專利名稱：光盤設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種光盤設(shè)備，在從具有記錄在兩個(gè)或更多記錄層中的信息的光盤再現(xiàn)信息時(shí)，該設(shè)備能夠以很小的串?dāng)_簡(jiǎn)化信號(hào)再現(xiàn)系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
用作信息記錄介質(zhì)的光盤可以是以CD和DVD-ROM為代表的單放型、以CD-R和DVD-R為代表的一次寫入型和用于計(jì)算機(jī)的外部存儲(chǔ)器和記錄-再現(xiàn)視頻(視頻記錄)的可重寫型。
目前，為了提高現(xiàn)有的標(biāo)準(zhǔn)DVD的記錄容量，正在研究將記錄層的數(shù)目提高到兩層或更多層。為此，有必要將記錄層之間的間隔層做得比現(xiàn)有的標(biāo)準(zhǔn)DVD中的間隔層更薄。但是，眾所周知，當(dāng)間隔層較薄時(shí)，層間的串?dāng)_會(huì)增加。
另外，眾所周知，再現(xiàn)第一記錄層時(shí)在第二記錄層中產(chǎn)生的串?dāng)_與再現(xiàn)第二層時(shí)在第一層中產(chǎn)生的串?dāng)_之間的差會(huì)有一個(gè)極大變化(倍率)。這降低了通過將散光像差方法和光點(diǎn)尺寸方法相結(jié)合作為聚焦誤差檢測(cè)系統(tǒng)的利用正負(fù)一階散射光的信號(hào)再現(xiàn)系統(tǒng)中的零階光的效率和檢測(cè)性能。
在下一代DVD(下面稱作HD DVD)中，如果為了提高記錄容量而將間隔層作得比具有兩個(gè)或更多記錄層的標(biāo)準(zhǔn)DVD中的現(xiàn)有雙層DVD-ROM中的間隔層薄，則會(huì)產(chǎn)生來自間隔層的串?dāng)_增加并且無法在特定的聚焦誤差檢測(cè)系統(tǒng)中獲得最佳再現(xiàn)信號(hào)的問題。
當(dāng)串?dāng)_差較大時(shí)，有必要提高信號(hào)再現(xiàn)系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)范圍。這提高了信號(hào)再現(xiàn)系統(tǒng)的成本并提高噪聲電平。
發(fā)明概述根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提供一種光盤設(shè)備，包括光源；物鏡，將來自光源的光會(huì)聚到具有至少兩個(gè)記錄層的記錄介質(zhì)的至少一個(gè)記錄層上；聚光鏡，對(duì)從具有至少兩個(gè)記錄層的記錄介質(zhì)的一個(gè)記錄層反射的光進(jìn)行預(yù)定的會(huì)聚；和光檢測(cè)器，該光檢測(cè)器具有一個(gè)光接收表面，接收從具有至少兩個(gè)記錄層的記錄介質(zhì)的一個(gè)記錄層反射的光，并輸出與光強(qiáng)度相對(duì)應(yīng)的信號(hào)，所述光接收表面位于距聚光鏡的焦點(diǎn)特定距離之處。


結(jié)合在說明書中作為其一部分的附圖示出了本發(fā)明的實(shí)施例，并且結(jié)合上面的概述和下面對(duì)實(shí)施例的詳細(xì)描述，用來說明本發(fā)明的原理。
