專利名稱：2dos信號(hào)的最優(yōu)檢測(cè)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及用于從光盤讀取數(shù)據(jù)或者向光盤寫入數(shù)據(jù)的光學(xué)驅(qū)動(dòng)器。特別是，本發(fā)明的目的在于使讀出存儲(chǔ)為如凹坑的光盤軌道中的信息時(shí)所用的檢測(cè)器最優(yōu)。本發(fā)明的目的在于使讀出的高頻和低噪聲檢測(cè)成為可能。
背景技術(shù)：
通過利用光學(xué)驅(qū)動(dòng)器而沿著光盤上的軌道從光盤讀取數(shù)字信息或在光盤上寫入數(shù)字信息。光學(xué)驅(qū)動(dòng)器中的焦點(diǎn)致動(dòng)器用于將激光束聚焦為光盤上的光點(diǎn)。借助于物鏡將該激光束聚焦，所述物鏡將激光束聚焦為光盤的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)層上的光點(diǎn)。舉例來說，聚焦致動(dòng)器線圈驅(qū)動(dòng)該物鏡，從而使該物鏡將激光束的焦點(diǎn)聚焦，以便形成在光盤的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)層上的所述光點(diǎn)。第二線圈，即跟蹤致動(dòng)器線圈，驅(qū)動(dòng)跟蹤物鏡，從而沿光盤的軌道來跟蹤該光點(diǎn)。
在光學(xué)驅(qū)動(dòng)器中，利用伺服系統(tǒng)將激光束的焦點(diǎn)聚焦到光盤的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)層上。用于控制所述伺服系統(tǒng)的控制回路稱為焦點(diǎn)控制回路。為了保證適當(dāng)?shù)墓鈱W(xué)驅(qū)動(dòng)器性能，焦點(diǎn)控制回路必須是閉合回路。根據(jù)從數(shù)據(jù)存儲(chǔ)層反射到滑架上的檢測(cè)器的光可以獲得在伺服系統(tǒng)中控制激光束的導(dǎo)向(guidance)的誤差信號(hào)，所述滑架承載激光束的光源。為了捕獲焦點(diǎn)，使致動(dòng)器朝光盤移動(dòng)。在朝光盤運(yùn)動(dòng)的過程中，監(jiān)控反射信號(hào)，該反射信號(hào)稱為中心孔徑(CA)。如果該信號(hào)超過某一閾電平，那么該致動(dòng)器靠近聚焦點(diǎn)，然后通過伺服來監(jiān)控和控制該焦點(diǎn)誤差信號(hào)以保持激光束聚焦。
在常規(guī)的光學(xué)存儲(chǔ)設(shè)備中，數(shù)據(jù)被傳送至凹坑，這些凹坑以線性的方式(盡管軌道彎曲的，即圓形或螺旋形的)排列在光盤上。借助于單個(gè)光點(diǎn)從凹坑的軌道讀出存儲(chǔ)為數(shù)據(jù)的信息。二維(2D)編碼盤則不同。在2D編碼盤上數(shù)據(jù)排列成二維凹坑圖案，其中借助于多個(gè)光點(diǎn)同時(shí)讀出數(shù)據(jù)。
在單軌道讀出系統(tǒng)中，將檢測(cè)器設(shè)計(jì)為沿著軌道讀取凹坑的排列，并且將該讀取數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)變?yōu)閿y帶HF信號(hào)的信息。同時(shí)，檢測(cè)器進(jìn)一步設(shè)計(jì)為例如象限或分裂(split)檢測(cè)器，用以生成伺服系統(tǒng)為跟蹤而使用的誤差信號(hào)。
