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一種用于選擇光記錄裝置最優(yōu)寫入?yún)?shù)的方法

文檔序號:6759126閱讀:276來源:國知局
專利名稱:一種用于選擇光記錄裝置最優(yōu)寫入?yún)?shù)的方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種用于設(shè)置寫入?yún)?shù)最優(yōu)值的方法,寫入?yún)?shù)最優(yōu)值用在利用輻射束將信息寫入光記錄介質(zhì)的光記錄裝置中。本發(fā)明也涉及一種用于在光記錄介質(zhì)上記錄信息的光記錄裝置,該裝置包括輻射光源,用于發(fā)射具有可控寫入功率電平值的、用于在記錄介質(zhì)上記錄信息的輻射束。另外,本發(fā)明涉及一種利用輻射束照射記錄介質(zhì)來記錄信息的光記錄介質(zhì),該記錄介質(zhì)包括一個(gè)包含表示記錄過程的控制信息的區(qū)域,由此可將信息記錄在記錄介質(zhì)上。
背景技術(shù)
在光記錄裝置中,利用激光束的恰當(dāng)功率將信息記錄在光記錄介質(zhì)上是非常重要的。雖然介質(zhì)制造商可以以無條件的方式給出該恰當(dāng)功率(比如,預(yù)先記錄在光盤上),但是每種記錄介質(zhì)和記錄裝置組合的環(huán)境及裝置到裝置(apparatus-to-apparatus)的偏差使得必須采用可靠的光記錄來尋找與正被討論的所述記錄介質(zhì)相關(guān)的恰當(dāng)功率。在本領(lǐng)域中存在一些已知的用于該目的的最優(yōu)功率控制(OPC)常規(guī)方法(routine),比如(用于CR-RW的)gamma-OPC、(用于CD-R和DVD+/-R的)beta-OPC和(用于BD-RE/R)的kappa-OPC。
在WO 02/41306中,描述了通過在光記錄介質(zhì)上寫入一系列測試圖案,從這些圖案中形成讀取信號然后處理該讀取信號,從而設(shè)置光記錄裝置中輻射束的最優(yōu)寫入功率的方法。這種處理涉及擬合一個(gè)函數(shù)(優(yōu)選為直線)到從讀取信號獲得的參數(shù),而無需必須執(zhí)行微分步驟??蓮淖x取信號獲得的這些參數(shù)之一就是調(diào)制(M)。曲線擬合過程需要一個(gè)或多個(gè)功率值,從而定義要進(jìn)行擬合的區(qū)間。如果由于某些原因,曲線擬合導(dǎo)致用于寫入?yún)?shù)的第一值不符合最優(yōu)寫入?yún)?shù)的要求,例如超出預(yù)設(shè)范圍,WO02/41306則公開了一些可采用的措施。這些方法之一是迭代過程,其中用于寫入?yún)?shù)的所述第一值被用來定義要進(jìn)行擬合的第二區(qū)間。接著可以將作為結(jié)果的第二寫入?yún)?shù)當(dāng)成最優(yōu)寫入?yún)?shù)來進(jìn)行評估(比如,與預(yù)設(shè)范圍進(jìn)行比較)。如果第二寫入?yún)?shù)作為最優(yōu)寫入?yún)?shù)不符合要求,則可繼續(xù)迭代,直到滿足某個(gè)預(yù)設(shè)條件。
然而,對于某些光記錄裝置和光記錄介質(zhì)組合而言,存在一個(gè)固有問題,即,在獲得最優(yōu)寫入?yún)?shù)之前,可能需要相當(dāng)多的迭代步驟來進(jìn)行這種迭代。因此,記錄過程可能被延遲,導(dǎo)致某些用戶感到不舒服。另外,在某些不合宜的光記錄裝置和光記錄介質(zhì)組合中,迭代可能并不向最優(yōu)寫入?yún)?shù)收斂。對于這樣的一些情況,光記錄裝置將不能在記錄介質(zhì)上進(jìn)行記錄,從而導(dǎo)致發(fā)生故障。
通過參照將WO 02/41306的公開內(nèi)容引入本申請,并將其考慮為本申請的一部分。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種通過獲得在光學(xué)介質(zhì)上進(jìn)行光記錄的寫入?yún)?shù)最優(yōu)值來解決現(xiàn)有技術(shù)中上述問題的方法??梢詮膶懭?yún)?shù)的所述最優(yōu)值中導(dǎo)出寫入功率電平(P)的最優(yōu)值(Popt)。本發(fā)明特別提供一種獲取在光學(xué)介質(zhì)上進(jìn)行光記錄的寫入?yún)?shù)最優(yōu)值的方法,由于該方法僅執(zhí)行相對有限的計(jì)算,因此該方法很快。
