專利名稱：改進(jìn)的跟蹤誤差信號(hào)校正方法和執(zhí)行這種方法的盤驅(qū)動(dòng)器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明通常涉及一種用于在/從光存儲(chǔ)盤上寫入/讀取信息的盤驅(qū)動(dòng)設(shè)備；此后，這種盤驅(qū)動(dòng)設(shè)備也將被表示為“光盤驅(qū)動(dòng)器”。
更加具體的，本發(fā)明涉及一種用于校正和標(biāo)準(zhǔn)化跟蹤誤差信號(hào)的方法。
背景技術(shù)：
眾所周知，光存儲(chǔ)盤在存儲(chǔ)空間中包括至少一個(gè)軌跡，其或者是以連續(xù)螺旋的形式，或者是以多個(gè)同心圓的形式，在存儲(chǔ)空間中可以數(shù)據(jù)圖案的形式存儲(chǔ)信息。光盤可以是只讀型的，在這種盤中信息是在制造期間記錄的，所述信息只能由用戶來讀取。光存儲(chǔ)盤還可以是可寫入型的，在這種盤中可由用戶來存儲(chǔ)信息。為了在光存儲(chǔ)盤的存儲(chǔ)空間中寫入信息，或者為了從所述盤讀取信息，光盤驅(qū)動(dòng)器一方面包括用于接收和旋轉(zhuǎn)光盤的旋轉(zhuǎn)裝置，另一方面還包括光學(xué)掃描裝置。因?yàn)橥ǔ９獗P的技術(shù)，即可在光盤中存儲(chǔ)信息的方法和可從光盤讀取光學(xué)數(shù)據(jù)的方法是公知的，所以此處并不需要更加詳細(xì)的說明該技術(shù)。
為了旋轉(zhuǎn)光盤，光盤驅(qū)動(dòng)器典型的包括一個(gè)馬達(dá)，其驅(qū)動(dòng)與光盤的中心部分嚙合的輪轂。通常，所述馬達(dá)被實(shí)現(xiàn)為主軸馬達(dá)，并且可將所述馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的輪轂直接布置在馬達(dá)的主軸上。
為了光學(xué)掃描旋轉(zhuǎn)盤，光盤驅(qū)動(dòng)器包括一個(gè)光束產(chǎn)生裝置(一般為激光二極管)、用于將光束在盤上會(huì)聚成焦斑的裝置(例如物鏡)和用于接收從盤反射的反射光和用于產(chǎn)生電子檢測(cè)器輸出信號(hào)的光學(xué)檢測(cè)器。所述光學(xué)檢測(cè)器通常包括多個(gè)檢測(cè)器部分，每個(gè)部分提供一個(gè)單獨(dú)的片段輸出信號(hào)。
在操作期間，光束應(yīng)保持會(huì)聚在盤上。為此，物鏡被布置成軸向可移置的，并且光盤驅(qū)動(dòng)器包括用于控制物鏡的軸向位置的聚焦致動(dòng)器裝置。另外，所述會(huì)聚光斑應(yīng)保持與軌跡對(duì)齊，或者應(yīng)該能夠從一個(gè)當(dāng)前軌跡移到一個(gè)新的軌跡。為此，至少物鏡被徑向可移置地安裝，并且光盤驅(qū)動(dòng)器包括用于控制物鏡的徑向位置的徑向致動(dòng)器裝置。
為了進(jìn)行軌跡跟蹤，即為了保持射束會(huì)聚點(diǎn)與軌跡對(duì)齊，光盤驅(qū)動(dòng)器包括一個(gè)徑向伺服系統(tǒng)，其能夠確定在實(shí)際聚焦位置和期望聚焦位置之間的任何偏移(被表示為跟蹤誤差)，并且為了控制焦點(diǎn)的徑向位置，這種所謂的跟蹤誤差盡可能的小，優(yōu)選的為零?？刂齐娐方邮针娮訖z測(cè)器輸出信號(hào)，并從其獲得表示跟蹤誤差的實(shí)際值的跟蹤誤差信號(hào)。在該跟蹤誤差信號(hào)的基礎(chǔ)上，控制電路產(chǎn)生一個(gè)用于徑向致動(dòng)器的控制信號(hào)。因?yàn)楦櫿`差信號(hào)和使用這種跟蹤誤差信號(hào)作為輸入信號(hào)的徑向伺服系統(tǒng)本身是已知的，所以此處并不需要對(duì)其進(jìn)行詳細(xì)解釋。
理想地，跟蹤誤差信號(hào)僅是跟蹤誤差的實(shí)際值的函數(shù)，即對(duì)于相同的跟蹤誤差值，跟蹤誤差信號(hào)總是具有相同的信號(hào)值。然而，實(shí)際上，并不是這種情況由于多個(gè)原因，跟蹤誤差和跟蹤誤差信號(hào)之間的關(guān)系可能隨著存儲(chǔ)盤的表面變化。為了獲得可預(yù)測(cè)的伺服系統(tǒng)，期望相同的跟蹤誤差導(dǎo)致相同的伺服動(dòng)作，因此期望控制電路接收或計(jì)算一個(gè)對(duì)所述關(guān)系的變化不敏感或者較不敏感的跟蹤誤差信號(hào)。
為此，已知在初始化階段關(guān)于預(yù)定數(shù)量的預(yù)定盤區(qū)(存儲(chǔ)空間的徑向部分)執(zhí)行大量校正過程。在每個(gè)盤區(qū)中，測(cè)量跟蹤誤差信號(hào)的幅度，并將所測(cè)量的幅度存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中。以后，在操作中，將測(cè)量的跟蹤誤差信號(hào)與存儲(chǔ)的相應(yīng)區(qū)的跟蹤誤差信號(hào)幅度進(jìn)行比較以便獲得標(biāo)準(zhǔn)化的跟蹤誤差信號(hào)，并在所述標(biāo)準(zhǔn)化的跟蹤誤差信號(hào)的基礎(chǔ)上產(chǎn)生用于徑向致動(dòng)器的徑向控制信號(hào)。
