專利名稱：光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度檢測(cè)保護(hù)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光盤驅(qū)動(dòng)器的光學(xué)讀寫(xiě)頭保護(hù)，特別涉及光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度檢測(cè)保護(hù)方法。
背景技術(shù)：
光學(xué)讀寫(xiě)頭(Optical Pick Up，OPU)上的發(fā)光二級(jí)管是作為讀寫(xiě)光盤片的光源。當(dāng)光盤驅(qū)動(dòng)器在工作時(shí)，會(huì)有控制電流流經(jīng)光學(xué)讀寫(xiě)頭上的致動(dòng)器(Actuator)，使致動(dòng)器上的線圈(Coil)產(chǎn)生磁力，因而可控制透鏡移動(dòng)以實(shí)現(xiàn)聚焦以及循軌的功能。
一般來(lái)說(shuō)，光盤驅(qū)動(dòng)器在操作時(shí)，流經(jīng)致動(dòng)器(Actuator)的控制電流的功率驅(qū)動(dòng)電路(Power Driver)是導(dǎo)致光盤驅(qū)動(dòng)器溫度升高的主要原因。當(dāng)光盤驅(qū)動(dòng)器主軸馬達(dá)(Spindle Motor)在高速運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)，功率驅(qū)動(dòng)電路必須提供較大的電流來(lái)驅(qū)動(dòng)主軸馬達(dá)，另一方面也必須提高伺服增益(Server Gain)以使流經(jīng)致動(dòng)器的控制電流增加。
即，當(dāng)光盤驅(qū)動(dòng)器主軸馬達(dá)以高速轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)，流經(jīng)功率驅(qū)動(dòng)電路和致動(dòng)器的電流都會(huì)增加。因此，致動(dòng)器上的線圈以及功率驅(qū)動(dòng)電路都會(huì)產(chǎn)生大量的熱，這會(huì)導(dǎo)致光盤驅(qū)動(dòng)器內(nèi)部的溫度不斷升高。當(dāng)光盤驅(qū)動(dòng)器長(zhǎng)時(shí)間讀/寫(xiě)數(shù)據(jù)后，由于光盤驅(qū)動(dòng)器內(nèi)部的溫度升高，可能導(dǎo)致發(fā)光二級(jí)管燒毀、或者光學(xué)讀寫(xiě)頭中透鏡的鍍膜破裂(Crack)、透鏡熔化、或者致動(dòng)器燒毀(Burn Out)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提出一種光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度檢測(cè)保護(hù)方法，用以防止光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度持續(xù)增加導(dǎo)致的光學(xué)讀寫(xiě)頭及其機(jī)構(gòu)的燒毀。
本發(fā)明提出一種光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度檢測(cè)保護(hù)方法，該方法包括下列步驟當(dāng)主軸馬達(dá)以第一轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)，持續(xù)監(jiān)視光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度；以及，當(dāng)光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度高于第一設(shè)定溫度時(shí)，控制主軸馬達(dá)以第二轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動(dòng)；其中，第二轉(zhuǎn)速小于第一轉(zhuǎn)速。
再者，本發(fā)明提出一種光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度檢測(cè)保護(hù)方法，該方法包括下列步驟當(dāng)光盤驅(qū)動(dòng)器的主軸馬達(dá)轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)，監(jiān)視光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度；以及，當(dāng)光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度升高到第一設(shè)定溫度時(shí)，降低主軸馬達(dá)的轉(zhuǎn)速。
再者，本發(fā)明提出一種光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度檢測(cè)保護(hù)方法，該方法包括下列步驟當(dāng)光盤驅(qū)動(dòng)器的主軸馬達(dá)轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)，監(jiān)視光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度；以及，當(dāng)光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度低于第三設(shè)定溫度時(shí)，降低主軸馬達(dá)之轉(zhuǎn)速。
參閱以下有關(guān)本發(fā)明的詳細(xì)說(shuō)明與附圖，可對(duì)本發(fā)明的特征和技術(shù)內(nèi)容有進(jìn)一步的了解。然而附圖僅供參考與說(shuō)明，并非用來(lái)對(duì)本發(fā)明加以限制。


圖1所示為本發(fā)明的光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度檢測(cè)保護(hù)方法的第一實(shí)施例。
圖2所示為本發(fā)明的光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度檢測(cè)保護(hù)方法的第二實(shí)施例。
以下為附圖中所使用的符號(hào)說(shuō)明10主軸馬達(dá)高速轉(zhuǎn)動(dòng) 20主軸馬達(dá)低速轉(zhuǎn)動(dòng)30關(guān)閉光盤驅(qū)動(dòng)器并返回失敗信息具體實(shí)施方式
通常，光盤驅(qū)動(dòng)器中的光學(xué)讀寫(xiě)頭中會(huì)嵌入一個(gè)熱敏電阻(Thermistor)。因此，本發(fā)明即利用此熱敏電阻所檢測(cè)的溫度來(lái)作為對(duì)光學(xué)讀寫(xiě)頭的過(guò)熱保護(hù)。參考圖1，該圖所示為本發(fā)明的光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度檢測(cè)保護(hù)方法的狀態(tài)圖(State Diagram)的第一實(shí)施例。
