專利名稱：光盤(pán)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種可記錄采用具有不同于周圍的反射率的行標(biāo)記的形式的信息的光盤(pán)，且更具體地，涉及一種槽記錄型的光盤(pán)。
用于這樣一DVD的信息記錄和再現(xiàn)設(shè)備具有以下的數(shù)據(jù)記錄特性如

圖1所示，該設(shè)備根據(jù)陸LD之間定義的一槽跡道GV上的數(shù)據(jù)來(lái)照射并聚焦一記錄光束以通過(guò)檢測(cè)DVD上的一陸前凹痕(prepit)(未示出)來(lái)識(shí)別該槽跡道GV上的一位置。在此時(shí)，被記錄光束輻照的部分被加熱，從而形成一記錄標(biāo)記部分M，該部分M的反射比不同于該槽跡道GV的該部分上的背景反射比。
該信息記錄和再現(xiàn)設(shè)備具有一拾取裝置，該拾取裝置包括例如一四象限光電探測(cè)器1，如圖2所示。該四象限光電探測(cè)器1具有一光電轉(zhuǎn)換裝置，該光電轉(zhuǎn)換裝置具有通過(guò)沿DVD的槽跡道GV的一方向和垂直于這些槽跡道的一方向被分成四段的四光接收表面1a至1d。該些光接收表面1a和1d被定位在DVD的外跡道側(cè)中而光接收表面1b和1c被定位在DVD的內(nèi)跡道側(cè)中。
一讀取光束發(fā)生器將一讀取光束輻照在通過(guò)一主軸電機(jī)被轉(zhuǎn)動(dòng)的DVD上，從而在記錄層上形成一光束點(diǎn)。該光電轉(zhuǎn)換裝置檢測(cè)來(lái)自DVD的在四光接收表面1a至1d上的該信息記錄點(diǎn)的反射光的強(qiáng)度并輸出對(duì)應(yīng)于分別由光接收表面1a至1d檢測(cè)的光量的接收信號(hào)Ra至Rd或電信號(hào)。與定位在DVD的外跡道側(cè)上的光接收表面1a和1d相關(guān)聯(lián)的接收信號(hào)Ra和Rd被提供給一加法器2，而與定位在DVD的內(nèi)跡道側(cè)上的光接收表面1b和1c相關(guān)聯(lián)的接收信號(hào)Rb和Rc被提供給一加法器3。加法器2將光接收信號(hào)Ra和Rd相加，加法器3將光接收信號(hào)Rb和Rc相加。而且，一減法器4從加法器2的輸出信號(hào)中減去加法器3的輸出信號(hào)，且提供一輸出信號(hào)作為一徑向推挽信號(hào)。然后，盡管未示出，可通過(guò)對(duì)應(yīng)于通過(guò)光接收表面1a、1b、1c和1d被分別檢測(cè)的光量的一總輸出電信號(hào)而產(chǎn)生一RF信號(hào)。而且，該推挽信號(hào)響應(yīng)于相對(duì)于光盤(pán)的槽的非對(duì)稱性而改變，因?yàn)榫哂性谶@些光接收表面上的強(qiáng)度分布的光點(diǎn)由來(lái)自該槽的一折射光形成。這些光接收表面上的一光點(diǎn)中的強(qiáng)度分布的非對(duì)稱性由當(dāng)通過(guò)拾取頭輻射在光盤(pán)上的聚焦的光點(diǎn)被移離該槽時(shí)出現(xiàn)的在第0衍射光和第±1衍射光之間的相位差引起。
例如DVD-RW的常規(guī)的槽記錄光盤(pán)僅能以高版本數(shù)字廣播質(zhì)量記錄少于30分鐘的圖象。
