專利名稱：用于選擇最佳寫入?yún)?shù)的方法和裝置以及供所述方法和裝置使用的光學記錄媒質(zhì)的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種用于設定光學記錄裝置中使用的寫入?yún)?shù)最佳值 的方法，該光學記錄裝置利用輻射光束在光學記錄媒質(zhì)上寫入信息。 本發(fā)明還涉及一種用于在光學記錄媒質(zhì)上記錄信息的光學記錄裝置， 該裝置包括輻射光源，用于發(fā)射具有可控的、用于在記錄媒質(zhì)上記錄 信息的寫入功率電平的值的輻射光束。此外，本發(fā)明涉及一種光學記 錄媒質(zhì)，通過利用輻射光束照射該記錄媒質(zhì)來記錄信息，該記錄媒質(zhì) 包括包含表示將信息記錄到所述記錄媒質(zhì)上的記錄過程的控制信息的 區(qū)域。
在光學記錄裝置中，重要的是利用正確功率的輻射光束在光學記 錄媒質(zhì)上記錄信息，該輻射光束例如激光束。盡管媒質(zhì)制造商能夠以 絕對的方式給出所述的正確功率(例如預先記錄在光盤上)，但是對 于每種記錄媒質(zhì)和記錄裝置的組合而言，環(huán)境之間的差異以及裝置與 裝置之間的差異，使得要想獲得可靠的光學記錄必須找到所討論的記 錄媒質(zhì)所依賴的正確功率。本領域公知的幾種用于此目的的優(yōu)化功率
控制(OPC)例程，例如伽馬OPC (通常用于可再寫入媒質(zhì)，例如 CR-RW和DVD+/-RW)、貝它OPC (通常用于可記錄媒質(zhì)，例如 CD-R和DVD+/-R)以及卡巴OPC (例如用于BD-RE/R媒質(zhì))。
背景技術：
在WO02/41306中，描述了通過在光學記錄媒質(zhì)上寫入一系列測 試圖案，從而由這些圖案形成讀取信號并且處理該讀取信號來設定光 學記錄裝置中輻射光束的最佳寫入功率的方法，該專利在本申請中引 入作為參考并且視為本申請的一部分。這種處理包括針對由讀取信號 獲得的參數(shù)擬合函數(shù)，優(yōu)選是直線，而不必實施微分步驟。可以由該 讀取信號獲得的一種這樣的參數(shù)是調(diào)制(M)。曲線擬合過程需要一 個或多個功率值來定義實施擬合的時間間隔。如果該曲線擬合產(chǎn)生了 寫入?yún)?shù)的第一值，該值出于某些原因不符合最佳寫入?yún)?shù)標準，例
如在預設值范圍之外，WO02/41306公開了可以采取的多種可能的測量 方法。其中一種是重復過程，其中將所述寫入?yún)?shù)的所述第一值用于 定義實施擬合的第二時間間隔。隨后可以將所生成的第二寫入?yún)?shù)評 價為最佳寫入?yún)?shù)，例如相對于預設范圍。如果該第二寫入?yún)?shù)不符 合最佳寫入?yún)?shù)標準，則繼續(xù)重復，直到達到某個預設條件為止。
然而，光學記錄裝置與光學記錄媒質(zhì)的某些組合固有的問題在于 在獲得最佳寫入?yún)?shù)之前可能需要較大量的這種重復步驟。因此，就 會延遲記錄過程，造成使用者不舒服。此外，在光學記錄裝置與光學 記錄媒質(zhì)的某些不好的組合中，重復也可能不會得到最佳寫入?yún)?shù)。 對于這些情況而言，該光學記錄裝置將不能在記錄媒質(zhì)上記錄，從而 導致故障。
因此，經(jīng)改進的光學記錄裝置是有利的，尤其是更有效和/或可靠 的光學記錄裝置將更有利。
相應地，本發(fā)明優(yōu)選尋求單獨地或者任意組合地減輕或消除上述 缺點中的一個或多個。尤其是，可以看作本發(fā)明的目的是提供一種用 于在光學媒質(zhì)上進行光學記錄時獲得寫入?yún)?shù)最佳值來解決了上述現(xiàn) 有技術問題的方法。由所述寫入?yún)?shù)最佳值可以獲得寫入功率電平 (P)的最佳值(P。pt)。
發(fā)明內(nèi)容
在本發(fā)明的第一個方面中，提供了一種用于設定光學記錄裝置中 使用的寫入?yún)?shù)最佳值的方法，從而實現(xiàn)了上述目的和一些其它目 的，該光學記錄裝置利用輻射光束在光學記錄媒質(zhì)上寫入信息，所述 方法包括以下步驟
