專(zhuān)利名稱(chēng)：盤(pán)片數(shù)據(jù)切片器的瑕疵保護(hù)電路與方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一盤(pán)片數(shù)據(jù)切片器的瑕疵保護(hù)電路與方法，通過(guò)使用高增益(High Gain)與一般增益(Normal Gain)的兩個(gè)速度切換，來(lái)減少瑕疵結(jié)束后的不正確數(shù)據(jù)數(shù)。
背景技術(shù)：
由于光電技術(shù)突飛猛進(jìn)，使得數(shù)字影音技術(shù)獲致一更高品質(zhì)的影像與聲音的效果，其中關(guān)于數(shù)字激光視盤(pán)機(jī)更是近年來(lái)被廣泛討論的產(chǎn)品。目前，數(shù)字式激光視盤(pán)機(jī)的檢測(cè)光盤(pán)片瑕疵的技術(shù)中，當(dāng)檢測(cè)到光盤(pán)片瑕疵時(shí)，則光驅(qū)的數(shù)據(jù)切片器(Data Slicer)的增益速度，仍是停留于一般增益(Normal Gain)的信號(hào)速度下。如此，當(dāng)該數(shù)據(jù)切片器(Data Slicer)檢測(cè)的瑕疵結(jié)束后，即無(wú)法快速的追上正確的切片信號(hào)基準(zhǔn)(Slicing Level)，使得數(shù)據(jù)錯(cuò)誤的時(shí)間無(wú)法有效縮短，亟需加以改進(jìn)。
對(duì)于所述的切片器技術(shù)而言，現(xiàn)有技術(shù)中有一數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)切片器(DigitalData Slicer)的美國(guó)專(zhuān)利案第5,974,088號(hào)，該專(zhuān)利的主要方塊圖如圖1所示。其中包括有一比較器40，用以比較X14與VC4等兩信號(hào)而輸出一XC4的信號(hào)。之后連接到一數(shù)字和值計(jì)算器(Digital Sum Value；DSV Calculator)42中作處理并輸出一DSV的信號(hào)，而該DSV信號(hào)是再連接到一數(shù)字和值處理器(DSVProcessor)44中，以執(zhí)行數(shù)據(jù)切片的處理。
另外，于該數(shù)字和值處理器(DSV Processor)44中包括有一濾波的單元(Filtering Unit)45，用以將DSV信號(hào)加以濾波者。該數(shù)字和值處理器44的輸出端，產(chǎn)生一數(shù)字校正信號(hào)(Digital Correcting Signal)而后連接到一數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器48中，用以轉(zhuǎn)換為一模擬信號(hào)VC4。該模擬信號(hào)VC4可對(duì)于切片器的參考基準(zhǔn)(Reference Slice Level)加以調(diào)整上升或下降，之后連接到該比較器的一輸入端。如此而完成一數(shù)字化的數(shù)據(jù)切片器(Digital Data Slicer)。
不同于該圖1所示的常用技術(shù)，本發(fā)明將提出一種使用模擬方式的數(shù)據(jù)切片器(Data Slicer)，通過(guò)調(diào)整其不同增益的選擇，使其在瑕疵發(fā)生后數(shù)據(jù)發(fā)生錯(cuò)誤的時(shí)間減短。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提出一盤(pán)片數(shù)據(jù)切片器的瑕疵保護(hù)電路與方法，主要是當(dāng)盤(pán)片被檢測(cè)到有瑕疵發(fā)生時(shí)，將原先在一般增益(Normal Gain)速度中的切片器(Slicer)切換到一高增益(High Gain)的速度中。如此，可以使得該切片器(Slicer)在瑕疵(Defect)結(jié)束后，能夠很快地將信號(hào)追成到正確的切片器信號(hào)基準(zhǔn)(Slicing Level)上，從而減少瑕疵結(jié)束后的不正確的數(shù)據(jù)數(shù)，經(jīng)過(guò)一段時(shí)間后再切回原來(lái)的一般增益(Normal Gain)速度，以減少輸出數(shù)據(jù)的抖動(dòng)(Output Data Jitter)。
