專利名稱：光拾取裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種光拾取裝置，特別涉及這樣一種光拾取裝置，它能夠定量地檢測記錄介質(zhì)的厚度變化。
背景技術(shù)：
一般來說，信息的記錄/再現(xiàn)密度隨著在記錄介質(zhì)上由光拾取裝置形成的光點(diǎn)的大小降低而增加。如數(shù)學(xué)公式1所示，所使用的的光波長λ越短和物鏡的NA(數(shù)值孔徑)越大，則光點(diǎn)的尺寸減小。
光點(diǎn)大小∝λ/NA因此，為了減小形成在記錄介質(zhì)上的光點(diǎn)的大小以取得高密度的記錄介質(zhì)，在光拾取裝置中必須采用，諸如藍(lán)色半導(dǎo)體激光的短波長光源，和具有高NA的物鏡。在與本技術(shù)相關(guān)的領(lǐng)域中，為了防止由于記錄介質(zhì)的傾斜造成的性能降低，報(bào)道了使用0.85NA的物鏡和記錄介質(zhì)的厚度降低到0.1毫米，使得記錄容量能夠增加到22.5GB(千兆比特)以上的格式。在此，記錄介質(zhì)的厚度指的是從光輸入表面到記錄表面的距離。
但是，如在數(shù)學(xué)公式2中示出的，球面像差W40d與物鏡NA的四次方和在記錄介質(zhì)厚度的誤差成正比。因此，為了采用具有約0.85的高NA的物鏡，記錄介質(zhì)必須具有在±3微米內(nèi)的均勻的厚度。但是，制造具有0.1毫米厚度并且厚度誤差在這個(gè)范圍內(nèi)是很困難的。
W40d=n2-18n3(NA)4Δd]]>在此，n是記錄介質(zhì)的光介質(zhì)的折射率。


圖1是在使用發(fā)射400nm波長的光束的光源和具有0.85NA的物鏡時(shí)，在記錄介質(zhì)的厚度中的誤差和由于此誤差產(chǎn)生的OPD(光程差)之間的關(guān)系曲線圖。如圖所示，OPD與厚度的誤差成比例地增加。因?yàn)樵谟涗浗橘|(zhì)的厚度中的誤差產(chǎn)生的OPD與球面像差相對應(yīng)，所以，記錄介質(zhì)厚度的誤差以球面像差的形式反應(yīng)到光拾取裝置上。
因此，在使用諸如0.85NA的高NA的系統(tǒng)中，必須檢測由于記錄介質(zhì)厚度的誤差產(chǎn)生的球面像差，并且，校正檢測的球面像差。
圖2示出在日本專利公報(bào)No.12-155979中公開的能夠檢測和校正球面像差的光拾取裝置的光學(xué)配置。見該圖，一種現(xiàn)有技術(shù)的光拾取裝置包括光源10；物鏡17，用于將光源10發(fā)射的光束聚焦在記錄介質(zhì)1上；半反射鏡11，用于改變被記錄介質(zhì)1反射的并通過物鏡17光束的行進(jìn)光程；全息裝置20，用于將半反射鏡11改變其行進(jìn)的光程的光束分成通過特定區(qū)域的光束和通過其他區(qū)域的光束，并偏轉(zhuǎn)分開的光；第一到第四光檢測器21，用于檢測通過特定區(qū)域并折射的光；信號(hào)處理電路23，檢測從第一到第四光檢測器21的檢測信號(hào)檢測像差；和波前(wavefront)改變裝置25，用于根據(jù)從信號(hào)處理電路23輸入的信號(hào)，改變從光源10向記錄介質(zhì)1行進(jìn)的光束的波前。在此，符號(hào)13表示將光源10發(fā)射的散射光束改變成平行光束的準(zhǔn)直透鏡。
圖3示出在產(chǎn)生球面像差時(shí)的OPD。在產(chǎn)生球面像差時(shí)，在孔的中心相對于參考波前27產(chǎn)生的相對于光軸對稱延遲的波前27a和27b。對比起來，對稱于光軸c，在波前被超前的情況中產(chǎn)生球面像差。
因此，如圖4所示，全息裝置20具有第一和第二衍射區(qū)域20a和20b，用于在延遲的波前區(qū)域中選擇光束，相對于交叉光軸的軸線x將選擇的光束分成兩個(gè)半部，并且在彼此對稱的方向衍射一半光束以向第一和第四光檢測器21a和21d前進(jìn)。另外。全息裝置20包括第三衍射區(qū)域20c，它衍射除了延遲的波前區(qū)域外的區(qū)域中的光束軸線x上的上部區(qū)域中的光束，并使得被衍射的光束向第二光檢測器21b前進(jìn)；和透射區(qū)域20d，用以傳輸在軸線x下的光束，向第三光檢測器21c前進(jìn)。第一和第二衍射區(qū)域20a和20b是半環(huán)形的。
第一和第四光檢測器21a和21b每個(gè)具有兩個(gè)部分的結(jié)構(gòu)，使得在檢測到聚焦?fàn)顟B(tài)時(shí)能夠記錄球面像差的產(chǎn)生。另外，第二和第三光檢測器21b和21c每個(gè)具有的結(jié)構(gòu)被分成兩個(gè)部分，使得用刀刃(knife edge)方法能夠檢測聚焦誤差信號(hào)。
圖5A到圖5C示出根據(jù)OPD的產(chǎn)生由第一到第四光檢測器21接收的光束圖形。圖5A示出，在產(chǎn)生延遲的波前時(shí)，由第一到第四光檢測器21接收的光束圖形。在第一和第二衍射區(qū)域20a和20b中衍射的在延遲波前區(qū)域中的光束，在第一和第四光檢測器21a和21d后聚焦。因?yàn)榈谝缓偷谒墓鈾z測器21a和21b接收的光束的圖形是對稱的，所以在第一光檢測器21a的第一部分A和第四光檢測器21d的第二區(qū)域D中檢測的信號(hào)，大于在第一光檢測器21a的第二部分B和第四光檢測器21d的第一部分C中檢測的信號(hào)。
見圖5B，其中不產(chǎn)生像差，在第一光檢測器21a的第一和第二區(qū)域A和B檢測具有相同波幅的信號(hào)，在第四光檢測器21d的第一和第二部分C和D中也檢測具有相同波幅的信號(hào)。
圖5C示出，在產(chǎn)生前波前時(shí)，第一列第四光檢測器21接收的光束的圖形。在第一和第二衍射區(qū)域20a和20b中衍射的前波前區(qū)域中的光束，在第一和第四光檢測器21a和21d每個(gè)的前面聚焦。在第一個(gè)光檢測器21a的第二部分B和第四光檢測器21d的第一部分C中檢測的信號(hào)大于在第一光檢測器21a的第一部分A和第四光檢測器21d的第二部分D中檢測的信號(hào)。
