專利名稱：記錄和/或再現(xiàn)臨時缺陷列表的方法、記錄和/或再現(xiàn)設備、以及一次寫入記錄介質(zhì)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種一次寫入記錄介質(zhì)，更具體地講，涉及一種將臨時缺陷列表記錄在一次寫入記錄介質(zhì)上的方法、一種再現(xiàn)臨時缺陷列表的方法、一種用于記錄和/或再現(xiàn)臨時缺陷列表的設備、和一次寫入記錄介質(zhì)。
背景技術(shù)：
缺陷管理涉及當已經(jīng)被記錄在記錄介質(zhì)的產(chǎn)生缺陷的位置上的數(shù)據(jù)不能被正常再現(xiàn)時將該數(shù)據(jù)記錄在該記錄介質(zhì)的另一位置上，從而防止由缺陷的產(chǎn)生引起的數(shù)據(jù)損失。
傳統(tǒng)地，缺陷管理被分為使用線性替換方法的缺陷管理和使用滑移替換方法的缺陷管理。線性替換方法是用沒有產(chǎn)生缺陷的數(shù)據(jù)區(qū)的備用區(qū)來替換產(chǎn)生缺陷的數(shù)據(jù)區(qū)?；铺鎿Q方法不使用產(chǎn)生缺陷的數(shù)據(jù)區(qū)，并且滑移到并使用沒有產(chǎn)生缺陷的下一數(shù)據(jù)區(qū)。
線性替換和滑移替換方法已經(jīng)主要被應用于如DVD-RAM/RW(數(shù)字多用途盤-隨機存取存儲器/可重寫)的盤，在其上數(shù)據(jù)可被重新記錄并且允許通過隨機存取來記錄。
近來，幾種解決方法已經(jīng)被考慮以在一次寫入記錄介質(zhì)中使用數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備執(zhí)行缺陷管理，在該記錄介質(zhì)中一旦數(shù)據(jù)被寫入則該數(shù)據(jù)不能被消除或擦除。
現(xiàn)在將對使用線性替換的一次寫入記錄介質(zhì)的缺陷管理進行詳細描述。從主機接收用戶數(shù)據(jù)記錄命令和用戶數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備以簇為單位記錄用戶數(shù)據(jù)，簇是數(shù)據(jù)記錄單位。在數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備執(zhí)行寫入后檢驗(verify-after-write)操作之后，如果缺陷在記錄用戶數(shù)據(jù)的用戶數(shù)據(jù)區(qū)的簇中產(chǎn)生，則數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備將用戶數(shù)據(jù)記錄在包括于數(shù)據(jù)區(qū)中的備用區(qū)中。
在當數(shù)據(jù)正被記錄的預定時間間隔期間，或者在單一數(shù)據(jù)記錄完成之后，數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備創(chuàng)建包含產(chǎn)生缺陷的用戶數(shù)據(jù)區(qū)的簇的位置信息和記錄在缺陷簇中的用戶數(shù)據(jù)被重寫在其上的備用區(qū)的替換簇的位置信息的臨時缺陷列表(以下稱為TDFL)。然后，數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備將創(chuàng)建的TDFL記錄在臨時盤管理區(qū)(以下稱為TDMA)中。另外，在數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備將創(chuàng)建的TDFL記錄在TDMA中之后，其記錄指示記錄TDFL的位置的指針信息。
當一次寫入記錄介質(zhì)被重新裝入記錄和/或再現(xiàn)設備時，數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備從一次寫入記錄介質(zhì)中讀出TDFL，并且將讀取的TDFL存儲在存儲器中。當另外的數(shù)據(jù)被記錄在一次寫入記錄介質(zhì)中時，如果產(chǎn)生新的缺陷簇，則數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備將記錄在缺陷簇中的數(shù)據(jù)重寫入備用區(qū)的替換簇中。其后，除存儲在存儲器中的TDFL之外，數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備創(chuàng)建包含新產(chǎn)生的缺陷簇的位置信息和相應于新產(chǎn)生的缺陷簇的替換簇的位置信息的更新的TDFL，記錄更新的TDMA，并且記錄指示記錄更新的TDFL的位置的指針信息。
當為了再現(xiàn)用戶數(shù)據(jù)，一次寫入記錄介質(zhì)被裝入數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備時，數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備首先訪問TDMA，獲得指示記錄更新的TDFL的位置的指針信息，并且獲得更新的TDFL。數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備能夠隨后通過參照更新的TDFL無錯誤地再現(xiàn)用戶數(shù)據(jù)。
如上所述，由于TDFL是用于用戶數(shù)據(jù)再現(xiàn)的關(guān)鍵信息，所以TDFL應被高可靠性地記錄。因此，在記錄TDFL期間，寫入后檢驗操作以與用戶數(shù)據(jù)的記錄期間相同的方式來被執(zhí)行。因此，如果缺陷簇被產(chǎn)生，則記錄在缺陷簇中的數(shù)據(jù)被重寫入TDMA的另一簇中。
