專利名稱：播放裝置和方法、及其記錄介質(zhì)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種播放裝置和方法、及其記錄介質(zhì)，并且特別涉及適于防止光拾取部件伺服故障的播放裝置和方法、及記錄介質(zhì)，其中上述故障由例如光盤介質(zhì)的裂紋或相似問(wèn)題導(dǎo)致發(fā)生。
背景技術(shù)：
圖1顯示了一種傳統(tǒng)光盤播放裝置的結(jié)構(gòu)，這種裝置用于重放光盤上記錄的數(shù)據(jù)。
傳統(tǒng)的光盤播放裝置中的主軸電機(jī)2驅(qū)動(dòng)并旋轉(zhuǎn)光盤1。光拾取部件3將激光照射到光盤1上，產(chǎn)生相應(yīng)于反射光的信號(hào)，然后將信號(hào)輸出到RF信號(hào)發(fā)生單元4、FE信號(hào)發(fā)生單元5和TE信號(hào)發(fā)生單元6。另外，光拾取部件3響應(yīng)聚焦驅(qū)動(dòng)器10的聚焦驅(qū)動(dòng)信號(hào)，來(lái)調(diào)整聚焦伺服操作，并且響應(yīng)跟蹤驅(qū)動(dòng)器12的跟蹤驅(qū)動(dòng)信號(hào)，來(lái)調(diào)整跟蹤伺服操作。
RF信號(hào)發(fā)生單元4根據(jù)光拾取部件3的信號(hào)，產(chǎn)生RF信號(hào)，然后將RF信號(hào)輸出到二進(jìn)制化單元7和缺陷檢測(cè)單元8。FE信號(hào)發(fā)生單元5根據(jù)光拾取部件3的信號(hào)，產(chǎn)生聚焦誤差信號(hào)(此后描述為FE信號(hào))，然后將FE信號(hào)輸出到聚焦伺服控制單元9。TE信號(hào)發(fā)生單元6根據(jù)光拾取部件3的信號(hào)，產(chǎn)生跟蹤誤差信號(hào)(此后描述為TE信號(hào))，然后將TE信號(hào)輸出到跟蹤伺服控制單元11。
二進(jìn)制化單元7通過(guò)將RF信號(hào)發(fā)生單元4的RF信號(hào)二進(jìn)制化成0或1，來(lái)產(chǎn)生數(shù)據(jù)信號(hào)。缺陷檢測(cè)單元8根據(jù)RF信號(hào)發(fā)生單元4的RF信號(hào)，檢測(cè)光盤1上出現(xiàn)的裂紋、污點(diǎn)或相似問(wèn)題導(dǎo)致的信號(hào)丟失(缺陷)，產(chǎn)生缺陷信號(hào)，指示檢測(cè)到的缺陷周期，然后將缺陷信號(hào)輸出到聚焦伺服控制單元9和跟蹤伺服控制單元11。
檢測(cè)缺陷的一種方法是，例如在RF信號(hào)的電平低于預(yù)定閾值時(shí)的周期，將缺陷信號(hào)的電平設(shè)置為高電平，而在RF信號(hào)的電平高于預(yù)定閾值時(shí)的周期，將缺陷信號(hào)設(shè)置為低電平。具體地說(shuō)，當(dāng)RF信號(hào)具有圖2A顯示的電平時(shí)，缺陷信號(hào)具有圖2B顯示的相應(yīng)電平。
在正常周期(缺陷檢測(cè)單元8的缺陷信號(hào)的電平為低電平時(shí)的周期)，聚焦伺服控制單元9產(chǎn)生相應(yīng)于FE信號(hào)發(fā)生單元5的FE信號(hào)的聚焦驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)，然后將聚焦驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)輸出到聚焦驅(qū)動(dòng)器10。當(dāng)缺陷信號(hào)的電平為高電平時(shí)，聚焦伺服控制單元9將聚焦驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)保持在預(yù)定的參考值上，或者將聚焦驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)保持在缺陷信號(hào)的電平剛剛變?yōu)楦唠娖街暗木劢跪?qū)動(dòng)控制信號(hào)的值上，如圖2D所示，然后將聚焦驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)的電平輸出到聚焦驅(qū)動(dòng)器10。
聚焦驅(qū)動(dòng)器10相應(yīng)于聚焦伺服控制單元9的聚焦驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)，產(chǎn)生聚焦驅(qū)動(dòng)信號(hào)，然后將聚焦驅(qū)動(dòng)信號(hào)輸出到光拾取部件3。
在正常周期(缺陷檢測(cè)單元8的缺陷信號(hào)的電平為低電平時(shí)的周期)，跟蹤伺服控制單元11根據(jù)TE信號(hào)發(fā)生單元6的TE信號(hào)，產(chǎn)生跟蹤驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)，然后將跟蹤驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)輸出到跟蹤驅(qū)動(dòng)器12。當(dāng)缺陷信號(hào)的電平為高電平時(shí)，跟蹤伺服控制單元11將跟蹤驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)的電平保持在預(yù)定的參考值上，或者將跟蹤驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)保持在缺陷信號(hào)的電平剛剛變?yōu)楦唠娖街暗母欜?qū)動(dòng)控制信號(hào)的值上，如圖2F所示，然后將跟蹤驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)的電平輸出到跟蹤驅(qū)動(dòng)器12。
跟蹤驅(qū)動(dòng)器12相應(yīng)于跟蹤伺服控制單元11的跟蹤驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)，產(chǎn)生跟蹤驅(qū)動(dòng)信號(hào)，然后將跟蹤驅(qū)動(dòng)信號(hào)輸出到光拾取部件3。
在一些情況下，傳統(tǒng)的光盤播放裝置將缺陷檢測(cè)單元8產(chǎn)生的缺陷信號(hào)，提供到FE信號(hào)發(fā)生單元5和TE信號(hào)發(fā)生單元6。
