專利名稱：產(chǎn)生長度偏差統(tǒng)計的方法與系統(tǒng)及應(yīng)用其的方法與系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明關(guān)于一種光學(xué)儲存裝置的參數(shù)調(diào)整，特別關(guān)于一種用來產(chǎn)生長度偏差統(tǒng)計的方法與系統(tǒng)及應(yīng)用其的方法與系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
隨著多媒體應(yīng)用(multimedia application)持續(xù)發(fā)展，儲存大量數(shù)字數(shù)據(jù)的需求迅速地增加。于是，儲存容量高且外型精巧的光學(xué)儲存媒體(optical storage medium)如早期的普通光盤片(Compact Disc，CD)(例如CD-R或CD-RW規(guī)格的光盤片)或數(shù)字多用途光盤片(Digital VersatileDisc，DVD)遂日趨普及，并且光學(xué)儲存裝置(optical storage device)如光盤播放裝置(CD drive)或數(shù)字多用途光盤播放裝置(DVD drive)已成為個人計算機的標準配備，以配合上述的多媒體應(yīng)用所需。
于所述光學(xué)儲存裝置中，依據(jù)一再生信號(reproduced signal)，如射頻信號(radio frequency signal，RF signal)所分析而得的一些品質(zhì)參數(shù)，如位錯誤率(bit error rate，BER)或再生數(shù)據(jù)對時鐘抖動值(data-to-clock jitter)...等的品質(zhì)參數(shù)(index)通?？捎脕碓u量數(shù)據(jù)寫入的品質(zhì)。由光學(xué)儲存裝置掃描光盤片中利用某一控制參數(shù)，如一寫入程序的記錄功率，所寫入的一段數(shù)據(jù)，將獲得一對應(yīng)的品質(zhì)參數(shù)；接著根據(jù)所獲得的品質(zhì)參數(shù)來針對控制參數(shù)作適當?shù)恼{(diào)整，進而獲得對應(yīng)最佳品質(zhì)參數(shù)的最佳的控制參數(shù)。然而，依據(jù)相關(guān)技術(shù)，在上述掃描運作時，該品質(zhì)參數(shù)相對于該控制參數(shù)，在該最佳值附近通常會有輕微的變動。以圖1所示狀況為例，圖1繪示相對于該控制參數(shù)來分別掃描數(shù)據(jù)對時鐘抖動值與位錯誤率的分布曲線，其中所述分布曲線被對準以易于互相比較。需要注意的是，數(shù)據(jù)對時鐘抖動值與位錯誤率相對于該控制參數(shù)，在它們的最小值附近會有輕微的變化，且該控制參數(shù)的精度相對較高。因此，最佳值的精確度顯然偏低。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供利用一長度偏差統(tǒng)計(length deviationstatistics)以調(diào)整至少一控制參數(shù)(例如一伺服參數(shù)(servo parameter)或一寫入策略參數(shù)(write strategy parameter))以控制一光學(xué)儲存裝置的運作的方法與系統(tǒng)，并提供利用長度偏差統(tǒng)計以控制光學(xué)儲存裝置的運作的系統(tǒng)及方法。。
本發(fā)明的一實施例中提供一種用來調(diào)整至少一控制參數(shù)的方法，該控制參數(shù)用來控制一光學(xué)儲存裝置的運作，該方法包含有檢測復(fù)數(shù)個型樣長度(pattern length)，每一型樣長度對應(yīng)于該光學(xué)儲存裝置所存取(access)的光學(xué)儲存媒體(optical storage medium)上的數(shù)據(jù)；依據(jù)所述這些型樣長度進行計算，以產(chǎn)生與所述這些型樣長度關(guān)聯(lián)的長度偏差統(tǒng)計(lengthdeviation statistics)；以及利用(utilize)該長度偏差統(tǒng)計來調(diào)整該控制參數(shù)。
本發(fā)明于提供上述方法的同時，也對應(yīng)地提供一種用來調(diào)整至少一控制參數(shù)的系統(tǒng)，該控制參數(shù)用來控制一光學(xué)儲存裝置的運作，該系統(tǒng)包含有一檢測器，用來檢測復(fù)數(shù)個型樣長度，每一型樣長度對應(yīng)于該光學(xué)儲存裝置所存取的光學(xué)儲存媒體上的數(shù)據(jù)；一計算模塊，耦接至該檢測器，用來依據(jù)所述這些型樣長度進行計算，以產(chǎn)生與所述這些型樣長度關(guān)聯(lián)的長度偏差統(tǒng)計；以及一控制器，耦接至該計算模塊，該控制器利用該長度偏差統(tǒng)計來調(diào)整該控制參數(shù)。
本發(fā)明的一實施例中提供一種用來產(chǎn)生長度偏差統(tǒng)計的方法，該長度偏差統(tǒng)計用來控制一光學(xué)儲存裝置的運作，該方法包含有檢測復(fù)數(shù)個型樣長度，每一型樣長度對應(yīng)于該光學(xué)儲存裝置所存取的光學(xué)儲存媒體上的數(shù)據(jù)；以及依據(jù)所述這些型樣長度進行計算，以產(chǎn)生與所述這些型樣長度關(guān)聯(lián)的長度偏差統(tǒng)計。
本發(fā)明于提供上述方法的同時，也對應(yīng)地提供一種用來產(chǎn)生長度偏差統(tǒng)計的系統(tǒng)，該長度偏差統(tǒng)計用來控制一光學(xué)儲存裝置的運作，該系統(tǒng)包含有一檢測器，用來檢測復(fù)數(shù)個型樣長度，每一型樣長度對應(yīng)于該光學(xué)儲存裝置所存取的光學(xué)儲存媒體上的數(shù)據(jù)；以及一計算模塊，耦接至該檢測器，用來依據(jù)所述這些型樣長度進行計算，以產(chǎn)生與所述這些型樣長度關(guān)聯(lián)的長度偏差統(tǒng)計。