為了達(dá)成上述的目的，本發(fā)明提出一盤(pán)片數(shù)據(jù)切片器的瑕疵保護(hù)電路與方法，主要為配合光盤(pán)片的瑕疵檢測(cè)的電路。當(dāng)檢測(cè)出瑕疵發(fā)生時(shí)，經(jīng)由增益控制邏輯電路的運(yùn)算比較，進(jìn)而可切換增益電路的增益為較高增益，并使得光盤(pán)片切片器的速度得以提高，來(lái)獲得一切片器適當(dāng)基準(zhǔn)的輸出。
所述的適當(dāng)基準(zhǔn)是指當(dāng)該光盤(pán)片的瑕疵結(jié)束后，該數(shù)據(jù)切片器的信號(hào)能夠更快地追到正確的切片器基準(zhǔn)(Slicer Level)以減少輸出數(shù)據(jù)的抖動(dòng)情形。
較佳者，本發(fā)明所述的盤(pán)片數(shù)據(jù)切片器的瑕疵保護(hù)電路中包括有一瑕疵檢測(cè)電路、增益控制邏輯電路、高通濾波電路、比較器、模擬式切片器電流幫浦電路以及一低通濾波器。其中該瑕疵檢測(cè)電路檢測(cè)盤(pán)片是否有發(fā)生瑕疵，并輸出一瑕疵信號(hào)；該增益控制邏輯電路，接受瑕疵信號(hào)，以對(duì)瑕疵發(fā)生時(shí)作出切換增益的處理，并且輸出一增益選擇信號(hào)；該高通濾波電路，接受外部一參考電壓以及一射頻信號(hào)經(jīng)濾波處理后，輸出一經(jīng)高通濾波的射頻信號(hào)；該比較器，接受經(jīng)高通濾波的射頻信號(hào)與一基準(zhǔn)值，以輸出一調(diào)變信號(hào)；模擬式切片器電流幫浦電路，接收調(diào)變信號(hào)與增益選擇信號(hào)而輸出一電流幫浦信號(hào)；低通濾波器，將該電流幫浦信號(hào)加以濾波，之后輸出基準(zhǔn)值至比較器。
較佳者，增益控制邏輯電路中包括有一增益控制電路以及一計(jì)數(shù)器。其中該增益控制電路接受該瑕疵信號(hào)，并切換電路的增益；該計(jì)數(shù)器，接受該瑕疵信號(hào)與一外部的參考時(shí)鐘，以提供該增益控制電路在切換不同增益時(shí)所需的時(shí)間。
較佳者，高通濾波電路包括有一射頻信號(hào)接收器、一高通頻率選擇電路以及一盤(pán)片信號(hào)選擇電路。該射頻信號(hào)接收器接收射頻信號(hào)；該高通頻率選擇電路，接受外部一參考電壓，并輸出相對(duì)該參考電壓的一參考值；該盤(pán)片信號(hào)選擇電路，接收該射頻信號(hào)接收器的輸出與該參考值，并輸出經(jīng)高通濾波的射頻信號(hào)至比較器。
較佳者，本發(fā)明所述的一種盤(pán)片數(shù)據(jù)切片器的瑕疵保護(hù)方法，包括有讀取盤(pán)片數(shù)據(jù)、當(dāng)讀取數(shù)據(jù)發(fā)生瑕疵時(shí)，進(jìn)入一增益調(diào)整模式以及瑕疵結(jié)束后離開(kāi)增益調(diào)整模式。其中的增益調(diào)整模式，是將該切片器基準(zhǔn)的增益調(diào)整至較高增益，以提高切片器的速度并使該切片器的信號(hào)基準(zhǔn)于瑕疵結(jié)束后能快速回到正確的切片器基準(zhǔn)。


圖1為常用技術(shù)中關(guān)于數(shù)字式數(shù)據(jù)切片器的電路方塊連接圖；圖2為本發(fā)明中的瑕疵檢測(cè)與增益控制邏輯電路方塊連接圖；圖3為本發(fā)明中數(shù)據(jù)切片器輸出基準(zhǔn)的增益切換的實(shí)施例電路方塊連接圖；圖4為本發(fā)明實(shí)施例中關(guān)于高通頻率選擇電路的實(shí)施電路簡(jiǎn)易組成組件圖；圖5為本發(fā)明實(shí)施例中關(guān)于射頻信號(hào)接受器連接盤(pán)片信號(hào)選擇電路的電路實(shí)施簡(jiǎn)易組成組件圖。
