專利名稱：光學(xué)拾取裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明一般地涉及光學(xué)拾取裝置，更具體地說，本發(fā)明涉及利用雙波長光源模塊和全息圖底片使光學(xué)拾取裝置實現(xiàn)小型化和細長化，并且通過繼續(xù)使用傳統(tǒng)光電檢測器降低光學(xué)拾取裝置的成本的光學(xué)拾取裝置。
參考

圖1，傳統(tǒng)光學(xué)拾取裝置包括雙波長光源模塊1、衍射光柵2、分束器3、物鏡4、讀出透鏡5以及光電檢測器6。雙波長光源模塊1產(chǎn)生兩束光，一束光的波長為650nm，用于DVD，另一束光的波長為780nm，用于CD。衍射光柵2將雙波長光源模塊1發(fā)出的每束光分別至少分離為3束光，例如，第0級衍射光、第1級衍射光以及第-1級衍射光。分束器3使入射光束反射到光盤D。物鏡4將光束聚焦到光盤光道上。在光盤D反射的光束通過分束器3時，讀出透鏡5聚焦通過的光束。光電檢測單元6檢測讀出透鏡5聚焦的光束并將該光束轉(zhuǎn)換為電信號。
在具有上述構(gòu)造的光學(xué)拾取裝置中，通過衍射光柵2、分束器3以及物鏡4將雙波長光源模塊1發(fā)出的每束光聚焦到光盤D上的一點，同時通過物鏡4、分束器3以及讀出透鏡5，光電檢測單元6檢測被光盤D反射的每束光。
然而，在這種傳統(tǒng)光學(xué)拾取裝置中，各光束到達光電檢測器6的位置之間的間隔與雙波長光源模塊1發(fā)出光束的振蕩間隔成正比。因此，必須開發(fā)并使用其圖形之間間隔與振蕩間隔成正比的新型光電檢測器，來代替當前廣泛使用的傳統(tǒng)光電檢測器。此外，新型光電檢測器的開發(fā)成本導(dǎo)致了光學(xué)拾取裝置的成本很高。
此外，傳統(tǒng)光學(xué)拾取裝置的問題在于，由于有大量光學(xué)部件，所以需要許多安裝過程，因此難以使光學(xué)拾取裝置實現(xiàn)細長化和小型化，并且因為其結(jié)構(gòu)復(fù)雜，所以制造成本高。
因此，最近建議了一種采用全息圖底片來簡化傳統(tǒng)光學(xué)拾取裝置的結(jié)構(gòu)并減少構(gòu)成光學(xué)拾取裝置的光學(xué)部件的數(shù)量的光學(xué)拾取裝置。
圖2示出了采用全息圖底片的傳統(tǒng)光學(xué)拾取裝置。參考圖2，采用全息圖底片的光學(xué)拾取裝置包括雙波長光源模塊10，用于產(chǎn)生光束；衍射光柵12，用于將每個光束分離為3束光；全息圖光學(xué)元件14，用于接收光盤D反射的3束光并衍射各光束；以及光電檢測單元16，用于接收在通過全息圖光學(xué)元件14時被衍射和聚焦的光束。利用芯片焊接過程，將雙波長光源模塊10和光電檢測器16固定到一個公共基板上。將安裝在一個公共基板上的衍射光柵12、全息圖光學(xué)元件14、雙波長光源模塊10以及光電檢測器16集成到一個單獨的封裝內(nèi)。顯然，將光束聚焦到光盤D上的一點的物鏡4被設(shè)置在全息圖光學(xué)元件14與光盤D之間。
在具有上述構(gòu)造的光學(xué)拾取裝置中，衍射光柵12將雙波長光源模塊10發(fā)出的每束光分離為3束光。透鏡4將3束分離光聚焦投射到光盤D的表面。投射到光盤D表面的光束被反射，全息圖光學(xué)元件14衍射反射光，然后光電檢測器16對該反射光進行檢測。
