專利名稱：光學(xué)頭的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及運(yùn)用光學(xué)裝置在光盤等信息記錄媒體上進(jìn)行信息記錄或再生的光學(xué)頭的跟蹤控制技術(shù)。
本發(fā)明還涉及檢測(cè)光盤相對(duì)于物鏡等的集光裝置的光軸的傾斜度的光盤傾斜度檢測(cè)技術(shù)。
背景技術(shù)：
對(duì)于光盤用的光學(xué)頭，如何使光點(diǎn)在信息磁道的中心正確跟隨的跟蹤控制的精度是重要環(huán)節(jié)。如果這一精度不好，可能會(huì)導(dǎo)致記錄時(shí)消去相鄰的信息磁道的信號(hào)，增大串音，信息不能正確再生等重大的故障。
過(guò)去，作為跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)方式，一般采用通常稱為3束跟蹤方式的方式。該方式的光學(xué)頭，在構(gòu)成上，除了形成進(jìn)行信息磁道的記錄或再生的主光束，還形成2束輔助光束，使得發(fā)自集聚于光盤的各光點(diǎn)的反射光能分別受光。
圖38是用來(lái)說(shuō)明以前述3束跟蹤方式的光學(xué)頭形成于光盤上的光點(diǎn)的圖。100及102表示2束輔助光束的光點(diǎn)，101表示主光束的光點(diǎn)，103表示信息磁道。前述輔助光束的光點(diǎn)100及102，相對(duì)著前述主光束的光點(diǎn)101，成垂直方向，等距離，例如各隔開1/4磁道地形成在信息磁道103上。
來(lái)自各光點(diǎn)的反射光通過(guò)信息磁道進(jìn)行強(qiáng)度調(diào)制，被檢測(cè)的2個(gè)輔助光束的信號(hào)是與主光束的信號(hào)隔開1/4磁道的相位反向偏移的信號(hào)。前述3束跟蹤方式的光學(xué)頭，在構(gòu)成上能根據(jù)這2個(gè)輔助光束的信號(hào)差檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)。
此外，如文獻(xiàn)“光盤技術(shù)”(無(wú)線電技術(shù)社，1999年2月10日發(fā)行)的93至96頁(yè)表示的那樣，稱為復(fù)合·連續(xù)·跟蹤方式，復(fù)合·擺動(dòng)·跟蹤方式及取樣·伺服·跟蹤方式的跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)方法都已經(jīng)為人熟知。
這些方式，對(duì)于在信息磁道上預(yù)先形成坑槽的、形成齒形標(biāo)記或鏡面部的光盤來(lái)說(shuō)，以往的第1及第2方式，是利用前述齒形標(biāo)記或鏡面部檢測(cè)的信號(hào)對(duì)所謂的推挽方式的跟蹤誤差信號(hào)中產(chǎn)生的偏移進(jìn)行補(bǔ)正的方式，以往的第3方式，是以齒形標(biāo)記檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)的方式。又，前述文獻(xiàn)“光盤技術(shù)”(無(wú)線電技術(shù)社，1999年2月10日發(fā)行)的全部?jī)?nèi)容，在這里被完整原樣地引用(參照)和綜合。
首先，關(guān)于以往的第1方式、復(fù)合·連續(xù)·跟蹤方式，用圖作進(jìn)一步說(shuō)明。圖39是用來(lái)說(shuō)明形成于光盤的信息磁道的前述鏡面部的配置的圖，104表示形成記錄地址及信息等的坑槽及導(dǎo)向槽的信息領(lǐng)域，105表示形成于一連串的前述信息領(lǐng)域間的鏡面部，106表示各信息磁道的中心線。
對(duì)于這樣的光盤的光學(xué)頭，以物鏡集光，形成光點(diǎn)，再將發(fā)自該光點(diǎn)的反射光束以平行于信息磁道的分割線一分為二受光，在構(gòu)成上能夠根據(jù)檢測(cè)的各受光信號(hào)的差檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)。跟蹤誤差信號(hào)，由推挽方式得到，所以，由于物鏡的光軸偏移導(dǎo)致跟蹤誤差信號(hào)發(fā)生偏移，這個(gè)偏移，是與光點(diǎn)通過(guò)前述鏡面部時(shí)的跟蹤誤差信號(hào)的值對(duì)應(yīng)的量。光學(xué)頭，在光點(diǎn)通過(guò)導(dǎo)向槽時(shí)檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)，在通過(guò)鏡面部時(shí)檢測(cè)該偏移，在構(gòu)成上能補(bǔ)正跟蹤誤差信號(hào)的偏移。
下面，用圖對(duì)前述以往的第2及第3方式作進(jìn)一步說(shuō)明。圖40是說(shuō)明前述齒形標(biāo)記的配置的圖。107是第1坑槽，108是第2坑槽，這一對(duì)構(gòu)成前述齒形標(biāo)記。它們距離信息磁道的接線方向規(guī)定距離，被配置在距離信息磁道中心、與信息磁道的垂直方向上，且等距離、在反方向有偏移。109是記錄地址或信息等的信息領(lǐng)域，110是信息磁道的中心線，箭頭111是光點(diǎn)的掃描路線1，箭頭112是掃描路線2。
圖41是用來(lái)說(shuō)明檢測(cè)光點(diǎn)通過(guò)齒形標(biāo)記時(shí)的反射光量的信號(hào)波形的圖，113是前述掃描路線1，114是前述掃描路線2，115分別顯示沿信息磁道中心線的掃描路線的信號(hào)波形。記作位置A及B的橫軸上的點(diǎn)分別表示前述第1及第2坑槽的位置，圖中的記號(hào)VA，VB是在這些位置的取樣同步信號(hào)的值。
這些信號(hào)值，由光點(diǎn)及齒形標(biāo)記的相對(duì)位置決定，物鏡的光軸偏移的影響不大。前述以往的第2方式的光學(xué)頭，跟蹤誤差信號(hào)以推挽方式檢測(cè)，可通過(guò)將前述信號(hào)VA與前述信號(hào)VB的差和跟蹤誤差信號(hào)作比較，檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)的偏移，進(jìn)行補(bǔ)正。又，前述以往的第3方式的光學(xué)頭，可根據(jù)前述信號(hào)VA與前述信號(hào)VB的差檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)。
下面，對(duì)具有以以往技術(shù)構(gòu)成的光盤傾斜度檢測(cè)裝置的光學(xué)頭進(jìn)行說(shuō)明。在用光學(xué)頭將信息記錄或再生于光盤時(shí)，最好使物鏡的光軸與光盤面垂直，如光盤傾斜，發(fā)生彗形象差等象差，集聚于光盤的光點(diǎn)劣化。這個(gè)光盤的傾斜，歷來(lái)可用設(shè)置在光學(xué)頭的專用的光盤傾斜度檢測(cè)器檢測(cè)。但是，隨著光學(xué)頭的小型化，有時(shí)安置前述專用檢測(cè)器的地方都沒(méi)有，因此，在光學(xué)頭的光學(xué)系統(tǒng)中組裝光盤傾斜度檢測(cè)裝置的構(gòu)成被作為課題提了出來(lái)。
作為一例，對(duì)日本專利特許公開公報(bào)1995年-141673號(hào)中表示的以往的技術(shù)進(jìn)行說(shuō)明。又，特許公開公報(bào)1995年-141673號(hào)的全部?jī)?nèi)容，在這里被完整原樣地引用(參照)和綜合。
圖42是表示以往的技術(shù)的光盤傾斜度檢測(cè)裝置的構(gòu)成圖。1101是光盤，1102是物鏡，1103是受光透鏡，1104是光的分路單元，1104a及1104b是微小棱鏡，1105a，1105b1106a，1106b是受光單元，1107及1108是加法運(yùn)算放大器，1109是差分放大器。
具有這樣構(gòu)成的光盤傾斜度檢測(cè)裝置的動(dòng)作如下。由光盤1101反射的光束，經(jīng)物鏡1102，受光透鏡1103，將光入射到分路光的單元1104。入射到單元1104的光束內(nèi)，入射到形成微小棱鏡1104a及1104b的2微小領(lǐng)域的光，偏向于受光單元1106a及1106b，被分別受光，入射到前述2微小領(lǐng)域以外領(lǐng)域的光，照樣透過(guò)、入射到單元1105a及1105b，在這里，光束被分割成2部分。由各受光單元檢測(cè)的信號(hào)，通過(guò)加法運(yùn)算放大器1107，1108及差分放大器1109進(jìn)行演算，檢測(cè)光盤傾斜度Trad。
各受光單元檢測(cè)的信號(hào)，如用各受光單元名代用，光盤傾斜度Trad可用下式演算檢測(cè)(式1)Trad＝1105a-1105b-(1106a-1106b)圖43是說(shuō)明分路光的單元1104的圖，表示單元1104的矩形內(nèi)部的圓1110表示入射光束的外形。微小棱鏡1104a，1104b，如圖所示，是夾著光束中心對(duì)稱地配置于左右(與信息磁道垂直的方向)兩面的微小領(lǐng)域。又，圖中的虛線，表示光束通過(guò)受光單元1105a、1105b及1106a、1106b的情形，入射到受光單元1105a及1105b的光束，以該分界線在與信息磁道平行的方向被一分為二。因此，按照(式1)進(jìn)行的光盤傾斜度Trad的檢測(cè)，就是將前述2微小領(lǐng)域中檢測(cè)的推挽信號(hào)、與前述微小領(lǐng)域以外的領(lǐng)域中檢測(cè)的推挽信號(hào)的大小進(jìn)行比較。
圖44(a)至(c)是表示入射到分路光的單元1104的光束的光強(qiáng)度分布的圖，圖44(a)是沒(méi)有光盤傾斜時(shí)的圖，圖44(b)及44(c)是光盤在其半徑方向(含光盤法線及物鏡的光軸的平面與信息磁道的接線垂直的那樣的傾斜)上有傾斜時(shí)的圖。傾斜的方向以圖44(b)為正方向，以圖44(c)為負(fù)方向。圖44(a)的斜線部，表示在光盤的信息磁道被衍射+1次及-1次衍射光的光束和0次衍射光的光束重合的領(lǐng)域。如果0次及1次衍射光的波面的相位變化，這個(gè)領(lǐng)域就是由于干涉導(dǎo)致光強(qiáng)度變化的領(lǐng)域。
此外，圖44(b)及圖44(c)中表示的左右非對(duì)稱的斜線部的形狀，表示光強(qiáng)度分布的非對(duì)稱性。這是由于光盤傾斜引起的彗形象差造成的波面相位變化對(duì)信息磁道方向呈現(xiàn)非對(duì)稱的緣故，所以，0次與+1次及-1次衍射光的干涉引起光強(qiáng)度發(fā)生變化，對(duì)應(yīng)于光盤傾斜的方向，光強(qiáng)度分布上的非對(duì)稱的明暗就表現(xiàn)出來(lái)了。
以往的技術(shù)，重視以上那樣的按照光盤傾斜產(chǎn)生的光強(qiáng)度分布的左右非對(duì)稱性，把只提取檢測(cè)這種非對(duì)稱性表現(xiàn)最明顯的前述2微小領(lǐng)域的光的推挽信號(hào)(1106a-1106b)、與以該領(lǐng)域以外領(lǐng)域的光檢測(cè)的推挽信號(hào)(1105a-1105b)的大小進(jìn)行比較，檢測(cè)光盤傾斜度Trad。
如上所述，以往的跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)方式可分成2類。一是利用來(lái)自光點(diǎn)的反射光量，根據(jù)光點(diǎn)與信息磁道、或光盤上形成的標(biāo)記的相對(duì)位置發(fā)生變化，檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)的方式。另一是以推挽方式檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)，同時(shí)檢測(cè)該跟蹤誤差信號(hào)的偏移，并補(bǔ)正跟蹤誤差信號(hào)本身的方式(復(fù)合·連續(xù)·跟蹤方式，復(fù)合·擺動(dòng)·跟蹤方式)。這2種檢測(cè)方式，都具有物鏡的光軸偏移等引起的跟蹤誤差信號(hào)的偏移小的優(yōu)點(diǎn)。
但是，對(duì)于光學(xué)頭而言，光盤向其半徑發(fā)現(xiàn)傾斜時(shí)會(huì)發(fā)生彗形象差，所以，相對(duì)于光點(diǎn)與信息磁道的相對(duì)位置，由于來(lái)自光點(diǎn)的反射光量的變化及推挽信號(hào)的變化導(dǎo)致相位偏移，跟蹤誤差信號(hào)也會(huì)發(fā)生同樣的相位偏移。因此，按照前述以往的跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)方式，在前述光盤傾斜的場(chǎng)合，在信息磁道中心外圍進(jìn)行跟蹤控制就成了課題。
此外，前述的以往的技術(shù)，具有以平行于信息磁道的分割線將光束分割成2部分，檢測(cè)推挽信號(hào)，再檢測(cè)光盤傾斜度的構(gòu)成，帶有不能很好檢測(cè)推挽信號(hào)的信息磁道的光盤，例如，對(duì)于具有槽深度為1/4波長(zhǎng)的信息磁道的光盤，存在不能以高精度檢測(cè)光盤傾斜度的課題。
此外，前述微小領(lǐng)域，只作為光盤上小于被衍射0次及+1次及-1次衍射光的光束重合領(lǐng)域的小領(lǐng)域，如物鏡在垂直于信息磁道的方向上移動(dòng)，被檢測(cè)的光束的位置也移動(dòng)，所以，出現(xiàn)不能正確反映光盤傾斜度的光強(qiáng)度分布的領(lǐng)域入射到前述微小領(lǐng)域、使光盤傾斜度檢測(cè)精度劣化的課題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明正是考慮到前述以往存在的課題，目的在于提供在光盤對(duì)光學(xué)頭傾斜時(shí)也具有在信息磁道中心正確進(jìn)行跟蹤控制的跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置的光學(xué)頭。
此外，本發(fā)明的目的，在于提供這樣的光學(xué)頭光學(xué)頭對(duì)光盤進(jìn)行原來(lái)的動(dòng)作，例如由于使用跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)等的信號(hào)檢測(cè)方法檢測(cè)光盤傾斜度，實(shí)現(xiàn)檢測(cè)精度的提高及穩(wěn)定化，且，具備不易受物鏡移動(dòng)的影響的光盤傾斜度檢測(cè)裝置。
本發(fā)明第1方面的光學(xué)頭，用于將信息記錄到光盤、及/或用于再生記錄于所述光盤上的信息，包括將進(jìn)行信息的記錄或再生的主光束，以及作為檢測(cè)所述主光束對(duì)所述光盤的信息磁道的位置偏移的跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)用光束的2束輔助光束集光于所述光盤的集光裝置，分別收受從所述光盤反射的反射光束的受光裝置，根據(jù)所述2束輔助光束的受光信號(hào)之差檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)的跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置；所述受光裝置，具有將光束的中央部與周邊部分離、使所述2束輔助光束的反射光束分別受光的多個(gè)受光領(lǐng)域，使所述光束的中央部受光的受光領(lǐng)域的形狀，呈現(xiàn)長(zhǎng)邊的長(zhǎng)度等于或大于入射到所述受光裝置的光束的直徑，短邊的長(zhǎng)度短于入射到所述受光裝置的光束的直徑的略長(zhǎng)方形，配置中使其長(zhǎng)邊向著所述信息磁道的垂直方向，所述跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置，通過(guò)使所述光束的中央部受光的所述受光領(lǐng)域的信號(hào)的收得量衰減、檢測(cè)所述跟蹤誤差信號(hào)，使所述光盤傾斜時(shí)產(chǎn)生的、相對(duì)所述信息磁道位置的所述跟蹤誤差信號(hào)的相位偏移減低。
