專利名稱：對(duì)存儲(chǔ)介質(zhì)上的光學(xué)效應(yīng)的分析的制作方法
技本領(lǐng)域本發(fā)明涉及一種分析光學(xué)記錄介質(zhì)上的光學(xué)效應(yīng)的質(zhì)量的方法，并且涉及該方法的應(yīng)用。
背景技術(shù)：
近年來(lái)，向光盤(pán)進(jìn)行寫(xiě)入信息以及從光盤(pán)讀取信息的技術(shù)取得了顯著進(jìn)步。隨著技術(shù)進(jìn)步，出現(xiàn)了不同種類的記錄格式以及相應(yīng)的介質(zhì)。當(dāng)今的市場(chǎng)上，尤其存在著只讀介質(zhì)(即ROM盤(pán)，例如用于音樂(lè)重放)、一次性寫(xiě)入光盤(pán)(其中只能寫(xiě)入數(shù)據(jù)一次，但可以讀取多次)以及可重寫(xiě)盤(pán)(用于多次記錄和擦除數(shù)據(jù))。這三種不同格式中的每一種都有其存在的原因，也各有優(yōu)缺點(diǎn)。這三類介質(zhì)的共同希望是增加數(shù)據(jù)容量，由此可在單個(gè)盤(pán)上存在或提供更多的數(shù)據(jù)。
然而，存在很多限制數(shù)據(jù)容量大小的因素。一個(gè)重要因素是光點(diǎn)的尺寸，它在高容量盤(pán)上幾乎與該盤(pán)上的最小光學(xué)效應(yīng)的尺寸一樣大。在這一限制條件下，多于單個(gè)比特的信息可由所述光點(diǎn)檢測(cè)到，從而導(dǎo)致符號(hào)間干擾(ISI)。
在藍(lán)光光盤(pán)(BD)格式下，有可能對(duì)于高達(dá)27GB的容量分析切分器(slicer)穿越間的時(shí)間，并由此確定光學(xué)效應(yīng)的長(zhǎng)度。但對(duì)于27GB以上的容量則不再可能明確地確定切分器電平，也無(wú)法進(jìn)行同最佳功率校準(zhǔn)(OPC)相結(jié)合的眾所周知的抖動(dòng)分析以用于在記錄模式下調(diào)節(jié)寫(xiě)入策略。
本發(fā)明的發(fā)明人意識(shí)到，當(dāng)前沒(méi)有能夠在30-37GB的容量范圍內(nèi)分析光學(xué)介質(zhì)上的已寫(xiě)入效應(yīng)的質(zhì)量的解決方案，而這樣的解決方案又是有益的，因此本發(fā)明的發(fā)明人設(shè)計(jì)了本發(fā)明。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明旨在提供用于分析光學(xué)介質(zhì)上的已寫(xiě)入效應(yīng)的質(zhì)量的改進(jìn)裝置。優(yōu)選地，本發(fā)明單獨(dú)地或者以任意組合減輕或緩解一個(gè)或多個(gè)上述(或其它)缺點(diǎn)。
因此，在第一個(gè)方面提供了一種方法，其用于分析光學(xué)記錄介質(zhì)上的光學(xué)效應(yīng)的質(zhì)量，該方法包括以下步驟a)確定來(lái)自該光學(xué)記錄介質(zhì)的所測(cè)得的光學(xué)信號(hào)的波形；b)確定一個(gè)標(biāo)稱信號(hào)的波形，該標(biāo)稱信號(hào)通過(guò)一種光學(xué)通過(guò)模型計(jì)算得到；c)計(jì)算一個(gè)幅度差參數(shù)，該幅度差參數(shù)基于所述所測(cè)得的波形和標(biāo)稱波形的幅度差，其中所述光學(xué)效應(yīng)的質(zhì)量量度從該幅度差參數(shù)確定。
所測(cè)得的光學(xué)信號(hào)(例如來(lái)自只讀、一次性寫(xiě)入、可重寫(xiě)等CD類型盤(pán)、DVD類型盤(pán)、BD類型盤(pán)等的所測(cè)得的光學(xué)信號(hào))是一個(gè)已調(diào)信號(hào)，其中所述調(diào)制表示存在于盤(pán)上的二進(jìn)制數(shù)據(jù)。在盤(pán)上，信息以光學(xué)效應(yīng)模式存儲(chǔ)，所述光學(xué)效應(yīng)例如被稱為標(biāo)記。一種典型的信息編碼是游程長(zhǎng)度編碼，其中信息被存儲(chǔ)在光學(xué)效應(yīng)和光學(xué)效應(yīng)之間的間隔以及所述光學(xué)效應(yīng)和間隔的長(zhǎng)度中。在游程長(zhǎng)度編碼中，盤(pán)上的比特模式可以由間隔和光學(xué)效應(yīng)之間的過(guò)渡偏移的定時(shí)序列表示?？捎蛇^(guò)渡偏移的類型和過(guò)渡偏移間的定時(shí)推斷出比特類型(即光學(xué)效應(yīng)或間隔)和比特長(zhǎng)度。
