專利名稱：光盤及光盤裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及具有兩個信息記錄層并在各層具有測試區(qū)域的光盤。另外，本發(fā)明還涉及對所述光盤進(jìn)行記錄的光盤裝置。測試區(qū)域用于調(diào)整驅(qū)動的各種條件、例如用于學(xué)習(xí)記錄條件。
背景技術(shù)：
近年來，隨著光盤的高密度化、大容量化的不斷發(fā)展，確保光盤的可靠性變得尤為重要。為了確保該可靠性，在對這種光盤進(jìn)行記錄或再生的光盤裝置中，進(jìn)行記錄學(xué)習(xí)來求得對光盤進(jìn)行的記錄再生條件(參照專利文獻(xiàn)1)。
記錄學(xué)習(xí)是指，使與照射到光盤上的激光脈沖相關(guān)的脈沖條件最佳的動作。脈沖條件是指，例如包括與記錄時照射到光盤上的激光脈沖的功率值、或者激光脈沖的產(chǎn)生時序及長度等相關(guān)的條件。
另外，正盛行如下的技術(shù)的開發(fā)相對于記錄再生用的光束，在位于跟前側(cè)的位置還配置半透明的信息記錄層，使其和里側(cè)的信息記錄層構(gòu)成兩層，使記錄容量倍增。即使是這樣的兩層光盤也需要記錄學(xué)習(xí)，分別在相對于光束位于跟前側(cè)的層(稱作L1層)和里側(cè)的層(稱作L0層)，在記錄數(shù)據(jù)之前進(jìn)行記錄條件的學(xué)習(xí)(參照專利文獻(xiàn)2)。
但是，在以往的記錄學(xué)習(xí)中，有可能會出現(xiàn)無法在L0層提取最佳的記錄條件的現(xiàn)象。具體而言，在記錄學(xué)習(xí)中，還考慮以比適于記錄數(shù)據(jù)的記錄功率(設(shè)為Pwo1)高很多的測試記錄功率來記錄測試信號。因此認(rèn)為即使是在記錄功率Pwo1的條件下L1層的記錄的有無不會對L0層的記錄品質(zhì)帶來影響的光盤，在上述那樣的測試記錄功率下，光束通過L1層時受到強(qiáng)度變化等的影響，得不到L0層的記錄功率的最佳值(設(shè)為Pwo0)
專利文獻(xiàn)1特開2001-338422號公報專利文獻(xiàn)2特開2000-311346號公報發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明鑒于上述問題而實(shí)現(xiàn)，目的在于提供一種光盤裝置，在具有兩層可記錄的信息記錄層的光盤中，任一層都可以實(shí)現(xiàn)精度優(yōu)良的記錄學(xué)習(xí)。本發(fā)明的另一個目的在于提供一種利用所述光盤進(jìn)行記錄學(xué)習(xí)的光盤裝置。
本發(fā)明的光盤是可以記錄用戶數(shù)據(jù)，且具有記錄再生用光的光入射面相同的第一和第二兩個信息記錄層的光盤。第一信息記錄層至少包括用于調(diào)整驅(qū)動的各種條件的位于內(nèi)周的第一測試區(qū)域、用于調(diào)整驅(qū)動的各種條件的位于外周的第二測試區(qū)域、和用于記錄用戶數(shù)據(jù)的第一數(shù)據(jù)記錄區(qū)域。第二信息記錄層至少包括用于調(diào)整驅(qū)動的各種條件的位于內(nèi)周的第三測試區(qū)域、用于調(diào)整驅(qū)動的各種條件的位于外周的第四測試區(qū)域、和用于記錄用戶數(shù)據(jù)的第二數(shù)據(jù)記錄區(qū)域。第一測試區(qū)域和第三測試區(qū)域被配置在相互不重合的半徑位置。第二測試區(qū)域和第四測試區(qū)域被配置在相互大致相同的半徑位置。由此，達(dá)到上述目的。
這里，例如，第一信息記錄層是離光入射面遠(yuǎn)的一側(cè)的層，第二信息記錄層是離光入射面近的一側(cè)的層。第一測試區(qū)域和第三測試區(qū)域可以是用于學(xué)習(xí)內(nèi)周的記錄條件的區(qū)域。第二測試區(qū)域和第四測試區(qū)域可以是用于學(xué)習(xí)外周的記錄條件的區(qū)域。
還可以具有下述特征第一信息記錄層至少包括讀出專用的控制數(shù)據(jù)區(qū)域，在控制數(shù)據(jù)區(qū)域的對面的位置，配置第三測試區(qū)域。
還可以具有下述特征控制數(shù)據(jù)區(qū)域通過壓紋狀的凹坑、波動凹槽、或波動凹坑，預(yù)先記錄控制數(shù)據(jù)。
還可以具有下述特征在第一信息記錄層中，從內(nèi)周側(cè)開始按照順序至少配置控制數(shù)據(jù)區(qū)域、第一測試區(qū)域、第一數(shù)據(jù)記錄區(qū)域；在第二信息記錄層中，從內(nèi)周側(cè)開始按照順序至少配置第三測試區(qū)域、第二數(shù)據(jù)記錄區(qū)域。
還可以具有下述特征第一測試區(qū)域的最內(nèi)周的半徑R1和第三測試區(qū)域的最外周的半徑R2之間的差，在第一信息記錄層的軌道的偏心量和第二信息記錄層的軌道的偏心量之和以上。
還可以具有下述特征將與第一信息記錄層的軌道的偏心量和第二信息記錄層的軌道的偏心量之和相當(dāng)?shù)木嚯x、和讀出光被匯聚于第一信息記錄層時第二信息記錄層中的讀出光的光束半徑相加而得到一距離，半徑R1和半徑R2之間的差在所得到的距離以上。