1) 在記錄媒質(zhì)上寫入一系列測試圖案，每個圖案以不同的輻射 光束寫入功率電平(P)值寫入，
2) 讀取圖案從而形成相應的讀取信號部分(18、 19)，
3) 由每個讀取信號部分獲得讀取參數(shù)值，
4) 針對讀取參數(shù)和寫入功率電平(P)的相關值，曲線擬合定義 讀取參數(shù)與寫入功率電平(P)之間關系的函數(shù)，該曲線擬合函數(shù)具有 寫入功率電平(P)的初始值(Pini)，
5) 由該曲線擬合函數(shù)獲得特征性寫入功率電平(Pchar)，并且
估計該特征性寫入功率電平(Pehar)是否符合寫入?yún)?shù)最佳值標準， 如果該特征性寫入功率電平(Pehar)不符合寫入?yún)?shù)最佳值的標準， 則開始
6)通過重復過程來獲得一個或多個特征性寫入功率電平
(Pchar,n)，在重復過程中由以下等式給出隨后的寫入功率電平(Pini,n ) 初始值
Pini，n+1 — A Pini，n + (1-A) Pchar，n，
其中A為常數(shù)，n為整數(shù)。
本發(fā)明特別地但并不是唯一地利于在較短時間內(nèi)獲得至少一個寫 入?yún)?shù)最佳值。有益的是，通常避免了非收斂或不穩(wěn)定重復的問題。 因此，提供了一種獲得寫入?yún)?shù)最佳值的改進和有效的方法。
該最佳值表示由本發(fā)明的方法獲得的最佳值，然而，所找到的寫 入?yún)?shù)最佳值可能不是可以獲得的最佳的寫入?yún)?shù)值，例如局部最佳 值，并且可能不是可以獲得的整體最佳值。
該讀取參數(shù)可以是從記錄在記錄媒質(zhì)上的信息獲得的讀取信號的 振幅的調(diào)制(M)。該調(diào)制(M)是由以下表達式算得的
M = ((IH-IL)/IH) .100，
其中l(wèi)H是通過讀取記錄在信息載體上的信息而獲得的讀取信號中最高
的振幅水平，Il是最低的振幅水平，該信息載體包括較長標記，例如 當采用8-14調(diào)制正(EFM+)編碼時，長度為信道位長度14倍的標 記。
曲線擬合函數(shù)可以具有以下形式
P M = oc - (P-P)， 其中ct和P具有由曲線擬合產(chǎn)生的值?？梢詫⒃摵瘮?shù)的寫入?yún)?shù)的特
征值(Pchar)設定為基本上等于第一倍增常數(shù)(K )的P倍。 一般而 言，能夠使用定義讀取參數(shù)與寫入功率電平(P)之間關系的任意形狀
的任意函數(shù)。然而，應當注意，可以非常容易并精確地曲線擬合直線。 因此，以有利于曲線擬合直線的這種方式設定讀取參數(shù)和寫入功率電 平(P)的值。此外，由直線擬合過程明確地確定P的值，這相對于其 中會產(chǎn)生幾種解的可選擬合過程而言是非常有利的。
可以從記錄媒質(zhì)上包含的、表示將信息記錄到所述記錄媒質(zhì)上的 記錄過程的控制信息的區(qū)域中讀取第一倍增常數(shù)(K )。因此，媒質(zhì) 制造商可以在光學媒質(zhì)上提供該信息?？蛇x的是，可以由使用者在校 準過程中確定該倍增常數(shù)(K)。
可以在寫入功率電平的預定擬合范圍中實施定義直線的曲線擬合 函數(shù)，其中可以由與每個曲線擬合函數(shù)相關的寫入功率電平初始值
(Pini)與范圍系數(shù)(R)確定預定擬合范圍的位置，其中R為百分數(shù)。
可以由Pini乘以(l+R)給出該擬合范圍的上限，以及可以由Piw乘以(l畫
R)給出該擬合范圍的下限。該范圍系數(shù)(R)的值可以是10%、 20% 或者30%。
可以從記錄媒質(zhì)上的、包含表示將信息記錄在所述記錄媒質(zhì)上的 記錄過程的控制信息的區(qū)域中讀取表示初始寫入功率電平的信息。因 此，該媒質(zhì)制造者可以在光學媒質(zhì)上提供該信息，以便有助于更快、 更精確地確定對于所討論的光學媒質(zhì)而言記錄信息的最佳寫入功率電 平(Popt)。