計(jì)算得到的模型信號(hào)在數(shù)學(xué)上可由線性光學(xué)模型表示，例如Braat-Hopkins模型。
所述幅度差參數(shù)基于所測(cè)得的波形與標(biāo)稱的或所計(jì)算的波形之間的幅度差。該幅度差參數(shù)可以是簡(jiǎn)單的相減，但是它也可以是一個(gè)更為復(fù)雜的參數(shù)，例如差分布的寬度或均值，可以執(zhí)行一種數(shù)學(xué)操作來(lái)獲得該參數(shù)，其他情況依此類推。
從幅度差參數(shù)確定光學(xué)效應(yīng)的質(zhì)量量度是有利的，因?yàn)檫@樣一種量度表示所寫(xiě)入光學(xué)效應(yīng)的質(zhì)量，該量度甚至可用于30GB以上的數(shù)據(jù)容量，例如30-37GB范圍內(nèi)的數(shù)據(jù)容量。
可以提供幅度差參數(shù)的直方圖，其中從直方圖的寬度和中心位置確定該質(zhì)量量度。因此，可將幅度差確定為給定特征的函數(shù)，并且可以提供該特征的分布的直方圖?？蓪⑺龇植嫉膶挾群?或中心位置(即是否存在偏移量)用作質(zhì)量量度。
提供幅度差參數(shù)的直方圖是有利的，因?yàn)檫@樣一個(gè)直方圖能夠快速提供對(duì)于已寫(xiě)入光學(xué)效應(yīng)的總體質(zhì)量的認(rèn)識(shí)。
光學(xué)信號(hào)可包括從具有第一寬度的第一區(qū)域反射的第一部分以及從具有第二寬度的第二區(qū)域反射的第二部分，其中從第一區(qū)域到第二區(qū)域的過(guò)渡被標(biāo)記成前沿，所述前沿由第二和第一寬度(也被稱為長(zhǎng)度或游程長(zhǎng)度)索引，并且從第二區(qū)域到第一區(qū)域的過(guò)渡被標(biāo)記成后沿，所述后沿由第一和第二寬度索引，其中在前沿和/或后沿附近獲得幅度差參數(shù)。
因此，光學(xué)信號(hào)包括第一和第二部分，這與光是從第一還是第二區(qū)域反射相對(duì)應(yīng)。第一和第二區(qū)域在相變類型盤(pán)或一次性寫(xiě)入類型盤(pán)中可以分別被標(biāo)識(shí)為間隔和標(biāo)記，在ROM類型盤(pán)中可以被標(biāo)識(shí)為坑和岸等等。
可以為特定類型的過(guò)渡獲得幅度差參數(shù)，即作為給定過(guò)渡的函數(shù)。甚至可將幅度差參數(shù)確定為特定過(guò)渡前的該區(qū)域的寬度和/或后面的區(qū)域的寬度的函數(shù)。例如，可將幅度差參數(shù)確定為自標(biāo)記到間隔的過(guò)渡，或者自特定長(zhǎng)度的標(biāo)記到任意給定長(zhǎng)度的間隔的過(guò)渡，或者甚至自特定長(zhǎng)度的標(biāo)記到特定長(zhǎng)度的間隔的轉(zhuǎn)換。
以這種方式確定幅度差是有利的，因?yàn)檫@樣能夠提供對(duì)存在于盤(pán)上的光學(xué)效應(yīng)模式中的不同組合的系統(tǒng)行為的更加具體的認(rèn)識(shí)，因此可直接揭示不同模式組合的定位或長(zhǎng)度中的可能的系統(tǒng)誤差。
可從過(guò)渡兩端的幅度差或和的改變獲得幅度差參數(shù)。因此，可對(duì)幅度差執(zhí)行一種數(shù)學(xué)操作，以便提供幅度差參數(shù)。過(guò)渡兩端的差或和可以提供對(duì)光學(xué)效應(yīng)的質(zhì)量和可能誤差的進(jìn)一步的認(rèn)識(shí)。
根據(jù)本發(fā)明的第二方面，提供了一種從光學(xué)存儲(chǔ)介質(zhì)上讀取光學(xué)效應(yīng)的設(shè)備，該設(shè)備包括-輻射源，其用于將輻射光束發(fā)射到光學(xué)存儲(chǔ)介質(zhì)上；-讀取單元，其用于讀取所記錄的效應(yīng)；-用于確定所述幅度差參數(shù)的裝置，正如通過(guò)根據(jù)本發(fā)明的第一方面的方法所確定的那樣。
這樣一種設(shè)備可結(jié)合光學(xué)存儲(chǔ)儀器一起提供或者作為光學(xué)存儲(chǔ)儀器的一部分提供，用以分析光學(xué)效應(yīng)的質(zhì)量。還可將該設(shè)備提供為獨(dú)立的分析器設(shè)備或者作為分析器設(shè)備的一部分。
