專利名稱：信息記錄方法和記錄型光盤以及信息記錄再現(xiàn)裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及信息記錄再現(xiàn)裝置的信息記錄方法，和使用該信息記錄方法記錄信息的CD(小型盤)系列和DVD(數(shù)字多用盤)系列的記錄型光盤(CD-ROM、CD-R、CD-RW、DVD-ROM、DVD-R、DVD-RW、DVD-RAM)，以及使用該信息記錄方法和記錄型光盤的信息記錄再現(xiàn)裝置(光盤驅動裝置)。
背景技術：
現(xiàn)有作為信息記錄再現(xiàn)裝置的光記錄媒體，音樂用的CD和圖像用的DVD等光盤在實用化，近年來，作為更加大容量高品位的DVD，正在開發(fā)使用蘭色激光等短波長光的DVD(蘭色DVD)。這些光盤，除了再現(xiàn)專用媒體之外，作為視頻記錄器和電腦等的外部存貯裝置，正在使能在光盤上進行信息記錄·再現(xiàn)的信息記錄再現(xiàn)裝置實用化。
在該光盤上進行信息記錄·再現(xiàn)的信息記錄再現(xiàn)裝置(光盤驅動裝置)的光拾取部的結構例，用圖9進行說明。
圖9中，首先從使用半導體激光器(LD)的光源11射出直線偏振光光束，該直線偏振光光束通過準直透鏡12被調整成平行光后，向偏振光光束分離器(PBS)13供給。偏振光光束分離器(PBS)13根據(jù)供給光束的偏向的方向，對供給的光進行透射或反射。該偏振光光束分離器(PBS)13，是用于構成從光源11射出的直線偏振光光束向光盤去的去路，和用于來自光盤的反射光向光檢測部去的回路的光束分離器。從光源11射出的直線偏振光光束，在通過偏振光光束分離器(PBS)13后，由直立反射鏡14向光盤方向反射，并透射1/4波長板15。這時，直線偏振光被給予1/4波長的相位差而成為圓偏振光，透射電氣光學元件16并通過物鏡17而向光盤18聚光，能進行信息的記錄，或讀取再現(xiàn)位的信息。
來自光盤18的反射光成為與反射前逆旋轉的圓偏振光。該逆旋轉圓偏振光的回路的光束，透射電氣光學元件16并再次通過1/4波長板15，被再次給予1/4波長的相位差，成為與去路光束偏振光方向有90°不同的直線偏振光。其結果是，當回路的光束再次射入偏振光光束分離器13時，與去路的透射相對，在回路其是被反射，能由檢測透鏡19聚光而向檢測部20射入。檢測部20例如由多分割受光元件等構成，能得到為了生成對焦·伺服和軌跡·伺服等各種伺服信號和用于信息再現(xiàn)信號的被分隔的檢測信號。
在信息記錄再現(xiàn)裝置時，為了充分確保記錄能量，通過在所述去路上得到足夠的效率，而能使用LD的最大能量而記錄在R(色素)盤和RW(相變化)盤上。作為這種光學系統(tǒng)，通過使用所述偏振光光束分離器13的所謂偏振光光學系統(tǒng)就能達到，同時，在檢測時的回路上也能得到足夠的高效率。
使用圖9所示結構的光拾取時，在所述DVD和蘭色DVD等高密度光盤中，由光盤的光學相位差引起的最佳記錄條件的變動，成為課題。光盤的光學相位差，由于用聚碳酸脂樹脂成型制作的透明基板具有光學殘余變形，所以透射所述1/4波長板15的圓偏振光的光，在由光盤18反射而返回來之前，就由受到光盤18相位差的影響而從圓偏振光變?yōu)闄E圓偏振光，然后，向偏振光光束分離器(PBS)13射入的光束，根據(jù)其橢圓率的比率作為檢測光被分成反射的偏振光成分和向包含LD的照明光學系統(tǒng)返回的偏振光成分。若成為這種狀態(tài)，則一般來說招致由向LD返回的光而使LD噪音(RIN)增大和由依賴于記錄波形的LD射出能量的變動而使來自光盤18的反射信號惡化。而且，若光盤18的相位差由裝置內溫度的上升和盤基板光學變形的增減，而光學相位差在半徑方向上的偏差增大時，則偏振光光束分離器(PBS)13向檢測部的分離就降低，檢測信號的電平顯著降低，以對焦·伺服和軌跡·伺服動作為主，產(chǎn)生記錄動作中計算最佳記錄能量的試寫和記錄中的記錄能量控制等不能高精度進行的不好情況。
