專利名稱：：用于確定用于在光學(xué)記錄載體上記錄數(shù)據(jù)的寫策略參數(shù)以及用于確定用于從光學(xué)記錄載...的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明涉及一種用于確定用于在光學(xué)記錄載體上記錄數(shù)據(jù)的寫策略參數(shù)的裝置和對應(yīng)的方法。本發(fā)明還涉及一種用于確定用于從光學(xué)記錄載體讀出數(shù)據(jù)的讀參數(shù)的裝置和對應(yīng)的方法。更進(jìn)一步,本發(fā)明涉及一種用于確定用于在光學(xué)記錄載體上記錄數(shù)據(jù)和/或從光學(xué)記錄載體讀出數(shù)據(jù)的伺服參數(shù)的裝置和對應(yīng)的方法。
背景技術(shù)：
：為了正確地在光盤上寫入，用一定模式(稱為寫策略)來控制激光。通常，但不總是，寫策略被存儲在盤上，例如作為用于DVD可記錄和可重寫盤的ADIP信息。但是，由于由盤制造商調(diào)整的寫策略通常是在某一參考驅(qū)動器上作出的，所以該信息并不總是正確的或為最佳寫策略。這些參考驅(qū)動器的光學(xué)路徑與實際的光學(xué)驅(qū)動器相比是不同的。因此，用于不同類型盤的寫策略也通常以介質(zhì)表的形式保存在驅(qū)動器中(在研制期間)。這涉及到未知的或新研制的類型盤在介質(zhì)表中沒有提到的問題。在這種情況下，驅(qū)動器使用在盤上存儲的寫策略。如上所述，這不是最佳的一個，而且依賴于驅(qū)動器制造商具有的系統(tǒng)余量(margin),在某^I度上某些盤可能不能被正確地寫入。G.Langereis的文章"用于光學(xué)驅(qū)動器中寫策M(jìn);化的表面響應(yīng)方法論"，應(yīng)用物理日文期刊，第43巻，第8A期，5623頁-5629頁("SurfaceRe鄰onseMethodologyforWriteStrategyOptimisationinOpticalDrives",JapaneseJournalofAppliedPhysics,Vol.43，No.8A,pp.5623-5629)描述了一種寫策略優(yōu)化算法。具體地，其中描述了塔型(castle)策略以及使用實驗設(shè)計(D0E)方法的表面響應(yīng)方法，所述塔型策略包括在3T空間之后對標(biāo)記的熱平衡以及借助于更大標(biāo)記中的凹槽的改進(jìn)的標(biāo)記內(nèi)溫度補償。然而，這個算法在實際光學(xué)驅(qū)動器的實施中具有缺點。具體來說，沒有提供任何探究的可能性并且沒有許多參數(shù)被包括在算法中。在存儲在光學(xué)記錄載體上的數(shù)據(jù)的再現(xiàn)期間出現(xiàn)對以的問題。光盤的可播放性調(diào)諧很費時。在不同的盤缺陷(如刮擦、指紋、灰塵等等)和震動行為之間必須進(jìn)行參數(shù)的折衷。通常在項目的研制階段調(diào)諧可播放性。取決于系統(tǒng)余量，在讀期間在場內(nèi)的參數(shù)傳播(spread)/漂移可能給出數(shù)據(jù)錯誤。例如，在汽車應(yīng)用中，在隨時間變化的很大變化的環(huán)境/情況中期望很低的故障率(例如10ppnO。
發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的是提供用于分別確定寫策略參數(shù)和讀參數(shù)的e爐的驢和方法，其在實踐中可容易地實施，僅僅需要少量時間，并且還允許對在驅(qū)動器的介質(zhì)表中沒有存儲寫策略和讀策略的盤分另臓定最佳的寫策略參數(shù)和讀參數(shù)。根據(jù)本發(fā)明如權(quán)利要求1要求保護(hù)的用于確定寫策ffl各參數(shù)的裝置實現(xiàn)該目的，所述裝置包括-初始化裝置，用于設(shè)置初始寫策略參數(shù)，-設(shè)置裝置，用于基于所述初始寫策略參數(shù)的變化來設(shè)置初始變量級別(variablelevels)和初始實驗方案，用于優(yōu)化所述寫策略參數(shù)的實驗方法的設(shè)計，-優(yōu)化裝置，用于利用實驗方法的設(shè)計確定優(yōu)化的寫策略參數(shù)，以及-迭代裝置，用于基于預(yù)定標(biāo)準(zhǔn)檢查由優(yōu)化裝置確定的優(yōu)化的寫策略參數(shù)是否將被進(jìn)一步優(yōu)化，以及在寫策略參數(shù)將被進(jìn)一步優(yōu)化的情況下，用于確定在用于進(jìn)一步優(yōu)化所述寫策略參數(shù)的實驗方法的設(shè)計的另一個迭代中所用的新的變量級別和新的實驗方案。此外，根據(jù)本發(fā)明如權(quán)利要求3要求保護(hù)的用于確定讀參數(shù)的裝置實現(xiàn)該目的，所述裝置包括-初始化裝置，用于設(shè)置初始讀參數(shù)，-設(shè)置裝置，用于基于所述初始讀參數(shù)的變化來設(shè)置初始級另訴卩初始實驗方案，用于優(yōu)化所述讀參數(shù)的實驗方法的設(shè)計中，-優(yōu)化裝置，用于利用實驗方法的設(shè)計來確定優(yōu)化的讀參數(shù)，以及-迭代裝置，用于基于預(yù)定標(biāo)準(zhǔn)來檢查由優(yōu)化裝置確定的優(yōu)化的讀參數(shù)是否將被進(jìn)一步優(yōu)化，以及在讀參數(shù)將被進(jìn)一步優(yōu)化的情況下，用于確定在用于進(jìn)一步優(yōu)化讀參數(shù)的實驗方法的設(shè)計的另一個迭代中所用的新的變量級別和新的實驗方案。對應(yīng)的方法在權(quán)利要求15和16中進(jìn)行限定。本發(fā)明的優(yōu)選實施例被限定在從屬禾又利要求中。本發(fā)明基于用于在盤上記錄的寫策略參數(shù)和用于從盤讀取數(shù)據(jù)的讀參數(shù)分別取決于盤、記錄器和記錄速度以及盤、讀取器和讀取速度的構(gòu)思。對于未知盤，應(yīng)以實際記錄速^/讀取速jt^t每個記錄器/盤組合以及讀出器/盤確定寫策略參類V讀參數(shù)。根據(jù)本發(fā)明提出了用于確定寫策略參數(shù)和讀參數(shù)的這種自學(xué)習(xí)優(yōu)化過程。特別地，本發(fā)明首先提出利用已知的實驗方法的設(shè)計進(jìn)行第一優(yōu)化運行。通常，這種方法是一種構(gòu)造的、有組織的方法，該方法用于確定影響過程的因素和該過程的輸出之間的關(guān)系。即，實驗的設(shè)計指的是用于通過注意由算術(shù)系統(tǒng)表所指示的在方法上做出的強(qiáng)制改變統(tǒng)計地對因素和因素間的相互作用的不確定的測量進(jìn)行量化的實驗方法。為了執(zhí)行這個第一運行，確定初始寫策略參f[/讀參數(shù)(在下面通常還被稱為"初始參數(shù)")、初始變量級別以及初始實驗方案。所述初始參數(shù)例如可以從記錄載體本身讀取或取自存儲在裝置本身中的默認(rèn)寫策略/讀策略。寫策略參數(shù)是例如記錄功率、冷卻間隙(偶數(shù)或奇數(shù)標(biāo)記的)、功率增量以及時間增量。這些參數(shù)通常是例如在可記錄CD上以ATIP(預(yù)刻槽中的絕對時間)信息或在可記錄DVD+R盤上以ADIP(預(yù)刻槽中的絕對地址)被預(yù)存儲在記錄載體上。讀參數(shù)是例如伺服參數(shù)(諸如徑向、聚焦帶寬)、解碼器參數(shù)(諸如均衡器、限幅器和PLL帶寬)。從這些參數(shù)中選擇一組參數(shù)，特別地一個或兩個參數(shù)(同時更多參數(shù)是可能的，但這使計算復(fù)雜了)，根據(jù)這些參數(shù)確定用于實驗方法的設(shè)計的初始變量級別和初始實驗方案。例如，對于DVD可記錄盤，選擇記錄功率Pw和對于3T標(biāo)記寫脈沖持續(xù)時間Ti3將被實驗方法的設(shè)計優(yōu)化的寫參數(shù)。優(yōu)選地，所述參數(shù)具有特定的相關(guān)性。因此，這些參數(shù)的變化的不同組合被確定(以"編碼的"或"標(biāo)準(zhǔn)的"形式)為變量級別并被設(shè)置在實驗方案中。地，為了確定優(yōu)化的寫策略參數(shù)，進(jìn)4于根據(jù)所述實驗方案的大量測試記錄以利用如在實驗方案中所設(shè)置的寫策略參數(shù)的所述組合將測試數(shù)據(jù)寫到記錄載體上。對以地，為了確定優(yōu)化的讀參數(shù)，進(jìn)行根據(jù)所述實驗方案的大量測試讀取以利用如在實驗方案中所設(shè)置的讀參數(shù)的所述組合從記錄載體讀取測試數(shù)據(jù)。代替從記錄載體讀取測試數(shù)據(jù)，為了這個目的以相同的方式使用具有盤錯誤或盤缺陷(諸如指印、黑點、刮擦等)的測試盤(還可以是市場上使用的盤)。這些盤將在研制過程中被使用以模擬市場上可得到的盤。