通知用戶PSA的位置錯(cuò)誤，處理轉(zhuǎn)到步驟S115。
如果在步驟S113中，根據(jù)光盤的類型的PSA的位置被正確設(shè)定，則在步驟S115中檢查PDL ID。如果PDL ID沒有被正確設(shè)定，則在步驟S116中通知用戶PDL ID錯(cuò)誤，處理轉(zhuǎn)到步驟S117。
如果在步驟S115中，PDL ID被正確設(shè)定，則在步驟S117中檢查PDL中的條目數(shù)。如果PDL中的條目數(shù)沒有被正確設(shè)定，則在步驟S118中通知用戶PDL中的條目數(shù)錯(cuò)誤，處理轉(zhuǎn)到步驟S119。
如果在步驟S117中，PDL中的條目數(shù)被正確設(shè)定，則在步驟S119中檢查每一PDL條目是否根據(jù)初始化模式被正確設(shè)定。如果每一PDL條目沒有被正確設(shè)定，則在步驟S120中通知用戶PDL中的條目錯(cuò)誤，處理轉(zhuǎn)到步驟S121。
如果在步驟S119中，每一PDL條目根據(jù)初始化模式被正確設(shè)定，則在步驟S121中檢查DDS中的每一區(qū)的起始LSN。如果DDS中的每一區(qū)的起始LSN沒有被正確設(shè)定，則在步驟S122中通知用戶DDS中的每一區(qū)的起始LSN錯(cuò)誤，處理轉(zhuǎn)到步驟S123。
如果DDS中的每一區(qū)的起始LSN被正確設(shè)定，則在步驟S123中檢查第一邏輯扇區(qū)號(hào)LSN0的位置。如果LSN0沒有被正確設(shè)定，則在步驟S124中通知用戶LSN0位置錯(cuò)誤，處理轉(zhuǎn)到步驟S125。
因?yàn)槊恳粎^(qū)的起始LSN及DDS中的第一LSN和LSN是根據(jù)登記在PDL中的缺陷的數(shù)量確定的，所以檢查PDL條目的步驟S119在檢查每一區(qū)的起始LSN和檢查LSN0的位置之前。
如果在步驟S123中LSN0的位置被正確設(shè)定，則在步驟S125中檢查SDLID。如果SDL ID沒有被正確設(shè)定，則在步驟S126中通知用戶SDL ID錯(cuò)誤，處理轉(zhuǎn)到步驟S127。
如果在步驟S125中SDL ID被正確設(shè)定，則在步驟S127中檢查按照初始化模式的SDL更新計(jì)數(shù)器。如果SDL更新計(jì)數(shù)器沒有被正確設(shè)定，則在步驟S128中通知用戶SDL更新計(jì)數(shù)器錯(cuò)誤，處理轉(zhuǎn)到步驟S129。
如果在步驟S127中SDL更新計(jì)數(shù)器被正確設(shè)定，則在步驟S129中檢查按照初始化模式的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器。如果DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器沒有被正確設(shè)定，則在步驟S130中通知用戶DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器錯(cuò)誤，處理轉(zhuǎn)到步驟S131。
如果在步驟S129中DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器被正確設(shè)定，則在步驟S131中檢查SDL中的條目數(shù)。如果SDL中的條目數(shù)沒有被正確設(shè)定，則在步驟S132中通知用戶SDL中的條目數(shù)錯(cuò)誤，處理轉(zhuǎn)到步驟S133。
如果在步驟S131中SDL中的條目數(shù)被正確設(shè)定，則在步驟S133中檢查SSA的起始扇區(qū)數(shù)。如果SSA的起始扇區(qū)數(shù)沒有被正確設(shè)定，則在步驟S134中通知用戶SSA的起始扇區(qū)數(shù)錯(cuò)誤，處理轉(zhuǎn)到步驟S135。
