專利名稱：用于在光學記錄介質(zhì)上存儲數(shù)據(jù)的方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種用于在光學記錄介質(zhì)的預先記錄區(qū)中存儲數(shù)據(jù)的方法，并且涉及一種具有至少一個其中按照所述方法存儲數(shù)據(jù)的預先記錄區(qū)的光學記錄介質(zhì)。
背景技術：
通常，在形式為光盤并適于讀和/或寫的光學記錄介質(zhì)中，浮凸的軌道被形成以便它們表示交叉存取的螺旋或者同心圓。沿著所述軌道，以凹坑(pit)和平臺(land)(也稱為標記和空間)形式存儲數(shù)據(jù)。一種用于從光學記錄介質(zhì)讀和/或向光學記錄介質(zhì)寫的裝置包括光學拾取器，其必須嚴格遵循軌道進行讀和/或寫操作。為此，例如通過使用由所述盤的凹槽(groove)結構造成的干擾模式的推挽(push pull)跟蹤，或者通過使用由凹坑造成的干擾模式的差分相位檢測，或者通過現(xiàn)有技術中眾所周知的其他類型的跟蹤，得到了低頻跟蹤誤差信號。
對于光學記錄介質(zhì)，除了包括用戶數(shù)據(jù)、例如軟件或視頻數(shù)據(jù)的主數(shù)據(jù)區(qū)外，期望具有一個或多個包括用于不同用途的數(shù)據(jù)的預先記錄區(qū)。例如，這些預先記錄區(qū)可以包括描述適于調(diào)節(jié)讀和/或記錄參數(shù)的光盤的物理特性的數(shù)據(jù)，關于復制保護的信息或者其它輔助信息。它們通常不用于存儲用戶數(shù)據(jù)。
在最新的高密度可重寫的光學記錄介質(zhì)的情況下，信息被存儲在使用調(diào)制的連續(xù)凹槽的預先記錄區(qū)中，即關于所述軌道中心迅速彎曲的凹槽。使用推挽作用可以得到跟蹤誤差相似信號，稱為徑向(radial)信息溝道或調(diào)制信號5，它表示存儲在所述凹槽中的信息。通過應用如圖1所示的雙相調(diào)制，調(diào)制信號5可被轉換回數(shù)據(jù)位。表示數(shù)字‘0’的比特單元表現(xiàn)為在該比特單元的開始和結束處的轉變。表示數(shù)字‘1’的比特單元表現(xiàn)為在該比特單元的開始、結束和中間處的轉變。每個比特單元有相等的長度。這個信號的帶寬比可以比用于實際跟蹤誤差信號的帶寬大很多。
與最新的高密度可重寫的光學記錄介質(zhì)相比，對于最新的高密度只讀記錄介質(zhì)，它提出使用一行凹坑和平臺代替連續(xù)擺動的凹槽來存儲數(shù)據(jù)。原因是在生產(chǎn)只讀記錄介質(zhì)期間凹坑(用于用戶數(shù)據(jù))和連續(xù)擺動的凹槽(用于附加預先記錄信息)兩者必須在一張光盤中生成，這提高了生產(chǎn)成本。按照這一提議，距離軌道中心側向排列的凹坑被用于生成從檢測的觀點看與所述調(diào)制凹槽信號一致的跟蹤誤差相似信號。所述跟蹤誤差相似信號比實際跟蹤誤差信號具有更高的頻率。除了存儲附加信息，側向放置的凹坑也可以被用作復制保護機構，因為很難將凹坑復制到其它記錄介質(zhì)。不好的是，凹坑的位置不對稱于所述比特單元信號轉變、即所述行的凹坑從軌道中心的一邊變到軌道中心的另一邊的位置。因為這種不對稱，被檢測的信號的轉變不對應于比特單元的精確的開始或結束，這導致了所述調(diào)制信號中增加的抖動。
例如，在歐洲專利申請EP0 703 576中披露了一種類似類型的記錄介質(zhì)。該記錄介質(zhì)包括規(guī)則的和不規(guī)則的凹坑行列。不規(guī)則凹坑行列的存在表明該記錄介質(zhì)是合法復制。然而，在不規(guī)則凹坑行列中沒有存儲象存儲于預先記錄區(qū)中的附加信息。