該目的及一些其它目的在通過提供一種設(shè)置用于光記錄裝置的寫入?yún)?shù)最優(yōu)值的方法的本發(fā)明的第一方面中實(shí)現(xiàn),其中光記錄裝置利用輻射束在光記錄介質(zhì)上寫入信息,該方法包括步驟1)在記錄介質(zhì)上寫入一系列測試圖案,每個(gè)圖案都用不同的輻射束寫入功率電平(P)值寫入,2)讀取這些圖案,以便形成對應(yīng)的讀取信號部分,以及3)從每個(gè)讀取信號部分中導(dǎo)出讀取參數(shù)值,4)將多個(gè)函數(shù)曲線擬合到相關(guān)聯(lián)的讀取參數(shù)值和寫入功率電平(P)值,其中每個(gè)函數(shù)都定義讀取參數(shù)和寫入功率電平(P)之間的關(guān)系,每個(gè)曲線擬合函數(shù)都具有對應(yīng)的寫入功率電平初始值(Pini),5)從每個(gè)曲線擬合函數(shù)中導(dǎo)出對應(yīng)的多個(gè)寫入功率電平特征值(PChar),每個(gè)寫入功率電平特征值(PChar)因此具有相關(guān)聯(lián)的寫入功率電平初始值(Pini),以及6)比較所述多個(gè)寫入功率電平初始值(Pini)和每個(gè)與之相關(guān)的寫入功率電平特征值(PChar),從而設(shè)置寫入?yún)?shù)最優(yōu)值。
本發(fā)明用于在相當(dāng)短的時(shí)間內(nèi)獲得至少一個(gè)寫入?yún)?shù)最優(yōu)值,這樣相當(dāng)有好處,但好處并非僅限于此。最優(yōu)值表示利用本發(fā)明方法所獲得的最優(yōu)值,然而找到的寫入?yún)?shù)最優(yōu)值可能并非是可獲得的寫入?yún)?shù)最優(yōu)值,例如,可以獲得局部最優(yōu)值而不是獲得全局最優(yōu)值。有益地,避免了非收斂迭代的問題。
讀取參數(shù)可以是從記錄在記錄介質(zhì)上的信息導(dǎo)出的讀取信號振幅的調(diào)制(M)。用下來表達(dá)式計(jì)算調(diào)制(M)M=((IH-IL)/IH)·100,其中IH是讀取信號中的最高振幅,而IL是讀取信號中的最低振幅,所述讀取信號從信息載體上所記錄的讀取信息中導(dǎo)出,該信息載體包括較長的標(biāo)記,諸如,當(dāng)采用“8-14增強(qiáng)調(diào)制(EFM+)”編碼時(shí),標(biāo)記長度為信道信號位(channel bit)長度的14倍。
多個(gè)曲線擬合函數(shù)中至少有一個(gè)函數(shù)具有這種形式P·M=α·(P-β),其中α和β具有由曲線擬合產(chǎn)生的值。用于至少一個(gè)函數(shù)的寫入?yún)?shù)特征值(PChar)可以設(shè)置成基本等于β乘以第一倍增常數(shù)(κ)的值。一般而言,可以使用定義了讀取參數(shù)和寫入功率電平(P)之間關(guān)系的任意形狀的任何函數(shù)。然而,應(yīng)當(dāng)注意,直線可以被非常容易和精確地曲線擬合。因此,將讀取參數(shù)值和寫入功率電平(P)值以曲線擬合成直線的方式排列是非常有好處的。另外,從直線擬合過程中清楚地確定β值,這相對于可能產(chǎn)生幾個(gè)解的可選的擬合過程來說是非常有利的。
第一倍增常數(shù)(κ)可從包含表示記錄過程的控制信息的記錄介質(zhì)上的一個(gè)區(qū)域中讀出,憑此記錄過程可在所述記錄介質(zhì)上記錄信息。因此,介質(zhì)制造商可以在光學(xué)介質(zhì)上提供該信息??蛇x地,在校正過程中,可由用戶確定倍增常數(shù)(κ)。
可以在預(yù)定的寫入功率電平擬合范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)至少一個(gè)定義直線的函數(shù)的曲線擬合,其中利用與每個(gè)曲線擬合函數(shù)相關(guān)聯(lián)的寫入功率電平初始值(Pini)和范圍因子(R)可以確定預(yù)定擬合范圍的位置,其中R是百分?jǐn)?shù)。擬合范圍的上限可由Pini乘以(1+R)給出,而擬合范圍的下限可由Pini乘以(1-R)給出。范圍因子(R)的值可以是10%、20%或30%。寫入功率電平初始值(Pini)的數(shù)量可以是2到40、5到30或10到20。
