專利名稱：光盤驅動器、光存儲介質、光存儲介質檢驗裝置和方法
技術領域：
本發(fā)明涉及使用標記(mark)和間隔(space)來記錄信息的光存儲介質，用于記錄、讀取或者刪除光存儲介質上的數(shù)據(jù)的光盤驅動器，用于確定光存儲介質是良好還是有缺陷的光存儲介質檢驗裝置，以及用于確定光存儲介質是良好還是有缺陷的光存儲介質檢驗方法。
背景技術：
DVD(數(shù)字多媒體光盤)作為高密度、高容量存儲介質，實際被作為高密度、高容量存儲介質而研發(fā)，今天廣泛作為處理視頻和其它這樣的較大信息量的數(shù)據(jù)介質。研發(fā)能夠記錄到兩個數(shù)據(jù)記錄層的雙層光存儲介質的研發(fā)已經(jīng)被不同的制造商所報道，作為實現(xiàn)光存儲介質具有更大的存儲容量的手段。研發(fā)記錄以及讀取大量數(shù)據(jù)的裝置也在許多前沿上展開，并使用不同的方法來實現(xiàn)記錄密度的增加。這樣的一種方法有相變光盤驅動器，其使用晶體和無定形狀態(tài)之間的可逆相變。
日本專利公開出版物No.2000-200418說明了通過將光束發(fā)射到相變光存儲介質而記錄和讀取的技術。
圖20顯示了使用在光學記錄和重放系統(tǒng)的光學拾音頭中作為能夠讀寫數(shù)據(jù)的光盤驅動器的普通光學系統(tǒng)的結構。半導體激光1光源發(fā)射線性偏振發(fā)散光束70，振動波長λ1為405nm。從半導體激光1發(fā)射的發(fā)散光束70通過具有15mm的焦距的準直透鏡53轉換為平行光，然后入射到衍射光柵58上。入射到衍射光柵58上的發(fā)散光束70被分為三級光束，0、+/-1衍射光。0級衍射光是數(shù)據(jù)記錄和重放的主光束，+/-1級衍射光是兩個次光束70b和70c，在通過微分推挽(DPP)方法檢測跟蹤誤差(TE)信號時使用以穩(wěn)定檢測TE信號。零級光束和一個第一級光束之間的衍射光柵的衍射效率比通常從10∶1設置到20∶1以避免通過次光束70b和70c不必要的記錄，此處假設為20∶1。通過衍射光柵58所產(chǎn)生的三束光束，即主光束70b和次光束70b和70c，通過偏振光束分束器52、1/4波片54，并被轉換為圓偏振光，所述圓偏振光然后通過具有3mm焦距的物鏡56被轉換為會聚光束，并通過光存儲介質40的透明層40a聚焦在數(shù)據(jù)記錄層40b上。物鏡56的孔徑被孔徑55所限制到0.85數(shù)值孔徑(NA)。透明層40a的厚度為0.1mm。光存儲介質40具有數(shù)據(jù)記錄層40b和透明層40a。數(shù)據(jù)記錄層40b是半透明薄膜并且只有一部分入射光束通過。通過數(shù)據(jù)記錄層40b的光束用于讀取和寫數(shù)據(jù)到數(shù)據(jù)記錄層40c。
圖25顯示了根據(jù)現(xiàn)有技術的光存儲介質40的軌道結構。此光存儲介質40是在槽狀軌道(槽軌道1301)具有記錄區(qū)域的光存儲介質，槽軌道以連續(xù)螺旋形成。
圖21顯示了在數(shù)據(jù)記錄層40b上光束和軌道之間的關系。連續(xù)的槽作為軌道形成，并被識別為光存儲介質40的軌道Tn-1、Tn、Tn+1。軌道周期Tp為0.32μm。激光束被定位，這樣當主光束70a處于軌道上時，次光束70b和70c在軌道之間。即，在與軌道正交的方向上主光束和次光束之間的距離是0.16μm。對于DVD介質，數(shù)據(jù)使用8-16調制進行記錄，即，使用標記和間隔具有的長度是基于周期T的整數(shù)倍，最短的標記長度和最短的間隔長度是3T。最短的標記長度是0.185μm。
通過數(shù)據(jù)記錄層40b反射的主光束70a和次光束70b和70c通過物鏡56和1/4波片54，并相對入射路線轉變90度為線性偏振光，并通過偏振光束分束器52反射。通過偏振光束分束器52反射的主光束70a和次光束70b和70c在它們通過聚光透鏡59、通過柱面透鏡57并入射到光電探測器32時被轉換為會聚光。在它們通過柱面透鏡57時，象散差被加到主光束70a和次光束70b和70c中。
如圖22中所示，光電檢測器32具有八個接收器32a至32h，接收器32a-32d檢測主光束70a，接收器32e、32f檢測次光束70b，接收器32g、32h檢測次光束70c。接收器32a-32h分別根據(jù)所檢測到的光量輸出電流信號I32a至I32h。
來自象散差方法的聚焦誤差(FE)信號如下述獲得
(I32a+I32c)-(I32b+I32d)來自DPP方法的TE信號如下述獲得{(I32a+I32c)-(I32b+I32d)}-a*{(I32e-I32f)+(I32g-I32h)}，a是依賴于衍射光柵的衍射效率的系數(shù)，此處為10。
記錄到光存儲介質40的數(shù)據(jù)(RF)信號是I32a+I32b+I32c+I32d。
在放大到預定的電平和相位補償之后，F(xiàn)E信號以及TE信號被供給到啟動器91和92以用于聚焦和跟蹤控制。
RF信號的眼孔圖樣顯示在圖23中。記錄到光存儲介質40的數(shù)據(jù)通過將RF信號輸入到橫向濾波器并加重高頻帶，數(shù)字化所述信號，然后解調數(shù)字信號。由于8-16調制產(chǎn)生DC自由碼，通過對時間積分二進制信號的1s和0s并施加微分操作，二進制閾值SL可以很容易設置到眼的中心。
相變類型的光盤驅動器使用兩個功率電平將半導體激光發(fā)射到光存儲介質，峰值功率電平用于將記錄層從晶相轉變到非晶相，偏壓功率級用于將其從非晶相改變到晶相，由此在光存儲介質上形成非晶標記并在標記之間形成晶體間隔以記錄數(shù)字信息。這些標記和間隔的反射率由于標記和間隔的晶態(tài)之間的差異而不同，而且此反射率之間的差異在重放的過程中被使用以讀取所述記錄的信號。
圖24顯示了根據(jù)現(xiàn)有技術的相變類型光盤驅動器的結構。如圖24中所示，此光盤驅動器具有光學拾音頭1202，用于將激光束發(fā)射到光存儲介質40并接收來自光存儲介質40的反射光；重放裝置1203；重放信號質量檢測器1204；最佳記錄功率確定裝置1205；記錄裝置1208；激光驅動電路1207；以及記錄功率確定裝置1206。
在光存儲介質40被加載到光盤驅動器，并且用于識別介質類型以及旋轉控制的特定操作完成之后，光學拾音頭1202移動到用于設置最佳記錄功率的區(qū)域。此區(qū)域是在用戶數(shù)據(jù)被記錄的用戶區(qū)域的盤外部的內周或者外周上的預定區(qū)域。所述峰值、偏壓和底部功率電平對于相變介質進行確定，但是此處描述一種用于確定峰值功率的方法。
初始峰壓和偏壓電平通過記錄功率確定裝置1206被設置在激光驅動電路1207中。記錄裝置1208然后發(fā)出信號，用于將一個槽軌道記錄到激光驅動電路1207，所述信號通過光學拾音頭1202記錄。光學拾音頭1202的半導體激光部分的輸出光束此時聚焦為光存儲介質40上的光電，以根據(jù)光束發(fā)射波形來形成記錄標記。當記錄完成時，光學拾音頭1202的半導體激光在讀功率電平發(fā)射以重放剛被記錄的軌道，根據(jù)光存儲介質40上的這些記錄標記的存在而變化的信號1209被作為重放信號輸入到重放裝置1203中。包括放大、均衡和數(shù)字化的重放信號過程然后通過重放裝置1203施加到此重放信號1209，結果的信號1210被輸入到重放信號質量檢測器1204。
重放信號質量檢測器1204檢測信號1210的信號質量，所述結果然后被輸入到最佳記錄功率確定裝置1205。
在此示例中，當被記錄的信號被再現(xiàn)時重放信號質量檢測器1204檢測抖動。圖26顯示了峰值功率和抖動之間的關系。峰值功率顯示在水平軸上，抖動顯示在圖26的垂直軸上。如果重放條件是相等的，較低的抖動水平指示準確的記錄。如果抖動小于或者等于所設定的閾值時，檢測結果、即信號質量由此確定OK，如果超過上述此閾值就是不好(NG)。
最佳記錄功率確定裝置1205根據(jù)圖27中所示的流程圖操作。
(a)如果重放信號質量檢測器1204的第一結果是NG，峰值功率被重設到比初始設置(步驟1505)更高的水平。
(b)如果重放信號質量檢測器1204的結果是OK，峰值功率被重設到低于初始設置的水平(步驟1504)。
(c)槽軌道再次在設定的峰值功率電平記錄，然后讀取(步驟1506)。
(d)如果來自重放信號質量檢測器1204的第一結果是NG并且第二結果是OK，最佳記錄功率確定裝置1205將最佳記錄功率設置到電流峰值設置和預先峰值功率設置加上特定的余量的平均值(步驟1511)。
(e)如果來自重放信號質量檢測器1204的第一結果是OK并且第二結果是NG，最佳記錄功率確定裝置1205將最佳記錄功率設置到電流峰值設置和預先峰值功率設置加上特定的余量的平均值(步驟1511)。
但是，使用上述傳統(tǒng)的結果，從數(shù)據(jù)記錄層40b和40c所獲得的信號之間的13pp/14pp比率是15％和20％，抖動分別是10％和8％，在各種情況下從數(shù)據(jù)記錄層40b讀取的信號的特征比從數(shù)據(jù)記錄層40c讀取的信號的特征要差。這意味著所記錄的數(shù)據(jù)不能被高可靠地讀取，除非記錄到數(shù)據(jù)記錄層40b的數(shù)據(jù)的記錄密度低于記錄到數(shù)據(jù)記錄層40c的數(shù)據(jù)記錄密度。
此外，用于確定最佳發(fā)射功率的區(qū)域通常與記錄用戶數(shù)據(jù)的用戶區(qū)域不同。結果，光存儲介質的變形和拾音頭的安裝變化可能導致這兩個區(qū)域之間的相對傾斜，用戶數(shù)據(jù)可能以比用于確定最佳記錄功率的區(qū)域中所確定發(fā)射能量更低的有效功率電平記錄。相反，用戶數(shù)據(jù)可以以比用于確定最佳記錄功率的區(qū)域中所確定發(fā)射能量更高的有效功率電平記錄。上述現(xiàn)有技術基于在記錄隨機信號之后所檢測到的抖動而確定最佳功率電平，但是由于最短標記的信號質量在抖動上具有最大的效果，這實際上確定了最短標記用最佳功率電平。盡管數(shù)據(jù)因此可以被正確用最短標記來記錄，即使在記錄能量有一些波動的情況下，能量波動的效果對于比最短的標記更長的標記不能忽略，如果記錄密度增加的話，并且所記錄的信號質量可能惡化。
此外，如果光存儲介質和所述頭之間相對傾斜或者在重放的過程中散焦，重放信號質量對從比最短標記更長的標記所讀取的信號而言下降，并且其不可能正確再現(xiàn)所述數(shù)據(jù)。
本發(fā)明是為了解決現(xiàn)有光盤驅動器中的這些問題而提出的，本發(fā)明的第一目標是提供一種光存儲介質和光盤驅動器，即使在所述數(shù)據(jù)記錄密度與兩個數(shù)據(jù)記錄層相同時，其也能夠高可靠地記錄和再現(xiàn)數(shù)據(jù)。
本發(fā)明的第二目標是提供一種光存儲介質和光盤驅動器，其可以高可靠地記錄或者再現(xiàn)數(shù)據(jù)，即使使用其中從最短標記和間隔的抖動比長于最短標記和間隔的標記和間隔的抖動更差的情況下使用光存儲介質。
本發(fā)明的第三目標是提供一種光存儲介質和光盤驅動器，即使在記錄或者重放的過程中在散焦或者光學拾音頭和光存儲介質之間相對傾斜，其也可以正確記錄或者再現(xiàn)。

發(fā)明內容
根據(jù)本發(fā)明的光存儲介質檢測裝置包括光學拾音頭，其將光束發(fā)射到光存儲介質上，檢測從光存儲介質反射的光束，并基于所接收到的反射光輸出信號；用于測量從光學拾音頭中輸出的信號中的抖動的抖動測量單元；以及用于從所測量的抖動確定光存儲介質是良好的或者有缺陷的評價單元；其中抖動測量單元測量從光存儲介質的3T或者更長的標記或者間隔的序列中的抖動，數(shù)字信息作為基于周期T和二或者更大的整數(shù)k的長度kT的標記或者間隔來記錄到光存儲介質上。上述目標由此實現(xiàn)。