本發(fā)明第2方面的光學(xué)頭，用于將信息記錄于具有記錄信息的信息磁道、及離開前述信息磁道的接線方向規(guī)定距離、且與前述信息磁道垂直、在不同方向上相互距離相等處的至少一對(duì)標(biāo)記的光盤，及/或用于再生記錄于所述光盤的信息，包括集光于所述光盤、生成光點(diǎn)的集光裝置，收受從所述光盤反射的反射光束的受光裝置，通過(guò)從所述受光裝置受光的信號(hào)檢測(cè)來(lái)自所述一對(duì)標(biāo)記的反射光量之差、檢測(cè)所述光點(diǎn)與所述信息磁道的位置偏移的跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置；所述受光裝置，具有使所述反射光束的中央部與周邊部分離、受光的多個(gè)受光領(lǐng)域，使所述反射光束的中央部受光的受光領(lǐng)域的形狀，呈現(xiàn)長(zhǎng)邊的長(zhǎng)度等于或大于入射到所述受光裝置的光束的直徑，短邊的長(zhǎng)度短于入射到所述受光裝置的光束的直徑的略長(zhǎng)方形，配置中使其長(zhǎng)邊向著所述信息磁道的垂直方向，所述跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置，通過(guò)使所述反射光束的中央部受光的所述受光領(lǐng)域的信號(hào)的收得量衰減、檢測(cè)所述跟蹤誤差信號(hào)，使所述光盤傾斜時(shí)產(chǎn)生的、相對(duì)所述信息磁道位置的所述跟蹤誤差信號(hào)的相位偏移減低。
此外，本發(fā)明的第3方面的光學(xué)頭，用于將信息記錄于具有記錄信息的信息磁道、及將前述信息磁道的導(dǎo)向槽斷續(xù)地切斷一部分，其間離開前述信息磁道的接線方向規(guī)定距離、且與前述信息磁道垂直、在不同方向上相互距離相等處的至少一對(duì)標(biāo)記的光盤，及/或用于再生記錄于所述光盤的信息，包括集光于所述光盤、生成光點(diǎn)的集光裝置，收受從具有以平行于所述信息磁道的分割線分成的2個(gè)受光領(lǐng)域的所述光盤反射的反射光束的受光裝置，根據(jù)當(dāng)所述光點(diǎn)通過(guò)所述導(dǎo)向槽時(shí)、及通過(guò)所述一對(duì)標(biāo)記時(shí)在所述2個(gè)受光領(lǐng)域檢測(cè)到的信號(hào)之差檢測(cè)所述光點(diǎn)及所述信息磁道的位置偏移的跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置；所述受光裝置，還具有使所述反射光束的中央部與周邊部分離、受光的多個(gè)受光領(lǐng)域，使所述反射光束的中央部受光的受光領(lǐng)域的形狀，呈現(xiàn)長(zhǎng)邊的長(zhǎng)度等于或大于入射到所述受光裝置的光束的直徑，短邊的長(zhǎng)度短于入射到所述受光裝置的光束的直徑的略長(zhǎng)方形，配置中使其長(zhǎng)邊向著所述信息磁道的垂直方向，所述跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置，通過(guò)使光束的中央部受光的所述受光領(lǐng)域的信號(hào)的收得量衰減、檢測(cè)所述跟蹤誤差信號(hào)，使所述光盤傾斜時(shí)產(chǎn)生的、相對(duì)所述信息磁道位置的所述跟蹤誤差信號(hào)的相位偏移減低。
此外，本發(fā)明的第4方面的光學(xué)頭，用于將信息記錄于具有記錄信息的信息磁道、及將前述信息磁道的導(dǎo)向槽斷續(xù)地切斷一部分，其間具有鏡面部的光盤，及/或用于再生記錄于所述光盤的信息，包括集光于所述光盤、生成光點(diǎn)的集光裝置，收受從具有以平行于所述信息磁道的分割線分成的2個(gè)受光領(lǐng)域的所述光盤反射的反射光束的受光裝置，根據(jù)當(dāng)所述光點(diǎn)通過(guò)所述導(dǎo)向槽時(shí)、及通過(guò)所述鏡面部時(shí)在所述2個(gè)受光領(lǐng)域檢測(cè)到的信號(hào)之差檢測(cè)所述光點(diǎn)及所述信息磁道的位置偏移的跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置；所述受光裝置，還具有使所述反射光束的中央部與周邊部分離、受光的多個(gè)受光領(lǐng)域，使所述反射光束的中央部受光的受光領(lǐng)域的形狀，呈現(xiàn)長(zhǎng)邊的長(zhǎng)度等于或大于入射到所述受光裝置的光束的直徑，短邊的長(zhǎng)度短于入射到所述受光裝置的光束的直徑的略長(zhǎng)方形，配置中使其長(zhǎng)邊向著所述信息磁道的垂直方向，所述跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置，通過(guò)使光束的中央部受光的所述受光領(lǐng)域的信號(hào)的收得量衰減、檢測(cè)所述跟蹤誤差信號(hào)，使所述光盤傾斜時(shí)產(chǎn)生的、相對(duì)所述信息磁道位置的所述跟蹤誤差信號(hào)的相位偏移減低。
此外，本發(fā)明的第5方面的光盤記錄裝置，包括如本發(fā)明第1至4方面中的任一項(xiàng)的本發(fā)明的光學(xué)頭。
此外，本發(fā)明的第6方面的光盤再生裝置，包括如本發(fā)明第1至4方面中的任一項(xiàng)的本發(fā)明的光學(xué)頭。
此外，本發(fā)明的第7方面的光盤記錄再生裝置，包括如本發(fā)明第1至4方面中的任一項(xiàng)的本發(fā)明的光學(xué)頭。
如上的本發(fā)明的光學(xué)頭，作為其一例，包括，以物鏡集光于光盤上、收受來(lái)自前述光盤的反射光束的受光裝置，以及具有從以前述受光裝置檢測(cè)的受光信號(hào)中檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)的跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置、在入射到前述受光裝置的光束內(nèi)、使得用于跟蹤檢測(cè)的光束的一部的領(lǐng)域的光分路或光強(qiáng)度減低的光學(xué)裝置。
此外，作為本發(fā)明的光學(xué)頭的其中一例，包括，用物鏡將記錄或再生信息用的主光束、及從前述主光束分路生成的2個(gè)輔助光束集聚于光盤并收受各反射光束的受光裝置，以及具有根據(jù)前述2個(gè)輔助光束的受光信號(hào)的差檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)的跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置、使入射到前述受光裝置的輔助光束的各光束的一部的領(lǐng)域的光分路或使光強(qiáng)度減低的光學(xué)裝置。
此外，作為本發(fā)明的光學(xué)頭的其中一例，包括，以物鏡集光于具有離開前述信息磁道的接線方向規(guī)定距離、且與前述信息磁道垂直、在不同方向上相互距離相等處的至少一對(duì)標(biāo)記的光盤上、收受來(lái)自前述光盤的反射光的受光裝置，以及具有根據(jù)與來(lái)自前述一對(duì)標(biāo)記的反射光束量的變化對(duì)應(yīng)的受光信號(hào)的變化、檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)或跟蹤誤差信號(hào)的偏移的跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置、使入射到前述受光裝置的光束的一部的領(lǐng)域的光分路或使光強(qiáng)度減低的光學(xué)裝置。
此外，作為本發(fā)明的光學(xué)頭的其中一例，包括，將信息磁道的導(dǎo)向槽斷續(xù)地切斷一部，其間以物鏡集光于具有離開前述信息磁道的接線方向規(guī)定距離、且與前述信息磁道垂直、在不同方向上相互距離相等處的至少一對(duì)標(biāo)記的光盤上、收受來(lái)自前述光盤的反射光的受光裝置，以及具有根據(jù)與來(lái)自前述一對(duì)標(biāo)記的反射光量的變化對(duì)應(yīng)的受光信號(hào)的變化、或在前述一對(duì)標(biāo)記的前述跟蹤誤差信號(hào)的變化、分別檢測(cè)以與前述信息磁道平行的分割線分割為2部分的受光信號(hào)中的跟蹤誤差信號(hào)及前述跟蹤誤差信號(hào)的偏移的跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置、使入射到前述受光裝置的光束的一部的領(lǐng)域的光分路或使光強(qiáng)度減低的光學(xué)裝置。
此外，作為本發(fā)明的光學(xué)頭的其中一例，包括，將信息磁道的導(dǎo)向槽斷續(xù)地切斷一部，以物鏡集光于設(shè)置鏡面部的光盤上、收受來(lái)自前述光盤的反射光的受光裝置，以及具有分別檢測(cè)以與前述信息磁道平行的分割線分割為2部分的受光信號(hào)中的跟蹤誤差信號(hào)、及以前述鏡面部檢測(cè)的前述跟蹤誤差信號(hào)值中的前述跟蹤誤差信號(hào)的偏移的跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置、使入射到前述受光裝置的光束的一部的領(lǐng)域的光分路或使光強(qiáng)度減低的光學(xué)裝置。
此外，作為本發(fā)明的光學(xué)頭的其中一例，前述光學(xué)裝置，具有使通過(guò)的光束的一部的領(lǐng)域的光強(qiáng)度減低的減光領(lǐng)域，及不使光強(qiáng)度減低的非減光領(lǐng)域，前述減光領(lǐng)域，是以使光的透過(guò)率減低的物質(zhì)形成的薄膜，或是形成衍射柵的領(lǐng)域，它的形狀呈實(shí)質(zhì)上長(zhǎng)方形，長(zhǎng)邊比通過(guò)的光束的直徑長(zhǎng)，可配置在垂直于信息磁道的方向上。
此外，作為本發(fā)明的光學(xué)頭的其中一例，前述光學(xué)裝置，通過(guò)分割配置于前述受光裝置的受光單元，設(shè)置與入射到需使光分路或使光強(qiáng)度減低的前述受光裝置的光束的一部的領(lǐng)域相對(duì)應(yīng)的受光領(lǐng)域構(gòu)成，前述受光領(lǐng)域?yàn)閷?shí)質(zhì)上長(zhǎng)方形，長(zhǎng)邊比通過(guò)的光束的直徑長(zhǎng)，可配置在垂直于信息磁道的方向上，在前述受光領(lǐng)域檢測(cè)的信號(hào)，比前述受光領(lǐng)域外檢測(cè)的信號(hào)，所帶的系數(shù)小，可用于跟蹤誤差信號(hào)的檢測(cè)。
或者，作為本發(fā)明的光學(xué)頭的其中一例，前述光學(xué)裝置，具有將通過(guò)的光分路的衍射柵或形成棱鏡的領(lǐng)域，前述領(lǐng)域?yàn)閷?shí)質(zhì)上長(zhǎng)方形，長(zhǎng)邊比通過(guò)的光束的直徑長(zhǎng)，可配置在垂直于信息磁道的方向上，前述領(lǐng)域中分路的光通向前述受光裝置的第1受光單元群，其他的光通向前述受光裝置的第2受光單元群，第1受光單元群的信號(hào)所帶的系數(shù)比第2受光單元群的小，可用于跟蹤誤差信號(hào)的檢測(cè)。
此外，作為本發(fā)明的光學(xué)頭的其中一例，其特征是，具有以物鏡集光于光盤的裝置，及收受光盤的反射光束的受光裝置，及從以前述受光裝置受光的信號(hào)中檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)的跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置，及檢測(cè)前述光盤與前述物鏡的光軸的傾斜度的光盤傾斜度檢測(cè)裝置；前述受光裝置，被配置在入射到前述受光裝置的光束的中央部，它的形狀，將前述光束分割為與信息磁道平行的寬度比前述光束的直徑小、垂直方向的寬度比前述光束的直徑長(zhǎng)的第1領(lǐng)域，及不含前述第1領(lǐng)域的第2領(lǐng)域，并受光，前述跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置，分別從前述第1領(lǐng)域的受光信號(hào)檢測(cè)第1跟蹤誤差信號(hào)，從前述第2領(lǐng)域的受光信號(hào)檢測(cè)第2跟蹤誤差信號(hào)，前述光盤傾斜度檢測(cè)裝置，通過(guò)對(duì)前述第1跟蹤誤差信號(hào)與第2跟蹤誤差信號(hào)的相位進(jìn)行比較，檢測(cè)光盤傾斜度。這樣，可檢測(cè)光盤的半徑方向的傾斜。又，由于這一檢測(cè)是采用與光學(xué)頭檢測(cè)的跟蹤誤差信號(hào)同等好的信號(hào)進(jìn)行的，所以能進(jìn)行高精度的光盤傾斜度的檢測(cè)。
此外，作為本發(fā)明的光學(xué)頭的其中一例，特征是，對(duì)于形成取樣伺服用的取樣坑槽的光盤，跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置，以取樣坑槽檢測(cè)反射的光再檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)，光盤傾斜度檢測(cè)裝置，根據(jù)前述第1跟蹤誤差信號(hào)相對(duì)于前述第2跟蹤誤差信號(hào)的相位差檢測(cè)光盤傾斜度。這樣，可以用取樣伺服方式的光學(xué)頭檢測(cè)光盤傾斜度。
此外，作為本發(fā)明的光學(xué)頭的其中一例，特征是，前述集光裝置，是將記錄及再生信息用的主光束與第1及第2個(gè)輔助光束集聚于光盤的集光裝置，前述受光裝置，是分別對(duì)入射到前述受光裝置的前述第1及第2個(gè)輔助光束、把光束分割為前述第1領(lǐng)域及第2領(lǐng)域、并受光，前述跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置，使用前述第1輔助光束的前述第1領(lǐng)域的受光信號(hào)、與前述第2個(gè)輔助光束的前述第1領(lǐng)域的受光信號(hào)之間的差信號(hào)，或前述第1輔助光束的前述第1及第2領(lǐng)域的受光信號(hào)的和信號(hào)、與前述第2個(gè)輔助光束的前述第1及第2領(lǐng)域的受光信號(hào)的和信號(hào)之間的差信號(hào)中的任一個(gè)，檢測(cè)第1的跟蹤誤差信號(hào)；使用前述第1輔助光束的前述第2領(lǐng)域的受光信號(hào)、與前述第2個(gè)輔助光束的前述第2領(lǐng)域的受光信號(hào)的差信號(hào)，檢測(cè)第2跟蹤誤差信號(hào)。前述光盤傾斜度檢測(cè)裝置，根據(jù)前述第1跟蹤誤差信號(hào)相對(duì)前述第2跟蹤誤差信號(hào)的相位差檢測(cè)光盤傾斜度。這樣，就能以3光束跟蹤檢測(cè)方式的光學(xué)頭檢測(cè)光盤傾斜度。
此外，作為本發(fā)明的光學(xué)頭的其中一例，特征是，前述受光裝置，以平行于信息磁道的分割線分割前述第1及第2領(lǐng)域、受光，前述跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置，根據(jù)以前述受光裝置受光的信號(hào)檢測(cè)推挽信號(hào)，把使用前述第1領(lǐng)域的受光信號(hào)、或前述第1及第2領(lǐng)域的受光信號(hào)的和信號(hào)中的任一個(gè)檢測(cè)的推挽信號(hào)作為第1跟蹤誤差信號(hào)，把使用前述第2領(lǐng)域的受光信號(hào)檢測(cè)的推挽信號(hào)作為第2跟蹤誤差信號(hào)，分別檢測(cè)；前述光盤傾斜度檢測(cè)裝置，根據(jù)前述第1跟蹤誤差信號(hào)相對(duì)前述第2跟蹤誤差信號(hào)的相位差檢測(cè)光盤傾斜度。這樣，可利用具有推挽方式的跟蹤檢測(cè)的光學(xué)頭檢測(cè)光盤傾斜度，又，光盤傾斜度，根據(jù)2個(gè)推挽信號(hào)的相位差檢測(cè)，可排除隨著物鏡移動(dòng)產(chǎn)生的推挽信號(hào)的偏移的影響。