使用標(biāo)準(zhǔn)化跟蹤誤差信號(hào)的概念效果非常好。然而，在盤的啟動(dòng)階段，這種將盤分割成多個(gè)區(qū)并在那些區(qū)中的每一個(gè)中執(zhí)行校正過程(跟蹤誤差信號(hào)幅度測(cè)量)的已知處理的缺點(diǎn)是非常耗時(shí)的每次測(cè)量花費(fèi)約200ms，并且區(qū)的數(shù)量可在約10的數(shù)量級(jí)。這在用戶能夠使用盤之前增加了必須等待的時(shí)間。
另一個(gè)問題是必須在初始化期間期望減少時(shí)間消耗和期望改進(jìn)精度之間找到一個(gè)折中。可通過減少區(qū)的數(shù)量來減少初始化處理的持續(xù)時(shí)間，但收效是區(qū)的尺寸增加了并且測(cè)量的跟蹤誤差信號(hào)幅度對(duì)于整個(gè)區(qū)來說不夠精確。
為了試圖解決這些問題，US-A-5504726已經(jīng)提出在軌跡跳越期間測(cè)量跟蹤誤差信號(hào)幅度。根據(jù)該公開，跟蹤誤差信號(hào)幅度被確定為是在有很多軌跡跨越的巨大跳越期間測(cè)量的最大幅度，或者作為在三個(gè)連續(xù)的一個(gè)軌跡跳越期間測(cè)量的最大幅度。
US-A-5504726提出的方法的一個(gè)缺點(diǎn)是所述方法對(duì)盤瑕疵(例如刮擦)非常敏感。刮擦可能帶來的影響是與“標(biāo)準(zhǔn)”值(即，在沒有出現(xiàn)這種刮擦的情況下跟蹤誤差信號(hào)的幅度所應(yīng)具有的值)相比，跟蹤誤差信號(hào)的幅度被減小或增加。因此，在該已知方法中，將用于標(biāo)準(zhǔn)化的跟蹤誤差信號(hào)幅度實(shí)際上是與一個(gè)軌跡跨越(即，具有最大幅度的一個(gè)軌跡跨越)相應(yīng)的幅度，很可能在刮擦的情況下采用一個(gè)“錯(cuò)誤的”幅度。
當(dāng)已經(jīng)終止跳越時(shí)現(xiàn)有的系統(tǒng)立即使得用所述最大幅度用于標(biāo)準(zhǔn)化的事實(shí)會(huì)加重該缺陷。換句話說，標(biāo)準(zhǔn)化值僅是在一次跳越期間獲得的軌跡跨越結(jié)果的基礎(chǔ)上計(jì)算的。所以如果在跳越期間，采用一個(gè)“錯(cuò)誤的”幅度作為用于標(biāo)準(zhǔn)化的幅度，則進(jìn)一步的讀取或?qū)懭胩幚頃?huì)立即受到影響。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的一個(gè)重要目標(biāo)是提供一種消除或至少減輕上述問題的校正方法。
更加具體的，本發(fā)明目的在于提供一種對(duì)刮擦不敏感的校正方法。
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)重要方面，跨越多個(gè)軌跡執(zhí)行跳越，并且在該跳越期間的多個(gè)軌跡交叉的基礎(chǔ)上計(jì)算一跳標(biāo)準(zhǔn)化值。對(duì)多次跳越重復(fù)該處理，每次跳越都會(huì)導(dǎo)致被計(jì)算的一個(gè)相應(yīng)一跳標(biāo)準(zhǔn)化值。在對(duì)所述多次跳越計(jì)算的多個(gè)一跳標(biāo)準(zhǔn)化值的基礎(chǔ)上計(jì)算多跳校正值。因此，每次跳越所計(jì)算的一跳標(biāo)準(zhǔn)化值對(duì)多跳校正值起作用。例如由刮擦引起的單個(gè)一跳標(biāo)準(zhǔn)化值的錯(cuò)誤對(duì)多跳校正值的值具有較少的影響。
在一個(gè)可能的實(shí)施例中，多跳校正值被計(jì)算為大量一跳標(biāo)準(zhǔn)化值的平均值。
在另一個(gè)可能的實(shí)施例中，如果新的跳越提供了大于參考值的一跳標(biāo)準(zhǔn)化值，則通過增加多跳校正值，或者如果新的跳越提供了小于所述參考值的一跳標(biāo)準(zhǔn)化值，則通過減小多跳校正值，來計(jì)算多跳校正值。所述增加的值和減小的值可以是恒定的，但它們也可以與當(dāng)前一跳標(biāo)準(zhǔn)化值和參考值之間的差成比例。


將通過下面參考附圖的說明來進(jìn)一步解釋本發(fā)明的這些和其它方面、特征和優(yōu)點(diǎn)，其中相同的參考數(shù)字指代相同或相似的部件，并且其中圖1示意的表示光盤驅(qū)動(dòng)設(shè)備的相關(guān)部件；圖2A為表示連續(xù)軌跡跨越期間的特性TES曲線的曲線圖；圖2B為類似于圖2A的圖形，以不同時(shí)間比例示出了一種可能的干擾情形；圖3為表示處理電路的第一實(shí)施例的方框圖；圖4為表示處理電路的第二實(shí)施例的方框圖。
具體實(shí)施例方式
圖1示意的表示適用于在光盤2(典型的為DVD或CD)上存儲(chǔ)信息和從其上讀取信息的光盤驅(qū)動(dòng)設(shè)備1。以放大方式示出其厚度的盤2具有至少一個(gè)存儲(chǔ)層2A。為了旋轉(zhuǎn)盤2，盤驅(qū)動(dòng)設(shè)備1包括一個(gè)固定在框架(為了清楚起見而沒有示出)上的馬達(dá)4，其定義了一個(gè)旋轉(zhuǎn)軸5。