在這些情況下，在正常周期(缺陷檢測(cè)單元8的缺陷信號(hào)的電平為低電平時(shí)的周期)，提供有缺陷信號(hào)的FE信號(hào)發(fā)生單元5，根據(jù)光拾取部件3的信號(hào)產(chǎn)生FE信號(hào)，然后將FE信號(hào)輸出到聚焦伺服控制單元9。當(dāng)缺陷信號(hào)的電平為高電平時(shí)，F(xiàn)E信號(hào)發(fā)生單元5將FE信號(hào)的電平保持在預(yù)定的參考值上，或者將FE信號(hào)保持在缺陷信號(hào)的電平剛剛變?yōu)楦唠娖街暗腇E信號(hào)的值上，如圖2C所示，然后將FE信號(hào)的電平輸出到聚焦伺服控制單元9。聚焦伺服控制單元9輸出相應(yīng)于電平保持恒定的FE信號(hào)的聚焦驅(qū)動(dòng)信號(hào)，如圖2D所示。
在正常周期(缺陷檢測(cè)單元8的缺陷信號(hào)的電平為低電平時(shí)的周期)，提供有缺陷信號(hào)的TE信號(hào)發(fā)生單元6，根據(jù)光拾取部件3的信號(hào)產(chǎn)生TE信號(hào)，然后將TE信號(hào)輸出到跟蹤伺服控制單元11。當(dāng)缺陷信號(hào)的電平為高電平時(shí)，TE信號(hào)發(fā)生單元6將TE信號(hào)的電平保持在預(yù)定的參考值上，或者將TE信號(hào)保持在缺陷信號(hào)的電平剛剛變?yōu)楦唠娖街暗腡E信號(hào)的值上，如圖2E所示，然后將TE信號(hào)的電平輸出到跟蹤伺服控制單元11。跟蹤伺服控制單元11輸出相應(yīng)于具有固定值的TE信號(hào)的跟蹤驅(qū)動(dòng)信號(hào)，如圖2F所示。
這樣，即使因?yàn)楣獗P1上出現(xiàn)裂紋或相似缺陷，而不能得到正常反射光，當(dāng)缺陷信號(hào)的電平為高電平時(shí)，這樣形成的傳統(tǒng)光盤播放裝置也能保持聚焦驅(qū)動(dòng)信號(hào)和跟蹤驅(qū)動(dòng)信號(hào)的電平。由此，防止光拾取部件3的聚焦伺服和跟蹤伺服的故障。
然而，在缺陷信號(hào)長(zhǎng)時(shí)間為高電平周期的情況下，或者依賴于保持的聚焦驅(qū)動(dòng)信號(hào)和跟蹤驅(qū)動(dòng)信號(hào)輸出中的誤差的情況下，當(dāng)缺陷信號(hào)的電平返回到低電平時(shí)，光拾取部件3實(shí)質(zhì)上偏離原始的伺服控制位置。
例如，日本專利公開(kāi)說(shuō)明書(shū)第Sho59-203276號(hào)公開(kāi)了一種防止此偏離的方法，它將注意力轉(zhuǎn)向TE信號(hào)的特性，如周期性，使用跟蹤誤差和跟蹤周期的通過(guò)計(jì)算產(chǎn)生接近原始TE信號(hào)的偽誤差信號(hào)，并且當(dāng)缺陷信號(hào)的電平為高電平時(shí)，使用計(jì)算得到的偽誤差信號(hào)代替原始TE信號(hào)。
另外，日本專利公開(kāi)說(shuō)明書(shū)第Sho64-39638號(hào)公開(kāi)了這樣的方法，它將聚焦偏移調(diào)整電壓改變?yōu)轭A(yù)定值，由此當(dāng)缺陷信號(hào)的電平為高電平時(shí)，防止聚焦線圈偏移，這樣當(dāng)缺陷信號(hào)的電平返回低電平時(shí)，使誤差最小化。
在缺陷信號(hào)的電平為高電平時(shí)，并且在缺陷信號(hào)的電平返回低電平后，上述傳統(tǒng)技術(shù)主要針對(duì)減小控制誤差的范圍，并且不考慮減小從返回到缺陷信號(hào)的低電平，到返回到正常伺服控制狀態(tài)的周期。
通常，當(dāng)缺陷信號(hào)的高電平周期變得更長(zhǎng)時(shí)，控制誤差趨于增加。這樣，在控制誤差大的情況下，如果沒(méi)有背離正常伺服控制的范圍，當(dāng)缺陷信號(hào)電平返回到低電平時(shí)，例如圖3A、3B、3C、3D和3E所示，則伺服繼續(xù)不穩(wěn)定，并且在伺服返回到正常控制狀態(tài)前，需要相當(dāng)長(zhǎng)的時(shí)間。
為了使伺服迅速返回到正?？刂茽顟B(tài)，已知一種方法，在跟蹤跳躍或相似動(dòng)作之后，使伺服循環(huán)增益立即保持在高于正常電平上。然而，當(dāng)伺服循環(huán)增益高時(shí)，伺服通常對(duì)于光盤上的裂紋這樣的缺陷太敏感。由此，該增加伺服循環(huán)增益的方法，不能用于提高缺陷通路特性。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是考慮上面的問(wèn)題而提出的，由此，本發(fā)明的目的是，在缺陷信號(hào)的電平返回到低電平后，減小伺服返回到正?？刂茽顟B(tài)所需的時(shí)間。
根據(jù)本發(fā)明，提供的播放裝置包括RF信號(hào)發(fā)生裝置，根據(jù)光拾取部件輸出的模擬信號(hào)，產(chǎn)生RF信號(hào)；數(shù)據(jù)信號(hào)發(fā)生裝置，通過(guò)使RF信號(hào)二進(jìn)制化，產(chǎn)生數(shù)據(jù)信號(hào)；缺陷信號(hào)發(fā)生裝置，根據(jù)RF信號(hào)，產(chǎn)生指示光盤介質(zhì)上的缺陷的缺陷信號(hào)；聚焦誤差信號(hào)發(fā)生裝置，根據(jù)光拾取部件輸出的模擬信號(hào)，產(chǎn)生聚焦誤差信號(hào)；聚焦伺服控制裝置，響應(yīng)聚焦誤差信號(hào)，控制光拾取部件的聚焦伺服；跟蹤誤差信號(hào)發(fā)生裝置，根據(jù)光拾取部件輸出的模擬信號(hào)，產(chǎn)生跟蹤誤差信號(hào)；跟蹤伺服控制裝置，響應(yīng)跟蹤誤差信號(hào)，控制光拾取部件的跟蹤伺服；監(jiān)視裝置，監(jiān)視缺陷信號(hào)，由此檢測(cè)缺陷周期的開(kāi)始和結(jié)束；缺陷周期處理過(guò)程控制裝置，控制聚焦伺服控制裝置和跟蹤伺服控制裝置，當(dāng)監(jiān)視裝置監(jiān)視的結(jié)果指示缺陷周期時(shí)，使聚焦伺服控制裝置和跟蹤伺服控制裝置執(zhí)行缺陷周期處理過(guò)程；和缺陷后周期處理過(guò)程控制裝置，控制聚焦伺服控制裝置和跟蹤伺服控制裝置，當(dāng)監(jiān)視裝置監(jiān)視的結(jié)果指示缺陷周期結(jié)束時(shí)，使聚焦伺服控制裝置和跟蹤伺服控制裝置執(zhí)行缺陷后周期處理過(guò)程。
缺陷周期處理過(guò)程控制裝置可以控制聚焦伺服控制裝置和跟蹤伺服控制裝置，使光拾取部件的聚焦誤差信號(hào)或跟蹤誤差信號(hào)保持在預(yù)定值上。
缺陷后周期處理過(guò)程控制裝置可以控制聚焦伺服控制裝置和跟蹤伺服控制裝置，使光拾取部件的伺服操作加速。
在缺陷后周期處理過(guò)程控制裝置的控制下執(zhí)行的缺陷后周期處理過(guò)程中，當(dāng)監(jiān)視裝置檢測(cè)到缺陷周期開(kāi)始時(shí)，缺陷后周期處理過(guò)程控制裝置可以停止缺陷后周期處理過(guò)程，并且缺陷周期處理過(guò)程控制裝置可以啟動(dòng)缺陷周期處理過(guò)程。