圖1中說明了單軌道讀出數(shù)據(jù)與從2D光學(xué)存儲(chǔ)器(二維光學(xué)存儲(chǔ)器縮寫為2DOS)讀出數(shù)據(jù)之間的區(qū)別。圖1的左部繪出了5行凹坑12，這些凹坑形成光盤的多個(gè)分開的軌道。僅僅引導(dǎo)單個(gè)激光點(diǎn)13順著一個(gè)軌道行進(jìn)來讀出該軌道上存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)。圖1的右部說明在2D編碼盤(2DOS)上的數(shù)據(jù)布局。在2D布局中，光盤的數(shù)據(jù)包含在寬的元軌道(meta-track)14中，該軌道由幾行凹坑組成。如圖所示，在根據(jù)該圖的例子中，元軌道包含11個(gè)載有凹坑的數(shù)據(jù)的分開的行。這些分開的每一行數(shù)據(jù)凹坑都由與這些分開的凹坑行中特定的一行相對(duì)應(yīng)的激光點(diǎn)來讀出。這在圖中用編號(hào)為1到11的光點(diǎn)來表示。圖中示出了這11個(gè)光點(diǎn)，為了清楚起見，這些光點(diǎn)排列在相對(duì)于元軌道方向傾斜的直線上。但是，這些光點(diǎn)也可以排列為用于讀取該數(shù)據(jù)的任何其他排列形式(configuration)。舉例來說，光點(diǎn)1-11可以排列成一條直線，其中每個(gè)光點(diǎn)都以對(duì)應(yīng)的凹坑行為中心。寬的元軌道由防護(hù)頻帶15包圍。所述防護(hù)頻帶是作為元軌道的邊界并且沒有數(shù)據(jù)內(nèi)容的空白空間的行。
US 2003/0206503A1公開了一種供讀取具有不同格式的光盤的多個(gè)軌道所用的多元件檢測(cè)器。所述檢測(cè)器的多元件包括檢測(cè)元件，每個(gè)檢測(cè)元件都檢測(cè)從光盤的對(duì)應(yīng)軌道反射的光。在該公開文件中示出多元件檢測(cè)器包括中心檢測(cè)元件和許多旁側(cè)(side)檢測(cè)元件。每個(gè)旁側(cè)檢測(cè)元件都具有伸長(zhǎng)的形狀，且面積比中心元件大。
小型檢測(cè)器具有低電容，其可以進(jìn)行高頻檢測(cè)和低噪聲檢測(cè)。因此，當(dāng)所述檢測(cè)元件具有相當(dāng)高的電容時(shí)，對(duì)于通過利用根據(jù)現(xiàn)有設(shè)備公開內(nèi)容的多元件檢測(cè)器從光盤讀出數(shù)據(jù)來說是一個(gè)缺點(diǎn)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的一個(gè)目的在于提供一種設(shè)備和方法，其提供一種多元件檢測(cè)器，其具有小型檢測(cè)元件，因此具有低電容，能夠?qū)⑺龆嘣z測(cè)器用于2DOS光盤的高頻和低噪聲檢測(cè)。
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，公開了一種如獨(dú)立的設(shè)備權(quán)利要求中規(guī)定的設(shè)備。
根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)方面，公開了一種如獨(dú)立的方法權(quán)利要求中規(guī)定的方法。
檢測(cè)器需要能夠生成數(shù)量為N的CA信號(hào)(中心孔徑信號(hào))，其中N是讀出的激光束光點(diǎn)的數(shù)量。這通過檢測(cè)元件來實(shí)現(xiàn)，該檢測(cè)元件檢測(cè)從光點(diǎn)反射回到檢測(cè)元件的光的總功率。這些檢測(cè)元件中的一個(gè)或兩個(gè)必須包含象限或分裂檢測(cè)器，以便生成焦點(diǎn)誤差信號(hào)。
