專利名稱：可記錄的光學存儲系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明一般涉及可記錄的光學存儲系統(tǒng)，尤其涉及確定供可記錄的光學存儲系統(tǒng)使用的各個最佳的讀和寫參數(shù)以及光學存儲盤。
背景技術(shù)：
眾所周知，CD-R(可記錄的緊致盤)盤等由光學疊層構(gòu)成。該疊層通常由聚碳酸酯襯底、感光染色層、金或銀合金反射器和保護漆層組成。通過將大功率激光器聚焦到染色層以便加熱一區(qū)域從而改變該區(qū)域的反射率而將數(shù)據(jù)寫到盤上。這些區(qū)域形成可變長度的標記(低反射區(qū))的螺旋形軌道和陸地(非凹陷部分)(land)(在標記之間的高反射區(qū))。最終得到的標記和陸地的圖案對存儲在盤上的數(shù)據(jù)進行編碼。標記區(qū)和陸地之間的每個轉(zhuǎn)變都與值為“1”的數(shù)據(jù)的物理編碼相對應。陸地的長度通常是3至11個時鐘周期(3T至11T，其中“T”代表數(shù)據(jù)時鐘周期)。
如果要精確地表示數(shù)據(jù)，那么精確的標記長度是很關(guān)鍵的。例如，如果光學讀取器讀取一張盤，該盤具有許多太長的3T標記或陸地，那么這些標記或陸地將會被誤解為是4T的特征。這種誤解釋可能導致不正確的數(shù)據(jù)檢索，并且在極端情況下可能導致讀取失敗。
而且，重要的是使向光盤寫入或從光盤讀取的激光正確地入射在光盤上，此外，要使其充分地聚焦從而讀取正確的軌道。如果不是這種情況，那么會出現(xiàn)如上所述的寫入數(shù)據(jù)的誤差，并且可能影響信息檢索?？赡茉斐扇鐚霈F(xiàn)的情況的系統(tǒng)參數(shù)例如是存在球面像差，或者盤的其他畸變，或者在使用中激光沒有適當?shù)鼐劢乖诒P上。
由于這些理由，重要的是光學記錄器能夠監(jiān)控并保持盤寫入的質(zhì)量以便確保在寫入的特殊盤上的所有標記和陸地長度的精度。
為了實現(xiàn)精確的標記/陸地長度，根據(jù)所使用的盤/記錄器組合的最佳操作光程參數(shù)值而存在最佳記錄和讀取參數(shù)。因此，在記錄一張盤(例如CD-R、CD-RW(可重寫的緊致盤)、DVD±R(可記錄的DVD)、DVD±RW(可重寫的DVD)、DVD-RAM等)時應該使用的最佳記錄參數(shù)取決于實際的盤、所使用的記錄器以及進行記錄時的速度。
應當為每個記錄器/盤組合確定在其實際記錄速度時的最佳記錄和讀取參數(shù)。這種確定稱為最佳參數(shù)控制(OPC)程序(procedure)。最佳記錄參數(shù)將允許記錄器為給定記錄速度的給定盤產(chǎn)生正確的標記/陸地長度，并改進光盤的讀取精度。
目前有兩種不同的OPC程序用于可記錄(R)和可重寫(RW)的光學存儲盤。對于R盤，使用“β”和“跳動”(或“西格馬(σ)”)OPC方法，而對于RW盤，利用“γ”法作為OPC程序。跳動/西格馬(σ)OPC程序是最常使用的方法之一。跳動是對于每個行程長度(runlength)來說標記或陸地長度變化在平均值附近的統(tǒng)計測量結(jié)果，并且是播放器/記錄器讀取數(shù)據(jù)時出現(xiàn)的定時錯誤的一般測量。
這些目前使用的OPC方法基于預先存儲在盤上的所使用的信息。例如，可以將信息預先存儲到向記錄器提供指示性功率級的盤上，根據(jù)該功率級開始OPC程序。但是該信息可能不總是正確的，并且會導致OPC故障。
目前使用的跳動/西格馬(σ)OPC程序的另一個缺點是需要大量的盤區(qū)以便達到沿盤的圓周的變化平均值(例如偏心率)。所需的大區(qū)域降低了可用的數(shù)據(jù)存儲空間，并且也要花費很長時間進行測試。
因此，需要一種快速、節(jié)省空間的西格馬(σ)OPC方法，其也不依賴于盤上存儲的信息。

發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)本發(fā)明，提供一種快速的σ-OPC程序，可以在盤的內(nèi)部和/或外部測試區(qū)執(zhí)行該程序，并且該程序克服了與常規(guī)的跳動OPC程序相關(guān)聯(lián)的問題。
根據(jù)本發(fā)明的第一方面，提供一種為寫到光學存儲介質(zhì)的激光設(shè)備確定最佳參數(shù)值的方法，該方法包括利用光學寫入頭將預定數(shù)據(jù)模式寫到光學存儲介質(zhì)中；為預定數(shù)據(jù)模式測量跳動值；以及根據(jù)測得的跳動值選擇激光設(shè)備的最佳操作輸出參數(shù)值，該激光設(shè)備用于將數(shù)據(jù)寫入到光學存儲介質(zhì)中，該最佳參數(shù)值使光學存儲介質(zhì)的跳動值最優(yōu)化，其特征在于，在第一次掃描該介質(zhì)而將預定數(shù)據(jù)模式寫入到光學存儲介質(zhì)的過程中，根據(jù)第一預定輪廓(profile)改變光學寫入頭的操作光程參數(shù)值，在第二次掃描該介質(zhì)而將預定數(shù)據(jù)模式寫入到光學存儲介質(zhì)的過程中，根據(jù)第二預定輪廓來改變光學寫入頭的操作光程參數(shù)值，該第二預定輪廓不同于第一預定輪廓。