如上所述，在采用全息圖底片的光學(xué)拾取裝置中，光電檢測器檢測全息圖光學(xué)元件衍射的光束，這樣就省略了分束器和讀出透鏡，從而減少了光學(xué)部件的數(shù)量。此外，將雙波長光源模塊、光電檢測器、衍射光柵以及全息圖光學(xué)元件集成在一個封裝內(nèi)，因此簡化了光學(xué)拾取裝置的結(jié)構(gòu)并降低了其制造成本。
然而，在傳統(tǒng)全息圖光學(xué)拾取裝置中，需要將光電檢測器設(shè)置在精確位置，因為光源模塊與光電檢測器之間的公差會極大地影響用于檢測光源模塊發(fā)出的光束的光電檢測器的性能，在這種情況下，傳統(tǒng)全息圖光學(xué)拾取裝置的缺點在于，精確設(shè)置光源模塊和光電檢測器的操作過程復(fù)雜，并且需要高精度的昂貴設(shè)備。此外，傳統(tǒng)全息圖光學(xué)拾取裝置的缺點還在于，一旦光電檢測器被固定，就不可能對光電檢測器的位置進行調(diào)節(jié)。
同時，在此全息圖光學(xué)拾取裝置中，必須將全息圖底片分割為兩片來衍射兩束不同波長的光，從而將它們聚焦到光電檢測器上的一點。在這種情況下，全息圖光學(xué)拾取裝置的問題在于，在為了獲得所要求的信號而將全息圖底片分割為幾片時，到達全息圖底片的光束會產(chǎn)生色散噪聲，從而降低了光效率。
本發(fā)明的另一個目的是提供一種不使用昂貴設(shè)備就可以簡單、精確地調(diào)節(jié)光電檢測器的位置的光學(xué)拾取裝置。
本發(fā)明的又一個目的是提供一種通過避免通過全息圖底片的每束光產(chǎn)生色散噪聲來提高光效率的光學(xué)拾取裝置。
為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種光學(xué)拾取裝置，該光學(xué)拾取裝置包括引線框封裝和檢測單元，該引線框封裝包括引線框，在引線框上形成的與外部進行通信的開口；雙波長光源模塊，設(shè)置在開口部分，用于向光盤發(fā)出兩束不同波長的光；全息圖光學(xué)元件，設(shè)置在雙波長光源模塊之上，全息圖光學(xué)元件包括形成在其頂部、用于衍射光盤反射的所有光束的全息圖案和形成在其底部、用于傳輸具有不同波長的兩束光中的第一束光并衍射它們中的第二束光從而將這兩束光聚焦到一點的波前補償全息圖案；該檢測單元包括基板，設(shè)置在引線框封裝之下、可以與引線框封裝分離并可以單獨從引線框封裝卸下；以及光電檢測單元，安裝在所述基板上，其中引線框封裝構(gòu)成一個單獨的模塊。
圖10示出根據(jù)本發(fā)明另一個優(yōu)選實施例的另一個光學(xué)拾取裝置的正視圖。
參考圖3至圖7，在根據(jù)本發(fā)明的光學(xué)拾取裝置中，在一個獨立引線框101內(nèi)設(shè)置雙波長光源模塊110、反射鏡120、衍射光柵140以及全息圖光學(xué)元件130以形成一個單獨的模塊或引線框封裝100。
在引線框101內(nèi)形成開口102，開口102由全息圖光學(xué)元件130、引線框101的底部和引線框101的側(cè)壁確定。也就是說，開口102的頂部被全息圖光學(xué)元件130封閉，通過引線框101的底部，開口102的底部與外界通信。
在引線框101的底部安裝雙波長光源模塊110以選擇發(fā)出具有用于DVD的650nm和用于CD的780nm的兩種不同波長光束。雙波長光源模塊110發(fā)出的光束通過反射鏡120輻照到光盤D。
最好是，反射鏡120放置在與雙波長光源模塊110發(fā)出的光束的光軸成45°角的位置上，以便使光束射向光盤D。
