專利名稱：用于檢測光盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備的異常狀態(tài)的裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及用于檢測光盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備的異常狀態(tài)的裝置，并且更具體地涉及用于檢測異常狀態(tài)、能夠立即防止對激光二極管和光盤上所記錄數(shù)據(jù)的損壞的裝置。
背景技術(shù)：
光盤記錄和再現(xiàn)裝置是一種把激光二極管產(chǎn)生的激光作用到記錄區(qū)域、使得數(shù)據(jù)被記錄或被再現(xiàn)的裝置。此時在激光二極管產(chǎn)生的激光根據(jù)操作模式應(yīng)該保持合適的輸出。
控制激光二極管輸出的裝置響應(yīng)于激光二極管的輸出模式以及在輸入和輸出特性上的變化，用以精確地保持激光二極管的輸出。該裝置通過監(jiān)控二極管檢測激光二極管的輸出，并且通過將檢測到的輸出與期望值比較，以控制激光二極管的輸出。
同時，如果在激光二極管的輸出中發(fā)生上溢或下溢，則該激光二極管可能被損壞或數(shù)據(jù)可能被不正確地記錄或丟失。因此，為防止此情況發(fā)生，提供用于檢測異常狀態(tài)的電路。
圖1是用于檢測異常狀態(tài)的現(xiàn)有技術(shù)的結(jié)構(gòu)的方框圖。
圖1的裝置包括用于檢測上溢的第一比較器112、上溢設(shè)定寄存器114、用于檢測下溢的第二比較器116、以及下溢設(shè)定寄存器118。
監(jiān)視器PD和電流電壓轉(zhuǎn)換器102檢測激光二極管110的輸出電平。由監(jiān)視器PD和電流電壓轉(zhuǎn)換器102所檢測的輸出電平在可變增益放大器104中放大?？勺冊鲆娣糯笃?04的放大級數(shù)根據(jù)光學(xué)記錄/再現(xiàn)裝置的操作模式(再現(xiàn)/記錄)和當前訪問軌道/凹槽而變化。
將可變增益放大器104的輸出提供給APC塊106。APC塊106將由可變增益放大器104提供的輸入、即激光二極管的電流輸出，與參考值相比較，并且根據(jù)比較的結(jié)果控制激光二極管110的輸出。
將APC塊106的輸出通過數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器(DAC)108提供給激光二極管110。因而，根據(jù)DAC108的輸出，控制了激光二極管110的輸出。
這里，如果激光二極管110的輸出太高(上溢)，則激光二極管110可能受損壞，并且在記錄時，記錄在光盤(未示出)上的數(shù)據(jù)可能受損壞。而且，在再現(xiàn)中，所記錄的數(shù)據(jù)可受到惡劣的影響，從而惡化記錄質(zhì)量或可能損壞所記錄的數(shù)據(jù)。
同時，如果激光二極管110的輸出太低(下溢)，則不能獲得來自拾取器(未示出)的正常再現(xiàn)信號，并且APC塊106不能感知激光二極管110的輸出電平，因而不能控制該輸出電平。
為了防止這種情況，用于檢測異常狀態(tài)的電路檢測在激光二極管110的輸出太高(上溢)或太低(下溢)時的狀態(tài)，這樣可采取恰當?shù)拇胧?br> 在圖1中的裝置中，用于檢測上溢的第一比較器112將可變增益放大器104的輸出、即激光二極管110的電流輸出電平，與上溢設(shè)定值相比較，并且根據(jù)比較的結(jié)果產(chǎn)生用于指示上溢發(fā)生的信號。
同時，用于檢測下溢的第二比較器114將可變增益放大器104的輸出、即激光二極管110的電流輸出電平，與下溢設(shè)定值相比較，并且根據(jù)比較的結(jié)果產(chǎn)生用于指示下溢發(fā)生的信號。
