專利名稱：光頭、光記錄/再現(xiàn)裝置和激光模件的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種使用光頭的記錄/再現(xiàn)裝置和供該記錄/再現(xiàn)裝置及光頭用的LD模件。
目前，市場上使用了多種類型的光盤，其中廣為流傳的是裝有兩種不同波長光源的光頭，以適用于多種規(guī)格的盤。同時，有建議(如日本專利公開No.120568/1997所建議的)使用在單芯片上裝有兩種不同波長光源的激光模件(LD模件)。用裝有這種LD模件的光頭可使每種波長的光束各自按照用于記錄/再現(xiàn)的光記錄介質(zhì)的類型啟動而讀取所需介質(zhì)上的記錄信號。
對于須要從光記錄介質(zhì)上讀取信息的光檢測器件，必須發(fā)出用于跟蹤的差錯信號和包含被記錄信息的高頻信號(通常稱為RF信號)。對于單獨的光束，需要有多種形式的多個設(shè)計方案。此外，這種光頭須用一種將來自光源的發(fā)射光與來自光記錄介質(zhì)的反射光以同一光軸分離開來。用于這一目的激光模件要設(shè)計成包含這種分光的光檢測器件和分離光的裝置。
跟蹤差錯檢測方法之一是一種3-束方法，如日本專利公開No.162457/1994所述。該方法用到專用于跟蹤的兩個側(cè)光束和用于讀取LD模件光記錄介質(zhì)(光盤是其一個代表性例子)上記錄的信息的主光束。該方法的特征在于，使物鏡在光盤徑向移位而較少受到各個槽參數(shù)(例如位深和光盤尺寸)的影響，從而只引起小的DC偏置，由此保證有穩(wěn)定的伺服性能。于是，此方法成為目前廣泛使用的跟蹤差錯檢測方法之一。
上述3-束方法的缺點在于，它不得不從主光束頂上發(fā)出兩個分開的側(cè)光束，這就降低了主光束的光量。此外，還須要用單獨接收側(cè)光束的光檢測器件，這比其他方法要求預(yù)留更大的面積以供光檢測器件之用。對于按常規(guī)分離的方法工作的光頭，這一問題沒有特別的影響，因為其中的元件或電路不是集成的，并且安排的是各有單項功能的部件。然而，在激光模件中，光源、光檢測器件和光分離裝置集成為一個單獨的元件，因而很難保留供光檢測器件用的區(qū)域使其不受返回光的影響。此外，在設(shè)有上述兩種光源和獨立的光檢測器件的兩波長激光模件中，該問題更為難辦，須要用某種方法解決。
解決供光檢測器件用的區(qū)域，即減小該器件安裝面積問題的一種方法是使用不利用側(cè)光束的跟蹤方法。只用主光束而不用側(cè)光束的這類方法包括(1)用RF信號產(chǎn)生跟蹤差錯信號(以下稱為TE信號)的方法，例如日本專利公開No.269588/1998所述的相位差檢測方法以及外差法；(2)只用主光束而不用RF信號的方法，例如推挽方法。
這些方法中，方法(1)不能用于需要供非登錄部分用的跟蹤伺服的介質(zhì)，例如CD-R和DVD-R。推挽方法要將接收主光束光點的反射光的光檢測器件構(gòu)成的一個檢測器以跟蹤方向上的一條分割線和徑向上的一條分割線分離成四個器件。該推挽方法借助數(shù)學(xué)運算電路從每個光檢測器件的輸出中獲得跟蹤差錯信號，并用該TE進行跟蹤控制，當(dāng)光點處在軌跡(凹坑)中央時，TE＝O，但光點偏向右或左時，TE＞O或TE＜O。
推挽方法(2)是獲得跟蹤差錯信號的最簡單方法，自從研究出光記錄系統(tǒng)之初就已廣泛應(yīng)用。但是，用推挽方法，由光檢測器件構(gòu)成的檢測器上的光點的位置和強度，在由跟蹤線圈驅(qū)動的物鏡相對于另一光學(xué)系統(tǒng)徑向移動時，或光盤相對物鏡傾斜時，可能發(fā)生變化。這會導(dǎo)致在產(chǎn)生的跟蹤差錯信號中出現(xiàn)直流變化。這種直流變化稱為DC偏差。
