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半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置的制作方法

文檔序號(hào):6775529閱讀:154來(lái)源:國(guó)知局
專(zhuān)利名稱(chēng):半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種對(duì)應(yīng)于讀命令將存儲(chǔ)器單元陣列中所保持的數(shù)據(jù)傳送到外部的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置,特別是一種具有預(yù)取給定位數(shù)的數(shù)據(jù)并存儲(chǔ)到輸出緩存電路中,依次從輸出緩存電路向外部傳送的結(jié)構(gòu)的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置。
背景技術(shù)
近年來(lái),在使用DRAM等半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置的系統(tǒng)的控制時(shí),要求與外部之間的高速數(shù)據(jù)傳送。例如DDR(Double Data Rate)方式的SDRAM(Synchronous Dynamic Random Access Memory),與外部時(shí)鐘的上升沿及下降沿雙方同步,實(shí)現(xiàn)了更高速的數(shù)據(jù)傳送。一般來(lái)說(shuō),在DRAM的數(shù)據(jù)讀取時(shí),從讀命令的發(fā)送到實(shí)際向外部輸出讀取數(shù)據(jù)的訪問(wèn)時(shí)間,由外部時(shí)鐘的給定周期數(shù)來(lái)決定。預(yù)先將此時(shí)的外部時(shí)鐘的周期數(shù)設(shè)為CAS等待(latency)時(shí)間,從接收到讀取命令時(shí)開(kāi)始經(jīng)過(guò)了相當(dāng)于CAS等待時(shí)間的周期數(shù)的時(shí)間后,將讀取數(shù)據(jù)傳送給外部。近年來(lái),由于外部時(shí)鐘的高速化快速發(fā)展,因此CAS等待時(shí)間也有增大的傾向。
一般來(lái)說(shuō),由于DRAM中的內(nèi)部動(dòng)作的高速化有界限,為了調(diào)整內(nèi)部動(dòng)作的數(shù)據(jù)與向外部的高速傳送速度,而采用讀出地址連續(xù)的多個(gè)數(shù)據(jù)并預(yù)取給定位數(shù),并行傳送給輸出緩存電路并保持的結(jié)構(gòu)(例如參照特開(kāi)2001-243770號(hào)公報(bào))。例如,進(jìn)行控制,將所預(yù)取的多個(gè)位的數(shù)據(jù)預(yù)先放在輸出緩存電路中,在上述訪問(wèn)時(shí)間到來(lái)時(shí),與外部時(shí)鐘同步,進(jìn)行串行傳送的控制。通過(guò)這樣,能夠?qū)⑼獠康膫魉退俣认鄬?duì)內(nèi)部動(dòng)作的速度提高數(shù)倍。
另外,讀動(dòng)作還有以給定的間隔更新地址,一個(gè)個(gè)讀出數(shù)據(jù)并向外部連續(xù)輸出的成組(burst)讀。如果執(zhí)行這樣的成組讀,就有可能產(chǎn)生先發(fā)出的讀命令的對(duì)象數(shù)據(jù)仍保持在輸出緩存電路中時(shí),進(jìn)一步取得了其后發(fā)出的讀命令的對(duì)象數(shù)據(jù)的狀態(tài)。因此,為了防止輸出緩存電路的重寫(xiě)所引起的誤動(dòng)作,需要使用多級(jí)FIFO緩存構(gòu)成輸出緩存電路,將被輸入的數(shù)據(jù)保持給定時(shí)間,并進(jìn)行控制,按照輸入順序依次輸出。
一般來(lái)說(shuō),對(duì)DRAM的訪問(wèn),要求包括外部時(shí)鐘的頻率等,適合多樣的動(dòng)作條件。這種情況下,上述FIFO緩存的級(jí)數(shù)或CAS等待時(shí)間的值,必須保證在最差的動(dòng)作條件下也能夠正常動(dòng)作。例如,在成組讀動(dòng)作時(shí),外部時(shí)鐘的頻率越低,訪問(wèn)時(shí)間就越長(zhǎng),另外,給輸出緩存電路傳送數(shù)據(jù)的時(shí)刻相對(duì)變?cè)?。因此,需要即使在這種動(dòng)作狀態(tài)下,輸出緩存電路也能夠可靠地保持?jǐn)?shù)據(jù)。與此相對(duì),如果外部時(shí)鐘的頻率升高,在同樣的條件下,給輸出緩存電路傳送數(shù)據(jù)的時(shí)刻相對(duì)訪問(wèn)時(shí)間變晚,因此輸出緩存電路中應(yīng)當(dāng)保持的數(shù)據(jù)大小可以比本來(lái)小。因此,在構(gòu)成了適于大頻率范圍的外部時(shí)鐘的最差動(dòng)作條件的輸出緩存電路的情況下,用于數(shù)據(jù)保持的無(wú)用電路增加。這種情況下,輸出緩存電路的無(wú)用電路,特別是在使用高速的外部時(shí)鐘時(shí)成為問(wèn)題,輸出緩存電路中進(jìn)行動(dòng)作的電路增大,并且控制信號(hào)線也增加。這些要因結(jié)合起來(lái),導(dǎo)致了特別是在DRAM的高速訪問(wèn)時(shí)的消耗電流的增大這一問(wèn)題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于,提供一種在對(duì)應(yīng)于外部時(shí)鐘的頻率等動(dòng)作條件變動(dòng)的情況下,能夠切換輸出緩存電路中所含有的鎖存(latch)電路的位數(shù),保證低速訪問(wèn)時(shí)的可靠的動(dòng)作,排除無(wú)用的電路動(dòng)作,抑制高速訪問(wèn)時(shí)的消耗電流的增大的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置。
本發(fā)明的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置,具有傳送控制電路,其對(duì)應(yīng)于讀命令預(yù)取存儲(chǔ)器陣列中所保持的給定位數(shù)的數(shù)據(jù),與內(nèi)部時(shí)鐘同步,將作為上述預(yù)取的數(shù)據(jù)的傳送單位的L位部分并行傳送給內(nèi)部總線;以及輸出緩存電路,其包含有分別保持從上述內(nèi)部總線被輸入的上述L位的各個(gè)位的L個(gè)FIFO緩存,與外部時(shí)鐘同步,從上述L個(gè)FIFO緩存的各個(gè)中按照輸入順序取出保持?jǐn)?shù)據(jù),并行傳送到外部;上述L個(gè)FIFO緩存的每一,分別具有將依次輸入的M位的數(shù)據(jù)鎖存起來(lái)的M位鎖存電路,與將依次輸入的N(N>M)位的數(shù)據(jù)鎖存起來(lái)的N位鎖存電路,能夠有選擇地切換上述M位鎖存電路的路徑與上述N位電路的路徑。
