專利名稱：光學(xué)頭和光盤驅(qū)動裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光學(xué)頭和光盤驅(qū)動裝置，更具體地說，它涉及用于向放置在盤架上的盤形記錄介質(zhì)進(jìn)行記錄和從該盤形記錄介質(zhì)重放信息信號的光學(xué)頭，還涉及包括光學(xué)頭的光盤驅(qū)動裝置。
背景技術(shù)：
用于向盤形記錄介質(zhì)進(jìn)行記錄和從該盤形記錄介質(zhì)重放信息信號的光盤驅(qū)動裝置，它包括光學(xué)頭，其在放置在盤架上的光盤記錄介質(zhì)的徑向上移動并用激光束照射光盤記錄介質(zhì)。
光學(xué)頭具有預(yù)定的光學(xué)組成(光學(xué)元件和光學(xué)組件)等，配置于在光盤記錄介質(zhì)的徑向上移動的移動底座上。另一個光學(xué)頭具有帶有APC(自動功率控制)功能的前光電二極管(front photo diode)，用于控制從發(fā)光元件發(fā)射的激光束的量以便該量是不變的。
以下將描述配置在移動底座的各個光學(xué)組成和已知的具有APC功能的光學(xué)頭的激光束的光徑(見圖9)。
發(fā)光元件a被安裝在具有支架b的電路板(未示出)上，支架b稱為副支架，置于發(fā)光元件a和電路板之間。發(fā)光元件a屬于所謂的邊發(fā)光型(side light-emitting type)，它向旁邊發(fā)射激光束，從發(fā)光元件a發(fā)射的激光束被分裂為反射束和透射束，分別在上升鏡c上形成的半反射鏡d上反射和通過其被透射。
在半反射鏡d反射的激光束使其光徑彎曲90度并入射到準(zhǔn)直透鏡e上。
入射到準(zhǔn)直透鏡e上的激光束形成平行通量并入射到射束分裂器f上。入射到射束分裂器f上的激光束通過分裂表面g向物鏡h發(fā)送并通過物鏡h被會聚到光盤記錄介質(zhì)i的記錄表面。
光盤記錄介質(zhì)i的記錄表面上所會聚的激光束在記錄表面上反射，并作為反射束，又通過物鏡h入射到射束分裂器f上。通過分裂表面g，使入射到射束分裂器f上的反射束的光徑彎曲90度并入射到接收光學(xué)裝置j上。當(dāng)入射到接收光學(xué)裝置j上，反射束進(jìn)行光電轉(zhuǎn)化并作為電信號輸出；從而，例如，記錄在光盤記錄介質(zhì)i上的信息信號被重放。
同時，通過上升鏡c的半反射鏡d發(fā)送的激光束入射到聚光透鏡k上。入射到聚光透鏡k上的激光束被會聚并入射到前光電二極管1上，前光電二極管1作為用于控制從發(fā)光元件a發(fā)射的激光束的輸出的檢測部件被配置。入射到前光電二極管1上的激光束的量被檢測，并且，根據(jù)檢測量，控制發(fā)光元件a的輸出以便使從發(fā)光元件a發(fā)射的激光束的量為恒量。
然而，在上述已知的光盤驅(qū)動裝置中，前光電二極管1與剩余的光學(xué)組成單獨(dú)配置，因此使光盤驅(qū)動裝置的組件數(shù)增加，并且，在光學(xué)頭的移動底座中還需要用于前光電二極管1的單獨(dú)配置空間，因此導(dǎo)致光學(xué)頭和光盤驅(qū)動裝置的尺寸大。
而且，由于當(dāng)遠(yuǎn)離上升鏡c時，通過上升鏡c透射的激光束分散，需要聚光透鏡k來使該發(fā)散射束有效地入射到光電二極管1上，因此還增加了組件數(shù)并導(dǎo)致光學(xué)頭和光盤驅(qū)動裝置的尺寸變大。