根據(jù)本發(fā)明的第二方面，提供一種為用于從光學存儲介質(zhì)讀取的激光設(shè)備確定最佳參數(shù)值的方法，該方法包括利用光學讀出頭從光學存儲介質(zhì)讀取預定數(shù)據(jù)模式；為預定數(shù)據(jù)模式測量跳動值；以及根據(jù)測得的跳動值選擇激光設(shè)備的最佳操作輸出參數(shù)值，該激光設(shè)備用于從光學存儲介質(zhì)中讀取數(shù)據(jù)，該最佳參數(shù)值使光學存儲介質(zhì)的跳動值最優(yōu)化，其特征在于，在第一次掃描該介質(zhì)而從光學存儲介質(zhì)讀取預定數(shù)據(jù)模式的過程中，根據(jù)第一預定輪廓改變光學讀出頭的操作光程參數(shù)值，在第二次掃描該介質(zhì)而從該光學存儲介質(zhì)讀取預定數(shù)據(jù)模式的過程中，根據(jù)第二預定輪廓來改變光學讀出頭的操作光程參數(shù)值，該第二預定輪廓不同于第一預定輪廓。
根據(jù)本發(fā)明的第三方面，提供一種為寫到光學存儲介質(zhì)的激光器設(shè)備確定最佳參數(shù)值的裝置，該裝置包括光學寫入頭，其可用于將預定數(shù)據(jù)模式寫到光學存儲介質(zhì)中；用于為預定數(shù)據(jù)模式測量跳動值的裝置；以及用于根據(jù)測得的跳動值選擇激光設(shè)備的最佳操作參數(shù)值的裝置，該激光設(shè)備用于將數(shù)據(jù)寫入到光學存儲介質(zhì)中，該最佳參數(shù)值使光學存儲介質(zhì)的跳動值最優(yōu)化，其特征在于，包括用于改變光學寫入頭相對于光學存儲介質(zhì)的操作光程參數(shù)值的調(diào)整裝置，在第一次掃描該介質(zhì)而將預定數(shù)據(jù)模式寫入到光學存儲介質(zhì)的過程中，根據(jù)第一預定輪廓改變光學寫入頭的操作光程參數(shù)值，在第二次掃描該介質(zhì)而將預定數(shù)據(jù)模式寫入到光學存儲介質(zhì)的過程中，根據(jù)第二預定輪廓來改變光學寫入頭的操作光程參數(shù)值，該第二預定輪廓不同于第一預定輪廓。
根據(jù)本發(fā)明的第四方面，提供一種為用于從光學存儲介質(zhì)進行讀取的激光設(shè)備確定最佳參數(shù)值的裝置，該裝置包括光學讀出頭，其可用于從光學存儲介質(zhì)讀取預定數(shù)據(jù)模式；用于為預定數(shù)據(jù)模式測量跳動值的裝置；以及根據(jù)測得的跳動值選擇激光設(shè)備的最佳操作參數(shù)值的裝置，該激光設(shè)備用于從光學存儲介質(zhì)讀取數(shù)據(jù)，該最佳參數(shù)值使光學存儲介質(zhì)的跳動值最優(yōu)化，其特征在于，包括用于改變光學讀出頭相對于光學存儲介質(zhì)的操作光程參數(shù)值的調(diào)整裝置，在第一次掃描該介質(zhì)而從光學存儲介質(zhì)讀取預定數(shù)據(jù)模式的過程中，根據(jù)第一預定輪廓改變光學讀出頭的操作光程參數(shù)值，在第二次掃描該介質(zhì)而從該光學存儲介質(zhì)讀取預定數(shù)據(jù)模式的過程中，根據(jù)第二預定輪廓來改變光學讀出頭的操作光程參數(shù)值，該第二預定輪廓不同于第一預定輪廓。
每個ADIP/ATIP(預刻槽地址/預刻槽絕對時間)幀都使操作光程參數(shù)值階躍式變化，在每一個參數(shù)值的情況下，多次測量階躍跳動(在完成寫入之后)以便獲得ADIP/ATIP幀(因此參數(shù)值水平)的平均值。
根據(jù)本發(fā)明，操作光程參數(shù)值也可以針對每個ADIP/ATIP幀而發(fā)生多次階躍式變化。
本發(fā)明的方法在速度、磁盤空間使用方面提供了優(yōu)于目前使用的OPC程序的顯著優(yōu)點，由此可以獨立于盤上預先存儲的信息而用于所有可記錄的光學存儲盤介質(zhì)(例如CD-R，CD-RW，DVD±R，DVD±RW，DVD±R DL(DL＝雙層)，DVD±RW DL，DVD-RAM以及藍光盤等)。
在本發(fā)明的示范性實施例中，提供雙軌道跳動OPC程序。
在本發(fā)明的優(yōu)選實施例中，能夠改變的操作光程參數(shù)值的例子包括在使用中的光學讀/寫頭和光學存儲介質(zhì)之間的光程的入射角。
這些光程參數(shù)的最優(yōu)化改進了從存在畸變或產(chǎn)生球面像差的盤中讀取以及寫入到該盤。
在本發(fā)明的其他優(yōu)選實施例中，能夠改變的操作光程參數(shù)值的例子包括光學讀/寫頭和光學存儲介質(zhì)之間的光程長度。
該光學參數(shù)的最優(yōu)化可以在利用激光設(shè)備的過程中在來自光學讀/寫頭的光束焦點改變時改進從該盤讀取和向該盤寫入。