如果在步驟S133中SSA的起始扇區(qū)數(shù)被正確設(shè)定，則在步驟S135中檢查邏輯扇區(qū)的總數(shù)。如果邏輯扇區(qū)的總數(shù)沒有被正確設(shè)定，則在步驟S136中通知用戶邏輯扇區(qū)的總數(shù)錯(cuò)誤，處理轉(zhuǎn)到步驟S137。
如果在步驟S135中邏輯扇區(qū)的總數(shù)被正確設(shè)定，則在步驟S137中檢查PSA滿標(biāo)志。如果PSA滿標(biāo)志沒有被正確設(shè)定，則在步驟S138中通知備用區(qū)滿標(biāo)志錯(cuò)誤，處理轉(zhuǎn)到步驟S139。
在步驟S137中，檢查當(dāng)在步驟S117中檢查的PDL中的條目的數(shù)量對(duì)應(yīng)于PSA滿狀態(tài)時(shí)，PSA滿標(biāo)志是否被設(shè)定為“1b”，并檢查當(dāng)PDL中的條目的數(shù)量不對(duì)應(yīng)PSA滿狀態(tài)時(shí)，PSA滿標(biāo)志是否被設(shè)定為“0b”。
如果在步驟S137中PSA滿標(biāo)志被正確設(shè)定，則在步驟S139中檢查SSA滿標(biāo)志。如果SSA滿標(biāo)志沒有被正確設(shè)定，則在步驟S140中通知用戶備用區(qū)滿標(biāo)志錯(cuò)誤，處理轉(zhuǎn)到步驟S141。
在步驟S139中，檢查當(dāng)在步驟S131中檢查的SDL中的條目的數(shù)量對(duì)應(yīng)于SSA滿狀態(tài)時(shí)，SSA滿標(biāo)志是否被設(shè)定為“1b”，并檢查當(dāng)SDL中的條目的數(shù)量不對(duì)應(yīng)SSA滿狀態(tài)時(shí)，SSA滿標(biāo)志是否被設(shè)定為“0b”。
如果在步驟S139中SSA滿標(biāo)志被正確設(shè)定，則在步驟S141中檢查每一SDL條目是否根據(jù)初始化模式被正確設(shè)定。如果每一SDL條目沒有被正確設(shè)定，則在步驟S142中通知用戶每一SDL條目錯(cuò)誤。如果每一SDL條目被正確設(shè)定，則本發(fā)明的驗(yàn)證方法結(jié)束。
如上所述，通過使用在每種測試光盤中具有與實(shí)際缺陷無關(guān)的預(yù)定的缺陷信息的不同的測試光盤，而不使用實(shí)際具有缺陷的光盤，本發(fā)明易于驗(yàn)證記錄和重現(xiàn)裝置正確生成或更新缺陷信息。
此外，通過使用在每種測試模式下從與實(shí)際缺陷無關(guān)的預(yù)定的缺陷信息生成鏡像文件的不同的測試光盤，而不使用實(shí)際具有缺陷的光盤，本發(fā)明易于驗(yàn)證記錄和重現(xiàn)裝置正確讀取和處理缺陷信息。
雖然對(duì)本發(fā)明的幾個(gè)優(yōu)選實(shí)施例進(jìn)行了描述，但本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)該理解，在不脫離本發(fā)明的原則和精神的情況下，可以對(duì)本發(fā)明的實(shí)施例進(jìn)行修改，本發(fā)明的范圍是由所附權(quán)利要求等限定的。
權(quán)利要求
1．一種驗(yàn)證在測試模式下，用于在帶有DMA信息的光盤中記錄信息或從帶有DMA信息的光盤中重現(xiàn)信息的記錄和重現(xiàn)裝置中執(zhí)行了測試DMA信息生成和更新過程后，DMA信息被正確生成和更新的方法，該方法包括讀取所生成或更新的DMA信息；和通過使用預(yù)先設(shè)定的用于測試模式的參考DMA信息，驗(yàn)證生成或更新的DMA信息，并提供驗(yàn)證的結(jié)果。
2．如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所生成的或更新的DMA信息以DMA鏡像文件的形式被讀取。
3．如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所生成的或更新的DMA信息直接從測試光盤上的DMA中讀取。