發(fā)明內(nèi)容
總之，本發(fā)明的目的是提出一種用于使用凹坑和平臺在光學記錄介質(zhì)的預先記錄區(qū)中存儲數(shù)據(jù)的方法，從而從凹坑和平臺得到的信號可以與高頻調(diào)制的凹槽信號一致。
這個目的是通過一種用于使用凹坑和平臺將數(shù)據(jù)作為比特單元存儲在光學記錄介質(zhì)的預先記錄區(qū)內(nèi)的方法來實現(xiàn)的，所述凹坑和平臺被置于所述預先記錄區(qū)的軌道中心之外，從而以預定義的方式排列鄰近比特單元信號轉變的凹坑和平臺。這個方法的優(yōu)點是可以準確地定義鄰近比特單元信號轉變的凹坑和平臺的位置，以便所述調(diào)制信號轉變對應于或者至少具有與所述比特單元精確的開始或者結束的固定關系。此外，這使得優(yōu)化了對于特定類型的徑向信息溝道的凹坑和平臺，即推挽或者差分相位檢測。當然，也可以考慮其它類型的徑向信息溝道。
本發(fā)明可以以一種方式在預先記錄區(qū)內(nèi)排列橫向放置的凹坑和平臺，該方式允許使用表示所述預先記錄數(shù)據(jù)的徑向信息溝道從所述凹坑來產(chǎn)生可檢測的信號波形。此外，本發(fā)明允許考慮推挽和差分相位檢測作用。因為用于高密度光學記錄介質(zhì)的跟蹤系統(tǒng)通常依靠這些作用中的一種，所以確保了高可靠的信號檢測。盡管本發(fā)明目前被描述用于在所述預先記錄區(qū)內(nèi)存儲的雙相位調(diào)制信息，本發(fā)明也可以用于其它調(diào)制方案。此外，在光學記錄介質(zhì)的記錄區(qū)內(nèi)同樣可以使用本發(fā)明。
優(yōu)選的是，本方法包括步驟在所述比特單元信號轉變處以凹坑長度和平臺長度的固定重現(xiàn)順序排列凹坑和平臺。在這種情況下，以同樣的方式全部移動徑向信息溝道中的調(diào)制信號轉變。這可以理解如下。按照直接在所述轉變前面的第一凹坑和直接在所述轉變后面的第二凹坑的長度和位置，被檢測信號的形狀不同。這意味著對于不同類型的在前凹坑，在不同的點處及時檢測所檢測的事件、例如相對于所述信號的長時間平均值的信號的零點或零交叉點。被檢測事件好像是從它的初始期望位置移動或移位了。通過保證對于所有比特單元信號轉變所述凹坑結構是相同的，這種移位對于所有所檢測的事件是相同的。因此，減少了在由改變相對于比特單元信號轉變的調(diào)制信號轉變的位置造成的調(diào)制信號中的抖動。
有益的是，本方法包括將鄰近比特單元信號轉變的凹坑對稱于所述比特單元信號轉變排列的步驟。這保證了調(diào)制信號轉變準確地對應于所述比特單元信號轉變。以這種方式，也可以保證所述調(diào)制信號沒有抖動。
作為凹坑的上述對稱排列的一個優(yōu)點，本方法還包括步驟也對稱排列鄰近被對稱于比特單元信號轉變排列的凹坑的平臺。這可以實現(xiàn)因為只有比特單元信號轉變是相關的。以這種方式得到改進的符號間干涉(ISI)，它改進了信號檢測質(zhì)量。
按照本發(fā)明的另一個方面，相同數(shù)量的凹坑和平臺被放在每個比特單元內(nèi)。如果用于得到徑向信息溝道的檢測器的和信號在預先記錄區(qū)內(nèi)攜帶信息碼，則通常所述碼的數(shù)字和值(DSV)、即凹坑和平臺的平均出現(xiàn)不應該不同于零。這是通過在每個比特單元內(nèi)放置相同數(shù)量的凹坑和平臺來實現(xiàn)的。