最好以這樣的方式設(shè)計光學(xué)拾取裝置，以使雙波長光源模塊110發(fā)出的光束直接射向光盤D，而無需使用反射鏡120。
將全息圖光學(xué)元件130設(shè)置在反射鏡120的上方，并固定到引線框101。
全息圖光學(xué)元件130具有設(shè)置在其底部中心位置的傳輸衍射光柵140，從而在傳輸反射鏡120反射的光束時，至少將每束光分離為包括第0束光和第±1束光的3束光。
此外，將全息圖案132設(shè)置在全息圖光學(xué)元件130的頂部，它在單向上衍射被光盤D反射的、波長為650nm和780nm的所有光束。相反，將波前補償全息圖案134設(shè)置在全息圖光學(xué)元件130的底部上的某個位置并與衍射光柵140分離。
波前補償全息圖案134具有可以傳輸全息圖光學(xué)元件130的頂部衍射的兩束光中的一束，并且可以衍射全息圖光學(xué)元件130的頂部衍射的兩束光中另一束光的圖形。也就是說，波前補償全息圖案134可以用于傳輸波長為650nm的光，并可以衍射波長為780nm的光，因此可以將這兩束光聚焦到下述光電檢測器154上的一點。與此相反，全息圖案134可以用于傳輸波長為780nm的光，并可以衍射波長為650nm的光。
在這種情況下，波前補償全息圖案134具有周期性薄相位光柵。此外，由如下等式[1]給出光柵衍射的衍射光的光強(衍射效率)。
A0＝[(2q-lsinθ]2+cos2θA1＝[2(sin(mπq/mπ)sinθ]2[1]等式[1]表示光通過光柵形狀的全息圖案或光柵聚焦到遠端屏幕上的形狀。等式[1]被稱為傅里葉變換，其中m是衍射級，q是衍射的占空因數(shù)。
此外，圖8示出光柵深度、光束波長以及衍射效率之間的關(guān)系曲線圖。
如圖所示，如果在波長分別為650nm和780nm的衍射效率的強度互相相反的位置，根據(jù)光柵深度形成全息圖底片，則僅衍射一個波長的光束，并且會降低另一個波長光束的衍射效率。
最好是將波前補償全息圖案134和傳輸衍射光柵140集成到全息圖光學(xué)元件130的底部來形成。然而，可以分別形成波前補償全息圖案134和傳輸衍射光柵140并將它們安裝到全息圖光學(xué)元件130的底部。
雙波長光源模塊110發(fā)出的光束傳輸時，所構(gòu)造的具有這些圖形的全息圖光學(xué)元件130不會對光束產(chǎn)生影響。
將物鏡OL設(shè)置在引線框封裝100的上方以形成一個單獨的模塊，同時與引線框封裝100分離，物鏡OL將通過全息圖光學(xué)元件130傳輸?shù)墓饩劢沟焦獗PD上的一點。
此外，將具有光電檢測器154的檢測單元150設(shè)置在引線框封裝100之下的某個位置，檢測單元150檢測光盤D反射的光束和全息圖光學(xué)元件130衍射的光束。在這種情況下，檢測單元150可以與引線框封裝100分離并且可以單獨從引線框封裝100卸下。
也就是說，檢測單元150包括基板152，與引線框封裝100分離并可以單獨從引線框封裝100卸下；以及光電檢測器154，安裝在基板152上。
可以將典型板上芯片光電二極管封裝或倒裝片式封裝用作檢測單元150。
在這種情況下，可以采用典型微分相位檢測(DPD)方法來檢測檢測單元150的跟蹤誤差信號。在此，利用圖9所示的(A1+A2)-(B)檢測跟蹤誤差信號。
DPD方法是估計并使用光盤反射的反射光與光盤衍射的衍射光的干涉圖的一種典型方法。也就是說，如圖9所示，光束會產(chǎn)生棒球形圖形，其中圓的右側(cè)部分和左側(cè)部分根據(jù)光道位置變化。因此，估計圓的右側(cè)部分和左側(cè)部分以檢測跟蹤誤差信號。通常，在現(xiàn)有技術(shù)中采用4分光電二極管(PD)，而在本發(fā)明中采用兩個3分光電二極管。