通過分離常數(shù)(S)乘以一個(gè)整數(shù),多個(gè)寫入功率電平初始值中的每個(gè)寫入功率電平初始值可在數(shù)值上基本上互不相同。這是有好處的,因?yàn)殛P(guān)于寫入功率電平初始值(Pini)的信息可以僅僅給出兩個(gè)數(shù)。
表示多個(gè)寫入功率電平初始值的信息可以從包含表示記錄過程的控制信息的記錄介質(zhì)上的一個(gè)區(qū)域中讀出,憑此記錄過程可以在所述記錄介質(zhì)上記錄信息。因此,介質(zhì)制造商可在光學(xué)介質(zhì)上提供這種信息,從而便于快速、精確地確定用于為所述光學(xué)介質(zhì)記錄信息的寫入功率電平最優(yōu)值(Popt)。
通過估計(jì)每個(gè)寫入功率電平初始值(Pini)和每個(gè)與之相關(guān)的寫入功率電平特征值(PChar)之間的數(shù)值差異,可以在步驟6中進(jìn)行寫入?yún)?shù)最優(yōu)值的設(shè)置,寫入?yún)?shù)最優(yōu)值是具有最小數(shù)值差異的寫入?yún)?shù)特征值(PChar)。這是有利的,因?yàn)檫@種方法很容易實(shí)施并很快得到結(jié)果??蛇x地,通過找到一條線與一條曲線之間的重合點(diǎn),可以在步驟6中進(jìn)行寫入?yún)?shù)最優(yōu)值的設(shè)置,其中在所述那條線上寫入功率電平初始值(Pini)等于寫入功率電平特征值(PChar),所述曲線被擬合到每個(gè)寫入功率電平初始值(Pini)及與之相關(guān)聯(lián)的寫入功率電平特征值(PChar)形成的多個(gè)點(diǎn)(Pini,PChar)上。有利地,該擬合曲線是一條直線。
本發(fā)明的方法可以提供一種設(shè)置輻射束的寫入功率電平(P)最優(yōu)值(Popt)的方法,該方法可用在利用具有寫入功率電平(P)的輻射束在光記錄介質(zhì)上寫入信息的光記錄裝置中,利用如上所述的方法來設(shè)置寫入?yún)?shù)最優(yōu)值,其中寫入功率電平(P)最優(yōu)值(Popt)設(shè)置成等于寫入?yún)?shù)最優(yōu)值乘以第二倍增常數(shù)(ρ)。注意,該寫入功率電平(P)最優(yōu)值(Popt)的定義不同于WO 02/41306的公開內(nèi)容的定義,即對倍增常數(shù)的定義不同。所述寫入功率電平最優(yōu)值(Popt)可以定義為用于從在記錄介質(zhì)上記錄的信息獲得讀取信號最小抖動(dòng)的寫入功率電平。另外,寫入功率電平最優(yōu)值(Popt)可以考慮到讀取信號的穩(wěn)定性,防止在寫入功率電平最優(yōu)值(Popt)附近發(fā)生變化。所述寫入功率電平最優(yōu)值(Popt)可以根據(jù)記錄介質(zhì)的目的而不同。因此,用于一次記錄的寫入功率電平最優(yōu)值(Popt)可以不同于用于在記錄介質(zhì)同一區(qū)域上進(jìn)行多次記錄的寫入功率電平最優(yōu)值(Popt)。
可從包含表示記錄過程的控制信息的記錄介質(zhì)上的一個(gè)區(qū)域讀出第二倍增常數(shù)(ρ),憑此記錄過程可將信息記錄在所述記錄介質(zhì)上。因此,光學(xué)介質(zhì)制造商可以在標(biāo)準(zhǔn)化條件下確定第二倍增常數(shù)(ρ)并在光學(xué)介質(zhì)上提供該信息。
在本發(fā)明的第二方面中,本發(fā)明提供一種用于實(shí)施根據(jù)本發(fā)明第一方面的方法的裝置,該裝置包括輻射光源,用于發(fā)射具有可控寫入功率電平(P)值的、用于在記錄介質(zhì)上記錄信息的輻射束,控制單元,用于記錄一系列測試圖案,每個(gè)圖案用不同的寫入功率電平值記錄,讀取單元,用于讀出所述圖案并形成對應(yīng)的讀取信號部分,第一裝置,用于從每個(gè)讀取信號部分導(dǎo)出讀取參數(shù)值,第二裝置,用于將定義讀取參數(shù)和寫入功率電平(P)之間關(guān)系的函數(shù)曲線擬合到讀取參數(shù)值和寫入功率電平(P)值,每個(gè)曲線擬合函數(shù)都具有對應(yīng)的寫入功率電平初始值(Pini),以及第三裝置,用于從每個(gè)曲線擬合函數(shù)中導(dǎo)出對應(yīng)的多個(gè)寫入功率電平特征值(PChar),每個(gè)寫入功率電平特征值(PChar)因此具有相關(guān)聯(lián)的寫入功率電平初始值(Pini),以及第四裝置,用于通過將多個(gè)寫入功率電平初始值(Pini)和每個(gè)與之相關(guān)聯(lián)的寫入功率電平特征值(PChar)進(jìn)行比較,從而設(shè)置寫入?yún)?shù)最優(yōu)值。盡管本發(fā)明的找到寫入?yún)?shù)最優(yōu)值的方式相對于已知的找到寫入?yún)?shù)最優(yōu)值的方式有若干優(yōu)點(diǎn),但是特別有利之處在于本發(fā)明可以通過本技術(shù)領(lǐng)域中已公知的裝置來實(shí)施。