還可以具有下述特征將與第一信息記錄層的軌道的偏心量和第二信息記錄層的軌道的偏心量之和相當(dāng)?shù)木嚯x、和第一信息記錄層的軌道始端的半徑位置公差與第二信息記錄層的軌道始端的半徑位置公差之和相加而得到一距離，半徑R1和半徑R2之間的差在所得到的距離以上。
還可以具有下述特征從光入射面至第一信息記錄層的距離，與具有單一的信息記錄層的光盤中的、光入射面與單一的信息記錄層之間的距離相等。
還可以具有下述特征在控制數(shù)據(jù)區(qū)域存儲著與第一信息記錄層相關(guān)的控制數(shù)據(jù)，和與第二信息記錄層相關(guān)的控制數(shù)據(jù)雙方。
還可以具有下述特征從內(nèi)周側(cè)向外周側(cè)或從外周側(cè)向內(nèi)周側(cè)連續(xù)地進(jìn)行向測試區(qū)域的寫入。
還可以具有下述特征數(shù)據(jù)的寫入從第一信息記錄層向第二信息記錄層連續(xù)地進(jìn)行，第一信息記錄層是相對于光入射面在里側(cè)的層，第二信息記錄層是相對于光入射面在跟前側(cè)的層。
另外本發(fā)明的光盤裝置，是用于對權(quán)利要求1～11中任一項(xiàng)的光盤進(jìn)行記錄的光盤裝置，包括光頭、光頭驅(qū)動機(jī)構(gòu)和控制機(jī)構(gòu)。光頭將光照射到光盤，并輸出與來自光盤的反射光相對應(yīng)的信號。光頭驅(qū)動機(jī)構(gòu)根據(jù)規(guī)定的記錄條件來驅(qū)動光頭?？刂茩C(jī)構(gòu)根據(jù)從光頭輸出的信號來控制光頭驅(qū)動機(jī)構(gòu)。控制機(jī)構(gòu)在第一測試區(qū)域和第三測試區(qū)域進(jìn)行記錄學(xué)習(xí)，確定對第一信息記錄層和第二信息記錄層的每一個的最佳記錄條件。
(發(fā)明效果)根據(jù)本發(fā)明的兩層光盤，由于是第一測試區(qū)域和第三測試區(qū)域不重合的結(jié)構(gòu)，所以即使當(dāng)因位于光入射側(cè)跟前位置的信息記錄層的記錄狀態(tài)使得透過的光束的強(qiáng)度受到影響時，也可以在里側(cè)的信息記錄層進(jìn)行適當(dāng)?shù)挠涗泴W(xué)習(xí)。
另外，由于是在數(shù)據(jù)記錄區(qū)域的外周設(shè)置第二測試區(qū)域和第四測試區(qū)域，所以即使在外周也可以進(jìn)行記錄學(xué)習(xí)，能夠遍及數(shù)據(jù)記錄區(qū)域整個面進(jìn)行良好的記錄。
另外，由于是第二測試區(qū)域和第四測試區(qū)域重疊的結(jié)構(gòu)，所以可以減少數(shù)據(jù)記錄區(qū)域的記錄容量的縮小。


圖1是表示本發(fā)明實(shí)施方式一的光盤101的結(jié)構(gòu)的示意圖；圖2是表示本發(fā)明實(shí)施方式一的兩層光盤的結(jié)構(gòu)的圖；圖3是表示本發(fā)明實(shí)施方式一的兩層光盤的區(qū)域結(jié)構(gòu)的圖；圖4是表示本發(fā)明實(shí)施方式一的光盤區(qū)域主要部分的半徑位置關(guān)系的配置圖；圖5是表示軌道的偏心量與(R1-R2)的關(guān)系的圖；圖6是表示軌道始端位置的公差與(R1-R2)的關(guān)系的圖；圖7是表示激光的光束半徑與(R1-R2)的關(guān)系的圖；圖8是表示本發(fā)明實(shí)施方式二的光盤區(qū)域主要部分的半徑位置關(guān)系的配置圖；圖9是表示光盤裝置的概要的框圖；圖10是對記錄學(xué)習(xí)進(jìn)行說明的流程圖。
圖中101-光盤；102-軌道；201-基板；202-第一信息記錄層；203-空白層；204-第二信息記錄層；205-光透過層；304a-控制數(shù)據(jù)區(qū)域；306a-第一測試區(qū)域；304b-第三測試區(qū)域；315a-第二測試區(qū)域；315b-第四測試區(qū)域。
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明的光盤在L0層和L1層雙方都具有測試區(qū)域，在成為基準(zhǔn)面的L0層具有壓紋(emboss)狀的凹坑(pit)、由搖擺(wobble)凹槽或搖擺凹坑構(gòu)成的控制數(shù)據(jù)區(qū)域，在L0控制數(shù)據(jù)區(qū)域的對面的位置配置L1層的測試區(qū)域。
下面，參照附圖對本發(fā)明的實(shí)施方式進(jìn)行說明。
(實(shí)施方式一)圖1表示本發(fā)明實(shí)施方式一的光盤101的結(jié)構(gòu)，尤其表示第一信息記錄層的結(jié)構(gòu)。
在光盤101，以同心圓狀形成有多個軌道(track)102?；蛘咭部梢栽诠獗P101以螺旋狀形成有單一的軌道102，也可以以螺旋狀形成有多個軌道102。
光盤101的區(qū)域包括預(yù)記錄區(qū)域103和可記錄區(qū)域104。
在預(yù)記錄區(qū)域103存儲有為了訪問光盤101所需的各種參數(shù)。
在可記錄區(qū)域104進(jìn)行記錄學(xué)習(xí)或用戶數(shù)據(jù)的記錄再生。
圖2表示本發(fā)明的單面兩層型光盤的結(jié)構(gòu)。