盤驅(qū)動(dòng)設(shè)備1還包括一個(gè)通過光束掃描盤2的軌跡(未示)的光學(xué)系統(tǒng)。更加具體的，在圖1所示的典型布置中，光學(xué)系統(tǒng)30包括一個(gè)光束產(chǎn)生裝置31，一般為激光器，例如激光二極管，其被布置用于產(chǎn)生光束32。下面，跟隨光路39的光束32的不同部分將由添加給參考數(shù)字32的字符a、b、c等來表示。
光束32通過分束器33、準(zhǔn)直透鏡37和物鏡34而(使射束32b)到達(dá)盤2。射束32b從盤2反射(反射光束32c)并通過物鏡34、準(zhǔn)直透鏡37和分束器33而(使射束32d)到達(dá)光學(xué)檢測(cè)器35。物鏡34設(shè)計(jì)用于在存儲(chǔ)層2A上將光束32b會(huì)聚成焦斑F。
盤驅(qū)動(dòng)器裝置1還包括一個(gè)致動(dòng)器系統(tǒng)50，其包括一個(gè)徑向致動(dòng)器51，用于關(guān)于盤2徑向地偏移物鏡34。因?yàn)閺较蛑聞?dòng)器本身是已知的，而本發(fā)明并不涉及這種徑向致動(dòng)器的設(shè)計(jì)和功能，所以這里并不需要詳細(xì)討論徑向致動(dòng)器的設(shè)計(jì)和功能。
為了實(shí)現(xiàn)和保持正確的聚焦，確切的為聚焦在盤2的期望位置，所述物鏡34被軸向可偏移的安裝，同時(shí)另外致動(dòng)器系統(tǒng)50還包括一個(gè)聚焦致動(dòng)器52，其被布置用于相對(duì)于盤2軸向偏移物鏡34。因?yàn)榫劢怪聞?dòng)器本身是已知的，同時(shí)另外這種聚焦致動(dòng)器的設(shè)計(jì)和操作并不是本發(fā)明的主題，所以這里并不需要詳細(xì)討論這種聚焦致動(dòng)器的設(shè)計(jì)和操作。
為了獲得和保持物鏡34的正確傾斜位置，物鏡34可被傾斜的安裝；在這種情況下，如所示的，致動(dòng)器系統(tǒng)50還包括一個(gè)傾斜致動(dòng)器53，其被布置用于相對(duì)于盤2定位物鏡34。因?yàn)閮A斜致動(dòng)器本身是已知的，同時(shí)另外這種傾斜致動(dòng)器的設(shè)計(jì)和操作并不是本發(fā)明的主題，所以這里并不需要詳細(xì)討論這種傾斜致動(dòng)器的設(shè)計(jì)和操作。
另外還應(yīng)注意用于相對(duì)于設(shè)備框架支持物鏡的裝置、和用于軸向和徑向偏移物鏡的裝置以及用于定位物鏡的裝置一般本身也是已知的。因?yàn)檫@種支持和偏移裝置的設(shè)計(jì)和操作并不是本發(fā)明的主題，所以這里并不需要詳細(xì)討論它們的設(shè)計(jì)和操作。
另外還要注意可將徑向致動(dòng)器51、聚焦致動(dòng)器52和傾斜致動(dòng)器53實(shí)現(xiàn)為一個(gè)集成致動(dòng)器。
盤驅(qū)動(dòng)設(shè)備1還包括一個(gè)控制電路90，其具有與徑向致動(dòng)器51的控制輸入端耦接的第一輸出端91、與聚焦致動(dòng)器52的控制輸入端耦接的第二輸出端92、與傾斜致動(dòng)器53的控制輸入端耦接的第三輸出端93、與馬達(dá)4的控制輸入端耦接的第四輸出端94、和與激光裝置31的控制輸入端耦接的第五輸出端96?？刂齐娐?0被設(shè)計(jì)用于在其第一輸出端91處產(chǎn)生用于控制徑向致動(dòng)器51的控制信號(hào)SCR、在其第二控制輸出端92處產(chǎn)生用于控制聚焦致動(dòng)器52的控制信號(hào)SCF、在其第三輸出端93處產(chǎn)生用于控制傾斜致動(dòng)器53的控制信號(hào)SCT、在其第四輸出端94處產(chǎn)生用于控制馬達(dá)4的控制信號(hào)SCM、與在其第五輸出端96處產(chǎn)生用于控制激光器的控制信號(hào)Sw。
控制電路90還具有一個(gè)讀取信號(hào)輸入端95，用于從光檢測(cè)器35接收讀取信號(hào)SR。如本身已知的，光檢測(cè)器35實(shí)際上可包括若干個(gè)單獨(dú)的檢測(cè)器元件，并且所述讀取信號(hào)SR實(shí)際上也是由若干個(gè)單獨(dú)的檢測(cè)器元件輸出信號(hào)構(gòu)成，其本身也是已知的。另外，讀取信號(hào)輸入端95實(shí)際上可包括若干個(gè)單獨(dú)的輸入信號(hào)端子，每個(gè)輸入信號(hào)端子接收一個(gè)相應(yīng)的檢測(cè)器元件輸出信號(hào)，這本身也是已知的。
控制電路90被設(shè)計(jì)用于處理單獨(dú)的檢測(cè)器元件輸出信號(hào)以獲得一個(gè)或多個(gè)誤差信號(hào)。此后簡(jiǎn)單的表示為TES的徑向誤差信號(hào)或跟蹤誤差信號(hào)表示軌跡和焦斑F之間的徑向距離。此后簡(jiǎn)單的表示為FES的聚焦誤差信號(hào)表示存儲(chǔ)層和焦斑F之間的軸向距離。注意根據(jù)光檢測(cè)器的設(shè)計(jì)，對(duì)于誤差信號(hào)計(jì)算可使用不同的公式。