該常數(shù)A可以是O與l之間的任意值，例如O.l、 0.2、 0.3、 0.4、 0.5、 0.6、 0.7、 0.8或0.9。該常數(shù)A可以具有以下任意間隔的值；0.1-0.4、 0.2-0.3、 0.6-0.9或者0.7-0.8?？蛇x的是，該常數(shù)A可以具有以下任意 間隔的值；0.15-0.35、 0.05-0.495、 0.01-0.499、 0.515-0.985、 0.505-0.995 或者0.501-0.999。
本發(fā)明的方法可以提供一種用于設定輻射光束寫入功率電平(P) 的最佳值(P。pt)的方法，該方法用于光學記錄裝置中，用于利用上述 設定寫入?yún)?shù)最佳值的方法，借助具有寫入功率電平(P)的輻射光束 在光學記錄媒質(zhì)上寫入信息，其中將寫入功率電平(P)的最佳值(P。pt) 設定為等于寫入?yún)?shù)的最佳值乘以第二倍增常數(shù)(P )。注意，該寫 入功率電平(P)的最佳值(P。pt)的定義不同于WO02An306公開的 定義，即這些倍增常數(shù)的定義方式不同?？梢詫懭牍β孰娖降淖罴?值(P。pt)定義為由記錄在記錄媒質(zhì)上的信息獲得的讀取信號具有最低
抖動時的寫入功率電平。此外，寫入功率電平的最佳值(P。pt)可以將 讀取信號相對于寫入功率電平最佳值(P。pt)附近的變化的穩(wěn)定性考慮 在內(nèi)。根據(jù)記錄媒質(zhì)用途的不同，寫入功率電平的最佳值(P。pt)可以 不同。因此，在相同的記錄媒質(zhì)區(qū)域上，用于一次記錄的寫入功率電 平的最佳值(P。pt)可以與用于多次記錄的寫入功率電平的最佳值 (P叩t)不同。
可以從記錄媒質(zhì)上的、包含表示將信息記錄到所述記錄媒質(zhì)上的 記錄過程的控制信息的區(qū)域中讀取笫二倍增常數(shù)(P )。因此，光學 媒質(zhì)制造者可以在標準化條件下確定第二倍增常數(shù)(P ),并且在光 學媒質(zhì)上提供該信息。
在第二個方面中，本發(fā)明提供了一種用于實現(xiàn)根據(jù)本發(fā)明第一個
方面的方法的光學記錄裝置，該裝置包括
-輻射光源，用于發(fā)射具有可控的、用于在記錄媒質(zhì)上記錄信息寫 入功率電平(P)的值的輻射光束，
-控制單元，用于記錄一系列測試圖案，各個圖案以不同的寫入功 率電平值記錄，
-讀取單元，用于讀取圖案，并且形成相應的讀取信號部分，
-第一裝置，用于由每個讀取信號部分獲得讀取參數(shù)值，
-笫二裝置，用于針對讀取參數(shù)與寫入功率電平(P)的相關值，
曲線擬合定義讀取參數(shù)與寫入功率電平(P)之間關系的函數(shù)，該曲線
擬合函數(shù)具有寫入功率電平的初始值(Phd)，
-第三裝置，用于由該曲線擬合函數(shù)獲得特征性寫入功率電平
(Pchar)，并且估計該特征性寫入功率電平(Pehar)是否符合寫入?yún)?shù) 的最佳值的標準，
如果該特征性寫入功率電平(Pehar)不符合寫入?yún)?shù)最佳值的標準， 則開始，
-第四裝置，用于通過重復過程獲得一個或多個特征性寫入功率電 平(Pchar,n)，在該重復過程中由以下等式給出隨后的寫入功率電平 (Pini，n)初始值
P +l = A Pini，n + (1畫A)P
其中A為常數(shù)，n為整數(shù)。
盡管確定本發(fā)明的寫入?yún)?shù)的最佳值的方式相對于已知的確定寫 入?yún)?shù)最佳值的方式具有諸多優(yōu)點，但是尤其有益的是也可以利用本 領域已知的手段應用本發(fā)明。
在笫三個方面，本發(fā)明提供了一種光學記錄媒質(zhì)，通過利用輻射 光束照射該記錄媒質(zhì)來記錄信息，該記錄媒質(zhì)包括包含表示將信息記 錄到所述記錄媒質(zhì)上的記錄過程的控制信息的區(qū)域，該控制信息包括 用于該記錄過程的記錄參數(shù)值，其中該控制信息包括表示用于根據(jù)本 發(fā)明第一個方面的方法或根據(jù)本發(fā)明第二個方面的裝置中的初始寫入 功率電平(Pini)的信息。