在圖2中，201是基板，202是第一信息記錄層，203是粘接樹脂等的空白(space)層，204是第二信息記錄層，205是光透過層。從光透過層205一側(cè)對光盤照射激光，在第一信息記錄層(L0層)202以及第二信息記錄層(L1層)204記錄并再生數(shù)據(jù)。
在本實(shí)施方式的兩層光盤中，第一信息記錄層202相對于光入射面的位置(軸向位置)，與只具有一個信息記錄層的單層光盤(未圖示)的信息記錄層相對于光入射面的位置(軸向位置)相同。
對第一信息記錄層202以及第二信息記錄層204，也可以以螺旋狀形成軌道，還可以以螺旋狀形成多個軌道。
圖3表示圖2所示的兩層光盤上配置的區(qū)域的結(jié)構(gòu)。
第一信息記錄層的預(yù)記錄區(qū)域301a是如下所示的區(qū)域通過形成在基板201或空白層203的軌道的搖擺形狀、或者壓紋凹坑、或者波動的壓紋凹坑等來記錄兩層光盤的識別信息等的信息。
預(yù)記錄區(qū)域301a包括作為緩沖區(qū)的保護(hù)區(qū)域303a；和控制數(shù)據(jù)區(qū)域304a，其至少記錄如下信息中的至少一個作為光盤的識別信息盤類型、盤尺寸、盤結(jié)構(gòu)、溝道位(channel bit)、數(shù)據(jù)區(qū)段配置、記錄線速度、可再生最大功率、記錄功率信息、記錄脈沖信息、盤固有信息。
控制數(shù)據(jù)區(qū)域304a包括與第一信息記錄層相關(guān)的信息和與第二信息記錄層相關(guān)的信息兩者。
第二信息記錄層的預(yù)記錄區(qū)域301b至少包括作為緩沖區(qū)的保護(hù)區(qū)域303b。
第一信息記錄層的可記錄區(qū)域302a，在預(yù)記錄區(qū)域301a和可記錄區(qū)域302a的軌道間距不同時也可以用作軌道間距的過渡區(qū)域，包括；保護(hù)區(qū)域305a、第一測試區(qū)域306a、緩沖區(qū)域307a、用于存儲光盤的各種特性等的信息的驅(qū)動管理信息區(qū)域308a、緩沖區(qū)域309a、記錄用戶數(shù)據(jù)等的用戶數(shù)據(jù)記錄區(qū)域310a、第二測試區(qū)域315a、緩沖區(qū)域311a、用于將來擴(kuò)展的保留區(qū)域312a、緩沖區(qū)域313a和保護(hù)區(qū)域314a。
第二信息記錄層的可記錄區(qū)域302b包括第三測試區(qū)域304b和保護(hù)區(qū)域305b，保護(hù)區(qū)域305b被配置在與第一信息記錄層的保護(hù)區(qū)域305a相同的半徑位置。
此外，第二信息記錄層的第三測試區(qū)域304b被配置在與第一信息記錄層的控制數(shù)據(jù)區(qū)域304a相同的半徑位置，或者外周側(cè)半徑位置相等地配置。
第二信息記錄層的可記錄區(qū)域302b包括用于將來擴(kuò)展的保留區(qū)域306b、緩沖區(qū)域307b以及保留區(qū)域308b，分別與第一信息記錄層的第一測試區(qū)域306a、緩沖區(qū)域307a以及驅(qū)動管理信息區(qū)域308a配置在相同的半徑位置。
另外，第二信息記錄層的可記錄區(qū)域302b包括緩沖區(qū)域309b、記錄用戶數(shù)據(jù)等的用戶數(shù)據(jù)記錄區(qū)域310b、第四測試區(qū)域315b、緩沖區(qū)域311b、用于將來擴(kuò)展的保留區(qū)域312b、緩沖區(qū)域313b和保護(hù)區(qū)域314b，分別與第一信息記錄層的緩沖區(qū)域309a、用戶數(shù)據(jù)記錄區(qū)域310a、第二測試區(qū)域315a、緩沖區(qū)域311a、用于將來擴(kuò)展的保留區(qū)域312a、緩沖區(qū)域313a、保護(hù)區(qū)域314a配置在相同的半徑位置。
用圖4表示以上說明的光盤區(qū)域的主要部分的半徑位置關(guān)系的配置圖。
在圖4中，上部分表示第一信息記錄層的保護(hù)區(qū)域303a、控制數(shù)據(jù)區(qū)域304a、保護(hù)區(qū)域305a、第一測試區(qū)域306a、緩沖區(qū)域307a、驅(qū)動管理信息區(qū)域308a、緩沖區(qū)域309a、用戶數(shù)據(jù)記錄區(qū)域310a和第二測試區(qū)域315a。在該圖中，下部表示第二信息記錄層的保護(hù)區(qū)域303b、第三測試區(qū)域304b、保護(hù)區(qū)域305b、保留區(qū)域306b、緩沖區(qū)域307b、保留區(qū)域308b、緩沖區(qū)域309b、用戶數(shù)據(jù)記錄區(qū)域310b和第四測試區(qū)域315b。
第三測試區(qū)域304b被配置在與控制數(shù)據(jù)區(qū)域304a相對的半徑位置(重疊的半徑位置)，第三測試區(qū)域304b的最外周半徑R2與控制數(shù)據(jù)區(qū)域304a的最外周半徑相同，且其最內(nèi)周半徑大于等于控制數(shù)據(jù)區(qū)域304a的最內(nèi)周半徑。由于控制數(shù)據(jù)區(qū)域304a的控制數(shù)據(jù)僅通過將光束照到凹坑或軌道的搖擺形狀并檢測反射光量而被再生，所以在光束透過第二信息記錄層時，即使受到因第三測試區(qū)域304b的記錄狀態(tài)帶來的強(qiáng)度變化，也幾乎不會對控制數(shù)據(jù)的再生信號品質(zhì)產(chǎn)生影響。