在讀取模式中，激光束32的強(qiáng)度被保持得基本恒定，并且在讀取信號(hào)輸入端91處接收的單獨(dú)檢測(cè)器元件輸出信號(hào)的強(qiáng)度變化反映了正被讀取的軌跡的內(nèi)容?？刂齐娐?0還包括一個(gè)數(shù)據(jù)輸入端97。在寫入模式中，控制電路90在其數(shù)據(jù)輸入端97處接收的數(shù)據(jù)信號(hào)SDATA的基礎(chǔ)上產(chǎn)生用于激光器31的控制信號(hào)Sw，使得激光束強(qiáng)度波動(dòng)用于寫入與輸入數(shù)據(jù)相應(yīng)的圖案。不同的強(qiáng)度等級(jí)還用于擦除可重寫盤，所述擦除過程可在重寫現(xiàn)有數(shù)據(jù)的同時(shí)或作為騰空盤的單獨(dú)處理而進(jìn)行。
圖2A為示意性表示當(dāng)盤驅(qū)動(dòng)設(shè)備1執(zhí)行跳越時(shí)，即當(dāng)焦斑F被徑向偏移以前行至某一目標(biāo)軌跡時(shí)TES的行為的曲線圖。在朝向目標(biāo)軌跡行進(jìn)期間，焦斑F跨越軌跡；在圖2A中由T1、T2、T3指示的每個(gè)軌跡交叉處，TES變?yōu)榱?。在已?jīng)通過一個(gè)軌跡之后，TES在與下一個(gè)軌跡交叉之前到達(dá)最大正值TESmax和最大負(fù)值TESmin。TES行為的圖形表述被表示為特征TES曲線；注意這種特征TES曲線的形狀對(duì)于本領(lǐng)域技術(shù)人員是已知的，并且不需要進(jìn)一步的解釋。
控制電路90被設(shè)計(jì)用于產(chǎn)生其作為誤差信號(hào)函數(shù)的致動(dòng)器控制信號(hào)以減少相應(yīng)的誤差，這對(duì)于本領(lǐng)域技術(shù)人員是清楚的。然而，由于盤參數(shù)的變化，對(duì)于某一跟蹤誤差的TES值在盤上的不同位置可能是不同的，并因此，TES值本身并不是跟蹤誤差的實(shí)際值的好指示。能夠根據(jù)公式(1)獲得此后表示為TESN的標(biāo)準(zhǔn)化跟蹤誤差信號(hào)TESN＝TES/TESA (1)其中根據(jù)公式(2)，TESA是代表TES幅度的值TESA＝TESmax-TESmin (2)局部變化將對(duì)TES和TESA具有類似影響，使得TESN將不受這種局部變化的影響。
圖2B為類似于圖2A的圖形，以不同時(shí)間比例示出了現(xiàn)有技術(shù)的一個(gè)問題。圖2B表示對(duì)應(yīng)大量軌跡交叉的TES曲線，其中幅度實(shí)際上是恒定的。然而，由于類似刮擦的瑕疵，所述曲線顯示出一個(gè)具有過量峰值TESmax的正波峰201，并顯示出一個(gè)具有過量峰值TESmin的負(fù)波峰202。在跳越末端，根據(jù)公式(2)計(jì)算一跳標(biāo)準(zhǔn)化值TESA，并且該一跳標(biāo)準(zhǔn)化值TESA用于在直到下一次跳越的讀取和寫入處理期間對(duì)誤差信號(hào)進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化。應(yīng)該清楚該一跳標(biāo)準(zhǔn)化值TESA并不與如通過A所指示的實(shí)際幅度相對(duì)應(yīng)，所以即使進(jìn)行讀取或?qū)懭胩幚淼膮^(qū)域完全沒有刮擦，作為在跳越期間僅遭遇一個(gè)或兩個(gè)刮擦的結(jié)果，在直到下一次跳越的整個(gè)讀取或?qū)懭胩幚砥陂g可能會(huì)導(dǎo)致差的讀取或?qū)懭胭|(zhì)量。
根據(jù)本發(fā)明，當(dāng)控制電路90使用根據(jù)公式(3)的標(biāo)準(zhǔn)化跟蹤誤差信號(hào)TESN時(shí)，該問題被得以避免或至少被減小TESN＝TES/TESM(3)其中TESM是在多個(gè)一跳標(biāo)準(zhǔn)化值、即有助于多跳校正值TESM的多次跳越的基礎(chǔ)上計(jì)算的多跳校正值。
本發(fā)明涉及在一跳標(biāo)準(zhǔn)化值的基礎(chǔ)上計(jì)算的多跳校正值的應(yīng)用，并且不管一跳標(biāo)準(zhǔn)化值的性質(zhì)如何，也就是即使當(dāng)每個(gè)都是在相應(yīng)的跳越期間獲得的軌跡交叉信號(hào)的基礎(chǔ)上計(jì)算的一跳標(biāo)準(zhǔn)化值是根據(jù)現(xiàn)有的計(jì)算方法計(jì)算的時(shí)，也能實(shí)行本發(fā)明。因此，下面，就不需要解釋用于計(jì)算一跳標(biāo)準(zhǔn)化值的方法。不過，在一未決的申請(qǐng)中，本申請(qǐng)人披露了一種用于計(jì)算一跳標(biāo)準(zhǔn)化值的改進(jìn)方法；注意優(yōu)選的在采用這種改進(jìn)的一跳標(biāo)準(zhǔn)化值作為用于計(jì)算多跳校正值的基礎(chǔ)的同時(shí)來實(shí)行本發(fā)明。
