專(zhuān)利名稱(chēng)：用于磁帶驅(qū)動(dòng)器的數(shù)據(jù)可靠性測(cè)試的裝置和方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及磁帶驅(qū)動(dòng)器，更具體地，涉及能夠向多軌磁帶寫(xiě)的磁帶驅(qū)動(dòng)器的數(shù)據(jù)可靠性測(cè)試。
背景技術(shù)：
磁帶驅(qū)動(dòng)器提供一種在要保存的盒式磁帶(magnetic tape cartridge)上存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的裝置，并且隨后讀回，一般作為多組并行軌跡，其中數(shù)據(jù)在多組并行軌跡上記錄為數(shù)據(jù)記錄或其等效。盒式磁帶可在磁帶驅(qū)動(dòng)器之間相互交換，使得數(shù)據(jù)可由一個(gè)磁帶驅(qū)動(dòng)器寫(xiě)而隨后由不同磁帶驅(qū)動(dòng)器讀回。因此，數(shù)據(jù)可靠性是磁帶驅(qū)動(dòng)器的重要方面。
磁帶驅(qū)動(dòng)器的數(shù)據(jù)可靠性測(cè)試一般包括獨(dú)立的設(shè)備，其附屬于磁帶驅(qū)動(dòng)器原型(prototype)、測(cè)試臺(tái)(test-stand)或者板模型(plate model)。這樣的測(cè)試系統(tǒng)有限數(shù)量地產(chǎn)生，需要定制的硬件并且需要定制的接口軟件。
而且，這樣的測(cè)試系統(tǒng)相對(duì)磁帶驅(qū)動(dòng)器的外部接口工作，并且提供要記錄和讀回的測(cè)試數(shù)據(jù)整體上作為完整的數(shù)據(jù)記錄，覆蓋一組的所有并行軌跡，如在多軌磁帶驅(qū)動(dòng)器的正常機(jī)能中。

發(fā)明內(nèi)容
提供用于一個(gè)或多個(gè)磁帶驅(qū)動(dòng)器的數(shù)據(jù)可靠性測(cè)試的裝置、記錄通道、數(shù)據(jù)可靠性系統(tǒng)和磁帶驅(qū)動(dòng)器的數(shù)據(jù)可靠性測(cè)試方法。分別對(duì)磁帶驅(qū)動(dòng)器的各通道進(jìn)行測(cè)試，用于讀寫(xiě)多軌磁帶的不同的軌跡。
在一個(gè)實(shí)施例中，存儲(chǔ)器存儲(chǔ)表示分別寫(xiě)到多軌磁帶的軌跡的數(shù)據(jù)的測(cè)試數(shù)據(jù)；多個(gè)讀通道的每一個(gè)從磁帶的獨(dú)立的軌跡讀由磁帶頭傳感的數(shù)據(jù)；并且錯(cuò)誤處理邏輯檢測(cè)在來(lái)自多個(gè)讀通道的每一個(gè)的數(shù)據(jù)以及表示寫(xiě)到相同的獨(dú)立的軌跡的數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)的測(cè)試數(shù)據(jù)之間的差異。
在進(jìn)一步的實(shí)施例中，讀通道從由磁帶頭傳感的數(shù)據(jù)剝離格式信息。
在另一個(gè)實(shí)施例中，提供控制，以組織用于比較的數(shù)據(jù)來(lái)檢測(cè)差異。在進(jìn)一步的實(shí)施例中，控制可包括狀態(tài)機(jī)。
在另一個(gè)實(shí)施例中，多個(gè)寫(xiě)通道的每個(gè)將數(shù)據(jù)提供給磁帶頭用于分別將數(shù)據(jù)寫(xiě)到多軌磁帶的軌跡；存儲(chǔ)器存儲(chǔ)測(cè)試數(shù)據(jù)，該測(cè)試數(shù)據(jù)表示分別通過(guò)多個(gè)寫(xiě)通道寫(xiě)到磁帶的軌跡的測(cè)試數(shù)據(jù)；多個(gè)讀通道，其每個(gè)從磁帶的獨(dú)立的軌跡讀由磁帶頭傳感的數(shù)據(jù)；以及錯(cuò)誤處理邏輯檢測(cè)在來(lái)自多個(gè)讀通道的每一個(gè)的數(shù)據(jù)以及表示寫(xiě)到相同的獨(dú)立的軌跡的數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)之間的差異。
在進(jìn)一步的實(shí)施例中，寫(xiě)數(shù)據(jù)緩沖器安排用于將數(shù)據(jù)分別寫(xiě)到軌跡的測(cè)試數(shù)據(jù)。
在進(jìn)一步的實(shí)施例中，控制器提供測(cè)試數(shù)據(jù)用于將測(cè)試數(shù)據(jù)寫(xiě)到獨(dú)立的軌跡，并且提供測(cè)試數(shù)據(jù)用于通過(guò)存儲(chǔ)器存儲(chǔ)。
在進(jìn)一步的實(shí)施例中，寫(xiě)通道還包括寫(xiě)邏輯，其將格式信息加到測(cè)試數(shù)據(jù)。在另一個(gè)實(shí)施例中，讀通道從由磁帶頭傳感的數(shù)據(jù)剝離格式信息。
在一個(gè)實(shí)施例中，數(shù)據(jù)可靠性測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試至少一個(gè)磁帶驅(qū)動(dòng)器，并且包括錯(cuò)誤控制系統(tǒng)和磁帶驅(qū)動(dòng)器的集成組件。所述集成組件包括存儲(chǔ)器，用于存儲(chǔ)由錯(cuò)誤控制系統(tǒng)提供的測(cè)試數(shù)據(jù)，所述測(cè)試數(shù)據(jù)表示分別寫(xiě)到多軌磁帶的軌跡的數(shù)據(jù)；多個(gè)讀通道，其每個(gè)用于從磁帶的獨(dú)立的軌跡讀由磁帶頭傳感的數(shù)據(jù)；以及錯(cuò)誤處理邏輯，用于檢測(cè)來(lái)自多個(gè)讀通道的每一個(gè)的數(shù)據(jù)以及表示寫(xiě)到相同的獨(dú)立的軌跡的數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)的測(cè)試數(shù)據(jù)之間的差異，并且提供關(guān)于檢測(cè)的差異的錯(cuò)誤信息用于錯(cuò)誤控制系統(tǒng)。
