專利名稱：光檢拾裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種將信息分別記錄到DVD(數(shù)字通用盤)、CD(緊湊盤)等的基板厚度不同的光盤中并從該光盤中再生的光檢拾裝置，特別是涉及一種能夠提供消除了像散像差和彗形像差的良好的激光光束的點光的光檢拾裝置。
背景技術(shù)：
在背景技術(shù)中，按照使用了發(fā)射波長不同的激光光束的兩個激光二極管的光檢拾裝置，如圖3所示，使從激光二極管11發(fā)射的激光的光束A透過二向色棱鏡13和偏轉(zhuǎn)光束分離器14，另外，從激光二極管12發(fā)射的光束B被二向色棱鏡13折射，使之與光束A的光軸一致，并在與光盤21的信息記錄面正交的方向被全反射鏡15折射，用準(zhǔn)直透鏡16構(gòu)成平行光束，用四分之一波長棱鏡17使之從橢圓偏振光偏轉(zhuǎn)為線偏振光，用物鏡18將激光光束會聚成點光并射至光盤21，其反射光在光檢測元件20的方向被偏轉(zhuǎn)光束分離器14折射，經(jīng)柱面透鏡19被光檢測元件20檢測到。因此，昂貴的光學(xué)部件二向色棱鏡13和偏轉(zhuǎn)光束分離器14是必需的，有一個問題是，光學(xué)部件的件數(shù)增加，光檢拾裝置變得昂貴。另外，參照圖4，用兩個平行平板半反射鏡33、34代替圖3中的昂貴光學(xué)部件二向色棱鏡13和偏轉(zhuǎn)光束分離器14，從激光二極管31發(fā)射的激光光束A被以與光軸正交的角度(在圖中，平行平板半反射鏡33、34被簡化成二維示出)而配置的平行平板半反射鏡33、34折射后透過，另外，從激光二極管32發(fā)射的激光光束被平行平板半反射鏡34折射，使之與激光光束A的光軸一致，在與光盤40的信息記錄面正交的方向被全反射鏡35折射，用準(zhǔn)直透鏡36構(gòu)成平行光束，用四分之一波長片37使之從橢圓偏振光偏轉(zhuǎn)為線偏振光，用物鏡38將激光光束會聚成點光并射至光盤40，其反射光在光檢測元件39的方向被平行平板半反射鏡33折射，并被光檢測元件39檢測到。但是，當(dāng)從激光二極管31發(fā)射的激光光束被兩個平行平板半反射鏡33、34折射后通過，產(chǎn)生像散像差和彗形像差，這就有一個問題激光光束的良好的點光不能被會聚到光盤40的信息記錄面上。
作為背景技術(shù)，將第1平行平板半反射鏡以繞Y軸傾斜一個角度q相對于從波長不同的兩個激光二極管中的一個激光二極管發(fā)射的激光光束的光軸Z軸配置，將其厚度與第1平行平板半反射鏡的厚度相同的第2平行平板半反射鏡以繞X軸傾斜一個角度q配置，從一個激光二極管發(fā)射的激光的光束被連續(xù)折射后透過第1和第2平行平板半反射鏡，從另一激光二極管發(fā)射的激光光束被第2平行平板半反射鏡反射，使之與從波長不同的兩個激光二極管發(fā)射的激光光束的光軸一致(例如，參照J(rèn)P-A-2001-006205)。
另外，有一種結(jié)構(gòu)是，使傾斜調(diào)節(jié)構(gòu)件與透鏡接觸，在傾斜調(diào)節(jié)構(gòu)件與透鏡接觸的狀態(tài)下，通過對配置在可動支撐構(gòu)件上的螺線管線圈和配置在固定構(gòu)件上的磁鐵通電，通過將透鏡壓到傾斜調(diào)節(jié)構(gòu)件上，可動支撐構(gòu)件發(fā)生位移，透鏡的傾斜得到調(diào)節(jié)(例如，參照日本專利出版物No.3392904)。