結(jié)果，M所述實驗方法的設(shè)計獲得優(yōu)化的寫策略參數(shù)/優(yōu)化的讀參數(shù)(下面通常還被稱為"優(yōu)化參數(shù)")。之后，利用預(yù)定標(biāo)準(zhǔn)檢查是否需要進(jìn)一步的優(yōu)化，該標(biāo)準(zhǔn)例如在實驗方法的設(shè)計的第一次運行期間由所述不同實驗獲得的最終產(chǎn)生的抖動。如果不需要進(jìn)一步優(yōu)化，確定的優(yōu)化參數(shù)將分別被用于在所述記錄載體上記錄以及從所述記錄載體讀取數(shù)據(jù)。否則，啟動迭代并利用新的變量級別和新的實驗方案執(zhí)行實驗方法設(shè)計的另一個運行，所述新的變量級別和新的實驗方案基于在實驗方法設(shè)計的在前運行期間獲得的結(jié)果而確定。這些迭代可以執(zhí)行一次或更多次，直到滿足所述預(yù)定標(biāo)準(zhǔn)，例如，如果抖動低于預(yù)定閾值，如果已經(jīng)執(zhí)行了預(yù)定次數(shù)的迭代和/或通過最后的迭代沒有獲得進(jìn)一步的顯著的改進(jìn)。因此，本發(fā)明提供用于獲得光學(xué)記錄載體的優(yōu)化參數(shù)的簡單而有時間效率的方法。該方法地用于對于驅(qū)動器是"未知"的光學(xué)記錄載體，即對于該光學(xué)記錄載體來說，在驅(qū)動器中例如介質(zhì)表中沒有存儲寫策略參i(/讀參數(shù)D然而，該方法還可用于甚至在記錄載體本身上沒有存儲任何寫策略參l^/讀參數(shù)的記錄載體，或還可用來進(jìn)一步優(yōu)化存儲在記錄載體上或存儲在驅(qū)動器中的寫策略參i(/讀參數(shù)。對每個單獨的盤，可以快速地確定記錄到盤上/從盤讀取的最好方式以便可靠地記錄/讀取M，可靠的數(shù)據(jù)記錄隨后導(dǎo)所有類型的記錄載體的記錄數(shù)據(jù)的可靠播放。此外，這個解決方案是支持現(xiàn)存的以及新的介質(zhì)制造商的所有新介質(zhì)的面向未來的技術(shù)(future-proof)。相比于其他已知的花費二十分鐘完成寫策略優(yōu)化的解決方案，所提出的自學(xué)習(xí)寫優(yōu)化僅僅花費幾秒鐘。優(yōu)化裝置的優(yōu)選實施例包括測試記錄裝置/測試讀取裝置；測量裝置，用于測翻量參數(shù)的質(zhì)量參數(shù)值；以及確定體，用于fflOT觀賦記錄/觀賦讀取估計測量的質(zhì)量參數(shù)值來確定優(yōu)化參數(shù)。該質(zhì)量參數(shù)可以是例如在每個測試記錄/測試讀取之后優(yōu)選測量的抖動、塊錯誤率或位錯誤率。此外優(yōu)選地，使用模型來確定優(yōu)化參數(shù)，特別是二階模型，并且對于該模型，最佳值特別是最小值被確定用于找到優(yōu)化參數(shù)。雌這種二階模型，因為它己經(jīng)被示出(參見上述G.Langereis的文章中的圖3和4):前(leading)抖動和后(trailing)抖動兩者都具有取決于寫策略參數(shù)的拋物線，且RMS值(作為總抖動)也具有二階形狀。然而，通常還可以使用其它模型。這種模型的另一個優(yōu)點是，該模型的系數(shù)值，如根據(jù),實施例所提出的，還可以被用作預(yù)定標(biāo)準(zhǔn)，用于檢查是否將對確定的參數(shù)做進(jìn)一步的優(yōu)化，即，是否需要另一個迭代運行。例如，在二階模型盼瞎況下，所述模型的二次項的系數(shù)的系數(shù)值被用于這個目的，它能很好地指示是否已經(jīng)找到了模型的最佳值(即最小值)或是否需要任何進(jìn)一步優(yōu)化。此外，所述系數(shù)值還可被用來指，代方向，即必須以哪一方式，即在哪一方向上以及通過哪一操作(增力P/減少/移動)改變先前的體級別用來確定將在另一個迭代中〗頓的新的實驗方案。所提出的本發(fā)明還可用于校準(zhǔn)寫策略參數(shù)和讀參數(shù)之外的其它參數(shù)，即伺服參數(shù)，諸如聚焦偏移和徑向傾斜校準(zhǔn)，或球面像差和聚焦偏移等等。在權(quán)利要求17至19中限定了根據(jù)本發(fā)明的用于確定用于在光學(xué)記錄載體上記錄和/或從光學(xué)記錄載體讀取的伺服參數(shù)的裝置和方法。現(xiàn)在將參考附圖更詳細(xì)地闡明本發(fā)明，其中圖1顯示包括根據(jù)本發(fā)明的方法的用于確定寫策略參數(shù)的一般方法的流程圖，圖2更詳細(xì)地顯示了所提出的用于寫策略參數(shù)優(yōu)化的優(yōu)化方法，圖3顯示用于在DVD+R盤上記錄的寫策略的圖表，圖4顯示在寫策略參數(shù)優(yōu)化中的一個優(yōu)化步驟的子步驟的流程圖，圖5顯示在中心復(fù)合設(shè)計方案中兩個值、和x2的示意圖，圖6顯示了對于作為抖動函數(shù)的兩個參數(shù)的擬合模型，圖7更詳細(xì)地顯示圖示說明根據(jù)本發(fā)明的方法的流程圖，圖8顯示圖示說明確定迭代方向的步驟的流程圖，圖9顯示圖5的中心復(fù)合設(shè)計方案的示意圖，圖示說明了修改變量級別的不同方式，圖10顯示圖5的中心復(fù)合設(shè)計方案的示意圖，指示了獲得的抖動值，圖11顯示圖示說明作為更寬極限的函數(shù)的一個參數(shù)的范例約束的示意圖，圖12顯示用于高速記錄的寫策略優(yōu)化的方法的實際實施例的流程圖，以及圖13顯示用于高速和低速記錄的寫策ium化的方法的實際實施例的流程圖，圖14顯示用于確定讀或?qū)憛?shù)的自適應(yīng)網(wǎng)絡(luò)的示意圖，圖15顯示圖示說明用于確定讀參數(shù)的方法的實施例的流程亂圖16更詳細(xì)地顯示所提出的用于讀參數(shù)優(yōu)化的優(yōu)化方法，圖17顯示在讀參數(shù)優(yōu)化方法中的一個優(yōu)化步驟的子步驟的流程圖，以及圖18顯示包括根據(jù)本發(fā)明的裝置的驅(qū)動器的方框圖。具體實施例方式圖1顯示用于確定用于在可記錄或可重寫盤上記錄數(shù)據(jù)的寫策略參數(shù)的方法的流程圖。己經(jīng)發(fā)現(xiàn)用于在盤上記錄的激光功率和寫策略取決于盤、記錄器和記，度。對于未知盤，即對于在存儲于驅(qū)動器中、列出最佳寫策略參數(shù)的介質(zhì)表中沒有記載條目(entry)的盤(或更精確地，對于盤的類型)從而不是最優(yōu)的盤，對于每個記錄器/盤組合，這些參數(shù)將以實際記錄速度確定。這種寫策略參數(shù)的確定可通過由數(shù)據(jù)路徑產(chǎn)生的某一命令激活，這里這種命令被稱作〃BE—Calibraterecord〃命令Sl。因此，在步驟S2中對盤是否〃未知"進(jìn)行檢查之后，如果盤不是未知的就將執(zhí)行步驟S3中公知的0PC程序以便確定用于在那個盤上進(jìn)^H己錄的最佳寫功率P。如果盤是〃未知的〃，那么在步驟S4中使用默認(rèn)的寫策略(例如從盤讀恥執(zhí)行公知的0PC程序以便確定指示功率PiW，即用于隨后步驟S5中的優(yōu)化方法(SLWS0)的起始寫功率，ffl31步驟S5確定優(yōu)化的寫策略參數(shù)。因lltt知盤被轉(zhuǎn)換為已知盤。在圖2中顯示了步驟S5的提出的優(yōu)化方法的流程圖。SLWSO方封繼地在內(nèi)/外盤測試區(qū)(Inner/OuterDiscTestZone)執(zhí)行，并在盤方向從夕卜側(cè)向內(nèi)側(cè)被寫入。優(yōu)選地，在每個盤旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)換(discrevolutiontransition)時即時地(onthefly)改變參數(shù)(或?qū)嶒?。在每個參數(shù)步驟(或?qū)嶒?，抖動將在一個旋轉(zhuǎn)期間(例如對于DVD+R來說，一個ADIP幀期間5次)被測量并將被平均。例如在DVD+R介質(zhì)上，記錄過禾就很多參數(shù)的變化很敏感，如記錄功率、環(huán)境、M、激光波長等等。為了,最佳激光功率/定時的確定，優(yōu)選基于抖動測量的校正程序。大體上，抖動讀出測量將沿著一個盤旋轉(zhuǎn)發(fā)生，以得到沿著圓周的變化的平均數(shù)，如偏心率等等。在寫策略優(yōu)化器中可被使用的最重要的dvd+r塔型寫策略參數(shù)是p(=Pw+dPw)、Ti3和dPw，它們都被顯示在圖3的圖中，圖3示意性地圖示說明了對于DVD+R介質(zhì)的6x和8x(直到16x)記:til度的寫脈沖的通常布局。利用這些參數(shù)，將在兩個不同的步驟S51和S53中進(jìn)行實驗(參見圖2)。在每個所述步驟之后，將在步驟S52和S54中ffiil讀取抖動值o來檢查寫性能。如果測量的抖動o己經(jīng)低于某一極限ctm，該極限可以從實驗中發(fā)現(xiàn)并設(shè)置在驅(qū)動器中(例如10%的極船并且在參考DVD播放器上可用該極限讀回所寫入的M，夷(3么在第一或第二步驟S51或S53之后將不進(jìn)行進(jìn)一步的實驗。