當(dāng)跟蹤伺服信號中加有所包含的DC偏差分量時，跟蹤性能明顯變差，特別是使用的盤偏心度大時，可能使跟蹤差錯超出許可范圍。因此，推挽方法通常都要使用消DC偏差的裝置。
按照相關(guān)現(xiàn)有技術(shù)中的消DC偏差裝置，已知的一種方法是，事先估計伴隨有盤偏心度的DC偏差，適當(dāng)傾斜后，在進行跟蹤伺服的過程中校正編置量。已知相關(guān)技術(shù)中有另一種方法，其中將光頭螺旋方向上的跟蹤性能提高，以盡量減小透鏡的移位。已知相關(guān)技術(shù)中的又一種方法是，在盤上取一塊很小的區(qū)域(無軌跡或凹坑的區(qū)域)，在校正該小區(qū)域中的偏置時進行跟蹤伺服。
這些方法須用復(fù)雜的信號處理裝置、有良好響應(yīng)特性的機械部分、或特定規(guī)格的盤。因此，這些方法通常難以實際應(yīng)用。
鑒于現(xiàn)有技術(shù)中的這些問題，本發(fā)明的目的在于提供一種裝有兩種光源的光頭或光記錄/再現(xiàn)裝置，該光頭或光記錄/再現(xiàn)裝置具有減少DC偏差的能力，只需要比現(xiàn)有技術(shù)中更少數(shù)量的光檢測器件和更小的設(shè)備安裝面積，從而有利于減小尺寸，以及提供一種用于光頭或光記錄/再現(xiàn)裝置的LD模件。
按照本發(fā)明的第一方面，一種供光記錄/再現(xiàn)裝置用的光頭包括兩個光源，用于發(fā)出具有不同波長的光束；兩個檢測器，獨立安排成用于具有不同波長的激光束；和一個衍射裝置，用于將來自光記錄介質(zhì)的反射光束引導(dǎo)到具有相應(yīng)波長的一個檢測器上，其中，所述光頭利用從檢測器得到的輸出來檢測光記錄介質(zhì)中的聚焦誤差和跟蹤差錯；來自兩個光源的激光束從光記錄介質(zhì)上反射的光束同時由分開的光檢測器件進行檢測；當(dāng)具有不同波長的兩個光束之一聚焦在供記錄/再現(xiàn)的光記錄介質(zhì)上時，光記錄介質(zhì)上的其他非聚焦測量光束的光點直徑被設(shè)置成大于所述兩個光束之一的光點直徑。
以這種方法，通過同時操作兩種光源而不是只操作與用在現(xiàn)有技術(shù)中的光頭所用的光記錄介質(zhì)類型相配的一個光源，以及使一個光束與聚焦到記錄表面時輻射的光記錄介質(zhì)類型相配，而使另一個光束用作非聚焦光束并使其在記錄表面上有比聚焦光束更大的光點直徑，使得側(cè)光束的光點能在光盤徑向幾條軌跡的很寬范圍內(nèi)輻射。因此，由側(cè)光束產(chǎn)生的反射光只含有可忽略的軌跡橫向分量，該分量它是由光點越過軌跡產(chǎn)生的(由軌跡槽和脊之間的強度差產(chǎn)生的分量)。
換句話說，由于側(cè)光束光點直徑增大，非聚焦測量光束的光傳輸參數(shù)(OTP)的截止頻率移向低頻一邊。這消除了間隔頻率(軌跡間距的互易性)中較高的軌跡橫向分量和得到了僅由透鏡移位所產(chǎn)生的含有DC偏差分量的一個信號，以免由跟蹤方向上的分割線分開安排的光檢測器件接收到非聚焦測量光束以及得到輸出之差。
于是，按照本發(fā)明，通過使非聚焦測量光束的光點直徑大于主光束的光點直徑，利用濾除效應(yīng)，可以消除相應(yīng)于軌跡間距的間隔頻率分量。
以這種方式，按照本發(fā)明，兩種光源同時工作，使來自與光記錄介質(zhì)相配的一個光源的光束可用于再現(xiàn)信號和用于聚焦誤差信號。這使得在DC偏差被校正時可共用各光檢測器件，從而可減少光檢測器件的數(shù)目。
按照本發(fā)明的第二方面，光記錄介質(zhì)上非聚焦光束的光點直徑設(shè)定為光記錄介質(zhì)上聚焦光束光點直徑的2.5至15倍大。