在下面，多跳校正值將被表示為TESM，而以任何方法獲得的一跳標(biāo)準(zhǔn)化值將被表示為TESA。
在下面，如果值X是N個(gè)測(cè)量值m{1}、m{2}、m{3}、......m{N}的函數(shù)，則可以表示為X＝f(m{1}、m{2}、m{3}、......m{N})，但將其簡(jiǎn)略的表示為X＝f[i＝1到N](m{i})。
因此，根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)重要方面，根據(jù)公式(4)在多個(gè)N次一跳標(biāo)準(zhǔn)化值TESA{i}的基礎(chǔ)上來計(jì)算多跳校正值TESMTESM＝f[i＝1到N](TESA{i})(4)
優(yōu)選的，函數(shù)f是按照下式的平均函數(shù) 但f也可以是導(dǎo)致較好平均近似值的函數(shù)。
N的確切值并不關(guān)鍵，盡管優(yōu)選地不應(yīng)將N選擇得太大。N的適當(dāng)值應(yīng)在10的數(shù)量級(jí)。
圖3為作為控制電路90的一部分的處理電路300的第一實(shí)施例的方框圖。
控制電路90的TES計(jì)算部件901接收檢測(cè)器輸出SR并根據(jù)一個(gè)預(yù)定的公式計(jì)算跟蹤誤差信號(hào)TES。處理電路300包括一個(gè)用于接收跟蹤誤差信號(hào)TES的第一處理部件301。第一處理部件301被設(shè)計(jì)用于在一次跳越期間TES行為的基礎(chǔ)上計(jì)算一跳標(biāo)準(zhǔn)化值TESA。
處理電路300還包括一個(gè)存儲(chǔ)器陣列310，其包括N個(gè)存儲(chǔ)器單元311、312、313、314、315、......、319，它們被組織為移位寄存器。第一存儲(chǔ)器單元311具有與第一處理部件301的輸出端耦接、由此接收一跳標(biāo)準(zhǔn)化值TESA的輸入端。每個(gè)存儲(chǔ)器單元311、312、313、314、......具有一個(gè)與下一個(gè)存儲(chǔ)器單元312、313、314、315、......的輸入端耦接的輸出端。
處理電路300還包括一個(gè)第二處理部件320，其具有多個(gè)N輸入端321、322、323、324、325、......329，它們分別與存儲(chǔ)器單元311、312、313、314、315、......319的輸出端耦接，并且具有一個(gè)用于提供多跳校正值TESM的輸出端339。第二處理部件320被設(shè)計(jì)用于在其N輸入端321、322、323、324、325、......329處接收的輸入信號(hào)的基礎(chǔ)上計(jì)算多跳校正值TESM，并在輸出端339得到該多跳校正值。
控制電路90的可控增益放大器902接收TES作為輸入信號(hào)，并從處理電路300的第二處理部件320接收多跳校正值TESM?？煽卦鲆娣糯笃?02被設(shè)計(jì)用于設(shè)置它的增益，以便產(chǎn)生等于TES/TESM或與其成比例的標(biāo)準(zhǔn)化輸出信號(hào)TESN。由另一個(gè)處理部件903在標(biāo)準(zhǔn)化跟蹤誤差信號(hào)TESN的基礎(chǔ)上來產(chǎn)生控制信號(hào)SCR。
在操作期間，無論何時(shí)終止跳越，存儲(chǔ)器單元311、312、313、314、......的存儲(chǔ)內(nèi)容都被分別轉(zhuǎn)移至下一個(gè)存儲(chǔ)器單元312、313、314、315，并將第一處理部件301的輸出信號(hào)TESA存儲(chǔ)在第一存儲(chǔ)器單元311中。最后一個(gè)存儲(chǔ)器單元319的內(nèi)容被忽略。所以，第二處理部件320總是在N個(gè)先前跳越期間獲得的N個(gè)一跳標(biāo)準(zhǔn)化值TESA的基礎(chǔ)上優(yōu)選的借助于求均來計(jì)算多跳校正值TESM。應(yīng)該清楚如果獲得了一個(gè)嚴(yán)重偏離的一跳標(biāo)準(zhǔn)化值TESA，則多跳校正值TESM以及因此作為一個(gè)整體的系統(tǒng)的行為并不會(huì)突然改變。因此，系統(tǒng)作為一個(gè)整體是非常穩(wěn)健的。
在讀/寫處理的開始處，存儲(chǔ)器單元311......319可以是空的，或者可包含將被忽略掉的不相關(guān)信息。這可通過不同方法來實(shí)現(xiàn)。
在一個(gè)示例中，在已經(jīng)引入新盤時(shí)的初始化處理期間，或者作為執(zhí)行讀/寫操作的第一步的一部分，可執(zhí)行第一次跳越，并可將從該第一次跳越獲得的第一次一跳標(biāo)準(zhǔn)化值TESA存儲(chǔ)在所有存儲(chǔ)器單元311......319中。然后，程序如上所述繼續(xù)。
在另一個(gè)示例中，第二處理部件320包括一個(gè)計(jì)數(shù)器(未示)，用于對(duì)在一次讀取或?qū)懭氩僮髌陂g已經(jīng)執(zhí)行的跳越數(shù)量進(jìn)行計(jì)數(shù)。只要該數(shù)量N(跳越)小于存儲(chǔ)器單元的數(shù)量，第二處理部件320就被設(shè)計(jì)用于在第一N(跳越)存儲(chǔ)器單元的輸出信號(hào)的基礎(chǔ)上計(jì)算TESM。