對于該問題，特別是在DVD等使用紅色LD的信息記錄再現(xiàn)裝置中產(chǎn)生。對于所述光盤18相位差的影響也如特開2000-268398號公報所示，如圖9所示，在光拾取的光路中配置由液晶元件構成的電氣光學元件16，透射由液晶元件構成的電氣光學元件16后，在光盤18聚光并進行記錄·再現(xiàn)，其反射光再次透射由液晶元件構成的電氣光學元件16時，通過控制液晶層內液晶分子的定向方向，給予液晶元件相位差以消除光盤18的相位差，這樣，就能在偏振光光束分離器(PBS)13完全被反射，并把反射光向檢測部20引導，防止檢測光的低下。并且設置光學相位差檢測部21，使用生成表示光盤18相位差信號的振幅檢測電路等的生成裝置，把液晶元件的分子定向控制成液晶的定向方向，以一邊把與光束光軸垂直的光束偏振光方向與液晶的定向方向所成的角度保持固定的角度，一邊把包含光束光軸面內的液晶定向方向與光束光軸所成的角度進行變更，把液晶元件控制成在透射液晶元件的光束中產(chǎn)生把光盤相位差消除的相位差。但通過使用這種電氣光學元件16，有可能把光盤18的光學相位差消除，在使光拾取結構復雜的同時，有去路和回路的透射率降低的問題，且成本提高。
如前所述，由光盤的光學相位差產(chǎn)生的橢圓偏振光成分，由偏振光光束分離器或偏振光全息照相不能分離，使檢測光低下。這種光盤的光學相位差，能把來自LD光源的光束中的橢圓偏振光成分，通過另外的偏振光分離裝置而分離成P偏振光和S偏振光，能通過另外的受光元件檢測其各自的光量。且不使用來自LD光源的光束，在用于進行光盤的記錄和再現(xiàn)用的光學系統(tǒng)以外，通過配置其他的LD光源和受光元件也能檢測相當于光學相位差的光量變化。
但配置校正光盤光學相位差的電氣光學元件，以光拾取裝置光學布置的制約和零件個數(shù)增加的成本提高為主，還有光拾取形狀和信號線增加等的課題。

發(fā)明內容
本發(fā)明是鑒于上述情況而開發(fā)的，其目的在于把由光記錄媒體(光盤)的光學相位差引起的檢測光量降低而產(chǎn)生的記錄動作時的不良情況，不使用電氣光學元件等的校正裝置，而通過簡單的信息記錄方法就進行消除。
更詳細的情況是，第一實施例的發(fā)明，其目的在于得到一種簡易且高精度的信息記錄方法，其把由光記錄媒體的光學相位差引起的檢測光量降低而產(chǎn)生的記錄能量的設定值和記錄能量的控制誤差進行校正。
第二實施例的發(fā)明和第三實施例的發(fā)明，其目的在于得到一種簡易且高精度的信息記錄方法，其把由光記錄媒體的光學相位差引起的檢測光量降低而產(chǎn)生的，根據(jù)試寫中再現(xiàn)信號檢測變動的記錄能量的計算誤差進行校正。
第四實施例的發(fā)明和第五實施例的發(fā)明，其目的在于得到一種簡易且高精度的信息記錄方法，其把由光記錄媒體的光學相位差引起的檢測光量降低而產(chǎn)生的，根據(jù)記錄中反射光量檢測變動的在試寫中記錄能量的計算誤差進行校正。
第六實施例的發(fā)明，其目的在于得到一種簡易且高精度的信息記錄方法，其把包含在光記錄媒體反射光的檢測光量變動中的反射率偏差，與傾斜和偏心和面振擺等的由機械特性引起的變動進行分離，并能高精度取得光記錄媒體光學相位差的初始值。
