專利名稱：只再現(xiàn)記錄介質(zhì)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種可讀光盤，即使當(dāng)存在由于黑點(diǎn)等引起的丟失數(shù)據(jù)區(qū)域時(shí)，也能從其中讀取記錄在該光盤上的數(shù)據(jù)。
背景技術(shù)：
最近幾年，所謂DVD(數(shù)字多功能盤)已被廣泛使用，并正成為能夠進(jìn)行高密度數(shù)據(jù)記錄的盤形數(shù)據(jù)記錄介質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)。
傳統(tǒng)上，在例如DVD等光盤上形成控制數(shù)據(jù)區(qū)，用于預(yù)先記錄該光盤的ID數(shù)據(jù)和關(guān)于記錄在該光盤上的內(nèi)容數(shù)據(jù)的控制數(shù)據(jù)。而且，當(dāng)再現(xiàn)該光盤上的數(shù)據(jù)時(shí)，讀取在該控制區(qū)中記錄的ID數(shù)據(jù)和控制數(shù)據(jù)，以執(zhí)行內(nèi)容數(shù)據(jù)的再現(xiàn)控制。
此外，該光盤是這樣的，使得它被再現(xiàn)設(shè)備的光頭所發(fā)射的激光束照射。以此方式，跟蹤記錄在光盤上的凹坑，并讀取內(nèi)容數(shù)據(jù)、ID數(shù)據(jù)和控制數(shù)據(jù)。
利用這種光盤，當(dāng)盤上存在裂痕或黑點(diǎn)時(shí)，該再現(xiàn)設(shè)備的光頭跳動(dòng)，并且該盤上的相同位置被反復(fù)再現(xiàn)，或者變成不可能讀取記錄在黑點(diǎn)中的數(shù)據(jù)。
所以，最近，當(dāng)再現(xiàn)光盤上的數(shù)據(jù)時(shí)，執(zhí)行對(duì)該跟蹤的控制。對(duì)該跟蹤的控制稱為跟蹤控制。
當(dāng)再現(xiàn)記錄在該光盤上的數(shù)據(jù)時(shí)，該控制數(shù)據(jù)是特別重要的數(shù)據(jù)。所以，作為再現(xiàn)光盤上的數(shù)據(jù)的最近的方法，不僅通過執(zhí)行上述跟蹤控制，而且還通過利用糾錯(cuò)信號(hào)或擺動(dòng)信號(hào)(Wobble signal)對(duì)控制數(shù)據(jù)進(jìn)行編碼，來(lái)防止出現(xiàn)再現(xiàn)失敗和不能讀取數(shù)據(jù)。
所以，除了執(zhí)行對(duì)光盤的跟蹤控制之外，還利用糾錯(cuò)信號(hào)或擺動(dòng)信號(hào)，通過根據(jù)其他的讀取數(shù)據(jù)推測(cè)出正確的數(shù)據(jù)來(lái)校正錯(cuò)誤，稱為糾錯(cuò)(Error-Correcting)，并且即使當(dāng)由于黑點(diǎn)而導(dǎo)致不可能讀取部分控制數(shù)據(jù)時(shí)，也能精確地讀取該控制數(shù)據(jù)。
然而，在以高密度在其上記錄數(shù)據(jù)的例如DVD等只再現(xiàn)(reproduction-only)光盤的情況下，在檢測(cè)代表數(shù)據(jù)的凹坑的同時(shí)，再現(xiàn)光盤上的數(shù)據(jù)。所以，當(dāng)由于光盤上的裂痕或黑點(diǎn)導(dǎo)致出現(xiàn)丟失區(qū)域(missing area)時(shí)，該丟失區(qū)域成為跟蹤誤差的來(lái)源，并存在將不可能讀取記錄在該丟失區(qū)域中的數(shù)據(jù)的可能性。
換言之，在光盤的物鏡的正常NA處(NA(數(shù)值孔徑∶開孔數(shù)值)＝0.5)，即使當(dāng)存在黑點(diǎn)時(shí)，由于執(zhí)行跟蹤控制或糾錯(cuò)，使得對(duì)再現(xiàn)幾乎沒有任何影響。然而，在從具有高記錄密度的光盤上讀取數(shù)據(jù)的情況下，使用具有高NA的物鏡，所以當(dāng)存在由于黑點(diǎn)引起的丟失數(shù)據(jù)區(qū)域時(shí)并且當(dāng)這些丟失數(shù)據(jù)區(qū)域很大時(shí)，利用糾錯(cuò)或擺動(dòng)方法來(lái)讀取記錄在該丟失數(shù)據(jù)的區(qū)域中的數(shù)據(jù)變得不可能。

發(fā)明內(nèi)容
考慮到上述問題，本發(fā)明的目的是提供一種例如DVD等的光盤，即使當(dāng)該光盤上存在缺陷或黑點(diǎn)時(shí)，也能精確讀取記錄在該光盤上的控制數(shù)據(jù)。
為了解決上述問題，第一發(fā)明提供了一種只再現(xiàn)記錄介質(zhì)，包括內(nèi)容數(shù)據(jù)區(qū)域，記錄有內(nèi)容數(shù)據(jù)；和多個(gè)控制數(shù)據(jù)區(qū)域，記錄有用于控制所記錄的內(nèi)容數(shù)據(jù)的再現(xiàn)的控制數(shù)據(jù)；并且其中，控制數(shù)據(jù)被利用相位凹坑(phasepit)記錄在至少控制數(shù)據(jù)區(qū)域中，并且具有相同內(nèi)容的控制數(shù)據(jù)被重復(fù)記錄。