綜上所述，本發(fā)明的用來調(diào)整控制參數(shù)以及產(chǎn)生長度偏差統(tǒng)計的方法與系統(tǒng)可以實現(xiàn)更好的品質(zhì)參數(shù)，以及更佳的數(shù)據(jù)寫入的品質(zhì)。


圖1繪示相對于一控制參數(shù)來分別掃描數(shù)據(jù)對時鐘抖動(data-to-clockjitter)與位錯誤率(bit error rate，BER)的分布曲線，其中所述分布曲線被對準以易于互相比較；圖2為本發(fā)明一種用來調(diào)整(tune)至少一控制參數(shù)的系統(tǒng)的一實施例的示意圖，其中該控制參數(shù)用來控制一光學(xué)儲存裝置(optical storagedevice)的運作；圖3為本發(fā)明一種計算模塊的一實施例的示意圖，其中該計算模塊可應(yīng)用于圖2所示的系統(tǒng)；圖4為本發(fā)明一種用來調(diào)整至少一控制參數(shù)的方法的一實施例的流程圖，其中該控制參數(shù)用來控制一光學(xué)儲存裝置的運作；圖5繪示相對于一控制參數(shù)來掃描長度偏差統(tǒng)計(length deviationstatistics)的分布曲線，并且繪示相對于該控制參數(shù)來分別掃描數(shù)據(jù)對時鐘抖動與位錯誤率的分布曲線以供對照，其中所述分布曲線被對準以易于互相比較；圖6繪示本發(fā)明于不同的實施例中可分別通過利用(utilize)該長度偏差統(tǒng)計來調(diào)整的寫入策略參數(shù)(write strategy parameter)；圖7繪示本發(fā)明于不同的實施例中可分別通過利用該長度偏差統(tǒng)計來調(diào)整的寫入策略參數(shù)；圖8為本發(fā)明一種計算模塊的一實施例的示意圖，其中該計算模塊可應(yīng)用于圖2所示的系統(tǒng)；圖9為本發(fā)明一種用來調(diào)整至少一控制參數(shù)的方法的一實施例的流程圖，其中該控制參數(shù)用來控制一光學(xué)儲存裝置的運作；圖10為本發(fā)明一種用來調(diào)整至少一控制參數(shù)的系統(tǒng)的一實施例的示意圖，其中該控制參數(shù)用來控制一光學(xué)儲存裝置的運作。
主要元件符號說明100，200光學(xué)儲存裝置100C，200C 系統(tǒng)102 光學(xué)儲存媒體110 光學(xué)讀取頭111，113，115，133，135， 信號135-1，135-2，S_sd 信號112 波形等化器114 分切器120 鎖相回路130 長度偏差統(tǒng)計產(chǎn)生器132 型樣長度檢測器134，134-1，134-2 計算模塊134C計算單元134P型樣分類器134S選擇單元140 寫入脈沖控制器
150寫入功率控制器160伺服參數(shù)控制器220振蕩器910，930 方法910S，910E，910R，912，步驟914，...，920 步驟930S，930E，930R，932，步驟934，...，940 步驟CLK，CLK2 參考時鐘Ttop1，Ttop2，Tmp，Tlast1，寫入策略參數(shù)Tlast2，Ttopr，Todf，Todr，Tlast，Tcool具體實施方式
以下結(jié)合附圖對本發(fā)明進行詳細說明。
本發(fā)明提供通過利用長度偏差統(tǒng)計(length deviation statistics)來調(diào)整(tune)至少一控制參數(shù)的系統(tǒng)，其中該控制參數(shù)用來控制一光學(xué)儲存裝置(optical storage device)的運作。依據(jù)一第一觀點，所述這些系統(tǒng)中的一系統(tǒng)為一種用來調(diào)整該控制參數(shù)的電路，其中該電路位于該光學(xué)儲存裝置中。依據(jù)一第二觀點，所述這些系統(tǒng)中的一系統(tǒng)實質(zhì)上(substantially)為該光學(xué)儲存裝置本身。為了簡明起見，該第一觀點用于以下說明。然而，該第二觀點也可應(yīng)用于以下這些詳細的實施例。
于某些實施例中，本發(fā)明提供的所述這些系統(tǒng)及其對應(yīng)的方法所調(diào)整的該至少一(即所述或所述這些)控制參數(shù)可為一伺服參數(shù)(servo parameter)，例如一失焦(defocus)控制參數(shù)、一傾斜(tilt)控制參數(shù)、一循軌誤差偏移(tracking error offset，TE offset)控制參數(shù)、或一射頻提升(radiofrequency boost，RF boost)控制參數(shù)。于其它實施例中，該至少一(即所述或所述這些)控制參數(shù)可為一寫入策略參數(shù)(write strategy parameter)，例如一邊緣延遲、一脈沖寬度、或一功率準位(power level)，其中該功率準位可為一寫入功率準位、一偏壓(bias)功率準位、或一過驅(qū)(overdrive，OD)功率準位。