4．如權(quán)利要求1所述的方法，其中，測試模式是第一測試模式、第二測試模式、第三測試模式和第四測試模式中的一種，第一測試模式包括確認(rèn)的初始化和沒有確認(rèn)的初始化，第二測試模式包括確認(rèn)的再初始化、第二缺陷列表(SDL)轉(zhuǎn)換的再初始化和清除G2列表和SDL的再初始化，第三測試模式包括驗(yàn)證補(bǔ)充備用區(qū)擴(kuò)展的初始化，第四測試模式包括驗(yàn)證記錄是否根據(jù)錯(cuò)誤的DMA信息被執(zhí)行。
5．如權(quán)利要求4所述的方法，還包括通過在不含信息的空盤上形成已知的缺陷獲得第一測試盤，并在第一測試模式下使用該第一測試盤；通過在第一測試盤上記錄預(yù)定DMA內(nèi)容獲得第二測試盤，并在第二測試模式下使用第一鏡像文件，其中DMA信息記錄在第一測試盤上時(shí)，補(bǔ)充備用區(qū)未滿；通過在第三測試模式下，在第一測試盤上記錄預(yù)定DMA內(nèi)容獲得第三測試盤，并在第三測試模式下使用第二鏡像文件，當(dāng)DMA記錄在第一測試盤時(shí)，第二鏡像文件具有足夠的SDL缺陷填充補(bǔ)充備用區(qū)；和通過在第四測試模式下，在第一測試盤上記錄第三鏡像文件獲得第四測試盤，其中在DMA的預(yù)定的內(nèi)容中的每一區(qū)的起始扇區(qū)數(shù)故意被錯(cuò)誤地寫入。
6．如權(quán)利要求1所述的方法，其中該驗(yàn)證包括驗(yàn)證在光盤的多個(gè)位置上寫入的具有相同數(shù)據(jù)的多個(gè)DMA。
7．如權(quán)利要求1所述的方法，其中該驗(yàn)證包括驗(yàn)證DMA中的光盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)。
8．如權(quán)利要求7所述的方法，其中DDS的驗(yàn)證包括檢查DDS標(biāo)識(shí)符、光盤確認(rèn)標(biāo)志、DDS/主缺陷列表(PDL)更新計(jì)數(shù)器、組數(shù)、區(qū)域數(shù)、主備用區(qū)的位置、每一區(qū)域的第一邏輯扇區(qū)號(hào)和起始邏輯扇區(qū)號(hào)的位置。
9．如權(quán)利要求8所述的方法，其中DDS標(biāo)識(shí)符的檢查包括檢查DDS標(biāo)識(shí)符是否是預(yù)定的值；光盤確認(rèn)標(biāo)志的檢查包括根據(jù)預(yù)定的測試模式檢查在光盤標(biāo)志位中指示在進(jìn)行的位的值、指示用戶確認(rèn)的位的值和指示光盤制造商確認(rèn)的位的值；DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的檢查按照預(yù)定的測試模式包括檢查DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值和的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的增量，該增量表示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器在預(yù)定的測試之前和之后的差；組數(shù)的檢查包括按照光盤類型檢查組數(shù)；區(qū)域數(shù)的檢查包括按照光盤類型檢查區(qū)域數(shù)；和主備用區(qū)的位置的檢查包括檢查主備用區(qū)的第一和最后扇區(qū)號(hào)。