圖1中的示意圖說明了適用于根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的光學(xué)頭單元的記錄介質(zhì)(光盤)的一個(gè)例子；圖2中的示意圖說明了根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的光學(xué)頭單元的關(guān)鍵部分；圖3A和3B中的示意圖說明了當(dāng)利用圖2中所示的光學(xué)頭單元從兩個(gè)記錄層獲得反射激光束時(shí)從間隔層產(chǎn)生串?dāng)_的原因；圖4中的圖表說明了參照?qǐng)D3說明的來自間隔層的串?dāng)_隨光盤的記錄層之間的間隔層距離的厚度和光檢測(cè)器的位置的變化；圖5示出了根據(jù)參照?qǐng)D3說明的來自間隔層的串?dāng)_值限定的光檢測(cè)器的光接收表面的優(yōu)選位置的例子；圖6中的圖表說明了由于在參照?qǐng)D5說明的位置設(shè)置光檢測(cè)器而對(duì)來自間隔層的串?dāng)_的抑制；圖7中的示意圖示出了滿足參照?qǐng)D4至圖6說明的光檢測(cè)器的優(yōu)選位置條件的光學(xué)頭單元的一個(gè)例子；以及圖8中的示意圖示出了滿足參照?qǐng)D4至圖6說明的光檢測(cè)器的優(yōu)選位置條件的光學(xué)頭單元的一個(gè)例子。
具體實(shí)施例方式
下面將結(jié)合附圖詳細(xì)說明本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例。
圖1是一個(gè)光盤的示意圖，該光盤適合于用后面將參照?qǐng)D2說明的本發(fā)明的光學(xué)頭單元記錄并再現(xiàn)信息。
如圖1中所示，光盤(記錄介質(zhì))1具有位于由聚碳酸酯制成的第一襯底2上的包括相位改變記錄膜的第一信息記錄層3。
在第一信息記錄層3上，疊置了間隔層4，該間隔層4具有相對(duì)于從光學(xué)頭單元11的半導(dǎo)體激光單元20發(fā)射的激光束的波長(zhǎng)的預(yù)定透射率。在間隔層4上，疊置了第二信息記錄層5。間隔層4通常由粘合劑或紫外線硬化樹脂制成。第二信息記錄層5被由聚碳酸酯制成的第二襯底6覆蓋。
在光盤1中，信息記錄層3和5可以是由金屬制成的反射膜構(gòu)成的單放(只讀)層，或者是由相位改變膜構(gòu)成的記錄-再現(xiàn)(可重寫)層。另外，在光盤1中，兩個(gè)記錄層3和5中可以只有一個(gè)是單放層，而另一個(gè)可以是記錄-再現(xiàn)層。
如上所述，光盤1可以通過順序疊置第一襯底2和第二襯底6來形成，或通過用粘性材料將具有預(yù)定厚度的信息記錄層3(或5)的兩個(gè)襯底面對(duì)面粘在一起而形成。具有形成在其一個(gè)側(cè)面上的信息記錄層的每個(gè)襯底約為0.6mm厚，整個(gè)光盤約為1.2mm厚(襯底的參考厚度)。
光盤1是所謂的單面雙層盤。第一信息記錄層3是半透明的，具有相對(duì)于從半導(dǎo)體激光單元20發(fā)射的激光束的波長(zhǎng)的預(yù)定透射率。因此，第一信息記錄層3可以反射一定量的光并透射剩余量的光。這樣，當(dāng)光從襯底2的方向被輻射到光盤1時(shí)，通過聚焦調(diào)節(jié)到第一和第二記錄層3和5之一(通過控制物鏡24的位置，使得物鏡24與光盤1之間相對(duì)于激光束100通過物鏡24會(huì)聚的會(huì)聚位置的距離與距記錄層3和5之一的距離相同)可以將信息記錄到信息記錄層3和5之一上，或者可以從一個(gè)記錄層再現(xiàn)信息。