這些光點(diǎn)通常排成一行，因此檢測(cè)元件也排成一行。當(dāng)然檢測(cè)元件也可以是如正方形或圓形一樣的分布的其他排列形式。
按照慣例，由于對(duì)準(zhǔn)公差而可以使用比較大(大指的是光檢測(cè)面積)的檢測(cè)元件。這對(duì)于例如四象限(quadcel)檢測(cè)元件是特別有效的，該四象限檢測(cè)元件構(gòu)成具有多個(gè)分段檢測(cè)元件的檢測(cè)元件，用于將誤差信號(hào)發(fā)送給焦點(diǎn)誤差控制系統(tǒng)，其中相對(duì)于不同檢測(cè)器分段的位置來測(cè)量光點(diǎn)的中心位置。這種大的檢測(cè)器總是存在(suffer from)高的寄生電容，其導(dǎo)致數(shù)據(jù)讀取信號(hào)中較低的帶寬和更多的電子噪聲。對(duì)于CA信號(hào)的檢測(cè)來說，具有小型檢測(cè)元件是有利的。其僅僅當(dāng)分配光點(diǎn)實(shí)際上正確地聚焦在光盤上時(shí)檢測(cè)來自所述光點(diǎn)的CA信號(hào)才是有用的，由此所述光點(diǎn)盡可能地小。這意味著不必將大面積的檢測(cè)元件用于那些檢測(cè)元件，其目的僅在于檢測(cè)來自分配光點(diǎn)的CA信號(hào)。本發(fā)明所利用的是將這些檢測(cè)元件制造得相對(duì)于其各自的任務(wù)來說盡可能地小。
因此，根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，有利的是提供多元件型的光電檢測(cè)器，其中將用于CA信號(hào)的小型元件與用于伺服控制目的的大檢測(cè)元件(一個(gè)或多個(gè))組合。
本發(fā)明的這些和其他方面將從下文描述的實(shí)施例(一個(gè)或多個(gè))變得顯而易見并得到說明。
本發(fā)明的應(yīng)用在如PC數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)器或歸檔功能的需要高數(shù)據(jù)率的各種設(shè)備中是特別有用的。


圖1示意性地示出在單軌道讀出數(shù)據(jù)與從現(xiàn)有技術(shù)的光盤上的信息的2D光學(xué)存儲(chǔ)讀出數(shù)據(jù)之間的區(qū)別。
圖2a和2b示意性地示出本發(fā)明的第一實(shí)施例，其中檢測(cè)元件排列成三行，并且這些元件用于光盤的多軌道存儲(chǔ)的每一個(gè)軌道。在圖2a中示出激光束布置，在圖2b中示出檢測(cè)器布局。
圖3a和3b示出第二實(shí)施例，其具有一行功率讀取檢測(cè)元件，兩個(gè)檢測(cè)元件用于讀取在軌道引導(dǎo)伺服控制回路中的誤差信號(hào)，其中圖3b是如在檢測(cè)器平面中觀看時(shí)的檢測(cè)器的正視圖。
圖4a和4b示出本發(fā)明的第三實(shí)施例，其具有用于只具有一行檢測(cè)元件的像散聚焦的檢測(cè)元件布局，其中圖4b是從上面觀看時(shí)的檢測(cè)器布局。
圖5a和5b示出第四實(shí)施例，其具有用于具有三行功率讀取檢測(cè)元件的像散聚焦的檢測(cè)器布局，其中圖5b是沿著箭頭51a所示方向在檢測(cè)器平面中看到的檢測(cè)器布局的橫截面視圖。
具體實(shí)施例方式
在通過附圖支持的下文中描述用于進(jìn)行根據(jù)本發(fā)明的方法的許多實(shí)施例。