為了更全面地理解本發(fā)明，應(yīng)該參考下面結(jié)合附圖的詳細(xì)說(shuō)明。


圖1是根據(jù)本發(fā)明的數(shù)據(jù)可靠性測(cè)試系統(tǒng)的一個(gè)實(shí)施例的框圖；圖2是可實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的實(shí)施例的磁帶驅(qū)動(dòng)器的一個(gè)實(shí)施例的框圖；圖3是圖2的磁帶驅(qū)動(dòng)器的寫(xiě)邏輯的框圖；圖4是由圖2的磁帶驅(qū)動(dòng)器記錄格式化和讀寫(xiě)數(shù)據(jù)分區(qū)的圖示說(shuō)明；圖5是圖2的磁帶驅(qū)動(dòng)器的集成的讀可靠性測(cè)試裝置的框圖；圖6是圖5的讀可靠性測(cè)試裝置的控制狀態(tài)機(jī)的圖示說(shuō)明；圖7是用于控制圖5的讀可靠性測(cè)試裝置的數(shù)據(jù)比較的記錄計(jì)數(shù)器的框圖；以及圖8是說(shuō)明根據(jù)本發(fā)明的方法的一個(gè)實(shí)施例的流程圖。
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明在參考附圖的以下描述中以各優(yōu)選實(shí)施例進(jìn)行說(shuō)明，附圖中相同的數(shù)字表示相同或者相似的組件。雖然本發(fā)明按照實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的目的的最佳方式進(jìn)行說(shuō)明，但本領(lǐng)域技術(shù)人員將會(huì)認(rèn)識(shí)到，考慮到這些教導(dǎo)，可實(shí)現(xiàn)多種變化而不偏離本發(fā)明的精神或者范圍。
參照?qǐng)D1，數(shù)據(jù)可靠性測(cè)試系統(tǒng)的一個(gè)實(shí)施例包括磁帶驅(qū)動(dòng)器10，并且可選地包括錯(cuò)誤控制系統(tǒng)12，其可包括處理器或其它組件，配置于開(kāi)始對(duì)至少一個(gè)磁帶驅(qū)動(dòng)器的數(shù)據(jù)可靠性測(cè)試，并且錯(cuò)誤控制系統(tǒng)12還可配置于分析提供的錯(cuò)誤信息。分別對(duì)讀寫(xiě)多軌磁帶的軌跡的磁帶驅(qū)動(dòng)器的各通道進(jìn)行磁帶驅(qū)動(dòng)器的數(shù)據(jù)可靠性測(cè)試。開(kāi)始測(cè)試還可包括對(duì)磁帶驅(qū)動(dòng)器10提供測(cè)試數(shù)據(jù)。錯(cuò)誤控制系統(tǒng)12可包括任何適合的處理器或處理器組。
圖2說(shuō)明圖1的磁帶驅(qū)動(dòng)器10的一個(gè)實(shí)施例，其可實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的各方面。磁帶驅(qū)動(dòng)器相對(duì)盒式磁帶11的磁帶14提供一種用于讀寫(xiě)信息的方法。
盒式磁帶提供一種裝置，用于在要保存的磁帶上存儲(chǔ)數(shù)據(jù)并且在以后讀取。進(jìn)而，盒式磁帶可在磁帶驅(qū)動(dòng)器間相互交換，使得在一個(gè)磁帶驅(qū)器上寫(xiě)的磁帶將由另一個(gè)磁帶驅(qū)動(dòng)器讀取。
如本領(lǐng)域技術(shù)人員所理解的，盒式磁帶11包括繞在一或二盤(pán)15、16上的一長(zhǎng)度的磁帶14。
說(shuō)明單盤(pán)盒式磁帶11，其示例為遵守Linear Tape Open(LTO，線性磁帶開(kāi))格式的單盤(pán)盒式磁帶。磁帶驅(qū)動(dòng)器10的示例為基于LTO技術(shù)的IBM 3580Ultrium磁帶驅(qū)動(dòng)器。單盤(pán)磁帶驅(qū)動(dòng)器和關(guān)聯(lián)的盒式磁帶的另外的示例為IBM3592 TotalStorage Enterprise(全存儲(chǔ)企業(yè)級(jí))磁帶驅(qū)動(dòng)器和關(guān)聯(lián)的盒式磁帶。雙盤(pán)盒式磁帶的示例為IBM 3570盒式磁帶和關(guān)聯(lián)的驅(qū)動(dòng)器。
還如本領(lǐng)域技術(shù)人員所理解的，磁帶驅(qū)動(dòng)器10包括記錄系統(tǒng)的一個(gè)或更多的控制器18，用于根據(jù)從在接口21接收的錯(cuò)誤控制系統(tǒng)12接收的命令來(lái)操作磁帶驅(qū)動(dòng)器。控制器一般包括邏輯和/或帶有存儲(chǔ)器19的一個(gè)或更多的處理器，該存儲(chǔ)器19用于存儲(chǔ)信息以及用于操作控制器的程序信息。通過(guò)向例如軟盤(pán)或光盤(pán)這樣的控制器18輸入，或通過(guò)從盒式磁帶讀，或通過(guò)其它任何適合的裝置，程序信息可以經(jīng)由接口21提供到存儲(chǔ)器。磁帶驅(qū)動(dòng)器10可包括單獨(dú)的單元或包括一部分磁帶庫(kù)或其它的子系統(tǒng)。磁帶驅(qū)動(dòng)器10可直接通過(guò)庫(kù)或通過(guò)網(wǎng)絡(luò)耦合錯(cuò)誤控制系統(tǒng)12，并且在接口21使用小計(jì)算機(jī)系統(tǒng)接口(SCSI)、光纖通道接口和串行MP(微處理器)端口等。