以這種方式，由于設(shè)定非聚焦光束的光點直徑至少是主光束光點直徑的2.5倍大，因而側(cè)光束的光點能在盤徑向幾條軌跡的很寬范圍內(nèi)照射。因此，由非聚焦測量光束產(chǎn)生的反射光只含有由光點越過軌跡而產(chǎn)生的可忽略的軌跡橫向分量(由軌跡槽和脊之間的強度差產(chǎn)生的分量)。于是，可獲得只含可忽略的DC偏差的軌跡差錯信號。
特別是，假如非聚焦測量光束在盤徑向上的寬度至少是聚焦光束光點直徑的2.5倍大，則數(shù)學(xué)運算后表明的軌跡橫向分量的幅度可至少保持在原來的軌跡橫向信號的90％。
非聚焦測量光束光點直徑的上限是有限制的，因為該光點直徑在尺寸上不允許與檢測器(光檢測器件)上的非聚焦測量光束重疊。該上限還受到側(cè)光束的檢測器的光檢測面積限制。兩種限制中，后者更主要。檢測器的一側(cè)通常設(shè)定為150微米左右或更小。一種方案是，在光頭中盤與光檢測器件之間取10倍大小，這時非聚焦光束光點的合理直徑應(yīng)設(shè)為15微米或更小。換句話說，盤上聚焦光束的光點直徑為1微米左右時，所希望的是非聚焦光束的光點直徑為主光束光點直徑的15倍或更小。
按照本發(fā)明的第三方面，產(chǎn)生不同波長的兩種激光束的光源發(fā)出的激光束的出射方位是偏移的。
以這種方式，通過使兩種光源發(fā)出的激光束的出射方位偏移，可控制光記錄介質(zhì)上兩種光束的光點直徑之差。
按照本發(fā)明的第四方面，光記錄/再現(xiàn)裝置具有一個數(shù)學(xué)運算電路，以利用來自光檢測器件的兩個光束的信號輸出求取一個跟蹤差錯信號。
以這種方式，通過利用來自光檢測器件的兩個光束的信號輸出求取跟蹤差錯信號，不再須要用側(cè)光束和供側(cè)光束用的光檢測器件來校正DC偏差，于是可減少光檢測器件的數(shù)目。
按照本發(fā)明的第五方面，光記錄/再現(xiàn)裝置具有一個數(shù)學(xué)運算電路，以按照推挽方法從各光檢測器件中去除跟蹤差錯信號，所述光檢測器件是按推挽方法供來自原來的跟蹤差錯信號的非聚焦激光束用的，而原來的跟蹤差錯信號來自供聚焦激光束用的光檢測器件，由此求取跟蹤差錯信號。
如本發(fā)明第五方面所述的光記錄/再現(xiàn)裝置，通過利用來自光檢測器件的兩個光束的信號輸出來獲取跟蹤差錯信號，不再須要用側(cè)光束和供側(cè)光束用的光檢測器件來校正DC偏差，于是可減少光檢測器件的數(shù)目。
按照本發(fā)明的第六方面，光記錄/再現(xiàn)裝置還包括一個極性選擇電路，以借助一個指示當(dāng)時使用的光記錄介質(zhì)的信號，改變供跟蹤差錯信號用的數(shù)學(xué)運算電路的輸出的極性。
以這種方式，通過對當(dāng)時使用的光記錄介質(zhì)所依從的供跟蹤差錯信號用的數(shù)學(xué)運算電路輸出極性的正反選擇，可以共用數(shù)學(xué)運算電路來求取一個跟蹤差錯信號，于是簡化了電路結(jié)構(gòu)。
按照本發(fā)明的第七方面，使用一種LD模件，以供本發(fā)明第一至第四方面任一項所述的光頭之用，或供本發(fā)明第四至第六方面任一項所述的光記錄/再現(xiàn)裝置之用。
供上述結(jié)構(gòu)的光頭或光記錄/再裝置用的LD模件的優(yōu)點在于，非聚焦測量光束能用于校正DC偏差，這樣就減少了光檢測器件的數(shù)目，可使裝置的尺寸減小。


圖1是本發(fā)明的光頭實施例的示意圖；圖2A是沿光軸方向看的本發(fā)明一個實施例的衍射裝置和檢測器視圖；圖2B是按照本發(fā)明一個實施例的為獲取跟蹤差錯信號和聚焦誤差信號的電路圖；圖3A是一側(cè)視圖，示出在本發(fā)明一個實施例中用于在兩種分開的光盤上進行記錄/再現(xiàn)的光盤上光束的聚焦狀態(tài)；圖3B是一側(cè)視圖，示出在本發(fā)明一個實施例中用于在兩種分開的光盤上進行記錄/再現(xiàn)的光盤上光束的非聚焦狀態(tài)；圖3C和3D是說明本發(fā)明一個實施例中在光盤上照射的每一光點尺寸的說明圖；圖4A是用于說明圖2B所示電路工作的波形圖；和圖4B是實現(xiàn)本發(fā)明時假設(shè)的光源安排的一個例子的側(cè)視圖。