10．如權(quán)利要求9所述的方法，其中光盤確認(rèn)標(biāo)志的檢查包括檢查指示在光盤確認(rèn)標(biāo)志位中的進(jìn)行/未進(jìn)行的位位置b7的值是否為“0b”，并當(dāng)位位置b7的值為“1b”時(shí)，通知用戶格式化失敗，因?yàn)槲晃恢胋7的值為“0b”指示格式化已完成，位位置b7的值為“1b”指示格式化在進(jìn)行；檢查在光盤確認(rèn)標(biāo)志位中保留位位置b6至b2的值是否均為“0b”；檢查在光盤確認(rèn)標(biāo)志位中指示用戶確認(rèn)標(biāo)志的位位置b1值，在沒有確認(rèn)的初始化的模式下是否為“0b”，在確認(rèn)的初始化的模式、沒有確認(rèn)的再初始化的模式和確認(rèn)的再初始化的模式下是否為“1b”；和檢查在光盤確認(rèn)標(biāo)志位中指示光盤制造商確認(rèn)標(biāo)志的位位置b0值，在沒有確認(rèn)的初始化的模式和確認(rèn)的初始化的模式下是否為“0b”，在沒有確認(rèn)的再初始化的模式和確認(rèn)的再初始化的模式下是否為“1b”。
11．如權(quán)利要求9所述的方法，其中檢查在沒有確認(rèn)的初始化的模式下，DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值和DDS/PDL計(jì)數(shù)器增量是否均為“0”，檢查在確認(rèn)的初始化的模式下，DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值是否為“0”，及表示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器在預(yù)定的測試之前和之后的差的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的增量是否為“1”，檢查在沒有確認(rèn)的再初始化的模式下，DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值是否為“原先的值”，及DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的增量是否為“1”，并檢查在確認(rèn)的再初始化的模式下，DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值是否為“原先的值”，及表示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器在預(yù)定的測試之前和之后的差的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的增量是否為“2”。
12．如權(quán)利要求1所述的方法，其中該驗(yàn)證包括驗(yàn)證DMA中的主缺陷列表(PDL)結(jié)構(gòu)。
13．如權(quán)利要求12所述的方法，其中PDL結(jié)構(gòu)的驗(yàn)證包括檢查PDL標(biāo)識(shí)符、PDL中的條目數(shù)和PDL條目的完整性。
14．如權(quán)利要求13所述的方法，其中標(biāo)識(shí)符的檢查包括檢查PDL標(biāo)識(shí)符是否是預(yù)定的值；條目數(shù)的檢查包括檢查PDL中的條目數(shù)是否為預(yù)定的值；PDL條目的完整性包括檢查第一邏輯扇區(qū)號(hào)的位置是否根據(jù)登記在PDL中的條目數(shù)被正確地設(shè)定；和檢查每一區(qū)域的開始邏輯扇區(qū)號(hào)是否根據(jù)登記在PDL中的條目數(shù)被正確地設(shè)定。
15．如權(quán)利要求14所述的方法，其中條目數(shù)的檢查包括在沒有確認(rèn)的初始化的模式下，檢查PDL中的條目數(shù)是否為“0”，在確認(rèn)的初始化的模式、沒有確認(rèn)的再初始化的模式和確認(rèn)的再初始化的模式下，檢查PDL中的條目數(shù)是否為已知的物理缺陷和在制造過程中光盤上出現(xiàn)的不同的缺陷的數(shù)量。