光電檢測器154檢測聚焦光束以將RF信號、聚焦誤差信號、跟蹤誤差信號以及光盤信息轉(zhuǎn)換為電信號。對轉(zhuǎn)換的電信號進行解調(diào)并利用控制電路(未示出)再現(xiàn)為原始信號。
以下將詳細說明具有上述結(jié)構(gòu)的本發(fā)明光學(xué)拾取裝置的運行過程和效果。
首先，說明光路雙波長光源模塊110選擇性發(fā)出的每束光被反射鏡120反射以通過全息圖光學(xué)元件130，并通過物鏡OL被聚焦到光盤D上的一點。
光盤D反射的每束光通過物鏡OL并被入射到全息圖光學(xué)元件130。在通過全息圖光學(xué)元件130時，入射的光被彎曲并被聚焦到光電檢測器154上的一點。
也就是說，光盤D反射的每束光彎曲在通過位于全息圖光學(xué)元件130的頂部的全息圖案132的同時，以預(yù)定角度偏離雙波長光源模塊110發(fā)出的光束的光軸。然后，在通過位于全息圖光學(xué)元件130底部的全息圖案134時，一束光被無干擾傳輸，而另一束光被彎曲，從而將兩束光聚焦到光電檢測器154的一點上。
然后，光電檢測器154檢測聚焦光束以將RF信號、聚焦誤差信號、跟蹤誤差信號以及光盤信息轉(zhuǎn)換為電信號。
如上所述，利用一個全息圖底片，所構(gòu)造的本發(fā)明光學(xué)拾取裝置將選擇性發(fā)出的兩束光聚焦到一點。因此，不需要開發(fā)具有適于雙波長光源模塊的新圖形的光電檢測器。此外，在本發(fā)明中還可以繼續(xù)使用現(xiàn)有技術(shù)中廣泛使用的光電檢測器，這樣可以節(jié)省光學(xué)拾取裝置的開發(fā)成本。
此外，與傳統(tǒng)光學(xué)元件不同，不將全息圖光學(xué)元件的上表面分割為幾片，因此不會出現(xiàn)因為將全息圖底片分割為幾片產(chǎn)生的色散噪聲，并因此提高了光效率。
不僅如此，本發(fā)明還可以減少諸如在傳統(tǒng)光學(xué)拾取裝置內(nèi)使用的分束器、棱鏡以及讀出透鏡的光學(xué)部件的數(shù)量，因此簡化了光學(xué)拾取裝置的結(jié)構(gòu)并降低了成本。此外，本發(fā)明還可以使光學(xué)拾取裝置實現(xiàn)小型化、細長化，因為雙波長光源模塊、反射鏡以及全息圖光學(xué)元件被集成到引線框封裝內(nèi)。特別是，由于將雙波長光源模塊安裝到引線框封裝，所以光學(xué)拾取裝置的應(yīng)用領(lǐng)域和用途更具多樣性。也就是說，可以對采用雙波長光源模塊的光學(xué)拾取裝置實現(xiàn)小型化和細長化。
此外，即使因為在光束通過全息圖光學(xué)元件、物鏡以及光盤時產(chǎn)生公差，光源模塊發(fā)出的光未到達光電檢測器上的精確位置，通過調(diào)節(jié)光電檢測器的位置，仍可以獲得所希望的光束形狀和所希望的信號(聚焦誤差信號、跟蹤誤差信號、RF信號等)，因為光電檢測器被安裝在基板上，從而可拆卸地設(shè)置在引線框封裝的底部。
如上所述，光束到達光電檢測器上的精確位置，而不因為公差產(chǎn)生誤差。因此，根據(jù)本發(fā)明的光學(xué)拾取裝置的優(yōu)勢在于，不需要現(xiàn)有技術(shù)使用的昂貴設(shè)備就可以精確調(diào)節(jié)光電檢測器的位置，從而降低了光學(xué)拾取裝置的生產(chǎn)成本，并且可以容易地調(diào)節(jié)光電檢測器的位置。
