專利名稱：光驅(qū)測試系統(tǒng)及方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種光驅(qū)測試系統(tǒng)及方法。
背景技術：
在生產(chǎn)線上組裝完成的光驅(qū)在出廠之前需要經(jīng)過各個功能測 試，比如托盤開啟關閉、光盤驅(qū)動、數(shù)據(jù)資料讀取及各項發(fā)光二極
管(light emitting diode, LED)指示燈顯示等，在確認該光驅(qū)的各 項功能正常后才可以包裝出廠。
其中對于托盤開啟關閉的測試，通常采用氣缸推動托盤使得光 驅(qū)吸入托盤中的光盤。由于氣缸的頻繁重復運動，可能導致在長時 間測試過程中不能保證托盤被推到光驅(qū)可自動吸入光盤的位置，但 是，即使氣缸沒有將托盤推到光驅(qū)可自動吸入光盤的位置，氣缸仍 然繼續(xù)工作。由于上述原因，通常需要配備相關的測試人員監(jiān)督氣 缸的工作狀況，檢查托盤是否被推到光驅(qū)可自動吸入光盤的位置。 因此，這樣的測試處于半自動化狀態(tài)。在這種測試方式中，氣缸的 不正常狀況以及測試人員的失誤經(jīng)常影響托盤開啟關閉測試結果的 有效性和可靠性。
另外，由于需要配備相關的測試人員，從而使得測試成本相對 較高。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種光驅(qū)測試系統(tǒng)，能自動判斷托 盤是否被推到光驅(qū)可自動吸入光盤的位置，并且降低人力成本。
還有必要提供一種光驅(qū)測試方法，能自動判斷托盤是否被推到 光驅(qū)可自動吸入光盤的位置，并且降低人力成本。
一種光驅(qū)測試系統(tǒng)，包括計算機及推動裝置，所述的計算機連 接光驅(qū)，所述的推動裝置用于當光驅(qū)的托盤處于彈出狀態(tài)時推動托 盤到該光驅(qū)可自動吸入托盤中的光盤的位置，所述計算機包括光驅(qū) 測試裝置用于偵測及記錄光驅(qū)識別到光盤的次數(shù)以及在光驅(qū)每一次 識別到光盤后控制該光驅(qū)彈出托盤。
一種光驅(qū)測試方法，包括連接光驅(qū)到計算機，并運行光驅(qū)測 試裝置；當光驅(qū)的托盤處于彈出狀態(tài)時，推動裝置推動托盤到該光 驅(qū)可自動吸入托盤中的光盤的位置；及光驅(qū)測試裝置在光驅(qū)識別到 光盤后做一次記錄，并控制光驅(qū)彈出托盤。
一種光驅(qū)測試系統(tǒng)，包括計算機及推動裝置，所述的計算機連 接光驅(qū)，所述的推動裝置用于當光驅(qū)的托盤處于彈出狀態(tài)時推動托 盤到該光驅(qū)可自動吸入托盤中的光盤的位置，所述計算機包括光驅(qū) 測試裝置。該光驅(qū)測試裝置包括偵測模塊、彈出模塊以及記錄模塊。 其中，偵測模塊用于實時偵測光驅(qū)的讀盤狀況并判斷光驅(qū)是否已經(jīng) 識別到光盤；彈出模塊用于在偵測模塊偵測到光驅(qū)已經(jīng)識別到光盤 之后發(fā)出指令給計算機控制光驅(qū)彈出托盤；及記錄模塊用于在偵測 模塊每一次偵測到光驅(qū)已經(jīng)識別到光盤之后做一次記錄。
相較于現(xiàn)有技術，所述的光驅(qū)測試系統(tǒng)及方法，可以自動判斷 托盤是否被推到光驅(qū)可自動吸入光盤的位置，提高了測試結果的準 確性以及可靠性，而且，由于實現(xiàn)了自動化測試，降低了人力成本。


圖1是本發(fā)明光驅(qū)測試系統(tǒng)的較佳實施例的硬件架構圖。