根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)，如果TDFL的大小相應于至少兩個簇并且TDFL被記錄在至少兩個簇中，則寫入后檢驗操作被執(zhí)行，并且如果缺陷簇被產(chǎn)生，則TDFL被重寫入其他簇中。然而，TDMA小于數(shù)據(jù)區(qū)，并且可被存儲在TDMA中的數(shù)據(jù)量不大。因此，當根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)對TDFL執(zhí)行缺陷管理時，TDMA被快速用盡。
發(fā)明內(nèi)容
技術(shù)解決方案本發(fā)明一方面在于提供一種用于以高可靠性和為記錄TDFL分配的區(qū)域的改進利用將TDFL記錄在一次寫入記錄介質(zhì)中的方法和設備。
本發(fā)明一方面在于提供一種用于再現(xiàn)以高可靠性和為記錄TDFL分配的區(qū)域的改進利用記錄在一次寫入記錄介質(zhì)上的TDFL的方法和設備。
本發(fā)明一方面在于提供一種以高可靠性和為記錄TDFL分配的區(qū)域的改進利用存儲TDFL的一次寫入記錄介質(zhì)。
有益效果根據(jù)本發(fā)明，可更有效地使用一次寫入記錄介質(zhì)的區(qū)域并且更可靠地記錄和再現(xiàn)TDFL。具體地講，寫入后檢驗處理在記錄TDFL期間被執(zhí)行，并且如果產(chǎn)生缺陷簇，則TDFL被重寫入另一簇中。因此，TDFL可被高可靠性地記錄。這里，當缺陷在記錄TDFL期間被產(chǎn)生時，記錄在缺陷簇中的數(shù)據(jù)被重寫入替換簇，而不是重新記錄整個TDFL，指示TDFL被正常記錄在其中的簇的位置的指針信息被包括在TDDS中，并且TDSS被記錄在TDMA中。因此，TDMA的空間不會被快速用盡。
圖1示出根據(jù)本發(fā)明實施例的一次寫入記錄介質(zhì)的結(jié)構(gòu)；圖2是根據(jù)本發(fā)明實施例的數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備的方框圖；圖3是示出根據(jù)本發(fā)明實施例的記錄TDFL的方法的流程圖；圖4是用于詳細解釋根據(jù)寫入后檢驗處理創(chuàng)建TDFL的示圖；圖5示出示例性的TDFL；圖6是用于解釋根據(jù)本發(fā)明實施例的TDFL記錄后檢驗處理的示圖；圖7是用于解釋根據(jù)本發(fā)明實施例的TDFL記錄后檢驗處理的示圖；圖8示出根據(jù)本發(fā)明實施例的指示TDFL的位置的示例性指針信息；和圖9是示出根據(jù)本發(fā)明實施例的再現(xiàn)TDFL的方法的流程圖。
最佳實施方式根據(jù)本發(fā)明一方面，提供一種將用于缺陷管理的臨時缺陷列表記錄在一次寫入記錄介質(zhì)中的方法，該方法包括將當數(shù)據(jù)被記錄在一次寫入記錄介質(zhì)上時被創(chuàng)建的臨時缺陷列表記錄在一次寫入記錄介質(zhì)的至少一簇中，并且檢驗在該至少一簇中是否產(chǎn)生缺陷；將記錄在缺陷簇中的數(shù)據(jù)記錄在另一簇中，并且將指示在其中記錄臨時缺陷列表的該至少一簇的位置的指針信息記錄在一次寫入記錄介質(zhì)上。
將在接下來的描述中部分闡述本發(fā)明另外的方面和/或優(yōu)點，還有一部分通過描述將是清楚的，或者可以經(jīng)過本發(fā)明的實施而得知。
根據(jù)本發(fā)明一方面，臨時缺陷列表包括缺陷簇的位置信息和用于替換缺陷簇的替換簇的位置信息。
根據(jù)本發(fā)明一方面，指針信息包括不是缺陷簇的該另一簇的位置信息。
根據(jù)本發(fā)明一方面，指針信息被包括在臨時盤定義結(jié)構(gòu)中。臨時缺陷列表和臨時盤定義結(jié)構(gòu)可被記錄在設置在一次寫入記錄介質(zhì)上的臨時盤管理區(qū)中。
根據(jù)本發(fā)明另一方面，提供一種用于記錄和/或再現(xiàn)數(shù)據(jù)的設備，該設備包括記錄/讀取單元，用于將數(shù)據(jù)記錄在一次寫入記錄介質(zhì)上或從一次寫入記錄介質(zhì)讀取數(shù)據(jù)；和控制單元，用于控制記錄/讀取單元將當數(shù)據(jù)被記錄在一次寫入記錄介質(zhì)上時被創(chuàng)建的用于缺陷管理的臨時缺陷列表記錄在一次寫入記錄介質(zhì)的至少一簇中。控制單元還檢驗在該至少一簇中是否產(chǎn)生缺陷，控制記錄/讀取單元將記錄在缺陷簇中的數(shù)據(jù)記錄在另一簇中，并且控制記錄/讀取單元將指示在其中記錄臨時缺陷列表的該至少一簇的位置的指針信息記錄在一次寫入記錄介質(zhì)上。
根據(jù)本發(fā)明一方面，臨時缺陷列表包括缺陷簇的位置信息和用于替換缺陷簇的替換簇的位置信息。
根據(jù)本發(fā)明一方面，指針信息包括不是缺陷簇的該另一簇的位置信息。
根據(jù)本發(fā)明一方面，指針信息被包括在臨時盤定義結(jié)構(gòu)中。
根據(jù)本發(fā)明一方面，臨時缺陷列表和臨時盤定義結(jié)構(gòu)被記錄在設置在一次寫入記錄介質(zhì)上的臨時盤管理區(qū)中。
根據(jù)本發(fā)明另一方面，提供一種讀取記錄在一次寫入記錄介質(zhì)上的用于缺陷管理的臨時缺陷列表的方法，該方法包括從一次寫入記錄介質(zhì)獲得指示記錄臨時缺陷列表的位置的指針信息；和根據(jù)指針信息訪問記錄臨時缺陷列表的至少一簇并且讀取臨時缺陷列表。
根據(jù)本發(fā)明一方面，指針信息指示記錄臨時缺陷列表的至少一簇的位置。
根據(jù)本發(fā)明一方面，指針信息指示該至少一簇中的每個的位置。
根據(jù)本發(fā)明一方面，在記錄臨時缺陷列表期間，如果缺陷在至少一簇中被產(chǎn)生并且數(shù)據(jù)被記錄在另一簇中，則指針信息可包括不是缺陷簇的該另一簇的位置信息。
根據(jù)本發(fā)明一方面，臨時缺陷列表包括缺陷簇的位置信息和用于替換缺陷簇的替換簇的位置信息。