還有，作為本發(fā)明的光學(xué)頭的其中一例，特征是，對(duì)于信息磁道上形成坑槽的光盤，具有，以物鏡集光的裝置，及收受來(lái)自前述光盤的反射光束的受光裝置，及從以前述受光裝置受光的信號(hào)中檢測(cè)前述光盤與前述物鏡的光軸的傾斜度的光盤傾斜度檢測(cè)裝置；前述受光裝置，被配置于入射到前述受光裝置的光束的中央部，它的形狀，將前述光束分割為與信息磁道平行的寬度比前述光束的直徑長(zhǎng)、垂直與前述信息磁道方向的寬度比前述光束的直徑短的第1領(lǐng)域，及不含前述第1領(lǐng)域的第2領(lǐng)域，并受光，前述光盤傾斜度檢測(cè)裝置，通過(guò)對(duì)前述第1領(lǐng)域的受光信號(hào)、或前述第1及第2領(lǐng)域的受光信號(hào)的和信號(hào)的中的任一方、與前述第2領(lǐng)域的受光信號(hào)進(jìn)行比較，通過(guò)檢測(cè)光點(diǎn)通過(guò)前述坑槽上時(shí)被調(diào)制的信號(hào)波形的相位差，檢測(cè)光盤傾斜度。這樣，可檢測(cè)信息磁道的接線方向的光盤傾斜度。
圖1表示本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)1的光學(xué)頭的構(gòu)成圖。
圖2是說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)1的光學(xué)裝置的圖。
圖3是說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)1的受光裝置的圖。
圖4是說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)1的信號(hào)的圖。
圖5是說(shuō)明來(lái)自光盤的反射光的圖。
圖6是說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)1的效果圖。
圖7是說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)1的效果圖。
圖8是說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)1的效果圖。
圖9是說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)2的構(gòu)成圖。
圖10是說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)2的受光裝置的圖。
圖11是說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)3的構(gòu)成圖。
圖12是說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)3的受光裝置的圖。
圖13是說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)4的構(gòu)成圖。
圖14是說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)4的受光裝置的圖。
圖15是說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)5的構(gòu)成圖。
圖16是說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)5的信號(hào)的圖。
圖17(a)表示本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)4的受光裝置的其他構(gòu)成例圖。
圖17(b)表示本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)4的受光裝置的其他構(gòu)成例圖。
圖18(a)表示本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)5的受光裝置的其他構(gòu)成例圖。
圖18(b)表示本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)4的受光裝置的其他構(gòu)成例圖。
圖19表示本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)6的光學(xué)頭的構(gòu)成圖。
圖20是說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)6的受光裝置及信號(hào)演算部的圖。
圖21是說(shuō)明本發(fā)明的第1及第2領(lǐng)域的圖。
圖22(a)是說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)6的第1及第2跟蹤誤差信號(hào)的圖。
圖22(b)是說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)6的第1及第2跟蹤誤差信號(hào)的圖。
圖23表示本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)7的光學(xué)頭的構(gòu)成圖。
圖24是說(shuō)明取樣·伺服方式的信息磁道的圖。
圖25是說(shuō)明取樣·伺服方式的跟蹤檢測(cè)的圖。
圖26(a)是說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)7的第1及第2跟蹤誤差信號(hào)的圖。
圖26(b)是說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)7的第1及第2跟蹤誤差信號(hào)的圖。
圖27表示本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)8的光學(xué)頭的構(gòu)成圖。
圖28是說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)8的受光裝置及信號(hào)演算部的圖。
圖29是說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)8的主光束及輔助光束的光點(diǎn)配置的圖。
圖30是說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)8的輔助光束的信號(hào)的圖。
圖31是說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)9的效果圖。
圖32表示本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)10的光學(xué)頭的構(gòu)成圖。
圖33表示本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)10的跟蹤控制信號(hào)生成裝置的構(gòu)成圖。
圖34表示本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)11的光學(xué)頭的構(gòu)成圖。
圖35是說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)11的受光裝置及信號(hào)演算部的圖。
圖36是說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)11的信號(hào)檢測(cè)方法的圖。
圖37是說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)11的信號(hào)檢測(cè)方法的圖。
圖38是說(shuō)明以往技術(shù)的圖。
圖39是說(shuō)明以往技術(shù)的圖。
圖40是說(shuō)明以往技術(shù)的圖。
圖41是說(shuō)明以往技術(shù)的圖。
圖42表示以往的光學(xué)頭的構(gòu)成圖。
圖43是說(shuō)明以往技術(shù)的圖。
圖44(a)是說(shuō)明以往技術(shù)的圖。
圖44(b)是說(shuō)明以往技術(shù)的圖。
圖44(c)是說(shuō)明以往技術(shù)的圖。
標(biāo)號(hào)說(shuō)明1 光源2 衍射柵3 光分路裝置4 物鏡5 光盤66’ 光學(xué)裝置7 檢測(cè)透鏡8，30，47，54 受光裝置
9，55，58 跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置11，11’ 光學(xué)功能領(lǐng)域201 光源202 光學(xué)頭的光軸203 光束分解器204 物鏡205 光盤206 中繼透鏡207 光學(xué)頭的光軸208 受光裝置236 衍射柵237 受光裝置252 物鏡移動(dòng)裝置257 受光裝置具體實(shí)施形態(tài)下面，參照附圖對(duì)本發(fā)明的各實(shí)施形態(tài)進(jìn)行說(shuō)明。
(實(shí)施形態(tài)1)本實(shí)施形態(tài)對(duì)于以往的3光束跟蹤方式的光學(xué)頭，通過(guò)適用于本發(fā)明，成為解決該課題的一例。
圖1是本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)1的光學(xué)頭的構(gòu)成圖。圖中，1是光源，2是將光分路成為主光束及2束輔助光束的衍射柵，3是作為光分路裝置的光束分解器，4是物鏡，5是光盤，6是分路通過(guò)的光束的一部的領(lǐng)域的光或使光強(qiáng)度減低的光學(xué)裝置，7是檢測(cè)透鏡，8是具有若干受光單元的受光裝置，9是跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置。
圖2是說(shuō)明光學(xué)裝置的圖，圖中，10是通過(guò)的光束的外形，11是分路通過(guò)的光束或使光強(qiáng)度減低的光學(xué)功能領(lǐng)域，在本實(shí)施形態(tài)，這是在玻璃或樹脂等透明基板上，形成反射性或光吸收性的膜、或衍射柵等的光透過(guò)率低的部分。
圖3是說(shuō)明受光裝置8的各受光單元的圖，12，14是受光單元，13是4分割受光單元，15，17是輔助光束，16是主光束。
下面，對(duì)具有這樣的構(gòu)成的本實(shí)施形態(tài)的光學(xué)頭的動(dòng)作進(jìn)行說(shuō)明。
由于光源發(fā)出的光被衍射單元2衍射，生成主光束作為0次衍射光，2束輔助光束作為+1次及-1次衍射光。這3束光束，一起透過(guò)光分路裝置3，通過(guò)物鏡4被集光于光盤5，如以往例說(shuō)明的圖38中表示的那樣，形成3個(gè)光點(diǎn)。
來(lái)自由光盤5反射的各光點(diǎn)的反射光束，再次一起通過(guò)物鏡4，經(jīng)光分路裝置3反射，入射到光學(xué)裝置6。主光束及2束輔助光束的光束，在配置光學(xué)裝置6的位置不太分離，所以，所有光束都如圖2所示的光束的外形10那樣，由于光學(xué)功能領(lǐng)域11，其中央部的光強(qiáng)度減低，入射到檢測(cè)透鏡7。
焦點(diǎn)檢測(cè)方式，諸如非點(diǎn)象差方式，檢測(cè)透鏡7具有使非點(diǎn)象差發(fā)生的圓柱透鏡的折射力，使光束進(jìn)入受光裝置8，如圖3所示，主光束可入射到4分割的受光單元13，輔助光束可分別入射到受光單元12及14。各光束15至17的中央部的斜線部，由于光學(xué)裝置6表示為光強(qiáng)度減低的部分，由于檢測(cè)透鏡7具有非點(diǎn)象差，其方向可回轉(zhuǎn)90度。
此外，圖1的跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置9，對(duì)受光單元12及14檢測(cè)的信號(hào)進(jìn)行差分放大，檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)。4分割受光單元13檢測(cè)的信號(hào)，在焦點(diǎn)檢測(cè)裝置及信息信號(hào)檢測(cè)裝置(均未圖示)被用作各自的信號(hào)檢測(cè)。
圖4是用來(lái)說(shuō)明當(dāng)主光束的光點(diǎn)與信息磁道的相對(duì)位置變化時(shí)、主光束及2個(gè)輔助光束的信號(hào)的變化的圖。圖中，18是主光束的信號(hào)波形，19，20分別是輔助光束的信號(hào)波形，21是跟蹤誤差信號(hào)的波形。這里，由于信息磁道的寬度做得比其間的槽幅大，主光束信號(hào)18在信息磁道中心呈現(xiàn)最大的波形，輔助光束的信號(hào)19，20，與此相對(duì)，出現(xiàn)每相距1/4磁道、方向相反、相位偏移的波形。跟蹤誤差信號(hào)21是波形19，20的差信號(hào)，在信息磁道中心呈現(xiàn)為0的波形。
下面說(shuō)明的是，對(duì)于光學(xué)頭，當(dāng)光盤在其半徑方向，即亦包含光盤法線與物鏡的光軸的平面在與信息磁道的接線垂直的方向上傾斜時(shí)(以下稱為徑向傾斜)產(chǎn)生的、跟蹤誤差信號(hào)的相位偏移。通常，主光束及輔助光束的光點(diǎn)，形狀幾乎相同，所以其受光信號(hào)波形也相同。因此，在跟蹤誤差信號(hào)為0的位置，主光束信號(hào)的峰值位置一致，今后，只著眼于主光束的信號(hào)波形作說(shuō)明。
圖5是模式地表示光盤存在徑向傾斜時(shí)的、從光盤反射的反射光束的光量分布，圖中的黑白濃度與光強(qiáng)度對(duì)應(yīng)。這是由于光通過(guò)光盤的透明基板時(shí)發(fā)生的彗形象差、導(dǎo)致入射光的波面上產(chǎn)生非對(duì)稱的波面象差、光盤上的0次衍射光、與+1次及-1次衍射光在干涉領(lǐng)域的波面相位相互倒相變化的原因，使出現(xiàn)如圖所示的非對(duì)稱的強(qiáng)度分布，由于這一非對(duì)稱性，主光束的信號(hào)的峰值位置會(huì)偏離信息磁道中心。
本實(shí)施形態(tài)，由于光學(xué)裝置6的光學(xué)功能領(lǐng)域11，使發(fā)生這種非對(duì)稱的強(qiáng)度分布的領(lǐng)域的光強(qiáng)度減低，在構(gòu)成上可以抑制該領(lǐng)域的非對(duì)稱的光強(qiáng)度加在跟蹤誤差信號(hào)上的影響。下面，詳細(xì)地對(duì)其效果進(jìn)行說(shuō)明。
圖6是設(shè)定光學(xué)頭的光源波長(zhǎng)λ＝660nm，NA＝0.6，光盤的信息磁道間距＝1.2μm，導(dǎo)向槽深度＝λ/8，導(dǎo)向槽寬度＝0.8μm，基板厚＝0.6mm時(shí)模擬主光束信號(hào)的結(jié)果。22是沒(méi)有徑向傾斜時(shí)的波形，23是徑向傾斜＝1.2度時(shí)以往的光學(xué)頭中的波形。波形23對(duì)波形22存在相位差，它的峰值位置距信息磁道中心約0.15μm。
圖6的波形24，25，是在本發(fā)明的光學(xué)頭中，以光學(xué)功能領(lǐng)域11的寬度V與光束直徑D之比表示，在V/D＝0.25對(duì)其透過(guò)率為0時(shí)的主光束的信號(hào)波形進(jìn)行模擬的結(jié)果，24是沒(méi)有徑向傾斜時(shí)的波形，25是徑向傾斜＝1.2度時(shí)的波形。在振幅降低時(shí)，可將波形25的峰值位置的偏移抑制到只有0.05μm左右。
此外，圖7表示在徑向傾斜為1.2度時(shí)，使所述V/D變化時(shí)的主光束信號(hào)波形的振幅與峰值位置偏移量變化的圖，其中振幅為26、峰值位置偏移量為27。所謂相對(duì)振幅是指以V/D＝0時(shí)的振幅為1的正規(guī)化的振幅。在圖7中，例如假設(shè)V/D＝0.4，則盡管相對(duì)振幅26降低到0.6，峰值位置偏移量27也能實(shí)質(zhì)上為0。
以上模擬的結(jié)果，如徑向傾斜為1.2度，在以往的光學(xué)頭中，對(duì)應(yīng)于前述主光束信號(hào)的峰值位置的跟蹤控制的目標(biāo)點(diǎn)(跟蹤誤差信號(hào)為0的位置)為0.15μm時(shí)也會(huì)偏離信息磁道中心，對(duì)此，按照本發(fā)明，前述跟蹤控制的目標(biāo)點(diǎn)偏移，即亦，跟蹤誤差信號(hào)的相位偏移幾乎可抑制到0。