因此，如下數(shù)學(xué)公式3所示，通過從第一光檢測器21a的第一部分A的檢測信號(hào)a和第四光檢測器21d的第二部分D的檢測信號(hào)d的和減去第一光檢測器21a的第二部分B的檢測信號(hào)b和第四光檢測器21d的第一部分C的檢測信號(hào)c的和，檢測球面像差信號(hào)SES’。
SES’＝(a+d)-(b+c)使用現(xiàn)有技術(shù)像差的檢測方法，能夠檢測關(guān)于球面像差的像差的量和符號(hào)。
但是，因?yàn)楝F(xiàn)有技術(shù)像差檢測方法不是定量地檢測在記錄介質(zhì)的厚度改變，所以根據(jù)記錄介質(zhì)的厚度改變適當(dāng)?shù)匦Ｕ蛎嫦癫钍抢щy的。
發(fā)明概述為了解決上述問題，本發(fā)明的目的是提供一種能夠定量地檢測記錄介質(zhì)厚度改變的光拾取裝置。
為了到達(dá)上述目的，提供的光拾取裝置包括光源，用于產(chǎn)生發(fā)射光束；物鏡，用于聚光從光源發(fā)射的光束，以在記錄介質(zhì)上形成光點(diǎn)；光程改變裝置，用于改變?nèi)肷涔馐男羞M(jìn)路徑；檢測單元，通過將光束分成獨(dú)個(gè)光區(qū)，檢測記錄介質(zhì)反射/衍射并通過物鏡的光束；和信號(hào)處理器，使用檢測單元輸出的光區(qū)檢測信號(hào)，獲得聚焦誤差信號(hào)，并使用獲得聚焦誤差信號(hào)，檢測記錄介質(zhì)的厚度信號(hào)。
在本發(fā)明中最好是當(dāng)相對于預(yù)定參考電平的聚焦誤差信號(hào)的S曲線的最大值點(diǎn)和最小值點(diǎn)的絕對值是a和b時(shí)，則信號(hào)處理器獲得(a-b)/(a+b)的計(jì)算值，并輸出與獲得的計(jì)算值相對應(yīng)的記錄介質(zhì)的厚度信號(hào)。
在本發(fā)明中最好是檢測單元這樣檢測通過物鏡后的入射光束，即，通過將光束分成四個(gè)內(nèi)光區(qū)和四個(gè)外光區(qū)，形成4X2的矩陣結(jié)構(gòu)，在行與記錄介質(zhì)的徑向相對應(yīng)，列與記錄介質(zhì)的切線方向相對應(yīng)時(shí)，四個(gè)內(nèi)光區(qū)是在旋轉(zhuǎn)方向的第一到第四內(nèi)光區(qū)，四個(gè)外光區(qū)是在旋轉(zhuǎn)方向的第一到第四外光區(qū)，第一到第四外光區(qū)在第一到第四內(nèi)光區(qū)外；和信號(hào)處理器檢測第一信號(hào)和第二信號(hào)，所述第一信號(hào)是第一和第三外光區(qū)和第二和第四內(nèi)光區(qū)的檢測信號(hào)和，所述第二信號(hào)是第二和第四外光區(qū)和第一到第三內(nèi)光區(qū)的的檢測信號(hào)的和，并通過從第一信號(hào)減去第二信號(hào)或從第二信號(hào)減去第一信號(hào)檢測聚焦誤差信號(hào)。
在本發(fā)明中最好是，檢測單元包括全息光學(xué)元件，用于將通過物鏡后的入射光分成在旋轉(zhuǎn)方向中的第一到第四光區(qū)，并且將第一到第四光區(qū)的光束衍射到正第一級(jí)(order)或負(fù)第一級(jí)；和光檢測器，通過將全息光元件衍射的正第一級(jí)或負(fù)第一級(jí)的第一到第四光區(qū)的每個(gè)，分成在與記錄介質(zhì)的切線方向相對應(yīng)的方向中的內(nèi)光區(qū)和外光區(qū)，它具有接收光束的第一到第四光接收區(qū)。
在本發(fā)明中最好是，檢測單元和信號(hào)處理器使用像散方法檢測聚焦誤差信號(hào)。
在本發(fā)明中最好是，檢測單元是一種光檢測器，通過在旋轉(zhuǎn)方向?qū)⑷肷涔馐殖傻谝坏降谒墓鈪^(qū)，并且在與記錄介質(zhì)的徑向相對應(yīng)的方向?qū)⒏鞯谝坏降谒墓鈪^(qū)分成內(nèi)和外光區(qū)，它具有檢測通過物鏡后的入射光束的八個(gè)部分的結(jié)構(gòu)。
為了到達(dá)上述目的，提供一種光拾取裝置，它包括光源，用于產(chǎn)生和發(fā)射光束；物鏡，用于將從光源發(fā)射的光束聚光，以在記錄介質(zhì)上形成光點(diǎn)；光程改變裝置，用于改變?nèi)肷涔馐男羞M(jìn)路徑；和檢測單元，通過將光束分成多個(gè)光區(qū)，檢測記錄介質(zhì)反射/衍射并通過物鏡的光束，其中，在通過從第一信號(hào)中減去第二信號(hào)，或從第二信號(hào)中減去第一信號(hào)，獲得使用檢測單元輸出的各光區(qū)檢測信號(hào)檢測的聚焦誤差信號(hào)的S曲線時(shí)，通過利用檢測的差值來檢測表示第一和第二信號(hào)在預(yù)定閾值上的寬度T1和T2之間的差以及記錄介質(zhì)的厚度信號(hào)。
在本發(fā)明中最好是，檢測單元這樣檢測通過物鏡后的入射光束，即，通過將光束分成四個(gè)內(nèi)光區(qū)和四個(gè)外光區(qū)，形成4×2的矩陣結(jié)構(gòu)，在行與記錄介質(zhì)的徑向相對應(yīng)列與記錄介質(zhì)的切線方向相對應(yīng)時(shí)，四個(gè)內(nèi)光區(qū)是在旋轉(zhuǎn)方向的第一到第四內(nèi)光區(qū)，四個(gè)外光區(qū)是在旋轉(zhuǎn)方向的第一到第四外光區(qū)，第一到第四外光區(qū)在第一到第四內(nèi)光區(qū)外；并且，第一信號(hào)是第一和第三外光區(qū)和第二和第四內(nèi)光區(qū)的檢測信號(hào)的和，和第二信號(hào)是第二和第四外光區(qū)和第一和第三內(nèi)光區(qū)的檢測信號(hào)的和。
