專利名稱：光學(xué)讀寫裝置中的可調(diào)式阻力設(shè)定系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明關(guān)于一種阻力設(shè)定系統(tǒng)，特別是有關(guān)于一種應(yīng)用于光學(xué)讀寫頭的可調(diào)式阻力設(shè)定系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
請參閱圖1，圖1為公知光學(xué)存儲系統(tǒng)10示意圖。公知的光學(xué)存儲系統(tǒng)10包含有一光學(xué)讀寫頭12與一光學(xué)存儲介質(zhì)14。光學(xué)存儲介質(zhì)14包含有一螺旋狀存儲軌道16，其為一連串的凹坑。當(dāng)光學(xué)讀寫頭12于光學(xué)存儲介質(zhì)14上讀寫數(shù)據(jù)時，是通過鎖定于光學(xué)存儲介質(zhì)14上的存儲軌道16，而后于存儲軌道16中讀寫數(shù)據(jù)。
當(dāng)光學(xué)讀寫頭12讀寫數(shù)據(jù)時，常常須于光學(xué)存儲介質(zhì)14中不同的數(shù)據(jù)位置讀寫數(shù)據(jù)。當(dāng)光學(xué)讀寫頭12欲從位置A跳至位置C以讀寫數(shù)據(jù)時，由于光學(xué)讀寫頭只能在光學(xué)存儲介質(zhì)14的徑向移動而且無法準(zhǔn)確地跳至位置C，因此需先由位置A跳至位置B，再從位置B移動至位置C而重新鎖定存儲軌道16，并從位置C開始讀寫數(shù)據(jù)。
雖然光學(xué)存儲介質(zhì)14中只有一個螺旋狀的存儲軌道16，但是當(dāng)光學(xué)讀寫頭12必須從位置A跳至位置B時，光學(xué)讀寫頭12看起來就像是必須跨越許多存儲軌道，這個從位置A跳至位置B的動作即稱為跳軌或?qū)ぼ?SEEK)。在尋軌動作結(jié)束后，光學(xué)讀寫頭12還必須從位置B移動至位置C，即再次鎖定目標(biāo)存儲軌道，才能進(jìn)行后續(xù)的讀寫數(shù)據(jù)的動作，這個從位置B至位置C的動作則稱為環(huán)路鎖軌接近(tracking close loop)。
公知光學(xué)存儲系統(tǒng)10在尋軌(由位置A至位置B)結(jié)束切入環(huán)路鎖軌接近(由位置B至位置C)前，需先對光學(xué)讀寫頭12做出煞停的動作。這是由于光學(xué)讀寫頭12在進(jìn)行尋軌動作時，雖然會進(jìn)行緩慢的減速，但其移動速度仍快，動量也大。因此光學(xué)讀寫頭12要立刻鎖定下一個目標(biāo)存儲軌道非常困難，也因此需先做出煞停的動作再切換成環(huán)路鎖軌接近。
公知技術(shù)在由尋軌結(jié)束進(jìn)入環(huán)路鎖軌接近前，會先對光學(xué)讀寫頭12做煞停動作。公知光學(xué)讀寫頭12在做完尋軌動作前，光學(xué)讀寫頭的控制芯片的數(shù)軌機(jī)制可以告訴光學(xué)讀寫頭12離目標(biāo)存儲軌道還有多遠(yuǎn)。直到最后一軌(或1/2軌)到達(dá)時，便開始煞車。但公知技術(shù)是使用固定阻力，如此一來在各種不同的條件下，可能無法順利使光學(xué)讀寫頭做最好的減速動作。
舉例而言，當(dāng)光學(xué)讀寫頭12末速度快時，固定阻力會造成煞停時間過久，使得煞停時，光學(xué)讀寫頭12已經(jīng)超過目標(biāo)存儲軌道。當(dāng)光學(xué)讀寫頭12末速度太慢時，固定阻力會造成煞停時間過快，使得煞停時，光學(xué)讀寫頭12還未到達(dá)目標(biāo)存儲軌道，只能依賴后續(xù)的環(huán)路鎖軌接近來使光學(xué)讀寫頭12鎖定目標(biāo)存儲軌道。