本發(fā)明的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置,一旦發(fā)出讀命令,便將從存儲(chǔ)器陣列預(yù)取的數(shù)據(jù)的L位部分,經(jīng)內(nèi)部總線并行傳送給輸出緩存電路,經(jīng)M位鎖存電路或N位鎖存電路中的任一個(gè)串行傳送給外部。由于經(jīng)由內(nèi)部總線的L位的并行傳送,變?yōu)橄蛲獠康拿?位的串行傳送,因此與外部的傳送速度相比,內(nèi)部總線的傳送速度只需要是其L分之1。這種情況下,取得傳送數(shù)據(jù)的輸出緩存電路中,由于能夠?qū)?yīng)于動(dòng)作條件切換M位鎖存電路或N位鎖存電路,因此在使用電路規(guī)模較小的M位鎖存電路的情況下,能夠降低伴隨著成組讀動(dòng)作的消耗電流,在使用能夠保持更多位的N位鎖存電路的情況下,能夠可靠地防止因訪問(wèn)時(shí)間的變動(dòng)等所引起的誤動(dòng)作。
本發(fā)明中,可以讓上述M為1,上述M位鎖存電路是依次鎖存被輸入的1位的數(shù)據(jù)的1位鎖存數(shù)據(jù)。
本發(fā)明中,還可以具有根據(jù)對(duì)應(yīng)上述讀命令的訪問(wèn)時(shí)間,生成2值的判定信號(hào)的判定電路;上述輸出緩存電路,對(duì)應(yīng)于上述判定信號(hào),切換上述1位鎖存電路的路徑與上述N位鎖存電路的路徑。
本發(fā)明中,還可以讓上述判定信號(hào)表示上述訪問(wèn)時(shí)間與給定的設(shè)定值之間的大小關(guān)系,上述輸出緩存電路,對(duì)應(yīng)于上述判定信號(hào),在上述訪問(wèn)時(shí)間沒(méi)達(dá)到上述設(shè)定值時(shí),切換到上述M位鎖存電路的路徑,在上述訪問(wèn)時(shí)間超過(guò)了上述設(shè)定值時(shí),切換到上述N位鎖存電路的路徑。
通過(guò)該構(gòu)成,在使用高速時(shí)鐘,訪問(wèn)時(shí)間縮短時(shí),切換到電路規(guī)模較小的M位鎖存電路的路徑,能夠?qū)崿F(xiàn)消耗電流的降低,在使用低速時(shí)鐘,訪問(wèn)時(shí)間延長(zhǎng)時(shí),切換到能夠保持相對(duì)多的數(shù)據(jù)的N位鎖存電路的路徑,能夠?qū)崿F(xiàn)誤動(dòng)作的防止。
本發(fā)明中,可以讓上述訪問(wèn)時(shí)間,被規(guī)定為上述外部時(shí)鐘的周期與CAS等待時(shí)間相乘所得到的時(shí)間。
本發(fā)明中,可以讓上述判定電路,根據(jù)發(fā)出了模式(mode)寄存器的設(shè)定命令后的最初的讀命令所對(duì)應(yīng)的上述訪問(wèn)時(shí)間,生成上述判定信號(hào)。
本發(fā)明中,可以讓上述傳送控制電路,預(yù)取與連續(xù)的給定地址數(shù)相對(duì)應(yīng)的上述給定位數(shù)的數(shù)據(jù),作為成組讀動(dòng)作的對(duì)象。
本發(fā)明中,可以讓上述傳送控制電路,預(yù)取對(duì)應(yīng)于連續(xù)的2L地址的2L位的數(shù)據(jù),將該2L位分成兩份,并將上述L位部分并行傳送給上述內(nèi)部總線。
本發(fā)明中,可以讓上述L為4,包含有上述4個(gè)FIFO緩存構(gòu)成上述輸出緩存電路。
本發(fā)明中,可以讓上述N為6,上述N位鎖存電路是依次鎖存被輸入的6位的數(shù)據(jù)的6位鎖存數(shù)據(jù)。
本發(fā)明中,可以讓上述輸出緩存電路,與上述外部時(shí)鐘的上升沿與下降沿同步,進(jìn)行上述串行傳送。
本發(fā)明中,可以具有設(shè)有P位的I/O數(shù)的構(gòu)成,并列配置有P個(gè)上述傳送控制電路以及P個(gè)上述輸出緩存電路。
通過(guò)如上所述的本發(fā)明,實(shí)現(xiàn)了將從存儲(chǔ)器陣列預(yù)取的數(shù)據(jù)的L位部分并行傳送給內(nèi)部總線,該數(shù)據(jù)的各個(gè)位分別保持在各個(gè)FIFO緩存中,按照輸入順序取出,串行傳送到外部,各個(gè)FIFO緩存有選擇地切換N位或M位鎖存電路的路徑的構(gòu)成。因此,在對(duì)應(yīng)于半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置的動(dòng)作條件,選擇電路規(guī)模較小的M位鎖存電路的路徑的情況下,能夠降低消耗電流,在選擇保持?jǐn)?shù)據(jù)的大小較大的N位鎖存電路的路徑的情況下,能夠確保動(dòng)作余裕(margin),防止誤動(dòng)作。另外,通過(guò)生成根據(jù)訪問(wèn)時(shí)間的判定信號(hào),能夠自動(dòng)切換M位鎖存電路的路徑與N位鎖存電路的路徑,實(shí)現(xiàn)最佳的成組讀動(dòng)作。


圖1為表示本實(shí)施方式的DRAM的概要構(gòu)成的框圖。
圖2為表示對(duì)應(yīng)傳送數(shù)據(jù)的傳送路徑的要部結(jié)構(gòu)的框圖。
圖3為表示輸出緩存電路的FIFO緩存30的具體電路結(jié)構(gòu)的圖。
圖4為表示6位鎖存電路的各級(jí)鎖存電路的電路結(jié)構(gòu)的圖。
圖5為表示輸出緩存電路的FIFO緩存31的具體電路結(jié)構(gòu)的圖。
圖6為表示輸出緩存電路的FIFO緩存32的具體電路結(jié)構(gòu)的圖。
圖7為表示輸出緩存電路的FIFO緩存33的具體電路結(jié)構(gòu)的圖。
圖8為表示在輸出緩存電路中設(shè)定1位鎖存電路的路徑的情況下的動(dòng)作波形圖。
圖9為表示在輸出緩存電路中設(shè)定6位鎖存電路的路徑的情況下的動(dòng)作波形圖。
圖10為表示tAA判定電路的具體電路結(jié)構(gòu)的圖。
圖11為使用高速的時(shí)鐘的情況下的tAA判定電路的動(dòng)作波形圖。
圖12為使低速的時(shí)鐘的情況下的tAA判定電路的動(dòng)作波形圖。
具體實(shí)施例方式
下面對(duì)照附圖對(duì)本發(fā)明的實(shí)施方式進(jìn)行具體說(shuō)明。本實(shí)施方式中,對(duì)作為半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置的DRAM使用本發(fā)明的情況進(jìn)行說(shuō)明。特別是在DRAM中,對(duì)與外部時(shí)鐘的上升沿及下降沿同步進(jìn)行動(dòng)作的DDR方式的SDRAM使用本發(fā)明,特別有效。
圖1為表示本實(shí)施方式的DRAM的概要結(jié)構(gòu)的框圖。圖1所示的DRAM具有存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器陣列10、其周邊的行解碼器11、讀出放大部12、列解碼器13、保持地址的行地址緩存14以及列地址緩存15、控制DRAM全體的動(dòng)作的控制電路16、傳送在存儲(chǔ)器陣列10與外部之間輸入輸出的數(shù)據(jù)的輸入緩存電路17以及輸出緩存電路18。另外,實(shí)際上本實(shí)施方式的DRAM還包含有很多其他構(gòu)成要素,但圖1中只示出了與本發(fā)明的功能相關(guān)聯(lián)的構(gòu)成要素。
圖1中,存儲(chǔ)器陣列10,由形成在矩陣狀設(shè)置的多根字線與多根位線的交叉部中的多個(gè)存儲(chǔ)器單元構(gòu)成。讀/寫(xiě)動(dòng)作時(shí)所訪問(wèn)的存儲(chǔ)器單元,對(duì)應(yīng)于通過(guò)行解碼器11所選擇的字線與通過(guò)列解碼器13所選擇的位線來(lái)設(shè)定。行地址緩存14中保持對(duì)應(yīng)行解碼器11所選擇的字線的行地址,同時(shí),列地址緩存15中保持對(duì)應(yīng)列解碼器13所選擇的位線的列地址。該行地址緩存14與列地址緩存15各自保持的地址,能夠由外部輸入的地址信號(hào)來(lái)設(shè)定。