另外，第三測試區(qū)域304b被配置在與第一測試區(qū)域306a不同的半徑，所以正確地進(jìn)行第一層的記錄學(xué)習(xí)，且不會對第一測試區(qū)域306a造成影響。
第四測試區(qū)域315b被配置在與第二測試區(qū)域315a相對的大致相同的半徑位置。可以在大致相同的半徑位置進(jìn)行配置是因?yàn)橹灰趦?nèi)周的第一測試區(qū)域306a和第三測試區(qū)域304b進(jìn)行了記錄學(xué)習(xí)之后，就能以接近最佳功率的功率進(jìn)行外周的第二測試區(qū)域315a和第四測試區(qū)域315b的記錄學(xué)習(xí)，所以透過率變化等對其他層造成的影響小。通過該配置，即使在外周也可以進(jìn)行記錄學(xué)習(xí)，可以補(bǔ)償因傾斜(tilt)等引起的外周的記錄特性的變化，在盤整個面得到更好的記錄品質(zhì)。另外，由于可配置在相同的半徑，所以可以減少用戶數(shù)據(jù)的記錄容量的縮小。
另外，本實(shí)施方式的光盤為兩層，但在考慮只具有所述第一信息記錄層的單層光盤時，由于在這樣的單層光盤沒有第二信息記錄層，所以不需要用于避開來自第二信息記錄層的測試區(qū)域的影響的區(qū)域。在本實(shí)施方式的光盤中，通過將控制數(shù)據(jù)區(qū)域304a被配置在與第三測試區(qū)域304b重疊的半徑，從而不需要與第三測試區(qū)域304b對置地在第一信息記錄層追加區(qū)域，所以可以采用與上述單層光盤相同的區(qū)域結(jié)構(gòu)。例如，可以讓用戶數(shù)據(jù)記錄區(qū)域310a以及310b的最內(nèi)周半徑R0與單層光盤相同，所以也不會縮小用戶數(shù)據(jù)的記錄容量。因此，在單層光盤和兩層光盤，用戶數(shù)據(jù)記錄區(qū)域的半徑和地址不變，所以用光盤裝置進(jìn)行記錄再生時，光束的訪問也變得容易，可以避免用戶數(shù)據(jù)等的記錄容量的縮小。
另外，在控制數(shù)據(jù)區(qū)域304a和第一測試區(qū)域306a之間，存在保護(hù)區(qū)域305a，具有與第一測試區(qū)域306a的最內(nèi)周半徑R1和第三測試區(qū)域304b的最外周半徑R2之間的差相當(dāng)?shù)膶挾取?br> 考慮第一信息記錄層的軌道的偏心量Δe1、第二信息記錄層的軌道的偏心量Δe2、激光被匯聚于一方信息記錄層時的另一方信息記錄層中的激光的光束半徑D、第一信息記錄層的軌道始端的半徑位置的公差Δr1、第二信息記錄層的軌道始端的半徑位置的公差Δr2等，來設(shè)定保護(hù)區(qū)域305a的寬度(R1-R2)。更詳細(xì)地說，如圖5所示，即使在各個信息記錄層的軌道分別只偏心了Δe1、Δe2的情況下，也按照在第一測試區(qū)域306a和第三測試區(qū)域304b不重合的半徑位置進(jìn)行配置的方式，來確定保護(hù)區(qū)域305a的寬度(R1-R2)。即，保護(hù)區(qū)域305a的寬度(R1-R2)被確定為至少在Δe1+Δe2以上。另外，如圖6所示，即使各個信息記錄層的軌道始端的半徑位置分別具有公差Δr1、Δr2，按照在第一測試區(qū)域306a和第三測試區(qū)域304b不重合的半徑位置進(jìn)行配置的方式，來確定保護(hù)區(qū)域305a的寬度(R1-R2)。即，保護(hù)區(qū)域305a的寬度(R1-R2)被確定為至少在Δr1+Δr2以上。另外，如圖7所示，當(dāng)激光被匯聚于一方的層的測試區(qū)域時，按照不對另一方的層的測試區(qū)域照射激光的方式，來確定保護(hù)區(qū)域305a的寬度(R1-R2)。即，保護(hù)區(qū)域305a的寬度(R1-R2)被確定為至少在D以上。
由此，即使存在軌道的偏心或公差時，也可以使第一測試區(qū)域306a和第三測試區(qū)域304b不重合，可以適當(dāng)?shù)剡M(jìn)行記錄學(xué)習(xí)。一般，由于存在軌道的偏心或公差在兩層之間為相反方向的情況，還存在同時發(fā)生的情況，所以假定為最差的情況，則保護(hù)區(qū)域305a的寬度(R2-R1)被設(shè)定為在Δe1+Δe2+Δr1+Δr2+D以上。
此外，通過采用該結(jié)構(gòu)，由于在控制數(shù)據(jù)區(qū)域304a存儲著第一信息記錄層和第二信息記錄層雙方的記錄脈沖等介質(zhì)固有信息，所以存在如下優(yōu)點(diǎn)首先若訪問第一信息記錄層則可獲得所有識別信息，光盤驅(qū)動的啟動動作變快。
另外，在本實(shí)施方式的兩層光盤中對用戶數(shù)據(jù)進(jìn)行記錄再生的光盤裝置，一般對于單層光盤也能記錄再生用戶數(shù)據(jù)。本實(shí)施方式的兩層光盤，由于在相對于光入射面與單層光盤的信息記錄層位于相同位置的第一信息記錄層配置控制數(shù)據(jù)區(qū)域304a，所以在將該兩層光盤裝在光盤裝置中時，可以在光學(xué)上相同的條件下將光束照射于控制數(shù)據(jù)區(qū)域304a。由此，存在可順暢地讀取識別信息的效果。