第七實施例的發(fā)明和第九實施例的發(fā)明，其目的在于得到一種簡易且高精度的信息記錄方法，其把伴隨信息記錄再現(xiàn)裝置的溫度變化而由光記錄媒體的光學相位差變動引起的，試寫中最佳記錄能量的誤差和記錄中最佳記錄能量的偏差進行校正。
第八實施例的發(fā)明，其目的在于得到一種誤差小的高精度的信息記錄方法，其通過使用檢測裝置直接檢測光記錄媒體的光學相位差，而把由光記錄媒體的機械特性引起的檢測光量的變化進行分離。
第十實施例的發(fā)明，其目的在于得到一種記錄型光盤，其在作為信息記錄再現(xiàn)裝置的光記錄媒體而使用的記錄型光盤中，把作為光盤反射光的檢測光量變動的反射率偏差，與傾斜和偏心以及面振擺等的由機械特性引起的變動進行分離，并能讀出光盤光學相位差的初始值，能高精度校正最佳記錄能量。
第十一實施例的發(fā)明和第十二實施例的發(fā)明，其目的在于提供一種使用所述信息記錄方法和記錄型光盤的信息記錄再現(xiàn)裝置(光盤驅動裝置)。
作為為了達到所述目的的手段，第一實施例的發(fā)明，是在使用半導體激光器對光記錄媒體進行信息的記錄或再現(xiàn)的信息記錄再現(xiàn)裝置的信息記錄方法中，根據(jù)所述光記錄媒體的光學相位差檢測值，把進行信息記錄時的最佳記錄能量的計算值進行校正，或把在記錄信息狀態(tài)下的記錄能量目標值進行校正。
第二實施例的發(fā)明是在第一實施例發(fā)明的信息記錄方法中，在向所述光記錄媒體進行信息記錄開始前計算最佳記錄能量時，對于把使記錄能量階段性變化而進行記錄的試寫區(qū)域進行再現(xiàn)而得到的規(guī)定的第一指標，使用根據(jù)所述光記錄媒體的光盤光學相位差的檢測值進行校正的最佳指標值，使表示最佳記錄能量的最佳指標值作為計算最佳記錄能量Pwo的計算值。
第三實施例的發(fā)明是在第二實施例發(fā)明的信息記錄方法中，所述規(guī)定的第一指標值，是對于所述試寫區(qū)域再現(xiàn)信號直流成分的最大值與最小值的差與和的比，即是不平衡值。
第四實施例的發(fā)明是在第一實施例發(fā)明的信息記錄方法中，對于在向所述光記錄媒體上記錄信息的狀態(tài)下從該光記錄媒體的反射光量，即從檢測信號得到的規(guī)定的第二指標，使用根據(jù)該光記錄媒體光學相位差的檢測值隨時進行校正并更新的目標指標值，把表示最佳記錄能量的目標指標值一邊校正最佳記錄能量一邊進行記錄。
第五實施例的發(fā)明是在第四實施例發(fā)明的信息記錄方法中，所述第三指標值是把反射光量即檢測信號的平均值，或形成記錄痕跡中的反射光量的抽樣值，用記錄能量標準化的值。
第六實施例的發(fā)明是在第一實施例發(fā)明～第五實施例發(fā)明任一項的信息記錄方法中，通過把所述光記錄媒體的光學相位差信息或光學相位差分布的信息，從預格式化信息讀出，來取得該光記錄媒體光學相位差信息的初始值，并計算信息記錄開始前或記錄中的該光學相位差的檢測值。
第七實施例的發(fā)明是在第一實施例發(fā)明～第六實施例發(fā)明任一項的信息記錄方法中，從所述光記錄媒體的反射光量計算光學相位差的變動值，并根據(jù)該變動值通過希望的變換裝置來校正所述第一指標值或第三指標值。
第八實施例的發(fā)明是在第一實施例發(fā)明～第六實施例發(fā)明任一項的信息記錄方法中，使用所述光記錄媒體光學相位差的檢測值，并且使用由該光記錄媒體反射光橢圓偏振光成分的檢測裝置的檢測值來校正所述第一指標值或第三指標值。