根據(jù)本發(fā)明的另外的光存儲介質檢測裝置包括光學拾音頭，其將光束發(fā)射到光存儲介質上，檢測從光存儲介質反射的光束，并基于所接收到的反射光輸出信號；用于測量從光學拾音頭中輸出的信號中的抖動的抖動測量單元；以及用于從所測量確定光存儲介質是良好的或者有缺陷的抖動的評價單元；其中抖動測量單元從光存儲介質測量抖動，數(shù)字信息作為基于周期T和二或者更大的整數(shù)k的長度kT的標記或者間隔來記錄到光存儲介質上，但是不測量從長度2T的標記或者間隔的邊緣所獲得的信號中的抖動。上述目標由此實現(xiàn)。
上述光盤驅動器優(yōu)選測量來自光存儲介質的抖動，在所述光存儲介質上寬度為2T長的標記比標記寬度長于2T的要窄。
此外優(yōu)選地，I2pp/I8pp＜0.2，I2pp是從記錄2T長的數(shù)字數(shù)據(jù)標記和間隔的重復圖樣所再現(xiàn)的信號，I8pp是從重復記錄的8T長數(shù)字數(shù)據(jù)標記和間隔的圖樣所再現(xiàn)的信號。
但是另外優(yōu)選地，ML＜λ/(1.25*NA)，ML是一對長度2T的數(shù)字數(shù)據(jù)標記和間隔的長度，λ是從光學拾音頭所發(fā)射的光束的波長，NA是光學拾音頭的會聚光學器件的數(shù)值孔徑。
抖動測量單元可以測量具有從通過部分入射到其上的光的半透明薄膜所形成的第一記錄層和第二記錄層的光存儲介質。當部分光通過第一記錄層達到第二記錄層時，抖動測量單元測量從第二記錄層所獲得的信號中的抖動。
進一步優(yōu)選地，提供當光存儲介質的反射率變化時用于減小輸入到解調裝置中的振幅的變化的增益調整裝置。
根據(jù)本發(fā)明的光存儲介質檢測方法是用于確定光存儲介質是好的或者有缺陷的方法，所述方法包括步驟將光束從光學拾音頭發(fā)射到光存儲介質上，數(shù)字信息作為基于周期T和整數(shù)k的長度kT的一系列標記和間隔記錄在所述光存儲介質上；接收通過標記或者間隔所反射的光；基于所反射的光測量信號中的抖動，但是不測量通過最短標記或者間隔的邊緣所獲得信號中的抖動；以及從所測量的抖動中確定光存儲介質的好壞。上述目標由此實現(xiàn)。
優(yōu)選地，最短長度的標記和間隔是長度2T的標記或者間隔，除了從長度2T的數(shù)字數(shù)據(jù)標記或者間隔的邊緣所獲得的信號中的抖動外，抖動被測量。
根據(jù)本發(fā)明的另外的光盤驅動器包括光學拾音頭，其將光束發(fā)射到光存儲介質上，檢測從光存儲介質反射的光束，并基于所接收到的反射光輸出信號；以及解調裝置，所述解調裝置接收從光學拾音頭輸出的信號，并使用最大可能性的解碼再現(xiàn)記錄到光存儲介質的信息。光存儲介質具有用于記錄數(shù)據(jù)的光存儲介質?；谥芷赥的長度kT的數(shù)字數(shù)據(jù)作為標記或者間隔的序列被記錄到記錄層，k是2或者更大的整數(shù)，2T長數(shù)字數(shù)據(jù)標記的寬度比長于2T的數(shù)字數(shù)據(jù)的寬度要窄。由此實現(xiàn)上述目標。
根據(jù)本發(fā)明的另外的光盤驅動器包括光學拾音頭，其將光束發(fā)射到光存儲介質上，檢測從光存儲介質反射的光束，并基于所接收到的反射光輸出信號；以及解調裝置，所述解調裝置接收從光學拾音頭輸出的信號，并使用兩個閾值再現(xiàn)記錄到光存儲介質的信息。光存儲介質具有第一記錄層和第二記錄層。第一記錄層是使部分入射到其上的光通過的半透明層，所述通過第一記錄層的光達到第二記錄層，基于周期T的長度kT的數(shù)字數(shù)據(jù)作為標記或者間隔的序列被記錄到記錄層，k是2或者更大的整數(shù)。由此實現(xiàn)上述目標。
根據(jù)本發(fā)明的另外的光盤驅動器包括光盤驅動器，其具有光學拾音頭，其將光束發(fā)射到光存儲介質上，檢測從光存儲介質反射的光束，并基于所接收到的反射光輸出信號；以及解調裝置，所述解調裝置接收從光學拾音頭輸出的信號，并使用最大可能性的解碼再現(xiàn)記錄到光存儲介質的信息。光存儲介質具有第一記錄層和第二記錄層。第一記錄層是使部分入射到其上的光通過的半透明層，所述通過第一記錄層的光達到第二記錄層，基于周期T的長度kT的數(shù)字數(shù)據(jù)作為標記或者間隔的序列被記錄到記錄層，k是2或者更大的整數(shù)。由此實現(xiàn)上述目標。
根據(jù)本發(fā)明的另外的光盤驅動器包括光學拾音頭，其將光束發(fā)射到光存儲介質上，檢測從光存儲介質反射的光束，并基于所接收到的反射光輸出信號；用于接收從光學拾音頭輸出信號并提取記錄到光存儲介質的數(shù)字信息的時鐘產(chǎn)生裝置；以及再現(xiàn)記錄到光存儲介質上的數(shù)據(jù)的解調裝置。光存儲介質具有第一記錄層和第二記錄層。第一記錄層是使部分入射到其上的光通過的半透明層，所述通過第一記錄層的光達到第二記錄層，基于周期T的長度kT的數(shù)字數(shù)據(jù)作為標記或者間隔的序列被記錄到記錄層，k是2或者更大的整數(shù)。時鐘產(chǎn)生裝置通過將從2T數(shù)字數(shù)據(jù)標記或者間隔所獲得信號作為無效信號而產(chǎn)生時鐘信號。上述目標由此實現(xiàn)。
根據(jù)本發(fā)明的另外的光盤驅動器包括光學拾音頭，其將光束發(fā)射到光存儲介質上，檢測從光存儲介質反射的光束，并基于所接收到的反射光輸出信號；用于接收從光學拾音頭輸出信號并提起記錄到光存儲介質的數(shù)字信息的時鐘產(chǎn)生裝置；再現(xiàn)記錄到光存儲介質上的數(shù)據(jù)的解調裝置。光存儲介質具有記錄層。基于周期T的長度kT的數(shù)字數(shù)據(jù)作為標記或者間隔的序列被記錄到記錄層，k是2或者更大的整數(shù)，2T數(shù)字數(shù)據(jù)標記寬度比長于2T的數(shù)字數(shù)據(jù)標記的寬度要窄。時鐘產(chǎn)生裝置通過將從2T數(shù)字數(shù)據(jù)標記或者間隔所獲得信號作為無效信號而產(chǎn)生時鐘信號。上述目標由此實現(xiàn)。
但是根據(jù)本發(fā)明的另外的光盤驅動器包括光學拾音頭，其將光束發(fā)射到光存儲介質上，檢測從光存儲介質反射的光束，并基于所接收到的反射光輸出信號；用于接收從光學拾音頭輸出信號并分離記錄到光存儲介質的數(shù)字信息的時鐘產(chǎn)生裝置；再現(xiàn)記錄到光存儲介質上的數(shù)據(jù)的解調裝置；以及用于跟蹤控制的TE信號產(chǎn)生裝置。光存儲介質具有記錄層?；谥芷赥的長度kT的數(shù)字數(shù)據(jù)作為標記或者間隔的序列被記錄到記錄層，k是2或者更大的整數(shù)。跟蹤誤差信號產(chǎn)生裝置在當光束撞擊記錄到光存儲介質上的標記或者間隔的邊緣時產(chǎn)生的信號中的變化而產(chǎn)生跟蹤誤差信號，并通過使得從2T長數(shù)字數(shù)據(jù)標記或者間隔上的光束所導致的信號變化無效而產(chǎn)生跟蹤誤差信號。
在上述光盤驅動器中，記錄層優(yōu)選地能夠重復記錄和消除信息。
此外，記錄層可以只記錄數(shù)據(jù)一次。
此外，記錄層可以是只讀的。
此外，第一記錄層可以是只讀的，第二記錄層可以使得只記錄數(shù)據(jù)一次。
此外，第一記錄層可以是只讀的，第二記錄層可以使得記錄和擦除數(shù)據(jù)進行多次。
根據(jù)本發(fā)明的另外的光盤驅動器包括光學拾音頭，其將光束發(fā)射到光存儲介質上，檢測從光存儲介質反射的光束，并基于所接收到的反射光輸出信號；用于接收從光學拾音頭輸出信號并再現(xiàn)記錄到光存儲介質的數(shù)字信息的解調裝置。光存儲介質具有用于記錄數(shù)據(jù)用的記錄層?；谥芷赥的長度kT的數(shù)字數(shù)據(jù)作為標記或者間隔的序列被記錄到記錄層，k是2或者更大的整數(shù)，2T數(shù)字數(shù)據(jù)標記寬度比長于2T的數(shù)字數(shù)據(jù)標記的寬度要窄。光盤驅動器調整2T長度數(shù)字數(shù)據(jù)標記，這樣從反復記錄2T長數(shù)字數(shù)據(jù)標記和間隔的圖樣所檢測的長度達到作為適于再現(xiàn)重復記錄3T或者更長的數(shù)字數(shù)據(jù)標記和間隔的圖樣中的信息的閾值。上述目標由此實現(xiàn)。
根據(jù)本發(fā)明的另外的光盤驅動器包括光學拾音頭，其將光束發(fā)射到光存儲介質上，檢測從光存儲介質反射的光束，并基于所接收到的反射光輸出信號；用于接收從光學拾音頭輸出信號并再現(xiàn)記錄到光存儲介質的數(shù)字信息的解調裝置。光存儲介質具有用于記錄數(shù)據(jù)用的記錄層?；谥芷赥的長度kT的數(shù)字數(shù)據(jù)作為標記或者間隔的序列被記錄到記錄層，k是2或者更大的整數(shù)。光盤驅動器具有評價標準，這樣標記和間隔的長度是合適的，并調整長于2T的數(shù)字數(shù)據(jù)標記和間隔的長度，這樣所述長度相對評價標準是合適的。上述目標由此實現(xiàn)。
根據(jù)本發(fā)明的另外的光盤驅動器包括光學拾音頭，其將光束發(fā)射到光存儲介質上，檢測從光存儲介質反射的光束，并基于所接收到的反射光輸出信號；用于接收從光學拾音頭輸出信號并再現(xiàn)記錄到光存儲介質的數(shù)字信息的解調裝置。光存儲介質具有用于記錄數(shù)據(jù)用的記錄層，基于周期T的長度kT的數(shù)字數(shù)據(jù)作為標記或者間隔序列使用評價標準記錄到記錄層用于將標記和間隔的長度調整到合適的長度。當記錄到光存儲介質時，通常記錄的k是2或者更大的整數(shù)，光盤驅動器使用3或者更大的k來記錄信息，并調整3T或者更大長度的數(shù)字數(shù)據(jù)標記的長度和間隔，這樣所述長度相對評價標準是合適的。上述目標由此得以實現(xiàn)。
此光盤驅動器中的評價標準優(yōu)選是抖動。
此外，評價標準可以是錯誤率。
此外，評價標準可以是所獲得的信號的周期。
此外優(yōu)選地，標記的長度可以通過調整從光學拾音頭發(fā)射的激光束的功率來調整。
此外，優(yōu)選地，標記長度可以通過調整從光學拾音頭所發(fā)射的激光束的脈沖寬度來調整。
此外，優(yōu)選地，抖動從光存儲介質中來測量，寬度為2T的數(shù)字數(shù)據(jù)標記比長于2T的數(shù)字數(shù)據(jù)標記要寬。
此外，優(yōu)選地，抖動從將光束發(fā)射到具有第一記錄層和第二記錄層的光存儲介質的第一記錄層而獲得的信號中進行測量，第一記錄層是使其上部分入射光的通過的半透明薄膜，所述通過第一記錄層的光到達第二記錄層。
此外，優(yōu)選地，I2pp/I8pp＜0.2，I2pp是從記錄2T長的數(shù)字數(shù)據(jù)標記和間隔的重復圖樣所再現(xiàn)的信號，I8pp是從重復記錄的8T長數(shù)字數(shù)據(jù)標記和間隔的圖樣所再現(xiàn)的信號。
另外優(yōu)選地，ML＜λ/(1.25*NA)，ML是一對長度2T的數(shù)字數(shù)據(jù)標記和間隔的長度，λ是從光學拾音頭所發(fā)射的光束的波長，NA是光學拾音頭的會聚光學器件的數(shù)值孔徑。
此外，優(yōu)選地，光盤驅動器也具有增益調整裝置，這樣當光存儲介質的反射率變化時輸入到解調裝置中的信號的振幅的變化較小。