(實(shí)施方式二)圖8表示本發(fā)明的其他實(shí)施方式中的光盤區(qū)域的主要部分的半徑位置關(guān)系的配置圖。
在該圖中，上部分表示第一信息記錄層的保護(hù)區(qū)域503a、控制數(shù)據(jù)區(qū)域504a、保護(hù)區(qū)域505a、第一測試區(qū)域506a、緩沖區(qū)域507a、驅(qū)動管理信息區(qū)域508a、緩沖區(qū)域509a、用戶數(shù)據(jù)記錄區(qū)域510a和第二測試區(qū)域515a。在該圖中，下部表示第二信息記錄層的保護(hù)區(qū)域503b、第三測試區(qū)域504b、保留區(qū)域505b、保護(hù)區(qū)域506b、保留區(qū)域507b、緩沖區(qū)域508b、保留區(qū)域509b、緩沖區(qū)域510b、用戶數(shù)據(jù)記錄區(qū)域511b和第四測試區(qū)域515b。其他的結(jié)構(gòu)以及各區(qū)域的內(nèi)容與圖3所示的實(shí)施方式1的兩層光盤實(shí)質(zhì)相同，所以省略詳細(xì)的說明。
第三測試區(qū)域504b被配置在與控制數(shù)據(jù)區(qū)域504a相對的半徑位置，其最內(nèi)周半徑R3大于等于控制數(shù)據(jù)區(qū)域504a的最內(nèi)周半徑R4，且其最外周半徑R5比控制數(shù)據(jù)區(qū)域504a的最外周半徑小。由于控制數(shù)據(jù)區(qū)域504a的控制數(shù)據(jù)僅通過將光束照到凹坑或軌道的搖擺形狀并檢測反射光量而被再生，所以在光束透過第二信息記錄層時，即使受到因第三測試區(qū)域504b的記錄狀態(tài)而引起的強(qiáng)度變化，也幾乎不會對控制數(shù)據(jù)的再生信號品質(zhì)產(chǎn)生影響。
另外，第三測試區(qū)域504b配置在與第一測試區(qū)域506a不同的半徑，所以能正確地進(jìn)行第一層的記錄學(xué)習(xí)，且不會對第一測試區(qū)域506a造成影響。
第四測試區(qū)域515b被配置在與第二測試區(qū)域515a相對的大致相同的半徑位置?？梢栽诖笾孪嗤陌霃轿恢眠M(jìn)行配置是因?yàn)橹灰趦?nèi)周的第一測試區(qū)域506a和第三測試區(qū)域504b進(jìn)行了記錄學(xué)習(xí)之后，就能以接近最佳功率的功率進(jìn)行外周的第二測試區(qū)域515a和第四測試區(qū)域515b的記錄學(xué)習(xí)，所以透過率變化等對其他層造成的影響小。通過該配置，即使在外周也可以進(jìn)行記錄學(xué)習(xí)，可以補(bǔ)償因傾斜引起的外周的記錄特性的變化，在盤整個面得到更好的記錄品質(zhì)。另外，由于可以配置在相同的半徑，所以可以減少用戶數(shù)據(jù)的記錄容量的縮小。
此外，本實(shí)施方式的光盤為兩層，但在考慮只具有所述第一信息記錄層的單層光盤時，由于在這樣的單層光盤沒有第二信息記錄層，所以不需要用于避開來自第二信息記錄層的測試區(qū)域的影響的區(qū)域。在本實(shí)施方式的光盤中，通過將控制數(shù)據(jù)區(qū)域504a配置在與第三測試區(qū)域504b重疊的半徑，從而不需要與第三測試區(qū)域504b對置地在第一信息記錄層追加區(qū)域，所以可以采用與上述單層光盤相同的區(qū)域結(jié)構(gòu)。例如，可以使用戶數(shù)據(jù)記錄區(qū)域510a以及511b的最內(nèi)周半徑R0與單層光盤相同，所以也不會縮小用戶數(shù)據(jù)的記錄容量。因此，在單層光盤和兩層光盤，用戶數(shù)據(jù)記錄區(qū)域的半徑和地址不變，所以用光盤裝置進(jìn)行記錄再生時，光束的訪問也變得容易。
另外，若在緊鄰第三測試區(qū)域504b的外側(cè)配置保留區(qū)域505b，并使其與保護(hù)區(qū)域506b相接，則在第一測試區(qū)域506a的最內(nèi)周半徑R1和第三測試區(qū)域504b的最外周半徑R5之間設(shè)置間隔(R1-R5)。考慮第一信息記錄層的軌道的偏心量Δe1、第二信息記錄層的軌道的偏心量Δe2、激光被匯聚于一方信息記錄層時的另一方信息記錄層中的激光的光束半徑D、第一信息記錄層的軌道始端的半徑位置的公差Δr1、第二信息記錄層的軌道始端的半徑位置的公差Δr2等，來設(shè)定所述間隔(R1-R5)。詳細(xì)而言，與實(shí)施方式一記載的內(nèi)容同樣，間隔(R1-R5)被確定為至少在Δe1+Δe2以上、Δr1+Δr2以上、或D以上。
由此，即使存在軌道的偏心或公差時，也可以使第一測試區(qū)域506a和第三測試區(qū)域504b不重合，可以適當(dāng)?shù)剡M(jìn)行記錄學(xué)習(xí)。一般，由于存在軌道的偏心或公差在兩個層之間為相反方向的情況，還存在同時發(fā)生的情況，所以假定為最差的情況，則間隔(R1-R5)被設(shè)定為在Δe1+Δe2+Δr1+Δr2+D以上。