盒式磁帶11可插入磁帶驅(qū)動(dòng)器10，并且通過(guò)磁帶驅(qū)動(dòng)器裝入，使得在通過(guò)旋轉(zhuǎn)盤(pán)15、16的一個(gè)或更多的電機(jī)25縱向移動(dòng)磁帶時(shí)，記錄系統(tǒng)的一個(gè)或更多的讀寫(xiě)磁頭23以有關(guān)磁帶14的信號(hào)的形式讀和/或?qū)懶畔?。磁帶一般包括多個(gè)并行軌跡，一般安排為多組軌跡。在一些格式中，例如以上LTO格式，如本領(lǐng)域技術(shù)人員已知的，軌跡以獨(dú)立的卷帶的卷曲來(lái)回方式安排。還如本領(lǐng)域技術(shù)人員已知的，記錄系統(tǒng)可包括卷帶(wrap)控制系統(tǒng)27，用于電子地切換到另一組讀和/或?qū)懘蓬^，并且/或?qū)ふ液蜋M向移動(dòng)磁帶的讀寫(xiě)磁頭23，用于在希望的卷帶(wrap)或多個(gè)卷帶定位磁頭，并且在一些實(shí)施例中，用于跟蹤跟隨希望的卷帶或多個(gè)卷帶。卷帶控制系統(tǒng)還可通過(guò)電機(jī)驅(qū)動(dòng)器28控制電機(jī)25的操作，兩個(gè)都響應(yīng)控制器18的指令。卷帶可視為一組軌跡。
如本領(lǐng)域技術(shù)人員已知的，使用緩沖器30和記錄通道32，控制器18還提供數(shù)據(jù)流和用于要從磁帶讀和要寫(xiě)到磁帶的數(shù)據(jù)的格式化。
驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)至少包括電機(jī)25和盤(pán)15、16，并且相對(duì)讀寫(xiě)磁頭23移動(dòng)磁帶14，使得寫(xiě)磁頭可在磁帶上寫(xiě)信號(hào)，并且讀磁頭可在磁帶上傳感磁信號(hào)，如記錄通道32安排的。
如本領(lǐng)域技術(shù)人員所理解的，測(cè)試數(shù)據(jù)可包括能在磁帶14上寫(xiě)的任何適合的格式，磁帶14由磁帶頭傳感并且由記錄通道32檢測(cè)。
參照?qǐng)D1，在一個(gè)實(shí)施例中，在錯(cuò)誤控制系統(tǒng)對(duì)至少一個(gè)磁帶驅(qū)動(dòng)器如磁帶驅(qū)動(dòng)器10開(kāi)始數(shù)據(jù)可靠性測(cè)試時(shí)，測(cè)試數(shù)據(jù)通過(guò)錯(cuò)誤控制系統(tǒng)12來(lái)提供。例如，在一個(gè)實(shí)施例中，例如在連接到錯(cuò)誤控制系統(tǒng)的磁帶驅(qū)動(dòng)器制造或測(cè)試設(shè)施中，可提供一組磁帶驅(qū)動(dòng)器。錯(cuò)誤控制系統(tǒng)可向所有連接的磁帶驅(qū)動(dòng)器提供相同的測(cè)試數(shù)據(jù)?；蛘撸h(yuǎn)程或本地測(cè)試可由單磁帶驅(qū)動(dòng)器10的錯(cuò)誤控制系統(tǒng)12開(kāi)始，或?qū)λ谢蛞恍┌惭b的磁帶驅(qū)動(dòng)器如磁帶庫(kù)。或者，可例如通過(guò)錯(cuò)誤控制系統(tǒng)將測(cè)試數(shù)據(jù)預(yù)載到磁帶驅(qū)動(dòng)器。
在圖1的實(shí)施例中，控制器18將測(cè)試數(shù)據(jù)導(dǎo)向?qū)憯?shù)據(jù)緩沖器40和讀比較邏輯42。寫(xiě)數(shù)據(jù)緩沖器40和讀比較邏輯42可包括專(zhuān)門(mén)邏輯和存儲(chǔ)安排，或可包括對(duì)磁帶驅(qū)動(dòng)器預(yù)先存在的組件的專(zhuān)門(mén)使用。寫(xiě)數(shù)據(jù)緩沖器40和讀比較邏輯42可包括用于存儲(chǔ)和處理數(shù)據(jù)的任何適合的安排。
在一個(gè)實(shí)施例中，參照?qǐng)D1和3，測(cè)試數(shù)據(jù)包括由錯(cuò)誤控制系統(tǒng)12提供的模式負(fù)載，并且對(duì)每個(gè)要記錄的軌跡組是獨(dú)立的，如由寫(xiě)邏輯46和寫(xiě)磁頭47寫(xiě)的。寫(xiě)磁頭47包括圖2的讀寫(xiě)磁頭的寫(xiě)磁頭。還參照?qǐng)D1和3，在圖3的實(shí)施例中，數(shù)據(jù)49從控制器18向隨機(jī)存取緩沖器40提供，并且選通輸出到寫(xiě)電子電路50，用于獨(dú)立寫(xiě)到磁帶14的軌跡。如上述，磁帶14的軌跡一般以組安排。數(shù)據(jù)可靠性測(cè)試可對(duì)單個(gè)軌跡組進(jìn)行，或者，可替代地，更多或所有的軌跡組可被寫(xiě)、讀回和測(cè)試。
仍然參考圖1和3，該模式對(duì)于每個(gè)軌跡可以是唯一的，或者，可替代地，相同的模式可用于一些或所有的軌跡。例如，組中的軌跡對(duì)可具有由寫(xiě)磁頭47記錄的相同的模式。
在一個(gè)替代實(shí)施例中，可提供部分模式，并且部分模式被重復(fù)地寫(xiě)到磁帶的軌跡。
在一個(gè)實(shí)施例中，獨(dú)立的數(shù)據(jù)可以同時(shí)地向每個(gè)寫(xiě)磁頭47提供?；蛘?，獨(dú)立的數(shù)據(jù)可順序向每個(gè)寫(xiě)磁頭47提供。