控制電路16對(duì)應(yīng)于被輸入的外部命令,向DRAM各部發(fā)送給定的控制信號(hào),控制各個(gè)的動(dòng)作。輸入給控制電路16的外部命令,根據(jù)/RAS信號(hào)、/CAS信號(hào)、/WE信號(hào)、/CS信號(hào)的各個(gè)組合模式來(lái)規(guī)定,通過(guò)控制電路16的命令解碼器(未圖示)判斷外部命令的種類(lèi)。另外,控制電路16中被加載了以給定頻率互相反轉(zhuǎn)了相位的時(shí)鐘CLK、/CLK作為外部時(shí)鐘,被控制為與時(shí)鐘CLK、/CLK的上升沿或下降沿同步進(jìn)行動(dòng)作。另外,控制信號(hào)CKE為切換時(shí)鐘CLK、/CLK的有效、無(wú)效的信號(hào)。
如果輸入寫(xiě)命令作為外部命令,便將經(jīng)DQ端子從外部輸入的數(shù)據(jù)依次保持在輸入緩存電路17中,以給定的時(shí)序?qū)懭氲酱鎯?chǔ)陣列10中。另外,如果輸入了讀命令作為外部命令,便由讀出放大部12讀出保持在存儲(chǔ)器陣列10中的數(shù)據(jù)并放大之后,傳送給輸出緩存電路18并依次鎖存,在給定的時(shí)刻經(jīng)DQ端子傳送給外部。另外,雖然圖1中未顯示,但輸入緩存電路17以及輸出緩存電路18與存儲(chǔ)器陣列10之間,設(shè)有傳送動(dòng)作所需要的各種電路以及內(nèi)部總線。
接下來(lái),對(duì)經(jīng)由存儲(chǔ)器陣列10、輸出緩存電路18、DQ端子傳送給外部的數(shù)據(jù)的傳送動(dòng)作與電路結(jié)構(gòu)進(jìn)行說(shuō)明。圖2為表示對(duì)應(yīng)讀對(duì)象數(shù)據(jù)的傳送路徑的要部結(jié)構(gòu)的框圖。本實(shí)施方式中,采用在對(duì)存儲(chǔ)器陣列10的成組讀動(dòng)作時(shí),將對(duì)應(yīng)連續(xù)的多個(gè)地址數(shù)的多個(gè)位的數(shù)據(jù)預(yù)取出來(lái)并并行傳送給輸出緩存18,通過(guò)這樣,能夠?qū)?yīng)外部的高速傳送速度來(lái)降低內(nèi)部的傳送速度的構(gòu)成。
圖2中,通過(guò)從列解碼器13所輸出的8個(gè)選擇信號(hào)YS(YS0~YS7),選擇讀出放大部12中含有的連續(xù)的8個(gè)讀出放大器SA。從存儲(chǔ)器陣列10的8個(gè)存儲(chǔ)器單元所讀出的8位的數(shù)據(jù),經(jīng)相補(bǔ)位線對(duì),由8個(gè)讀出放大器SA同時(shí)放大。這樣,本實(shí)施方式中采用8位預(yù)取,將連續(xù)的8地址的8位的數(shù)據(jù)作為對(duì)象,進(jìn)行傳送動(dòng)作。
從8個(gè)讀出放大器SA所輸出的8位的數(shù)據(jù),被分別與其相連接的8個(gè)數(shù)據(jù)放大器20a、20b放大之后,輸入給選擇器21。選擇器21中,將前半的4個(gè)數(shù)據(jù)放大器20a的輸出輸出給4個(gè)緩存22,同時(shí)將后半的4個(gè)數(shù)據(jù)放大器20b的輸出輸出給延遲部23。通過(guò)這樣,交互選擇經(jīng)由數(shù)據(jù)放大器20a的4位的數(shù)據(jù),與經(jīng)由數(shù)據(jù)放大器20b的4位的數(shù)據(jù),從而將每4位數(shù)據(jù)以不同的時(shí)序經(jīng)緩存22發(fā)送給讀寫(xiě)總線RWB。也即,讀寫(xiě)總線RWB中,將預(yù)取的8位分成兩份,經(jīng)讀寫(xiě)總線RWB并行傳送4位。因此,讀寫(xiě)總線RWB的傳送動(dòng)作,由為外部的傳送速度的4分之1的內(nèi)部時(shí)鐘進(jìn)行控制。如上所述,DRAM中用來(lái)在讀寫(xiě)總線RWB中并行傳送數(shù)據(jù)的圖2的結(jié)構(gòu),起到本發(fā)明的傳送控制機(jī)構(gòu)的作用。另外,讀寫(xiě)總線RWB,共用作讀出時(shí)與寫(xiě)入時(shí)的數(shù)據(jù)的傳送路徑,但本實(shí)施方式中只對(duì)讀取時(shí)的數(shù)據(jù)的傳送動(dòng)作進(jìn)行說(shuō)明。
經(jīng)讀寫(xiě)總線RWB并行傳送的4位的數(shù)據(jù),獲取到輸出緩存電路18中。如圖2所示,輸出緩存電路18由4個(gè)FIFO緩存30、31、32、33、選擇器34、緩存35構(gòu)成。4個(gè)FIFO緩存30~33,是輸入經(jīng)由讀寫(xiě)總線RWB并行傳送的4位的各個(gè)位,保持給定時(shí)間之后,按照輸入順序依次取出的電路。如后所述,F(xiàn)IFO緩存30~33,能夠選擇切換1位鎖存電路或6位鎖存電路中的任一個(gè)。關(guān)于各個(gè)FIFO緩存30~33的具體構(gòu)成及動(dòng)作將在后面說(shuō)明。輸出緩存電路18與確定傳送時(shí)序的時(shí)鐘LCLK的上升沿以及下降沿同步,一位位將傳送數(shù)據(jù)傳送到外部。另外,時(shí)鐘LCKL具有與外部時(shí)鐘CLK相同的頻率。
輸出緩存電路18,被tAA判定電路19供給判定信號(hào)DET。該tAA判定電路19判定對(duì)讀取對(duì)象數(shù)據(jù)的訪問(wèn)時(shí)間tAA,生成表示訪問(wèn)時(shí)間tAA是否超過(guò)了給定時(shí)間的2值的判定信號(hào)DET。訪問(wèn)時(shí)間tAA用來(lái)規(guī)定從指定地址的讀命令發(fā)出開(kāi)始,到該地址的開(kāi)頭數(shù)據(jù)被傳送到外部的時(shí)間,通常換算成時(shí)鐘CLK的周期數(shù)來(lái)表示。輸出緩存電路18中,具有上述各個(gè)FIFO緩存30~33對(duì)應(yīng)于判定信號(hào)DET切換1位鎖存電路與6位鎖存電路的結(jié)構(gòu)。關(guān)于tAA判定電路18的具體構(gòu)成及動(dòng)作,將在后面說(shuō)明。
接下來(lái),對(duì)照?qǐng)D3與圖4,對(duì)FIFO緩存30的具體電路結(jié)構(gòu)進(jìn)行說(shuō)明。如圖3所示,F(xiàn)IFO緩存30大體上包括1位鎖存電路40、6位鎖存電路41、以及選擇器42。1位鎖存電路40將對(duì)經(jīng)由讀寫(xiě)總線RWB的輸入數(shù)據(jù)Din的1次傳送動(dòng)作的1位鎖存起來(lái),以給定的時(shí)序輸出。另外,6位鎖存電路41,將對(duì)同樣的輸入數(shù)據(jù)Din的6次傳送動(dòng)作的總計(jì)6位鎖存起來(lái),并按照鎖存的順序以給定的時(shí)序輸出。選擇器42對(duì)應(yīng)于tAA判定電路18的判定信號(hào)DET,選擇切換1位鎖存電路40與6位鎖存電路41中的任一個(gè)路徑,輸出一體的輸出信號(hào)Dout。
1位鎖存電路40由兩個(gè)反相器(inverter)所構(gòu)成的輸入側(cè)開(kāi)關(guān)部101,以及兩個(gè)反相器的輸入輸出互相連接的寄存部102構(gòu)成。開(kāi)關(guān)部101中被加載控制信號(hào)CLK0,進(jìn)行控制,在控制信號(hào)CLK0為高電平時(shí),讓輸入數(shù)據(jù)Din通過(guò),在控制信號(hào)CLK0為低電平時(shí),將輸入數(shù)據(jù)Din截止。該控制信號(hào)CLK0,是在發(fā)出讀寫(xiě)命令后的給定時(shí)刻起動(dòng),每?jī)蓚€(gè)周期輸出的脈沖。寄存部102保持通過(guò)了開(kāi)關(guān)部101的1位的輸入數(shù)據(jù)Din,之后在開(kāi)關(guān)部101斷開(kāi)的情況下,也能夠穩(wěn)定地繼續(xù)保存高電平或低電平的保持?jǐn)?shù)據(jù)DLa。