在本發(fā)明中最好是，檢測單元包括全息光學(xué)元件，用于將通過物鏡后的入射光分成在旋轉(zhuǎn)方向中的第一到第四光區(qū)，并且將第一到第四光區(qū)的光束衍射到正第一級(jí)或負(fù)第一級(jí)；和光檢測器，通過將全息光元件衍射的正第一級(jí)或負(fù)第一級(jí)的各第一到第四光區(qū)分成，在記錄介質(zhì)的切線方向相對應(yīng)方向中的內(nèi)光區(qū)和外光區(qū)，它具有接收光束的第一到第四光接收區(qū)域。
在本發(fā)明中最好是，設(shè)置檢測單元，通過將光束在旋轉(zhuǎn)方向中分成第一到第四光區(qū)，檢測通過物鏡后的入射光束，并且第一信號(hào)是第一和第三光區(qū)的檢測信號(hào)的和，第二信號(hào)是第二和第四光區(qū)的檢測信號(hào)的和。
在本發(fā)明中最好是，檢測單元是光檢測器，通過將各第一到第四光區(qū)分成在與記錄介質(zhì)的徑向相對應(yīng)的方向中的內(nèi)和外光區(qū)，具有檢測光束的八個(gè)部分的結(jié)構(gòu)。
附圖的簡要說明參照附圖的以下優(yōu)選實(shí)施例的詳細(xì)說明將使得本發(fā)明的上述目的和優(yōu)點(diǎn)明了。
圖1是在記錄介質(zhì)的襯底的厚度誤差和由于誤差產(chǎn)生的的OPD之間的關(guān)系曲線圖；
圖2是能夠檢測并校正像差的現(xiàn)有技術(shù)光盤頭的光學(xué)配置例子圖；圖3是產(chǎn)生球面像差時(shí)OPD曲線圖；圖4是圖2的全息裝置結(jié)構(gòu)和光檢測器的排列圖；圖5A-5C是根據(jù)像差的產(chǎn)生圖2和4的光檢測器接收的光束圖形的變化圖；圖6是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例光拾取裝置光學(xué)設(shè)置圖；圖7是圖6的全息光學(xué)元件的例子示意圖；圖8是圖6的光檢測器例子示意圖；圖9是聚焦誤差信號(hào)(FES)的S曲線的最大值a和最小值的絕對值b的定義曲線圖；圖10是根據(jù)記錄介質(zhì)的厚度改變變化的，從數(shù)學(xué)公式5獲得的FES的S曲線變化圖；圖11是使用圖9中定義的最大值a和最小值的絕對值b，相對于記錄介質(zhì)的厚度的改變，依據(jù)數(shù)學(xué)公式5獲得的FES的曲線計(jì)算的(a-b)/(a+b)的百分?jǐn)?shù)曲線圖；圖12是寬度T1和T2的曲線圖，寬度T1和T2表示從數(shù)學(xué)公式5獲得的第一和第二信號(hào)FES1和FES2在預(yù)定閾值上；圖13是相對于記錄介質(zhì)的厚度改變，圖12中定義的T1和T2的差值(T1-T2)曲線圖；圖14是根據(jù)本發(fā)明另一個(gè)實(shí)施例光拾取裝置的光學(xué)配置圖；圖15是圖14的光檢測器的例子圖；圖16是根據(jù)記錄介質(zhì)的厚度改變在像散方法中獲得的FES的S曲線的變化圖；圖17是使用圖9中定義的最大值a和最小值的絕對值b，相對于記錄介質(zhì)的厚度變化，依據(jù)像散方法中獲得的FES’的S曲線計(jì)算的(a-b)/(a+b)的百分?jǐn)?shù)曲線圖；和圖18是在第一和第二信號(hào)FES1’和FES2’相減獲得像散方法得到的FES’時(shí)，相對于記錄介質(zhì)厚度變化的寬度T1和T2的差(T1-T2)的曲線圖，寬度T1和T2表示第一和第二信號(hào)FES1’和FES2’在預(yù)定閾值上。
優(yōu)選實(shí)施方式的詳細(xì)說明見圖6，根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例中的光拾取裝置包括光源51，用于產(chǎn)生和發(fā)射一光束；物鏡57，用于將從光源51發(fā)射的光束聚光，以在記錄介質(zhì)50上形成光點(diǎn)；光程改變裝置，用于改變?nèi)肷涔馐男羞M(jìn)路徑；檢測單元，用于將被記錄介質(zhì)50反射并通過物鏡57的光束分成多個(gè)光區(qū)，并檢測各光區(qū)；和信號(hào)處理器70，使用檢測單元輸出的檢測信號(hào)，檢測記錄介質(zhì)50的厚度的信號(hào)。
作為光源51最好使用諸如邊緣發(fā)射激光(edge emitting laser)或豎直腔表面發(fā)射激光(vertical cavity surface emitting laser)的半導(dǎo)體激光器。
作為光程改變裝置可以使用以預(yù)定的比例透射和反射入射光的分束器55。另外，光程改變裝置也能夠由根據(jù)光的偏振選擇地透射和發(fā)射入射光的偏振分束器和改變?nèi)肷涔馐竦?/4λ波板構(gòu)成。
在根據(jù)本發(fā)明的光拾取裝置預(yù)定用于記錄/再現(xiàn)20GB以上記錄容量的下一代DVD記錄介質(zhì)時(shí)，則作為光源51，最好是設(shè)置發(fā)射如400nm，藍(lán)-紫波長段的波長的光束的半導(dǎo)體激光。另外，作為物鏡57最好是使用NA最小為0.7，如0.85NA的聚光鏡。
在此，根據(jù)本發(fā)明的光拾取裝置中采用的物鏡57是相對于具有預(yù)定厚度(參考厚度)的記錄介質(zhì)50設(shè)計(jì)的。因此，在采用本發(fā)明光拾取裝置的記錄/再現(xiàn)裝置中插入的記錄介質(zhì)具有的厚度，不同于在設(shè)計(jì)物鏡57中使用的參考厚度，或根據(jù)在記錄介質(zhì)50上的位置厚度偏差時(shí)，本發(fā)明光拾取裝置定量地檢測記錄介質(zhì)50的厚度變化，并附加定量地根據(jù)記錄介質(zhì)的厚度變化校正球面像差。
最好是，本發(fā)明的光拾取裝置還包括準(zhǔn)直透鏡53，它設(shè)置在光源51和光程改變裝置之間的光程上，用于改變從光源51發(fā)射的發(fā)散的光束；和傳感(sensing)透鏡59，它設(shè)置在光程改變裝置和稍后說明的檢測單元的光檢測器65之間的光程上，用于聚光入射光束，以便被光檢測器接收。