一種根據(jù)本發(fā)明的光存儲介質是這樣的光存儲介質，由此信息可以暴露到光束而記錄或再現(xiàn)，光存儲介質具有第一記錄層和第二記錄層作為記錄層來記錄信息，第一記錄層是只讀記錄層，第二記錄層是使得只記錄一次數(shù)據(jù)的記錄層，第一記錄層設置比第二記錄層更靠近介質的光入射側。上述目標由此實現(xiàn)。
根據(jù)本發(fā)明的另外的光存儲介質是這樣的光存儲介質，由此信息可以暴露到光束而記錄或再現(xiàn)，光存儲介質具有第一記錄層和第二記錄層作為記錄層來記錄信息，第一記錄層是只讀記錄層，第二記錄層是能夠重復記錄和消除數(shù)據(jù)的記錄層，第一記錄層設置比第二記錄層更靠近介質的光入射側。上述目標由此實現(xiàn)。
根據(jù)本發(fā)明的另外的光存儲介質是具有同心形成的多個軌道或者螺旋形成通過將光束發(fā)射到軌道的記錄表面而用于使用標記和標記之間的間隔來記錄信息，其特征在于信號不包括相鄰于指示第一重放信號質量的最短標記和/或者最短間隔的邊緣。上述目標由此實現(xiàn)。
優(yōu)選地，光存儲介質也具有包括相鄰于指示第二重放信號質量的最短標記和/或者最短間隔的邊緣的信號。
此外，第一重放信號質量優(yōu)選地比第二重放信號質量要高。
此外，抖動可以作為重放信號質量檢測。
此外，前邊抖動和尾邊抖動可以分別檢測。
錯誤率可以作為重放信號質量檢測。
光存儲介質也具有多個記錄層，對于各層具有重放信號質量設置。
此外，在記錄的過程中離開光學拾音頭最遠的層質量可以是最高的。重放信號質量閾值可以寫到光存儲介質的特定區(qū)域上。
此特定區(qū)域優(yōu)選地是只讀區(qū)域。
此外，優(yōu)選地，信號也記錄到與具有特定重放信號質量的軌道相鄰的軌道上。
此外，具有特定重放信號質量的軌道可以在相鄰軌道被記錄之前記錄。
此外，當記錄時相鄰軌道的激光束的發(fā)射功率可以比當記錄具有特定重放信號質量的軌道時的激光束的發(fā)射功率大。
此外，具有特定重放信號質量的軌道可以在記錄到相鄰的一個軌道之后記錄。
此外，具有特定重放信號質量的軌道可以在記錄到相鄰軌道之后記錄。
此外，具有特定重放信號質量的軌道可以記錄多次。
但是，另外優(yōu)選地，重放信號質量是在所有特定數(shù)目的記錄中特定的水平。
此外，光存儲介質在第一發(fā)射功率電平之后在第二發(fā)射功率電平記錄，第一發(fā)射功率電平比第二發(fā)射功率電平大。
根據(jù)本發(fā)明的光盤驅動器是通過將光束發(fā)射到軌道的記錄表面用于讀取具有多個同心形成或者螺旋形成用于使用標記或者標記之間的間隔來記錄信息而形成的多軌道光存儲介質的光盤驅動器，光存儲介質具有通過不包括相鄰于最短標記和/或者最短間隔的邊的信號來表示的第一重放信息質量。上述目標由此實現(xiàn)。
根據(jù)本發(fā)明的光盤驅動器是通過將光束發(fā)射到軌道的記錄表面用于讀取具有多個同心形成或者螺旋形成用于使用標記或者標記之間的間隔來記錄信息而形成的多軌道光存儲介質的光盤驅動器，光存儲介質具有通過不包括相鄰于最短標記和/或者最短間隔的邊的信號來表示的第一重放信息質量，以及通過包括相鄰于最短標記和/或者最短間隔的邊的信號來表示的第二重放信息質量。上述目標由此實現(xiàn)。
根據(jù)本發(fā)明的光盤驅動器是這樣的用于記錄的光盤驅動器，這樣不包括相鄰于最短標記和/或者最短間隔的邊的信號具有第一重放信號質量，光盤驅動器包括用于記錄信號的裝置，用于再現(xiàn)被記錄的信號的裝置，用于檢測被記錄信號中的最短標記或者最短間隔的裝置，以及用于檢測不包括相鄰于所檢測的最短標記或者最短間隔的邊的信號中的重放信號質量的重放信號質量檢測裝置。上述目標由此實現(xiàn)。
優(yōu)選地，包括相鄰于最短標記和/或者最短間隔的邊的信號表示第二重放信號質量。
此外，優(yōu)選地，第一重放信號質量比第二重放信號質量要高。
此外，優(yōu)選地，抖動被檢測以確定重放信號質量。
此外，優(yōu)選地，前邊抖動和尾邊抖動分別被檢測。
錯誤率可以作為重放信號質量檢測。
此外，優(yōu)選地，光存儲介質也具有多個記錄層，各層具有重放信號質量設置。
此外，優(yōu)選地，光存儲介質具有多個記錄層，重放信號質量對各記錄層設置。
此外，優(yōu)選地，離開光學拾音頭最遠的層的質量在記錄的過程中是最高的。
此外，優(yōu)選地，重放信號質量閾值被寫到光盤驅動器的特定的區(qū)域上。
此外，信號不能被記錄到與具有特定重放信號質量的軌道相鄰的軌道上。
此外，具有特定重放信號質量的軌道在記錄到相鄰的軌道之前可以被記錄。
此外，當記錄相鄰軌道時的激光束的發(fā)射功率可以比當記錄具有特定重放信號質量的軌道時的激光束的發(fā)射功率更大。
此外，具有特定重放信號質量的軌道在記錄到一個相鄰的軌道之后可以被記錄。
此外，具有特定重放信號質量的軌道可以在記錄到兩個相鄰軌道之后被記錄。
此外，優(yōu)選地，具有特定重放信號質量的軌道可以被記錄多次。
此外，優(yōu)選地，重放信號質量在所有特定數(shù)目記錄中為相同的特定電平。
光盤驅動器可以在第一發(fā)射功率電平記錄之后在第二發(fā)射功率電平上記錄，第一發(fā)射功率電平比第二發(fā)射功率電平要低。
根據(jù)本發(fā)明的光盤驅動器確定了用于根據(jù)所檢測的重放信號質量來記錄的發(fā)射功率。
此外，優(yōu)選地，發(fā)射功率在記錄用戶數(shù)據(jù)的用戶區(qū)域之外的區(qū)域中確定。
使用根據(jù)本發(fā)明的如上所述的光存儲介質檢測裝置的結構，不包括與最短可記錄長度的標記和間隔相關的抖動的抖動被測量并被用于確定光存儲介質的好壞。具體而言，兩個閾值被用于識別最短的標記。當使用數(shù)據(jù)用相同的記錄密度記錄在兩個數(shù)據(jù)記錄表面上而記錄的兩層光存儲介質，這將減小從更靠近光學拾音頭的記錄層上的標記所導致的抖動的增加，所述光學拾音頭比所需的尺寸要小，并能夠更可靠地確定好壞。由最短標記和間隔所導致的抖動的降低的效果在施加到光盤驅動器時相似地減小，數(shù)據(jù)可以從兩個數(shù)據(jù)記錄層高可靠性地再現(xiàn)。數(shù)據(jù)可以使用光存儲介質高可靠地記錄和再現(xiàn)，來自最短標記和間隔的抖動比來自更長的標記和間隔的抖動更差。


本發(fā)明的目標、特征和益處將從下面結合附圖對本發(fā)明的優(yōu)選實施例進行說明而顯而易見，其中圖1是根據(jù)本發(fā)明的第一實施例的光盤驅動器的結構的示意圖；圖2顯示了根據(jù)本發(fā)明的第一實施例的光盤驅動器的信號處理部分的結構；圖3顯示了根據(jù)本發(fā)明的第一實施例的光盤驅動器所獲得的RF信號；圖4顯示了根據(jù)本發(fā)明的第一實施例的光盤驅動器中的光存儲介質上的時鐘信號和標記之間的關系；圖5顯示了根據(jù)本發(fā)明的第一實施例的光盤驅動器中的光存儲介質上的信號振幅和標記長度之間的關系；圖6顯示了根據(jù)本發(fā)明的第一實施例的光盤驅動器的記錄脈沖；圖7顯示了根據(jù)本發(fā)明的第二實施例的光存儲介質的結構；圖8顯示了根據(jù)本發(fā)明的第三實施例的光盤驅動器的信號處理部分的結構；圖9顯示了根據(jù)本發(fā)明的第四實施例的光盤驅動器的方框圖；圖10顯示了本發(fā)明的第四實施例中的光存儲介質的軌道結構；圖11顯示了本發(fā)明的第四實施例中峰值功率和抖動之間的關系；圖12是根據(jù)本發(fā)明的第四實施例相關的流程圖；圖13是根據(jù)本發(fā)明的第四實施例相關的流程圖；圖14是根據(jù)本發(fā)明的第四實施例的光盤驅動器的方框圖；圖15是根據(jù)本發(fā)明的第四實施例的光盤驅動器的方框圖；圖16是根據(jù)本發(fā)明的第四實施例的光盤驅動器的方框圖；
圖17是根據(jù)本發(fā)明的第四實施例的光盤驅動器的方框圖；圖18描述了根據(jù)本發(fā)明的第四實施例的光盤驅動器的輸出信號；圖19描述了根據(jù)本發(fā)明的第四實施例的光盤驅動器的輸出信號；圖20是根據(jù)現(xiàn)有技術的光盤驅動器中的光學拾音頭的示意圖；圖21顯示了相關現(xiàn)有技術中光盤驅動器中的光存儲介質上的光束和軌道之間的關系；圖22顯示了傳統(tǒng)光盤驅動器中光學拾音頭的光束和光電檢測器之間的關系；圖23顯示了通過傳統(tǒng)光盤驅動器所獲得的RF信號；圖24是傳統(tǒng)光盤驅動器的方框圖；圖25顯示了傳統(tǒng)光存儲介質的軌道結構；圖26顯示了傳統(tǒng)光盤驅動器中的峰值功率和抖動之間的關系；圖26顯示了傳統(tǒng)光盤驅動器中的峰值功率和抖動之間的關系；以及圖27顯示了與傳統(tǒng)光盤驅動器相關的流程圖。
具體實施例方式
下面將對本發(fā)明的具體實施例進行詳細描述，在相應的附圖中示出了其中的具體實例，其中相似的附圖標記表示類似的部件。
第一實施例圖1顯示了根據(jù)本發(fā)明的第一實施例的光盤驅動器的結構的示例。此光盤驅動器具有光學拾音頭80、光盤驅動器單元81、光學拾音頭驅動單元82、信號處理單元83和功率供給電源單元84。具有電源單元84的結構顯示在圖中，但是其中連接至外部電源(未示出)的端子(未示出)的結構被提供，來代替電源單元84，通過連接到外部電源而供給功率，連接端子可以被使用。此外，光學拾音頭80的結構不受限制，此實施例的光學拾音頭與圖9中所示的傳統(tǒng)結構相等同。
下面將說明這些部件中的每個的功能。光盤驅動器單元81旋轉光盤41。光學拾音頭80將對應于光學拾音頭80和光盤41的相對位置信號發(fā)送至信號處理單元83。信號處理單元83放大或者在所接收到的信號上操作以產(chǎn)生聚焦誤差信號和TE信號，并根據(jù)需要在光學拾音頭中移動光學拾音頭80或者物鏡。光學拾音頭80也將讀取記錄到光盤41上的數(shù)據(jù)的信號發(fā)送至信號處理單元83。信號處理單元83解調記錄到光盤41上的數(shù)據(jù)。執(zhí)行器91、92驅動光學拾音頭80中的物鏡。
光學拾音頭驅動單元82典型地被稱為橫向機構，并定位光學拾音頭80，使從光學拾音頭80所發(fā)射的光束集中在光盤41的預期的位置上。上述提及的讀取信號和光學拾音頭驅動單元82或者執(zhí)行器91、92形成用于光盤41的聚焦伺服和跟蹤伺服，以讀、寫或者擦除信息。能量從電源單元84供給到信號處理單元83、光學拾音頭驅動單元82、光盤驅動器單元81和執(zhí)行器91、92。
需要指出，電源或者連接到外部電源的連接端子可以設置到單獨的驅動電路。
如圖7中所示，光盤41具有兩個數(shù)據(jù)記錄層41b、41c，這與傳統(tǒng)的光存儲介質40相同。數(shù)據(jù)記錄層41b是半透明的。本實施例的光盤41與上述光存儲介質40不同在于盡管傳統(tǒng)光存儲介質40使用8-16調制來記錄數(shù)據(jù)，即其中最短的標記和間隔的長度是3T的調制方法，數(shù)據(jù)使用1-7調制被記錄到本發(fā)明的光盤41，即其中最短標記和間隔的長度是2T的調制技術，并且標記長度受限。使用受限標記長度的調制公知為運行長度限制(RLL)調制，并且在此情況下被表達為RLL(1，7)調制。
圖2是信號處理單元83的特定結構的方框圖，顯示了用于解調數(shù)據(jù)的部分的結構和用于產(chǎn)生用于將數(shù)據(jù)記錄到光存儲介質的記錄信號的部分的結構。
來自光學拾音頭80的信號輸出被輸入到均衡器801中。由于高頻成分在光學拾音頭80的信號輸出中依賴于光學頻率特性而減小，均衡器801提高了輸入信號中的高頻成分，這樣補償了光學惡化信號的高頻范圍中的下降。