首先，先設(shè)定光盤驅(qū)動(dòng)器至少有三種狀態(tài)主軸馬達(dá)第一轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動(dòng)狀態(tài)10、主軸馬達(dá)第二轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動(dòng)狀態(tài)20、以及關(guān)閉光盤驅(qū)動(dòng)器并返回失敗信息狀態(tài)30。其中，第一轉(zhuǎn)速大于第二轉(zhuǎn)速，且第一轉(zhuǎn)速為光盤驅(qū)動(dòng)器正常讀寫(xiě)時(shí)的轉(zhuǎn)速。
當(dāng)光盤驅(qū)動(dòng)器處于主軸馬達(dá)第一轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動(dòng)狀態(tài)10時(shí)，表示主軸馬達(dá)正以高倍速(例如48或52倍速)轉(zhuǎn)動(dòng)，此時(shí)，檢測(cè)光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度(T)。當(dāng)光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度(T)高于第一設(shè)定溫度(Ts1)時(shí)，進(jìn)入主軸馬達(dá)第二轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動(dòng)狀態(tài)20，使得主軸馬達(dá)以較低轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動(dòng)(例如24或32倍速)。當(dāng)光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度(T)高于光學(xué)讀寫(xiě)頭的額定工作溫度(Trated)時(shí)，直接進(jìn)行關(guān)閉光盤驅(qū)動(dòng)器的操作并返回失敗信息狀態(tài)30。
當(dāng)光盤驅(qū)動(dòng)器處于主軸馬達(dá)第二轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動(dòng)狀態(tài)20時(shí)，表示主軸馬達(dá)正以低倍速(例如24或32倍速)轉(zhuǎn)動(dòng)，此時(shí)，檢測(cè)光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度(T)。當(dāng)光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度(T)低于第二設(shè)定溫度(Ts2)時(shí)，進(jìn)入主軸馬達(dá)第一轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動(dòng)狀態(tài)10，使得主軸馬達(dá)以較高轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動(dòng)(例如48或52倍速)。當(dāng)光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度(T)高于光學(xué)讀寫(xiě)頭的額定工作溫度(Trated)時(shí)，直接進(jìn)行關(guān)閉光盤驅(qū)動(dòng)器的操作并返回失敗信息狀態(tài)30。
根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，光學(xué)讀寫(xiě)頭的額定工作溫度(Trated)為60℃，第一設(shè)定溫度為55℃，而第二設(shè)定溫度為50℃。由于本發(fā)明持續(xù)監(jiān)視光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度，并且在光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度達(dá)到額定操作溫度前的第一設(shè)定溫度時(shí)，就先行降低光盤驅(qū)動(dòng)器主軸馬達(dá)的轉(zhuǎn)速。因此，致動(dòng)器的伺服增益可以降低，流經(jīng)線圈的控制電流減小，使得線圈產(chǎn)生的熱量減少。相應(yīng)地，功率驅(qū)動(dòng)電路輸出的電流必然也會(huì)減少，所以熱量的產(chǎn)生也可以有效地降低。
當(dāng)主軸馬達(dá)以低轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)，持續(xù)監(jiān)測(cè)光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度。當(dāng)光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度介于第一設(shè)定溫度和額定操作溫度之間時(shí)，仍以低轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動(dòng)(例如24或32倍速)。當(dāng)光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度低于第二設(shè)定溫度時(shí)，即可把光盤驅(qū)動(dòng)器的轉(zhuǎn)速提高到高倍速轉(zhuǎn)動(dòng)(例如48或52倍速)。當(dāng)光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度持續(xù)升高到達(dá)額定操作溫度時(shí)，關(guān)閉光盤驅(qū)動(dòng)器并返回失敗信息。這樣，可以有效地防止光學(xué)讀寫(xiě)頭溫度升高，并保護(hù)光學(xué)讀寫(xiě)頭。
參考圖2，該圖所示為本發(fā)明的光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度檢測(cè)保護(hù)方法的狀態(tài)圖(State Diagram)的第二實(shí)施例。通常，光學(xué)讀寫(xiě)頭的額定工作溫度也有一個(gè)下限溫度(Trated’)，因此，本發(fā)明也可適用于低溫的情況。
首先，先設(shè)定光盤驅(qū)動(dòng)器至少有三種狀態(tài)主軸馬達(dá)第一轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動(dòng)狀態(tài)10、主軸馬達(dá)第二轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動(dòng)狀態(tài)20、以及關(guān)閉光盤驅(qū)動(dòng)器并返回失敗信息狀態(tài)30。