假設(shè)光區(qū)的行列分別與記錄介質(zhì)50的徑向(R)和切線方向(T)相對應(yīng)，根據(jù)本發(fā)明的檢測單元形成為分成第一到第四內(nèi)光區(qū)和第一到第四外光區(qū)，形成4×2矩陣結(jié)構(gòu)，以致通過物鏡57后輸入的光束能夠在相應(yīng)的各光區(qū)中檢測。在此，假設(shè)第一到第四內(nèi)和外光區(qū)排列在旋轉(zhuǎn)方向。所述旋轉(zhuǎn)方向即在矩陣結(jié)構(gòu)中的順時(shí)針或反時(shí)針的順序。
一分為八地檢測通過物鏡57的入射光束的本發(fā)明的檢測單元，例如可以包括全息光學(xué)元件61和光檢測器65。在將全息光學(xué)元件61排列在光程改變裝置和物鏡57之間的光程上時(shí)，如圖6所示，全息光學(xué)元件61最好將光源51輸出的入射光束透射直行，并且衍射記錄介質(zhì)50反射的入射光束。當(dāng)然，全息光學(xué)元件61可以排列在光程改變裝置和光檢測器65之間的光程上。此時(shí)，全息光學(xué)元件61的衍射和透射方向沒有特別限制。
如圖7所示，全息光學(xué)元件61最好是包括第一到第四衍射區(qū)域A、B、C和D，它們將通過物鏡57后輸入的光束分到排列在旋轉(zhuǎn)方向的第一到第四光區(qū)，并將第一到第四光區(qū)的光束衍射到正第一級(jí)和負(fù)第一級(jí)。另外，全息光學(xué)元件61的第一和第三衍射區(qū)A和C最好是形成，例如能夠在光檢測器65后聚焦正第一級(jí)的第一和第三光區(qū)的光束。第二和第四衍射區(qū)B和D最好是形成，例如能夠在光檢測器65前聚焦正第一級(jí)的第二和第四光區(qū)的光束。在此，能夠形成全息光學(xué)元件61的第一到第四衍射區(qū)A、B、C和D，以便能夠在相反兩個(gè)位置上將負(fù)第一級(jí)的第一到第四光區(qū)的光束聚焦到正第一級(jí)的第一到第四光區(qū)的光束上。
在此，第一到第四光區(qū)和與它們相對應(yīng)的第一到第四衍射區(qū)A、B、C和D形成2×2的矩陣結(jié)構(gòu)。
如圖8所示，光檢測器65包括接收光的第一到第四光接收區(qū)65a、65b、65c和65d，其接收光，該光是將全息光學(xué)元件61的第一到第四衍射區(qū)A、B、C和D衍射的光束，例如正第一級(jí)的各第一到第四光區(qū)衍射的光束劃分為內(nèi)光區(qū)和外光區(qū)形成的。正第一級(jí)的第一到第四光區(qū)的內(nèi)光區(qū)的光束在第一到第四光接收區(qū)65a、65b、65c和65d的第一到第四內(nèi)光接收區(qū)A2、B2、C2和D2中分別接收。另外，正第一級(jí)的第一到第四光區(qū)的外光區(qū)的光束在第一到第四光接收區(qū)65a、65b、65c和65d的第一到第四外光接收區(qū)A1、B1、C1和D1中分別接收。
在光檢測器65前聚焦正第一級(jí)的第二和第四光區(qū)的光束時(shí)，則光檢測器65的第二和第四光接收區(qū)65b和65d接收的正第一級(jí)的第二和第四光區(qū)的光束形成如圖8所示的倒置像。
如圖8所示，光檢測器65還包括接收負(fù)第一級(jí)的第一到第四光區(qū)的光束的第五到第八光接收區(qū)65e、65f、65g和65h。最好是通過將負(fù)第一級(jí)的各第一到第四光區(qū)分成在方向R的內(nèi)和外光區(qū)，形成第五到第八光接收區(qū)65e、65f、65g和65h，使得接收光束，以致能夠檢測降低了由于相鄰軌跡(tracks)的串?dāng)_的再現(xiàn)信號(hào)(RF信號(hào)，reproduction signal)。
即，接收負(fù)第一級(jí)的第一到第四光區(qū)的內(nèi)光區(qū)的光束的，第五到第八的光接收區(qū)65e、65f、65g和65h的內(nèi)光接收區(qū)被檢測，和它們的檢測信號(hào)是E2、F2、G2和H2時(shí)，并且，在接收負(fù)第一級(jí)的第一到第四光區(qū)的外光區(qū)的光束的，第五到第八的光接收區(qū)65e、65f、65g和65h的外光接收區(qū)被檢測，和它們的檢測信號(hào)是E1、F1、G1和H1時(shí)，則此優(yōu)選實(shí)施例的光拾取裝置最好檢測數(shù)學(xué)公式4中所示的RF信號(hào)。從數(shù)學(xué)公式4檢測到RF信號(hào)已經(jīng)降低相鄰軌跡的串?dāng)_。
RF信號(hào)＝(E2+F2+G2+H2)+k(E1+F1+G1+H1)這里，k是施加的預(yù)定增益，使得由于相鄰軌跡的串?dāng)_能夠優(yōu)化，即最小化?？梢孕纬扇⒐鈱W(xué)元件61，以將第一到第四光區(qū)的光束衍射到正第一級(jí)或負(fù)第一級(jí)、0級(jí)和±第一級(jí)，或0級(jí)和正第一級(jí)或負(fù)第一級(jí)。光檢測器65的結(jié)構(gòu)可以與此相應(yīng)地改變。
代替圖7和8所示的全息光學(xué)元件61和光檢測器65的形成的結(jié)構(gòu)，通過將光束分到四個(gè)內(nèi)光區(qū)和四個(gè)外光區(qū)，形成4×2的矩陣結(jié)構(gòu)，此實(shí)施例的檢測單元可以包括具有八個(gè)部分結(jié)構(gòu)的光檢測器，檢測通過物鏡57后輸入的光束。另外，考慮到RF信號(hào)的檢測降低了由于相鄰軌跡的串?dāng)_，此實(shí)施例的檢測單元也可以包括，能夠獲得數(shù)學(xué)公式4的檢測結(jié)果的具有十六個(gè)部分結(jié)構(gòu)的光檢測器。如上所述，能夠在本發(fā)明的技術(shù)概念范圍內(nèi)對此實(shí)施例的檢測單元進(jìn)行各種修改。