請參考圖2，圖2為本發(fā)明一種用來調(diào)整(tune)至少一控制參數(shù)的系統(tǒng)100C的一第一實施例的示意圖，其中該控制參數(shù)用來控制一光學(xué)儲存裝置(optical storage device)100的運作，且系統(tǒng)100C為存取(access)一光學(xué)儲存媒體(optical storage medium)102的光學(xué)儲存裝置100中的電路。請注意，為了簡明起見，本實施例采用一可記錄式光盤片(CD-Recordable disc，CD-R disc)作為光學(xué)儲存媒體102，并采用一光盤播放裝置(CD drive)作為光學(xué)儲存裝置100。熟悉此項技藝者應(yīng)可理解，其它種類的光學(xué)儲存媒體如數(shù)字多用途光盤片(Digital Versatile Disc，DVD)(例如DVD-R規(guī)格、DVD-RW規(guī)格、DVD+R規(guī)格、DVD+RW規(guī)格、或DVD-RAM規(guī)格的數(shù)字多用途光盤片)、高密度數(shù)字多用途光盤片(High Definition Digital Versatile Disc，HD-DVD)、或藍光光盤片(Blu-ray disc，BD)，以及其對應(yīng)的光學(xué)儲存裝置如數(shù)字多用途光盤播放裝置(DVD drive)、高密度數(shù)字多用途光盤播放裝置(HD-DVDdrive)、或藍光光盤播放裝置(BD drive)，也可應(yīng)用于本發(fā)明以達到類似功效。
如圖2所示，光學(xué)儲存裝置100的一光學(xué)讀取頭110于光學(xué)儲存裝置100的一讀取模式中，自光學(xué)儲存媒體102讀取數(shù)據(jù)以產(chǎn)生一原始射頻信號(rawradio frequency signal，raw RF signal)111。光學(xué)儲存裝置100的一波形等化器(waveform equalizer)112等化原始射頻信號111以產(chǎn)生一再生信號(reproduced signal)，該再生信號于本實施例中為射頻信號113。另外，光學(xué)儲存裝置100的一分切器(slicer)114將射頻信號113分切(slice)以產(chǎn)生一分切信號115，分切信號115即本實施例的系統(tǒng)100C所利用(utilize)的序列數(shù)字信號(serial digital signal)S_sd。上述的光學(xué)讀取頭110、波形等化器112、與分切器114的運作原理均為熟悉此項技藝者所知悉，故不在此贅述其細節(jié)。
依據(jù)本實施例，系統(tǒng)100C包含有一鎖相回路(phase-locked loop，PLL)120、一長度偏差統(tǒng)計產(chǎn)生器130、以及復(fù)數(shù)個控制器，所述控制器例如一寫入脈沖(write pulse)控制器140、寫入功率控制器150、一伺服參數(shù)控制器160。另外，長度偏差統(tǒng)計產(chǎn)生器130包含有一檢測器，例如圖2所示的型樣長度(pattern length)檢測器132，并另包含有一計算模塊134。為了簡明起見，于光學(xué)儲存裝置100中、沿著圖2下方路徑分別從所述這些控制器(如控制器140、150、160)往光學(xué)讀取頭110的驅(qū)動/控制元件均未顯示于圖2中，所述這些驅(qū)動/控制元件例如一調(diào)變器(modulator)、一寫入脈沖產(chǎn)生器、一發(fā)射源驅(qū)動器(radiation source driver)、致動器(actuator)、...等。沿著圖2下方路徑的所述這些被省略的元件均為熟習本技藝的人員所熟知，故不在此贅述其細節(jié)。
鎖相回路120依據(jù)分切信號115來產(chǎn)生一參考時鐘(reference clock)CLK，例如一個八對十四調(diào)變數(shù)據(jù)時鐘(EFM data clock)，此運作通過鎖定分切信號115的通道位率(channel bit rate)，即1/T，其中八對十四調(diào)變數(shù)據(jù)時鐘的周期通常被視為1T。此外，型樣長度檢測器132依據(jù)參考時鐘CLK來取得分切信號115所攜帶(carry)的八對十四調(diào)變信息，并檢測復(fù)數(shù)個型樣長度X，例如Xi，j(本實施例中i＝1、2、...、n；且j＝3T、4T、...、11T)，其中每一型樣長度Xi，j對應(yīng)于記錄在光學(xué)儲存媒體102上的數(shù)據(jù)，索引(index)i代表型樣長度計數(shù)(pattern length count)，且索引j代表一對應(yīng)的目標長度(target length)。請注意，典型的分切信號115為一方波，其上升邊緣(rising edge)與下降邊緣(falling edge)之間的間距(interval)以及下降邊緣與上升邊緣之間的間距均可有各種不同長度。于本實施例中，型樣長度檢測器132量測分切信號115的上升邊緣與下降邊緣之間的間距及/或分切信號115的下降邊緣與上升邊緣之間的間距，以決定上述的型樣長度X，其中每一間距對應(yīng)于記錄在光學(xué)儲存媒體102上的一凹洞(pit)或一平面(land)。于是，所述這些型樣長度X包含對應(yīng)于復(fù)數(shù)個凹洞的復(fù)數(shù)個凹洞長度P，以及對應(yīng)于復(fù)數(shù)個平面的復(fù)數(shù)個平面長度L。每個凹洞長度P代表沿著光學(xué)儲存媒體102上的一溝槽(groove)所記錄的一凹洞，而每個平面長度L則代表沿著該溝槽所記錄的一平面。
于該第一實施例中，于該可記錄式光盤片的一理想狀況下，得自分切信號115的所述這些型樣長度X均為時鐘周期T的倍數(shù)，且所述這些型樣長度X的分布范圍從3T至11T。也就是說，一型樣長度X(即一凹洞的長度P或一平面的長度L)可為3T、4T、...、或11T。所以，甚為合理的是，用來量測所述型樣長度X的一參考信號(例如上述的參考時鐘CLK)具有小于或等于T的周期。依據(jù)本實施例，輸入至型樣長度檢測器132的參考信號為參考時鐘CLK，其中參考時鐘CLK的周期為T。于該可記錄式光盤片的一實際狀況下，型樣長度檢測器132的輸出信號133所攜帶的所述這些型樣長度X通常并非T的確切倍數(shù)，即通常不是T的整數(shù)倍。計算模塊134可依據(jù)所述這些型樣長度X進行計算，以產(chǎn)生與所述這些型樣長度X關(guān)聯(lián)的長度偏差統(tǒng)計，其中該長度偏差統(tǒng)計由計算模塊134的輸出信號135所攜帶。