利用該結(jié)構(gòu)，即使當(dāng)由于盤表面上的黑點(diǎn)或裂痕而導(dǎo)致不可能從控制數(shù)據(jù)區(qū)域之一中讀取控制數(shù)據(jù)時(shí)，第一發(fā)明也能夠從記錄有與該控制數(shù)據(jù)相同的內(nèi)容的另一控制數(shù)據(jù)區(qū)域中讀取所記錄的控制數(shù)據(jù)。
所以，由于該光盤具有對(duì)光盤上的灰塵的高度耐受性，因此有可能提供能夠承受惡劣操作條件的光盤。
在第一發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例中，以一寬度來(lái)分隔每一控制數(shù)據(jù)區(qū)域與其他控制數(shù)據(jù)區(qū)域，該寬度大于丟失數(shù)據(jù)區(qū)域沿記錄介質(zhì)的徑向上的寬度，該丟失數(shù)據(jù)區(qū)域在再現(xiàn)記錄介質(zhì)時(shí)將引起控制數(shù)據(jù)丟失。
根據(jù)第一發(fā)明，即使當(dāng)由于盤表面上的黑點(diǎn)或裂痕而導(dǎo)致不可能從控制數(shù)據(jù)區(qū)域之一中讀取控制數(shù)據(jù)時(shí)，本發(fā)明也能夠從記錄有與該控制數(shù)據(jù)相同的內(nèi)容的另一控制數(shù)據(jù)區(qū)域中讀取所記錄的控制數(shù)據(jù)。所以，在盤表面上存在黑點(diǎn)或裂痕的情況下，也有可能精確地讀取記錄在該只再現(xiàn)記錄介質(zhì)上的控制數(shù)據(jù)。
所以，由于該光盤具有對(duì)光盤上的灰塵的高度耐受性，因此有可能提供能夠承受惡劣操作條件的光盤。
在第一發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例中，丟失數(shù)據(jù)區(qū)域沿該記錄介質(zhì)的徑向上的寬度為0.1mm。
根據(jù)第一發(fā)明，即使當(dāng)由于盤表面上的黑點(diǎn)或裂痕而導(dǎo)致不可能從控制數(shù)據(jù)區(qū)域之一中讀取控制數(shù)據(jù)時(shí)，本發(fā)明也能夠從記錄有與該控制數(shù)據(jù)相同的內(nèi)容的另一控制數(shù)據(jù)區(qū)域中讀取所記錄的控制數(shù)據(jù)。所以，在盤表面上存在黑點(diǎn)或裂痕的情況下，也有可能精確地讀取記錄在該只再現(xiàn)記錄介質(zhì)上的控制數(shù)據(jù)。
所以，由于該光盤具有對(duì)光盤上的灰塵的高度耐受性，因此有可能提供能夠承受惡劣操作條件的光盤。
在第一發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例中，丟失數(shù)據(jù)區(qū)域是在該記錄介質(zhì)的制造過程中出現(xiàn)的黑點(diǎn)。
根據(jù)第一發(fā)明，即使當(dāng)由于盤表面上的黑點(diǎn)或裂痕而導(dǎo)致不可能從控制數(shù)據(jù)區(qū)域之一中讀取控制數(shù)據(jù)時(shí)，本發(fā)明也能夠從記錄有與該控制數(shù)據(jù)相同的內(nèi)容的另一控制數(shù)據(jù)區(qū)域中讀取所記錄的控制數(shù)據(jù)。所以，在盤表面上存在黑點(diǎn)或裂痕的情況下，也有可能精確地讀取記錄在該只再現(xiàn)記錄介質(zhì)上的控制數(shù)據(jù)。
所以，由于該光盤具有對(duì)光盤上的灰塵的高度耐受性，因此有可能提供能夠承受惡劣操作條件的光盤。
在第一發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例中，控制數(shù)據(jù)被記錄在至少控制區(qū)域中，使得該控制數(shù)據(jù)能夠由具有0.75或更大的數(shù)值孔徑的光學(xué)部件來(lái)讀取。
根據(jù)第一發(fā)明，即使當(dāng)由于盤表面上的黑點(diǎn)或裂痕而導(dǎo)致不可能從控制數(shù)據(jù)區(qū)域之一中讀取控制數(shù)據(jù)時(shí)，本發(fā)明也能夠從記錄有與該控制數(shù)據(jù)相同的內(nèi)容的另一控制數(shù)據(jù)區(qū)域中讀取所記錄的控制數(shù)據(jù)。所以，在盤表面上存在黑點(diǎn)或裂痕的情況下，也有可能精確地讀取記錄在該只再現(xiàn)記錄介質(zhì)上的控制數(shù)據(jù)。
所以，由于該光盤具有對(duì)光盤上的灰塵的高度耐受性，因此有可能提供能夠承受惡劣操作條件的光盤。
在第一發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例中，控制數(shù)據(jù)被記錄在至少控制區(qū)域中，使得該控制數(shù)據(jù)能夠由具有440nm或更小的光束波長(zhǎng)的光學(xué)部件來(lái)再現(xiàn)。