第九實施例的發(fā)明是在第一實施例發(fā)明～第六實施例發(fā)明任一項的信息記錄方法中，使用所述光記錄媒體近旁溫度的檢測值或溫度變化的檢測值，并根據(jù)希望的溫度依賴性來校正所述第一指標值或第三指標值。
第十實施例的發(fā)明是作為信息記錄再現(xiàn)裝置的光記錄媒體而使用的光盤，是在使用第一實施例發(fā)明～第九實施例發(fā)明任一項的信息記錄方法記錄信息的記錄型光盤中，把指示被分配的試寫區(qū)域光學相位差的信息或光盤半徑方向上光學相位差的分布信息，作為光盤預格式化信息中的記錄條件信息或記錄管理信息而預先形成在光盤上。
第十一實施例的發(fā)明是在使用半導體激光器對光記錄媒體進行信息記錄或再現(xiàn)的信息記錄再現(xiàn)裝置中，使用第一實施例發(fā)明～第九實施例發(fā)明任一項的信息記錄方法。
第十二實施例的發(fā)明是在第十一實施例發(fā)明的信息記錄再現(xiàn)裝置中，作為光記錄媒體是使用第十實施例發(fā)明的記錄型光盤。


本發(fā)明的其他目的、特點和優(yōu)點，通過一邊參照附圖一邊閱讀以下的說明就能更加明確。
圖1是表示本發(fā)明一實施例的信息記錄再現(xiàn)裝置光拾取部的概略結構圖；圖2(A)～(E)是本發(fā)明信息記錄方法的說明圖；圖3是用于說明光盤的光學相位差的圖；圖4是表示光盤的半徑位置與光學相位差關系的圖；圖5是表示光盤的半徑位置與檢測光量關系的圖；圖6是表示光盤的光學相位差與檢測光量關系的圖；圖7是表示光盤的光學相位差與最佳β值關系的圖；圖8(A)～(C)是表示LD記錄波形與痕跡形狀和檢測信號波形關系的圖，(D)是表示記錄能量(加熱能量)與抽樣值和R-OPC指標值關系的圖；圖9是表示現(xiàn)有技術一例的信息記錄再現(xiàn)裝置光拾取部的概略結構圖；圖10是表示記錄在記錄型光盤上信息的表。
以下說明在上述圖中使用的主要附圖標記。
1是半導體激光(LD)光源，2是準直透鏡，3是偏振光光束分離器(PBS)，4是直立反射鏡，5是1/4波長板，6是物鏡，7是光盤(光記錄媒體)，8是檢測透鏡，9是檢測部。
具體實施例方式
以下參照附圖詳細說明本發(fā)明的信息記錄方法、記錄型光盤和信息記錄再現(xiàn)裝置(光盤驅動裝置)的結構、動作和作用。
(實施例1)首先說明第一實施例～第五實施例、第七實施例和第十一實施例發(fā)明的圖1是表示本發(fā)明一實施例的信息記錄再現(xiàn)裝置光拾取部的概略結構圖。
圖1中，從半導體激光器(LD)構成的光源1射出的激光是直線偏振光，通過準直透鏡2后就成為平行光光束，通過偏振光光束分離器(PBS)3使同一偏振光方向的光束透射，由直立反射鏡4向光盤方向反射后，透射1/4波長板(λ/4板)5而成為圓偏振光，射入物鏡6而在光盤7上聚光成微小的光點。由光盤7反射的光，由于成為與射入時逆旋轉的圓偏振光，所以，再次通過λ/4板5后，其偏振光方向就與上述的偏振光方向垂直，因此，由偏振光光束分離器(PBS)3反射后，并由檢測透鏡8再次聚光而向檢測部9的多分割受光元件等射入，就能得到對焦·伺服和軌跡·伺服等各種伺服信號和信息再現(xiàn)信號。
具備這種結構光拾取部的信息記錄再現(xiàn)裝置(光盤驅動裝置)，由光盤7的光學相位差而使檢測光量降低，所以，再現(xiàn)信號變動。即，如圖3所示，光盤的光學相位差，是由其盤基板在射出成型時的光學變形在軌跡方向或半徑方向上有殘留而產(chǎn)生的。一般來說，在光盤的內周部，其材料聚碳酸脂的慢軸，即最大折射率方向是朝向半徑方向，在外周部朝向軌跡方向變化。這時，由半徑位置引起的變化僅是折射率變化，而慢軸不旋轉。在此，圖4表示在代表性的光盤上根據(jù)半徑位置的光學相位差的變化，圖5表示根據(jù)該時半徑位置的檢測光量的變化。且隨著光盤驅動裝置的內部溫度成為高溫而光盤內周側的光學變形變大，如上述圖所示，光學相位差和檢測光量變動。