圖10示出根據(jù)本發(fā)明另一個優(yōu)選實施例的另一個光學(xué)拾取裝置。
與圖3所示的光學(xué)拾取裝置相比，圖10所示的光學(xué)拾取裝置具有同樣的運行效果，不同之處只有引線框封裝結(jié)構(gòu)。
現(xiàn)在說明不同于圖3所示引線框封裝結(jié)構(gòu)的引線框封裝結(jié)構(gòu)。在引線框201形成開口202，并在部分開口202設(shè)置雙波長光源模塊210以發(fā)出待傾斜的不同波長的兩束光，將全息圖光學(xué)元件230設(shè)置在雙波長光源模塊210的上方，從而構(gòu)成一個單獨的模塊。
此外，將波前補償全息圖案形成在雙波長光源模塊201全息圖光學(xué)元件230的底部，波前補償全息圖案將雙波形光源模塊210發(fā)出的兩束光之一衍射到光盤D，并傳輸兩束光中的另一束。此外，將全息圖案形成在全息圖光學(xué)元件230的頂部，全息圖案將從全息圖光學(xué)元件230的底部傳輸?shù)墓馐苌涞焦獗PD。
不僅如此，將衍射光柵240安裝在引線框封裝200的頂部，衍射光柵240將雙波長光源模塊210發(fā)出的每束光分離為主光束和負光束，然后將它們?nèi)肷涞焦獗PD。
在引線框封裝200之下的中心位置設(shè)置檢測單元250，其中檢測單元250包括可以從引線框封裝200單獨卸下安裝的基板252和安裝在基板252的頂部的光電檢測器254。
同時，還可以將根據(jù)本發(fā)明的全息圖光學(xué)元件230應(yīng)用于所有光學(xué)拾取裝置，這樣就可以利用全息圖底片將雙波長光源模塊發(fā)出的每束光聚焦到光電檢測器的一點。
不僅如此，根據(jù)本發(fā)明構(gòu)造的光學(xué)拾取裝置可以應(yīng)用于各種光盤記錄與再現(xiàn)設(shè)備。
如上所述，本發(fā)明提供了一種可以擴大光學(xué)拾取裝置的應(yīng)用領(lǐng)域和用途，并且通過將雙波長光源模塊安裝到引線框封裝，使采用雙波長光源模塊的光學(xué)拾取裝置實現(xiàn)小型化和細長化的光學(xué)拾取裝置。
此外，本發(fā)明優(yōu)勢在于，通過利用引線框封裝將多個光學(xué)部件集成到一個模塊內(nèi)，可以使光學(xué)拾取裝置實現(xiàn)小型化和細長化，利用為避免產(chǎn)生色散噪聲而構(gòu)造的全息圖底片，以提高光效率，通過減少光學(xué)部件的數(shù)量并繼續(xù)使用傳統(tǒng)光電檢測器，以降低光學(xué)拾取裝置的成本。
不僅如此，本發(fā)明的優(yōu)勢還在于，通過可拆卸設(shè)置芯片可以容易地調(diào)節(jié)光電檢測器的位置，并因為不需要昂貴設(shè)備來精確調(diào)節(jié)光電檢測器的位置，所以提高了光學(xué)拾取裝置的生產(chǎn)率。
盡管本發(fā)明的優(yōu)選實施例是以說明為目的而揭示的，但是在不脫離本發(fā)明的權(quán)利要求書的范圍和精神條件下，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對本發(fā)明進行各種可能的修改、添加和替換。
權(quán)利要求
