專利名稱：用于糾錯的裝置、方法和程序的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及用于糾正從磁帶等記錄介質(zhì)讀出的數(shù)據(jù)的錯誤，更詳細(xì)的說 涉及用于利用積碼塊來糾正數(shù)據(jù)的錯誤的裝置等。
背景技術(shù)：
在對記錄介質(zhì)進(jìn)行數(shù)據(jù)的寫入或讀出的數(shù)據(jù)記錄再現(xiàn)裝置中， 一般進(jìn)行 錯誤的檢測和糾正，以便不會由于數(shù)據(jù)的錯誤而產(chǎn)生重大的故障。特別是近 年來，從提高數(shù)據(jù)的可靠性或數(shù)據(jù)記錄的高密度化的觀點出發(fā)，廣泛進(jìn)行基 于積碼的糾錯。積碼可以定義為通過將用戶數(shù)據(jù)配置為行列狀，在行方向以及列方向上配置奇偶校驗碼來構(gòu)成的行列狀的碼。而且，通常積碼由行方向的Cl碼和列 方向的C2碼構(gòu)成，在C1碼中包含作為用于糾正該錯誤的奇偶校驗(parity ) 碼的Cl奇偶校驗，在C2碼中包含作為用于糾正該錯誤的奇偶校驗碼的C2 奇偶校驗。在這樣的積碼中，實際的糾錯按照基于C1奇偶校驗的C1碼的糾通過這樣的糾正方法，由于在C1糾正中不能糾正的行可以在C2糾正中通過消失糾正來糾正，所以可以糾正較多的錯誤。而且，作為這樣的積碼的糾正方法，以往提出了多種方法(例如，參照專利文獻(xiàn)l， 2)。專利文獻(xiàn)l:特開平11-203615號公報(第5-7頁，第2圖) 專利文獻(xiàn)2:特開平11-203797號公報(第8、 9頁，第2圖)發(fā)明內(nèi)容發(fā)明要解決的問題然而，近年來，由于數(shù)據(jù)記錄再現(xiàn)裝置的大容量化，隨機誤差的發(fā)生率 有上升的傾向。對于這樣的隨機誤差的發(fā)生率的上升，在積碼中一般通過選 擇更高的Cl糾正能力來對應(yīng)。但是，在能夠發(fā)生的誤差中，不僅有這樣的隨機誤差，而且還有因為記錄介質(zhì)上的傷或磁頭(head)不良等引起的連續(xù)產(chǎn)生的連續(xù)誤差(burst error )， 在僅考慮隨機誤差而選擇了高CI糾正能力的情況下，還存在對于超過檢測能 力的長度的連續(xù)誤差，誤糾正的概率上升的問題。
以LTO (線性》茲帶開放Linear Tape-Open)磁帶驅(qū)動中的糾錯方法為例 說明該問題。而且，LTO是IBM、惠普(匕- 一k 7卜—'7力一 卜、、)、希捷 ('〉一y4卜r夕乂 口，- (現(xiàn)力歹夕厶))三個公司共同商定的磁帶格式。
一般的，糾錯碼對于最小代碼間距dmin ，可以糾正滿足dmin^2t+d+1的 關(guān)系的t字節(jié)的錯誤，并且一企測t+d字節(jié)的錯誤。
因此，在以往的LTC磁帶驅(qū)動的糾錯方法中，首先，設(shè)Cl碼的最小代 碼間距dmir＝7，為了提高檢測能力采用了 t = 2 (可以糾正2字節(jié)的錯誤)， 并且d-2 (能夠檢測4字節(jié)的錯誤)的分配。于是， 一邊檢測3字節(jié)以上的 錯誤， 一邊對于不能糾正的Cl碼用C2碼進(jìn)行消失糾正。然而，對于C1碼，為了提高糾正能力設(shè)t-3 (可以糾正3字節(jié)的錯誤) 時，d-0(可以檢測3字節(jié)的錯誤)。即，與能夠糾正2字節(jié)的錯誤的情況相 比，雖然糾錯能力提高，但是錯誤檢測能力降低。其結(jié)果，誤糾正概率上升。 該誤糾正概率的上升對于消耗C2碼的糾正能力的連續(xù)誤差成為問題。即， Cl碼的誤糾正概率的上升傳播到C2碼，并且C2碼的誤糾正概率也上升。 在C2碼中產(chǎn)生了誤糾正的情況下，由于數(shù)據(jù)被發(fā)送到主機(host)而未識別 是誤糾正的情況，所以產(chǎn)生故障。因為必須避免由于誤糾正而產(chǎn)生故障的概 率的上升，所以原樣選擇3字節(jié)糾正在實用上存在問題。
這里，如果對專利文獻(xiàn)l、 2的發(fā)明進(jìn)行考察，則它們中的任何一個都是 以磁頭從磁道脫落的問題為對象，通過用兩個磁頭讀取磁帶上的同一 Cl碼并 比較它們，例如通過采用可糾正的一個，降低誤糾正概率。即，沒有對提高 了隨機誤差的糾正能力時的連續(xù)誤差的誤糾正概率的上升提出任何解決對 策。結(jié)果，在專利文獻(xiàn)l、 2中，存在不能降低對于這樣的連續(xù)誤差的誤糾正 概率的問題。