而且，在本實(shí)施方式的光盤中，不僅是保護(hù)區(qū)域506b，還可使用保留區(qū)域505b，在兩個測試區(qū)域之間設(shè)置所希望的間隙。由于可以相應(yīng)地減小保護(hù)區(qū)域505a以及保護(hù)區(qū)域506b的寬度，所以可以進(jìn)一步抑制用戶數(shù)據(jù)等的記錄容量的縮小。
此外，通過采用該結(jié)構(gòu)，由于在控制數(shù)據(jù)區(qū)域504a存儲著第一信息記錄層和第二信息記錄層雙方的記錄脈沖等介質(zhì)固有信息，所以存在如下的優(yōu)點(diǎn)首先若訪問第一信息記錄層則可獲得所有識別信息，光盤驅(qū)動的啟動動作變快。
另外，在本實(shí)施方式1及2所示的光盤中，如圖3的箭頭316a和316b所示那樣確定記錄再生的方向，在第一信息記錄層中，若從內(nèi)周側(cè)向外周側(cè)連續(xù)記錄用戶數(shù)據(jù)而全部都是第一信息記錄層的用戶數(shù)據(jù)記錄區(qū)域，則也可以從第二信息記錄層的外周向內(nèi)周側(cè)記錄用戶數(shù)據(jù)。在該情況下，當(dāng)對第一信息記錄層記錄用戶數(shù)據(jù)時，光束透過的第二信息記錄層完全為未記錄狀態(tài)。因此，即使在最佳記錄功率Pwo1的條件下，對于未記錄狀態(tài)也可以使用受到透過光影響的記錄材料，從而第二信息記錄層的材料的選擇范圍變廣。即便使用這樣的記錄材料，若采用所述構(gòu)成，則第一測試區(qū)域506a和第三測試區(qū)域504b也不會像所述那樣重疊，所以當(dāng)然可以適當(dāng)?shù)剡M(jìn)行記錄學(xué)習(xí)。尤其是，在僅可進(jìn)行一次記錄的Write-once型(追記型)的光盤中，由于一般可以如所述那樣從內(nèi)周向外周或從外周向內(nèi)周連續(xù)地記錄，所以采用所述構(gòu)成的效果明顯。
另外，至少可以將向各測試區(qū)域的寫入方向規(guī)定為從內(nèi)周側(cè)向外周側(cè)、或從外周側(cè)向內(nèi)周側(cè)進(jìn)行。這樣一來，尤其在追記型的光盤中，具有各測試區(qū)域的空區(qū)域容易識別的優(yōu)點(diǎn)。當(dāng)然，也可以不確定記錄再生的方向，隨機(jī)使用盤整體。
另外，為了在以上的實(shí)施方式一和二中使預(yù)記錄區(qū)域、尤其是控制數(shù)據(jù)區(qū)域304a以及504a中的識別信息的再生穩(wěn)定，還可以使軌道間距比可記錄區(qū)域?qū)?。在該情況下，在第二信息記錄層中，由于預(yù)記錄區(qū)域僅為保護(hù)區(qū)域303b以及503b，所以也可以使保護(hù)區(qū)域303b以及503b的軌道間距與可記錄區(qū)域相同。
另外，在以上的實(shí)施方式一和二中，也可以在測試區(qū)域內(nèi)設(shè)置緩沖區(qū)域。另外，還可在保護(hù)區(qū)域、保留區(qū)域和緩沖區(qū)域?qū)懭胍恍?shù)據(jù)。
(實(shí)施方式三)利用圖9以及圖10，對實(shí)施方式一或二中說明的光盤進(jìn)行記錄的光盤裝置進(jìn)行說明。
圖9是表示光盤裝置600的概要的框圖。
在圖9中，601是光盤。光盤601具有實(shí)施方式一或二中說明的結(jié)構(gòu)。其中，光盤裝置600可以對具有以往的結(jié)構(gòu)的光盤、例如單層光盤進(jìn)行記錄。
而且，602是半導(dǎo)體激光器，603是校準(zhǔn)(collimate)透鏡，604是分束器，605是匯聚機(jī)構(gòu)，606是聚光透鏡，607是光檢測機(jī)構(gòu)，608是再生信號運(yùn)算機(jī)構(gòu)，609是聚焦控制機(jī)構(gòu)，610是跟蹤控制機(jī)構(gòu)，611是執(zhí)行元件，612是控制器，613是激光器驅(qū)動機(jī)構(gòu)，615是信號處理部。
在此，通過半導(dǎo)體激光器602、校準(zhǔn)透鏡603、分束器604、匯聚機(jī)構(gòu)605、聚光透鏡606、光檢測機(jī)構(gòu)607、執(zhí)行元件611等構(gòu)成光頭。另外，通過聚焦控制機(jī)構(gòu)609、跟蹤控制機(jī)構(gòu)610、激光器驅(qū)動機(jī)構(gòu)613等構(gòu)成光頭驅(qū)動機(jī)構(gòu)。另外，通過再生信號運(yùn)算機(jī)構(gòu)608、控制器612等構(gòu)成控制機(jī)構(gòu)。
下面，對再生動作進(jìn)行說明。
光盤601是例如具有兩個信息面的光盤，光點(diǎn)被匯聚于光盤601的兩個信息面中的任意一方來讀出信息。
從半導(dǎo)體激光器602射出的光束通過校準(zhǔn)透鏡603、分束器604、匯聚機(jī)構(gòu)605，而被聚光于光盤601上的兩個信息面中的一方。被聚光的光點(diǎn)在光盤601上被反射衍射，通過匯聚機(jī)構(gòu)605、分束器604、聚光透鏡606，被聚光于光檢測機(jī)構(gòu)607。被聚光的光輸出與光檢測機(jī)構(gòu)上的各受光元件A、B、C、D的光量對應(yīng)的電壓信號，在再生信號運(yùn)算機(jī)構(gòu)(再生信號運(yùn)算電路)608中對所述電壓信號進(jìn)行運(yùn)算。