在本發(fā)明的第三方面中,本發(fā)明提供一種用于利用輻射束照射記錄介質(zhì)來記錄信息的光記錄介質(zhì),該記錄介質(zhì)包括一個(gè)包含表示記錄過程的控制信息的區(qū)域,憑此記錄過程可將信息記錄在所述記錄介質(zhì)上,該控制信息包括用于記錄過程的記錄參數(shù)值,其中該控制信息包括表示用在根據(jù)本發(fā)明第一方面的方法中或者用在根據(jù)本發(fā)明第二方面的裝置中的多個(gè)寫入功率電平初始值(Pini)的信息??稍谟涗浗橘|(zhì)本身上提供控制信息是特別有利的,因?yàn)檫@使介質(zhì)制造商能以一種有效率的方式將控制信息分配給用戶。
此外,利用輻射束照射記錄介質(zhì)來記錄信息的光記錄介質(zhì)可以包括一個(gè)包含表示記錄過程的控制信息的區(qū)域,憑此記錄過程可以將信息記錄在所述記錄介質(zhì)上,該控制信息包括用于記錄過程的記錄參數(shù)值,其中該控制信息包括用在根據(jù)本發(fā)明第一方面的方法中的第一倍增常數(shù)(ρ)和第二倍增常數(shù)(κ)中至少之一。


本發(fā)明的這些方面及其他方面將參照下文所述的實(shí)施例得以顯現(xiàn)和說明。
參考附圖,現(xiàn)在對本發(fā)明進(jìn)行說明,其中圖1表示根據(jù)本發(fā)明的光記錄裝置的實(shí)施例示意圖,圖2表示來自兩個(gè)測試圖案的兩個(gè)讀取信號部分,圖3是曲線圖,顯示所測得的調(diào)制乘以寫入功率的乘積作為寫入功率的函數(shù)以及多個(gè)曲線擬合函數(shù),圖4是根據(jù)本發(fā)明的方法的流程圖,以及圖5是曲線圖,用在根據(jù)本發(fā)明設(shè)置寫入?yún)?shù)最優(yōu)值的實(shí)施例中。
具體實(shí)施例方式
圖1表示根據(jù)本發(fā)明的光記錄裝置和光記錄介質(zhì)1。記錄介質(zhì)1具有透明基底2和設(shè)于透明基底2之上的記錄層3。記錄層3包括適合于利用輻射束5記錄信息的材料。所述記錄材料可以是例如磁光材料、相變材料、染色材料、類似銅/硅的金屬合金材料或任何其他合適的材料。信息可以以光學(xué)可檢測區(qū)域(也稱為標(biāo)記)的形式記錄在記錄層3上。該裝置包括用于發(fā)射輻射束5的輻射光源4(例如,半導(dǎo)體激光器)。輻射束經(jīng)由分束器6、物鏡7和基底2,然后被定向到記錄層3??蛇x地,所述記錄介質(zhì)為空氣入射式的,那么輻射束不經(jīng)過基底直接入射到記錄層3上。從介質(zhì)1反射的輻射束被物鏡7收集,穿過分束器6之后,落到檢測系統(tǒng)8上,該系統(tǒng)8將入射輻射轉(zhuǎn)成電檢測器信號。所述檢測器信號被用于電路9。所述電路9從所述檢測器信號導(dǎo)出若干信號,諸如表示從記錄介質(zhì)1讀出的信息的讀取信號SR。輻射光源4、分束器6、物鏡7、檢測系統(tǒng)8和電路9共同形成讀取單元90。
來自電路9的讀取信號被第一處理器10處理,以便從讀取信號中導(dǎo)出表示讀取參數(shù)的信號。所導(dǎo)出的信號被饋送到第二處理器101,接著送到第三處理器102,這些處理器處理一系列讀取參數(shù)值,然后從中導(dǎo)出用于控制激光器功率電平所必需的寫入功率控制信號值。
寫入功率控制信號被施加于控制單元12。表示將記錄在記錄介質(zhì)1上的信息的信號13也被饋送到控制單元12??刂茊卧?2的輸出連接到輻射光源4??捎脝蝹€(gè)輻射脈沖記錄記錄層3上的標(biāo)記,其功率由處理器102所確定的最優(yōu)寫入功率電平(Popt)確定。可選地,標(biāo)記還可以通過一系列等長或不等長的輻射脈沖以及一個(gè)或多個(gè)由寫入功率信號確定的功率電平來記錄。
處理器可理解為適合于進(jìn)行計(jì)算的任何裝置,比如,微處理器、數(shù)字信號處理器、硬連線的模擬電路或場可編程電路。此外,第一處理器10、第二處理器101和第三處理器102可以是分離的設(shè)備,或者可選地,可以是合并成執(zhí)行全部三種處理的單個(gè)設(shè)備。