間隔層4具有在再現(xiàn)一個(gè)信息記錄層3(或5)的信息時(shí)光學(xué)地打斷來自另一個(gè)信息記錄層5(或3)的串?dāng)_的功能。串?dāng)_是從不同信息層泄露的泄露光(束)。在這個(gè)意義上，兩個(gè)信息記錄層3和5之間的間距最好設(shè)置得盡可能的遠(yuǎn)，間隔層4最好比較厚。但是，在這種情況下，用于記錄和再現(xiàn)的光學(xué)系統(tǒng)的負(fù)荷變得比較重。
也就是說，當(dāng)從襯底2的表面到間隔層4的中心的厚度被限定為后面參照?qǐng)D2描述的物鏡的負(fù)荷時(shí)，在向/從信息記錄層3(或5)記錄或再現(xiàn)信息的任何情況下，間隔層4的一半厚度的厚度誤差會(huì)引起像差。
因此，從記錄/再現(xiàn)光學(xué)系統(tǒng)中的像差的角度來看，間隔層4最好比較薄。也就是說，間隔層4的厚度要在記錄/再現(xiàn)光學(xué)器件的像差與信息記錄層3和5間的串?dāng)_之間折衷考慮來確定。
圖2中的示意圖用于說明光學(xué)頭單元的一個(gè)例子，該單元在圖1所示的光盤中記錄信息，或從該光盤再現(xiàn)信息。在圖2中，僅示出了光學(xué)頭單元的關(guān)鍵部分。
如圖2中所示，光學(xué)頭單元11具有半導(dǎo)體激光器(光源)20以輸出激光束或400-410nm的紫光束。激光束的波長(zhǎng)可以是440nm或小于440nm，例如405nm。
從半導(dǎo)體激光器20發(fā)出的激光束100被準(zhǔn)直鏡21校準(zhǔn)。校準(zhǔn)后的平行光束通過極化分束器22和四分之一波片23，并被物鏡24引導(dǎo)至光盤1的記錄表面。
光盤1引導(dǎo)的激光束100通過物鏡24提供的會(huì)聚操作并根據(jù)物鏡和光盤1之間的距離被會(huì)聚到第一和第二記錄層中的一個(gè)記錄層上。
會(huì)聚在光盤1的記錄層上的激光束100在記錄層上被反射，返回到物鏡24作為反射激光束101，并通過四分之一波片23返回到極化分束器22。
返回到極化分束器22的反射激光束101朝向聚光鏡25被反射到極化分束器22的極化表面上，在光檢測(cè)器26的光接收表面上形成一圖象，作為會(huì)聚光束，其具有對(duì)應(yīng)于聚光鏡25提供的會(huì)聚操作所限定的焦距的光束點(diǎn)尺寸。
光檢測(cè)器的光接收部分通常被分為幾個(gè)部分，每個(gè)部分輸出對(duì)應(yīng)于光強(qiáng)度的電流。從每個(gè)光接收部分輸出的電流被I/V放大器(未示出)轉(zhuǎn)換為電壓，并被處理器27處理為可用作HF(再現(xiàn))信號(hào)，聚焦誤差信號(hào)和跡道誤差信號(hào)。HF(再現(xiàn))信號(hào)被轉(zhuǎn)換為預(yù)定的信號(hào)格式，或通過給定的接口輸出到臨時(shí)存儲(chǔ)器或外部存儲(chǔ)器。
處理器27得到的信號(hào)中的聚焦誤差信號(hào)和跡道誤差信號(hào)被伺服驅(qū)動(dòng)器28轉(zhuǎn)換為可用作聚焦控制信號(hào)和跡道控制信號(hào)的信號(hào)以操作一個(gè)致動(dòng)器29并被提供給該致動(dòng)器29，所述致動(dòng)器29移動(dòng)物鏡24的位置。因此，致動(dòng)器29所固定的物鏡24可選地在垂直方向上被移動(dòng)，以接近和遠(yuǎn)離光盤1的信息記錄層3(或5)，和/或在光盤的徑向上移動(dòng)。也就是說，伺服驅(qū)動(dòng)器28控制物鏡24以跟隨光盤1上的信息跡道。
