專利名稱：信息記錄裝置及其控制方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光盤的信息記錄技術(shù)。
背景技術(shù)：
當(dāng)把信息記錄到光盤上時(shí)，執(zhí)行各種控制以便形成對(duì)應(yīng)于要被記錄的信息的精確形狀的凹坑(記錄標(biāo)記)。某些控制檢測來自光盤的通過向該光盤照射記錄激光束而生成的返回光，并基于返回光量執(zhí)行用于記錄的各種控制。
作為此類控制的一個(gè)例子，有控制記錄功率以使得在記錄期間總是形成穩(wěn)定成形的凹坑的公知ROPC(運(yùn)行最優(yōu)功率控制)技術(shù)。在當(dāng)記錄激光束照射到盤上時(shí)，ROPC檢測來自光盤的返回光，并依據(jù)該返回光的電平控制激光束的記錄功率。依據(jù)ROPC的記錄功率控制能夠應(yīng)用于諸如CD-R(可記錄光盤)，DVD-R以及DVD-RW的光盤。
然而，在DVD-R以及DVD-RW的情形中，它們均與CD-R不同，存在這樣的問題，即由于預(yù)刻凹坑(prepit)的存在而造成光盤返回光量的變化，這是因?yàn)轭A(yù)刻凹坑諸如凸區(qū)上的預(yù)刻凹坑(LPP)是形成在盤的記錄表面上。特別地，充當(dāng)記錄磁道的溝槽以及凸區(qū)被交替地形成在DVD-R和DVD-RW的記錄表面的徑向上。在凸區(qū)上，按照預(yù)定規(guī)則構(gòu)成含有地址以及其它信息的LPP。用于諸如ROPC的控制的記錄激光束的返回光量靠LPP的存在來改變。問題在于由于返回光量的這一變化使當(dāng)前的凹坑形成條件被錯(cuò)誤地識(shí)別并且不能執(zhí)行適當(dāng)?shù)挠涗浌β收{(diào)整。
這一問題并不限于ROPC的情形。即，在記錄期間通過使用記錄激光束的返回光量來執(zhí)行的其它控制情形中，由于預(yù)刻凹坑的存在改變了返回光量，因此不能執(zhí)行精確的控制。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是考慮到以上問題而實(shí)現(xiàn)的，并且其目標(biāo)是通過消除由于預(yù)刻凹坑的存在所造成的返回光量變化的影響來執(zhí)行對(duì)于其上形成有預(yù)刻凹坑的諸如DVD-R及DVD-RW的光盤的精確控制。
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提供了一種信息記錄裝置，包括一記錄單元，把記錄光照射到其上形成有預(yù)刻凹坑的盤上，檢測來自該盤的返回光并輸出返回光量數(shù)據(jù)；一數(shù)據(jù)獲得周期決定單元，決定其中返回光不受該預(yù)刻凹坑影響的數(shù)據(jù)獲得周期；一返回光量數(shù)據(jù)輸出單元，獲得并輸出數(shù)據(jù)獲得周期內(nèi)的返回光量數(shù)據(jù)；以及一控制器，依據(jù)從返回光量數(shù)據(jù)輸出單元輸出的返回光量數(shù)據(jù)來執(zhí)行控制。
用如此構(gòu)成的信息記錄裝置，把記錄光照射到盤上，并檢測返回光以輸出返回光量數(shù)據(jù)。該盤預(yù)先形成有預(yù)刻凹坑，并把其中返回光不受該預(yù)刻凹坑影響的周期決定為數(shù)據(jù)獲得周期。然后，獲得數(shù)據(jù)獲得周期期間的返回光量數(shù)據(jù)，并依據(jù)如此獲得的返回光量數(shù)據(jù)執(zhí)行某一控制。因此，能夠通過消除預(yù)刻凹坑的影響來正確地執(zhí)行控制。
數(shù)據(jù)獲得周期決定單元可以把除了其中記錄單元形成14T記錄標(biāo)記或14T間隔的周期之外的一個(gè)周期決定為數(shù)據(jù)獲得周期。由于預(yù)刻凹坑很可能鄰近14T記錄標(biāo)記或14T間隔存在，因此把它們從數(shù)據(jù)獲得單元中去除。