當(dāng)光盤驅(qū)動(dòng)器處于主軸馬達(dá)第一轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動(dòng)狀態(tài)10時(shí)，表示主軸馬達(dá)正以高倍速(例如48或52倍速)轉(zhuǎn)動(dòng)，此時(shí)，檢測(cè)光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度(T)。當(dāng)光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度(T)低于第三設(shè)定溫度(Ts3)時(shí)，進(jìn)入主軸馬達(dá)第二轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動(dòng)狀態(tài)20，使得主軸馬達(dá)以較低轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動(dòng)(例如24或32倍速)。當(dāng)光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度(T)低于光學(xué)讀寫(xiě)頭額定工作溫度的下限溫度(Trated’)時(shí)，直接進(jìn)行關(guān)閉光盤驅(qū)動(dòng)器的操作并返回失敗信息狀態(tài)30。
當(dāng)光盤驅(qū)動(dòng)器處于主軸馬達(dá)第二轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動(dòng)狀態(tài)20時(shí)，表示主軸馬達(dá)正以低倍速(例如24或32倍速)轉(zhuǎn)動(dòng)，此時(shí)，檢測(cè)光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度(T)。當(dāng)光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度(T)高于第四設(shè)定溫度(Ts4)時(shí)，進(jìn)入主軸馬達(dá)第一轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動(dòng)狀態(tài)10，使得主軸馬達(dá)以較高轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動(dòng)(例如48或52倍速)。當(dāng)光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度(T)低于光學(xué)讀寫(xiě)頭的額定工作溫度的下限溫度(Trated’)時(shí)，直接進(jìn)行關(guān)閉光盤驅(qū)動(dòng)器的操作并返回失敗信息狀態(tài)30。
根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，光學(xué)讀寫(xiě)頭的額定工作溫度的下限溫度(Trated’)為5℃，第三設(shè)定溫度為10℃，而第四設(shè)定溫度為15℃。
再者，本發(fā)明的第一設(shè)定溫度(55℃)、第二設(shè)定溫度(50℃)、第三設(shè)定溫度(10℃)、與第四設(shè)定溫度(15℃)都是本發(fā)明的實(shí)施例。使用者可根據(jù)實(shí)際的狀況來(lái)設(shè)定溫度，本發(fā)明并未限定第一設(shè)定溫度、第二設(shè)定溫度、第三設(shè)定溫度與第四設(shè)定溫度。
因此，本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)是提出了一種光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度檢測(cè)保護(hù)方法，該方法利用熱敏電阻持續(xù)監(jiān)視光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度，并在光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度高于第一設(shè)定溫度時(shí)，降低功率驅(qū)動(dòng)電路的輸出電流并且降低控制致動(dòng)器的伺服增益，以使光盤驅(qū)動(dòng)器主軸馬達(dá)的轉(zhuǎn)速降低。再者，由于光盤驅(qū)動(dòng)器主軸馬達(dá)轉(zhuǎn)速已經(jīng)降低，因此可有效地降低光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度。再者，當(dāng)光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度低于第三設(shè)定溫度時(shí)，降低功率驅(qū)動(dòng)電路的輸出電流并且降低控制致動(dòng)器的伺服增益，用以防止光學(xué)讀寫(xiě)頭刻錄的品質(zhì)不佳。
本發(fā)明的另一優(yōu)點(diǎn)是提出了一種光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度檢測(cè)保護(hù)方法，其可有效地防止光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度持續(xù)增加或者持續(xù)降低而導(dǎo)致的光盤驅(qū)動(dòng)器無(wú)法順利操作。
綜上所述，以上所述僅為本發(fā)明的最優(yōu)實(shí)施例，本領(lǐng)域的技術(shù)人員在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下可對(duì)本發(fā)明做出各種更動(dòng)和修飾。本發(fā)明的保護(hù)范圍由所附權(quán)利有求書(shū)確定。
權(quán)利要求
1.一種光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度檢測(cè)保護(hù)方法，該方法包括下列步驟當(dāng)主軸馬達(dá)以第一轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)，持續(xù)監(jiān)視光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度；以及當(dāng)該光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度高于第一設(shè)定溫度時(shí)，控制該主軸馬達(dá)以第二轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動(dòng)；其中該第二轉(zhuǎn)速小于該第一轉(zhuǎn)速。
2.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度檢測(cè)保護(hù)方法，其中一個(gè)熱敏電阻用來(lái)監(jiān)視該光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度。
3.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度檢測(cè)保護(hù)方法，其中當(dāng)該光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度到達(dá)一個(gè)額定操作溫度時(shí)，關(guān)閉該主軸馬達(dá)。