在將信息記錄到介質(zhì)1之前,該裝置通過執(zhí)行根據(jù)本發(fā)明的方法,將其寫入功率(P)設(shè)置為最優(yōu)值(Popt)。這種方法示意性地描繪在圖4所示的流程圖中。
在第一步驟41中,所述裝置在介質(zhì)1上寫入一系列測試圖案。應(yīng)當(dāng)對這些測試圖案進(jìn)行選擇,以便給出所期望的讀取信號。如果從讀取信號要導(dǎo)出的讀取參數(shù)是關(guān)于測試圖案的讀取信號部分的調(diào)制(M),那么測試圖案將包括足夠長的能夠?qū)崿F(xiàn)讀取信號部分最大調(diào)制的標(biāo)記。當(dāng)根據(jù)所謂的“8-14調(diào)制(EFM)”對所述信息編碼時(shí),測試圖案優(yōu)選包括該調(diào)制方案的長I11標(biāo)記。當(dāng)根據(jù)所謂的“8到14增強(qiáng)調(diào)制”(Eight-to-Fourteen Plus Modulation(EFM+))對所述信息編碼時(shí),測試圖案應(yīng)包括這種調(diào)制方案的長I14標(biāo)記。當(dāng)根據(jù)所謂的“17PP調(diào)制”對所述信息編碼時(shí),測試圖案優(yōu)選包括這種調(diào)制方案的長I8標(biāo)記。每個(gè)測試圖案用不同的寫入功率電平(P)記錄?;谧鳛橛涗浗橘|(zhì)上控制信息而記錄下來的指示功率電平(Pini)可以選擇功率范圍。在控制單元12的控制下,隨后的測試圖案可以用逐步增加的寫入功率電平(P)記錄。這些測試圖案可以寫入記錄介質(zhì)上的任意位置。可選地,它們可以寫入記錄介質(zhì)上專門提供的測試區(qū)域。
在第二步驟42中,記錄的測試圖案被讀取單元90讀出,以便形成讀取信號SR。圖2表示從在兩種不同寫入功率電平寫入的兩個(gè)測試圖案中獲得的讀取信號部分18和19。所示的圖案包括如由信號部分15、16和17分別所指的一個(gè)短標(biāo)記、一個(gè)長標(biāo)記和一個(gè)短標(biāo)記,它們在讀取信號部分18和讀取信號部分19中都存在。實(shí)際的圖案可以包括數(shù)百個(gè)不等長或等長的標(biāo)記。
在第三步驟43中,處理器10從讀取信號SR中導(dǎo)出用于每個(gè)讀取信號部分的讀取參數(shù)。一個(gè)可能的讀取參數(shù)是讀取信號部分的最小振幅(對于在圖2由“a”所指示的讀取信號部分18)與同一讀取信號部分的最大振幅(由“b”所指示)的比率。優(yōu)選的讀取參數(shù)是調(diào)制(M),是由“c”所指示的讀取信號最大峰-峰值與讀取信號部分最大振幅“b”的比率。
在第四步驟44中,處理器101將多個(gè)函數(shù)擬合到相關(guān)聯(lián)的讀取參數(shù)值和寫入功率電平(P)值。每個(gè)函數(shù)定義了讀取參數(shù)和寫入功率電平(P)之間的關(guān)系。作為每個(gè)曲線擬合函數(shù)的輸入,提供對應(yīng)的寫入功率電平初始值(Pini)。所述寫入功率可以取自記錄測試圖案期間的寫入功率控制信號值,或者可選地,所述寫入功率取自輻射功率測量值在圖3中,顯示了曲線擬合過程的優(yōu)選實(shí)施例的曲線圖。豎坐標(biāo)軸表示寫入功率(P)乘以調(diào)制(M),而橫坐標(biāo)軸表示寫入功率(P)。每個(gè)點(diǎn)51分別表示所測得的調(diào)制(M)乘以寫入功率(P)的值,以及寫入功率(P)的值。
曲線擬合函數(shù)可具有本領(lǐng)域技術(shù)人員能夠容易獲得的多種不同數(shù)學(xué)形式。因此,一條曲線(例如多項(xiàng)式的)可以被擬合到正被討論的寫入功率電平初始值(Pini)附近的功率電平。
在圖3的優(yōu)選實(shí)施例中,為了說明性的目的而只顯示了兩個(gè)寫入功率電平初始值Pini,1和Pini,2。通常施加10-20個(gè)不同的寫入功率電平初始值(Pini),但如有必要,則可以施加多達(dá)數(shù)百個(gè)不同的寫入功率電平初始值(Pini)。在寫入功率電平初始值Pini,1和Pini,2附近的預(yù)定義的區(qū)間(由箭頭52和53示意性地指出的)中,圖3中曲線的測量點(diǎn)51被擬合成具有如下形式的函數(shù)P·M=α·(P-β),其中α和β是擬合常數(shù)。所述區(qū)間52和53可定義為寫入功率電平初始值(Pini)的范圍分?jǐn)?shù)(range fraction)(R),比如,寫入功率電平初始值(Pini)的10%、20%、30%或40%,但也可以是預(yù)定義的常數(shù),比如0.1或0.2mW。這些擬合函數(shù)是圖3曲線圖中的直線54和55。β值對應(yīng)于與橫坐標(biāo)軸的交點(diǎn)56和57。所述直線54和55通過最小二乘法或其他適當(dāng)?shù)臄?shù)學(xué)方法得到。