下面將描述用于向/從所謂的下一代DVD(下文中稱為HD DVD)的新標(biāo)準(zhǔn)光盤記錄或再現(xiàn)信息的光學(xué)頭單元11的元件的優(yōu)化。
假設(shè)光源(半導(dǎo)體激光器的輸出)的波長(zhǎng)為405nm，物鏡24的數(shù)值孔徑NA為0.65，作為考慮到上述折衷的HD DVD的規(guī)范，光盤1的間隔層4的適當(dāng)厚度為15-25μm。下面描述的間隔層4的厚度的條件適用于具有多于三個(gè)信息記錄層的光盤或具有兩個(gè)或更多間隔層的光盤。
下面將參照?qǐng)D3A和3B描述再現(xiàn)時(shí)來自雙層光盤的間隔層的串?dāng)_。在圖3A和3B中，以具有兩個(gè)記錄-再現(xiàn)層的盤為例，但對(duì)于具有多于三個(gè)記錄層的盤來說結(jié)果是一樣的。
如圖3A中所示，當(dāng)經(jīng)物鏡24會(huì)聚的激光束聚焦在遠(yuǎn)離物鏡24的記錄-再現(xiàn)層5(L1)上時(shí)，來自信息記錄層5(L1)的反射激光束101a(實(shí)線)在通過物鏡24后變?yōu)槠叫泄猓?huì)聚在聚光鏡25上并聚焦在靠近光檢測(cè)器26的預(yù)定位置。來自靠近物鏡24的信息記錄層3(L0)的反射激光束101b(虛線)聚焦在比來自信息記錄層5(L1)的反射光束的焦點(diǎn)遠(yuǎn)的位置。
另一方面，如圖3B所示，當(dāng)經(jīng)物鏡24會(huì)聚的激光束聚焦在靠近物鏡24的記錄-再現(xiàn)層3(L0)上時(shí)，來自信息記錄層3(L0)的反射激光束101c(實(shí)線)在通過物鏡24后變?yōu)槠叫泄?，?huì)聚在聚光鏡25上并聚焦在靠近光檢測(cè)器26的預(yù)定位置或聚焦在與圖3A中所示的來自信息記錄層5(L1)的反射激光束101a的焦點(diǎn)基本上相同的位置。在這種情況下，來自遠(yuǎn)離物鏡24的信息記錄層5(L1)的反射激光束101d(虛線)聚焦在來自信息記錄層3(L0)的反射光束的焦點(diǎn)的前面，或聚焦在靠近聚光鏡25的位置。
對(duì)于一種上述的發(fā)出反射激光束的光盤(雙層)，考慮將光檢測(cè)器26的光接收表面放置成使得光檢測(cè)器位于不同于聚光鏡的焦點(diǎn)位置(圖3A和3B中用虛線標(biāo)為126的位置)，如通過使用散光像差來檢測(cè)聚焦誤差的將光檢測(cè)器同時(shí)用于聚焦和RF(再現(xiàn)信號(hào))的光學(xué)頭單元中那樣。在這種情況下，當(dāng)光束會(huì)聚在L1(第一記錄層5)上時(shí)引起串?dāng)_的來自L0(第二記錄層3)的反射激光束的截面光束尺寸與當(dāng)光束會(huì)聚在L0(第二記錄層3)上時(shí)來自L1(第一記錄層5)的反射激光束的截面光束尺寸很不相同，如圖3A和3B中的S1和S0所示。
換句話說，取決于物鏡24將激光束會(huì)聚在其上的記錄層，來自非聚焦記錄-再現(xiàn)層的串?dāng)_不同。
這可以從由圖4中的曲線A(○和虛線)示出的當(dāng)光束會(huì)聚在L0上時(shí)由來自L1的反射激光束引起的串?dāng)_CT1，和由曲線B(△和虛線)示出的當(dāng)光束會(huì)聚在L1上時(shí)由來自L0的反射激光束引起的串?dāng)_CT0看出。在圖4中，橫軸表示雙層之間的間隔層4的厚度。