附圖簡述現(xiàn)在參照附圖更詳細地解釋本發(fā)明，在附圖中

圖1表示通常的CD-RW盤的側(cè)視圖；圖2表示依照本發(fā)明的雙軌道OPC程序；圖3是表示依照本發(fā)明對參數(shù)值進行調(diào)整的曲線圖；圖4是本發(fā)明的方法的流程圖；
圖5表示根據(jù)本發(fā)明示范性實施例的參數(shù)和跳動值的陣列；圖6表示根據(jù)本發(fā)明示范性實施例的平均參數(shù)和跳動值的陣列；圖7進一步表示根據(jù)本發(fā)明示范性實施例的參數(shù)和跳動值的陣列；圖8進一步表示根據(jù)本發(fā)明示范性實施例的平均參數(shù)和跳動值的陣列；圖9表示根據(jù)本發(fā)明示范性實施例的平均參數(shù)值的陣列；圖10表示根據(jù)本發(fā)明示范性實施例的平均跳動值的陣列；圖11是依照本發(fā)明示范性實施例的平均跳動測量結(jié)果對平均參數(shù)水平的曲線圖；圖12是依照本發(fā)明示范性實施例的平均跳動測量結(jié)果對平均參數(shù)水平的另一個曲線圖；圖13a、13b和13c示出從激光器發(fā)射并入射在光盤上的光，以及接觸該光盤的激光束的對應橫截面；以及圖14是依照本發(fā)明示范性實施例的測得的跳動值對盤傾斜的曲線圖。
具體實施例方式
利用盤的測試區(qū)來執(zhí)行本發(fā)明的σ-OPC程序。為了提供快速和節(jié)省空間的OPC，本發(fā)明的實施例僅利用盤的兩次旋轉(zhuǎn)來提供σ-OPC程序。
盡管本發(fā)明主要參考CD-R(W)和DVD-R(W)盤來進行描述，但是應該理解，本發(fā)明可應用于對于向介質(zhì)寫信息或者從該介質(zhì)讀取信息來說要求最佳參數(shù)的任何光學記錄媒體。例如，本發(fā)明還可應用于但不限于DVD-R_DL、DVD-RW_DL和藍光盤等。
圖1示出標準CD-RW盤的側(cè)視圖?！靶蕝^(qū)”(CA)1規(guī)定為盤的測試區(qū)，任何OPC程序通常都在盤的該區(qū)域中進行。在該盤上提供程序存儲區(qū)(PMA)3、引入和引出區(qū)5、9以及程序區(qū)7，但是這些區(qū)與本發(fā)明無關(guān)，因此將不對其進行討論。僅僅是出于完整的考慮而將區(qū)域3、5、7和9包括在內(nèi)，并且用于強調(diào)本發(fā)明可應用于所有標準的磁盤類型。但是，不一定在所有的盤上都包括該測試區(qū)；可能僅僅在打算隨后將數(shù)據(jù)寫入到其中的可記錄盤上需要該測試區(qū)。
本發(fā)明利用在光學記錄媒體上存在的所謂的“ADIP”(預刻槽地址)和“ATIP”(預刻槽絕對時間)幀。
所有盤都具有輕微振動的預切的螺旋槽。該槽保持寫入頭適當?shù)匮仄湫羞M，并且振動(對于額定速度的CD-R(W)盤來說是頻率為22.05KHz的正弦曲線)向記錄器提供定時信息。
該振動是用+/-1KHz信號調(diào)頻的，其形成絕對時間的時鐘信號，稱作預刻槽絕對時間(ATIP)。因此，可以將該振動看作是提供定時信號。對于DVD+R(W)盤來說，在額定速度時該振動的頻率是817kHz。對于DVD-R(W)盤來說，在額定速度時該振動的頻率是140.6kHz。定時信息來自于該已調(diào)制的信號。
當從盤讀取信息時，可以將振動解調(diào)從而形成定時信號，根據(jù)該定時信號可以得到時間信息。因此，在寫/讀過程中，盤上的位置可以由該ATIP(預刻槽絕對時間)信息來確定。
對于DVD+R(W)盤來說，存在相位調(diào)制的時間信號。按照與CD-R(W)盤相同的方式，可以從相位振動得到時間信息，以便提供盤在讀/寫過程中的位置。對于DVD-R(W)盤來說，該信息稱為ADIP(預刻槽地址)。
盤的每次旋轉(zhuǎn)都存在一定數(shù)量的ADIP/ATIP幀。根據(jù)本發(fā)明，在盤的小區(qū)域上進行OPC程序，因此每次旋轉(zhuǎn)都使用恒定數(shù)量的ATIP/ADIP幀。特別是，根據(jù)本發(fā)明的示范性實施例，對于CD-R(W)盤來說，每次旋轉(zhuǎn)使用9個ATIP幀，對于DVD-R(W)盤來說，每次旋轉(zhuǎn)使用7個ADIP幀(在光盤的內(nèi)部)。
圖2示出依照本發(fā)明的雙軌道σ-OPC程序，圖3說明在該程序中的參數(shù)水平變化。
根據(jù)圖2和3舉例說明的實施例，為每個ADIP/ATIP幀改變參數(shù)值(最佳光程參數(shù))θ。通過將可用于給定記錄器/盤組合的最小和最大參數(shù)值之差與所需的步驟數(shù)量分開(dividing)來確定這些參數(shù)值。最小和最大參數(shù)值例如可以是記錄器的預編程的參數(shù)。
可選擇的是，可以使用標準的起始參數(shù)值，然后每當需要新的參數(shù)值水平時將該起始參數(shù)值階躍式變化一個預定的量。
