專利名稱：：一種反及型閃存的識(shí)別方法與系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明涉及反及型閃存的識(shí)別，特別是有關(guān)于一種不需讀取反及型閃存的裝置識(shí)別碼即可識(shí)別反及型閃存的方法與系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
：在非易失型閃存的市場中有兩大主流，分別稱為反或型閃存(NOR-flashmemory)與反及型閃存(NAND-Flashmemory)，反或型閃存首先于1988年間問世，在當(dāng)時(shí)，反或型閃存徹底革新了內(nèi)存的市場。在早年，市場是由EPROM與EEPROM所占領(lǐng)，一般來說，反或型閃存較反及型閃存提供更高的讀取效能，因此，反或型閃存通常會(huì)被使用于如程序代碼儲(chǔ)存或執(zhí)行等應(yīng)用，而反或型閃存則常應(yīng)用于消費(fèi)性電子裝置，例如低階的行動(dòng)電話、嵌入式應(yīng)用裝置以及簡易的消費(fèi)性電子產(chǎn)品。東芝公司(Toshiba)在1989年間提出了反及型閃存的架構(gòu)。反及型閃存適用于許多型式的檔案儲(chǔ)存，目前在一些很常見的消費(fèi)性電子裝置中，也常使用反及型閃存。在消費(fèi)性電子產(chǎn)品市場中，反及型閃存常用于MP3播放器、USB閃存、數(shù)字相機(jī)存儲(chǔ)卡以及許多其它裝置中。反及型閃存是設(shè)計(jì)為有高容量、低成本以及快速的反應(yīng)速率。此外，反及型閃存另提供多種優(yōu)點(diǎn)，例如反及型閃存通常比反或型閃存便宜、反及型閃存具有非常高的存儲(chǔ)單元密度(celldensity)、反及型閃存容量、反及型閃存的寫入速率與清除速率較反或型閃存來的高，諸如此類。因此，很明顯地，反及型閃存明顯地適用于上述各種消費(fèi)性電子裝置的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存。反及型閃存的存取方法與其它一般的內(nèi)存裝置不同。反及型閃存須在系統(tǒng)確實(shí)了解反及型閃存的組態(tài)下才能進(jìn)一步讀取與寫入數(shù)據(jù)。一般而言，反及型閃存的結(jié)構(gòu)為具有多個(gè)區(qū)塊的一內(nèi)存陣列。舉例來說，一般稱為小容量反及型閃存的可能容量為8MB、16MB、32MB或64MB，而稱為大容量反及型閃存的可能容量為128MB、256MB、512MB或1GB。對小容量反及型閃存而言，每個(gè)區(qū)塊皆包含32個(gè)內(nèi)存分頁(page)，而每一內(nèi)存分頁則劃分為一個(gè)包含512字節(jié)的數(shù)據(jù)區(qū)(dataarea)以及一個(gè)包含16字節(jié)的備用區(qū)(sparearea)；另一方面，對大容量反及型閃存而言，每個(gè)區(qū)塊皆包含64個(gè)內(nèi)存分頁，而每一內(nèi)存分頁則劃分為一個(gè)包含2048字節(jié)的數(shù)據(jù)區(qū)以及一個(gè)包含64字節(jié)的備用區(qū)。由于小容量反及型閃存的組態(tài)與大容量反及型閃存的組態(tài)互異，因此用來存取儲(chǔ)存于小容量反及型閃存與大容量反及型閃存的數(shù)據(jù)的參數(shù)也不盡相同，也就是說，如果一系統(tǒng)無法正確地辨別出所安裝的反及型閃存，則其必?zé)o法正確地存取反及型閃存中的數(shù)據(jù)。如眾所周知的，如欲使用一反及型閃存，一系統(tǒng)必須要保持一固定的裝置識(shí)別表(IDtable)以便存取反及型閃存，該裝置識(shí)別表是用以輔助識(shí)別反及型閃存的類別，該裝置識(shí)別表包含了預(yù)定的數(shù)據(jù)，其通常包括下列信息全部容量大小、全部區(qū)塊大小、內(nèi)存分頁大小(pagesize)、輸入/輸出接口位數(shù)目(I/Ointerfacebits)、地址字節(jié)數(shù)目(addressbytes)以及錯(cuò)誤更正(ECC)的型式(例如1位或4位)等。如上所述，要從反及型閃存讀取或?qū)懭霐?shù)據(jù)必須要了解實(shí)際的反及型閃存組態(tài)，所以便會(huì)需要裝置識(shí)別表。在傳統(tǒng)的系統(tǒng)中，當(dāng)使用反及型閃存時(shí)會(huì)使用該固定的裝置識(shí)別表以便識(shí)別出反及型閃存的型式，然而很不幸地，此一傳統(tǒng)的反及型閃存識(shí)別方法可能并非最有效率的識(shí)別方法。第一個(gè)缺點(diǎn)是，對于使用新廠商或現(xiàn)有廠商所推出的具有新容量及新規(guī)格的新型反及型閃存的裝置而言，此種傳統(tǒng)的反及型閃存識(shí)別方法需要另行維護(hù)該固定的裝置識(shí)別表，以使其儲(chǔ)存現(xiàn)今所有反及型閃存的識(shí)別信息(identificationinformation)，然而，若要確保該裝置識(shí)別表具有最新的信息則須耗費(fèi)不小的時(shí)間與精力。而隨著愈來愈多廠商生產(chǎn)新型的反及型閃存產(chǎn)品，傳統(tǒng)的反及型閃存識(shí)別方法所具有的第二個(gè)缺點(diǎn)也就呼之欲出了，那就是所采用的固定裝置識(shí)別表的內(nèi)容大小必須一直增加而愈來愈大，以便包含一直新增的反及型閃存的信息，而數(shù)據(jù)量愈來愈大的裝置識(shí)別表無疑地將占用愈來愈大的內(nèi)存空間，因此必須使用較大的儲(chǔ)存裝置來儲(chǔ)存固定的裝置識(shí)別表。在公知方法中，該固定的裝置識(shí)別表是儲(chǔ)存于開機(jī)碼(BOOTcode)或芯片上的只讀碼(on-chipROMcode)中，而將該固定的裝置識(shí)別表存于開機(jī)碼或芯片上的只讀碼中原已是耗費(fèi)高成本的作法，而若該固定裝置識(shí)別表的數(shù)據(jù)量又愈來愈大，則問題將更加嚴(yán)重。由前述的識(shí)別反及型閃存所產(chǎn)生的問題來看，真的很需要一種不需讀取或存取上述公知固定裝置識(shí)別表的新且有效率的反及型閃存識(shí)別方法與裝置。