另一個優(yōu)勢是，將所述符號、即凹坑和平臺的長度設置為基于記錄介質(zhì)的額定溝道時鐘(nominal channel clock)和額定旋轉速度的預定義長度的整數(shù)倍。這樣可以在所述凹坑結構內(nèi)存儲附加信息，例如用于加密記錄介質(zhì)內(nèi)容的密鑰，它可以從用于得到徑向信息溝道的檢測器的和信號中得到。
優(yōu)選的是，一間隔被插在所述比特單元信號轉變處的凹坑之間。這保證了產(chǎn)生作用的調(diào)制信號的補償被避免。如果沒有提供間隔或者如果存在凹坑的交迭，則這種作用就會出現(xiàn)。
按照本發(fā)明的一個方面，本方法包括步驟將相對于用于檢測凹坑的讀出點的直徑較長的凹坑——例如等于5T的凹坑——排列在所述比特單元信號轉變附近。如果使用推挽型的徑向信息溝道，則這是尤其有益的，因為它使得在所述比特單元信號轉變處得到陡峭的調(diào)制信號轉變。
優(yōu)選的是，本方法還包括步驟將相對于所述讀出點的直徑較短的平臺排列在所述比特單元內(nèi)。這避免了推挽信號的下降和在所述比特單元內(nèi)強制調(diào)制徑向信息溝道信號。以這種方式，所述波形相距零保持了一定的安全距離。
按照本發(fā)明的另一個方面，本方法包括步驟將具有對應于所述讀出點強度分布的一半最大值處的全寬度的長度的凹坑排列在所述比特單元信號轉變的附近。這種排列對于差分相位檢測類徑向信息溝道是有益的，并且使得在所述比特單元信號轉變處得到陡峭的調(diào)制信號轉變，因為如果存在更多的轉變，則基于差分相位檢測的幅度更大。
有益的是，本方法還包括步驟將相對于所述讀出點的直徑較短的凹坑排列在所述比特單元內(nèi)。這避免了差分相位檢測信號的下降和在所述比特單元內(nèi)牽制調(diào)制徑向信息溝道信號。以這種方式，所述波形相距零保持了一個安全距離。
優(yōu)選的是，本方法包括步驟例如通過減少凹坑和鄰近所述比特單元信號轉變的軌道中心之間的距離，改變軌道中心與凹坑和平臺之間的距離。以這種方式，通過將所檢測的信號的峰值保持在預定義級別在所述比特單元內(nèi)能夠得到優(yōu)化的檢測幅度。對于推挽和差分相位檢測，距離的最優(yōu)變化可以不同。
此外，例如通過增加鄰近所述比特單元信號轉變的凹坑的寬度，改變凹坑的寬度是同樣有益的。這也使得通過將所檢測的信號的峰值保持在預定義級別來得到優(yōu)化的檢測幅度。對于推挽和差分相位檢測，凹坑寬度的最優(yōu)變化可以不同。
有益的是，對于表示數(shù)字‘1’的比特單元，包含存儲數(shù)據(jù)的調(diào)制信號的平均值為零，并且對于表示數(shù)字‘0’的兩個連續(xù)比特單元，包含存儲數(shù)據(jù)的調(diào)制信號的平均值為零。如果使用數(shù)據(jù)限幅器二進制化用于產(chǎn)生差分相位檢測信號的個別信號，則這將所述數(shù)據(jù)限幅器的決策級別的平均值保持在零周圍，即使當所述數(shù)字和值與零不同。
按照本發(fā)明的另一個方面，光學記錄介質(zhì)包括至少一個其中按照本發(fā)明的方法存儲了數(shù)據(jù)的預先記錄區(qū)。這種記錄介質(zhì)易于生產(chǎn)，并且因而減少了生產(chǎn)成本。所述光學記錄介質(zhì)最好是只讀介質(zhì)，然而，本發(fā)明也可以有利地應用于可記錄介質(zhì)。
優(yōu)選的是，用于從光學記錄介質(zhì)讀取的裝置包括用于按照本發(fā)明的方法重新獲得光學記錄介質(zhì)的至少一個預先記錄區(qū)中存儲的數(shù)據(jù)的部件。這種裝置能夠提取存儲在預先記錄區(qū)中的信息。