根據(jù)第一發(fā)明，即使當(dāng)由于盤表面上的黑點(diǎn)或裂痕而導(dǎo)致不可能從控制數(shù)據(jù)區(qū)域之一中讀取控制數(shù)據(jù)時(shí)，本發(fā)明也能夠從記錄有與該控制數(shù)據(jù)相同的內(nèi)容的另一控制數(shù)據(jù)區(qū)域中讀取所記錄的控制數(shù)據(jù)。所以，在盤表面上存在黑點(diǎn)或裂痕的情況下，也有可能精確地讀取記錄在該只再現(xiàn)記錄介質(zhì)上的控制數(shù)據(jù)。
所以，由于該光盤具有對(duì)光盤上的灰塵的高度耐受性，因此有可能提供能夠承受惡劣操作條件的光盤。
為了解決上述問題，第二發(fā)明提供了一種只再現(xiàn)記錄介質(zhì)，包括內(nèi)容數(shù)據(jù)區(qū)域，記錄有內(nèi)容數(shù)據(jù)；和控制數(shù)據(jù)區(qū)域，沿所述記錄介質(zhì)的徑向具有預(yù)置寬度，并且記錄有用于控制所記錄的內(nèi)容的再現(xiàn)的控制數(shù)據(jù)；并且其中，控制數(shù)據(jù)被利用相位凹坑記錄在至少所述控制數(shù)據(jù)區(qū)域中，并且具有相同內(nèi)容的控制數(shù)據(jù)被重復(fù)記錄。
利用該結(jié)構(gòu)，在第二發(fā)明中，即使當(dāng)控制數(shù)據(jù)區(qū)域中存在黑點(diǎn)或者盤表面上存在裂痕時(shí)，在讀取控制區(qū)域中的所有數(shù)據(jù)時(shí)也不會(huì)出現(xiàn)由于黑點(diǎn)等導(dǎo)致的讀取誤差，并且通過讀取一組重復(fù)記錄的控制數(shù)據(jù)來(lái)精確地執(zhí)行再現(xiàn)。所以，即使當(dāng)該只再現(xiàn)記錄介質(zhì)上存在裂痕或黑點(diǎn)時(shí)，也有可能精確地讀取記錄在該記錄介質(zhì)上的控制數(shù)據(jù)。
所以，由于該光盤具有對(duì)光盤上的灰塵的高度耐受性，因此有可能提供能夠承受惡劣操作條件的光盤。
在第二發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例中，控制數(shù)據(jù)區(qū)域的預(yù)置寬度大于丟失數(shù)據(jù)區(qū)域沿該記錄介質(zhì)的徑向上的寬度，該丟失數(shù)據(jù)區(qū)域在再現(xiàn)該記錄介質(zhì)時(shí)引起控制數(shù)據(jù)丟失。
根據(jù)第二發(fā)明，即使當(dāng)控制數(shù)據(jù)區(qū)域中存在黑點(diǎn)或盤表面上存在裂痕時(shí)，在讀取該控制區(qū)域中的所有數(shù)據(jù)時(shí)也不會(huì)出現(xiàn)由于黑點(diǎn)等導(dǎo)致的讀取誤差，并且通過讀取一組重復(fù)記錄的控制數(shù)據(jù)來(lái)精確地執(zhí)行再現(xiàn)。所以，即使當(dāng)該只再現(xiàn)記錄介質(zhì)上存在裂痕或黑點(diǎn)時(shí)，也有可能精確地讀取記錄在該記錄介質(zhì)上的控制數(shù)據(jù)。
所以，由于該光盤具有對(duì)光盤上的灰塵的高度耐受性，因此有可能提供能夠承受惡劣操作條件的光盤。
在第二發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例中，丟失數(shù)據(jù)區(qū)域沿該記錄介質(zhì)的徑向上的寬度為0.1mm。
根據(jù)第二發(fā)明，即使當(dāng)由于盤表面上的黑點(diǎn)或裂痕而導(dǎo)致不可能從控制數(shù)據(jù)區(qū)域之一中讀取控制數(shù)據(jù)時(shí)，本發(fā)明也能夠從記錄有與該控制數(shù)據(jù)相同的內(nèi)容的另一控制數(shù)據(jù)區(qū)域中讀取所記錄的控制數(shù)據(jù)。所以，在盤表面上存在黑點(diǎn)或裂痕的情況下，也有可能精確地讀取記錄在該只再現(xiàn)記錄介質(zhì)上的控制數(shù)據(jù)。
所以，由于該光盤具有對(duì)光盤上的灰塵的高度耐受性，因此有可能提供能夠承受惡劣操作條件的光盤。
在第二發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例中，丟失數(shù)據(jù)區(qū)域是在該記錄介質(zhì)的制造過程中出現(xiàn)的黑點(diǎn)。
根據(jù)第二發(fā)明，即使當(dāng)由于盤表面上的黑點(diǎn)或裂痕而導(dǎo)致不可能從控制數(shù)據(jù)區(qū)域之一中讀取控制數(shù)據(jù)時(shí)，本發(fā)明也能夠從記錄有與該控制數(shù)據(jù)相同的內(nèi)容的另一控制數(shù)據(jù)區(qū)域中讀取所記錄的控制數(shù)據(jù)。所以，在盤表面上存在黑點(diǎn)或裂痕的情況下，也有可能精確地讀取記錄在該只再現(xiàn)記錄介質(zhì)上的控制數(shù)據(jù)。
所以，由于該光盤具有對(duì)光盤上的灰塵的高度耐受性，因此有可能提供能夠承受惡劣操作條件的光盤。