其他與APC功能一起提供的光學(xué)頭具有如圖10所示的結(jié)構(gòu)，其中在上升鏡m上形成全反射鏡n，并且從發(fā)光元件a所發(fā)射的沒有照射到全反射鏡n的部分激光束，通過聚光透鏡k被會聚到前光電二極管1上以便控制從發(fā)光元件a所發(fā)射的激光束的量。
然而，即使當(dāng)全反射鏡n如上述被使用，因?yàn)榍肮怆姸O管1被與剩余的光學(xué)組成單獨(dú)配置并且還需要聚光透鏡k，光學(xué)頭和光盤驅(qū)動裝置的組件數(shù)增加而且它們的尺寸變大。
因此，根據(jù)本發(fā)明的光學(xué)頭和光盤驅(qū)動裝置的目的是解決上述問題，并減少其組件數(shù)和其尺寸。

發(fā)明內(nèi)容
為了解決上述問題，根據(jù)本發(fā)明的光學(xué)頭和光盤驅(qū)動裝置包括用于發(fā)射激光束的發(fā)光元件；包括主要部分的上升鏡，它具有與從發(fā)光元件所發(fā)射的激光束的光軸成預(yù)定角度的斜面，以及在斜面上形成的用于反射從發(fā)光元件向光盤記錄介質(zhì)發(fā)射的至少部分激光束的鏡面部分；接收光學(xué)裝置，用于接收在上升鏡反射的激光束，光盤記錄裝置隨后被該激光束照射，然后該激光束在光盤記錄介質(zhì)上被反射。上升鏡具有配置于其中的至少一個檢測部件，用于接收從發(fā)光元件發(fā)射的部分激光束，用于檢測所接收激光束的輸出，并用于輸出用于根據(jù)檢測結(jié)果控制發(fā)光元件的輸出的信號。
因此，根據(jù)本發(fā)明的光學(xué)頭和光盤驅(qū)動裝置具有上升鏡，附加提供用以控制發(fā)光元件的輸出的功能。


圖1是光盤驅(qū)動裝置的示意透視圖，與圖2和圖8一起說明了本發(fā)明的實(shí)施例。
圖2是說明配置在光盤驅(qū)動裝置中的光學(xué)組成的概念圖。
圖3是與圖4一起說明上升鏡的第一變更例的放大側(cè)視圖。
圖4是按圖3中箭頭X指示所見的視圖。
圖5是與圖6一起說明上升鏡的第二變更例的放大側(cè)視圖。
圖6是按圖5中箭頭Y指示所見的視圖。
圖7是說明具有主要部分和由互不相同的構(gòu)件組成的檢測部件的上升鏡的放大側(cè)視圖。
圖8是說明支架和上升鏡的主要部分被集成為一個組件的例示的放大側(cè)視圖。
圖9是說明配置在已知的光盤驅(qū)動裝置中的光學(xué)組成的概念圖。
圖10是說明配置在另一個已知的光盤裝置中的其他光學(xué)組成的概念圖。
實(shí)施本發(fā)明的最好方式根據(jù)本發(fā)明的光學(xué)頭和光盤驅(qū)動裝置的實(shí)施例將參考附圖進(jìn)行說明。
光盤驅(qū)動裝置1具有必需的構(gòu)件和配置在外殼2中的機(jī)械裝置(見圖1)，外殼2具有比其長度寬的光盤插槽(未示出)。
外殼2具有一個配置在其中的底盤(未示出)，而且該底盤具有一個固定在那里的主軸馬達(dá)3。主軸馬達(dá)3具有一個牢固地固定在其馬達(dá)軸上的盤架4。
底盤具有固定于其中的導(dǎo)軸5和6，它們相互平行，并具有支撐在那里的導(dǎo)螺桿(未示出)，它由一個進(jìn)給電動機(jī)來轉(zhuǎn)動(未示出)。
