專利名稱：確定光盤記錄功率的最佳方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種確定光盤記錄功率的最佳方法，最大限度地利用光盤目視檢查領域以決定更正確的光記錄功率，并由此找最佳狀態(tài)的目視檢查記錄的方法。
(2)背景技術一般來說，記錄光功率因為是根據(jù)記錄媒體的狀態(tài)或種類，記錄裝置的狀態(tài)(激光的質(zhì)、記錄方法，激光類型及溫度特性等)和記錄速度的不同而不同，所以各記錄裝置利用記錄在光盤中的目標記錄光功率值，先求出最佳記錄光功率值，然后再進行記錄操作。
下面簡單地說明最佳記錄光功率檢測過程。
圖1所示是一般光盤的驅(qū)動裝置的構成，將校正錯碼附加于被輸入的數(shù)字數(shù)據(jù)，以記錄格式變換的數(shù)字記錄信號處理器30a使以記錄格式變換的光盤以比特流再變化的CB(Channel Bit)編碼器40隨著被輸入的信號，輸出光量驅(qū)動信號的光驅(qū)動器41。
隨著上述光量驅(qū)動信號，使信號記錄在光盤10，又為從記錄面檢出記錄信號的光拾取器20。
將從上述光拾取器20被檢出的信號進行濾波整形化，且以二進制信號輸出的R/F(射頻)器50；使上述的光拾取器20及上述光盤10旋轉(zhuǎn)驅(qū)動的驅(qū)動旋轉(zhuǎn)電機的驅(qū)動器70。
根據(jù)上述光拾取器20中的跟蹤錯誤(T.E)及焦點錯誤(F.E)信號和光盤10的旋轉(zhuǎn)速度來控制驅(qū)動器70的伺服器60；以相位同步于上述二進制信號的自同步信號，將上述二進制信號復原成原來數(shù)據(jù)的數(shù)字再現(xiàn)信號處理器30b；驅(qū)動光盤10轉(zhuǎn)動的旋轉(zhuǎn)電機11及由對上述光盤10的OPC操作，和包含控制數(shù)據(jù)記錄/再現(xiàn)過程的微處理器80所構成。
如果在上述的光盤驅(qū)動裝置中，通過上述微處理器80從外部輸入記錄申請信號，則這時將進行最佳光功率檢測的過程，其過程如下首先，上述微處理器80將設置記錄配置程序，通過上述伺服器60和驅(qū)動器70驅(qū)動旋轉(zhuǎn)電機11，使上述光盤10旋轉(zhuǎn)驅(qū)動。
接著上述微處理器80將在數(shù)據(jù)記錄被輸入以前如圖2所示，它將讀出并確認在光盤10中的以3比特(Bit)W1、W2、W3數(shù)據(jù)記錄為目標的記錄光功率值。以上述讀出確認的目標記錄光功率(如8mw)值為準，使光功率值與如圖3所示的，以按指定的步進大小(Δρ)的大小進行變化的調(diào)節(jié)信號，可變性地引入光驅(qū)動器41。
上述Δρ的值，是以上述被確認了的光盤目標記錄光功率值為基準，使光功率變化范圍為(如5mw～10mw)，同時考慮測試數(shù)據(jù)記錄次數(shù)(15次)之后決定其值的。
上述光驅(qū)動器41對應于上述被認可的信號調(diào)節(jié)數(shù)據(jù)的光驅(qū)動功率，并輸出對測試數(shù)據(jù)的記錄信號，讓15ATIP的測試數(shù)據(jù)用上述中的光信號拾取器20記錄在圖4所示的測試區(qū)A。
如上所述光10的測試區(qū)A中測試數(shù)據(jù)，按所定大小變化的光驅(qū)動功率及以在固定的記錄脈沖的記錄狀態(tài)下，上述微處理器80是控制上述光拾取器20使上述中的數(shù)字測試區(qū)A中記錄的15ATIP測試信號按順序的讀出。這時，如果上述光盤10是一次性的允許寫入光盤(CD-R)，上述微處理器80將按順序讀出，并計算出從上述R/F(50)中被濾波整形的如圖5所示的測試數(shù)據(jù)的再現(xiàn)信號的非對稱值{β＝[(A1-A2)/(A1+A2)]×100.Slice-level＝0時}。這時利用被算出的β值來決定最佳的記錄光功率值。