另外，有一種結(jié)構(gòu)是，來自第1激光二極管的第1激光被平行平板半反射鏡反射，第1激光的反射光束被會聚透鏡會聚，第1激光被會聚后的光束由光束整形棱鏡整形，被會聚在與第1激光對應(yīng)的第1光盤上，對透過平行平板半反射鏡的來自第2激光二極管的激光提供像散像差，來自第2激光二極管的第2激光被會聚到與第2激光對應(yīng)的第2光盤上，第2光束通過光束整形棱鏡時所產(chǎn)生的像散像差得到減少(例如，參照J(rèn)P-A-2001-344801)。
另外，從發(fā)射波長不同的兩束或兩束以上的激光光束的激光二極管發(fā)射的各激光的光束被物鏡會聚，被光盤反射并通過物鏡的各激光的光束被光學(xué)檢測元件檢測到，在激光二極管與光學(xué)檢測元件之間的光路上，使從激光二極管發(fā)射的各激光的光束返回的位置在光學(xué)檢測元件的光接收面上相互一致，彗形像差由全息光學(xué)元件校正(例如，參照J(rèn)P-A-2003-317302)。

發(fā)明內(nèi)容
但是，按照在JP-A-2001-006205中公開的結(jié)構(gòu)，將第1平行平板半反射鏡以角度θ相對于從波長不同的兩個激光二極管中的一個激光二極管發(fā)射的激光光束的光軸Z軸配置，將其平板厚度與第1平行平板半反射鏡相同的第2平行平板半反射鏡以繞X軸傾斜一個角度θ配置，從一個激光二極管發(fā)射的激光光束被連續(xù)折射后透過第1和第2平行平板半反射鏡，從另一激光二極管發(fā)射的激光光束被第2平行平板半反射鏡反射，因此，從波長不同的兩個激光二極管發(fā)射的激光光束的光軸能夠相互一致，但是，這難以消除像散像差和彗形像差。
按照在日本專利出版物No.3392904中公開的結(jié)構(gòu)，使傾斜調(diào)節(jié)構(gòu)件與透鏡接觸，在傾斜調(diào)節(jié)構(gòu)件與透鏡接觸的狀態(tài)下，通過對配置在可動支撐構(gòu)件上的螺線管線圈和配置在固定構(gòu)件上的磁鐵通電，通過將透鏡壓到傾斜調(diào)節(jié)構(gòu)件上，可動支撐構(gòu)件發(fā)生位移，透鏡的傾斜得到調(diào)節(jié)，但是，下一種結(jié)構(gòu)不能通過減少部件件數(shù)來降低成本以低成本實現(xiàn)光檢拾裝置。
按照在JP-A-2001-344801中公開的結(jié)構(gòu)，來自第1激光二極管的第1激光光束被平行平板半反射鏡反射，第1激光的反射光束被會聚透鏡會聚，第1激光被會聚后的光束由光束整形棱鏡整形，被會聚在與第1激光對應(yīng)的第1光盤上，對透過平行平板半反射鏡的來自第2激光二極管的激光提供預(yù)定的像散像差，來自第2激光二極管的第2激光光束被會聚到與第2激光對應(yīng)的第2光盤上，第2激光通過光束整形棱鏡時所產(chǎn)生的像散像差能夠減少，但是，與上述情況類似地，該結(jié)構(gòu)不能通過減少部件件數(shù)來降低成本以低成本實現(xiàn)光檢拾裝置。
按照在JP-A-2003-317302中公開的結(jié)構(gòu)，從發(fā)射波長不同的兩束或兩束以上的激光光束的激光二極管發(fā)射的各激光的光束被物鏡會聚，被光盤反射并通過物鏡的各激光的光束被光學(xué)檢測元件檢測到，在激光二極管與光學(xué)檢測元件之間的光路上，使從激光二極管發(fā)射的各激光的光束返回的位置在光學(xué)檢測元件的光接收面上相互一致，彗形像差能夠由全息光學(xué)元件校正，但是，需要使用全息光學(xué)元件，并且該結(jié)構(gòu)不能以低成本實現(xiàn)光檢拾裝置。