6位鎖存電路41通過(guò)6級(jí)的鎖存電路50~55連接而成。圖4為表示各級(jí)鎖存電路50~55的電路結(jié)構(gòu)的圖。如圖4所示,鎖存電路50~55分別由輸入側(cè)開(kāi)關(guān)部201、寄存部202、以及輸出側(cè)開(kāi)關(guān)部203構(gòu)成。開(kāi)關(guān)部201、203與上述開(kāi)關(guān)部101具有同樣的電路結(jié)構(gòu),寄存部202具有與上述寄存部102同樣的電路結(jié)構(gòu)。輸入數(shù)據(jù)Din經(jīng)由開(kāi)關(guān)部101與反相器108,輸入給各級(jí)的輸入側(cè)開(kāi)關(guān)部201。另外,各級(jí)的輸出側(cè)開(kāi)關(guān)部203與選擇器42一體連接。
按照6級(jí)的鎖存電路50~55的順序,將選擇信號(hào)SELa<0>~SELa<5>加載給輸入側(cè)的各個(gè)開(kāi)關(guān)部201,并且將選擇信號(hào)SELb<0>~SELb<5>加載給輸出側(cè)的各個(gè)開(kāi)關(guān)部203。例如,第一級(jí)的鎖存電路50中的輸入輸出側(cè)的開(kāi)關(guān)部201、203,在選擇信號(hào)SELa<0>、SELb<0>為高電平時(shí)變?yōu)閷?dǎo)通狀態(tài),另外,在選擇信號(hào)SELa<0>、SELb<0>為低電平時(shí)變?yōu)榻刂範(fàn)顟B(tài)。第2級(jí)以后的鎖存電路50~55,也按照同樣的控制切換導(dǎo)通狀態(tài)或截止?fàn)顟B(tài)。
6級(jí)的鎖存電路50~55的各個(gè)寄存部202中,穩(wěn)定地保持通過(guò)了各個(gè)開(kāi)關(guān)部201的1位的保持?jǐn)?shù)據(jù)DLb<0>~DLb<5>。這種情況下,對(duì)應(yīng)于輸入數(shù)據(jù)Din的取得時(shí)序,依次將選擇信號(hào)SELa<0>~SELa<5>在不同的時(shí)刻設(shè)為高電平,通過(guò)這樣能夠?qū)?次的傳送動(dòng)作的6位數(shù)據(jù)鎖存在各個(gè)鎖存電路50~55中。同樣,通過(guò)依次將選擇信號(hào)SELb<0>~SELb<5>在不同的時(shí)刻設(shè)為高電平,能夠?qū)⑸鲜?位數(shù)據(jù)以鎖存的時(shí)序從鎖存電路50~55輸出。
圖3中,選擇器42由兩個(gè)開(kāi)關(guān)部103、104構(gòu)成。一方的開(kāi)關(guān)部103對(duì)應(yīng)于從NAND電路105所輸出的控制信號(hào)進(jìn)行切換,讓1位鎖存電路40的輸出信號(hào)通過(guò)或截止。另一方的開(kāi)關(guān)部104對(duì)應(yīng)于從NAND電路106所輸出的控制信號(hào)進(jìn)行切換,讓6位鎖存電路41的輸出信號(hào)通過(guò)或截止。從選擇器42有選擇地輸出經(jīng)由開(kāi)關(guān)部103的數(shù)據(jù),與經(jīng)由開(kāi)關(guān)部104的數(shù)據(jù),兩者作為輸出數(shù)據(jù)Dout發(fā)送到外部。
NAND電路105中,一端被輸入判定信號(hào)DET,另一端被輸入控制信號(hào)CLK0R。NAND電路106中,一端經(jīng)由反相器107被輸入判定信號(hào)DET的反相信號(hào),另一端被輸入控制信號(hào)CLK0R。該控制信號(hào)CLK0R是與來(lái)自輸出緩存電路19的傳送時(shí)序聯(lián)動(dòng)的脈沖,此后每2周期進(jìn)行輸出的脈沖。這里,開(kāi)關(guān)部103與開(kāi)關(guān)部104,相對(duì)判定信號(hào)DET呈反邏輯。也即,在控制信號(hào)CLK0R的低電平期間,判定信號(hào)DET為低電平時(shí)開(kāi)關(guān)部103為截止?fàn)顟B(tài),而開(kāi)關(guān)部104為導(dǎo)通狀態(tài),判定信號(hào)DET為高電平時(shí),開(kāi)關(guān)部103為導(dǎo)通狀態(tài),而開(kāi)關(guān)部104為截止?fàn)顟B(tài)。這樣,F(xiàn)IFO緩存30中,通過(guò)選擇器42的控制,在判定信號(hào)DET為高電平的情況下,選擇1位鎖存電路40的路徑,在判定信號(hào)DET為低電平的情況下,選擇6位鎖存電路41的路徑。
接下來(lái),對(duì)照?qǐng)D5~圖7,對(duì)其他三個(gè)FIFO緩存31、32、33的具體電路結(jié)構(gòu)進(jìn)行說(shuō)明。FIFO緩存31~33的電路結(jié)構(gòu),與圖3的FIFO緩存30大體上相同。因此,給圖5~圖7的各個(gè)電路結(jié)構(gòu)中,與圖3的FIFO緩存相同的構(gòu)成要素標(biāo)注相同的符號(hào),省略其說(shuō)明。另外,如圖5~圖7所示,選擇器42的輸出側(cè),F(xiàn)IFO緩存31中設(shè)有輸出側(cè)電路61,F(xiàn)IFO緩存32中設(shè)有輸出側(cè)電路62,F(xiàn)IFO緩存33中設(shè)有輸出側(cè)電路63。
各個(gè)FIFO緩存31~33的輸出側(cè)電路61~63,均由寄存部301、開(kāi)關(guān)部302、以及反相器303構(gòu)成。并且,經(jīng)反相器303給開(kāi)關(guān)部302分別加載不同的控制信號(hào)。也即,圖5的輸出側(cè)電路61中加載控制信號(hào)CLK1F,圖6的輸出側(cè)電路62中加載控制信號(hào)CLK2R,圖7的輸出側(cè)電路63中加載控制信號(hào)CLK3F。
各個(gè)輸出側(cè)電路61~63中,從選擇器42所輸出的信號(hào)被輸入給寄存部301,穩(wěn)定地保持低電平或高電平的1位數(shù)據(jù)。并且,開(kāi)關(guān)部302在對(duì)應(yīng)的控制信號(hào)CLK1F、CLK2R、CLK3F為高電平時(shí)變?yōu)閷?dǎo)通狀態(tài),低電平時(shí)變?yōu)榻刂範(fàn)顟B(tài)。因此,通過(guò)適當(dāng)控制各個(gè)控制信號(hào)CLK1F、CLK2R、CLK3F變?yōu)楦唠娖降臅r(shí)序,就能夠?qū)?lái)自4個(gè)FIFO緩存30~33的輸出信號(hào)Dout調(diào)整為分別稍有不同的時(shí)序。
例如,能夠讓FIFO緩存30、32與時(shí)鐘LCLK的上升沿同步,F(xiàn)IFO緩存31、33與時(shí)鐘LCLK的下降沿同步。這種情況下,在相當(dāng)于時(shí)鐘CLK的2周期的期間內(nèi),能夠讓4個(gè)FIFO緩存30~33的各個(gè)輸出Dout循環(huán)一周。另外,關(guān)于各個(gè)FIFO緩存30~33的動(dòng)作時(shí)的動(dòng)作波形,將在后面說(shuō)明。