圖1是本發(fā)明的光頭實施例的示意圖。該圖中示出的激光模件(LD模件)1包括兩種光源2、3、由分開的光檢測器件構(gòu)成的檢測器4、5、以及將來自光介質(zhì)的反射光引導(dǎo)到相應(yīng)的檢測器4、5的光檢測器件上的全息衍射裝置6。
圖中還示出準直透鏡7、物鏡8和作為光記錄介質(zhì)的光盤9。圖1中，光源2和3是例如DVD光源(發(fā)出650nm波長的激光束)的第一光源和例如CD光源(發(fā)出780nm波長的激光束)的第二光源。無論第一光源2還是第二光源3在現(xiàn)有技術(shù)的裝置中都曾經(jīng)依據(jù)光記錄介質(zhì)9的類型而工作，而在本發(fā)明中，光源2和3同時工作并照射到光記錄介質(zhì)9上。
全息衍射裝置6具有α、β和γ區(qū)域，α區(qū)域由對著β和γ區(qū)域的徑向分割線10分開。β和γ區(qū)域由軌跡方向上的分割線11分開。
圖2A示出檢測器4和5的安排。光檢測器件11和12分別是用于接收反射光的光檢測器件和用于獲得聚焦誤差信號的光檢測器件，所述反射光是來自光盤的在全息裝置6的α區(qū)域衍射的反射光，而所述聚焦誤差信號是來自由光源2或3發(fā)出的光束在光記錄介質(zhì)上反射的光的信號。光檢測器件11和12沿著徑向分割線11a和12a分開，并且根據(jù)對應(yīng)于數(shù)學(xué)運算(A-B)或(a-b)的運算結(jié)果作為分開區(qū)域的輸出的信號是正的還是負的，來確定光記錄介質(zhì)9上的聚焦誤差。
光檢測器件13或14接收光源2或3發(fā)出的從光記錄介質(zhì)9上反射的反射光中的全息衍射裝置6的β區(qū)域的衍射輸出。光檢測器件15或16接收光源2或3發(fā)出的從光記錄介質(zhì)9上反射的反射光中的全息衍射裝置6的γ區(qū)域的衍射輸出。
圖2B是從圖2A所示光檢測器件求取跟蹤差錯信號的數(shù)學(xué)運算電路的電路圖。數(shù)學(xué)運算電路20求取光檢測器件13和15的輸出C和D之間的差，數(shù)學(xué)運算電路21求取光檢測器件14和16的輸出c和d之間的差，因數(shù)電路22使數(shù)學(xué)運算電路21的DC偏差的大小與數(shù)學(xué)運算電路20的DC偏差的大小相配，數(shù)學(xué)運算電路23將因數(shù)電路22的輸出從數(shù)學(xué)運算電路20的輸出中減去。數(shù)學(xué)運算電路的輸出TE由下式表達TE＝(C-D)-k(c-d)(1)極性選擇電路24選擇數(shù)學(xué)運算電路23輸出的極性。假如設(shè)在光記錄/再現(xiàn)裝置中的光記錄介質(zhì)檢測裝置25成為由第一光源2編址的光記錄裝置，則電路24從TE信號輸出端子26上輸出數(shù)學(xué)運算電路23的不變化的輸出信號。假如設(shè)在光記錄/再現(xiàn)裝置中的光記錄介質(zhì)檢測裝置25成為由第二光源3編址的光記錄裝置，則電路24從TE信號輸出端子26上輸出數(shù)學(xué)運算電路23的極性反向的輸出信號。