該信息記錄裝置可以進(jìn)一步包括一預(yù)刻凹坑檢測器，依據(jù)返回光來檢測其中存在預(yù)刻凹坑的周期，并且數(shù)據(jù)獲得周期決定單元可以檢測除了其中存在預(yù)刻凹坑的周期之外的一個(gè)周期作為數(shù)據(jù)獲得周期。用該結(jié)構(gòu)，預(yù)刻凹坑的存在被直接檢測到并且數(shù)據(jù)獲得周期被決定不包括所檢測到的預(yù)刻凹坑。
控制器可以包括一決定單元，依據(jù)在預(yù)定定時(shí)上的該返回光量數(shù)據(jù)的電平來決定記錄光的功率是否適當(dāng)；以及一功率控制器，依據(jù)決定單元的決定結(jié)果控制記錄光的功率。由此，能夠通過消除預(yù)刻凹坑的影響來正確地控制記錄光的功率。
決定單元可以依據(jù)通過對(duì)多個(gè)預(yù)定定時(shí)上的返回光量數(shù)據(jù)的電平求平均值而得到的平均電平來決定記錄光的功率是否適當(dāng)。通過對(duì)返回光量數(shù)據(jù)電平求平均值，可以抑制預(yù)刻凹坑的影響。
在一優(yōu)選實(shí)施例中，數(shù)據(jù)獲得周期決定單元可以把其中記錄單元形成9T至11T的記錄標(biāo)記的周期決定為數(shù)據(jù)獲得周期。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種信息記錄裝置的控制方法，包括把記錄光照射到其上形成有預(yù)刻凹坑的盤上的處理；檢測來自該盤的返回光量并輸出返回光量數(shù)據(jù)的處理；決定其中返回光不受該預(yù)刻凹坑影響的數(shù)據(jù)獲得周期的處理；獲得并輸出數(shù)據(jù)獲得周期內(nèi)的返回光量數(shù)據(jù)的處理；以及依據(jù)在數(shù)據(jù)獲得周期內(nèi)獲得的返回光量數(shù)據(jù)來執(zhí)行控制的處理。
用信息記錄裝置的這一控制方法，把記錄光照射到盤上，并檢測返回光以輸出返回光量數(shù)據(jù)。該盤預(yù)先形成有預(yù)刻凹坑，以及把其中返回光不受該預(yù)刻凹坑影響的周期決定為數(shù)據(jù)獲得周期。然后，獲得數(shù)據(jù)獲得周期期間的返回光量數(shù)據(jù)，并依據(jù)如此獲得的返回光量數(shù)據(jù)執(zhí)行某一控制。因此，能夠通過消除預(yù)刻凹坑的影響來正確地執(zhí)行控制。
當(dāng)結(jié)合下面所簡要說明的附圖閱讀時(shí)，本發(fā)明的特性，功用，以及進(jìn)一步的特征將從以下關(guān)于本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的詳細(xì)描述中更為清楚明顯。


圖1表示本發(fā)明一實(shí)施例的信息記錄裝置的示意結(jié)構(gòu)；圖2表示本發(fā)明一優(yōu)選例子的信息記錄裝置的示意結(jié)構(gòu)；圖3A-3F表示在信息記錄期間該信息記錄裝置內(nèi)各個(gè)部分的波形；圖4A-4D表示該信息記錄裝置內(nèi)各個(gè)部分的波形；以及圖5表示設(shè)有LPP檢測電路的一信息記錄裝置的示意結(jié)構(gòu)。
具體實(shí)施例方式
下面將參照附圖解釋本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例。
圖1中，示意性地示出了根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實(shí)施例的信息記錄裝置的結(jié)構(gòu)。圖1所示的信息記錄裝置包括含有光拾取頭等的記錄單元2，返回光量數(shù)據(jù)輸出單元3，數(shù)據(jù)獲得周期決定單元4，控制器5以及主軸馬達(dá)6。