在圖2a中，非常示意性地繪出了本發(fā)明第一實(shí)施例的Foucault排列的例子。將多個(gè)光點(diǎn)投射到設(shè)置在光盤22的表面處的數(shù)據(jù)層21。多光點(diǎn)能夠以各種方式來形成，或者從多個(gè)激光器，或者從與光柵或全息元件組合的單個(gè)激光器。在圖2a中，選擇激光器作為光源20，并由光柵(未示出)將其分成多個(gè)光源。然后，來自這些多個(gè)光源的光在到達(dá)物鏡24之前在第一透鏡23a中聚集成平行激光束23，所述物鏡24將該光束投射為數(shù)據(jù)層21處的多個(gè)光點(diǎn)25。這些光點(diǎn)在數(shù)據(jù)層平面內(nèi)的間隔大約為2.8λ/NA_obj，其中NA_obj是物鏡24的NA，λ是波長(zhǎng)。在該實(shí)施例中，應(yīng)用Foucault邊緣檢測(cè)。為了確定最優(yōu)焦點(diǎn)位置，將該光束分成兩個(gè)部分，即上半部分和下半部分。通過監(jiān)控兩個(gè)分開的光點(diǎn)的質(zhì)心，可以確定焦點(diǎn)的位置。藍(lán)光盤通常的值是NA_obj＝0.85，λ＝405nm。為簡(jiǎn)單起見，在該例子中將光點(diǎn)25的數(shù)量限制為5，但是可以很容易地?cái)U(kuò)展為數(shù)量為N個(gè)光點(diǎn)。
借助于與一側(cè)成角度的半透明鏡26或者與四分之一波片組合的PBS將從數(shù)據(jù)層21上的激光點(diǎn)25反射回來的光引導(dǎo)到檢測(cè)器的檢測(cè)支路。伺服透鏡的目的在于將從各個(gè)光點(diǎn)反射的光聚焦到檢測(cè)器28的檢測(cè)元件28a、28b、28c上。每個(gè)檢測(cè)元件的目的都在于接收從分配光點(diǎn)反射的光。
根據(jù)該實(shí)施例，檢測(cè)器具有如圖2b中所示的布局。該圖公開了具有三行檢測(cè)元件28a、28b、28c的多元件檢測(cè)器28的布局。為了清楚起見，借助于指向檢測(cè)元件的標(biāo)為28a、28b、28c的箭頭來表示每行檢測(cè)元件28a、28b、28c，所述檢測(cè)元件用正方形來表示。伺服透鏡27提供在檢測(cè)器28上的每個(gè)光點(diǎn)的第一光譜。從每個(gè)光點(diǎn)25入射的光由分裂光柵29進(jìn)一步輕微衍射成第二和第三光譜。第一光譜用于在檢測(cè)元件28a上的CA檢測(cè)，將光柵29的一部分所提供的第二光譜投射在檢測(cè)元件28b上，并將光柵29的另一部分所提供的第三光譜投射在檢測(cè)元件28c上。檢測(cè)元件28b和28c用于Foucault邊緣檢測(cè)，如現(xiàn)有技術(shù)中已知的。如所描述和圖2b中所示的，第二光譜和第三光譜也入射在CA檢測(cè)元件上，用箭頭28b和28c表示出其中的四個(gè)。另一種選擇當(dāng)然是省略CA檢測(cè)器28b和28c。
在如附圖中公開的實(shí)施例中，用正方形代表這些檢測(cè)元件，同時(shí)用圓來代表光點(diǎn)。
在檢測(cè)器布局中，第一光譜設(shè)置為聚焦在第一行檢測(cè)元件28a上。在該實(shí)施例中，第一行檢測(cè)元件28a由小面積的檢測(cè)元件組成，因?yàn)槠淠康脑谟跍y(cè)量從特定光點(diǎn)(CA信號(hào))反射回來的光的總功率。從各個(gè)光點(diǎn)反射的光的大部分功率集中在直徑為λ/NA的圓形區(qū)域中。這時(shí)，中心孔徑(CA)檢測(cè)元件28a不需要大于1.22λ/NA，并且仍然允許將光束定位在檢測(cè)器上的對(duì)準(zhǔn)公差足夠大(要注意，這里提到的NA是伺服透鏡27的NA)。