發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的之一在于提供一種低成本的反及型閃存的識(shí)別方法與系統(tǒng)，其不需讀取或存取一固定裝置識(shí)別表而仍能識(shí)別反及型閃存的類型，以解決上述問題。本發(fā)明提供一種反及型閃存的識(shí)別方法，其包含將具有一預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣的一標(biāo)頭儲(chǔ)存至一反及型閃存的一內(nèi)存分頁；使用至少一測試屬性來讀取儲(chǔ)存于該反及型閃存的內(nèi)容以輸出一結(jié)果；確認(rèn)該結(jié)果是否符合該預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣與該測試屬性；以及若該結(jié)果符合該預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣與該測試屬性，則使用該測試屬性以識(shí)別該反及型閃存。本發(fā)明另提供一種反及型閃存的識(shí)別方法，其包含將一反及型閃存的一內(nèi)存分頁填滿該反及型閃存的識(shí)別信息；從該內(nèi)存分頁中一測試內(nèi)存分頁范圍外讀取至少一數(shù)據(jù)段；確認(rèn)該數(shù)據(jù)段是否包含該反及型閃存的識(shí)別信息；及若該數(shù)據(jù)段包含該反及型閃存的識(shí)別信息，則根據(jù)該測試內(nèi)存分頁范圍來決定該反及型閃存的一內(nèi)存分頁大小。本發(fā)明另提供一種反及型閃存的識(shí)別方法，其包含將一反及型閃存的一內(nèi)存分頁填滿該反及型閃存的識(shí)別信息，其中該識(shí)別數(shù)據(jù)包括一預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣；使用包括輸入/輸出接口位數(shù)目與地址字節(jié)數(shù)目的設(shè)定值在內(nèi)的多個(gè)測試屬性來以讀取該反及型閃存的內(nèi)容，從而輸出一結(jié)果，以及從該內(nèi)存分頁中一測試內(nèi)存分面范圍外讀取至少一數(shù)據(jù)段；確認(rèn)該結(jié)果是否符合該預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣與該多個(gè)測試屬性，以及確認(rèn)該數(shù)據(jù)段是否包含該反及型閃存的識(shí)別信息；及若該結(jié)果符合該預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣與該多個(gè)測試屬性，且該數(shù)據(jù)段包含該反及型閃存的識(shí)別信息，則根據(jù)該測試內(nèi)存分頁范圍來決定該反及型閃存的一內(nèi)存分頁大小，以及使用該多個(gè)測試屬性與該內(nèi)存分頁大小來識(shí)別該反及型閃存。本發(fā)明另提供一種可識(shí)別反及型閃存的系統(tǒng)，其包含一反及型閃存與一控制器。該反及型閃存具有包含一預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣的一標(biāo)頭，且該標(biāo)頭儲(chǔ)存于該反及型閃存的一內(nèi)存分頁中。該控制器耦接于該反及型閃存，且該控制器包含一存取單元，用來使用至少一測試屬性以讀取該反及型閃存的內(nèi)容并據(jù)以輸出一結(jié)果；以及一確認(rèn)單元，耦接于該存取單元，用來確認(rèn)該結(jié)果是否符合該預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣與該測試屬性；其中若該結(jié)果符合該預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣與該測試屬性，則該確認(rèn)單元使用該測試屬性來識(shí)別該反及型閃存。本發(fā)明另提供一種可識(shí)別反及型閃存的系統(tǒng)，其包含一反及型閃存與一控制器。該反及型閃存具有填滿該反及型閃存的識(shí)別信息的一內(nèi)存分頁。該控制器耦接于該反及型閃存，且該控制器包含一存取單元，用來由該內(nèi)存分頁中一測試內(nèi)存分頁范圍外讀取至少一數(shù)據(jù)段；以及一確認(rèn)單元，耦接于該存取單元，用來確認(rèn)該數(shù)據(jù)段是否包含該反及型閃存的識(shí)別信息；其中若該數(shù)據(jù)段包含該反及型閃存的識(shí)別信息，則該確認(rèn)單元根據(jù)該測試內(nèi)存分頁范圍決定該反及型閃存的一內(nèi)存分頁大小。本發(fā)明另提供一種可用來執(zhí)行反及型閃存的識(shí)別的系統(tǒng)，其包含一反及型閃存與一控制器。該反及型閃存具有填滿反及型閃存的識(shí)別信息的一頁面，其中該識(shí)別信息包含一預(yù)設(shè)態(tài)樣。該控制器耦接于于該反及型閃存，且該控制器包含一存取單元，用來使用包括輸入/輸出接口位數(shù)目與地址字節(jié)數(shù)目的設(shè)定在內(nèi)的多個(gè)測試屬性，以讀取該反及型閃存的內(nèi)容從而輸出一結(jié)果，及從該頁面中一測試頁面范圍外讀取至少一數(shù)據(jù)段；以及一確認(rèn)單元，耦接于該存取單元，用來確認(rèn)該結(jié)果是否符合該第一預(yù)設(shè)態(tài)樣與該測試屬性，以及確認(rèn)該數(shù)據(jù)段是否包含該反及型閃存的識(shí)別信息；其中若該確認(rèn)單元發(fā)現(xiàn)該結(jié)果符合該預(yù)設(shè)的態(tài)樣與該測試屬性，且該數(shù)據(jù)段包含該反及型閃存的識(shí)別信息，則該確認(rèn)單元根據(jù)該測試頁面范圍決定該反及型閃存的一頁面大小，以及使用該測試屬性與該頁面大小來識(shí)別該反及型閃存。與公知技術(shù)相比，本發(fā)明所提出的反及型閃存的識(shí)別方法與系統(tǒng)不需采用任何傳統(tǒng)的裝置識(shí)別表即可識(shí)別一反及型閃存。存取單元利用多組反及型閃存的重測組合以檢查反及型閃存的組態(tài)，如果以某一組重測組合檢查時(shí)造成反及型閃存的識(shí)別操作失敗，則再選擇另一組未經(jīng)測試的重測組合。確認(rèn)單元將于采用某組重測組合而使得反及型閃存的識(shí)別成功時(shí)，發(fā)現(xiàn)其為正確的重測組合；或是于試盡各組重測組合而仍無法成功識(shí)別時(shí)，宣告反及型閃存的識(shí)別操作失敗。