本發(fā)明是鑒于背景技術(shù)中的上述問題而進(jìn)行的，其目的在于，提供一種通過減少部件件數(shù)來降低成本以及消除像散像差和彗形像差能夠提供激光光束的良好的點光而不用昂貴的光學(xué)部件且不使光檢拾裝置的功能變差的光檢拾裝置。
按照本發(fā)明的第1方面，提供了一種光檢拾裝置，它包括第1激光二極管，發(fā)射具有第1波長的第1激光光束；第2激光二極管，發(fā)射具有不同于第1波長的第2波長的第2激光光束；第1光學(xué)元件，在第1激光光束的光軸上配置，用于折射和透過通過此處的第1激光光束，第1光學(xué)元件以第1角繞與第1激光光束的光軸正交的第1軸旋轉(zhuǎn)，有第1折射率；第2光學(xué)元件，在透過第1光學(xué)元件的第1激光光束的光軸上配置，用于折射和透過通過此處的第1激光光束，該第2光學(xué)元件被配置在第2激光光束的光軸上，用于折射第2激光光束，使第2激光光束的光軸與第1激光光束的光軸一致，第2光學(xué)元件被配置在第1激光光束的光軸上與第1光學(xué)元件隔開預(yù)定距離的位置處，以第2角繞與第1激光光束的光軸和第1軸正交的第2軸旋轉(zhuǎn)，有消除了第1激光光束的像散像差的第2折射率；以及傾角校正單元，校正包括第1和第2光學(xué)元件在內(nèi)的光學(xué)系統(tǒng)的傾角并且消除在光盤的半徑方向所產(chǎn)生的彗形像差，其中，第1和第2光學(xué)元件被形成為具有同一厚度，并且其中，第1和第2光學(xué)元件以同一光學(xué)材料制造。
按照本發(fā)明的第2方面，提供了一種光檢拾裝置，它包括第1激光二極管，發(fā)射具有第1波長的第1激光光束；第2激光二極管，發(fā)射具有不同于第1波長的第2波長的第2激光光束；第1光學(xué)元件，在第1激光光束的光軸上配置，用于折射和透過通過此處的第1激光光束，第1光學(xué)元件以第1角繞與第1激光光束的光軸正交的第1軸旋轉(zhuǎn)，有第1折射率；第2光學(xué)元件，在透過第1光學(xué)元件的第1激光光束的光軸上配置，用于折射和透過通過此處的第1激光光束，該第2光學(xué)元件被配置在第2激光光束的光軸上，用于折射第2激光光束，使第2激光光束的光軸與第1激光光束的光軸一致，第2光學(xué)元件被配置在第1激光光束的光軸上與第1光學(xué)元件隔開預(yù)定距離的位置處，以第2角繞與第1激光光束的光軸和第1軸正交的第2軸旋轉(zhuǎn)，有消除了第1激光光束的像散像差的第2折射率；以及傾角校正單元，校正包括第1和第2光學(xué)元件在內(nèi)的光學(xué)系統(tǒng)的傾角并且消除在光盤的半徑方向所產(chǎn)生的彗形像差。


本發(fā)明的上述目的和優(yōu)點通過詳細(xì)參照附圖來描述其示范性的優(yōu)選實施例而變得更為明顯，其中圖1是示出本發(fā)明第1實施例的光檢拾裝置的結(jié)構(gòu)的透視圖。
圖2是示出本發(fā)明第2實施例的光檢拾裝置的結(jié)構(gòu)的透視圖。
圖3是示出背景技術(shù)的光檢拾裝置的結(jié)構(gòu)的說明圖。
圖4是示出背景技術(shù)的另一光檢拾裝置的結(jié)構(gòu)的說明圖。
圖5是示出傾角校正傳動裝置的結(jié)構(gòu)的透視圖。
圖6是示出傾角校正傳動裝置的頂視圖的說明圖。
具體實施例方式
現(xiàn)參照附圖詳細(xì)說明本發(fā)明的優(yōu)選實施例。