使用最佳的記錄光功率值被確定，上述微處理器80為了記錄輸入數(shù)據(jù)，將根據(jù)上述確定的最佳光功率值，利用適合于光驅(qū)動的功率，為使輸入數(shù)據(jù)信號通過，控制光驅(qū)動器41。上述光驅(qū)動器41是根據(jù)光驅(qū)動電流的信號，被上述光拾取器20認可后，隨著對上述脈沖幅信號的調(diào)制，將信號記錄在光盤10的程序記憶區(qū)。完成記錄操作。
但，有關上述所完成的以光盤驅(qū)動裝置記錄方法，當光盤的目視檢測區(qū)的大小為CD-R時，盡管能以記錄的1500ATP的測試數(shù)據(jù)的大小來分配，但每當進行一次OPC時，將測試數(shù)據(jù)的區(qū)間限定在15ATIP，求最佳記錄光功率值受限制，尤其在CD-R時，更需要光盤記錄的精確度，卻在以往方法上存在滿足不了此要求的問題。
又當類似復制光盤時，大部分情況是一次性記錄來完成，在這樣的情況下，由于光功率檢查的大部分未被使用相反記錄的精密度大大降低，從而提出根據(jù)記錄方式的目視檢查區(qū)的有效使用方法。
(3)發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明是為了解決上述的問題而創(chuàng)作的最大程度地利用光盤的測試數(shù)據(jù)記錄區(qū)以此完成精密的OPC，由此確定更正確的記錄光功率值。以提供數(shù)據(jù)記錄形成最佳狀態(tài)的最佳記錄功率的確定方法為其目的。
為了達到上述目的，確定光盤的最佳記錄功率的方法是，第一階段為申請記錄數(shù)據(jù)時，判別被申請的記錄模式；第二階段為根據(jù)上述判別結果，被裝入的光盤的測試區(qū)中，附以一次OPC區(qū)間被分配的異常區(qū)間，調(diào)整測試功率掃描電平，將任一的數(shù)據(jù)進行試驗；及第三階段為再現(xiàn)上述所記錄的試驗記錄，從再現(xiàn)信號的特性確定最佳記錄光功率值。
本發(fā)明的效果根據(jù)本發(fā)明光盤的最佳記錄功率確定方法是最大限度地利用測試區(qū)，進行精密的OPC操作，而獲得正確的記錄光功率值，由此以最佳的記錄光功率值完成光盤記錄，記錄光盤的再現(xiàn)特性具有改善效果，而且根據(jù)記錄模式測試區(qū)的使用效率起著很重要的作用。
為進一步說明本發(fā)明的上述目的、結構特點和效果，以下將結合附圖對本發(fā)明進行詳細的描述。
(4)


圖1為一般光盤的驅(qū)動裝置圖2是在允許記錄的光盤上記錄著的目標記錄光功率值的數(shù)據(jù)形態(tài)。
圖3為記錄測試數(shù)據(jù)時，以目標記錄光功率值為基準的，對光功率進行變化形態(tài)的一個例子。
圖4為記錄光盤的記錄信號測試檢查區(qū)(A)和測試次數(shù)的計數(shù)區(qū)(B)。
圖5為記錄在光盤上的被測試數(shù)據(jù)的再現(xiàn)信號。
圖6為由光盤再現(xiàn)裝置和光盤記錄裝置所構成的ACDR(A光功率CDRecorder)概略圖。
圖7是圖6所示的記錄裝置中，執(zhí)行的OPC概略操作圖。
圖8a和圖8b是根據(jù)本發(fā)明具有可行性的最佳光盤記錄功率的流程圖。
圖9所示為光盤記錄的β范圍值和最佳記錄方法的數(shù)據(jù)形態(tài)。
圖10所示的例子是根據(jù)本發(fā)明在對光盤目視檢查區(qū)進行一次及二次OPC操作時，使光功率發(fā)生變更的形態(tài)。