標(biāo)號(hào)說(shuō)明40比較器42數(shù)字和值計(jì)算器44數(shù)字和值處理器45濾波單元48數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器 50瑕疵檢測(cè)電路52增益控制邏輯電路 54增益控制電路56計(jì)數(shù)器60比較器62模擬式切片器電流幫浦電路64低通濾波器68高通濾波電路682射頻信號(hào)接收器 684盤(pán)片信號(hào)選擇電路686高通頻率選擇電路
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明主要為一種盤(pán)片數(shù)據(jù)切片器的瑕疵保護(hù)電路與方法，通過(guò)檢測(cè)光盤(pán)片瑕疵發(fā)生時(shí)，設(shè)計(jì)一增益調(diào)整模式，以將一般增益切換到更高增益的方式，并于瑕疵結(jié)束一段時(shí)間后再行切換到一般增益。如此，于瑕疵結(jié)束后該數(shù)據(jù)切片器的基準(zhǔn)能夠很快的回復(fù)到正確的切片器基準(zhǔn)(Slicing Level)，來(lái)減少瑕疵后不正確的數(shù)據(jù)數(shù)，并且可以減少輸出數(shù)據(jù)發(fā)生抖動(dòng)(Jitter)的情形。
對(duì)于本發(fā)明所述的盤(pán)片數(shù)據(jù)切片器的瑕疵保護(hù)電路與方法的主要構(gòu)想，請(qǐng)參閱圖2。如圖所示為本發(fā)明中的瑕疵檢測(cè)與增益控制邏輯電路方塊連接圖。一瑕疵檢測(cè)電路50連接至一增益控制邏輯電路52，該增益控制邏輯電路52包含一增益控制電路54與一計(jì)數(shù)器56。該瑕疵檢測(cè)電路50，檢測(cè)光盤(pán)片中是否有發(fā)生瑕疵。該增益控制邏輯電路52；其輸入端連接于該瑕疵檢測(cè)電路50的輸出端；其輸出端輸出一增益選擇信號(hào)，其功能為針對(duì)該瑕疵發(fā)生時(shí)作出切換增益的驅(qū)動(dòng)處理。該增益控制電路54針對(duì)該瑕疵檢測(cè)電路50對(duì)瑕疵的檢測(cè)，適當(dāng)?shù)刈龀銮袚Q電路的增益。該計(jì)數(shù)器56，其一輸入端為該瑕疵檢測(cè)電路50的輸出，其另一輸入端為一外部的參考時(shí)鐘，其功能是提供該增益控制電路54在切換不同增益時(shí)所需的時(shí)間。詳細(xì)原理如下當(dāng)瑕疵檢測(cè)電路50檢測(cè)到瑕疵發(fā)生時(shí)，輸出一瑕疵信號(hào)，在本較佳實(shí)施例中可設(shè)定為當(dāng)瑕疵信號(hào)為高電位時(shí)即表示檢測(cè)到盤(pán)片瑕疵，該增益控制邏輯電路52接受該瑕疵信號(hào)后即做出適當(dāng)?shù)脑鲆媲袚Q，從目前的一般增益切換至較高增益，由于增益的提高相對(duì)的使切片器(圖中未示)得到較高的頻寬，故亦得到較快的速度，此時(shí)便可以追到正確的切片基準(zhǔn)。當(dāng)瑕疵結(jié)束后，由于切片器的前端通常為一高通電路(圖中未示)，所以會(huì)使得輸入信號(hào)產(chǎn)生微分效應(yīng)，而使得切片基準(zhǔn)亦跟著大幅變動(dòng)；而此時(shí)切片電路仍動(dòng)作于高增益的狀態(tài)，故有較快的速度可很快的追上正確的切片基準(zhǔn)。但由于高增益會(huì)使得所切出來(lái)的信號(hào)有較大的抖動(dòng)(Jitter)，故需一計(jì)數(shù)器56在計(jì)數(shù)一段時(shí)間后，切回至一般增益的操作模式。