在記錄媒質(zhì)本身上提供控制信息是特別有利的，這是因為能夠使 媒質(zhì)制造者以有效方式將控制信息分發(fā)給使用者。
此外，通過利用輻射光束照射記錄媒質(zhì)來記錄信息的光學記錄媒 質(zhì)可以包括包含表示將信息記錄到所述記錄媒質(zhì)上的記錄過程的控制 信息的區(qū)域，該控制信息包括用于該記錄過程的記錄參數(shù)值，其中該 控制信息包括用于本發(fā)明方法中的常數(shù)A、第一倍增常數(shù)(k )或者 第二倍增常數(shù)(p)中的至少一個。
參照下文中所述的實施例將會理解并闡明本發(fā)明的這些及其他方 面?，F(xiàn)在參照附圖僅通過實例的方式說明本發(fā)明，在附圖中 圖l是根據(jù)本發(fā)明的光學記錄裝置的實施例的簡圖， 圖2示出了來自兩個測試圖案的兩個讀取信號部分， 圖3是一個圖表，表示測得的調(diào)制與作為寫入功率的函數(shù)和與兩 個曲線擬合函數(shù)的乘積，以及
圖4是根據(jù)本發(fā)明的方法的流程圖。
具體實施例方式
圖l表示了根據(jù)本發(fā)明的光學記錄裝置和光學記錄媒質(zhì)l。該記錄 媒質(zhì)1具有透明襯底2和設置在該襯底上的記錄層3。該記錄層3包括 適用于利用輻射光束5記錄信息的材料。該記錄材料可以是例如磁光 材料、相變材料、染料材料、金屬合金(如Cu/Si)或者任意其它適當
的材料。信息可以以可光學探測區(qū)域的形式記錄在記錄層3上，該區(qū) 域也稱作標記。該裝置包括用于發(fā)射輻射光束5的輻射光源4，例如半 導體激光器。將該輻射光束經(jīng)由分束器6、物鏡7和襯底2引導到記錄 層3。可選的是，該記錄媒質(zhì)可以是空氣入射的，然后使該輻射光束直 接入射到記錄層3上，而不經(jīng)過襯底。物鏡7收集從媒質(zhì)1反射的輻 射，在經(jīng)過分束器6之后該輻射入射到探測系統(tǒng)8上，該探測系統(tǒng)將 入射輻射轉(zhuǎn)化為電探測器信號。將該探測器信號施加到電路9。該電路 9從該探測器信號獲得幾個信號，例如表示從記錄媒質(zhì)1讀取的信息的 讀取信號SR。輻射光源4、分束器6、物鏡7、探測系統(tǒng)8和電路9共 同構(gòu)成了讀取單元90。
在笫一處理器10中處理來自電路9的讀取信號，以便從該讀取信 號獲得表示讀取參數(shù)的信號。將所獲得的信號提供給第二處理器101， 隨后提供給第三處理器102，這些處理器處理讀取參數(shù)的一系列值，并 且由這些值荻得控制激光器功率電平所必須的寫入功率控制信號的 值。
將寫入功率控制信號施加到控制單元12。將表示要記錄到記錄媒 質(zhì)1上的信息的信息信號13也提供給控制單元12。該控制單元12的 輸出端連接到輻射光源4。利用單一輻射脈沖能夠?qū)擞浻涗浀接涗泴?3，該脈沖的功率是由處理器102確定的最佳寫入功率電平(P。pt)確 定的?？蛇x的是，還能夠利用具有相等或不同長度的一系列輻射脈沖 以及由寫入功率信號確定的一個或多個功率電平來記錄標記。
應當將處理器理解為表示適用于實施計算的任意裝置，例如微處 理器、數(shù)字信號處理器、硬連線模擬電路或者場可編程電路。此外， 第一處理器10、第二處理器101和笫三處理器102可以是獨立的設備，
可選的是可以將它們組合到執(zhí)行所有三個過程的單一設備中。
在媒質(zhì)1上記錄信息之前，該裝置通過執(zhí)行根據(jù)本發(fā)明的方法將 其寫入功率(P)設為最佳值(P。pt)。圖4中示出了示意性表示這種 方法的流程圖。
在第一個步驟41中，該裝置將一系列測試圖案寫入到媒質(zhì)1上。 應當選擇該測試圖案，從而給出所需的讀取信號。如果將要從讀取信 號獲得的讀取參數(shù)是屬于測試圖案的讀取信號部分的調(diào)制(M)，則 該測試圖案應當包括足夠長的標記，以實現(xiàn)讀取信號部分的最大調(diào)