從均衡器801的信號輸出的放大增益被自動調節(jié)，這樣信號振幅通過自動增益控制器810是而恒定。自動增益控制器810可以被省略，因為光盤驅動器可以在沒有它的情況下而作用。但是，提供自動增益控制器810減小了光盤41的反射率中的振動的效果，由此提高了光盤驅動器的可靠性。此外，自動增益控制器810可以在均衡器801之前安置。來自自動增益控制器810的信號輸出被輸入到數(shù)字轉換器804和部分響應單元802。
數(shù)字轉換器804將輸入信號轉換為兩個值，0和1。二進制信號然后輸入到時鐘信號產(chǎn)生器805，時鐘信號產(chǎn)生器805可以使用例如用于相位比較器、低通濾波器、或者VCO的通用鎖相循環(huán)(PLL)來構造。但是，當使用1-7調制時，從2T標記和間隔所獲得的信號S/N比率經(jīng)常較差。當使用所有的標記和間隔的邊緣產(chǎn)生的時鐘信號時，時鐘信號抖動增加，并且記錄到光盤上的數(shù)據(jù)不能忠實地再現(xiàn)。
當光盤驅動器首先啟動，使用所有的標記和間隔邊緣產(chǎn)生時鐘信號，在PLL鎖定之后，與2T標記和間隔的邊緣相關的相比較結果從用于產(chǎn)生時鐘信號的相位比較器輸出中消除。部分響應單元802識別2T標記和間隔，此2T標記和間隔識別的結果從部分響應單元802發(fā)送到時鐘信號產(chǎn)生器805。PLL在光盤驅動器首先使用所有的標記和間隔邊緣啟動時更容易鎖定。此外，一旦PLL被鎖定，時鐘信號抖動可以通過消除與2T標記和間隔的邊緣相關的相比較的結果而減小。結果，根據(jù)本發(fā)明的此實施例的光盤驅動器的時鐘信號產(chǎn)生器805可以輸出較低的抖動時鐘信號，即使在光存儲介質的記錄密度增加以及從2T標記和間隔所獲得信號的SNR較低時，數(shù)據(jù)可以用相應的增加的可靠性來再現(xiàn)。
通過時鐘信號產(chǎn)生器805所產(chǎn)生的時鐘信號被輸入到光盤驅動器信號產(chǎn)生器806和部分響應單元802。根據(jù)輸入信號，光盤驅動器信號產(chǎn)生器806產(chǎn)生控制光盤41的驅動速度的光盤驅動信號。通過光盤驅動器信號產(chǎn)生器806所產(chǎn)生的光盤驅動器信號然后被供給到光盤驅動器81。從部分相應單元802的信號輸出被輸入到解調器803，由此記錄到光盤41的信號被解調。
圖3顯示了通過部分響應和眼孔圖樣設置的閾值(SL1、SL2)之間的關系。第一閾值SL1在從2T標記所獲得的信號和從3T標記所獲得的信號之間設置，第二閾值SL2在從2T間隔所獲得的信號和從3T間隔所獲得的信號之間設置。部分響應單元802對在時鐘信號邊緣上從自動增益控制器810的輸出信號取樣并識別標記和間隔的長度。通過設置此第一閾值SL1和第二閾值SL2，當2T信號振幅較低時，2T標記和間隔可以用較高的精度識別。此外，也通過使用解碼諸如Viterbi算法的最大可能性，即，通過使用PRML(部分響應最大可能性)解碼，2T標記和間隔可以被精確識別，即使當不同的類(諸如(1，2，2，1))被用于部分響應單元中，在從2T標記和間隔所獲得的信號振幅較低的情況下。
圖4顯示了通過時鐘信號產(chǎn)生器805所產(chǎn)生的時鐘信號CLK和記錄到光盤41的數(shù)據(jù)記錄層41b、41c上的標記之間的關系。標記902a至902c是2T標記，標記903是3T標記，2T標記是0.15μm長，3T標記是0.225μm長。記錄到數(shù)據(jù)記錄層41c的2T和3T標記分別是標記902a和903，每個具有相同的標記寬度W。記錄到數(shù)據(jù)記錄層41b的2T和3T標記是標記902b和903，標記902b在寬度W和長度L上比標記902a要小。標記902b可以通過改變標記記錄條件而與標記902c相似地形成。標記902b的長度L可以在此時增加，但是寬度W必須保持比標記902a要小。這可以總結如下。
首先，當2T長度標記形成在數(shù)據(jù)記錄層41c時，其可以被形成到與長度3T相同的寬度。但是，當2T標記被記錄到數(shù)據(jù)記錄層41b，與3T標記相比，其可以用充分的寬度來形成。這是因為數(shù)據(jù)記錄層41b的半透明屬性增加了數(shù)據(jù)記錄層41b的散熱時間，以及消除動作類型工作在被記錄的標記上。
這種現(xiàn)象不僅發(fā)生在相變材料上，而且在光磁材料和任何其它用熱來記錄或者消除數(shù)據(jù)的類型材料。需要指出4T或者更長的的標記具有與3T標記相同的寬度。這減小了標記的尺寸，并在標記長度減小時變得更加顯著，并通常不能在l/(NA*2.5)或者更小上被忽略。具體而言，如果NA是0.85，l是0.405μm，當標記的長度是0.190μm或者更小時此效果不能被忽略。在其中標記尺寸減小的條件下，眼孔圖樣的眼孔的孔徑比減小，結果二進制化之后抖動增加。這意味著，當與具有長度3T或者更大的更長標記和間隔相比，當最短標記和間隔的長度是2T時，抖動相對增加。
由于在此實施例中2T標記長度是0.15μm，3T標記長度是0.225μm，2T標記寬度比其它更長的標記要窄，并在二進制化之后抖動顯著增加。為了解決這個問題，本發(fā)明的此實施例設置了兩個閾值并用部分響應來檢測信號。即使在2T標記的寬度較窄時，其也不能產(chǎn)生超過所述閾值的RF信號并不會負面影響數(shù)據(jù)檢測。換言之，即使在2T標記被用較窄的寬度記錄到數(shù)據(jù)記錄層40b，所述數(shù)據(jù)仍然可以用較高的可靠性來再現(xiàn)。
圖5顯示了標記長度和信號振幅之間的關系。圖5中的水平軸表示λ/(ML*NA)，λ是光源的波長，NA是光學拾音頭中的物鏡的數(shù)值孔徑，ML是相同長度的一對標記和間隔的長度。在垂直軸上，12pp/18pp是從一對2T標記和間隔的信號振幅除以一對8T標記和間隔的信號振幅。相似地，I3pp/18pp是來自一對3T標記和間隔的信號振幅除以一對來自8T標記和間隔的信號振幅。
下面將描述圖5。當l/(ML*NA)大約是1.25，12pp/18pp是0.2，I3pp/I8pp是0.6，I2pp和I3pp之間的比率因此是1∶3。如果2T標記寬度比3T標記寬度要窄，此比率甚至可以更大。當l/(ML*NA)比1.25更大的情況下，I2pp/I8pp迅速下降，隨著I2pp/I8pp的下降來自光存儲介質、激光、電路和其它與I2pp相關的其它因素的噪音量迅速增加。結果，在2T標記和間隔上抖動增加，傳統(tǒng)方法只檢測二進制信號。
當兩個閾值被使用時，閾值和從2T和3T標記或者間隔所獲得的信號之間的間隙增加。這對檢測2T長標記和間隔以及3T長標記和間隔之間的差異更加容易。因此，當ML是一對2T標記和間隔的長度，l/(ML*NA)比1.25更大，這對有效地使用PRML檢測和使用兩個閾值的部分響應單元比較有效。
需要指出具有兩個記錄層的光盤41在此處說明，但是本發(fā)明并不由此受限。例如，當光存儲介質的記錄層的特性導致比3T或者更長標記更窄的2T標記，當l/(ML*NA)比1.25更大，當ML是一對2T標記和間隔的長度，根據(jù)本發(fā)明的光盤驅動器可以用更高的可靠性來再現(xiàn)數(shù)據(jù)，而不管記錄層的數(shù)目，這將是明顯的。
此外，本發(fā)明的光盤驅動器不限于讀寫光存儲介質，所述光存儲介質可以記錄任意次數(shù)，并可以使用一次寫多次讀光存儲介質以及用只讀光存儲介質。
例如，當母盤使用制造只讀光存儲介質的控制過程中的激光束切割時，2T標記的寬度可以變得比3T寬度或者更長標記的寬度更窄?？紤]到可以用于切割母盤的激光束的最短波長大約是0.9，當用0.4μm或者更小的道距和最短為0.2μm長的的標記長度來制造高密度只讀光存儲介質，2T標記的寬度不可避免地比3T或者更長標記的寬度要窄。根據(jù)本發(fā)明的此實施例的光盤驅動器的效果在此情況下部分變得更大。
另外的方法就是對抗蝕劑薄膜使用非線性透明薄膜以在使用激光束來切割母盤時形成更小的標記，但是在此情況下2T標記的寬度也經(jīng)常比3T或者更長的標記的寬度要窄。根據(jù)本發(fā)明的此實施例的光盤驅動器在此情況下也極其有效。
當電子束被用于切割母盤，2T標記和3T標記可以用相同的寬度來形成，但是由于切割時間在激光束被使用時顯著地較大，光存儲介質的成本相應地較高。使用根據(jù)本發(fā)明的此實施例的光盤驅動器因此使得使用能夠用激光束切割母盤，這樣提供了低成本光存儲介質。
最短的標記也不限于2T標記長度，本發(fā)明的益處在于當最短標記的寬度比長于最短標記的標記的寬度要窄時可以實現(xiàn)，例如最短的標記長度可以是3T。
可以進一步注意到當傳統(tǒng)的光學拾音頭被用于前述的實施例中，將光束發(fā)射到光存儲介質上的任何類型的光學拾音頭并基于從光存儲介質反射的光束的信號可以被使用。此外，時鐘信號使用記錄到光存儲介質的RF信號來產(chǎn)生，但是任何產(chǎn)生時鐘信號的傳統(tǒng)方法可以被使用，包括用于產(chǎn)生從用作軌道的擺動槽中的擺動定時來產(chǎn)生時鐘信號。
用于記錄數(shù)據(jù)的系統(tǒng)將在下面描述。
(a)數(shù)字圖樣產(chǎn)生器807將聲音、視頻、計算機數(shù)據(jù)或者其它信息基于1-7調制用調制規(guī)則轉換為所需的所需的數(shù)字數(shù)據(jù)圖樣。數(shù)字數(shù)據(jù)產(chǎn)生器807也具有用于產(chǎn)生簡單圖樣、隨機圖樣以及包括特定標記和間隔長度的組合的特定圖樣的功能以對光存儲介質了解最佳記錄條件。
(b)通過數(shù)字圖樣產(chǎn)生器807所產(chǎn)生的數(shù)字數(shù)據(jù)圖樣然后輸入到記錄脈沖產(chǎn)生器808。
(c)基于輸入數(shù)字數(shù)據(jù)圖樣，記錄脈沖產(chǎn)生器808產(chǎn)生記錄脈沖信號，用于將標記和間隔記錄到光存儲介質上。記錄脈沖信號可以調整寬度、振幅和定時。記錄脈沖產(chǎn)生器808也具有用于存儲特定于光存儲介質的信息用存儲器，以了解最佳結果、記錄到光存儲介質的記錄條件以及其它信息。當記錄到光盤，了解原先完成或者記錄到最佳記錄條件已經(jīng)被記錄的光盤時，這使得減短需要了解記錄條件所需要的時間變?yōu)榭赡堋?br> (d)通過記錄脈沖產(chǎn)生器808所產(chǎn)生的記錄脈沖信號然后輸入到激光驅動器裝置809。
(e)激光驅動器裝置809然后控制半導體激光的輸出，所述半導體激光是基于供給的記錄脈沖信號的光學拾音頭的光源，以將數(shù)據(jù)記錄到光盤的記錄層。
圖6顯示了記錄3T標記的記錄脈沖信號。此脈沖量根據(jù)標記的長度增加，這樣3T標記的脈沖量是3，5T標記的脈沖量是5。點劃線表示時鐘信號邊緣的定時。PTW1、PTW2和PTW3表示記錄脈沖寬度，TF1、TF2和TF3表示從時鐘信號邊緣定時到記錄脈沖的升高邊緣的延遲時間，PW1、PW2和PW3表示記錄脈沖的峰值功率，PB1、PB2和PB3表示偏壓功率。
這些值根據(jù)光存儲介質的特性、記錄標記的長度以及記錄標記之前和之后的間隔的長度優(yōu)化。PW1-PW3可以因此是彼此不同的值。這對PTW1-PTW3以及PB1-PB3是相同的。根據(jù)激光驅動器裝置809的特性，記錄條件可以通過調節(jié)PTW1-PTW3，同時PW1-PW3以及PB1-PB3被設置到相同的值來優(yōu)化，或者通過PW1-PW3以及PB1-PB3，同時保持PTW1-PTW3為常數(shù)來優(yōu)化。