在頭兩個步驟之后，如果抖動過高，則將執(zhí)行另外的兩個步驟S56和S57，執(zhí)行順序取決于在步驟S55中所檢查到的dPw的級別。通常，僅僅需要這些另外的參數(shù)(Tlp4、dTle、Ttop和Tlp)作為寫策略的微調(diào)。最后，在步驟S58中再次測量抖動o并相對于極限c,m再次檢查抖動c;。如果仍然超出，則假定一^H昔誤，否則結(jié)束4尤化方法。可在DVD+R標(biāo)準(zhǔn)(DVD+R4.7Gbytes基式規(guī)格，版本1.2，系統(tǒng)說明，2003年7月)中找到寫策略參數(shù)的定義。圖3顯示了塔型寫策略的參數(shù)，其在上述引用的G.Langereis的文章中被描述并且被^^地用于對驅(qū)動器中前端IC的寫策略寄存器進(jìn)行編程。在隨后的表l中給出了在盤adip信息中所使用的字節(jié)數(shù)和不同寫策略參數(shù)的簡短描述。<table><row><column>字節(jié)數(shù)</column><column>描述</column><column>符號</column></row><row><column>98</column><column>對于在該EI塊中設(shè)定的參數(shù)的主記錄速度</column><column>Vp</column></row><row><column>99</column><column>對于在該EI塊中設(shè)定的參數(shù)的上限記錄速度(upperrecordingvelocity)</column><column>vu</column></row><row><column>101</column><column>在主速度的PIND</column><column>Pind</column></row><row><column>102</column><column>在主速度的Beta目標(biāo)</column><column>B</column></row><row><column>103</column><column>在主速度的dPw功率增強(qiáng)</column><column>dPw</column></row><row><column>104</column><column>在主速度對于3T標(biāo)記的寫脈沖持續(xù)時間Ti3</column><column>Ti3<table><row><column>105</column><column>在主速度的功率增強(qiáng)的持續(xù)時間Ttop</column><column>Tt鄰p</column></row><row><column>106</column><column>在主皿對于cm〉5的功率增強(qiáng)的持續(xù)時間Tip(>5)</column><column>Tip</column></row><row><column>107</column><column>在主速度對于cm=4的功率增強(qiáng)的持續(xù)時間Tip(=4)</column><column>Tlp4</column></row><row><column>108</column><column>在主速度對于ps二3的寫脈沖前緣修正dTle</column><column>dTle</column></row><row><column>109</column><column>在主的)^*卩間隙端TC</column><column>Tc</column></row><row><column>115</column><column>在上卩腿度(u卯ervelocity)的PIND</column><column>Pind"</column></row><row><column>116</column><column>在上卩ra度的Beta目標(biāo)</column><column>B</column></row><row><column>117</column><column>在上卩KI度的功率增強(qiáng)dPw</column><column>dPw"</column></row><row><column>118</column><column>在上卩KI度用于3T標(biāo)記的寫脈沖持續(xù)時間Ti3</column><column>Ti3u</column></row><row><column>119</column><column>在上(WiI度的功率增強(qiáng)的持續(xù)時間</column><column>Ttop</column></row><row><column>120</column><column>在上^3IM于cm>5的功率增強(qiáng)的^^賣時間Tip(>5)</column><column>T1P</column></row><row><column>121</column><column>在上卩KI^t于cm=4的功率增強(qiáng)的^^賣時間Tlp4(=4)</column><column>Tlp4"</column></row><row><column>122</column><column>在上P腿it^于ps=3的寫脈沖前緣修正dTle</column><column>dTle"</column></row><row><column>123</column><column>在上卩I3I度的冷卻間隙端TC</column><column>Tcu</column></row><row><column>127</column><column>Pupper/Ppriuiary比</column><column>Mp在圖4的流程圖中更詳細(xì)地說明了圖2中所示的一個SLWSO步驟S51，S53，S56，S57的程序。在第一步驟S61中確定變量級別。為了提高分辨率，可以進(jìn)行更多的實驗。在lt爐一步描述的,實施例中，進(jìn)行基于代碼《0.5'和0Fl的13個實驗，意對參數(shù)進(jìn)行歸一化("l"是指j吏用總范圍；"0.5"是指4頓半個范圍)。然而，通常也可以采用進(jìn)行9+4Ti個實驗，其中ff0，1，2，…，例如9個實驗。這里提出的13個實驗在所有方向上具有相同數(shù)目的實驗，這與9個實驗相比，將顯著地提高分辨率和精確度，而沒有過多地增加執(zhí)行優(yōu)化方法所需的時間。下面的表2顯示了在該實施例中的優(yōu)選的變量級別complextableseeoriginaldocumentpage8<table><row><column>PARAM_2</column><column>PARAM_20</column><column>PARAM_21</column><column>PARAM_22</column><column>PARAM_23</column><column>PARAM_24<table>在下面的表3中顯示了從S62中確定的建議的實驗性方案:<table>complextableseeoriginaldocumentpage14</column></row><table>為了計算最佳參數(shù)，使用在，弓I用的G.Langereis的文章中描述的統(tǒng)計工具，特別是響應(yīng)表面方法。這個工具是用于經(jīng)驗?zāi)Ｐ蜆?gòu)建的數(shù)學(xué)和統(tǒng)計技術(shù)的集合。目的是為了對受兩個獨立^超(輸入M例如P和Ti3)影響的響應(yīng)(輸出變量，例如抖動)進(jìn)行優(yōu)化。進(jìn)行一連串的測試，即所謂的實驗，在其中改變輸入變量，以便識別輸出響應(yīng)中的變化的原因。對于大部分響應(yīng)表面，為了簡單，對于近似值的函數(shù)是多項式。對于二次多項式的情況，響應(yīng)表面被描述如下(eq.l):<formula>complexformulaseeoriginaldocumentpage14</formula>(1)應(yīng)用實驗設(shè)計(DOE)方法以減少在近似的響應(yīng)中每個系數(shù)的變化。對于質(zhì)量工程的實際的DOE，通常采用中心復(fù)合設(shè)計(CCD)。因為這些設(shè)計相對于所需的實驗數(shù)目是相當(dāng)有效率的，所以被廣&t也用于實踐中。通常，以K個因子延伸的CCD需要2^介乘(factorial)和2k由向的實驗以及至少一個中心點和4個角點。如圖5中所示，圖5圖示說明了對于k=2利用13個實驗的CCD方法。在相當(dāng)接近于最佳值的情況下，由于在真實的響應(yīng)表面中的曲率，通常需要二階模型近響應(yīng)。擬合的二階模型定義如下(eq.2):<formula>complexformulaseeoriginaldocumentpage15</formula>(2)現(xiàn)在，在步驟S63中，禾擁實驗方割每N個實驗寫到盤上，即在每個盤旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)換時即時地改變參數(shù)(或?qū)嶒?