專利名稱：在光驅(qū)上檢測及控制質(zhì)量偏心盤片的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種質(zhì)量偏心盤片的檢測及控制方法，特別是指一種可提高檢測質(zhì)量偏心盤片的準確度，使質(zhì)量偏心片能夠被光驅(qū)正確讀取的、在光驅(qū)上檢測及控制質(zhì)量偏心盤片的方法。
背景技術(shù)：
一般使用者為了方便辨識光盤片的內(nèi)容，常會在光盤片的書寫面貼上卷標，導致被貼卷標的光盤片的質(zhì)量中心偏離圓心位置，而成為一質(zhì)量偏心盤片。然由于目前主流光驅(qū)(包含CD-ROM與DVD-ROM)的主軸馬達轉(zhuǎn)速都已突破10000RPM，以致質(zhì)量偏心盤片在高速旋轉(zhuǎn)下會產(chǎn)生過度振動，這不只會對光驅(qū)本身的伺服控制造成相當大的影響，而且會減短光驅(qū)機構(gòu)的壽命。此外，OEM廠商亦必須遵循對于讀取質(zhì)量偏心盤片時的噪音分貝量和振動值所訂下的規(guī)范，因此，如何判斷盤片是否為一質(zhì)量偏心盤片進而提早降低光驅(qū)的讀取速度(旋轉(zhuǎn)速度)以避免上述情形發(fā)生，即成為本技術(shù)領(lǐng)域在開發(fā)光驅(qū)系統(tǒng)必需考慮的重點之一。
以往檢測質(zhì)量偏心盤片的方式是利用質(zhì)量偏心盤片在旋轉(zhuǎn)時產(chǎn)生的軸向誤差(即focus error，簡稱FE)和徑向誤差(即tracking error，簡稱TE)較正常盤片來得大的關(guān)系，設(shè)定一FE與TE標準值與待測盤片的FE和TE比較，借此判定該待測盤片是否為質(zhì)量偏心片。但此一作法的缺點是當非質(zhì)量偏心盤片本身有刮傷、翹曲或非同心而產(chǎn)生較大TE和FE時，此一量化標準即可能導致誤判。此外，當使用的光驅(qū)本身的聚焦控制器及鎖軌控制器的強健度不足時，質(zhì)量偏心盤片將受到聚焦控制器及鎖軌控制器的影響使得產(chǎn)生的TE及FE較強健度佳的光驅(qū)所產(chǎn)生的TE及FE來得大，而容易發(fā)生誤判的情形。

發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的在于提供一種可準確檢測質(zhì)量偏心盤片并使光驅(qū)能夠正確讀取質(zhì)量偏心盤片的、在光驅(qū)上檢測及控制質(zhì)量偏心盤片的方法。
本發(fā)明在光驅(qū)上檢測及控制質(zhì)量偏心盤片的方法，包括(a)在升速過程中，若光驅(qū)的一期望速度大于一檢測速度時，先將一待測盤片升速至該檢測速度；(b)令該待測盤片離開鎖軌狀態(tài)；及(c)判斷該待測盤片是否為一質(zhì)量偏心片，若是且該期望速度大于該待測盤片的一最高工作速度，則令該待測盤片回到鎖軌狀態(tài)并升速至該最高工作速度，否則令該待測盤片回到鎖軌狀態(tài)并升速至該期望速度。借此，達到提高檢測質(zhì)量偏心盤片的準確度，使質(zhì)量偏心片能夠被光驅(qū)正確讀取的功效。

下面通過最佳實施例及附圖對本發(fā)明在光驅(qū)上檢測及控制質(zhì)量偏心盤片的方法進行詳細說明，附圖中圖1是一光驅(qū)的光學讀取頭上的光檢知器位于盤片上方時的相對位置示意圖。
圖2是本發(fā)明在光驅(qū)上檢測及控制質(zhì)量偏心盤片的方法的一實施例的流程圖。
圖3是本實施例的第二MPPO信號。
圖4是本實施例的第二SPPO信號。
圖5是本實施例的徑向晃動信號。
圖6是本實施例的缺陷檢測器的實施狀態(tài)示意圖。
圖7是本實施例的低通濾波器的實施狀態(tài)示意圖。