最佳功率、振幅和延遲時間對其它長度的標記和間隔相似設置。此外，延遲時間可以根據(jù)光存儲介質的特性為正或者為負。為了了解記錄條件，1-7調制隨機信號被記錄到光盤，記錄脈沖然后被調節(jié)，這樣從2T-8T標記和間隔所獲得的信號的時間周期的平均值與各T的整數(shù)倍相同。這使得2T標記和間隔的平均值與閾值相匹配，所述閾值被設置以對從3T或者更長的標記和間隔所獲得的信號數(shù)字化來設置。通過將2T標記和間隔的平均值與設置用于對從3T或者更長的標記和間隔數(shù)字化而設置的閾值進行匹配，產(chǎn)生誤差的最大可能性在使用兩個閾值再現(xiàn)時減小，可以提供較高可靠性的光盤驅動器。
記錄脈沖可以對使用抖動或者誤差率作為評估函數(shù)的不相鄰于2T標記或者間隔的3T或者更長的標記和間隔來進行優(yōu)化。誤差的可能性在此情況下可以比當只基于從標記和間隔所獲得的信號的時間周期進行優(yōu)化減小的更多，并且可靠性可以進一步提高。在不使用2T標記和間隔記錄的情況下，記錄條件可以優(yōu)化。這也消除了需要識別2T邊緣的需要，記錄條件由此可以在更短的時間并更容易地了解到。
此外，如果不包括于相鄰于2T標記和間隔的信號的抖動在允許的范圍之內優(yōu)化記錄條件之后數(shù)據(jù)被記錄時超過預期的水平，光存儲介質被確定不適合記錄數(shù)據(jù)，這樣否則將記錄到光存儲介質的數(shù)據(jù)將不被記錄。光存儲介質不適合記錄數(shù)據(jù)的報告也可以被輸出。這保證當重要信息被記錄到光存儲介質時，所述信息可以用較高的可靠性來再現(xiàn)。
傳統(tǒng)上記錄條件使用從所有的標記和間隔的邊緣所產(chǎn)生的抖動來評估。但是使用此方法不太可能確定抖動是否在相鄰于2T標記和間隔的邊緣上是較差的。即，區(qū)別在從不相鄰于2T標記和間隔的抖動顯示低于相鄰于2T的標記和間隔的邊緣抖動時，以及當不相鄰于2T標記和間隔的邊緣的抖動于相鄰于2T標記和間隔的邊緣的抖動相同時是不太可能的。因此，光盤是否適合記錄信息只是基于從所有的邊緣檢測的抖動大于或者小于預定的閾值。但是，在這種情況下，當使用PRML再現(xiàn)數(shù)據(jù)時的誤差率可以很大不同，即使對于具有相同的明顯抖動水平的光盤而言。為了可靠地記錄和再現(xiàn)數(shù)據(jù)，因此必須通過使用較低的抖動閾值來識別具有可證明的較低誤差率的介質，當使用PRML方法時具有充分低誤差率的介質必須作為光盤介質進行處理，所述光盤介質不適合記錄信息。
但是，使用根據(jù)本發(fā)明的實施例的光盤驅動器，不包括相鄰于2T標記和間隔的邊緣的結果的抖動被用作評估函數(shù)，此抖動值和誤差率在PRML被使用時具有極強的相關性，在使用PRML時獲得較低錯誤率的光存儲介質可以可靠地識別。光存儲介質產(chǎn)品可以因此得以提高，并提供較低成本的光存儲介質。很明顯，此光存儲介質不限于使用PRML，并可以使用其它兩閾值部分響應檢測方法來實現(xiàn)。當抖動被用作評估函數(shù)時，盡管需要1000至10,000邊緣，當錯誤率用作評估函數(shù)時，需要100,000至1,000,000邊緣。當抖動被用作評估函數(shù)，介質評估所需的時間比當錯誤率作為評估函數(shù)要顯著地短，因此可以提高光存儲介質生產(chǎn)率。
第二實施例根據(jù)本發(fā)明的另外的實施例的光存儲介質的結構顯示在圖7中。此光盤41具有透明保護層41a和兩個記錄層41b、41c。此光盤41于光存儲介質40不同在于數(shù)據(jù)記錄層41c時可以重寫多次的記錄層，數(shù)據(jù)記錄層41b是只讀記錄層。標記通過壓印形成在數(shù)據(jù)記錄層41b中。最短標記和間隔也是2T。數(shù)據(jù)記錄層41b的透射率也大于50％，在此優(yōu)選的實施例中是80％。由于其是只讀的，數(shù)據(jù)記錄層41b的透射率基本在整個層上是恒定的。此外，由于是只讀記錄層的數(shù)據(jù)記錄層41b在數(shù)據(jù)記錄層41c的光入射側上，發(fā)射到數(shù)據(jù)記錄層41c的光束的功率由于數(shù)據(jù)記錄層41b的透射率是恒定的而穩(wěn)定，所需的信息可以被寫和讀取。
此外，由于數(shù)據(jù)記錄層41b是只讀的，數(shù)據(jù)記錄層41b的透射率可以設置高于50％。需要記錄到數(shù)據(jù)記錄層41c的光學拾音頭的激光部分的發(fā)射功率因此較低，激光的服務壽命因此較長，這樣提供了可以較長時間使用的光盤驅動器。
此外，當讀取記錄到數(shù)據(jù)記錄層41c上的數(shù)據(jù)時，由于入射到接收器上的光束的強度通過更高的數(shù)據(jù)記錄層41b的透射率而增加，SNR也提高，所述數(shù)據(jù)可以用較高的可靠性再現(xiàn)。
需要指出數(shù)據(jù)記錄層41c作為可重寫記錄層在上面進行了說明，但是其可選地可以是一次寫記錄層。
此外，如果是三層或者更多層，只有一層是可寫，而其它層是只讀數(shù)據(jù)層，如上所述的相同的效果可以通過將只讀記錄層設置在光盤的側面上，來自光學拾音頭的光束入射到所述光盤，以及將可記錄記錄層設置到最遠離來自光學拾音頭的光束入射到側面的側面上來實現(xiàn)。
需要指出根據(jù)本發(fā)明的實施例的光存儲介質不受任何特定的調制方法限制，可以使用任何調制方法。
第三實施例作為根據(jù)本發(fā)明的光盤驅動器的另外的實施例，圖8顯示了使用相差方法(也稱為DPD(微分相檢測)方法)從光存儲介質產(chǎn)生TE信號的光盤驅動器的結構，2T標記和間隔作為最短的標記和間隔形成在所述光存儲介質上。
作為根據(jù)第二實施例中的光盤41描述的具有壓印標記的記錄層的光存儲介質可以被用作此實施例中的光存儲介質。光盤驅動器可以使用任何類型的拾音頭，只要光學拾音頭在遠場區(qū)域中分開所述光束，用光電檢測器檢測反射，并可以輸出使得能夠進行相比較的輸出信號。此實施例使用如圖9中所示的常用光學拾音頭來進行描述。
(a)從光電檢測器32的接收器32a-32d輸出的信號被輸入信號處理單元85。
(b)從接收器32a-32d輸出和輸入到信號處理單元85的信號通過加法器820相加并輸入到自動增益控制器810中。
(c)自動增益控制器810自動調整增益，這樣輸入信號振幅被放大到預期的水平。
(d)從自動增益控制器810輸出的信號被輸入到均衡器822，由此信號的高頻成分被強化，然后所述信號被輸入到鑒別器821。
(e)鑒別器821在輸入信號中的2T標記和間隔的邊緣定時上產(chǎn)生并輸出保持信號。
(f)從接收器32a-32d的各信號輸出被輸入到均衡器822，由此高頻成分被強化，然后四個信號輸入到相位比較器823。
(g)相位比較器823輸出信號，所述信號指示定時，在所述定時時輸入信號的振幅發(fā)生變化。
(h)來自相位比較器823的信號輸出通過保持電路824，然后輸入以驅動信號產(chǎn)生器825。
(i)保持電路824將定時到2T標記和間隔的邊緣的信號作為無效，因此不輸出到驅動信號產(chǎn)生器825。
(j)驅動信號產(chǎn)生器825放大輸入信號到預定的水平，并將這樣的過程作為相補償和帶寬限制，然后輸出用于控制跟蹤控制執(zhí)行器的信號。
當1-7調制被使用，從2T標記和間隔所獲得信號的SNR比從長于2T的標記和間隔所獲得的信號要差。當TE信號使用從所有的標記和間隔的邊緣產(chǎn)生時，對2T標記和間隔的邊緣定時檢測極其差，這樣顯著地惡化TE信號的SNR，這樣相應地降低了跟蹤控制精度。通過在不使用于2T標記和間隔邊緣相關的相比較結果而產(chǎn)生TE信號，每單元時間所檢測的邊緣的數(shù)目減小，這就不可能提高跟蹤控制帶。但是，SNR顯著提高，與使用所有標記和間隔用的邊緣定時而產(chǎn)生TE信號相比跟蹤控制帶可以提高。
此外，使用此實施例的TE信號產(chǎn)生方法的效果在l/(ML*NA)大于1.25時，如同在第一實施例中所描述的當產(chǎn)生時鐘信號時那樣，尤其較大。
需要指出圖8中未示出的成分可以使用傳統(tǒng)的光盤驅動器中相同的結構，此處省略進一步說明。
此外，本實施例不限于其中最短標記是2T長的記錄方法。具體而言，此實施例可以在最短標記的寬度比長于最短標記的標記的寬度窄時使用，因此，例如，最短標記可以是3T。
第四實施例圖9顯示了作為根據(jù)本發(fā)明的另外的光盤驅動器的示例的相變光盤驅動器的結構。此光盤驅動器具有光學拾音頭102、重放裝置103、重放信號質量檢測裝置A 104和檢測裝置B 105，最佳記錄功率確定裝置106、記錄裝置107、激光驅動電路108和記錄功率設置裝置109。
光學拾音頭103將光束發(fā)射到光盤101并接收所反射的光。重放裝置103基于通過光學拾音頭102所檢測的光再現(xiàn)信號。重放信號質量檢測裝置A 104和檢測裝置B 105檢測重放信號的質量。最佳記錄功率確定裝置106基于通過重放信號質量檢測裝置A 104和檢測裝置B 105而檢測的重放信號質量確定最佳記錄功率。激光驅動電路108發(fā)射激光束。記錄功率設置裝置109設置用作記錄的光束能量。
圖10顯示了本發(fā)明的此實施例中的光盤101的軌道結構。此光盤101是在槽軌201中具有記錄區(qū)域的光存儲介質，槽軌連續(xù)螺旋形成。
在光盤101被加載到光盤驅動器，諸如識別光盤類型之類的特定的操作之后，完成旋轉控制，光學拾音頭102移動到用于設置最佳記錄功率(圖12中步驟402)的區(qū)域。
此區(qū)域是在用戶數(shù)據(jù)被記錄的用戶區(qū)域的光盤外側的內周或者外周上的記錄區(qū)域。從在較高的輸出功率電平記錄對用戶區(qū)域的熱損壞通過使用用戶區(qū)域外部的區(qū)域來防止。
用于確定記錄能量的操作將在下面描述。注意從形成圖9的裝置的電路的信號輸出，以及根據(jù)所述信號的光盤101形成n的記錄標記，顯示在圖18和圖19中，并在如下參考。
(a)首先，在激光驅動電路108中，記錄功率設置裝置109設置初始峰值功率1103、偏壓功率1104、底部功率1105水平。
(b)然后記錄裝置107將信號發(fā)送到激光驅動電路108以連續(xù)地記錄從特定位置的槽軌一圈。
(c)激光驅動電路108然后將根據(jù)將被記錄的標記的長度形成的脈沖串列116發(fā)送到光學拾音頭102，所述信號然后通過光學拾音頭102記錄。此時，從光學拾音頭102的半導體激光部分輸出的光作為光點聚焦在光盤101上，這樣根據(jù)光束波形形成記錄標記1001。通過光學拾音頭102輸出的激光束的波長是405nm，物鏡具有0.85NA。
本發(fā)明的此實施例使用標記邊緣記錄方法記錄1-7調制數(shù)據(jù)。這意味著對于基本周期T，從最短長度2T到最大長度8T的幾種類型的標記和間隔可以形成。本發(fā)明不受此限，也可以使用其它記錄方法，這也是明顯的。此實施例中的最短標記大約是0.16μm長。
當記錄結束，光學拾音頭102的半導體激光在重放功率電平發(fā)射以再現(xiàn)剛記錄的軌道，根據(jù)光盤101上的記錄標記1001的存在而變化的信號被作為重放信號被輸入到重放裝置103。
圖14顯示了重放裝置103的結構的方框圖。此重放裝置103具有與放大器601、均衡器602、低通濾波器603、數(shù)字化電路604和PLL 605。輸入信號110通過預放大器601放大，通過均衡器602和低通濾波器603成型和均衡，然后作為信號606輸出。此信號606然后輸入到數(shù)字化電路604中，由此脈沖被輸出，信號606橫過限制電平1002，產(chǎn)生信號111。此限制電平通常在好幾10kHz上的帶寬上操作，這樣標記的積分和間隔的積分是相等的。
數(shù)字化電路604的輸出信號111輸入到PLL 605。圖15是顯示了PLL 605的結構的方框圖。此PLL 605具有相位比較器701、低通濾波器702、VCO703、觸發(fā)器704、分頻器705和門電路706。