，并將測i，據(jù)寫在盤上。在步驟S64在每個參數(shù)步驟(或?qū)嶒?觀懂抖動。，例如在一個ADIP幀期間5次，荊ttt也計算平均抖動ox。為了找至鵬型，禾傭，CCD方法基于13個實驗的抖動測量(on-o，，)在步驟S65中估計所有模型系數(shù)'b'。這在數(shù)學(xué)上可以表述如下<formula>complexformulaseeoriginaldocumentpage15</formula>ct:-xt.xT<table><row><column></column><column>0</column><column>1</column><column>2</column><column>3</column><column>4</column><column>5</column><column>6</column><column>7</column><column>8</column><column>9</column><column>10</column><column>11</column><column>12</column></row><row><column>0</column><column>0.091</column><column>0.273</column><column>0.182</column><column>0.091</column><column>0.162</column><column>0.091</column><column>0.091</column><column>0.182</column><column>0.182</column><column>-0.091</column><column>-0.091</column><column>-0.091</column><column>-0.091</column></row><row><column>1</column><column>0</column><column>0</column><column>-0.071</column><column>0.143</column><column>0.071</column><column>-0.143</column><column>0</column><column>-0.071</column><column>0.071</column><column>-0.143</column><column>-0.143</column><column>0.143</column><column>0.143</column></row><row><column>2</column><column>-0.143</column><column>0</column><column>0.071</column><column>0</column><column>-0.071</column><column>0</column><column>0.143</column><column>-0.071</column><column>0.071</column><column>-0.143</column><column>0.143</column><column>0.143</column><column>-0.143</column></row><row><column>3</column><column>0</column><column>0</column><column>-0.059</column><column>0</column><column>-0.059</column><column>0</column><column>0</column><column>0.059</column><column>0.059</column><column>0.235</column><column>-0.235</column><column>0.235</column><column>-0.235</column></row><row><column>4</column><column>-0.263</column><column>-0.182</column><column>-0.097</column><column>0.237</column><column>-0.097</column><column>0.237</column><column>-0.263</column><column>-0.097</column><column>-0.097</column><column>0.156</column><column>0.156</column><column>0.156</column><column>0.156</column></row><row><column>5、</column><column>0.237</column><column>-0.182</column><column>-0.097</column><column>-0.263</column><column>-0.097</column><column>-0.263</column><column>0.237</column><column>-0.097</column><column>-0.097</column><column>0.156</column><column>0.156</column><column>0.156</column><column>0.156</column></row><table>因此，系數(shù)被確定如下:b0=(σ0+σ3+σ5+σ6-σ9-σ10-σ11-σ12)+2(σ2+σ4+σ7+σ8)+3σ1/11b1=-(σ2-σ4+σ7-σ8)+2(σ3-σ5-σ9-σ10+σ11+σ12)/14b2=(σ2+σ8-σ4-σ7)-2(σ0-σ6+σ9-σ10-σ11+σ12)/14b3=(σ7+σ8-σ2-σ4)+4(σ9-σ10+σ11-σ12)/17b4=-0.26299(σ0+σ6)-2/11σ1-0.09740(σ2+σ4+σ7+σ8)+0.15584(σ9+σ10+σ11+σ12)+0.23701(σ3+σ5)b5=-0.26299(σ3+σ5)-2/11σ1-0.09740(σ2+σ4+σ7+σ8)+0.15584(σ9+σ10+σ11+σ12)+0.23701(σ0+σ6)利用這些系數(shù)，模型使用下面的等式被擬合yfit(x1,x2)=b0+b1x1+b2x2+b3x1x2+b4x12+b5x22(3)圖6表示作為抖動的函數(shù)的PARAM一1和PAMM一2的二維圖，特別是擬合曲線。其后，在步驟S66中，由下式通過確定擬合模型(在代碼的單元中)的PARAM—1和PARAM—2的最小皿確定最佳參數(shù)<formula>complexformulaseeoriginaldocumentpage17</formula>在步驟S67中編碼的(歸一化的)最佳值被存儲之前，必須通過在上面所示的表2的兩個參數(shù)值之間的統(tǒng)性插值被轉(zhuǎn)換為實際參數(shù)值。如果參數(shù)之一的測量結(jié)果不具有拋物線形狀，那么根據(jù)本發(fā)明，建iXM過移動或擴(kuò)展初始領(lǐng)懂點至i湘反方向進(jìn)行一個迭代過程。在圖7中顯示了圖說明該方法的流程圖。圖7的第一部分即對應(yīng)于步驟S61和S62的步驟S71以，應(yīng)于步驟S63至S66的步驟S72，解釋了如上所述并在圖4中詳細(xì)顯示的實驗設(shè)計(D0E)算法(或更具體的，中心復(fù)合設(shè)計方法)。接著步驟S72的圖7的第二部^早釋了迭代過程。在迭代過程的第一部分中將確定迭代方向，在第二部分中將定義新的變量級別和實驗方案。在圖7中，參數(shù)Q被用來指示步驟的數(shù)目。在步驟S71中確定的編碼格式的初始變量級別可以取自下面的表4:<table><row><column>代碼單元—參數(shù)氺</column><column>-1</column><column>-0.5</column><column>0</column><column>+0.5</column><column>+1</column></row><row><column>Xi</column><column>xpl(-i)</column><column>Xpl(-0.5)</column><column>xp!(o)</column><column>Xpl(+0.5)</column><column>xpl(+i)</column></row><row><column>X2</column><column>xpl(-i)</column><column>xp2(-。