根據(jù)本發(fā)明，提供的播放方法包括RF信號(hào)發(fā)生步驟，根據(jù)光拾取部件輸出的模擬信號(hào)，產(chǎn)生RF信號(hào)；數(shù)據(jù)信號(hào)發(fā)生步驟，通過(guò)使RF信號(hào)二進(jìn)制化，產(chǎn)生數(shù)據(jù)信號(hào)；缺陷信號(hào)發(fā)生步驟，根據(jù)RF信號(hào)，產(chǎn)生指示光盤介質(zhì)上的缺陷的缺陷信號(hào)；聚焦誤差信號(hào)發(fā)生步驟，根據(jù)光拾取部件輸出的模擬信號(hào)，產(chǎn)生聚焦誤差信號(hào)；聚焦伺服控制步驟，響應(yīng)聚焦誤差信號(hào)，控制光拾取部件的聚焦伺服；跟蹤誤差信號(hào)發(fā)生步驟，根據(jù)光拾取部件輸出的模擬信號(hào)，產(chǎn)生跟蹤誤差信號(hào)；跟蹤伺服控制步驟，響應(yīng)跟蹤誤差信號(hào)，控制光拾取部件的跟蹤伺服；監(jiān)視步驟，監(jiān)視缺陷信號(hào)，由此檢測(cè)缺陷周期的開(kāi)始和結(jié)束；缺陷周期處理過(guò)程控制步驟，控制聚焦伺服控制步驟的處理過(guò)程和跟蹤伺服控制步驟的處理過(guò)程，當(dāng)監(jiān)視步驟的處理過(guò)程監(jiān)視的結(jié)果指示缺陷周期時(shí)，執(zhí)行缺陷周期處理過(guò)程；和缺陷后周期處理過(guò)程控制步驟，控制聚焦伺服控制步驟的處理過(guò)程和跟蹤伺服控制步驟的處理過(guò)程，當(dāng)監(jiān)視步驟的處理過(guò)程監(jiān)視的結(jié)果指示缺陷周期結(jié)束時(shí)，執(zhí)行缺陷后周期處理過(guò)程。
根據(jù)本發(fā)明，提供記錄介質(zhì)上的程序，包括RF信號(hào)發(fā)生步驟，根據(jù)光拾取部件輸出的模擬信號(hào)，產(chǎn)生RF信號(hào)；數(shù)據(jù)信號(hào)發(fā)生步驟，通過(guò)使RF信號(hào)二進(jìn)制化，產(chǎn)生數(shù)據(jù)信號(hào)；缺陷信號(hào)發(fā)生步驟，根據(jù)RF信號(hào)，產(chǎn)生指示光盤介質(zhì)上的缺陷的缺陷信號(hào)；聚焦誤差信號(hào)發(fā)生步驟，根據(jù)光拾取部件輸出的模擬信號(hào)，產(chǎn)生聚焦誤差信號(hào)；聚焦伺服控制步驟，響應(yīng)聚焦誤差信號(hào)，控制光拾取部件的聚焦伺服；跟蹤誤差信號(hào)發(fā)生步驟，根據(jù)光拾取部件輸出的模擬信號(hào)，產(chǎn)生跟蹤誤差信號(hào)；跟蹤伺服控制步驟，響應(yīng)跟蹤誤差信號(hào)，控制光拾取部件的跟蹤伺服；監(jiān)視步驟，監(jiān)視缺陷信號(hào)，由此檢測(cè)缺陷周期的開(kāi)始和結(jié)束；缺陷周期處理過(guò)程控制步驟，控制聚焦伺服控制步驟的處理過(guò)程和跟蹤伺服控制步驟的處理過(guò)程，當(dāng)監(jiān)視步驟的處理過(guò)程監(jiān)視的結(jié)果指示缺陷周期時(shí)，執(zhí)行缺陷周期處理過(guò)程；和缺陷后周期處理過(guò)程控制步驟，控制聚焦伺服控制步驟的處理過(guò)程和跟蹤伺服控制步驟的處理過(guò)程，當(dāng)監(jiān)視步驟的處理過(guò)程監(jiān)視的結(jié)果指示缺陷周期結(jié)束時(shí)，執(zhí)行缺陷后周期處理過(guò)程。
根據(jù)本發(fā)明的播放裝置和方法及記錄介質(zhì)上的程序，根據(jù)光拾取部件輸出的模擬信號(hào)，產(chǎn)生RF信號(hào)；通過(guò)使RF信號(hào)二進(jìn)制化，產(chǎn)生數(shù)據(jù)信號(hào)；并且根據(jù)RF信號(hào)，產(chǎn)生指示光盤介質(zhì)上的缺陷的缺陷信號(hào)。另外，根據(jù)本發(fā)明的播放裝置和方法及記錄介質(zhì)上的程序，根據(jù)光拾取部件輸出的模擬信號(hào)，產(chǎn)生聚焦誤差信號(hào)；并且響應(yīng)聚焦誤差信號(hào)，控制光拾取部件的聚焦伺服。而且，根據(jù)本發(fā)明的播放裝置和方法及記錄介質(zhì)上的程序，根據(jù)光拾取部件輸出的模擬信號(hào)，產(chǎn)生跟蹤誤差信號(hào)；并且響應(yīng)跟蹤誤差信號(hào)，控制光拾取部件的跟蹤伺服。更進(jìn)一步，根據(jù)本發(fā)明的播放裝置和方法及記錄介質(zhì)上的程序，通過(guò)監(jiān)視缺陷信號(hào)，檢測(cè)缺陷周期的開(kāi)始和結(jié)束；當(dāng)監(jiān)視的結(jié)果指示缺陷周期時(shí)，執(zhí)行缺陷周期的處理過(guò)程；并且當(dāng)監(jiān)視的結(jié)果指示缺陷周期結(jié)束時(shí)，執(zhí)行缺陷后周期的處理過(guò)程。


圖1是顯示傳統(tǒng)光盤播放裝置的結(jié)構(gòu)的方塊圖；圖2A、2B、2C、2D、2E和2F是輔助解釋處理缺陷的傳統(tǒng)處理過(guò)程的圖；圖3A、3B、3C、3D和3E是輔助解釋處理缺陷的傳統(tǒng)處理過(guò)程的圖；圖4是顯示根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的光盤播放裝置的結(jié)構(gòu)的方塊圖；圖5是輔助解釋光盤播放裝置的缺陷處理過(guò)程的流程圖；圖6A、6B、6C、6D和6E是輔助解釋光盤播放裝置的缺陷處理過(guò)程的圖；圖7A、7B、7C、7D和7E是輔助解釋光盤播放裝置的缺陷處理過(guò)程的圖；圖8A、8B、8C、8D和8E是輔助解釋光盤播放裝置的缺陷處理過(guò)程的圖；圖9A、9B、9C、9D和9E是輔助解釋光盤播放裝置的缺陷處理過(guò)程的圖；圖10A、10B、10C、10D和10E是輔助解釋光盤播放裝置的缺陷處理過(guò)程的圖；以及圖11A、11B、11C、11D和11E是輔助解釋光盤播放裝置的缺陷處理過(guò)程的圖。
具體實(shí)施例方式
下面將參考圖4描述應(yīng)用本發(fā)明的光盤播放裝置的結(jié)構(gòu)例子。
形成光盤播放裝置20的主軸電機(jī)22驅(qū)動(dòng)并旋轉(zhuǎn)光盤21。光拾取部件23將激光照射在光盤21上，產(chǎn)生相應(yīng)于反射光的信號(hào)，然后將信號(hào)輸出到RF信號(hào)發(fā)生單元24、FE信號(hào)發(fā)生單元25、和TE信號(hào)發(fā)生單元26。另外，光拾取部件23響應(yīng)聚焦驅(qū)動(dòng)器39的聚焦驅(qū)動(dòng)信號(hào)，調(diào)整聚焦伺服操作，并且響應(yīng)跟蹤驅(qū)動(dòng)器46的跟蹤驅(qū)動(dòng)信號(hào)，調(diào)整跟蹤伺服操作。
