專利名稱：游程長度受限碼產(chǎn)生方法、記錄/再現(xiàn)裝置及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及游程長度受限碼產(chǎn)生方法，用于產(chǎn)生調(diào)節(jié)再現(xiàn)電路的代碼，該再現(xiàn)電路從一個信息存儲介質(zhì)再現(xiàn)數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。本發(fā)明還涉及一種游程長度受限碼記錄/再現(xiàn)裝置，其產(chǎn)生用于調(diào)節(jié)一個再現(xiàn)電路的代碼，該再現(xiàn)電路從一個信息存儲介質(zhì)再現(xiàn)數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)，并且對一個信息存儲介質(zhì)記錄/再現(xiàn)該代碼。另外，本發(fā)明涉及一種游程長度受限碼記錄/再現(xiàn)方法，用于產(chǎn)生調(diào)節(jié)從一個信息存儲介質(zhì)再現(xiàn)的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的再現(xiàn)電路的代碼，并且在一個信息存儲介質(zhì)上記錄/再現(xiàn)該代碼。
背景技術(shù)：
作為可以存儲介質(zhì)數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的記錄介質(zhì)，以DVD為代表的光盤是已知的。DVD-RAM(一種DVD)包括信息記錄層。當(dāng)該記錄層被適當(dāng)能量的激光束所照射時，其結(jié)晶狀態(tài)改變。通過利用這樣的特性，即，在結(jié)晶狀態(tài)中的改變，數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)可以被記錄在記錄層上。當(dāng)用適當(dāng)能量的激光照射該記錄層時，以獲得對應(yīng)于記錄層的結(jié)晶狀態(tài)的反射光量。通過檢測該反射光，可以再現(xiàn)記錄在記錄層上的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。
在最近幾年，PRML(部分響應(yīng)和最大近似度)技術(shù)被用于提高記錄密度。例如日本專利申請公告9-17130等等公開PRML技術(shù)的技術(shù)內(nèi)容。該技術(shù)的技術(shù)內(nèi)容將在下文簡單描述，以便于理解。
部分響應(yīng)(PR)是當(dāng)通過正面地利用符號間干擾時再現(xiàn)數(shù)據(jù)的一種方法(再現(xiàn)信號之間的干擾對應(yīng)于在相鄰位置記錄的數(shù)位)。根據(jù)在此時產(chǎn)生的符號間干擾，PR可以被進一步分類為多個不同的類。例如，在種類1的情況中，所記錄數(shù)據(jù)“1”被再現(xiàn)為2位再現(xiàn)數(shù)據(jù)“11”，并且對后續(xù)的1個數(shù)位產(chǎn)生符號間干擾。維特比解碼方法(ML)是一種所謂的最大值近似度序列估計方法，并且通過有效地使用一個再現(xiàn)電路波形的符號間干擾規(guī)則，根據(jù)信號幅度的信息多次再現(xiàn)數(shù)據(jù)。對于該處理，與從一個記錄介質(zhì)獲得的再現(xiàn)波形同步的同步時鐘被產(chǎn)生，并且該再現(xiàn)波形本身使用要被轉(zhuǎn)換為幅度信息的時鐘來采樣。在此之后，該幅度信息受到適當(dāng)?shù)牟ㄐ尉猓赞D(zhuǎn)換為預(yù)定的PR響應(yīng)波形，并且維特比解碼器使用舊的和當(dāng)前的采樣數(shù)據(jù)輸出最大近似數(shù)據(jù)序列作為再現(xiàn)數(shù)據(jù)。上述PR方法和維特比解碼方法(最大近似度解碼)的組合被稱為PRML方法。為了把PRML技術(shù)投入使用，需要獲得再現(xiàn)信號作為一個目標(biāo)PR類的響應(yīng)的高精度自適應(yīng)均衡技術(shù)以及支持前一種技術(shù)的高精度時鐘再現(xiàn)技術(shù)。
下面將說明在PRML技術(shù)中所使用的游程長度受限碼。PRML再現(xiàn)電路從一個記錄介質(zhì)再現(xiàn)的信號本身產(chǎn)生與該信號相同步地時鐘。為了產(chǎn)生穩(wěn)定的時鐘，所記錄信號的極性在預(yù)定時間周期內(nèi)被翻轉(zhuǎn)。與此同時，必須防止該記錄信號的極性在預(yù)定時間周期中翻轉(zhuǎn)，以減小所記錄信號的最大頻率。所記錄信號的極性不翻轉(zhuǎn)的最大數(shù)據(jù)長度被稱為最大游程長度，并且極性不翻轉(zhuǎn)的最小數(shù)據(jù)長度被稱為最小游程長度。具有8位最大游程長度和2位最小游程長度的調(diào)制規(guī)則被稱為(1，7)RLL，并且具有8位最大游程長度和3位最小游程長度的調(diào)制規(guī)則被稱為(2，7)RLL。也就說，相同代碼的最小化游程長度為(d+1)并且相同代碼的最大游程長度為(k+1)的游程長度受限碼序列被稱為(d，k)游程長度受限碼序列。作為一種典型的用于光盤中的調(diào)制/解調(diào)方法，已知有(1，7)RLL加EFM的方法(US 5,696,505)。
通常，在一個光盤上記錄數(shù)據(jù)之后，數(shù)據(jù)被記錄/再現(xiàn)于一個專用記錄校正區(qū)域，以調(diào)節(jié)記錄激光功率和記錄脈沖形狀。即使當(dāng)一同進行數(shù)據(jù)再現(xiàn)時，與數(shù)據(jù)記錄相同，測試數(shù)據(jù)被暫時記錄在一個專用區(qū)域，以確定在此時可與記錄介質(zhì)相匹配的再現(xiàn)電路的均衡特性，并且通過自適應(yīng)地學(xué)習(xí)并且再現(xiàn)所記錄信號，獲得最佳的均衡特性。
作為在這種情況中所用的測試數(shù)據(jù)(測試寫入)模式，在日本專利申請公告2002-15479中公開的一種技術(shù)是已知的。利用該測試模式，2T、2T、4T的游程，即，[...0011000011001111...]模式的游程被記錄在測試數(shù)據(jù)區(qū)域。通過再現(xiàn)該信號，記錄功率被調(diào)節(jié)，并且同時調(diào)節(jié)用于維特比解碼的比較電平。按照這種方式，記錄功率和維特比解碼器可以被適當(dāng)?shù)卣{(diào)節(jié)。