因此，測(cè)試數(shù)據(jù)分別寫(xiě)到多軌磁帶14的軌跡，并且測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在讀比較邏輯42的存儲(chǔ)器中，存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)表示分別寫(xiě)到磁帶的軌跡中的測(cè)試數(shù)據(jù)。
參照?qǐng)D1、3和4，寫(xiě)邏輯46可配置于將格式信息加到測(cè)試數(shù)據(jù)。以上在圖4中說(shuō)明符合LTO格式的格式信息的一個(gè)示例，包括數(shù)據(jù)區(qū)分信號(hào)(DSS)模式53、可變頻率振蕩器(VFO)模式54、和同步(Sync)模式55。模式分開(kāi)由數(shù)據(jù)57表示的數(shù)據(jù)記錄。作為一個(gè)示例，格式信息通過(guò)錯(cuò)誤控制系統(tǒng)12經(jīng)由控制器18提供到要寫(xiě)到磁帶的圖3的寫(xiě)緩沖器40。或者，格式信息通過(guò)控制器18存儲(chǔ)，并且通過(guò)控制器18增加為數(shù)據(jù)49。格式信息伴隨測(cè)試數(shù)據(jù)57，用于每個(gè)獨(dú)立軌跡。
參照?qǐng)D1和5，讀通道邏輯60包括多個(gè)讀通道，其每個(gè)配置于從磁帶14的獨(dú)立的軌跡讀由磁帶讀磁頭61傳感的數(shù)據(jù)。讀磁頭61包括圖2的讀寫(xiě)磁頭23的讀磁頭。將結(jié)果數(shù)據(jù)向包括錯(cuò)誤處理邏輯的讀比較邏輯42提供，錯(cuò)誤處理邏輯配置于檢測(cè)在來(lái)自于多個(gè)讀通道的每個(gè)的數(shù)據(jù)以及表示寫(xiě)到相同的獨(dú)立的軌跡的數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)的測(cè)試數(shù)據(jù)之間的差異。
參照?qǐng)D1和5，在一個(gè)實(shí)施例中，將來(lái)自讀磁頭的數(shù)據(jù)提供到讀通道邏輯60的讀檢測(cè)通道70。讀通道邏輯還可包括DSS模式檢測(cè)器73和VFO模式檢測(cè)器75。在圖5的示例中，數(shù)據(jù)80和時(shí)鐘信息81通過(guò)讀檢測(cè)通道70得到，并且將其提供到圖1和5的讀比較邏輯42。因此，如果格式信息已經(jīng)與數(shù)據(jù)一起寫(xiě)到由讀檢測(cè)通道70檢測(cè)的單獨(dú)的軌跡，則格式信息通過(guò)檢測(cè)器73和75檢測(cè)。
參照?qǐng)D1和5，去格式化器90從數(shù)據(jù)80剝離由DSS模式檢測(cè)器73和VFO模式檢測(cè)器75檢測(cè)的格式信息。
控制100組織用于比較的數(shù)據(jù)，以允許檢測(cè)在來(lái)自多個(gè)讀通道的每一個(gè)的數(shù)據(jù)以及表示寫(xiě)到相同的獨(dú)立的軌跡的存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)的測(cè)試數(shù)據(jù)之間的差異。
參照?qǐng)D5和6，在一個(gè)實(shí)施例中，控制100可包括狀態(tài)機(jī)102，其檢測(cè)圖4的同步模式55，該模式指示數(shù)據(jù)記錄開(kāi)始，表示為數(shù)據(jù)記錄101。數(shù)據(jù)記錄101可與正常的數(shù)據(jù)記錄無(wú)關(guān)，并且表示用于單獨(dú)的軌跡的測(cè)試數(shù)據(jù)，而正常的數(shù)據(jù)記錄可表示為來(lái)自一組軌跡的結(jié)合的數(shù)據(jù)。
參照?qǐng)D5和6，狀態(tài)機(jī)的第一狀態(tài)“0”是空閑狀態(tài)105，循環(huán)檢測(cè)同步模式106。在檢測(cè)同步模式時(shí)，狀態(tài)機(jī)移向狀態(tài)“1”，以在錯(cuò)誤處理邏輯110開(kāi)始處理數(shù)據(jù)109?？刂茖拇艓У膯为?dú)的軌跡讀取的通道數(shù)據(jù)111傳遞到錯(cuò)誤處理邏輯，并且從存儲(chǔ)器112尋址對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)的測(cè)試數(shù)據(jù)。存儲(chǔ)器112配置于存儲(chǔ)從圖1的控制器18接收的測(cè)試數(shù)據(jù)。存儲(chǔ)器112的存儲(chǔ)的測(cè)試數(shù)據(jù)表示寫(xiě)到相同的獨(dú)立的軌跡的數(shù)據(jù)。如上述，測(cè)試數(shù)據(jù)可包括用于每個(gè)軌跡的唯一模式，或者，可替代地，相同的模式可用于一些或所有的軌跡。
控制100提供從獨(dú)立的軌跡讀的數(shù)據(jù)111，并且對(duì)錯(cuò)誤處理邏輯110提供對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)的測(cè)試數(shù)據(jù)115用于比較。
仍然參照?qǐng)D5和6，狀態(tài)機(jī)位于狀態(tài)“2”，以處理數(shù)據(jù)116。在已經(jīng)處理所有記錄時(shí)117，狀態(tài)機(jī)進(jìn)入狀態(tài)“3”118，并且狀態(tài)機(jī)循環(huán)回到狀態(tài)“0”以檢測(cè)下一次同步105和106。