16．如權(quán)利要求14所述的方法，其中PDL條目完整性的檢查包括在沒有確認(rèn)的初始化的模式下，檢查用于PDL條目類型和PDL條目區(qū)是否有指示未使用區(qū)的值，在確認(rèn)的初始化的模式下，檢查PDL條目類型是否為指示在用戶確認(rèn)中檢測出的缺陷扇區(qū)的G1列表的“10b”，在確認(rèn)的再初始化的模式下，檢查PDL條目類型是否為指示已知的P列表“00b”或指示在用戶確認(rèn)中產(chǎn)生的缺陷扇區(qū)的G1列表“10b”，在清除G2列表和第二缺陷列表(SDL)的再初始化的模式下，檢查PDL條目類型是否為指示P列表的“00b”和指示在用戶確認(rèn)中檢測出的缺陷扇區(qū)的G1列表的“10b”，或在SDL轉(zhuǎn)換的再初始化模式下指示在SDL轉(zhuǎn)換后得到的G2列表的“11b”，并在確認(rèn)的初始化模式、確認(rèn)的再初始化模式、SDL轉(zhuǎn)換的再初始化模式和清除G2列表和SDL的再初始化模式下，檢查在對(duì)應(yīng)于已知的物理缺陷數(shù)量的PDL條目被寫入后，剩下的未使用的區(qū)是否為“FFh”，和關(guān)于在制造中產(chǎn)生的不同的缺陷扇區(qū)的所有信息是否被寫入。
17．如權(quán)利要求14所述的方法，其中第一邏輯扇區(qū)號(hào)的位置和起始邏輯扇區(qū)號(hào)的檢查包括檢查第一邏輯扇區(qū)號(hào)(LSN0)的位置和每一起始邏輯扇區(qū)數(shù)是否為對(duì)應(yīng)于在沒有確認(rèn)的初始化模式下沒有缺陷存在的情況的預(yù)定的邏輯扇區(qū)數(shù)號(hào)
18．如權(quán)利要求1所述的方法，其中該驗(yàn)證包括驗(yàn)證DMA中的第二缺陷列表(SDL)的結(jié)構(gòu)。
19．如權(quán)利要求18所述的方法，其中SDL結(jié)構(gòu)的驗(yàn)證包括檢查SDL標(biāo)識(shí)符；檢查SDL更新計(jì)數(shù)器值和表示SDL更新計(jì)數(shù)器在測試之前和之后的差的SDL更新計(jì)數(shù)器的增量；檢查光盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)/主缺陷列表(PDL)更新計(jì)數(shù)器值和表示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器在測試之前和之后的差的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的增量；檢查次備用區(qū)(SSA)中的邏輯扇區(qū)數(shù)和邏輯扇區(qū)的總數(shù)；檢查備用區(qū)滿標(biāo)志；檢查SDL中的條目數(shù)；和檢查SDL條目的完整性。
20．如權(quán)利要求19所述的方法，其中檢查在沒有確認(rèn)的初始化模式下，SDL更新計(jì)數(shù)器和SDL更新計(jì)數(shù)器的增量包括檢查在四個(gè)SDL中的SDL更新計(jì)數(shù)器的值和SDL更新計(jì)數(shù)器的增量是否均為“0”，檢查在確認(rèn)的初始化模式下，SDL更新計(jì)數(shù)器的值是否為“0”及SDL更新計(jì)數(shù)器的增量是否為“1”，檢查在沒有確認(rèn)的再初始化模式下，SDL更新計(jì)數(shù)器的值是否為“原先的值”及SDL更新計(jì)數(shù)器的增量是否為“1”，以及檢查在確認(rèn)的再初始化模式下，SDL更新計(jì)數(shù)器的值是否為“原先的值”及SDL更新計(jì)數(shù)器的增量是否為“2”。
21．如權(quán)利要求19所述的方法，其中DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器和DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的增量的檢查包括檢查DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值和DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的增量是否均為“0”，檢查在確認(rèn)的初始化模式下，DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