圖8是對(duì)V/D＝0.5、使光學(xué)功能領(lǐng)域11的透過(guò)率變化時(shí)的記作28的振幅與記作29的峰值位置偏移量的變化進(jìn)行模擬的結(jié)果。在透過(guò)率為0時(shí)，峰值位置偏移量為負(fù)值，這是因?yàn)榉逯滴恢闷频囊种菩Ч^(guò)大的緣故，通過(guò)變更透過(guò)率，可自由變更峰值位置偏移量的抑制效果。即亦，調(diào)整抑制徑向傾斜時(shí)的跟蹤誤差信號(hào)的相位偏移的效果，不僅可通過(guò)設(shè)定光學(xué)功能領(lǐng)域11的寬度進(jìn)行，也可通過(guò)變更其透過(guò)率來(lái)進(jìn)行。
如上所述，按照本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)，在3光束跟蹤方式的光學(xué)頭中，通過(guò)使檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)用的2個(gè)輔助光束的中央部的光強(qiáng)度以帶狀減低，由于減低了由光盤的徑向傾斜發(fā)生的波面象差的大領(lǐng)域的光加在跟蹤誤差信號(hào)的影響，可抑制徑向傾斜時(shí)的跟蹤誤差信號(hào)的相位偏移，從而可實(shí)現(xiàn)跟蹤精度的提高。
此外，在本實(shí)施形態(tài)，將光學(xué)裝置6配置于檢測(cè)透鏡7之前，在從光盤5反射的輔助光束到達(dá)受光裝置8的光路中，諸如在具有折返光路的鏡片、及用別的受光單元進(jìn)行信息信號(hào)檢測(cè)的光學(xué)頭、將用作跟蹤檢測(cè)與信息信號(hào)檢測(cè)的光進(jìn)行分路的另一分路裝置上、也可以設(shè)置使光束的中央部的光強(qiáng)度減低的光學(xué)裝置。
此外，光學(xué)功能領(lǐng)域11的長(zhǎng)度W，曾說(shuō)過(guò)它比光束直徑D要長(zhǎng)得多，但如果與光束直徑D實(shí)質(zhì)相同或者稍微小一點(diǎn)也行，這樣的構(gòu)成也能抑制跟蹤誤差信號(hào)的相位偏移。
(實(shí)施形態(tài)2)本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)2，是對(duì)實(shí)施形態(tài)1作部分變更，以進(jìn)一步體現(xiàn)本發(fā)明的特征。
圖9是本實(shí)施形態(tài)的構(gòu)成圖。與圖1共通的構(gòu)成要素帶同一符號(hào)，說(shuō)明從略。不同點(diǎn)是，設(shè)置受光裝置30以取代圖1的受光裝置8，同時(shí)，作為光學(xué)裝置6’，具有形成衍射柵等的分路光的裝置的光學(xué)功能領(lǐng)域11’，被分路的光束進(jìn)入受光裝置30。這里，光學(xué)功能領(lǐng)域11’的外形，與圖2的光學(xué)功能領(lǐng)域11是一樣的。
圖10是表示受光裝置30的受光領(lǐng)域的圖。在圖10中，31，33及34至37是受光單元，32是4分割受光單元，38及40是輔助光束，39是主光束，41及44是以光學(xué)功能領(lǐng)域11’從輔助光束38分路的光束，42及45也是從主光束39分路的光束，43及46也是從輔助光束40分路的光束。又，圖中，光學(xué)功能領(lǐng)域11’所占的部分用斜線部表示。在受光單元31，32，33，輔助光束38、主光束39、輔助光束40的光束不使光學(xué)功能領(lǐng)域11’的部分受光。又，這里，有關(guān)主光束39的焦點(diǎn)檢測(cè)及信息檢測(cè)的說(shuō)明從略。
以各受光單元的序號(hào)作為信號(hào)名，將各輔助光束的信號(hào)列于下表，則，第1輔助光束的信號(hào)為31+k1×(34+36)(式2)第2個(gè)輔助光束的信號(hào)為33+k2×(35+37)(式3)
其中，k1，k2為常系數(shù)(k1，k2＜1)，改變這個(gè)系數(shù)，改變輔助光束的信號(hào)值，這與實(shí)施形態(tài)1中敘述的變更光學(xué)功能領(lǐng)域11的透過(guò)率是等價(jià)的。因此，可通過(guò)跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置9中的檢測(cè)信號(hào)的電氣演算任意設(shè)定或變更對(duì)跟蹤誤差信號(hào)的相位偏移的抑制效果。
因此，按照本實(shí)施形態(tài)，例如，由于光盤的基板厚度不同，由光盤的徑向傾斜發(fā)生的波面象差不同時(shí)，或者，對(duì)物鏡的開口數(shù)切換使用時(shí)等、應(yīng)抑制的跟蹤誤差信號(hào)的相位偏移量不同時(shí)可進(jìn)行適當(dāng)?shù)囊种菩Ч脑O(shè)定及切換。此外，由主光束分路的光束42及45，是不用于跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)，及焦點(diǎn)檢測(cè)及信息檢測(cè)的光束。
這樣，按照本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)，在3光束跟蹤方式的光學(xué)頭，對(duì)用于檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)的2束輔助光束的中央部的一部，由衍射柵分路并分別受光，由于對(duì)光盤的徑向傾斜發(fā)生的波面象差的大領(lǐng)域的光，即亦，對(duì)通過(guò)減低對(duì)分路受光的受光信號(hào)的跟蹤誤差信號(hào)的貢獻(xiàn)減低，可抑制徑向傾斜時(shí)的跟蹤誤差信號(hào)的相位偏移、提高跟蹤控制精度。又，這一相位偏移的抑制效果，可通過(guò)電氣演算調(diào)整，所以，可以進(jìn)行最適當(dāng)?shù)恼{(diào)整及設(shè)定。
此外，在本實(shí)施形態(tài)，采用專用的衍射柵使輔助光束的一部分分路，例如，對(duì)于具有為焦點(diǎn)檢測(cè)分路光束的衍射柵的光學(xué)頭，在該衍射柵可以具有同樣的功能。
(實(shí)施形態(tài)3)圖11是本實(shí)施形態(tài)的構(gòu)成圖。與圖1共同的構(gòu)成要素，帶上同一符號(hào)，說(shuō)明從略，只對(duì)不同的地方進(jìn)行說(shuō)明。與圖1構(gòu)成的不同點(diǎn)在于，省實(shí)質(zhì)上了圖1的光學(xué)裝置6，在受光裝置47加上了它的功能(未畫出)。即亦，受光裝置47包括如實(shí)施形態(tài)1那樣的受光裝置8和光學(xué)裝置6的兩方面的功能。
圖12是受光裝置47的受光單元的構(gòu)成圖。在圖12，48及50是3分割受光單元，49是4分割受光單元，48a至48c及50a至50c是前述3分割受光單元的各受光領(lǐng)域，51及53是輔助光束，52是主光束。由于檢測(cè)透鏡具有的非點(diǎn)象差，各光束將其分布回轉(zhuǎn)90度入射到受光單元，所以，3分割受光單元的分割線處于紙面的上下方向。
將3分割受光單元48及50的個(gè)受光領(lǐng)域的序號(hào)作為信號(hào)名，各輔助光束的信號(hào)以下式表示，則第1輔助光束的信號(hào)為(48a+48c)+k3×48b(式4)
第2個(gè)輔助光束的信號(hào)為(50a+50c)+k4×50b(式5)跟蹤誤差信號(hào)，根據(jù)這2個(gè)輔助光束的信號(hào)的差檢測(cè)。此外，對(duì)從主光束52得到的焦點(diǎn)信號(hào)及信息信號(hào)的說(shuō)明從略。這里，k3，k4為常系數(shù)(k3，k4＜1)，可進(jìn)行電氣演算以改變這個(gè)系數(shù)，與實(shí)施形態(tài)2同樣，可任意設(shè)定對(duì)跟蹤誤差信號(hào)的相位偏移的抑制效果的大小。
如上所述，按照本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)，在3光束跟蹤方式的光學(xué)頭，在各受光單元分割用來(lái)檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)的2個(gè)輔助光束，改變檢測(cè)光束的中央部的光的信號(hào)與檢測(cè)此外光束的信號(hào)的加算比率，由于對(duì)光盤的徑向傾斜發(fā)生的波面象差的大領(lǐng)域，即亦，對(duì)前述光束的中央部的光提供的跟蹤誤差信號(hào)的貢獻(xiàn)減低，可抑制徑向傾斜時(shí)的跟蹤誤差信號(hào)的相位偏移、提高跟蹤控制精度。又，這一相位偏移的抑制效果的大小，可通過(guò)電氣演算調(diào)整，所以，可以進(jìn)行最適當(dāng)?shù)恼{(diào)整及設(shè)定。
(實(shí)施形態(tài)4)對(duì)于前述的以往的取樣·伺服·跟蹤方式的光學(xué)頭，本實(shí)施形態(tài)適用本發(fā)明，成為解決本課題的一例。
圖13是本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)4的光學(xué)頭的構(gòu)成圖。與圖1共同的構(gòu)成要素，帶上同一符號(hào)，說(shuō)明從略，只對(duì)不同的地方進(jìn)行說(shuō)明。在本實(shí)施形態(tài)的構(gòu)成中，除去圖1的衍射柵，換成圖1的受光裝置8及跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置9，具有受光裝置54及跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置55。
此外，圖14是說(shuō)明受光裝置54的各受光單元的圖，圖中，56是4分割受光單元，56a至56d是4分割受光單元56的各受光領(lǐng)域，57是入射到4分割受光單元56的光束的外形。
下面，對(duì)具有這樣構(gòu)成的、本實(shí)施形態(tài)4的光學(xué)頭的動(dòng)作進(jìn)行說(shuō)明。
光源1發(fā)出的光，透過(guò)分路裝置3，通過(guò)物鏡4被集聚到光盤5。由光盤5反射的光束，再通過(guò)物鏡4，由光分路裝置3反射，入射到光學(xué)裝置6。在本實(shí)施形態(tài)，入射到光學(xué)裝置6的光束，與前述實(shí)施形態(tài)1同樣，通過(guò)圖2的光學(xué)功能領(lǐng)域11，使其中央部的光強(qiáng)度減低，經(jīng)檢測(cè)透鏡7進(jìn)入受光裝置54。
圖14中的光束57的中央部的斜線部，表現(xiàn)由光學(xué)裝置6使光強(qiáng)度減低的部分，由于檢測(cè)透鏡7具有的非點(diǎn)象差，其方向可回轉(zhuǎn)90度。
此外，圖13的跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置55，是取樣·伺服·跟蹤方式的跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置，所以，如以往技術(shù)的說(shuō)明所述，使用與來(lái)自光盤的反射光量對(duì)應(yīng)的信號(hào)的、由4分割受光單元56檢測(cè)的信號(hào)的和信號(hào)、即亦受光單元56a至56d的全部檢測(cè)信號(hào)檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)。焦點(diǎn)檢測(cè)裝置及信息信號(hào)檢測(cè)裝置(都未畫出)，通過(guò)4分割受光單元56的、各受光單元56a至56d分別檢測(cè)的信號(hào)、檢測(cè)各自規(guī)定的信號(hào)。
下面，對(duì)本構(gòu)成的光學(xué)頭中的跟蹤檢測(cè)進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。以4分割受光單元56檢測(cè)的信號(hào)的和作為信號(hào)S，跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置55，檢測(cè)光點(diǎn)通過(guò)如圖40所示的齒形標(biāo)記時(shí)的信號(hào)S，在圖41的位置A，位置B進(jìn)行取樣同步，檢測(cè)信號(hào)值VA，VB。齒形標(biāo)記沿信息磁道有許多，由于光盤回轉(zhuǎn)，光點(diǎn)在橫斷信息磁道間通過(guò)若干個(gè)齒形標(biāo)記。如果將以各齒形標(biāo)記取樣同步的前述信號(hào)值VA，VB按時(shí)間關(guān)系設(shè)定為信號(hào)S1，信號(hào)S2，則跟蹤誤差信號(hào)就是它們的差信號(hào)S1-S2。
這里，光點(diǎn)橫斷信息磁道時(shí)的前述信號(hào)S1，信號(hào)S2的波形，在各齒形標(biāo)記的對(duì)應(yīng)坑槽位置處是最小(或者最大)的波形，可以說(shuō)，這是與如圖4所示的3光束跟蹤方式的2個(gè)輔助光束的信號(hào)同樣的信號(hào)。
此外，前述輔助光束的信號(hào)、與前述信號(hào)S1，S2，是連續(xù)地在導(dǎo)向槽及齒形標(biāo)記處檢測(cè)調(diào)制的反射光量獲得的，所以，由于光盤的徑向傾斜由光點(diǎn)產(chǎn)生于光盤的象差使信號(hào)受到的影響可一并考慮。
因此，與實(shí)施形態(tài)1同樣，本實(shí)施形態(tài)的光學(xué)頭，可抑制由光盤的徑向傾斜產(chǎn)生的跟蹤誤差信號(hào)的相位偏移。
如上所述，按照本實(shí)施形態(tài)，在取樣·伺服·跟蹤方式的光學(xué)頭，由于使檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)用的光束的一部的光強(qiáng)度減低，使光盤的徑向傾斜發(fā)生的波面象差的大領(lǐng)域的光產(chǎn)生的影響減低，可抑制徑向傾斜時(shí)的跟蹤誤差信號(hào)的相位偏移。
此外，在4分割受光單元56，對(duì)本發(fā)明的跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)動(dòng)作起作用的是受光單元56的和信號(hào)，受光單元被4分割為56a至56d，是因?yàn)榕c實(shí)施形態(tài)1同樣，以焦點(diǎn)檢測(cè)方式作為非點(diǎn)象差方式。因此，如果是只用來(lái)檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)，受光裝置54用一個(gè)受光單元也可以。
此外，在本實(shí)施形態(tài)，作為圖13及圖14那樣的構(gòu)成，在實(shí)施形態(tài)2及3對(duì)輔助光束施加的各種裝置也可以加到本實(shí)施形態(tài)的光束上。
這里，圖17(a)，是將實(shí)施形態(tài)2的受光裝置30及光學(xué)裝置6’的構(gòu)成應(yīng)用于本實(shí)施形態(tài)的取樣·伺服·跟蹤方式場(chǎng)合的受光裝置54的構(gòu)成圖。圖17(b)，是將實(shí)施形態(tài)3的受光裝置47的構(gòu)成應(yīng)用于本實(shí)施形態(tài)的取樣·伺服·跟蹤方式場(chǎng)合的受光裝置54的構(gòu)成圖。又，在圖17(a)(b)，以檢測(cè)跟蹤誤差的動(dòng)作為中心進(jìn)行說(shuō)明，以焦點(diǎn)檢測(cè)方式作為非點(diǎn)象差方式用的受光單元57的4分割的分割線用虛線表示，省實(shí)質(zhì)上該動(dòng)作。又，主光束部分的受光單元的構(gòu)成也省實(shí)質(zhì)上。