圖2是圖1中光驅(qū)測試裝置的功能模塊圖。
圖3是本發(fā)明光驅(qū)測試方法的較佳實施例的流程圖。
具體實施例方式
如圖1所示，是本發(fā)明光驅(qū)測試系統(tǒng)的較佳實施例的硬件架構 圖。在本較佳實施例中，主要包括計算機10、光驅(qū)12以及作為推
動裝置的氣缸14。其中，光驅(qū)12主要包括托盤120和光學讀取頭 (未示出)。在測試光驅(qū)12之前，可以在托盤120中放置一片光盤 122。本實施例還包括一個測試平臺16,所述的計算機10和作為推 動裝置的氣缸14均被固定在該測試平臺16上。計算機IO安裝有光 驅(qū)測試裝置20可用于測試該光驅(qū)12的托盤120彈出與吸入的壽命。 其中，光驅(qū)12安裝在計算機10的光驅(qū)接口上。氣缸14與計算 機10的相對位置應該滿足如下要求當光驅(qū)12的托盤120處于彈 出狀態(tài)時，氣缸14剛好能夠推動托盤120到光驅(qū)12可自動吸入托 盤120中的光盤122。因此，應該在將氣缸14與計算機10固定到 測試平臺16上之前調(diào)整好氣缸14與計算機10的相對位置。在其他 實施例中，也可以采用機械活塞式推動裝置代替氣缸14作為推動裝 置用來推動托盤120到光驅(qū)12可自動吸入托盤120中的光盤122的 位置。所述的計算機10可以是IBM架構的個人計算機(personal computer, PC )，也可以是蘋果公司的MAC架構的計算機，或者其 他類型可安裝光驅(qū)12以及光驅(qū)測試裝置20的計算設備。所述的氣 缸14可以包括氣缸控制器(未示出)用于設定控制氣缸14運動的 參數(shù)，例如設定氣缸14推動托盤120的時間間隔。所述的光驅(qū)12 可以是緊密光盤只讀存儲驅(qū)動器(compact disk read only memory drive, CD-ROM Drive),可以是數(shù)字化視頻光盤只讀存儲驅(qū)動器 (digital video disk read only memory drive, DVD-ROM Drive )。當光 驅(qū)12采用CD-ROM Drive時，光盤122可以是緊密光盤(compact disk, CD),也可以是視頻緊密光盤(video compact disk, VCD); 當光驅(qū)12采用DVD-ROM Drive時，光盤122可以是CD、 VCD或 者是數(shù)字化視頻光盤(digital video disk, DVD )。如圖2所示，是光驅(qū)測試裝置20的功能模塊圖。在本較佳實施 例中，該光驅(qū)測試裝置20是安裝并運行于計算機10中并且可以被 計算機10執(zhí)行的一段計算機程序。光驅(qū)測試裝置20主要用于偵測 及記錄光驅(qū)12自動吸入光盤122后讀盤識別到光盤122的次數(shù)以及 在光驅(qū)12每一次識別到光盤12后發(fā)出指令控制光驅(qū)12彈出托盤 120。光驅(qū)測試裝置20主要包括偵測模塊200、彈出模塊202以及 記錄模塊204。其中，偵測模塊200主要用于實時偵測光驅(qū)12的讀盤狀況，并 判斷光驅(qū)12是否已經(jīng)識別到光盤122。彈出模塊202主要用于在 偵測模塊200偵測到光驅(qū)12已經(jīng)識別到光盤122之后，發(fā)出指令給 計算機IO控制光驅(qū)12彈出托盤120。