由于在公知技術(shù)中，反及型閃存所采用的裝置識(shí)別表很容易過時(shí)而無效，所以本發(fā)明所提出的反及型閃存的識(shí)別方法與系統(tǒng)便可使得系統(tǒng)不再需要儲(chǔ)存與維持大數(shù)據(jù)量的裝置識(shí)別表于非易失性內(nèi)存(例如用來儲(chǔ)存開機(jī)碼的只讀存儲(chǔ)器)。本發(fā)明所提出的反及型閃存識(shí)別方案很易于實(shí)現(xiàn)，并且可大幅降低制造成本。圖1為本發(fā)明可識(shí)別反及型閃存的系統(tǒng)的示意圖。圖2為本發(fā)明第一實(shí)施例的不需讀取裝置識(shí)別表的反及型閃存識(shí)別方法的流程圖。圖3為儲(chǔ)存于反及型閃存中的識(shí)別信息的示意圖。圖4為圖1所示的存取單元所使用的重測組合表的第一實(shí)施例的示意圖。圖5為圖1所示的存取單元所使用的重測組合表的第二實(shí)施例的示意圖。圖6a與圖6b為本發(fā)明第二實(shí)施例的不需讀取裝置識(shí)別表的反及型閃存識(shí)別方法的流程圖。100系統(tǒng)102反及型閃存104控制器106存取單元108確認(rèn)單元具體實(shí)施方式請注意，本發(fā)明是能檢測用于開機(jī)的反及型閃存或用于數(shù)據(jù)儲(chǔ)存的反及型閃存。而為將本發(fā)明方法與系統(tǒng)應(yīng)用于一開機(jī)系統(tǒng)，反及型閃存需嵌入(embed)或耦接至該開機(jī)系統(tǒng)中一開機(jī)只讀存儲(chǔ)器(bootROM)或一共同合作的儲(chǔ)存媒體以協(xié)助儲(chǔ)存所需的一些開機(jī)碼。舉例來說，由于反及型閃存并非可在內(nèi)部直接執(zhí)行數(shù)據(jù)的XIP(executioninplace)裝置，相反地，它需要共同合作的儲(chǔ)存媒體，例如像是同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取內(nèi)存(synchronousdynamicradomaccessmemory，SDRAM)，以幫助執(zhí)行所儲(chǔ)存的數(shù)據(jù)。在儲(chǔ)存媒體由反及型閃存加載或讀取數(shù)據(jù)以進(jìn)一步執(zhí)行之前，首先便需要識(shí)別所使用的反及型內(nèi)存的種類。以下所示的例子是用來說明本發(fā)明的各種不需讀取反及型閃存的裝置識(shí)別表即可識(shí)別反及型閃存的不同實(shí)施例，而非用以局限本發(fā)明的范圍。請參閱圖1，圖1為本發(fā)明可識(shí)別反及型閃存的系統(tǒng)100的示意圖。系統(tǒng)100包含一反及型閃存102與一控制器104耦接于反及型閃存102，在此實(shí)施例中，控制器102具有一存取單元106，用來存取儲(chǔ)存于反及型閃存102中的數(shù)據(jù)；以及一確認(rèn)單元108，用來確認(rèn)存取結(jié)果以識(shí)別出反及型閃存102的組態(tài)。如熟悉此領(lǐng)域者所公知，反及型閃存102包括多個(gè)區(qū)塊，每個(gè)區(qū)塊再包含多個(gè)內(nèi)存分頁，為求簡明起見，圖1中只畫出一個(gè)區(qū)塊BK0，且區(qū)塊BK0具有多個(gè)內(nèi)存分頁P(yáng)0-Pm，而各內(nèi)存分頁皆包含多個(gè)字節(jié)B0-Bn。本發(fā)明的識(shí)別反及型閃存102的組態(tài)的操作系詳述如后。請參閱圖2，圖2為本發(fā)明第一實(shí)施例的不需讀取裝置識(shí)別表的反及型閃存識(shí)別方法的流程圖。第一實(shí)施例的操作具有下列步驟步驟200開始。步驟202將具有一個(gè)或多個(gè)識(shí)別標(biāo)頭(IdentificationHeader，IH)存入一反及型閃存的一內(nèi)存分頁，其中每一識(shí)別標(biāo)頭包含至少一識(shí)別碼(ID)，且各個(gè)識(shí)別標(biāo)頭是具有一預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣(predeterminedpattern)。步驟204由可供選擇的重新測試組合中選取一尚未測試過的重測組合，并使用該被選取的重測組合所提供的反及型閃存的存取信息來讀取該反及型閃存中該內(nèi)存分頁的內(nèi)容。步驟206由該內(nèi)存分頁內(nèi)容中擷取出預(yù)先存好的識(shí)別標(biāo)頭。步驟216確認(rèn)在所擷取的識(shí)別標(biāo)頭中所記錄的識(shí)別碼是否符合該預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣。若否，執(zhí)行步驟218，若符合，則執(zhí)行步驟220。步驟218以權(quán)重N0來增加一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)值。步驟220進(jìn)一步檢查所擷取的識(shí)別標(biāo)頭以確認(rèn)地址位數(shù)目、接口字節(jié)數(shù)目與內(nèi)存分頁大小是否符合所選擇的重測組合；若否，則執(zhí)行步驟222，其余情況則執(zhí)行步驟224。步驟222以權(quán)重N1來增加該錯(cuò)誤計(jì)數(shù)值，其中N1不必一定要等于N0。N0與N1皆用于輔助識(shí)別是否存在裝置缺陷(devicedefect)或錯(cuò)誤的測試屬性(testattribute)。步驟224確認(rèn)識(shí)別標(biāo)頭的所有復(fù)制標(biāo)頭(replication)是否皆檢查過。若否，則以下一個(gè)識(shí)別標(biāo)頭來繼續(xù)執(zhí)行步驟206；若為其它情況則執(zhí)行步驟226。步驟226確認(rèn)錯(cuò)誤計(jì)數(shù)值是否未達(dá)一預(yù)設(shè)臨界值。若是，則執(zhí)行步驟232；若為其它情況則執(zhí)行步驟228。步驟228檢查是否所有的重測組合皆測試過。若是，則執(zhí)行步驟230；若否，則執(zhí)行步驟204。步驟230反及型閃存?zhèn)蓽y操作未成功，接著執(zhí)行步驟23234。步驟232反及型閃存的識(shí)別檢測操作成功。步驟234結(jié)束。以下將舉一例以進(jìn)一步說明上述本發(fā)明第一實(shí)施例的不需讀取裝置識(shí)別表來識(shí)別反及型閃存的方法。反及型閃存的識(shí)別需要將具有預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣的一或多個(gè)標(biāo)頭寫入至反及型閃存102(步驟202)。