根據(jù)本發(fā)明一方面，指針信息被包括在臨時盤定義結(jié)構(gòu)中。臨時缺陷列表和臨時盤定義結(jié)構(gòu)可被記錄在設置在一次寫入記錄介質(zhì)上的臨時盤管理區(qū)中。
根據(jù)本發(fā)明另一方面，提供了一種用于再現(xiàn)數(shù)據(jù)的設備，該設備包括讀取單元，用于讀取記錄在一次寫入記錄介質(zhì)上的數(shù)據(jù)；和控制單元；用于控制讀取單元從一次記錄介質(zhì)讀取指示記錄用于缺陷管理的臨時缺陷列表的位置的指針信息，根據(jù)指針信息訪問記錄臨時缺陷列表的至少一簇，并且讀取臨時缺陷列表。
根據(jù)本發(fā)明一方面，指針信息指示記錄臨時缺陷列表的該至少一簇的位置。指針信息可指示該至少一簇中的每個的位置。
根據(jù)本發(fā)明一方面，在記錄臨時缺陷列表期間，如果缺陷在至少一簇中被產(chǎn)生并且數(shù)據(jù)被記錄在另一簇中，則指針信息包括不是缺陷簇的該另一簇的位置信息。
根據(jù)本發(fā)明一方面，臨時缺陷列表可包括缺陷簇的位置信息和用于替換缺陷簇的替換簇的位置信息。
根據(jù)本發(fā)明一方面，指針信息被包括在臨時盤定義結(jié)構(gòu)中。臨時缺陷列表和臨時盤定義結(jié)構(gòu)可被記錄在設置在一次寫入記錄介質(zhì)上的臨時盤管理區(qū)中。
根據(jù)本發(fā)明另一方面，提供了一種一次寫入記錄介質(zhì)，包括至少一個用戶數(shù)據(jù)區(qū)，用于記錄用戶數(shù)據(jù)；至少一個備用區(qū)，當缺陷在用戶數(shù)據(jù)區(qū)中被產(chǎn)生時用于替換；和至少一個臨時盤管理區(qū)，用于記錄用于缺陷管理的臨時缺陷列表和指示在其中記錄臨時缺陷列表的至少一簇的位置的指針信息。
根據(jù)本發(fā)明一方面，臨時缺陷列表包括產(chǎn)生缺陷的用戶數(shù)據(jù)區(qū)的缺陷簇的位置信息和用于替換缺陷簇的備用區(qū)的替換簇的位置信息。
根據(jù)本發(fā)明一方面，當臨時缺陷列表被記錄在臨時盤管理區(qū)的至少一簇中時，如果缺陷在該至少一簇中被產(chǎn)生并且數(shù)據(jù)被記錄在另一簇中，則指針信息包括不是缺陷簇的該另一簇的位置信息。指針信息可被包括在臨時盤定義結(jié)構(gòu)中。
本發(fā)明的實施方式現(xiàn)在將詳細描述本發(fā)明的實施例，其示例在附圖中表示，其中，相同的標號始終表示相同的部件。以下通過參考附圖描述實施例以解釋本發(fā)明。
圖1示出根據(jù)本發(fā)明實施例的一次寫入記錄介質(zhì)100的結(jié)構(gòu)。圖1中顯示的一次寫入記錄介質(zhì)100具有包括導入?yún)^(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)、和導出區(qū)的單記錄層。
在導入?yún)^(qū)中，設置了盤管理區(qū)1(DMA1)，盤管理區(qū)2(DMA2)、主臨時盤管理區(qū)(TDMA)、寫入條件測試區(qū)、和驅(qū)動器信息區(qū)。在數(shù)據(jù)區(qū)中，設置了用于替換在用戶數(shù)據(jù)區(qū)中產(chǎn)生的缺陷簇的備用區(qū)1和備用區(qū)2、次TDMA、和用戶數(shù)據(jù)區(qū)。在導出區(qū)中，設置了盤管理區(qū)3(DMA3)和盤管理區(qū)4(DMA4)。
TDFL和臨時盤定義結(jié)構(gòu)(以下稱為TDDS)被記錄在主TDMA和次TDMA中。TDDS包括寫條件測試區(qū)的可記錄位置信息、寫保護信息、和分配給數(shù)據(jù)區(qū)的備用區(qū)1和2的位置和/或大小信息。具體地講，在本實施例的一方面中，TDDS包括指示TDFL的位置的指針信息。TDDS和指示TDFL的位置的指針信息稍后將被詳細描述。
TDFL和TDDS首先被記錄在主TDMA中。在主TDMA被完全耗盡之后，TDFL和TDDS被記錄在次TDMA中。根據(jù)用戶命令或來自數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備的命令，包括在數(shù)據(jù)區(qū)中的次TDMA可或不可被分配，以便使用戶或數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備的生產(chǎn)者能夠更有效地使用一次寫入記錄介質(zhì)。
當一次寫入記錄介質(zhì)100被裝入如圖2所示數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備中時，數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備執(zhí)行初始化以使用一次寫入記錄介質(zhì)100。換句話說，數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備讀取記錄在導入?yún)^(qū)和/或?qū)С鰠^(qū)中的信息，并且確定如何管理一次寫入記錄介質(zhì)100以及如何將數(shù)據(jù)記錄在一次寫入記錄介質(zhì)100上或如何從一次寫入記錄介質(zhì)100再現(xiàn)數(shù)據(jù)。當記錄在導入?yún)^(qū)和/或?qū)С鰠^(qū)中的數(shù)據(jù)量增加時，在一次寫入記錄介質(zhì)100被裝入之后數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備準備記錄或再現(xiàn)處理所需的時間也增加。為了解決這個和/或其他問題，TDDS和TDFL的概念被引入。
換句話說，在一次寫入記錄介質(zhì)100被最終確定之前，TDFL和TDDS被更新并且被記錄在TDMA中。在一次寫入記錄介質(zhì)100被最終確定之后，有意義的更新的TDFL和TDDS作為缺陷列表(DFL)和缺陷定義結(jié)構(gòu)(DDS)被記錄在DMA1至4之一中。另外，通過將有意義的更新的TDFL和TDDS記錄在DMA1至4中，一次寫入記錄介質(zhì)100可在用于再現(xiàn)可重寫介質(zhì)100的設備中被再現(xiàn)。