按照本發(fā)明，用于向光學記錄介質(zhì)寫的裝置包括用于按照本發(fā)明的方法向光學記錄介質(zhì)寫數(shù)據(jù)的部件。這種裝置的優(yōu)勢在于它允許例如在該介質(zhì)的生產(chǎn)期間在光學記錄介質(zhì)的預先記錄區(qū)中存儲數(shù)據(jù)。例如，在該光學記錄介質(zhì)的生產(chǎn)期間可以使用這種裝置。


為了更好地理解本發(fā)明，在有利結構的下面說明中參照

了例證實施例。應當理解，本發(fā)明不限于這些例證實施例，并且在不脫離本發(fā)明的范圍的情況下，具體特征也可以方便地被組合和/或修改。在附圖中圖1示出了光學記錄介質(zhì)的預先記錄區(qū)中的雙相位調(diào)制；圖2示出了按照本發(fā)明的預先記錄區(qū)，其具有以凹坑結構排列的凹坑和平臺；圖3示出了在每個比特單元中具有相同數(shù)量的凹坑和平臺的凹坑結構；圖4示出了預先記錄區(qū)內(nèi)的凹坑和平臺，所述預先記錄區(qū)的長度被設置為預定義長度的整數(shù)倍；圖5示出了其中凹坑和平臺以固定的重現(xiàn)順序被排列在信號轉變附近的凹坑結構；圖6示出了其中凹坑對稱于信號轉變放置的凹坑結構；圖7示出了其中鄰近信號轉變的凹坑相對于讀出點的直徑較長的凹坑結構；圖8示出了在比特單元內(nèi)具有較短平臺的預先記錄區(qū)；圖9示出了軌道中心與凹坑和平臺之間距離的變化；
圖10示出了比特單元內(nèi)部凹坑寬度的變化；圖11示出了在比特單元內(nèi)具有短凹坑和平臺的預先記錄區(qū)；圖12示出了對于如圖11的凹坑結構的凹坑寬度的變化；以及圖13示出了適于使用數(shù)據(jù)限幅器進行差分相位檢測的凹坑結構。
具體實施例方式
圖1示出了光學記錄介質(zhì)的預先記錄區(qū)中的雙相位調(diào)制，所述光學記錄介質(zhì)具有相對于軌道中心10擺動的連續(xù)高頻調(diào)制的凹槽9。表示數(shù)字‘0’的比特單元表現(xiàn)為在所述比特單元的開始處的第一轉變3和結束處的第二轉變4。表示數(shù)字‘1’的比特單元表現(xiàn)為在所述比特單元的開始處的第一轉變1、結束處的第二轉變3和中間處的第三轉變2。每個比特單元具有相等的長度，其是根據(jù)記錄介質(zhì)的額定凹槽溝道時鐘T和額定旋轉速度計算的預定義長度的整數(shù)倍。當然，也可以使用其它調(diào)制方案。
表示所述調(diào)制的信號5——在圖中被示意性地示出——可以通過使用檢測器檢測稱為徑向信息凹溝道的跟蹤誤差相似信號來得到，所述跟蹤誤差相似信號是利用推挽信號或差分相位檢測信號產(chǎn)生的。這個信號的頻率可以比實際的跟蹤誤差信號的頻率大很多。
圖2示出了使用按照本發(fā)明以凹坑結構排列的凹坑6和平臺7的預先記錄區(qū)的例子。使用推挽作用，特定的凹坑結構產(chǎn)生期望的調(diào)制波形，其表示在徑向信息溝道中的信息數(shù)據(jù)位。如可從圖中看出的，凹坑6和平臺7被橫向地置于軌道中心10之外。此外，鄰近所述比特單元信號轉變1、2、3、4的凹坑6和平臺7的順序是與對于所有比特單元信號轉變1、2、3、4相同的預定義順序，即4T平臺、3T凹坑、2T平臺、3T凹坑、3T平臺。除了產(chǎn)生所述徑向信息溝道，如果應用按照其它數(shù)據(jù)(圖中未示出)調(diào)制凹坑6的物理長度的附加編碼方案，凹坑6和平臺7本身還可以攜帶信息。為了清楚，在圖中放大凹坑6與軌道中心10之間的距離。通常這個位移小得多，即凹坑6仍部分地與軌道中心10交迭。