在圖3的實(shí)施例中，N跳的結(jié)果被實(shí)際計(jì)算、存儲(chǔ)和處理以便計(jì)算多跳校正值。該方案要求使用N個(gè)存儲(chǔ)器單元。在一個(gè)基本上只需要一個(gè)存儲(chǔ)器單元來存儲(chǔ)多跳校正值的當(dāng)前值的可選方案中，從最后跳越得到的一跳標(biāo)準(zhǔn)化值被與多跳校正值的當(dāng)前值進(jìn)行比較。如果新的一跳標(biāo)準(zhǔn)化值大于多跳校正值的當(dāng)前值，則通過將多跳校正值增加一個(gè)預(yù)定值，或者如果新的一跳標(biāo)準(zhǔn)化值小于多跳校正值的當(dāng)前值，則通過將多跳校正值減小一個(gè)預(yù)定值來計(jì)算多跳校正值的新值，這將在下面參照?qǐng)D4來進(jìn)行解釋。
圖4為作為控制電路90的一部分的處理電路400的第二實(shí)施例的方框圖。
控制電路90的一個(gè)可控增益放大器902接收檢測(cè)器輸出SR并如將在后面所述的來計(jì)算信號(hào)TESN?？刂齐娐?0的TES計(jì)算部件901接收該信號(hào)TESN，并根據(jù)一個(gè)預(yù)定的公式計(jì)算跟蹤誤差信號(hào)。處理電路400包括一個(gè)用于接收跟蹤誤差信號(hào)TES的第一處理部件401。第一處理部件401被設(shè)計(jì)用于在一次跳越期間TES行為的基礎(chǔ)上計(jì)算一跳標(biāo)準(zhǔn)化值TESA。
處理電路400還包括可控加法器442，其具有用于提供多跳校正值TESM的輸出端442e。
處理電路400還包括一個(gè)比較器441。在第一輸入端處，比較器441從第一處理部件401接收一跳標(biāo)準(zhǔn)化值TESA，以及在第二輸入端處，比較器441接收一個(gè)參考值REF。
可控加法器442具有一個(gè)用于接收一預(yù)定相加值Δa的第一輸入端442b，并具有一個(gè)用于接收一預(yù)定相減值Δd的第二輸入端442c?？煽丶臃ㄆ?42具有一個(gè)用于從比較器441接收輸出信號(hào)的控制輸入端442d。
在盤驅(qū)動(dòng)器1啟動(dòng)時(shí)，可將可控加法器442設(shè)置為一個(gè)預(yù)定的初始值，該值可以是存儲(chǔ)在與可控加法器442相關(guān)的存儲(chǔ)器443中的固定值。
在盤驅(qū)動(dòng)器1操作期間，當(dāng)執(zhí)行跳越時(shí)，第一處理部件401執(zhí)行校正處理并計(jì)算一跳標(biāo)準(zhǔn)化值TESA。
在跳越終止時(shí)，比較器441接收一跳標(biāo)準(zhǔn)化值TESA并將TESA與參考值REF進(jìn)行比較。根據(jù)比較結(jié)果，可控加法器442將其輸出信號(hào)TESM增加所述預(yù)定相加值Δa，或者將輸出信號(hào)TESM減小所述預(yù)定相減值Δd。更加具體的，如果來自比較器441的輸出信號(hào)指示輸入信號(hào)TESA大于參考值REF，則加法器442將在其第一輸入端442b處接收的值Δa與在其輸出端442e處的值TESM相加。另一方面，如果來自比較器441的輸出信號(hào)指示輸入信號(hào)TESA小于參考值REF，則加法器442將在其第二輸入端442c處接收的值Δd與在其輸出端442e處的值TESM相減。如果輸入信號(hào)TESA等于參考值REF，則將TESM保持不變。
控制電路90的可控增益放大器902接收檢測(cè)器輸出信號(hào)SR作為輸入信號(hào)，并從處理電路400的可控加法器442接收多跳校正值TESM?？煽卦鲆娣糯笃?02被設(shè)計(jì)用于設(shè)置其增益，以便產(chǎn)生等于SR/TESM的或與其成比例的標(biāo)準(zhǔn)化輸出信號(hào)TESN。由另一個(gè)處理部件903在標(biāo)準(zhǔn)化跟蹤誤差信號(hào)TESN的基礎(chǔ)上來產(chǎn)生控制信號(hào)SCR。
應(yīng)該清楚，在任何時(shí)刻，當(dāng)前輸出值TESM都取決于跨越多次跳越的TESA的歷史發(fā)展，并接近TESA的平均值。另外還應(yīng)清楚例如由刮擦引起的TESA的個(gè)體異常對(duì)最后的輸出信號(hào)TESM具有減小的影響。
應(yīng)注意Δa和Δd的實(shí)際值對(duì)系統(tǒng)的整體行為有影響，并應(yīng)該關(guān)于期望得到的TES的幅度和關(guān)于取樣頻率和軌跡對(duì)其進(jìn)行適當(dāng)?shù)脑O(shè)置。
通常，優(yōu)選的是Δa等于Δd。
在上面，已經(jīng)解釋了為了對(duì)跟蹤誤差信號(hào)進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化，在多次N跳越中獲得的校正結(jié)果的基礎(chǔ)上來計(jì)算校正值。該多次可以等于兩次跳越，但優(yōu)選的跳越的數(shù)量較高，例如在10或者更高的數(shù)量級(jí)；該數(shù)量越高，刮擦的缺陷影響將被防止得越好。