制。當根據(jù)所謂的8-14調(diào)制(EFM)編碼該信息時，該測試圖案優(yōu) 選包括調(diào)制方案的長I11標記。當根據(jù)8-14正調(diào)制(EFM+)編碼該 信息時，該測試圖案應當包括該調(diào)制方案的長I14標記。當根據(jù)所謂的 17PP調(diào)制編碼該信息時，該測試圖案優(yōu)選包括該調(diào)制方案的長18標 記。以不同的寫入功率電平(P)記錄每個測試圖案。能夠根據(jù)作為控 制信息記錄在該記錄媒質(zhì)上的初始功率電平(Pw)來選擇功率的范圍。 可以在控制單元12的控制下，以步進遞增的寫入功率電平(P)記錄 隨后的測試圖案?？梢詫⒃摐y試圖案寫入記錄媒質(zhì)上的任意位置?？?選的是可以將測試圖案寫入該記錄媒質(zhì)上的特別提供的測試區(qū)域中。
在第二個步驟42中，讀取單元90讀取所記錄的測試圖案，從而 形成讀取信號SR。圖2表示了從以兩個不同寫入功率電平寫入的兩個 測試圖案獲得的讀取信號部分18和19。所示的圖案包括分別位于讀取 信號部分18和讀取信號部分19中的由信號部分15、 16和17表示的短 標記、長標記和短標記。實際的圖案可以包括具有不同或相同長度的 幾百個標記。
在第三個步驟43中，處理器IO從讀取信號SR獲得每個讀取信號 部分的讀取參數(shù)?？赡艿淖x取參數(shù)是讀取信號部分的最低振幅水平(用 于讀取由圖2中的"a，，表示的信號部分18)與相同讀取信號部分的最 大振幅水平(由"b"表示)之比。優(yōu)選的讀取參數(shù)是調(diào)制(M)，其 為由"c，，表示的讀取信號的最大峰峰值與該讀取信號部分的最大振幅 "b，，之比。
在第四個步驟44中，處理器101針對讀取參數(shù)和寫入功率電平 (P)的相關值擬合函數(shù)。該函數(shù)定義了讀取參數(shù)與寫入功率電平(P) 之間的關系。作為曲線擬合函數(shù)的輸入，提供了寫入功率電平的相應 初始值(Pini)。寫入功率能夠由測試圖案記錄過程中的寫入功率控制 信號值獲得，或者可選的是，可以由輻射功率的測量值獲得。該曲線 擬合函數(shù)可以具有所屬領域技術人員容易獲得的許多不同的數(shù)學形 式。因此，可以將諸如多項式的曲線擬合到近似所討論的初始寫入功 率電平(Pini)的功率電平。
在圖3中，表示了該曲線擬合過程的優(yōu)選實施例。 縱軸表示寫入功率(P)乘以調(diào)制(M)，而橫軸表示寫入功率(P)。 每個點51分別表示測得的調(diào)制(M)乘以寫入功率(P)和寫入功率
(P)的一對值。
在圖3的優(yōu)選實施例中，表示了初始寫入功率電平Pini,i。在由箭
頭52示意表示的該初始寫入功率電平Pinij附近的預定間隔中，將圖3
中曲線圖的測得點51擬合到具有以下形式的函數(shù)
P M = oc ■ (P畫p)，
其中oc和P是擬合常數(shù)。該擬合函數(shù)在圖3的曲線圖中為直線53。 P 的值對應于該線53與橫軸的交點54。由最小平方或者其它適當?shù)臄?shù)學 方法可以獲得該直線53和相關的常數(shù)ot和p 。
可以將間隔52定義為初始寫入功率電平(Pini)的范圍分數(shù)(R)， 例如初始寫入功率電平(Pini)的10%、 20%、 30%或40%，但是也可 以為預定常數(shù)，例如0.1或者0.2mW。
在笫五個步驟45中，處理器102實施預定的過程，以便由第四個
步驟的曲線擬合函數(shù)獲得特征性寫入功率電平(Pehar)。因此，該特 征性寫入功率電平(Pehar)由此具有寫入功率電平的相關初始值(Pini)。 在優(yōu)選實施例中，寫入功率電平(Pchar)的特征值是由以下等式給出 的
Pchar - K & ，