用于控制具有圖1中的裝置的光學(xué)記錄/再現(xiàn)裝置的微處理器(未示出)監(jiān)測在第一比較器112中產(chǎn)生的上溢信號和在第二比較器116中產(chǎn)生的下溢信號，識別是否發(fā)生異常狀態(tài)，并且如果發(fā)生異常狀態(tài)，則采取恰當?shù)拇胧?br> 但是，因為微處理器(未示出)監(jiān)測是否有上溢或下溢發(fā)生，并且執(zhí)行用于應(yīng)對異常狀態(tài)的操作，所以圖1中用于檢測異常狀態(tài)的現(xiàn)有技術(shù)裝置不能避免由于微處理器處理造成的延遲。即，微處理器通過中斷信號識別上溢或下溢的發(fā)生，并且花費時間處理該中斷。因而，由于處理該中斷所造成的時間延遲，處理器不能快速采取措施以保護激光二極管或記錄在光盤上的數(shù)據(jù)。另外，在具有大容量或高速度的光盤記錄/再現(xiàn)裝置中，由于該時間延遲，記錄在光盤上的數(shù)據(jù)或在裝置中的激光二極管更易于受損壞。

發(fā)明內(nèi)容
為解決上述問題，本發(fā)明的目的在于提供一種經(jīng)改進的、用于檢測異常狀態(tài)的裝置，該裝置防止了由于微處理器的處理造成的時間延遲，使得能夠有效地保護激光二極管和記錄在光盤上的數(shù)據(jù)。
為了實現(xiàn)本發(fā)明的所述目的，提供一種檢測光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備的異常狀態(tài)的裝置，其中所述光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備具有激光二極管輸出功率控制電路，用于根據(jù)激光二極管、以及記錄和再現(xiàn)模式，去控制激光二極管的輸出；該裝置具有上溢/下溢檢測器，用于通過將激光二極管輸出功率控制值，與上溢設(shè)定值及下溢設(shè)定值相比較，確定是否發(fā)生激光二極管的上溢或下溢，其中激光二極管輸出功率控制值是從激光二極管輸出功率控制電路中輸出的；以及模式開關(guān)，用于根據(jù)上溢/下溢檢測器的檢測結(jié)果，將激光二極管輸出功率控制電路的操作模式從記錄模式切換到再現(xiàn)模式。


通過下面結(jié)合附圖詳細描述本發(fā)明的實施例，本發(fā)明的上述目的和優(yōu)點將會變得更加清楚，其中圖1是用于檢測異常狀態(tài)的現(xiàn)有技術(shù)裝置的結(jié)構(gòu)的方框圖；圖2是根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實施例的用于檢測異常狀態(tài)的裝置的結(jié)構(gòu)的方框圖；圖3是如圖2所示的上溢/下溢檢測器的詳細方框圖；圖4是如圖2所示的上溢/下溢檢測器的另一種結(jié)構(gòu)的方框圖；圖5是如圖2所示的限制器的結(jié)構(gòu)的詳細方框圖；圖6是如圖2所示的限制器的另一種結(jié)構(gòu)的詳細方框圖；以及圖7是如圖2所示的縮放設(shè)定寄存器的結(jié)構(gòu)的詳細方框圖。
具體實施例方式
圖2中的用于檢測異常狀態(tài)的裝置包括上溢/下溢檢測器212，用于利用輸出控制值以檢測上溢和/或下溢，其中輸出控制值是來自自動二極管輸出功率控制(APC)部件206的輸出、并被施加到激光二極管210；模式開關(guān)214，用于通過上溢/下溢檢測器212的控制去切換APC塊206的操作模式；縮放(scale)設(shè)定寄存器216，用于通過上溢/下溢檢測器212的控制去縮放輸出控制值，其中輸出控制值是來自APC塊206的輸出、并被施加到激光二極管210；以及限制器218，用于利用預(yù)定的限制值去限制輸出控制值，其中輸出控制值是來自APC塊206的輸出、并被施加到激光二極管210。