不論徑向信息溝道的類型如何，即差分相位檢測或推挽或其它類型，對于調(diào)制數(shù)據(jù)的檢測，一些普遍的特征及其共同點是有益的1.)凹坑6被置于軌道中心10線之外。
2.)除了徑向信息溝道外，如果所述檢測器的和信號在所述預先記錄區(qū)內(nèi)攜帶個信息碼a)典型地，數(shù)字和值(DSV)，即所述碼的凹坑6和平臺7的平均出現(xiàn)不應該與零不同。這是通過在每個比特單元內(nèi)放置相同數(shù)量的凹坑6和平臺7來實現(xiàn)的。圖3示出了DSV＝0的這種凹坑結構的例子，即在每個比特單元內(nèi)具有相同數(shù)量凹坑6和平臺7。
b)所有符號(凹坑6和平臺7)必須具有所述溝道時鐘周期T的整數(shù)倍的長度。如果凹坑6和平臺7兩者具有預定義長度的整數(shù)倍的物理長度，所述預定長度基于記錄介質(zhì)的額定溝道時鐘T和額定旋轉速度，則這是可以實現(xiàn)的。圖4描述了基于具有DSV＝0的T間隔的這種凹坑結構。
然而，如果所述檢測器的和信號在所述預先記錄區(qū)中沒有攜帶信息碼a)所述碼的數(shù)字和值可以與零不同；和/或b)所有符號(凹坑6和平臺7)不必具有所述溝道時鐘周期T的整數(shù)倍的長度。
3.)通過以預定義方式將凹坑6置于鄰近比特單元邊界，在所述調(diào)制內(nèi)使用的所述比特單元信號轉變1、2、3、4的信號抖動可以被最小化a)在比特單元信號轉變1、2、3、4處以固定重現(xiàn)的凹坑/平臺長度順序排列凹坑6。然后以相同的方式全部移動在徑向信息溝道中的所述調(diào)制信號轉變。圖5示出了相應的凹坑結構，即3T平臺、3T凹坑、2T平臺、4T凹坑、3T平臺。
b)在圍繞所述比特單元信號轉變的對稱位置中放置凹坑6。因此，徑向信息溝道內(nèi)的所述調(diào)制信號轉變不移動。
c)如果不僅鄰近所述比特單元信號轉變1、2、3、4的凹坑6以對稱方式被放置，而且鄰近的平臺7也以對稱方式被放置，則可以實現(xiàn)改進的符號間干涉(ISI)，這改進了信號檢測質(zhì)量。圖6示出了其中凹坑6和鄰近的平臺7被對稱于所述信號轉變放置的這種凹坑結構，即3T平臺、3T凹坑、2T平臺、4T凹坑、3T平臺。所述凹坑結構具有改進的符號間干涉。
4.)在比特單元信號轉變1、2、3、4處，凹坑6之間的間隔8避免了產(chǎn)生作用的調(diào)制信號的補償，如果沒有提供間隔8或者如果存在凹坑6的交迭，則這可能出現(xiàn)。這一間隔8也可以在圖6描述的凹坑結構中找到。
按照徑向信息溝道的類型，即差分相位檢測或推挽，可以另外優(yōu)化一些參數(shù)。如果通過這兩種跟蹤系統(tǒng)檢測凹坑6，則對于下面的參數(shù)必須找到折衷辦法推挽型徑向信息溝道1.)為了在所述比特單元信號轉變1、2、3、4處得到陡峭的調(diào)制信號轉變，鄰近所述比特單元信號轉變1、2、3、4使用的凹坑6應該相對于用于檢測凹坑6的讀出點的直徑而較長。圖7示出了相應的凹坑結構。
2.)為了避免所產(chǎn)生信號的下降，在所述比特單元內(nèi)使用的平臺7應該相對于讀出點的直徑而較短，如圖8所描述的凹坑結構的情況。優(yōu)化的目的是避免強制調(diào)制所述比特單元內(nèi)的徑向信息溝道。所述波形應該與零點保持一定的安全距離。
3.)為了在所述比特單元內(nèi)得到優(yōu)化的檢測幅度a)軌道中心10與凹坑6和平臺7之間的距離在比特單元內(nèi)可以保持恒定。所述距離值本身可被優(yōu)化來產(chǎn)生大的檢測幅度，并且因而產(chǎn)生改進的信噪比。