信號(hào)處理器70使用檢測單元輸出的檢測信號(hào)獲得聚焦誤差信號(hào)(FES)，并使用獲得的聚焦誤差信號(hào)檢測記錄介質(zhì)的厚度信號(hào)。如圖9所示，在相對于參考電平的FES的S曲線的最大值和最小值的的絕對值分別是a和b時(shí)，則信號(hào)處理器70最好是獲得(a-b)/(a+b)的計(jì)算值，并輸出與此相對應(yīng)的記錄介質(zhì)50的厚度信號(hào)。
在檢測單元具有參照圖7和8所述的結(jié)構(gòu)時(shí)，則信號(hào)處理器70最好檢測第一信號(hào)(FES1)，它是第一和第三外光區(qū)和第二和第四內(nèi)光區(qū)的各檢測信號(hào)的和；和第二信號(hào)(FES2)，它是第二和第四外光區(qū)和第一和第三內(nèi)光區(qū)的各檢測信號(hào)的和，并通過從第一信號(hào)(FES1)減去第二信號(hào)(FES2)檢測聚焦誤差信號(hào)(FES)。
在接收第一到第四內(nèi)光區(qū)的光束的第一到第四光接收區(qū)65a、65b、65c和65d的第一到第四內(nèi)光區(qū)A2、B2、C2和D2和它們的檢測信號(hào)用相同的符號(hào)(sign)表示時(shí)，并且在接收第一到第四外光區(qū)的光束的第一到第四光接收區(qū)65a、65b、65c和65d的第一到第四外光區(qū)A1、B1、C1和D1和它們的檢測信號(hào)用相同的符號(hào)表示時(shí)，在數(shù)學(xué)公式5中示出FES1、FES2和FES。
FES1＝A1+B2+C1+D2FES2＝A2+B1+C2+D1FES＝FES1-FES2圖10示出數(shù)學(xué)公式5獲得的FES的S曲線。從圖10能夠見到，F(xiàn)ES的S曲線根據(jù)記錄介質(zhì)50的厚度變化向左和右移動(dòng)。另外，在相對于參考電平(圖9中沿豎直軸它的值是0的軸線)的最大值點(diǎn)和最小值點(diǎn)之間的數(shù)值比例根據(jù)記錄介質(zhì)50的厚度變化而變化。
圖11是相對于記錄介質(zhì)50的厚度改變，用最大值a和最小值的絕對值b計(jì)算的(a-b)/(a+b)的百分?jǐn)?shù)的曲線。如圖11所示，記錄介質(zhì)厚度在相對于預(yù)定的參考厚度的-20到20微米范圍內(nèi)改變時(shí)，使用FES的S曲線的最大值和最小值的絕對值獲得的(a-b)/(a+b)的百分?jǐn)?shù)幾乎是直線變化。
因此，使用這個(gè)線性關(guān)系，能夠定量地檢測在記錄介質(zhì)50中的厚度的改變。一旦記錄介質(zhì)50新插入到記錄/再現(xiàn)裝置中，就能夠檢測新插入的記錄介質(zhì)50的厚度。即，如上所述，因?yàn)槭褂肍ES的S曲線的最大值和最小值的絕對值計(jì)算的(a-b)/(a+b)值與相對于參考厚度的記錄介質(zhì)50的厚度的變化相對應(yīng)，所以能夠檢測記錄介質(zhì)50的厚度偏差(根據(jù)在記錄介質(zhì)上位置的厚度的改變)和/或新插入記錄/再現(xiàn)裝置中的記錄介質(zhì)的厚度。
另外，在表示FES1和FES2在預(yù)定閾值上的寬度，即，在FES1和FES2保持在預(yù)定閾值上的時(shí)間分別是T1和T2時(shí)，則如圖12所示，信號(hào)處理器70檢測在T1和T2之間的差，并利用檢測的T1和T2之間的差檢測記錄介質(zhì)50的厚度信號(hào)。在此，F(xiàn)ES1和FES2相減的結(jié)果是FES的S曲線。FES1是第一和第三外光區(qū)和第二和第四內(nèi)光區(qū)光束的檢測信號(hào)的和。FES2是第二和第四外光區(qū)和第一和第三內(nèi)光區(qū)的光束的檢測信號(hào)的和。
圖13是相對于記錄介質(zhì)50的厚度的變化的(T1-T2)的值的改變曲線圖。從圖可見，在適當(dāng)?shù)剡x擇閾值時(shí)，則(T1-T2)的值相對于記錄介質(zhì)的厚度的改變幾呼呈線性地變化。通過數(shù)次嘗試誤差確定所述閾值，使得能夠獲得，滿足相對于記錄介質(zhì)50的厚度變化具有線性關(guān)系的(T1-T1)的值。在圖13中，示出相對于0.036(任意單位)的閾值的T1和T2。
因此，因?yàn)樵诶眠@個(gè)線性關(guān)系使用(a-b)/(a+b)的計(jì)算值時(shí)能夠定量地檢測記錄介質(zhì)50的厚度中的變化，所以，能夠檢測記錄介質(zhì)50的厚度偏差和/新插入到記錄/再現(xiàn)裝置中的記錄介質(zhì)50的厚度。
最好是，根據(jù)本發(fā)明的光拾取裝置還包括球面像差校正裝置75，它由信號(hào)處理器70輸出的記錄介質(zhì)50的厚度信號(hào)驅(qū)動(dòng)，校正由于相對于參考厚度的記錄介質(zhì)的厚度差和記錄介質(zhì)50的厚度偏差造成的球面像差。作為球面像差校正裝置75，可以使用通過密封具有電極圖形的兩個(gè)透明襯底和在它們之間插入的液晶形成的液晶板。由于液晶的折射率的各向異性的特征，通過所述液晶板的光束的相位變化。因此，通過根據(jù)記錄介質(zhì)50的檢測的厚度信號(hào)驅(qū)動(dòng)液晶板，改變?nèi)肷涔馐牟ㄇ埃軌蛐Ｕ鶕?jù)記錄介質(zhì)50的厚度變化的球面像差，使得通過液晶板的光束具有的波前，與根據(jù)記錄介質(zhì)50的厚度變化產(chǎn)生的球面像差相反。在此，驅(qū)動(dòng)球面像差校正裝置75的驅(qū)動(dòng)電路能夠包括在信號(hào)處理器70中，或分開設(shè)置。
圖14示出本發(fā)明另一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例的光拾取裝置的光學(xué)配置。在此，因?yàn)榫哂信c圖6相同符號(hào)的部件具有相同的功能，所以省略其詳細(xì)說明。