值是否為“0”及DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的增量是否為“1”，檢查在沒有確認(rèn)的再初始化模式下，DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值是否為“原先的值”及DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的增量是否為“1”，以及檢查在確認(rèn)的再初始化模式下，DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值是否為“原先的值”及DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的增量是否為“2”。
22．如權(quán)利要求19所述的方法，其中在SSA中的邏輯扇區(qū)數(shù)和邏輯扇區(qū)的總數(shù)的檢查包括檢查在初始化模式或再初始化模式下，SSA的邏輯扇區(qū)號(hào)是否為對(duì)應(yīng)于用戶指定的SSA大小的起始扇區(qū)號(hào)，并檢查邏輯扇區(qū)的總數(shù)是否為根據(jù)用戶指定的SSA大小正確設(shè)定的邏輯扇區(qū)的總數(shù)。
23．如權(quán)利要求19所述的方法，其中備用區(qū)滿標(biāo)志的檢查包括檢查主備用區(qū)(PSA)滿標(biāo)志是否是根據(jù)PDL中的條目數(shù)被設(shè)定；和檢查SSA滿標(biāo)志是否是根據(jù)SDL中的條目數(shù)被設(shè)定。
24．如權(quán)利要求23所述的方法，其中備用區(qū)滿標(biāo)志的檢查包括檢查在初始化模式或再初始化模式下，SSA備用區(qū)滿標(biāo)志是否被設(shè)定為SSA未滿的狀態(tài)，并檢查在驗(yàn)證補(bǔ)充備用區(qū)的擴(kuò)展的模式下，在執(zhí)行了補(bǔ)充備用區(qū)擴(kuò)展后，SSA滿標(biāo)志是否被設(shè)定為SSA未滿的狀態(tài)。
25．如權(quán)利要求23所述的方法，其中檢查SDL中的條目數(shù)包括檢查在沒有確認(rèn)的初始化模式、確認(rèn)的初始化模式、確認(rèn)的再初始化模式和清除G2列表和SDL的再初始化模式下，SDL中的條目數(shù)是否被設(shè)定為“0”，并檢查在SDL轉(zhuǎn)換的再初始化模式下，SDL中的條目數(shù)是否被設(shè)定為剩下的沒有被轉(zhuǎn)換到G2表的SDL條目數(shù)。
26．如權(quán)利要求19所述的方法，其中SDL條目完整性的檢查包括檢查在沒有確認(rèn)的初始化模式、確認(rèn)的初始化模式、確認(rèn)的再初始化模式和清除G2列表和SDL的再初始化模式下，指示SDL條目完整性和備用區(qū)完整性的字節(jié)位置是否被設(shè)定為“FFh”,“FFh”指示未使用的區(qū)，因?yàn)榧僭O(shè)在執(zhí)行字節(jié)位置中沒有信息存在，并檢查在SDL轉(zhuǎn)換的再初始化模式下，指示剩下的SDL條目完整性和備用區(qū)完整性的字節(jié)位置是否被設(shè)定為“FFh”,“FFh”指示未使用的區(qū)，因?yàn)镾DL條目的完整性可能包括沒有轉(zhuǎn)換為G2列表的條目的SDL條目，從而在這些字節(jié)位置應(yīng)該沒有信息存在。
27．一種驗(yàn)證缺陷管理區(qū)(DMA)信息是否在具有DMA信息的光盤中記錄信息或從具有DMA信息的光盤中重現(xiàn)信息的記錄和重現(xiàn)裝置中被正確生成和更新的方法，該方法包括根據(jù)測試模式設(shè)定測試參考；根據(jù)測試模式，從與實(shí)際缺陷無關(guān)的DMA信息中生成測試信息，該測試信息由記錄和重現(xiàn)裝置生成和更新；和通過在再初始化模式下使用測試參考，執(zhí)行驗(yàn)證測試信息的測試。