圖2是根據(jù)本發(fā)明實施例的數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備的方框圖。參照圖2，數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備包括記錄/讀取單元1、控制單元2、和存儲器3。一次寫入記錄介質(zhì)100具有與具有圖1中顯示的單記錄層的一次寫入記錄介質(zhì)相同的結(jié)構(gòu)。
根據(jù)控制單元2的控制，記錄/讀取單元1將數(shù)據(jù)記錄在一次寫入記錄介質(zhì)100上和/或從一次記錄介質(zhì)100上再現(xiàn)數(shù)據(jù)。在數(shù)據(jù)記錄期間，為了檢驗記錄的數(shù)據(jù)，記錄的數(shù)據(jù)被讀出。
控制單元2控制數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備的全部操作。另外，當數(shù)據(jù)被記錄在一次寫入記錄介質(zhì)100上和/或從一次寫入記錄介質(zhì)100上被再現(xiàn)時，控制單元2創(chuàng)建更新的TDFL，將更新的TDFL記錄在一次寫入記錄介質(zhì)100上，并且將包含指示更新的TDFL的位置的指針信息的TDDS記錄在TDMA中，從而執(zhí)行缺陷管理。當不要求時，應該理解控制單元2可以是通用或?qū)Ｓ糜嬎銠C。
當一次寫入記錄介質(zhì)100被初始化以用于使用時，從一次寫入記錄介質(zhì)100讀出的更新的TDFL和TDDS被存儲在存儲器3中。其后，如果新的用戶數(shù)據(jù)被記錄，則缺陷管理被再次執(zhí)行，控制單元2在存儲在存儲器3中的TDFL中創(chuàng)建包括新的缺陷簇的位置信息和與新的缺陷簇相應的替換簇的位置信息的新的更新的TDFL，將更新的TDFL記錄在TDMA中，并且將指示記錄更新的TDFL的位置的指針信息記錄在TDMA中。
現(xiàn)在將參照圖3來描述一種根據(jù)本發(fā)明實施例將TDFL記錄在一次寫入記錄介質(zhì)100上的方法，該方法通過圖2中所示的數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備來執(zhí)行。
圖3是示出一種根據(jù)本發(fā)明實施例的記錄TDFL的方法的流程圖。
盡管沒有顯示在圖3中，但是當一次寫入記錄介質(zhì)100被裝入數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備中時，初始化被執(zhí)行以使用一次寫入記錄介質(zhì)100。換句話說，控制單元2從一次寫入記錄介質(zhì)100中讀取更新的TDFL和TDDS，并且將讀取的TDFL和TDDS存儲在存儲器3中。
其后，如果用戶數(shù)據(jù)和用戶數(shù)據(jù)記錄命令從主機(未顯示)被輸入到一次寫入記錄介質(zhì)100，則控制單元2以預定的單位將用戶數(shù)據(jù)記錄在一次寫入記錄介質(zhì)100上，并且執(zhí)行寫入后檢驗操作以檢驗記錄的數(shù)據(jù)。
在當數(shù)據(jù)正被記錄的預定時間間隔期間，或者在完成單一數(shù)據(jù)記錄之后，數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備創(chuàng)建包含新的缺陷簇的位置信息和與新的缺陷簇相應的替換簇的位置信息的新的更新的TDFL，將更新的TDFL記錄在TDMA中，并且將包括指示記錄更新的TDFL的位置的指針信息的TDDS記錄在TDMA中。
圖4是用于詳細解釋根據(jù)寫入后檢驗處理創(chuàng)建TDFL的示圖。這里，數(shù)據(jù)以扇區(qū)或簇為單位被處理。扇區(qū)是可由計算機的文件系統(tǒng)或應用程序管理的數(shù)據(jù)的最小單位。簇是可被一次物理地記錄在盤上的數(shù)據(jù)的最小單位。通常，至少一個扇區(qū)組成一個簇。
扇區(qū)被再分為物理扇區(qū)和邏輯扇區(qū)。物理扇區(qū)是在其中記錄與扇區(qū)相應的數(shù)據(jù)的盤的空間。用于找到物理扇區(qū)的地址被稱為物理扇區(qū)號(PSN)。邏輯扇區(qū)是用于管理文件系統(tǒng)或應用程序中的數(shù)據(jù)的扇區(qū)單元。同樣，邏輯扇區(qū)號(LSN)被分配給邏輯扇區(qū)。
數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備使用PSN來找到將被記錄在一次寫入記錄介質(zhì)100或在一次寫入記錄介質(zhì)100上被再現(xiàn)的數(shù)據(jù)的位置，在用于記錄或再現(xiàn)數(shù)據(jù)的計算機或應用程序中以邏輯扇區(qū)為單位來管理所有的數(shù)據(jù)，并且使用LSN來找到數(shù)據(jù)的位置。LSN和PSN之間的關(guān)系根據(jù)缺陷產(chǎn)生和記錄數(shù)據(jù)起始的位置通過控制單元2來映射。
參照圖4，A表示用戶數(shù)據(jù)區(qū)，B表示備用區(qū)。在用戶數(shù)據(jù)區(qū)A和備用區(qū)B中，存在PSN被順序分配給其的多個物理扇區(qū)(未顯示)。LSN被分配到至少一個物理扇區(qū)單元。然而，除產(chǎn)生缺陷的用戶數(shù)據(jù)區(qū)A的缺陷區(qū)之外，LSN被分配給備用區(qū)B的替換區(qū)。其結(jié)果是，盡管物理扇區(qū)和邏輯扇區(qū)大小相同，但是如果缺陷區(qū)被產(chǎn)生，則PSN和LSN變得不同。