發(fā)明概述本發(fā)明的目的，在于提供一種可調(diào)式阻力設(shè)定系統(tǒng)，可以有效改善公知技術(shù)的缺點(diǎn)。
本發(fā)明為一種可調(diào)式阻力設(shè)定系統(tǒng)，用以在具有一預(yù)定質(zhì)量的光學(xué)讀寫頭每次于跨越一光學(xué)存儲介質(zhì)中的多個存儲軌道時，設(shè)定該光學(xué)讀寫頭從一預(yù)定起煞位置煞停到一目標(biāo)存儲軌道時所應(yīng)施加的阻力。
本發(fā)明的可調(diào)式阻力設(shè)定系統(tǒng)包含一檢測模塊以及一計(jì)算模塊。該檢測模塊用以檢測該光學(xué)讀寫頭進(jìn)入該預(yù)定起煞位置時的一末速度以及一加速度。該計(jì)算模塊根據(jù)該檢測模塊所檢測的該末速度及該加速度，利用一預(yù)定的阻力計(jì)算程序來計(jì)算出每次應(yīng)施加于該光學(xué)讀寫頭的阻力，以使該光學(xué)讀寫頭能于一預(yù)定的煞停時間內(nèi)煞停到該目標(biāo)存儲軌道上。
由于該光學(xué)讀寫頭于跨越若干存儲軌道時并會受到一基本阻力，該阻力計(jì)算程序系根據(jù)該基本阻力、該末速度、該加速度、該光學(xué)讀寫頭的質(zhì)量以及該煞停時間，來計(jì)算出應(yīng)施加于該光學(xué)讀寫頭的阻力。
本發(fā)明依據(jù)該光學(xué)讀寫頭于尋軌結(jié)束前的末速度以及加速度，自動調(diào)整施加于該光學(xué)讀寫頭的阻力。因此使得該光學(xué)讀寫頭可于一預(yù)定的煞停時間內(nèi)煞停至該目標(biāo)存儲軌道。
本發(fā)明的一種可調(diào)式阻力設(shè)定方法，用以在具有一預(yù)定質(zhì)量的光學(xué)讀寫頭每次于跨越一光學(xué)存儲介質(zhì)中的多個存儲軌道時，設(shè)定該光學(xué)讀寫頭從一預(yù)定起煞位置煞停到一存儲目標(biāo)軌道時所應(yīng)施加的阻力，該方法包含檢測該光學(xué)讀寫頭進(jìn)入該預(yù)定起煞位置時的一末速度以及一加速度；以及根據(jù)該末速度及該加速度，利用一預(yù)定的阻力計(jì)算程序來計(jì)算出每次應(yīng)施加于該光學(xué)讀寫頭的阻力，以使該光學(xué)讀寫頭能于一預(yù)定的煞停時間內(nèi)煞停到該目標(biāo)存儲軌道上。
關(guān)于本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)與精神可以通過以下的發(fā)明詳述及附圖得到進(jìn)一步的了解。


圖1為公知光學(xué)存儲系統(tǒng)示意圖。
圖2為本發(fā)明可調(diào)式阻力設(shè)定系統(tǒng)及一光學(xué)存儲介質(zhì)的示意圖。
圖3為本發(fā)明可調(diào)式阻力設(shè)定方法的流程圖。
附圖標(biāo)號說明可調(diào)式阻力設(shè)定系統(tǒng)30 光學(xué)讀寫頭32光學(xué)存儲介質(zhì)34 多個存儲軌道35檢測模塊36 速度檢測器37計(jì)算模塊38 位置設(shè)定模塊39預(yù)定起煞位置S 目標(biāo)存儲軌道T發(fā)明內(nèi)容請參閱圖2，圖2為本發(fā)明可調(diào)式阻力設(shè)定系統(tǒng)30及一光學(xué)存儲介質(zhì)34的示意圖。本發(fā)明為一種可調(diào)式阻力設(shè)定系統(tǒng)30，用以在具有一預(yù)定質(zhì)量的光學(xué)讀寫頭32每次于跨越一光學(xué)存儲介質(zhì)34中的多個存儲軌道35時(即進(jìn)行尋軌動作時)，設(shè)定光學(xué)讀寫頭32從一預(yù)定起煞位置S煞停到一目標(biāo)存儲軌道T時所應(yīng)施加的阻力。如背景技術(shù)中所述，光學(xué)存儲介質(zhì)中僅有一個螺旋狀的存儲軌道。此處所述的多個軌道，當(dāng)光學(xué)讀寫頭在進(jìn)行尋軌動作時，類似于跨越多個軌道而至目標(biāo)存儲軌道T。