其中K是第一倍增常數(shù)，K是從光學記錄媒質(zhì)(1)中讀取的。由于P 值取決于寫入功率電平的初始值(Pini),因此該寫入功率電平的特征 值(Pehar)為所討論的初始寫入功率電平(Pini )的函數(shù)。為了估計所 找到的寫入功率電平的特征值(PiW)是否為最佳值，實施預定的過程， 在該過程中，以所述預定的過程評價剛剛獲得的寫入功率電平(Pchar) 的特征值。因此，能夠?qū)懭牍β孰娖降奶卣髦?Pdw)與具有允許 值的某個間隔和/或具有固定值的某個集合進行比較。
在最優(yōu)選的實施例中，通過評價寫入功率電平的特征值(Pchar)與 相應的寫入功率電平初始值(Pini)之間的數(shù)值差，將寫入功率電平的 特征值(Pchar)與相應的寫入功率電平初始值(Pini)進行比較。如果
所述數(shù)值差4氐于某個闊值水平，例如O.lmW、 0.05mW、 O.OlmW
0.005mW，則將該寫入功率電平的特征值(Pchar)視為最佳值，并且在
標記47的步驟終止本發(fā)明的方法，在該步驟中啟動寫入過程。有利的 是，所述閾值水平取決于寫入激光的功率步進分辨率，其中可以由功 率校準過程中的連續(xù)激光功率電平，即圖3中橫軸上點51之間的功率 差給出該功率步進分辨率。然而，如果寫入功率電平的特征值(Pchar) 不是依照所述預定過程的最佳值，則啟動第六個步驟46。
本領域技術人員容易獲得對寫入功率電平的特征值(Pchar)的多種 不同評價方案，包括有助于通過固有地分散測得值來減少比較的敏感 度的統(tǒng)計方法。
在第六個步驟46中，為了找到符合第五個步驟45的條件的經(jīng)改 善的寫入功率電平特征值(Pehar)，即作為最佳值的寫入功率電平特 征值(Pchar)，處理器102實施預定的過程，以開始重復過程。該過程 是由重復方案或過程實現(xiàn)的，其中由以下等式給出隨后的寫入功率電 平初始值(P
Pini，n+1 = A Pini，n + (l-A) Pchar,n，
其中A為常數(shù)，優(yōu)選在0到1之間，并且n為整數(shù)。
在圖3中，該值由Ptai，2示意表示，其由以上的重復公式在n等于1
時給出。通過第四個步驟44中給出的過程，以箭頭55表示的Ptai，2附
近的預定間隔擬合測得的調(diào)制(M)乘以功率(P)的值M 。因此， 獲得了直線56，該直線56與橫軸相交于具有值32的交點57。由h
獲得新的寫入功率電平特征值(Pchar，2)，隨后根據(jù)本發(fā)明的第五個步
驟45將該值估計為最佳值。如果所獲得的寫入功率電平特征值
(Pchar,2)不是最佳值，則可以采取再一個重復步驟，以便獲得寫入功 率電平的另一個特征值(Pchar,3)，并且評價Pchar，3是否為最佳值。至 此以后，可以繼續(xù)該重復，直到獲得了最佳值為止。
因此，對于所獲得的每個寫入功率電平特征值(Pchar,i)而言，在 第五個步驟45中進行估計。優(yōu)選的是，繼續(xù)第五個步驟45與第六個 步驟46之間的循環(huán)，直到獲得了最佳值為止，但是如果在較多次的重 復循環(huán)之后仍然未獲得最佳值，則可以用預定的停止過程來中斷該循 環(huán)。 大量計算已經(jīng)表明，本發(fā)明能夠獲得更快且更可靠的重復程序， 以找到最佳的寫入功率電平特征值(Pchar)。因此，通常僅需要幾個 重復步驟，并且很少觀察到非收斂的情況。
隨后，能夠找到圖1所示的輻射光束5的寫入功率電平(P)的最 佳值(P。pt)。將寫入功率電平(P)的最佳值(P。pt)設定為等于該寫 入?yún)?shù)最佳值乘以第二倍增常數(shù)(p );
因此，獲得了用于在該光學記錄媒質(zhì)上寫入信息的寫入功率電平 (P)的最佳值(P。pt)。
希望可以改變常數(shù)的值，即A、 p和K,以找到寫入?yún)?shù)的最佳
值，這樣就可能來評價一個或多個找到的寫入?yún)?shù)最佳值的穩(wěn)定性。
類似的是，可以按照重復的方式來改變范圍分數(shù)(R)，以估計所找到 的寫入?yún)?shù)的最佳值及其穩(wěn)定性。
