專利名稱：判別盤片規(guī)格及其退片的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于一種判別盤片規(guī)格及其退片的方法，且特別是有關(guān)于一種利用光學(xué)讀取頭接收反射光線，以判別盤片的規(guī)格及其退片的方法。
背景技術(shù)：
在目前光驅(qū)發(fā)展的主流中，承載盤片的機(jī)構(gòu)主要分成吸入式光驅(qū)(Slot-in Drive)及托盤式光驅(qū)(Tray type Drive)。對(duì)于吸入式光驅(qū)及托盤式光驅(qū)而言，主要是承載盤片的機(jī)構(gòu)不同。
在盤片中目前常用的尺寸主要為8cm直徑及12cm直徑兩種，當(dāng)使用者插入8cm直徑盤片于吸入式光驅(qū)時(shí)，若欲馬上退片程序會(huì)依程序中的默認(rèn)值進(jìn)行退片。若默認(rèn)值為8cm則可正確的進(jìn)行退片，若默認(rèn)值為12cm，則退片的距離大于8cm，將導(dǎo)致盤片掉落而損傷盤片。若插入12cm直徑的盤片時(shí)，假設(shè)程序的默認(rèn)值為8cm，此時(shí)若欲馬上退片則盤片會(huì)因?yàn)橥似嚯x不足而卡住光驅(qū)。
請(qǐng)參照?qǐng)D1，其繪示傳統(tǒng)判別盤片流程圖。判別盤片的方法包括首先，步驟101置入盤片。再來(lái)，步驟103，抬平承載模塊。然后，步驟105夾盤片。接著，步驟107，光學(xué)讀取頭由外軌移至內(nèi)軌。再來(lái)，步驟109驅(qū)動(dòng)主軸馬達(dá)使盤片旋轉(zhuǎn)。接著，步驟111點(diǎn)激光光，并讀取盤片上的數(shù)據(jù)，以進(jìn)行譯碼(Time Code)的動(dòng)作。在步驟111中，由于8cm直徑及12cm直徑盤片的重量及轉(zhuǎn)動(dòng)慣量不同，因此盤片旋轉(zhuǎn)的角速度亦不相同，而譯碼即應(yīng)用此角速度作為判別盤片規(guī)格的依據(jù)。由上述的流程可知，若欲正確判別盤片規(guī)格需要經(jīng)過(guò)相當(dāng)多的步驟，使判別時(shí)間增加，另外若盤片有損傷，則更會(huì)影響盤片的旋轉(zhuǎn)，導(dǎo)致程序譯碼錯(cuò)誤進(jìn)而使盤片的規(guī)格判別錯(cuò)誤。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明的目的就是在提供一種降低盤片判別的時(shí)間，不管盤片是否受損皆能正確判別盤片的規(guī)格，使光驅(qū)能迅速且實(shí)時(shí)正確的退片。
根據(jù)本發(fā)明的目的，提出一種判別光驅(qū)的盤片規(guī)格的方法，光驅(qū)包括光學(xué)讀取頭(Optical Pickup Head)，光學(xué)讀取頭的初始位置是位于導(dǎo)軌的外側(cè)，方法包括首先，置入盤片。光學(xué)讀取頭于此初始位置移動(dòng)至一第一位置時(shí)同時(shí)發(fā)射一激光光線，并判別是否光學(xué)讀取頭的一接收狀態(tài)。最后，根據(jù)該接收狀態(tài)決定盤片的規(guī)格。
根據(jù)本發(fā)明的目的再提出一種光驅(qū)退片的方法，光驅(qū)包括一光學(xué)讀取頭，光學(xué)讀取頭的一初始位置是位于一導(dǎo)軌的一外側(cè)，方法包括首先，置入盤片。光學(xué)讀取頭于導(dǎo)軌的外側(cè)往導(dǎo)軌的內(nèi)側(cè)移動(dòng)的同時(shí)發(fā)射一激光光線，并判別光學(xué)讀寫頭的一接收狀態(tài)。接著，根據(jù)該接收狀態(tài)決定盤片的規(guī)格及一退片距離。最后，光驅(qū)退片。
為讓本發(fā)明的上述目的、特征、和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉一較佳實(shí)施例，并配合所附圖式，作詳細(xì)說(shuō)明如下


圖1繪示傳統(tǒng)判別盤片流程圖。
圖2A繪示光學(xué)讀取頭及盤片相對(duì)關(guān)系示意圖。
圖2B繪示盤片俯視圖。
圖3繪示判別光驅(qū)的盤片規(guī)格的方法流程圖。
主要組件符號(hào)說(shuō)明200光驅(qū)201光學(xué)讀取頭203盤片205導(dǎo)軌207激光光線209反射光線具體實(shí)施方式