根據(jù)本發(fā)明的第三方面，提供了一種光學(xué)記錄儀器，該儀器包括-輻射源，其用于發(fā)射具有可控的寫(xiě)入功率電平值的輻射光束，用以在記錄介質(zhì)上記錄光學(xué)效應(yīng)；-讀取單元，其用于讀取所記錄的效應(yīng)；-用于根據(jù)由本發(fā)明第一方面的方法所確定的幅度差參數(shù)來(lái)調(diào)節(jié)寫(xiě)入策略中的功率電平和/或電平持續(xù)時(shí)間的裝置。
這樣一種設(shè)備可結(jié)合光學(xué)記錄儀器一起提供或者作為光學(xué)記錄儀器的一部分提供，該光學(xué)記錄儀器能夠例如在記錄操作之前與對(duì)已寫(xiě)入光學(xué)效應(yīng)的優(yōu)化程序相結(jié)合地分析光學(xué)效應(yīng)的質(zhì)量。
根據(jù)本發(fā)明的第四方面，提供了一種集成電路(IC)以用于確定幅度差參數(shù)，該IC被適配成驅(qū)動(dòng)光學(xué)存儲(chǔ)儀器，以便測(cè)量幅度差參數(shù)，如本發(fā)明第一方面的方法所確定的。可將該IC合并到根據(jù)本發(fā)明的第二或第三方面的設(shè)備或儀器當(dāng)中。
根據(jù)第五方面，本發(fā)明涉及光學(xué)存儲(chǔ)介質(zhì)上的光學(xué)效應(yīng)，其中通過(guò)使用從所測(cè)得的波形和標(biāo)稱波形中的幅度差參數(shù)所確定的寫(xiě)入?yún)?shù)來(lái)提供所述光學(xué)效應(yīng)，并且通過(guò)根據(jù)第一方面的方法來(lái)確定所述幅度差參數(shù)。
在最簡(jiǎn)單的方法中，通過(guò)下述操作將光學(xué)效應(yīng)提供到光學(xué)介質(zhì)在取決于光學(xué)效應(yīng)的期望長(zhǎng)度的預(yù)定持續(xù)時(shí)間內(nèi)以預(yù)定功率電平接通激光，以及在所述光學(xué)效應(yīng)之間在對(duì)應(yīng)于所述間隔的期望長(zhǎng)度的持續(xù)時(shí)間內(nèi)關(guān)斷激光。然而，寫(xiě)入策略可以比該最簡(jiǎn)單的方法更為復(fù)雜，例如可以與直接覆寫(xiě)方法(DOW)相結(jié)合，所述直接覆寫(xiě)方法與相變類型介質(zhì)相結(jié)合地使用。一般來(lái)說(shuō)，利用激光脈沖來(lái)寫(xiě)入光學(xué)效應(yīng)，所述激光脈沖的脈沖形狀由多個(gè)寫(xiě)入?yún)?shù)表征，這被稱作寫(xiě)入策略。典型地，所述寫(xiě)入策略可以用多個(gè)寫(xiě)入?yún)?shù)來(lái)描述，比如用來(lái)接通及關(guān)斷激光、把激光功率設(shè)置到特定電平、把激光功率保持給定持續(xù)時(shí)間等等的命令。在把數(shù)據(jù)寫(xiě)入到新的光學(xué)可記錄介質(zhì)之前校準(zhǔn)(即優(yōu)化)寫(xiě)入策略是很重要的，有時(shí)甚至是必要的。
描述期望的寫(xiě)入脈沖的寫(xiě)入策略可包括一個(gè)或多個(gè)寫(xiě)入?yún)?shù)。寫(xiě)入策略可依賴于期望的特定光學(xué)效應(yīng)，即所述效應(yīng)的長(zhǎng)度和用于寫(xiě)入特定光學(xué)效應(yīng)的寫(xiě)入脈沖中的寫(xiě)入?yún)?shù)?？梢源嬖跇?biāo)準(zhǔn)寫(xiě)入策略，它們根據(jù)已寫(xiě)入光學(xué)效應(yīng)的最終長(zhǎng)度而被分類，即用于寫(xiě)入I2標(biāo)記的I2策略、用于寫(xiě)入I3標(biāo)記的I3策略等?？山Y(jié)合優(yōu)化例程對(duì)寫(xiě)入策略(即包含在特定寫(xiě)入策略中的寫(xiě)入?yún)?shù))進(jìn)行優(yōu)化，其中將光學(xué)效應(yīng)提供到光學(xué)存儲(chǔ)介質(zhì)，確定根據(jù)本發(fā)明第一方面的幅度參數(shù)，并且適配所述寫(xiě)入策略(即通過(guò)改變一個(gè)或多個(gè)寫(xiě)入?yún)?shù))?？梢灾貜?fù)該例程，直到獲得令人滿意的幅度差參數(shù)。