現(xiàn)在將詳細解釋圖2中的裝置的操作。
將APC塊206的輸出提供給上溢/下溢檢測器212。上溢/下溢檢測器212通過將來自APC塊206的輸出、即激光二極管210的輸出控制值，與用于比較上溢/下溢的上溢/下溢設(shè)定值相比較，確定上溢或下溢的發(fā)生。根據(jù)比較的結(jié)果，上溢/下溢檢測器212產(chǎn)生用于指示發(fā)生上溢或下溢的上溢信號或下溢信號。
將上溢/下溢檢測器212的檢測結(jié)果提供給模式開關(guān)214。模式開關(guān)214根據(jù)該檢測結(jié)果，將APC塊206的操作模式從記錄模式切換到再現(xiàn)模式。
同時，當上溢或下溢發(fā)生時，上溢/下溢檢測器212產(chǎn)生用于指示該溢出發(fā)生的中斷信號到微處理器，并且存儲上溢或下溢的當前發(fā)生狀態(tài)到內(nèi)部狀態(tài)寄存器(未示出)。該狀態(tài)寄存器所存儲的內(nèi)容提交微處理器(未示出)進行處理。
同時，將上溢/下溢檢測器212的輸出提供給縮放設(shè)定寄存器216。根據(jù)上溢/下溢檢測器212的檢測結(jié)果，縮放設(shè)定寄存器216改變DAC208的縮放。
當下溢發(fā)生時，通過縮放設(shè)定寄存器216的操作，激光二極管210的輸出控制值增加，并且由此激光二極管210的輸出增加。因而，當下溢發(fā)生時，從光拾取器(未示出)獲得一個合適的光信號；或當上溢發(fā)生時，激光二極管210的輸出控制值減少，并且因此防止對激光二極管210可能的損壞。
同時，將從APC塊206輸出的輸出控制值通過限制器218和DAC208提供給二極管210。如果從APC塊206輸出的輸出控制值超過上限值或下限值，限制器218將該輸出控制值限制在該上限值或下限值內(nèi)，并且輸出該輸出控制值。
圖3是如圖2所示的上溢/下溢檢測器的詳細方框圖。上溢/下溢檢測器212包括用于記錄模式的記錄DAC寄存器302、用于再現(xiàn)模式的再現(xiàn)DAC寄存器304、記錄上溢設(shè)定寄存器306、記錄下溢設(shè)定寄存器308、記錄上溢比較器310、記錄下溢比較器312、再現(xiàn)上溢設(shè)定寄存器314、再現(xiàn)下溢設(shè)定寄存器316、再現(xiàn)上溢比較器318、再現(xiàn)下溢比較器320、OR(“或”)門322、328、及NOR(“或非”)門330、以及狀態(tài)寄存器324。
記錄DAC寄存器302和再現(xiàn)DAC寄存器304分別在記錄模式中和再現(xiàn)模式中鎖存APC塊206的輸出。
記錄上溢設(shè)定寄存器306和記錄下溢設(shè)定寄存器308分別在記錄模式中存儲上溢設(shè)定值和下溢設(shè)定值。
記錄上溢比較器310將輸出控制值與在記錄上溢設(shè)定寄存器306中設(shè)定的記錄上溢設(shè)定值相比較，并且根據(jù)比較結(jié)果產(chǎn)生上溢信號。記錄下溢比較器312將輸出控制值與在記錄下溢設(shè)定寄存器308中設(shè)定的記錄下溢設(shè)定值相比較，并且根據(jù)比較結(jié)果產(chǎn)生下溢信號。
同時，再現(xiàn)上溢設(shè)定寄存器314和再現(xiàn)下溢設(shè)定寄存器316分別在再現(xiàn)模式中存儲上溢設(shè)定值和下溢設(shè)定值。
再現(xiàn)上溢比較器318將輸出控制值與在再現(xiàn)上溢設(shè)定寄存器314中設(shè)定的記錄上溢設(shè)定值相比較，并且根據(jù)比較結(jié)果產(chǎn)生上溢信號。再現(xiàn)下溢比較器320將輸出控制值與在再現(xiàn)下溢設(shè)定寄存器316中設(shè)定的記錄下溢設(shè)定值相比較，并且根據(jù)比較結(jié)果產(chǎn)生下溢信號。