接下來(lái)回到圖2,F(xiàn)IFO緩存30~33的各個(gè)輸出信號(hào)Dout,輸入給選擇器34。選擇器34中,根據(jù)與時(shí)鐘CLK的同步關(guān)系,切換控制一體化的FIFO緩存30、32的輸出信號(hào)Dout,與一體化的FIFO緩存31、33的輸出信號(hào)Dout。另外,從選擇器34所輸出的信號(hào),經(jīng)緩存35串行傳送,從DQ端子傳送到外部。
另外,圖2的要部構(gòu)成中,只示出了1系統(tǒng)的傳送路徑以及1個(gè)輸出緩存電路18,但需要對(duì)應(yīng)于DRAM的位結(jié)構(gòu)的多個(gè)傳送路徑與多個(gè)輸出緩存電路18。例如,如果以I/O數(shù)為16位的結(jié)構(gòu)為前提,則圖2的要部構(gòu)成中,需要設(shè)置16系統(tǒng)的傳送路徑與16個(gè)輸出緩存電路18。如果著眼于6位鎖存電路41,則由于1個(gè)輸出緩存電路18中保持有6×4=24位的數(shù)據(jù),因此16位(I/O數(shù))構(gòu)成中全部保持有24×16=384位數(shù)據(jù)。另外,并不僅限于16位(I/O數(shù))構(gòu)成,還可以對(duì)I/O數(shù)為P位的構(gòu)成的DRAM,設(shè)置P個(gè)輸出緩存18,使用本發(fā)明。
本實(shí)施方式中,如前所述,輸出緩存電路18的動(dòng)作模式,具有將傳送數(shù)據(jù)的路徑切換到1位鎖存電路40側(cè)的動(dòng)作模式,與切換到6位鎖存電路41側(cè)的動(dòng)作模式。動(dòng)作模式的切換,在tAA判定電路19中對(duì)應(yīng)于訪問(wèn)時(shí)間tAA與給定的設(shè)定值的大小關(guān)系來(lái)控制,在訪問(wèn)時(shí)間tAA沒(méi)達(dá)到給定的設(shè)定時(shí)間時(shí),設(shè)定1位鎖存電路40的路徑,在訪問(wèn)時(shí)間tAA超過(guò)了給定的設(shè)定時(shí)間時(shí),設(shè)定6位鎖存電路41的路徑。
例如,在給時(shí)鐘CLK的周期乘以CAS等待時(shí)間,規(guī)定訪問(wèn)時(shí)間tAA的情況下,對(duì)于高速的時(shí)鐘CLK,訪問(wèn)時(shí)間tAA變短,對(duì)于低速的時(shí)鐘CLK,訪問(wèn)時(shí)間tAA變長(zhǎng)。以下,對(duì)使用高速的時(shí)鐘CLK設(shè)定1位鎖存電路40的路徑情況,與使用低速的時(shí)鐘CLK設(shè)定6位鎖存電路41的路徑的情況的動(dòng)作的不同進(jìn)行說(shuō)明。
圖8中,示出了使用周期1.25ns的高速的時(shí)鐘CLK,在輸出緩存電路18中設(shè)定1位鎖存電路40的路徑的情況下的動(dòng)作波形圖。給時(shí)鐘CLK的各個(gè)周期標(biāo)注編號(hào)0~15,表示周期數(shù)的推移。以在周期0發(fā)出讀命令RD作為外部命令,此后每4周期依次發(fā)出讀命令的成組讀動(dòng)作為前提。如圖8所示,對(duì)應(yīng)于各個(gè)讀命令RD,其兩個(gè)周期后輸出對(duì)應(yīng)于解碼結(jié)果的命令信號(hào)MR的脈沖。進(jìn)而,從命令信號(hào)MR開(kāi)始經(jīng)過(guò)了給定時(shí)間后,選擇指定地址的位線的選擇信號(hào)YS上升。通過(guò)這樣,選擇作為讀出對(duì)象的連續(xù)的8地址的位線,對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)單元的數(shù)據(jù)被8個(gè)讀出放大器SA放大。
接下來(lái),8位的數(shù)據(jù)發(fā)送給數(shù)據(jù)放大器20a、20b,其輸出信號(hào)DA在周期7輸出。之后,經(jīng)過(guò)選擇器21、緩存22、延遲部23被分為4位,前4位數(shù)據(jù)在周期8被傳送給讀寫(xiě)總線RWB。另外,后4位數(shù)據(jù)在周期10被傳送給讀寫(xiě)總線RWB。
另外,圖8中將各4位的數(shù)據(jù)表示為0123、4567。此后也對(duì)應(yīng)于后繼的讀命令RD,將每4位的數(shù)據(jù)表示為89AB、CDEF。
傳送開(kāi)頭的數(shù)據(jù)0123的時(shí)序之后,控制信號(hào)CLK0的脈沖上升。通過(guò)這樣,數(shù)據(jù)0123的各個(gè)位分配給FIFO緩存30~33,分別通過(guò)1位鎖存電路40的開(kāi)關(guān)部101。這里,控制信號(hào)CLK0的脈沖時(shí)序,依賴(lài)于DRAM核心的動(dòng)作速度設(shè)定。另外,由于判定信號(hào)DET為高電平,因此1位鎖存電路40中將各個(gè)1位數(shù)據(jù)作為保持?jǐn)?shù)據(jù)DLa(數(shù)據(jù)0123的各位)鎖存起來(lái)。此時(shí),圖8中示出了在時(shí)序T0中開(kāi)頭的數(shù)據(jù)0123被鎖存的狀態(tài)。
這里,對(duì)4個(gè)FIFO緩存30~33所加載的4個(gè)控制信號(hào)CLK0R、CLK1F、CLK2R、CLK3F,其時(shí)序依次每次錯(cuò)開(kāi)時(shí)鐘CLK的半周期。也即,時(shí)序T1中最初的時(shí)鐘CLK0R的脈沖上升之后,半周期后時(shí)鐘CLK1F的脈沖上升,1周期后時(shí)鐘CLK2R的脈沖上升,1.5周期后時(shí)鐘CLK3F的脈沖上升。這樣,4位數(shù)據(jù)0123的各個(gè)位,按照FIFO緩存30、31、32、33的順序,以上述時(shí)序輸出。
對(duì)后繼的4位數(shù)據(jù)4567也通過(guò)同樣的時(shí)序進(jìn)行控制,因此傳送對(duì)象的8位數(shù)據(jù)01234567,與時(shí)鐘CLK的上升/下降沿同步,從DQ端子串行傳送。進(jìn)而對(duì)后繼的讀命令RD也重復(fù)同樣的控制,通過(guò)這樣,能夠在成組讀完成之前,重復(fù)給定位數(shù)的數(shù)據(jù),從DQ端子串行傳送。
圖8中可以得知,從周期0中發(fā)出最初的讀命令RD之后,到在周期10中從DQ端子輸出開(kāi)頭的位0之間,需要10周期的訪問(wèn)時(shí)間tAA。這種情況下,計(jì)算出tAA=10×1.25ns=12.5ns。這樣,在訪問(wèn)時(shí)間tAA到來(lái)的時(shí)序中,只將數(shù)據(jù)0123傳送給輸出緩存18,后繼的數(shù)據(jù)4567的傳送沒(méi)有開(kāi)始。也即,由于對(duì)訪問(wèn)時(shí)間tAA,將到控制信號(hào)CLK0的第2次上升沿的時(shí)間設(shè)定地較晚,因此確保了從控制信號(hào)CLK0R的下降沿到控制信號(hào)CLK0的上升沿之間的時(shí)間tm。這里,時(shí)間tm是1位鎖存電路40的動(dòng)作余裕(margin)。這樣的情況下,由于各個(gè)FIFO緩存30~33中保持1位就可以,因此設(shè)定1位鎖存電路40的路徑。
接下來(lái),圖9中示出了將上述的時(shí)鐘CLK低速化,使用2倍的周期2.5ns的時(shí)鐘CLK,在輸出緩存電路18中設(shè)定6位鎖存電路41的路徑的情況下的動(dòng)作波形圖。圖9中,由于通過(guò)與圖8相同的寬度表示時(shí)鐘CLK的各個(gè)周期,因此實(shí)際的時(shí)間軸為圖8的兩倍。這種情況下,基于最初的讀命令RD,與此后的每4周期依次發(fā)出讀命令RD的成組讀的動(dòng)作,也與圖8一樣。