圖3為本發(fā)明一種計算模塊134-1的一實施例的示意圖，其中計算模塊134-1可應(yīng)用于圖2所示的系統(tǒng)100C，且計算模塊134-1及其輸出信號135-1分別代表上述的計算模塊134及輸出信號135。如圖3所示，計算模塊134-1包含一型樣分類器(pattern classifier)134P與一計算單元134C。計算單元134C計算復(fù)數(shù)個長度偏差(length deviation)(Xi，j-X_targei，j)(于本實施例中i＝1、2、...、n；且j＝3T、4T、...、11T)，其中每一長度偏差(Xi，j-X_targeti，j)為一型樣長度Xi，j與一目標長度X_targeti，j之間的差值，且本實施例的目標長度X_targeti，j等于索引j。型樣分類器134P分類(classify)型樣長度Xi，j，以決定目標長度X_targeti，j，且計算單元134C依據(jù)所述長度偏差(Xi，j-X_targeti，j)進行計算，以產(chǎn)生上述的該長度偏差統(tǒng)計。
圖4為本發(fā)明一種用來調(diào)整至少一控制參數(shù)的方法910的一實施例的流程圖，其中該控制參數(shù)用來控制一光學(xué)儲存裝置的運作，且方法910可通過利用圖2所示的系統(tǒng)100C以及圖3所示的計算模塊134-1來實施。
于步驟910R中，在光學(xué)儲存裝置100中的一微處理單元(micro-processing unit，MPU)所執(zhí)行的一韌體碼(firmware code)的控制下，系統(tǒng)100C遞歸(iterate)n次以執(zhí)行步驟912、914、與916。另外，索引i如以上所述從1變化至n。此外，計算模塊134-1，于本實施例尤其是型樣分類器134P，于步驟914中針對每一型樣長度Xi，j及其對應(yīng)的目標長度X_targeti，j來取得索引j。需要注意的是，依據(jù)圖2所示的架構(gòu)，可針對索引i不同的值同時執(zhí)行步驟912、914、與916中的至少兩步驟，這是因為型樣長度檢測器132、型樣分類器134P、與計算單元134C可分別相對于索引i繼續(xù)執(zhí)行各自隨后的運作。
于步驟912中，型樣長度檢測器132檢測型樣長度Xi，j。
于步驟914中，型樣分類器134P分類型樣長度Xi，j以決定目標長度X_targeti，j。依據(jù)本實施例，若型樣長度Xi，j滿足下列不等式(j-0.5*T)≤Xi，j＜(j+0.5*T)，則型樣分類器134P可決定型樣長度Xi，j對應(yīng)目標長度X_targeti，j。
于步驟916中，計算單元134C計算長度偏差(Xi，j-X_targeti，j)。
于步驟918中，計算單元134C依據(jù)長度偏差(Xi，j-X_targeti，j)來進行計算，以產(chǎn)生上述的該長度偏差統(tǒng)計。依據(jù)本實施例，該長度偏差統(tǒng)計可依據(jù)下列方程式取得LDS=Σi=1n(Xi,j-X_targeti,j)2n....................................(1);]]>其中LDS代表該長度偏差統(tǒng)計。
于步驟918中，執(zhí)行該韌體碼的該微處理單元利用(utilize)該長度偏差統(tǒng)計，其中該長度偏差統(tǒng)計用來調(diào)整該控制參數(shù)。依據(jù)本實施例，執(zhí)行該韌體碼的該微處理單元相對于該控制參數(shù)來掃描(scan)該長度偏差統(tǒng)計，以取得該長度偏差統(tǒng)計的分布的一極值，并依據(jù)該極值來調(diào)整該控制參數(shù)。
依據(jù)本實施例的一變化例，計算單元134C計算對所述這些長度偏差(Xi，j-X_targeti，j)的平方值進行總和(summing)運算的結(jié)果的平方根(squareroot)，以產(chǎn)生該長度偏差統(tǒng)計，這是因為對所述平方值進行總和運算的結(jié)果與對所述這些平方值進行平均(averaging)運算的結(jié)果成正比。
依據(jù)本發(fā)明的另一實施例，該長度偏差統(tǒng)計可依據(jù)下列方程式取得LDS=Σi=1n|Xi,j-X_targeti,j|n.......................................(2).]]>依據(jù)本實施例的一變化例，計算單元134C對所述這些長度偏差(Xi，j-X_targeti，j)的絕對值(absolute value)進行總和運算，以產(chǎn)生該長度偏差統(tǒng)計，這是因為對所述這些絕對值進行總和運算的結(jié)果與對同一組絕對值進行平均運算的結(jié)果成正比。
依據(jù)本發(fā)明的另一實施例，上述執(zhí)行該韌體碼的該微處理單元可代換為一控制器，該控制器于典型的實施方式中為一硬件控制器，且被設(shè)計成用來執(zhí)行如同圖4所示的流程圖的工作流程。
請參閱圖5，圖5繪示相對于上述的控制參數(shù)來掃描該長度偏差統(tǒng)計的分布曲線，并且繪示相對于該控制參數(shù)來分別掃描數(shù)據(jù)對時鐘抖動(data-to-clock jitter)與位錯誤率(bit error rate，BER)的分布曲線以供對照，其中所述這些分布曲線被對準以易于互相比較。需要注意的是，相較于相關(guān)技術(shù)的一品質(zhì)參數(shù)，例如數(shù)據(jù)對時鐘抖動或位錯誤率，該長度偏差統(tǒng)計相對于該控制參數(shù)的變化在其極值附近相當劇烈。因此，通過相對于該控制參數(shù)來掃描(scan)該長度偏差統(tǒng)計所取得的最佳值的精確度顯然較相關(guān)技術(shù)高。也就是，在以同一掃描分辨率(scanning resolution)應(yīng)用于上述掃描運作的相同條件下，通過利用該長度偏差統(tǒng)計可以精確地決定該最佳值，而通過利用位錯誤率或數(shù)據(jù)對時鐘抖動所決定的最佳值可能在附近漂移、每次不一定會相同。