RF信號(hào)發(fā)生單元24產(chǎn)生相應(yīng)于光拾取部件23的信號(hào)的RF信號(hào)，然后將RF信號(hào)輸出到二進(jìn)制化單元27和缺陷處理過(guò)程控制單元28。FE信號(hào)發(fā)生單元25根據(jù)光拾取部件23的信號(hào)，產(chǎn)生FE信號(hào)，然后將FE信號(hào)輸出到聚焦伺服控制單元33。TE信號(hào)發(fā)生單元26根據(jù)光拾取部件23的信號(hào)，產(chǎn)生TE信號(hào)，然后將TE信號(hào)輸出到跟蹤伺服控制單元40。
二進(jìn)制化單元27將RF信號(hào)發(fā)生單元24的RF信號(hào)，轉(zhuǎn)換成0或1的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)，這樣產(chǎn)生數(shù)據(jù)信號(hào)。
形成缺陷處理過(guò)程控制單元28的缺陷檢測(cè)單元29，例如根據(jù)RF信號(hào)發(fā)生單元24的RF信號(hào)的電平與預(yù)定的閾值之間的比較結(jié)果，檢測(cè)光盤21上的裂紋、污點(diǎn)或相似缺陷導(dǎo)致的信號(hào)丟失(缺陷)。缺陷檢測(cè)單元29產(chǎn)生缺陷信號(hào)，缺陷信號(hào)在正常周期(不是缺陷的周期)具有低電平，而在缺陷周期具有高電平。缺陷檢測(cè)單元29將缺陷信號(hào)輸出到缺陷周期監(jiān)視單元30。
缺陷周期監(jiān)視單元30監(jiān)視缺陷檢測(cè)單元29的缺陷信號(hào)。在缺陷信號(hào)具有高電平的周期，缺陷周期監(jiān)視單元30產(chǎn)生指示缺陷信號(hào)為高電平的缺陷周期信號(hào)，然后將缺陷周期信號(hào)輸出到缺陷周期處理過(guò)程控制單元31。當(dāng)缺陷信號(hào)的電平已經(jīng)從高電平返回到低電平時(shí)，缺陷周期監(jiān)視單元30產(chǎn)生缺陷周期結(jié)束信號(hào)，指示缺陷信號(hào)的電平已經(jīng)從高電平返回到低電平，然后將缺陷周期結(jié)束信號(hào)輸出到缺陷后周期處理過(guò)程控制單元32。
響應(yīng)缺陷周期監(jiān)視單元30的缺陷周期信號(hào)，缺陷周期處理過(guò)程控制單元31控制聚焦伺服控制單元33的前級(jí)開(kāi)關(guān)34和FE信號(hào)前值保持單元37，同樣控制跟蹤伺服控制單元40的前級(jí)開(kāi)關(guān)41和TE信號(hào)前值保持單元44。
響應(yīng)缺陷周期監(jiān)視單元30的缺陷周期結(jié)束信號(hào)，缺陷后周期處理過(guò)程控制單元32控制聚焦伺服控制單元33的后級(jí)開(kāi)關(guān)36，同樣控制跟蹤伺服控制單元40的后級(jí)開(kāi)關(guān)43。
在聚焦伺服控制單元33中，F(xiàn)E信號(hào)發(fā)生單元25的FE信號(hào)提供到前級(jí)開(kāi)關(guān)34、FE信號(hào)前值保持單元37和缺陷后伺服控制單元38。
在缺陷周期處理過(guò)程控制單元31的控制下，前級(jí)開(kāi)關(guān)34執(zhí)行開(kāi)關(guān)動(dòng)作。當(dāng)前級(jí)開(kāi)關(guān)34接通端子(a)一側(cè)時(shí)，F(xiàn)E信號(hào)發(fā)生單元25的FE信號(hào)，輸出到正常伺服循環(huán)濾波單元35。另一方面，當(dāng)前級(jí)開(kāi)關(guān)34接通端子(b)一側(cè)時(shí)，F(xiàn)E信號(hào)前值保持單元37保持的FE信號(hào)，輸出到正常伺服循環(huán)濾波單元35。在正常情況下，前級(jí)開(kāi)關(guān)34接通端子(a)一側(cè)。
正常伺服循環(huán)濾波單元35通過(guò)將經(jīng)由前級(jí)開(kāi)關(guān)34輸入其中的FE信號(hào)進(jìn)行低頻突發(fā)(boost)處理過(guò)程、相位補(bǔ)償處理過(guò)程、低通濾波處理過(guò)程及相似過(guò)程，而產(chǎn)生聚焦驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)。正常伺服循環(huán)濾波單元35然后將聚焦驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)輸出到后級(jí)開(kāi)關(guān)36的端子(b)一側(cè)。
在缺陷后周期處理過(guò)程控制單元32的控制下，后級(jí)開(kāi)關(guān)36執(zhí)行開(kāi)關(guān)動(dòng)作。當(dāng)后級(jí)開(kāi)關(guān)36接通端子(a)一側(cè)時(shí)，缺陷后伺服控制單元38的聚焦驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)，輸出到聚焦驅(qū)動(dòng)器39。另一方面，當(dāng)后級(jí)開(kāi)關(guān)36接通端子(b)一側(cè)時(shí)，正常伺服循環(huán)濾波單元35的聚焦驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)，輸出到聚焦驅(qū)動(dòng)器39。在正常情況下，后級(jí)開(kāi)關(guān)36接通端子(b)一側(cè)。
在缺陷周期處理過(guò)程控制單元31的控制下，F(xiàn)E信號(hào)前值保持單元37保持FE信號(hào)發(fā)生單元25的FE信號(hào)電平，然后將FE信號(hào)的電平輸出到前級(jí)開(kāi)關(guān)34的端子(b)一側(cè)。
缺陷后伺服控制單元38通過(guò)將FE信號(hào)發(fā)生單元25的FE信號(hào)進(jìn)行正常伺服循環(huán)濾波單元35的處理之外，還進(jìn)行增益增加處理過(guò)程，而產(chǎn)生聚焦驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)。缺陷后伺服控制單元38然后將聚焦驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)輸出到后級(jí)開(kāi)關(guān)36的端子(a)一側(cè)。