“或”門322對在記錄上溢比較器310中產(chǎn)生的記錄上溢信號、在記錄下溢比較器312中產(chǎn)生的記錄下溢信號、在再現(xiàn)上溢比較器318中產(chǎn)生的再現(xiàn)上溢信號、在再現(xiàn)下溢比較器320中產(chǎn)生的再現(xiàn)下溢信號進行“或”運算。“或”門將“或”運算的結(jié)果提供給圖2中的模式開關(guān)214，并且輸出作為中斷信號的結(jié)果到微處理器(未示出)。
同時，狀態(tài)寄存器324對在記錄上溢比較器310中產(chǎn)生的記錄上溢信號、在記錄下溢比較器312中產(chǎn)生的記錄下溢信號、在再現(xiàn)上溢比較器318中產(chǎn)生的再現(xiàn)上溢信號、在再現(xiàn)下溢比較器320中產(chǎn)生的再現(xiàn)下溢信號的當前狀態(tài)進行存儲。
如果中斷信號發(fā)生，則微處理器(未示出)通過參考狀態(tài)寄存器324的內(nèi)容去分析該中斷的原因，并采取恰當?shù)拇胧?br> “或”門328產(chǎn)生UP(上升)信號，當上溢發(fā)生時，該UP信號會提供給圖2的縮放設(shè)定寄存器216。同時，NOR(“或非”)門330產(chǎn)生DOWN(下降)信號，當下溢發(fā)生時，該DOWN信號會提供給圖2的縮放設(shè)定寄存器216。
縮放設(shè)定寄存器216根據(jù)在“或”門328中產(chǎn)生的上升信號和在“或非”門330中產(chǎn)生的下降信號，執(zhí)行放大或縮小操作。
圖4是如圖2所示的上溢/下溢檢測器的另一種結(jié)構(gòu)的方框圖。
圖4的檢測器包括DAC寄存器402、記錄上溢設(shè)定寄存器404、再現(xiàn)上溢設(shè)定寄存器406、第一多路復(fù)用器408、記錄下溢設(shè)定寄存器410、再現(xiàn)下溢設(shè)定寄存器412、以及第二多路復(fù)用器414。
第一多路復(fù)用器408和第二多路復(fù)用器414根據(jù)模式信號確定選擇操作。即，如果該模式信號指示是記錄模式，則第一多路復(fù)用器408選擇記錄上溢設(shè)定寄存器404的輸出，并輸出所選擇的信號；并且第二多路復(fù)用器414選擇記錄下溢設(shè)定寄存器410的輸出，并輸出所選擇的信號。如果該模式信號指示是再現(xiàn)模式，則第一多路復(fù)用器408選擇再現(xiàn)上溢設(shè)定寄存器406的輸出，并輸出所選擇的信號；并且第二多路復(fù)用器414選擇再現(xiàn)下溢設(shè)定寄存器412的輸出，并輸出所選擇的信號。該模式信號可以通過自動激光二極管輸出控制部件206、或通過用于控制具有圖2中的裝置的光學(xué)記錄/再現(xiàn)裝置的微處理器來提供。
上溢比較器416、下溢比較器418、以及“或”門420檢測異常狀態(tài)。
同時，上溢比較器416的輸出和下溢比較器418的輸出分別作為上升信號和下降信號施加到縮放設(shè)定寄存器216。
在圖3和圖4的裝置中，在上溢設(shè)定寄存器中和在下溢設(shè)定寄存器中設(shè)定的值可以通過諸如微處理器的外部裝置提供。為此，圖3和圖4的上溢/下溢檢測器可能具有用于接收由外部裝置設(shè)定的值的輸入口、以及用于將所述值裝載到上溢設(shè)定寄存器或下溢設(shè)定寄存器的數(shù)據(jù)線和通道控制器，所述值是通過所述輸入口輸入的。
圖5是如圖2所示的限制器的結(jié)構(gòu)詳細方框圖。在圖5中，標號502表示再現(xiàn)限制器，以及標號504表示記錄限制器。標號506和標號508表示圖2中DAC的元件，并且分別表示再現(xiàn)DAC和記錄DAC。