請了解，這些重復(fù)的標(biāo)頭是為了減少有缺陷的數(shù)據(jù)位的增加。舉例來說，在制造過程中，標(biāo)頭皆預(yù)先記錄在反及型閃存102中以使得安裝了反及型閃存102的系統(tǒng)100可以進(jìn)行后續(xù)步驟來識(shí)別出反及型閃存102。請參閱圖3，圖3是為儲(chǔ)存于反及型閃存102中的識(shí)別信息的示意圖。在此實(shí)施例中，各標(biāo)頭是填入第一區(qū)塊(BK0)的第一內(nèi)存分頁(P0)，假設(shè)反及型閃存102為一小容量反及型閃存，其數(shù)據(jù)區(qū)有512字節(jié)B0-B511，而各標(biāo)頭IH1...IH16則有32字節(jié)，各自包含反及型閃存的識(shí)別信息。請注意，填在內(nèi)存分頁P(yáng)0中的各標(biāo)頭IH1...IH16包含了相同的反及型閃存的識(shí)別信息，其具有以美國信息交換標(biāo)準(zhǔn)碼(AmericanStandardCodeforInformationInterchange，ASCII)所編碼的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣識(shí)別碼以判斷回讀(read-back)數(shù)據(jù)的正確度。在最佳的操作狀況下，會(huì)使用兩組不同的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣識(shí)別碼，例如一主要識(shí)別碼“IDENTITY”以及一次要識(shí)別碼“NADNINFO”。接下來，控制器104的存取單元106由可供選取的重測組合中選取一尚未測試過的重測組合，并利用該重測組合所提供的反及型閃存的存取信息以讀取內(nèi)存分頁P(yáng)0的內(nèi)容，亦即該預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣識(shí)別碼。請參閱圖4，圖4為圖1所示的存取單元106所使用的重測組合表的第一實(shí)施例的示意圖。每一重測組合皆包含兩個(gè)測試屬性接口位數(shù)目與地址字節(jié)數(shù)目，其中接口位數(shù)目定義了在反及型閃存102與控制器104間，每個(gè)周期所傳輸?shù)奈粩?shù)目；而地址字節(jié)數(shù)目則定義了用來記載行地址(columnaddress)與列地址(rowaddress)的字節(jié)的個(gè)數(shù)。在此第一實(shí)施例中，內(nèi)存分頁大小的信息是預(yù)先記錄于標(biāo)頭IH1中，其可于反及型閃存102的接口位數(shù)目與地址字節(jié)數(shù)目辨識(shí)出來后而被正確獲知。存取單元106利用反及型閃存的測試屬性來存取反及型閃存102，舉例來說，存取單元106可存取第一區(qū)塊BK0的第一內(nèi)存分頁P(yáng)0以及在其上進(jìn)行數(shù)據(jù)讀取的動(dòng)作從而產(chǎn)生一結(jié)果。例如該結(jié)果可為所讀取的內(nèi)容。因此，存取單元106從內(nèi)存分頁內(nèi)容中擷取出識(shí)別標(biāo)頭，每個(gè)識(shí)別標(biāo)頭都包含一識(shí)別碼(步驟206)。根據(jù)圖4中的表格所定義的測試優(yōu)先順位，存取單元106使用設(shè)定值為16的接口位數(shù)目與設(shè)定值為3的地址字節(jié)數(shù)目，從標(biāo)頭IH1中的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣識(shí)別碼開始存取，當(dāng)從反及型閃存102中擷取出內(nèi)容后，確認(rèn)單元108開始確認(rèn)所擷取的內(nèi)容是否具有有效的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣識(shí)別碼(步驟216)，并確認(rèn)接口位數(shù)目、內(nèi)存分頁大小與地址字節(jié)數(shù)目是否符合存取單元106所應(yīng)用的測試組合，也就是說，確認(rèn)單元108會(huì)確認(rèn)是否正確地?cái)X取了ASCII碼“IDENTITY”。在某些實(shí)施例中，多個(gè)復(fù)制標(biāo)頭最初會(huì)先填滿一內(nèi)存分頁，在這種情形下，確認(rèn)程序?qū)⒊掷m(xù)執(zhí)行，直到所有的復(fù)制標(biāo)頭皆被確認(rèn)過為止(步驟224)。在某些實(shí)施例中，錯(cuò)誤計(jì)數(shù)值也用于協(xié)助評估確認(rèn)程序的準(zhǔn)確度，如圖2所示，若識(shí)別碼不符合該預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣，則確認(rèn)單元108會(huì)將錯(cuò)誤計(jì)數(shù)值增加N0(步驟218)。若屬性不符合尚未測試的重測組合，則確認(rèn)單元108會(huì)將錯(cuò)誤計(jì)數(shù)值增加N1(步驟222)，此外，在步驟226中，確認(rèn)單元108會(huì)進(jìn)一步確認(rèn)最后的錯(cuò)誤計(jì)數(shù)值(N0+N1)是否低于一預(yù)設(shè)臨界值來決定確認(rèn)程序的結(jié)果是否為可接受的。如果所擷取的內(nèi)容包括了有效的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣識(shí)別碼，并且接口位數(shù)目、內(nèi)存分面大小與地址字節(jié)數(shù)目皆符合存取單元106所采用的測試組合，則確認(rèn)單元108即視所擷取的內(nèi)容相符于預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣識(shí)別碼(也就是說，彼此相同的)，然后再利用測試屬性來設(shè)定存取單元106用來存取儲(chǔ)存于反及型閃存102中數(shù)據(jù)所需的實(shí)際屬性(步驟232)。另一方面，如果所擷取的內(nèi)容不包含有效的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣識(shí)別碼，則確認(rèn)單元108即會(huì)通知存取單元106，而存取單元106會(huì)由圖4的表格中所列的可供選擇且尚未測試過的重測組合中，再另選擇一重測組合，并使用其選出的重測組合以再次擷取預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣識(shí)別碼(步驟204)。