圖11是為了檢測出一次性允許寫入光盤(CD-R)的最佳記錄光功率值的β曲線形態(tài)圖。
圖12a及圖12b是根據(jù)本發(fā)明的“決定光盤最佳記錄功率的方法”的另一個實施例流程圖。
圖13所示為根據(jù)本發(fā)明在光盤的目視檢查區(qū)進行OPC操作時，變更光功率形態(tài)的范例。
(5)具體實施方式
以下，根據(jù)本發(fā)明對確定光盤的最佳寫入功率方法的可行性實施例，根據(jù)附圖進行詳細說明。
圖6所示的是光盤再現(xiàn)裝置(CD-Player)和光盤寫入裝置(CD-Recoder)所構成的ACDR的簡圖，在這里根據(jù)本發(fā)明最佳寫入方法所實現(xiàn)的光盤寫入裝置的詳細構成與上述的圖1構成相同。
圖7所示的是在圖6的光盤寫入裝置所完成的OPC操作大致圖。
圖8a及圖8b所示的是根據(jù)本發(fā)明的最佳寫入功率確定方法的可行性實施例的流程度，以下參照圖1的寫入裝置的構成及圖7。根據(jù)本發(fā)明對圖8的最佳寫入功率確定方法，進行詳細說明。
首先，在上述光盤再現(xiàn)裝置(CD-P)和光盤寫入裝置(CD-R)內(nèi)部各存微處理器。
上述CD-P里的微處理器作主微處理器操作。上述CD-R里的微處理器作子微處理操作。
在這樣的狀態(tài)下，光盤被裝入于上述CD-P及CD-R，接著，隨著使用者的寫入申請S10，光盤轉(zhuǎn)錄關鍵字輸入于上述CD-P里的微處理器的話，上述微處理器將這光盤的復制申請轉(zhuǎn)達給上述光盤寫入裝置里的微處理器。將上述光盤寫入裝置輸入的數(shù)據(jù)能夠記錄在被插入的光盤。
這樣，若是在上述微處理器80有記錄申請的話，則上述微處理器80將記錄配置設置在驅(qū)動器，使光盤10以CLV或者CAV方式進行旋轉(zhuǎn)驅(qū)動。接著上述微處理器80如上述那樣從上述光盤10確認目標記錄光功率值(S11)，同時，將記錄信號的狀態(tài)記錄在上述光盤10的記錄方法，即以記錄脈沖為基準所確定。上述記錄方法是制造記錄媒體時，以固定值記錄著的一次允許寫入光盤(CD-R)時，如圖9所示按記錄媒體類型而固定其值。
一般而言，上述測試區(qū)(A)為CD-R光盤時，由于記錄15ATIP的測試數(shù)據(jù)的OPC操作能進行100次，所以在上述測試區(qū)間內(nèi)能記錄約1500ATIP程度的測試數(shù)據(jù)。
接著，上述微處理器(80)隨著被申請記錄模式確定，操作OPC所使用的區(qū)間，即上述被申請的記錄模式為光盤復制模式情況下(S20)；由于記錄光盤靠一次性記錄來完成記錄的情況是大部分的，所以在上述測試區(qū)(A)一般OPC操作所使用的區(qū)間(15ATIP＝15BLOCK)以外的區(qū)間是以后再不被利用，上述微處理器80是以上陳述那樣并不是以(15ATIP)的記錄測試數(shù)據(jù)來確定最佳記錄光功率值，而是按15ATIP以上，即對測試區(qū)(A)的80％區(qū)間(約1200ATIP)內(nèi)記錄測試數(shù)據(jù)的OPC精密操作，如果上述被申請的記錄模式是一般記錄模式，即以后對上述測試區(qū)(A)再執(zhí)行OPC操作時，上述那樣，對上述測試區(qū)(A)進行將測試數(shù)據(jù)按15ATIP記錄且確定最佳記錄光功率值的一般OPC操作(S30～S32)。
接著上述微處理器80是因為現(xiàn)在的記錄模式為光盤復制模式，所以利用上述測試區(qū)(A)的約80％程度的區(qū)間完成精密OPC操作。