原則上，在繼續(xù)讀取或?qū)懭胩幚碇?，通過跳越至一目標(biāo)位置并返回到開始位置N/2次而能夠?qū)崿F(xiàn)所述多次N跳越。甚至可以跳越至任何中間的位置。然而，該策略并不是優(yōu)選的。期望跳越至一個(gè)目標(biāo)位置、讀/寫處理繼續(xù)，直到證實(shí)需要下一次跳越。
本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該清楚本發(fā)明并不限于上述的典型實(shí)施例，而是在如所附權(quán)利要求所定義的本發(fā)明的保護(hù)范圍的內(nèi)能夠做出多種變化和修改。
例如，能夠調(diào)節(jié)Δa和Δd。
在上面，已經(jīng)參照示出根據(jù)本發(fā)明的裝置的功能部件的方框圖解釋了本發(fā)明。應(yīng)該理解可以通過硬件來實(shí)行一個(gè)或多個(gè)這些功能塊，其中這種功能塊的功能是通過單個(gè)的硬件部件執(zhí)行的，但也可以通過軟件來執(zhí)行一個(gè)或多個(gè)這些功能塊，使得通過一個(gè)計(jì)算機(jī)程序的一個(gè)或多個(gè)程序行或可編程裝置(例如，微處理器、微控制器、數(shù)字信號(hào)處理器等)來執(zhí)行這種功能塊的功能。
權(quán)利要求
1.用于在光盤驅(qū)動(dòng)器(1)中產(chǎn)生用于跟蹤誤差信號(hào)(TES)的校正值(TESM)的方法，包括步驟-執(zhí)行朝向插入到所述光盤驅(qū)動(dòng)器(1)中的光盤(2)的各個(gè)目標(biāo)軌跡的多次N跳越；-在每次跳越中，計(jì)算一跳標(biāo)準(zhǔn)化值(TESA)；-根據(jù)從所述各次跳越獲得的多次N個(gè)一跳標(biāo)準(zhǔn)化值(TESA)計(jì)算多跳校正值(TESM)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中在各次跳越之間執(zhí)行盤讀取處理或盤寫入處理。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，還包括步驟-在軌跡跟蹤模式中，計(jì)算跟蹤誤差信號(hào)(TES)，和-在所述跟蹤誤差信號(hào)(TES)和多跳校正值(TESM)的基礎(chǔ)上計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)化跟蹤誤差信號(hào)(TESN)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，還包括步驟-執(zhí)行從當(dāng)前軌跡到目標(biāo)軌跡的跳越；-計(jì)算對(duì)應(yīng)于該次跳越的一跳標(biāo)準(zhǔn)化值(TESA)；-在該一跳標(biāo)準(zhǔn)化值(TESA)的基礎(chǔ)上更新多跳校正值(TESM)；-恢復(fù)軌跡跟蹤模式；-在該恢復(fù)的軌跡跟蹤模式中，計(jì)算跟蹤誤差信號(hào)(TES)，和-在所述跟蹤誤差信號(hào)(TES)和更新的多跳校正值(TESM)的基礎(chǔ)上計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)化跟蹤誤差信號(hào)(TESN)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述多跳校正值(TESM)被計(jì)算為起作用的一跳標(biāo)準(zhǔn)化值的平均近似值。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其中一跳標(biāo)準(zhǔn)化值的實(shí)際值(TESA(i))被存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器(310)的各個(gè)存儲(chǔ)器單元(311-319)中，并且其中在存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器中的預(yù)定數(shù)量(N)的值的基礎(chǔ)上計(jì)算多跳校正值(TESM)，N大于1，N優(yōu)選的在10或者更大的數(shù)量級(jí)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其中所述存儲(chǔ)器(310)被實(shí)現(xiàn)為移位存儲(chǔ)器，其具有用于接收最近的一跳標(biāo)準(zhǔn)化值(TESA)的輸入端；和其中在每次跳越之后，所述存儲(chǔ)器(310)的內(nèi)容被移動(dòng)一個(gè)地方。