為了使下一代光盤(pán)記錄系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)對(duì)于高版本數(shù)字信號(hào)的實(shí)用的記錄時(shí)間，需要在拾取頭中使用藍(lán)激光和具有高數(shù)字孔徑NA的物鏡以進(jìn)一步減小聚焦的點(diǎn)徑且相應(yīng)地增大光盤(pán)上的記錄密度。通常，可通過(guò)增大在記錄/再現(xiàn)中使用的物鏡的數(shù)字孔徑NA及縮短激光波長(zhǎng)λ來(lái)增大光盤(pán)的記錄密度。這是因?yàn)楣獗P(pán)上的光束點(diǎn)與λ/NA成比例地減小。因而，通過(guò)增大NA和減小λ來(lái)提高光盤(pán)的記錄/再現(xiàn)密度。目前在光盤(pán)系統(tǒng)中的激光光束的λ＝650nm及物鏡的NA＝0.6的規(guī)格下的可用的DVD在一外表面和一反射膜(記錄層)之間具有一0.6mm厚的光透射層。
如果為了增大標(biāo)記的密度，連同減小光點(diǎn)直徑到一模擬形式一起減小DVD-R/RW的數(shù)據(jù)比特長(zhǎng)度，則它是0.117μm/比特。然而，因?yàn)橛涗浶再|(zhì)的限制，該條件難以記錄標(biāo)記。已得知只要數(shù)據(jù)比特長(zhǎng)度長(zhǎng)到接近0.130μm/比特，可實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的記錄/再現(xiàn)。例如，在(1，7)RLL調(diào)制的情況下，到一信道比特長(zhǎng)度的轉(zhuǎn)換提供86.7μm/比特。
因?yàn)樵诒P(pán)的切線方向上提高標(biāo)記密度存在有限制，在盤(pán)的徑向上提高標(biāo)記密度。即需要縮窄跡道間距TP。當(dāng)跡道間距被進(jìn)一步縮窄時(shí)，通過(guò)拾取頭獲得的推挽信號(hào)在DVD-R/RW槽深Gd的λ/16n的附近被減小(其中λ表示使用的光束的波長(zhǎng)及n表示光透射層中的折射率)，從而使得獲得實(shí)用的尋跡信號(hào)不可能。由于該情況，，難以使得跡道間距更窄。這樣，限定了增大在常規(guī)的DVD-R/RW中的記錄密度和模擬形成的跡道間距TP。
因此，對(duì)于具有從常規(guī)的DVD-R/RW所模擬形成的減小的構(gòu)造的光盤(pán)，其中其跡道間距和數(shù)據(jù)比特長(zhǎng)度相對(duì)于λ/NA的值被轉(zhuǎn)換成減小的跡道間距和數(shù)據(jù)比特長(zhǎng)度，不可能將其作為具有實(shí)用的記錄容量的穩(wěn)定的可記錄光盤(pán)系統(tǒng)投入實(shí)際使用。
本發(fā)明的一光盤(pán)具有一記錄層，記錄作為在以0.280μm或更大的跡道間距形成的一槽中交替出現(xiàn)的一行標(biāo)記和非標(biāo)記的信息；和一光透射層，形成在該記錄層上，一光束具有375nm至415nm范圍內(nèi)的一波長(zhǎng)且通過(guò)具有在0.80至0.90范圍內(nèi)的一數(shù)值孔徑NA的物鏡，經(jīng)該光透射層照射至該記錄層以再現(xiàn)該信息，該光盤(pán)其特征在于該槽具有18nm至32nm范圍內(nèi)的一深度。
根據(jù)本發(fā)明的光盤(pán)的一方面，所述槽具有在80nm至240nm范圍內(nèi)的一寬度。
圖3是根據(jù)本發(fā)明的一槽記錄型光盤(pán)的局部剪切的斷續(xù)的透視圖；圖4是在(1，7)RLL調(diào)制的情況下一RF調(diào)制幅值信號(hào)的變化示意圖；圖5是示出根據(jù)本發(fā)明的光盤(pán)的另一實(shí)施例的槽深為8nm的情況下，RF幅值調(diào)制因子的分布示意圖；圖6是示出根據(jù)本發(fā)明的光盤(pán)的另一實(shí)施例的槽深為32nm的情況下，RF幅值調(diào)制因子的分布示意圖；圖7是示出根據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施例的光盤(pán)的一面積比和一槽深之間的關(guān)系的示意圖，其中該面積比是在表示一標