光學(xué)頭7具有移動底座8；配置在移動底座8中的必需的光學(xué)組成(光學(xué)元件和光學(xué)組件)；以及移動底座8中支撐的雙軸執(zhí)行器9，而且移動底座8具有在其兩端形成的軸承組件8a和8b，它們分別由導(dǎo)軸5和6可移動地支撐。當(dāng)移動底座8中的螺母零件(未示出)用導(dǎo)螺桿扭轉(zhuǎn)且導(dǎo)螺桿由進(jìn)給電動機(jī)轉(zhuǎn)動時，螺母零件根據(jù)導(dǎo)螺桿的轉(zhuǎn)動方向在一個方向上被推進(jìn)；因此，光學(xué)頭7在放置在盤架4上的光盤記錄介質(zhì)100的徑向上移動。
柔性印刷布線板10的一端被連接到移動底座8，而柔性印刷布線板10的另一端被連接到在外殼2上形成的驅(qū)動-控制電路板(未示出)。因此，提供給光學(xué)頭7的雙軸執(zhí)行器9、各個光學(xué)元件等的動力由電源提供，且通過柔性印刷布線板10處理各種信號。
移動底座8具有配置在其中的必需的光學(xué)組成(見圖2)。
光學(xué)組成包括發(fā)光元件11、上升鏡12、準(zhǔn)直透鏡13、射束分裂器14、雙軸執(zhí)行器9的物鏡9a以及接收光學(xué)裝置15，各個組成配置在適當(dāng)?shù)奈恢谩?br> 發(fā)光元件11被安裝在電路板(未示出)上，電路板具有稱為副支架的支架16。例如，向旁邊發(fā)射激光射束的邊發(fā)光型激光二極管被用作發(fā)光元件11。激光束在那里被反射時，為了防止從發(fā)光元件11發(fā)射的激光射束成為電路板的干擾，例如配置了支架16，以便使發(fā)光元件11遠(yuǎn)離電路板，此時發(fā)光元件11配置在高處。
上升鏡12具有主要部分17，主要部分17為三角柱形并具有在主要部分17的斜面17a上形成的作為鏡面部分的半反射鏡18。主要部分17的斜面17a被配置為與從發(fā)光元件11發(fā)射的激光束的光徑成一個角度，例如45度角。
主要部分17由例如硅(Si)的半導(dǎo)體材料組成。主要部分17具有以隱蔽方式配置在那里的光電二極管19，作為用于檢測發(fā)光元件11的輸出的檢測部件。光電二極管19形成例如一個圓形并被配置以便在主要部分17的斜面17a附近沿斜面17a擴(kuò)展。
光電二極管19由和主要部分17的材料相同的材料組成。如上所述，因?yàn)橹饕糠?7和光電二極管19由相同材料組成，因而能以低成本輕易地形成上升鏡12。
半反射鏡18在主要部分17的幾乎全部斜面17a上形成。因此，半反射鏡18被配置在上升鏡12的全部照射區(qū)上，用從發(fā)光元件11發(fā)射的激光束照射。配置在主要部分17中的光電二極管19被半反射鏡18完全覆蓋。
當(dāng)激光束從發(fā)光元件11被發(fā)射時，所發(fā)射的激光束被上升鏡12的半反射鏡18分裂為反射束和透射束。
在半反射鏡18反射的激光束使其光徑彎曲90度并入射到準(zhǔn)直透鏡13上。
入射到準(zhǔn)直透鏡13的激光束成為平行通量并入射到射束分裂器14上。入射到射束分裂器14上的激光束通過分裂表面14a向雙軸執(zhí)行器9的物鏡9a發(fā)送，且被物鏡9a會聚到放置在盤架4上的轉(zhuǎn)動光盤記錄介質(zhì)100的記錄表面上。
在光盤記錄介質(zhì)100的記錄表面上所會聚的激光束在記錄表面上被反射，并作為反射束，又通過物鏡9a入射到射束分裂器14上。入射到射束分裂器14上的反射束的光徑在分裂表面14a彎曲90度并入射到接收光學(xué)裝置15上。一旦入射到接收光學(xué)裝置15上，反射束經(jīng)過光電轉(zhuǎn)換并作為電信號輸出；因此，例如，記錄在光盤記錄介質(zhì)100的信息信號被重放。