用戶數(shù)據(jù)根據(jù)連續(xù)記錄模式或隨機記錄模式被記錄在用戶數(shù)據(jù)區(qū)A中。在連續(xù)記錄模式下，用戶數(shù)據(jù)被順序并連續(xù)地記錄。在隨機記錄模式下，用戶數(shù)據(jù)沒必要被連續(xù)地記錄，而是被隨機記錄。①至⑦指示在其中寫入后檢驗操作被執(zhí)行的單元區(qū)。
數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備將用戶數(shù)據(jù)記錄在單元區(qū)①中，數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備返回到單元區(qū)①的起始并且檢驗用戶數(shù)據(jù)是否被正常記錄或缺陷是否被產(chǎn)生。如果在其中產(chǎn)生缺陷的簇被找到，則該簇被識別為缺陷簇并且被指定為缺陷區(qū)，即缺陷#1，如圖4所示。
另外，數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備將記錄在缺陷#1中的用戶數(shù)據(jù)重寫入備用區(qū)B。在其中用戶數(shù)據(jù)被重寫的備用區(qū)B的一部分被指定為替換#1。接著，在將用戶數(shù)據(jù)記錄在單元區(qū)②中之后，則數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備返回到單元區(qū)②的起始并且檢驗用戶數(shù)據(jù)是否被正常記錄或者缺陷是否被產(chǎn)生。如果在其中缺陷被產(chǎn)生的至少一簇被找到，則該至少一簇被指定為缺陷②。以與上述同樣的方式，與缺陷#2相應的替換#2被指定。另外，在單元區(qū)③中，缺陷區(qū)，即缺陷#3和與缺陷#3相應的替換#3被指定。在單元區(qū)④中，沒有缺陷被找到并且不存在缺陷區(qū)。
在記錄和檢驗被完成一直到單元區(qū)④之后，如果期望終止記錄操作#1(例如，如果用戶按下彈出按鈕或者分配給記錄操作#1的用戶數(shù)據(jù)的記錄被完成)，則數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備在存儲于存儲器3中的先前TDFL中創(chuàng)建TDFL#1，在TDFL#1中在單元區(qū)①至④中產(chǎn)生的缺陷#1至#3的位置信息和與缺陷#1至#3相應的替換#1至#3的位置信息被更新。
當一次寫入記錄介質(zhì)100被再次裝入數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備時，控制單元2從一次寫入記錄介質(zhì)100讀取先前記錄的TDFL#1，并且將讀取的TDFL#1存儲在存儲器3中。其后，一旦記錄操作#2開始，以與記錄操作#1中相同的方式，數(shù)據(jù)被記錄并且缺陷管理被執(zhí)行。
換句話說，在記錄操作#2中，記錄用戶數(shù)據(jù)之后的檢驗從單元區(qū)⑤至⑦被執(zhí)行，因此，缺陷#4和#5和相應的替換#4和#5被指定。在記錄操作#2被終止之后，數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備在存儲于存儲器3中的先前TDFL#1中創(chuàng)建TDFL#2，在TDFL#2中缺陷#4和#5的位置信息和替換#4和#5的位置信息被更新。
圖5示出示例性的TDFL。參照圖5，一次寫入記錄介質(zhì)100上的所有缺陷簇的位置信息被包括在TDFL的第一列中，并且與缺陷簇相應的替換簇的位置信息被包括在TDFL的第二列中。在本實施例的一方面中，缺陷簇或替換簇的位置使用缺陷簇或替換簇的各自第一扇區(qū)的PSN來被指示。然而，根據(jù)本發(fā)明的方面，缺陷簇或替換簇的位置可使用缺陷簇或替換簇的各自最后扇區(qū)的PSN或者使用指示缺陷簇或替換簇的索引來被指示。
返回參照圖3，一旦TDFL被如上所述創(chuàng)建，則控制單元2將創(chuàng)建的TDFL記錄在TDMA的至少一簇中，并且檢驗記錄的TDFL(操作S510)。根據(jù)檢驗的結(jié)果，如果缺陷簇在記錄TDFL的簇之中被產(chǎn)生，則控制單元2將記錄在缺陷簇中的數(shù)據(jù)重寫入TDMA的另一簇中(操作S530)。
現(xiàn)在將對TDFL記錄后檢驗的兩個示例性實施例進行描述。
圖6是根據(jù)本發(fā)明實施例的TDFL記錄后檢驗的示圖。根據(jù)本發(fā)明所示實施例，當其大小等于多個簇的大小的TDFL被記錄在TDMA中時，整個TDFL被記錄并且隨后被檢驗。
參照圖6，TDFL的大小是包括第一簇210、第二簇230、第三簇250的三個簇，并且TDFL被記錄在三個簇中并且隨后被檢驗。根據(jù)檢驗的結(jié)果，其確定缺陷在第二簇230中被產(chǎn)生。因此，記錄在第二簇230中的數(shù)據(jù)被重寫入緊跟第三簇250之后的簇270。在簇270的檢驗之后，如果確定沒有在簇270中產(chǎn)生缺陷，則TDFL的記錄被終止，并且指示在其中記錄TDFL的簇的位置的指針信息被包括在TDDS中，并且TDDS被記錄在TDMA中。此時，指針信息包括指示在初始記錄期間沒有產(chǎn)生缺陷的第一簇210和第三簇250的位置以及替換有缺陷的第二簇230的簇270的位置的指針。
圖7是用于解釋根據(jù)本發(fā)明另一實施例的TDFL記錄后檢驗的示圖。根據(jù)本發(fā)明所示實施例，TDFL具有三個簇的大小。TDFL被記錄在第一簇310中并且隨后被檢驗。根據(jù)檢驗的結(jié)果，確定在第一簇310中沒有產(chǎn)生缺陷。TDFL被記錄在第二簇330中并且被檢驗。根據(jù)檢驗的結(jié)果，確定缺陷在第二簇330中被產(chǎn)生。因此，記錄在第二簇330中的TDFL被重寫入緊跟缺陷的第二簇330之后的簇350。在簇350的檢驗之后，如果確定在簇350中沒有產(chǎn)生缺陷，則TDFL被記錄在第三簇370中并被檢驗。在檢驗第三簇370之后，如果確定沒有產(chǎn)生缺陷，則TDFL的記錄被終止，并且指示在其中記錄TDFL的簇的位置的指針信息被記錄在TDDS中，并且TDDS被記錄在TDMA中。如圖6的實施例中，指針信息包括指示在初始記錄期間沒有產(chǎn)生缺陷的第一簇310和第三簇370的位置以及代替有缺陷的第二簇330的簇350的位置的指針。