數(shù)學(xué)運算電路27從光檢測器件11的分割線11a分開的兩個區(qū)域求取輸出之差(A-B)，也就是當(dāng)?shù)谝还庠?用于記錄和再現(xiàn)時所計算的聚焦誤差信號。數(shù)學(xué)運算電路29從光檢測器件12的分割線12a分開的兩個區(qū)域求取輸出之差(a-b)，也就是當(dāng)?shù)诙庠?用于記錄和再現(xiàn)時所計算的聚焦誤差信號。輸出選擇電路30借助光記錄介質(zhì)檢測裝置25的輸出，對數(shù)學(xué)運算電路27和29的輸出進行選擇。由輸出選擇電路31的輸出端子31獲得聚焦誤差信號。
如圖3A所示，由第一光源2編址的供DVD用的光盤9A的以標號32示出的表面至記錄表面33的厚度H1約為0.6mm。與其不同，由第二光源3編址的供CD用的光盤9B的以標號34示出的表面至記錄表面35的厚度H2約為1.2mm。
于是，如圖3A所示，假如來自第一光源2的光束36聚焦在用于記錄/再現(xiàn)的光盤9A上，則由第二光源3輻射的光束38在記錄表面33上產(chǎn)生的光點39的直徑大于由第一光源2輻射的光束36在記錄表面33上產(chǎn)生的光點37的直徑，見圖3C。
與上不同，如圖3B所示，假如來自第二光源3的光束38聚焦在用于記錄/再現(xiàn)的光盤9B上，則由第一光源2輻射的光束36在記錄表面35上產(chǎn)生的光點37A的直徑大于由第二光源3輻射的光束38在記錄表面35上產(chǎn)生的光點39A的直徑，見圖3D。
利用光源2或3在光盤9A或9B上進行記錄/再現(xiàn)時，獲得的作為數(shù)學(xué)運算電路20的輸出(C-D)或數(shù)學(xué)運算電路21的輸出(c-d)的軌跡橫向信號含有DC偏差。
假如用例如第一光源2在光盤9A上進行記錄/再現(xiàn)，則光束的光點39越過多個軌跡槽43或脊44照射，這樣，數(shù)學(xué)運算電路21的輸出含有包括軌跡橫向分量的一個可忽略的信號。
當(dāng)物鏡8相對于光學(xué)系統(tǒng)(例如除物鏡8之外的光源2或檢測器4、5)在徑向由跟蹤伺服產(chǎn)生移位時，會在檢測器4的分開的光檢測器件13、15的輸出中產(chǎn)生由于光軸不能相應(yīng)于該移位對準所引起的反射光強度之差，這種差顯示出包含在數(shù)學(xué)運算電路20的輸出(C-D)中的DC偏差量，如圖4A所示。
另一方面，數(shù)學(xué)運算電路21的輸出中包含少量的軌跡橫向分量，且只包含DC偏差。在因數(shù)電路22中將DC偏差量乘以因數(shù)k，由此按照圖4A中的DC偏差DCf求取圖4A中由k(c-d)示出的輸出，然后執(zhí)行式(1)表示的運算，于是求得圖4中TE所示的消除了DC偏差的一個TE信號。在這種情況下，極性選擇電路24從TE信號輸出端子26上輸出由光記錄介質(zhì)檢測裝置25得到的TE信號，而不改變信號的極性。
相反，利用第二光源3在光盤9B上進行記錄/再現(xiàn)時，第二光源3在光盤9B上產(chǎn)生的光點39A的直徑小于第一光源2在光盤9B上產(chǎn)生的光點37A的直徑。在這種情況下，圖2中數(shù)學(xué)運算電路22的輸出k(c-d)從數(shù)學(xué)運算電路20的輸出(C-D)中被減去，從而消除了DC偏差，并且所得到的輸出的極性由極性選擇電路24反向，所產(chǎn)生的信號作為TE信號從TE信號輸出端子26上輸出。
假如用第一光源2進行記錄/再現(xiàn)，則輸出選擇電路30選擇數(shù)學(xué)運算電路27的輸出(A-B)，并將此信號作為聚焦誤差信號從端子31上輸出。(A-B)＞意味著焦點太接近，(A-B)＝O意味著焦點正好在目標上，而(A-B)＜O意味著焦點太遠。假如用第二光源3進行記錄/再現(xiàn)，則輸出選擇電路30選擇數(shù)學(xué)運算電路29的輸出(a-b)，并將此信號作為聚焦誤差信號從端子31上輸出。