如圖2所示，本發(fā)明的可調(diào)式阻力設(shè)定系統(tǒng)30包含一檢測模塊36、一計(jì)算模塊38以及一位置設(shè)定模塊39。檢測模塊36用以檢測光學(xué)讀寫頭32進(jìn)入預(yù)定起煞位置S時的一末速度以及一加速度。計(jì)算模塊38根據(jù)檢測模塊32所檢測的該末速度及該加速度，利用一預(yù)定的阻力計(jì)算程序來計(jì)算出每次應(yīng)施加于光學(xué)讀寫頭32的阻力，以使光學(xué)讀寫頭32能于一預(yù)定的煞停時間內(nèi)煞停到目標(biāo)存儲軌道T上。位置設(shè)定模塊39用以設(shè)定光學(xué)讀寫頭12預(yù)定的起煞位置S。例如，預(yù)定起煞位置S可以設(shè)定為目標(biāo)存儲軌道T的前一軌道，也可以設(shè)定為前1/2軌道。
如圖2所示，檢測模塊36包含一速度檢測器37，以檢測光學(xué)讀寫頭32于多個軌道間移動時的速度變化情況，并據(jù)以獲得光學(xué)讀寫頭進(jìn)入起煞位置S時的末速度以及加速度。
接下來將詳述本發(fā)明的阻力計(jì)算程序。本發(fā)明的阻力計(jì)算程序主要是推導(dǎo)自動量守恒定理，即物體的動量是固定的momentum＝F×Δt＝m×V；其中momentum是動量、F是阻力、Δt是煞停時間、m是光學(xué)讀寫頭32的質(zhì)量、V是光學(xué)讀寫頭32的末速度。
當(dāng)光學(xué)讀寫頭32質(zhì)量于固定的情況下，光學(xué)讀寫頭32末速度越大，其動量就越大，而倘若希望光學(xué)讀寫頭32停止動作，所需的反向動量就越大。因此，若將用以煞停光學(xué)讀寫頭32的阻力固定，則所需的煞停時間就越長；若煞停時間固定，則阻力必須與光學(xué)讀寫頭32的末速度成正比。由于尋軌結(jié)束是接著閉回路鎖軌機(jī)理，為了避免煞停時間過長影響到閉回路鎖軌時訊號已經(jīng)不在目標(biāo)存儲軌道的區(qū)間內(nèi)，本發(fā)明采用固定煞車時間，改變阻力的方式。
另外，由于光學(xué)讀寫頭的動量除了由阻力承受外，還會受到其它因素(如摩擦力等)影響。這些其它因素可以通稱為一基本阻力，由于基本阻力和光學(xué)讀寫頭的種類有關(guān)，因此基本阻力和光學(xué)讀寫頭的質(zhì)量一樣，屬于本發(fā)明已知的既定條件。因此，應(yīng)用于本發(fā)明的動量公式可修正如下momentum(動量)＝m×V＝(阻力+基本阻力)×Δt綜合以上所述，阻力計(jì)算程序根據(jù)光學(xué)讀寫頭32的基本阻力、末速度、加速度、質(zhì)量以及煞停時間，來計(jì)算出應(yīng)施加于光學(xué)讀寫頭32的阻力。如果將動量公式再加以推導(dǎo)，可以得到簡單的阻力計(jì)算公式阻力＝基本阻力+m×V/Δt但在此公式中，卻忽略了加速度的影響，因此并不盡完善。而在本發(fā)明的最佳具體實(shí)施例中，則提出一完善的阻力計(jì)算公式。首先需設(shè)定一最小末速度，即當(dāng)末速度小于此值時，便利用最小的阻力來煞停光學(xué)讀寫頭32。藉此，光學(xué)讀寫頭不至于因?yàn)樽枇^大而太早煞停。本發(fā)明最佳具體實(shí)施例的阻力設(shè)定公式如下