從曲線A和B可以看出，串?dāng)_(CT1和CT0)的信號(hào)幅值很不相同。因而，在設(shè)計(jì)光盤驅(qū)動(dòng)器的動(dòng)態(tài)范圍時(shí)有必要考慮較大的串?dāng)_。這引起噪聲的增加。
相反，考慮將光檢測(cè)器26置于圖3A和圖3B中的實(shí)線表示的位置26，即，比虛線表示的位置126更靠近聚光鏡25的焦點(diǎn)的位置。在這種情況下，如圖3A和3B中所示，當(dāng)光束會(huì)聚在L1上時(shí)來自L0的反射激光束的光束點(diǎn)與當(dāng)光束會(huì)聚在L0上時(shí)來自L1的反射激光束的光束點(diǎn)基本上相同。至于曲線a(○和實(shí)線，CT1)和曲線b(△和實(shí)線，CT0)表示的對(duì)每個(gè)反射激光束的串?dāng)_，當(dāng)光束會(huì)聚在L0上時(shí)由來自L1的反射激光束引起的串?dāng)_CT1，和當(dāng)光束會(huì)聚在L1上時(shí)由來自L0的反射激光束引起的串?dāng)_CT0之間的差，與曲線A和B表示的情況相比變得比較小。
因此，由來自兩個(gè)記錄層的泄露引起的串?dāng)_可以被設(shè)定在幾乎特定的范圍內(nèi)，而不管該層正在被記錄還是被再現(xiàn)。在這種情況下，也可以降低光盤驅(qū)動(dòng)器中的串?dāng)_的最大值。從動(dòng)態(tài)范圍和噪聲消除電路的角度來看，將串?dāng)_差設(shè)定為兩倍或小于兩倍是適當(dāng)?shù)摹?br> 但是，眾所周知，在能夠?qū)崿F(xiàn)由曲線a(○和實(shí)線，CT1)和曲線b(△和實(shí)線，CT0)表示的串?dāng)_的信號(hào)再現(xiàn)系統(tǒng)(光學(xué)頭單元11中的物鏡24，聚光鏡25和光檢測(cè)器26)中用于檢測(cè)跡道誤差的信號(hào)變得較小。
因而，優(yōu)選地將光檢測(cè)器的光接收部分的尺寸設(shè)定為可通過日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)(JIS)X6241(1997)中限定的A/M2(光檢測(cè)器的光接收部分的面積A)和檢測(cè)橫向倍率M(聚光鏡25的焦距與物鏡的焦距fo的比的平方)得到的值。例如，當(dāng)聚光鏡25的焦距fc為80mm，光檢測(cè)器的光接收部分的面積A為16900μm2且橫向倍率M為26.67，可通過下面的計(jì)算得到A/M2A/M2＝16900/(26.07)2＝23.76≈23.8[μm2]如圖5中△所示，優(yōu)選地將光檢測(cè)器26的光接收表面置于相對(duì)于聚光鏡25的焦點(diǎn)-1mm的位置處(“-1”表示朝向該側(cè)的位置，即，朝向聚光鏡25的位置)。已經(jīng)確認(rèn)，當(dāng)光檢測(cè)器26的光接收表面被置于圖5中△所示位置時(shí)，串?dāng)_的差(倍率)，即，當(dāng)光束聚焦在L0上時(shí)由來自L1的反射光束引起的串?dāng)_CT1，和當(dāng)光束聚焦在L1上時(shí)由來自L0的反射光束引起的串?dāng)_CT0之間的差，幾乎為兩倍以內(nèi)，而不管記錄層3和5之間的間隔層4的厚度如何。
圖7中的示意圖示出了滿足參照?qǐng)D4至圖6說明的光檢測(cè)器的優(yōu)選位置條件的光學(xué)頭單元的一個(gè)例子。對(duì)于與圖2中的示意圖中相同的部件(元件)和相似的配置，在相同的標(biāo)記加上了700，并省略了對(duì)其的詳細(xì)說明。