根據(jù)第六方面，本發(fā)明涉及一種用來(lái)確定幅度差參數(shù)的計(jì)算機(jī)可讀代碼，該代碼被適配成根據(jù)第一方面的方法確定幅度差參數(shù)。
在本發(fā)明的范疇內(nèi)，可以以任何可能的方式組合及耦合本發(fā)明的多個(gè)方面。


本發(fā)明的這些和其它方面、特征和/或優(yōu)勢(shì)將從下述實(shí)施例中變得明顯，并將參考下述實(shí)施例對(duì)它們進(jìn)行闡述。將僅通過(guò)示例的方式參考附圖對(duì)本發(fā)明的實(shí)施例進(jìn)行闡述，其中圖1示意性地示出一種光學(xué)記錄儀器，該儀器能夠從光學(xué)存儲(chǔ)介質(zhì)讀取信息和/或?qū)⑿畔?xiě)入光學(xué)存儲(chǔ)介質(zhì)；圖2示意性地示出藍(lán)光光盤(pán)上的光學(xué)效應(yīng)；圖3示意性地示出來(lái)自光學(xué)信號(hào)的一系列通道比特；圖4示出從隨機(jī)間隔游程長(zhǎng)度到3T標(biāo)記游程長(zhǎng)度的過(guò)渡的直方圖；圖5示出從標(biāo)記游程長(zhǎng)度到間隔游程長(zhǎng)度的過(guò)渡以及從間隔游程長(zhǎng)度到標(biāo)記游程長(zhǎng)度的過(guò)渡的矩陣圖；圖6示意性地示出單個(gè)過(guò)渡兩端的幅度差的差與和；圖7示出利用第一寫(xiě)入策略獲得的過(guò)渡兩端的幅度差的矩陣分布；圖8示出利用第二寫(xiě)入策略獲得的過(guò)渡兩端的幅度差的矩陣分布；以及圖9示出利用第三寫(xiě)入策略獲得的過(guò)渡兩端的幅度差的矩陣分布。
具體實(shí)施例方式
圖1中示意性地示出光學(xué)存儲(chǔ)儀器1，它能夠從光學(xué)存儲(chǔ)介質(zhì)讀取信息和/或向光學(xué)存儲(chǔ)介質(zhì)寫(xiě)入信息。
一個(gè)真實(shí)的光學(xué)存儲(chǔ)儀器包括許多具有不同功能的元件，在此只示出幾個(gè)。存在電動(dòng)機(jī)裝置9、10，其用于旋轉(zhuǎn)盤(pán)11并控制光學(xué)拾取單元5的運(yùn)動(dòng)，從而光點(diǎn)3便可以被聚焦并定位于盤(pán)上的期望位置處。該光學(xué)拾取單元包括用于發(fā)射激光束的激光器6，該激光束可以通過(guò)多個(gè)光學(xué)元件被聚焦在盤(pán)上。在記錄模式下，聚焦的激光的強(qiáng)度可以足夠高，從而為光盤(pán)提供物理變化，即在光盤(pán)上提供光學(xué)效應(yīng)?；蛘?，在讀取模式下，激光器功率不足以引起物理變化，并且由光電檢測(cè)器7檢測(cè)到反射的激光以用于讀取盤(pán)上的所述光學(xué)效應(yīng)。
在本發(fā)明中，來(lái)自光學(xué)記錄介質(zhì)的所測(cè)得的光學(xué)信號(hào)可以是光電檢測(cè)器7所見(jiàn)的信號(hào)，該信號(hào)可通過(guò)專用單元(未示出)或處理裝置4被轉(zhuǎn)換成適于進(jìn)一步處理的形式。
對(duì)存儲(chǔ)儀器的控制可由硬件實(shí)現(xiàn)方式完成，如電動(dòng)機(jī)控制9和光學(xué)元件控制2所示。此外，還存在微處理器控制裝置4。該微處理器控制裝置(例如集成電路(IC)裝置)同時(shí)包含硬連線的處理裝置和軟件處理裝置，因此用戶例如可以通過(guò)高級(jí)控制軟件影響該儀器的操作。高級(jí)控制設(shè)定的示例包括在記錄模式下控制所發(fā)射的激光功率的寫(xiě)入策略中的脈沖形狀。
圖2是所提供的藍(lán)光光盤(pán)(BD)上的光學(xué)效應(yīng)的一個(gè)示例。圖2B示出BD盤(pán)21上的區(qū)域20的放大圖29，該BD盤(pán)21在圖2A中示意性地示出。該放大的區(qū)域示出了光學(xué)效應(yīng)23和所述光學(xué)效應(yīng)之間的區(qū)域22。所述效應(yīng)沿著從中心向外盤(pán)旋的軌道對(duì)準(zhǔn)，圖中示出了軌道的一部分24。在圖2C中示意性地示出了從該軌道部分24反射的光，其中沿著垂直軸25示出了作為沿水平軸26的位置的函數(shù)的反射光強(qiáng)度，即作為時(shí)間的函數(shù)。所述光學(xué)效應(yīng)23常常被稱作標(biāo)記27，而標(biāo)記之間的區(qū)域22則常常被稱作間隔28。在相變類型盤(pán)中，標(biāo)記23、27是具有低反射率的無(wú)定形區(qū)域，而間隔22、28則是具有高反射率的晶體區(qū)域。