主軸馬達(dá)6以恒定的線速度旋轉(zhuǎn)盤1。盤1為諸如DVD-R和DVD-RW的光記錄介質(zhì)，并且預(yù)先在記錄表面上形成預(yù)刻凹坑。記錄單元2向光盤1照射記錄光(激光束)。與此同時(shí)，記錄單元2從盤1接收返回光，把它轉(zhuǎn)換成電信號(hào)并將該電信號(hào)作為光接收量信號(hào)Sa提供給返回光量數(shù)據(jù)輸出單元3。數(shù)據(jù)獲得周期決定單元4獲得指示數(shù)據(jù)獲得周期的信號(hào)Sb并把信號(hào)Sb提供給返回光數(shù)據(jù)輸出單元3。從光接收量信號(hào)Sa輸入到返回光量數(shù)據(jù)輸出單元3，數(shù)據(jù)獲得周期期間的返回光量數(shù)據(jù)被使用。特別地，數(shù)據(jù)獲得周期表明其中光接收量信號(hào)Sa不受在盤1上所形成的預(yù)刻凹坑的影響的一段周期，并且更具體地，該數(shù)據(jù)獲得周期可以是除了14T周期之外的一個(gè)數(shù)據(jù)周期。
返回光量數(shù)據(jù)輸出單元3僅僅選擇，依據(jù)從數(shù)據(jù)獲得周期決定單元4提供的周期信號(hào)Sb，該數(shù)據(jù)獲得周期內(nèi)的光接收量信號(hào)Sa，并把它作為返回光量數(shù)據(jù)Sc輸出到控制器5。這樣，返回光量數(shù)據(jù)輸出單元3輸出該返回光量數(shù)據(jù)Sc而無形成在DVD-R和DVD-RW上的預(yù)刻凹坑的影響或不利效果。
依據(jù)預(yù)刻凹坑的影響被從中消除的該返回光量數(shù)據(jù)Sc，控制器5執(zhí)行記錄單元2內(nèi)的特定元件以及其它受控元件的預(yù)定控制。控制器5可以是依據(jù)來自光盤1的返回光量數(shù)據(jù)執(zhí)行預(yù)定控制以及校正的各種單元。特別地，控制器5可以包括執(zhí)行ROPC的一記錄功率控制器，檢測并校正盤1的徑向上的傾斜量的一徑向傾斜校正單元，控制相對(duì)于盤1的信息記錄表面的記錄光的聚焦位置的一聚焦位置控制器，以及校正照射在盤1上的記錄光的球面像差的一球面像差校正機(jī)構(gòu)。
接下來，將解釋本發(fā)明的一優(yōu)選例子。該例子采用了由ROPC控制記錄功率的記錄功率控制器作為上述的控制器。即，在該例中，LPP的影響被從中消除的返回光量數(shù)據(jù)被ROPC利用在該記錄功率控制中。
圖2表示根據(jù)該例子的涉及信息記錄裝置的記錄功率控制的示意結(jié)構(gòu)。圖2中，由主軸馬達(dá)6按預(yù)定的線速度旋轉(zhuǎn)盤1。光拾取頭9具有一激光二極管(LD)17用于發(fā)射被照射到盤1的記錄激光束，以及一激光二極管驅(qū)動(dòng)器(下文，把它稱作“LD驅(qū)動(dòng)器”)18用于由激光二極管17控制激光輸出功率。
光拾取頭9從盤1接收返回光并向放大器11輸出對(duì)應(yīng)于該返回光量的一光接收量信號(hào)S1。放大器11用適當(dāng)?shù)姆糯笠驍?shù)來放大該光接收量信號(hào)S1，并把它作為光接收量信號(hào)S2提供給低通濾波器(LPF)12。LPF12從該光接收量信號(hào)S2中僅提取低頻成分，生成表明來自盤1的返回光量電平的返回光量數(shù)據(jù)S3，并把它提供給采樣保持(S/H)電路15。