具體實施方式有關(guān)本發(fā)明的前述及其它技術(shù)內(nèi)容、特點與功效，在以下配合附圖的一實施例的詳細說明中，將可清楚地理解。
首先參閱圖1所示，是一光驅(qū)(圖未示)在讀取一盤片2時，其光學讀取頭(Pick-Up Head，以下簡稱PUH)上的光檢知器A～H的排列位置，當光檢知器A～D位在盤片2軌道的溝(pit)20上時，光檢知器E、F也會在同一溝(pit)上，而光檢知器G、H會位在該溝(pit)兩側(cè)的軌(land)21上，且光檢知器A、B、C、D檢知到的光信號合稱主光束(mean beam)，光檢知器E、F及G、H檢知到的光信號稱為次光束(sub beam)，又主光束推挽輸出(Mean beam push-pull output，以下簡稱MPPO)信號等于(A+D)-(B+C)，而次光束推挽輸出(Sub beampush-pull output，以下簡稱SPPO)信號等于(F+H)-(E+G)。
且在此要先定義三種速度(1)檢測速度為使光驅(qū)機構(gòu)共振現(xiàn)象最明顯的主軸馬達轉(zhuǎn)速。
(2)質(zhì)量偏心盤片的最高工作速度。
(3)期望速度為正常盤片的最高工作速度。
參閱圖2所示，是本發(fā)明在光驅(qū)上檢測暨控制質(zhì)量偏心盤片的方法的一實施例的流程圖。該方法可被以一計算機程序?qū)崿F(xiàn)并載置(以install或燒錄方式)于一光驅(qū)上執(zhí)行。該方法的步驟如下(A)開啟光驅(qū)，將待測盤片2置入光驅(qū)中并激活光驅(qū)的PUH，一開始，光驅(qū)會先升速至一校正速度(例如4倍速)，使其PUH對待測盤片2進行聚焦及鎖軌。此時，可從PUH上取得一第一MPPO信號及一第一SPPO信號并測量兩者的一比例值K，以及測量第一MPPO信號的一直流準位D。然后，光驅(qū)在完成聚焦及鎖軌后即進一步升速至一預備(ready)速度(例如8倍速)。
(B)接著，預設(shè)一檢測速度(例如24倍速)，并判斷待測盤片2的一期望速度(即盤片的最高工作速度)是否大于該檢測速度，若待測盤片2的期望速度(例如16倍速)小于該檢測速度時，則將該盤片2升速至該期望速度后，即結(jié)束檢測動作。否則(即待測盤片2的期望速度(例如52倍速)大于該檢測速度)進入下一檢測步驟。
(C)在開始檢測之前，本實施例會令光驅(qū)先將待測盤片2由預備速度(8倍速)升速至該檢測速度(24倍速)并使其PUH離開鎖軌狀態(tài)(即暫時停止鎖軌)。且如圖1、圖3及圖4所示，由于此時PUH并不會隨著待測盤片2上軌道的偏擺跟著移動，所以此時產(chǎn)生的一第二MPPO信號如圖3所示，其表示盤片上軌道推挽大小信號(在弦波10的波幅上產(chǎn)生的高頻信號11)和待測盤片2徑向晃動大小的電壓信號(即弦波10)的合成。而第二SPPO信號則如圖4所示，其與第二MPPO信號類似，只是電壓振幅大小值不同以及盤片徑向晃動大小的電壓信號(即弦波12)與MPPO信號反向。因此，可以將第二MPPO信號減去(比例值K乘以第二SPPO信號)以消除盤片軌道推挽大小信號，而得到如圖5所示待測盤片2的徑向晃動大小的電壓信號(即弦波10，以下簡稱徑向晃動信號)，且此一徑向晃動信號是在PUH聚焦但不鎖軌的狀態(tài)下所產(chǎn)生，其不易受到盤片本身刮傷、翹曲或非同心等缺陷因素所影響，因此以徑向晃動信號做為質(zhì)量偏心盤片的檢測較不易發(fā)生上述以往技術(shù)的誤判情形。
此外，為消除不同光盤片的反射光量(即徑向晃動信號的振幅)不相同的特性，在本實施例中，更可借由將該徑向晃動信號除以在前述步驟(A)中求得的第一MPPO信號的直流準位D(徑向晃動信號/D)，將不同光盤片所產(chǎn)生的徑向晃動信號予以正規(guī)化。如此，經(jīng)正規(guī)化后的徑向晃動信號的峰值(Vpp)將可忠實反應出待測盤片2在光驅(qū)中徑向晃動的情形。