圖1是示出本發(fā)明第1實施例的光檢拾裝置的結(jié)構(gòu)的透視圖，圖2是示出本發(fā)明第2實施例的光檢拾裝置的結(jié)構(gòu)的透視圖。
首先，基于示出本發(fā)明第1實施例的光檢拾裝置的結(jié)構(gòu)的圖1的透視圖作出說明。
第1實施例的光檢拾裝置包括發(fā)射波長各不相同的激光光束的兩個激光二極管1和激光二極管2。當(dāng)激光光盤10是CD時，從激光二極管1發(fā)射的波長為790nm的激光光束A經(jīng)光學(xué)系統(tǒng)被會聚到光盤10的信息記錄面上，信息被記錄到光盤10中并從光盤10中再生，被光盤10的信息記錄面反射的激光的反射光被光學(xué)檢測元件9檢測到，記錄到光盤10上的信息被讀出。另外，當(dāng)光盤10是DVD時，從激光二極管2發(fā)射的波長為660nm的激光光束B經(jīng)光學(xué)系統(tǒng)被會聚到光盤10的信息記錄面上，信息被記錄到光盤10中并從光盤10中再生，被光盤10的信息記錄面反射的激光的反射光被光學(xué)檢測元件9檢測到，記錄到光盤10上的信息被讀出。
從激光二極管1發(fā)射的波長為790nm的激光光束A被折射后透過平行平板半反射鏡3a和平行平板半反射鏡4，并在與光盤10的信息記錄面正交的方向被全反射鏡5折射。被全反射鏡5折射的激光光束A用焦距為20.05mm的準(zhǔn)直透鏡6構(gòu)成平行光束，用四分之一波長片7使之從橢圓偏振光偏轉(zhuǎn)為線偏振光，用焦距為3.05mm、數(shù)值孔徑為0.51的物鏡8將偏轉(zhuǎn)為線偏振光的激光光束會聚到厚度為1.2mm的光盤10的信息記錄面上，即，會聚到CD的內(nèi)面的1.2mm深度的位置上。另外，被CD的光盤10的信息記錄面反射的激光的反射光通過物鏡8、四分之一波長片7、準(zhǔn)直透鏡6、全反射鏡5和平行平板半反射鏡4的光學(xué)系統(tǒng)沿反向返回，并在光學(xué)檢測元件9的方向被平行平板半反射鏡3a折射，來自CD的光盤10的信息記錄面的反射光被光學(xué)檢測元件9檢測到，記錄到CD的信息記錄面上的信息被讀出。
平行平板半反射鏡3a和平行平板半反射鏡4是厚度為t1、t2＝2.5mm的光學(xué)玻璃材料BK7(硼硅酸鹽冕牌玻璃)的平行平板半反射鏡。如圖1所示，以角度θ1＝43.6°繞與激光光束A的光軸z軸正交的x軸旋轉(zhuǎn)來配置平行平板半反射鏡3a。另外，如圖1所示，在激光光束A的光軸上與平行平板半反射鏡3a隔開一段距離d＝8mm的位置處以角度θ2＝45°繞與激光光束A的光軸z軸正交的y軸旋轉(zhuǎn)來配置平行平板半反射鏡4。當(dāng)厚度為t1、t2＝2.5mm的光學(xué)玻璃材料BK7的平行平板半反射鏡3a和平行平板半反射鏡4用這種方法被配置在彼此隔開一段距離d＝8mm的激光光束A的光軸上的位置處時，通過按照如下的關(guān)系配置平行平板半反射鏡3a和平行平板半反射鏡4在光軸上以稍小于90°的角度扭曲，用平行平板半反射鏡3a和平行平板半反射鏡4消除從激光二極管1發(fā)射的激光光束A的像散像差，將光學(xué)系統(tǒng)調(diào)節(jié)成產(chǎn)生彗形像差的方向成為光盤10的半徑方向，在光盤10的半徑方向所產(chǎn)生的彗形像差能夠通過用傾角校正傳動裝置100來校正包括光檢拾裝置的準(zhǔn)直透鏡6、四分之一波長片7和物鏡8的透鏡系統(tǒng)的光軸的傾角，或者光檢拾裝置的光軸的傾角而得到校正，因此，當(dāng)從激光二極管1發(fā)射的激光光束A被會聚到光盤10的信息記錄面上時，就能夠提供消除了像散像差和彗形像差的良好的點光。另外，當(dāng)波長為790nm時，光學(xué)玻璃材料BK7的折射率為1.511。