在第二發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例中，控制數(shù)據(jù)被記錄在至少控制區(qū)域中，使得該控制數(shù)據(jù)能夠由具有0.75或更大的數(shù)值孔徑的光學(xué)部件來(lái)讀取。
根據(jù)第二發(fā)明，即使當(dāng)由于盤表面上的黑點(diǎn)或裂痕而導(dǎo)致不可能從控制數(shù)據(jù)區(qū)域之一中讀取控制數(shù)據(jù)時(shí)，本發(fā)明也能夠從記錄有與該控制數(shù)據(jù)相同的內(nèi)容的另一控制數(shù)據(jù)區(qū)域中讀取所記錄的控制數(shù)據(jù)。所以，在盤表面上存在黑點(diǎn)或裂痕的情況下，也有可能精確地讀取記錄在該只再現(xiàn)記錄介質(zhì)上的控制數(shù)據(jù)。
所以，由于該光盤具有對(duì)光盤上的灰塵的高度耐受性，因此有可能提供能夠承受惡劣操作條件的光盤。
在第二發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例中，控制數(shù)據(jù)被記錄在至少控制區(qū)域中，使得該控制數(shù)據(jù)能夠由具有440nm或更小的光束波長(zhǎng)的光學(xué)部件來(lái)再現(xiàn)。
根據(jù)第二發(fā)明，即使當(dāng)由于盤表面上的黑點(diǎn)或裂痕而導(dǎo)致不可能從控制數(shù)據(jù)區(qū)域之一中讀取控制數(shù)據(jù)時(shí)，本發(fā)明也能夠從記錄有與該控制數(shù)據(jù)相同的內(nèi)容的另一控制數(shù)據(jù)區(qū)域中讀取所記錄的控制數(shù)據(jù)。所以，在盤表面上存在黑點(diǎn)或裂痕的情況下，也有可能精確地讀取記錄在該只再現(xiàn)記錄介質(zhì)上的控制數(shù)據(jù)。
所以，由于該光盤具有對(duì)光盤上的灰塵的高度耐受性，因此有可能提供能夠承受惡劣操作條件的光盤。


圖1是示出了本發(fā)明的ROM盤的第一實(shí)施例的物理構(gòu)造的示意圖。
圖2是示出了該第一實(shí)施例的控制數(shù)據(jù)的結(jié)構(gòu)的圖。
圖3是示出了該第一實(shí)施例的ROM盤的盤構(gòu)造的構(gòu)造圖。
圖4是用于解釋該第一實(shí)施例中控制數(shù)據(jù)區(qū)域和黑點(diǎn)之間的關(guān)系的圖。
圖5是示出了本發(fā)明的ROM盤的第二實(shí)施例的物理構(gòu)造的示意圖。
圖6是用于解釋該第二實(shí)施例中控制數(shù)據(jù)區(qū)域和黑點(diǎn)之間的關(guān)系的圖。
具體實(shí)施例方式
接下來(lái)，將基于附圖來(lái)解釋本發(fā)明的光盤的優(yōu)選實(shí)施例。
(第一實(shí)施例)將利用圖1到圖4解釋只再現(xiàn)光盤(以下稱為ROM盤)的第一實(shí)施例。
首先，將使用圖1和圖2來(lái)解釋該實(shí)施例的ROM盤的物理構(gòu)造。
圖1是示出了ROM盤的物理構(gòu)造的示意圖，而圖2是示出了控制數(shù)據(jù)的結(jié)構(gòu)的圖。
如圖1所示，該ROM盤100包括夾孔101，用于保護(hù)ROM盤的內(nèi)部免受再現(xiàn)ROM盤100上的數(shù)據(jù)的再現(xiàn)設(shè)備的主軸馬達(dá)(圖中未示出)的轉(zhuǎn)軸的磨損；未記錄區(qū)域102，用于保護(hù)夾孔101；讀入?yún)^(qū)域103，其上記錄有用于控制ROM盤和內(nèi)容數(shù)據(jù)的控制數(shù)據(jù)，例如，用于控制內(nèi)容數(shù)據(jù)的再現(xiàn)的再現(xiàn)控制數(shù)據(jù)；記錄區(qū)域104，其上實(shí)際記錄有內(nèi)容數(shù)據(jù)；和讀出區(qū)域105，其上記錄有用于結(jié)束數(shù)據(jù)記錄或結(jié)束數(shù)據(jù)再現(xiàn)的各種數(shù)據(jù)。
例如，該實(shí)施例的讀入?yún)^(qū)域103用作本發(fā)明的控制數(shù)據(jù)區(qū)域，而該實(shí)施例的記錄區(qū)域104用作本發(fā)明的內(nèi)容數(shù)據(jù)區(qū)域。
在讀入?yún)^(qū)域103中，存在控制數(shù)據(jù)區(qū)域106，其中記錄有控制ROM盤上的數(shù)據(jù)再現(xiàn)的盤信息(控制數(shù)據(jù))110；和其他數(shù)據(jù)區(qū)域107，其中記錄有數(shù)據(jù)(下面稱為其他數(shù)據(jù))120，例如用于執(zhí)行拷貝保護(hù)等的數(shù)據(jù)。記錄在該控制數(shù)據(jù)區(qū)域106中的盤信息110包括再現(xiàn)控制數(shù)據(jù)111，用于當(dāng)再現(xiàn)ROM盤100上的數(shù)據(jù)時(shí)，控制內(nèi)容數(shù)據(jù)的再現(xiàn)；制造信息112，其是有關(guān)ROM盤100自身的數(shù)據(jù)，例如ROM盤100的ID信息；和內(nèi)容提供者信息113，例如內(nèi)容的屬性數(shù)據(jù)或版權(quán)數(shù)據(jù)，該內(nèi)容數(shù)據(jù)的提供者在控制內(nèi)容數(shù)據(jù)時(shí)使用內(nèi)容提供者信息113。