如圖7所示，從光源(半導(dǎo)體激光單元)720發(fā)出的波長(zhǎng)為405nm的激光束被準(zhǔn)直鏡21校準(zhǔn)。校準(zhǔn)后的平行光束通過極化分束器722和四分之一波片723，并被引導(dǎo)至物鏡724。被引導(dǎo)至物鏡724的激光束在物鏡724中進(jìn)行預(yù)定的會(huì)聚，并被會(huì)聚到第一記錄層3(靠近物鏡，L0)或第二記錄層5(間隔層4的背面，L1)。
來自光盤1的第一或第二記錄層3(L0)或5(L1)的反射激光束被物鏡724捕獲，透射通過四分之一波片723，并被極化分束器722朝分束器730反射。
來自極化分束器722的反射激光束在聚光鏡725中進(jìn)行預(yù)定的會(huì)聚，被分束器730分為兩部分，并分別被會(huì)聚到用于產(chǎn)生聚焦誤差信號(hào)的第一光檢測(cè)器731和用于產(chǎn)生跡道誤差信號(hào)的第二光檢測(cè)器732上。
用于檢測(cè)跡道誤差的第二光檢測(cè)器732優(yōu)選地設(shè)置在圖5中說明的位置處。也就是說，優(yōu)選地將具有23.8μm2的光接收表面積的光檢測(cè)器置于相對(duì)于聚光鏡的焦距fc-1mm的位置處，如A/M2限定的，即，光檢測(cè)器的面積A和聚光鏡25的焦距與物鏡的焦距fo的比的平方。這是由于用于獲得跡道誤差信號(hào)的光檢測(cè)器732可以根據(jù)檢測(cè)原理和精度降低動(dòng)態(tài)范圍而引起的。(在兩通道檢測(cè)器中，可以規(guī)定哪個(gè)通道是“+”或“-”)。
用于檢測(cè)跡道誤差的第二光檢測(cè)器732的輸出被一加法器(未示出)相加，并按照預(yù)定的規(guī)定或通過預(yù)定的接口被處理為RF(再現(xiàn))信號(hào)，并被發(fā)送到臨時(shí)存儲(chǔ)器或外部存儲(chǔ)器。
例如全息元件的波前轉(zhuǎn)換元件是一種有效的將光檢測(cè)器置于檢測(cè)系統(tǒng)(聚光鏡)的焦點(diǎn)附近的方法。也就是說，在普通的像差光學(xué)系統(tǒng)中，很難將光檢測(cè)器置于聚光鏡的焦點(diǎn)處。
當(dāng)用刀沿法(knife edge method)而不使用波前轉(zhuǎn)換裝置檢測(cè)聚焦誤差時(shí)，也從光檢測(cè)器的輸出獲得跡道誤差信號(hào)來檢測(cè)RF信號(hào)。這樣，光束點(diǎn)在光檢測(cè)器的光接收表面上變得非常小，并很容易受到物鏡的偏置的影響。
圖8說明了在圖7中示出的光學(xué)頭單元中使用波前轉(zhuǎn)換裝置的例子。對(duì)于與圖2和7中的示意圖中相同的部件(元件)和相似的配置，在相同的標(biāo)記上加上了800，并省略了對(duì)其的詳細(xì)說明。
如圖8中所示，從光源(半導(dǎo)體激光單元)820發(fā)出的波長(zhǎng)為405nm的激光束被準(zhǔn)直鏡821校準(zhǔn)。校準(zhǔn)后的平行光束通過極化分束器822和四分之一波片823，并被引導(dǎo)至物鏡824。被引導(dǎo)至物鏡824的激光束在物鏡724中進(jìn)行預(yù)定的會(huì)聚，并被會(huì)聚到第一記錄層3(靠近物鏡側(cè)，L0)或第二記錄層5(間隔層4的背面，L1)上。