如圖5和圖6所示，傾角校正傳動裝置100包括支撐部和傳動部。支撐部包括在傾斜方向可被扭曲的支撐物鏡8的四條線101。傳動部包括配置在其中配置了包含物鏡8的光學(xué)系統(tǒng)的可動單元103上的多個磁鐵102；以及配置在固定單元106的多個線圈(追蹤線圈104和聚焦線圈105)。
圖6示出了傾角校正傳動裝置100的頂視圖。如圖6所示，聚焦線圈105包括四個聚焦線圈105a、105b、105c和105d。聚焦線圈105a和105c相對于追蹤方向被配置在可動單元103的一側(cè)，聚焦線圈105b和105d被配置在可動單元103的另一側(cè)。當(dāng)在傾斜方向移動可動單元103時，聚焦線圈105a和105c與聚焦線圈105b和105d以反相被傳動。當(dāng)在聚焦方向移動可動單元103時，聚焦線圈105a、105b、105c和105d以同相被傳動。
如上所述，傾角校正傳動裝置100被配置成一種所謂移動磁鐵型的類型。
在實施例中，傾角校正傳動裝置100起校正包括第1和第2光學(xué)元件在內(nèi)的光學(xué)系統(tǒng)的傾角的傾角校正單元的作用，消除了在光盤的半徑方向所產(chǎn)生的彗形像差。
另一方面，激光二極管2被配置成從激光二極管2發(fā)射的波長為660nm的激光光束B被平行平板半反射鏡4折射，以與從激光二極管1發(fā)射的激光光束A的光軸一致。從激光二極管2發(fā)射的激光光束B被平行平板半反射鏡4折射，并在與光盤10的信息記錄面正交的方向被全反射鏡5折射。與激光光束A類似地，被全反射鏡5折射的激光光束B用準(zhǔn)直透鏡6構(gòu)成平行光束，用四分之一波長片7使之從橢圓偏振光偏轉(zhuǎn)為線偏振光，用物鏡8將偏轉(zhuǎn)為線偏振光的激光光束會聚到厚度為1.2mm的DVD的光盤10的信息記錄面上，即，會聚到DVD的內(nèi)面的0.6mm深度的位置上。另外，被DVD的光盤10的信息記錄面反射的激光的反射光通過物鏡8、四分之一波長片7、準(zhǔn)直透鏡6、全反射鏡5和平行平板半反射鏡4的光學(xué)系統(tǒng)沿反向返回，并在光學(xué)檢測元件9的方向被平行平板半反射鏡3a折射，來自DVD的光盤10的信息記錄面的反射光被光學(xué)檢測元件9檢測到，記錄到DVD的信息記錄面上的信息被讀出。另外，從激光二極管2發(fā)射的激光光束B不透過平行平板半反射鏡4，因此，不產(chǎn)生像差。
按照第1實施例，通過以角度θ1＝43.8 °繞x軸旋轉(zhuǎn)在激光光束A的光軸上配置厚度為2.5mm的BK7的平行平板半反射鏡3a，在激光光束A的光軸上與平行平板半反射鏡3a隔開一段距離d＝8mm的位置處通過以角度θ2＝45°按逆時針方向繞y軸旋轉(zhuǎn)來配置厚度為2.5mm的BK7的平行平板半反射鏡4，用傾角校正傳動裝置100調(diào)節(jié)包括光檢拾裝置的準(zhǔn)直透鏡6、四分之一波長片7和物鏡8的透鏡系統(tǒng)的光軸的傾角，或者光檢拾裝置的總體的光軸的傾角，從激光二極管1發(fā)射的激光光束A的良好的點光能夠被會聚到光盤10的信息記錄面上，因此，通過減少部件件數(shù)來降低成本以及消除像散像差和彗形像差能夠提供激光的良好的點光而不用昂貴的光學(xué)部件且不使光檢拾裝置的功能變差。
另外，將要根據(jù)示出本發(fā)明第2實施例的光檢拾裝置的結(jié)構(gòu)的圖2的透視圖作出說明。