在該讀入?yún)^(qū)域103中，存在兩個(gè)控制數(shù)據(jù)區(qū)域106A、106B，并且記錄在每個(gè)控制數(shù)據(jù)區(qū)域106A、106B中的盤信息110包括192個(gè)具有相同內(nèi)容的糾錯(cuò)碼(ECC(Error Correcting Code，糾錯(cuò)碼))塊(盤信息110n)。
一塊盤信息110n在開始處的第一扇區(qū)具有控制數(shù)據(jù)111，當(dāng)再現(xiàn)ROM盤100時(shí)控制數(shù)據(jù)111控制內(nèi)容數(shù)據(jù)的再現(xiàn)，并在隨后的扇區(qū)中，存在制造信息112和內(nèi)容提供者信息113。
而且，如圖2所示，控制數(shù)據(jù)111包括格式數(shù)據(jù)121，指明所記錄的內(nèi)容數(shù)據(jù)的格式；盤數(shù)據(jù)122，包含ROM盤100的盤尺寸數(shù)據(jù)和再現(xiàn)內(nèi)容數(shù)據(jù)時(shí)的傳送速率數(shù)據(jù)；盤構(gòu)造數(shù)據(jù)123，指明盤的構(gòu)造是單層盤還是多層盤；記錄密度數(shù)據(jù)124，指明內(nèi)容數(shù)據(jù)的記錄密度；地址數(shù)據(jù)125，指明內(nèi)容數(shù)據(jù)的地址和記錄開始位置；BCA(燒錄區(qū)(Burst Cutting Area))數(shù)據(jù)126，指明是否存在BCA；和其他數(shù)據(jù)127。組成控制數(shù)據(jù)111的所有數(shù)據(jù)在針對(duì)每種數(shù)據(jù)的預(yù)定字節(jié)位置具有特定數(shù)目的字節(jié)。
例如，該實(shí)施例的控制數(shù)據(jù)111是本發(fā)明的控制數(shù)據(jù)。
這里，圖3用于解釋ROM盤100的盤構(gòu)造。
圖3是示出了ROM盤100的盤構(gòu)造的圖。
如圖3所示，該實(shí)施例的ROM盤100包括襯底10，由包括控制數(shù)據(jù)和內(nèi)容數(shù)據(jù)的相位凹坑形成；反射層20，反射從再現(xiàn)設(shè)備(圖中未示出)照射的光束；和覆蓋層30，用于保護(hù)所有其他層。
例如，在該實(shí)施例中，相位凹坑的深度為60nm，而相鄰的記錄軌道TR之間的距離(軌道間距)為0.32μm。
在該實(shí)施例中，形成于襯底10上的相位凹坑的圓周方向的長(zhǎng)度(下面稱為凹坑長(zhǎng)度)為2T到9T。
這里T是頻率的倒數(shù)，它是在ROM盤100再現(xiàn)期間讀取相位凹坑上的數(shù)據(jù)時(shí)的頻率轉(zhuǎn)換的基礎(chǔ)。
在該實(shí)施例中，通過具有這種構(gòu)造，數(shù)據(jù)被以高密度記錄在ROM盤100上，并且ROM盤100具有25G字節(jié)的總記錄容量。
而且，在該實(shí)施例中，當(dāng)再現(xiàn)ROM盤100上的數(shù)據(jù)并且再現(xiàn)設(shè)備(圖中未示出)將光束照射到記錄軌道TR上時(shí)，基于取決于是否存在相位凹坑的光束反射率的減小量，以及基于照射在記錄軌道TR上的光束與照射在不同于記錄軌道TR的區(qū)域上的光束之間的相位差，來(lái)讀取記錄在該軌道TR上的數(shù)據(jù)。
在再現(xiàn)具有這種構(gòu)造的ROM盤上的數(shù)據(jù)時(shí)，再現(xiàn)設(shè)備(圖中未示出)必須將高波長(zhǎng)(λ＝440nm或更小)光束照射到ROM盤100，并利用高NA(NA＝0.75或更大)物鏡來(lái)再現(xiàn)數(shù)據(jù)。
關(guān)于上述構(gòu)造，在圖3中示出了該讀入?yún)^(qū)域的構(gòu)造，然而，例如記錄區(qū)域104和讀出區(qū)域105等其他區(qū)域具有相同構(gòu)造。
接下來(lái)，將使用圖4來(lái)解釋控制數(shù)據(jù)和黑點(diǎn)之間的關(guān)系。
圖4是用于解釋控制數(shù)據(jù)區(qū)域和黑點(diǎn)之間的關(guān)系的圖。
如圖4所示，該控制數(shù)據(jù)被記錄在讀入?yún)^(qū)域103中的兩個(gè)預(yù)置控制數(shù)據(jù)區(qū)域106中。