記錄模塊204主要用于在 偵測模塊200每一次偵測到光驅(qū)12已經(jīng)識別到光盤122之后做一次 記錄。記錄模塊204還可以用于設定光驅(qū)12需要完成的測試總次 數(shù)(也就是測試需要光驅(qū)12識別到光盤122的總次數(shù))；以及判斷 是否已經(jīng)完成所設定的測試總次數(shù)。如圖3所示，是本發(fā)明光驅(qū)測試方法的較佳實施例的流程圖。 步驟S300,將光驅(qū)12安裝在計算機10上，放置一片光盤122在托 盤120中，并將作為推動裝置的氣缸14(或者機械活塞式推動裝置) 與計算機10固定在測試平臺16;根據(jù)光驅(qū)12識別光盤122的時間 以及彈出光盤122的時間設定氣缸14推動托盤120的時間間隔；并 啟動光驅(qū)測試裝置20。根據(jù)需要，在啟動光驅(qū)測試裝置20的時候 (或者之后)還可以利用記錄模塊204設定需要完成的測試總次數(shù) (也就是測試需要光驅(qū)12識別到光盤122的總次數(shù))。其中，氣缸 14推動托盤120的時間間隔應該等于或者稍長于光驅(qū)12識別光盤 122的時間加上彈出光盤122的時間的總和。該時間間隔可以通過 氣缸控制器或者其他可以設定氣缸14運動參數(shù)的相應單元來設定。 步驟S302,氣缸14啟動并推動托盤120到光驅(qū)12可自動吸入 托盤120中的光盤122的位置；光驅(qū)12自動吸入光盤122后進行讀 盤操作。步驟S304，偵測才莫塊200偵測光驅(qū)12的讀盤狀況。步驟S306， 偵測模塊200根據(jù)偵測到的讀盤狀況判斷光驅(qū)12是否已經(jīng)識別到光 盤122。如果光驅(qū)12已經(jīng)識別到光盤122，步驟S308，彈出模塊202
發(fā)出指令給計算機IO控制光驅(qū)12彈出托盤120,并且記錄模塊204 估支一次i己錄。步驟S310，記錄模塊204判斷是否已經(jīng)完成所設定的測試總次 數(shù)。如杲尚未完成測試總次數(shù)，返回到步驟S302,氣缸再次推動托 盤122到光驅(qū)12可自動吸入托盤120中的光盤122的位置，然后光 驅(qū)12自動吸入光盤122后進行讀盤操作。如果已經(jīng)完成測試總次數(shù)， 測試流程結束。在步驟S306中，如果偵測模塊200偵測到的讀盤狀況是光驅(qū) 12尚未識別到光盤122，則返回到步驟S304，偵測模塊200繼續(xù)偵 測光驅(qū)12的讀盤狀況。在本實施例中，步驟S308中彈出模塊202發(fā)出指令給計算機 10控制光驅(qū)12彈出托盤120與記錄模塊204記錄一次光驅(qū)12已經(jīng) 識別到光盤122的步驟可以同時進行，也可以先后進行?，F(xiàn)有技術中判斷光驅(qū)壽命的依據(jù)通常是氣缸14的推動次數(shù)。如 果氣缸14與計算機10的相對位置發(fā)生變化或者由于氣缸14本身的 原因，導致氣缸14不能每次都推動托盤120到預定位置(也就是光 驅(qū)12可以自動吸入光盤122的位置)，那么氣缸14的推動次數(shù)一定 多于光盤12識別到光盤122的實際次數(shù)。相較與現(xiàn)有技術，記錄模 塊204記錄的次數(shù)是光驅(qū)12識別到光盤122的實際次數(shù)，根據(jù)此實 際次數(shù)判斷的光驅(qū)壽命測試結果客觀真實可靠。
權利要求