如圖17(a)所示，受光裝置54，具有通過(guò)光學(xué)裝置6’使得將光束57一分為三得到的光束57a，57b，57c分別受光的受光單元70、71、72。又，光束57a不使光學(xué)功能領(lǐng)域11’的部分受光，光束57b，57c在光束57中只含光學(xué)功能領(lǐng)域11’的部分。
將各受光單元的序號(hào)記作信號(hào)名，將各光束的信號(hào)用下式表示，光束57的信號(hào)可表示為57a+k5×(57b+57c)(數(shù)6)(k5是常系數(shù)(k5＜1))。
因此，與實(shí)施形態(tài)2同樣，改變系數(shù)k5的值，使從光束57得到的信號(hào)的值改變，使任意設(shè)定或變更對(duì)跟蹤誤差信號(hào)的相位偏移的抑制效果成為可能。
下面，如圖17(b)所示，受光裝置54具有分別使光束57受光的3分割受光單元73a，73b，73c。
各分割受光單元的序號(hào)記作信號(hào)名，光束57的信號(hào)可表示為(73b+73c)+k6×73a(數(shù)7)k6是常系數(shù)，(k6＜1)。因此，與實(shí)施形態(tài)3同樣，改變系數(shù)k6的值，使從光束57得到的信號(hào)的值改變，使任意設(shè)定或變更對(duì)跟蹤誤差信號(hào)的相位偏移的抑制效果成為可能。
(實(shí)施形態(tài)5)本實(shí)施形態(tài)，對(duì)前述的以往的復(fù)合·擺動(dòng)·跟蹤方式或復(fù)合·連續(xù)·跟蹤方式的光學(xué)頭，由于適用本發(fā)明，成為解決該課題的一例。
圖15是本實(shí)施形態(tài)5的光學(xué)頭的構(gòu)成圖。與實(shí)施形態(tài)4的構(gòu)成圖的圖13及圖14的構(gòu)成要素相同，帶同一符號(hào)，說(shuō)明從略。在本實(shí)施形態(tài)，具有跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置58，以取代圖13的跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置55。
與實(shí)施形態(tài)4不同點(diǎn)在于，是跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置58的、由受光裝置54得到的受光信號(hào)的處理動(dòng)作。以下，參照?qǐng)D14對(duì)跟蹤檢測(cè)58的動(dòng)作進(jìn)行說(shuō)明。
用4分割受光單元56的各受光領(lǐng)域名56a至56d，對(duì)信號(hào)T、信號(hào)T1，T2，TE作如下定義。即，T＝56a+56b+56c+56d(數(shù)8)T1＝56a+56b (數(shù)9)T2＝56c+56d (數(shù)10)TE＝T1-T2 (數(shù)11)這里，信號(hào)T是4分割受光單元57的和信號(hào)，信號(hào)TE是推挽信號(hào)。跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置58檢測(cè)前述各式的信號(hào)T，T1，T2，TE。
對(duì)于以往技術(shù)的說(shuō)明中所述的復(fù)合·連續(xù)·跟蹤方式，如圖39所示，光盤的信息磁道，由導(dǎo)向槽部104及鏡面部105構(gòu)成，跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置58，在光點(diǎn)通過(guò)鏡面部105時(shí)，對(duì)前述信號(hào)TE取樣同步，用它的值補(bǔ)正信號(hào)TE的偏移，檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)。這里說(shuō)的信號(hào)TE的偏移，是物鏡4與光學(xué)頭的光軸的位置偏移、及由于光盤的徑向傾斜從光盤反射的反射光束的位置偏移，是推挽信號(hào)產(chǎn)生的直流電壓。
此外，對(duì)于以往技術(shù)的說(shuō)明中所述的復(fù)合·擺動(dòng)·跟蹤方式，如圖40所示，光盤的信息磁道，由導(dǎo)向槽部及齒形標(biāo)記構(gòu)成，跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置58，在光點(diǎn)通過(guò)齒形標(biāo)記時(shí)，以與前述的實(shí)施形態(tài)4的跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置55同樣的手法檢測(cè)的信號(hào)被設(shè)定為TE2，通過(guò)對(duì)該信號(hào)TE2與前述信號(hào)TE的偏移進(jìn)行比較，檢測(cè)補(bǔ)正偏移的跟蹤誤差信號(hào)。這是由于信號(hào)TE2中難以發(fā)生前述那樣的偏移，所以可經(jīng)過(guò)比較抽出信號(hào)TE的偏移。又，在光點(diǎn)通過(guò)齒形標(biāo)記時(shí)，即使對(duì)前述信號(hào)TE取樣同步，也能同樣抽出信號(hào)TE的偏移。
以上那樣的跟蹤檢測(cè)方式，雖具有補(bǔ)正跟蹤誤差信號(hào)的偏移的裝置，但由于光盤的徑向傾斜產(chǎn)生的彗形象差的影響，這樣的偏移補(bǔ)正裝置對(duì)跟蹤誤差信號(hào)產(chǎn)生的相位偏移也無(wú)能為力。
圖16是在設(shè)定以下條件時(shí)模擬推挽信號(hào)TE的波形的結(jié)果光學(xué)頭的光源波長(zhǎng)為660nm，NA為0.6，光盤的信息磁道的間距為1.2μm，導(dǎo)向槽深度＝λ/8，導(dǎo)向槽寬度＝0.8μm，基板厚度＝0.6mm。59是沒(méi)有徑向傾斜時(shí)的波形，60是徑向傾斜＝1.2度時(shí)、以往的光學(xué)頭的波形，61是本實(shí)施形態(tài)的光學(xué)頭的波形。
各波形的偏移中不僅只是徑向傾斜引起的相位偏移，如果對(duì)它們的峰值位置進(jìn)行比較，則，波形61的相位偏移比之波形60的相位偏移約有不到半分的抑制。又，波形61是當(dāng)光學(xué)裝置6的光學(xué)功能領(lǐng)域11的寬度、V/D＝0.25、透過(guò)率為0時(shí)的計(jì)算結(jié)果。這樣，光學(xué)裝置6，在抑制徑向傾斜引起的相位偏移方面，即使對(duì)推挽信號(hào)也是有效的，因此，是對(duì)前述各跟蹤檢測(cè)方式有效的裝置。
如上所述，按照本實(shí)施形態(tài)，對(duì)復(fù)合·擺動(dòng)·跟蹤方式及復(fù)合·連續(xù)·跟蹤方式的光學(xué)頭，由于使跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)用的光束的一部的光強(qiáng)度以帶狀減低，使得光盤的徑向傾斜發(fā)生的波面象差的大領(lǐng)域的光的作用減低，使徑向傾斜時(shí)的跟蹤誤差信號(hào)的相位偏移得到抑制，跟蹤控制的精度有望得到提高。
又，在4分割受光單元56，對(duì)本發(fā)明的跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)動(dòng)作起作用的，是受光單元56的和信號(hào)，受光單元56a與56b之和，以及受光單元56c及56d的信號(hào)和，受光單元被4分割為56a至56d，這與實(shí)施形態(tài)1一樣，這是由于把焦點(diǎn)檢測(cè)方式作為非點(diǎn)象差方式的緣故。因此，光是為了檢測(cè)跟蹤誤差，受光裝置54也可采用與信息磁道方向平行的2分割受光單元。
此外，換到本實(shí)施形態(tài)的構(gòu)成，即使引進(jìn)增加以實(shí)施形態(tài)2及3檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)用的光束，也能實(shí)現(xiàn)同樣的光學(xué)頭。
這里，圖18(a)是將實(shí)施形態(tài)2的受光裝置30及光學(xué)裝置6’的構(gòu)成應(yīng)用于本實(shí)施形態(tài)的復(fù)合·擺動(dòng)·跟蹤方式或復(fù)合·連續(xù)·跟蹤方式的場(chǎng)合的受光裝置54的構(gòu)成圖，圖18(b)是將實(shí)施形態(tài)3的受光裝置47的構(gòu)成應(yīng)用于本實(shí)施形態(tài)的復(fù)合·擺動(dòng)·跟蹤方式或復(fù)合·連續(xù)·跟蹤方式的場(chǎng)合的受光裝置54的構(gòu)成圖。又，在圖18(a)(b)，以檢測(cè)跟蹤誤差的動(dòng)作為中心進(jìn)行說(shuō)明，以非點(diǎn)象差方式進(jìn)行焦點(diǎn)檢測(cè)方式用的受光單元57的4分割的分割線用虛線表示，它的動(dòng)作從實(shí)質(zhì)上。又，主光束部分的受光單元的構(gòu)成也省實(shí)質(zhì)上。
如圖18(a)所示，受光裝置54，具有使由光學(xué)裝置6’將光束57分割成3部分的光束57a、57b、57c分別受光的2分割受光單元80(含受光單元80a與80b)，81(含受光單元81a及81b)、82(含受光單元82a及82b)。又，光束57a，不使光學(xué)功能領(lǐng)域11’的部分受光，光束57b、57c在光束57中只含有光學(xué)功能領(lǐng)域11’的部分。
將各受光單元的序號(hào)作為信號(hào)名，各光束的信號(hào)以下式表示，則光束57的信號(hào)為T＝80a+80b+k7×(81a+81b+82a+82b) (數(shù)12)
T1＝80a+k7×(81a+82a)(數(shù)13)T2＝80b+k7×(81b+82b)(數(shù)14)TE＝T1-T2(數(shù)15)K7是常系數(shù)(k7＜1)。
因此，與實(shí)施形態(tài)2同樣，改變系數(shù)k7的值，使從光束57得到的信號(hào)的值改變，使任意設(shè)定或變更對(duì)跟蹤誤差信號(hào)的相位偏移的抑制效果成為可能。
下面，如圖18(b)所示，受光裝置54具有分別使光束57受光的6分割受光單元83a～83f。
各分割受光單元的序號(hào)記作信號(hào)名，光束57的信號(hào)可表示為T＝83c+83d+83e+83f+k8×(83a+83b) (數(shù)16)T1＝k8×83a+(83c+83e) (數(shù)17)T2＝k8×83b+(83d+83f) (數(shù)18)TE＝T1-T2 (數(shù)19)(k8是常系數(shù)，(k8＜1))。
因此，與實(shí)施形態(tài)3同樣，改變系數(shù)k8的值，使從光束57得到的信號(hào)的值改變，使任意設(shè)定或變更對(duì)跟蹤誤差信號(hào)的相位偏移的抑制效果成為可能。
此外，在前述實(shí)施形態(tài)，以使用復(fù)合·擺動(dòng)·跟蹤方式或復(fù)合·連續(xù)·跟蹤方式檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)的光學(xué)頭為例進(jìn)行說(shuō)明，本發(fā)明的光學(xué)頭，如果采用與信息磁道平行的軸2分割的受光單元，以推挽方式檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)，那么，用其他方式也可以。
(實(shí)施形態(tài)6)本實(shí)施形態(tài)，對(duì)于具有以往的推挽方式的跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置的光學(xué)頭，由于適用本發(fā)明，成為解決有關(guān)光盤傾斜度檢測(cè)的以往課題的一例。
圖19是本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)6的光學(xué)頭的構(gòu)成圖。圖中，201是光源，202及207是光學(xué)頭的光軸，203是使入射光的一部透過(guò)、使一部反射的光束分解器，204是物鏡，205是光盤，206是將光導(dǎo)入受光單元的中繼透鏡、208是受光裝置，209是對(duì)受光信號(hào)進(jìn)行放大、演算的信號(hào)演算部，210是焦點(diǎn)檢測(cè)裝置，211是跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置，212是光盤傾斜度檢測(cè)裝置。
圖20是說(shuō)明受光裝置208及信號(hào)演算部209的圖，從208a至208f，表示受光裝置208的各受光領(lǐng)域，213a至213f是放大器，214及215是加法運(yùn)算放大器，216是入射到受光裝置208的光束的外形。
下面，對(duì)具有這樣構(gòu)成的本實(shí)施形態(tài)的光學(xué)頭的動(dòng)作進(jìn)行說(shuō)明。
光源201發(fā)生的光，透過(guò)光束分解器203，通過(guò)物鏡204被集光于光盤205。由光盤205反射的光再次通過(guò)物鏡204，由光束分解器203反射，入射到中繼透鏡206。如果把焦點(diǎn)檢測(cè)方式作為非點(diǎn)象差方式，中繼透鏡206，具有使非點(diǎn)象差發(fā)生的圓柱透鏡的折射力，將光束導(dǎo)入受光裝置208。
如圖20所示，入射到受光裝置208的光束，被6分割為受光領(lǐng)域208a至208f，受光，各受光信號(hào)由信號(hào)演算部209演算、放大。受光領(lǐng)域208a至208f的各受光信號(hào)由放大器213a至213f放大，并被作為信號(hào)208a’至208f’輸出，又，信號(hào)208a’與208c’由加法運(yùn)算放大器214相加、被作為信號(hào)F1輸出，信號(hào)208b’與208d’由加法運(yùn)算放大器215相加、被作為信號(hào)F2輸出。
焦點(diǎn)檢測(cè)方式210，使用信號(hào)F1及F2檢測(cè)焦點(diǎn)誤差信號(hào)，跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置211，在作為第1領(lǐng)域的受光領(lǐng)域208e及208f，使用被受光的信號(hào)208e’及208f’，檢測(cè)作為第1跟蹤誤差信號(hào)的信號(hào)TE1，在作為第2領(lǐng)域的受光領(lǐng)域208a至208d，使用被受光的信號(hào)208a’至208d’，檢測(cè)作為第2跟蹤誤差信號(hào)的信號(hào)TE2。第1及第2領(lǐng)域的形狀，如圖所示，其垂直于信息磁道的方向的長(zhǎng)度比檢測(cè)的光束216的直徑長(zhǎng)。
本實(shí)施形態(tài)的跟蹤誤差信號(hào)是推挽信號(hào)，所以，信號(hào)TE1，TE2可用下式表示。
TE1＝208e’-208f’(數(shù)20)TE2＝(208a’+208d’)-(208b’+208c’) (數(shù)21)光盤傾斜度檢測(cè)裝置212，對(duì)第1跟蹤誤差信號(hào)TE1與第2跟蹤誤差信號(hào)TE2的相位進(jìn)行比較，檢測(cè)光盤傾斜度。
下面，對(duì)光盤傾斜度檢測(cè)作詳細(xì)說(shuō)明。圖21表示在有半徑方向傾斜時(shí)的檢測(cè)光束的光強(qiáng)度分布中，前述第1領(lǐng)域與第2領(lǐng)域的范圍重合的圖。如以往技術(shù)的說(shuō)明中所述，對(duì)應(yīng)于光盤傾斜度，光束的光強(qiáng)度分布呈現(xiàn)非對(duì)稱性，如圖所示，其中非對(duì)稱性明顯的部分存在于第1領(lǐng)域。為此，從第1領(lǐng)域檢測(cè)的信號(hào)TE1與第2領(lǐng)域檢測(cè)的信號(hào)TE2對(duì)光盤傾斜度的影響程度是不同的。