請(qǐng)同時(shí)參照?qǐng)D2A及圖2B，圖2A繪示光學(xué)讀取頭及盤片相對(duì)關(guān)系示意圖。圖2B繪示盤片俯視圖。光驅(qū)200中包括光學(xué)讀取頭201及盤片203。光學(xué)讀取頭201是可移動(dòng)于導(dǎo)軌205中，在本實(shí)施例中，光學(xué)讀取頭201是配置于導(dǎo)軌205的外側(cè)。
請(qǐng)參照?qǐng)D3并請(qǐng)同時(shí)參照?qǐng)D2A及圖2B，圖3繪示判別光驅(qū)的盤片規(guī)格的方法流程圖。判別方法包括首先步驟301，置入盤片203，其中盤片203是利用光驅(qū)200的承載模塊(Traverse module)承載。再來(lái)，步驟303光學(xué)讀取頭201導(dǎo)軌205的外側(cè)(初始位置)移至導(dǎo)軌205的最內(nèi)側(cè)方向(第一位置)移動(dòng)并同時(shí)發(fā)射一激光光線207，并判別光學(xué)讀寫頭201接收反射光線209的接收狀態(tài)。最后，步驟305由該接收狀態(tài)決定盤片203的規(guī)格。舉例來(lái)說(shuō)，若在圖2A中的盤片203直徑為12cm，當(dāng)光學(xué)讀取頭201是于導(dǎo)軌205外側(cè)往導(dǎo)軌205內(nèi)側(cè)移動(dòng)且持續(xù)發(fā)射激光光線207至盤片203，盤片203亦會(huì)持續(xù)反射光線209至光學(xué)讀取頭201上。換言之，其光學(xué)讀取頭201的接收狀態(tài)是持續(xù)接收到反射光線209。光驅(qū)200便可依此接收狀態(tài)判斷盤片203的直徑為12cm。
若盤片203的直徑為8cm，當(dāng)光學(xué)讀取頭201于導(dǎo)軌205外側(cè)開(kāi)始移動(dòng)至內(nèi)側(cè)并發(fā)射激光光線207，由于8cm盤片的尺寸差異，因此光學(xué)讀取頭200會(huì)有一段時(shí)間檢測(cè)不到反射光線209。所以光學(xué)讀取頭201的接收狀態(tài)是為有一段時(shí)間接收不到反射光線209。此時(shí)光學(xué)讀取頭201便可依此接收狀態(tài)判斷盤片的直徑為8cm。而不需光學(xué)讀取頭201需移動(dòng)至導(dǎo)軌205的最內(nèi)側(cè)并進(jìn)行數(shù)據(jù)譯碼等動(dòng)作，才能進(jìn)行判斷盤片的規(guī)格尺寸。
當(dāng)進(jìn)行完上述步驟301至305后。光驅(qū)200即可輕易判別置入盤片203的尺寸大小為8cm或12cm。使用者置入盤片后若立刻欲退片，在先前技術(shù)中因光驅(qū)來(lái)不及判別盤片尺寸大小，其只能采用一預(yù)設(shè)的退片力進(jìn)行退片。導(dǎo)致退片距離不足或掉盤片等錯(cuò)誤動(dòng)作。然采用本發(fā)明的判別步驟，光驅(qū)200可立即判別盤片尺寸大小，并根據(jù)盤片尺寸施予合適的退片力。所以本發(fā)明亦提供選擇適當(dāng)?shù)耐似Φ臋C(jī)制。
在目前光驅(qū)中，在初始程序時(shí)光學(xué)讀取頭會(huì)由一初始位置(通常在導(dǎo)軌的外側(cè))移至導(dǎo)軌的最內(nèi)側(cè)以利于后續(xù)進(jìn)行讀取光盤片的動(dòng)作。利用該特性，搭配本發(fā)明的步驟即可快速辨識(shí)置入的光盤片的尺寸大小，進(jìn)而減少退片所需等待的時(shí)間。
在上述實(shí)施例中，在光學(xué)讀取頭的初始程序(start-upprocedure)，光學(xué)讀寫頭必會(huì)由一初始位置往導(dǎo)軌的內(nèi)側(cè)移動(dòng)，同時(shí)利用是否反射光線以判斷盤片的規(guī)格大小。取代傳統(tǒng)以判斷不同的盤片于光驅(qū)中重量及轉(zhuǎn)動(dòng)慣量的差異，而導(dǎo)致旋轉(zhuǎn)的角速度不同的差別來(lái)作為判斷盤片規(guī)格的方法。減少了以往需先驅(qū)動(dòng)主軸馬達(dá)，讓盤片旋轉(zhuǎn)及讀取盤片上的數(shù)據(jù)譯碼所需的時(shí)間。另外，即使是盤片受到一點(diǎn)刮傷，采用上述實(shí)施例所揭露的方法，僅要光學(xué)讀取頭判斷其反射光線的接收狀態(tài)，即可正確迅速的判定盤片的規(guī)格。換句話說(shuō)，若使用者置入盤片于光驅(qū)后，隨即按壓退出盤片的按鍵，能迅速退出盤片，并退出正確的退片距離。