來自光盤1的第一或第二記錄層3(L0)或5(L1)的反射激光束被物鏡824捕獲，透射通過四分之一波片823，并被極化分束器822朝分束器830反射。
來自極化分束器822的反射激光束在聚光鏡825中進(jìn)行預(yù)定的會(huì)聚。激光束的前進(jìn)方向通過設(shè)置在光檢測(cè)器840與聚光鏡825之間的波前轉(zhuǎn)換元件或全息元件850改變?yōu)楣鈾z測(cè)器840的預(yù)定位置。激光束被會(huì)聚到未示出的光檢測(cè)器840的用于檢測(cè)聚焦誤差以產(chǎn)生聚焦誤差信號(hào)的光檢測(cè)區(qū)，和用于檢測(cè)跡道誤差以產(chǎn)生跡道誤差信號(hào)的光檢測(cè)區(qū)。用于檢測(cè)跡道誤差的光檢測(cè)區(qū)的輸出被一加法器(未示出)相加，并按照預(yù)定的規(guī)定或通過預(yù)定的接口被處理為RF(再現(xiàn))信號(hào)，并被發(fā)送到臨時(shí)存儲(chǔ)器或外部存儲(chǔ)器。
假定刀沿法被用于檢測(cè)聚焦誤差而推拉法被用于檢測(cè)跡道誤差，全息元件850被賦予一種模式(pattern)，其將特定的截面光束形狀(光束點(diǎn)尺寸)給予經(jīng)聚光鏡825進(jìn)行預(yù)定會(huì)聚的反射激光束。各種公知的方法可以用作聚焦誤差檢測(cè)方法和跡道誤差檢測(cè)方法。
如上所述，根據(jù)本發(fā)明，可以從具有兩個(gè)或更多記錄層的光盤穩(wěn)定地獲得再現(xiàn)信號(hào)而無須使用聚焦誤差檢測(cè)方法。當(dāng)從兩個(gè)或更多記錄層獲得再現(xiàn)信號(hào)時(shí)，可以將串?dāng)_控制為兩倍，降低了信號(hào)再現(xiàn)系統(tǒng)的負(fù)荷。
對(duì)于本領(lǐng)域技術(shù)人員來說，很容易獲得其他的優(yōu)點(diǎn)和做出各種改動(dòng)。因此，本發(fā)明的更寬的方面不限于這里示出并描述的具體細(xì)節(jié)和典型實(shí)施例。因而，在不偏離后附的權(quán)利要求及其等同物所限定的總的發(fā)明構(gòu)思的精神和范圍的情況下可以作出各種修改。
在本發(fā)明的詳細(xì)描述中，以光盤驅(qū)動(dòng)器為例說明了本發(fā)明的實(shí)施例。但是，很明顯，本發(fā)明也適用于攝象機(jī)和存儲(chǔ)音樂數(shù)據(jù)的便攜式音頻設(shè)備。
權(quán)利要求
1.一種光盤設(shè)備，其特征在于包括光源(20)；物鏡(24)，將來自光源的光會(huì)聚到具有至少兩個(gè)記錄層的記錄介質(zhì)的至少一個(gè)記錄層上，該物鏡具有預(yù)定的數(shù)值孔徑；聚光鏡(25)，對(duì)從具有至少兩個(gè)記錄層(3，5)的記錄介質(zhì)的一個(gè)記錄層反射的光進(jìn)行預(yù)定的會(huì)聚；和光檢測(cè)器(26)，該光檢測(cè)器(26)具有一個(gè)位于距聚光鏡的焦點(diǎn)特定距離之處的光接收表面，接收從具有至少兩個(gè)記錄層的記錄介質(zhì)的一個(gè)記錄層反射的光，并輸出與光強(qiáng)度相對(duì)應(yīng)的信號(hào)。
2.如權(quán)利要求1所述的光盤設(shè)備，其特征在于，所述光檢測(cè)器的光接收表面的位置設(shè)置成，當(dāng)光束聚焦在另一個(gè)記錄層(5)上時(shí)從一個(gè)記錄層(3)反射的光束所引起的串?dāng)_與當(dāng)光束聚焦在一個(gè)記錄層(3)上時(shí)從另一個(gè)記錄層(5)反射的光束所引起的串?dāng)_之間的差為兩倍或小于兩倍。