在光學(xué)記錄中，數(shù)據(jù)被存儲(chǔ)在不同游程長(zhǎng)度(即不同的寬度(長(zhǎng)度))的標(biāo)記27和間隔28中。對(duì)于給定盤(pán)的最優(yōu)性能而言重要的是所有的標(biāo)記和間隔都是類似整數(shù)步長(zhǎng)。在BD中，最短的效應(yīng)為通道比特長(zhǎng)度(＝單位長(zhǎng)度)的2倍，也稱為T(mén)2。最長(zhǎng)的效應(yīng)是通道比特長(zhǎng)度的9倍，被稱為T(mén)9。當(dāng)標(biāo)記和間隔的長(zhǎng)度不是通道比特長(zhǎng)度的整倍數(shù)時(shí)，這將被視為與最佳情形有偏差，并將導(dǎo)致惡化的比特檢測(cè)性能。
圖3示出來(lái)自一個(gè)光學(xué)信號(hào)的一系列通道比特。該通道比特序列30包括第一部分31和第二部分32，第一部分31對(duì)應(yīng)于從第一寬度311的第一區(qū)域(其為間隔或高反射率區(qū)域)所反射的光，第二部分32對(duì)應(yīng)于從第二寬度321的第二區(qū)域(其為標(biāo)記或低反射率區(qū)域)所反射的光。從第一區(qū)域到第二區(qū)域的過(guò)渡被標(biāo)記成前沿33，而從第二區(qū)域到第一區(qū)域的過(guò)渡被標(biāo)記為后沿34。
在真實(shí)的盤(pán)上，從高反射率(間隔)到低反射率(標(biāo)記)的過(guò)渡并非總在正確的位置上。有些過(guò)渡過(guò)于靠左(時(shí)間上過(guò)早＝定義為負(fù))，有些則過(guò)于靠右(過(guò)遲＝正)。這由虛線37示出，它表示所測(cè)得的邊沿位置。圖中將時(shí)間軸38示為水平軸，該時(shí)間軸以所謂的1T(＝1通道比特)分辨率被離散化。對(duì)于理想信號(hào)，所述過(guò)渡應(yīng)該位于1T標(biāo)記上。下面闡述實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的實(shí)施例。從而提供了實(shí)施一種用于分析光學(xué)記錄介質(zhì)上的光學(xué)效應(yīng)的質(zhì)量的方法的實(shí)施例。
在其中ISI很重要的數(shù)據(jù)容量下，信息被存儲(chǔ)在信號(hào)幅度中，而不是存儲(chǔ)在過(guò)零的位置處。因此，讀出波形的所采樣值與標(biāo)稱值之間的幅度差能夠提供存在于介質(zhì)上的光學(xué)效應(yīng)的質(zhì)量量度，所述幅度差可以例如從適當(dāng)?shù)耐ǖ滥Ｐ?這種模型可以是固定的、線性的、截取的(部分)響應(yīng)，或者例如是考慮到非線性的自適應(yīng)模型[參見(jiàn)例如R.Otte和W.Coene的“Evaluation of adaptive PRML/Viterbi bit detectionfor DVD and beyond(對(duì)于DVD及以上的自適應(yīng)PRML/Viterbi比特檢測(cè)的評(píng)估)”，IEEE Trans.Cons.Electr.46，pp.1018-1020，2000])獲得。特別地，游程長(zhǎng)度過(guò)渡附近的幅度差包含用于寫(xiě)入策略優(yōu)化的重要信息。
在正確工作的系統(tǒng)中的幅度差分布(例如在每個(gè)游程長(zhǎng)度過(guò)渡的第一比特處)將是具有零均值(即平均說(shuō)來(lái)不存在幅度偏移量)和一定寬度的類高斯分布，所述一定寬度對(duì)應(yīng)于幅度‘抖動(dòng)’。在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，由于該寬度應(yīng)當(dāng)盡可能小，因此所述分布寬度可被用作質(zhì)量量度。
在圖4中為未優(yōu)化的25GB寫(xiě)入策略提供了從隨機(jī)間隔游程長(zhǎng)度到3T標(biāo)記游程長(zhǎng)度的過(guò)渡的直方圖40。這種直方圖對(duì)于特定類型的過(guò)渡通常比‘總體’分布更窄。