第二行檢測(cè)元件28b設(shè)置在檢測(cè)器28上，以便接收從光點(diǎn)25反射回來的光的第二光譜的光。第三行檢測(cè)元件28c也設(shè)置在檢測(cè)器28上，以便接收從光點(diǎn)25反射回來的光的第三光譜的光。為了方便起見，僅示出每行有5個(gè)檢測(cè)元件，但是對(duì)應(yīng)于該布局，元件的數(shù)量可以擴(kuò)展為每行有任何合適數(shù)量的檢測(cè)元件。根據(jù)該實(shí)施例，只有檢測(cè)器28中設(shè)置的兩行檢測(cè)元件28b和28c的兩個(gè)中心檢測(cè)元件28bc和28cc需要大于CA測(cè)量檢測(cè)元件28a、28b、28c，因?yàn)樗鼈兪怯糜跍y(cè)量激光束23的聚焦的誤差信號(hào)的分段檢測(cè)元件。
根據(jù)圖3a和3b中公開的第二實(shí)施例，使用Foucault技術(shù)。總體設(shè)備布置與前面如圖2a所示實(shí)施例所公開的總體設(shè)備布置相同。但是，檢測(cè)器布置和該檢測(cè)器上的光點(diǎn)的聚焦略有不同。在該實(shí)施例中不使用分裂光柵29。而是將光學(xué)構(gòu)件30集成在光電檢測(cè)器31上。所述光學(xué)構(gòu)件30將中心光點(diǎn)的光譜分成上半部分(第一光譜部分)和下半部分(第二光譜部分)。在該實(shí)施例中，使用僅由伺服透鏡27提供的第一光譜，由此僅設(shè)置了一行檢測(cè)元件31a來對(duì)各個(gè)光點(diǎn)的光的第一光譜進(jìn)行CA檢測(cè)。因此在這一行檢測(cè)元件31a中提供5個(gè)CA檢測(cè)元件。光學(xué)構(gòu)件30可以借助于微棱鏡來實(shí)現(xiàn)，該微棱鏡正好設(shè)置于入射到檢測(cè)器31的這一行檢測(cè)元件31a上的這一行光點(diǎn)圖像中的中心光點(diǎn)圖像的上方，用以產(chǎn)生所述中心光點(diǎn)的反射圖像。可選擇的是，代替前面的情況，可以借助于微棱鏡來提供中心光點(diǎn)的所述反射圖像。
在圖3a中，示出了與這一行CA檢測(cè)元件31a正交設(shè)置的伺服檢測(cè)器32a和32b，每一個(gè)都位于中心CA檢測(cè)元件的每一側(cè)。這些伺服檢測(cè)器32a和32b都配備有分段檢測(cè)元件來測(cè)量激光束23的焦點(diǎn)控制的誤差信號(hào)。例如通過使用材料的折射率差異可以控制朝焦點(diǎn)伺服檢測(cè)器32a和32b散射的光的量，在這種情況下，利用微棱鏡。
根據(jù)又一個(gè)、第三實(shí)施例，利用激光束23在光盤的軌道上的像散聚焦。這在圖4a和4b中示出。實(shí)現(xiàn)激光點(diǎn)25在光盤22上的多個(gè)軌道14上的總體布置與前面公開的實(shí)施例相同，除了伺服透鏡27、光柵29和檢測(cè)器。根據(jù)該實(shí)施例，伺服透鏡是像散伺服透鏡41(代替前面實(shí)施例的伺服透鏡27和光柵29)，檢測(cè)器42在該例子中具有根據(jù)圖4b的布局。
并且，在圖4a和4b的第三實(shí)施例中，光柵不將這些光點(diǎn)分開，但是這些光點(diǎn)的像散提供了焦點(diǎn)信息。CA測(cè)量檢測(cè)元件42a在這種情況下也排成一行。在這種情況下，光點(diǎn)的圖像比焦點(diǎn)對(duì)準(zhǔn)時(shí)大，因?yàn)橄裆⑺欧哥R41引入了像散像差。因此，在該行中的所有CA檢測(cè)元件42a都將略大于前述實(shí)施例中對(duì)應(yīng)的檢測(cè)元件。在這種情況下，進(jìn)一步可以將標(biāo)準(zhǔn)四象限(quadcell)分成內(nèi)部HF檢測(cè)元件和外部四象限檢測(cè)元件，其捕獲聚焦信息。在該實(shí)施例中，可以只使用一個(gè)中心檢測(cè)元件42ac來檢測(cè)中心光點(diǎn)的CA信號(hào)并為伺服系統(tǒng)生成誤差信號(hào)。