聚焦驅(qū)動(dòng)器39根據(jù)后級(jí)開(kāi)關(guān)36的聚焦驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)，產(chǎn)生聚焦驅(qū)動(dòng)信號(hào)，然后將聚焦驅(qū)動(dòng)信號(hào)輸出到光拾取部件23。
在跟蹤伺服控制單元40中，TE信號(hào)發(fā)生單元26的TE信號(hào)提供到前級(jí)開(kāi)關(guān)41、TE信號(hào)前值保持單元44和缺陷后伺服控制單元45。
前級(jí)開(kāi)關(guān)41在缺陷周期處理過(guò)程控制單元31的控制下，執(zhí)行開(kāi)關(guān)動(dòng)作。當(dāng)前級(jí)開(kāi)關(guān)41階段接通端子(a)一側(cè)時(shí)，TE信號(hào)發(fā)生單元26的TE信號(hào)輸出到正常伺服循環(huán)濾波單元42。另一方面，當(dāng)前級(jí)開(kāi)關(guān)41階段接通端子(b)一側(cè)時(shí)，TE信號(hào)前值保持單元44保持的TE信號(hào)輸出到正常伺服循環(huán)濾波單元42。在正常情況下，前級(jí)開(kāi)關(guān)41接通端子(a)一側(cè)。
正常伺服循環(huán)濾波單元42通過(guò)使經(jīng)由前級(jí)開(kāi)關(guān)41輸入其中的TE信號(hào)進(jìn)行低頻突發(fā)處理過(guò)程、相位補(bǔ)償處理過(guò)程、低通濾波處理過(guò)程及相似過(guò)程，而產(chǎn)生跟蹤驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)。正常伺服循環(huán)濾波單元42然后將跟蹤驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)，輸出到后級(jí)開(kāi)關(guān)43的端子(b)一側(cè)。
后級(jí)開(kāi)關(guān)43在缺陷后周期處理過(guò)程控制單元32的控制下，執(zhí)行開(kāi)關(guān)操作。當(dāng)后級(jí)開(kāi)關(guān)43接通端子(a)一側(cè)時(shí)，缺陷后伺服控制單元45的跟蹤驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)輸出到跟蹤驅(qū)動(dòng)器46。另一方面，當(dāng)后級(jí)開(kāi)關(guān)43接通端子(b)一側(cè)時(shí)，正常伺服循環(huán)濾波單元42的跟蹤驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)輸出到跟蹤驅(qū)動(dòng)器46。在正常情況下，后級(jí)開(kāi)關(guān)43接通端子(b)一側(cè)。
在缺陷周期處理過(guò)程控制單元31的控制下，TE信號(hào)前值保持單元44保持TE信號(hào)發(fā)生單元26的TE信號(hào)的電平，然后將TE信號(hào)的電平輸出到前級(jí)開(kāi)關(guān)41的端子(b)一側(cè)。
除正常伺服循環(huán)濾波單元42的處理過(guò)程之外，缺陷后伺服控制單元45通過(guò)使TE信號(hào)發(fā)生單元26的TE信號(hào)經(jīng)歷增益增加處理過(guò)程，而產(chǎn)生跟蹤驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)。缺陷后伺服控制單元45然后將跟蹤驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)，輸出到后級(jí)開(kāi)關(guān)43的端子(a)一側(cè)。
跟蹤驅(qū)動(dòng)器46根據(jù)后級(jí)開(kāi)關(guān)43的跟蹤驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)，產(chǎn)生跟蹤驅(qū)動(dòng)信號(hào)，然后將跟蹤驅(qū)動(dòng)信號(hào)輸出到光拾取部件23。
控制單元50控制驅(qū)動(dòng)器51，來(lái)讀取存儲(chǔ)在磁盤52、光盤53、磁光盤54或半導(dǎo)體存儲(chǔ)器55上的控制程序，然后根據(jù)讀取的控制程序，控制整個(gè)光盤播放裝置20的操作。
下面將參考圖5的流程圖和圖6A、6B、6C、6D和6E，描述光盤播放裝置20執(zhí)行的缺陷處理過(guò)程。缺陷處理過(guò)程將會(huì)處理光盤21上出現(xiàn)的裂紋、污點(diǎn)或相似缺陷導(dǎo)致的信號(hào)丟失(缺陷)，并且在從光盤21上重放數(shù)據(jù)的處理過(guò)程啟動(dòng)的同時(shí)啟動(dòng)這個(gè)處理過(guò)程。
在步驟S1，缺陷處理過(guò)程控制單元28的缺陷周期處理過(guò)程控制單元31使控制有效，將聚焦伺服控制單元33的前級(jí)開(kāi)關(guān)34和跟蹤伺服控制單元40的前級(jí)開(kāi)關(guān)41接通端子(a)一側(cè)，這是正常位置。
在步驟S2，缺陷處理過(guò)程控制單元28的缺陷周期監(jiān)視單元30，監(jiān)視缺陷檢測(cè)單元29的缺陷信號(hào)，并且待機(jī)直到缺陷周期監(jiān)視單元30檢測(cè)到缺陷周期的開(kāi)始為止，也就是，缺陷周期監(jiān)視單元30檢測(cè)到缺陷信號(hào)的電平從低電平改變?yōu)楦唠娖?，如圖6A所示。當(dāng)缺陷周期監(jiān)視單元30檢測(cè)到缺陷周期的開(kāi)始時(shí)(圖6A中的Td)，處理過(guò)程進(jìn)行到步驟S3。
在步驟S3，缺陷周期監(jiān)視單元30產(chǎn)生缺陷周期信號(hào)，然后將缺陷周期信號(hào)輸出到缺陷周期處理過(guò)程控制單元31。響應(yīng)缺陷周期監(jiān)視單元30的缺陷周期信號(hào)，缺陷周期處理過(guò)程控制單元31控制前級(jí)開(kāi)關(guān)34和聚焦伺服控制單元33的FE信號(hào)前值保持單元37，同樣，在缺陷周期的處理過(guò)程中，控制前級(jí)開(kāi)關(guān)41和跟蹤伺服控制單元40的TE信號(hào)前值保持單元44。
在缺陷周期處理過(guò)程控制單元31的控制下，F(xiàn)E信號(hào)前值保持單元37保持缺陷周期Td前從FE信號(hào)發(fā)生單元25輸入的FE信號(hào)的電平，如圖6B所示，然后將FE信號(hào)的電平輸出到前級(jí)開(kāi)關(guān)34的端子(b)一側(cè)。TE信號(hào)前值保持單元44保持缺陷周期Td前從TE信號(hào)發(fā)生單元26輸入的TE信號(hào)的電平，如圖6D所示，然后將TE信號(hào)的電平輸出到前級(jí)開(kāi)關(guān)41的端子(b)一側(cè)。前級(jí)開(kāi)關(guān)34和41接通端子(b)一側(cè)。