圖8示出根據(jù)本發(fā)明一方面的指示TDFL的位置的示例性指針信息。圖8中顯示的指針信息包括k個指針410、430、和450。數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備通過再現(xiàn)圖8中所示的指針信息來順序地將TDFL記錄在k個簇中，并且k個簇的位置可被看到。
在本實施例中，TDFL的第n簇指針(n是范圍從1到k的整數(shù))具有4字節(jié)大小。另外，指針信息被包括在TDDS中。換句話說，TDDS包括指示TDFL的位置的指針信息、關(guān)于寫入條件測試區(qū)的可記錄位置的信息、寫保護信息、和分配給數(shù)據(jù)區(qū)的備用區(qū)的位置和/或大小信息。
由于TDDS應包括指示TDFL的位置的指針信息，所以TDDS應總在TDFL被記錄之后被記錄。
如上所述，根據(jù)用于記錄TDFL的方法和設備，可通過在記錄TDFL期間執(zhí)行寫入后檢驗并且如果產(chǎn)生缺陷簇則將TDFL重寫入另一簇中來具有高可靠性地記錄TDFL。另外，當缺陷在TDFL的記錄期間被產(chǎn)生時，僅記錄在缺陷簇中的數(shù)據(jù)被記錄在替換簇中，而不是重新記錄整個TDFL。參照圖3，在操作S550，指示在其中正常記錄TDFL的簇的位置的指針信息被包括在TDDS中，并且TDDS被記錄在TDMA中。因此，可保存TDMA中的存儲空間。
現(xiàn)在將對一種根據(jù)本發(fā)明實施例的用于再現(xiàn)TDFL的方法和設備進行描述。
用于再現(xiàn)TDFL的設備使用圖2中所示的數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備。然而，如果用于再現(xiàn)TDFL的設備是僅再現(xiàn)設備，則記錄/讀取單元1和控制單元2可僅執(zhí)行數(shù)據(jù)讀取。
圖9是示出根據(jù)本發(fā)明實施例的再現(xiàn)TDFL的方法的流程圖。盡管沒有顯示在附圖中，但是當根據(jù)上述方法將用戶數(shù)據(jù)、TDFL、和TDDS記錄在其中的一次寫入記錄介質(zhì)100被裝入數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備時，控制單元2執(zhí)行初始化以使用一次寫入記錄介質(zhì)100。換句話說，使用和管理一次寫入記錄介質(zhì)100所需的基本數(shù)據(jù)從一次寫入記錄介質(zhì)100被讀取。
具體地講，在更新的TDDS被定位和讀取之后，指示更新的TDFL的位置的指針信息從更新的TDDS中被獲得(操作S610)。指示更新的TDFL的位置的指針信息具有圖8中顯示的結(jié)構(gòu)。
由于控制單元2可從指針信息中獲得記錄更新的TDFL的簇的位置和TDFL被記錄在簇中的順序，所以其讀取更新的TDFL(操作S630)?？刂茊卧?將從一次寫入記錄介質(zhì)100中讀取的更新的TDDS和TDFL存儲在存儲器3中?？刂茊卧?能夠參照存儲在存儲器3中的TDDS和TDFL來無缺陷地再現(xiàn)記錄在一次寫入記錄介質(zhì)100上的用戶數(shù)據(jù)。
本發(fā)明還能夠被實現(xiàn)為計算機可讀記錄介質(zhì)中的計算機可讀代碼。計算機可讀記錄介質(zhì)包括可由計算機系統(tǒng)讀取的數(shù)據(jù)被存儲在其中的所有類型的記錄設備。這種計算機可讀記錄介質(zhì)是ROM、RAM、CD-ROM、磁帶、軟盤、和光學數(shù)據(jù)存儲器、和經(jīng)由如互聯(lián)網(wǎng)的載波的傳輸。另外，計算機可讀記錄介質(zhì)可被分布在經(jīng)網(wǎng)絡連接的計算機系統(tǒng)之中，并且計算機可讀代碼可被存儲在其上并且以分散方式被執(zhí)行。
另外，應該理解本發(fā)明的方法可被使用在TDMA將被保存在其中的多種類型的介質(zhì)中，這些介質(zhì)包括可寫光學介質(zhì)(例如CD-R、DVD-R)、可重寫介質(zhì)(例如CD-R/W、DVD-R/W、DVD-RAM)、磁和磁光介質(zhì)、和如藍光盤、高級光盤(AOD)、E-DVD的下一代DVD。
盡管已經(jīng)顯示和描述了本發(fā)明的一些實施例，但本領(lǐng)域的技術(shù)人員應該理解在不脫離由權(quán)利要求和其等同物限定范圍的本發(fā)明的原理和精神的情況下，可對實施例進行改變。
權(quán)利要求
1.一種將用于缺陷管理的臨時缺陷列表記錄在一次寫入記錄介質(zhì)中的方法，該方法包括將當數(shù)據(jù)被記錄在一次寫入記錄介質(zhì)中時創(chuàng)建的臨時缺陷列表記錄在一次寫入記錄介質(zhì)的至少一簇中，并且檢驗在該至少一簇中是否產(chǎn)生缺陷。將記錄在缺陷簇中的數(shù)據(jù)記錄在另一簇中；和將指示記錄臨時缺陷列表的該至少一簇的位置的指針信息記錄在一次寫入記錄介質(zhì)上。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，臨時缺陷列表包括缺陷簇的位置信息和用于替換缺陷簇的替換簇的位置信息。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，指針信息包括不是缺陷簇的該另一簇的位置信息。
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，在記錄和檢驗臨時缺陷列表的步驟中，臨時缺陷列表被完全地記錄在該至少一簇中，并且檢驗缺陷是否在該至少一簇中被產(chǎn)生。