在根據(jù)(1，7)RLL進行調(diào)制之后，所記錄標(biāo)記長度落在2T至8T的范圍內(nèi)。但是，由于在上述日本專利公告2002-15479從公開的測試數(shù)據(jù)模式使用2T、2T、4T的測試模式，具有短記錄標(biāo)志長度(許多高頻成分)的模式比率較高。在一個再現(xiàn)信號中所包含的高頻成分隨著記錄密度的提高而被相當(dāng)大地衰減。因此，當(dāng)波形均衡器的自適應(yīng)學(xué)習(xí)不足時，難以獲得穩(wěn)定、高精度的再現(xiàn)時鐘。相應(yīng)地，由于時鐘不穩(wěn)定，因此自適應(yīng)學(xué)習(xí)不能夠良好工作。如果最佳波形均衡條件已知，則不存在問題。但是，在交換記錄介質(zhì)的光盤中，必須從非最佳均衡條件開始自適應(yīng)學(xué)習(xí)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的一個實施例可以提供一種游程長度受限碼產(chǎn)生方法，其可以產(chǎn)生適用于獲得最佳均衡性能的游程長度受限碼。本發(fā)明的另一個目的是提供一種游程長度受限碼記錄/再現(xiàn)裝置和游程長度受限碼記錄/再現(xiàn)方法，其產(chǎn)生和記錄適用于獲得最佳均衡特性的游程長度受限碼。
根據(jù)本發(fā)明的游程長度受限碼產(chǎn)生方法包括產(chǎn)生多個不同代碼序列，其具有逐步變高的記錄密度，作為要被記錄在一個信息存儲介質(zhì)的測試數(shù)據(jù)區(qū)域上的多個連續(xù)子區(qū)中的多個不同代碼序列。
根據(jù)本發(fā)明一個實施例的游程長度受限碼記錄/再現(xiàn)裝置包括產(chǎn)生單元，用于產(chǎn)生具有逐步變高的記錄密度的多個不同代碼序列；以及記錄單元，用于在一個信息存儲介質(zhì)的測試數(shù)據(jù)區(qū)域中的多個連續(xù)子區(qū)上記錄由該產(chǎn)生單元所產(chǎn)生的多個不同代碼序列。
根據(jù)本發(fā)明一個實施例的游程長度受限碼記錄/再現(xiàn)方法，包括產(chǎn)生多個不同代碼序列，其具有逐步變高的記錄密度；以及把多個所產(chǎn)生的不同代碼序列記錄在一個信息存儲介質(zhì)的測試數(shù)據(jù)區(qū)域中的多個連續(xù)子區(qū)上。
本發(fā)明的其他實施例和優(yōu)點將在下文的描述中給出，并且從該描述中部分地變?yōu)轱@而易見，或者可以通過對本發(fā)明的實踐而獲得。本發(fā)明的實施例和優(yōu)點可以通過在下文特別指出的裝置和組合來實現(xiàn)和獲得。


被包含并且構(gòu)成說明書的一部分的

本發(fā)明的優(yōu)選實施例，并且與在上文給出的一般描述和下文給出的對優(yōu)選實施例的詳細(xì)描述一同用于說明本發(fā)明的原理。
圖1為示出在一個信息存儲介質(zhì)上的測試數(shù)據(jù)扇區(qū)的格式和測試模式的第一例子的示意圖；圖2為示出根據(jù)本發(fā)明一個實施例的記錄/再現(xiàn)裝置的結(jié)構(gòu)的示意方框圖；圖3為示出自適應(yīng)均衡器和自適應(yīng)學(xué)習(xí)電路的結(jié)構(gòu)的示意方框圖；圖4為示出通過(1，7)RLL規(guī)則調(diào)制隨機數(shù)據(jù)而獲得的各個游程長度的調(diào)制數(shù)據(jù)的出現(xiàn)頻率的曲線圖；圖5為示出在一個信息存儲介質(zhì)上的測試數(shù)據(jù)扇區(qū)的格式和一種測試模式的第二例子的示意圖；圖6為示出當(dāng)使用與圖1或5所示不同的一個任意測試模式進行自適應(yīng)均衡時該自適應(yīng)均衡器的各個系數(shù)的學(xué)習(xí)處理的曲線圖；圖7為示出當(dāng)使用圖1或5中所示的測試模式進行自適應(yīng)均衡時該自適應(yīng)均衡器的各個系數(shù)的學(xué)習(xí)處理的曲線圖；圖8為示出圖1中所示的測試模式的記錄處理的流程圖；圖9為示出圖5中所示的測試模式的記錄處理的流程圖；以及圖10為根據(jù)通過圖8或9中所示的記錄處理所記錄的測試模式的再現(xiàn)結(jié)果，用于調(diào)節(jié)一個再現(xiàn)電路的調(diào)節(jié)處理的流程圖。
具體實施例方式
下面參照附圖描述本發(fā)明的實施例。
圖1示出在一個信息存儲介質(zhì)上的測試數(shù)據(jù)扇區(qū)的示意格式。圖1表示通過改變游程長度限制而產(chǎn)生的測試模式。也就是說，圖1示出根據(jù)逐步減小相同代碼的最小游程長度的多個不同的游程長度限制所產(chǎn)生的多個不同代碼序列。換句話說，圖1示出多個不同代碼序列，其記錄密度逐漸增加。該測試數(shù)據(jù)扇區(qū)記錄由根據(jù)本發(fā)明一個實施例的游程長度受限碼產(chǎn)生方法、游程長度受限碼記錄/再現(xiàn)裝置以及游程長度受限碼記錄/再現(xiàn)方法所產(chǎn)生的游程長度受限碼。
信息存儲介質(zhì)，即光盤100，是可以被記錄/再現(xiàn)數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的介質(zhì)。該光盤100具有同心或螺旋記錄道，并且數(shù)據(jù)沿著該記錄道被記錄/再現(xiàn)，一部分可記錄區(qū)域被預(yù)先假定為一個測試數(shù)據(jù)區(qū)域100a。在該記錄道上，使用被稱為扇區(qū)的被記錄數(shù)據(jù)單位記錄/再現(xiàn)數(shù)據(jù)。圖1示出一個測試數(shù)據(jù)扇區(qū)結(jié)構(gòu)，并且每個扇區(qū)包括VFO區(qū)域、PS區(qū)域、測試數(shù)據(jù)區(qū)域和PA區(qū)域。多個這種測試數(shù)據(jù)扇區(qū)被記錄在該測試數(shù)據(jù)區(qū)域100a上。并且，根據(jù)(1，7)RLL對一個普通數(shù)據(jù)記錄區(qū)域進行記錄/再現(xiàn)。