圖22是對(duì)信號(hào)TE1與信號(hào)TE2進(jìn)行計(jì)算的結(jié)果，計(jì)算條件是光源的波長(zhǎng)為660nm，物鏡的開口數(shù)為0.6，連續(xù)槽的間距為1.2μm，槽深度＝λ/8，光盤基板厚度為0.6mm。圖22(a)是沒(méi)有光盤傾斜時(shí)的波形，圖22(b)是光盤徑向傾斜為0.6度時(shí)波形。在圖22(a)，217是信號(hào)TE1，218是信號(hào)TE2，在圖22(b)，219是信號(hào)TE1，220是信號(hào)TE2。圖中的橫軸表示相對(duì)于信息磁道中心的光點(diǎn)位置。這里，所謂光點(diǎn)位置，是指光強(qiáng)度分布的強(qiáng)度峰值位置。
在沒(méi)有光盤傾斜時(shí)，如波形217，218那樣，當(dāng)2個(gè)信號(hào)的相位一致、光點(diǎn)位于信息磁道中心時(shí)，都成為與橫軸垂直的波形的信號(hào)，但是，如果光盤傾斜，象波形219，220那樣，產(chǎn)生相位偏移、波形垂直于橫軸的位置將偏離信息磁道中心。光盤傾斜對(duì)各信號(hào)的影響程度不同，所以，比之以波形220表示的信號(hào)TE2，以波形219表示的信號(hào)TE1上產(chǎn)生的相位偏移大。因此，通過(guò)將第1跟蹤誤差信號(hào)TE1與第2跟蹤誤差信號(hào)TE2的相位進(jìn)行比較，可檢測(cè)光盤傾斜度。
此外，在光盤傾斜方向是反方向時(shí)，光束的光強(qiáng)度分布的非對(duì)稱性呈反方向，這是在以往例中說(shuō)明過(guò)的，所以，可容易地推斷出信號(hào)的相位偏移也是反方向的。又，當(dāng)物鏡朝垂直于信息磁道的方向移動(dòng)時(shí)，入射到受光裝置208上的光束216的位置也移動(dòng)，因此，雖然在推挽信號(hào)上產(chǎn)生直流偏置，但由于與信息磁道垂直的方向的前述第1領(lǐng)域的長(zhǎng)度做得比光束直徑長(zhǎng)，所以，即使光束216移動(dòng)，包含在第1領(lǐng)域的光強(qiáng)度分布也不變化。
因此，讓信號(hào)TE1，信號(hào)TE2通過(guò)以通常的電氣電路構(gòu)成的高通濾波器、除去直流偏置、再對(duì)2信號(hào)的相位進(jìn)行比較，可除去物鏡移動(dòng)的影響。相位比較的方法，例如，采用在信號(hào)TE2與基準(zhǔn)電壓(相當(dāng)于圖22的橫軸)交叉的時(shí)刻檢測(cè)信號(hào)TE1的值的方法，采用一般的相位比較方法也行。
此外，以上的說(shuō)明中，將信號(hào)TE1作為第1跟蹤誤差信號(hào)使用，將信號(hào)TE2作為第2跟蹤誤差信號(hào)使用，但以往的推挽信號(hào)，即亦，如以前述信號(hào)208a’至208f’表示，那么，把按(208a’+208d’+208e’)-(208b’+208c’+208f’)的演算得到的信號(hào)作為第1跟蹤誤差信號(hào)使用也能進(jìn)行光盤傾斜度的檢測(cè)。這是由于前述以往的推挽信號(hào)相當(dāng)于信號(hào)TE1與TE2的和信號(hào)，所以，在第1及第2跟蹤誤差信號(hào)間，會(huì)出現(xiàn)可充分檢測(cè)的相位差。
這樣，按照本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)6，在具有推挽方式的跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置的光學(xué)頭中，可使用來(lái)自第1及第2領(lǐng)域的受光信號(hào)進(jìn)行檢測(cè)，通過(guò)對(duì)第1及第2跟蹤誤差信號(hào)的相位進(jìn)行比較，不用專用的光盤傾斜度檢測(cè)器也能進(jìn)行光盤傾斜度檢測(cè)，又，再加上把前述第1及第2領(lǐng)域的形狀做得使垂直于信息磁道的方向的長(zhǎng)度比檢測(cè)光束的直徑長(zhǎng)，光盤傾斜度的檢測(cè)，采用的方法不是檢測(cè)直流信號(hào)，而是比較信號(hào)波形的相位檢測(cè)，所以，可在不易受到隨物鏡的移動(dòng)產(chǎn)生的推挽信號(hào)的直流偏置的影響下進(jìn)行光盤傾斜度的檢測(cè)成為可能。
此外，在前述動(dòng)作中，使用信號(hào)208a’至208f’的全部信號(hào)，只用208a’，208b’，208e’208f’，不用信號(hào)208c’208d’也可以。反之，只用208c’，208d’，208e’208f’，不用信號(hào)208a’208b’也可以。
此外，作為使用推挽信號(hào)的跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)方式，在以往的技術(shù)及實(shí)施形態(tài)5說(shuō)明的、復(fù)合·連續(xù)·跟蹤方式或復(fù)合·擺動(dòng)·跟蹤方式也都可用。又，別的方式也可用。
(實(shí)施形態(tài)7)本實(shí)施形態(tài)，對(duì)以往的取樣·伺服方式的光學(xué)頭，由于適用本發(fā)明，成為解決光盤傾斜度檢測(cè)課題的一例。
圖23是本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)7的光學(xué)頭的構(gòu)成圖。與圖19圖不同的只是跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置211’，所以，有關(guān)光學(xué)頭構(gòu)成的說(shuō)明予以省實(shí)質(zhì)上。跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置211’，在構(gòu)造上可使用如圖20所示的信號(hào)演算部209的輸出信號(hào)的信號(hào)208e’與信號(hào)208f’，檢測(cè)作為第1跟蹤誤差信號(hào)的信號(hào)TE1，使用208a’、信號(hào)208b’、信號(hào)208c’及信號(hào)208d’的和信號(hào)，檢測(cè)作為第2跟蹤誤差信號(hào)的信號(hào)TE2。
下面說(shuō)明跟蹤檢測(cè)方法。圖24是說(shuō)明光盤的信息磁道的圖。本實(shí)施形態(tài)是取樣·伺服方式的光學(xué)頭，所以，取樣坑槽對(duì)斷續(xù)地形成于信息磁道的光盤進(jìn)行信息的記錄或再生動(dòng)作。這里，所謂取樣坑槽，為了檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)，以2個(gè)坑槽為一對(duì)，沿信息磁道空出一定的間隔、且與信息磁道中心等距離地形成。
在圖24，221、222及223、224分別是記錄信息磁道的中心線、前述取樣坑槽、地址或信息的信息領(lǐng)域，225及226的箭頭表示光點(diǎn)的掃描位置。如果光點(diǎn)在這樣的取樣坑槽上通過(guò)，根據(jù)光點(diǎn)與取樣坑槽的相對(duì)位置檢測(cè)的受光信號(hào)被調(diào)制。
圖25是表示它的調(diào)制情況的圖。即表示有關(guān)各光點(diǎn)掃描位置的被調(diào)制光量的調(diào)制波形、即亦信號(hào)208a’至208f’的和信號(hào)的波形。227是表示沿光點(diǎn)掃描位置225掃描時(shí)檢測(cè)的信號(hào)波形，228是在掃描位置226檢測(cè)的信號(hào)波形，229是當(dāng)掃描位置與信息磁道中心線一致時(shí)檢測(cè)的信號(hào)波形。以往，取樣·伺服方式的跟蹤檢測(cè)，是在光點(diǎn)通過(guò)取樣坑槽222及223時(shí)刻(圖25中以箭頭表示的2光點(diǎn)位置)檢測(cè)信號(hào)被作為取樣點(diǎn)信號(hào)、再根據(jù)這2個(gè)取樣點(diǎn)檢測(cè)信號(hào)值的差檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)，前述跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置211’，進(jìn)行與其以往的取樣·伺服方式的跟蹤檢測(cè)相同的信號(hào)處理，檢測(cè)作為第1及第2跟蹤誤差信號(hào)的信號(hào)TE1及TE2。
下面，對(duì)光盤傾斜度檢測(cè)進(jìn)行說(shuō)明。圖26(a)(b)是通過(guò)數(shù)值計(jì)算將跟蹤誤差信號(hào)的波形模擬處理的結(jié)果，圖26(a)表示無(wú)光盤傾斜時(shí)的波形，圖26(b)表示光盤在半徑方向有0.6度傾斜時(shí)的波形。計(jì)算條件為光源的波長(zhǎng)為660nm，物鏡開口數(shù)為0.6，光盤的基板厚度為0.6mm，信息磁道間距為1.2μm，取樣坑槽長(zhǎng)度及寬度為0.4μm，圖20所示的受光領(lǐng)域208e及208f的信息磁道方向的寬度與光束外形206的直徑之比為0.25。
在圖26(a)，230是第1跟蹤誤差信號(hào)TE1，231是第2跟蹤誤差信號(hào)，232是使用所有208a’至208f’的和信號(hào)檢測(cè)的跟蹤誤差信號(hào)。232與以往的取樣·伺服方式的跟蹤誤差信號(hào)相同，所以稱之為以往的跟蹤誤差信號(hào)。又，同圖中，橫軸表示光點(diǎn)離信息磁道中心的位置，Tp表示信息磁道間距。3個(gè)波形，都表示光點(diǎn)位置與信息磁道中心一致時(shí)與橫軸相交的波形。
在圖26(b)，233表示第1跟蹤誤差信號(hào)TE2，234表示第2跟蹤誤差信號(hào)TE2，235表示前述以往的跟蹤誤差信號(hào)的波形。與圖26(a)不同，這里表示的是，在各波形產(chǎn)生相位偏移、在偏離信息磁道中心的位置與橫軸相交的波形。該相位偏移的大小，以第1跟蹤誤差信號(hào)TE1的波形233為最大，其次是以往的跟蹤誤差信號(hào)的波形235，隨后是第2跟蹤誤差信號(hào)TE2的波系234。
因此，將第2跟蹤誤差信號(hào)TE2、與第1跟蹤誤差信號(hào)TE1或前述以往的跟蹤誤差信號(hào)作相位比較，可檢測(cè)光盤傾斜度。各信號(hào)間產(chǎn)生相位偏移的原因，與在實(shí)施形態(tài)6的說(shuō)明中用圖21敘述的一樣，當(dāng)光點(diǎn)通過(guò)取樣坑槽上時(shí)，檢測(cè)的光束的光強(qiáng)度分布由于光盤傾斜產(chǎn)生的彗形象差的影響而形成非對(duì)稱分布，在前述第1領(lǐng)域與第2領(lǐng)域，其含有非對(duì)稱的光強(qiáng)度分布的量是不同的。
本實(shí)施形態(tài)的光學(xué)頭，是取樣·伺服方式的跟蹤檢測(cè)，所以，使用被檢測(cè)信號(hào)的和信號(hào)檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)，在與信息磁道垂直的方向即使物鏡移動(dòng)，在跟蹤誤差信號(hào)中也不會(huì)產(chǎn)生偏移，又，由于將前述第1及第2領(lǐng)域的形狀做得使與信息磁道垂直的方向長(zhǎng)度比檢測(cè)的光束的直徑長(zhǎng)的形狀，所以，即使光束移動(dòng)、各領(lǐng)域中的光強(qiáng)度分布也不變化。因此，可檢測(cè)不受物鏡移動(dòng)的影響的光盤傾斜度。
又，第2跟蹤誤差信號(hào)TE2，由于光盤傾斜引起的相位偏移小，所以，用這個(gè)信號(hào)進(jìn)行跟蹤控制，在跟蹤控制中，通過(guò)檢測(cè)第1跟蹤誤差信號(hào)TE1或前述以往的跟蹤誤差信號(hào)的值，可檢測(cè)光盤傾斜度。這樣，通過(guò)跟蹤控制，光點(diǎn)被固定于信息磁道，所以，采用與檢測(cè)信號(hào)的直流成分同樣的檢測(cè)方法，可對(duì)2個(gè)信號(hào)的相位進(jìn)行比較。
如上所述，按照本實(shí)施形態(tài)，在取樣·伺服方式的光學(xué)頭，通過(guò)比較第1跟蹤誤差信號(hào)與第2跟蹤誤差信號(hào)的相位，可不設(shè)置光盤傾斜度檢測(cè)專用的檢測(cè)器、進(jìn)行不受物鏡移動(dòng)影響的穩(wěn)定的光盤傾斜度的檢測(cè)。
(實(shí)施形態(tài)8)本實(shí)施形態(tài)，對(duì)以往的3光束跟蹤方式的光學(xué)頭，由于適用本發(fā)明，成為解決光盤傾斜度檢測(cè)課題的一例。
圖27是本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)8的光學(xué)頭的構(gòu)成圖。
對(duì)于與圖19同樣的構(gòu)成要素，帶同樣符號(hào)，說(shuō)明從略。236是將光分路為主光束與2個(gè)輔助光束的衍射元件，237是進(jìn)行信號(hào)放大、演算的信號(hào)演算部，246是跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置。
圖28，是說(shuō)明受光裝置237的各受光單元及信號(hào)演算部238的圖，239及241是3分割受光單元，239a至239c、241a至241c表示3分割受光單元的各受光領(lǐng)域。240是4分割受光單元，242及244是輔助光束，243是主光束，245是245a至245f是放大器，238a’至238d’是從信號(hào)演算部輸出的各信號(hào)。
下面對(duì)具有這樣構(gòu)成的本實(shí)施形態(tài)的光學(xué)頭的動(dòng)作進(jìn)行說(shuō)明。
光源201發(fā)出的光，經(jīng)衍射元件236衍射，被生成作為0次衍射光的主光束、以及作為+1次及-1次衍射光的第1及第2個(gè)輔助光束的2束輔助光束。這3個(gè)光束，一起透過(guò)光束分解器，經(jīng)物鏡204被集光于光盤205，在光學(xué)頭的光軸202上形成主光束的光點(diǎn)，在離開光軸202、附圖上下方向上形成2個(gè)輔助光束的光點(diǎn)。
來(lái)自以光盤205反射的各光點(diǎn)的反射光束，一起再次通過(guò)物鏡204，經(jīng)光束分解器203反射，入射到中繼透鏡206。例如將焦點(diǎn)檢測(cè)方式作為非點(diǎn)象差方式，中繼透鏡206，具有使非點(diǎn)象差發(fā)生的圓柱透鏡的折射力，將光束導(dǎo)入受光裝置237，如圖28所示，主光束入射到4分割受光單元240，第1輔助光束入射到3分割受光單元239，第2個(gè)輔助光束入射到3分割受光單元241。入射到4分割受光單元240的主光束243被4分割受光，通過(guò)如圖示的結(jié)線進(jìn)行的演算，檢測(cè)信號(hào)F1、F2。
又，受光單元239及241的各受光領(lǐng)域，與前述實(shí)施形態(tài)6及7同樣配置，可將入射的光束分割為第1及第2領(lǐng)域進(jìn)行受光，前述第1輔助光束被3分割，受光領(lǐng)域239b對(duì)前述第1領(lǐng)域的光受光，受光領(lǐng)域239a、239c對(duì)前述第2領(lǐng)域的光受光，前述第2個(gè)輔助光束被3分割，受光領(lǐng)域241b對(duì)前述第1領(lǐng)域的光受光，受光領(lǐng)域241a、241c對(duì)前述第2領(lǐng)域的光受光。
通過(guò)如圖示的結(jié)線進(jìn)行的演算及放大器245a、245b、245e及245f，可檢測(cè)信號(hào)238a’至238d’。238a’是第1輔助光束的第1領(lǐng)域的受光信號(hào)，238b’是第1輔助光束的第2領(lǐng)域的受光信號(hào)，238d’是第2個(gè)輔助光束的第1領(lǐng)域的受光信號(hào)，238c’是第2個(gè)輔助光束的第2領(lǐng)域的受光信號(hào)。
跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置246，在構(gòu)成中，使用238a’與信號(hào)238d’，檢測(cè)作為第1跟蹤誤差信號(hào)的信號(hào)TE1，使用238b’與信號(hào)238c’，檢測(cè)作為第2跟蹤誤差信號(hào)的信號(hào)TE2，所以，信號(hào)TE1，TE2可以下式表示。