如圖9所示,輸出列解碼器13的選擇信號(hào)YS、數(shù)據(jù)放大器20a、20b的輸出信號(hào)DA的時(shí)序,以及讀寫(xiě)總線RWB中的最初的4位的傳送時(shí)序,需要與圖8相同程度的時(shí)間,但周期數(shù)減半。從圖9可以得知,第2個(gè)讀命令RD的發(fā)出時(shí)刻,經(jīng)過(guò)了讀寫(xiě)總線RWB的最初的數(shù)據(jù)0123向輸出緩存電路18的傳送動(dòng)作尚未完成。另外,計(jì)算出訪問(wèn)時(shí)間tAA為tAA=10×2.5ns=25ns,但與圖8不同,在訪問(wèn)時(shí)間tAA的到達(dá)時(shí)刻之前,至少先行了控制信號(hào)CLK0的4次上升沿。這種情況下,如果各個(gè)FIFO緩存30~33中保持1位數(shù)據(jù),就會(huì)來(lái)不及,因此設(shè)定6位鎖存電路41的路徑。
圖9中,控制信號(hào)CLK0R,與4位數(shù)據(jù)的傳送時(shí)序同步上升,各個(gè)位分配給FIFO緩存30~33。各個(gè)FIFO緩存30~33的6位鎖存電路41中,控制為讓6級(jí)鎖存電路50~55依次變?yōu)閷?dǎo)通狀態(tài)。因此,輸入側(cè)的選擇信號(hào)SELa<0:5>每2周期進(jìn)行切換,依次變?yōu)楦唠娖健?br> 4個(gè)FIFO緩存30~33中,將開(kāi)頭的數(shù)據(jù)0123的各個(gè)位作為第一級(jí)的各個(gè)鎖存電路50的保持?jǐn)?shù)據(jù)DLb<0>鎖存起來(lái)之后,過(guò)兩個(gè)周期,將第2個(gè)數(shù)據(jù)4567的各個(gè)位作為第2級(jí)的各個(gè)鎖存電路51的保持?jǐn)?shù)據(jù)DLb<1>鎖存起來(lái),之后也一樣,每隔兩個(gè)周期將各個(gè)數(shù)據(jù)依次鎖存到鎖存電路50~55中。
周期9之后,輸出控制信號(hào)CLK0R與輸出側(cè)的選擇信號(hào)SELb<0:5>。這種情況下也一樣,每?jī)芍芷谇袚Q選擇信號(hào)SELb<0:5>,4個(gè)FIFO緩存30~33中,按照鎖存順序輸出各個(gè)鎖存電路50~55的保持?jǐn)?shù)據(jù)DLb<0>~DLb<5>。各個(gè)4位數(shù)據(jù)經(jīng)FIFO緩存器30~33的選擇器42,作為輸出數(shù)據(jù)Dout輸出。對(duì)各個(gè)讀命令RD也重復(fù)同樣的控制,通過(guò)這樣,傳送對(duì)象數(shù)據(jù)與時(shí)鐘CLK的上升/下降沿同步,從DQ端子串行傳送到外部。
接下來(lái),對(duì)tAA判定電路19的構(gòu)成與動(dòng)作,以及作為判定信號(hào)DET的比較基準(zhǔn)的設(shè)定值的條件進(jìn)行說(shuō)明。圖10中示出了tAA判定電路19的具體電路結(jié)構(gòu)。圖10所示的tAA電路19,包含有RS鎖存器401、402、開(kāi)關(guān)部403、404、NOR電路405、406、NAND電路407、408、反相器409、410、411、以及延遲部412。
兩個(gè)RS鎖存器401、402,對(duì)應(yīng)于被輸入后述的MRST信號(hào)以及RESET信號(hào)的OR電路406的輸出被復(fù)位。因此,如果MRST信號(hào)或RESET信號(hào)變?yōu)楦唠娖剑琑S鎖存器401、402就被復(fù)位。RS鎖存器401,對(duì)應(yīng)于被輸入控制信號(hào)CLKR以及經(jīng)延遲部412與反相器401輸入該控制信號(hào)CLKR的OR電路405的輸出而被復(fù)位。因此,從OR電路405輸出在控制信號(hào)CLKR的脈沖的下降沿變?yōu)榈碗娖降拿}沖,通過(guò)這樣來(lái)復(fù)位RS鎖存器401。
另外,能夠?qū)?yīng)于延遲部412的延遲時(shí)間,調(diào)整RS鎖存器401的設(shè)置電平的寬度。RS鎖存器402,對(duì)應(yīng)于經(jīng)反相器410所輸入的控制信號(hào)CLK0被設(shè)置。因此,在輸出控制信號(hào)CLK0的脈沖時(shí),RS鎖存器402被設(shè)置。
3個(gè)反相器所構(gòu)成的前級(jí)的開(kāi)關(guān)部403,在RS鎖存器401所輸出的鎖存信號(hào)CLKRd為低電平時(shí),讓RS鎖存器402所輸出的鎖存信號(hào)CLK0D通過(guò)。另外,在鎖存信號(hào)CLKRd為高電平時(shí),開(kāi)關(guān)部403中將鎖存信號(hào)CLK0d截止,通過(guò)NOR電路407的輸入輸出的連接,穩(wěn)定地保持之前的通過(guò)時(shí)的狀態(tài)。
另外,3個(gè)反相器所構(gòu)成的后級(jí)的開(kāi)關(guān)部404,在RS鎖存器401所輸出的鎖存信號(hào)CLKRd為高電平時(shí),讓上述NOR電路407的輸出通過(guò)。另外,在鎖存信號(hào)CLKRd為低電平時(shí),開(kāi)關(guān)部404中將NOR電路407的輸出截止,通過(guò)后級(jí)的NOR電路408的輸入輸出的連接,穩(wěn)定地保持之前的通過(guò)時(shí)的狀態(tài)。NOR電路408的輸出,通過(guò)反相器411作為判定信號(hào)DET輸出。
以下,對(duì)使用高速的時(shí)鐘CLK設(shè)定1位鎖存電路40的路徑的情況,與使用低速的時(shí)鐘CLK設(shè)定6位鎖存電路41的路徑的情況下,各個(gè)tAA判定電路19的動(dòng)作的不同進(jìn)行說(shuō)明。
首先,圖11中與圖8一樣,示出了使用周期1.25ns的高速的時(shí)鐘CLK的情況下的tAA判定電路19的動(dòng)作波形圖。本實(shí)施方式中,在作為對(duì)DRAM的初始設(shè)定中所使用的模式寄存器(未圖示)的設(shè)定命令的MRS命令的發(fā)出時(shí),執(zhí)行基于tAA判定電路19的動(dòng)作。圖11中,在周期0發(fā)出設(shè)定命令MRS,兩周期后,對(duì)應(yīng)于解碼結(jié)果輸出MRST信號(hào)的脈沖。接下來(lái),在周期4中發(fā)出讀命令RD,之后的成組讀動(dòng)作,與圖8一樣進(jìn)行。