在圖1中的測試數(shù)據(jù)扇區(qū)的細(xì)節(jié)將在下文中描述。VFO區(qū)域被用于調(diào)節(jié)一個數(shù)據(jù)再現(xiàn)電路的PLL塊的相位。該區(qū)域存儲單一頻率的記錄模式，例如3T、3T的游程，即數(shù)據(jù)模式‘...000111000111...’。該PS區(qū)域存儲表示VFO區(qū)域結(jié)束的信號，即不存在于下一個測試數(shù)據(jù)區(qū)域中的數(shù)據(jù)模式，例如數(shù)據(jù)模式‘0111 1001 1110 0000 1110 0000 1111 00011000’。
該測試數(shù)據(jù)區(qū)域被用于該再現(xiàn)電路的自適應(yīng)學(xué)習(xí)，并且調(diào)節(jié)一個記錄控制表。該測試數(shù)據(jù)區(qū)域包括多個子區(qū)。該測試數(shù)據(jù)區(qū)域的第一子區(qū)記錄游程長度限制為(5，7)RLL的N1位隨機模式。該測試數(shù)據(jù)區(qū)域的第二子區(qū)記錄游程長度限制為(4，7)RLL的N2位隨機模式。該測試數(shù)據(jù)區(qū)域的第三子區(qū)記錄游程長度限制為(3，7)RLL的N3位隨機模式。該測試數(shù)據(jù)區(qū)域的第四子區(qū)記錄游程長度限制為(2，7)RLL的N4位隨機模式。該測試數(shù)據(jù)區(qū)域的第五子區(qū)記錄游程長度限制為(1，7)RLL的N5位隨機模式。PA區(qū)域存儲表示測試數(shù)據(jù)區(qū)域結(jié)束的數(shù)據(jù)。該PA區(qū)域必須根據(jù)需要而改變，以滿足在具有在前的測試數(shù)據(jù)區(qū)域的最后數(shù)據(jù)的連接部分處的游程長度限制。圖1中所示的測試模式被記錄在光盤100的測試數(shù)據(jù)區(qū)域100a的測試數(shù)據(jù)區(qū)域之上，并且被從該測試數(shù)據(jù)區(qū)域100a再現(xiàn)。根據(jù)該再現(xiàn)結(jié)果，調(diào)節(jié)該再現(xiàn)電路的波形均衡特性。
該PA區(qū)域存儲表示測試數(shù)據(jù)區(qū)域結(jié)束的數(shù)據(jù)，例如，數(shù)據(jù)模式‘011100110000’。該PA區(qū)域必須根據(jù)需要而改變，以滿足在具有在前的測試數(shù)據(jù)區(qū)域中的最后數(shù)據(jù)的連接部分處的游程長度限制。
圖5示出在與圖1中相同的一個信息存儲介質(zhì)上的測試數(shù)據(jù)扇區(qū)的示意格式。圖5表示通過改變最小游程長度模式的出現(xiàn)頻率而產(chǎn)生的一個測試模式。也就是說，圖5示出多個不同代碼序列，其最小游程長度模式的出現(xiàn)頻率逐步增加。換句話說，圖5示出多個不同的代碼序列，其記錄密度逐步增加。圖5中所示的試模式將在下文中詳細(xì)描述。
圖2為示出根據(jù)本發(fā)明一個實施例的記錄/再現(xiàn)裝置的結(jié)構(gòu)的示意方框圖。如圖2中所示，該記錄/再現(xiàn)裝置(游程長度受限碼記錄/再現(xiàn)裝置)包括一個光讀取頭101、記錄補償表102、記錄補償控制器103、選擇器開關(guān)104、測試模式產(chǎn)生器105、(1，7)RLL調(diào)制器106、低通濾波器107、A/D轉(zhuǎn)換器108、自適應(yīng)均衡器109、維特比解碼器110、解調(diào)器111、自適應(yīng)學(xué)習(xí)電路112、PLL電路113等等。
(1，7)RLL調(diào)制器106調(diào)制記錄數(shù)據(jù)，以滿足(1，7)RLL游程長度限制。該測試模式產(chǎn)生器105產(chǎn)生一個測試模式。該測試模式產(chǎn)生器105以用于產(chǎn)生要被記錄在圖1或5中所示的測試數(shù)據(jù)扇區(qū)上的測試模式的格式預(yù)先存儲數(shù)據(jù)，并且在該測試模式產(chǎn)生之后產(chǎn)生這種測試模式。當(dāng)測試模式要被記錄時該選擇器開關(guān)104連接到測試模式產(chǎn)生器105，并且當(dāng)普通數(shù)據(jù)要被記錄時，連接到調(diào)制器106。
記錄補償控制器103參照記錄補償表102，響應(yīng)由測試模式產(chǎn)生器105或調(diào)制器106所產(chǎn)生的各個記錄數(shù)據(jù)的游程長度，以適當(dāng)?shù)臅r序產(chǎn)生記錄脈沖。在記錄一個測試模式之后，由于該記錄補償表102的數(shù)值還沒有被調(diào)節(jié)，則根據(jù)一個標(biāo)準(zhǔn)值產(chǎn)生記錄脈沖。由記錄補償控制器103所產(chǎn)生的記錄脈沖被光讀取頭101轉(zhuǎn)換為光信號，并且光盤100被這些光信號所照射，在光盤100上，一個記錄層的結(jié)晶狀態(tài)根據(jù)所照射的光線的強度而改變。一系列數(shù)據(jù)記錄模式中的操作已經(jīng)被說明。
下面將說明在數(shù)據(jù)再現(xiàn)模式中的操作。該光讀取頭101發(fā)出適當(dāng)強度的激光束，其照射在該光盤100上。響應(yīng)該激光束，具有對應(yīng)于被記錄在該光盤100上的所記錄數(shù)據(jù)的強度的光線被反射，并且由輸出對應(yīng)于被反射光的量的電信號的光讀取頭101所檢測。該電信號在該低通濾波器107中受到適當(dāng)?shù)念l帶限制。來自該低通濾波器107的輸出信號被A/D轉(zhuǎn)換器108轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號。來自A/D轉(zhuǎn)換器108的輸出信號在自適應(yīng)均衡器109中受到波形均衡，以獲得對應(yīng)于一個目標(biāo)PR類的響應(yīng)波形。在此時的均衡特性由自適應(yīng)學(xué)習(xí)電路112所調(diào)節(jié)。維特比解碼器110檢查來自自適應(yīng)均衡器109的輸出是否為數(shù)據(jù)‘1’或‘0’，并且獲得二進制數(shù)據(jù)。所獲得的二進制數(shù)據(jù)受到與在解調(diào)器111中的(1，7)RLL調(diào)制相反的處理(解調(diào))，因此獲得所記錄數(shù)據(jù)。與這些操作同時，PLL電路113根據(jù)來自自適應(yīng)均衡器109的輸出控制采樣時鐘，以在A/D轉(zhuǎn)換器108中設(shè)置適當(dāng)?shù)牟蓸訒r序。