(biāo)記特征的圖中在RF幅值調(diào)制因子為0.6或更大的范圍內(nèi)的一面積相比于RF幅值調(diào)制因子為1的一面積；圖8是根據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施例的光盤(pán)中一層結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖9是根據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施例中的膜厚度組合的數(shù)目的一比例與一槽深之間的關(guān)系的示意圖，其中該比例是滿足調(diào)制因子為0.6或更大的膜厚度組合的數(shù)目相比于某一組合群的總數(shù)；圖10是該實(shí)施例的光盤(pán)中的適作為一正交坐標(biāo)的一物鏡NA和跡道間距TP的一范圍的示意圖，該正交坐標(biāo)具有軸激光波長(zhǎng)λ、物鏡NA和跡道間距TP；圖11是在圖10中的點(diǎn)P1、P2和P3處的好面積(good area)對(duì)槽深的特征曲線的示意圖12是該實(shí)施例的相對(duì)于在光盤(pán)上記錄的周圍的槽深的一推挽信號(hào)幅值改變的示意圖；圖13是用于說(shuō)明在差分相位檢測(cè)方法中推導(dǎo)出一尋跡誤差信號(hào)和非對(duì)稱性的方法的示意圖；及圖14是示出在物鏡移位5％時(shí)槽寬和非對(duì)稱性的一變化區(qū)域的示意圖。
圖3示出了根據(jù)該實(shí)施例的一可重寫(xiě)相變光盤(pán)的例子。該光盤(pán)具有一疊層結(jié)構(gòu)的記錄層15，該疊層結(jié)構(gòu)具有由相變材料例如Ag-In-Sb-Te形成的一中間層，和將該中間層夾在中間的象玻璃的保護(hù)層例如Zn-SiO2。在記錄層15上形成有一槽跡道12和一陸跡道13。通過(guò)該并置的陸和槽，一激光束B(niǎo)被誘導(dǎo)作為再生或記錄光。信息通過(guò)一光束的光點(diǎn)SP，作為一行標(biāo)記和非標(biāo)記(未記錄的區(qū)域)被記錄在記錄層中的以跡道間距TP、槽深Gd形成的槽12中。光盤(pán)11具有鋁或類似材料的一反射層16以反射光束；一聚碳酸酯或類似材料的一透明基底18；和一粘附層19。而且，在光束入射側(cè)上設(shè)置有一聚碳酸酯制成的光透射層17以保護(hù)它們。
本發(fā)明人設(shè)計(jì)了一種在激光波長(zhǎng)λ為405nm、物鏡NA為0.85、跡道間距TP為0.030μm及槽寬Gw為100nm的前提下估計(jì)記錄層膜厚度的自由度的方法，并發(fā)現(xiàn)了通過(guò)使用該方法使得進(jìn)一步穩(wěn)定光盤(pán)系統(tǒng)的槽寬Gd的范圍。結(jié)果，發(fā)現(xiàn)當(dāng)給定0.28μm-0.325μm時(shí)跡道間距要求槽深在18nm-32nm的范圍內(nèi)。本發(fā)明人已推導(dǎo)出這樣一概念將膜設(shè)計(jì)自由度作為記錄層特征的一估計(jì)函數(shù)以通過(guò)計(jì)算機(jī)模擬來(lái)確定光盤(pán)的最佳跡道間距和槽深。
在記錄型盤(pán)中，記錄的標(biāo)記的特性依據(jù)于記錄層組分、膜厚度、層結(jié)構(gòu)及類似因素而以不同的方法改變。本發(fā)明集中在作為標(biāo)記特性的兩個(gè)參數(shù)上標(biāo)記反射率和標(biāo)記相位，目的在于獲得更大的RF信號(hào)幅值調(diào)制因子。該標(biāo)記反射率被定義為光盤(pán)中一標(biāo)記上的反射率除以一非標(biāo)記上的反射率的值。該標(biāo)記相位被定義為光盤(pán)中的標(biāo)記和非標(biāo)記之間的相位差。該RF信號(hào)幅值調(diào)制因子被定義為一再現(xiàn)的RF信號(hào)幅值相對(duì)于該RF信號(hào)的最大幅值的比例。在例如圖4中所示的(1，7)RLL調(diào)制的情況下，該調(diào)制因子被定義為使用RF信號(hào)幅值I8和最大幅值I8H的I8/I8H。因此，該RF信號(hào)幅值調(diào)制因子被表示為0至1的一值。