根據(jù)此另一個(gè)實(shí)施例的光拾取裝置具有能夠用像散方法檢測聚焦誤差信號(hào)的光學(xué)結(jié)構(gòu)。即，根據(jù)這個(gè)實(shí)施例的檢測單元，通過將光束分到在旋轉(zhuǎn)方向中的第一到第四光區(qū)，檢測通過物鏡后輸入的光束。作為檢測單元，可以設(shè)置，通過將光束分到第一到第四光區(qū)，包括檢測光束的第一到第四光接收區(qū)165a、165b、165c和165d的光檢測器165。
如圖15所示，光檢測器165最好具有八個(gè)部分的結(jié)構(gòu)(2×8矩陣結(jié)構(gòu))，其中在方向R分成第一到第四光接收區(qū)165a、165b、165c和165d，使得能夠檢測到除掉了由于相鄰軌跡的串?dāng)_的RF信號(hào)。通過將光束分別分到在方向R的第一到第四內(nèi)外光區(qū)，第一到第四光接收區(qū)165a、165b、165c和165d的第一到第四內(nèi)/外/光接收區(qū)E1/E2、F1/F2、G1/G2和H1/H2，檢測第一到第四區(qū)的光束。為了說明的方便起見，在圖15中，用與第五到第八光接收區(qū)165a、165b、165c和165d的內(nèi)和外光接收區(qū)的相同的符號(hào)，表示第一到第四內(nèi)/外光接收區(qū)E1/E2、F1/F2、G1/G2和H1/H2。
在光檢測器165的第一到第四內(nèi)/外光接收區(qū)E1/E2、F1/F2、G1/G2和H1/H2和它們的檢測信號(hào)用相同的符號(hào)表示時(shí)，則根據(jù)此實(shí)施例的光拾取裝置的檢測RF信號(hào)的方程式與上述的數(shù)學(xué)公式4相同。
這里，光檢測器165可以由具有2×2矩陣結(jié)構(gòu)的四個(gè)光接收區(qū)構(gòu)成，以便將通過物鏡57后輸入的光束分到第一到第四光區(qū)并檢測光束。
同時(shí)，根據(jù)此實(shí)施例的光拾取裝置最好是包括作為傳感透鏡159的產(chǎn)生像散的圓柱形透鏡，它安裝在光程改變裝置和檢測單元的光檢測器165之間的光程上，聚焦入射光，以便由光檢測器165接收。另外也可以設(shè)置聚光透鏡作為傳感透鏡59，并另外設(shè)置產(chǎn)生像散的圓柱形透鏡。
在此實(shí)施例中，與像在第一實(shí)施例中一樣，利用檢測單元輸出的檢測信號(hào)，信號(hào)處理器170在像散方法中獲得聚焦誤差信號(hào)(FES’)，并利用獲得的FES’檢測記錄介質(zhì)50的厚度信號(hào)。最好是，與第一實(shí)施例相同，在相對于參考電平的FES’的S曲線的最大值和最小值的絕對值是a和b時(shí)，信號(hào)處理器170獲得(a-b)/(a+b)的計(jì)算值，并輸出與此相對應(yīng)的記錄介質(zhì)50的厚度信號(hào)。
在檢測單元具有相對于圖15說明的上述結(jié)構(gòu)時(shí)，信號(hào)處理器170最好是檢測第一信號(hào)FES’和第二信號(hào)FES’，前者是第一內(nèi)和外光區(qū)和第三內(nèi)和外光區(qū)檢測信號(hào)的和，后者是第二內(nèi)外光區(qū)和第四內(nèi)和外光區(qū)的檢測信號(hào)的和，并且通過從FES1’減去FES2’檢測聚焦誤差信號(hào)FES’。
在此，根據(jù)數(shù)學(xué)公式6獲得第一和第二信號(hào)FES1’和FES2’和聚焦誤差信號(hào)FES’。
FES1’＝E1+E2+G1+G2FES2’＝F2+F1+H1+H2FES’＝FES1’-FES2’圖16示出從數(shù)學(xué)公式6獲得的FES’的S曲線。從圖16能夠見到，與前實(shí)施例相同，在像散方法中獲得的FES’曲線根據(jù)記錄介質(zhì)50的厚度的變化向左右移動(dòng)。而且，在相對于參考電平(在圖16中沿豎直軸其值為0的軸)的最大值點(diǎn)和最小值點(diǎn)的數(shù)值比根據(jù)記錄介質(zhì)50的厚度變化改變。
因此，從圖17可見到，圖17示出用相對于FES’的預(yù)定閾值的最大值a和最小值的絕對值b計(jì)算的(a-b)/(a+b)的百分?jǐn)?shù)，在像散方法中獲得FES’時(shí)，記錄介質(zhì)50的厚度在相對于預(yù)定參考厚度的-20到20微米范圍內(nèi)變化的情況下，(a-b)/(a+b)×100％的值幾乎是直線改變。
因此，在使用像散方法中檢測的FES’時(shí)，與前實(shí)施例相同，能夠定量地檢測記錄介質(zhì)50的厚度變化。
另外，與前實(shí)施例相同，在表示FES1’和FES2’在預(yù)定閾值上的寬度分別是T1和T2時(shí)，也可以設(shè)置信號(hào)處理器170檢測在T1和T2之間的差，并利用檢測的差檢測記錄介質(zhì)的厚度信號(hào)。當(dāng)然，如上所述，在FES1’和FES2’之間減的結(jié)果是FES’的S曲線。關(guān)于相減的結(jié)果是通過像散方法得到的FES’的S曲線的FES1’和FES2’，在適當(dāng)?shù)剡x擇閾值時(shí)，如圖18所示，相對于記錄介質(zhì)50厚度變化的的值(T1-T2)的變化，相對于記錄介質(zhì)的厚度變化幾乎是直線變化。因此，利用這個(gè)線性關(guān)系，在使用(a-b)/(a+b)計(jì)算值時(shí)，能夠定量地檢測記錄介質(zhì)50的厚度變化。
與前實(shí)施例相同，能夠使用從信號(hào)處理器170輸出的記錄介質(zhì)50的厚度信號(hào)，通過驅(qū)動(dòng)球面像差校正裝置75，校正記錄介質(zhì)的厚度的變化造成的球面像差。
如上所述，本發(fā)明的光拾取裝置能夠定量地檢測在記錄介質(zhì)中的厚度變化。另外，通過根據(jù)與記錄介質(zhì)的厚度變化相對應(yīng)的厚度信號(hào)驅(qū)動(dòng)球面像差校正裝置，能夠校正由于記錄介質(zhì)的的厚度變化造成的球面像差。
權(quán)利要求