本發(fā)明是為解決上述的技術(shù)問題而完成的，其目的是，對于隨機誤差即 使選擇高糾正能力，對于超過檢測能力的長度的連續(xù)誤差的誤糾正的概率也 不上升。
解決課題的手段基于有關(guān)的目的，在本發(fā)明中，參照對于成對的兩個字節(jié)列的第一糾正 的結(jié)果的兩者，根據(jù)該糾正的程度進(jìn)行第二糾正。即，本發(fā)明的第一裝置， 用于糾正包含第一方向的第一字節(jié)列和第二方向的第二字節(jié)列的積碼塊中的錯誤，其中包括第一解碼器，糾正第一字節(jié)列中的偶數(shù)號的字節(jié)構(gòu)成的第一部分列、和第 一字節(jié)列中的奇數(shù)號的字節(jié)構(gòu)成的第二部分列的各個部分列中的錯誤；以及第二解碼器，根據(jù)第一部分列中的糾正的第一程度和第二部 分列中的糾正的第二程度的組合，糾正第二字節(jié)列。而且，本發(fā)明也可以作為參照對于構(gòu)成碼列的多個部分列的第一糾正的 結(jié)果，并且根據(jù)該糾正的程度的組合進(jìn)行第二糾正的裝置。這時，本發(fā)明的 第二裝置用于糾正包含第一方向的第一碼列和第二方向的第二碼列的積碼塊 中的錯誤，其中包括第一解碼器，糾正構(gòu)成第一碼列的多個部分列的每一 個中的錯誤；以及第二解碼器，根據(jù)多個部分列的糾正程度的組合來糾正第 二碼列。而且，本發(fā)明也可以作為參照對于構(gòu)成碼列的多個部分列的糾正的結(jié)果， 根據(jù)該糾正的程度的組合判斷是否已誤糾正的方法。這時，本發(fā)明的方法是 用于識別包含第一方向的第一碼列和第二方向的第二碼列的積碼塊中的錯誤 的方法，該方法包括對構(gòu)成第一碼列的多個部分列的每一個中的錯誤進(jìn)行 糾正的步驟；存儲多個部分列中的糾正程度的步驟；以及在對多個部分列中 的一個部分列存儲的糾正程度為規(guī)定的水平以上的情況下，通過參照對多個 部分列中的其它部分列存儲的糾正程度，判斷第一碼列是否已被誤糾正的步 驟。這里，也可以對判斷為已誤糾正的行進(jìn)行消失糾正。即，也可以構(gòu)成為 還包含在判斷出第一碼列已被誤糾正的情況下，將該第一碼列的位置設(shè)為消 失位置后，糾正第二碼列的步驟。另一方面，本發(fā)明也可以作為使計算機實現(xiàn)規(guī)定的功能的程序。這時， 本發(fā)明的程序使計算機識別包含第 一方向的第 一碼列和第二方向的第二碼列 的積碼塊中的錯誤，該程序使計算機執(zhí)行對構(gòu)成第一碼列的多個部分列的 每一個中的錯誤進(jìn)行糾正的處理；以及在多個部分列中的一個部分列的糾正 程度為規(guī)定的水平以上的情況下，通過參照多個部分列中的其它部分列的糾 正程度，判斷第一碼列是否已被誤糾正的處理。發(fā)明效果按照本發(fā)明，即使對隨機誤差選擇高糾正能力，也可以不使對于超出檢 測能力的長度的連續(xù)誤差的誤糾正的概率上升。


圖1是表示應(yīng)用了本發(fā)明的實施方式的磁帶驅(qū)動器的整體結(jié)構(gòu)的方框圖。圖2是用于說明從本發(fā)明的實施方式的磁帶讀出數(shù)據(jù)的樣子的圖。圖4是表示本發(fā)明的實施方式中的Cl糾正動作的流程圖。 圖5是用于對本發(fā)明的實施方式的子數(shù)據(jù)組附加標(biāo)記進(jìn)行說明的圖。 圖6是表示本發(fā)明的實施方式的C1糾正的結(jié)果和是否用C2糾正進(jìn)行消 失糾正的對應(yīng)的圖。圖7是表示本發(fā)明的實施方式的C2糾正的動作的流程圖。圖8是表示對于連續(xù)誤差的誤糾正概率通過本實施方式被降低的曲線圖。圖9是表示通過本實施方式隨機誤差不能糾正發(fā)生的概率不被影響的曲線圖。標(biāo)號說明10…磁帶驅(qū)動器、11…磁帶盤、12…磁帶盤、13…磁帶、14…磁頭、15…讀 取通道、16…SRAM緩沖器、17…Cl解碼器、18…DRAM緩沖器、19…SRAM 緩沖器、20…C2解碼器、21…主機I/F具體實施方式