在圖5a中，示出作為第四實(shí)施例的光點(diǎn)尺寸檢測(cè)的另一種布置。該圖繪出了檢測(cè)器50，其具有一種布局，對(duì)于光點(diǎn)尺寸檢測(cè)來說，可以將檢測(cè)器分成測(cè)量總的光點(diǎn)CA信號(hào)的檢測(cè)元件51a和用于焦點(diǎn)誤差信號(hào)的較大的分段檢測(cè)元件52a、52b。在檢測(cè)器50之上設(shè)置分段的玻璃板53，其將從一個(gè)光點(diǎn)入射的光分成三個(gè)光點(diǎn)。因此，如圖5a中所示，每個(gè)光點(diǎn)將作為三個(gè)分開的光點(diǎn)而投射，同時(shí)CA檢測(cè)元件僅僅排列成中心行51a。在圖5b中示出了如沿著箭頭51a所示的方向在檢測(cè)器50的平面內(nèi)看到的通過分段檢測(cè)器52a和52b以及玻璃板的橫截面。該檢測(cè)器的總體布置在其他方面與上面討論的本發(fā)明第二實(shí)施例相同?，F(xiàn)在將焦點(diǎn)檢測(cè)器分成三個(gè)部分，這是由玻璃板53而引起的。圖5b中繪出了入射在檢測(cè)器50上的光的光路。
此外，在圖2b、3a、4b和5a中，分別繪出了沿著一行CA檢測(cè)元件28a、31a、42a和51a只有5個(gè)檢測(cè)元件，但是很容易擴(kuò)展元件的數(shù)量。
根據(jù)本發(fā)明的方法和設(shè)備可以應(yīng)用在所有的光學(xué)記錄設(shè)備中，但是其對(duì)于數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)器是特別有用的，因?yàn)閷?duì)于這種應(yīng)用來說由于速度競(jìng)賽而使該數(shù)據(jù)率是最高的。
盡管已經(jīng)結(jié)合特定實(shí)施例描述了本發(fā)明，但是本發(fā)明不限制為本文中闡明的特定形式。相反，本發(fā)明的范圍僅由隨附的權(quán)利要求來限定。在權(quán)利要求中，術(shù)語“包括”、“包含”不排除仍存在其他元件或步驟。而且，盡管單獨(dú)地列出多個(gè)裝置、元件或方法步驟，但是這些也可以由例如單個(gè)單元或處理器來實(shí)現(xiàn)。另外，盡管在不同的權(quán)利要求中包括單獨(dú)的特征，但是也可以將這些有利地組合起來，在不同權(quán)利要求中包括的內(nèi)容不意味著特征的組合是不可行和/或是不利的。另外，單數(shù)的引用(reference)不排除存在多個(gè)。因此，“一”、“一種”、“第一”、“第二”等不排除有多個(gè)。權(quán)利要求中提供的附圖標(biāo)記在任何情況下僅僅用于澄清實(shí)施例，不應(yīng)當(dāng)將其解釋為對(duì)權(quán)利要求的范圍的限制。
權(quán)利要求
1.一種供同時(shí)從光盤(22)讀取多個(gè)數(shù)據(jù)軌道(14)所用的多元件檢測(cè)器，其包括伺服透鏡(27，41)，其用于收集從激光點(diǎn)(25)反射的光，該激光點(diǎn)照射設(shè)置在光盤(22)上的所述多個(gè)數(shù)據(jù)軌道(14)，其特征在于，該多元件檢測(cè)器具有第一檢測(cè)元件(28bc，28cc，32a，32b，42ac，52a，52b)，其是分段檢測(cè)器，用于向分配軌道的激光點(diǎn)(25)反射的光提供功率信號(hào)并向伺服系統(tǒng)中沿著所述軌道(14)引導(dǎo)所述檢測(cè)器的焦點(diǎn)誤差控制提供輸出信號(hào)，第二檢測(cè)元件(28a，28b，28c，31a，42a，51a)，其僅僅讀取每個(gè)軌道的功率信號(hào)，其中所述第二檢測(cè)元件之一的面積基本上小于所述第一檢測(cè)元件之一的面積。