一旦因設(shè)定命令MRS的發(fā)出使得MRST信號(hào)變?yōu)楦唠娖?,便如上所述,?fù)位圖10的RS鎖存器401、402,并且一端被加載了MRST信號(hào)的兩個(gè)NAND電路407、408的輸出變?yōu)楦唠娖?。之后,在控制信?hào)CLKR保持低電平的期間,判定信號(hào)DET繼續(xù)保持低電平。另外,該期間中,前級(jí)的開(kāi)關(guān)部403變?yōu)閷?dǎo)通狀態(tài),后級(jí)的開(kāi)關(guān)部404變?yōu)榻刂範(fàn)顟B(tài),NAND電路407的輸出變?yōu)榈碗娖健?br> 這里,讓控制信號(hào)CLKR比加載給輸出緩存電路19的控制信號(hào)CLK0R早兩個(gè)周期上升。因此如圖11所示,先行于控制信號(hào)CLK0R的脈沖,在周期11的期間中輸出控制信號(hào)CLKR的脈沖。圖10中,一旦在控制信號(hào)CLKR的下降沿,鎖存信號(hào)CLKRd變?yōu)楦唠娖剑銓⑶凹?jí)的開(kāi)關(guān)部403切換為截止?fàn)顟B(tài),將后級(jí)的開(kāi)關(guān)部404切換為導(dǎo)通狀態(tài)。于是兩個(gè)NAND電路407、408相連接,后級(jí)的NAND電路408的輸出從高電平變?yōu)榈碗娖?,因此時(shí)序T2中,判定信號(hào)DET從低電平變?yōu)楦唠娖健?br> 另外,控制信號(hào)CLK0是與讀寫(xiě)總線RWB的傳送時(shí)序同步的脈沖,圖11的情況下,最初的上升是判定信號(hào)DET已經(jīng)為高電平的時(shí)序T3,因此,由開(kāi)關(guān)部402截止了控制信號(hào)CLK0的變化。這樣,在之后RS鎖存器401被復(fù)位之前,判定信號(hào)DET繼續(xù)保持高電平。所以,輸出緩存電路18中,設(shè)定1位鎖存電路40的路徑。這樣,通過(guò)判斷控制信號(hào)CLKR先行于控制信號(hào)CLK0,能夠?qū)?yīng)于圖11的訪問(wèn)時(shí)間tAA的12.5ns,執(zhí)行基于1位鎖存電路40的路徑的適當(dāng)傳送動(dòng)作。
接下來(lái),圖12中與圖9一樣,示出了使用周期2.5ns的低速的時(shí)鐘CLK的情況下的tAA判定電路19的動(dòng)作波形圖。圖12中,通過(guò)對(duì)應(yīng)設(shè)定命令MRS的MRST信號(hào),復(fù)位RS鎖存器401、402這一點(diǎn),與圖11一樣。但是,圖12中控制信號(hào)CLKR的脈沖與控制信號(hào)CLK0的脈沖的時(shí)序,與圖11不同。也即,關(guān)于控制信號(hào)CLKR與圖11一樣,先行于控制信號(hào)CLK0R兩個(gè)周期,在周期11的期間中上升,與此相對(duì),由讀寫(xiě)總線RWB的傳送時(shí)序所規(guī)定的控制信號(hào)CLK0,即使設(shè)想為與圖11相同的時(shí)間,也由于時(shí)間軸變?yōu)閮杀叮芷跀?shù)減半,從而提前。
因此,與圖11的情況相反,在先行于控制信號(hào)CLKR的時(shí)刻T4輸出控制信號(hào)CLK0的脈沖。通過(guò)這樣,圖10的RS鎖存器402被設(shè)置,鎖存信號(hào)CLKRd變?yōu)楦唠娖?,?jīng)由處于導(dǎo)通狀態(tài)的前級(jí)的開(kāi)關(guān)部403,NOR電路407的輸出從低電平變?yōu)楦唠娖?。之后,在控制信?hào)CLKR的下降沿,鎖存信號(hào)CLKRd變?yōu)楦唠娖?,將前?jí)的開(kāi)關(guān)部403切換為截止?fàn)顟B(tài),將后級(jí)的開(kāi)關(guān)部404切換為導(dǎo)通狀態(tài)。通過(guò)這樣,兩個(gè)NAND電路407、408相連接,后級(jí)的NAND電路380的輸出變?yōu)楦唠娖?,因此判定信?hào)DET繼續(xù)保持低電平的狀態(tài)。
這樣,在控制信號(hào)CLK0的脈沖先行,之后控制信號(hào)CLKR的脈沖進(jìn)行變化的情況下,如圖11所示,判定信號(hào)DET保持高電平不變。因此輸出緩存電路18中,設(shè)定6位鎖存電路41的路徑。也即,通過(guò)判定控制信號(hào)CLK0先行于控制信號(hào)CLKR,能夠?qū)?yīng)于圖12的訪問(wèn)時(shí)間tAA的25ns,執(zhí)行基于6位鎖存電路41的路徑的適當(dāng)傳送動(dòng)作。
接下來(lái),對(duì)根據(jù)tAA判定電路19的切換條件進(jìn)行說(shuō)明。圖11與圖12中,將最初的讀命令RD的發(fā)出時(shí)刻作為起點(diǎn),到控制信號(hào)CLK0的上升沿的時(shí)間表示為t1,到控制信號(hào)CLKR的下降沿的時(shí)間表示為t2。這種情況下,tAA判定電路19中,判定時(shí)間t1與時(shí)間t2的大小關(guān)系。一般來(lái)說(shuō),時(shí)間t1通過(guò)DRAM核心的訪問(wèn)動(dòng)作的實(shí)際值設(shè)定,例如假設(shè)為t1=10.9ns (1)另外,時(shí)間t2使用時(shí)鐘CLK的周期tCK、CAS等待時(shí)間CL、以及輸出緩存電路18中的延遲時(shí)間td0,滿(mǎn)足以下關(guān)系t2=(CL-2)×tCK-td0 (2)另外,延遲時(shí)間td0為0.5ns程度。這種情況下,切換1位鎖存電路40與6位鎖存電路41的各個(gè)路徑的條件為(a)t1≥t2的情況下,設(shè)定1位鎖存電路40的路徑(b)t1<t2的情況下,設(shè)定6位鎖存電路41的路徑因此,如果將式(1)、(2)代入到條件(a)中,便導(dǎo)出tCL≤11.4/(CL-2) (3)另外,如果將式(1)、(2)代入到條件(b)中,便導(dǎo)出tCL>11.4/(CL-2) (4)例如,在CL=10的情況下,條件(a)變?yōu)閠CK≤1.43ns,條件(b)變?yōu)閠CL>1.43ns。
如上所述,根據(jù)本實(shí)施方式,能夠?qū)?yīng)于tAA檢測(cè)電路19的判定信號(hào)DET,對(duì)各個(gè)FIFO緩存30~33,并列設(shè)置1位鎖存電路40與6位鎖存電路41并分別使用。對(duì)時(shí)鐘CLK的頻率變動(dòng),雖然與周期數(shù)連動(dòng)的訪問(wèn)時(shí)間tAA進(jìn)行伸縮,但DRAM核心的動(dòng)作速度不會(huì)發(fā)生很大變化。因此在使用高速的時(shí)鐘CLK的情況下,訪問(wèn)時(shí)間tAA縮短,不需要鎖存多個(gè)位。與此相對(duì),在使用低速的時(shí)鐘CLK的情況下,訪問(wèn)時(shí)間tAA延長(zhǎng),需要鎖存更多個(gè)位。本實(shí)施方式的構(gòu)成中,對(duì)高速的時(shí)鐘CLK使用1位鎖存電路40,鎖存最小限度的數(shù)據(jù),對(duì)低速的時(shí)鐘CLK使用6位鎖存電路41,鎖存足夠的數(shù)據(jù),因此能夠可靠地對(duì)應(yīng)動(dòng)作條件的變動(dòng)。所以,在使用高速的時(shí)鐘CLK的情況下,能夠構(gòu)成最短的路徑,實(shí)現(xiàn)進(jìn)一步的高速化,并且還能夠縮小傳送時(shí)進(jìn)行動(dòng)作的電路規(guī)模,降低訪問(wèn)時(shí)的動(dòng)作電流。另外,在使用低速的時(shí)鐘CLK的情況下,即使因動(dòng)作條件的變動(dòng)等導(dǎo)致應(yīng)當(dāng)保持的數(shù)據(jù)增大,也能夠由鎖存電路可靠地鎖存,從而能夠防范誤動(dòng)作于未然。
以上,根據(jù)本實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明的內(nèi)容進(jìn)行了具體說(shuō)明,但本發(fā)明并不僅限于上述實(shí)施方式,還可以在不脫離其要點(diǎn)的范圍內(nèi)進(jìn)行各種變更。例如,本實(shí)施方式的輸出緩存電路18,采用并列設(shè)有能夠切換1位鎖存電路40與6位鎖存電路41的結(jié)構(gòu),但還可以采用并列設(shè)有能夠切換的更大范圍的M位鎖存電路與N(N>M)位鎖存電路的結(jié)構(gòu)。這種情況下,最好考慮半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置中的多種動(dòng)作條件,選擇最佳的M、N。例如,將1位鎖存電路40置換成2位鎖存電路,并與6位鎖存電路41并列設(shè)置的情況下,上述(1)~(4)式能夠表示為下面的(1)’~(4)’式。