在第一次旋轉(zhuǎn)過程中，在ADIP/ATIP幀中的特殊參數(shù)值的情況下將測試數(shù)據(jù)寫入到盤上。然后如圖3中所示調(diào)整該參數(shù)值，并且在新的參數(shù)值的情況下，將測試數(shù)據(jù)寫入到下一個ADIP/ATIP幀。在盤的第一次旋轉(zhuǎn)時繼續(xù)該程序，直到已經(jīng)采樣(sample)了所需數(shù)量的參數(shù)值。然后按照如圖3中所示的改變參數(shù)值，對第二次旋轉(zhuǎn)執(zhí)行同樣的程序。
如圖2中所示，在第二次旋轉(zhuǎn)11的過程中的參數(shù)值變化的順序與在第一次旋轉(zhuǎn)13的過程中的參數(shù)值變化的順序不同。這種移位確保在第一和第二旋轉(zhuǎn)過程中用給定參數(shù)值寫入的ADIP/ATIP幀在盤上不重合。
根據(jù)如圖2和3中所示的本發(fā)明的示范性實施例，在寫入下一個軌道11的開始，如圖3所示改變參數(shù)值103的順序。按照這種方式，與盤沿其圓周的不均勻性相關(guān)聯(lián)的任何可能的問題最終都得到平衡。
特別是，位于同心軌道中的相鄰ADIP/ATIP幀不包含在同一個參數(shù)值的情況下寫入的信息。因此，沿著盤的圓周的不均勻性將不會導致在特殊參數(shù)值的情況下的異常讀取。
在根據(jù)如圖3所示的順序?qū)懭胫?，其中向盤的測試區(qū)寫入預定的數(shù)據(jù)模式，在每一個ADIP/ATIP幀的位置多次測量跳動，并計算其平均值。可以利用常規(guī)的技術(shù)來測量跳動。例如，可以使用所討論的記錄器/播放器中的定時測量電路，以便提供與例如時鐘信號有關(guān)的跳動測量結(jié)果。
類似的過程也可以用于只讀盤(例如，通過只讀DVD播放器，或CD-ROM播放器)。但是在這種情況下，盤讀取器從盤中讀取在寫入過程中形成的一些數(shù)據(jù)，并且利用相同的算法計算該數(shù)據(jù)的跳動。根據(jù)最佳光程參數(shù)值進行盤的隨后的讀取。
類似的是，在盤被寫入之后所讀取的數(shù)據(jù)不需要是寫入到測試部分中的數(shù)據(jù)，而可以是寫到盤的一部分上的實際數(shù)據(jù)。例如在記錄的情況下，可以將一部分數(shù)據(jù)寫到盤上，然后基于已經(jīng)寫到該盤上的該數(shù)據(jù)(即，預定數(shù)據(jù))來進行校準計算。
圖4中用圖解法示出如圖2和3舉例說明的本發(fā)明的方法，圖4中示出了依照本發(fā)明的方法的流程圖。
在步驟1001中，記錄器選擇一個參數(shù)值。在步驟1003中，利用在步驟1001選擇的參數(shù)值將測試信息寫到ADIP/ATIP幀中。在步驟1005中，記錄器確定該程序?qū)τ谔囟ǖ男D(zhuǎn)來說是否是完整的，即是否已經(jīng)采樣了所有必需的參數(shù)值。如果是，那么在步驟1007中確定OPC程序是否需要其他的旋轉(zhuǎn)。
如果認為其他測量在步驟1005中是必需的，那么在步驟1001中選擇新的參數(shù)值，OPC程序繼續(xù)。
如果其他旋轉(zhuǎn)在步驟1007中是必需的，那么在步驟1001中為新的旋轉(zhuǎn)選擇新的參數(shù)值?？蛇x擇的是，如果不需要其他旋轉(zhuǎn)，那么在步驟1009中為所述旋轉(zhuǎn)測量跳動。
因此，為盤的每次旋轉(zhuǎn)而重復如圖4中概述的方法。在已經(jīng)為每次旋轉(zhuǎn)完成了寫入之后，跳動測量開始。
應該理解，激光參數(shù)值沒有必要如圖3所示進行調(diào)整，而是可以按照任何方式進行調(diào)整，只要出于上面概述的原因而沒有根據(jù)相同的參數(shù)值對同心軌道中的相鄰ADIP/ATIP幀進行寫入。
當利用內(nèi)部盤測試區(qū)時，例如每次旋轉(zhuǎn)使用7個ADIP幀(對于DVD+R(W))，或者每次旋轉(zhuǎn)使用9個ATIP幀(對于CD-R(W))。
在用不同的值寫入到ADIP/ATIP幀的位置之后，對跳動進行測量。一旦已經(jīng)在每個ADIP/ATIP幀的位置都對跳動進行了測量，那么就有足夠的信息可用于使沿著盤的圓周的變化達到平均數(shù)。這將在下面更詳細地說明。
下面示出了一個表，其中示出了針對在測試旋轉(zhuǎn)過程中所使用的參數(shù)值的跳動測量結(jié)果。在該表中，n是在OPC程序期間每次旋轉(zhuǎn)寫入的ADIP/ATIP幀的數(shù)量。

圖5是將七個參數(shù)值用于兩次旋轉(zhuǎn)中的每次旋轉(zhuǎn)時的參數(shù)和跳動測量結(jié)果得到的兩個陣列的圖形表示。為每次旋轉(zhuǎn)測量在每個參數(shù)值的情況下的跳動。例如，在第一次旋轉(zhuǎn)過程中，在參數(shù)值P0的情況下，得到跳動值σ0.1。這里，下標0.1表示根據(jù)第一(第零個)參數(shù)值(0)獲得的第一個(1)跳動測量結(jié)果。類似的是，在第二次(2)旋轉(zhuǎn)過程中，第七個(6)跳動測量結(jié)果(即，在第七個參數(shù)值的情況下)是σ6.2。這些結(jié)果按照參數(shù)值的順序即P0至P6來排列，即使這些參數(shù)值按照不同的順序應用于不同的旋轉(zhuǎn)。