請注意，如果圖4中所有重測組合均已測試過了而仍未發(fā)現(xiàn)任何有效的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣識(shí)別碼，那么反及型閃存的識(shí)別操作即宣告失敗(步驟230)。例如，當(dāng)預(yù)先記錄于反及型閃存102中的標(biāo)頭含有控制器104所不支持且錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)格式或是反及型閃存102本身內(nèi)部具有缺陷，將會(huì)使得反及型閃存的標(biāo)頭具有不正確的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣識(shí)別碼。如上所述，在所擷取到的內(nèi)容相符于包含于預(yù)先記錄的標(biāo)頭IH1中的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣識(shí)別碼前，存取單元106會(huì)依序采用各個(gè)重測組合以不斷測試反及型閃存102的組態(tài)，因此，本發(fā)明反及型閃存的識(shí)別方法便不需如公知技術(shù)一般地依靠讀取閃存的裝置識(shí)別表，便能夠辨識(shí)出用來存取反及型閃存102所需的屬性。請注意，反及型閃存的任何屬性均可用來作為測試屬性，且測試屬性可以用任意組合方式形成所要的重測組合，而上述所舉例的特定測試屬性僅為說明之用，并非用來作為本發(fā)明的限制。請參閱圖5，圖5為圖1所示的存取單元106所使用的重測組合表的第二實(shí)施例的示意圖。每一重測組合均包含三個(gè)測試屬性接口位數(shù)目、內(nèi)存分頁大小以及地址字節(jié)數(shù)目；其中接口位數(shù)目定義了在反及型閃存102與控制器104間的每個(gè)周期所傳輸?shù)奈粩?shù)目；內(nèi)存分頁大小定義了每個(gè)區(qū)塊的位數(shù)目，一般而言，小容量的反及型閃存的內(nèi)存分頁大小為512位，而大容量的反及型閃存的內(nèi)存分頁大小則為2048位；而地址字節(jié)目則定義了用來記載行地址與列地址的字節(jié)數(shù)目。在此第二實(shí)施例中，內(nèi)存分頁大小的信息并非預(yù)先記錄于標(biāo)頭IH1中，因此，內(nèi)存分頁大小的屬性必須與其它屬性(亦即接口位數(shù)目與地址字節(jié)數(shù)目)一起進(jìn)行確認(rèn)。請參閱圖6a與圖6b，圖6a與圖6b為本發(fā)明第二實(shí)施例的不需讀取裝置識(shí)別表的反及型閃存識(shí)別方法的流程圖。第二實(shí)施例的操作具有下列步驟步驟300開始。步驟302將一個(gè)或多個(gè)識(shí)別標(biāo)頭存入一反及型閃存中的一內(nèi)存分頁，該多個(gè)識(shí)別標(biāo)頭可能包含一識(shí)別標(biāo)頭的多個(gè)復(fù)制標(biāo)頭，而每一識(shí)別標(biāo)頭包括至少具有一預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣。步驟304由可供選擇的重測組合中選取一尚未測試過的重測組合，以及使用所選取的重測組合所提供的反及型閃存的存取信息來讀取該反及型閃存的該內(nèi)存分頁的內(nèi)容。步驟306由內(nèi)存分頁內(nèi)容中擷取出預(yù)先存好的識(shí)別標(biāo)頭。步驟322確認(rèn)在所擷取的識(shí)別標(biāo)頭中記錄的識(shí)別碼是否符合該預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣。若否，則執(zhí)行步驟324；若符合則執(zhí)行步驟326。步驟324以權(quán)重N0來增加一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)值。步驟326進(jìn)一步檢查所擷取的識(shí)別標(biāo)頭以確認(rèn)地址字節(jié)數(shù)目、接口位數(shù)目與內(nèi)存分頁大小是否符合所選取的重測組合。若否，則執(zhí)行步驟328；其余情況則執(zhí)行步驟330。步驟328以權(quán)重N1來增加該錯(cuò)誤計(jì)數(shù)值，其中N1不一定要等于N0。N0與N1皆用于輔助識(shí)別是否存在裝置缺陷或錯(cuò)誤的測試屬性。步驟330確認(rèn)是否全部的復(fù)制標(biāo)頭都檢查過。若否，則以下一個(gè)識(shí)別標(biāo)頭來繼續(xù)執(zhí)行步驟306；若為其它情況則執(zhí)行步驟332。步驟332確認(rèn)錯(cuò)誤計(jì)數(shù)值是否未達(dá)一預(yù)設(shè)臨界值。若是，則執(zhí)行步驟338；若為其它情況則執(zhí)行步驟334。步驟334檢查是否所有重測組合皆測試過。若是，則執(zhí)行步驟336；若否則執(zhí)行步驟304。步驟336反及型閃存的識(shí)別偵測操作未成功，接著執(zhí)行步驟348。步驟338由一測試內(nèi)存分頁范圍(testpageboundary)外擷取一數(shù)據(jù)段(datasegment)。步驟340確認(rèn)于測試內(nèi)存分頁范圍外所擷取的數(shù)據(jù)段是否包含有效的反及型閃存的識(shí)別信息。若是，則執(zhí)行步驟342；否則，執(zhí)行步驟344。步驟342判斷內(nèi)存分頁大小超出測試內(nèi)存分頁范圍，接著執(zhí)行步驟346。步驟344判斷內(nèi)存分頁大小未超出測試內(nèi)存分頁范圍，接著執(zhí)行步驟346。步驟346反及型閃存的識(shí)別偵測操作成功。步驟348結(jié)束。第二實(shí)施例的流程絕大部份與第一實(shí)施例相同，而此二實(shí)施例在操作程序中的相異處在于判斷反及型閃存102的內(nèi)存分頁大小的步驟(步驟338、340、342與344)。在這些相異處以外的其它步驟，則由于皆已于前描述中詳加說明，故此處不再贅述。通常在一開始時(shí)必須先將多個(gè)標(biāo)頭填進(jìn)一內(nèi)存分頁。