RF信號(hào)幅值調(diào)制因子示出了對(duì)應(yīng)于在一坐標(biāo)上的一槽深的一具體分布，該具體分布依據(jù)于一標(biāo)記反射率和標(biāo)記相位而改變，該坐標(biāo)的水平軸和垂直軸分別為標(biāo)記反射率和標(biāo)記相位。即每個(gè)RF信號(hào)幅值調(diào)制因子被視作為根據(jù)一標(biāo)記特性中的至少一槽深的一具體分布輪廓圖中的曲線。例如，圖5和6示出了這些標(biāo)記特性，即分別在(tp＝0.3μm，Gd＝8nm，Gw＝100nm)和(TP＝0.3μm，Gd＝32nm，Gw＝100nm)的情況下作為輪廓圖的RF信號(hào)幅度調(diào)制因子的分布。
在該點(diǎn)，本發(fā)明人定義了在表示RF信號(hào)幅度調(diào)制因子與如在圖5和6中所示的即為好面積(good area)(％)的標(biāo)記特性的相關(guān)性的圖中，在RF信號(hào)幅度調(diào)制因子為0.6或更大的范圍內(nèi)的一面積相對(duì)于RF信號(hào)幅度調(diào)制因子為1的一面積的比例。因?yàn)镈VD標(biāo)準(zhǔn)要求RF信號(hào)幅度調(diào)制因子為0.6或更大，這樣一值被用作為參考值。換句話說(shuō)，假設(shè)在標(biāo)記反射率小于1且標(biāo)記相位小于180度的整個(gè)范圍內(nèi)，代表一好面積范圍的比例的函數(shù)被給定為F(λ，NA，TP，Gd)，跡道間距TP和槽寬Gd被設(shè)置以滿足F(λ，NA，TP，Gd)＞0.5或更大，最好為0.6或更大。
圖7為示出了該實(shí)施例的一好面積和一槽深之間的關(guān)系的示意圖。如圖7所示，好面積有依據(jù)于一槽深的相關(guān)性。如果認(rèn)為記錄層足夠容易地設(shè)計(jì)成具有62.5％或更大的一好面積，18nm至32nm的一槽深范圍是令人滿意的。
如圖8所示，在第二實(shí)施例中，對(duì)各具有類似于圖3的由相變材料AgInSbTe的中間層和將該中間層夾在中間的Zn-SiO2保護(hù)層組成的一記錄層15的相變光盤(pán)進(jìn)行計(jì)算機(jī)模擬。在圖8中，t1，t2和t3分別表示Zn-SiO2，AgInSbTe和Zn-SiO2的膜厚度。例如這些相變光盤(pán)被制造以使記錄層15的膜厚度組被改變，如下的P1至P3P1(t1＝100nm，t2＝7nm，t3＝35nm)P2(t1＝100nm，t2＝8nm，t3＝37nm)P3(t1＝80nm，t2＝6nm，t3＝38nm)該相變光盤(pán)的標(biāo)記特性被落到如圖5和6中的P1至P3所示的位置上?？梢?jiàn)這些標(biāo)記特性依據(jù)于膜厚度組合有很大地不同。
而且，對(duì)于以下情況作另一計(jì)算機(jī)模擬圖8的結(jié)構(gòu)中的膜厚度組合以一種方式(t1在95nm至105nm的范圍內(nèi)被改變，t2在5nm-7nm范圍內(nèi)及t3被固定在35nm)被改變。從大量的膜厚度組合中選擇800種，對(duì)該相變光盤(pán)的標(biāo)記特性進(jìn)行分別計(jì)算。