圖6示出在示范性實施例中怎樣將圖5的測量結(jié)果進行平均，這些結(jié)果分別放在參數(shù)和跳動的兩個新的陣列中。
在圖6中，將用于第一次和第二次旋轉(zhuǎn)的兩個連續(xù)和跳動值進行平均，從而提供新的陣列的值。因此，例如，每次旋轉(zhuǎn)的前兩個參數(shù)值是P0和P1，第一次和第二次旋轉(zhuǎn)的相對應的跳動測量結(jié)果分別是σ0.1、σ1.1和σ0.2、σ1.2。將兩個參數(shù)值進行平均從而根據(jù)下面的方程式(1)得到值Po0，將在這兩個參數(shù)值的情況下的兩次旋轉(zhuǎn)的四個跳動測量結(jié)果進行平均，從而根據(jù)下面的方程式(2)得到σrl0。
因此，利用下面的方程式對兩個連續(xù)的參數(shù)和跳動值(如上所述)進行平均P0p=pp+Pp+12,∀p∈N:0≤p≤n-2---(1)]]>σr1p=σp.1+σp.2+σ(p+1).1+σ(p+1).24,∀p∈N:0≤p≤n-2---(2)]]>類似的是，圖7和8示出了怎樣根據(jù)下面的方程式(3)和(4)而將三個連續(xù)的參數(shù)和跳動值進行平均并將其放入到另外兩個新的陣列中。
因此，利用下面的方程式對上面表中的三個連續(xù)的跳動值進行平均P0q=Pq+Pq+1+Pq+23,∀q∈N:0≤q≤n-3---(3)]]>σr2q=σq.1+σq.2+σ(q+1).1+σ(q+1).2+σ(q+2).1+σ(q+2).26,∀q∈N:0≤q≤n-3---(4)]]>
如圖9和10中示出了將四個新的陣列的值放入到兩個陣列中。
現(xiàn)在可以將方程式(1)至(4)定義的四個參數(shù)/跳動陣列存儲到下面給出的兩個單獨的陣列中Ps2p＝Popσs2p＝σr1pp∈N:0≤p≤n-2(5)Ps2.q+1＝Poqσs2.q+1＝σr2qq∈N:0≤q≤n-3(6)其優(yōu)點在于提供了更多的采樣，當相對于平均參數(shù)值繪制平均跳動的曲線時將能夠獲得更精確的擬合。
已經(jīng)觀察到平均參數(shù)值Ps和平均跳動值σs之間的關(guān)系實質(zhì)上是如圖11中所示的二次方程?！?”標記20代表兩個平均的參數(shù)和跳動值，“x”標記22代表三個平均的參數(shù)和跳動值。
為了確定代表最小程度的跳動的參數(shù)值，應該找到與σs和Ps有關(guān)的函數(shù)(σs＝f(Ps))的最小值(理想的是通過二次曲線擬合)。假定觀察到新的函數(shù)是二次方程的，那么找到該方程的解(其中a、b和c是常數(shù))σs＝aPs2+bPs+c (7)當dσsdPs=0]]>時，能夠計算出Ps＝Pwσ，其中Pwσ是最佳參數(shù)值。
圖12示出了σs對Ps的典型曲線。當dσsdPs=0]]>時，得到2αPwσ+b＝0(8)因此Pwσ=-b2a---(9)]]>其中a和b是根據(jù)多項式回歸而獲得的系數(shù)。新的最佳參數(shù)值Pwσ對應于擬合曲線的最小跳動值。
因此，Pwσ是最佳的激光寫入?yún)?shù)值，即產(chǎn)生擬合曲線的最小跳動值的激光參數(shù)值，其關(guān)于給定盤/記錄器組合在給定寫入速度時的最小值對稱。
應該理解，在上面給出的示范性實施例中，使用了兩個和三個參數(shù)和跳動值的平均值，以便計算最佳讀/寫參數(shù)。但是，對更多數(shù)量或更少數(shù)量的參數(shù)值以及相關(guān)聯(lián)的跳動值求平均值也是可以的，上面的內(nèi)容僅僅是用于說明本發(fā)明。例如，如果需要Pwσ的精度更高，那么可以使用對2、3、4和5個參數(shù)值以及相關(guān)聯(lián)的跳動值求平均值來獲得圖12的曲線。
如上所述，能夠進行優(yōu)化的操作光程參數(shù)值的例子包括來自讀/寫頭的光束入射在使用中的光學系統(tǒng)存在的光盤上的入射角(其在盤的表面存在畸變的情況下可能是重要的)，以及在激光器和光學存儲系統(tǒng)中的光盤之間的光程長度。這將在下面更詳細地討論。
圖13a示出入射在沒有畸變的盤上的激光束。該激光束以90°入射在盤上，因此光束的橫截面是圓形的。在這種情況下，朝盤的軌道中心引導該光束，并且不正確地檢索已存儲的信息的危險最小。
但是，光盤可能發(fā)生畸變。例如，盤可能經(jīng)歷局部徑向傾斜(即沿徑向的翹曲)，如圖13b這所示。在這種情況下，光束沒有垂直于盤的表面入射在該盤上。這意味著碰撞該盤的光束的橫截面將被伸長，并且變?yōu)闄E圓形的，如該圖中所示。因此，損害了將光點引導到盤上的精度，并且可能在具有局部畸變的那部分盤上產(chǎn)生讀和寫誤差。