另一方面，來自外部的記錄數(shù)據(jù)DI被輸入到周期決定電路13。該周期決定電路13決定，依據(jù)該記錄數(shù)據(jù)DI，記錄信號(hào)內(nèi)的一預(yù)定時(shí)間長度的記錄標(biāo)記周期，并把表示該周期的一個(gè)信號(hào)輸入到采樣保持電路15。這里，一預(yù)定時(shí)間長度的記錄標(biāo)記為對(duì)應(yīng)于長標(biāo)記諸如9T-11T標(biāo)記的一個(gè)記錄標(biāo)記，而不是14T記錄標(biāo)記。于是，采樣保持電路15僅僅在對(duì)應(yīng)于從9T至11T的記錄標(biāo)記的周期內(nèi)保持預(yù)定定時(shí)上的返回光量S3的電平，并把它提供給微型計(jì)算機(jī)14。微型計(jì)算機(jī)14從采樣保持電路15接收在返回光量數(shù)據(jù)S3的該預(yù)定定時(shí)上的電平，把它與預(yù)先設(shè)置的參考電平進(jìn)行比較，以及決定在該時(shí)間點(diǎn)上的記錄功率是否合適。然后，微型計(jì)算機(jī)14向光拾取頭9內(nèi)的LD驅(qū)動(dòng)器18發(fā)送控制信號(hào)S4以便能夠獲得與該參考電平相等的返回光量數(shù)據(jù)。LD驅(qū)動(dòng)器18依據(jù)控制信號(hào)S4改變激光二極管17的輸出功率。因此，在記錄期間，執(zhí)行記錄功率控制(ROPC)以使得總是形成穩(wěn)定成形的凹坑。
接下來，通過參照每個(gè)單元的波形來解釋記錄功率控制。圖3A-3F表示對(duì)應(yīng)于記錄數(shù)據(jù)的記錄標(biāo)記以及當(dāng)該記錄數(shù)據(jù)被記錄時(shí)的各個(gè)單元的波形。圖3A表示對(duì)應(yīng)于記錄數(shù)據(jù)的將被形成的記錄標(biāo)記的形狀。圖3B表示當(dāng)圖3A所示的記錄標(biāo)記被再現(xiàn)時(shí)所獲得的返回光電平。圖3C表示當(dāng)圖3A所示的記錄標(biāo)記被形成時(shí)(也就是說，當(dāng)記錄數(shù)據(jù)被記錄時(shí))從激光二極管17輸出的記錄脈沖波形，以及圖3D表示圖2所示光接收量信號(hào)S2的波形。圖3E表示圖2所示返回光量數(shù)據(jù)S3的波形。此外，圖3F表示在記錄功率為適合的以及不適合的情況下返回光量數(shù)據(jù)S3的波形之間的關(guān)系。
如圖3A所示，在把預(yù)定長度的一記錄標(biāo)記形成在盤上的情形下，通過把讀光束照射到該記錄標(biāo)記上而獲得的再現(xiàn)信號(hào)電平在圖3B示出。在該記錄標(biāo)記被形成的區(qū)域中，該盤的反射率比其它任何區(qū)域中的要低。于是，再現(xiàn)信號(hào)電平在一記錄標(biāo)記被形成的區(qū)域中變低。
另一方面，當(dāng)如圖3A所示的記錄標(biāo)記被形成在記錄信息內(nèi)時(shí)，按照?qǐng)D3C所示的記錄波形驅(qū)動(dòng)激光二極管17，并把記錄激光束照射到盤上。在圖3C的例子中，記錄脈沖波形包括一寬脈沖的頂脈沖Tp以及跟在該頂脈沖之后的多脈沖Mp。在該時(shí)間從盤上獲得光接收量信號(hào)S2如圖3D所示。即，在對(duì)應(yīng)于頂脈沖Tp的周期內(nèi)，記錄標(biāo)記尚未被形成在盤上，或者盡管它正在被形成，但是還沒有被充分地形成。因此反射率仍然高，并且返回光量電平也仍然高。與此相反，在對(duì)應(yīng)于多脈沖Mp的周期內(nèi)，由于一定程度上記錄標(biāo)記已經(jīng)被形成，因此反射率低，光接收量電平低于頂脈沖Tp周期內(nèi)的光接收量電平。