按照第2實施例的光檢拾裝置，用平行平板半反射鏡3b來代替第1實施例的平行平板半反射鏡3a。另外，與圖1所示的那些相同的組成元件被附以相同的符號而省略其說明。從激光二極管1發(fā)射的波長為790nm的激光光束A被折射后透過平行平板半反射鏡3b和平行平板半反射鏡4，并在與光盤10的信息記錄面正交的方向被全反射鏡5折射。被全反射鏡5折射的激光光束A用準(zhǔn)直透鏡6構(gòu)成平行光束，用四分之一波長片7使之從橢圓偏振光偏轉(zhuǎn)為線偏振光，用物鏡8將偏轉(zhuǎn)為線偏振光的激光光束會聚到厚度為1.2mm的光盤10的信息記錄面上，即，會聚到CD的內(nèi)面的1.2mm深度的位置上。另外，被CD的光盤10的信息記錄面反射的激光的反射光通過物鏡8、四分之一波長片7、準(zhǔn)直透鏡6、全反射鏡5和平行平板半反射鏡4的光學(xué)系統(tǒng)沿反向返回，并在光學(xué)檢測元件9的方向被平行平板半反射鏡3b折射，來自CD的光盤10的信息記錄面的反射光被光學(xué)檢測元件9檢測到，記錄到CD的信息記錄面上的信息被讀出。
平行平板半反射鏡3b是厚度為t1＝2.45mm的光學(xué)玻璃材料BK7的平行平板半反射鏡。如圖2所示，以角度θ1＝45°繞與激光光束A的光軸z軸正交的x軸旋轉(zhuǎn)來配置平行平板半反射鏡3b。另外，如圖2所示，在激光光束A的光軸上與平行平板半反射鏡3b隔開一段距離d＝8mm的位置處以角度θ2＝45°繞與激光光束A的光軸z軸正交的y軸旋轉(zhuǎn)來配置平行平板半反射鏡4。當(dāng)光學(xué)玻璃材料BK7的平行平板半反射鏡3b和平行平板半反射鏡4按照如下的關(guān)系被配置時在彼此隔開一段距離d＝8mm的激光光束A的光軸上的位置處，通過扭曲90的角度，并以t1＝2.45mm構(gòu)成平行平板半反射鏡3b的厚度，以t2＝2.5mm構(gòu)成平行平板半反射鏡4的厚度，用平行平板半反射鏡3b和平行平板半反射鏡4消除從激光二極管1發(fā)射的激光光束A的像散像差，將光學(xué)系統(tǒng)調(diào)節(jié)成產(chǎn)生彗形像差的方向成為光盤10的半徑方向，在光盤10的半徑方向所產(chǎn)生的彗形像差能夠通過用傾角校正傳動裝置100來校正包括光檢拾裝置的準(zhǔn)直透鏡6、四分之一波長片7和物鏡8的透鏡系統(tǒng)的光軸的傾角，或者光檢拾裝置的光軸的傾角而得到校正，因此，當(dāng)從激光二極管1發(fā)射的激光光束A被會聚到光盤10的信息記錄面上時，就能夠提供消除了像散像差和彗形像差的良好的點光。
另一方面，激光二極管被配置成從激光二極管2發(fā)射的波長為660nm的激光光束B被平行平板半反射鏡4折射，使之與從激光二極管1發(fā)射的激光光束A的光軸一致。從激光二極管2發(fā)射的激光光束B被平行平板半反射鏡4折射，并在與光盤10的信息記錄面正交的方向被全反射鏡5折射。與激光光束A類似地，被全反射鏡5折射的激光光束B用準(zhǔn)直透鏡6構(gòu)成平行光束，用四分之一波長片7使之從橢圓偏振光偏轉(zhuǎn)為線偏振光，用物鏡8將偏轉(zhuǎn)為線偏振光的激光光束會聚到厚度為1.2mm的DVD的光盤10的信息記錄面上，即，會聚到DVD的內(nèi)面的0.6mm深度的位置上。另外，被DVD的光盤10的信息記錄面反射的激光的反射光通過物鏡8、四分之一波長片7、準(zhǔn)直透鏡6、全反射鏡5和平行平板半反射鏡4的光學(xué)系統(tǒng)沿反向返回，并在光學(xué)檢測元件9的方向被平行平板半反射鏡3b折射，來自DVD的光盤10的信息記錄面的反射光被光學(xué)檢測元件9檢測到，記錄到DVD的信息記錄面上的信息被讀出。另外，從激光二極管2發(fā)射的激光光束B不透過平行平板半反射鏡4，因此，不產(chǎn)生像差。