由隨著溫度上升而光學相位差增大所引起的光拾取部檢測光量的降低，如圖4那樣變化，在最內周附近最顯著，從中周附近到最外周部，由于不產(chǎn)生光學變形，所以幾乎不表示變化。這種光學相位差s與檢測光量比I的關系，是圖6所示的特性，可以用下式近似表示。
I＝[1+cos(k×p×s)]/2因此，把上述近似式變形，通過s＝1/k/p×acos(2×I-1)
就能計算出光學相位差s。
然后，將在通常的記錄開始前，作為開始記錄的準備而進行試寫(OPC)。如圖2(A)所示，在光盤媒體的大致最內周部設置有PCA(PowerCalibration Area)，能多次實施OPC。如圖2(B)所示，例如在記錄數(shù)據(jù)單位，即1ECC＝16扇區(qū)中，把1級的記錄能量分配到1扇區(qū)區(qū)域中，用合計8級的記錄能量進行試寫。
然后，如圖2(C)所示，根據(jù)記錄后各自加熱能量試寫部分的再現(xiàn)信號，從最大值Ipk和最小值Ibtm和平均值Idc，計算出如圖2(D)所示那樣最大振幅Imax與平均值Idc的非對稱性即不平衡β并進行保持。
β＝[(Ipk-Idc)-(Idc-Ibtm)/(Ipk-Ibtm)從光盤的預格式化信息中讀出包含在記錄條件信息中的最佳β值(本實施例中是0)，根據(jù)從這些曲線點計算出的近似式，來計算β＝0的最佳記錄能量(最佳加熱能量)Pwo(最佳化)。
然后，對在R-OPC動作中使用的目標指標值也如圖2(E)所示，把從記錄后各自加熱能量試寫部分的再現(xiàn)信號中，將用于形成記錄痕跡用的記錄脈沖期間中的檢測光量作為抽樣值，保持Ismp。并如圖8(D)所示，把用各自的記錄能量Pw標準化了的Ismp/Pw值作為R-OPC指標值。該指標值若如圖8(A)所示的LD記錄波形那樣部分地記錄能量過大時，則如同圖(B)所示那樣，該部分形成的記錄痕跡就過大，如同圖(C)所示那樣，檢測光量(檢測信號)就降低，如同圖(D)所示那樣，R-OPC指標值也降低。因此，為了與目標指標值Ismp/Pwo一致，而使記錄能量降低。通過這種圖8(D)所示的R-OPC動作，記錄痕跡就能被控制成一定的形狀，保持均勻的記錄狀態(tài)。
想通過這種結構，即使使用R-OPC動作來進行高精度的記錄，也由于若光盤的光學相位差隨溫度上升和半徑位置的分布而變動時檢測光量就變動，所以R-OPC動作的精度降低。例如，隨溫度上升而光盤光學相位差的增大，也與記錄能量過大的情況一樣地使檢測光量降低，所以，不能判斷與記錄能量變動狀態(tài)的區(qū)別。
本實施例通過根據(jù)Ismp的光學相位差變動部分校正所述Ismp/Pw的指標值，能夠提高R-OPC的精度。即光學相位差的變動部分，通過預先計量光盤在半徑方向上的反射光量，或檢測溫度上升并計算出光學相位差的變動值，而計算出由檢測光量的光學相位差引起的變動值，通過使用該變動值來校正Ismp，就能計算除去了光學相位差影響的記錄狀態(tài)，能把記錄能量的目標值調整到高精度。
作為R-OPC的目標指標值Ismp/Pw，代替記錄中檢測光量的抽樣值Ismp，能把通過了設定成比在檢測信號中顯現(xiàn)的記錄脈沖調制信號帶域足夠低的截止頻率的低通濾波器(LPF)的檢測信號的平均值，作為Ismp來取得。