再生信號運(yùn)算機(jī)構(gòu)608的輸出、即FE信號被發(fā)送到聚焦控制機(jī)構(gòu)609。
再生信號運(yùn)算機(jī)構(gòu)608的輸出、即TE信號被發(fā)送到跟蹤控制機(jī)構(gòu)610。
再生信號運(yùn)算機(jī)構(gòu)608的輸出、即RF信號被發(fā)送到控制器612。
聚焦控制機(jī)構(gòu)609通過與FE信號對應(yīng)的電壓輸出，來驅(qū)動執(zhí)行元件611，并在光盤601的兩個信息面中的任意一個面上對光點(diǎn)進(jìn)行聚焦位置控制。
跟蹤控制機(jī)構(gòu)610通過與TE信號對應(yīng)的電壓輸出，來驅(qū)動執(zhí)行元件611，并在光盤601的兩個信息面中任意一個面上所希望的跟蹤位置對光點(diǎn)進(jìn)行跟蹤位置控制。通過被聚焦位置控制以及跟蹤位置控制后的光點(diǎn)，讀出光盤上的預(yù)置凹坑(pre-pit)或相變化光盤的反射率不同的濃淡的標(biāo)志和空間，從而讀出記錄于光盤上的信息。
控制器612根據(jù)RF信號，檢測光點(diǎn)匯聚于光盤601上的兩個信息面中的哪個面上。更具體而言，控制器612根據(jù)地址值檢測光點(diǎn)匯聚于哪個面上。控制器612控制聚焦控制機(jī)構(gòu)609、跟蹤控制機(jī)構(gòu)610、激光器驅(qū)動機(jī)構(gòu)613。
結(jié)合圖10，對記錄條件學(xué)習(xí)的步驟進(jìn)行說明。
若需要記錄條件學(xué)習(xí)，則控制器612對聚焦控制機(jī)構(gòu)609、跟蹤控制機(jī)構(gòu)610做出指示，并訪問第一信息記錄層的第一測試區(qū)域(步驟701)。
然后，控制器612對激光器驅(qū)動機(jī)構(gòu)613、聚焦控制機(jī)構(gòu)609、跟蹤控制機(jī)構(gòu)610做出指示，在第一測試區(qū)域?qū)W習(xí)記錄條件。例如，對激光器驅(qū)動機(jī)構(gòu)613做出指示，以各種記錄功率嘗試記錄，求得最佳記錄功率，或者對聚焦控制機(jī)構(gòu)609做出指示，在各種聚焦位置嘗試記錄來求得最佳記錄功率，或者對跟蹤控制機(jī)構(gòu)610做出指示，在各種跟蹤位置進(jìn)行嘗試記錄來求得最佳跟蹤位置等(步驟702)。
接著，控制器612對聚焦控制機(jī)構(gòu)609和控制機(jī)構(gòu)610做出指示，訪問第二信息記錄層的第三測試區(qū)域(步驟703)。
而后，控制器612對激光器驅(qū)動機(jī)構(gòu)613、聚焦控制機(jī)構(gòu)609、跟蹤控制機(jī)構(gòu)610做出指示，在第三測試區(qū)域?qū)W習(xí)記錄條件。例如，對激光器驅(qū)動機(jī)構(gòu)613做出指示，以各種記錄功率嘗試記錄，求得最佳記錄功率，或者對聚焦控制機(jī)構(gòu)609做出指示，在各種聚焦位置進(jìn)行嘗試記錄來求得最佳聚焦位置，或者對跟蹤控制機(jī)構(gòu)610做出指示，在各種跟蹤位置嘗試記錄來求得最佳跟蹤位置(步驟704)。
圖10的記錄條件學(xué)習(xí)的步驟在需要記錄條件學(xué)習(xí)時，可以在任何時間進(jìn)行。
(其他)如上所述，使用本發(fā)明的優(yōu)選的實(shí)施方式對本發(fā)明進(jìn)行了例示，但本發(fā)明并非限定于所述的實(shí)施方式來解釋。本發(fā)明僅通過技術(shù)方案的范圍限定，并由該范圍來解釋。本領(lǐng)域技術(shù)人員根據(jù)本發(fā)明的具體優(yōu)選的實(shí)施方式的記載，根據(jù)本發(fā)明的記載以及技術(shù)常識可以在等效的范圍內(nèi)實(shí)施。在本說明書中引用的專利、專利申請以及文獻(xiàn)，其內(nèi)容本身與本說明書中記載的內(nèi)容同樣，其內(nèi)容可以作為對本說明書的參考而被援用。
(工業(yè)上的可利用性)本發(fā)明在要求提供可記錄的兩層光盤的任一層都可以實(shí)現(xiàn)精度優(yōu)良的記錄學(xué)習(xí)的光盤的領(lǐng)域是有用的。
權(quán)利要求
1.一種光盤，能記錄用戶數(shù)據(jù)，且具有記錄再生用的光入射面相同的第一和第二兩個信息記錄層，所述第一信息記錄層至少包括位于內(nèi)周的第一測試區(qū)域、位于外周的第二測試區(qū)域、和用于記錄用戶數(shù)據(jù)的第一數(shù)據(jù)記錄區(qū)域，所述第二信息記錄層至少包括位于內(nèi)周的第三測試區(qū)域、位于外周的第四測試區(qū)域、和用于記錄用戶數(shù)據(jù)的第二數(shù)據(jù)記錄區(qū)域，所述第一測試區(qū)域和所述第三測試區(qū)域被配置在相互不重合的半徑位置，所述第二測試區(qū)域和所述第四測試區(qū)域被配置在相互大致相同的半徑位置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤，其特征在于，所述第一信息記錄層至少包括讀出專用的控制數(shù)據(jù)區(qū)域，在所述控制數(shù)據(jù)區(qū)域的對面的位置，配置所述第三測試區(qū)域。