同時，通過上升鏡12的半反射鏡18所透射的激光束入射到光電二極管19上，當(dāng)激光束入射到光電二極管19上時，其量被檢測，并且發(fā)光元件11的輸出被控制，以便根據(jù)檢測量使從發(fā)光元件11發(fā)射的激光束的量不變。
如上所述，在光盤驅(qū)動裝置1中，因?yàn)楣怆姸O管19作為檢測部件被配置在上升鏡12中，可減少光學(xué)頭7和光盤驅(qū)動裝置1的組件數(shù)，并且，因?yàn)椴恍枰糜谂渲霉怆姸O管19的單獨(dú)空間，可減少光學(xué)頭7和光盤驅(qū)動裝置1的尺寸。
而且，因?yàn)楣怆姸O管被配置在上升鏡12中，通過半反射鏡18發(fā)送的激光束有效地入射到光電二極管19上；而且，不需要用于會聚激光束的聚光透鏡，因此進(jìn)一步減少了光學(xué)頭7和光盤驅(qū)動裝置1的組件數(shù)和尺寸。
此外，因?yàn)榘敕瓷溏R18被配置在上升鏡12的全部照射區(qū)上，用從發(fā)光元件11發(fā)射的激光束照射，與通過半反射鏡18向光盤記錄介質(zhì)100發(fā)送的激光束通量部分相同的激光束通量部分入射到光電二極管19上，由此光電二極管19可提高發(fā)光元件11的輸出控制的精確性。
上升鏡的各個變更例如下所述(見圖3至8)。
首先，將描述作為第一變更例的上升鏡12A(見圖3和4)。
上升鏡12A具有主要部分17，主要部分17為三角柱形并具有作為鏡面部分的全反射鏡20，全反射鏡20在主要部分17的斜面17a上形成。
主要部分17具有作為以埋入方式配置的檢測部件的兩個光電二極管21。這兩個光電二極管21被構(gòu)成為例如矩形并配置為在縱向上相互隔開，并且在主要部分17的斜面17a附近沿斜面17a擴(kuò)展。這兩個光電二極管由與主要部分17的材料相同的材料組成。
全反射鏡20被形成為例如圓形，并被配置在斜面17a的中心(見圖4)。全反射鏡20被配置在上升鏡12的部分照射區(qū)P(見圖4)中，用從發(fā)光元件11發(fā)射的激光束照射。在主要部分17中構(gòu)成的兩個光電二極管21中的每個幾乎完全被配置在未配置全反射鏡20的照射區(qū)P的剩余部分中(見圖4)。
從發(fā)光元件11發(fā)射的部分激光束在上升鏡12A的全反射鏡20向光盤記錄介質(zhì)100反射。同時，從發(fā)光元件11發(fā)射的激光束的剩余部分，該部分沒有在全反射鏡20被反射，部分入射到兩個光電二極管21并且其量被檢測，而且，根據(jù)檢測量，發(fā)光元件11的輸出被控制以便使從發(fā)光元件11發(fā)射的激光束的量不變。
如上所述，在作為第一變更例的上升鏡12A中，因?yàn)樽鳛闄z測部件的兩個光電二極管21被配置在主要部分17中，可減少光學(xué)頭7和光盤驅(qū)動裝置1的組件數(shù)，并且，因?yàn)椴恍枰糜谂渲眠@兩個光電二極管21的單獨(dú)空間，可減少光學(xué)頭7和光盤驅(qū)動裝置1的尺寸。
并且，因?yàn)檫@兩個光電二極管21被配置在上升鏡12A中，入射到上升鏡12A上的激光束被有效地入射到這兩個光電二極管21上；并且，不需要用于會聚激光束的聚光透鏡，因此還減少了光學(xué)頭7和光盤驅(qū)動裝置1的組件數(shù)和尺寸。
此外，因?yàn)殓R面部分(全反射鏡20)和這兩個光電二極管可被做得更小，可減少光學(xué)頭7和光盤驅(qū)動裝置1的生產(chǎn)成本。
其次，將描述作為第二變更例的上升鏡12B(見圖5和6)。