在步驟S4，缺陷周期監(jiān)視單元30監(jiān)視缺陷檢測(cè)單元29的缺陷信號(hào)，并且待機(jī)直到缺陷周期監(jiān)視單元30檢測(cè)到缺陷周期的結(jié)束為止，也就是，缺陷周期監(jiān)視單元30檢測(cè)到缺陷信號(hào)電平從高電平改變?yōu)榈碗娖?，如圖6A所示。
這樣，在缺陷周期Td期間，F(xiàn)E信號(hào)前值保持單元37保持的FE信號(hào)被提供到正常伺服循環(huán)濾波單元35，而TE信號(hào)前值保持單元44保持的TE信號(hào)被提供到正常伺服循環(huán)濾波單元42。
這樣，在缺陷周期Td期間，正常伺服循環(huán)濾波單元35根據(jù)FE信號(hào)產(chǎn)生的聚焦驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)也保持恒定，由此，聚焦驅(qū)動(dòng)器39根據(jù)聚焦驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)產(chǎn)生的聚焦驅(qū)動(dòng)信號(hào)也保持恒定，如圖6C所示。此外，正常伺服循環(huán)濾波單元42根據(jù)TE信號(hào)產(chǎn)生的跟蹤驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)也保持恒定，由此，跟蹤驅(qū)動(dòng)器46根據(jù)跟蹤驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)產(chǎn)生的跟蹤驅(qū)動(dòng)信號(hào)也保持恒定，如圖6E所示。
這樣，在缺陷周期Td期間，光拾取部件23中的聚焦線圈和跟蹤線圈保持在缺陷周期Td前的位置。
當(dāng)缺陷周期監(jiān)視單元30在步驟S4檢測(cè)到缺陷周期(圖中的Td)結(jié)束時(shí)，處理過(guò)程進(jìn)行到步驟S5。
在步驟S5，缺陷周期監(jiān)視單元30產(chǎn)生缺陷周期結(jié)束信號(hào)，然后將缺陷周期結(jié)束信號(hào)輸出到缺陷后周期處理過(guò)程控制單元32。響應(yīng)缺陷周期監(jiān)視單元30的缺陷周期結(jié)束信號(hào)，缺陷后周期處理過(guò)程控制單元32控制聚焦伺服控制單元33的后級(jí)開(kāi)關(guān)36，同樣，在缺陷周期后的處理過(guò)程中，控制跟蹤伺服控制單元40的后級(jí)開(kāi)關(guān)43。圖6A、6B、6C、6D和6E中的Ta指示執(zhí)行缺陷后周期處理過(guò)程的周期。
在缺陷后周期處理過(guò)程控制單元32的控制下，后級(jí)開(kāi)關(guān)36和43接通端子(a)一側(cè)。這樣，在缺陷周期Td后，來(lái)自缺陷后伺服控制單元38的具有增加的伺服增益的聚焦驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)被提供到聚焦驅(qū)動(dòng)器39，而來(lái)自缺陷后伺服控制單元45的具有增加的伺服增益的跟蹤驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)被提供到跟蹤驅(qū)動(dòng)器46。
在步驟S6，缺陷周期監(jiān)視單元30確定缺陷信號(hào)是否再次進(jìn)入缺陷狀態(tài)。當(dāng)缺陷周期監(jiān)視單元30確定缺陷信號(hào)再次進(jìn)入缺陷狀態(tài)時(shí)，缺陷后周期處理過(guò)程立即停止，并且處理過(guò)程返回到步驟S3，而從步驟S3向下重復(fù)。當(dāng)缺陷周期監(jiān)視單元30在步驟S6確定缺陷信號(hào)不再進(jìn)入缺陷狀態(tài)時(shí)，處理過(guò)程進(jìn)行到步驟S7。
在步驟S7，根據(jù)是否滿足預(yù)定的條件(這樣的條件將在后面描述)，來(lái)確定缺陷后周期處理過(guò)程是否結(jié)束。步驟S6和S7的處理過(guò)程重復(fù)，直到確定缺陷后周期處理過(guò)程結(jié)束為止。當(dāng)在步驟S7確定缺陷后周期處理過(guò)程結(jié)束時(shí)，后級(jí)開(kāi)關(guān)36和43接通端子(b)一側(cè)。然后，處理過(guò)程返回到步驟S2，重復(fù)從步驟S2向下的過(guò)程。
使后級(jí)開(kāi)關(guān)36和43接通端子(b)一側(cè)的條件，也就是，周期Ta結(jié)束時(shí)刻的條件是在后級(jí)開(kāi)關(guān)36和43接通端子(a)一側(cè)后通路預(yù)定的時(shí)間；FE信號(hào)和TE信號(hào)通過(guò)參考電平；和缺陷狀態(tài)再次發(fā)生。當(dāng)條件之一滿足時(shí)，后級(jí)開(kāi)關(guān)36和43接通端子(b)一側(cè)。
如上所述，根據(jù)光盤播放裝置20的缺陷處理過(guò)程，在檢測(cè)到缺陷周期Td結(jié)束后，立即啟動(dòng)缺陷后周期處理過(guò)程，其中與正常周期(沒(méi)有缺陷的周期)的過(guò)程相比，糾正伺服偏移的動(dòng)作更強(qiáng)烈地產(chǎn)生。由此，與不執(zhí)行缺陷后周期處理過(guò)程的情況相比(圖3A、3B、3C、3D和3E)，伺服偏移可以被迅速糾正。
順使地講，當(dāng)在步驟S5執(zhí)行缺陷后周期處理過(guò)程時(shí)，不唯一地確定前級(jí)開(kāi)關(guān)34和41的接通情況，這是因?yàn)榭梢愿鶕?jù)缺陷后周期處理過(guò)程的方法和缺陷狀態(tài)再次發(fā)生的情況，改變前級(jí)開(kāi)關(guān)34和41的接通情況。
聚焦伺服控制單元33的缺陷后伺服控制單元38，和跟蹤伺服控制單元40的缺陷后伺服控制單元45的上述操作，此后將被描述為第一操作。
聚焦伺服控制單元33的缺陷后伺服控制單元38，可以檢測(cè)緊接缺陷周期結(jié)束后的FE信號(hào)電平與參考電平之間的差異，并且將減小差異的脈沖電壓輸出到后級(jí)開(kāi)關(guān)36的端子(a)一側(cè)，作為聚焦驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)。
相似地，跟蹤伺服控制單元40的缺陷后伺服控制單元45，可以檢測(cè)緊接缺陷周期結(jié)束后的TE信號(hào)電平與參考電平之間的差異，并且將減小差異的脈沖電壓輸出到后級(jí)開(kāi)關(guān)43的端子(a)一側(cè)，作為跟蹤驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)。缺陷后伺服控制單元38和45這樣的操作，此后將被描述為第二操作。