在第五步驟45中,處理器102執(zhí)行預(yù)定義過程,以便從第四步驟的每個(gè)曲線擬合函數(shù)中導(dǎo)出多個(gè)寫入功率電平特征值(PChar)。因此,每個(gè)寫入功率電平特征值(PChar)由此具有相關(guān)聯(lián)的寫入功率電平初始值(Pini)。在優(yōu)選實(shí)施例中,寫入功率電平特征值(PChar)由下式給出Pchar=κ-β,其中κ是第一倍增常數(shù)。κ從光記錄介質(zhì)讀出。由于β的值取決于寫入功率電平初始值(Pini),因此寫入功率電平特征值(PChar)是正被討論的寫入功率電平初始值(Pini)的函數(shù),即,Pchar,i=Pchar,i(Pini,i),其中i是整數(shù)。注意,沒有執(zhí)行迭代步驟來找到寫入功率電平特征值(PChar)。
在第六步驟46中,處理器102執(zhí)行用于設(shè)置寫入?yún)?shù)最優(yōu)值的預(yù)定義過程。這是通過將多個(gè)寫入功率電平初始值(Pini)與每個(gè)與之相關(guān)聯(lián)的寫入功率電平特征值(PChar)進(jìn)行比較而實(shí)現(xiàn)的。在一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例中,通過估計(jì)每個(gè)寫入功率電平初始值(Pini)與每個(gè)與之關(guān)聯(lián)的寫入功率電平特征值(PChar)之間的數(shù)值差異來進(jìn)行這種比較。然后取具有最小數(shù)值差異的寫入?yún)?shù)特征值(PChar)作為寫入?yún)?shù)最優(yōu)值。然而,本領(lǐng)域技術(shù)人員可以輕易地獲得多種不同的比較方案,其中包括統(tǒng)計(jì)方法,所述統(tǒng)計(jì)方法有益于通過測定值的內(nèi)部分散(inherentscattering)減少所述比較的敏感性。
隨后,可以找到圖1所示輻射束5的寫入功率電平(P)最優(yōu)值(Popt)。寫入功率電平(P)最優(yōu)值(Popt)被設(shè)置成等于寫入?yún)?shù)最優(yōu)值乘以第二倍增常數(shù)(ρ);Popt=ρ·Pchar。
這樣,獲得了用于將信息寫入光記錄介質(zhì)的寫入功率電平(P)最優(yōu)值(Popt)。
在圖5中,顯示了用于根據(jù)本發(fā)明的方法的第六步中可應(yīng)用的比較過程的一個(gè)特別有意思的實(shí)施例。豎坐標(biāo)軸表示寫入功率電平特征值(PChar),而橫坐標(biāo)軸表示寫入功率電平初始值(Pini)。直線60是寫入功率電平特征值(PChar)等于寫入功率電平初始值(Pini)(即Pchar=Pini)的直線。(Pini,PChar)的相關(guān)聯(lián)的測量值被繪制為點(diǎn)61。為了圖示說明的目的,僅僅顯示了5個(gè)點(diǎn)61。然后,曲線62被擬合到點(diǎn)61,有利地,曲線62是線性曲線,但也可以采用其他適合的數(shù)學(xué)函數(shù)。在這種比較方案中,曲線62和直線60之間的交點(diǎn)63表示寫入?yún)?shù)最優(yōu)值。然而,在某些情況下,實(shí)驗(yàn)已經(jīng)表明所擬合的曲線62不總與直線60相交,比如所擬合的曲線62可能具有與直線60相同的斜率或者擬合曲線62可能完全位于直線60之上或之下。在這種情況下,可采用本領(lǐng)域技術(shù)人員公知的更高級的分析方法(諸如查找擬合曲線62的第一或第二階導(dǎo)數(shù)),以便找到寫入?yún)?shù)最優(yōu)值。
可以想到,即使通過迭代找不到寫入功率電平的值,也可以改變倍增常數(shù)(即,ρ和κ)值來找到寫入?yún)?shù)最優(yōu)值,從而盡可能地估計(jì)所找到的寫入?yún)?shù)最優(yōu)值的穩(wěn)定性。類似地,可以以迭代方式來改變范圍分?jǐn)?shù)(R),從而估定所找到的寫入?yún)?shù)最優(yōu)值及其穩(wěn)定性。