對于內(nèi)存分頁面大小的檢測而言，控制器104的存取單元106首先由一測試內(nèi)存分頁范圍外擷取一數(shù)據(jù)段(步驟338)，例如，假設(shè)一小容量反及型閃存且其標(biāo)頭大小為32字節(jié)，則測試內(nèi)存分頁范圍是設(shè)于內(nèi)存分頁P(yáng)0的第512字節(jié)B511；也就是說，在內(nèi)存分頁P(yáng)0，非由字節(jié)B0-B511所讀取的數(shù)據(jù)將被視為由測試內(nèi)存分頁范圍外所擷取的數(shù)據(jù)。根據(jù)測試內(nèi)存分頁范圍，第二實(shí)施例中的存取單元106將嘗試擷取內(nèi)存分頁P(yáng)0的第513-544字節(jié)以得到儲(chǔ)存于測試內(nèi)存分頁范圍外的另一標(biāo)頭。請注意，在此時(shí)，控制器104對于內(nèi)存分頁P(yáng)0有多少字節(jié)可說是一無所知，因此，確認(rèn)單元108將接著檢查步驟338所擷取的數(shù)據(jù)段以確認(rèn)其是否相同于包含有效反及型閃存識(shí)別信息的標(biāo)頭(步驟340)。如圖3所示，內(nèi)存分頁P(yáng)0結(jié)束于第512字節(jié)B511，很明顯地，由內(nèi)存分頁P(yáng)0不存在的字節(jié)(例如第513至544字節(jié))所擷取出的數(shù)據(jù)段包含未知數(shù)據(jù)，而其絕不可能與標(biāo)頭的內(nèi)容相同，由此，確認(rèn)單元108便決定出反及型閃存102的內(nèi)存分頁大小為512字節(jié)(小容量反及型閃存)而非2048字節(jié)(大容量反及型閃存)(步驟344)。接著，反及型閃存的識(shí)別操作成功完成而得知反及型閃存102的實(shí)際組態(tài)為小容量反及型閃存的組態(tài)。再以大容量反及型閃存為例，其通常具有2048字節(jié)的數(shù)據(jù)區(qū)。如上所述，第一區(qū)塊的第一內(nèi)存分頁填滿了多個(gè)標(biāo)頭，其中每一標(biāo)頭都具有相同的反及型閃存識(shí)別信息，因此，當(dāng)執(zhí)行步驟338以由大容量反及型閃存得到上述的測試內(nèi)存分頁范圍外的數(shù)據(jù)段，確認(rèn)單元108也就確定會(huì)由所擷取的數(shù)據(jù)段中偵測到一有效標(biāo)頭，接著，確認(rèn)單元108便決定反及型閃存102的內(nèi)存分頁大小為2048字節(jié)而非512字節(jié)(步驟342)。然后，反及型閃存操作即成功完成而得知反及型閃存102102的實(shí)際組態(tài)為大容量反及型閃存的組態(tài)。反及型閃存102也有可能具有內(nèi)部缺陷而無法正確地儲(chǔ)存數(shù)據(jù)，因此，為了能較準(zhǔn)確地檢測到內(nèi)存分頁大小，由測試內(nèi)存分頁范圍外擷取的數(shù)據(jù)段的數(shù)據(jù)長度有可能包含不只一個(gè)標(biāo)頭；換句話說，在步驟338中，存取單元106試圖要從測試內(nèi)存分頁范圍外擷取出多個(gè)標(biāo)頭，如果確認(rèn)單元108發(fā)現(xiàn)在數(shù)據(jù)段中共有M個(gè)標(biāo)頭具有有效的反及型閃存識(shí)別數(shù)據(jù)，其中M大于一預(yù)定臨界值，則確認(rèn)單元108繼續(xù)在步驟344中指定一較小的數(shù)值(例如512字節(jié))給內(nèi)存分頁大小屬性；否則，確認(rèn)單元108接續(xù)在步驟342中指定一較大的數(shù)值(例如2048字節(jié))給內(nèi)存分頁大小屬性。與公知技術(shù)相比，本發(fā)明所提出的反及型閃存的識(shí)別方法與系統(tǒng)不需采用任何傳統(tǒng)的裝置識(shí)別表即可識(shí)別一反及型閃存。存取單元利用多組反及型閃存的重測組合以檢查反及型閃存的組態(tài)，如果以某一組重測組合檢查時(shí)造成反及型閃存的識(shí)別操作失敗，則再選擇另一組未經(jīng)測試的重測組合。確認(rèn)單元將于采用某組重測組合而使得反及型閃存的識(shí)別成功時(shí)，發(fā)現(xiàn)其為正確的重測組合；或是于試盡各組重測組合而仍無法成功識(shí)別時(shí)，宣告反及型閃存的識(shí)別操作失敗。由于在公知技術(shù)中，反及型閃存所采用的裝置識(shí)別表很容易過時(shí)而無效，所以本發(fā)明所提出的反及型閃存的識(shí)別方法與系統(tǒng)便可使得系統(tǒng)不再需要儲(chǔ)存與維持大數(shù)據(jù)量的裝置識(shí)別表于非易失性內(nèi)存(例如用來儲(chǔ)存開機(jī)碼的只讀存儲(chǔ)器)。本發(fā)明所提出的反及型閃存識(shí)別方案很易于實(shí)現(xiàn)，并且可大幅降低制造成本。上述具體實(shí)施例方式僅用以說明本發(fā)明，而非用以限定本發(fā)明。權(quán)利要求1.一種反及型閃存的識(shí)別方法，其特征在于，包含(a)將具有一預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣的一標(biāo)頭儲(chǔ)存至一反及型閃存的一內(nèi)存分頁；(b)使用至少一測試屬性來讀取儲(chǔ)存于反及型閃存的內(nèi)容以輸出一結(jié)果；(c)確認(rèn)所述結(jié)果是否符合預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣與測試屬性；以及(d)若所述結(jié)果符合預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣與測試屬性，則使用測試屬性以識(shí)別所述反及型閃存。2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，內(nèi)存分頁為反及型閃存的一特定區(qū)塊中第一個(gè)頁面。3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，特定區(qū)塊為反及型閃存中第一個(gè)區(qū)塊。4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣是以美國信息交換標(biāo)準(zhǔn)碼表示的。5.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，測試屬性包括輸入/輸出接口位數(shù)目與地址字節(jié)數(shù)目的設(shè)定值；以及步驟(d)另包含若所述結(jié)果符合預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣與測試屬性，則使用測試屬性來設(shè)定多個(gè)實(shí)際屬性以存取儲(chǔ)存于反及型閃存的數(shù)據(jù)。