通過用LPF12來從光接收量信號(hào)S2中提取低頻成分而得到的返回光量數(shù)據(jù)S3示于圖3E。采樣保持電路15從圖3E所示的返回光量數(shù)據(jù)S3中采樣并保持讀電平Lr，寫電平Lw，凹坑電平Lp等等。讀電平Lr是在從光拾取頭9發(fā)射讀功率激光束的情形下的返回光量數(shù)據(jù)電平。寫電平Lw是在輸出對(duì)應(yīng)于記錄脈沖波形的頂脈沖Tp的激光束的情形下的返回光量數(shù)據(jù)電平。由于記錄標(biāo)記尚未被形成，因此盤表面的反射率高，并且返回光量電平也高。凹坑電平Lp是在輸出對(duì)應(yīng)于記錄脈沖波形的多脈沖Mp的激光束的情形下的返回光量電平，并且它顯示出當(dāng)形成記錄標(biāo)記時(shí)的激光束電平。
在該例子的記錄功率控制中，采樣保持電路15獲得讀電平Lr或是寫電平Lw，以及凹坑電平Lp。為什么采樣保持電路15獲得讀電平Lr和寫電平Lw中的至少一個(gè)的理由是用一個(gè)沒有形成記錄標(biāo)記的區(qū)域內(nèi)的返回光量電平來標(biāo)準(zhǔn)化凹坑電平Lp。作為該標(biāo)準(zhǔn)化的結(jié)果，由于反射率變動(dòng)等等所造成的返回光量的變動(dòng)被去除，并能夠適當(dāng)?shù)貓?zhí)行記錄功率控制。因此，微計(jì)算機(jī)14用讀電平Lr或是寫電平Lw來標(biāo)準(zhǔn)化凹坑電平Lp，把標(biāo)準(zhǔn)化的結(jié)果與預(yù)先所決定的參考電平進(jìn)行比較，以及檢測將被從激光二極管17輸出的記錄激光功率是否合適。
在圖3F中示出了返回光量數(shù)據(jù)S3的三種波形圖案，即其中記錄功率不足(波形101a)，最佳(波形101b)以及過大(波形101c)情形下的波形。當(dāng)記錄功率不足時(shí)，盤表面的反射率仍然高，這是由于一記錄標(biāo)記未被充分地形成，并且如波形101a所示，凹坑電平Lp也高。另一方面，當(dāng)記錄功率過大時(shí)，如波形101c所示，凹坑電平Lp變低，這是由于記錄標(biāo)記部分的盤面的反射率變得過低。因此，微計(jì)算機(jī)14控制LD驅(qū)動(dòng)器18以調(diào)整來自激光二極管17的記錄激光功率以使得返回光量數(shù)據(jù)S3的凹坑電平Lp保持最佳。
周期決定電路13向采樣保持電路15提供表明數(shù)據(jù)獲得周期的信號(hào)。數(shù)據(jù)獲得周期是對(duì)應(yīng)于其中返回光量不受LPP影響的預(yù)定長標(biāo)記的一個(gè)周期。僅在那一周期，采樣保持電路15采樣并保持從LPF12輸出的返回光量數(shù)據(jù)S3(見圖3E)的電平(在該例子中，至少是讀電平Lr或是寫電平Lw，以及凹坑電平Lp)，并把它們提供給微計(jì)算機(jī)14。
為什么周期決定電路13僅選擇對(duì)應(yīng)于預(yù)定長標(biāo)記的周期的理由是由于比某一長度短的記錄標(biāo)記的凹坑電平Lp不穩(wěn)定，因此記錄功率決定未被正確地執(zhí)行。即，為獲得凹坑電平Lp的周期對(duì)應(yīng)于如圖3C和3E所示的多脈沖Mp的區(qū)域，并且依賴于要被記錄的標(biāo)記長度。因此，在短標(biāo)記的情形下，由于返回光量電平在為獲得凹坑電平Lp的周期內(nèi)不是足夠穩(wěn)定，因此在決定記錄功率是否合適時(shí)會(huì)發(fā)生錯(cuò)誤。與此相反，在某一大長度的記錄標(biāo)記情形下，由于為獲得凹坑電平Lp的周期長，因此能夠穩(wěn)定地檢測該凹坑電平Lp。在這一觀點(diǎn)中，可以被適當(dāng)?shù)赜迷跈z測凹坑電平Lp中的該長標(biāo)記為，例如，9T至11T以及14T。