在自適應(yīng)均衡器109和自適應(yīng)學(xué)習(xí)電路112中的自適應(yīng)學(xué)習(xí)將在下文中使用圖3來描述。圖3為示出自適應(yīng)均衡器109和自適應(yīng)學(xué)習(xí)電路112的具體細(xì)節(jié)的方框圖。如圖3中所示，自適應(yīng)均衡器109包括延遲電路201和202、乘法器203、204、205、206、207和208。該自適應(yīng)學(xué)習(xí)電路112包括計數(shù)更新電路212、213和214、一個延遲電路215、波形合成器216和加法器217。
每個延遲電路201和202把一個輸入信號延遲一個時鐘，并且輸出該延遲信號。每個乘法器203、204和205輸出兩個輸入數(shù)值的乘積。每個加法器206、207和208輸出兩個輸入數(shù)值之和。圖3示出使用三個乘法器的一個3抽頭數(shù)字濾波器，但是本發(fā)明不限于這種特定的濾波器。即使當(dāng)乘法器的數(shù)目改變時，該基本操作保持不變。在本實施例中，僅僅說明該3抽頭濾波器。
假設(shè)x(k)是在時間k到達(dá)自適應(yīng)均衡器109的輸入信號，并且c1、c2和c3是到該乘法器203、204和205的乘法器輸入。然后，該自適應(yīng)均衡器109的輸出Y(k)由下式表達(dá)Y(k)＝x(k)*c1+x(k-1)*c2+x(k-2)*c3(1)假設(shè)A(k)為接收Y(k)的維特比解碼器110所獲得的二進制數(shù)據(jù)。如果，目標(biāo)PR類例如是RP(1221)，并且A(k)是糾正再現(xiàn)數(shù)據(jù)，則在時間k的自適應(yīng)均衡器的自適應(yīng)原始輸出Z(k)由下式給出Z(k)＝A(k)+2*A(k-1)+2*A(k-2)+A(k-3)(2)在此，在時間k的均衡誤差E(k)被定義為E(k)＝Y(jié)(k)-Z(k) (3)自適應(yīng)學(xué)習(xí)通過下式更新該乘法器的系數(shù)c1(k+1)＝c1(k)-α*x(k)*E(k)(4)c2(k+1)＝c2(k)-α*x(k)*E(k)(5)c3(k+1)＝c3(k)-α*x(k)*E(k)(6)請注意在方程(4)中，α是一個更新系數(shù)，并且設(shè)置一個正的小數(shù)值(例如，0.01)。
該波形合成器216執(zhí)行上述方程(2)所給出的處理。延遲電路215把加法器208的輸出Y(k)延遲對應(yīng)于在維特比解碼器110中的處理時間的一個時間，并且加法器217執(zhí)行上述方程(3)所給出的處理。該系數(shù)更新電路212計算方程(4)，以更新乘法器203的系數(shù)。該更新結(jié)果被存儲在一個寄存器209中。該系數(shù)更新電路213計算方程(5)，以更新乘法器204的系數(shù)。更新結(jié)果被存儲在寄存器210中。該系數(shù)更新電路204計算方程(6)，以更新乘法器205的系數(shù)。該更新結(jié)果被存儲在一個寄存器211中。按照這種方式，執(zhí)行自適應(yīng)均衡器109的自適應(yīng)學(xué)習(xí)。
如上文所述，圖1或5中所示的測試模式被記錄在該測試數(shù)據(jù)區(qū)域中，然后被再現(xiàn)，以進行自適應(yīng)學(xué)習(xí)，從而調(diào)節(jié)該波形均衡電路。
為了保證適當(dāng)?shù)淖赃m應(yīng)學(xué)習(xí)，該維特比解碼器110的輸出結(jié)果必須被糾正。為此目的，在A/D轉(zhuǎn)換器108中的采樣時序和自適應(yīng)均衡器109的均衡特性必須被大體上糾正。但是，當(dāng)自適應(yīng)均衡器109的自適應(yīng)學(xué)習(xí)不足時，在來自維特比解碼器110的輸出中產(chǎn)生一些確定誤差。在維特比解碼器110中的確定誤差的其特征在于當(dāng)該模式具有較大標(biāo)記長度(大游程長度)時，該誤差速率較低，并且當(dāng)該模式具有小標(biāo)記長度(小游程長度)時，該模式較高。因此，希望在自適應(yīng)學(xué)習(xí)到達(dá)一定水平之前，使用具有較大游程長度的數(shù)據(jù)模式進行自適應(yīng)學(xué)習(xí)。
根據(jù)本發(fā)明，在圖1中所示的測試模式之間的關(guān)系，以及圖2中所示的數(shù)據(jù)再現(xiàn)電路的操作將在下文中說明。在圖1中所示的測試模式中，該VFO區(qū)域存儲一個單周期記錄模式(3T周期)。在該區(qū)域的再現(xiàn)過程中，PLL電路113的振蕩頻率和采樣相位被調(diào)節(jié)。在完成該調(diào)節(jié)之后，可以按照接近于正確的頻率和時序執(zhí)行A/D轉(zhuǎn)換。但是，由于該VFO區(qū)域存儲一個單周期數(shù)據(jù)模式，因此它通常不進行自適應(yīng)學(xué)習(xí)，因為即使在自適應(yīng)學(xué)習(xí)之后，也不能夠獲得特定模式所專用的均衡特性。該測試數(shù)據(jù)區(qū)域的第一子區(qū)存儲一個模式，其游程長度限制為(57)RLL規(guī)則。因此，平均記錄的標(biāo)志長度較大，并且維特比解碼器110不容易產(chǎn)生判斷錯誤。因此，自適應(yīng)均衡器109的系數(shù)容易收斂到對具有較大標(biāo)志長度(較低記錄密度)的所記錄模式優(yōu)化的系數(shù)。該測試數(shù)據(jù)區(qū)域的第二子區(qū)存儲一個模式，其游程長度限制為(4，7)RLL規(guī)則。因此，該平均記錄標(biāo)志長度略小于該第一子區(qū)的長度。但是，由于自適應(yīng)均衡器109的系數(shù)具有已經(jīng)自適應(yīng)學(xué)習(xí)的(5，7)RLL模式，因此維特比解碼器110不容易產(chǎn)生判斷錯誤。因此，自適應(yīng)均衡器109的系數(shù)容易收斂到對(4，7)RLL記錄模式優(yōu)化的數(shù)值。類似地，通過自適應(yīng)學(xué)習(xí)包含逐步變小的記錄標(biāo)志的數(shù)據(jù)模式，自適應(yīng)均衡器109逐步進行學(xué)習(xí)。最后，由于該自適應(yīng)均衡器109自適應(yīng)學(xué)習(xí)(1，7)RLL數(shù)據(jù)模式作為在實際數(shù)據(jù)記錄模式中的調(diào)制方，則可以獲得最終的均衡特性。在正常數(shù)據(jù)再現(xiàn)模式中，使用圖1中所示的測試模式的自適應(yīng)學(xué)習(xí)結(jié)果進行波形均衡。