請注意，圖5所示的該控制參數(shù)可為一伺服參數(shù)，例如上述的失焦控制參數(shù)、傾斜控制參數(shù)、循軌誤差偏移控制參數(shù)、或射頻提升控制參數(shù)，或為一寫入策略參數(shù)，例如上述的邊緣延遲、脈沖寬度、寫入功率準位、偏壓功率準位、或過驅(qū)功率準位。
于該第一實施例的一變化例中，型樣長度檢測器132可以只量測分切信號115的上升邊緣與下降邊緣之間的間距，以決定所述這些型樣長度X；因此，所述這些型樣長度X包含復(fù)數(shù)個凹洞長度P。于該第一實施例的另一變化例中，型樣長度檢測器132可以只量測分切信號115的下降邊緣與上升邊緣之間的間距，以決定所述這些型樣長度X；因此，所述這些型樣長度X包含復(fù)數(shù)個平面長度L。此外，本發(fā)明的另一實施例的分切信號115可攜帶有加強型八對十四調(diào)變(EFM plus，EFM+)信息(例如應(yīng)用DVD-R規(guī)格的實施例)或其它兼容于八對十四調(diào)變/加強型八對十四調(diào)變的變化規(guī)格的信息。
圖6繪示本發(fā)明于不同的實施例中可分別通過利用該長度偏差統(tǒng)計來調(diào)整的寫入策略參數(shù)，其中圖6所示的寫入策略參數(shù)可應(yīng)用于寫入DVD-R規(guī)格的光盤片，且關(guān)于一種用于多脈沖(multi-pulses)的寫入策略以及一種用于單脈沖(single pulse)的寫入策略的所述這些寫入策略參數(shù)分別相對于一理想序列數(shù)字信號詳列于此。寫入策略參數(shù)Ttop1、Ttop2、Tlast1、Tlast2、Ttopr、Todf、Todr、與Tlast分別對應(yīng)于某些邊緣延遲(或邊緣位移——edgeshift)，且寫入策略參數(shù)Tmp對應(yīng)于某一脈沖寬度。另外，所述這些寫入策略參數(shù)如圖6所示的過驅(qū)功率、寫入功率、與偏壓功率分別對應(yīng)于某些功率準位。
圖7繪示本發(fā)明于不同的實施例中可分別通過利用該長度偏差統(tǒng)計來調(diào)整的寫入策略參數(shù)，其中圖7所示的寫入策略參數(shù)可應(yīng)用于寫入DVD-RW規(guī)格的光盤片，且關(guān)于一第一寫入策略(即圖7所示的“寫入策略1”)以及一第二寫入策略(即圖7所示的“寫入策略2”)的所述這些寫入策略參數(shù)分別相對于一理想序列數(shù)字信號詳列于此。寫入策略參數(shù)Ttop1、Ttop2、Tlast1、Tlast2、與Tcoo1別對應(yīng)于某些邊緣延遲(或邊緣位移)，且寫入策略參數(shù)Tmp對應(yīng)于某一脈沖寬度。另外，所述寫入策略參數(shù)如圖7所示的寫入功率、與偏壓功率分別對應(yīng)于某些功率準位。
圖8為本發(fā)明一種計算模塊134-2的一實施例的示意圖，其中計算模塊134-2可應(yīng)用于圖2所示的系統(tǒng)100C，且計算模塊134-2及其輸出信號135-2分別代表上述的計算模塊134及輸出信號135。如圖8所示，計算模塊134-2包含一選擇單元(selecting unit)134S與上述的計算單元134C。選擇單元134S可依據(jù)一選擇信號從所述這些型樣長度Xi，j(于本實施例中i＝1、2、...、n)選出一(些)型樣長度Xi，j0，其中j0代表索引j的范圍中的一特定值(specific value)(例如對CD-R/RW規(guī)格的光盤片而言可為3T、4T、...、與11T中的一特定值；對數(shù)字多用途光盤片而言可為3T、4T、...、11T、與14T中的一特定值)。另外，選擇單元134S通過利用對應(yīng)于該選擇信號的一預(yù)定值(predetermined value)來決定目標長度X_targeti，j0。于本實施例中，該預(yù)定值例如j0。
圖9為本發(fā)明一種用來調(diào)整至少一控制參數(shù)的方法930的一實施例的流程圖，其中該控制參數(shù)用來控制一光學(xué)儲存裝置的運作，且方法930可通過利用圖2所示的系統(tǒng)100C以及圖8所示的計算模塊134-2來實施。
于步驟930R中，在光學(xué)儲存裝置100的該微處理單元所執(zhí)行的另一韌體碼的控制下，系統(tǒng)100C遞歸n次以執(zhí)行步驟932、934、與936，其中索引i如以上所述從1變化至n。依據(jù)圖2所示的架構(gòu)，可針對索引i不同的值同時執(zhí)行步驟932、934、與936中的至少兩步驟，這是因為型樣長度檢測器132、選擇單元134S、與計算單元134C可分別相對于索引i繼續(xù)執(zhí)行各自隨后的運作。
于步驟932中，型樣長度檢測器132檢測型樣長度Xi，j。
于步驟934中，選擇單元134S依據(jù)上述的該選擇信號選出型樣長度Xi，j0，并決定目標長度X_targeti，j為上述的預(yù)定值j0。依據(jù)本實施例，若型樣長度Xi，j滿足下列不等式(j0-0.5*T)≤Xi，j＜(j0+0.5*T)，則選擇單元134S可決定型樣長度Xi，j為型樣長度Xi，j0。
于是，若上式被滿足，則選擇單元134S輸出型樣長度Xi，j作為型樣長度Xi，j0；否則，選擇單元134S丟棄(discard)型樣長度Xi，j。只要該選擇信號指出(indicate)j0為索引j的各種可能的值中的選出值(selected value)，選擇單元134S可繼續(xù)輸出j0作為目標長度X_targe ti，j0。
于步驟936中，計算單元134C計算長度偏差(Xi，j0-X_targeti，j0)。