TE1＝238a’-238d’(數(shù)22)TE2＝238b’-238c’(數(shù)23)光盤傾斜度檢測(cè)裝置212，通過(guò)對(duì)作為第1及第2的跟蹤誤差信號(hào)的信號(hào)TE1與TE2的相位進(jìn)行比較，檢測(cè)光盤傾斜度。
下面，對(duì)光盤傾斜度檢測(cè)作詳細(xì)說(shuō)明。圖29是表示主光束及輔助光束的光點(diǎn)對(duì)信息磁道如何配置的圖，如圖所示，相對(duì)主光束的光點(diǎn)，2個(gè)輔助光束的光點(diǎn)在與信息磁道垂直的方向上按照1/4磁道間距分離配置。
圖30是對(duì)垂直于信息磁道垂直的方向上第1輔助光束光點(diǎn)掃描時(shí)的信號(hào)波形通過(guò)數(shù)值計(jì)算進(jìn)行模擬的結(jié)果。247是信號(hào)238a’的波形，248是信號(hào)238b’的波形，249是信號(hào)238a’與238b’的和信號(hào)的波形。計(jì)算條件為物鏡開口數(shù)為0.6，光源的波長(zhǎng)為660nm，信息磁道間距為1.2μm，作為信息磁道的連續(xù)槽幅為0.4μm，槽深度為1/8波長(zhǎng)，光盤傾斜度在半徑方向?yàn)?.6度。
由于信息磁道寬度狹窄，光盤不傾斜時(shí)，各信號(hào)波形在光點(diǎn)位置處于信息磁道中心時(shí)應(yīng)呈現(xiàn)具最小值的波形，但在圖30中，由于光盤傾斜在各信號(hào)波形出現(xiàn)相位偏移，相位偏移依波形247、波形249、波形248的次序增大。這里，所謂光點(diǎn)位置，指的是光點(diǎn)的光強(qiáng)度峰值位置。
從圖29看出，第2個(gè)輔助光束的光點(diǎn)，相對(duì)第1輔助光束的光點(diǎn)有1/2磁道間距的位置偏移，所以，第2個(gè)輔助光束的各信號(hào)，相對(duì)第1輔助光束的信號(hào)，都有1/2磁道間距的相位差。但是，由光盤傾斜發(fā)生的信號(hào)的相位偏移，其原因出自檢測(cè)光束的光強(qiáng)度分布的非對(duì)稱性，所以，對(duì)第1及第2的輔助光束的信號(hào)是一樣發(fā)生的。
因此，使用第1輔助光束的信號(hào)238a’及第2個(gè)輔助光束的信號(hào)238d’檢測(cè)的第1跟蹤誤差信號(hào)TE1、以及使用第1輔助光束的信號(hào)238b’及第2個(gè)輔助光束的信號(hào)238c’檢測(cè)的第2跟蹤誤差信號(hào)TE2，與圖22(b)中實(shí)施形態(tài)6的2個(gè)跟蹤誤差信號(hào)的波形219及220相同，成為對(duì)應(yīng)于光盤傾斜產(chǎn)生相位差的信號(hào)。這樣，通過(guò)對(duì)第1及第2的跟蹤誤差信號(hào)的信號(hào)TE1及信號(hào)TE2的相位進(jìn)行比較，可檢測(cè)光盤傾斜度。
此外，在以上說(shuō)明中，第1跟蹤誤差信號(hào)是使用第1領(lǐng)域中檢測(cè)的信號(hào)238a’與信號(hào)238d’檢測(cè)的，如圖30所示，波形249相對(duì)于波形248具有相位差，因此，使用在第1及第2領(lǐng)域檢測(cè)的信號(hào)的和信號(hào)，即亦，使用信號(hào)238a’與信號(hào)238b’的和信號(hào)、及信號(hào)238ac’與信號(hào)238d’的和信號(hào)，能檢測(cè)第1跟蹤誤差信號(hào)，也同樣能檢測(cè)光盤傾斜度。
又，3光束跟蹤方式的跟蹤檢測(cè)，利用輔助光束在信息磁道被光強(qiáng)度調(diào)制進(jìn)行信號(hào)檢測(cè)，因此，即使物鏡在垂直于信息磁道的方向移動(dòng)，跟蹤誤差信號(hào)中也不會(huì)產(chǎn)生偏移，又，分割檢測(cè)光束的第1及第2領(lǐng)域的形狀被做成垂直于信息磁道的方向的長(zhǎng)度大于檢測(cè)光束的直徑的形狀，所以，即使光束移動(dòng)，各領(lǐng)域中的光強(qiáng)度分布也不變化。這樣，可進(jìn)行不受物鏡移動(dòng)影響的光盤傾斜度檢測(cè)。
如上所述，按照本實(shí)施形態(tài)，在3光束跟蹤方式的光學(xué)頭，通過(guò)對(duì)第1跟蹤誤差信號(hào)及第2跟蹤誤差信號(hào)進(jìn)行相位比較，不用專用的光盤傾斜度檢測(cè)器，即可進(jìn)行不受物鏡移動(dòng)影響的穩(wěn)定的光盤傾斜度的檢測(cè)。
(實(shí)施形態(tài)9)本實(shí)施形態(tài)，是進(jìn)行使前述各實(shí)施形態(tài)的光學(xué)頭中檢測(cè)的光盤傾斜度對(duì)應(yīng)的信號(hào)具有更好的信號(hào)特性的信號(hào)處理的一例。該信號(hào)處理裝置的說(shuō)明，包括前述光學(xué)頭的各構(gòu)成，例如，圖23中的光盤傾斜度檢測(cè)裝置212的內(nèi)部的內(nèi)容。
光盤傾斜度的檢測(cè)，通過(guò)測(cè)定前述前述第1跟蹤誤差信號(hào)TE1及第2跟蹤誤差信號(hào)TE2的相位差進(jìn)行。用圖26(b)對(duì)該相位差測(cè)定進(jìn)行說(shuō)明。在圖26(b)，波形233表示信號(hào)TE1，波形234是信號(hào)TE2，波形235是信號(hào)TE1與TE2的和信號(hào)，但是，波形234，如果對(duì)與橫軸相交時(shí)的波形233或波形235的信號(hào)進(jìn)行測(cè)定，那么，對(duì)應(yīng)于相對(duì)波形234的相位差的方向，前述信號(hào)值發(fā)生正負(fù)變化，該測(cè)定成為相位差測(cè)定法之一。
把計(jì)算與這樣測(cè)定的相位差相當(dāng)?shù)男盘?hào)值與光盤傾斜量的關(guān)系結(jié)果表示于圖31。計(jì)算條件與圖26的計(jì)算同樣。橫軸表示光盤傾斜量，縱軸表示前述信號(hào)值，考慮作圖比例，讓信號(hào)值帶適當(dāng)?shù)南禂?shù)。250表示前述信號(hào)值原來(lái)的計(jì)算結(jié)果，251表示將前述信號(hào)值按信號(hào)TE1的振幅值正規(guī)化后的計(jì)算結(jié)果。由于信號(hào)TE1對(duì)應(yīng)著光盤傾斜度減低振幅，圖象曲線250的線性不好，通過(guò)按信號(hào)TE1的振幅值正規(guī)化，圖象曲線251的線性可得到改善。此外，對(duì)于實(shí)現(xiàn)以振幅值進(jìn)行的前述信號(hào)值的正規(guī)化的具體裝置，可采用一般的電氣信號(hào)處理裝置，說(shuō)明從略。
如上所述，信號(hào)TE2，測(cè)定與基準(zhǔn)電壓相交時(shí)的信號(hào)TE1的信號(hào)值，由于將該信號(hào)值以信號(hào)TE1的振幅值正規(guī)化的信號(hào)作成光盤傾斜度檢測(cè)信號(hào)，所以，能得到針對(duì)光盤傾斜量的線性好的光盤傾斜度檢測(cè)信號(hào)。
(實(shí)施形態(tài)10)本實(shí)施形態(tài)，是使用以前述各實(shí)施形態(tài)6至9的光學(xué)頭檢測(cè)的第1及第2跟蹤誤差信號(hào)及光盤傾斜度檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行跟蹤控制中生成合適的控制信號(hào)的光學(xué)頭的一例。
圖32是表示本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)10的光學(xué)頭的構(gòu)成圖，與前述各實(shí)施形態(tài)共通的構(gòu)成要素帶同樣符號(hào)、又，除了必須說(shuō)明的部分、其余都省實(shí)質(zhì)上的構(gòu)成圖。252是物鏡移動(dòng)裝置，253是跟蹤控制信號(hào)生成裝置，254是跟蹤控制裝置。光盤傾斜度檢測(cè)裝置212，輸出光盤傾斜度檢測(cè)信號(hào)TLT、第1及第2跟蹤誤差信號(hào)的信號(hào)TE1、TE2。這3個(gè)信號(hào)，被輸入跟蹤控制信號(hào)生成裝置253，在那里進(jìn)行演算，作為跟蹤控制信號(hào)TE輸出，信號(hào)TE，被作為跟蹤控制裝置254的控制信號(hào)使用。跟蹤控制裝置254，驅(qū)動(dòng)物鏡移動(dòng)裝置252，對(duì)物鏡204的位置進(jìn)行控制，使光點(diǎn)能夠追隨信息磁道的中心。
圖33是說(shuō)明跟蹤控制信號(hào)生成裝置253的構(gòu)成圖，255是使信號(hào)的振幅衰減的衰減器，256是差分放大器。衰減器255可根據(jù)信號(hào)TLT的大小調(diào)整輸入信號(hào)的衰減率，依此改變信號(hào)TE1的振幅，差分放大器256從信號(hào)TE2以振幅變更后的信號(hào)TE1進(jìn)行差分并輸出信號(hào)TE。
參照?qǐng)D26(b)對(duì)具有以上構(gòu)成的本實(shí)施形態(tài)進(jìn)行說(shuō)明。波形233是信號(hào)TE1，波形234是信號(hào)TE2，由于2波形存在相位差，可從波形234去除波形233，可生成使波形234向左移動(dòng)的信號(hào)波形。為此，如果調(diào)整波形233的振幅，從波形234去除，可將任意的相位變化加到演算后的波形。
即，按照信號(hào)TLT用衰減器255對(duì)信號(hào)TE1的振幅進(jìn)行調(diào)整，用差分放大器256從信號(hào)TE2去除，可生成相對(duì)信號(hào)TE2具有任意相位差的信號(hào)TE。這樣，信號(hào)TE的波形與基準(zhǔn)電壓相交的點(diǎn)，可任意地設(shè)定在信息磁道中心的周圍，因此，通過(guò)使用該信號(hào)TE進(jìn)行跟蹤控制，可任意設(shè)定跟蹤控制位置。
因此，通過(guò)預(yù)先對(duì)由信號(hào)TLT調(diào)整的衰減器255的衰減率進(jìn)行適當(dāng)調(diào)整，可使用信號(hào)TLT補(bǔ)正由光盤傾斜產(chǎn)生的光點(diǎn)位置與信息磁道中心的位置偏移，并進(jìn)行跟蹤控制。
如上所述，按照本實(shí)施形態(tài)的光學(xué)頭，檢測(cè)半徑方向的光盤傾斜度，采用該光盤傾斜度檢測(cè)信號(hào)，補(bǔ)正由光盤傾斜產(chǎn)生的信息磁道中心與光點(diǎn)位置的偏移，可實(shí)現(xiàn)高精度的跟蹤控制。
又，以往的跟蹤控制位置的調(diào)整，通過(guò)在跟蹤控制信號(hào)加上直流偏置進(jìn)行，所以，存在控制系統(tǒng)不穩(wěn)定的課題，按照本實(shí)施形態(tài)，不用加上直流偏置，通過(guò)偏移控制信號(hào)的相位，調(diào)整控制位置，所以，可實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的跟蹤控制。
又，生成跟蹤控制信號(hào)的場(chǎng)合，如同以往的技術(shù)，使用受光的全領(lǐng)域的信號(hào)的場(chǎng)合，以徑向傾斜進(jìn)行的補(bǔ)正程度，比之以前述實(shí)施形態(tài)得到的光盤傾斜度為基礎(chǔ)的場(chǎng)合，可進(jìn)行更大的修正。
(實(shí)施形態(tài)11)本實(shí)施形態(tài)是將本發(fā)明應(yīng)用于進(jìn)行光盤接線方向的傾斜度檢測(cè)的光學(xué)頭的一例。
圖34是本發(fā)明實(shí)施形態(tài)11的光學(xué)頭的構(gòu)成圖。對(duì)于與前述實(shí)施形態(tài)相同的構(gòu)成要素，帶上同樣符號(hào)，又，由于焦點(diǎn)檢測(cè)裝置及跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置與前述各實(shí)施形態(tài)相同，在此予以省實(shí)質(zhì)上。257是受光裝置，258是信號(hào)演算部，259是光盤傾斜度檢測(cè)裝置。光源1發(fā)出的光經(jīng)光盤205反射，該光被導(dǎo)入受光裝置257前的說(shuō)明與前述各實(shí)施形態(tài)相同，在此予以省實(shí)質(zhì)上。又，光盤采用其信息磁道形成坑槽的類型。
圖35是說(shuō)明受光裝置257與信號(hào)演算部258的圖。256是入射光束的外形，257a至257c是受光裝置257的各受光領(lǐng)域，258a、258b是放大器，S1，S2是信號(hào)演算部258輸出的信號(hào)。受光裝置257的受光領(lǐng)域，被3分割為作為平行于信息磁道的方向上長(zhǎng)而且位于光束中央部的第1領(lǐng)域的受光領(lǐng)域257b、以及作為第1領(lǐng)域以外的領(lǐng)域的第2領(lǐng)域的受光領(lǐng)域257a及257c，各受光信號(hào)通過(guò)結(jié)線相加并經(jīng)放大器258a、258b作為信號(hào)S1，S2輸出。信號(hào)S1由前述第1領(lǐng)域的受光信號(hào)構(gòu)成，信號(hào)S2由前述第2領(lǐng)域的受光信號(hào)構(gòu)成。
圖36是表示當(dāng)光盤存在接線方向傾斜(在含有物鏡的光軸與信息磁道的接線的平面內(nèi)光盤的法線含有的光盤傾斜)時(shí)光點(diǎn)通過(guò)坑槽時(shí)檢測(cè)的信號(hào)的波形圖。260是前述信號(hào)S1，261是前述信號(hào)S2的波形。信號(hào)S1相對(duì)信號(hào)S2存在波谷位置的偏移，其出現(xiàn)相位偏移的原因是光盤傾斜發(fā)生的彗形象差。以光盤在接線方向的傾斜度檢測(cè)的光束內(nèi)的光強(qiáng)度分布，在光點(diǎn)通過(guò)坑槽時(shí)呈現(xiàn)如圖21所示那樣的非對(duì)稱分布，這樣的非對(duì)稱分布發(fā)生在與信息磁道平行的方向上。
本實(shí)施形態(tài)的第1領(lǐng)域及第2領(lǐng)域，在與信息磁道平行的方向上是長(zhǎng)的形狀，所以，在第1與第2領(lǐng)域，前述非對(duì)稱的光強(qiáng)度分布含量是不同的，導(dǎo)致信號(hào)S1與信號(hào)S2發(fā)生相位差。又，光盤傾斜為逆方向時(shí)，信號(hào)的相位偏移也產(chǎn)生在逆方向上，這與前述實(shí)施形態(tài)是一樣的。因此，光盤傾斜度檢測(cè)裝置259，通過(guò)檢測(cè)信號(hào)S1與S2的相位差，可檢測(cè)光盤傾斜度。
圖37是用來(lái)說(shuō)明檢測(cè)信號(hào)S1與S2的方法之一例的圖。波形262是信號(hào)S1的微分波形，波形263是信號(hào)S2的微分波形，264是基準(zhǔn)電壓。波形262及波形263，是在以基準(zhǔn)電壓264為中心的正負(fù)方向上幾乎對(duì)稱變化的信號(hào)，所以，通過(guò)測(cè)定波形263與基準(zhǔn)電壓264相交時(shí)的波形262的信號(hào)值，可得到按照2個(gè)微分波形的相位差方向發(fā)生正負(fù)變化的信號(hào)。這些微分波形的相位差與信號(hào)S1及信號(hào)S2的相位差對(duì)應(yīng)，因此，這個(gè)信號(hào)就是光盤傾斜度檢測(cè)信號(hào)。
如上所述，按照本實(shí)施形態(tài)，對(duì)于形成坑槽的光盤，當(dāng)光點(diǎn)通過(guò)坑槽時(shí)，透過(guò)對(duì)第1領(lǐng)域的檢測(cè)信號(hào)與第2領(lǐng)域的檢測(cè)信號(hào)的相位進(jìn)行比較，可檢測(cè)光盤在接線方向上的傾斜度。
又，本實(shí)施形態(tài)是以坑槽形成信息磁道的，但以連續(xù)槽及坑槽形成的光盤也可以。主要是，信息磁道的全部或一部以坑槽形成就可。
又，如果將本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)6至8表示的光學(xué)頭的半徑方向的傾斜檢測(cè)與實(shí)施形態(tài)11中表示的光學(xué)頭構(gòu)成的光盤的接線方向的傾斜檢測(cè)復(fù)合化，則不用在光學(xué)頭的外部設(shè)置專用的光盤傾斜度檢測(cè)器，就可檢測(cè)所有方向的光盤傾斜度。