圖9是示出了膜厚度組合的數(shù)目的比例與槽深之間的關(guān)系的圖計(jì)算結(jié)果，其這樣一比例是具有滿足RF信號(hào)幅度調(diào)制因子為0.6或更大的標(biāo)記特性的膜厚度組合的數(shù)目相對(duì)于被提取的組合的數(shù)目的一比例。如圖9所示，可以理解當(dāng)槽深增大到大于32nm時(shí)，具有RF信號(hào)幅度調(diào)制因子為0.6或更大的標(biāo)記特性的膜厚度組合的數(shù)目馬上減少。
即可見(jiàn)當(dāng)在例如圖5、6的表示標(biāo)記特性的一兩維圖中的滿足RF信號(hào)幅度調(diào)制因子為0.6或更大的范圍的面積更大時(shí)，在疊層設(shè)計(jì)中的膜厚度選擇度即自由度被加強(qiáng)。
從圖7和圖9之間的比較可以理解，考慮到膜設(shè)計(jì)的自由度，在好面積和具有滿足預(yù)定的調(diào)制因子的標(biāo)記特性的膜厚度的組合比例之間有相關(guān)性。因此，可認(rèn)為在如圖5和6所示的示出RF信號(hào)幅度調(diào)制因子對(duì)標(biāo)記特性的依賴性的圖中，滿足RF信號(hào)幅度調(diào)制因子為0.6或更大的的一區(qū)域面積(好面積)的比例為膜設(shè)計(jì)自由度。
不管該實(shí)施例中所述的記錄層組分、層結(jié)構(gòu)和膜厚度范圍，這對(duì)于其他的記錄層來(lái)說(shuō)通常是真實(shí)的。
上述實(shí)施例示出了激光波長(zhǎng)λ為405nm、物鏡NA為0.85、跡道間距TP為0.030μm的情況。本發(fā)明還對(duì)在物鏡NA為0.80至0.690、激光波長(zhǎng)λ為375nm至415nm及跡道間距TP為0.325μm至0.280μm的情況下的好面積與槽深的相關(guān)性進(jìn)行了計(jì)算機(jī)模擬。結(jié)果，確認(rèn)在下式(1)至(3)的范圍中的類似標(biāo)準(zhǔn).
0.28≤TP(μm)≤0.325 …(1)375≤λ(nm)≤415 …(2)0.8≤NA≤0.9 …(3)然而，假設(shè)當(dāng)槽深為18nm時(shí)，具有0.12或更大的推挽信號(hào)幅值，可穩(wěn)定地實(shí)現(xiàn)尋跡，滿足此的區(qū)域可由使用TP、λ和NA作為參數(shù)的下式(4)表示。
8000TP(μm)-9λ(nm)+3600NA≥1745 …(4)即，如果在公式(1)至(4)的范圍內(nèi)，可獲得具有18nm或更大的槽深的穩(wěn)定尋跡。
圖10說(shuō)明了在具有激光波長(zhǎng)λ、物鏡NA和跡道間距TP作為軸的一正交坐標(biāo)上的公式(1)至(4)的范圍。公式(4)的邊界平面是圖10中包括點(diǎn)P1、P2和P3的一平面。
通過(guò)例如取圖10的點(diǎn)P1、P2和P3計(jì)算具有在圖10中所示的Na、λ和TP的公式(1)至(4)的范圍內(nèi)的好面積對(duì)槽深的依賴性。圖11示出了計(jì)算結(jié)果，示出了好面積與槽深之間的關(guān)系。在該情況下，如圖11所示，可見(jiàn)如果在點(diǎn)P1(TP＝0.28μm，NA＝0.8)的槽深為32nm或更小及在點(diǎn)P2(λ＝415nm，NA＝0.8)的槽深為18nm或更大，滿足了好面積為60％或更大。已確認(rèn)如果即使在圖10中所示的公式(1)至(4)的范圍內(nèi)，槽深取32nm或更小，好面積為便于實(shí)現(xiàn)膜厚度設(shè)計(jì)的50％或更大。
0.12或更大的一推挽信號(hào)幅值的范圍被取作為符合DVD-R/RW標(biāo)準(zhǔn)的一目標(biāo)值。自此標(biāo)準(zhǔn)手冊(cè)，記錄后的推挽信號(hào)幅值PPa被推導(dǎo)為0.183≤PP≤0.73。模擬在記錄周圍的相對(duì)于一槽深的推挽信號(hào)中的幅值變化，如果在記錄之前的推挽信號(hào)幅值PP被給定為0.12或更大，如圖12所示，則PPa得到完全滿足以使尋跡穩(wěn)定。