1.一種光學(xué)拾取裝置，該光學(xué)拾取裝置包括引線框封裝，該引線框封裝包括引線框，在引線框上形成的與外部進行通信的開口；雙波長光源模塊，設(shè)置在開口部分，用于向光盤發(fā)出兩束不同波長的光；以及全息圖光學(xué)元件，設(shè)置在雙波長光源模塊之上，全息圖光學(xué)元件包括全息圖案，形成在其頂部、用于衍射光盤反射的所有光束；以及波前補償全息圖案，形成在其底部、用于傳輸具有不同波長的兩束光中的第一束光并衍射它們中的第二束光從而將這兩束光聚焦到一點；以及檢測單元，該檢測單元包括基板，設(shè)置在引線框封裝之下、可以與引線框封裝分離并可以單獨從引線框封裝卸下；以及光電檢測單元，安裝在所述基板上，其中引線框封裝構(gòu)成一個單獨的模塊。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾取裝置，其中在光束通過波前補償全息圖案時，波前補償全息圖案傳輸?shù)墓獾牟ㄩL為650nm，而波前補償全息圖案衍射的光的波長為780nm。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾取裝置，其中在光束通過波前補償全息圖案時，波前補償全息圖案傳輸?shù)墓獾牟ㄩL為780nm，而波前補償全息圖案衍射的光的波長為650nm。
4.根據(jù)權(quán)利要求1至3之任一所述的光學(xué)拾取裝置，其中以這樣的方式設(shè)計波前補償全息圖案，以致如下等式給出光柵衍射的衍射光的光強。A0＝[(2q-1sinθ]2+cos2θA1＝[2(sin(m πq/mπ)sinθ]2
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾取裝置，其中檢測單元是板上芯片光電二極管封裝。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾取裝置，其中檢測單元是倒裝片式封裝。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾取裝置，其中全息圖光學(xué)元件包括形成在其底部、用于將雙波長光源模塊發(fā)出的每束光分離為入射到光盤的主光束和負光束的衍射光柵。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾取裝置，該光學(xué)拾取裝置進一步包括設(shè)置在引線框封裝上方的光路上、用于將光束聚焦到光盤上的一點的物鏡。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾取裝置，其中設(shè)置雙波長光源模塊以在垂直于光盤的方向發(fā)出光束，并在引線框封裝內(nèi)形成反射鏡，該反射鏡將雙波長光源模塊發(fā)出的光反射到光盤。
10.一種光學(xué)拾取裝置，該光學(xué)拾取裝置包括引線框封裝，該引線框封裝包括引線框，在引線框上形成的與外部進行通信的開口；雙波長光源模塊，設(shè)置在開口部分，用于向光盤發(fā)出兩束不同波長的光；以及全息圖光學(xué)元件，設(shè)置在雙波長光源模塊之上，全息圖光學(xué)元件包括全息圖案，形成在其頂部、用于衍射光盤反射的所有光束；衍射光柵，形成在其底部、用于將雙波長光源模塊發(fā)出的每束光分離為主光束和負光束；以及波前補償全息圖案，形成在其底部、用于傳輸具有不同波長的兩束光中的第一束光并衍射它們中的第二束光從而將這兩束光聚焦到一點；物鏡，設(shè)置在引線框封裝上方的光路上、用于將光束聚焦到光盤上的一點；以及檢測單元，該檢測單元包括基板，設(shè)置在引線框封裝之下、可以與引線框封裝分離并可以單獨從引線框封裝卸下；以及光電檢測單元，安裝在所述基板上，其中引線框封裝構(gòu)成一個單獨的模塊。