關(guān)于本發(fā)明所提出的盤(pán)片數(shù)據(jù)切片器的瑕疵保護(hù)電路與方法的較佳實(shí)施例，煩請(qǐng)參閱圖3，圖3所示為本發(fā)明中數(shù)據(jù)切片器輸出基準(zhǔn)的增益選擇的較佳實(shí)施例電路方塊連接圖。其中主要是包括有比較器60，將高通濾波電路68所輸出的一經(jīng)高通濾波的射頻信號(hào)與信號(hào)數(shù)據(jù)切片器的基準(zhǔn)值作比較，之后輸出數(shù)據(jù)切片器的原始光盤(pán)片調(diào)變信號(hào)(Data Slicer Eight to Fourteen Modulation；DSEFM)。該原始光盤(pán)片調(diào)變信號(hào)DSEFM反饋連接有模擬式切片器電流幫浦電路(Analog Slicer Current Pump)62，該幫浦電路62的輸入端為連接該比較器所輸出的數(shù)據(jù)切片器的原始光盤(pán)片調(diào)變信號(hào)DSEFM，并接收?qǐng)D2中增益控制邏輯電路52所輸出的增益選擇(Gain Select)信號(hào)，來(lái)切換切片器的增益值，進(jìn)而可選擇高增益或是一般增益者。該幫浦電路62并輸出一電流幫浦信號(hào)(current pump)連接至一低通濾波器64。該低通濾波器64的輸入端是連接到該模擬式切片器電流幫浦電路62的輸出端，是將該電流幫浦信號(hào)(currentpump)加以濾波，之后輸出一射頻信號(hào)數(shù)據(jù)切片器的基準(zhǔn)值，并且連接于該比較器60的一個(gè)輸入端(如反相輸入端者)。
對(duì)于前述的比較器60輸出該數(shù)據(jù)切片器的原始光盤(pán)片調(diào)變信號(hào)，最后獲得一射頻信號(hào)數(shù)據(jù)切片器的基準(zhǔn)值66而為該比較器60的一輸入端，即形成一負(fù)反饋的電路。其中通過(guò)該增益選擇(Gain Select)信號(hào)的改變，而當(dāng)瑕疵發(fā)生時(shí)將增益值切換到高增益，如此，使切片器的信號(hào)基準(zhǔn)于瑕疵結(jié)束后能快速的追到正確的切片器基準(zhǔn)。經(jīng)過(guò)一段時(shí)間后再切回原先的一般增益，來(lái)避免輸出數(shù)據(jù)的不穩(wěn)定性。
此外，圖3所示的高通濾波電路68接受外部的一射頻信號(hào)與一參考電壓，并且依據(jù)該參考電壓的基準(zhǔn)對(duì)該射頻信號(hào)作高通濾波的處理，以輸出一經(jīng)高通濾波的射頻信號(hào)(RFHPF)至該比較器60。該高通濾波電路68包含有一射頻信號(hào)接收器682、一盤(pán)片信號(hào)選擇電路684以及一高通頻率選擇電路686。其中該高通頻率選擇電路686，主要是通過(guò)連接于一參考電壓與其內(nèi)部電路的設(shè)置，可對(duì)于該數(shù)據(jù)切片器的基準(zhǔn)參考比較值提供不同的選擇，并且該高通頻率選擇電路686的輸出連接至盤(pán)片信號(hào)選擇電路684。另外，該射頻信號(hào)接收器(RF Signal Receiver)682，用以接收射頻信號(hào)(RF Signal)而加以濾波處理者。該射頻信號(hào)接收器682的輸出端則是連接有盤(pán)片信號(hào)選擇電路684，來(lái)選擇不同光盤(pán)片形式的射頻信號(hào)輸入。
有關(guān)該高通頻率選擇電路686的進(jìn)一步電路說(shuō)明，煩請(qǐng)參閱圖4，圖4所示為通過(guò)數(shù)個(gè)并聯(lián)的電阻所組成的一高通頻率選擇電路686，其中一共同連接端是連接于一參考電壓，另一端則為一切換選擇開(kāi)關(guān)供選擇適當(dāng)參考基準(zhǔn)，并將所選擇的參考基準(zhǔn)予以輸出。如此，即完成所述的高通頻率選擇電路686者。
此外，關(guān)于本發(fā)明實(shí)施例中的射頻信號(hào)接收器682與盤(pán)片信號(hào)選擇電路684的進(jìn)一步說(shuō)明，煩請(qǐng)參閱圖5，圖5所示為本發(fā)明實(shí)施例中關(guān)于射頻信號(hào)接受器682連接盤(pán)片信號(hào)選擇電路684的電路實(shí)施簡(jiǎn)易組成組件示意圖。其中該射頻信號(hào)接受器682為一端輸入而有復(fù)數(shù)端信號(hào)分別輸出，來(lái)區(qū)分不同的盤(pán)片信號(hào)，并采用電容器并連接的方式對(duì)輸入的射頻信號(hào)加以濾波。另外，該盤(pán)片信號(hào)選擇電路684主要為一切換選擇的開(kāi)關(guān)，對(duì)于經(jīng)該射頻信號(hào)接受器682濾波后的信號(hào)，以及該高通頻率選擇電路686的輸出予以處理，用以切換所接受的射頻信號(hào)輸入為一般光盤(pán)片的信號(hào)或者為數(shù)字式激光視盤(pán)片的信號(hào)，可針對(duì)不同的光盤(pán)片形式做選擇。