(a)數(shù)字化電路604的輸出信號111輸入到相位比較器701。
(b)相位比較器701檢測門電路706的輸入信號111和輸出信號707之間的相差，并輸出表示這兩個輸入信號之間的相差和頻率差的誤差信號708。
(c)誤差信號708的低頻成分通過低通濾波器702作為施加到VCO703的控制電壓通過。
(d)然后VCO 703在通過控制電壓確定的頻率上產(chǎn)生時鐘信號709。
(e)時鐘信號709是通過分頻器705所分頻率，門電路706只輸出對應信號111的信號。VCO 703在此操作的過程中被控制，這樣兩個輸入信號具有相同的相位。結果，預基本周期同步的信號111作為信號112被輸出，并輸入到重放信號質量檢測裝置A 104和重放信號質量檢測裝置B 105。
圖16是重放信號質量檢測裝置A 104的方框圖。此重放信號質量檢測裝置A 104具有邊緣間距測量電路801，抖動計算器803、比較電路805。當數(shù)字化電路604的輸出信息111和PLL 605的輸出信號112被輸入到邊緣間距測量電路801、邊緣間距測量電路801測量兩個脈沖之間的邊緣間距t0、t1、t2、t3、t4、t5、t6、t7、t8、t9……，抖動計算器803輸出抖動值。比較電路805然后將此抖動值與用作閾值的特定抖動水平進行比較，并將作為信號113的結果輸出到最佳記錄功率確定裝置106。
圖17是重放信號質量檢測裝置B 105的方框圖。此重放信號質量檢測裝置B 105具有選擇器電路901、延遲電路903、邊緣間距測量電路906、抖動計算器908以及比較電路910。
(a)來自數(shù)字化電路604的輸出信號111以及PLL605的輸出信號112被輸入到延遲電路903，各延遲信號904和905被輸出到邊緣間距測量電路906。
(b)信號111也輸入到選擇器電路901，最短標記和最短間隔的邊緣被檢測，產(chǎn)生的信號902被輸出到邊緣間距測量電路906。由于2T信號是本發(fā)明的此實施例中的最短信號，2T或者更小或者(2T+a)或者更小的脈沖間距被檢測，a是0.5T或者更少，并優(yōu)選地為0.25T或者更小。此信號902被用于掩蓋最短標記和間隔，這在此實施例中意味著對長度2T的標記和間隔進行掩碼。
(c)如圖19中所示，邊緣間距測量電路906不測量邊緣間距t3和t6，其在信號904中通過信號902掩碼，但是測量其它脈沖之間的邊緣間距t0、t1、t2、t3、t4、t5、t6、t7、t8、t9……，然后抖動計算器908計算抖動。
(d)然后比較電路910將所計算的抖動值與用作閾值的特定抖動水平進行比較，并將作為信號114的結果輸出到最佳記錄功率確定裝置106。
圖11顯示了峰值功率和抖動之間的關系。峰值功率顯示在水平軸上，抖動顯示在圖11中的垂直軸上。抖動是從源信號的重放信號中的臨時移動，并且是由于記錄的過程中在激光束中的不足發(fā)射能量的緣故而在重放信號振幅中的下落而導致，并在重放信號振幅增加時減小，并當重放信號振幅飽和時基本保持恒定。如果重放條件是相等的，較小的抖動指示更多的精確記錄。因此，如果從記錄的抖動小于或者等于閾值，結果是OK，但是如果大于或者等于閾值，結果是NG。
例如，最佳記錄功率確定裝置106根據(jù)圖12和圖13中的流程圖所示的過程來操作。
(a)首先，如果通過重放信號質量檢測裝置A 104返回的第一結果是NG，峰值功率被設置到初始設置之上的水平(步驟405)，如果第一結果是OK，峰值功率被設置到初始設置之下的水平(步驟404)。槽軌然后被記錄，并在重設峰值功率電平重設(步驟406)。
(b)如果通過重放信號質量檢測裝置A 104返回的第一結果是NG，第二檢測結果是OK，最佳記錄功率確定裝置106使用下述公式來計算能量P2，所述能量P2是第一峰值功率設置和第二峰值功率設置加上一定的余量(步驟411)的平均能量(P1)。
P1＝(當前峰值功率+先前峰值功率)/2P2＝K1×P1(加上一定的余量，K1＞1)(c)如果通過重放信號質量檢測裝置A 104所返回的第一檢測結果是OK，第二檢測結果是NG，最佳記錄功率確定裝置106使用下述公式來計算能量P2，所述能量P2是第一峰值功率設置和第二峰值功率設置加上一定的余量(步驟411)的平均能量(P1)。
P1＝(當前峰值功率+先前峰值功率)/2P2＝K1×P1(加上一定的余量，K1＞1)。
(d)如果通過重放信號質量檢測裝置A 104所返回的第一檢測結果是OK，第二檢測結果是OK，峰值功率被設置到低于用作第二記錄的峰值功率的水平，所述記錄在此峰值功率設置上重復，并檢測重放信號質量。如果來自重放信號質量檢測裝置A 104的第三檢測結果是NG，最佳記錄功率確定裝置106計算能量P2，作為第二峰值功率設置和第三峰值功率設置加上一定的余量(步驟411)的平均(P1)。
(e)此峰值功率P2然后被設置(步驟412)，隨機信號然后被記錄，并使用峰值功率P2來再現(xiàn)(步驟413)。
(f)然后重放信號質量檢測裝置A 104檢測重放信號質量(步驟414)。
(g)如果檢測結果是NG，用在步驟411中的余量系數(shù)K1被改變(步驟415)，所述過程從步驟412重復。如果此改變的余量系數(shù)導致OK的檢測結果，重放信號質量接著通過重放信號質量檢測裝置B 105來檢測(步驟416)。如果所檢測的結果是NG，用在步驟411中的余量系數(shù)K1被改變(步驟417)，所述過程從步驟412重復。如果由于此改變的系數(shù)重放信號質量是OK，峰值功率P2被用作記錄用戶數(shù)據(jù)的峰值功率(步驟418)。對步驟415中的系數(shù)K1的改變是最大值+/-10％，在步驟417中是最大值+/-5％。
通過檢測從最短標記和間隔的邊緣的抖動，并檢測不包括從最短標記和間隔的邊緣的抖動以確認記錄性能，數(shù)據(jù)可以被正確記載，即使在實際的記錄的過程中，散焦或者在頭和光存儲介質之間發(fā)生相對傾斜時。
此外，即使更好優(yōu)化的記錄和重放通過設置包括最短標記和間隔的邊緣的抖動的閾值和不包括最短標記和間隔的邊緣的抖動的閾值也是可能的。
換言之，在光存儲介質可以被記錄以滿足最短標記和間隔的邊緣用閾值和不包括最短標記和間隔的邊緣的閾值時，能夠甚至更好地優(yōu)化記錄和重放。需要指出這些閾值可以記錄到光存儲介質的只讀區(qū)域上，或者它們可以存儲在光盤驅動器的存儲器中。
很明顯，前述實施例只是通過實施例進行了說明，本發(fā)明可以在不背離本發(fā)明的范圍的情況下進行變化。
例如，前端和后端標記邊緣不作為抖動和錯誤率評價標準，但是它們可以是這樣的。通過識別前邊和尾邊，抖動和錯誤率在前邊或者后邊上尤其高的情況可以被消除。此外，如果不包括最短標記和間隔的邊可以被識別，錯誤率可以被使用，而不是作為檢測值的抖動。
此外，包括最短標記和間隔的邊通過測量數(shù)字化電路604的輸出信號111中的脈沖間距而檢測，但是檢測最短標記和間隔不受此方法所限。具體而言，所述檢測方法不特定受限，其中兩個閾值SL1和SL2被設置如圖3所示以及最短標記和間隔從信號振幅來檢測的方法可以被使用。
此外，邊緣間距測量電路906不測量通過選擇器電路901的輸出信號902所掩碼的邊緣間距，而是另外的方法可以被使用，只要其可以從不包括最短標記和間隔的邊緣測量抖動。
此外，邊緣間距基于數(shù)字化電路604的輸出信號111以及PLL 605的輸出信號112測量，邊緣間距測量必須不受此限，邊緣間距可以只對504的輸出信號111進行測量。如果輸出信號112中的抖動可以被忽略，數(shù)字化電路604的邊緣間距中的抖動在邏輯上大約是基于數(shù)字化電路604的輸出信號111和PLL 605輸出信號112的邊緣間距抖動的1.41倍，合適的益處可以通過只檢測數(shù)字化電路604中的輸出信號111中的邊緣間距中的抖動來實現(xiàn)。
在重放系統(tǒng)中使用PRML還改善了最短標記和最短間隔檢測性能。在此情況下，從不包括最短標記和間隔的邊緣檢測抖動在本實施例中尤其有效。例如，當兩個具有在所有的邊緣上具有相等的抖動的兩個記錄狀態(tài)被比較時，來自不包括最短標記和間隔的邊緣的較低的抖動水平意味著數(shù)據(jù)可以被更為精確地再現(xiàn)。但是，由于最短標記和間隔的效果，包括最短標記和間隔的邊緣可以使用PRML方法作為2T標記和間隔來正確檢測，即使當抖動在所有的邊緣上較高時。結果，所述數(shù)據(jù)可以比當來自所有的邊緣的抖動較低時更為精確地再現(xiàn)。
此外，編碼系統(tǒng)不限于2T的最短標記長度，不管最短的標記長度是3T、1T或者其它長度，可以實現(xiàn)相同的效果。
通過記錄標記以最小化不包括最短標記和間隔邊緣中的變化，在PRML方法被使用時，即使所有邊緣的抖動較高，如果所述標記從足夠的振幅記錄以檢測信號即使在最短標記和間隔沒有記錄在正確的時間間距時是否存在也可以正確地再現(xiàn)。結果，通過檢測不包括最短標記和間隔的邊緣的抖動而確定記錄條件由此及其有效。
此外，此實施例檢測來自不包括最短標記和間隔的抖動和包括最短標記和間隔的邊緣的抖動，但是即使在只有不包括最短標記和間隔的抖動被檢測時也能實現(xiàn)合適的性能。
但是，另外，對抖動是否對不包括最短標記和間隔的邊緣檢測到或者是否抖動只對不包括最短標記或者對不包括最短間隔的邊緣檢測到，也能實現(xiàn)合適的性能。
此外，即使PRML沒有被使用，在RLL編碼的情況下最短標記長度是公知的，最短標記和間隔可以很容易檢測。具體而言，如果RLL(1，7)調制被使用，2.5T信號從重放波形中檢測，所述信號可以是2T或者3T信號，但是如果比2T更短的信號被檢測的話，2T的信號是可能的。檢測來自不包括最短標記和間隔的邊緣的抖動，如同本實施例中所述，在RLL編碼被用作記錄時有效。
用作閾值的抖動水平將根據(jù)光盤驅動器和均衡器的類型的誤差矯正能力而變化。假設光盤驅動器在錯誤矯正之前具有1.0×10-4至1.0×10-3的比特誤差率，但是在使用本發(fā)明實施例中的線性均衡器，在重放信號質量檢測裝置A 104中，大約8％-11％的水平是優(yōu)選的，在使用非線性均衡器時6％-9％的水平是優(yōu)選的，諸如定量均衡器，其中信號增加比線性均衡器中的要大。用于重放信號質量檢測裝置A 104中的閾值用抖動水平大于或者等于用作重放信號質量檢測裝置B 105中的閾值的抖動水平。根據(jù)重放通道的結構，抖動水平可以變化1-2％。
連續(xù)記錄和連續(xù)重放的周期必須不受限，通過段單元或者ECC塊進行記錄可以使用在通過段單元進行記錄的光盤驅動器中。
測試記錄必須不受限于記錄軌道旋轉一圈。例如，五軌道可以被連續(xù)記錄，然后中間軌道再現(xiàn)。這通過從相鄰軌道包括擦除更好地模擬了實際的記錄條件，并由此在更靠近實際的數(shù)據(jù)記錄條件的條件下檢測抖動。
中心軌道的各側上的軌道也可以在記錄中心軌道之后進行記錄。這保證從相鄰軌道擦除的效果也包括在抖動檢測中，并使得在更靠近實際的數(shù)據(jù)記錄條件的條件下能夠檢測抖動?？紤]到通過不同的光盤驅動器記錄到相鄰軌道的不同數(shù)據(jù)，相鄰的軌道可以在設置的高于峰值功率電平的峰值功率上記錄以記錄中心軌道。通過在更苛刻的條件下確定峰值功率電平而能高可靠地記錄。
如果在中心軌道上記錄到相鄰的軌道的效果不是特別需要考慮，中心軌道可以在記錄相鄰軌道之后進行記錄。這減小了當軌道節(jié)距不均勻時相鄰軌道的效果，這樣確定了正確的峰值功率設置。
記錄不受限于一次記錄到相同的軌道上，例如，相同的軌道可以記錄十次。通過多次記錄到光存儲介質，所述光存儲介質可以被寫多次，在更靠近實際的數(shù)據(jù)記錄條件下檢測抖動。每次數(shù)據(jù)被記錄時可以檢測抖動，在這種情況下考慮到光存儲介質的初始重寫特性最佳峰值功率可以被確定。