這里，在該例子中，獲得返回光量數(shù)據(jù)S3以便不受預(yù)先形成在盤上的LPP的影響，并且因此在對(duì)應(yīng)于這些長標(biāo)記之中的14T標(biāo)記的周期期間不從返回光量數(shù)據(jù)S3中檢測凹坑電平Lp等等。這是由于14T標(biāo)記/4T間隔或是14T間隔/4T標(biāo)記的組合，對(duì)應(yīng)于同步信號(hào)，被經(jīng)常形成在對(duì)應(yīng)于LPP的位置上，并且因此當(dāng)與LPP同步執(zhí)行信息記錄時(shí)，來自14T記錄標(biāo)記的返回光量易受到LPP的影響。
這將通過參照?qǐng)D4的對(duì)比例子來進(jìn)行解釋。圖4A示意地表示一14T記錄標(biāo)記與一要被形成的LPP之間的位置關(guān)系，圖4B表示用在形成一14T記錄標(biāo)記中的記錄脈沖波形的一個(gè)例子。圖4C表示光接收量信號(hào)S2的波形，圖4D表示當(dāng)一14T記錄標(biāo)記被記錄時(shí)返回光量數(shù)據(jù)S3的波形。在用圖4C及4D中的箭頭110及111所指示的區(qū)域中，通過存在于記錄磁道外的LPP的影響，返回光量暫時(shí)變低。如所示的，如果靠去除易受LPP影響的14T記錄標(biāo)記來生成和利用返回光量數(shù)據(jù)S3，那么能夠執(zhí)行正確的記錄功率控制。
在把14T間隔/4T標(biāo)記的組合記錄作為同步信號(hào)的情形下，14T間隔的返回光量也受到LPP的影響。不過，該影響的程度比為14T標(biāo)記發(fā)射記錄功率的情形中的影響程度要小。因此，如果靠僅僅去除受LPP嚴(yán)重影響的14T標(biāo)記來得到返回光，那么能夠有效地消除LPP的影響。此外，為了完全消除LPP的影響，可以把該裝置設(shè)計(jì)成不僅靠消除14T標(biāo)記的周期，而且消除14T間隔的周期來得到返回光。
如上所述，在該例子中，信息記錄裝置包括把記錄光照射到其上形成有預(yù)刻凹坑的盤1上并輸出返回光數(shù)據(jù)的一光拾取頭，決定其中返回光不受該凹坑影響的數(shù)據(jù)獲得周期的一周期決定電路13，獲得數(shù)據(jù)獲得周期內(nèi)的返回光量數(shù)據(jù)的一采樣保持電路，以及依據(jù)該返回光量數(shù)據(jù)控制記錄功率的一微計(jì)算機(jī)14。通過那些部件，采樣保持電路15在受LPP嚴(yán)重影響的從9T至11T的記錄標(biāo)記周期內(nèi)檢測凹坑電平Lp或類似物，并依據(jù)該結(jié)果控制記錄功率。因此，能夠執(zhí)行正確的記錄功率控制。
在上述例子中，從光拾取頭9輸出的光接收量信號(hào)S1在LPF12內(nèi)被處理，并由采樣保持電路15保持以獲得凹坑電平Lp。然而，取代那些處理，通過用峰值保持電路來峰值保持從光拾取頭9輸出的光接收量信號(hào)S1也能夠獲得各個(gè)電平。
此外，在上述例子中，在其中凹坑電平Lp穩(wěn)定的長標(biāo)記之中(諸如9T至11T以及14T)，返回光量數(shù)據(jù)不被使用在記錄其中很可能存在LPP的14T標(biāo)記中。這里，為什么在14T標(biāo)記的情形中LPP可以存在的原因是LPP存在于在記錄條件下的記錄磁道(溝槽)(下文被稱作“記錄目標(biāo)磁道”或是“記錄目標(biāo)溝槽”)外的一鄰近凸區(qū)上，這是由于當(dāng)與該LPP同步地執(zhí)行信息記錄時(shí)，對(duì)應(yīng)于一同步的14T記錄標(biāo)記常常被記錄在LPP的位置上。因此，在除14T記錄標(biāo)記之外的記錄標(biāo)記情形中，存在這樣的可能性，即LPP存在于位于記錄目標(biāo)溝槽內(nèi)側(cè)的凸區(qū)上。即，該LPP對(duì)應(yīng)于記錄目標(biāo)記錄磁道的內(nèi)部鄰近記錄磁道。不過，由于記錄目標(biāo)溝槽內(nèi)的LPP對(duì)應(yīng)于其內(nèi)有一磁道的溝槽，因此它不直接與該記錄目標(biāo)溝槽的記錄標(biāo)記長度有關(guān)。換句話說，盡管存在這樣的可能性，即LPP存在于該記錄目標(biāo)溝槽上的14T記錄標(biāo)記外的凸區(qū)上，但是LPP不總是存在于該14T記錄標(biāo)記內(nèi)的凸區(qū)上。因此，在上述記錄功率控制中，如果通過在諸如9T至11T的長標(biāo)記周期之內(nèi)獲得多個(gè)點(diǎn)上的凹坑電平，以及通過使用那些電平的平均值來執(zhí)行記錄功率控制，那么能夠減少記錄目標(biāo)溝槽內(nèi)的凸區(qū)上的LPP的影響。