為了這個，上述微處理器80如圖10所示，首先在上述測試區(qū)A進行記錄15ATIP的測試數(shù)據(jù)的一次性OPC操作，即上述的那樣，以被上述讀出確認的光功率(如，8mw)值為基準，使光功率值用指定的步幅度大小(ΔP)程度進行變化，將測試數(shù)據(jù)按15ATP來記錄著(S21)。這時上述微處理器80讓上述光拾取器20將記錄脈沖的信號電平或持續(xù)時間根據(jù)上述被確認的記錄方法來維持且記錄測試數(shù)據(jù)。這樣測試數(shù)據(jù)是依靠可變的記錄脈沖及記錄光功率完成其記錄，上述微處理器80控制上述光拾取器20且將被記錄的測試數(shù)據(jù)按次序進行讀出。
如此地讀出來后，從在上述R/F器50被濾波整形化的再現(xiàn)信號產(chǎn)生出再現(xiàn)信號的不對稱值(β＝[(A1-A2)/(A1+A2)]×100，時間片電平＝0時)。
接著上述微處理器80讓在上述光盤10上記錄著的目標β范圍值讀出如圖11所示那樣，從上述所得的曲線和上述讀出的目標β范圍值一次性地確定最佳的記錄光功率值S22。上述目標β范圍值是如圖2所示那樣，記錄在光盤10的時間信息字段的ATIP內(nèi)的秒字節(jié)(M1S1F18＝001時)按3比特(P1·P2·P3)數(shù)據(jù)記錄著的。
上述微處理器80是上述被讀出的3比特(P1·P2·P3)數(shù)據(jù)為(000)時的β的范圍值是-4～+8％。
當“001”時的β的范圍值為0～+12％來確定。如此這般地靠一次性OPC操作確定記錄光功率值的話，上述微處理器80是在上述測試區(qū)A的一次性OPC操作區(qū)間內(nèi)，接著以上述記錄光功率值為基準進行2次性OPC操作，上述2次性OPC操作是在一次性OPC操作區(qū)間內(nèi)。接著將1185ATIP的測試數(shù)字記錄在上述測試區(qū)A，這時上述微處理器80以上述被確定的記錄光功率值(如9mw)為基準，這光功率值如圖10所示將以指定的步幅度大小(ΔP′)程度進行大小變化的校正信號強變性地引進在上述光驅(qū)動區(qū)41，靠上述一次OPC操作所確定的記錄光功率值在確定的步內(nèi)，以更加細分割的步大小(ΔP′)變化光功率，以此完成精密OPC操作(S23)。
根據(jù)這樣的二次OPC，測試數(shù)據(jù)對上述測試區(qū)(A)的約80％區(qū)間(約1200ATIP)完成記錄，則上述微處理器(80)如已經(jīng)陳述的那樣確定最佳地記錄光功率值(S24)。
這樣，如果最佳記錄光功率值最后被確定，上述微處理器80利用上述被獲得的最佳記錄光功率值，便可進行被申請的記錄操作，被申請的記錄模型為復制模式時，插入安裝于上述CD-P光盤的所有內(nèi)容照樣記錄在被CD-R的插入安裝的光盤上，為了這個附加在CD-P的主微處理器將被裝入的光盤的內(nèi)容轉(zhuǎn)達給上述附加于CD-R上的子微處理器80。
接著，上述微處理器80通過上述伺服器60和驅(qū)動器70將光盤10旋轉(zhuǎn)驅(qū)動，上述數(shù)字信號處理器30a是附加為符號化了的數(shù)據(jù)的記錄/再現(xiàn)的具有可靠性的編碼及錯誤修正寄偶性生成錯誤修正碼等(ELL BLOCK)，上述CB編碼(40)是將從上述數(shù)字記錄信號處理器(30a)輸出的，數(shù)字位(比特)流以為記錄在上述光盤(10)的脈沖幅度調(diào)制著的信號形態(tài)變化且引入于上述驅(qū)動器41。上述微處理器80，根據(jù)與上述一次及二次OPC操作所確定的最佳記錄光功率值互為相應的光驅(qū)動電流。為了讓記錄信號輸出而控制上述光驅(qū)動器41，上述光驅(qū)動器41將有關光驅(qū)動功率的信號引入于光盤20，讓上述脈沖幅度調(diào)制的信號記錄在光盤10的程序區(qū)，如此的記錄操作裝入在CD-P的光盤的所有內(nèi)容，在裝入于CD-R的光盤10上完成其記錄為止繼續(xù)進行操作S25。