6.如權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，測試屬性包括輸入/輸出接口位數(shù)目、地址字節(jié)數(shù)目與內(nèi)存分頁大小的設(shè)定值；以及步驟(d)另包含若所述結(jié)果符合預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣與測試屬性，則使用測試屬性來設(shè)定多個(gè)實(shí)際屬性以存取儲(chǔ)存于反及型閃存的數(shù)據(jù)。7.如權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，另提供一提供可供選擇的組合的表單，其中步驟(b)另包含由可供選擇的組合中，選擇一組輸入/輸出接口位數(shù)目與地址字節(jié)數(shù)目的設(shè)定值來設(shè)定測試屬性。8.如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，另提供一可供選擇的組合的表單，其中步驟(b)另包含由可供選擇的組合中，選擇一組輸入/輸出接口位數(shù)目、地址字節(jié)數(shù)目與內(nèi)存分頁大小的設(shè)定值來設(shè)定測試屬性。9.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，另包含計(jì)算步驟(c)確認(rèn)所述結(jié)果并不符合預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣與測試屬性的次數(shù)以得到一個(gè)錯(cuò)誤計(jì)數(shù)值；以及判斷錯(cuò)誤計(jì)數(shù)值是否低于一預(yù)設(shè)臨界值。10.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，另包含激活耦接于反及型閃存的一系統(tǒng)。11.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，反及型閃存是嵌入或耦接于一開機(jī)系統(tǒng)。12.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，反及型閃存是嵌入或耦接于一開機(jī)只讀存儲(chǔ)器。13.一種反及型閃存的識(shí)別方法，其特征在于，包含(a)將一反及型閃存的一內(nèi)存分頁填滿反及型閃存的識(shí)別信息；(b)從內(nèi)存分頁中一測試內(nèi)存分頁范圍外讀取至少一數(shù)據(jù)段；(c)確認(rèn)數(shù)據(jù)段是否包含反及型閃存的識(shí)別信息；及(d)若數(shù)據(jù)段包含反及型閃存的識(shí)別信息，則根據(jù)測試內(nèi)存分頁范圍來決定該反及型閃存的一內(nèi)存分頁大小。14.如權(quán)利要求13所述的方法，其特征在于，步驟(b)另包含從測試內(nèi)存分頁范圍外讀取N筆數(shù)據(jù)段，其中N至少為1；步驟(c)另包含確認(rèn)N筆數(shù)據(jù)段中每一筆數(shù)據(jù)段是否皆包含反及型閃存的識(shí)別信息；以及步驟(d)另包含若包含反及型閃存的識(shí)別信息的數(shù)據(jù)段的數(shù)量達(dá)到一預(yù)設(shè)臨界值，則根據(jù)測試內(nèi)存分頁范圍決定反及型閃存的一內(nèi)存分頁大小。15.一種反及型閃存的識(shí)別方法，其特征在于，包含(a)將一反及型閃存的一內(nèi)存分頁填滿反及型閃存的識(shí)別信息，其中該識(shí)別信息包括一預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣；(b)使用包括輸入/輸出接口位數(shù)目與地址字節(jié)數(shù)目的設(shè)定值在內(nèi)的多個(gè)測試屬性來以讀取反及型閃存的內(nèi)容，從而輸出一結(jié)果，以及從內(nèi)存分頁中一測試內(nèi)存分面范圍外讀取至少一數(shù)據(jù)段；(c)確認(rèn)所述結(jié)果是否符合預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣與所述的多個(gè)測試屬性，以及確認(rèn)數(shù)據(jù)段是否包含反及型閃存的識(shí)別信息；及(d)若所述結(jié)果符合預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣與所述的多個(gè)測試屬性，且數(shù)據(jù)段包含反及型閃存的識(shí)別信息，則根據(jù)測試內(nèi)存分頁范圍來決定反及型閃存的一內(nèi)存分頁大小，以及使用所述的多個(gè)測試屬性與內(nèi)存分頁大小來識(shí)別反及型閃存。16.一種可識(shí)別反及型閃存的系統(tǒng)，其特征在于，包含一反及型閃存，具有包含一預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣的一標(biāo)頭，該標(biāo)頭儲(chǔ)存于反及型閃存的一內(nèi)存分頁中；以及一控制器，耦接于反及型閃存，該控制器包含一存取單元，用來使用至少一測試屬性以讀取反及型閃存的內(nèi)容并據(jù)以輸出一結(jié)果；以及一確認(rèn)單元，耦接于存取單元，用來確認(rèn)所述結(jié)果是否符合預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣與測試屬性；其中若所述結(jié)果符合預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣與測試屬性，則確認(rèn)單元使用測試屬性來識(shí)別反及型閃存。17.如權(quán)利要求16所述的可識(shí)別反及型閃存的系統(tǒng)，其特征在于，內(nèi)存分頁為反及型閃存的一特定區(qū)塊中第一個(gè)頁面。18.如權(quán)利要求17所述的可識(shí)別反及型閃存的系統(tǒng)，其特征在于，特定區(qū)塊為反及型閃存中第一個(gè)區(qū)塊。19.如權(quán)利要求16所述的可識(shí)別反及型閃存的系統(tǒng)，其特征在于，預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣是以美國信息交換標(biāo)準(zhǔn)碼表示的。