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的多元件檢測(cè)器，包括至多兩個(gè)第一檢測(cè)元件。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2的多元件檢測(cè)器，進(jìn)一步包括光點(diǎn)分光構(gòu)件(29，30，53)，其將從至少一個(gè)光點(diǎn)反射的光分成所述光點(diǎn)的多個(gè)光譜。
4.根據(jù)權(quán)利要求3的多元件檢測(cè)器，其中所述第二檢測(cè)元件(28b，28c，31a，42a，51a)的光檢測(cè)面積小于(2λ/NA)2，優(yōu)選小于(1.25λ/NA)2。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2的多元件檢測(cè)器，其中所述第二檢測(cè)元件(28a，28b，28c，31a，42a，51a)排列成行。
6.根據(jù)權(quán)利要求5的多元件檢測(cè)器，其中將第一檢測(cè)元件(28bc，28cc，32a，32b，42ac，52a，52b)分成多個(gè)象限或構(gòu)成分裂檢測(cè)器。
7.根據(jù)權(quán)利要求3的多元件檢測(cè)器，其中所述光點(diǎn)分光構(gòu)件是用于提供每個(gè)光點(diǎn)的第二和第三光譜的光柵(29)，并且其中所述第二檢測(cè)元件(28a)讀取每個(gè)光點(diǎn)的至少第一光譜的功率信號(hào)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7的多元件檢測(cè)器，其中至多兩個(gè)第一檢測(cè)元件(28bc，28cc，)的第一個(gè)讀取光點(diǎn)之一的第二光譜。
9.根據(jù)權(quán)利要求8的多元件檢測(cè)器，其中至多兩個(gè)第一檢測(cè)元件(28bc，28cc)的第二個(gè)讀取光點(diǎn)之一的第三光譜。
10.根據(jù)權(quán)利要求3的多元件檢測(cè)器，其中所述光點(diǎn)分光構(gòu)件是設(shè)置在檢測(cè)器(31)上的光學(xué)構(gòu)件(30，53)，其用于反射來自光點(diǎn)(25)之一并入射在檢測(cè)器(31，50)上的光，用以建立來自所述一個(gè)光點(diǎn)的光的第二和第三光譜，其中所述光點(diǎn)(25)照射光盤(22)的軌道(14)。
11.根據(jù)權(quán)利要求10的多元件檢測(cè)器，其中所述第二檢測(cè)元件(31a，51a)讀取每個(gè)光點(diǎn)的僅僅第一光譜的功率信號(hào)。
12.根據(jù)權(quán)利要求11的多元件檢測(cè)器，其中所述第一檢測(cè)元件(32a，32b，52a，52b)僅讀取一個(gè)光點(diǎn)的第二和第三光譜。
13.根據(jù)權(quán)利要求1或2的多元件檢測(cè)器，其中所述伺服透鏡是像散伺服透鏡(41)。
14.根據(jù)權(quán)利要求13的多元件檢測(cè)器，其中所述第二檢測(cè)元件(42a)讀取每個(gè)光點(diǎn)的僅僅第一光譜的功率信號(hào)。
15.根據(jù)權(quán)利要求13或14的多元件檢測(cè)器，其中第一檢測(cè)元件(42ac)讀取僅僅一個(gè)光點(diǎn)的第一光譜。