為了優(yōu)化局部盤拓撲的參數(shù)，通過致動器使激光器和/或光學拾取單元傾斜。然后，針對上述幾次旋轉(zhuǎn)在不同傾斜的情況下對盤進行寫入。然后測量針對不同傾斜值的跳動，并計算最佳值。
圖14是計算出的跳動值與各個盤傾斜值的關(guān)系的曲線圖。然后通過這些點繪制最佳擬合曲線，并確定最佳值。
一旦已經(jīng)確定了最佳值，那么就利用光學讀/寫裝置在該傾斜值處對盤進行記錄或播放。這能夠從圖13c中看出，該圖示出即使盤具有局部畸變也能夠引導激光束使其垂直地入射到盤上。
利用該方法能夠進行優(yōu)化的另一個參數(shù)是在讀/寫頭和具有切向傾斜的畸變(即其中盤的傾斜方向是在切向方向上)的盤之間的光程，和盤的球面像差。后者在諸如CD或DVD的光盤中通常不是問題，但是在利用藍色激光的藍光盤中可能本身是非常明顯的。
而且，當激光束變?yōu)樯⒔箷r可能在盤的讀和寫中出現(xiàn)一些問題。最初，利用致動器將激光束聚焦在盤上。但是，在使用中，例如由于溫度變化，在操作該系統(tǒng)的OPU或電子設(shè)備中發(fā)生變化。這些可能影響光點的聚焦，其影響是使光束聚焦在盤之上或之下的點上。
顯然，如果光束沒有正確地聚焦在盤上，那么該光束入射在盤上的面積將大于最佳尺寸。如上所述，這會影響盤的讀或?qū)憽?br> 通過利用本發(fā)明可以優(yōu)化光束焦點/光程長度的參數(shù)；當盤被寫入或讀取時，致動器移動激光從而改變該激光在盤上的焦點。然后計算與其相對應的跳動值。一旦計算出跳動值，就能夠通過將二次多項式曲線擬合成例如標繪這些值的曲線圖來確定最佳值。
在盤的寫入過程中或者在回放過程中，系統(tǒng)可以相應地調(diào)整激光的焦點，從而防止該激光束變?yōu)樯⒔沟摹?br> 如上面所討論的，可以確定光學參數(shù)值，為該光學參數(shù)值而優(yōu)化跳動值。該最佳值通常是最小跳動值。但是，在某些情況下，在隨后的盤的寫入/回放過程中不使用與最小跳動相對應的參數(shù)值可能是有利的。這可能是如果參數(shù)值對跳動的曲線圖的曲線不對稱的情況。例如，如果該曲線在最佳值的一側(cè)非常陡峭，但是在另一側(cè)是淺的(shallow)，那么可以選擇在淺的曲線上的參數(shù)值。這是因為具有這樣一個邊緣可能是很重要的，在該邊緣中參數(shù)值略微改變而對于有關(guān)該特殊參數(shù)值的跳動卻沒有顯著的影響。如果不是這種情況，那么參數(shù)值的微小改變對盤上存儲的4信息的質(zhì)量或者從盤中取回的信息的質(zhì)量可能存在有害的影響。因此，有時候使用對稱的值而不是最佳值。
權(quán)利要求
1.一種為對光學存儲介質(zhì)進行寫入的激光設(shè)備確定最佳參數(shù)值的方法，該方法包括利用光學寫入頭將預定數(shù)據(jù)模式寫到光學存儲介質(zhì)中；為預定數(shù)據(jù)模式測量跳動值；以及根據(jù)測得的跳動值選擇激光設(shè)備的最佳操作輸出參數(shù)值，該激光設(shè)備用于將數(shù)據(jù)寫入到光學存儲介質(zhì)中，該最佳參數(shù)值使光學存儲介質(zhì)的跳動值最優(yōu)化，其特征在于，在第一次掃描該介質(zhì)而將預定數(shù)據(jù)模式寫入到光學存儲介質(zhì)的過程中，根據(jù)第一預定輪廓改變光學寫入頭的操作光程參數(shù)值，在第二次掃描該介質(zhì)而將預定數(shù)據(jù)模式寫入到光學存儲介質(zhì)的過程中，根據(jù)第二預定輪廓來改變光學寫入頭的操作光程參數(shù)值，該第二預定輪廓不同于第一預定輪廓。
2.一種為用于從光學存儲介質(zhì)進行讀取的激光設(shè)備確定最佳參數(shù)值的方法，該方法包括利用光學讀出頭從光學存儲介質(zhì)中讀取預定數(shù)據(jù)模式；為預定數(shù)據(jù)模式測量跳動值；以及根據(jù)測得的跳動值選擇激光設(shè)備的最佳操作輸出參數(shù)值，該激光設(shè)備用于從光學存儲介質(zhì)中讀取數(shù)據(jù)，該最佳參數(shù)值使光學存儲介質(zhì)的跳動值最優(yōu)化，其特征在于，在第一次掃描該介質(zhì)而從光學存儲介質(zhì)讀取預定數(shù)據(jù)模式的過程中，根據(jù)第一預定輪廓改變光學讀出頭的操作光程參數(shù)值，在第二次掃描該介質(zhì)而從該光學存儲介質(zhì)讀取預定數(shù)據(jù)模式的過程中，根據(jù)第二預定輪廓來改變光學讀出頭的操作光程參數(shù)值，該第二預定輪廓不同于第一預定輪廓。
3.如權(quán)利要求1或2所述的方法，其中預定輪廓包括許多操作光程參數(shù)值階躍。
4.如權(quán)利要求3所述的方法，其中為第一和第二預定輪廓的每個操作光程參數(shù)值階躍測量至少一個跳動值。