,5)</column><column>xp2(0)</column><column>xp2(+。.s)</column><column>xp2(+i)</column></row><table>步驟S71中確定的對于步驟z的初始實驗方案可以取自下面的表5:<table><row><column>實驗</column><column>x1</column><column>X2</column><column>xp1</column><column>Xp2</column><column>測量的抖動δ(av)</column></row><row><column>Exp0</column><column>0</column><column>-1</column><column>xpl(o)</column><column>xp2(-1)</column><column>δoz</column></row><row><column>Exp1</column><column>0</column><column>0</column><column>xpl(o)</column><column>xp2(0)</column><column>δ1z</column></row><row><column>Exp2</column><column>-0.5</column><column>+0.5</column><column>Xpl(_0.5)</column><column>xp2(+0.5)</column><column>δ2z</column></row><row><column>Exp3</column><column>1</column><column>0</column><column>xpl(+1)</column><column>xp2(0)</column><column>δ3z</column></row><row><column>Exp4</column><column>+0.5</column><column>-0.5</column><column>Xpl(+0.5)</column><column>xp2(_o.5)</column><column>δ4z</column></row><row><column>Exp5</column><column>-1</column><column>0</column><column>xpl(-1)</column><column>xp2(0)</column><column>δ5z</column></row><row><column>Exp6</column><column>0</column><column>+1</column><column>xPl(o)</column><column>xp2(+1)</column><column>δ6z</column></row><row><column>Exp7</column><column>-0.5</column><column>-0.5</column><column>xp2(_o.5)</column><column>δ7z</column></row><row><column>Exp8</column><column>+0.5</column><column>+0.5</column><column>Xpl(+0.5)</column><column>xp2(+0,5)δ8z</column></row><row><column>Exp9</column><column>-1</column><column>-1</column><column>xpl(-1)</column><column>xp2(-1)</column><column>δ9z</column></row><row><column>Exp10</column><column>-1</column><column>+1</column><column>xpl(-1)</column><column>xp2(+1)</column><column>δ1Oz</column></row><row><column>Exp11</column><column>+1</column><column>+1</column><column>xpl(+1)</column><column>xp2(+1)</column><column>δ1lz</column></row><row><column>Exp12</column><column>+1</column><column>-1</column><column>xpl(+1)</column><column>xp2(-1)</column><column>δl2z</column></row><table>在一個方向上的范圍可由如下確定:<formula>complexformulaseeoriginaldocumentpage18</formula>和<formula>complexformulaseeoriginaldocumentpage18</formula>在步驟S90中迭代方向的確定(更詳細(xì)地顯示在圖8中)將基于等式(3)的系數(shù)b4和b5。這意味著等式的二次項部分將被用于在步驟S73中確定迭代過程是否必要。由于將找到模型的最小值，所以這兩個系數(shù)K和、必須具有正值。如果不需要迭代，那么計算并存儲參數(shù)(S74)，抖動根據(jù)等式6來計算并被存儲(S75)，暫時存儲寫策略(S76)。在步驟S77中檢查是否已經(jīng)進(jìn)行了兩次運行(run)并且抖動較前面步驟中的要大，或者是否超時。如果是這種情況，則檢查(S78)抖動是否低于極限。如果是這種情況，則利用優(yōu)化的寫策略參數(shù)更新EEPR0M表(S79)。否則發(fā)出錯誤。如果步驟S77中的檢查給出否定的結(jié)果，貝贓開始新的運行之前變量被復(fù)位(S80)。此外，步驟計數(shù)器Q加1(S81),以取決于dPw7j^平(圖2的比較步驟S55)的順序檢査(S82)抖動是否過高。在這種情況下(S83),執(zhí)行另外的步驟3和4(圖2的S56，S57)。最后，在重試5次后(S84)將發(fā)出錯誤。如果b4是負(fù)的，則必須M;增加x,范圍(稱為"擴(kuò)展")改變x、參數(shù)方向(或東/西方向)(參見圖9a)。因此，將把在西側(cè)的平均抖動和在東側(cè)的平均抖動進(jìn)行比較。如果b;是負(fù)的，將使用相同的過程，但是迭代方向?qū)⑹潜?南(即X2參數(shù)方向改變；參見圖9b)。但是在兩個方向，相同的過程對于<formula>complexformulaseeoriginaldocumentpage19</formula>這些是來自不同實驗的抖動)也是有效的。如果行列式(determinant)是負(fù)的且系數(shù)b4和bs是正的，那么接著也將是相同的過程(參見圖9c)。另一方面，如果范圍過大，A。>10%(僅僅如果、和/或1)5以及行列式<0)，貝U范圍必須被減小，被稱為"緊縮"(參見圖9d和9e)。如果b4和b5系數(shù)都是正的且一個或兩個計算的最佳參數(shù)都位于編碼的范圍[-l，+1]之外，則還必須進(jìn)行參數(shù)方向校正，被稱為"偏移"，因為外推法不會被容許(見在正向上小的x,偏移的圖9f和在負(fù)向上x,偏移的圖9g)。迭代方向可以從如圖8中所示的最佳參數(shù)值(xl)一和/或(x2)—得出。在一個方向的范圍△xpl或△xp2對于新的級別將是相同的。在對迭代計數(shù)I加1(S91)并檢査(S92)迭代計數(shù)器是否超出給定極限(這里例如5)之后，確定新的z超級別(S93)。在代碼零的變量值是<formula>complexformulaseeoriginaldocumentpage19</formula>其余的變量級別可以計算如下:<formula>complexformulaseeoriginaldocumentpage19</formula>然后檢查新的\和X,參數(shù)是否在極限范圍內(nèi)(邊界極限)。如果、和、參數(shù)在范圍內(nèi)則<formula>complexformulaseeoriginaldocumentpage20</formula>如果X1和X2參數(shù)不在范圍內(nèi)，則必須考慮如圖11所示的相對于在研制期間由實驗所確定的邊界的一些約束。圖11示出了作為邊界極限函數(shù)的對于X2參數(shù)的示例性的約束。因此，新的編碼的變量級別如下面的表6所示<table><row><column>代碼單元→參數(shù)↓</column><column>-1</column><column>-0.5</column><column>0</column><column>+0.5</column><column>+1</column></row><row><column>X1</column><column>[xpl(-1)]new</column><column>[xpl(-0.5)]new</column><column>[xpl(0)]new</column><column>[xpl(+0.5)]new</column><column>[xpl(+1)]new</column></row><row><column>X2</column><column>[xp2(-1)]new</column><column>[xp2(-0.5)]new</column><column>[xp2(0)]new</column><column>[xp2(+0.5)]new</column><column>[xp2(+1)]new</column></row><table>最后，新的實驗方案在步驟S94中被確定并且返回步驟S72。