5.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，臨時缺陷列表的記錄和檢驗以簇為單位被執(zhí)行。
6.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，指針信息被包括在臨時盤定義結(jié)構(gòu)中。
7.如權(quán)利要求6所述的方法，其中，臨時缺陷列表和臨時盤定義結(jié)構(gòu)被記錄在設置在一次寫入記錄介質(zhì)上的臨時盤管理區(qū)中。
8.一種用于記錄和/或再現(xiàn)關(guān)于一次寫入記錄介質(zhì)的數(shù)據(jù)的設備，該設備包括記錄/讀取單元，用于將數(shù)據(jù)記錄在一次寫入記錄介質(zhì)上或從一次寫入記錄介質(zhì)再現(xiàn)數(shù)據(jù)；和控制單元，用于控制記錄/讀取單元將當數(shù)據(jù)被記錄在一次寫入記錄介質(zhì)上時創(chuàng)建的用于缺陷管理的臨時缺陷列表記錄在一次寫入記錄介質(zhì)的至少一簇中，檢驗在該至少一簇中是否產(chǎn)生缺陷，控制記錄/讀取單元將記錄在缺陷簇中的數(shù)據(jù)記錄在另一簇中，并且控制記錄/讀取單元將指示在其中記錄臨時缺陷列表的該至少一簇的位置的指針信息記錄在一次寫入記錄介質(zhì)上。
9.如權(quán)利要求8所述的設備，其中，臨時缺陷列表包括缺陷簇的位置信息和用于替換缺陷簇的替換簇的位置信息。
10.如權(quán)利要求8所述的設備，其中，指針信息包括不是缺陷簇的該另一簇的位置信息。
11.如權(quán)利要求8所述的設備，其中，控制單元將臨時缺陷列表完全地記錄在該至少一簇中，并且檢驗在該至少一簇中是否產(chǎn)生缺陷。
12.如權(quán)利要求8所述的設備，其中，控制單元以簇為單位記錄并且檢驗臨時缺陷列表。
13.如權(quán)利要求8所述的設備，其中，指針信息被包括在臨時盤定義結(jié)構(gòu)中。
14.如權(quán)利要求13所述的設備，其中，臨時缺陷列表和臨時盤定義結(jié)構(gòu)被記錄在設置在一次寫入記錄介質(zhì)上的臨時盤管理區(qū)中。
15.一種讀取記錄在一次寫入記錄介質(zhì)上的用于缺陷管理的臨時缺陷列表的方法，該方法包括從一次寫入記錄介質(zhì)獲得指示記錄臨時缺陷列表的位置的指針信息；和根據(jù)指針信息，訪問記錄臨時缺陷列表的至少一簇并且讀取該臨時缺陷列表。
16.如權(quán)利要求15所述的方法，其中，指針信息指示記錄臨時缺陷列表的該至少一簇的位置。
17.如權(quán)利要求16所述的方法，其中，指針信息單獨地指示每一簇的位置。
18.如權(quán)利要求16所述的方法，其中，在記錄臨時缺陷列表期間，如果在該至少一簇中產(chǎn)生缺陷并且數(shù)據(jù)被記錄在另一簇中，則指針信息包括不是缺陷簇的該另一簇的位置信息。
19.如權(quán)利要求15所述的方法，其中，臨時缺陷列表包括缺陷簇的位置信息和用于替換缺陷簇的替換簇的位置信息。
20.如權(quán)利要求15所述的方法，其中，指針信息被記錄在臨時盤定義結(jié)構(gòu)中。
21.如權(quán)利要求20所述的方法，其中，臨時缺陷列表和臨時盤定義結(jié)構(gòu)被記錄在設置在一次寫入記錄介質(zhì)上的臨時盤管理區(qū)中。
22.一種用于再現(xiàn)和/或記錄關(guān)于一次寫入記錄介質(zhì)的數(shù)據(jù)的設備，該設備包括讀取單元，用于讀取記錄在一次寫入記錄介質(zhì)上的數(shù)據(jù)；和控制單元，用于控制讀取單元從一次寫入記錄介質(zhì)讀取指示記錄用于缺陷管理的記錄臨時缺陷列表的位置的指針信息，根據(jù)指針信息訪問記錄臨時缺陷列表的至少一簇，并且讀取臨時缺陷列表。
23.如權(quán)利要求22所述的設備，其中，指針信息指示記錄臨時缺陷列表的該至少一簇的位置。
24.如權(quán)利要求23所述的方法，其中，指針信息指示每一簇的位置。
25.如權(quán)利要求23所述的方法，其中，在記錄臨時缺陷列表期間，如果在該至少一簇中產(chǎn)生缺陷并且數(shù)據(jù)被記錄在另一簇中，則指針信息包括不是缺陷簇的該另一簇的位置信息。
26.如權(quán)利要求22所述的方法，其中，臨時缺陷列表包括缺陷簇的第一位置信息和用于替換缺陷簇的替換簇的第二位置信息。
27.如權(quán)利要求22所述的方法，其中，指針信息被包括在臨時盤定義結(jié)構(gòu)中。
28.如權(quán)利要求27所述的方法，其中，臨時缺陷列表和臨時盤定義結(jié)構(gòu)被記錄在設置在一次寫入記錄介質(zhì)上的臨時盤管理區(qū)中。
29.一種與記錄和/或再現(xiàn)設備一起使用的一次寫入記錄介質(zhì)，包括至少一個用戶數(shù)據(jù)區(qū)，用于記錄用戶數(shù)據(jù)；至少一個備用區(qū)，用于當在用戶數(shù)據(jù)區(qū)的相應部分中產(chǎn)生缺陷時替換用戶數(shù)據(jù)區(qū)的相應部分；和至少一個臨時盤管理區(qū)，用于記錄用于缺陷管理的臨時缺陷列表和將記錄臨時缺陷列表的至少一簇的位置指示給記錄/再現(xiàn)設備的指針信息。
30.如權(quán)利要求29所述的一次寫入記錄介質(zhì)，其中，臨時缺陷列表包括產(chǎn)生缺陷的用戶數(shù)據(jù)區(qū)的缺陷簇的第一位置信息和用于替換缺陷簇的備用區(qū)的替換簇的第二位置信息。
31.如權(quán)利要求29所述的一次寫入記錄介質(zhì)，其中，當臨時缺陷列表被記錄在臨時盤管理區(qū)的至少一簇中時，如果在該至少一簇中產(chǎn)生缺陷并且數(shù)據(jù)被記錄在另一簇中，則指針信息包括不是缺陷簇的該另一簇的位置信息。