11.一種光學(xué)拾取裝置，該光學(xué)拾取裝置包括引線框封裝，該引線框封裝包括引線框，在引線框上形成的與外部進行通信的開口；雙波長光源模塊，設(shè)置在開口部分，用于發(fā)出待傾斜的兩束不同波長的光；以及全息圖光學(xué)元件，設(shè)置在雙波長光源模塊之上，全息圖光學(xué)元件包括波前補償全息圖案，形成在其底部、用于將雙波長光源模塊發(fā)出的第一束光衍射到光盤并傳輸?shù)诙?；以及全息圖案，形成在其頂部、用于將全息圖光學(xué)元件的底部傳輸?shù)墓馐苌涞焦獗P；它們構(gòu)成一個模塊，以及檢測單元，該檢測單元包括基板，設(shè)置在引線框封裝之下、可以與引線框封裝分離并可以單獨從引線框封裝卸下；以及光電檢測單元，安裝在所述基板上，其中引線框封裝構(gòu)成一個單獨的模塊。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的光學(xué)拾取裝置，其中在光束通過波前補償全息圖案時，波前補償全息圖案傳輸?shù)墓獾牟ㄩL為650nm，而波前補償全息圖案衍射的光的波長為780nm。
13.根據(jù)權(quán)利要求11所述的光學(xué)拾取裝置，其中在光束通過波前補償全息圖案時，波前補償全息圖案傳輸?shù)墓獾牟ㄩL為780nm，而波前補償全息圖案衍射的光的波長為650nm。
14.根據(jù)權(quán)利要求11至13之任一所述的光學(xué)拾取裝置，其中以這樣的方式設(shè)計波前補償全息圖案，以致如下等式給出光柵衍射的衍射光的光強。A0＝[(2q-1sinθ]2+cos2θA1＝[2(sin(mπq/mπ)sinθ]2
15.根據(jù)權(quán)利要求11所述的光學(xué)拾取裝置，其中檢測單元是板上芯片光電二極管封裝。
16.根據(jù)權(quán)利要求11所述的光學(xué)拾取裝置，其中檢測單元是倒裝片式封裝。
17.根據(jù)權(quán)利要求11所述的光學(xué)拾取裝置，該光學(xué)拾取裝置進一步包括形成在引線框封裝的頂部、用于將雙波長光源模塊發(fā)出的每束光分離為入射到光盤的主光束和負光束的衍射光柵。
18.一種采用用于發(fā)出不同波長光束的雙波長光源模塊和全息圖光學(xué)元件的光學(xué)拾取裝置，其中將全息圖案形成在全息圖光學(xué)元件的入射面，全息圖案用于衍射兩束入射光，而將波前補償全息圖案形成在全息圖光學(xué)元件的出射面，波前補償全息圖案用于傳輸不同波長的兩束光中的第一束光并衍射第二束光從而將這兩束光聚焦到一點。
全文摘要
本發(fā)明披露了一種光學(xué)拾取裝置。該光學(xué)拾取裝置具有引線框封裝和檢測單元。引線框封裝具有引線框、雙波長光源模塊以及全息圖光學(xué)元件。引線框具有為了與外界通信而形成的開口。雙波長光源模塊設(shè)置在開口部分，用于對光盤發(fā)出不同波長的兩束光。全息圖光學(xué)元件設(shè)置在雙波長光源模塊的上方。此外，全息圖光學(xué)元件還包括在其頂部形成的全息圖案和在其底部形成的波前補償全息圖案。檢測單元具有基板，被設(shè)置在引線框封裝之下、與引線框封裝分離并可以單獨從引線框封裝卸下；以及光電檢測器，安裝在所述基板上。
文檔編號G11B7/125GK1447320SQ0212270
公開日2003年10月8日 申請日期2002年6月7日 優(yōu)先權(quán)日2002年3月22日
發(fā)明者慶阡秀, 吳承晚, 鄭鎬燮 申請人:三星電機株式會社