上升鏡12B具有主要部分17，主要部分17為三角柱形并具有作為鏡面部分的全反射鏡22，它在主要部分17的斜面17a上形成。
主要部分17具有作為檢測部件的光電二極管23，以埋入的方式配置。光電二極管23被形成為例如圓形并被配置以便在主要部分17的斜面17a附近沿斜面17a擴(kuò)展。光電二極管23由與主要部分17的材料相同的材料組成。
全反射鏡22形成例如小于光電二極管23的圓形并被配置在斜面17a的中心(見圖6)。全反射鏡23被配置在上升鏡12B的部分照射區(qū)Q(見圖6)中，用從發(fā)光元件11發(fā)射的激光束照射。在主要部分17中形成的光電二極管23的外圍部分被配置在未配置全反射鏡22的剩余照射區(qū)Q的部分(見圖6)。
從發(fā)光元件11發(fā)射的部分激光束在上升鏡12B的全反射鏡22向光盤記錄介質(zhì)100反射。同時，從發(fā)光元件11發(fā)射的激光束的剩余部分，該部分沒有在全反射鏡22被反射，而是部分入射到光電二極管23且其量被檢測，并且，根據(jù)檢測量，發(fā)光元件11的輸出被控制以便使從發(fā)光元件11發(fā)射的激光束的量不變。
如上所述，在作為第二變更例的上升鏡12B中，因?yàn)樽鳛闄z測部件的光電二極管23配置在主要部分17中，可減少光學(xué)頭7和光盤驅(qū)動裝置1的組件數(shù)，并且，不需要用于配置光電二極管23的單獨(dú)空間，由此減少光學(xué)頭7和光盤驅(qū)動裝置1的尺寸。
而且，因?yàn)楣怆姸O管23配置在上升鏡12B中，入射到上升鏡12B的激光束有效地入射到光電二極管23上；并且，不需要用于會聚激光束的聚光透鏡，因此還減少了光學(xué)頭7和光盤驅(qū)動裝置1的組件數(shù)和尺寸。
此外，可將鏡面部分(全反射鏡20)和光電二極管23做得更小，由此可減少光學(xué)頭7和光盤驅(qū)動裝置1的生產(chǎn)成本。
前述上升鏡12A和12B的全反射鏡20與22和光電二極管21與23的形狀和尺寸，已經(jīng)通過例示的方式分別進(jìn)行了說明。全反射鏡和檢測部件的形狀和尺寸不限于上述這些，并且只要全反射鏡被配置在上升鏡的部分照射區(qū)的并且光電二極管也被配置在沒有配置全反射鏡的照射區(qū)的剩余部分，這些組件可具有任何形狀和尺寸。
雖然前述上升鏡12、12A和12B分別使光電二極管19、21和23通過例示的方式分別以埋入方式在主要部分17中形成，如圖7所示，上升鏡12C也可這樣形成，即，采用由例如玻璃材料等組成的主要部分17C，并且將具有以埋入方式置于其中的光電二極管24的平板半導(dǎo)體元件25連接到主要部分17C的斜面17a上。在這種情況下，半反射鏡18或全反射鏡20的一部分只是配置在半導(dǎo)體元件25上。
而且，如圖8所示，支架16D和上升鏡12D的主要部分17D可構(gòu)成一個組件，具有置于其間的連接部分26。在這種情況下，半反射鏡18或全反射鏡20的一部分只是在主要部分17D的斜面17a上形成。通過將支架16D、主要部分17D以及連接部分26集成為一個組件，可減少光學(xué)頭7和光盤驅(qū)動裝置1的組件數(shù)和生產(chǎn)成本。
前述實(shí)施例中所述的組件的任何具體形狀和結(jié)構(gòu)僅僅是用于實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的例示，并且這些例示不應(yīng)被解釋為限制本發(fā)明的技術(shù)范圍。