再現(xiàn)限制器502在再現(xiàn)模式中將APC塊206提供的控制值限制在預(yù)定范圍內(nèi)。即，在再現(xiàn)模式中，如果由APC塊206提供的控制值低于下限值，則再現(xiàn)限制器502輸出該下限值；并且如果由APC塊206提供的控制值高于上限值，則輸出上限值。再現(xiàn)限制器502的這個功能被稱為核心功能(corefunction)。
即，在再現(xiàn)模式中，如果輸入在上下限值之間(包含上下限值)的控制值，則再現(xiàn)限制器502無需修改地輸出該控制值；同時，如果控制值低于下限值，則將該控制值修改為下限值，并輸出該下限值；同時，如果控制值高于上限值，則將該控制值修改為上限值，并輸出該上限值。
在從光盤上再現(xiàn)數(shù)據(jù)時，如果激光二極管210的輸出低于預(yù)定限值，則從光拾取器(未示出)輸出的再現(xiàn)信號的電平變得太低而不能正常地再現(xiàn)光盤上的數(shù)據(jù)。同時，如果激光二極管210的輸出增加到超過預(yù)定限值，則記錄在光盤上的數(shù)據(jù)受到損壞。并且如果這種狀態(tài)重復(fù)出現(xiàn)，則記錄在光盤上的數(shù)據(jù)會受到損壞，以至于不能再次再現(xiàn)它。因而，在再現(xiàn)中，需要將激光二極管210的輸出保持在預(yù)定范圍內(nèi)的操作，并且再現(xiàn)限制器502執(zhí)行該操作。
在記錄模式中，記錄限制器504將由APC提供的控制值限制在預(yù)定范圍內(nèi)。即，在記錄模式中，如果由APC塊206提供的控制值低于下限值，則記錄限制器504輸出該下限值；并且如果由APC塊206提供的控制值高于上限值，則輸出上限值。這被稱為核心功能。即，在記錄模式中，如果輸入在上下限值之間(包含上下限值)的控制值，則記錄限制器504無需修改地輸出該控制值；同時，如果控制值低于下限值，則將該控制值修改為下限值，并輸出該下限值；同時，如果控制值高于上限值，則將該控制值修改為上限值，并輸出該上限值。
在從光盤上記錄數(shù)據(jù)時，如果激光二極管210的輸出低于預(yù)定限值，則有可能在光盤上記錄數(shù)據(jù)。同時，如果激光二極管210的輸出增加到超過預(yù)定限值，則形成于光盤上的記錄膜層受到損壞，以至于不能進行正常的記錄。因而，在記錄中，需要將激光二極管210的輸出保持在預(yù)定范圍內(nèi)的操作，并且記錄限制器502執(zhí)行該操作。
圖6是如圖2所示的限制器的另一種結(jié)構(gòu)的方框圖。在圖6中，標號602表示再現(xiàn)限制器、標號604表示記錄限制器、以及標號606表示多路復(fù)用器。
其中，DAC能夠以高速進行多路處理，并且一般用于記錄模式和再現(xiàn)模式。在圖6中的再現(xiàn)限制器602和記錄限制器604的操作，與圖5中再現(xiàn)限制器502和記錄限制器504的操作是相同的。
根據(jù)指示記錄模式或再現(xiàn)模式的模式信號，多路復(fù)用器606選擇性地將再現(xiàn)限制器602的輸出和記錄限制器604的輸出之一提供給DAC208。
圖7是如圖2所示的縮放設(shè)定寄存器的結(jié)構(gòu)的詳細方框圖。如圖7所示，縮放設(shè)定寄存器可以使用升降計數(shù)器702來實現(xiàn)。設(shè)定升降計數(shù)器702到預(yù)定的初始值，并且根據(jù)上溢/下溢檢測器212和612的輸出，向下或向上進行計數(shù)該設(shè)定值。提供升降計數(shù)器702的系數(shù)值作為DAC208的縮放設(shè)定值或的縮放因子。
如上所述，根據(jù)本發(fā)明的用于檢測異常狀態(tài)的裝置立即防止激光二極管的上溢或下溢，使得它能防止對激光二極管的損壞、或?qū)υ诠獗P上記錄的數(shù)據(jù)的損壞。