雖然結(jié)合優(yōu)選實(shí)施例對本發(fā)明進(jìn)行了說明,但本發(fā)明不限制于本文中所提出的具體形式。相反,本發(fā)明的范圍僅由所附權(quán)利要求限定。在權(quán)利要求中,術(shù)語“包括”和“包含”不排除存在其他的元件或步驟。另外,即使單獨(dú)的特征可以包括在不同的權(quán)利要求中,但是這些特征可能有利地結(jié)合起來,并且不同權(quán)利要求所包含的內(nèi)容并不意味特征組合不可行和/或沒有益處。另外,單個(gè)引用不排除多個(gè)引用。因此,“一”、“第一”、“第二”等不排除是多個(gè)的情況。此外,權(quán)利要求中的附圖標(biāo)記不應(yīng)當(dāng)理解為是對本發(fā)明保護(hù)范圍的限制。
權(quán)利要求
1.一種用于設(shè)置寫入?yún)?shù)最優(yōu)值的方法,寫入?yún)?shù)最優(yōu)值用在利用輻射束(5)將信息寫入光記錄介質(zhì)(1)的光記錄裝置中,所述方法包括步驟1)在記錄介質(zhì)上寫入一系列測試圖案,每個(gè)圖案用輻射束的寫入功率電平(P)的不同值寫入,2)讀出所述圖案,以便形成對應(yīng)的讀取信號部分(18、19),以及3)從每個(gè)讀取信號部分導(dǎo)出讀取參數(shù)的值,4)將多個(gè)函數(shù)曲線擬合到相關(guān)聯(lián)的所述讀取參數(shù)值和所述寫入功率電平(P)值,每個(gè)函數(shù)定義所述讀取參數(shù)和所述寫入功率電平(P)之間的關(guān)系,每個(gè)曲線擬合函數(shù)具有對應(yīng)的寫入功率電平初始值(Pini),5)從每個(gè)所述曲線擬合函數(shù)中導(dǎo)出對應(yīng)的多個(gè)寫入功率電平特征值(PChar),每個(gè)寫入功率電平特征值(PChar)因此具有相關(guān)聯(lián)的寫入功率電平初始值(Pini),以及6)將所述多個(gè)寫入功率電平初始值(Pini)和與其相關(guān)聯(lián)的寫入功率電平特征值(PChar)的每個(gè)值比較,從而設(shè)置寫入?yún)?shù)最優(yōu)值。
2.如權(quán)利要求1的方法,其中所述讀取參數(shù)是從記錄在所述記錄介質(zhì)(1)上的信息得出的讀取信號的振幅的調(diào)制(M)。
3.如權(quán)利要求2的方法,其中所述多個(gè)曲線擬合函數(shù)中的至少一個(gè)函數(shù)具有P·M=α·(P-β)的形式,其中α和β具有由曲線擬合產(chǎn)生的值,并且其中用于所述至少一個(gè)函數(shù)的所述寫入?yún)?shù)特征值(PChar)設(shè)置成基本上等于β乘以第一倍增常數(shù)(κ)的值。
4.如權(quán)利要求3的方法,其中所述第一倍增常數(shù)(κ)從包含表示記錄過程的控制信息的所述記錄介質(zhì)(1)上的區(qū)域讀出,憑借所述記錄過程可以將信息記錄在所述記錄介質(zhì)上。
5.如權(quán)利要求3的方法,其中定義直線的所述至少一個(gè)函數(shù)的曲線擬合是在寫入功率電平的預(yù)定擬合范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)的。
6.如權(quán)利要求5的方法,其中所述預(yù)定擬合范圍的位置由與每個(gè)曲線擬合函數(shù)相關(guān)聯(lián)的寫入功率電平初始值(Pini)以及范圍因子(R)確定。
7.如權(quán)利要求1的方法,其中基本上通過分離常數(shù)(S)乘以一個(gè)整數(shù),使得多個(gè)寫入功率電平初始值(Pini)中的每個(gè)寫入功率電平初始值(Pini)在數(shù)值上互不相同。
8.如權(quán)利要求1的方法,其中表示所述多個(gè)寫入功率電平初始值(Pini)的信息從包含表示記錄過程的控制信息的所述記錄介質(zhì)(1)上的區(qū)域讀出,憑借所述記錄過程可以將信息記錄在所述記錄介質(zhì)上
9.如權(quán)利要求1的方法,其中通過估計(jì)每個(gè)寫入功率電平初始值(Pini)和每個(gè)與之相關(guān)聯(lián)的寫入功率電平特征值(PChar,)之間的數(shù)值差異,可以在步驟6中進(jìn)行寫入?yún)?shù)最優(yōu)值的設(shè)置,寫入?yún)?shù)最優(yōu)值是具有最小數(shù)值差異的寫入?yún)?shù)特征值(PChar)。