再者，本發(fā)明所述的一種盤(pán)片數(shù)據(jù)切片器的瑕疵保護(hù)方法，包括有a)利用一第一增益來(lái)讀取盤(pán)片數(shù)據(jù)；b)當(dāng)讀取數(shù)據(jù)發(fā)生瑕疵時(shí)，利用一第二增益來(lái)讀取有瑕疵數(shù)據(jù)；以及c)當(dāng)瑕疵結(jié)束，回復(fù)為利用該第一增益來(lái)讀取盤(pán)片數(shù)據(jù)；其中，該第二增益是大于該第一增益。簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō)，于讀取盤(pán)片數(shù)據(jù)、當(dāng)讀取數(shù)據(jù)發(fā)生瑕疵時(shí)，進(jìn)入一增益調(diào)整模式以及瑕疵結(jié)束后離開(kāi)增益調(diào)整模式。其中的增益調(diào)整模式，是將該切片器基準(zhǔn)的增益調(diào)整至較高增益，以提高切片器的速度并使該切片器的信號(hào)基準(zhǔn)于瑕疵結(jié)束后能快速回到正確的切片器基準(zhǔn)。
綜上所述，本發(fā)明所提出的一盤(pán)片數(shù)據(jù)切片器的瑕疵保護(hù)電路與方法，能夠提供一增益調(diào)整模式以切換不同數(shù)據(jù)切片器的基準(zhǔn)增益值，以配合盤(pán)片的瑕疵檢測(cè)，并且可對(duì)不同形式的盤(pán)片做出相對(duì)應(yīng)于該盤(pán)片的瑕疵檢測(cè)與增益、調(diào)整的處理，以避免數(shù)據(jù)錯(cuò)誤產(chǎn)生。
權(quán)利要求
1.一種盤(pán)片數(shù)據(jù)切片器的瑕疵保護(hù)電路，其特征在于，它包括有一瑕疵檢測(cè)電路，檢測(cè)盤(pán)片是否有發(fā)生瑕疵，并輸出一瑕疵信號(hào)；一增益控制邏輯電路，接受該瑕疵信號(hào)，以對(duì)該瑕疵發(fā)生作出切換增益的處理，并輸出一增益選擇信號(hào)；一高通濾波電路，接受一參考電壓與一射頻信號(hào)，并輸出一經(jīng)高通濾波的射頻信號(hào)；一比較器，接受該經(jīng)高通濾波的射頻信號(hào)與一基準(zhǔn)值，以輸出一調(diào)變信號(hào)；一模擬式切片器電流幫浦電路，接收該調(diào)變信號(hào)與該增益選擇信號(hào)而輸出一電流幫浦信號(hào)；一低通濾波器，將該電流幫浦信號(hào)加以濾波，之后輸出該基準(zhǔn)值至該比較器。
2.如權(quán)利要求1所述的盤(pán)片數(shù)據(jù)切片器的瑕疵保護(hù)電路，其特征在于所述的增益控制邏輯電路包括有一增益控制電路，接受該瑕疵信號(hào)，并切換電路的增益；一計(jì)數(shù)器，接受該瑕疵信號(hào)與一外部的參考時(shí)鐘，以提供該增益控制電路在切換不同增益時(shí)所需的時(shí)間。
3.如權(quán)利要求1所述的盤(pán)片數(shù)據(jù)切片器的瑕疵保護(hù)電路，其特征在于所述的高通濾波電路包括有一射頻信號(hào)接收器，接收射頻信號(hào)；一高通頻率選擇電路，接受該參考電壓，并輸出相對(duì)該參考電壓的一參考值；一盤(pán)片信號(hào)選擇電路，接收該射頻信號(hào)接收器的輸出與該參考值，并輸出該經(jīng)高通濾波的射頻信號(hào)至該比較器。
4.如權(quán)利要求1所述的盤(pán)片數(shù)據(jù)切片器的瑕疵保護(hù)電路，其特征在于所述的增益選擇信號(hào)當(dāng)光盤(pán)片發(fā)生瑕疵時(shí)，將原先的一般增益的數(shù)據(jù)切片器切換到高增益的速度，經(jīng)過(guò)一段時(shí)間后再切回一般增益的情形者。