按照第2實施例，通過在激光光束A的光軸上以角度θ1＝45°繞x軸旋轉(zhuǎn)來配置厚度為2.5mm的BK7的平行平板半反射鏡3b，在激光光束A的光軸上與平行平板半反射鏡3b隔開一段距離d＝8mm的位置處以角度θ2＝45°按逆時針方向繞y軸旋轉(zhuǎn)來配置厚度為2.5mm的BK7的平行平板半反射鏡4，用傾角校正傳動裝置來調(diào)節(jié)包括光檢拾裝置的準(zhǔn)直透鏡6、四分之一波長片7和物鏡8的透鏡系統(tǒng)的光軸的傾角，或者光檢拾裝置總體的光軸的傾角，從激光二極管1發(fā)射的激光光束A的良好的點光能夠被會聚到光盤10的信息記錄面上，因此，與上述第1實施例類似地，通過減少部件件數(shù)來降低成本以及消除像散像差和彗形像差能夠提供激光的良好的點光而不用昂貴的光學(xué)部件且不使光檢拾裝置的功能變差。
如上所述，雖然詳細(xì)地描述了實施本發(fā)明的最佳模式，但本發(fā)明不限于此，而是能夠在技術(shù)人員的知識的正常范圍內(nèi)加以變形和改進(jìn)。例如，雖然對通過調(diào)節(jié)光學(xué)玻璃材料BK7的兩個平行平板半反射鏡的厚度和角度，并在激光光束的光軸上彼此隔開一段預(yù)定距離的位置處配置兩個平行平板半反射鏡，消除了激光光束在被折射后透過兩個平行平板半反射鏡的像散像差作出說明，甚至當(dāng)利用折射率不同的其它光學(xué)玻璃材料的兩個平行平板半反射鏡，通過恰當(dāng)?shù)卣{(diào)節(jié)分隔距離、厚度和角度，激光光束在被折射后透過兩個平行平板半反射鏡的像散像差也能夠得到消除。
在參照實施例進(jìn)行如上敘述時，通過減少部件件數(shù)來降低成本以及消除像散像差和彗形像差能夠提供激光光束的良好的點光而不用昂貴的光學(xué)部件且不使光檢拾裝置的功能變差。
雖然參照特定的優(yōu)選實施例示出并說明了本發(fā)明，但對專業(yè)技術(shù)人員來說，從此處的教導(dǎo)中顯然可進(jìn)行各種變更和變形。這些變更和變形顯然被認(rèn)為包括在如所附權(quán)利要求限定的本發(fā)明的宗旨、范圍和規(guī)劃之中。
權(quán)利要求
1.一種光檢拾裝置，它包括第1激光二極管，發(fā)射具有第1波長的第1激光光束；第2激光二極管，發(fā)射具有不同于第1波長的第2波長的第2激光光束；第1光學(xué)元件，在第1激光光束的光軸上配置，用于折射和透過通過此處的第1激光光束，第1光學(xué)元件以第1角繞與第1激光光束的光軸正交的第1軸旋轉(zhuǎn)，有第1折射率；第2光學(xué)元件，在透過第1光學(xué)元件的第1激光光束的光軸上配置，用于折射和透過通過此處的第1激光光束，該第2光學(xué)元件被配置在第2激光光束的光軸上，用于折射第2激光光束，使第2激光光束的光軸與第1激光光束的光軸一致，第2光學(xué)元件被配置在第1激光光束的光軸上與第1光學(xué)元件隔開預(yù)定距離的位置處，以第2角繞與第1激光光束的光軸和第1軸正交的第2軸旋轉(zhuǎn)，有消除了第1激光光束的像散像差的第2折射率；以及傾角校正單元，校正包括第1和第2光學(xué)元件在內(nèi)的光學(xué)系統(tǒng)的傾角并且消除在光盤的半徑方向所產(chǎn)生的彗形像差，其中，第1和第2光學(xué)元件被形成為具有同一厚度，并且其中，第1和第2光學(xué)元件以同一光學(xué)材料制造。