5.如權(quán)利要求4所述的方法，其中選擇最佳操作光程參數(shù)值的步驟包括在第一和第二預定輪廓中的操作光程參數(shù)值的范圍內(nèi)確定將跳動值和操作光程參數(shù)值聯(lián)系起來的函數(shù)；根據(jù)所述函數(shù)確定使跳動值最小的最佳操作光程參數(shù)值。
6.如權(quán)利要求5的方法，其中確定將跳動值與操作光程參數(shù)值聯(lián)系起來的函數(shù)的步驟包括對于各對連續(xù)的操作光程參數(shù)值，獲得各自的平均操作光程參數(shù)值并根據(jù)與那些連續(xù)的操作光程參數(shù)值相對應的跳動值來獲得各自的平均跳動值；以及確定將平均跳動值與平均操作光程參數(shù)值聯(lián)系起來的函數(shù)。
7.如權(quán)利要求5所述的方法，其中確定將跳動值和操作光程參數(shù)值聯(lián)系起來的函數(shù)的步驟包括對于每三個一組的連續(xù)的操作光程參數(shù)值，獲得各自的平均操作光程參數(shù)值并根據(jù)與那些連續(xù)的操作光程參數(shù)值相對應的跳動值來獲得各自的平均跳動值；以及確定將平均跳動值與平均操作光程參數(shù)值聯(lián)系起來的函數(shù)。
8.如權(quán)利要求5所述的方法，其中確定將跳動值和操作光程參數(shù)值聯(lián)系起來的函數(shù)的步驟包括對于各對連續(xù)的操作光程參數(shù)值，獲得各自的平均操作光程參數(shù)值并根據(jù)與那些連續(xù)的操作光程參數(shù)值相對應的跳動值來獲得各自的平均跳動值；對于每三個一組的連續(xù)的操作光程參數(shù)值，獲得各自的平均操作光程參數(shù)值并根據(jù)與那些連續(xù)的操作光程參數(shù)值相對應的跳動值來獲得各自的平均跳動值；以及確定將平均跳動值與平均操作光程參數(shù)值聯(lián)系起來的函數(shù)。
9.如權(quán)利要求6、7或8中任一項所述的方法，其中該函數(shù)是形式為σ＝aP2+bP+C的二次函數(shù)，其中σ代表跳動值，P代表操作光程參數(shù)值，a、b和c是常數(shù)，通過將該函數(shù)的微分設(shè)定為零(dσ/dP＝0，P最佳＝-b/2a)來確定最佳操作光程參數(shù)值。
10.如前面任一項所述的方法，其中光學存儲介質(zhì)是其中定義了預刻槽地址(ADIP)幀的盤，并且其中為盤的每個ADIP幀改變操作光程參數(shù)值。
11.如前面任一項權(quán)利要求所述的方法，其中光學存儲介質(zhì)是其中定義了預刻槽絕對時間幀的盤，并且其中為盤的每個ATIP幀改變操作光程參數(shù)值。
12.如前面任一項權(quán)利要求所述的方法，其中光學存儲介質(zhì)包括下述中的一種CD-R，CD-RW，DVD-R，DVD-RW，DVD-R_DL，DVD-RW_DL，DVD+R，DVD+RW，DVD+R_DL，DVD+RW_DL，DVD-RAM或藍光盤。
13.如權(quán)利要求1至12中任一項所述的方法，其中預定數(shù)據(jù)模式形成在光學存儲設(shè)備的測試區(qū)域上。
14.如權(quán)利要求1至13中任一項所述的方法，其中操作光程參數(shù)值包括來自光學讀出頭/寫入頭的光程入射在使用中的光學存儲介質(zhì)上的入射角。
15.如權(quán)利要求1至13中任一項所述的方法，其中操作光程參數(shù)值包括在使用中的光學讀出頭/寫入頭和光學存儲介質(zhì)之間的光程長度。
16.一種為對光學存儲介質(zhì)進行寫入的激光設(shè)備確定最佳參數(shù)值的裝置，該裝置包括光學寫入頭，其可用于將預定數(shù)據(jù)模式寫到光學存儲介質(zhì)中；用于為預定數(shù)據(jù)模式測量跳動值的裝置；以及用于根據(jù)測得的跳動值選擇激光設(shè)備的最佳操作參數(shù)值的裝置，該激光設(shè)備用于將數(shù)據(jù)寫入到光學存儲介質(zhì)中，該最佳參數(shù)值使光學存儲介質(zhì)的跳動值最優(yōu)化，其特征在于，包括用于改變光學寫入頭相對于光學存儲介質(zhì)的操作光程參數(shù)值的調(diào)整裝置，在第一次掃描該介質(zhì)而將預定數(shù)據(jù)模式寫入到光學存儲介質(zhì)的過程中，根據(jù)第一預定輪廓改變光學寫入頭的操作光程參數(shù)值，在第二次掃描該介質(zhì)而將預定數(shù)據(jù)模式寫入到光學存儲介質(zhì)的過程中，根據(jù)第二預定輪廓來改變光學寫入頭的操作光程參數(shù)值，該第二預定輪廓不同于第一預定輪廓。