通常，如果跡道間距TP過(guò)窄，推挽信號(hào)幅值變小以使得尋跡不穩(wěn)定，導(dǎo)致光盤(pán)系統(tǒng)無(wú)法確定。然而，本發(fā)明的光盤(pán)采用18nm或更大的槽深，導(dǎo)致可能獲得進(jìn)一步穩(wěn)定化的尋跡(推挽)信號(hào)。同時(shí)，給定為32nm或更小的槽深實(shí)現(xiàn)了將獲得在記錄后具有足夠幅值的一光盤(pán)的RF信號(hào)幅值調(diào)制因子的一記錄層的設(shè)計(jì)。從上可見(jiàn)，在18nm-32nm范圍內(nèi)的槽深使得可實(shí)現(xiàn)能夠保持需要的且足夠的記錄容量的一穩(wěn)定的槽記錄型光盤(pán)。
在本發(fā)明的另一實(shí)施例中，具有記錄信息的一槽的一光盤(pán)被構(gòu)成以具有在記錄后的與一只讀ROM光盤(pán)的兼容性。
用于一ROM光盤(pán)的尋跡誤差檢測(cè)方案經(jīng)常使用差分相位檢測(cè)(DPD)。因此，通過(guò)DPD可能檢測(cè)到即使在具有本實(shí)施例的槽的光盤(pán)上的尋跡誤差。
DPD存在的問(wèn)題包括由于物鏡移位導(dǎo)致的非對(duì)稱性。眾所周知該現(xiàn)象是由于大于λ/4的一凹痕(pit)光學(xué)相差中的偏移所致。
在本發(fā)明的光盤(pán)中，具有替代凹痕的槽和標(biāo)記以具有進(jìn)一步復(fù)雜的相位結(jié)構(gòu)，其中會(huì)出現(xiàn)非對(duì)稱性。非對(duì)稱性必須被抑制，因?yàn)樗鼘?dǎo)致光點(diǎn)在跡道上的位置偏移且因此導(dǎo)致再現(xiàn)信號(hào)中出現(xiàn)嚴(yán)重的缺陷。因此，根據(jù)DPD尋跡誤差信號(hào)檢測(cè)方案計(jì)算非對(duì)稱性，從而計(jì)算及估計(jì)一適當(dāng)?shù)牟蹖扜w。
該尋跡誤差信號(hào)以這樣的方式生成使得在圖2中所示的拾取裝置中，4象限光電探測(cè)器1的Rb+Rd和Rc+Ra的垂直輸出被提供給一相位比較器(未示出)。在此情況下，如圖13所示，尋跡誤差信號(hào)強(qiáng)度T1，T2的變化在從一徑向光點(diǎn)位置的參考點(diǎn)0到一跡道間距±TP的區(qū)域中被測(cè)量，從而在改變槽寬的同時(shí)，通過(guò)以下公式推導(dǎo)出非對(duì)稱性。
非對(duì)稱性＝(T1-T2)/(T1+T2)圖14是示出由于計(jì)算的結(jié)果，當(dāng)物鏡被移位5％時(shí)槽寬和非對(duì)稱性的一改變區(qū)域的示意圖。在該圖中，區(qū)域1示出了對(duì)于32nm的槽深的在上述范圍內(nèi)的一非對(duì)稱性變化區(qū)域。區(qū)域2示出了對(duì)于18nm的槽深的在上述范圍內(nèi)的一非對(duì)稱性變化區(qū)域。
因?yàn)橛袑?shí)際上將非對(duì)稱性減小到一絕對(duì)值0.2或更小的需要。如圖14所示，槽寬Gw被限制在50nm-260nm的范圍內(nèi)，且最好在80nm-240nm的范圍內(nèi)。因此，通過(guò)DPD獲得一尋跡誤差信號(hào)并限制其槽寬，非對(duì)稱性可被抑制在一實(shí)際的范圍內(nèi)。
盡管上述實(shí)施例說(shuō)明了作為一例子的圖8中所示的層結(jié)構(gòu)，對(duì)于其他的模組分、層結(jié)構(gòu)或膜厚度范圍情況，本發(fā)明被類似地實(shí)現(xiàn)。也就是說(shuō)，本發(fā)明不僅在使用相變材料膜的光盤(pán)上被實(shí)現(xiàn)，而且在使用有機(jī)顏料的光盤(pán)上被實(shí)現(xiàn)。