阻力＝基本阻力+參數(shù)1×加速度+參數(shù)2×(末速度-最小末速度)；其中參數(shù)1和參數(shù)2是根據(jù)光學(xué)讀寫頭32的質(zhì)量以及煞停時間來調(diào)整的增益值，主要目的是將末速度和加速度轉(zhuǎn)成力的增益值。當(dāng)光學(xué)讀寫頭32應(yīng)用于光學(xué)存儲系統(tǒng)中時，參數(shù)1與參數(shù)2已經(jīng)事先調(diào)整完成，的后當(dāng)光學(xué)讀寫頭32于進(jìn)行尋軌動作后，只要本發(fā)明可調(diào)式阻力設(shè)定系統(tǒng)30加以檢測出當(dāng)時的加速度以及末速度，便可計(jì)算出應(yīng)該施加于光學(xué)讀寫頭32的阻力。
請參閱圖3，圖3為本發(fā)明可調(diào)式阻力設(shè)定方法的流程圖。綜合以上所述，本發(fā)明的操作流程包含下列步驟。
步驟S40開始。
步驟S42光學(xué)讀寫頭32進(jìn)行尋軌動作。
步驟S44設(shè)定起煞位置S。
步驟S46判斷是否到達(dá)起煞位置S。若是則進(jìn)行步驟S48，若否則重新進(jìn)行步驟S46。
步驟S48檢測光學(xué)讀寫頭32于多個軌道間移動時的速度變化情形，并據(jù)以獲得光學(xué)讀寫頭32進(jìn)入起煞位置S時的末速度以及加速度。
步驟S50計(jì)算阻力。
步驟S52將阻力施加于光學(xué)讀寫頭32。
步驟S54結(jié)束。
綜合以上所述，本發(fā)明依據(jù)在尋軌動作結(jié)束前，光學(xué)讀寫頭32的末速度以及加速度，自動調(diào)整施加于光學(xué)讀寫頭32的阻力。因此使得光學(xué)讀寫頭32可于一預(yù)定的煞停時間內(nèi)煞停至目標(biāo)存儲軌道T，而不會有超過目標(biāo)存儲軌道T或是太早煞停的問題產(chǎn)生。
通過以上優(yōu)選具體實(shí)施例的詳述，希望能更加清楚描述本發(fā)明的特征與精神，而并非以上述所公開的優(yōu)選具體實(shí)施例來對本發(fā)明的范疇加以限制。相反地，其目的是希望能涵蓋各種改變及具等效性的配置于本發(fā)明所欲申請的權(quán)利要求的范疇內(nèi)。因此，本發(fā)明所申請的專利范圍的范疇?wèi)?yīng)該根據(jù)上述的說明作最寬廣的解釋，以致使其涵蓋所有可能的改變以及具等效性的配置。
權(quán)利要求
1.一種可調(diào)式阻力設(shè)定系統(tǒng)，用以在具有一預(yù)定質(zhì)量的光學(xué)讀寫頭每次于跨越一光學(xué)存儲介質(zhì)中的多個存儲軌道時，設(shè)定該光學(xué)讀寫頭從一預(yù)定起煞位置煞停到一目標(biāo)存儲軌道時所應(yīng)施加的阻力，該系統(tǒng)包含一檢測模塊，用以檢測該光學(xué)讀寫頭進(jìn)入該預(yù)定起煞位置時的一末速度以及一加速度；以及一計(jì)算模塊，根據(jù)該檢測模塊所檢測的該末速度及該加速度，利用一預(yù)定的阻力計(jì)算程序來計(jì)算出每次應(yīng)施加于該光學(xué)讀寫頭的阻力，以使該光學(xué)讀寫頭能于一預(yù)定的煞停時間內(nèi)煞停到該目標(biāo)存儲軌道上。
2.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，另包含一位置設(shè)定模塊，用以設(shè)定該光學(xué)讀寫頭的該預(yù)定起煞位置。
3.如權(quán)利要求2所述的系統(tǒng)，其中該預(yù)定起煞位置為該目標(biāo)存儲軌道的前一軌道。