參照?qǐng)D5、6和7，控制100的狀態(tài)機(jī)102驅(qū)動(dòng)記錄和緩沖地址計(jì)數(shù)器120，以使存儲(chǔ)器112與讀數(shù)據(jù)輸入同步，并且識(shí)別要比較的總數(shù)據(jù)量。要比較的記錄數(shù)可例如通過(guò)圖1的處理器12經(jīng)由控制器18來(lái)編程并且在輸入122提供(記錄號(hào)-NORECS)。
仍然參照?qǐng)D5、6和7，初始化測(cè)試在輸入124和輸入126發(fā)信號(hào)通知(數(shù)據(jù)使能-DATAEN)，指示從去格式器90提供有效數(shù)據(jù)字。在狀態(tài)機(jī)102進(jìn)入狀態(tài)“1”以開(kāi)始在錯(cuò)誤處理邏輯110處理數(shù)據(jù)時(shí)108，“1”的狀態(tài)信號(hào)還運(yùn)行組件127，以將存儲(chǔ)器112的地址128增加到下一次記錄，來(lái)使存儲(chǔ)器112與讀的數(shù)據(jù)輸入同步。在狀態(tài)機(jī)102進(jìn)入狀態(tài)“3”時(shí)，指示記錄結(jié)束，組件130增加記錄計(jì)數(shù)133。記錄計(jì)數(shù)反饋給組件135，并且比較要從輸入122比較的記錄號(hào)的識(shí)別，并且在記錄計(jì)數(shù)等于在輸入122的值時(shí)，組件135激活線136，以在這時(shí)停止比較從獨(dú)立的軌跡讀的數(shù)據(jù)111和錯(cuò)誤處理邏輯110的對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)的測(cè)試數(shù)據(jù)115。
控制100可可選地采用其它形式，如直接邏輯或固件，并且不要求所有的功能。作為一個(gè)示例，從獨(dú)立的軌跡讀的數(shù)據(jù)111和錯(cuò)誤處理邏輯110的對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)的測(cè)試數(shù)據(jù)115的比較可在耗盡存儲(chǔ)器112的比較數(shù)據(jù)時(shí)結(jié)束。
參照?qǐng)D1和5，錯(cuò)誤處理邏輯110配置于檢測(cè)在來(lái)自讀通道的數(shù)據(jù)和存儲(chǔ)器112的存儲(chǔ)的測(cè)試數(shù)據(jù)之間的差異，存儲(chǔ)的測(cè)試數(shù)據(jù)表示如由對(duì)應(yīng)的讀通道讀的相同的獨(dú)立的軌跡的數(shù)據(jù)。
或者，讀比較邏輯42可配置于處理多個(gè)并行讀通道。在這種情形，錯(cuò)誤處理邏輯110檢測(cè)在來(lái)自多個(gè)讀通道的每一個(gè)的數(shù)據(jù)和表示寫(xiě)到相同的獨(dú)立的軌跡的數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器112的存儲(chǔ)的測(cè)試數(shù)據(jù)之間的差異。
作為檢測(cè)差異的一部分，錯(cuò)誤處理邏輯110可對(duì)每個(gè)軌跡檢測(cè)的差異計(jì)數(shù)。進(jìn)而，可將差異數(shù)與每個(gè)軌跡的記錄數(shù)比較以提供錯(cuò)誤率指示。本領(lǐng)域技術(shù)人員可推測(cè)關(guān)于檢測(cè)的差異的附加測(cè)量。對(duì)應(yīng)提供的檢測(cè)的差異，將檢測(cè)的差異與軌跡或每個(gè)軌跡的識(shí)別一起提供。
將由錯(cuò)誤處理邏輯110提供的結(jié)果提供給錯(cuò)誤控制系統(tǒng)12用于進(jìn)一步分析。
圖8描述根據(jù)本發(fā)明的方法的實(shí)施例，例如，通過(guò)外部處理器或內(nèi)部控制器在步驟200開(kāi)始。在步驟202，測(cè)試數(shù)據(jù)在初始化時(shí)由外部處理器提供，或者已經(jīng)預(yù)載。測(cè)試數(shù)據(jù)包括模式負(fù)載，并且對(duì)要記錄的每個(gè)軌跡是唯一的。或者，相同的模式可用于一些或所有的軌跡。例如，組中的軌跡對(duì)可具有由寫(xiě)磁頭記錄的相同的模式。在步驟205中，測(cè)試數(shù)據(jù)例如在緩沖器中存儲(chǔ)。在步驟207中，如上述，測(cè)試數(shù)據(jù)分別寫(xiě)到多軌磁帶的一組軌跡的每個(gè)軌跡。該數(shù)據(jù)還可在被寫(xiě)時(shí)格式化。
在步驟220中，讀磁頭傳感來(lái)自軌跡的信息，并且在步驟223中，從磁帶的獨(dú)立的軌跡讀傳感的數(shù)據(jù)。任何格式化還可在步驟223中從數(shù)據(jù)剝離。
步驟240檢測(cè)從步驟223的磁帶的獨(dú)立的軌跡讀的數(shù)據(jù)和步驟205的存儲(chǔ)的測(cè)試數(shù)據(jù)之間的差異，其中存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)表示對(duì)應(yīng)的如在步驟223中讀的獨(dú)立的軌跡的數(shù)據(jù)。
在步驟242中，提供錯(cuò)誤信息，表示在步驟240中檢測(cè)的差異的結(jié)果。