(D)依據(jù)上述步驟(A)～(C)，本實施例可預先利用各種標準質(zhì)量偏心片(例如0.3gcm、0.5gcm、0.75gcm及1.0gcm偏心盤片)的參考峰值(Vref1、Vref2、Vref3及Vref4)決一定Vref(如0.5gcm)，而當待測盤片2的徑向晃動信號的峰值(Vpp)大于此Vref時即判定此一待測盤片2為一質(zhì)量偏心片。
因此，當待測盤片2判斷結(jié)果為一質(zhì)量偏心盤片時，光驅(qū)即不會將該待測盤片2升速至期望速度(52倍速)，且在本實施例中，是令待測盤片2回到鎖軌狀態(tài)后，將其轉(zhuǎn)速限制在質(zhì)量偏心盤片的一最高工作速度(例如32倍速)，使光驅(qū)在低轉(zhuǎn)速下可以正確地讀取質(zhì)量偏心盤片上的資料，并使質(zhì)量偏心盤片在低轉(zhuǎn)速下不致產(chǎn)生太大振動，進而降低對光驅(qū)的伺服控制系統(tǒng)的影響程度。
另外，當待測盤片2判斷結(jié)果并非一質(zhì)量偏心片時，即令待測盤片2回到鎖軌狀態(tài)，并升速至其期望速度(52倍速或光驅(qū)的最高轉(zhuǎn)速)。
此外，為使徑向晃動信號的Vpp值不受光盤片缺陷的影響(雖然突波對徑向晃動信號的影響不大)，如圖6所示，在本實施例中，更可利用一缺陷檢測器3來作缺陷的檢測。當徑向晃動信號通過缺陷檢測器3時，徑向晃動信號上由盤片缺陷造成的突波P將被缺陷檢測器3所檢測出并設(shè)定標記M。如此，在對徑向晃動信號進行峰值檢測時，可避免檢測出的峰值受到突波P的影響。
另外，如圖7所示，為消除徑向晃動信號上的突波P，本實施例也可先令該徑向晃動信號通過一低通濾波器4使濾除徑向晃動信號上的突波P后，再對徑向晃動信號進行峰值檢測。
綜上所述，本發(fā)明在光驅(qū)上檢測及控制質(zhì)量偏心盤片的方法，通過取得質(zhì)量偏心盤片的徑向晃動信號的峰值(Vpp)并與一(或多個)參考峰值(Vref)比較，除了可降低誤判的情況，提高檢測質(zhì)量偏心盤片的準確度，而且，借由檢測結(jié)果適時提升或降低盤片轉(zhuǎn)速，使光驅(qū)可在較低轉(zhuǎn)速下正確讀取質(zhì)量偏心盤片上的資料，讓質(zhì)量偏心盤片在低轉(zhuǎn)速下不致產(chǎn)生太大振動，進而降低對光驅(qū)的伺服控制系統(tǒng)的影響程度，并使光驅(qū)的PUH在讀取盤片時的噪音分貝量及機構(gòu)振動皆能符合既定的規(guī)范，使得光驅(qū)機構(gòu)的壽命也得以延長。
權(quán)利要求
1.一種在光驅(qū)上檢測及控制質(zhì)量偏心盤片的方法，其特征在于該方法包括下列步驟(a)在升速過程中，若光驅(qū)的一期望速度大于一預設(shè)的檢測速度時，先將一待測盤片升速至該檢測速度；(b)令該待測盤片離開鎖軌狀態(tài)；及(c)判斷該待測盤片是否為一質(zhì)量偏心片，若是且該期望速度大于該待測盤片的一最高工作速度，則令該待測盤片回到鎖軌狀態(tài)并升速至該最高工作速度，否則令該待測盤片回到鎖軌狀態(tài)并升速至該期望速度。
2.如權(quán)利要求1所述在光驅(qū)上檢測及控制質(zhì)量偏心盤片的方法，其特征在于步驟(c)還求得該待測盤片的一徑向晃動信號，并根據(jù)該徑向晃動信號判斷該待測盤片是否為一質(zhì)量偏心片。
3.如權(quán)利要求2所述在光驅(qū)上檢測及控制質(zhì)量偏心盤片的方法，其特征在于在步驟(b)中，該待測盤片在聚焦但不鎖軌狀態(tài)下產(chǎn)生一第二主要光束信號及一第二次要光束信號，且步驟(c)的徑向晃動信號是該第二主要光束信號與該第二次要光束信號進行數(shù)學運算而獲得。