b)在所述比特單元內(nèi)也可以改變軌道中心10與凹坑6和平臺7之間的距離，以便改進所檢測的波形。圖9示出了相應的凹坑結構。其目的是將所檢測的信號的峰值保持在預定義的級別。
4.)為了得到優(yōu)化的檢測幅度，也可以如圖10所示來改變凹坑寬度，以便優(yōu)化所檢測的波形。其目的還是將所檢測的信號的峰值保持在預定義的級別。凹坑6的優(yōu)化寬度對于推挽和差分相位檢測可以不同。
5.)為了將用于徑向信息溝道的二進制化的決策級別的均值保持在零周圍，位于軌道中心10一側的凹坑6的數(shù)量和位于軌道中心10另一側的凹坑6的數(shù)量應該相等。當應用雙相位調(diào)制時，可以自動保證上述情況。然而，對于其它調(diào)制方案，可能不是所述情況。當應用雙相位調(diào)制時，所述碼的數(shù)字和值可以與零不同。
徑向信息溝道的差分相位檢測類型1.)如果存在更多的信號轉變，即更短的凹坑6或平臺7產(chǎn)生更多的數(shù)據(jù)轉變，那么基于幅度的差分相位檢測更大。
為了得到陡峭的信號轉變，鄰近所述比特單元信號轉變1、2、3、4的凹坑6應該比所述讀出點的直徑短。當凹坑長度大致等于所述讀出點的密度分布的一半最大值處的全寬度時，達到優(yōu)化。
2.)為了避免差分相位檢測信號的下降，在所述比特單元內(nèi)使用的凹坑6也應該相對于讀出點的直徑而較短。其優(yōu)化的目的是避免強制調(diào)制所述比特單元內(nèi)的徑向信息溝道信號。所述波形應該與零保持一定的安全距離。圖11示出了使用鄰近所述單元邊界并且在所述單元內(nèi)的短的凹坑6和平臺7的凹坑結構的例子。
3.)為了在比特單元內(nèi)得到優(yōu)化檢測幅度a)在所述比特單元內(nèi)，軌道中心10與凹坑6和平臺7之間的距離可以保持恒定。所述距離值本身可被優(yōu)化來產(chǎn)生大的檢測幅度和改進的差分相位檢測信號的信噪比。
b)在所述比特單元內(nèi)，也可以改變軌道中心10與凹坑6和平臺7之間的距離，以便改進所檢測的波形。其目的是將所檢測信號的峰值保持在預定義的級別。
4.)為了得到優(yōu)化的檢測幅度，也可以如圖12所示改變凹坑寬度，以便優(yōu)化所檢測的波形。其目的還是將所檢測信號的峰值保持在預定義的級別。凹坑6的優(yōu)化寬度對于推挽和差分相位檢測可以不同。
5.)如果使用數(shù)據(jù)限幅器來二進制化用于產(chǎn)生差分相位檢測信號的個別信號a)所述碼的數(shù)字和值不應該與零不同。這可以通過在每個比特單元內(nèi)放置相同數(shù)量的凹坑6和平臺7來實現(xiàn)。
b)當使用雙相位調(diào)制時，如果在表示數(shù)字‘1’的雙相位比特單元內(nèi)徑向信息溝道信號的平均值為零，并且如果在表示數(shù)字‘0’的兩個連續(xù)比特單元內(nèi)徑向信息溝道信號的均值也為零，所述數(shù)字和值可以與零不同。這將數(shù)據(jù)限幅器的決策級別的平均值保持在零周圍。圖13描述了相應的凹坑結構。
權利要求
1.一種使用凹坑(6)和平臺(7)將數(shù)據(jù)作為比特單元存儲在光學記錄介質(zhì)的預先記錄區(qū)中的方法，其中凹坑(6)和平臺(7)被置于所述預先記錄區(qū)的軌道中心之外，其特征在于，所述方法包括步驟以預定義的方式排列鄰近比特單元信號轉變(1、2、3、4)的凹坑(6)和平臺(7)。
2.按照權利要求1的所述方法，其特征在于，在所述比特單元信號轉變(1、2、3、4)處以凹坑長度和平臺長度的固定重現(xiàn)順序排列凹坑(6)和平臺(7)。