(實施例2)下面說明第十實施例和第十二實施例發(fā)明的實施例。
實施例1所述光盤7的光學相位差，即使對于最佳記錄能量計算時的指標，即β值，也給予誤差。該誤差如圖7所示，隨著光學相位差的增大而β值也增大。這種β值的偏離，其由所述光學相位差產(chǎn)生的橢圓偏振光成分通過偏振光光束分離器(PBS)3而被分離，在LD光源1側作為返回光透射，根據(jù)記錄痕跡和凹坑的有無，使LD光源1的射出能量變動，再現(xiàn)信號的調制度通過降低而產(chǎn)生。為了校正這種β值的偏離，本實施例按以下的順序進行。
作為光盤記錄的記錄條件信息，一般是把光盤的種類、記錄脈沖的寬度、最佳記錄能量、最佳β值等，作為把使軌道槽蛇行的擺動信號進行頻率調制或相位調制的調制信號來記錄。
本實施例的記錄型光盤，為了校正光盤光學相位差的最佳β值，把光學相位差的信息作為記錄條件信息來記錄。
本實施例中，作為記錄型光盤記錄的光學相位差的信息，能預先記錄內周部(PCA區(qū)域)半徑位置常溫下的光學相位差值，和/或在內周部和中周部和外周部等多個半徑位置處的光學相位差值，和/或與各自半徑位置對應的光學相位差的近次式系數(shù)(2次式時的a、b、c)。而且還能把表示光學相位差溫度依賴性的特性值那樣的為了校正指標值而作為有效信息。記錄型光盤記錄的這些信息表示在圖10。本實施例的信息記錄再現(xiàn)裝置，讀取記錄型光盤記錄的這些信息，并實行實施例1和后面實施例的記錄方法。
(實施例3)下面說明第六實施例和第十一實施例發(fā)明的實施例。
光盤的信息記錄再現(xiàn)裝置，在光盤設置前和在裝置內設置后，由光盤周邊溫度的變化而光學相位差是變動的。即使在記錄前的試寫(OPC)中，由其光學相位差的變動而表示PCA區(qū)域的最佳記錄能量的β值，也如圖7那樣地變動。
本實施例讀出來自光盤預格式化信息的最佳β值和內周部的光學相位差信息，并將其作為初始值。然后，根據(jù)實際記錄開始時刻的光盤溫度上升，從降低的檢測光量中計算光學相位差值。然后，根據(jù)光學相位差s和最佳β值的近似式β＝a×s2+b×s+c(在圖7中，a＝5.2，b＝-0.17，c＝-0.066)來校正從光盤讀出的最佳β值，這樣就能正確計算出最佳記錄能量。
然后，把用于進行R-OPC的表示最佳記錄能量的目標指標值，即形成記錄痕跡中檢測光量的抽樣值Ismp，根據(jù)光學相位差的檢測值從初始值中計算出檢測光量的降低率，這樣就能校正目標指標值即Ismp/Pwo。該校正是在將要記錄前預先取得根據(jù)光學相位差半徑位置的變動值，并把其作為與半徑位置對應的近似式的變換手段，這樣就能隨時校正目標指標值。通過進行這種校正，就能校正伴隨光學相位差變動的最佳記錄能量的偏差，能保持最佳記錄狀態(tài)。
(實施例4)下面說明第八實施例、第九實施例和第十一實施例發(fā)明的實施例。
作為檢測光盤光學相位差的方法，通過使用把作為光盤反射光的橢圓偏振光成分的P偏振光和S偏振光進行分離檢測的相位差傳感器(未圖示)，能得到與檢測光量的降低同樣的檢測值，能計算出光盤光學相位差的檢測值。通過計算來自該計算結果的光學相位差的變動，就能進行由所述近似式得到的最佳β值的校正。
如圖4和圖5所示，對于由光盤周邊溫度變化引起的光學相位差的變動，在光拾取的光盤近旁配置了溫度傳感器(未圖示)，通過檢測光盤周邊部的溫度來得到溫度變化的檢測值。通過根據(jù)該溫度變化來計算光學相位差的變動，就能進行由所述近似式得到的最佳β值的校正。