工業(yè)應(yīng)用如上述，根據(jù)本發(fā)明的光學(xué)頭(配置有在放置在盤架上的光盤記錄介質(zhì)的徑向上移動的移動底座和配置在移動底座中的預(yù)定光學(xué)元件和光學(xué)組件)包括發(fā)光元件，用于發(fā)射激光束；上升鏡，它包括主要部分，并具有與從發(fā)光元件發(fā)射的激光束的光軸成預(yù)定角度的斜面以及在斜面上形成的用于反射至少部分從發(fā)光元件向光盤記錄介質(zhì)發(fā)射的激光束的鏡面部分；接收光學(xué)裝置，用于接收在上升鏡反射的激光束，光盤記錄介質(zhì)隨后被該激光束照射，然后該激光束在光盤記錄介質(zhì)上被反射。上升鏡具有至少一個置于其中的檢測部件，用于接收從發(fā)光元件發(fā)射的部分激光束，用于檢測所接收激光束的輸出，并用于輸出用于根據(jù)檢測結(jié)果控制發(fā)光元件的輸出的信號。
因此，因?yàn)樯仙R具有置于其中的檢測部件，可減少光學(xué)頭的組件數(shù)，并且，因?yàn)椴恍枰糜谂渲脵z測部件的單獨(dú)空間，可減少光學(xué)頭的尺寸。
而且，因?yàn)樯仙R具有置于其中的檢測部件，入射到上升鏡的激光束有效地入射到檢測部件上，而且不需要用于會聚激光束的聚光透鏡，因此還減少了光學(xué)頭的組件數(shù)和尺寸。
而且，根據(jù)本發(fā)明，因?yàn)橛糜谑箯陌l(fā)光元件發(fā)射的部分激光束入射到主要部分的半反射鏡被用作鏡面部分；半反射鏡被配置在上升鏡的全部照射區(qū)上，用從發(fā)光元件發(fā)射的激光束照射；并且檢測部件被配置在上升鏡的主要部分中，與通過半反射鏡向光盤記錄介質(zhì)發(fā)送的激光束通量相同的激光束的通量部分入射到檢測部件上，由此檢測部件提高了發(fā)光元件的輸出控制的精確性。
此外，根據(jù)本發(fā)明，因?yàn)殓R面部分被配置在上升鏡的一部分照射區(qū)中，用從發(fā)光元件發(fā)射的激光束照射；而且檢測部件被配置在至少部分未設(shè)置鏡面部分的照射區(qū)的剩余部分中，可將鏡面部分和檢測部件做得更小，從而減少光學(xué)頭的生產(chǎn)成本。
而且，因?yàn)橹饕糠趾蜋z測部件由相同材料組成，所以能以低成本很容易地構(gòu)成上升鏡。
而且，因?yàn)榘l(fā)光元件被安裝在電路板上，有一個支架置于其間；配置了用于連接該支架和上升鏡的主要部分的連接部分；并且該支架、主要部分以及連接部分被集成為一個組件，因而可減少光學(xué)頭的組件數(shù)和生產(chǎn)成本。
根據(jù)本發(fā)明的光盤驅(qū)動裝置，包括盤架，用于支撐置于其上的光盤記錄介質(zhì)；光學(xué)頭，它配置有在放置在盤架上的光盤記錄介質(zhì)的徑向上移動的移動底座以及配置在移動底座中的光學(xué)元件和光學(xué)組件。光學(xué)頭包括發(fā)光元件，用于發(fā)射激光束；上升鏡，它包括主要部分，并具有與從發(fā)光元件發(fā)射的激光束的光軸成預(yù)定角度的斜面以及在該斜面上形成的用于反射至少部分從發(fā)光元件向光盤記錄介質(zhì)發(fā)射的激光束的鏡面部分；接收光學(xué)裝置，用于接收在上升鏡透射的激光束，光盤記錄介質(zhì)隨后被該激光束照射，然后激光束在光盤記錄介質(zhì)被反射。上升鏡具有至少一個置于其中的檢測部件，用于接收從發(fā)光元件發(fā)射的部分激光束，用于檢測所接收激光束的輸出，并用于輸出用于根據(jù)檢測結(jié)果控制發(fā)光元件的輸出的信號。