當(dāng)缺陷后伺服控制單元38和45執(zhí)行第二操作時(shí)，使后級(jí)開(kāi)關(guān)36和43返回端子(b)一側(cè)的時(shí)刻的條件，也就是，結(jié)束執(zhí)行缺陷后周期處理過(guò)程的周期Ta的時(shí)刻的條件是，F(xiàn)E信號(hào)和TE信號(hào)通過(guò)參考電平。
圖7A、7B、7C、7D和7E顯示了當(dāng)缺陷后伺服控制單元38和45執(zhí)行第二操作時(shí)，缺陷處理過(guò)程的結(jié)果。
圖8A、8B、8C、8D和8E顯示了在執(zhí)行缺陷后周期處理過(guò)程中，當(dāng)相對(duì)短的缺陷發(fā)生三次時(shí)處理過(guò)程的結(jié)果，其中缺陷后伺服控制單元38和45執(zhí)行第一操作。
圖9A、9B、9C、9D和9E顯示了在執(zhí)行缺陷后周期處理過(guò)程中，當(dāng)相對(duì)短的缺陷發(fā)生三次時(shí)處理過(guò)程的結(jié)果，其中缺陷后伺服控制單元38和45執(zhí)行第二操作。
相對(duì)于正常操作的過(guò)程，由于在缺陷后周期處理過(guò)程中伺服處于更不穩(wěn)定的狀態(tài)，在缺陷狀態(tài)再次發(fā)生后立即保持的聚焦驅(qū)動(dòng)信號(hào)和跟蹤驅(qū)動(dòng)信號(hào)的電平，可能不一定是合適的。
由此，當(dāng)缺陷狀態(tài)發(fā)生時(shí)，聚焦驅(qū)動(dòng)信號(hào)和跟蹤驅(qū)動(dòng)信號(hào)的輸出電壓可以固定在參考電平上(例如零電勢(shì))，使電壓不加在聚焦線圈和跟蹤線圈上。
在這種情況下，通過(guò)再次將周期Ta的長(zhǎng)度設(shè)置為初始值，能夠防止缺陷后周期處理過(guò)程短于特定時(shí)間而結(jié)束。還能夠處理缺陷狀態(tài)在短時(shí)間內(nèi)連續(xù)發(fā)生的情況。
圖10A、10B、10C、10D和10E顯示了當(dāng)缺陷狀態(tài)發(fā)生時(shí)聚焦驅(qū)動(dòng)信號(hào)和跟蹤驅(qū)動(dòng)信號(hào)的輸出電壓被設(shè)置在固定的參考電平、并且在執(zhí)行缺陷后周期處理過(guò)程期間發(fā)生三次相對(duì)短的缺陷時(shí)，處理過(guò)程的結(jié)果，其中缺陷后伺服控制單元38和45執(zhí)行第一操作。
圖11A、11B、11C、11D和11E顯示了當(dāng)缺陷狀態(tài)發(fā)生時(shí)聚焦驅(qū)動(dòng)信號(hào)和跟蹤驅(qū)動(dòng)信號(hào)的輸出電壓被設(shè)置在固定的參考電平、并且在執(zhí)行缺陷后周期處理過(guò)程期間發(fā)生三次相對(duì)短的缺陷時(shí)，處理過(guò)程的結(jié)果，其中缺陷后伺服控制單元38和45執(zhí)行第二操作。
如上所述，應(yīng)用了本發(fā)明的光盤播放裝置20監(jiān)視缺陷的發(fā)生，并且當(dāng)缺陷發(fā)生時(shí)，光盤播放裝置20停止缺陷后周期處理過(guò)程，而再次執(zhí)行缺陷處理過(guò)程。由此，能夠解決當(dāng)伺服的循環(huán)增益增加時(shí)，伺服對(duì)裂紋這樣的缺陷變得太敏感的問(wèn)題，由此即使伺服循環(huán)增益高時(shí)，也能夠使伺服較少地受缺陷影響。
要注意，本發(fā)明不僅可以用于播放裝置中，如用于播放CD(緊湊光盤)那樣的光盤的本實(shí)施例，而且可以用于播放DVD(數(shù)字通用盤)、MD(迷你光盤)、磁光盤及相似的播放裝置中。
上述處理步驟的序列不僅可以由硬件執(zhí)行，而且可以由軟件執(zhí)行。當(dāng)由軟件執(zhí)行處理步驟的序列時(shí)，程序從記錄介質(zhì)安裝到構(gòu)成軟件的程序與專用硬件相結(jié)合的計(jì)算機(jī)上，或者安裝到例如一般功能的個(gè)人計(jì)算機(jī)上，它可以通過(guò)例如將各種程序安裝到其上，而執(zhí)行各種功能。
記錄介質(zhì)的實(shí)例不僅包括被分發(fā)到用戶的可記錄程序的包介質(zhì)，以便與計(jì)算機(jī)分開(kāi)提供程序，如磁盤52(包括軟盤)、光盤53(包括CD-ROM(緊湊光盤只讀存儲(chǔ)器)和DVD(數(shù)字通用盤))、磁光盤54(包括MD(迷你光盤))、或半導(dǎo)體存儲(chǔ)器55，如圖4所示，而且可以包括存儲(chǔ)程序的ROM或硬盤，它們以預(yù)先結(jié)合到計(jì)算機(jī)中的方式提供給用戶。
要注意，在本說(shuō)明書(shū)中，描述記錄在記錄介質(zhì)上的程序的步驟，不僅包括按上述順序的時(shí)間序列執(zhí)行的處理步驟，而且包括并行或各自執(zhí)行的處理步驟，它們與時(shí)間序列無(wú)關(guān)。
如上所述，根據(jù)本發(fā)明的播放裝置和方法及記錄介質(zhì)上的程序，通過(guò)監(jiān)視缺陷信號(hào)，檢測(cè)缺陷周期的開(kāi)始和結(jié)束，當(dāng)監(jiān)視的結(jié)果指示缺陷周期時(shí)，執(zhí)行缺陷周期處理過(guò)程，并且當(dāng)監(jiān)視的結(jié)果指示缺陷周期結(jié)束時(shí)，執(zhí)行缺陷后周期處理過(guò)程。由此在缺陷周期結(jié)束后，能夠減小光拾取部件的伺服返回到正?？刂茽顟B(tài)所需的時(shí)間。
權(quán)利要求