此外，為了記錄多次并在高峰值功率電平通過不同的光盤驅動器記錄的區(qū)域上重寫，在比用于記錄用戶區(qū)域的峰值功率更高的峰值功率電平上記錄之后，數(shù)據(jù)可以在用于記錄用戶區(qū)域的峰值功率上重寫。通過在更加苛刻的條件下確定峰值功率，數(shù)據(jù)可以高可靠地記錄。
這些實施例參照了峰值功率設置進行描述，但是偏置能量和底部功率可以使用用于確定峰值功率的相同方法來確定，并可以參照峰值功率設置來改變。
本發(fā)明必須不受限于上述軌道構造，并可以應用到記錄槽脊軌道的光存儲介質上以及記錄到槽脊軌道和槽軌道上的光存儲介質。
光存儲介質也可以具有一個記錄層、兩個記錄層或者多個記錄層。例如，使用兩層光存儲介質，來自激光束的慧形象差效果更小，傾斜特性在比靠近更遠層的光學拾音頭的層中更好。結果，用于檢測從包括最短標記和間隔的邊緣的抖動的閾值以及用于檢測不包括最短標記和間隔的邊緣的抖動的閾值對比光學拾音頭更靠近遠離所述頭的層的層可以設置的更高。對各層設置包括最短標記和間隔的邊緣的抖動的閾值以及不包括最短標記和間隔的邊緣的抖動的閾值使得對各層能夠優(yōu)化記錄和重放。此外，這些閾值可以被記錄到光存儲介質的只讀區(qū)域上，或者存儲到光盤驅動器中的存儲器中。
此外，根據(jù)重放信號質量檢測的結果而改變的參數(shù)必須不受限于功率設置，并且，例如可以根據(jù)所記錄的標記的長度來確定脈沖串列形狀的位置的寬度。
此外，抖動不是通過記錄條件所導致。由于傾斜或者散焦以及發(fā)射能量本身的波動，作為未優(yōu)化激光發(fā)射能量記錄的過程中由于這樣的因素的結果抖動也從記錄標記中的變化導致。由于重放裝置中的噪音、傾斜或者散焦，即使記錄標記本身中變化較小，重放信號中的波動也導致抖動。
此發(fā)明中的光存儲介質不受限于相變介質，可以施加到任何使用RLL編碼的光存儲介質的發(fā)明，包括不同類型的磁光存儲介質。只讀光存儲介質也可以使用。通過檢測只讀介質制造過程的光存儲介質性能驗證步驟中包括最短標記和間隔的邊緣的抖動以及不包括最短標記和間隔的邊緣的抖動，即使在散焦或者光學拾音頭以及光存儲介質之間發(fā)生相對傾斜時的實際使用過程中更可靠地再現(xiàn)。
如上所述，本發(fā)明提供一種光存儲介質、光盤驅動器、光存儲介質檢測裝置以及光存儲介質檢測方法，其可以減小在使用光緒存儲介質時抖動的增加的效果，其中由于形成在比所需尺寸更小的標記的緣故而使得抖動增加以及可以即使在記錄或者重放的過程中發(fā)生散焦或者光存儲介質以及所述頭之間的相對傾斜時高可靠地記錄和再現(xiàn)數(shù)據(jù)。
本發(fā)明不限于所附權利要求中所描述的實施例，并可以如下實現(xiàn)。
本發(fā)明的第一形式是一種光盤驅動器，具有光學拾音頭，其將光束發(fā)射到光存儲介質上，檢測從光存儲介質反射的光束，并基于所接收到的反射光輸出信號；以及解調裝置，所述解調裝置接收從光學拾音頭輸出的信號，并使用兩個閾值再現(xiàn)記錄到光存儲介質上的信息。光存儲介質具有用于記錄數(shù)據(jù)的光存儲介質。基于周期T的長度kT的數(shù)字數(shù)據(jù)作為標記或者間隔的序列被記錄到記錄層，k是2或者更大的整數(shù)，2T長數(shù)字數(shù)據(jù)標記的寬度比3T或者更長的數(shù)字數(shù)據(jù)的寬度要窄。
本發(fā)明的第二形式是一種光盤驅動器，具有光學拾音頭，其將光束發(fā)射到光存儲介質上，檢測從光存儲介質反射的光束，并基于所接收到的反射光輸出信號；以及解調裝置，所述解調裝置接收從光學拾音頭輸出的信號，并使用最大可能性的解碼再現(xiàn)記錄到光存儲介質的信息。光存儲介質具有用于記錄數(shù)據(jù)的光存儲介質?；谥芷赥的長度kT的數(shù)字數(shù)據(jù)作為標記或者間隔的序列被記錄到記錄層，k是2或者更大的整數(shù)，2T長數(shù)字數(shù)據(jù)標記的寬度比長于2T的數(shù)字數(shù)據(jù)的寬度要窄。
本發(fā)明的第三形式是一種光盤驅動器，具有光學拾音頭，其將光束發(fā)射到光存儲介質上，檢測從光存儲介質反射的光束，并基于所接收到的反射光輸出信號；以及解調裝置，所述解調裝置接收從光學拾音頭輸出的信號，并使用兩個閾值再現(xiàn)記錄到光存儲介質上的信息。光存儲介質具有第一記錄層和第二記錄層。第一記錄層是使部分入射到其上的光通過的半透明層，所述通過第一記錄層的光達到第二記錄層，基于周期T的長度kT的數(shù)字數(shù)據(jù)作為標記或者間隔的序列被記錄到第一記錄層，k是2或者更大的整數(shù)。
本發(fā)明的第四形式是一種光盤驅動器，具有光學拾音頭，其將光束發(fā)射到光存儲介質上，檢測從光存儲介質反射的光束，并基于所接收到的反射光輸出信號；以及解調裝置，所述解調裝置接收從光學拾音頭輸出的信號，并使用最大可能的解碼再現(xiàn)記錄到光存儲介質的信息。光存儲介質具有第一記錄層和第二記錄層。第一記錄層是使部分入射到其上的光通過的半透明層，所述通過第一記錄層的光達到第二記錄層，基于周期T的長度kT的數(shù)字數(shù)據(jù)作為標記或者間隔的序列被記錄到第一記錄層，k是2或者更大的整數(shù)。
本發(fā)明的第五形式是一種光盤驅動器，具有光學拾音頭，其將光束發(fā)射到光存儲介質上，檢測從光存儲介質反射的光束，并基于所接收到的反射光輸出信號；用于接收從光學拾音頭輸出信號并分離記錄到光存儲介質的數(shù)字信息的時鐘產(chǎn)生裝置；以及再現(xiàn)記錄到光存儲介質上的數(shù)據(jù)的解調裝置。光存儲介質具有第一記錄層和第二記錄層。第一記錄層是使部分入射到其上的光通過的半透明層，所述通過第一記錄層的光達到第二記錄層，基于周期T的長度kT的數(shù)字數(shù)據(jù)作為標記或者間隔的序列被記錄到記錄層，k是2或者更大的整數(shù)。時鐘產(chǎn)生裝置通過將從2T數(shù)字數(shù)據(jù)標記或者間隔邊緣所獲得信號作為無效信號而產(chǎn)生時鐘信號。
本發(fā)明的第六形式是一種光盤驅動器，具有光學拾音頭，其將光束發(fā)射到光存儲介質上，檢測從光存儲介質反射的光束，并基于所接收到的反射光輸出信號；用于接收從光學拾音頭輸出信號并分離記錄到光存儲介質的數(shù)字信息的時鐘產(chǎn)生裝置；以及再現(xiàn)記錄到光存儲介質上的數(shù)據(jù)的解調裝置。光存儲介質具有記錄層?；谥芷赥的長度kT的數(shù)字數(shù)據(jù)作為標記或者間隔的序列被記錄到記錄層，k是2或者更大的整數(shù)，2T數(shù)字數(shù)據(jù)標記寬度比長于2T的數(shù)字數(shù)據(jù)標記的寬度要窄。時鐘產(chǎn)生裝置通過將從2T數(shù)字數(shù)據(jù)標記或者間隔邊緣所獲得信號作為無效信號而產(chǎn)生時鐘信號。
本發(fā)明的第七形式是一種光盤驅動器，具有光學拾音頭，其將光束發(fā)射到光存儲介質上，檢測從光存儲介質反射的光束，并基于所接收到的反射光輸出信號；用于接收從光學拾音頭輸出信號并分離記錄到光存儲介質的數(shù)字信息的時鐘產(chǎn)生裝置；以及再現(xiàn)記錄到光存儲介質上的數(shù)據(jù)的解調裝置；用于跟蹤控制的TE信號產(chǎn)生裝置。光存儲介質具有記錄層?；谥芷赥的長度kT的數(shù)字數(shù)據(jù)作為標記或者間隔的序列被記錄到記錄層，k是2或者更大的整數(shù)。跟蹤誤差信號產(chǎn)生裝置在當光束撞擊記錄到光存儲介質上的標記或者間隔的邊緣時產(chǎn)生的信號中的變化而產(chǎn)生跟蹤誤差信號，并通過使得從2T長數(shù)字數(shù)據(jù)標記或者間隔上的光束所導致的信號變化無效而產(chǎn)生跟蹤誤差信號。
本發(fā)明的第八形式是一種光盤驅動器，其中光存儲介質的記錄層使得能夠重復記錄和擦除信息。
本發(fā)明的第九形式是一種光盤驅動器，其中光存儲介質的記錄層可以只記錄一次。
本發(fā)明的第十形式是一種光盤驅動器，其中光存儲介質的記錄層可以是只讀的。
本發(fā)明的第十一形式是一種光盤驅動器，其中光存儲介質的第一記錄層是只讀的，第二記錄層使得只記錄一次。
本發(fā)明的第十二形式是一種光盤驅動器，其中光存儲介質的第一記錄層是只讀的，第二記錄層可以反復記錄和擦除。
本發(fā)明的第十三形式是一種光盤驅動器，具有光學拾音頭，其將光束發(fā)射到光存儲介質上，檢測從光存儲介質反射的光束，并基于所接收到的反射光輸出信號；用于接收從光學拾音頭輸出信號并再現(xiàn)記錄到光存儲介質的數(shù)字信息的解調裝置。光存儲介質具有用于記錄數(shù)據(jù)用的記錄層?；谥芷赥的長度kT的數(shù)字數(shù)據(jù)作為標記或者間隔的序列被記錄到記錄層，k是2或者更大的整數(shù)，2T數(shù)字數(shù)據(jù)標記寬度比3T或者更長的數(shù)字數(shù)據(jù)標記的寬度要窄。光盤驅動器調整2T長度數(shù)字數(shù)據(jù)標記，這樣從反復記錄2T長數(shù)字數(shù)據(jù)標記和間隔的圖樣所檢測的長度達到作為適于再現(xiàn)重復記錄3T或者更長的數(shù)字數(shù)據(jù)標記和間隔的圖樣中的信息用閾值。
本發(fā)明的第十四形式是一種光盤驅動器，具有光學拾音頭，其將光束發(fā)射到光存儲介質上，檢測從光存儲介質反射的光束，并基于所接收到的反射光輸出信號；用于接收從光學拾音頭輸出信號并再現(xiàn)記錄到光存儲介質的數(shù)字信息的解調裝置。光存儲介質具有用于記錄數(shù)據(jù)用的記錄層?；谥芷赥的長度kT的數(shù)字數(shù)據(jù)作為標記或者間隔的序列被記錄到記錄層，k是2或者更大的整數(shù)。光盤驅動器具有評價標準，這樣標記和間隔的長度是合適的，并調整長于2T的數(shù)字數(shù)據(jù)標記和間隔的長度，這樣所述長度相對評價標準是合適的。
本發(fā)明的第十五形式是一種光盤驅動器，具有光學拾音頭，其將光束發(fā)射到光存儲介質上，檢測從光存儲介質反射的光束，并基于所接收到的反射光輸出信號；用于接收從光學拾音頭輸出信號并再現(xiàn)記錄到光存儲介質的數(shù)字信息的解調裝置。光存儲介質具有用于記錄數(shù)據(jù)用的記錄層，基于周期T的長度kT的數(shù)字數(shù)據(jù)作為標記或者間隔序列使用評價標準記錄到記錄層用于將標記和間隔的長度調整到合適的長度。當記錄到光存儲介質時，通常記錄的k是2或者更大的整數(shù)，光盤驅動器使用3或者更大的k來記錄信息，并調整3T或者更大長度的數(shù)字數(shù)據(jù)標記的長度和間隔，這樣所述長度相對評價標準是合適的。
本發(fā)明的第十六形式是一種光盤驅動器，其中評價標準是抖動。
本發(fā)明的第十七形式是一種光盤驅動器，其中評價標準是錯誤率。
本發(fā)明的第十八形式是一種光盤驅動器，其中評價標準是所獲得的信號的周期。
本發(fā)明的第十九形式是一種光盤驅動器，由此標記的長度通過調整從光學拾音頭發(fā)射的激光束的功率來調整。
本發(fā)明的第二十形式是一種光盤驅動器，由此標記長度通過調整從光學拾音頭所發(fā)射的激光束的脈沖寬度來調整。
本發(fā)明的第二十一形式是一種光盤驅動器，由此抖動從光存儲介質中來測量，寬度為2T的數(shù)字數(shù)據(jù)標記比長于2T的數(shù)字數(shù)據(jù)標記要窄。
本發(fā)明的第二十二形式是一種光盤驅動器，抖動從將光束發(fā)射到具有第一記錄層和第二記錄層的光存儲介質的第一記錄層而獲得的信號中進行測量，第一記錄層是使其上部分入射光通過的半透明薄膜，通過第一記錄層地所述光到達第二記錄層。