于步驟938中，計算單元134C依據(jù)長度偏差(Xi，j0-X_targeti，j0)來進行計算，以產(chǎn)生上述的該長度偏差統(tǒng)計。依據(jù)本實施例，該長度偏差統(tǒng)計可依據(jù)下列方程式取得LDS(j0)=Σi=1n(Xi,j0-X_targeti,j0)2n..............................(3).]]>于步驟940中，執(zhí)行該韌體碼的該微處理單元利用該長度偏差統(tǒng)計，其中該長度偏差統(tǒng)計用來調(diào)整該控制參數(shù)。相仿地，執(zhí)行該韌體碼的該微處理單元相對于該控制參數(shù)來掃描該長度偏差統(tǒng)計，以取得該長度偏差統(tǒng)計的分布的一極值，并依據(jù)該極值來調(diào)整該控制參數(shù)。
依據(jù)本實施例的一變化例，計算單元134C計算對所述這些長度偏差(Xi，j0-X_targeti，j0)的平方值進行總和運算的結(jié)果的平方根，以產(chǎn)生該長度偏差統(tǒng)計，這是因為對所述這些平方值進行總和運算的結(jié)果與對所述這些平方值進行平均運算的結(jié)果成正比。
依據(jù)本發(fā)明的另一實施例，該長度偏差統(tǒng)計可依據(jù)下列方程式取得
LDS(j0)=Σi=1n|Xi,j0-X_targeti,j0|n.................................(4).]]>依據(jù)本實施例的一變化例，計算單元134C對所述這些長度偏差(Xi，j0-X_targeti，j0)的絕對值進行總和運算，以產(chǎn)生該長度偏差統(tǒng)計，這是因為對所述這些絕對值進行總和運算的結(jié)果與對同一組絕對值進行平均運算的結(jié)果成正比。
圖10為本發(fā)明一種用來調(diào)整至少一控制參數(shù)的系統(tǒng)200C的一第二實施例的示意圖，其中該控制參數(shù)用來控制一光學(xué)儲存裝置200的運作。該第二實施例與該第一實施例相似，其差異說明如下。由于輸入至型樣長度檢測器132的參考信號為一振蕩器220所產(chǎn)生的參考時鐘CLK2，所以該第二實施例在此處的實施不需要如該第一實施例中所設(shè)置的鎖相回路120。另外，參考時鐘CLK2的頻率不需要等于序列數(shù)字信號S_sd的數(shù)據(jù)時鐘的頻率。
需要注意的是，本發(fā)明可通過使用具有多個元件組合而成的硬件、或通過使用執(zhí)行軟件或軔體程序的計算機來實施。另外，于申請專利范圍或上述說明中所揭露的系統(tǒng)元件當中，有些元件可通過使用同一硬件或軟件裝置來實現(xiàn)。
以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例，凡依本發(fā)明申請專利范圍所做的均等變化與修飾，皆應(yīng)屬本發(fā)明的涵蓋范圍。
權(quán)利要求
1.一種用來調(diào)整控制參數(shù)的方法，所述控制參數(shù)用來控制一光學(xué)儲存裝置的運作，其特征在于，所述方法包含有如下步驟檢測復(fù)數(shù)個型樣長度，每一型樣長度對應(yīng)于所述光學(xué)儲存裝置所存取的光學(xué)儲存媒體上的數(shù)據(jù)；依據(jù)所述這些型樣長度進行計算，以產(chǎn)生與所述這些型樣長度關(guān)聯(lián)的長度偏差統(tǒng)計；以及利用所述長度偏差統(tǒng)計以調(diào)整所述控制參數(shù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，檢測所述這些型樣長度的步驟還包含有依據(jù)存取所述光學(xué)儲存媒體的所述光學(xué)儲存裝置所產(chǎn)生的一再生信號來檢測所述這些型樣長度。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，還包含有分切所述再生信號以產(chǎn)生一分切信號；其中檢測所述這些型樣長度的步驟還包含依據(jù)所述分切信號檢測所述這些型樣長度。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，檢測所述這些型樣長度的步驟還包含有檢測所述分切信號的復(fù)數(shù)個上升邊緣與復(fù)數(shù)個下降邊緣之間的復(fù)數(shù)個間距和/或所述分切信號的復(fù)數(shù)個下降邊緣與復(fù)數(shù)個上升邊緣之間的復(fù)數(shù)個間距，以決定所述這些型樣長度，其中每一間距對應(yīng)于一凹洞或一平面。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，依據(jù)所述這些型樣長度進行計算的步驟還包含有計算復(fù)數(shù)個長度偏差，每一長度偏差為一型樣長度與一目標長度之間的差值；以及依據(jù)所述這些長度偏差進行計算，以產(chǎn)生所述長度偏差統(tǒng)計。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，依據(jù)所述這些型樣長度進行計算的步驟還包含有分類所述型樣長度，以決定所述目標長度。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，依據(jù)所述這些型樣長度進行計算的步驟還包含有依據(jù)一選擇信號從所述這些型樣長度選出所述型樣長度；以及通過利用對應(yīng)于所述選擇信號的一預(yù)定值來決定所述目標長度。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，依據(jù)所述長度偏差進行計算的步驟還包含有計算對所述這些長度偏差的平方值進行總和或平均運算的結(jié)果的平方根，以產(chǎn)生所述長度偏差統(tǒng)計。
9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，依據(jù)所述這些長度偏差進行計算的步驟還包含有對所述這些長度偏差的絕對值進行總和或平均運算，以產(chǎn)生所述長度偏差統(tǒng)計。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，利用所述長度偏差統(tǒng)計的步驟還包含有相對于所述控制參數(shù)來掃描所述長度偏差統(tǒng)計，以取得所述長度偏差統(tǒng)計的分布的一極值；以及依據(jù)所述極值來調(diào)整所述控制參數(shù)。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述控制參數(shù)為一伺服參數(shù)或一寫入策略參數(shù)。