1.一種光拾取裝置，包括光源，用于產(chǎn)生和發(fā)射光束；物鏡，用于將從光源發(fā)射的光束聚光，以在記錄介質(zhì)上形成光點(diǎn)；光程改變裝置，用于改變?nèi)肷涔馐男羞M(jìn)路徑；檢測單元，通過將光束分為多個(gè)光區(qū)，檢測由記錄介質(zhì)反射/衍射并通過物鏡的光束；和信號(hào)處理器，使用檢測單元輸出的光區(qū)檢測信號(hào)獲得聚焦誤差信號(hào)，并使用獲得的聚焦誤差信號(hào)檢測記錄介質(zhì)的厚度信號(hào)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的光拾取裝置，其中，當(dāng)相對于預(yù)定參考電平的聚焦誤差信號(hào)的S曲線的最大值點(diǎn)和最小值點(diǎn)的絕對值是a和b時(shí)，信號(hào)處理器獲得(a-b)/(a+b)的計(jì)算值，并輸出與獲得的計(jì)算值相對應(yīng)的記錄介質(zhì)的厚度信號(hào)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2的光拾取裝置，其中，所述檢測單元這樣檢測通過物鏡后的入射光束，即，將光束分到四個(gè)內(nèi)光區(qū)和四個(gè)外光區(qū)，形成4×2的矩陣結(jié)構(gòu)，在行與記錄介質(zhì)的徑向相對應(yīng)，而列與記錄介質(zhì)的切線方向相對應(yīng)時(shí)，四個(gè)內(nèi)光區(qū)是在旋轉(zhuǎn)方向的第一到第四內(nèi)光區(qū)，四個(gè)外光區(qū)是在旋轉(zhuǎn)方向的第一到第四外光區(qū)，第一到第四外光區(qū)設(shè)置在第一到第四內(nèi)光區(qū)之外，和信號(hào)處理器檢測第一和第二信號(hào)，所述第一信號(hào)是第一和第三外光區(qū)和第二和第四內(nèi)光區(qū)的檢測信號(hào)之和，所述第二信號(hào)是第二和第四外光區(qū)和第一到第三內(nèi)光區(qū)的檢測信號(hào)之和，并通過從第一信號(hào)減去第二信號(hào)或從第二信號(hào)減去第一信號(hào)檢測聚焦誤差信號(hào)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1的光拾取裝置，其中，所述檢測單元這樣檢測通過物鏡后的入射光束，即，將光束分到四個(gè)內(nèi)光區(qū)和四個(gè)外光區(qū)，形成4×2的矩陣結(jié)構(gòu)，在行與記錄介質(zhì)的徑向相對應(yīng)，而列與記錄介質(zhì)的切線方向相對應(yīng)時(shí)，四個(gè)內(nèi)光區(qū)是在旋轉(zhuǎn)方向的第一到第四內(nèi)光區(qū)，四個(gè)外光區(qū)是在旋轉(zhuǎn)方向的第一到第四外光區(qū)，第一到第四外光區(qū)設(shè)置在第一到第四內(nèi)光區(qū)之外，和信號(hào)處理器檢測第一和第二信號(hào)，所述第一信號(hào)是第一和第三外光區(qū)和第二和第四內(nèi)光區(qū)的檢測信號(hào)之和，所述第二信號(hào)是第二和第四外光區(qū)和第一到第三內(nèi)光區(qū)的檢測信號(hào)之和，并通過從第一信號(hào)減去第二信號(hào)或從第二信號(hào)減去第一信號(hào)檢測聚焦誤差信號(hào)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1到4任何一項(xiàng)的光拾取裝置，其中，所述檢測單元包括全息光學(xué)元件，用于將通過物鏡后的入射光束分到在旋轉(zhuǎn)方向中的第一到第四光區(qū)，并且將各第一到第四光區(qū)的光束衍射到正第一級(jí)或負(fù)第一級(jí)；和光檢測器，通過將全息光元件衍射的正第一級(jí)或負(fù)第一級(jí)的各第一到第四光區(qū)分成與記錄介質(zhì)的切線方向相對應(yīng)的方向中的內(nèi)光區(qū)和外光區(qū)，它具有接收光束的第一到第四光接收區(qū)域。
6.根據(jù)權(quán)利要求5的光拾取裝置，其中，光檢測器還包括接收光束的第五到第八光接收區(qū)，通過將全息光學(xué)元件衍射的正或負(fù)第一級(jí)的各第一到第四光區(qū)分成在與記錄介質(zhì)的徑向相對應(yīng)方向中的內(nèi)外光區(qū)而形成，并且在第五和第八光接收區(qū)的內(nèi)光區(qū)的檢測信號(hào)是E2、F2、G2和H2，外光區(qū)的檢測信號(hào)是E1、F1、G1和H1，預(yù)定增益是k時(shí)，則如以下數(shù)學(xué)公式所示地檢測RF信號(hào)，RF信號(hào)＝(E2+F2+G2+H2)+k(E1+F1+G1+H1)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1到4之一的光拾取裝置，其中，還包括球面像差校正裝置，所述球面像差裝置根據(jù)信號(hào)處理器輸出的記錄介質(zhì)的厚度信號(hào)被驅(qū)動(dòng)，校正由于記錄介質(zhì)的厚度變化造成的球面像差。
8.根據(jù)權(quán)利要求1或2的光拾取裝置，其中，檢測單元和信號(hào)處理器使用像散方法檢測聚焦誤差信號(hào)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8的光拾取裝置，其中，檢測單元是一種光檢測器，通過將入射光束分到在旋轉(zhuǎn)方向中的第一到第四光區(qū)，并且將各第一到第四光區(qū)分成在與記錄介質(zhì)的徑向相對應(yīng)的方向中的內(nèi)和外光區(qū)，它具有檢測通過物鏡后的入射光束的八個(gè)部分的結(jié)構(gòu)。
10.根據(jù)權(quán)利要求9的光拾取裝置，其中，在第一到第四光區(qū)的內(nèi)光區(qū)的檢測信號(hào)是E2、F2、G2和H2，外光區(qū)的檢測信號(hào)是E1、F1、G1和H1，預(yù)定增益是k時(shí)，則如以下數(shù)學(xué)公式所示地檢測RF信號(hào)，RF信號(hào)＝(E2+F2+G2+H2)+k(E1+F1+G1+H1)。