如以上實施例所述，通過在決定對光盤記錄條件的過程中校正光學相位差變動的影響，而且對于記錄中光學相位差的變動，也是經(jīng)常一邊校正記錄能量，一邊在光盤上進行記錄，這樣，就能在光盤的整個面上進行均勻且高精度的記錄。更詳細說就是，通過這種結構的信息記錄方法和記錄型光盤，就把由光盤光學相位差產(chǎn)生的最佳記錄能量的目標值誤差，通過光學相位差的檢測值進行校正，這樣，就能與記錄能量本身的變動進行分離。因此，能提高試寫(OPC)中最佳記錄能量計算的精度，同時，相對于校正記錄中記錄能量變動的R-OPC動作，也能分離光學相位差的變動，把記錄能量目標值的設定值進行高精度校正。而且能校正依賴于光盤溫度上升的光學相位差的變動，能進一步抑制對光盤的最佳記錄能量的誤差。
如以上所說明，第一實施例的發(fā)明，能得到一種簡易且高精度的信息記錄方法，其把由光記錄媒體(光盤)的光學相位差引起的檢測光量降低而產(chǎn)生的記錄能量的設定值和記錄能量的控制誤差進行校正。
第二實施例的發(fā)明或第三實施例的發(fā)明，能得到一種簡易且高精度的信息記錄方法，其把由光記錄媒體(光盤)的光學相位差引起的檢測光量降低而產(chǎn)生的，根據(jù)試寫中再現(xiàn)信號檢測變動的記錄能量的計算誤差進行校正。
第四實施例的發(fā)明或第五實施例的發(fā)明，能得到一種簡易且高精度的信息記錄方法，其把由光記錄媒體(光盤)的光學相位差引起的檢測光量降低而產(chǎn)生的，根據(jù)記錄中反射光量檢測變動的在試寫中記錄能量的計算誤差進行校正。
第六實施例的發(fā)明，把包含在光記錄媒體(光盤)反射光的檢測光量變動中的反射率偏差，以及傾斜、偏心和面振擺等的由機械特性引起的變動進行分離，并能高精度取得光盤光學相位差的初始值。
第七實施例的發(fā)明或第九實施例的發(fā)明，能得到一種簡易且高精度的信息記錄方法，其把伴隨信息記錄再現(xiàn)裝置的溫度變化而由光記錄媒體(光盤)的光學相位差變動引起的，試寫中最佳記錄能量的誤差和記錄中最佳記錄能量的偏差進行校正。
第八實施例的發(fā)明，能得到一種誤差小的高精度的信息記錄方法，其通過使用檢測裝置直接檢測光記錄媒體(光盤)的光學相位差，而把由光盤的機械特性引起的檢測光量的變化進行分離。
第十實施例的發(fā)明，能得到一種記錄型光盤，其把作為光盤反射光的檢測光量變動的反射率偏差，以及傾斜、偏心和面振擺等的由機械特性引起的變動進行分離，并能讀出光盤光學相位差的初始值，能高精度校正最佳記錄能量。
第十一實施例的發(fā)明，能得到低成本的信息記錄再現(xiàn)裝置，其由使用簡易且高精度的信息記錄方法而能以簡單的結構進行高精度的記錄。
第十二實施例的發(fā)明，能得到低成本的信息記錄再現(xiàn)裝置，其由使用簡易且高精度的信息記錄方法，且使用能高精度校正最佳記錄能量的記錄型光盤，而能以簡單的結構進行高精度的記錄。
本發(fā)明并不限定于具體公開的實施例，在不脫離專利要求的本發(fā)明的范圍內，考慮可有各種變形例和實施例。
權利要求
1.一種信息記錄方法，在使用半導體激光器對光記錄媒體進行信息的記錄或再現(xiàn)的信息記錄再現(xiàn)裝置的信息記錄方法中，其特征在于，根據(jù)所述光記錄媒體的光學相位差檢測值，把進行信息記錄時的最佳記錄能量的計算值進行校正，或把在記錄信息狀態(tài)下的記錄能量目標值進行校正。
2.如權利要求1所述的信息記錄方法，其特征在于，在向所述光記錄媒體進行信息記錄開始前計算最佳記錄能量時，對于把使記錄能量階段性變化而進行記錄的試寫區(qū)域進行再現(xiàn)而得到的規(guī)定的第一指標，使用根據(jù)所述光記錄媒體的光盤光學相位差的檢測值進行校正的最佳指標值，使表示最佳記錄能量的最佳指標值作為計算最佳記錄能量Pwo的計算值。