本領(lǐng)域技術(shù)人員會(huì)理解，相對(duì)這里說(shuō)明的組件，可進(jìn)行各種變化。進(jìn)而，本領(lǐng)域技術(shù)人員將理解，可使用與這里說(shuō)明的不同的特定組件安排。并且，本領(lǐng)域技術(shù)人員將理解，相對(duì)這里說(shuō)明的方法的步驟，可進(jìn)行各種變化，而且各步驟可結(jié)合或單個(gè)步驟可分成多個(gè)步驟。
雖然，本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例已經(jīng)詳細(xì)說(shuō)明，但是應(yīng)當(dāng)清楚，本發(fā)明實(shí)施例的各種修改和改進(jìn)可由本領(lǐng)域技術(shù)人員產(chǎn)生，而不脫離如在權(quán)利要求書(shū)中提出的本發(fā)明的范圍。
權(quán)利要求
1.一種配置用于對(duì)磁帶驅(qū)動(dòng)器進(jìn)行數(shù)據(jù)可靠性測(cè)試的裝置，包括存儲(chǔ)器，其配置于存儲(chǔ)表示分別寫(xiě)到多軌磁帶的軌跡的數(shù)據(jù)的測(cè)試數(shù)據(jù)；多個(gè)讀通道，其每個(gè)配置于從磁帶的獨(dú)立的軌跡讀由磁帶頭傳感的數(shù)據(jù)；以及錯(cuò)誤處理邏輯，其配置于檢測(cè)在來(lái)自多個(gè)所述讀通道的每一個(gè)的數(shù)據(jù)以及表示寫(xiě)到相同的獨(dú)立的軌跡的數(shù)據(jù)的所述存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)的測(cè)試數(shù)據(jù)之間的差異。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其中所述讀通道配置于從由所述磁帶頭傳感的所述數(shù)據(jù)剝離格式信息。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，還包括配置于組織用于檢測(cè)所述差異的數(shù)據(jù)的控制。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的裝置，其中所述控制包括狀態(tài)機(jī)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，還包括多個(gè)寫(xiě)通道，其每個(gè)配置于將數(shù)據(jù)提供給磁帶頭用于將數(shù)據(jù)分別寫(xiě)到多軌磁帶的軌跡；以及其中所述存儲(chǔ)器配置于存儲(chǔ)測(cè)試數(shù)據(jù)，所述測(cè)試數(shù)據(jù)表示分別通過(guò)所述多個(gè)寫(xiě)通道寫(xiě)到所述的磁帶的軌跡的測(cè)試數(shù)據(jù)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置，還包括寫(xiě)數(shù)據(jù)緩沖器，其配置于安排所述測(cè)試數(shù)據(jù)用于將所述數(shù)據(jù)分別寫(xiě)到所述軌跡。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置，還包括控制器，其配置于提供測(cè)試數(shù)據(jù)用于寫(xiě)所述測(cè)試數(shù)據(jù)到所述獨(dú)立的軌跡，并且配置于提供所述測(cè)試數(shù)據(jù)用于通過(guò)所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述裝置，其中所述寫(xiě)通道還包括寫(xiě)邏輯，其配置于將格式信息加到所述測(cè)試數(shù)據(jù)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的裝置，其中所述讀通道配置于從通過(guò)所述磁帶頭傳感的所述數(shù)據(jù)剝離格式信息。
10.一種用于磁帶驅(qū)動(dòng)器的記錄通道，包括多個(gè)寫(xiě)通道，其每個(gè)配置于將數(shù)據(jù)提供給磁帶頭用于將數(shù)據(jù)分別寫(xiě)到多軌磁帶的軌跡；存儲(chǔ)器，其配置于存儲(chǔ)測(cè)試數(shù)據(jù)，該測(cè)試數(shù)據(jù)表示通過(guò)所述多個(gè)寫(xiě)通道分別寫(xiě)到磁帶的軌跡的測(cè)試數(shù)據(jù)；多個(gè)讀通道，其每個(gè)配置于從磁帶的獨(dú)立的軌跡讀由磁帶頭傳感的數(shù)據(jù)；以及錯(cuò)誤處理邏輯，其配置于檢測(cè)在來(lái)自多個(gè)所述讀通道的每一個(gè)的數(shù)據(jù)以及表示寫(xiě)到相同的獨(dú)立的軌跡的數(shù)據(jù)的所述存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)之間的差異。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的記錄通道，還包括寫(xiě)數(shù)據(jù)緩沖器，其配置于安排所述測(cè)試數(shù)據(jù)用于分別將所述數(shù)據(jù)寫(xiě)到所述軌跡。
12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的記錄通道，還包括控制器，其配置于提供測(cè)試數(shù)據(jù)用于將所述測(cè)試數(shù)據(jù)寫(xiě)到所述獨(dú)立的軌跡，并且配置于提供所述測(cè)試數(shù)據(jù)用于通過(guò)所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)。