以大于最大黑點(diǎn)的徑向?qū)挾鹊木嚯x，來(lái)分隔其中記錄了控制數(shù)據(jù)的第一控制數(shù)據(jù)區(qū)域106A與另一控制數(shù)據(jù)區(qū)域106B；例如，在該實(shí)施例中，以沿ROM盤100的徑向上的0.1mm距離，來(lái)分隔控制數(shù)據(jù)區(qū)域106A和控制數(shù)據(jù)區(qū)域106B。
該黑點(diǎn)是這樣一種位置，其中因?yàn)楫?dāng)形成ROM盤100時(shí)粘到盤表面的雜質(zhì)使得從光頭輸出的激光束不能到達(dá)凹坑，所以存在丟失數(shù)據(jù)。例如，該黑點(diǎn)是當(dāng)粘到盤形成設(shè)備的圓筒的螺釘上的燒焦的形成材料在形成盤時(shí)粘到該盤的表面時(shí)所形成的黑點(diǎn)。
而且，該黑點(diǎn)沿光盤的徑向具有最大寬度0.1mm。
例如，該黑點(diǎn)是本發(fā)明的丟失數(shù)據(jù)的區(qū)域。
在傳統(tǒng)光盤中，盤信息僅僅被記錄在記錄介質(zhì)的一個(gè)位置上，并且即使具有相同內(nèi)容的數(shù)據(jù)被重復(fù)記錄192次，該光盤的徑向?qū)挾纫矁H為60μm。
所以，當(dāng)具有沿光盤徑向的最大寬度的黑點(diǎn)位于記錄盤信息的區(qū)域中時(shí)，就不可能在再現(xiàn)期間讀取該位置的盤信息。
然而，在該實(shí)施例中，即使由于形成在控制數(shù)據(jù)區(qū)域106A中的黑點(diǎn)使得不能讀取記錄在該控制數(shù)據(jù)區(qū)域106A中的盤信息110，另一控制數(shù)據(jù)區(qū)域106B也不受該黑點(diǎn)影響，從而有可能在再現(xiàn)期間通過讀取記錄在該另一控制數(shù)據(jù)區(qū)域106B中的盤信息110而獲得該盤信息110。
利用上述實(shí)施例，存在記錄內(nèi)容數(shù)據(jù)的記錄區(qū)域104、和記錄用于控制所記錄的內(nèi)容數(shù)據(jù)的再現(xiàn)的控制數(shù)據(jù)的控制數(shù)據(jù)區(qū)域106；并且在至少該控制數(shù)據(jù)區(qū)域106中利用相位凹坑來(lái)記錄該盤信息110，而具有相同內(nèi)容的盤信息110被重復(fù)記錄在該區(qū)域中。
在具有這種構(gòu)造的實(shí)施例中，即使由于盤表面上的黑點(diǎn)或裂痕使得不可能從一個(gè)控制數(shù)據(jù)區(qū)域106中讀取盤信息110，也有可能從另一控制數(shù)據(jù)區(qū)域106讀取盤信息110，所以即使當(dāng)ROM盤100上存在裂痕或黑點(diǎn)時(shí)，也有可能精確讀取記錄在ROM盤100上的盤信息。
所以，由于該光盤具有對(duì)光盤上的灰塵的高度耐受性，因此有可能提供能夠承受惡劣操作條件的光盤。
而且，在形成了黑點(diǎn)使得在再現(xiàn)ROM盤100時(shí)將丟失一些盤信息110的情況下，以該ROM盤100的徑向上的黑點(diǎn)寬度，來(lái)在ROM盤100的徑向上分隔每一控制數(shù)據(jù)區(qū)域106與另一控制數(shù)據(jù)區(qū)域106。
在具有該構(gòu)造的實(shí)施例中，即使由于盤表面上的黑點(diǎn)或裂痕使得不可能從一個(gè)控制數(shù)據(jù)區(qū)域106讀取盤信息110，也有可能從另一控制數(shù)據(jù)區(qū)域106讀取盤信息110，所以即使當(dāng)ROM盤100上存在裂痕或黑點(diǎn)時(shí)，也有可能精確讀取記錄在ROM盤100上的盤信息。
所以，由于該光盤具有對(duì)光盤上的灰塵的高度耐受性，因此有可能提供能夠承受惡劣操作條件的光盤。
在該實(shí)施例中，利用在制造盤時(shí)固有出現(xiàn)的黑點(diǎn)來(lái)解釋丟失數(shù)據(jù)的部分，然而，當(dāng)然，在根據(jù)盤被制造出來(lái)之后的表面裂痕和粘到盤表面的雜質(zhì)的原因而出現(xiàn)丟失數(shù)據(jù)部分的情況下，也獲得相同效果。
而且，在該實(shí)施例中，控制數(shù)據(jù)區(qū)域位于讀入?yún)^(qū)域中的兩個(gè)位置，而盤信息被記錄在這些區(qū)域中，然而，有可能使得控制數(shù)據(jù)區(qū)域位于讀入?yún)^(qū)域中的兩個(gè)以上位置，并有可能使得控制數(shù)據(jù)區(qū)域位于除讀入?yún)^(qū)域以外的區(qū)域中，例如讀出區(qū)域或記錄區(qū)域中。
(第二實(shí)施例)接下來(lái)，將使用圖5和圖6來(lái)解釋ROM盤的第二實(shí)施例。
在該實(shí)施例中，取代第一實(shí)施例中的讀入?yún)^(qū)域中的多個(gè)控制數(shù)據(jù)區(qū)域，存在沿ROM盤的徑向具有預(yù)置寬度的控制數(shù)據(jù)區(qū)域。其他部分與第一實(shí)施例中的相同，因此對(duì)于相同部分使用相同附圖標(biāo)記，并將省略對(duì)這些部分的解釋。
將利用圖5和圖6來(lái)解釋該實(shí)施例的ROM盤的物理構(gòu)造。