因此，由于上升鏡具有置于其中的檢測部件，可減少光學(xué)頭的組件數(shù)，并且，由于不需要用于配置檢測部件的單獨(dú)空間，可減少光盤驅(qū)動裝置的尺寸。
而且，因?yàn)樯仙R具有置于其中的檢測部件，入射到上升鏡的激光束有效地入射到檢測部件上，而且不需要用于會聚激光束的聚光透鏡，因此還減少了光盤驅(qū)動裝置的組件數(shù)和尺寸。
而且，因?yàn)橛糜谑箯陌l(fā)光元件發(fā)射的部分激光束入射到主要部分的半反射鏡被用作鏡面部分；半反射鏡被配置在上升鏡的全部照射區(qū)中，用從發(fā)光元件發(fā)射的激光束照射；而且檢測部件被配置在上升鏡的主要部分中，與通過半反射鏡向光盤記錄介質(zhì)發(fā)送的激光束通量相同的激光束通量入射到檢測部件上，由此檢測部件提高了發(fā)光元件的輸出控制的精確性。
此外，因?yàn)殓R面部分被配置在上升鏡的部分照射區(qū)中，用從發(fā)光元件發(fā)射的激光束照射；而且檢測部件被配置在至少部分未設(shè)置鏡面部分的照射區(qū)的剩余部分中，可將鏡面部分和檢測部件做得更小，從而減少光盤驅(qū)動裝置的生產(chǎn)成本。
而且，因?yàn)橹饕糠趾蜋z測部件由相同材料組成，所以能以低成本很容易地構(gòu)成上升鏡。
而且，因?yàn)榘l(fā)光元件被安裝在電路板上，具有置于其中的支架；配置了用于連接支架和上升鏡的主要部分的連接部分；而且該支架、主要部分以及連接部分被集成為一個組件，能減少光盤驅(qū)動裝置的組件數(shù)和生產(chǎn)成本。
權(quán)利要求
1.一種光學(xué)頭，配置有在放置在盤架上的光盤記錄介質(zhì)的徑向上移動的移動底座以及配置在所述移動底座中的預(yù)定光學(xué)元件和光學(xué)組件，它包括用于發(fā)射激光束的發(fā)光元件；包括主要部分的上升鏡，具有與從所述發(fā)光元件發(fā)射的激光束的光軸成預(yù)定角度的斜面，以及在所述斜面上形成的用于反射至少部分從所述發(fā)光元件向所述光盤記錄介質(zhì)發(fā)射的所述激光束的鏡面部分；以及接收光學(xué)裝置，用于接收在所述上升鏡反射的所述激光束，所述光盤記錄介質(zhì)隨后被所述激光束照射，然后所述激光束在所述光盤記錄介質(zhì)被反射，其中所述上升鏡具有至少一個置于其中用于接收從所述發(fā)光元件發(fā)射的部分所述激光束的檢測部件，用于檢測所述所接收激光束的輸出，并用于輸出用于根據(jù)所述檢測結(jié)果控制所述發(fā)光元件的輸出的信號。
2.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)頭，其特征在于，用于使從所述發(fā)光元件發(fā)射的部分激光束入射到所述主要部分的半反射鏡被用作所述鏡面部分；所述半反射鏡被配置在所述上升鏡的全部照射區(qū)上，用從所述發(fā)光元件發(fā)射的所述激光束照射；以及所述檢測部件被配置在所述上升鏡的所述主要部分中。
3.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)頭，其特征在于，所述鏡面部分被配置在所述上升鏡的部分照射區(qū)，用從所述發(fā)光元件發(fā)射的激光束照射；以及所述檢測部件被配置在至少部分未設(shè)置鏡面部分的所述照射區(qū)的剩余部分中。
4.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)頭，其特征在于所述主要部分和所述檢測部件由相同材料組成。