另外，當異常狀態(tài)發(fā)生時，不需要等待微處理器的操作，該裝置直接改變自動激光二極管輸出功率控制部件的操作模式，使得它能立即采取應(yīng)對異常狀態(tài)的措施。
另外，該裝置具有用于存儲異常狀態(tài)的狀態(tài)寄存器，使得微處理器能夠精確地找出異常狀態(tài)的原因并采取措施。
權(quán)利要求
1.一種用于檢測光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備的異常狀態(tài)的裝置，所述設(shè)備具有激光二極管輸出功率控制電路，用于根據(jù)所述激光二極管、以及記錄和再現(xiàn)模式，控制激光二極管的輸出，所述裝置包括上溢/下溢檢測器，用于通過將所述激光二極管輸出功率控制值與上溢設(shè)定值和下溢設(shè)定值相比較，以確定是否發(fā)生激光二極管的上溢或下溢，其中所述激光二極管輸出功率控制值是來自激光二極管輸出功率控制電路的輸出；以及模式開關(guān)，用于響應(yīng)于所述上溢/下溢檢測器的檢測結(jié)果，將激光二極管輸出功率控制電路的操作模式從記錄模式切換到再現(xiàn)模式。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其中所述上溢/下溢檢測器在當上溢或下溢發(fā)生時，產(chǎn)生一個微處理器識別的中斷信號。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，還包括數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器(DAC)，用于鎖存激光二極管輸出功率控制電路的輸出，并將結(jié)果提供給激光二極管；以及縮放設(shè)定寄存器，用于存儲所述數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器的縮放設(shè)定值，并且根據(jù)所述上溢/下溢檢測器的檢測結(jié)果，改變所述縮放設(shè)定值。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的裝置，其中所述縮放設(shè)定寄存器是一升/降計數(shù)器，它接收所述上溢/下溢檢測器的輸出作為升/降控制信號。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其中所述上溢/下溢檢測器包括記錄DAC寄存器，用于當所述光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備處在所述記錄模式時，鎖存所述激光二極管輸出功率控制電路的輸出值；再現(xiàn)DAC寄存器，用于當所述光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備處在所述再現(xiàn)模式時，鎖存所述激光二極管輸出功率控制電路的輸出值；記錄上溢比較器，用于通過將在記錄模式中的所述上溢設(shè)定值與在所述記錄DAC寄存器中鎖存的所述值相比較，以檢測在記錄模式中上溢的發(fā)生；記錄下溢比較器，用于通過將在記錄模式中的所述下溢設(shè)定值與在所述記錄寄存器中鎖存的所述值相比較，以檢測在記錄模式中下溢的發(fā)生；再現(xiàn)上溢比較器，用于通過將在再現(xiàn)模式中的所述上溢設(shè)定值與在所述再現(xiàn)DAC寄存器中鎖存的所述值相比較，以檢測在再現(xiàn)模式中上溢的發(fā)生；以及再現(xiàn)下溢比較器，用于通過將在再現(xiàn)模式中的所述下溢設(shè)定值與在所述再現(xiàn)DAC寄存器中鎖存的所述值相比較，以檢測在再現(xiàn)模式中下溢的發(fā)生。