即使當(dāng)應(yīng)當(dāng)存儲(5，7)RLL規(guī)則模式的第一子區(qū)存儲一些具有不大于5的游程長度的測試模式(例如，游程長度＝2)，可以獲得等價效果。這是因為不影響自適應(yīng)學(xué)習(xí)的游程長度違背模式是允許的，由于圖3中所示的自適應(yīng)均衡電路的自適應(yīng)均衡逐步減慢，也就是說，可以使用圖1中所示的游程長度限制測試模式獲得近似的等價效果。
下文將描述通過改變最小游程長度模式的出現(xiàn)頻率而產(chǎn)生一個測試模式。圖4示出當(dāng)根據(jù)(1，7)RLL規(guī)則調(diào)制時用于各個游程長度的調(diào)制數(shù)據(jù)的出現(xiàn)頻率。如圖4中所示，在實際記錄數(shù)據(jù)之后，最小游程長度＝2的出現(xiàn)頻率最高，并且該出現(xiàn)頻率隨著游程長度的增加而降低。本發(fā)明的特征是通過進行自適應(yīng)學(xué)習(xí)以一個目標(biāo)密度實現(xiàn)對均衡特征的容易調(diào)節(jié)，并且從具有較大游程長度的測試模式逐步減小該游程長度，其允許容易地自適應(yīng)均衡。因此，圖5中所示的測試模式可以獲得一個均衡效果。
參見圖5，一個光盤100是可以記錄/再現(xiàn)數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的媒體。該光盤100具有同心或螺旋的記錄道，并且數(shù)據(jù)被沿著該記錄道而記錄/再現(xiàn)。一部分可記錄區(qū)域被預(yù)先假定為一個測試數(shù)據(jù)區(qū)域100a。在該記錄道上，使用被稱為扇區(qū)的所記錄數(shù)據(jù)單元對數(shù)據(jù)進行記錄/再現(xiàn)。與在第一實施例相同，每個扇區(qū)包括VFO區(qū)域、PS區(qū)域、測試數(shù)據(jù)區(qū)域和PA區(qū)域。多個這種測試數(shù)據(jù)扇區(qū)被記錄在測試數(shù)據(jù)區(qū)域100a中。并且根據(jù)(1，7)RLL規(guī)則進行記錄/再現(xiàn)。
測試數(shù)據(jù)扇區(qū)的具體細(xì)節(jié)將在下文說明。VFO區(qū)域被用于調(diào)節(jié)數(shù)據(jù)再現(xiàn)電路的頻率和PLL塊的相位。該區(qū)域存儲單個頻率的記錄模式，例如，3T、3T的游程，即數(shù)據(jù)模式‘...000111000111...’。該PS區(qū)域存儲表示VFO結(jié)束的信號，即，不存在于下一個測試數(shù)據(jù)區(qū)域中的數(shù)據(jù)模式，例如數(shù)據(jù)模式‘0111 1001 1110 0000 1110 0000 1111 0001 1000’。
該測試數(shù)據(jù)區(qū)域被用于再現(xiàn)電路的自適應(yīng)學(xué)習(xí)，和記錄控制表的調(diào)節(jié)。該測試數(shù)據(jù)區(qū)域包括多個子區(qū)。測試數(shù)據(jù)區(qū)域的第一子區(qū)存儲一個測試模式，其中具有游程長度＝2的模式的出現(xiàn)頻率為P1(2)，具有游程長度＝3的模式的出現(xiàn)頻率為P1(3)，并且具有游程長度＝m的模式的出現(xiàn)頻率為P1(m)。測試數(shù)據(jù)區(qū)域的第二子區(qū)存儲測試模式，其中具有游程長度＝2的模式的出現(xiàn)頻率為P2(2)，具有游程長度＝3的模式的出現(xiàn)頻率為P2(3)，具有游程長度＝m的模式的出現(xiàn)頻率為P2(m)。類似地，測試數(shù)據(jù)區(qū)域被分為五個子區(qū)，并且在這些子區(qū)中的各個游程長度的模式的出現(xiàn)頻率為Pn(m)。請注意至少對這些子區(qū)中的各個游程長度的圖案出現(xiàn)頻率保持P1(2)≤P2(2)≤P3(2)≤P4(2)≤P5(2)以及P1(2)＜P5(2) ...(7)P1(3)≤P2(3)≤P3(3)≤P4(3)≤P5(3)以及P1(3)＜P5(3) ...(8)P1(4)≤P2(4)≤P3(4)≤P4(4)≤P5(4)以及P1(4)＜P5(4) ...(9)P1(5)≤P2(5)≤P3(5)≤P4(5)≤p5(5)以及P1(5)＜PS(S) ...(10)之一的關(guān)系。
按照這種方式，具有最小游程長度的模式的出現(xiàn)頻率在用于進行自適應(yīng)學(xué)習(xí)的第一子區(qū)中較低，并且具有小的游程長度的這種模式的比率隨著自適應(yīng)學(xué)習(xí)的進行而增加。使用這樣一個測試模式，可以獲得與圖1中所示的測試模式相同的效果。當(dāng)圖5中所示的測試模式被按照與圖1中所示的測試模式相同的方式記錄和再現(xiàn)時，可以容易地調(diào)節(jié)該再現(xiàn)電路的波形均衡特性。
圖6示出當(dāng)使用不同于本發(fā)明的任意測試模式進行自適應(yīng)均衡時，該自適應(yīng)均衡器的各個系數(shù)的學(xué)習(xí)過程。該任意測試模式是2T、2T、4T的游程模式。也就是說，使用[...0011000011001111...]模式。圖6的橫坐標(biāo)示出經(jīng)過的時間，并且縱坐標(biāo)示出該系數(shù)的數(shù)值。從圖6可以看出，自適應(yīng)均衡在時間20開始，但是該均衡特性不收斂到正常特性。
圖7示出當(dāng)使用圖1中所示的測試模式進行自適應(yīng)均衡電路時的學(xué)習(xí)過程。圖7的橫坐標(biāo)示出經(jīng)過的時間，并且縱坐標(biāo)示出該系數(shù)的數(shù)值。從圖7可以看出，自適應(yīng)均衡在時間20開始，然后順利地進行學(xué)習(xí)，以獲得目標(biāo)均衡特性。