盡管上述方法通過求平均值來減少了存在于記錄目標(biāo)溝槽內(nèi)的LPP的影響，但是更可取的是提供一LPP檢測器來檢測LPP的適當(dāng)位置以及獲得在不同于LPP的位置上的返回光量數(shù)據(jù)以便完全消除存在于記錄目標(biāo)溝槽內(nèi)外的LPP的影響。這一結(jié)構(gòu)的例子示于圖5。與圖2比較，可以知道提供了一個(gè)LPP檢測電路20來從由光拾取頭9輸出的光接收量信號(hào)中檢測LPP的位置，以及LPP檢測信號(hào)S7輸入到周期決定電路13。依據(jù)LPP檢測信號(hào)S7，周期決定電路13使采樣保持電路15在其中不存在LPP的周期內(nèi)執(zhí)行采樣保持處理。結(jié)果，其中消除了存在于記錄目標(biāo)溝槽內(nèi)外的LPP的影響的返回光量數(shù)據(jù)從采樣保持電路15中輸出。
如上所述，通過該實(shí)施例的信息記錄裝置的結(jié)構(gòu)，由于獲得了從中消除了預(yù)記錄在DVD-R或DVD-RW上的LPP的影響的返回光量數(shù)據(jù)，因此能夠正確地執(zhí)行包括記錄功率控制的各種控制及校正。
此外，鑒于將來記錄速率的增大，該方法將更為有利。即，如果今后記錄速率增大兩倍及四倍，那么圖3E所示的凹坑電平Lp的時(shí)間長度將更短。當(dāng)上述實(shí)施例中在其中凹坑電平Lp穩(wěn)定的長標(biāo)記周期(9T至11T)內(nèi)獲得返回光量數(shù)據(jù)時(shí)，隨著記錄速率的增大，凹坑電平Lp的穩(wěn)定周期變得更短。結(jié)果，在標(biāo)記11T和14T之外的標(biāo)記內(nèi)實(shí)質(zhì)上難于獲得穩(wěn)定的凹坑電平Lp。那么，從中獲得凹坑電平Lp的那些標(biāo)記可以比利用不短于9T的長標(biāo)記的情形中更有可能地包括一個(gè)14T標(biāo)記，并且因此LPP引起的不利影響會(huì)更有可能地出現(xiàn)。在這一情形中，用本發(fā)明方法，由于在含有14T標(biāo)記的周期被消除后獲得返回光量數(shù)據(jù)，因此能夠獲得正確的返回光量數(shù)據(jù)同時(shí)消除LPP的影響。
此外，雖然上述實(shí)施例是在其中沒有由形成在光盤凸區(qū)上的凸區(qū)預(yù)刻凹坑(LPP)所造成的影響的期間內(nèi)獲得數(shù)據(jù)的一個(gè)例子，但是本發(fā)明中的預(yù)刻凹坑并不限于LPP而可以是其它各種預(yù)刻凹坑。
本發(fā)明可以體現(xiàn)于其它特定形式上而不脫離本發(fā)明中的精神或基本特征。因此本發(fā)明的實(shí)施例從各方面來說都被視為是說明性的而不是限制性的，所以由附帶的權(quán)利要求書而不是前面的說明所表明的本發(fā)明范圍以及落入該權(quán)利要求書等同物范圍意義內(nèi)的所有變化都被試圖包含在內(nèi)。
申請(qǐng)日為2002年6月19日的日本專利申請(qǐng)No.2002-178524的全部公開內(nèi)容，包括說明書，權(quán)利要求書，附圖以及摘要在此全部并入作為參考。
權(quán)利要求