5.一種盤(pán)片數(shù)據(jù)切片器的瑕疵保護(hù)方法，可用于包括一切片器的一光驅(qū)中，其特征在于，它包括a.利用一第一增益來(lái)讀取盤(pán)片數(shù)據(jù)；b.當(dāng)讀取數(shù)據(jù)發(fā)生瑕疵時(shí)，利用一第二增益來(lái)讀取有瑕疵數(shù)據(jù)；以及c.當(dāng)瑕疵結(jié)束，回復(fù)為利用該第一增益來(lái)讀取盤(pán)片數(shù)據(jù)；其中，該第二增益是大于該第一增益。
6.如權(quán)利要求5所述的盤(pán)片數(shù)據(jù)切片器的瑕疵保護(hù)方法，其特征在于所述的步驟b還包括將該切片器的增益調(diào)整為該第二增益。
7.一種盤(pán)片數(shù)據(jù)切片器的瑕疵保護(hù)電路，其特征在于，它包括有一瑕疵檢測(cè)電路，檢測(cè)盤(pán)片是否有發(fā)生瑕疵，并輸出一瑕疵信號(hào)；一增益控制邏輯電路，接受該瑕疵信號(hào)，以對(duì)該瑕疵發(fā)生作出切換增益的處理，并輸出一增益選擇信號(hào)；一比較器，接受一經(jīng)高通濾波的射頻信號(hào)與一基準(zhǔn)值，以輸出一調(diào)變信號(hào)；一模擬式切片器電流幫浦電路，接收該調(diào)變信號(hào)與該增益選擇信號(hào)而輸出一電流幫浦信號(hào)，該電流幫浦信號(hào)經(jīng)低通濾波后產(chǎn)生該基準(zhǔn)值。
8.如權(quán)利要求7所述的盤(pán)片數(shù)據(jù)切片器的瑕疵保護(hù)電路，其特征在于增益控制邏輯電路包括有一增益控制電路，接受該瑕疵信號(hào)，并切換電路的增益；一計(jì)數(shù)器，接受該瑕疵信號(hào)與一外部的參考時(shí)鐘，以提供該增益控制電路在切換不同增益時(shí)所需的時(shí)間。
9.如權(quán)利要求7所述的盤(pán)片數(shù)據(jù)切片器的瑕疵保護(hù)電路，其特征在于射頻信號(hào)經(jīng)由一高通濾波電路產(chǎn)生該經(jīng)高通濾波的射頻信號(hào)，該高通濾波電路包括有一射頻信號(hào)接收器，接收射頻信號(hào)；一高通頻率選擇電路，接受一參考電壓，并輸出相對(duì)該參考電壓的一參考值；一盤(pán)片信號(hào)選擇電路，是接收該射頻信號(hào)接收器的輸出與該參考值，并輸出該經(jīng)高通濾波的射頻信號(hào)至該比較器。
10.如權(quán)利要求7所述的盤(pán)片數(shù)據(jù)切片器的瑕疵保護(hù)電路，其特征在于增益選擇信號(hào)當(dāng)光盤(pán)片發(fā)生瑕疵時(shí)，將原先的一般增益的數(shù)據(jù)切片器切換到高增益的速度，經(jīng)過(guò)一段時(shí)間后再切回一般增益的情形。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種盤(pán)片數(shù)據(jù)切片器的瑕疵保護(hù)電路與方法，通過(guò)將常用檢測(cè)光盤(pán)片于瑕疵發(fā)生時(shí)，常用的數(shù)據(jù)切片器使用的一般增益方式，而加以改為切換到更高增益的方式切片器基準(zhǔn)(Slicing Level)，于瑕疵結(jié)束一段時(shí)間后再行切換到一般增益。如此，于瑕疵結(jié)束后該數(shù)據(jù)切片器的基準(zhǔn)即能夠很快的回復(fù)到正確的切片器基準(zhǔn)(Slicing Level)，從而減少瑕疵后不正確的數(shù)據(jù)數(shù)，并且可以減少輸出數(shù)據(jù)的抖動(dòng)(Jitter)。
文檔編號(hào)G11B25/04GK1490814SQ02145819
公開(kāi)日2004年4月21日 申請(qǐng)日期2002年10月14日 優(yōu)先權(quán)日2002年10月14日
發(fā)明者賴(lài)義麟, 周書(shū)弘 申請(qǐng)人:威盛電子股份有限公司