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置，還包括“或”門，用于對所述記錄上溢比較器、記錄下溢比較器、再現(xiàn)上溢比較器、再現(xiàn)下溢比較器的輸出進行“或”運算，并產(chǎn)生結(jié)果作為微處理器識別的中斷信號。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置，還包括狀態(tài)寄存器，用于鎖存所述記錄上溢比較器、記錄下溢比較器、再現(xiàn)上溢比較器、再現(xiàn)下溢比較器的輸出狀態(tài)。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其中所述上溢/下溢檢測器包括DAC寄存器，用于鎖存所述激光二極管輸出功率控制電路的輸出；第一多路復(fù)用器，用于根據(jù)指示記錄模式或再現(xiàn)模式的模式信號，選擇性地輸出記錄上溢設(shè)定值或再現(xiàn)上溢設(shè)定值；上溢比較器，用于根據(jù)指示記錄模式或再現(xiàn)模式的模式信號，通過將所述第一多路復(fù)用器的輸出與在所述記錄DAC寄存器中鎖存的所述值相比較，以檢測上溢的發(fā)生；第二多路復(fù)用器，用于根據(jù)指示記錄模式或再現(xiàn)模式的模式信號，選擇性地輸出記錄下溢設(shè)定值或再現(xiàn)下溢設(shè)定值；下溢比較器，用于根據(jù)指示記錄模式或再現(xiàn)模式的模式信號，通過將所述第二多路復(fù)用器的輸出與在所述DAC寄存器中鎖存的所述值相比較，以檢測下溢的發(fā)生。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，還包括限制器，用于將所述激光二極管輸出功率控制值保持在預(yù)定范圍內(nèi)，并提供所述值到所述激光二極管，其中所述激光二極管輸出功率控制值是來自激光二極管輸出功率控制電路的輸出。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置，其中所述限制器包括再現(xiàn)限制器，用于將所述激光二極管輸出功率控制值保持在預(yù)定范圍內(nèi)，并提供所述值到在再現(xiàn)模式中的所述激光二極管，其中所述激光二極管輸出功率控制值是來自激光二極管輸出功率控制電路的輸出；記錄限制器，用于將所述激光二極管輸出功率控制值保持在預(yù)定范圍內(nèi)，并提供所述值到在記錄模式中的所述激光二極管，其中所述激光二極管輸出功率控制值是來自激光二極管輸出功率控制電路的輸出。
全文摘要
提供一種用于檢測異常狀態(tài)的裝置，能夠立即防止激光二極管的上溢或下溢，使得它能夠防止對激光二極管和記錄在光盤上的數(shù)據(jù)的損壞。用于檢測光盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備的異常狀態(tài)的裝置具有上溢/下溢檢測器，通過將從激光二極管輸出功率控制電路輸出的激光二極管輸出功率控制值，與上溢設(shè)定值和下溢設(shè)定值相比較，用于確定是否發(fā)生激光二極管的上溢或下溢；以及模式開關(guān)響應(yīng)于上溢/下溢檢測器的檢測結(jié)果，用于把激光二極管輸出功率控制電路的操作模式從記錄模式轉(zhuǎn)換為再現(xiàn)模式。其中光盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備具有激光二極管輸出功率控制電路，該控制電路根據(jù)激光二極管以及根據(jù)記錄和再現(xiàn)模式來控制激光二極管的輸出。
文檔編號G11B7/125GK1399255SQ02107349
公開日2003年2月26日 申請日期2002年3月15日 優(yōu)先權(quán)日2001年7月20日
發(fā)明者徐賑教 申請人:三星電子株式會社