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中在每次跳越之后，如果新的一跳標(biāo)準(zhǔn)化值(TESA)大于預(yù)定的參考值(REF)，則通過增加多跳標(biāo)準(zhǔn)化值(TESM)來更新多跳校正值(TESM)，或者如果新的一跳標(biāo)準(zhǔn)化值(TESA)小于所述預(yù)定的參考值(REF)，則通過減小多跳標(biāo)準(zhǔn)化值(TESM)來更新多跳校正值(TESM)。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中如果新的跳越提供了大于預(yù)定的參考值(REF)的一跳標(biāo)準(zhǔn)化值(TESA)，則通過將當(dāng)前多跳校正值增加一個(gè)相加值(Δa)來更新多跳校正值(TESM)，或者如果新的跳越提供了小于所述預(yù)定的參考值(REF)的一跳標(biāo)準(zhǔn)化值(TESA)，則通過將當(dāng)前多跳校正值減小一個(gè)相減值(Δd)來更新多跳校正值(TESM)。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其中相加值(Δa)和相減值(Δd)是預(yù)定的恒定值。
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其中相加值(Δa)和相減值(Δd)與當(dāng)前一跳標(biāo)準(zhǔn)化值和參考值(REF)之間的差成比例。
12.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其中相加值(Δa)和相減值(Δd)彼此相等。
13.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，包括下列步驟a)開始讀取或?qū)懭脒^程；b)為多跳校正值(TESM)提供初始值；c)提供相加值和相減值(Δa，Δd)；d)如果讀取或?qū)懭脒^程需要，則執(zhí)行到目標(biāo)軌跡的跳越；e)在跳越期間，執(zhí)行校正測(cè)量，并在跳越終止時(shí)，提供一跳標(biāo)準(zhǔn)化值(TESA)；f)如果一跳標(biāo)準(zhǔn)化值(TESA)大于參考值(REF)，則將多跳校正值(TESM)增加相加值(Δa)，或者如果一跳標(biāo)準(zhǔn)化值(TESA)小于所述參考值(REF)，則將多跳校正值(TESM)減小相減值(Δd)。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，其中相加值(Δa)近似等于相減值(Δd)。
15.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中在每次跳越中，在該跳越期間的多次軌跡交叉的基礎(chǔ)上計(jì)算一跳標(biāo)準(zhǔn)化值(TESA)。
16.用于控制光盤驅(qū)動(dòng)器(1)中的徑向致動(dòng)器(51)的方法，所述方法包括步驟-旋轉(zhuǎn)光盤(2)；-通過光束(32)的焦斑(F)掃描旋轉(zhuǎn)光盤(2)的軌跡；-接收從光盤(2)反射的反射光束(32d)；-產(chǎn)生代表接收光束(32d)的讀取信號(hào)(SR)；-在所述讀取信號(hào)(SR)的基礎(chǔ)上計(jì)算跟蹤誤差信號(hào)(TES)；-使用根據(jù)權(quán)利要求1-15中的任何一個(gè)所述的方法來計(jì)算校正值(TESM)；-進(jìn)入軌跡跟蹤模式；-在軌跡跟蹤模式中，在所述跟蹤誤差信號(hào)(TES)和校正值(TESM)的基礎(chǔ)上計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)化跟蹤誤差信號(hào)(TESN)；-在所述標(biāo)準(zhǔn)化跟蹤誤差信號(hào)(TESN)的基礎(chǔ)上產(chǎn)生用于控制徑向致動(dòng)器(51)的控制信號(hào)(SCR)。
17.盤驅(qū)動(dòng)設(shè)備(1)，適于執(zhí)行根據(jù)權(quán)利要求1-16中的任何一個(gè)所述的方法。
全文摘要
一種用于在光盤驅(qū)動(dòng)器中產(chǎn)生用于跟蹤誤差信號(hào)的校正值的方法包括步驟執(zhí)行朝向插入到所述光盤驅(qū)動(dòng)器中的光盤的各個(gè)目標(biāo)軌跡的多次N跳越；在每次跳越中，計(jì)算一跳標(biāo)準(zhǔn)化值；根據(jù)從所述各次跳越獲得的多次N個(gè)一跳標(biāo)準(zhǔn)化值計(jì)算多跳校正值。在標(biāo)準(zhǔn)化跟蹤誤差信號(hào)的基礎(chǔ)上產(chǎn)生用于控制光盤驅(qū)動(dòng)器的徑向致動(dòng)器的控制信號(hào)，所述標(biāo)準(zhǔn)化跟蹤誤差信號(hào)是在所述跟蹤誤差信號(hào)和多跳校正值的基礎(chǔ)上計(jì)算的。
文檔編號(hào)G11B7/09GK1985312SQ200580023851
公開日2007年6月20日 申請(qǐng)日期2005年7月7日 優(yōu)先權(quán)日2004年7月14日
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