11.根據(jù)權(quán)利要求8的光拾取裝置，其中，還包括球面像差校正裝置，所述球面像差校正裝置根據(jù)信號(hào)處理器輸出的記錄介質(zhì)的厚度信號(hào)被驅(qū)動(dòng)，校正由于記錄介質(zhì)的厚度變化造成的球面像差。
12.一種光拾取裝置，其中，包括光源，用于產(chǎn)生和發(fā)射光束；物鏡，用于會(huì)聚從光源發(fā)射的光束，以在記錄介質(zhì)上形成光點(diǎn)；光程改變裝置，用于改變?nèi)肷涔馐男羞M(jìn)路徑；檢測單元，通過將光束分成多個(gè)光區(qū)，檢測記錄介質(zhì)反射/衍射并通過物鏡的光束，其中，在通過將第一信號(hào)中減去第二信號(hào)，或從第二信號(hào)中減去第一信號(hào)獲得，使用檢測單元輸出的各光區(qū)的檢測信號(hào)檢測的聚焦誤差信號(hào)的S曲線時(shí)，則檢測表示第一和第二信號(hào)在預(yù)定閾值上的寬度T1和T2之間的差，并使用檢測的差檢測記錄介質(zhì)的厚度信號(hào)。
13.根據(jù)權(quán)利要求12的光拾取裝置，其中，檢測單元這樣檢測通過物鏡后的入射光束，即，將光束分到四個(gè)內(nèi)光區(qū)和四個(gè)外光區(qū)，形成4×2的矩陣結(jié)構(gòu)，在行與記錄介質(zhì)的徑向相對應(yīng)，而列與記錄介質(zhì)的切線方向相對應(yīng)時(shí)，四個(gè)內(nèi)光區(qū)是在旋轉(zhuǎn)方向的第一到第四內(nèi)光區(qū)，四個(gè)外光區(qū)是在旋轉(zhuǎn)方向的第一到第四外光區(qū)，第一到第四外光區(qū)設(shè)置于第一到第四內(nèi)光區(qū)之外；并且，第一信號(hào)是第一和第三外光區(qū)和第二和第四內(nèi)光區(qū)的檢測信號(hào)的和，和第二信號(hào)是第二和第四外光區(qū)和第一和第三內(nèi)光區(qū)的檢測信號(hào)的和。
14.根據(jù)權(quán)利要求12或13的光拾取裝置，其中，檢測單元包括全息光元件，用于將通過物鏡后的入射光束分到在旋轉(zhuǎn)方向中的第一到第四光區(qū)，并且將第一到第四光區(qū)的光束衍射到正第一級(jí)或負(fù)第一級(jí)；和光檢測器，通過將全息光元件衍射的正第一級(jí)或負(fù)第一級(jí)的各第一到第四光區(qū)分成在記錄介質(zhì)的切線方向相對應(yīng)方向中的內(nèi)光區(qū)和外光區(qū)，它具有接收光束的第一到第四光接收區(qū)。
15.根據(jù)權(quán)利要求14的光拾取裝置，其中，光檢測器還包括通過將全息光學(xué)元件衍射的正或負(fù)第一級(jí)的各第一到第四光區(qū)的分成在與記錄介質(zhì)的徑向相對應(yīng)方向的內(nèi)外光區(qū)，它具有接收光束的第五到第八光接收區(qū)，并且在第五和第八光接收區(qū)的內(nèi)光區(qū)的檢測信號(hào)是E2、F2、G2和H2，外光區(qū)的檢測信號(hào)是E1、F1、G1和H1，預(yù)定增益是k時(shí)，則如以下數(shù)學(xué)公式所示地檢測RF信號(hào)，RF信號(hào)＝(E2+F2+G2+H2)+k(E1+F1+G1+H1)。
16.根據(jù)權(quán)利要求12的光拾取裝置，其中，設(shè)置檢測單元，通過將光束分到在旋轉(zhuǎn)方向中的第一到第四光區(qū)，檢測通過物鏡后的入射光束，和第一信號(hào)是第一和第三光區(qū)和檢測信號(hào)的和，第二信號(hào)是第二和第四光區(qū)的檢測信號(hào)的和。
17.根據(jù)權(quán)利要求16的光拾取裝置，其中，檢測單元是光檢測器，通過將各第一到第四光區(qū)分成在與記錄介質(zhì)的徑向的相對應(yīng)方向中的內(nèi)和外光區(qū)，它具有檢測光束的八個(gè)部分結(jié)構(gòu)。
18.根據(jù)權(quán)利要求17的光拾取裝置，其中，在第一到第四光區(qū)的內(nèi)光區(qū)的檢測信號(hào)是E2、F2、G2和H2，外光區(qū)的檢測信號(hào)是E1、F1、G1和H1，預(yù)定增益是k時(shí)，則如以下數(shù)學(xué)公式所示地檢測RF信號(hào)，RF信號(hào)＝(E2+F2+G2+H2)+k(E1+F1+G1+H1)。
19.根據(jù)權(quán)利要求12或13的光拾取裝置。其中，還包括球面像差校正裝置，所述球面像差校正裝置根據(jù)信號(hào)處理器輸出的記錄介質(zhì)的厚度信號(hào)被驅(qū)動(dòng)，校正由于記錄介質(zhì)的厚度變化造成的球面像差。
全文摘要
光拾取裝置包括檢測單元，通過將光束分到多個(gè)光區(qū)，檢測被記錄介質(zhì)反射/衍射并通過物鏡的光束；和信號(hào)處理器，通過從第一信號(hào)減去第二信號(hào)或從第二信號(hào)減去第一信號(hào)獲得，使用檢測單元輸出的各光區(qū)的檢測信號(hào)檢測的聚焦誤差信號(hào)的S曲線時(shí)，檢測表示第一和第二信號(hào)在預(yù)定閾值上的寬度T1和T2之間的差，并利用檢測的差檢測記錄介質(zhì)的厚度信號(hào)。因此，通過根據(jù)與記錄介質(zhì)的厚度變化相對應(yīng)的厚度信號(hào)，驅(qū)動(dòng)球面像差校正裝置，能夠校正由于記錄介質(zhì)的厚度的變化造成的球面像差。
文檔編號(hào)G11B7/12GK1404043SQ0213227
公開日2003年3月19日 申請日期2002年9月4日 優(yōu)先權(quán)日2001年9月4日
發(fā)明者金鐘培, 安榮萬, 大塚達(dá)宏 申請人:三星電子株式會(huì)社