13.根據(jù)權(quán)利要求10所述的記錄通道，其中所述寫(xiě)通道還包括寫(xiě)邏輯，其配置于將格式信息加到所述測(cè)試數(shù)據(jù)。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的記錄通道，其中所述讀通道配置于從通過(guò)所述磁帶頭傳感的所述數(shù)據(jù)剝離格式信息。
15.根據(jù)權(quán)利要求10所述的記錄通道，還包括控制，其配置于組織用于檢測(cè)所述差異的數(shù)據(jù)。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的記錄通道，其中所述控制包括狀態(tài)機(jī)。
17.一種磁帶驅(qū)動(dòng)器，包括至少一個(gè)磁帶頭，其配置于將數(shù)據(jù)寫(xiě)到多軌磁帶的軌跡，并且配置其從多軌磁帶的軌跡傳感數(shù)據(jù)；驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)，其配置于相對(duì)所述至少一個(gè)磁帶頭移動(dòng)磁帶，使得所述至少一個(gè)磁帶頭可分別將數(shù)據(jù)寫(xiě)到所述磁帶的軌跡，并且可從所述磁帶的軌跡傳感數(shù)據(jù)；以及測(cè)試記錄通道包括多個(gè)寫(xiě)通道，其每個(gè)配置于將數(shù)據(jù)提供給所述磁帶頭用于分別將數(shù)據(jù)寫(xiě)到多軌磁帶的軌跡；存儲(chǔ)器，其配置于存儲(chǔ)測(cè)試數(shù)據(jù)，所述測(cè)試數(shù)據(jù)表示通過(guò)所述多個(gè)寫(xiě)通道分別寫(xiě)到磁帶的軌跡的測(cè)試數(shù)據(jù)；多個(gè)讀通道，其每個(gè)配置于從磁帶的獨(dú)立的軌跡讀由所述磁帶頭傳感的數(shù)據(jù)；以及錯(cuò)誤處理邏輯，其配置于檢測(cè)在來(lái)自多個(gè)所述讀通道的每一個(gè)的數(shù)據(jù)以及表示寫(xiě)到相同的獨(dú)立的軌跡的數(shù)據(jù)的所述存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)之間的差異。
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的磁帶驅(qū)動(dòng)器，其中所述測(cè)試記錄通道還包括寫(xiě)數(shù)據(jù)緩沖器，其配置于安排用于將所述數(shù)據(jù)分別寫(xiě)到所述軌跡的所述測(cè)試數(shù)據(jù)。
19.根據(jù)權(quán)利要求17所述的磁帶驅(qū)動(dòng)器，還包括控制器，其配置于提供用于將所述測(cè)試數(shù)據(jù)寫(xiě)到所述獨(dú)立的軌跡的測(cè)試數(shù)據(jù)，并且配置其提供所述測(cè)試數(shù)據(jù)用于通過(guò)所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)。
20.根據(jù)權(quán)利要求17所述的磁帶驅(qū)動(dòng)器，其中所述寫(xiě)通道還包括寫(xiě)邏輯，其配置于將格式信息加到所述測(cè)試數(shù)據(jù)。
21.根據(jù)權(quán)利要求20所述的磁帶驅(qū)動(dòng)器，其中所述讀通道配置于從通過(guò)所述磁帶頭傳感的所述數(shù)據(jù)剝離格式信息。
22.根據(jù)權(quán)利要求17所述的磁帶驅(qū)動(dòng)器，還包括控制，其配置于組織用于檢測(cè)所述差異的數(shù)據(jù)。
23.根據(jù)權(quán)利要求22所述的磁帶驅(qū)動(dòng)器，其中所述控制包括狀態(tài)機(jī)。
24.一種用于測(cè)試至少一個(gè)磁帶驅(qū)動(dòng)器的數(shù)據(jù)可靠性測(cè)試系統(tǒng)，包括錯(cuò)誤控制系統(tǒng)，其配置于開(kāi)始測(cè)試至少一個(gè)磁帶驅(qū)動(dòng)器；以及磁帶驅(qū)動(dòng)器的集成組件，其包括存儲(chǔ)器，其配置于存儲(chǔ)由所述錯(cuò)誤控制系統(tǒng)提供的測(cè)試數(shù)據(jù)，所述測(cè)試數(shù)據(jù)表示分別寫(xiě)到多軌磁帶的軌跡的數(shù)據(jù)；多個(gè)讀通道，其每個(gè)配置于從磁帶的軌跡讀由磁帶頭傳感的數(shù)據(jù)；以及錯(cuò)誤處理邏輯，其配置于檢測(cè)在來(lái)自多個(gè)所述讀通道的每一個(gè)的數(shù)據(jù)以及表示寫(xiě)到相同的獨(dú)立的軌跡的數(shù)據(jù)的所述存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)的測(cè)試數(shù)據(jù)之間的差異，并且配置于提供關(guān)于所述檢測(cè)的差異的錯(cuò)誤信息用于所述錯(cuò)誤控制系統(tǒng)。
25.根據(jù)權(quán)利要求24所述的數(shù)據(jù)可靠性測(cè)試系統(tǒng)，其中磁帶驅(qū)動(dòng)器的所述集成組件還包括多個(gè)寫(xiě)通道，其每個(gè)配置于將數(shù)據(jù)提供給磁帶頭用于將數(shù)據(jù)寫(xiě)到多軌磁帶的軌跡；以及其中所述存儲(chǔ)器配置于存儲(chǔ)測(cè)試數(shù)據(jù)，所述測(cè)試數(shù)據(jù)表示通過(guò)所述多個(gè)寫(xiě)通道分別寫(xiě)到所述的磁帶的軌跡的測(cè)試數(shù)據(jù)。