如圖4所示的直方圖可能不提供關(guān)于如何優(yōu)化寫(xiě)入策略以改進(jìn)光學(xué)效應(yīng)質(zhì)量的詳細(xì)信息。但是它提供了一種快速的定性質(zhì)量量度，這例如是通過(guò)與在介質(zhì)上獲得的參考分布進(jìn)行對(duì)比，其中所述介質(zhì)上的光學(xué)效應(yīng)是最優(yōu)的。
僅通過(guò)觀察特定過(guò)渡的分布便可獲得更詳細(xì)的信息。
為了在記錄和/或讀出處理中包含在前或在后游程長(zhǎng)度的影響，最好評(píng)估(至少)由第一游程長(zhǎng)度和相繼的下一個(gè)游程長(zhǎng)度所指定的單獨(dú)的分布。這可以在圖5所示的類矩陣圖中繪出，該圖將第一游程長(zhǎng)度示于x軸上，并且將第二游程長(zhǎng)度示于y軸上。不同的單獨(dú)分布的均值和標(biāo)準(zhǔn)差分別由與相應(yīng)柵格位置的水平偏移量和誤差條表示。
在圖5中，對(duì)于從標(biāo)記游程長(zhǎng)度到間隔游程長(zhǎng)度的過(guò)渡(頂部)以及從間隔游程長(zhǎng)度到標(biāo)記游程長(zhǎng)度的過(guò)渡(底部)示出了所述類矩陣圖。左側(cè)的圖繪出第一游程長(zhǎng)度的最后一個(gè)比特(即‘下一個(gè)RL之前的比特’)的分布，而右側(cè)的圖示出下一個(gè)游程長(zhǎng)度的第一比特的分布。換句話說(shuō)，左側(cè)對(duì)應(yīng)于過(guò)渡之前(過(guò)渡‘左側(cè)’)的比特，右側(cè)對(duì)應(yīng)于緊接在游程長(zhǎng)度間的過(guò)渡之后(過(guò)渡‘右側(cè)’)的比特。對(duì)于優(yōu)化的寫(xiě)入策略和良好的通道模型，與柵格位置的偏移量和誤差條(分布的標(biāo)準(zhǔn)差)很小。因此，圖5所示的圖提供了對(duì)于每種過(guò)渡類型的質(zhì)量量度，這例如是通過(guò)將各個(gè)均值和標(biāo)準(zhǔn)差與參考值進(jìn)行對(duì)比。
通過(guò)分析特定過(guò)渡兩端的幅度差的改變(增量)和/或總和的分布便可獲得更進(jìn)一步的認(rèn)識(shí)。這在圖6中針對(duì)單個(gè)過(guò)渡示意性地示出。箭頭62-65表示在過(guò)渡之前和之后的參考波形(實(shí)線)60與實(shí)際波形(虛線)61之間的幅度差。在有用的前提下可計(jì)算出參考波形，而實(shí)際波形將被測(cè)量得到。
圖6A中示出了這樣一種情況，其中過(guò)渡的斜率的偏差(例如由于小游程長(zhǎng)度的不完整寫(xiě)入等等造成)將導(dǎo)致過(guò)渡兩端的幅度差的改變，即非零改變或增量(例如，前面的箭頭減去后面的箭頭)。另一方面，在圖6B中示出了過(guò)渡兩端的幅度差的總和對(duì)應(yīng)于該過(guò)渡的偏移。實(shí)際上，這個(gè)偏移可能是由于對(duì)應(yīng)于該特定過(guò)渡的寫(xiě)入策略中的錯(cuò)誤的(非最優(yōu)的)激光脈沖位置或功率造成的。因此，所述偏移的符號(hào)(由箭頭62-65的方向所指示)和幅度可以特別用來(lái)校正寫(xiě)入策略。正如結(jié)合圖5所討論的那樣，人們可以以類矩陣的形式觀看對(duì)應(yīng)于游程長(zhǎng)度之間的各種過(guò)渡的增量和總和的分布，以便獲得對(duì)系統(tǒng)誤差的了解。
為了對(duì)結(jié)合圖7-9針對(duì)寫(xiě)入策略優(yōu)化討論的方法的應(yīng)用進(jìn)行說(shuō)明，將眾所周知的25GB藍(lán)光光盤(pán)系統(tǒng)用作一個(gè)示例。由于該容量相對(duì)較低，因此過(guò)渡斜率效應(yīng)在此不那么重要，而焦點(diǎn)將集中在過(guò)渡偏移上(圖的右半部分包含總和的分布)。這種方法同樣適用于其中不存在替換評(píng)估方法的高得多的容量。在下面的圖中，為清楚起見(jiàn)放大了偏移量尺度。
圖7-9中的每一個(gè)都示出了4個(gè)圖，上面的兩個(gè)圖對(duì)于過(guò)渡兩端的差(左)及過(guò)渡兩端的和(右)示出了標(biāo)記與接下來(lái)的間隔之間的分布。下面的兩個(gè)圖對(duì)于過(guò)渡兩端的差(左)及過(guò)渡兩端的和(右)示出了間隔與接下來(lái)的標(biāo)記之間的分布。