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光盤，其特征在于，所述控制數(shù)據(jù)區(qū)域通過壓紋狀的凹坑、波動凹槽、或波動凹坑，預(yù)先記錄控制數(shù)據(jù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光盤，其特征在于，在所述第一信息記錄層中，從內(nèi)周側(cè)開始按照順序至少配置所述控制數(shù)據(jù)區(qū)域、所述第一測試區(qū)域、所述第一數(shù)據(jù)記錄區(qū)域，在所述第二信息記錄層中，從內(nèi)周側(cè)開始按照順序至少配置所述第三測試區(qū)域、所述第二數(shù)據(jù)記錄區(qū)域。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光盤，其特征在于，所述第一測試區(qū)域的最內(nèi)周的半徑R1與第三測試區(qū)域的最外周的半徑R2之間的差，在所述第一信息記錄層的軌道的偏心量與所述第二信息記錄層的軌道的偏心量之和以上。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光盤，其特征在于，將與所述第一信息記錄層的軌道的偏心量和所述第二信息記錄層的軌道的偏心量之和相當(dāng)?shù)木嚯x、和讀出光被匯聚在所述第一信息記錄層時所述第二信息記錄層中的所述讀出光的光束半徑相加而得到一距離，所述半徑R1與所述半徑R2之間的差在所得到的距離以上。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光盤，其特征在于，將與所述第一信息記錄層的軌道的偏心量和所述第二信息記錄層的軌道的偏心量之和相當(dāng)?shù)木嚯x、和所述第一信息記錄層的軌道始端的半徑位置公差與所述第二信息記錄層的軌道始端的半徑位置公差之和相加而得到一距離，所述半徑R1與所述半徑R2之間的差在所得到的距離以上。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤，其特征在于，從所述光入射面到所述第一信息記錄層的距離，和具有單一的信息記錄層的光盤中的、光入射面與所述單一的信息記錄層之間的距離相等。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤，其特征在于，所述第一信息記錄層至少包括讀出專用的控制數(shù)據(jù)區(qū)域，在所述控制數(shù)據(jù)區(qū)域存儲著與所述第一信息記錄層相關(guān)的控制數(shù)據(jù)、和與所述第二信息記錄層相關(guān)的控制數(shù)據(jù)雙方。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤，其特征在于，向所述測試區(qū)域的寫入，從內(nèi)周側(cè)向外周側(cè)、或從外周側(cè)向內(nèi)周側(cè)連續(xù)地進(jìn)行。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的光盤，其特征在于，數(shù)據(jù)的寫入從所述第一信息記錄層向所述第二信息記錄層連續(xù)地進(jìn)行，所述第一信息記錄層是相對于所述光入射面在里側(cè)的層，所述第二信息記錄層是相對于所述光入射面在跟前側(cè)的層。
12.一種光盤裝置，用于對權(quán)利要求1～11中任一項(xiàng)所述的光盤進(jìn)行記錄，包括光頭，其將光照射到所述光盤，并輸出與來自所述光盤的反射光相對應(yīng)的信號；光頭驅(qū)動機(jī)構(gòu)，其根據(jù)規(guī)定的記錄條件來驅(qū)動所述光頭；和控制機(jī)構(gòu)，其根據(jù)從所述光頭輸出的所述信號來控制所述光頭驅(qū)動機(jī)構(gòu)，所述控制機(jī)構(gòu)在所述第一測試區(qū)域和所述第三測試區(qū)域進(jìn)行記錄學(xué)習(xí)，確定對所述第一信息記錄層和所述第二信息記錄層的每一個的記錄條件。
全文摘要
本發(fā)明提供一種光盤。在從光入射側(cè)觀察位于里側(cè)的第一信息記錄層，設(shè)置再生專用的控制數(shù)據(jù)區(qū)域(304a)、第一測試區(qū)域(306a)、以及第二測試區(qū)域(315a)，在位于跟前側(cè)的第二信息記錄層，在控制數(shù)據(jù)區(qū)域(304a)的對面的位置設(shè)置第三測試區(qū)域(304b)，在第二測試區(qū)域(315a)的對面的位置設(shè)置第四測試區(qū)域(315b)。這樣，在可記錄的兩層光盤中，在哪一層都可實(shí)現(xiàn)精度優(yōu)良的記錄學(xué)習(xí)。
文檔編號G11B7/0045GK1965357SQ200580018569
公開日2007年5月16日 申請日期2005年9月26日 優(yōu)先權(quán)日2004年9月28日
發(fā)明者石田隆 申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社