再者，在工廠制造光驅(qū)的測(cè)試進(jìn)/退片流程，亦可快速地進(jìn)退片。測(cè)試中不再需要等待光驅(qū)數(shù)據(jù)譯碼完成后(即discready)才進(jìn)行退片。有效縮短制程所需測(cè)試的時(shí)間。
綜上所述，雖然本發(fā)明已以一較佳實(shí)施例揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何熟習(xí)此技藝者，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作各種的更動(dòng)與潤(rùn)飾，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)視后附的申請(qǐng)專利范圍所界定者為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種判別光驅(qū)的盤片規(guī)格的方法，該光驅(qū)包括一光學(xué)讀取頭，該光學(xué)讀取頭的一初始位置是位于一導(dǎo)軌的一外側(cè)，其特征在于，該方法包括置入該盤片；該光學(xué)讀取頭由該初始位置往一第一位置移動(dòng)的同時(shí)發(fā)射一激光光線并判別該光學(xué)讀取頭接收一反射光線的一接收狀態(tài)；以及根據(jù)該接收狀態(tài)決定該盤片的規(guī)格。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述該光驅(qū)是為一吸入式光驅(qū)。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述該光驅(qū)是為一托盤式光驅(qū)。
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述該第一位置是在于該導(dǎo)軌的一內(nèi)側(cè)。
5.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述該盤片的直徑是為8cm或12cm。
6 一種光驅(qū)退片的方法，該光驅(qū)包括一光學(xué)讀取頭，該光學(xué)讀取頭的一初始位置是位于一導(dǎo)軌的一外側(cè)，其特征在于，該方法包括置入該盤片；該光學(xué)讀取頭于該初始位置往一第一位置移動(dòng)并同時(shí)發(fā)射一激光光線并判別該光學(xué)讀取頭接收一反射光線的一接收狀態(tài)；根據(jù)該接收狀態(tài)決定該盤片的規(guī)格；以及當(dāng)接收到一退片訊號(hào)時(shí)根據(jù)該盤片的規(guī)格決定該光驅(qū)退片的一退片距離。
7.如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述該光驅(qū)是為一吸入式光驅(qū)。
8.如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述該光驅(qū)是為一托盤式光驅(qū)。
9.如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述該第一位置是在于該導(dǎo)軌的一內(nèi)側(cè)。
10.如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述該盤片的直徑是為8cm或12cm。
全文摘要
本發(fā)明是一種判別光驅(qū)的盤片規(guī)格的方法，光驅(qū)包括光學(xué)讀取頭(Optical Pickup Head)，光學(xué)讀取頭的初始位置是位于導(dǎo)軌的外側(cè)，方法包括首先，置入盤片。再來(lái)，光學(xué)讀取頭于導(dǎo)軌的外側(cè)往導(dǎo)軌的內(nèi)側(cè)移動(dòng)并發(fā)射一激光光線，并判別是否其接收狀態(tài)。最后，根據(jù)該接收狀態(tài)決定盤片的規(guī)格。
文檔編號(hào)G11B17/04GK1855269SQ20051006897
公開(kāi)日2006年11月1日 申請(qǐng)日期2005年4月27日 優(yōu)先權(quán)日2005年4月27日
發(fā)明者張松山, 鄭榮森, 黃錦瀧 申請(qǐng)人:建興電子科技股份有限公司