1. 一種光驅(qū)測試系統(tǒng)，包括計算機及推動裝置，所述的計算機 連接被測光驅(qū)，所述的推動裝置用于當被測光驅(qū)的托盤處于彈出狀態(tài) 時推動托盤到該被測光驅(qū)可自動吸入托盤中的光盤的位置，其特征在 于，所述計算機包括光驅(qū)測試裝置，該光驅(qū)測試裝置用于偵測及記錄 被測光驅(qū)識別到光盤的次數(shù)以及在被測光驅(qū)每一次識別到光盤后控 制該被測光驅(qū)彈出托盤。
2. 如權利要求1所述的光驅(qū)測試系統(tǒng)，其特征在于，所述的推動 裝置是氣缸。
3. 如權利要求1所述的光驅(qū)測試系統(tǒng)，其特征在于，所述的光驅(qū) 測試裝置還用于設定光驅(qū)需要完成的測試總次數(shù)。
4. 如權利要求1所述的光驅(qū)測試系統(tǒng)，其特征在于，所述的光驅(qū) 是數(shù)字化視頻光盤只讀存儲驅(qū)動器。
5. —種光驅(qū)測試方法，其特征在于，該方法包括 連接光驅(qū)到計算機，啟動計算機的光驅(qū)測試裝置； 當光驅(qū)的托盤處于彈出狀態(tài)時，推動裝置推動該光驅(qū)的托盤到該光驅(qū)可自動吸入托盤中的光盤的位置；及光驅(qū)測試裝置在光驅(qū)識別到光盤后做一次記錄，并控制光驅(qū)彈出 托盤。
6. 如權利要求5所述的光驅(qū)測試方法，其特征在于，該方法還包 括步驟設定光驅(qū)需要完成的測試總次數(shù)。
7. 如權利要求5所述的光驅(qū)測試方法，其特征在于，該方法還包 括步驟根據(jù)光驅(qū)識別光盤的時間以及彈出光盤的時間設定推動裝置 推動托盤的時間間隔。
8. 如權利要求5所述的光驅(qū)測試方法，其特征在于，所述的推動 裝置是氣缸。
9. 一種光驅(qū)測試系統(tǒng)，包括計算機及推動裝置，所述的計算機連 接被測光驅(qū)，所述的推動裝置用于當光驅(qū)的托盤處于彈出狀態(tài)時推動托盤到該光驅(qū)可自動吸入托盤中的光盤的位置，其特征在于，所述計算機包括光驅(qū)測試裝置，該光驅(qū)測試裝置包括偵測模塊，用于實時偵測光驅(qū)的讀盤狀況并判斷光驅(qū)是否已經(jīng)識 別到光盤；彈出模塊，用于在偵測模塊偵測到光驅(qū)已經(jīng)識別到光盤之后發(fā)出 指令給計算機控制光驅(qū)彈出托盤；及記錄模塊，用于在偵測模塊每一次偵測到光驅(qū)已經(jīng)識別到光盤之 后做一次記錄。
10.如權利要求9所述的光驅(qū)測試系統(tǒng)，其特征在于，所述的記 錄模塊還用于設定光驅(qū)需要完成的測試總次數(shù)以及判斷是否已經(jīng)完 成所設定的測試總次數(shù)。
全文摘要
一種光驅(qū)測試系統(tǒng)，包括計算機及推動裝置，所述的計算機連接光驅(qū)，所述的推動裝置用于當光驅(qū)的托盤處于彈出狀態(tài)時推動托盤到該光驅(qū)可自動吸入托盤中的光盤的位置，所述計算機包括光驅(qū)測試裝置用于偵測及記錄光驅(qū)識別到光盤的次數(shù)以及在光驅(qū)每一次識別到光盤后控制該光驅(qū)彈出托盤。利用本發(fā)明可以提高光驅(qū)測試結果的準確性以及可靠性，而且，由于實現(xiàn)了自動化測試，降低了人力成本。
文檔編號G11B33/00GK101145381SQ200610062608
公開日2008年3月19日 申請日期2006年9月15日 優(yōu)先權日2006年9月15日
發(fā)明者何友光, 廖善明, 甘小林 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司