除了單層構(gòu)成的光盤(pán)外，本發(fā)明類似地在具有一記錄層(具有兩或更多層)的光盤(pán)上被實(shí)現(xiàn)。
除了在一表面上具有一記錄層的光盤(pán)外，本發(fā)明類似地在兩表面上具有記錄層的一光盤(pán)上被實(shí)現(xiàn)。
在本發(fā)明中，槽深被設(shè)置在18nm-32nm的范圍內(nèi)，可獲得足夠的推挽信號(hào)的幅值。因此，即使跡道間距窄于常規(guī)的DVD-R/RW的λ/NA轉(zhuǎn)換值，仍可實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的尋跡。結(jié)果，記錄密度被提高，且實(shí)現(xiàn)了用于獲得足夠的調(diào)制因子的記錄層設(shè)計(jì)。
根據(jù)本發(fā)明，因?yàn)橥ㄟ^(guò)使槽寬為50nm-260nm，DPD尋跡信號(hào)中的非對(duì)稱性被抑制，當(dāng)對(duì)于尋跡信號(hào)使用DPD，在一排它性(exclusive)再現(xiàn)器上再現(xiàn)一被記錄的光盤(pán)時(shí)，可足夠地保證兼容性。
可以理解以上的描述和附圖給出了目前的本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例。自然，對(duì)于本領(lǐng)域的熟練技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，不脫離本發(fā)明的精神和范圍的各種改型、附加和替換設(shè)計(jì)是顯然的。因此，應(yīng)理解本發(fā)明不限于公開(kāi)的實(shí)施例而應(yīng)可在后附的權(quán)利要求的全部的范圍中被實(shí)現(xiàn)。
權(quán)利要求
1.一種光盤(pán)，包括一基底；一記錄層，形成在該基底上且具有以0.280μm或更大的跡道間距形成的一槽，用于記錄作為交替出現(xiàn)在該槽中的一行標(biāo)記和非標(biāo)記的信息；及一光透射層，形成在所述記錄層上，其特征在于在以具有375nm至415nm范圍內(nèi)的一波長(zhǎng)的一光束通過(guò)具有在0.80至0.90范圍內(nèi)的一數(shù)值孔徑NA的一物鏡，經(jīng)過(guò)所述光透射層被照射至所述記錄層的方式，執(zhí)行信息再現(xiàn)的情況下，所述槽具有在18nm至32nm范圍內(nèi)的一深度。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤(pán)，其中所述槽具有在80nm至240nm范圍內(nèi)的一寬度。
全文摘要
一光盤(pán)具有一記錄層,記錄作為在以0.280μm或更大的跡道間距形成的一槽中交替出現(xiàn)的一行標(biāo)記和非標(biāo)記的信息;和一光透射層,形成在該記錄層上,一光束具有375nm至415nm范圍內(nèi)的一波長(zhǎng)且通過(guò)具有在0.80至0.90范圍內(nèi)的一數(shù)值孔徑NA的物鏡,經(jīng)該光透射層照射至該記錄層以再現(xiàn)該信息。該槽具有18nm至32nm范圍內(nèi)的一深度。
文檔編號(hào)G11B7/24GK1355525SQ0113477
公開(kāi)日2002年6月26日 申請(qǐng)日期2001年11月12日 優(yōu)先權(quán)日2000年11月10日
發(fā)明者大久保彰律, 柳澤琢磨, 野本貴之 申請(qǐng)人:先鋒株式會(huì)社