10.如權(quán)利要求1的方法,其中通過找到一條直線與一條曲線之間的重合點(diǎn),可以在步驟6中進(jìn)行寫入?yún)?shù)最優(yōu)值的設(shè)置,其中在所述重合點(diǎn)處寫入功率電平初始值(Pini)等于寫入功率電平特征值(PChar),所述曲線被擬合到每個(gè)寫入功率電平初始值(Pini)及與之相關(guān)聯(lián)的寫入功率電平特征值(PChar)的多個(gè)點(diǎn)(Pini,PChar)。
11.一種設(shè)置輻射束的寫入功率電平(P)最優(yōu)值(Popt)的方法,所述方法用在由具有寫入功率電平(P)的輻射束(5)在光記錄介質(zhì)(1)上寫入信息的光記錄裝置中,利用如權(quán)利要求1的方法來設(shè)置寫入?yún)?shù)最優(yōu)值,其中寫入功率電平(P)的最優(yōu)值(Popt)被設(shè)置成等于寫入?yún)?shù)最優(yōu)值乘以第二倍增常數(shù)(ρ)。
12.如權(quán)利要求11的方法,其中所述第二倍增常數(shù)(ρ)從包含表示記錄過程的控制信息的所述記錄介質(zhì)(1)上的區(qū)域讀出,憑借所述記錄過程可將信息記錄在所述記錄介質(zhì)上。
13.一種用于實(shí)施根據(jù)權(quán)利要求1的方法的光記錄裝置,所述裝置包括輻射光源(4),用于發(fā)射具有可控寫入功率電平(P)值的、用于在所述記錄介質(zhì)上記錄信息的輻射束(5),控制單元(12),用于記錄一系列測試圖案,每個(gè)圖案用不同的寫入功率電平(P)值記錄,讀取單元(90),用于讀出所述圖案并形成對應(yīng)的讀取信號部分(18、19),第一裝置(10),用于從每個(gè)讀取信號部分導(dǎo)出讀取參數(shù)值,第二裝置(101),用于曲線擬合一個(gè)定義所述讀取參數(shù)和所述寫入功率電平(P)之間關(guān)系的函數(shù)到所述讀取參數(shù)值和所述寫入功率電平(P)值,每個(gè)曲線擬合函數(shù)具有對應(yīng)的寫入功率電平初始值(Pini),以及第三裝置(102),用于從每個(gè)曲線擬合函數(shù)導(dǎo)出對應(yīng)的多個(gè)寫入功率電平特征值(PChar),每個(gè)寫入功率電平特征值(PChar)因此具有相關(guān)聯(lián)的寫入功率電平初始值(Pini),以及第四裝置(102),用于通過比較所述多個(gè)寫入功率電平初始值(Pini)與每個(gè)與之相關(guān)聯(lián)的寫入功率電平特征值(PChar),從而設(shè)置寫入?yún)?shù)最優(yōu)值。
14.一種利用輻射束(5)照射記錄介質(zhì)來記錄信息的光記錄介質(zhì)(1),所述記錄介質(zhì)包括一個(gè)包含表示記錄過程的控制信息的區(qū)域,憑借所述記錄過程能將信息記錄在所述記錄介質(zhì)上,所述控制信息包括用于所述記錄過程的記錄參數(shù)值,其中所述控制信息包括表示在權(quán)利要求1的方法中或者在權(quán)利要求13的裝置中使用的所述多個(gè)寫入功率電平初始值(Pini)的信息。
15.一種利用輻射束(5)照射記錄介質(zhì)來記錄信息的光記錄介質(zhì)(1),所述記錄介質(zhì)包括一個(gè)包含表示記錄過程的控制信息的區(qū)域,憑借所述記錄過程可以將信息記錄在所述記錄介質(zhì)上,所述控制信息包括用于所述記錄過程的記錄參數(shù)值,其中所述控制信息包括用于權(quán)利要求3的方法的第一倍增常數(shù)(ρ)和用于權(quán)利要求11方法中的第二倍增常數(shù)(κ)中的至少一個(gè)。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種用于設(shè)置寫入?yún)?shù)最優(yōu)值的方法,所述寫入?yún)?shù)最優(yōu)值用在利用輻射束將信息寫入光記錄介質(zhì)的光記錄裝置中。通過從多個(gè)曲線擬合函數(shù)中導(dǎo)出多個(gè)寫入功率電平特征值(P
文檔編號G11B7/125GK101088123SQ200580044749
公開日2007年12月12日 申請日期2005年12月20日 優(yōu)先權(quán)日2004年12月23日
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