圖7示出了這樣的結(jié)果，其中對(duì)標(biāo)準(zhǔn)寫(xiě)入策略進(jìn)行了修改，從而使得5T標(biāo)記的后沿向回偏移了超過(guò)2/12的通道比特時(shí)鐘(擦除脈沖提早2/12開(kāi)始)。對(duì)于這一容量，可以對(duì)于前沿和后沿測(cè)量抖動(dòng)。作為所施加的偏移的結(jié)果，對(duì)應(yīng)的抖動(dòng)值分別為5.25％和9.75％。這一偏移導(dǎo)致所有后面的間隔游程長(zhǎng)度大于通常情況。實(shí)際上，這可以在右上總和圖中清楚的看到正如箭頭70所指示的那樣，在‘第一標(biāo)記RL’5后面的所有的‘下一個(gè)間隔RL’都表現(xiàn)出較大的正向偏移。
(對(duì)于其它的‘第一標(biāo)記RL’也觀察到較小的偏移，這是由于切分器的效應(yīng)，所述切分器試圖使總體偏移量盡可能接近零。)可以看到，集中于標(biāo)記的前沿(或間隔后沿)的右下圖不受所施加的偏移的影響。在圖7中的該右下中可以看到，對(duì)于‘下一個(gè)標(biāo)記RL’＝2而言，存在系統(tǒng)性的正向偏移71，即2T標(biāo)記的前沿太過(guò)靠右。
在圖8中嘗試通過(guò)將整個(gè)2T標(biāo)記(包括前沿和后沿)向右偏移超過(guò)1/12來(lái)校正所述系統(tǒng)性的正向偏移。前沿位置確實(shí)得到相當(dāng)?shù)母倪M(jìn)(右下圖，箭頭81)，但是后沿位置明顯惡化了(右上圖，箭頭80)。如果僅偏移2T標(biāo)記的前沿(即2T長(zhǎng)度也被增加)將會(huì)得到好得多的結(jié)果，正如圖7所表明的那樣。這一結(jié)果示于圖9中。
雖然已經(jīng)結(jié)合優(yōu)選實(shí)施例描述了本發(fā)明，但是并不意圖把本發(fā)明限制到這里闡述的具體形式。相反，本發(fā)明的范圍僅由所附權(quán)利要求書(shū)限定。
在這一段落中，出于解釋而不是限制的目的闡述了所公開(kāi)的實(shí)施例的某些具體細(xì)節(jié)(比如方法步驟、具體數(shù)學(xué)模型、數(shù)據(jù)表示法等等)，以便提供對(duì)本發(fā)明的清晰而透徹的理解。然而本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)很容易理解，在不嚴(yán)重背離本公開(kāi)內(nèi)容的精神和范圍的情況下，本發(fā)明可以在不完全符合這里闡述的細(xì)節(jié)的其他實(shí)施例中實(shí)現(xiàn)。此外，在本上下文中，為了簡(jiǎn)明起見(jiàn)省略了對(duì)于公知的設(shè)備、電路和方法的具體描述，以避免不必要的細(xì)節(jié)和可能的混淆。
在權(quán)利要求中包含附圖標(biāo)記僅僅是為了清楚起見(jiàn)，而不應(yīng)當(dāng)被理解為限制權(quán)利要求的范圍。
權(quán)利要求
1.用于分析光學(xué)記錄介質(zhì)(11)上的光學(xué)效應(yīng)(23)的質(zhì)量的方法，該方法包括以下步驟a)確定來(lái)自該光學(xué)記錄介質(zhì)的所測(cè)得的光學(xué)信號(hào)的波形(61)；b)確定標(biāo)稱信號(hào)的波形(60)，該標(biāo)稱信號(hào)通過(guò)光學(xué)通道模型計(jì)算得到；c)計(jì)算幅度差參數(shù)，該幅度差參數(shù)基于所測(cè)得的波形與該標(biāo)稱波形中的幅度差，其中從該幅度差參數(shù)確定所述光學(xué)效應(yīng)的質(zhì)量量度。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的方法，其中，提供了幅度差參數(shù)的直方圖(40)，并且從該直方圖的寬度和中心位置確定所述質(zhì)量量度。
3.根據(jù)權(quán)利要求1的方法，其中，所述光學(xué)信號(hào)包括從具有第一寬度(311)的第一區(qū)域(22)反射的第一部分(28，31)以及從具有第二寬度(321)的第二區(qū)域(23)反射的第二部分(27，32)，其中從第一區(qū)域到第二區(qū)域的過(guò)渡被標(biāo)記為前沿(33)，所述前沿由第二和第一寬度索引，從第二區(qū)域到第一區(qū)域的過(guò)渡被標(biāo)記為后沿(34)，所述后沿由第一和第二寬度索引，其中在前沿和/或后沿附近獲得所述幅度差參數(shù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3的方法，其中，為特定類型的過(guò)渡獲得所述幅度差參數(shù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求3的方法，其中，把所述幅度差參數(shù)確定為特定過(guò)渡之前的該區(qū)域的寬度和/或后面的該區(qū)域的寬度的函數(shù)。