3.按照權利要求1的所述方法，其特征在于，對稱于所述比特單元信號轉變(1、2、3、4)排列凹坑(6)。
4.按照權利要求3的所述方法，還包括步驟對稱于所述比特單元信號轉變(1、2、3、4)排列鄰近凹坑(6)的平臺(7)。
5.按照前述權利要求中任一項所述的方法，還包括步驟在每個比特單元中排列相同數(shù)量的凹坑(6)和平臺(7)。
6.按照前述權利要求中任一項所述的方法，還包括步驟將凹坑(6)和平臺(7)的長度設置為基于所述記錄介質(zhì)的額定信道時鐘(T)和額定旋轉速度的預定義長度的整數(shù)倍。
7.按照前述權利要求中任一項所述的方法，還包括步驟在所述比特單元信號轉變(1、2、3、4)處插入一間隔(8)。
8.按照權利要求1-7任一項所述的方法，還包括步驟將相對于讀出點直徑較長的凹坑(6)排列在所述比特單元信號轉變(1、2、3、4)的附近。
9.按照權利要求8所述的方法，還包括步驟將相對于所述讀出點直徑較短的平臺(7)排列在所述比特單元內(nèi)。
10.按照權利要求1-7中任一項所述的方法，還包括步驟將具有對應于所述讀出點強度分布的一半最大值處的全寬度的長度的凹坑(6)排列在所述比特單元信號轉變(1、2、3、4)的附近。
11.按照權利要求8-10中任一項所述的方法，還包括步驟將相對于讀出點直徑較短的凹坑(6)排列在所述比特單元內(nèi)。
12.按照前述權利要求中任一項所述的方法，還包括步驟改變軌道中心(10)與凹坑(6)和平臺(7)之間的距離。
13.按照前述權利要求中任一項所述的方法，還包括步驟改變凹坑(6)的寬度。
14.按照前述權利要求中任一項所述的方法，其特征在于，包含存儲數(shù)據(jù)的調(diào)制信號的平均值對于表示數(shù)字‘1’的比特單元為零，并且對于表示數(shù)字‘0’的兩個連續(xù)比特單元為零。
15.一種光學記錄介質(zhì)，其特征在于，它包括至少一個其中按照權利要求1-14中任一項所述的方法存儲數(shù)據(jù)的預先記錄區(qū)。
16.用于從光學記錄介質(zhì)讀出的裝置，其特征在于，它包括用于重新獲得按照權利要求1-14中任一項所述的方法存儲在光學記錄介質(zhì)的至少一個預先記錄區(qū)中的數(shù)據(jù)的部件。
17.用于向光學記錄介質(zhì)寫入的裝置，其特征在于，它包括用于按照權利要求1-14中任一項所述的方法將數(shù)據(jù)寫入光學記錄介質(zhì)的部件。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種用于在光學記錄介質(zhì)的預先記錄區(qū)中存儲數(shù)據(jù)的方法，并且涉及一種具有至少一個其中按照所述方法存儲數(shù)據(jù)的預先記錄區(qū)的光學記錄介質(zhì)。本發(fā)明的目的是提供一種使用凹坑6和平臺7將數(shù)據(jù)存儲在光學記錄介質(zhì)的預先記錄區(qū)中的方法，從而從凹坑6和平臺7得到的信號與高頻調(diào)制的凹槽信號一致。按照本發(fā)明，鄰近比特單元信號轉變1、2、3、4的凹坑6和平臺7以預定義的方式排列，或以凹坑6和平臺7的固定重現(xiàn)的順序或對稱于所述比特單元信號轉變1、2、3、4排列。
文檔編號G11B7/013GK1711594SQ200380102984
公開日2005年12月21日 申請日期2003年11月3日 優(yōu)先權日2002年11月15日
發(fā)明者哈特穆特·里克特, 霍爾格·霍夫曼, 斯蒂芬·納普曼, 克里斯托夫·鮑爾韋格, 克里斯琴·比克勒 申請人:湯姆森特許公司