20.如權(quán)利要求16所述的可識(shí)別反及型閃存的系統(tǒng)，其特征在于，測試屬性包括輸入/輸出接口位數(shù)目與地址字節(jié)數(shù)目的設(shè)定值；以及若所述結(jié)果符合預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣，則確認(rèn)單元使用測試屬性以設(shè)定存取單元用來存取儲(chǔ)存于反及型閃存的數(shù)據(jù)的多個(gè)實(shí)際屬性。21.如權(quán)利要求16所述的可識(shí)別反及型閃存的系統(tǒng)，其特征在于，測試屬性包括輸入/輸出接口位數(shù)目、地址字節(jié)數(shù)目與內(nèi)存分頁大小的設(shè)定值；以及若所述結(jié)果符合預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣，則確認(rèn)單元使用測試屬性以設(shè)定存取單元用來存取儲(chǔ)存于反及型閃存的數(shù)據(jù)的多個(gè)實(shí)際屬性。22.如權(quán)利要求20所述的可識(shí)別反及型閃存的系統(tǒng)，其特征在于，具有一提供可供選擇的組合的表單，其中存取單元另由可供選擇的輸入/輸出接口位數(shù)目與地址字節(jié)數(shù)目的設(shè)定值的組合中，選擇一組輸入/輸出接口位數(shù)目與地址字節(jié)數(shù)目的設(shè)定值的組合來設(shè)定測試屬性。23.如權(quán)利要求21所述的可識(shí)別反及型閃存的系統(tǒng)，其特征在于，具有一提供可供選擇的組合的表單，其中存取單元另由可供選擇的輸入/輸出接口位數(shù)目、地址字節(jié)數(shù)目與內(nèi)存分頁大小的設(shè)定值的組合中，選擇一組輸入/輸出接口位數(shù)目、地址字節(jié)數(shù)目與內(nèi)存分頁大小的設(shè)定值的組合來以設(shè)定測試屬性。24.如權(quán)利要求16所述的可識(shí)別反及型閃存的系統(tǒng)，另包含一計(jì)數(shù)裝置，用以計(jì)算確認(rèn)單元確認(rèn)所述結(jié)果并不符合預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)型樣與該測試屬性的次數(shù)以得到一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)值；其中確認(rèn)單元另確認(rèn)錯(cuò)誤計(jì)數(shù)值是否低于一預(yù)設(shè)臨界值。25.如權(quán)利要求16所述的可識(shí)別反及型閃存的系統(tǒng)，其特征在于，反及型閃存嵌入于或耦接于一開機(jī)系統(tǒng)。26.如權(quán)利要求16所述的可識(shí)別反及型閃存的系統(tǒng)，其特征在于，反及型閃存嵌入于或耦接于一開機(jī)只讀存儲(chǔ)器。27.一種可識(shí)別反及型閃存的系統(tǒng)，其特征在于，包含一反及型閃存，具有填滿反及型閃存的識(shí)別信息的一內(nèi)存分頁；以及一控制器，耦接于反及型閃存，該控制器包含一存取單元，用來由內(nèi)存分頁中一測試內(nèi)存分頁范圍外讀取至少一數(shù)據(jù)段；以及一確認(rèn)單元，耦接于存取單元，用來確認(rèn)數(shù)據(jù)段是否包含反及型閃存的識(shí)別信息；其中若數(shù)據(jù)段包含反及型閃存的識(shí)別信息，則確認(rèn)單元根據(jù)測試內(nèi)存分頁范圍決定反及型閃存的一內(nèi)存分頁大小。28.如權(quán)利要求27所述的可識(shí)別反及型閃存的系統(tǒng)，其特征在于，存取單元從測試內(nèi)存分頁范圍外讀取N筆數(shù)據(jù)段，其中N至少為1；確認(rèn)單元確認(rèn)所述N筆數(shù)據(jù)段的每一筆數(shù)據(jù)段是否皆包含反及型閃存的識(shí)別信息；以及若所述確認(rèn)單元發(fā)現(xiàn)包含反及型閃存的識(shí)別信息的儲(chǔ)存于測試內(nèi)存分面范圍外的數(shù)據(jù)段的數(shù)量達(dá)到一預(yù)設(shè)臨界值，則所述確認(rèn)單元根據(jù)測試內(nèi)存分頁范圍決定反及型閃存的一內(nèi)存分頁大小。29.一種可用來執(zhí)行反及型閃存的識(shí)別的系統(tǒng)，其特征在于，包含一反及型閃存填滿反及型閃存的識(shí)別信息的一頁面，其中該識(shí)別信息包含一預(yù)設(shè)態(tài)樣；及一控制器，耦接于于反及型閃存，該控制器包含一存取單元，用來使用包括輸入/輸出接口位數(shù)目與地址字節(jié)數(shù)目的設(shè)定值在內(nèi)的多個(gè)測試屬性，以讀取反及型閃存的內(nèi)容從而輸出一結(jié)果，及從該頁面中一測試頁面范圍外讀取至少一數(shù)據(jù)段；及一確認(rèn)單元，耦接于存取單元，用來確認(rèn)所述結(jié)果是否符合第一預(yù)設(shè)態(tài)樣與測試屬性，以及確認(rèn)數(shù)據(jù)段是否包含反及型閃存的識(shí)別信息；其中若確認(rèn)單元發(fā)現(xiàn)所述結(jié)果符合預(yù)設(shè)的態(tài)樣與測試屬性，且數(shù)據(jù)段包含反及型閃存的識(shí)別信息，則確認(rèn)單元根據(jù)測試頁面范圍決定反及型閃存的一頁面大小，以及使用測試屬性與頁面大小來識(shí)別反及型閃存。全文摘要本發(fā)明提供一種不需要讀取裝置識(shí)別表的反及型閃存的識(shí)別方法與系統(tǒng)。該方法包含執(zhí)行一識(shí)別流程以將一預(yù)定區(qū)塊中第一個(gè)分頁設(shè)定為一目標(biāo)區(qū)域；使用一測試組合表單來讀取該目標(biāo)區(qū)域；通過比較該目標(biāo)區(qū)域所讀回的信息與該測試組合表單，來評量出一結(jié)果；嘗試采用該測試組合表單中所列的所有測試組合，直到產(chǎn)生一正確結(jié)果而可辨識(shí)出該反及型閃存。當(dāng)沒有任一測試組合符合時(shí)，則告知錯(cuò)誤。文檔編號(hào)G11C29/00GK1933027SQ20061010771公開日2007年3月21日申請日期2006年7月20日優(yōu)先權(quán)日2005年9月12日發(fā)明者蔡慧婷,林彥璋,許景琳申請人:聯(lián)發(fā)科技股份有限公司