17.一種為用于從光學存儲介質(zhì)進行讀取的激光設(shè)備確定最佳參數(shù)值的裝置，該裝置包括光學讀出頭，其可用于從光學存儲介質(zhì)讀取預定數(shù)據(jù)模式；用于為預定數(shù)據(jù)模式測量跳動值的裝置；以及根據(jù)測得的跳動值選擇激光設(shè)備的最佳操作參數(shù)值的裝置，該激光設(shè)備用于從光學存儲介質(zhì)讀取數(shù)據(jù)，該最佳參數(shù)值使光學存儲介質(zhì)的跳動值最優(yōu)化，其特征在于，包括用于改變光學讀出頭相對于光學存儲介質(zhì)的操作光程參數(shù)值的調(diào)整裝置，在第一次掃描該介質(zhì)而從光學存儲介質(zhì)讀取預定數(shù)據(jù)模式的過程中，根據(jù)第一預定輪廓改變光學讀出頭的操作光程參數(shù)值，在第二次掃描該介質(zhì)而從該光學存儲介質(zhì)讀取預定數(shù)據(jù)模式的過程中，根據(jù)第二預定輪廓來改變光學讀出頭的操作光程參數(shù)值，該第二預定輪廓不同于第一預定輪廓。
18.如權(quán)利要求16或17所述的裝置，其中所述用于選擇最佳操作光程參數(shù)值的裝置包括用于在第一和第二預定輪廓中的操作光程參數(shù)值的范圍內(nèi)確定將跳動值和操作光程參數(shù)值聯(lián)系起來的函數(shù)的裝置；用于根據(jù)所述函數(shù)確定使跳動值最小的最佳操作光程參數(shù)值的裝置。
19.如權(quán)利要求18所述的裝置，其中所述用于確定將跳動值和操作光程參數(shù)值聯(lián)系起來的函數(shù)的裝置包括用于為各對連續(xù)的操作光程參數(shù)值獲得各自的平均操作光程參數(shù)值并根據(jù)與那些連續(xù)的操作光程參數(shù)值相對應的跳動值來獲得各自的平均跳動值的裝置；以及用于確定將平均跳動值與平均操作光程參數(shù)值聯(lián)系起來的函數(shù)的裝置。
20.如權(quán)利要求18所述的裝置，其中所述用于確定將跳動值和操作光程參數(shù)值聯(lián)系起來的裝置包括用于為每三個一組的連續(xù)的操作光程參數(shù)值獲得各自的平均操作光程參數(shù)值并根據(jù)與那些連續(xù)的操作光程參數(shù)值相對應的跳動值來獲得各自的平均跳動值的裝置；以及用于確定將平均跳動值與平均操作光程參數(shù)值聯(lián)系起來的函數(shù)的裝置。
21.如權(quán)利要求18所述的裝置，其中所述用于確定將跳動值和操作光程參數(shù)值聯(lián)系起來的函數(shù)的裝置包括用于為各對連續(xù)的操作光程參數(shù)值獲得各自的平均操作光程參數(shù)值并根據(jù)與那些連續(xù)的操作光程參數(shù)值相對應的跳動值來獲得各自的平均跳動值的裝置；用于為每三個一組的連續(xù)的操作光程參數(shù)值獲得各自的平均操作光程參數(shù)值并根據(jù)與那些連續(xù)的操作光程參數(shù)值相對應的跳動值來獲得各自的平均跳動值的裝置；以及用于確定將平均跳動值與平均操作光程參數(shù)值聯(lián)系起來的函數(shù)的裝置。
22.如權(quán)利要求16至21中任一項權(quán)利要求所述的裝置，其中光學存儲介質(zhì)是其中定義了預刻槽地址(ADIP)幀的盤，并且其中所述調(diào)整裝置可用于為盤的每個ADIP幀改變操作光程參數(shù)值。
23.如權(quán)利要求16至22中任一項權(quán)利要求所述的裝置，其中光學存儲介質(zhì)是其中定義了預刻槽絕對時間幀的盤，并且其中所述調(diào)整裝置可用于為盤的每個ATIP幀改變操作光程參數(shù)值。
24.如權(quán)利要求16至23中任一項權(quán)利要求所述的裝置，其中光學存儲介質(zhì)包括下述中的一種CD-R，CD-RW，DVD-R，DVD-RW，DVD-R_DL，DVD-RW_DL，DVD+R，DVD+RW，DVD+R_DL，DVD+RW_DL，DVD-RAM或藍光盤。
25.如權(quán)利要求16至24中任一項權(quán)利要求所述的裝置，其中預定數(shù)據(jù)模式形成在光學存儲設(shè)備的測試區(qū)域上。
26.如權(quán)利要求16至25中任一項權(quán)利要求所述的裝置，其中操作光程參數(shù)值包括來自光學讀出頭/寫入頭的光程入射在使用中的光學存儲介質(zhì)上的入射角。
27.如權(quán)利要求16至25中任一項權(quán)利要求所述的裝置，其中操作光程參數(shù)值包括在使用中的光學讀出頭/寫入頭和光學存儲介質(zhì)之間的光程長度。
28.一種由權(quán)利要求1至11中任一項所述的方法制成的光學存儲介質(zhì)。
全文摘要
公開了一種最新的最佳參數(shù)值控制方法，按照預定的順序在光學存儲介質(zhì)的ADIP/ATIP幀的位置調(diào)整激光參數(shù)值。在每個ADIP/ATIP幀的位置測量跳動，以便獲得針對該特殊幀的平均跳動值以及因此獲得參數(shù)值。
文檔編號G11B7/125GK101088122SQ200580044590
公開日2007年12月12日 申請日期2005年12月16日 優(yōu)先權(quán)日2004年12月22日
發(fā)明者T·P·范恩德特 申請人:皇家飛利浦電子股份有限公司