4.如權(quán)利要求3所述在光驅(qū)上檢測及控制質(zhì)量偏心盤片的方法，其特征在于步驟(a)還包括步驟(a1)當該光驅(qū)升速至一較該期望速度及檢測速度低的校正速度，并對該待測盤片進行聚焦及鎖軌時，求得該待測盤片在聚焦及鎖軌狀態(tài)下產(chǎn)生的一第一主要光束信號及一第二次要光束信號的一比例值以及該第一主要光束信號的直流準位。
5.如權(quán)利要求4所述在光驅(qū)上檢測及控制質(zhì)量偏心盤片的方法，其特征在于步驟(c)的徑向晃動信號是該第二主要光束信號減去該比例值與該第二次要光束信號的乘積。
6.如權(quán)利要求4所述在光驅(qū)上檢測及控制質(zhì)量偏心盤片的方法，其特征在于步驟(c)還包括步驟(c1)在擷取該徑向晃動信號的峰值之前，先將該徑向晃動信號正規(guī)化。
7.如權(quán)利要求6所述在光驅(qū)上檢測及控制質(zhì)量偏心盤片的方法，其特征在于步驟(c1)的正規(guī)化動作是將該徑向晃動信號除以該主要光束信號的直流準位。
8.如權(quán)利要求4所述在光驅(qū)上檢測及控制質(zhì)量偏心盤片的方法，其特征在于步驟(a)還包括步驟(a2)當該光驅(qū)升速至一大于該校正速度但小于該檢測速度的預備速度時，若判斷該期望速度大于該檢測速度時，則將該待測盤片由該預備速度升速至該檢測速度，否則將該待測盤片由該預備速度升速至該期望速度，并結(jié)束檢測。
9.如權(quán)利要求2所述在光驅(qū)上檢測及控制質(zhì)量偏心盤片的方法，其特征在于步驟(c)還包括步驟(c2)利用一缺陷檢測器檢測該徑向晃動信號上由該待測盤片的缺陷產(chǎn)生的突波。
10.如權(quán)利要求2所述在光驅(qū)上檢測及控制質(zhì)量偏心盤片的方法，其特征在于步驟(c)還包括步驟(c2)利用一低通濾波器濾除該徑向晃動信號上由該待測盤片的缺陷產(chǎn)生的突波。
11.如權(quán)利要求2所述在光驅(qū)上檢測及控制質(zhì)量偏心盤片的方法，其特征在于在步驟(c)中，是通過取得該徑向晃動信號的峰值與一參考峰值比較以判斷該待測盤片是否為質(zhì)量偏心片。
12.如權(quán)利要求11所述在光驅(qū)上檢測及控制質(zhì)量偏心盤片的方法，其特征在于該參考峰值是一標準質(zhì)量偏心盤片的徑向晃動信號的峰值。
13.如權(quán)利要求1所述在光驅(qū)上檢測及控制質(zhì)量偏心盤片的方法，其特征在于該檢測速度為光驅(qū)共振現(xiàn)象最明顯時的主軸馬達轉(zhuǎn)速。
14.如權(quán)利要求1所述在光驅(qū)上檢測及控制質(zhì)量偏心盤片的方法，其中所述步驟可以一計算機程序?qū)崿F(xiàn)，且該計算機程序可被載置于一光驅(qū)中，用以檢測及控制質(zhì)量偏心盤片。
全文摘要
一種在光驅(qū)上檢測及控制質(zhì)量偏心盤片的方法，其在光驅(qū)升速過程中，判斷光驅(qū)的期望速度大于一檢測速度時，先將待測盤片升速至該檢測速度，然后令該待測盤片離開鎖軌狀態(tài)后，判斷該待測盤片是否為一質(zhì)量偏心片，若是且該期望速度大于該待測盤片的一最高工作速度，則令該待測盤片回到鎖軌狀態(tài)并升速至該最高工作速度，否則令該待測盤片回到鎖軌狀態(tài)并升速至該期望速度。從而使質(zhì)量偏心盤片能被光驅(qū)正常讀取并提高檢測質(zhì)量偏心盤片的準確度。
文檔編號G11B7/095GK1601638SQ0315983
公開日2005年3月30日 申請日期2003年9月26日 優(yōu)先權(quán)日2003年9月26日
發(fā)明者黃炳凱 申請人:微星科技股份有限公司