28．如權(quán)利要求27所述的方法，還包括通過在空盤上形成已知的缺陷獲得第一測試盤；和通過在第一測試盤上記錄預(yù)定DMA內(nèi)容獲得第二測試盤，并且根據(jù)在第一測試盤中的測試模式記錄鏡像文件，并使用第二測試盤生成測試信息。
29．一種驗(yàn)證缺陷管理區(qū)(DMA)信息是否在具有DMA信息的光盤中記錄或從具有DMA信息的光盤中重現(xiàn)信息的記錄和重現(xiàn)裝置中被正確生成和更新的方法，該方法包括根據(jù)測試模式，從與實(shí)際缺陷無關(guān)的DMA信息中生成測試信息，該測試信息由記錄和重現(xiàn)裝置生成和更新；和通過使用驗(yàn)證DMA信息的測試參考，驗(yàn)證測試信息。
30．如權(quán)利要求29所述的方法，其中測試信息是DMA鏡像文件。
31．一種驗(yàn)證記錄和重現(xiàn)裝置是否正確讀取和處理缺陷管理區(qū)(DMA)信息的方法，包括根據(jù)包含預(yù)定的缺陷信息的測試盤上的測試模式，通過使用記錄和重現(xiàn)裝置生成測試信息來執(zhí)行處理；和將測試信息與參考測試信息比較以確定記錄和重現(xiàn)裝置的驗(yàn)證。
32．如權(quán)利要求31所述的方法，還包括在空盤上的預(yù)定的位置形成如預(yù)定的缺陷信息的已知的物理缺陷，以生成第一測試盤；通過在第一測試盤上記錄預(yù)定DMA內(nèi)容獲得第二測試盤，并且根據(jù)在第一測試盤中的測試模式記錄鏡像文件；使記錄和重現(xiàn)裝置在第二測試盤上執(zhí)行該處理，以生成帶有DMA信息的第二測試盤；和從帶有DMA信息的第二測試盤中讀取DMA信息，以生成如測試信息的測試DMA鏡像文件，其中參考測試信息是參考DMA鏡像文件。
33．一種驗(yàn)證記錄和重現(xiàn)裝置是否正確地變換和處理缺陷信息的方法，該方法包括根據(jù)測試模式，準(zhǔn)備一個(gè)具有已知物理缺陷和測試參考DMA鏡像文件的測試盤；根據(jù)使記錄和重現(xiàn)裝置在測試盤上執(zhí)行該測試模式，生成測試信息；和對(duì)測試信息進(jìn)行驗(yàn)證測試。
34．通過由記錄和重現(xiàn)裝置正確生成的DMA信息，使用了如下處理步驟通過使用重現(xiàn)和記錄裝置，在包含已知的物理缺陷和測試參考DMA鏡像文件的測試盤上根據(jù)測試模式執(zhí)行處理以生成DMA信息；從生成的DMA信息產(chǎn)生測試信息；和將測試信息與參考測試信息比較以確定記錄和重現(xiàn)裝置的驗(yàn)證。
35．如權(quán)利要求34的DMA信息，其中該比較包括檢查來自測試信息的DMA的結(jié)構(gòu)、DMA的光盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)、主缺陷列表(PDL)結(jié)構(gòu)和構(gòu)成測試信息的DMA的次列表(SDL)結(jié)構(gòu)。
全文摘要
一種驗(yàn)證光盤的缺陷管理區(qū)(DMA)信息的方法,驗(yàn)證在在測試模式下,用于在/從帶有DMA信息的光盤記錄/重現(xiàn)信息的記錄和重現(xiàn)裝置執(zhí)行了測試DMA信息生成和更新過程后,DMA信息被正確生成和更新。該方法包括讀取并通過使用預(yù)先設(shè)定的用于測試模式的參考DMA信息,驗(yàn)證生成或更新的DMA信息,并提供驗(yàn)證的結(jié)果。因此,容易驗(yàn)證該記錄和重現(xiàn)裝置通過使用帶有預(yù)定的與實(shí)際缺陷無關(guān)的缺陷信息的不同的測試光盤,而不使用實(shí)際具有缺陷的光盤,并通過執(zhí)行各種測試模式,準(zhǔn)確地生成或記錄缺陷信息。
文檔編號(hào)G11B7/004GK1323032SQ0111627
公開日2001年11月21日 申請(qǐng)日期2001年4月9日 優(yōu)先權(quán)日2000年4月8日
發(fā)明者高禎完, 鄭鉉權(quán) 申請(qǐng)人:三星電子株式會(huì)社