1.一種信息記錄裝置，包括一記錄單元，把記錄光照射到其上形成有預(yù)刻凹坑的盤上，檢測來自該盤的返回光并輸出返回光量數(shù)據(jù)；一數(shù)據(jù)獲得周期決定單元，決定其中返回光不受該預(yù)刻凹坑影響的數(shù)據(jù)獲得周期；一返回光量數(shù)據(jù)輸出單元，獲得并輸出數(shù)據(jù)獲得周期內(nèi)的返回光量數(shù)據(jù)；以及一控制器，依據(jù)從返回光量數(shù)據(jù)輸出單元輸出的返回光量數(shù)據(jù)來執(zhí)行控制。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的信息記錄裝置，其中數(shù)據(jù)獲得周期決定單元把除了其中記錄單元形成14T記錄標(biāo)記或14T間隔的周期之外的一個(gè)周期決定為數(shù)據(jù)獲得周期。
3.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一個(gè)的信息記錄裝置，進(jìn)一步包括一預(yù)刻凹坑檢測器，依據(jù)返回光來檢測其中存在預(yù)刻凹坑的周期，其中數(shù)據(jù)獲得周期決定單元把除了其中存在預(yù)刻凹坑的周期之外的一個(gè)周期決定為數(shù)據(jù)獲得周期。
4.根據(jù)權(quán)利要求1的信息記錄裝置，其中該控制器包括一決定單元，依據(jù)在預(yù)定定時(shí)上的該返回光量數(shù)據(jù)的電平來決定記錄光的功率是否適當(dāng)；以及一功率控制器，依據(jù)決定單元的決定結(jié)果控制記錄光的功率。
5.根據(jù)權(quán)利要求4的信息記錄裝置，其中決定單元依據(jù)通過對(duì)多個(gè)預(yù)定定時(shí)上的返回光量數(shù)據(jù)的電平求平均值而得到的平均電平來決定記錄光的功率是否適當(dāng)。
6.根據(jù)權(quán)利要求4的信息記錄裝置，其中數(shù)據(jù)獲得周期決定單元把其中記錄單元形成9T至11T的記錄標(biāo)記的周期決定為數(shù)據(jù)獲得周期。
7.一種信息記錄裝置的控制方法，包括把記錄光照射到其上形成有預(yù)刻凹坑的盤上的處理；檢測來自該盤的返回光量并輸出返回光量數(shù)據(jù)的處理；決定其中返回光不受該預(yù)刻凹坑影響的數(shù)據(jù)獲得周期的處理；獲得并輸出數(shù)據(jù)獲得周期內(nèi)的返回光量數(shù)據(jù)的處理；以及依據(jù)在數(shù)據(jù)獲得周期內(nèi)獲得的返回光量數(shù)據(jù)來執(zhí)行控制的處理。
全文摘要
信息記錄裝置包括一光拾取頭，把記錄光照射到其上形成有預(yù)刻凹坑的盤上并輸出返回光量數(shù)據(jù)，一周期決定電路，決定其中返回光量不受該預(yù)刻凹坑影響的數(shù)據(jù)獲得周期，一采樣保持電路，獲得該數(shù)據(jù)獲得周期內(nèi)的返回光量，以及一微計(jì)算機(jī)，依據(jù)返回光量數(shù)據(jù)來控制記錄功率。該微計(jì)算機(jī)獲得其中返回光量不受該預(yù)刻凹坑影響的數(shù)據(jù)獲得周期內(nèi)的返回光量數(shù)據(jù)，并依據(jù)該返回光量數(shù)據(jù)執(zhí)行包括記錄功率控制的控制。由于采樣保持電路檢測幾乎不受LPP影響的9T至11T周期內(nèi)的凹坑電平等等并依據(jù)該結(jié)果控制記錄功率，因此能夠執(zhí)行適當(dāng)?shù)挠涗浌β士刂啤?br> 文檔編號(hào)G11B7/125GK1472732SQ03149038
公開日2004年2月4日 申請(qǐng)日期2003年6月19日 優(yōu)先權(quán)日2002年6月19日
發(fā)明者佐佐木儀央, 中川秀紀(jì), 紀(jì) 申請(qǐng)人:日本先鋒公司