下面將參照圖8至10中所示的流程圖總結(jié)測試模式記錄處理和再現(xiàn)調(diào)節(jié)處理的概況。圖8為示出圖1中所示的測試模式的記錄處理的流程圖。圖9為示出圖5中所示的測試模式的記錄處理的流程圖。圖10為示出用于根據(jù)圖8或9中所示的記錄處理所記錄的測試模式再現(xiàn)結(jié)果用于調(diào)節(jié)該再現(xiàn)電路的調(diào)節(jié)處理的流程圖。通過圖2中所示的記錄/再現(xiàn)裝置執(zhí)行測試模式記錄處理。并且，通過圖2中所示的記錄/再現(xiàn)裝置執(zhí)行該再現(xiàn)電路調(diào)節(jié)處理。
首先參照圖8描述圖1中所示的測試模式的記錄處理。如圖8中所示，第一至第L個子區(qū)被設(shè)置在該測試數(shù)據(jù)區(qū)域100a中(ST11)，并且設(shè)置n＝1(ST12)。該測試模式產(chǎn)生器105產(chǎn)生一個(d1，k1)游程長度受限碼序列(ST13)。該光讀取頭101在該測試數(shù)據(jù)區(qū)域100a的第一子區(qū)上記錄(d1，k1)游程長度受限碼序列(ST14)。該(d1，k1)游程長度受限碼序列例如是(5，7)游程長度受限碼序列。在此時，由于n＝1(即，n≠L(ST15否))，因此數(shù)值n被增加(ST16)。
也就是說，n＝2被設(shè)置，并且測試模式產(chǎn)生器105產(chǎn)生(d2，k2)游程長度受限碼序列(ST13)。該光讀取頭101在測試數(shù)據(jù)區(qū)域100a中的第二子區(qū)上記錄(d2，k2)游程長度受限碼序列(ST14)。該(d2，k2)游程長度受限碼序列例如是(4，7)游程長度受限碼序列。在此時，由于n＝2(即，n≠L(ST15，否))，數(shù)值n被增加(ST16)。
也就是說，n＝3被設(shè)置，并且測試模式產(chǎn)生器105產(chǎn)生(d3，k3)游程長度受限碼序列(ST13)。該光讀取頭101在測試數(shù)據(jù)區(qū)域100a中的第三子區(qū)上記錄(d3，k3)游程長度受限碼序列(ST14)。該(d3，k3)游程長度受限碼序列例如是(3，7)游程長度受限碼序列。在此時，由于n＝3(即，n≠L(ST15，否))，數(shù)值n被增加(ST16)。
也就是說，n＝4被設(shè)置，并且測試模式產(chǎn)生器105產(chǎn)生(d4，k4)游程長度受限碼序列(ST13)。該光讀取頭101在測試數(shù)據(jù)區(qū)域100a中的第四子區(qū)上記錄(d4，k4)游程長度受限碼序列(ST14)。該(d4，k4)游程長度受限碼序列例如是(2，7)游程長度受限碼序列。在此時，由于n＝4(即，n≠L(ST15，否))，數(shù)值n被增加(ST16)。
也就是說，n＝5被設(shè)置，并且測試模式產(chǎn)生器105產(chǎn)生(d5，k5)游程長度受限碼序列(ST13)。該光讀取頭101在測試數(shù)據(jù)區(qū)域100a中的第五子區(qū)上記錄(d5，k5)游程長度受限碼序列(ST14)。該(d5，k5)游程長度受限碼序列例如是(1，7)游程長度受限碼序列。在此時，n＝5。如果L＝5，由于在此時n＝L(ST15，是)，該測試圖案記錄處理結(jié)束。
利用上述測試圖案記錄處理，圖1中所示的測試圖案被記錄。
接著，首先參照圖9描述圖5中所示的測試圖案的記錄處理。如圖9中所示，第一至第L子區(qū)被設(shè)置在測試數(shù)據(jù)區(qū)域100a(ST21)，并且n＝1被設(shè)置(ST22)。該測試模式產(chǎn)生器105產(chǎn)生包括具有出現(xiàn)頻率P1的最小游程長度模式的游程長度受限碼序列(ST23)。該光讀取頭101在該測試數(shù)據(jù)區(qū)域100a中的第一子區(qū)上記錄具有出現(xiàn)頻率P1的包括最小游程長度模式游程長度受限碼序列(ST24)。在此時，由于n＝1(即，n≠L(ST25，否))，該數(shù)值n被增加(ST26)。
也就是說，n＝2被設(shè)置，該測試模式產(chǎn)生器105產(chǎn)生包括具有出現(xiàn)頻率P2的最小游程長度模式的游程長度受限碼序列(ST23)。該光讀取頭101在該測試數(shù)據(jù)區(qū)域100a中的第二子區(qū)上記錄具有出現(xiàn)頻率P2的包括最小游程長度模式游程長度受限碼序列(ST24)。在此時，由于n＝2(即，n≠L(ST25，否))，該數(shù)值n被增加(ST26)。
也就是說，n＝3被設(shè)置，該測試模式產(chǎn)生器105產(chǎn)生包括具有出現(xiàn)頻率P3的最小游程長度模式的游程長度受限碼序列(ST23)。該光讀取頭101在該測試數(shù)據(jù)區(qū)域100a中的第三子區(qū)上記錄具有出現(xiàn)頻率P3的包括最小游程長度模式游程長度受限碼序列(ST24)。在此時，由于n＝3(即，n≠L(ST25，否))，該數(shù)值n被增加(ST26)。
也就是說，n＝4被設(shè)置，該測試模式產(chǎn)生器105產(chǎn)生包括具有出現(xiàn)頻率P4的最小游程長度模式的游程長度受限碼序列(ST23)。該光讀取頭101在該測試數(shù)據(jù)區(qū)域100a中的第四子區(qū)上記錄具有出現(xiàn)頻率P4的包括最小游程長度模式游程長度受限碼序列(ST24)。在此時，由于n＝4(即，n≠L(ST25，否))，該數(shù)值n被增加(ST26)。
也就是說，n＝5被設(shè)置，并且該測試模式產(chǎn)生器105產(chǎn)生包括具有出現(xiàn)頻率P5的最小游程長度模式的游程長度受限碼序列(ST23)。該光讀取頭101在該測試數(shù)據(jù)區(qū)域100a中的第五子區(qū)上記錄具有出現(xiàn)頻率P5的包括最小游程長度模式游程長度受限碼序列(ST24)。在此時，由于n＝5(即，n＝L(ST25，是))，該測試圖案記錄處理結(jié)束。
利用上述測試圖案記錄處理，圖5中所示的測試圖案被記錄。
下面將參照圖10說明用于根據(jù)由圖8或9所記錄的測試圖案的再現(xiàn)結(jié)果調(diào)節(jié)該再現(xiàn)電路的調(diào)節(jié)處理。如圖10中所示，第一至第L子區(qū)被設(shè)置在測試數(shù)據(jù)區(qū)域100a(ST31)，并且n＝1被設(shè)置(ST32)。該光讀取頭101再現(xiàn)第一子區(qū)(ST33)。也就是說，通過圖8中所示的記錄處理所記錄的(5，7)游程長度受限碼序列被再現(xiàn)?；蛘甙ㄓ蓤D9中所示的記錄處理所記錄的具有出現(xiàn)頻率P1的最小游程長度模式的游程長度受限碼序列被再現(xiàn)。在此時，由于n＝1(即，n≠L(ST34，否))，該數(shù)值n被增加(ST35)。