圖12a和圖12b是根據(jù)本發(fā)明光盤的最佳記錄功率確定方法的另一實施例的流程圖。
至于圖12的最佳記錄功率確定方法，其說明如下圖12的記錄功率確定方法與圖8的方法幾乎相同，但圖8的方法是隨著被申請的記錄模式，在光盤10的測試區(qū)A將15ATIP的測試數(shù)據(jù)記錄著，且進行確定記錄光功率值的一次OPC操作，然后以一次OPC操作區(qū)間接著進行二次OPC，由此得最佳記錄光功率值。但圖12的方法是一次及二次OPC操作時所用的測試區(qū)(A)，即經(jīng)上述測試區(qū)(A)的大約80％區(qū)間將測試數(shù)據(jù)進行一次性記錄，并確定最佳記錄光功率值(S40～S52)。為此，上述微處理器(80)將上述被讀出確認的目標記錄光功率(如8mw)以比在一次OPC操作時所用的調(diào)幅較小的幅度還少(ΔP″)進行調(diào)節(jié)，且記錄測試數(shù)據(jù)，這時，如圖13所示，以上述目標記錄光功率為基準，使光功率以ΔP″的大小進行變化，且記錄測試數(shù)據(jù)(1ATIP 1200ATIP)，以1200分解進行細量化，且記錄數(shù)據(jù)，利用被記錄的測試數(shù)據(jù)，如上所述的那樣確定最佳記錄光功率值進行被申請的記錄操作(S53)。
當然，本技術領域中的普通技術人員應當認識到，以上的實施例僅是用來說明本發(fā)明，而并非用作為對本發(fā)明的限定，只要在本發(fā)明的實質(zhì)精神范圍內(nèi)，對以上所述實施例的變化、變型都將落在本發(fā)明權利要求書的范圍內(nèi)。
權利要求
1.一種確定光盤記錄功率的最佳方法，有關最佳記錄光功率檢測過程(OPC)操作方法；其特征在于所述的方法包括第一階段為申請記錄數(shù)據(jù)時，判別被申請的記錄模式；第二階段為根據(jù)上述判別結果，被裝入的光盤的測試區(qū)中，附以一次OPC區(qū)間被分配的異常區(qū)間，調(diào)整測試功率掃描電平，將任一的數(shù)據(jù)進行試驗；及第三階段為再現(xiàn)上述所記錄的試驗記錄，從再現(xiàn)信號的特性確定最佳記錄光功率值。
2.如權利要求1所述的確定光盤記錄功率的最佳方法，其特征在于所述的第2階段及第3階段是所述的記錄模式在復制模式光盤的狀態(tài)下所進行的。
3.如權利要求1所述的確定光盤記錄功率的最佳方法，其特征在于所述的第二階段的試驗記錄是以經(jīng)過上述測試區(qū)的80％的區(qū)域完成的。
全文摘要
一種確定光盤記錄功率的最佳方法是第一階段為申請記錄數(shù)據(jù)時，判別被申請的記錄模式；第二階段為根據(jù)上述判別結果，被裝入的光盤的測試區(qū)中，附以一次OPC區(qū)間被分配的異常區(qū)間，調(diào)整測試功率掃描電平，將任一的數(shù)據(jù)進行試驗；及第三階段為再現(xiàn)上述所記錄的試驗記錄，從再現(xiàn)信號的特性確定最佳記錄光功率值。本發(fā)明光盤的最佳記錄功率確定方法是最大限度地利用測試區(qū)，進行精密的OPC操作，而獲得正確的記錄光功率值，由此以最佳的記錄光功率值完成光盤記錄，記錄光盤的再現(xiàn)特性具有改善效果，而且根據(jù)記錄模式測試區(qū)的使用效率起著很重要的作用。
文檔編號G11B7/00GK1466126SQ0211228
公開日2004年1月7日 申請日期2002年6月28日 優(yōu)先權日2002年6月28日
發(fā)明者樸光植 申請人:上海樂金廣電電子有限公司