盡管已經(jīng)結(jié)合特定的實施例描述了本發(fā)明，但是無意將本發(fā)明限 制為本文中提出的具體形式。然而，本發(fā)明的范圍僅僅由所附權(quán)利要 求書定義。在權(quán)利要求書中，術語"包括"不排除其它元件或步驟的 存在。此外，盡管在不同權(quán)利要求中可以包含單獨的特征，但是有利 的是也可以將這些特征組合起來，并且包含在不同權(quán)利要求中并不意 味著這些特征的組合不可行和/或不產(chǎn)生有益效果。此外，單數(shù)冠詞并 不排除多個的存在。因此，慣詞"一，，、"一個"、"第一，，、"第 二，，等并不排除多個存在。此外，權(quán)利要求書中的附圖標記不應理解 為發(fā)明范圍的限制。
權(quán)利要求
1.一種用于設定光學記錄裝置中使用的寫入?yún)?shù)最佳值的方法，該光學記錄裝置用于利用輻射光束(5)在光學記錄媒質(zhì)(1)上寫入信息，所述方法包括以下步驟1)在記錄媒質(zhì)上寫入一系列測試圖案，每個圖案以不同的輻射光束寫入功率電平(P)值寫入，2)讀取圖案從而形成相應的讀取信號部分(18、19)，3)由每個讀取信號部分獲得讀取參數(shù)值，4)針對讀取參數(shù)和寫入功率電平(P)的相關值，曲線擬合定義讀取參數(shù)與寫入功率電平(P)之間關系的函數(shù)，該曲線擬合函數(shù)具有寫入功率電平的初始值(Pini)，5)從該曲線擬合函數(shù)獲得特征性寫入功率電平(Pchar)，并且估計該特征性寫入功率電平(Pchar)是否符合寫入?yún)?shù)最佳值標準，且 如果該特征性寫入功率電平(Pchar)不符合寫入?yún)?shù)最佳值的標準，則開始6)通過重復過程獲得一個或多個特征性寫入功率電平(Pchar，n)，在重復過程中由以下等式給出隨后的寫入功率電平(Pini，n)初始值Pini，n+1＝A Pini，n+(1-A)Pchar，n，其中A為常數(shù)，n為整數(shù)。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中該讀取參數(shù)是從記錄在記錄 媒質(zhì)(1)上的信息獲得的讀取信號的振幅的調(diào)制(M)。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其中曲線擬合函數(shù)可以具有以下形式P.M-oc .(P-P)，其中ct和P具有由曲線擬合產(chǎn)生的值，并且其中將至少一個函數(shù)的寫入?yún)?shù)的特征值(Pchar)設定為基本上等于第一倍增常數(shù)(k)的e倍。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其中從記錄媒質(zhì)(1)上的、包含表示將信息記錄到所述記錄媒質(zhì)上的記錄過程的控制信息的區(qū)域中讀取第一倍增常數(shù)(K)。
5. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其中在寫入功率電平的預定擬合 范圍中實施定義直線的函數(shù)曲線擬合。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其中由與每個曲線擬合函數(shù)相關 的寫入功率電平初始值(pini)與范圍系數(shù)(R)確定預定擬合范圍的位置。
7. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的方法，其中該常數(shù)A處于O與l之間。
8. —種用于設定輻射光束寫入功率電平(P)的最佳值(P。pt)的 方法，該方法用于光學記錄裝置中，該光學記錄裝置用于利用上迷權(quán) 利要求1中要求的設定寫入?yún)?shù)最佳值的方法，借助具有寫入功率電 平(P)的輻射光束(5)在光學記錄媒質(zhì)(1)上寫入信息，其中將寫 入功率電平(P)的最佳值(P。pt)設定為等于寫入?yún)?shù)的最佳值乘以 第二倍增常數(shù)(p)。
9. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其中從記錄媒質(zhì)(l)上的、包含表示將信息記錄到所述記錄媒質(zhì)上的記錄過程的控制信息的區(qū)域中讀取 第二倍增常數(shù)(p)。
10. —種用于實現(xiàn)根據(jù)本發(fā)明權(quán)利要求l的方法的光學記錄裝置， 該裝置包括-輻射光源(4)，用于發(fā)射具有可控的、用于在記錄媒質(zhì)上記錄 信息的寫入功率電平(P)值的輻射光束(5)，-控制單元(12)，用于記錄一系列測試圖案，各個圖案以不同的 寫入功率電平值記錄，-讀取單元(90)，用于讀取圖案，并且形成相應的讀取信號部分 (18， 19)，-第一裝置(10)，用于由每個讀取信號部分獲得讀取參數(shù)值， -第二裝置(101)，用于針對讀取參數(shù)與寫入功率電平(P)的 相關值，曲線擬合定義讀取參數(shù)與寫入功率電平(P )之間關系的函數(shù)，該曲線擬合函數(shù)具有寫入功率電平的初始值(Pini)，-第三裝置(102)，用于從該曲線擬合函數(shù)獲得特征性寫入功率電平(Pchar)，并且估計該特征性寫入功率電平(Pehar)是否符合寫入 參數(shù)的最佳值的標準，且如果該特征性寫入功率電平(Pehar)不符合寫入?yún)?shù)最佳值的標準， 則開始，-第四裝置(102)，用于通過重復過程獲得一個或多個特征性寫入功率電平(Pchar，n)，在該重復過程中由以下等式給出隨后的寫入功 率電平(Pini,n)初始值Pini，n+1 = A Pini，n + (1-A) Pchar，n,其中A為常數(shù)，n為整數(shù)。11. 一種光學記錄媒質(zhì)(1)，通過利用輻射光束(5)照射該記 錄媒質(zhì)來記錄信息，該記錄媒質(zhì)包括包含表示將信息記錄到所述記錄 媒質(zhì)上的記錄過程的控制信息的區(qū)域，該控制信息包括用于該記錄過 程的記錄參數(shù)值，其中該控制信息包括表示用于根據(jù)權(quán)利要求1所述 的方法和根據(jù)權(quán)利要求10所述的裝置中的初始寫入功率電平(Pini)的信息。12. —種光學記錄媒質(zhì)(1)，通過利用輻射光束(5)照射該記 錄媒質(zhì)來記錄信息，該記錄媒質(zhì)包括包含表示將信息記錄到所述記錄 媒質(zhì)上的記錄過程的控制信息的區(qū)域，該控制信息包括用于記錄過程 的記錄參數(shù)值，其中該控制信息包括分別用于根據(jù)權(quán)利要求1、 3或8 所述的方法中的常數(shù)A、第一倍增常數(shù)(k )或者第二倍增常數(shù)(p ) 中的至少一個。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種用于設定光學記錄裝置中使用的寫入?yún)?shù)最佳值的方法，該光學記錄裝置利用輻射光束在光學記錄媒質(zhì)上寫入信息。通過曲線擬合函數(shù)和由該曲線擬合函數(shù)獲得的特征性寫入功率電平(P<sub>Char</sub>)來得到該寫入?yún)?shù)最佳值。然后估計該特征性寫入功率電平(P<sub>Char</sub>)是否符合寫入?yún)?shù)最佳值的標準。如果該特征性寫入功率電平(P<sub>char</sub>)不符合寫入?yún)?shù)最佳值的標準，則開始重復過程，在該重復過程中由以下等式給出隨后的寫入功率電平(P<sub>ini</sub>，n)初始值P<sub>ini</sub>，n+1＝A P<sub>ini</sub>，n+(1-A)P<sub>char</sub>，n，其中A為常數(shù)，n為整數(shù)。本發(fā)明還涉及根據(jù)本發(fā)明的光學記錄裝置和光學記錄媒質(zhì)。
文檔編號G11B7/125GK101107653SQ200680002548
公開日2008年1月16日 申請日期2006年1月16日 優(yōu)先權(quán)日2005年1月18日
發(fā)明者M·凱帕 申請人:皇家飛利浦電子股份有限公司