3.如權(quán)利要求2所述的光盤設(shè)備，其特征在于，從光源發(fā)出的光的波長(zhǎng)為440nm或小于440nm。
4.如權(quán)利要求1所述的光盤設(shè)備，其特征在于，物鏡的數(shù)值孔徑為0.65。
5.如權(quán)利要求1所述的光盤設(shè)備，其特征在于，記錄介質(zhì)的記錄層之間的厚度為15-25μm。
6.一種光盤設(shè)備，其特征在于包括物鏡，該物鏡可以將具有焦距fo和波長(zhǎng)400-410nm的光會(huì)聚到在第一記錄層和第二記錄層之間具有至少一個(gè)間隔層(4)的記錄介質(zhì)的一個(gè)記錄層(3)或(5)上，該物鏡具有預(yù)定的數(shù)值孔徑；聚光鏡，將從記錄介質(zhì)的一個(gè)記錄層反射的具有焦距fc的光會(huì)聚到預(yù)定的位置；和光檢測(cè)器，該光檢測(cè)器具有一個(gè)光接收面積為A的光接收部分，該光檢測(cè)器接收由聚光鏡進(jìn)行了預(yù)定會(huì)聚的光，并輸出與光強(qiáng)度相對(duì)應(yīng)的信號(hào)，其中，物鏡與聚光鏡的A/M2被限定在預(yù)定的范圍內(nèi)，使得當(dāng)間隔層的厚度大于15μm時(shí)記錄層之間的串?dāng)_的差不超過兩倍；而且光接收表面被設(shè)置在距聚光鏡的焦點(diǎn)距離為Δ之處。
7.如權(quán)利要求6所述的光盤設(shè)備，其特征在于，物鏡的數(shù)值孔徑為0.65。
8.一種限定光檢測(cè)器的光接收表面的位置的方法，所述光檢測(cè)器檢測(cè)來自光盤驅(qū)動(dòng)器中的記錄介質(zhì)的光，其特征在于，所述方法包括當(dāng)從記錄介質(zhì)攝取光的第一透鏡的焦距為fo，用來輸出與輻射光的強(qiáng)度相對(duì)應(yīng)的信號(hào)的光檢測(cè)器的光接收表面的面積為A，用來將光會(huì)聚到光檢測(cè)器的光接收表面的第二透鏡的焦距為fc，以及fc/fo為M時(shí)，將光檢測(cè)器的光接收表面置于某一位置以便利用光來從記錄介質(zhì)再現(xiàn)信息，在所述位置處，A/M2的值小于預(yù)定值，并且當(dāng)光束聚焦在另一個(gè)記錄層上時(shí)從一個(gè)記錄層反射的光束所引起的串?dāng)_與當(dāng)光束聚焦在一個(gè)記錄層上時(shí)從另一個(gè)記錄層反射的光束所引起的串?dāng)_之間的差為兩倍或小于兩倍。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種光盤設(shè)備(11)，其中，在從特定記錄層再現(xiàn)信號(hào)時(shí)，將用于從光盤的第一和第二記錄層接收激光束的光檢測(cè)器(26)的光接收表面設(shè)置在與聚光鏡(25)的焦點(diǎn)相距預(yù)定距離之處，以減少?gòu)钠渌涗泴臃瓷涞墓庖鸬拇當(dāng)_的差。
文檔編號(hào)G11B7/00GK1725324SQ20051008183
公開日2006年1月25日 申請(qǐng)日期2005年6月30日 優(yōu)先權(quán)日2004年6月30日
發(fā)明者丸山純孝, 小川昭人, 巖田勝雄, 渡部一雄 申請(qǐng)人:株式會(huì)社東芝