32.如權(quán)利要求29所述的一次寫入記錄介質(zhì)，其中，指針信息被包括在臨時盤定義結(jié)構(gòu)中。
33.一種在其上記錄有由計算機執(zhí)行的用于將用于缺陷管理的臨時缺陷列表記錄在一次寫入記錄介質(zhì)上的方法的程序的計算機可讀記錄介質(zhì)，該方法包括將當數(shù)據(jù)被記錄在一次寫入記錄介質(zhì)上時創(chuàng)建的臨時缺陷列表記錄在一次寫入記錄介質(zhì)的至少一簇中，并且檢驗在該至少一簇中是否產(chǎn)生缺陷；將記錄在缺陷簇中的數(shù)據(jù)記錄在另一簇中；和將指示記錄臨時缺陷列表的該至少一簇的位置的指針信息記錄在一次寫入記錄介質(zhì)上。
34.一種在其上記錄有由計算機執(zhí)行的用于執(zhí)行讀取用于缺陷管理的記錄在一次寫入記錄介質(zhì)上的臨時缺陷列表的方法的程序的計算機可讀記錄介質(zhì)，該方法包括從一次寫入記錄介質(zhì)獲得指示記錄臨時缺陷列表的位置的指針信息；和根據(jù)指針信息訪問記錄臨時缺陷列表的至少一簇并且讀取臨時缺陷列表。
35.一種用于管理存儲在記錄介質(zhì)上的用戶數(shù)據(jù)的臨時缺陷列表的方法，包括在基于逐簇將臨時缺陷列表記錄在記錄介質(zhì)的臨時缺陷管理區(qū)期間執(zhí)行寫入后檢驗處理。
36.如權(quán)利要求35所述的方法，其中，執(zhí)行寫入后檢驗處理的步驟包括以單一單元將臨時缺陷列表記錄在臨時缺陷管理區(qū)的連續(xù)簇中；和檢驗記錄的單一單位的臨時缺陷列表，從而當缺陷被定位在與臨時缺陷列表的一部分相應的臨時缺陷管理區(qū)的簇中的一個中時，在臨時缺陷管理區(qū)的下一簇中存儲并檢驗該部分。
37.如權(quán)利要求36所述的方法，還包括將指示位置的指針信息存儲在記錄臨時缺陷列表的臨時缺陷管理區(qū)中。
38.如權(quán)利要求37所述的方法，其中，指針信息僅指向包含臨時缺陷列表的臨時缺陷管理區(qū)的簇。
39.如權(quán)利要求37所述的方法，還包括將指針信息存儲在被存儲于臨時缺陷管理區(qū)中的臨時盤定義結(jié)構(gòu)中。
40.如權(quán)利要求39所述的方法，其中，當臨時缺陷管理區(qū)滿時，臨時缺陷列表和臨時盤定義結(jié)構(gòu)被存儲在記錄介質(zhì)上的次臨時缺陷管理區(qū)中。
41.如權(quán)利要求40所述的方法，其中，臨時缺陷列表在臨時盤定義結(jié)構(gòu)之前被存儲在臨時缺陷管理區(qū)中。
42.如權(quán)利要求41所述的方法，其中，記錄介質(zhì)是一次寫入光盤。
43.如權(quán)利要求42所述的方法，其中，一次寫入光盤是單記錄層盤。
44.如權(quán)利要求35所述的方法，其中，執(zhí)行寫入后檢驗處理的步驟包括將臨時缺陷列表記錄在臨時缺陷管理區(qū)的單一簇增量中；和當單一簇被記錄時檢驗每個單一簇增量，從而當缺陷定位于與臨時缺陷列表的一部分相應的臨時缺陷管理區(qū)的單一簇中時，在臨時缺陷管理區(qū)的下一簇中記錄并檢驗臨時缺陷列表的該部分。
45.如權(quán)利要求44所述的方法，還包括將指示位置的指針信息存儲在記錄臨時缺陷列表的臨時缺陷管理區(qū)中。
46.如權(quán)利要求45所述的方法，其中，指針信息僅指向包含臨時缺陷列表的臨時缺陷管理區(qū)的簇。
47.如權(quán)利要求45所述的方法，還包括將指針信息存儲在被存儲于臨時缺陷管理區(qū)中的臨時盤定義結(jié)構(gòu)中。
48.如權(quán)利要求47所述的方法，其中，當臨時缺陷管理區(qū)滿時，臨時缺陷列表和臨時盤定義結(jié)構(gòu)被存儲在記錄介質(zhì)上的次臨時缺陷管理區(qū)中。
49.如權(quán)利要求48所述的方法，其中，臨時缺陷列表在臨時盤定義結(jié)構(gòu)之前被存儲在臨時缺陷管理區(qū)中。
50.如權(quán)利要求49所述的方法，其中，記錄介質(zhì)是一次寫入光盤。
51.如權(quán)利要求50所述的方法，其中，一次寫入光盤是單記錄層盤。
52.一種管理存儲在一次寫入記錄介質(zhì)上的用戶數(shù)據(jù)的臨時缺陷列表的方法，包括在將臨時缺陷列表記錄在一次寫入記錄介質(zhì)的臨時缺陷管理區(qū)期間執(zhí)行寫入后檢驗處理，從而當在記錄期間產(chǎn)生缺陷區(qū)時，僅與缺陷區(qū)相應的單一簇的數(shù)據(jù)被記錄在替換區(qū)中。
53.如權(quán)利要求52所述的方法，其中，缺陷區(qū)和替換區(qū)的位置由物理扇區(qū)號指示。
54.如權(quán)利要求53所述的方法，其中，物理扇區(qū)號與缺陷區(qū)和替換區(qū)的各自第一扇區(qū)相應。
55.如權(quán)利要求53所述的方法，其中，物理扇區(qū)號與缺陷區(qū)和替換區(qū)的各自最后扇區(qū)相應。
56.如權(quán)利要求53所述的方法，其中，索引指示各個缺陷區(qū)和替換區(qū)。
全文摘要
一種將臨時缺陷列表記錄在一次寫入記錄介質(zhì)上的方法，一種再現(xiàn)該臨時缺陷列表的方法，一種用于記錄和/或再現(xiàn)臨時缺陷列表的設備，以及一次寫入記錄介質(zhì)。將用于缺陷管理的臨時缺陷列表記錄在一次寫入記錄介質(zhì)上的方法包括將當數(shù)據(jù)被記錄在一次寫入記錄介質(zhì)上時被創(chuàng)建的臨時缺陷列表記錄在一次寫入記錄介質(zhì)的至少一簇中，并且檢驗在該至少一簇中是否產(chǎn)生缺陷。隨后，該方法包括將原始記錄在缺陷簇中的數(shù)據(jù)重新記錄在另一簇中，并且將指示記錄臨時缺陷列表的該至少一簇的位置的指針信息記錄在一次寫入記錄介質(zhì)上。
文檔編號G11B7/007GK1705986SQ200480001415
公開日2005年12月7日 申請日期2004年4月29日 優(yōu)先權(quán)日2003年4月30日
發(fā)明者黃盛凞, 高禎完 申請人:三星電子株式會社