新的實驗方案作為一個實例顯示在下面的表7中<table><row><column>實驗</column><column>X1</column><column>X2</column><column>xp1</column><column>xp2</column><column>測量的抖動o(av)</column></row><row><column></column><column>Exp0</column><column>0</column><column>-1</column><column>[xpl(O)]new</column><column>[XP2(-1)]new</column><column>o0z</column></row><row><column></column><column>Exp1</column><column>0</column><column>0</column><column>[xpl(o)]new</column><column>[Xp2(0)]new</column><column>O1z</column></row><row><column></column><column>Exp2</column><column>-0.5</column><column>+0.5</column><column>[Xpl(-0.5)]new</column><column>[Xp2(o.5)]new</column><column>O2z</column></row><row><column></column><column>Exp3</column><column>1</column><column>0</column><column>[Xpl(l)]new</column><column>[xp2(o)]new</column><column>O3z</column></row><row><column></column><column>Exp4</column><column>+0.5</column><column>-0.5</column><column>[Xpl(0.5)]new</column><column>[xp2(-0.5)]new</column><column>O4z</column></row><row><column></column><column>Exp5</column><column>-1</column><column>0</column><column>[XP1(-1)]new</column><column>[xp2(o)]new</column><column>O5z</column></row><row><column></column><column>Exp6</column><column>0</column><column>+1</column><column>[xpl(0)]new</column><column>[Xp2(l)]new</column><column>O6z</column></row><row><column></column><column>Exp7</column><column>-0.5</column><column>-0.5</column><column>[Xpl(0.5)]new</column><column>[Xp2(-0.5)]new</column><column>O7z</column></row><row><column></column><column>Exp8</column><column>+0.5</column><column>+0.5</column><column>[Xpl(O.5]new</column><column>[Xp2(0,5)]new</column><column>O8z</column></row><row><column></column><column>Exp9</column><column>-1</column><column>-1</column><column>[Xpl(-1)]new</column><column>[Xp2(-1)]new</column><column>O9z</column></row><row><column></column><column>Exp10</column><column>-1</column><column>+1</column><column>[xpl(-1)]new</column><column>[Xp2(l)]new</column><column>O10z</column></row><row><column></column><column>Exp11</column><column>+1</column><column>+1</column><column>[Xp2(l)]new</column><column>[Xp2(1)]new</column><column>O11z</column></row><row><column></column><column>Exp12</column><column>+1</column><column>-1</column><column>[Xpl(l)]iiew</column><column>[XP2(-1)]new</column><column>O12z</column></row><table>一旦優(yōu)選的寫策略被確定，它就可以被存儲在驅(qū)動器中。因此，未知盤被轉(zhuǎn)換成已知盤。可以如下實施根據(jù)本發(fā)明的方法。對于低速(《6xDVD土R)將選擇其他參數(shù)和參數(shù)范圍。將在盤內(nèi)部的測試區(qū)完整地執(zhí)行(最多4個步驟)SLWSO。對于高速(〉6x)DVD土R可以考慮寫下面的算法(參見圖12和13)。將在盤外部的測試區(qū)以最高速度完整地執(zhí)行SLWSO。將ilil對于該盤的最高記^I度(例如16x)來確定塔形寫策略的功率/定時參數(shù)。定時參數(shù)的值還將被用于最低速度(6.3x，在盤內(nèi)部)。將M最高和劇氐M來確定塔形寫策略的功率參數(shù)。對于中等鵬，可以在最高/最低速度兩者之間進(jìn)行功率參數(shù)的線性內(nèi)插。如果W^步驟的迭代次數(shù)將皿五，那么將執(zhí)行SLWSO的重試。在上面，已經(jīng)說明了用于確定用于在光學(xué)記錄載體上記錄數(shù)據(jù)的優(yōu)化的寫策略參數(shù)的本發(fā)明實施例。以類似的方式，本發(fā)明還可以用于確定從光學(xué)記錄載體再現(xiàn)的讀參數(shù)。下面將解釋圖說明本發(fā)明的這種應(yīng)用的實施例。圖14顯示自適應(yīng)網(wǎng)絡(luò)的實施例的示意圖，其中，將由調(diào)整驢310調(diào)整關(guān)于播放性(playablility)的不同參數(shù)，直至達(dá)到光學(xué)驅(qū)動器的最佳播放性。在盤的啟動階段期間，將研制階段的初始設(shè)置作為開始值在輸入端300(Pi)裝載。ttil地，以不同等級CLi來分離(split-叩)設(shè)置以處理不同環(huán)境諸如盤缺陷、震動行為或兩者的組合。在裝載初始設(shè)置之后，將在錯誤測量單元中測量錯誤統(tǒng)計。假設(shè)，在盤的讀取期間發(fā)生數(shù)據(jù)錯誤，需要進(jìn)行恢復(fù)。將停止讀取過程以啟動讀取恢復(fù)程序。通過由調(diào)整裝置310改變參數(shù)，讀取恢復(fù)是可能的。然后，將讀取相同的數(shù)據(jù)，測量錯誤統(tǒng)計，并建立二階模型以找到最佳值?？赡苄枰员鉬fi31搜索單元320找到參數(shù)的最佳值。根據(jù)在輸出端340獲得的結(jié)果，在隨后的迭代中將接通另一級設(shè)置，直至找到最佳值。圖15顯示根據(jù)本發(fā)明的用于確定用于從盤讀取數(shù)據(jù)的讀參數(shù)的方法的簡單流程圖。在盤的啟動階段S100期間，作為盤啟動(安裝)程序的一部分，進(jìn)行播放性測試。在盤上的不同位置進(jìn)行測試。然后，在驅(qū)動器的實際環(huán)境中對實際盤觀賦播放性。由于這是啟動的一部分，所以不需要用于數(shù)據(jù)鏈接的存儲器。在讀取盤期間，即在用啟動的初始設(shè)置從盤讀取數(shù)據(jù)(reacLcmd)之后，測量錯誤統(tǒng)計(S103)。根據(jù)結(jié)果(S104)可以即時地改變參數(shù)(S102)以始終創(chuàng)建最高的系統(tǒng)余量，即應(yīng)用動態(tài)優(yōu)化。