26.根據(jù)權(quán)利要求25所述的數(shù)據(jù)可靠性測(cè)試系統(tǒng)，其中磁帶驅(qū)動(dòng)器的所述集成組件還包括寫(xiě)數(shù)據(jù)緩沖器，其配置于安排所述測(cè)試數(shù)據(jù)用于將所述數(shù)據(jù)分別寫(xiě)到所述軌跡。
27.根據(jù)權(quán)利要求25所述的數(shù)據(jù)可靠性測(cè)試系統(tǒng)，其中磁帶驅(qū)動(dòng)器的所述集成組件還包括控制器，其配置于提供測(cè)試數(shù)據(jù)用于將所述測(cè)試數(shù)據(jù)寫(xiě)到所述獨(dú)立的軌跡，并且配置其提供所述測(cè)試數(shù)據(jù)用于通過(guò)所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)。
28.根據(jù)權(quán)利要求25所述的數(shù)據(jù)可靠性測(cè)試系統(tǒng)，其中所述寫(xiě)通道還包括寫(xiě)邏輯，其配置于將格式信息加到所述測(cè)試數(shù)據(jù)。
29.根據(jù)權(quán)利要求28所述的數(shù)據(jù)可靠性測(cè)試系統(tǒng)，其中所述讀通道配置于從由所述磁帶頭傳感的所述數(shù)據(jù)剝離格式信息。
30.根據(jù)權(quán)利要求24所述的數(shù)據(jù)可靠性測(cè)試系統(tǒng)，還包括控制，其配置于組織用于檢測(cè)所述差異的數(shù)據(jù)。
31.根據(jù)權(quán)利要求30所述的數(shù)據(jù)可靠性測(cè)試系統(tǒng)，其中所述控制包括狀態(tài)機(jī)。
32.根據(jù)權(quán)利要求24所述的數(shù)據(jù)可靠性測(cè)試系統(tǒng)，其中所述錯(cuò)誤控制系統(tǒng)還配置于分析所述被提供的錯(cuò)誤信息。
33.一種用于測(cè)試磁帶驅(qū)動(dòng)器的數(shù)據(jù)可靠性的方法，包括以下步驟存儲(chǔ)表示分別寫(xiě)到多軌磁帶的軌跡的數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)的測(cè)試數(shù)據(jù)；讀磁帶的多個(gè)軌跡的每一個(gè)的數(shù)據(jù)，所述軌跡已分別寫(xiě)了測(cè)試數(shù)據(jù)；以及檢測(cè)在所述讀步驟中讀的數(shù)據(jù)和所述存儲(chǔ)步驟的測(cè)試數(shù)據(jù)之間的差異，所述測(cè)試數(shù)據(jù)表示對(duì)應(yīng)在所述讀步驟中讀的所述數(shù)據(jù)的相同的獨(dú)立的軌跡的數(shù)據(jù)。
34.根據(jù)權(quán)利要求33所述的方法，還包括以下步驟從在所述讀數(shù)據(jù)步驟中讀的所述數(shù)據(jù)剝離格式信息。
35.根據(jù)權(quán)利要求33所述的方法，還包括以下步驟分別將數(shù)據(jù)寫(xiě)到多軌磁帶的軌跡；以及其中所述存儲(chǔ)步驟包括存儲(chǔ)數(shù)據(jù)，該數(shù)據(jù)表示在所述分別寫(xiě)步驟分別寫(xiě)到所述的磁帶軌跡的測(cè)試數(shù)據(jù)。
36.根據(jù)權(quán)利要求35所述的方法，還包括以下步驟將格式信息加到所述分別寫(xiě)步驟的所述數(shù)據(jù)。
37.根據(jù)權(quán)利要求36所述的方法，還包括以下步驟從在所述讀數(shù)據(jù)步驟中讀的所述數(shù)據(jù)剝離格式信息。
38.根據(jù)權(quán)利要求33所述的方法，還包括以下步驟提供關(guān)于所述檢測(cè)的差異的錯(cuò)誤信息。
39.根據(jù)權(quán)利要求38所述的方法，還包括以下步驟分析在所述提供步驟中提供的所述錯(cuò)誤信息。
40.根據(jù)權(quán)利要求33所述的方法，其中所述存儲(chǔ)步驟還包括提供所述測(cè)試數(shù)據(jù)用于所述存儲(chǔ)步驟的開(kāi)始步驟。
全文摘要
對(duì)磁帶驅(qū)動(dòng)器的各通道分別進(jìn)行用于磁帶驅(qū)動(dòng)器的數(shù)據(jù)可靠性測(cè)試，該磁帶驅(qū)動(dòng)器讀寫(xiě)多軌磁帶的軌跡。存儲(chǔ)器存儲(chǔ)表示分別寫(xiě)到多軌磁帶的軌跡的數(shù)據(jù)的測(cè)試數(shù)據(jù)；多個(gè)讀通道的每一個(gè)從磁帶的獨(dú)立的軌跡讀由磁帶頭傳感的數(shù)據(jù)；并且錯(cuò)誤處理邏輯檢測(cè)在來(lái)自多個(gè)讀通道的每一個(gè)的數(shù)據(jù)以及表示寫(xiě)到相同的獨(dú)立的軌跡的數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)的測(cè)試數(shù)據(jù)之間的差異。
文檔編號(hào)G11B5/008GK1783322SQ20051008490
公開(kāi)日2006年6月7日 申請(qǐng)日期2005年7月25日 優(yōu)先權(quán)日2004年12月3日
發(fā)明者史蒂文·R·本特利, 羅伯特·A·哈欽斯, 出村雅之, 撫原修平 申請(qǐng)人:國(guó)際商業(yè)機(jī)器公司