也就是說，n＝2被設(shè)置，并且該光拾取頭101再現(xiàn)該第二子區(qū)(ST33)。也就是說，由圖8中所示的記錄處理所記錄的(4，7)游程長度受限碼序列被再現(xiàn)?；蛘甙ň哂杏蓤D9中所示的記錄處理所記錄的出現(xiàn)頻率P2的最小游程長度模式的游程長度受限碼序列被再現(xiàn)。在此時，由于n＝2(即，n≠L(ST34，否))，數(shù)值n被增加(ST35)。
也就是說，n＝3被設(shè)置，并且該光拾取頭101再現(xiàn)該第三子區(qū)(ST33)。也就是說，由圖8中所示的記錄處理所記錄的(3，7)游程長度受限碼序列被再現(xiàn)?；蛘甙ň哂杏蓤D9中所示的記錄處理所記錄的出現(xiàn)頻率P3的最小游程長度模式的游程長度受限碼序列被再現(xiàn)。在此時，由于n＝3(即，n≠L(ST34，否))，數(shù)值n被增加(ST35)。
也就是說，n＝4被設(shè)置，并且該光拾取頭101再現(xiàn)該第二子區(qū)(ST33)。也就是說，由圖8中所示的記錄處理所記錄的(2，7)游程長度受限碼序列被再現(xiàn)。或者包括具有由圖9中所示的記錄處理所記錄的出現(xiàn)頻率P4的最小游程長度模式的游程長度受限碼序列被再現(xiàn)。在此時，由于n＝4(即，n≠L(ST34，否))，數(shù)值n被增加(ST35)。
也就是說，n＝5被設(shè)置，并且該光拾取頭101再現(xiàn)該第二子區(qū)(ST33)。也就是說，由圖8中所示的記錄處理所記錄的(1，7)游程長度受限碼序列被再現(xiàn)?；蛘甙ň哂杏蓤D9中所示的記錄處理所記錄的出現(xiàn)頻率P5的最小游程長度模式的游程長度受限碼序列被再現(xiàn)。在此時，n＝5。如果L＝5，由于在此時n＝L(ST34，是)，測試模式再現(xiàn)處理結(jié)束。
從而，根據(jù)該再現(xiàn)結(jié)果調(diào)節(jié)再現(xiàn)性能(ST35)。也就是說，自適應(yīng)學(xué)習(xí)電路112調(diào)節(jié)自適應(yīng)均衡器109的均衡特性。
如上文所述，由于根據(jù)本發(fā)明的測試數(shù)據(jù)記錄模式被記錄在一個預(yù)定測試數(shù)據(jù)區(qū)域上，并且在再現(xiàn)該所記錄數(shù)據(jù)時，執(zhí)行測試數(shù)據(jù)區(qū)域，因此即使在高密度記錄模式中，也可以獲得穩(wěn)定的記錄控制數(shù)據(jù)調(diào)節(jié)和再現(xiàn)電路調(diào)節(jié)。該技術(shù)不但可以被類似地用于采用記錄膜的相變的光盤中，而且還用于磁光盤裝置或磁盤裝置中。并且，即使在記錄波形的調(diào)節(jié)中，由于記錄區(qū)域被定義為與游程長度相對應(yīng)，因此本發(fā)明的測試模式能夠容易地調(diào)節(jié)。
本發(fā)明的效果將在下文中描述。根據(jù)本發(fā)明，即使當(dāng)不獲得不獲得最佳均衡特性時，可以高精度地再現(xiàn)時鐘，并且通過使用這些時鐘進行自適應(yīng)學(xué)習(xí)，獲得最佳均衡特性。為此目的，該測試數(shù)據(jù)區(qū)域被分為多個M連續(xù)子區(qū)。該被分割的第一子區(qū)記錄一個(d1，k1)游程長度受限碼的測試模式。該被分割的第二子區(qū)記錄(d2，k2)游程長度受限碼的測試模式。類似地，該第L個(最后)子區(qū)記錄(dL，kL)游程長度受限碼的測試模式。對d1、d2、...、dL保持d1＞d2＞...＞dL的關(guān)系。另外，被記錄在最后子區(qū)上的該(dL，kL)游程長度受限碼的測試模式與用于實際記錄/再現(xiàn)的游程長度受限碼相同。
圖1或5中所示的游程長度受限碼被在該測試數(shù)據(jù)區(qū)域上記錄/再現(xiàn)，并且使用該再現(xiàn)信號進行該數(shù)據(jù)再現(xiàn)電路的自適應(yīng)學(xué)習(xí)。因此，可以無發(fā)散地進行自適應(yīng)學(xué)習(xí)。
本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員容易做出其他優(yōu)點和變型。因此，本發(fā)明在廣義上不限于該具體細(xì)節(jié)，并且代表實施例被示出和在此描述。相應(yīng)地，可以做出各種變型而不脫離由所附權(quán)利要求以及其等價表述所定義的精神和范圍。
權(quán)利要求
1.一種游程長度受限碼產(chǎn)生方法，其特征在于包括產(chǎn)生(ST13，ST23)多個不同代碼序列，其具有逐步變高的記錄密度，作為要被記錄在一個信息存儲介質(zhì)的測試數(shù)據(jù)區(qū)域上的多個連續(xù)子區(qū)中的多個不同代碼序列。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于進一步包括根據(jù)逐步減小相同代碼的最小游程長度的多個不同游程長度限制產(chǎn)生(ST13)多個不同游程長度代碼序列。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于進一步包括該游程長度受限碼產(chǎn)生方法是產(chǎn)生(d，k)游程長度受限碼序列的一種方法，該序列滿足相同代碼的最小游程長度為(d+1)并且相同代碼的最大游程長度為(k+1)的條件，以及該方法進一步包括在d1＞d2＞...＞dL的條件下，產(chǎn)生一個要被記錄在該信息存儲介質(zhì)的第一子區(qū)上的(d1，k1)游程長度受限碼序列；產(chǎn)生要被記錄在該信息存儲介質(zhì)的第二子區(qū)上的(d2，k2)游程長度受限碼序列；以及產(chǎn)生要被記錄在該信息存儲介質(zhì)的第L子區(qū)上的(dL，kL)游程長度受限碼序列。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于進一步包括在P1≤P2≤...≤PL和P1＜PL的條件下，產(chǎn)生(ST23)包括具有出現(xiàn)頻率P1的最小游程長度模式的游程長度受限碼序列、包括具有出現(xiàn)頻率P2的最小游程長度模式的游程長度受限碼序列、包括具有出現(xiàn)頻率PL的最小游程長度模式的游程長度受限碼序列。