本發(fā)明的第二十三形式是一種光盤驅動器，I2pp/I8pp＜0.2，I2pp是從記錄2T長的數(shù)字數(shù)據(jù)標記和間隔的重復圖樣所再現(xiàn)的信號，I8pp是從重復記錄的8T長數(shù)字數(shù)據(jù)標記和間隔的圖樣所再現(xiàn)的信號。
本發(fā)明的第二十四形式是一種光盤驅動器，ML＜λ/(1.25*NA)，ML是一對長度2T的數(shù)字數(shù)據(jù)標記和間隔的長度，λ是從光學拾音頭所發(fā)射的光束的波長，NA是光學拾音頭的會聚光學器件的數(shù)值孔徑。
本發(fā)明的第二十五形式是一種光盤驅動器，光盤驅動器還具有增益調整裝置，這樣當光存儲介質的反射率變化時輸入到解調裝置中的信號的振幅的變化較小。
本發(fā)明的第二十六形式是一種光存儲介質，由此信息可以暴露到光束而記錄或再現(xiàn)，光存儲介質具有第一記錄層和第二記錄層作為記錄層來記錄信息，第一記錄層是只讀記錄層，第二記錄層是使得只記錄一次數(shù)據(jù)的記錄層，第一記錄層設置比第二記錄層更靠近介質的光入射側。
本發(fā)明的第二十七形式是一種光存儲介質，由此信息可以暴露到光束而記錄或再現(xiàn)，光存儲介質具有第一記錄層和第二記錄層作為記錄層來記錄信息，第一記錄層是只讀記錄層，第二記錄層是能夠重復記錄和消除數(shù)據(jù)的記錄層，第一記錄層設置比第二記錄層更靠近介質的光入射側。
本發(fā)明的第二十七形式是一種光存儲介質，所述光存儲介質是具有同心形成或者螺旋形成的多個軌道，通過將光束發(fā)射到軌道的記錄表面而用于使用標記和標記之間的間隔來記錄信息，其特征在于信號不包括相鄰于指示第一重放信號質量的最短標記和/或者最短間隔的邊緣。
本發(fā)明的第二十八形式是一種光存儲介質，所述光存儲介質也具有包括相鄰于指示第二重放信號質量的最短標記和/或者最短間隔的邊緣的信號。
本發(fā)明的第二十九形式是一種光存儲介質，第一重放信號質量比第二重放信號質量要高。
本發(fā)明的第三十形式是一種光存儲介質，其特征在于抖動作為重放信號質量檢測。
本發(fā)明的第三十一形式是一種光存儲介質，其特征在于區(qū)分前邊抖動和尾邊抖動。
本發(fā)明的第三十二形式是一種光存儲介質，其特征在于錯誤率作為重放信號質量檢測。
本發(fā)明的第三十三形式是一種光存儲介質，其特征在于光存儲介質具有多個記錄層，并且對各層設置重放信號質量。
本發(fā)明的第三十四形式是一種光存儲介質，其特征在于在離開光學拾音頭最遠的層記錄的過程中質量是最高的。
本發(fā)明的第三十五形式是一種光存儲介質，其特征在于重放信號質量閾值被寫到光存儲介質的特定區(qū)域上。
本發(fā)明的第三十六形式是一種光存儲介質，其特征在于此特定區(qū)域是只讀區(qū)域。
本發(fā)明的第三十七形式是一種光存儲介質，其特征在于信號也記錄到于具有特定重放信號質量的軌道上。
本發(fā)明的第三十八形式是一種光存儲介質，其特征在于具有特定重放信號質量的軌道在相鄰軌道被記錄之前記錄。
本發(fā)明的第三十九形式是一種光存儲介質，其特征在于當記錄相鄰軌道時的激光束的發(fā)射功率比當記錄具有特定重放信號質量的軌道時的激光束的發(fā)射功率大。
本發(fā)明的第四十形式是一種光存儲介質，其特征在于具有特定重放信號質量的軌道在記錄到相鄰的一個軌道之后記錄。
本發(fā)明的第四十一形式是一種光存儲介質，其特征在于具有特定重放信號質量的軌道在記錄到兩個相鄰軌道之后記錄。
本發(fā)明的第四十二形式是一種光存儲介質，其特征在于具有特定重放信號質量的軌道記錄多次。
本發(fā)明的第四十三形式是一種光存儲介質，其特征在于在所有特定數(shù)目的記錄中特定的重放信號質量是。
本發(fā)明的第四十四形式是一種光存儲介質，其特征在于所述光存儲介質在第一發(fā)射功率電平之后在第二發(fā)射功率電平記錄，第一發(fā)射功率電平比第二發(fā)射功率電平大。
本發(fā)明的第四十五形式是一種光盤驅動器，所述光盤驅動器通過將光束發(fā)射到軌道的記錄表面用于讀取具有多個同心形成或者螺旋形成用于使用標記或者標記之間的間隔來記錄信息而形成的多軌道光存儲介質的光盤驅動器，光存儲介質具有通過不包括相鄰于最短標記和/或者最短間隔的邊的信號來表示的第一重放信息質量。
本發(fā)明的第四十六形式是一種光盤驅動器，所述光盤驅動器通過將光束發(fā)射到軌道的記錄表面用于讀取具有多個同心形成或者螺旋形成用于使用標記或者標記之間的間隔來記錄信息而形成的多軌道光存儲介質的光盤驅動器，光存儲介質具有通過不包括相鄰于最短標記和/或者最短間隔的邊的信號來表示的第一重放信息質量，以及通過包括相鄰于最短標記和/或者最短間隔的邊的信號來表示的第二重放信息質量。
本發(fā)明的第四十七形式是一種用于記錄的光盤驅動器，這樣不包括相鄰于最短標記和/或者最短間隔的邊的信號具有第一重放信號質量，光盤驅動器包括用于記錄信號的裝置，用于再現(xiàn)被記錄的信號的裝置，用于檢測被記錄信號中的最短標記或者最短間隔的裝置，以及用于檢測不包括相鄰于所檢測的最短標記或者最短間隔的邊的信號中的重放信號質量的重放信號質量檢測裝置。
本發(fā)明的第四十八形式是一種光盤驅動器，其中包括相鄰于最短標記和/或者最短間隔的邊的信號表示第二重放信號質量。
本發(fā)明的第四十九形式是一種光盤驅動器，其中第一重放信號質量比第二重放信號質量要高。
本發(fā)明的第五十形式是一種光盤驅動器，抖動被檢測以作為重放信號質量。
本發(fā)明的第五十一形式是一種光盤驅動器，區(qū)分前邊抖動和尾邊抖動。
本發(fā)明的第五十二形式是一種光盤驅動器，檢測錯誤率作為重放信號質量。
本發(fā)明的第五十三形式是一種光盤驅動器，光存儲介質也具有多個記錄層，各記錄層具有重放信號質量設置。
本發(fā)明的第五十四形式是一種光盤驅動器，其中離開光學拾音頭最遠的層的質量在記錄的過程中是最高的。
本發(fā)明的第五十五形式是一種光盤驅動器，其中重放信號質量閾值被記錄到光盤驅動器的特定的區(qū)域上。
本發(fā)明的第五十六形式是一種光盤驅動器，其中具有特定重放信號質量的軌道在記錄到相鄰的軌道之前被記錄。
本發(fā)明的第五十七形式是一種光盤驅動器，其中當記錄相鄰軌道時的激光束的發(fā)射功率比當記錄具有特定重放信號質量的軌道時的激光束的發(fā)射功率更大。
本發(fā)明的第五十八形式是一種光盤驅動器，其中具有特定重放信號質量的軌道在記錄到一個相鄰的軌道之后可以被記錄。
本發(fā)明的第五十九形式是一種光盤驅動器，其中具有特定重放信號質量的軌道在記錄到相鄰軌道之后被記錄。
本發(fā)明的第六十形式是一種光盤驅動器，其中具有特定重放信號質量的軌道被記錄多次。
本發(fā)明的第六十一形式是一種光盤驅動器，所述光盤驅動器在所有的特定數(shù)目的記錄中具有特定重放信號質量。
本發(fā)明的第六十二形式是一種光盤驅動器，其特征在于光盤驅動器在第一發(fā)射功率電平記錄之后在第二發(fā)射功率電平上記錄，第一發(fā)射功率電平比第二發(fā)射功率電平要低。
本發(fā)明的第六十三形式是一種光盤驅動器，其特征在于根據(jù)所檢測的重放信號質量來確定記錄用發(fā)射功率。
本發(fā)明的第六十四形式是一種光盤驅動器，其特征在于發(fā)射功率在記錄用戶數(shù)據(jù)的用戶區(qū)域之外的區(qū)域中確定。
盡管對本發(fā)明的一些實施例進行了展示和說明，本領域技術人員將會理解在不偏離本發(fā)明的原理和實質的情況下，可對這些實施例進行改變，其范圍也落入本發(fā)明的權利要求及其等同物所限定的范圍內。
權利要求
1.一種光存儲介質檢測裝置，包括光學拾音頭，其將光束發(fā)射到光存儲介質上，檢測從光存儲介質反射的光束，并基于所接收到的反射光輸出信號；用于測量從光學拾音頭中輸出的信號中的抖動的抖動測量單元；以及評價單元，其用于從所測量的抖動確定光存儲介質是良好的或者有缺陷的；其中抖動測量單元從光存儲介質測量3T或者更長的標記或者間隔的序列中的抖動，數(shù)字信息作為基于周期T和二或者更大的整數(shù)k的長度kT的標記或者間隔序列來記錄到光存儲介質上。
2.一種光存儲介質檢測裝置，包括光學拾音頭，其將光束發(fā)射到光存儲介質上，檢測從光存儲介質反射的光束，并基于所接收到的反射光輸出信號；用于測量從光學拾音頭中輸出的信號中的抖動的抖動測量單元；以及評價單元，其用于從所測量的抖動確定光存儲介質是良好的或者有缺陷的；其中抖動測量單元測量來自光存儲介質的抖動，數(shù)字信息作為基于周期T和二或者更大的整數(shù)k的長度kT的標記或者間隔序列來記錄到光存儲介質上，但是不測量從長度2T的標記或者間隔的邊緣所獲得的信號中的抖動。
3.根據(jù)權利要求2所述的光存儲介質，其特征在于，抖動測量單元測量來自光存儲介質的抖動，在所述光存儲介質上2T長的標記的寬度比長于2T的標記的寬度要窄。
4.根據(jù)權利要求2所述的光存儲介質，其特征在于，12pp/18pp＜0.2，12pp是從重復記錄2T長的數(shù)字數(shù)據(jù)標記和間隔的圖樣所再現(xiàn)的信號，18pp是從重復記錄8T長數(shù)字數(shù)據(jù)標記和間隔的圖樣所再現(xiàn)的信號。
5.根據(jù)權利要求2所述的光存儲介質，其特征在于，ML＜λ/(1.25*NA)，ML是一對長度2T的數(shù)字數(shù)據(jù)標記和間隔的長度，λ是從光學拾音頭所發(fā)射的光束的波長，NA是光學拾音頭的會聚光學器件的數(shù)值孔徑。
6.根據(jù)權利要求1所述的光存儲介質檢測裝置，其特征在于，抖動測量單元測量來自光存儲介質的抖動，所述光存儲介質具有使部分入射到其上的光通過的半透明薄膜所形成的第一記錄層和第二記錄層，當部分光通過第一記錄層達到第二記錄層時，抖動測量單元測量從第二記錄層所獲得的信號中的抖動。
7.根據(jù)權利要求1所述的光存儲介質檢測裝置，其特征在于，還包括增益調整裝置，當光存儲介質的反射率變化時用于減小輸入到解調裝置中的振幅的變化。
8.一種用于確定光存儲介質是好的或者有缺陷的光存儲介質檢測方法，所述方法包括將光束從光學拾音頭發(fā)射到光存儲介質上，數(shù)字信息作為基于周期T和整數(shù)k的長度kT的一系列標記和間隔記錄在所述光存儲介質上；接收通過標記或者間隔所反射的光；基于所反射的光測量信號中的抖動，但是不測量通過最短標記或者間隔的邊緣所獲得信號中的抖動；以及從所測量的抖動中確定光存儲介質是好的或者有缺陷的。
9.根據(jù)權利要求8所述的光存儲介質檢測方法，其特征在于，最短長度的標記和間隔是長度2T的標記或者間隔。
全文摘要
一種光學信息裝置，包括光學拾音頭，其將光束發(fā)射到光存儲介質上，接收從光存儲介質反射的光束，并根據(jù)所接收到的反射光輸出信號；用于測量從拾音頭中輸出的信號中的抖動的抖動測量部分；以及從上述所測的抖動判斷光存儲介質是好的或者是有缺陷的判斷部分。抖動測量部分測量一行具有長度3T或者更長的長度的標記和間隔的抖動，T是基本周期，并在光存儲介質上記錄，數(shù)字信號作為具有長度kT的一行標記或者間隔來記錄，k是2或者更大的整數(shù)，T是基本周期。
文檔編號G11B20/10GK1647163SQ0380795
公開日2005年7月27日 申請日期2003年4月2日 優(yōu)先權日2002年4月3日
發(fā)明者門脅慎一, 東海林衛(wèi), 中村敦史, 石田隆 申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社