如果發(fā)生讀取錯誤，可停止讀取過程來激勵播放性優(yōu)化(S102)。在優(yōu)化之后，可以再次啟動讀取過程。在研制過程中，分析并存儲不同設(shè)置，例如在一個或多個表中,優(yōu)選地對于不同的環(huán)境。在特定測試環(huán)境下用具有不同尺寸的不同缺陷(諸如刮擦、黑點、指印等)的一個或多個特定測試盤進(jìn)行優(yōu)化。為了改善播放性，在實驗期間，如圖16的流程圖中所示，逐個步驟(SllO，S112，S114，S116)地改變參數(shù)(PAR)。為了限制計算負(fù)荷，在該實施例中做出選擇以便每步驟僅僅改變兩個參數(shù)。應(yīng)注意的是，圖2中所示的方案原則上也可以被用于讀參數(shù)優(yōu)化。首先(SllO)，相對于播放性擇最重要的參數(shù)PARI,PAR2，例如伺服參數(shù)(諸如徑向、聚焦帶寬)、解碼參數(shù)(諸如均衡器、限幅器(slicer)、PLL帶寬)等。在每個實驗步驟(SllO，S112，S114,S116)之后，檢查(Slll，S113,S115，S117)是否測量出錯誤統(tǒng)計e，并檢查是否已經(jīng)超出了對于所述錯誤統(tǒng)計的預(yù)定極限elim。如果否，則執(zhí)行下一個實驗步驟；否則停止優(yōu)化程序。假定是DVD，在硬件中有兩^H十?dāng)?shù)器(BLER計數(shù)器)，其計數(shù)具有至少一個錯誤的行/列(PI/P0)的數(shù)目。這些是常用的計數(shù)器。但是硬件還具有對具有一^l昔誤、2W昔誤、3W昔誤等的行/列的數(shù)目進(jìn)，亍計數(shù)的可提供的計數(shù)器，且這用于PI/P0校正。還具有對不能校正的錯誤的數(shù)目進(jìn)fiH十?dāng)?shù)的計數(shù)器。這意味著可提供一些用于判斷數(shù)據(jù)質(zhì)量的額外信息。因此，可以建立錯誤統(tǒng)計以做出更好的判定，例如，采用實際使用的參數(shù)是否能看到相比前面一個的一些艦。在圖17的流程圖中更詳細(xì)地說明了圖16中所示的一個步驟S110，S112，S114，S116的程序，圖17的流程圖與圖4的流程圖基本相同。在第一步驟S121中確定變量級別。為了提高分辨率，可以進(jìn)行更多的實驗。在這里進(jìn)一步說明的1腿實施例中，進(jìn)行了基于代碼'0.5'且^1的13個實驗，這些1-、碼具有與如上參考圖4所說明的相同的含義。上面所示的表2圖禍兌明了該實施例中的優(yōu)選變量級別。在上面的表3中顯示了在步驟S122中確定的所提出的實驗方案(然而，其中這里確定了"錯誤統(tǒng)計e"而不是"測量的抖動。")。為了計算最佳參數(shù)，使用統(tǒng)計工具，特別是如上參考圖5以及等式(1)和(2)所述的表面響應(yīng)法?，F(xiàn)在，在步驟S123中，禾擁實驗方案鄉(xiāng)行N個實驗，即在每次盤旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)換時即時地改變參數(shù)(或者實驗)，并從盤讀取測試數(shù)據(jù)。在步驟S124中在每個參數(shù)步驟(或者實驗)測量錯誤統(tǒng)計(或者更通常地，質(zhì)量數(shù)據(jù))，并且iM地計算質(zhì)量的平均值。為了找至鵬型，在步驟S125中利用，的CCD方法基于13個實驗的錯誤統(tǒng)計測量(e。-e12)估計所有模型系數(shù)"b"(還可參見等式(3)和圖6)。之后，在步驟S126中，通過由上面的等式(4)確定擬合模型(在編碼單元中)的PARAM—1和PARAM—2的最小值來確定最佳參數(shù)。在步驟S127中對編碼的(歸一化的)最佳值進(jìn)行存儲之前，必須通過在上面所示的表2的兩個參數(shù)值之間的統(tǒng)性插倒各編碼的(歸一化的)最佳值轉(zhuǎn)換成實際參數(shù)值。如果參數(shù)之一的測量結(jié)果不具有拋物線形狀，則4OT迭代過程(例如，如圖14中所示)，其中根據(jù)模型結(jié)果，移位/擴(kuò)展初始測量點到另一個方向。這以與上面說明的本發(fā)明的第一實施例相同的方式進(jìn)行。圖18顯示根據(jù)本發(fā)明的用于存取包括用于確定寫策略參數(shù)和/或讀參數(shù)的裝置的光學(xué)記錄載體100的驅(qū)動器的示意性方框圖。所述裝置包括，如上所述，初始化裝置110，用于設(shè)置初始寫策略參數(shù)/初始讀參數(shù)，例如取自存儲器200例如系數(shù)表(讀)、驅(qū)動器的介質(zhì)表，或者直接取自盤100。此外，裝置包括設(shè)置裝置120，用于基于所述初始寫策略參數(shù)/初始讀參數(shù)的變化，設(shè)置初始變量級別和初始實驗方案，用于所述寫策略參數(shù)/讀參數(shù)的優(yōu)化的實驗方法的設(shè)計中。優(yōu)化裝置130Milf頓實驗方法的設(shè)計采用這些初始體級別以及初始實驗方案來確定優(yōu)化的(寫策略/讀)參數(shù)。因此，優(yōu)化裝置130提供有測試裝置131、測量^ai32和確定裝置133，測試裝置131用于根據(jù)實驗方案在記錄載體100上執(zhí)行大量測試記錄/測試讀取，測量裝置132用于測量對于針測試記錄/測試讀取的質(zhì)量參數(shù)的質(zhì)量參數(shù)值(例如，用于寫策略參數(shù)優(yōu)化的抖動，用于讀參數(shù)優(yōu)化的錯誤統(tǒng)計)，表明測試記錄/測試讀取的記錄質(zhì)fi/再現(xiàn)質(zhì)量，確定裝置133用于通過估計所述測試記錄/測試讀取的測量的質(zhì)量參數(shù)值確定優(yōu)化(寫策略/讀)參數(shù)。此外，還提供迭代^S140用于基于預(yù)定的標(biāo)準(zhǔn)檢查由優(yōu)化裝置130確定的優(yōu)化(寫策略/讀)參數(shù)是否還將被優(yōu)化，在這種情況下，用于確定新的變量級另,新的實驗方案，用于在另一個迭代中進(jìn)一步優(yōu)化寫策略參f[/讀參數(shù)。如果已經(jīng)找到最終的優(yōu)化(寫策略/讀)參數(shù)，則可將它們存儲在驅(qū)動器中，例如在存儲器200中，由驅(qū)動器的記錄/讀裝置210進(jìn)一步使用以將數(shù)據(jù)記錄到記錄載體100上和/或從記錄載體100上讀取數(shù)據(jù)。在上文中利用特定的實施例己經(jīng)說明了本發(fā)明。很明顯，上悉實施例不是限制保護(hù)范圍，而是可以對這對寺定實施例的特征進(jìn)行很多改變和替換。尤其，實驗的數(shù)目、實驗中j吏用的參數(shù)、用于優(yōu)化的模型、在本方法中任何判定所用的標(biāo)準(zhǔn)相比這些實施例是可以進(jìn)行改變的用于實施本方法的裝置。權(quán)利要求1.用于確定用于在光學(xué)記錄載體(100)上記錄數(shù)據(jù)的寫策略參數(shù)的裝置，包括-初始化裝置(110)，用于設(shè)置初始寫策略參數(shù)，-設(shè)置裝置(120)，用于基于所述初始寫策略參數(shù)的變化來設(shè)置初始變量級別和初始實驗方案，用于優(yōu)化所述寫策略參數(shù)的實驗方法的設(shè)計，-優(yōu)化裝置(130)，用于利用實驗方法的設(shè)計確定優(yōu)化的寫策略參數(shù)，以及-迭代裝置(140)，用于基于預(yù)定標(biāo)準(zhǔn)來檢查由優(yōu)化裝置(130)所確定的優(yōu)化的寫策略參數(shù)是否將被進(jìn)一步優(yōu)化，在寫策略參數(shù)將被進(jìn)一步優(yōu)化的情況下，用于確定在進(jìn)一步優(yōu)化所述寫策略參數(shù)的實驗方法的設(shè)計的另一個迭代中使用的新的變量級別和新的實驗方案。2.如權(quán)利要求l所述的體，其中所述優(yōu)化裝置(130)包括-觀賦記錄裝置(131)，其利用在由實驗方法的設(shè)計所使用的變量級別和實驗方案中設(shè)置的所述初始寫策略參數(shù)的變化，在所述記錄載體(100)上執(zhí)行測試記錄預(yù)定的次數(shù)，-測量裝置(132)，用于對于每個測試記錄觀糧指示所述測試記錄的記錄質(zhì)量的質(zhì)量參數(shù)的質(zhì)量參數(shù)值，以及-確定裝置(133)，用于Mil評估所測量的對于所述測試記錄的質(zhì)量參數(shù)值來確定優(yōu)化的寫策略參數(shù)。3.