圖5是示出了ROM盤的物理構(gòu)造的示意圖，而圖6是用于解釋控制數(shù)據(jù)區(qū)域和黑點(diǎn)之間的關(guān)系的圖。
圖5所示ROM盤與第一實(shí)施例中的ROM盤類似，包括夾孔，用于將ROM盤200固定到再現(xiàn)ROM盤200上的數(shù)據(jù)的再現(xiàn)設(shè)備的主軸馬達(dá)(圖中未示出)的轉(zhuǎn)軸上；未記錄區(qū)域102，用于保護(hù)夾孔101；讀入?yún)^(qū)域103，其上記錄有用于控制ROM盤和內(nèi)容數(shù)據(jù)的控制數(shù)據(jù)，例如用于控制內(nèi)容數(shù)據(jù)的再現(xiàn)的再現(xiàn)控制數(shù)據(jù)；記錄區(qū)域104，其上實(shí)際記錄有內(nèi)容數(shù)據(jù)；和讀出區(qū)域105，其上記錄有用于結(jié)束數(shù)據(jù)記錄或結(jié)束數(shù)據(jù)再現(xiàn)的各種數(shù)據(jù)。
與第一實(shí)施例類似，在讀入?yún)^(qū)域103中，存在記錄盤信息110的控制數(shù)據(jù)區(qū)域106、和記錄其他數(shù)據(jù)120的另一數(shù)據(jù)區(qū)域107。該盤信息110包括控制數(shù)據(jù)111、制造信息112和內(nèi)容提供者信息113。
在讀入?yún)^(qū)域103中，存在控制數(shù)據(jù)區(qū)域106，并且記錄在每一控制數(shù)據(jù)區(qū)域106中的盤信息110包括糾錯(cuò)碼(ECC(Error Correcting Code，糾錯(cuò)碼))塊(盤信息110)。
換言之，盤信息110包括192個(gè)具有相同內(nèi)容的糾錯(cuò)碼(ECC(糾錯(cuò)碼))塊(盤信息110)。
在該實(shí)施例中，記錄控制數(shù)據(jù)的控制數(shù)據(jù)區(qū)域106在ROM盤的徑向上的寬度大于徑向上的最大黑點(diǎn)的寬度，例如，控制數(shù)據(jù)區(qū)域106在ROM盤200的徑向上具有0.8mm的寬度。
在傳統(tǒng)光盤中，控制數(shù)據(jù)僅僅被記錄在記錄介質(zhì)的一個(gè)位置上，并即使具有相同內(nèi)容的數(shù)據(jù)被重復(fù)記錄192次，該光盤的徑向?qū)挾纫矁H為60μm。
所以，當(dāng)具有沿光盤徑向的最大寬度0.1mm的黑點(diǎn)位于記錄盤信息的區(qū)域中時(shí)，就不可能在再現(xiàn)期間讀取該地點(diǎn)的盤信息。
然而，如圖6所示，在該實(shí)施例中，即使當(dāng)存在形成于部分控制數(shù)據(jù)區(qū)域106中的黑點(diǎn)并且不可能讀取所記錄的盤信息110或記錄在ROM盤200的該區(qū)域中的數(shù)據(jù)時(shí)，將盤信息重復(fù)記錄在該黑點(diǎn)影響不到的控制數(shù)據(jù)區(qū)域106中，從而有可能在再現(xiàn)期間通過從除形成了黑點(diǎn)的控制區(qū)域106之外的區(qū)域中讀取盤信息來(lái)獲得該盤信息110。
在該實(shí)施例中，記錄控制數(shù)據(jù)的控制數(shù)據(jù)區(qū)域106沿ROM盤徑向的寬度大于沿徑向的最大黑點(diǎn)的寬度，例如，該控制數(shù)據(jù)區(qū)域106具有沿ROM盤200的徑向的寬度0.8mm。
根據(jù)上述實(shí)施例，存在記錄內(nèi)容數(shù)據(jù)的記錄區(qū)域104和記錄用于控制所記錄的內(nèi)容數(shù)據(jù)的再現(xiàn)的盤信息110的控制數(shù)據(jù)區(qū)域106，控制數(shù)據(jù)區(qū)域106沿ROM盤200的徑向具有預(yù)置寬度；并且在至少該控制數(shù)據(jù)區(qū)域106中利用相位凹坑來(lái)記錄該盤信息110，而且在該區(qū)域中重復(fù)記錄具有相同內(nèi)容的盤信息110。
在具有這種構(gòu)造的實(shí)施例中，即使在控制數(shù)據(jù)區(qū)域106中存在黑點(diǎn)或表面裂痕，當(dāng)讀取控制數(shù)據(jù)區(qū)域106中的所有數(shù)據(jù)時(shí)也不會(huì)出現(xiàn)由于黑點(diǎn)導(dǎo)致的讀取誤差，并有可能通過讀取盤信息110的重復(fù)記錄區(qū)域之一而精確執(zhí)行再現(xiàn)。所以，即使ROM盤200上存在裂痕或黑點(diǎn)，也有可能精確讀取記錄在ROM盤200上的控制數(shù)據(jù)。
所以，由于該光盤具有對(duì)光盤上的灰塵的高度耐受性，因此有可能提供能夠承受惡劣操作條件的光盤。
而且，在形成了黑點(diǎn)使得在再現(xiàn)ROM盤200時(shí)將丟失一些盤信息110的情況下，該控制數(shù)據(jù)區(qū)域106的預(yù)置寬度大于沿該ROM盤200的徑向上的黑點(diǎn)寬度。