4.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度檢測(cè)保護(hù)方法，其中還包括該主軸馬達(dá)以該第二轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)，當(dāng)該光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度低于第二設(shè)定溫度時(shí)，控制該主軸馬達(dá)以該第一轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動(dòng)。
5.如權(quán)利要求4所述的光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度檢測(cè)保護(hù)方法，其中該第一設(shè)定溫度高于該第二設(shè)定溫度。
6.一種光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度檢測(cè)保護(hù)方法，包括下列步驟當(dāng)光盤驅(qū)動(dòng)器的主軸馬達(dá)轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)，監(jiān)視光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度；以及當(dāng)該光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度升高到第一設(shè)定溫度時(shí)，降低該主軸馬達(dá)的轉(zhuǎn)速。
7.如權(quán)利要求6所述的光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度檢測(cè)保護(hù)方法，其中一個(gè)熱敏電阻用來(lái)監(jiān)視該光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度。
8.如權(quán)利要求6所述的光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度檢測(cè)保護(hù)方法，其中當(dāng)該光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度到達(dá)額定操作溫度時(shí)，關(guān)閉該光盤驅(qū)動(dòng)器。
9.如權(quán)利要求6所述的光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度檢測(cè)保護(hù)方法，其中還包括在該主軸馬達(dá)以低轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)，當(dāng)該光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度低于第二設(shè)定溫度時(shí)，提高該主軸馬達(dá)的轉(zhuǎn)速。
10.如權(quán)利要求9所述的光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度檢測(cè)保護(hù)方法，其中該第一設(shè)定溫度高于該第二設(shè)定溫度。
11.一種光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度檢測(cè)保護(hù)方法，包括下列步驟當(dāng)光盤驅(qū)動(dòng)器的主軸馬達(dá)轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)，監(jiān)視光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度；以及當(dāng)該光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度低于第三設(shè)定溫度時(shí)，降低該主軸馬達(dá)之轉(zhuǎn)速。
12.如權(quán)利要求11所述的光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度檢測(cè)保護(hù)方法，其中一個(gè)熱敏電阻用來(lái)監(jiān)視該光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度。
13.如權(quán)利要求11所述的光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度檢測(cè)保護(hù)方法，其中當(dāng)該光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度降低到額定操作溫度的下限溫度時(shí)，關(guān)閉該光盤驅(qū)動(dòng)器。
14.如權(quán)利要求11所述的光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度檢測(cè)保護(hù)方法，其中還包括在該主軸馬達(dá)以低轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)，當(dāng)該光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度高于第四設(shè)定溫度時(shí)，提高該主軸馬達(dá)的轉(zhuǎn)速。
15.如權(quán)利要求14所述的光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度檢測(cè)保護(hù)方法，其中該第三設(shè)定溫度低于該第四設(shè)定溫度。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度檢測(cè)保護(hù)方法，該方法利用熱敏電阻持續(xù)監(jiān)視光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度(T)，并在光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度(T)大于一個(gè)第一設(shè)定溫度時(shí)，通過(guò)降低光盤驅(qū)動(dòng)器主軸馬達(dá)的轉(zhuǎn)速，來(lái)降低光盤驅(qū)動(dòng)器的讀寫(xiě)或存取速度，因此，功率驅(qū)動(dòng)電路(Power Driver)的輸出電流與致動(dòng)器(Actuator)的伺服增益(Server Gain)都會(huì)降低，并有效地降低光學(xué)讀寫(xiě)頭的溫度(T)的目的。
文檔編號(hào)G11B33/14GK1584994SQ0315457
公開(kāi)日2005年2月23日 申請(qǐng)日期2003年8月19日 優(yōu)先權(quán)日2003年8月19日
發(fā)明者洪建豊, 張世宏, 魏道炎 申請(qǐng)人:建興電子科技股份有限公司