2.一種光檢拾裝置，它包括第1激光二極管，發(fā)射具有第1波長的第1激光光束；第2激光二極管，發(fā)射具有不同于第1波長的第2波長的第2激光光束；第1光學(xué)元件，在第1激光光束的光軸上配置，用于折射和透過通過此處的第1激光光束，第1光學(xué)元件以第1角繞與第1激光光束的光軸正交的第1軸旋轉(zhuǎn)，有第1折射率；第2光學(xué)元件，在透過第1光學(xué)元件的第1激光光束的光軸上配置，用于折射和透過通過此處的第1激光光束，該第2光學(xué)元件被配置在第2激光光束的光軸上，用于折射第2激光光束，使第2激光光束的光軸與第1激光光束的光軸一致，第2光學(xué)元件被配置在第1激光光束的光軸上與第1光學(xué)元件隔開預(yù)定距離的位置處，以第2角繞與第1激光光束的光軸和第1軸正交的第2軸旋轉(zhuǎn)，有消除了第1激光光束的像散像差的第2折射率；以及傾角校正單元，校正包括第1和第2光學(xué)元件在內(nèi)的光學(xué)系統(tǒng)的傾角并且消除在光盤的半徑方向所產(chǎn)生的彗形像差。
3.如權(quán)利要求2所述的光檢拾裝置，其中，第1光學(xué)元件包括平行平板半反射鏡。
4.如權(quán)利要求2所述的光檢拾裝置，其中，第1光學(xué)元件包括平行平板半反射鏡。
5.如權(quán)利要求2所述的光檢拾裝置，其中，第1和第2光學(xué)元件被形成為具有同一厚度。
6.如權(quán)利要求2所述的光檢拾裝置，其中，第1角和第2角被配置成具有同一值。
7.如權(quán)利要求2所述的光檢拾裝置，其中，第1和第2光學(xué)元件以同一光學(xué)材料制造。
8.如權(quán)利要求7所述的光檢拾裝置，其中，第1和第2光學(xué)元件以光學(xué)玻璃材料BK7制造。
9.如權(quán)利要求2所述的光檢拾裝置，其中，第1光學(xué)元件包括厚度為2.5mm的光學(xué)玻璃材料BK7的平行平板半反射鏡，被配置成以43.6°的角繞第1軸旋轉(zhuǎn)，并且，其中，第2光學(xué)元件包括厚度為2.5mm的光學(xué)玻璃材料BK7的平行平板半反射鏡，被配置成在第1激光光束的光軸上與第1光學(xué)元件隔開一段距離8mm，并以45°的角繞第2軸旋轉(zhuǎn)。
10.如權(quán)利要求2所述的光檢拾裝置，其中，第1光學(xué)元件包括厚度為2.45mm的光學(xué)玻璃材料BK7的平行平板半反射鏡，被配置成以45°的角繞第1軸旋轉(zhuǎn)，并且，其中，第2光學(xué)元件包括厚度為2.5mm的光學(xué)玻璃材料BK7的平行平板半反射鏡，被配置成在第1激光光束的光軸上與第1光學(xué)元件隔開一段距離8mm，并以45°的角繞第2軸旋轉(zhuǎn)。
全文摘要
在第1激光光束的光軸上與第1光學(xué)元件隔開預(yù)定距離的位置處，通過折射并繞與第1激光光束的光軸正交的軸以預(yù)定角度旋轉(zhuǎn)，使第1激光光束折射并透過，且通過使第2激光光束折射以與第1激光光束的光軸一致并繞向該處正交的第2軸以預(yù)定角度旋轉(zhuǎn)，第1激光光束的像散像差得以消除。
文檔編號G11B7/12GK1655257SQ20051000902
公開日2005年8月17日 申請日期2005年2月16日 優(yōu)先權(quán)日2004年2月10日
發(fā)明者長島賢治 申請人:船井電機株式會社