5.一種游程長度受限碼記錄/再現(xiàn)裝置，用于產(chǎn)生、記錄和再現(xiàn)游程長度受限碼序列，其特征在于包括產(chǎn)生單元(105)，用于產(chǎn)生具有逐步變高的記錄密度的多個不同代碼序列；以及記錄單元(101、102、103)，用于在一個信息存儲介質(zhì)的測試數(shù)據(jù)區(qū)域中的多個連續(xù)子區(qū)上記錄由該產(chǎn)生單元所產(chǎn)生的多個不同代碼序列。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于該產(chǎn)生單元根據(jù)逐步減小相同代碼的最小游程長度的多個不同游程長度限制產(chǎn)生多個不同游程長度代碼序列。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于該游程長度受限碼產(chǎn)生單元是用于產(chǎn)生、記錄和再現(xiàn)(d，k)游程長度受限碼序列的一種裝置，該序列滿足相同代碼的最小游程長度為(d+1)并且相同代碼的最大游程長度為(k+1)的條件，以及在d1＞d2＞...＞dL的條件下，該產(chǎn)生單元產(chǎn)生(d1，k1)游程長度受限碼序列、(d2，k2)游程長度受限碼序列、以及(dL，kL)游程長度受限碼序列，以及該記錄單元把(d1，k1)游程長度受限碼序列記錄在該信息存儲介質(zhì)的第一子區(qū)上，把(d2，k2)游程長度受限碼序列記錄在該信息存儲介質(zhì)的第二子區(qū)上，以及把(dL，kL)游程長度受限碼序列記錄在該信息存儲介質(zhì)的第L子區(qū)上。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于在P1≤P2≤...≤PL和P1＜PL的條件下，該產(chǎn)生單元產(chǎn)生包括具有出現(xiàn)頻率P1的最小游程長度模式的第一游程長度受限碼序列、包括具有出現(xiàn)頻率P2的最小游程長度模式的第二游程長度受限碼序列、包括具有出現(xiàn)頻率PL的最小游程長度模式的第三游程長度受限碼序列，以及該記錄單元把該第一、第二和第三游程長度受限碼序列依次記錄在一個信息存儲介質(zhì)的測試數(shù)據(jù)區(qū)域中的多個連續(xù)子區(qū)上。
9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于進一步包括再現(xiàn)單元(101，107，108)，用于依次再現(xiàn)多個子區(qū)；以及調(diào)節(jié)單元(109，110，112)，用于根據(jù)多個子區(qū)的再現(xiàn)結(jié)果調(diào)節(jié)該再現(xiàn)單元的再現(xiàn)性能。
10.一種游程長度受限碼記錄/再現(xiàn)方法，用于產(chǎn)生、記錄和再現(xiàn)游程長度受限碼序列，其特征在于包括產(chǎn)生(ST13，ST23)多個不同代碼序列，其具有逐步變高的記錄密度；以及把多個所產(chǎn)生的不同代碼序列記錄在(ST14，ST24)一個信息存儲介質(zhì)的測試數(shù)據(jù)區(qū)域中的多個連續(xù)子區(qū)上。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法，其特征在于進一步包括根據(jù)逐步減小相同代碼的最小游程長度的多個不同游程長度限制產(chǎn)生(ST13)多個不同游程長度代碼序列。
12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法，其特征在于該游程長度受限碼產(chǎn)生方法是用于產(chǎn)生、記錄和再現(xiàn)(d，k)游程長度受限碼序列的一種方法，該序列滿足相同代碼的最小游程長度為(d+1)并且相同代碼的最大游程長度為(k+1)的條件，以及該方法進一步包括在d1＞d2＞...＞dL的條件下，產(chǎn)生(ST13)一個(d1，k1)游程長度受限碼序列、(d2，k2)游程長度受限碼序列、以及(dL，kL)游程長度受限碼序列，以及把(d1，k1)游程長度受限碼序列記錄在該信息存儲介質(zhì)的第一子區(qū)上，把(d2，k2)游程長度受限碼序列記錄在該信息存儲介質(zhì)的第二子區(qū)上，以及把(dL，kL)游程長度受限碼序列記錄在該信息存儲介質(zhì)的第L子區(qū)上。
13.根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法，其特征在于進一步包括在P1≤P2≤...≤PL和P1＜PL的條件下，產(chǎn)生(ST23)包括具有出現(xiàn)頻率P1的最小游程長度模式的游程長度受限碼序列、包括具有出現(xiàn)頻率P2的最小游程長度模式的游程長度受限碼序列、包括具有出現(xiàn)頻率PL的最小游程長度模式的游程長度受限碼序列，以及把該第一、第二和第三游程長度受限碼序列依次記錄在(ST24)一個信息存儲介質(zhì)的測試數(shù)據(jù)區(qū)域中的多個連續(xù)子區(qū)上。
14.根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法，其特征在于進一步包括再現(xiàn)(ST33)多個子區(qū)；以及根據(jù)多個子區(qū)的再現(xiàn)結(jié)果調(diào)節(jié)(ST36)再現(xiàn)性能。
全文摘要
根據(jù)本發(fā)明一個方面的游程長度受限碼記錄/再現(xiàn)裝置包括一個產(chǎn)生單元(105)，用于產(chǎn)生具有逐步變高的記錄密度的多個不同代碼序列；以及記錄單元(101、102、103)，用于在一個信息存儲介質(zhì)的測試數(shù)據(jù)區(qū)域中的多個連續(xù)子區(qū)上記錄由該產(chǎn)生單元所產(chǎn)生的多個不同代碼序列。
文檔編號G11B7/005GK1505028SQ03152419
公開日2004年6月16日 申請日期2003年7月30日 優(yōu)先權(quán)日2002年7月31日
發(fā)明者山川秀之, 小川昭人, 柏原裕, 人 申請人:株式會社東芝