假如TE信號是經(jīng)上述運算獲得的，可以證明，為了在數(shù)學(xué)運算后維持軌跡橫向分量幅度為原來的軌跡橫向信號的至少90％，光點直徑之比至少應(yīng)有2.5倍。該光點直徑之比最好設(shè)定為15倍或低一些，這是因為非聚焦測量光束的尺寸必須選擇得使光束不與光檢測器件上的聚焦測量光束重疊，以及因為光檢測器件的光檢測面積是有限制的。
按照本發(fā)明，兩種光源可同時工作。與光記錄介質(zhì)配合的一個光源2(或3)發(fā)出的光束可用于恢復(fù)信號和用于聚焦誤差信號。另一光源3(或2)發(fā)出的信號可用于校正DC偏差。于是可共用光檢測器件，使DC偏差得以校正。這使得光檢測器件的數(shù)目減少。具體例子是，在日本專利公開No.9-120568/(1997)中，裝了兩個光源，其光檢測器件總共需要十個。而本發(fā)明總共只需六個光檢測器件。
在實施本發(fā)明時，最好能將兩個光原2和3發(fā)出的激光束的出射方位偏移△(如圖4B所示)，并按需要來設(shè)定偏移量△，由此設(shè)定光盤上光點直徑之比。按照用LD模件作為一個部件的光頭的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計原理，偏移量△必須按需要在一定范圍內(nèi)調(diào)整，該范圍應(yīng)當(dāng)不受裝在光座40上的用于連接各部件的架子41的遮擋所造成的影響。例如，偏轉(zhuǎn)量△可設(shè)定為75微米。
由于兩個光源2和3同時啟用，因而可以通過獨立地設(shè)置用于監(jiān)視出射光束的光檢測器件45、46來自動控制光源的輸出功率。
如果光源2和3的照射面定位在光盤方向，則可減少制造工藝的數(shù)量和部件的數(shù)目，而不需要在安裝光源2和3之前使用反射鏡。
按照本發(fā)明的第一方面，兩種光源，即用于記錄/再現(xiàn)的一個光源和不用于記錄/再現(xiàn)的一個光源，可同時工作。用于記錄/再現(xiàn)的一個光束照射并聚焦在盤的記錄面上，而另一個光束用作非聚焦光束，使其在記錄面上的光點直徑大于前者的光點直徑。這樣可以共用光檢測器件，使DC偏差被校正，于是減少了光檢測器件的數(shù)目。
按照本發(fā)明的第二方面，將光記錄介質(zhì)上非聚焦光束的光點直徑設(shè)定為至少是光記錄介質(zhì)上聚焦光束的光點直徑的2.5倍大。于是，由非聚焦測量光束產(chǎn)生的反射光包含了包括由越過一軌跡的光點產(chǎn)生的一個可忽略的軌跡橫向分量的信號。結(jié)果，可獲得含有可忽略的DC偏差的軌跡差錯信號。將光記錄介質(zhì)上非聚焦光束的光點直徑設(shè)定為光記錄介質(zhì)上聚焦光束的光點直徑的15倍大或比15倍小一些，于是無須限制檢測器的光檢測器件的光檢測面積。此外，可防止接收的光束重疊在檢測器上。
按照本發(fā)明的第三方面，兩種光源的激光光束的出射方位偏移，于是可按需要來控制光記錄介質(zhì)上兩種光束光點的直徑之差。
按照本發(fā)明的第四方面，利用來自光檢測器件的兩個光束的信號輸出所獲得的跟蹤差錯信號，不再需要用側(cè)光束和供側(cè)光束用的光檢測器件來校正DC偏差，于是減少了光檢測器件的數(shù)目。
按照本發(fā)明的第五方面，利用來自光檢測器件的兩個光束的信號輸出所獲得的跟蹤差錯信號，不再需要用側(cè)光束和供側(cè)光束用的光檢測器件來校正DC偏差，于是減少了光檢測器件的數(shù)目。
按照本發(fā)明的第六方面，通過對當(dāng)時使用的光記錄介質(zhì)所依據(jù)的跟蹤差錯信號的數(shù)學(xué)運算電路的輸出進行正反極性選擇，可共用一個數(shù)學(xué)運算電路來獲取跟蹤差錯信號，于是簡化了電路結(jié)構(gòu)。