12.一種用來調(diào)整控制參數(shù)的系統(tǒng)，所述控制參數(shù)用來控制一光學(xué)儲存裝置的運作，所述系統(tǒng)包含有一檢測器，用來檢測復(fù)數(shù)個型樣長度，每一型樣長度對應(yīng)于所述光學(xué)儲存裝置所存取的光學(xué)儲存媒體上的數(shù)據(jù)；一計算模塊，耦接至所述檢測器，用來依據(jù)所述這些型樣長度進行計算，以產(chǎn)生與所述這些型樣長度關(guān)聯(lián)的長度偏差統(tǒng)計；以及一控制器，耦接至所述計算模塊，所述控制器利用所述長度偏差統(tǒng)計來調(diào)整所述控制參數(shù)。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述檢測器依據(jù)存取所述光學(xué)儲存媒體的所述光學(xué)儲存裝置所產(chǎn)生的一再生信號來檢測所述這些型樣長度。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述的系統(tǒng)還包含有一分切器，用來分切所述再生信號以產(chǎn)生一分切信號；其中所述檢測器依據(jù)所述分切信號檢測所述這些型樣長度。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述檢測器檢測所述分切信號的復(fù)數(shù)個上升邊緣與復(fù)數(shù)個下降邊緣之間的復(fù)數(shù)個間距和/或所述分切信號的復(fù)數(shù)個下降邊緣與復(fù)數(shù)個上升邊緣之間的復(fù)數(shù)個間距，以決定所述型樣長度，以及每一間距對應(yīng)于一凹洞或一平面。
16.根據(jù)權(quán)利要求12所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述計算模塊包含有一計算單元，用來計算復(fù)數(shù)個長度偏差，每一長度偏差為一型樣長度與一目標長度之間的差值，其中所述計算單元依據(jù)所述這些長度偏差進行計算，以產(chǎn)生所述長度偏差統(tǒng)計。
17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述計算單元還包含有一型樣分類器，耦接于所述檢測器與所述計算單元之間，用來分類所述型樣長度，以決定所述目標長度。
18.根據(jù)權(quán)利要求16所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述計算單元還包含有一選擇單元，耦接于所述檢測器與所述計算單元之間，用來依據(jù)一選擇信號從所述這些型樣長度選出所述型樣長度，以及通過利用對應(yīng)于所述選擇信號的一預(yù)定值來決定所述目標長度。
19.根據(jù)權(quán)利要求16所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述計算單元計算對所述這些長度偏差的平方值進行總和或平均運算的結(jié)果的平方根，以產(chǎn)生所述長度偏差統(tǒng)計。
20.根據(jù)權(quán)利要求16所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述計算單元對所述這些長度偏差的絕對值進行總和或平均運算，以產(chǎn)生所述長度偏差統(tǒng)計。
21.根據(jù)權(quán)利要求12所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述控制器相對于所述控制參數(shù)來掃描所述長度偏差統(tǒng)計，以取得所述長度偏差統(tǒng)計的分布的一極值，以及依據(jù)所述極值來調(diào)整所述控制參數(shù)。
22.根據(jù)權(quán)利要求12所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述控制參數(shù)為一伺服參數(shù)或一寫入策略參數(shù)。
23.一種用來產(chǎn)生長度偏差統(tǒng)計的方法，所述長度偏差統(tǒng)計用來控制一光學(xué)儲存裝置的運作，其特征在于，所述方法包含有如下步驟檢測復(fù)數(shù)個型樣長度，每一型樣長度對應(yīng)于所述光學(xué)儲存裝置所存取的光學(xué)儲存媒體上的數(shù)據(jù)；以及依據(jù)所述這些型樣長度進行計算，以產(chǎn)生與所述這些型樣長度關(guān)聯(lián)的長度偏差統(tǒng)計。
24.根據(jù)權(quán)利要求23所述的方法，其特征在于，檢測所述這些型樣長度的步驟還包含有依據(jù)存取所述光學(xué)儲存媒體的所述光學(xué)儲存裝置所產(chǎn)生的一再生信號來檢測所述這些型樣長度。
25.根據(jù)權(quán)利要求24所述的方法，其特征在于，所述的方法還包含有分切所述再生信號以產(chǎn)生一分切信號；其中檢測所述這些型樣長度的步驟還包含依據(jù)所述分切信號檢測所述這些型樣長度。
26.根據(jù)權(quán)利要求25所述的方法，其特征在于，檢測所述這些型樣長度的步驟還包含有檢測所述分切信號的復(fù)數(shù)個上升邊緣與復(fù)數(shù)個下降邊緣之間的復(fù)數(shù)個間距和/或所述分切信號的復(fù)數(shù)個下降邊緣與復(fù)數(shù)個上升邊緣之間的復(fù)數(shù)個間距，以決定所述這些型樣長度，其中每一間距對應(yīng)于一凹洞或一平面。