確定用于從光學(xué)記錄載體(100)再現(xiàn)數(shù)據(jù)的讀參數(shù)的裝置，包括-初始化裝置(110)，用于設(shè)置初始讀參數(shù)，-設(shè)置裝置(120)，用于基于所述初始讀參數(shù)的變化來設(shè)置初始變量級別和初始實驗方案，用于優(yōu)化所述讀參數(shù)的實驗方法的設(shè)計，-優(yōu)化裝置(130)，用于利用實驗方法的設(shè)計確定優(yōu)化的讀參數(shù)，以及-迭代，(140)，用于基于預(yù)定標(biāo)準(zhǔn)來檢查由優(yōu)化裝置(130)所確定的優(yōu)化的讀參數(shù)是否將被進(jìn)一步優(yōu)化，以及在讀參數(shù)將被進(jìn)一步優(yōu)化的情況下，用于確定在進(jìn)一步優(yōu)化所述讀參數(shù)的實驗方法的設(shè)計的另一個迭代中使用的新的變量級別和新的實驗方案。4.如權(quán)利要求3所述的裝置，其中所述優(yōu)化裝置(130)包括-測試讀取裝置(131)，用于禾擁在由實驗方法的設(shè)計所使用的變量級別和實驗方案中所設(shè)置的所述初始讀參數(shù)的變化，執(zhí)行從所述記錄載體(100)的測試讀取或測試記錄載體預(yù)定的次數(shù)，-測量裝置(132)，用于對于每個測試讀取測量指示所述測試讀取的質(zhì)量參數(shù)的質(zhì)量參數(shù)值，以及-確定裝置(133)，用于M評估所測量的對于所述測試讀取的質(zhì)量參數(shù)值來確定優(yōu)化的讀參數(shù)。5.如權(quán)利要求2或4所述的裝置，其中所述確定裝置(133)適于利用模型特別是二階模型且通過確定所述模型的最佳值特別是最小值來確定優(yōu)化的參數(shù)。6.如權(quán)利要求2或4所述的裝置，其中所述測量，(132)適于將抖動、塊錯誤率或位錯誤率用作質(zhì)量參數(shù)，并適于在每個測試記錄和測試讀取之后分別測量抖動值。7.如權(quán)利要求l所述的裝置，其中所述設(shè)置裝置(120)適于在所述實驗方法的設(shè)計中使用的所述實驗方案中設(shè)置實驗的預(yù)定數(shù)目，尤其是9+4，n個實驗，其中n二0，1，2。8.如權(quán)利要求7所述的裝置，其中所述設(shè)置裝置(120)適于將在所述實驗方法的設(shè)計中使用的所述實驗方案中設(shè)置13個實驗。9.如權(quán)利要求l所述的裝置，其中所述設(shè)置裝置(120)適于基于所述初始參數(shù)的預(yù)定數(shù)目的變化，特別是兩個所述初始參數(shù)的變化，來設(shè)置所述初始變量級別和所述初始實驗方案。10.如權(quán)利要求l所述的裝置，其中所述迭代裝置(140)適于在用于檢查優(yōu)化參數(shù)是否將被進(jìn)一步優(yōu)化的預(yù)定標(biāo)準(zhǔn)中使用由所述優(yōu)化裝置(130)確定優(yōu)化參數(shù)所用的模型的一個或多個系數(shù)值，所述預(yù)定標(biāo)準(zhǔn)包括對于所述系數(shù)值的閾值。11.如權(quán)利要求l所述的裝置，其中所述迭代裝置(140)適于基于由所述優(yōu)化裝置(130)確定優(yōu)化參數(shù)所用的模型的一個或多個系數(shù)1I^確定新的變量級別和新的實驗方案。12.如權(quán)利要求ll所述的裝置，其中所述迭代裝置(140)適于基于二階模型的二次系數(shù)€*確定新的級別和新的實驗方案。13.如權(quán)利要求ll所述的裝置，其中所述迭代裝置(140)適于基于所述一個或多個系數(shù)值31il增加、減少禾口/或移動先前的變量級別來確定新的變量級別，以及基于所述新的變量級別來確定新的實驗方案。14.如權(quán)禾腰求l所述的裝置，其中所述初始參數(shù)包括存儲在ADIP信息中的參數(shù)或存儲在基于ADIP信息所選擇的驅(qū)動器中的介質(zhì)表中的兩類默認(rèn)參數(shù)。15.用于確定用于在光學(xué)記錄載體(100)上記錄數(shù)據(jù)的寫策略參數(shù)的方法，包括步驟-設(shè)置初始寫策略參數(shù)、初始變量級別和初始實驗方案，用于優(yōu)化所述寫策略參數(shù)的實驗方法的設(shè)計中，-禾,實驗方法的設(shè)計確定優(yōu)化的寫策略參數(shù)，-基于預(yù)定標(biāo)準(zhǔn)檢查所確定的優(yōu)化的寫策略參數(shù)是否將被進(jìn)一步優(yōu)化，以及-在寫策略參數(shù)將被進(jìn)一步優(yōu)化的情況下，確定用于進(jìn)一步優(yōu)化所述寫策略參數(shù)的實驗方法的設(shè)計的另一個迭代中的新的初始變量和新的初始實驗方案。16.用于確定用于從光學(xué)記錄載體(100)讀取數(shù)據(jù)的讀參數(shù)的方法，包括步驟-設(shè)置初始讀參數(shù)、初始變量級別和初始實驗方案，用于優(yōu)化所述讀參數(shù)的實驗方法的設(shè)計中，-禾,實驗方法的設(shè)計確定優(yōu)化的讀參數(shù)，-基于預(yù)定標(biāo)準(zhǔn)檢查所確定的優(yōu)化的讀參數(shù)是否將被進(jìn)一步優(yōu)化，以及-在讀參數(shù)將被進(jìn)一步優(yōu)化的情況下，確定用于進(jìn)一步優(yōu)化所述讀參數(shù)的實驗方法的設(shè)計的另一個迭代中的新的變量級另'御新的初始實驗方案。17.用于確定用于在光學(xué)記錄載體(100)上記錄數(shù)據(jù)和/或從光學(xué)記錄載體(100)讀取的伺服參數(shù)的裝置，包括-初始化裝置(iio)，用于設(shè)置初始伺服參數(shù)，-設(shè)置裝置(120)，用于基于所述初始伺服參數(shù)的變化來設(shè)置初始變量級別和初始實驗方案，用在優(yōu)化所述伺服參數(shù)的實驗方法的設(shè)計中，-優(yōu)化，(130)，用于利用實驗方法的設(shè)計確定優(yōu)化的伺服參數(shù)，以及-迭代裝置(140)，用于基于預(yù)定標(biāo)準(zhǔn)檢查由優(yōu)化裝置(130)所確定的優(yōu)化的伺服參數(shù)是否將被進(jìn)一步優(yōu)化，以及在伺服參數(shù)將被進(jìn)一步優(yōu)化的情況下，用于確定用于進(jìn)一步優(yōu)化所述伺服參數(shù)的實驗方法的設(shè)計的另一個迭代中的新的M級另訴口新的實驗方案。18.如權(quán)禾腰求17所述的裝置，其中所述伺服參數(shù)包括聚焦偏移、徑向傾斜校正、球面像差、切向傾斜和/或徑向偏移。19.用于確定用于在光學(xué)記錄載體(100)上記錄數(shù)據(jù)和/或從光學(xué)記錄載體(100)讀取數(shù)據(jù)的伺服參數(shù)的方法，包括-設(shè)置初始伺服參數(shù)，-基于所述初始伺服參數(shù)的變化來設(shè)置初始變量級另訴n初始實驗方案，用于優(yōu)化所述糊艮參數(shù)的實驗方法的設(shè)計中，-實驗方法的設(shè)計確定優(yōu)化的伺服參數(shù)，以及-基于預(yù)定標(biāo)準(zhǔn)檢查優(yōu)化的伺服參數(shù)是否將被進(jìn)一步優(yōu)化，以及-在糊艮參數(shù)將被進(jìn)一步優(yōu)化盼斷兄下，確定用于進(jìn)一步優(yōu)化所述伺服參數(shù)的實驗方法的設(shè)計的另一個迭代中的新的變量級別和新的實驗方案。全文摘要本發(fā)明涉及一種用于確定用于在光學(xué)記錄載體(100)上記錄數(shù)據(jù)的寫策略參數(shù)的裝置和相應(yīng)方法以及一種用于確定用于從光學(xué)記錄載體(100)讀取數(shù)據(jù)的讀參數(shù)的裝置和相應(yīng)方法。為了提供一種在實踐中易于實施的、僅僅需要少量時間并且當(dāng)寫策略參數(shù)也被存儲在驅(qū)動器的介質(zhì)表中時也允許對盤確定光學(xué)寫策略參數(shù)的改進(jìn)的裝置和方法，提出了用于確定寫策略參數(shù)的裝置，包括初始化裝置(110)，用于設(shè)置初始寫策略參數(shù)；-設(shè)置裝置(120)，用于基于所述初始寫策略參數(shù)的變化來設(shè)置初始變量級別，用于優(yōu)化所述寫策略參數(shù)的實驗方法的設(shè)計中；優(yōu)化裝置(130)，用于利用實驗方法的設(shè)計確定優(yōu)化的寫策略參數(shù)；以及-迭代裝置(140)，用于基于預(yù)定標(biāo)準(zhǔn)來檢查由優(yōu)化裝置(130)所確定的優(yōu)化的寫策略參數(shù)是否將被進(jìn)一步優(yōu)化，以及在寫策略參數(shù)將被進(jìn)一步優(yōu)化的情況下，用于確定新的變量級別和新的實驗方案，用在進(jìn)一步優(yōu)化寫策略參數(shù)的實驗方法的設(shè)計的另一個迭代中。文檔編號G11B7/00GK101203910SQ200680008188公開日2008年6月18日申請日期2006年3月9日優(yōu)先權(quán)日2005年3月15日發(fā)明者E·范克薩利,T·P·范恩德特申請人:皇家飛利浦電子股份有限公司