又，本發(fā)明不限于前述實(shí)施形態(tài)的構(gòu)成，對(duì)于能夠?qū)z測(cè)跟蹤誤差信號(hào)用的受光裝置分成前述那樣形狀的第1領(lǐng)域及第2領(lǐng)域進(jìn)行受光的構(gòu)成的光學(xué)頭，可容易地應(yīng)用本發(fā)明。
又，在前述實(shí)施形態(tài)1至5，物鏡4相當(dāng)于本發(fā)明的集光裝置，受光裝置8、30、47、54相當(dāng)于本發(fā)明的受光裝置，跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置9，55及58相當(dāng)于本發(fā)明的跟蹤誤差檢測(cè)裝置，光學(xué)裝置6、6’相當(dāng)于本發(fā)明的衰減裝置。
又，光學(xué)裝置6中的光學(xué)功能領(lǐng)域11相當(dāng)于本發(fā)明的減光領(lǐng)域，別的部分相當(dāng)于非減光領(lǐng)域，光學(xué)裝置6’相當(dāng)于本發(fā)明的分路裝置。又，受光裝置30中的受光單元34至37相當(dāng)于本發(fā)明的受光單元的第1子受光領(lǐng)域部分。又，受光單元34至37相當(dāng)于使本發(fā)明的輔助光束的光受光的部分。又，受光單元31，33相當(dāng)于本發(fā)明的受光單元的第2子受光領(lǐng)域。又，受光單元31，33相當(dāng)于使本發(fā)明的主光束的光受光的部分。
又，在受光裝置47，4分割受光單元49相當(dāng)于使本發(fā)明的受光單元的主光束的光受光的部分，3分割受光單元48、50相當(dāng)于本發(fā)明的受光單元的輔助光束的光受光的部分。又，受光領(lǐng)域48b、50b相當(dāng)于本發(fā)明的第1子受光領(lǐng)域，受光領(lǐng)域48a、48c、50a、50c相當(dāng)于本發(fā)明的第2子受光領(lǐng)域。
又，在受光單元54，受光單元72、73a、81a、81b、82a、82b、83a、83b相當(dāng)于本發(fā)明的受光單元的第1子受光領(lǐng)域部分。又，受光單元70、73b、73c、80a、80b、83c、83d、83e、83f相當(dāng)于本發(fā)明的受光單元的第2子受光領(lǐng)域的部分。
又，齒形標(biāo)記107及108相當(dāng)于本發(fā)明的一對(duì)標(biāo)記。
又，在圖41中位置A，取樣點(diǎn)信號(hào)S，相當(dāng)于通過(guò)第10的本發(fā)明的跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置被采用、從一對(duì)標(biāo)記一方的反射光束得到的前述受光信號(hào)，在圖41中位置B，取樣點(diǎn)信號(hào)S，相當(dāng)于通過(guò)第10的本發(fā)明的跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置被采用、從一對(duì)標(biāo)記另一方的反射光束得到的前述受光信號(hào)。
又，在受光裝置54，受光單元56a、56b受光的受光信號(hào)，以及受光單元80a、81a、82a受光的受光信號(hào)，以及受光單元83a、83c、83e受光的受光信號(hào)相當(dāng)于本發(fā)明的第1子受光信號(hào)，受光單元56c、56d受光的受光信號(hào)，以及受光單元80b、81b、82b、受光單元83b、83d、83f受光的受光信號(hào)相當(dāng)于本發(fā)明的第2子受光信號(hào)。
在前述實(shí)施形態(tài)6至11，物鏡204相當(dāng)于本發(fā)明的集光裝置，受光裝置208、237、257相當(dāng)于本發(fā)明的受光裝置，跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置211、211’相當(dāng)于本發(fā)明的跟蹤誤差檢測(cè)裝置，光盤傾斜度檢測(cè)裝置212、259相當(dāng)于本發(fā)明的光盤傾斜度檢測(cè)裝置。
又，在受光裝置208，受光領(lǐng)域208f及208e相當(dāng)于本發(fā)明的第1子受光領(lǐng)域，受光領(lǐng)域208a、208b、208c、208d相當(dāng)于本發(fā)明的第2子受光領(lǐng)域。
又，在受光裝置237，受光領(lǐng)域239b及241b相當(dāng)于本發(fā)明的第1子受光領(lǐng)域，受光領(lǐng)域239a、239c、241a、241c相當(dāng)于本發(fā)明的第2子受光領(lǐng)域。
又，在受光裝置257，受光領(lǐng)域257b相當(dāng)于本發(fā)明的第1子受光領(lǐng)域，受光領(lǐng)域257a、257c相當(dāng)于本發(fā)明的第2子受光領(lǐng)域。
又，在受光裝置237及257，3分割受光單元239及241相當(dāng)于使本發(fā)明的受光裝置的、2個(gè)輔助光束的光受光的部分，4分割受光單元240相當(dāng)于使本發(fā)明的受光裝置的、至少2個(gè)輔助光束的光受光的部分。
又，取樣坑槽222及223的一組，是本發(fā)明的一對(duì)標(biāo)記的一例。
又，在實(shí)施形態(tài)7，在通過(guò)取樣坑槽222的時(shí)刻取樣點(diǎn)的檢測(cè)信號(hào)，成為第21的本發(fā)明的、從一對(duì)標(biāo)記的一方的反射光束得到的前述受光信號(hào)的一例，在通過(guò)取樣坑槽223的時(shí)刻取樣點(diǎn)的檢測(cè)信號(hào)，成為第21的本發(fā)明的、從一對(duì)標(biāo)記的另一方的反射光束得到的前述受光信號(hào)的一例。
又，信號(hào)208a’、208e’、信號(hào)208d’是本發(fā)明的第1子受光信號(hào)的一例，信號(hào)208b’、208f’、信號(hào)208c’是本發(fā)明的第2子受光信號(hào)的一例。
又，跟蹤控制信號(hào)生成裝置253是本發(fā)明的跟蹤控制信號(hào)生成裝置的一例，跟蹤控制裝置234是本發(fā)明的跟蹤控制裝置的一例。
又，本發(fā)明，也可實(shí)現(xiàn)作為具有本發(fā)明的光學(xué)頭、在光盤中記錄信息用的光盤記錄裝置。
又，本發(fā)明，也可實(shí)現(xiàn)作為具有本發(fā)明的光學(xué)頭、從光盤中再生信息用的光盤再生裝置。
又，本發(fā)明，也可實(shí)現(xiàn)作為具有本發(fā)明的光學(xué)頭、在光盤中記錄或再生信息用的光盤記錄再生裝置。
又，本發(fā)明的光盤，以光學(xué)裝置進(jìn)行信息的記錄或再生，但不以其構(gòu)成及型式為限制，還可列舉CD、CD-R、CD-RW、DVD、DVD-R、DVD-RW、DVD-ROM等例子。
如上所述，按照本發(fā)明，可抑制光盤傾斜產(chǎn)生的跟蹤誤差信號(hào)的相位偏移，實(shí)現(xiàn)跟蹤控制精度特別高的光學(xué)頭。
按照本發(fā)明，可實(shí)現(xiàn)不用專用的光盤傾斜度檢測(cè)器，不易受物鏡移動(dòng)的影響，高精度的光盤半徑方向或接線方向的傾斜度檢測(cè)。又，即使光盤形狀存在差異，也能不會(huì)減低檢測(cè)精度地進(jìn)行穩(wěn)定的檢測(cè)。
權(quán)利要求
1.一種光學(xué)頭，其特征在于，用于將信息記錄到光盤、及/或用于再生記錄于所述光盤上的信息，包括將進(jìn)行信息的記錄或再生的主光束，以及作為檢測(cè)所述主光束對(duì)所述光盤的信息磁道的位置偏移的跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)用光束的2束輔助光束集光于所述光盤的集光裝置，分別收受從所述光盤反射的反射光束的受光裝置，根據(jù)所述2束輔助光束的受光信號(hào)之差檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)的跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置；所述受光裝置，具有將光束的中央部與周邊部分離、使所述2束輔助光束的反射光束分別受光的多個(gè)受光領(lǐng)域，使所述光束的中央部受光的受光領(lǐng)域的形狀，呈現(xiàn)長(zhǎng)邊的長(zhǎng)度等于或大于入射到所述受光裝置的光束的直徑，短邊的長(zhǎng)度短于入射到所述受光裝置的光束的直徑的略長(zhǎng)方形，配置中使其長(zhǎng)邊向著所述信息磁道的垂直方向，所述跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置，通過(guò)電氣演算使所述光束的中央部受光的所述受光領(lǐng)域的信號(hào)的收得量衰減、檢測(cè)所述跟蹤誤差信號(hào)，使所述光盤傾斜時(shí)產(chǎn)生的、相對(duì)所述信息磁道位置的所述跟蹤誤差信號(hào)的相位偏移減低。
2.一種光學(xué)頭，其特征在于，用于將信息記錄于具有記錄信息的信息磁道、及離開前述信息磁道的接線方向規(guī)定距離、且與前述信息磁道垂直、在不同方向上相互距離相等處的至少一對(duì)標(biāo)記的光盤，及/或用于再生記錄于所述光盤的信息，包括集光于所述光盤、生成光點(diǎn)的集光裝置，收受從所述光盤反射的反射光束的受光裝置，通過(guò)從所述受光裝置受光的信號(hào)檢測(cè)來(lái)自所述一對(duì)標(biāo)記的反射光量之差、檢測(cè)所述光點(diǎn)與所述信息磁道的位置偏移的跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置；所述受光裝置，具有使所述反射光束的中央部與周邊部分離、受光的多個(gè)受光領(lǐng)域，使所述反射光束的中央部受光的受光領(lǐng)域的形狀，呈現(xiàn)長(zhǎng)邊的長(zhǎng)度等于或大于入射到所述受光裝置的光束的直徑，短邊的長(zhǎng)度短于入射到所述受光裝置的光束的直徑的略長(zhǎng)方形，配置中使其長(zhǎng)邊向著所述信息磁道的垂直方向，所述跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置，通過(guò)使所述反射光束的中央部受光的所述受光領(lǐng)域的信號(hào)的收得量衰減、檢測(cè)所述跟蹤誤差信號(hào)，使所述光盤傾斜時(shí)產(chǎn)生的、相對(duì)所述信息磁道位置的所述跟蹤誤差信號(hào)的相位偏移減低。
3.一種光學(xué)頭，其特征在于，用于將信息記錄于具有記錄信息的信息磁道、及將前述信息磁道的導(dǎo)向槽斷續(xù)地切斷一部分，其間離開前述信息磁道的接線方向規(guī)定距離、且與前述信息磁道垂直、在不同方向上相互距離相等處的至少一對(duì)標(biāo)記的光盤，及/或用于再生記錄于所述光盤的信息，包括集光于所述光盤、生成光點(diǎn)的集光裝置，收受從具有以平行于所述信息磁道的分割線分成的2個(gè)受光領(lǐng)域的所述光盤反射的反射光束的受光裝置，根據(jù)當(dāng)所述光點(diǎn)通過(guò)所述導(dǎo)向槽時(shí)、及通過(guò)所述一對(duì)標(biāo)記時(shí)在所述2個(gè)受光領(lǐng)域檢測(cè)到的信號(hào)之差檢測(cè)所述光點(diǎn)及所述信息磁道的位置偏移的跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置；所述受光裝置，還具有使所述反射光束的中央部與周邊部分離、受光的多個(gè)受光領(lǐng)域，使所述反射光束的中央部受光的受光領(lǐng)域的形狀，呈現(xiàn)長(zhǎng)邊的長(zhǎng)度等于或大于入射到所述受光裝置的光束的直徑，短邊的長(zhǎng)度短于入射到所述受光裝置的光束的直徑的略長(zhǎng)方形，配置中使其長(zhǎng)邊向著所述信息磁道的垂直方向，所述跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置，通過(guò)使光束的中央部受光的所述受光領(lǐng)域的信號(hào)的收得量衰減、檢測(cè)所述跟蹤誤差信號(hào)，使所述光盤傾斜時(shí)產(chǎn)生的、相對(duì)所述信息磁道位置的所述跟蹤誤差信號(hào)的相位偏移減低。
4.一種光學(xué)頭，其特征在于，用于將信息記錄于具有記錄信息的信息磁道、及將前述信息磁道的導(dǎo)向槽斷續(xù)地切斷一部分，其間具有鏡面部的光盤，及/或用于再生記錄于所述光盤的信息，包括集光于所述光盤、生成光點(diǎn)的集光裝置，收受從具有以平行于所述信息磁道的分割線分成的2個(gè)受光領(lǐng)域的所述光盤反射的反射光束的受光裝置，根據(jù)當(dāng)所述光點(diǎn)通過(guò)所述導(dǎo)向槽時(shí)、及通過(guò)所述鏡面部時(shí)在所述2個(gè)受光領(lǐng)域檢測(cè)到的信號(hào)之差檢測(cè)所述光點(diǎn)及所述信息磁道的位置偏移的跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置；所述受光裝置，還具有使所述反射光束的中央部與周邊部分離、受光的多個(gè)受光領(lǐng)域，使所述反射光束的中央部受光的受光領(lǐng)域的形狀，呈現(xiàn)長(zhǎng)邊的長(zhǎng)度等于或大于入射到所述受光裝置的光束的直徑，短邊的長(zhǎng)度短于入射到所述受光裝置的光束的直徑的略長(zhǎng)方形，配置中使其長(zhǎng)邊向著所述信息磁道的垂直方向，所述跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置，通過(guò)使光束的中央部受光的所述受光領(lǐng)域的信號(hào)的收得量衰減、檢測(cè)所述跟蹤誤差信號(hào)，使所述光盤傾斜時(shí)產(chǎn)生的、相對(duì)所述信息磁道位置的所述跟蹤誤差信號(hào)的相位偏移減低。
5.一種光盤記錄裝置，其特征在于，包括權(quán)利要求1至4中的任一項(xiàng)的本發(fā)明的光學(xué)頭。
6.一種光盤再生裝置，其特征在于，包括權(quán)利要求1至4中的任一項(xiàng)的本發(fā)明的光學(xué)頭。
7.一種光盤記錄再生裝置，其特征在于，包括權(quán)利要求1至4中的任一項(xiàng)的本發(fā)明的光學(xué)頭。
全文摘要
光盤由于在其半徑方向傾斜時(shí)發(fā)生的彗形象差的影響引起跟蹤信號(hào)產(chǎn)生相位偏移，使跟蹤控制的精度減低。在光學(xué)頭中設(shè)置集光于光盤的物鏡(4)、收受從光盤反射的反射光束、獲得受光信號(hào)的受光裝置(8)、從受光信號(hào)中檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)的跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)裝置(9)、以及使入射到受光裝置(8)的反射光束中、用于檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)的跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)用光束的中央部的領(lǐng)域的光量衰減的光學(xué)裝置(6)。
文檔編號(hào)G11B7/095GK1725318SQ20051008146
公開日2006年1月25日 申請(qǐng)日期2001年6月22日 優(yōu)先權(quán)日2000年6月26日
發(fā)明者荒井昭浩, 林卓生, 中村徹, 永田貴之 申請(qǐng)人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會(huì)社