t1=10.9ns+2×tCK(1)’t2=(CL-2)×tCK-td0 (2)’tCL≤11.4/(CL-4) (3)’tCL>11.4/(CL-4) (4)’另外,本實(shí)施方式中,對(duì)預(yù)取的位數(shù)為8,經(jīng)由讀寫(xiě)總線RWB并行傳送的位數(shù)為4的情況進(jìn)行了說(shuō)明,但該位數(shù)也能夠作為設(shè)計(jì)事項(xiàng)來(lái)適當(dāng)變更。進(jìn)而,輸出緩存電路18或tAA檢測(cè)電路19的具體電路結(jié)構(gòu),能夠通過(guò)多種多樣的構(gòu)成來(lái)實(shí)現(xiàn),只要能夠?qū)崿F(xiàn)同等的功能就可以。
本發(fā)明并不限于上述的實(shí)施方式,只要不脫離本發(fā)明的范圍各種變更和修改都可以。
本申請(qǐng)基于日本2005年9月16日的申請(qǐng)?zhí)枮?005-271197的發(fā)明申請(qǐng),在此其所有內(nèi)容明確地通過(guò)引用而被并入。
權(quán)利要求
1.一種半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置,具有傳送控制電路,其對(duì)應(yīng)于讀命令預(yù)取存儲(chǔ)器陣列中所保持的給定位數(shù)的數(shù)據(jù),與內(nèi)部時(shí)鐘同步,將作為上述預(yù)取的數(shù)據(jù)的傳送單位的L位部分并行傳送給內(nèi)部總線;以及輸出緩存電路,其包括有分別保持從上述內(nèi)部總線被輸入的上述L位的各個(gè)位的L個(gè)FIFO緩存,與外部時(shí)鐘同步,按照輸入順序從上述L個(gè)FIFO緩存的各個(gè)中取出保持?jǐn)?shù)據(jù),串行傳送到外部,上述L個(gè)FIFO緩存的每一個(gè),分別具有依次鎖存被輸入的M位的數(shù)據(jù)的M位鎖存電路,和依次鎖存被輸入的N(N>M)位的數(shù)據(jù)的N位鎖存電路,能夠有選擇地切換上述M位鎖存電路的路徑和上述N位電路的路徑。
2.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置,其特征在于,上述M為1,上述M位鎖存電路是依次鎖存被輸入的1位的數(shù)據(jù)的1位鎖存電路。
3.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置,其特征在于,還具有根據(jù)對(duì)應(yīng)上述讀命令的訪問(wèn)時(shí)間,生成2值的判定信號(hào)的判定電路,上述輸出緩存電路,對(duì)應(yīng)于上述判定信號(hào)切換上述1位鎖存電路的路徑和上述N位鎖存電路的路徑。
4.如權(quán)利要求3所述的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置,其特征在于,上述判定信號(hào)表示上述訪問(wèn)時(shí)間和給定的設(shè)定值之間的大小關(guān)系,上述輸出緩存電路,對(duì)應(yīng)于上述判定信號(hào),在上述訪問(wèn)時(shí)間沒(méi)達(dá)到上述設(shè)定值時(shí),切換到上述M位鎖存電路的路徑,在上述訪問(wèn)時(shí)間超過(guò)了上述設(shè)定值時(shí),切換到上述N位鎖存電路的路徑。
5.如權(quán)利要求3所述的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置,其特征在于,上述訪問(wèn)時(shí)間,被規(guī)定為上述外部時(shí)鐘的周期與CAS等待時(shí)間相乘所得到的時(shí)間。
6.如權(quán)利要求3所述的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置,其特征在于,上述判定電路,根據(jù)發(fā)出了模式寄存器的設(shè)定命令后的最初的讀命令所對(duì)應(yīng)的上述訪問(wèn)時(shí)間,生成上述判定信號(hào)。
7.如權(quán)利要求1或2所述的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置,其特征在于,上述傳送控制電路,預(yù)取與連續(xù)的給定地址數(shù)相對(duì)應(yīng)的上述給定位數(shù)的數(shù)據(jù),作為成組讀動(dòng)作的對(duì)象。
8.如權(quán)利要求7所述的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置,其特征在于,上述傳送控制電路,預(yù)取對(duì)應(yīng)于連續(xù)的2L地址的2L位的數(shù)據(jù),將該2L位分成兩份,并將上述L位部分并行傳送給上述內(nèi)部總線。
9.如權(quán)利要求8所述的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置,其特征在于,上述L為4,包括有上述4個(gè)FIFO緩存而構(gòu)成上述輸出緩存電路。
10.如權(quán)利要求1或2所述的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置,其特征在于,上述N為6,上述N位鎖存電路是依次鎖存被輸入的6位的數(shù)據(jù)的6位鎖存電路。
11.如權(quán)利要求1或2所述的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置,其特征在于,上述輸出緩存電路,與上述外部時(shí)鐘的上升沿與下降沿同步,進(jìn)行上述串行傳送。
12.如權(quán)利要求1或2所述的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置,其特征在于,具備設(shè)有P位的I/O數(shù)的構(gòu)成,并列配置有P個(gè)上述傳送控制電路以及P個(gè)上述輸出緩存電路。
全文摘要
本發(fā)明的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置,具有對(duì)應(yīng)于讀命令預(yù)取存儲(chǔ)器陣列中所保持的給定位數(shù)的數(shù)據(jù),與內(nèi)部時(shí)鐘同步,將所預(yù)取的數(shù)據(jù)的L位部分并行傳送給內(nèi)部總線的傳送控制電路,以及包含有分別保持從內(nèi)部總線所輸入的L位的各個(gè)位的L個(gè)FIFO緩存,與外部時(shí)鐘同步,從L個(gè)FIFO緩存的各個(gè)中按照輸入順序取出保持?jǐn)?shù)據(jù),串行傳送到外部的輸出緩存電路,L個(gè)FIFO緩存的每一個(gè)分別具有依次鎖存所輸入的M位的數(shù)據(jù)的M位鎖存電路,和依次鎖存所輸入的N(N>M)位的數(shù)據(jù)的N位鎖存電路,能夠有選擇地切換M位鎖存電路的路徑與N位電路的路徑。
文檔編號(hào)G11C7/10GK1933016SQ200610154020
公開(kāi)日2007年3月21日 申請(qǐng)日期2006年9月15日 優(yōu)先權(quán)日2005年9月16日
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