5.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)頭，其特征在于，所述發(fā)光元件被安裝在電路板上，它們之間配置有支架；配置了用于連接所述支架和所述上升鏡的所述主要部分的連接部分；以及所述支架、所述主要部分和所述連接部分被集成為一個組件。
6.一種光盤驅(qū)動裝置，包括盤架，用于支撐置于其上的光盤記錄介質(zhì)；光學(xué)頭，它配置有在放置在所述盤架上的所述光盤記錄介質(zhì)的徑向上移動的移動底座以及配置在所述移動底座中的預(yù)定光學(xué)元件和光學(xué)組件，所述光學(xué)頭包括用于發(fā)射激光束的發(fā)光元件；包括主要部分的上升鏡，具有與從所述發(fā)光元件發(fā)射的激光束的光軸成預(yù)定角度的斜面，以及在所述斜面上形成的用于反射至少部分從所述發(fā)光元件向所述光盤記錄介質(zhì)發(fā)射的所述激光束的鏡面部分；以及接收光學(xué)裝置，用于接收在所述上升鏡反射的所述激光束，所述光盤記錄介質(zhì)隨后被所述激光束照射，然后所述激光束在所述光盤記錄介質(zhì)被反射，其中所述上升鏡具有至少一個置于其中用于接收從所述發(fā)光元件發(fā)射的部分所述激光束的檢測部件，用于檢測所述所接收激光束的輸出，并用于輸出用于根據(jù)所述檢測結(jié)果控制所述發(fā)光元件的輸出的信號。
7.如權(quán)利要求6所述的光盤驅(qū)動裝置，其特征在于，用于使從所述發(fā)光元件發(fā)射的部分激光束入射到所述主要部分的半反射鏡被用作所述鏡面部分；所述半反射鏡被配置在所述上升鏡的全部照射區(qū)上，用從所述發(fā)光元件發(fā)射的所述激光束照射；以及所述檢測部件被配置在所述上升鏡的所述主要部分中。
8.如權(quán)利要求6所述的光盤驅(qū)動裝置，其特征在于，所述鏡面部分被配置在所述上升鏡的部分照射區(qū)，用從所述發(fā)光元件發(fā)射的激光束照射；以及所述檢測部件被配置在至少部分未設(shè)置鏡面部分的所述照射區(qū)的剩余部分中。
9.如權(quán)利要求6所述的光盤驅(qū)動裝置，其特征在于所述主要部分和所述檢測部件由相同材料組成。
10.如權(quán)利要求6所述的光盤驅(qū)動裝置，其特征在于，所述發(fā)光元件被安裝在電路板上，它們之間配置有支架；配置了用于連接所述支架和所述上升鏡的所述主要部分的連接部分；以及所述支架、所述主要部分和所述連接部分被集成為一個組件。
全文摘要
一種光學(xué)頭和一種光盤驅(qū)動裝置，各具有減少的組件數(shù)和減小的尺寸，配置有發(fā)光元件(11)；包括主要部分(17)的上升鏡(12)，它具有與從發(fā)光元件發(fā)射的激光束的光軸成預(yù)定角度的斜面(17a)和配置在該斜面上用于向光盤記錄介質(zhì)(100)反射至少部分激光束的半反射鏡(18)；接收光學(xué)裝置(15)，用于接收在光盤記錄介質(zhì)反射的激光束。另外，在上升鏡中配置了檢測部件(19)，用于接收部分從光發(fā)射裝置發(fā)射的激光束并用于檢測所接收激光束的輸出。
文檔編號G11B7/135GK1498402SQ0380013
公開日2004年5月19日 申請日期2003年1月30日 優(yōu)先權(quán)日2002年2月8日
發(fā)明者谷口正, 山內(nèi)凈 申請人:索尼公司