16.一種用于借助于多元件檢測(cè)器同時(shí)從光盤(22)的多個(gè)數(shù)據(jù)軌道讀取信息的方法，該方法包括以下步驟用激光點(diǎn)(25)照射所述多個(gè)數(shù)據(jù)軌道(14)，借助于伺服透鏡(27，41)收集從所述激光點(diǎn)(25)反射的光，向所述檢測(cè)器(28，31，42，50)提供彼此分隔開的多個(gè)檢測(cè)元件(28a，28b，28c，31a，42a，51a，28bc，28cc，32a，32b，42ac，52a，52b)，設(shè)置每個(gè)檢測(cè)元件(28a，28b，28c，31a，42a，51a，28bc，28cc，32a，32b，42ac，52a，52b)以檢測(cè)從分配給每個(gè)檢測(cè)元件的數(shù)據(jù)軌道反射的光，將第一檢測(cè)元件(28bc，28cc，32a，32b，42ac，52a，52b)設(shè)置成分段檢測(cè)器，用以向分配的軌道提供功率信號(hào)，并向伺服系統(tǒng)中沿所述軌道(14)引導(dǎo)所述多元件檢測(cè)器的焦點(diǎn)誤差控制提供輸出信號(hào)，借助于第二檢測(cè)元件(28a，28b，28c，31a，42a，51a)來僅僅讀取每個(gè)軌道的功率信號(hào)，以及將所述第二檢測(cè)元件(28a，28b，28c，31a，42a，51a)設(shè)置為使其面積基本上小于所述第一檢測(cè)元件(28bc，28cc，32a，32b，42ac，52a，52b)的面積。
17.根據(jù)權(quán)利要求16的方法，其中設(shè)置第一檢測(cè)元件的步驟設(shè)置至多兩個(gè)檢測(cè)元件。
18.根據(jù)權(quán)利要求16或17的方法，進(jìn)一步包括以下步驟借助于分光構(gòu)件(29，30，53)將至少一個(gè)光點(diǎn)的所述收集的光分成多個(gè)光譜。
19.根據(jù)權(quán)利要求18的方法，進(jìn)一步包括以下步驟借助于光柵(29)將從所有光點(diǎn)(25)反射的光分成第一、第二和第三光譜，或者借助于如微棱鏡、分裂光柵的光學(xué)構(gòu)件(30)或者借助于分段的玻璃板(53)將僅從一個(gè)光點(diǎn)反射的光分成第一、第二和第三光譜。
全文摘要
一種用于借助于檢測(cè)器從光盤(22)的多個(gè)數(shù)據(jù)軌道(14)同時(shí)讀取信息的方法和設(shè)備，用激光點(diǎn)(25)照射所述多個(gè)數(shù)據(jù)軌道，其中借助于伺服透鏡(29)收集從這些激光點(diǎn)反射的光，進(jìn)一步向檢測(cè)器提供彼此分隔開的多個(gè)檢測(cè)元件(28a，28b，28c，31a，42a，28bc，28cc，32a，32b，42ac，51a，52a，52b)，設(shè)置每個(gè)檢測(cè)元件以檢測(cè)(讀取)從分配給每個(gè)元件的數(shù)據(jù)軌道反射的光，將至多兩個(gè)檢測(cè)元件(28bc，28cc，32a，32b，42ac，52a，52b)設(shè)置成分段檢測(cè)器，用以向分配的軌道提供功率信號(hào)，并向伺服系統(tǒng)中沿所述軌道引導(dǎo)所述檢測(cè)器的焦點(diǎn)誤差控制提供輸出信號(hào)，借助于第二檢測(cè)元件(28a，28b，28c，31a，42a，51a)來僅僅讀取每個(gè)軌道的功率信號(hào)，將所述第二檢測(cè)元件的每一個(gè)設(shè)置為使其面積基本上小于所述第一檢測(cè)元件之一的面積。
文檔編號(hào)G11B7/13GK101073113SQ200580041832
公開日2007年11月14日 申請(qǐng)日期2005年11月25日 優(yōu)先權(quán)日2004年12月6日
發(fā)明者A·M·范德利, C·T·H·F·利登鮑姆, T·W·圖克 申請(qǐng)人:皇家飛利浦電子股份有限公司