在具有這種構(gòu)造的實(shí)施例中，即使在控制數(shù)據(jù)區(qū)域106中存在黑點(diǎn)或表面裂痕，當(dāng)讀取控制數(shù)據(jù)區(qū)域106中的所有數(shù)據(jù)時(shí)也不會(huì)出現(xiàn)由于黑點(diǎn)導(dǎo)致的讀取誤差，并有可能通過讀取盤信息110的重復(fù)記錄區(qū)域之一而精確執(zhí)行再現(xiàn)。所以，即使ROM盤200上存在裂痕或黑點(diǎn)，也有可能精確讀取記錄在ROM盤200上的控制數(shù)據(jù)。
所以，由于該光盤具有對(duì)光盤上的灰塵的高度耐受性，因此有可能提供能夠承受惡劣操作條件的光盤。
在該實(shí)施例中，利用在制造盤時(shí)固有出現(xiàn)的黑點(diǎn)來(lái)解釋丟失數(shù)據(jù)的部分，然而，當(dāng)然，在根據(jù)盤被制造出來(lái)之后的表面裂痕和粘到盤表面的雜質(zhì)的原因而出現(xiàn)丟失數(shù)據(jù)部分的情況下，也獲得相同效果。
權(quán)利要求
1.一種只再現(xiàn)記錄介質(zhì)，其特征在于包括內(nèi)容數(shù)據(jù)區(qū)域，記錄有內(nèi)容數(shù)據(jù)；和多個(gè)控制數(shù)據(jù)區(qū)域，記錄有用于控制所記錄的內(nèi)容數(shù)據(jù)的再現(xiàn)的控制數(shù)據(jù)；并且其中，所述控制數(shù)據(jù)被利用相位凹坑記錄在至少所述控制數(shù)據(jù)區(qū)域中，并且具有相同內(nèi)容的控制數(shù)據(jù)被重復(fù)記錄。
2.一種只再現(xiàn)記錄介質(zhì)，其特征在于包括內(nèi)容數(shù)據(jù)區(qū)域，記錄有內(nèi)容數(shù)據(jù)；和控制數(shù)據(jù)區(qū)域，沿所述記錄介質(zhì)的徑向具有預(yù)置寬度，并且其中記錄有用于控制所記錄的內(nèi)容的再現(xiàn)的控制數(shù)據(jù)；并且其中，所述控制數(shù)據(jù)被利用相位凹坑記錄在至少所述控制數(shù)據(jù)區(qū)域中，并且具有相同內(nèi)容的控制數(shù)據(jù)被重復(fù)記錄。
3.根據(jù)權(quán)利要求1的記錄介質(zhì)，其中，以一寬度在所述記錄介質(zhì)的徑向上分隔每一所述控制數(shù)據(jù)區(qū)域與其他所述控制數(shù)據(jù)區(qū)域，該寬度大于丟失數(shù)據(jù)區(qū)域沿所述記錄介質(zhì)的徑向上的寬度，該丟失數(shù)據(jù)區(qū)域在再現(xiàn)所述記錄介質(zhì)時(shí)將引起所述控制數(shù)據(jù)丟失。
4.根據(jù)權(quán)利要求2的只再現(xiàn)記錄介質(zhì)，其中，所述控制數(shù)據(jù)區(qū)域的預(yù)置寬度大于丟失數(shù)據(jù)區(qū)域沿該記錄介質(zhì)的徑向上的寬度，該丟失數(shù)據(jù)區(qū)域在再現(xiàn)所述記錄介質(zhì)時(shí)將引起控制數(shù)據(jù)丟失。
5.根據(jù)權(quán)利要求3或權(quán)利要求4的只再現(xiàn)記錄介質(zhì)，其中，所述丟失數(shù)據(jù)區(qū)域沿該記錄介質(zhì)的徑向上的寬度為0.1mm。
6.根據(jù)權(quán)利要求3到5中任一項(xiàng)的只再現(xiàn)記錄介質(zhì)，其中，所述丟失數(shù)據(jù)區(qū)域是在該記錄介質(zhì)的制造過程中出現(xiàn)的黑點(diǎn)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1到6中任一項(xiàng)的只再現(xiàn)記錄介質(zhì)，其中，所述控制數(shù)據(jù)被記錄在至少所述控制區(qū)域中，使得所述控制數(shù)據(jù)能夠由具有0.75或更大的數(shù)值孔徑的光學(xué)部件來(lái)讀取。
8.根據(jù)權(quán)利要求1到5中任一項(xiàng)的只再現(xiàn)記錄介質(zhì)，其中，所述控制數(shù)據(jù)被記錄在至少所述控制區(qū)域中，使得所述控制數(shù)據(jù)能夠由具有440nm或更小的光束波長(zhǎng)的光學(xué)部件來(lái)再現(xiàn)。
全文摘要
提供了一種光盤，即使當(dāng)光盤上存在劃痕和黑點(diǎn)時(shí)，也能正確地從其中讀出控制數(shù)據(jù)。在ROM盤上安排的導(dǎo)入?yún)^(qū)具有兩個(gè)控制信息區(qū)域。在每一控制信息區(qū)域中記錄的每一控制信息包括指明相同內(nèi)容的192個(gè)校正碼塊。記錄了再現(xiàn)控制信息的控制信息區(qū)域被安排成與其他控制信息區(qū)域相距大于最大黑點(diǎn)的徑向?qū)挾鹊木嚯x。
文檔編號(hào)G11B7/007GK1708789SQ20038010200
公開日2005年12月14日 申請(qǐng)日期2003年10月8日 優(yōu)先權(quán)日2002年10月24日
發(fā)明者冨田吉美 申請(qǐng)人:日本先鋒公司