3.如權利要求2所述的信息記錄方法，其特征在于，所述規(guī)定的第一指標值，是對于所述試寫區(qū)域再現(xiàn)信號的直流成分的最大值與最小值的差與和的比，即是不平衡值。
4.如權利要求1所述的信息記錄方法，其特征在于，對于在向所述光記錄媒體上進行記錄信息的狀態(tài)下從該光記錄媒體的反射光量，即從檢測信號得到的規(guī)定的第二指標，使用根據(jù)該光記錄媒體光學相位差的檢測值隨時進行校正并更新的目標指標值，把表示最佳記錄能量的目標指標值一邊校正最佳記錄能量一邊進行記錄。
5.如權利要求4所述的信息記錄方法，其特征在于，所述第三指標值是把反射光量，即檢測信號的平均值，或形成記錄痕跡中的反射光量的抽樣值，用記錄能量標準化了的值。
6.如權利要求1～5任一項所述的信息記錄方法，其特征在于，通過把所述光記錄媒體的光學相位差信息或光學相位差分布的信息從預格式化信息讀出，來取得該光記錄媒體光學相位差信息的初始值，并計算信息記錄開始前或記錄中的該光學相位差的檢測值。
7.如權利要求1～6任一項所述的信息記錄方法，其特征在于，從所述光記錄媒體的反射光量計算光學相位差的變動值，并根據(jù)該變動值通過希望的變換裝置來校正所述第一指標值或第三指標值。
8.如權利要求1～6任一項所述的信息記錄方法，其特征在于，使用所述光記錄媒體光學相位差的檢測值，并且使用由該光記錄媒體反射光的橢圓偏振光成分的檢測裝置的檢測值來校正所述第一指標值或第三指標值。
9.如權利要求1～6任一項所述的信息記錄方法，其特征在于，使用所述光記錄媒體近旁溫度的檢測值或溫度變化的檢測值，并根據(jù)希望的溫度依賴性來校正所述第一指標值或第三指標值。
10.一種記錄型光盤，是作為信息記錄再現(xiàn)裝置的光記錄媒體而使用的光盤，是在使用如權利要求1～9任一項所述的信息記錄方法記錄所信息的記錄型光盤中，其特征在于，把指示被分配的試寫區(qū)域光學相位差的信息或光盤半徑方向上光學相位差的分布信息，作為光盤預格式化信息中的記錄條件信息或記錄管理信息而預先形成在光盤上。
11.一種信息記錄再現(xiàn)裝置，其特征在于，在使用半導體激光器對光記錄媒體進行信息記錄或再現(xiàn)的信息記錄再現(xiàn)裝置中，使用如權利要求1～9任一項所述的信息記錄方法。
12.一種信息記錄再現(xiàn)裝置，其特征在于，在如權利要求11所述的信息記錄再現(xiàn)裝置中，作為光記錄媒體是使用權利要求10所述的記錄型光盤。
全文摘要
一種信息記錄方法，在使用半導體激光器對光盤進行信息記錄·再現(xiàn)的信息記錄再現(xiàn)裝置的信息記錄方法中，根據(jù)光盤的光學相位差檢測值，把進行信息記錄時的最佳記錄能量的計算值進行校正，或把在記錄信息狀態(tài)下的記錄能量目標值進行校正。而且，在向光盤進行信息記錄開始前計算最佳記錄能量時，對于把使記錄能量階段性變化而進行記錄的試寫區(qū)域進行再現(xiàn)而得到的規(guī)定的第一指標，使用根據(jù)光盤光學相位差的檢測值進行校正的最佳指標值(β值)，使表示最佳記錄能量的最佳指標值作為計算最佳記錄能量Pwo的計算值。
文檔編號G11B7/0045GK1745422SQ20038010951
公開日2006年3月8日 申請日期2003年12月8日 優(yōu)先權日2002年12月9日
發(fā)明者橫井研哉 申請人:株式會社理光