4.如權(quán)利要求2所述的系統(tǒng)，其中該預(yù)定起煞位置為該目標(biāo)存儲軌道的前1/2軌道。
5.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中該檢測模塊包含一速度檢測器，用以檢測該光學(xué)讀寫頭于該等軌道間移動時的速度變化情形，并據(jù)以獲得該末速度以及該加速度。
6.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中該光學(xué)讀寫頭于跨越該等存儲軌道時會受到一基本阻力，該阻力計(jì)算程序根據(jù)該基本阻力、該末速度、該加速度、該光學(xué)讀寫頭的質(zhì)量以及該煞停時間，來計(jì)算出應(yīng)施加于該光學(xué)讀寫頭的阻力。
7.一種可調(diào)式阻力設(shè)定方法，用以在具有一預(yù)定質(zhì)量的光學(xué)讀寫頭每次于跨越一光學(xué)存儲介質(zhì)中的多個存儲軌道時，設(shè)定該光學(xué)讀寫頭從一預(yù)定起煞位置煞停到一存儲目標(biāo)軌道時所應(yīng)施加的阻力，該方法包含檢測該光學(xué)讀寫頭進(jìn)入該預(yù)定起煞位置時的一末速度以及一加速度；以及根據(jù)該末速度及該加速度，利用一預(yù)定的阻力計(jì)算程序來計(jì)算出每次應(yīng)施加于該光學(xué)讀寫頭的阻力，以使該光學(xué)讀寫頭能于一預(yù)定的煞停時間內(nèi)煞停到該目標(biāo)存儲軌道上。
8.如權(quán)利要求7所述的方法，另包含一設(shè)定該預(yù)定起煞位置的步驟。
9.如權(quán)利要求8所述的方法，其中該預(yù)定起煞位置為該目標(biāo)軌道的前一軌道。
10.如權(quán)利要求8所述的方法，其中該預(yù)定起煞位置為該目標(biāo)存儲軌道的前1/2軌道。
11.如權(quán)利要求7所述的方法，其中該檢測步驟檢測該光學(xué)讀寫頭于該等軌道間移動時的速度變化情況，并據(jù)以獲得該末速度以及該加速度。
12.如權(quán)利要求7所述的方法，其中該光學(xué)讀寫頭于跨越該等存儲軌道時會受到一基本阻力，該阻力計(jì)算程序根據(jù)該基本阻力、該末速度、該加速度、該光學(xué)讀寫頭的質(zhì)量以及該煞停時間，來計(jì)算出應(yīng)施加于該光學(xué)讀寫頭的阻力。
全文摘要
本發(fā)明為一種可調(diào)式阻力設(shè)定系統(tǒng)，用以在具有一預(yù)定質(zhì)量的光學(xué)讀寫頭每次于跨越一光學(xué)存儲介質(zhì)中的多個存儲軌道時，設(shè)定該光學(xué)讀寫頭從一預(yù)定起煞位置煞停到一目標(biāo)存儲軌道時所應(yīng)施加的阻力。該系統(tǒng)包含一檢測模塊以及一計(jì)算模塊。該檢測模塊用以檢測該光學(xué)讀寫頭進(jìn)入該預(yù)定起煞位置時的一末速度以及一加速度。該計(jì)算模塊根據(jù)該檢測模塊所檢測的該末速度及該加速度，利用一預(yù)定的阻力計(jì)算程序來計(jì)算出每次應(yīng)施加于該光學(xué)讀寫頭的阻力，以使該光學(xué)讀寫頭能于一預(yù)定的煞停時間內(nèi)煞停到該目標(biāo)存儲軌道上。因此，該光學(xué)讀寫頭能更準(zhǔn)確地煞停至該目標(biāo)存儲軌道。
文檔編號G11B21/10GK1485823SQ0214328
公開日2004年3月31日 申請日期2002年9月25日 優(yōu)先權(quán)日2002年9月25日
發(fā)明者何旭峰 申請人:聯(lián)發(fā)科技股份有限公司