27.根據(jù)權(quán)利要求23所述的方法，其特征在于，依據(jù)所述這些型樣長度進行計算的步驟還包含有計算復(fù)數(shù)個長度偏差，每一長度偏差為一型樣長度與一目標長度之間的差值；以及依據(jù)所述這些長度偏差進行計算，以產(chǎn)生所述長度偏差統(tǒng)計。
28.根據(jù)權(quán)利要求27所述的方法，其特征在于，依據(jù)所述這些型樣長度進行計算的步驟還包含有分類所述型樣長度，以決定所述目標長度。
29.根據(jù)權(quán)利要求27所述的方法，其特征在于，依據(jù)所述這些型樣長度進行計算的步驟還包含有依據(jù)一選擇信號從所述這些型樣長度選出所述型樣長度；以及通過利用對應(yīng)于所述選擇信號的一預(yù)定值來決定所述目標長度。
30.根據(jù)權(quán)利要求27所述的方法，其特征在于，依據(jù)所述這些長度偏差進行計算的步驟還包含有計算對所述這些長度偏差的平方值進行總和或平均運算的結(jié)果的平方根，以產(chǎn)生所述長度偏差統(tǒng)計。
31.根據(jù)權(quán)利要求27所述的方法，其特征在于，依據(jù)所述這些長度偏差進行計算的步驟還包含有對所述這些長度偏差的絕對值進行總和或平均運算，以產(chǎn)生所述長度偏差統(tǒng)計。
32.一種用來產(chǎn)生長度偏差統(tǒng)計的系統(tǒng)，所述長度偏差統(tǒng)計用來控制一光學(xué)儲存裝置的運作，其特征在于，所述系統(tǒng)包含有一檢測器，用來檢測復(fù)數(shù)個型樣長度，每一型樣長度對應(yīng)于所述光學(xué)儲存裝置所存取的光學(xué)儲存媒體上的數(shù)據(jù)；以及一計算模塊，耦接至所述檢測器，用來依據(jù)所述這些型樣長度進行計算，以產(chǎn)生與所述這些型樣長度關(guān)聯(lián)的長度偏差統(tǒng)計。
33.根據(jù)權(quán)利要求32所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述檢測器依據(jù)存取所述光學(xué)儲存媒體的所述光學(xué)儲存裝置所產(chǎn)生的一再生信號來檢測所述這些型樣長度。
34.根據(jù)權(quán)利要求33所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述的系統(tǒng)還包含有一分切器，用來分切所述再生信號以產(chǎn)生一分切信號；其中所述檢測器依據(jù)所述分切信號檢測所述這些型樣長度。
35.根據(jù)權(quán)利要求34所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述檢測器檢測所述分切信號的復(fù)數(shù)個上升邊緣與復(fù)數(shù)個下降邊緣之間的復(fù)數(shù)個間距和/或所述分切信號的復(fù)數(shù)個下降邊緣與復(fù)數(shù)個上升邊緣之間的復(fù)數(shù)個間距，以決定所述這些型樣長度，以及每一間距對應(yīng)于一凹洞或一平面。
36.根據(jù)權(quán)利要求32所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述計算模塊包含有一計算單元，用來計算復(fù)數(shù)個長度偏差，每一長度偏差為一型樣長度與一目標長度之間的差值，其中所述計算單元依據(jù)所述這些長度偏差進行計算，以產(chǎn)生所述長度偏差統(tǒng)計。
37.根據(jù)權(quán)利要求36所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述計算模塊還包含有一型樣分類器，耦接于所述檢測器與所述計算單元之間，用來分類所述型樣長度，以決定所述目標長度。
38.根據(jù)權(quán)利要求36所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述計算模塊還包含有一選擇單元，耦接于所述檢測器與所述計算單元之間，用來依據(jù)一選擇信號從所述這些型樣長度選出所述型樣長度，以及通過利用對應(yīng)于所述選擇信號的一預(yù)定值來決定所述目標長度。
39.根據(jù)權(quán)利要求36所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述計算單元計算對所述這些長度偏差的平方值進行總和或平均運算的結(jié)果的平方根，以產(chǎn)生所述長度偏差統(tǒng)計。
40.根據(jù)權(quán)利要求36所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述計算單元對所述這些長度偏差的絕對值進行總和或平均運算，以產(chǎn)生所述長度偏差統(tǒng)計。
全文摘要
本發(fā)明提供一種產(chǎn)生長度偏差統(tǒng)計的方法與系統(tǒng)及應(yīng)用其的方法與系統(tǒng)，該長度偏差統(tǒng)計用來控制一光學(xué)儲存裝置的運作。該調(diào)整控制參數(shù)的方法具有如下步驟檢測復(fù)數(shù)個型樣長度，每一型樣長度對應(yīng)于該光學(xué)儲存裝置所存取的光學(xué)儲存媒體上的數(shù)據(jù)；以及依據(jù)所述型樣長度進行計算，以產(chǎn)生與所述型樣長度關(guān)聯(lián)的長度偏差統(tǒng)計；以及利用該長度偏差統(tǒng)計以調(diào)整該控制參數(shù)。通過本發(fā)明，該調(diào)整光學(xué)儲存裝置的控制參數(shù)的方法與系統(tǒng)可以得到更好的品質(zhì)參數(shù)，來實現(xiàn)更佳的數(shù)據(jù)寫入的品質(zhì)。
文檔編號G11B7/0045GK1996468SQ200610172290
公開日2007年7月11日 申請日期2006年12月30日 優(yōu)先權(quán)日2006年1月3日
發(fā)明者游志青 申請人:聯(lián)發(fā)科技股份有限公司