1.一種播放裝置，使用光拾取部件來(lái)重放盤介質(zhì)上記錄的數(shù)據(jù)，所述播放裝置包括RF信號(hào)發(fā)生裝置，根據(jù)所述光拾取部件輸出的模擬信號(hào)，產(chǎn)生RF信號(hào)；數(shù)據(jù)信號(hào)發(fā)生裝置，通過(guò)使所述RF信號(hào)二進(jìn)制化，產(chǎn)生數(shù)據(jù)信號(hào)；缺陷信號(hào)發(fā)生裝置，根據(jù)所述RF信號(hào)產(chǎn)生缺陷信號(hào)，來(lái)指示所述盤介質(zhì)上的缺陷；聚焦誤差信號(hào)發(fā)生裝置，根據(jù)所述光拾取部件輸出的所述模擬信號(hào)，產(chǎn)生聚焦誤差信號(hào)；聚焦伺服控制裝置，響應(yīng)所述聚焦誤差信號(hào)，控制所述光拾取部件的聚焦伺服；跟蹤誤差信號(hào)發(fā)生裝置，根據(jù)所述光拾取部件輸出的所述模擬信號(hào)，產(chǎn)生跟蹤誤差信號(hào)；跟蹤伺服控制裝置，響應(yīng)所述跟蹤誤差信號(hào)，控制所述光拾取部件的跟蹤伺服；監(jiān)視裝置，監(jiān)視所述缺陷信號(hào)，由此檢測(cè)缺陷周期的開(kāi)始和結(jié)束；缺陷周期處理過(guò)程控制裝置，控制所述聚焦伺服控制裝置和所述跟蹤伺服控制裝置，當(dāng)所述監(jiān)視裝置監(jiān)視的結(jié)果指示所述缺陷周期時(shí)，使所述聚焦伺服控制裝置和跟蹤伺服控制裝置執(zhí)行缺陷周期處理過(guò)程；和缺陷后周期處理過(guò)程控制裝置，控制所述聚焦伺服控制裝置和所述跟蹤伺服控制裝置，當(dāng)所述監(jiān)視裝置監(jiān)視的結(jié)果指示所述缺陷周期結(jié)束時(shí)，使所述聚焦伺服控制裝置和跟蹤伺服控制裝置執(zhí)行缺陷后周期處理過(guò)程。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的播放裝置，其中所述缺陷周期處理過(guò)程控制裝置控制所述聚焦伺服控制裝置和所述跟蹤伺服控制裝置，使所述光拾取部件的所述聚焦誤差信號(hào)或所述跟蹤誤差信號(hào)保持在預(yù)定值上。
3.根據(jù)權(quán)利要求1的播放裝置，其中所述缺陷后周期處理控制裝置控制所述聚焦伺服控制裝置和所述跟蹤伺服控制裝置，使所述光拾取部件的伺服操作加速。
4.根據(jù)權(quán)利要求1的播放裝置，其中在所述缺陷后周期處理過(guò)程控制裝置的控制下執(zhí)行的所述缺陷后周期處理過(guò)程中，當(dāng)所述監(jiān)視裝置檢測(cè)到所述缺陷周期開(kāi)始時(shí)，所述缺陷后周期處理過(guò)程控制裝置停止所述缺陷后周期處理過(guò)程，并且所述缺陷周期處理過(guò)程控制裝置啟動(dòng)所述缺陷周期處理過(guò)程。
5.一種用于播放裝置的播放方法，所述播放裝置通過(guò)使用光拾取部件重放盤介質(zhì)上記錄的數(shù)據(jù)，所述播放方法包括RF信號(hào)發(fā)生步驟，根據(jù)所述光拾取部件輸出的模擬信號(hào)，產(chǎn)生RF信號(hào)；數(shù)據(jù)信號(hào)發(fā)生步驟，通過(guò)使所述RF信號(hào)二進(jìn)制化，產(chǎn)生數(shù)據(jù)信號(hào)；缺陷信號(hào)發(fā)生步驟，根據(jù)所述RF信號(hào)產(chǎn)生缺陷信號(hào)，來(lái)指示所述盤介質(zhì)上的缺陷；聚焦誤差信號(hào)發(fā)生步驟，根據(jù)所述光拾取部件輸出的所述模擬信號(hào)，產(chǎn)生聚焦誤差信號(hào)；聚焦伺服控制步驟，響應(yīng)所述聚焦誤差信號(hào)，控制所述光拾取部件的聚焦伺服；跟蹤誤差信號(hào)發(fā)生步驟，根據(jù)所述光拾取部件輸出的所述模擬信號(hào)，產(chǎn)生跟蹤誤差信號(hào)；跟蹤伺服控制步驟，響應(yīng)所述跟蹤誤差信號(hào)，控制所述光拾取部件的跟蹤伺服；監(jiān)視步驟，監(jiān)視所述缺陷信號(hào)，由此檢測(cè)缺陷周期的開(kāi)始和結(jié)束；缺陷周期處理過(guò)程控制步驟，控制所述聚焦伺服控制步驟的處理過(guò)程和所述跟蹤伺服控制步驟的處理過(guò)程，當(dāng)所述監(jiān)視步驟處理過(guò)程的監(jiān)視結(jié)果指示所述缺陷周期時(shí)，執(zhí)行所述缺陷周期處理過(guò)程；和缺陷后周期處理過(guò)程控制步驟，控制所述聚焦伺服控制步驟的處理過(guò)程和所述跟蹤伺服控制步驟的處理過(guò)程，當(dāng)所述監(jiān)視步驟處理過(guò)程的監(jiān)視結(jié)果指示所述缺陷周期結(jié)束時(shí)，執(zhí)行所述缺陷后周期處理過(guò)程。
6.一種記錄介質(zhì)，用于記錄計(jì)算機(jī)可讀的播放程序，播放程序通過(guò)使用光拾取部件重放記錄在盤介質(zhì)上的數(shù)據(jù)，所述程序包括RF信號(hào)發(fā)生步驟，根據(jù)所述光拾取部件輸出的模擬信號(hào)，產(chǎn)生RF信號(hào)；數(shù)據(jù)信號(hào)發(fā)生步驟，通過(guò)使所述RF信號(hào)二進(jìn)制化，產(chǎn)生數(shù)據(jù)信號(hào)；缺陷信號(hào)發(fā)生步驟，根據(jù)所述RF信號(hào)產(chǎn)生缺陷信號(hào)，來(lái)指示所述盤介質(zhì)上的缺陷；聚焦誤差信號(hào)發(fā)生步驟，根據(jù)所述光拾取部件輸出的所述模擬信號(hào)，產(chǎn)生聚焦誤差信號(hào)；聚焦伺服控制步驟，響應(yīng)所述聚焦誤差信號(hào)，控制所述光拾取部件的聚焦伺服；跟蹤誤差信號(hào)發(fā)生步驟，根據(jù)所述光拾取部件輸出的所述模擬信號(hào)，產(chǎn)生跟蹤誤差信號(hào)；跟蹤伺服控制步驟，響應(yīng)所述跟蹤誤差信號(hào)，控制所述光拾取部件的跟蹤伺服；監(jiān)視步驟，監(jiān)視所述缺陷信號(hào)，由此檢測(cè)缺陷周期的開(kāi)始和結(jié)束；缺陷周期處理過(guò)程控制步驟，控制所述聚焦伺服控制步驟的處理過(guò)程和所述跟蹤伺服控制步驟的處理過(guò)程，當(dāng)所述監(jiān)視步驟處理過(guò)程的監(jiān)視結(jié)果指示所述缺陷周期時(shí)，執(zhí)行所述缺陷周期處理過(guò)程；和缺陷后周期處理過(guò)程控制步驟，控制所述聚焦伺服控制步驟的處理過(guò)程和所述跟蹤伺服控制步驟的處理過(guò)程，當(dāng)所述監(jiān)視步驟處理過(guò)程的監(jiān)視結(jié)果指示所述缺陷周期結(jié)束時(shí)，執(zhí)行所述缺陷后周期處理過(guò)程。
全文摘要
在步驟S2,缺陷周期處理過(guò)程控制單元的缺陷周期監(jiān)視單元待機(jī),直到缺陷周期監(jiān)視單元檢測(cè)到缺陷周期的開(kāi)始為止。當(dāng)缺陷周期監(jiān)視單元檢測(cè)到缺陷周期的開(kāi)始時(shí),處理過(guò)程進(jìn)行到步驟S3。在步驟S3,執(zhí)行缺陷周期處理過(guò)程。當(dāng)缺陷周期監(jiān)視單元在步驟S4檢測(cè)到缺陷周期的結(jié)束時(shí),處理過(guò)程進(jìn)行到步驟S5。在步驟S5,執(zhí)行缺陷后周期處理過(guò)程。
文檔編號(hào)G11B7/09GK1357882SQ0114365
公開(kāi)日2002年7月10日 申請(qǐng)日期2001年11月14日 優(yōu)先權(quán)日2000年11月14日
發(fā)明者西垣誠(chéng) 申請(qǐng)人:索尼公司