6.根據(jù)權(quán)利要求3的方法，其中，從過(guò)渡兩端的所述幅度差的改變(62，63)獲得所述幅度差參數(shù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求3的方法，其中，從過(guò)渡兩端的所述幅度差的總和(64，65)獲得所述幅度差參數(shù)。
8.用于從光學(xué)存儲(chǔ)介質(zhì)(11)中讀取光學(xué)效應(yīng)(23)的設(shè)備，包括—輻射源(6)，其用于將輻射光束發(fā)射到光學(xué)存儲(chǔ)介質(zhì)上；—讀取單元(7)，其用于讀取所記錄的效應(yīng)；—用于如權(quán)利要求1的方法所確定的那樣確定所述幅度差參數(shù)的裝置。
9.光學(xué)記錄儀器(1)，包括—輻射源(6)，其用于發(fā)射具有可控的寫(xiě)入功率電平值的輻射光束，用以在所述記錄介質(zhì)(11)上記錄光學(xué)效應(yīng)(23)；—讀取單元(7)，其用于讀取所記錄的效應(yīng)；—用于根據(jù)如權(quán)利要求1的方法所確定的幅度差參數(shù)調(diào)節(jié)寫(xiě)入策略中的功率電平和/或電平持續(xù)時(shí)間的裝置。
10.用于確定幅度差參數(shù)的集成電路(IC)，該IC被適配成驅(qū)動(dòng)光學(xué)存儲(chǔ)儀器，以便測(cè)量如權(quán)利要求1的方法所確定的幅度差參數(shù)。
11.光學(xué)存儲(chǔ)介質(zhì)上的光學(xué)效應(yīng)(23)，其中利用寫(xiě)入?yún)?shù)提供所述光學(xué)效應(yīng)(23)，從所測(cè)得的波形(61)與標(biāo)稱波形(60)中的幅度差參數(shù)確定所述寫(xiě)入?yún)?shù)，所述幅度差參數(shù)是從根據(jù)權(quán)利要求1的方法確定的。
12.用于確定幅度差參數(shù)的計(jì)算機(jī)可讀代碼，該代碼被適配成根據(jù)權(quán)利要求1的方法確定幅度差參數(shù)。
13.幅度差參數(shù)的使用，該幅度差參數(shù)是從在所測(cè)得的波形與標(biāo)稱波形之間確定的幅度差參數(shù)所確定的，用以在光學(xué)記錄儀器中設(shè)置寫(xiě)入?yún)?shù)的最優(yōu)值。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種用于分析光學(xué)記錄介質(zhì)上的光學(xué)效應(yīng)的質(zhì)量的方法，以及該方法與優(yōu)化寫(xiě)入策略和對(duì)于光學(xué)記錄介質(zhì)分析寫(xiě)入質(zhì)量相結(jié)合的應(yīng)用。該方法包括以下步驟確定所測(cè)得的光學(xué)信號(hào)(61)和標(biāo)稱光學(xué)信號(hào)(60)的波形，以及從所測(cè)得的波形與標(biāo)稱波形中的差異(62－65)計(jì)算幅度差參數(shù)。因此，所述光學(xué)效應(yīng)的質(zhì)量量度可以從該幅度差參數(shù)確定。該方法的應(yīng)用包括(但不局限于)用于從光學(xué)存儲(chǔ)介質(zhì)上讀取光學(xué)效應(yīng)的設(shè)備，其具有用于確定幅度差參數(shù)的裝置；光學(xué)記錄儀器，其具有用于調(diào)節(jié)寫(xiě)入策略中的功率電平和/或電平持續(xù)時(shí)間的裝置；以及用于控制光學(xué)存儲(chǔ)儀器的IC。
文檔編號(hào)G11B7/004GK101084540SQ200580043822
公開(kāi)日2007年12月5日 申請(qǐng)日期2005年12月14日 優(yōu)先權(quán)日2004年12月20日
發(fā)明者C·A·弗舒?zhèn)?申請(qǐng)人:皇家飛利浦電子股份有限公司