按照本發(fā)明的第七方面，使用了一種LD模件，以供本發(fā)明第一至第四方面任一項所述的光頭之用，或供本發(fā)明第四至第六方面任一項所述的光記錄/再記錄裝置之用，于是，可用非聚焦測量光束來校正DC偏差，這樣就減少了光檢測器件的數(shù)目和減小了裝置的尺寸。
權(quán)利要求
1.一種供光記錄/再現(xiàn)裝置用的光頭，包括兩個光源，用于發(fā)出具有不同波長的光束；兩個檢測器，獨立安排成用于具有不同波長的激光束；和一個衍射裝置，用于將來自光記錄介質(zhì)的反射光束引導(dǎo)到具有相應(yīng)波長的一個檢測器上，其中，所述光頭利用從檢測器得到的輸出來檢測光記錄介質(zhì)中的聚焦誤差和跟蹤差錯；來自兩個光源的激光束從光記錄介質(zhì)上反射的光束同時由分開的光檢測器件進行檢測；和當(dāng)具有不同波長的兩個光束之一聚焦在供記錄/再現(xiàn)的光記錄介質(zhì)上時，光記錄介質(zhì)上的其他非聚焦測量光束的光點直徑被設(shè)置成大于所述兩個光束之一的光點直徑。
2.如權(quán)利要求1所述的光頭，其特征在于，光記錄介質(zhì)上非聚焦光束的光點直徑設(shè)定為光記錄介質(zhì)上聚焦光束光點直徑的2.5至15倍大。
3.如權(quán)利要求1所述的光頭，其特征在于，產(chǎn)生不同波長的兩種激光束的光源發(fā)出的激光束的出射方位是偏移的。
4.如權(quán)利要求2所述的光頭，其特征在于，產(chǎn)生不同波長的兩種激光束的光源發(fā)出的激光束的出射方位是偏移的。
5.一種光記錄/再現(xiàn)裝置，包括一個光頭，該光頭包括兩個光源，用于發(fā)出具有不同波長的光束；兩個檢測器，獨立安排成用于具有不同波長的激光束；和一個衍射裝置，用于將來自光記錄介質(zhì)的反射光束引導(dǎo)到具有相應(yīng)波長的一個檢測器上，其中，所述光頭利用從檢測器得到的輸出來檢測光記錄介質(zhì)中的聚焦誤差和跟蹤差錯；來自兩個光源的激光束從光記錄介質(zhì)上反射的光束同時由分開的光檢測器件進行檢測；和當(dāng)具有不同波長的兩個光束之一聚焦在供記錄/再現(xiàn)的光記錄介質(zhì)上時，光記錄介質(zhì)上的其他非聚焦測量光束的光點直徑被設(shè)置成大于所述兩個光束之一的光點直徑；以及數(shù)學(xué)運算電路，以利用來自光檢測器件的兩個光束的信號輸出求取一個跟蹤差錯信號。
6.如權(quán)利要求5所述的光記錄/再現(xiàn)裝置，其特征在于，所述數(shù)學(xué)運算電路，按照推挽方法從各光檢測器件中去除跟蹤差錯信號，所述光檢測器件是按推挽方法供來自原來的跟蹤差錯信號的非聚焦激光束用的，而原來的跟蹤差錯信號來自供聚焦激光束用的光檢測器件，由此求取跟蹤差錯信號。
7.如權(quán)利要求6所述的光記錄/再現(xiàn)裝置，其特征在于，還包括一個極性選擇電路，以借助一個指示當(dāng)時使用的光記錄介質(zhì)的信號，改變供跟蹤差錯信號用的數(shù)學(xué)運算電路的輸出的極性。
全文摘要
光頭、光記錄/再現(xiàn)裝置和激光模件,所述光頭的發(fā)射具有不同波長的光束的兩個光源2和3同時工作。這兩種激光束從光記錄介質(zhì)上反射的光束由檢測器4和5同時檢測。當(dāng)具有不同波長的兩種光束之一聚焦在光記錄介質(zhì)上時,光記錄介質(zhì)上的另一非聚焦測量光束的光點直徑設(shè)定為大于所述兩種光束之一的光點直徑。具有較大光點直徑的反射光用于減少跟蹤差錯信號中的DC偏差。
文檔編號G11B7/12GK1345042SQ0112108
公開日2002年4月17日 申請日期2001年6月14日 優(yōu)先權(quán)日2000年6月14日
發(fā)明者澀谷義一 申請人:Tdk株式會社