以下，參照附圖，詳細(xì)地說明實施本發(fā)明的最佳實施方式(以下，稱為"實 施方式")。圖l是表示應(yīng)用本實施方式的磁帶驅(qū)動器10的結(jié)構(gòu)的圖。該磁帶驅(qū)動器 10由以下部件構(gòu)成巻繞在;茲帶盤11和12上的一才艮石茲帶13;石茲頭14;讀 取通道15; SRAM緩沖器16; Cl解碼器17; DRAM緩沖器18; SRAM緩 沖器19; C2解碼器20;以及主機I/F (接口 ) 21。磁帶盤11和12被未圖示的電動機驅(qū)動，可以使架設(shè)在它們之間的磁帶 13相對于;茲頭14相3十移動。磁頭14是進(jìn)行對磁帶13的數(shù)據(jù)寫入和來自磁帶13的數(shù)據(jù)讀出的機構(gòu)。而且，為了作圖的方便，僅圖示一個磁頭14，但是在例如是LTO第1代/第2代時，則由8個寫入》茲頭和8個讀出磁頭構(gòu)成。讀取通道15將》茲頭14讀取的數(shù)據(jù)送到SRAM緩沖器16。 SRAM緩沖器16是暫時存儲被送來的數(shù)據(jù)的緩沖存儲器。Cl解碼器17對存儲在SRAM緩沖器16中的數(shù)據(jù)進(jìn)行C1糾正。DRAM緩沖器18是將從SRAM緩沖器16傳送的數(shù)據(jù)作為后述的子數(shù)據(jù)組進(jìn)行存儲的存儲緩沖器。SRAM緩沖器19是為了取出被存儲在DRAM緩沖器18中的一部分?jǐn)?shù)據(jù)進(jìn)行C2糾正而暫時存儲的緩沖存儲器。C2解碼器20對SRAM緩沖器19中存儲的數(shù)據(jù)進(jìn)行C2糾正。主機I/F21將完成了 Cl糾正、C2糾正的數(shù)據(jù)對主機機器發(fā)送。接著，對本實施方式的^^帶驅(qū)動器IO的動作進(jìn)行說明。首先，對從^磁帶13讀取數(shù)據(jù)，將其存儲到DRAM緩沖器18為止的處理的流程進(jìn)行說明。圖2表示LTO的第2代/第1代的磁帶格式。在該格式中，在磁帶上，在與磁頭0~7對應(yīng)的磁軌0~7中記錄CQ (Codeword Quad) 0 ~ 7，這構(gòu)成CQ組0。同樣，還記錄有CQ組1 ~ 63。這些CQ0-7被分別分為前半部分和后半部分。然后，CQi的前半部分 成為子數(shù)據(jù)組2i的第1行，CQi的后半部分成為子數(shù)據(jù)組(2i + 1 )的第1行 (i = 0， 1，， 7)。重復(fù)該處理，直至CQ組63。即，通過將從CQ組n得 到的規(guī)定的數(shù)據(jù)設(shè)為子數(shù)據(jù)組的第n行，形成64行構(gòu)成的16個子數(shù)據(jù)組。 這里，參照圖3說明子數(shù)據(jù)組的結(jié)構(gòu)。在LTO磁帶驅(qū)動器中，糾錯以子數(shù)據(jù)組為單位來進(jìn)行。即，這時的糾錯 碼是行方向的Cl碼和列方向的C2碼構(gòu)成的積碼。而且，作為與LTO格式有 關(guān)的特征，舉出以下這一點，即在C1碼中有偶數(shù)號的字節(jié)構(gòu)成的碼(以下稱為"偶數(shù)cr，)、和奇數(shù)號的字節(jié)構(gòu)成的碼(以下稱為"奇數(shù)cr，)這兩個。具體來說，子數(shù)據(jù)組在行方向上有480字節(jié)，所以被分為240字節(jié)的偶 數(shù)C1和奇數(shù)C1。而且，在各C1碼中包含C1奇偶校驗。Cl奇偶校驗由于 在偶數(shù)C1和奇數(shù)C1中為12字節(jié)，所以各奇偶校驗為6字節(jié)。即，對于偶 數(shù)Cl,通過偶數(shù)號的字節(jié)構(gòu)成的Cl奇偶校驗6字節(jié)進(jìn)行Cl糾正，對于奇數(shù)Cl,通過奇數(shù)號的字節(jié)構(gòu)成的Cl奇偶校驗6字節(jié)進(jìn)行C1糾正。另一方面，子l丈據(jù)組在列方向上為64字節(jié)，所以C2碼為64字節(jié)。而 且，在C2碼中包含IO字節(jié)的C2奇偶校驗。接著，參照圖4，對C1糾正的動作進(jìn)行詳細(xì)的說明。而且，這里，對圖 2的CQ0 ~ 7的例如前半部分的處理進(jìn)行說明。首先，磁頭14在8磁道同時讀取8行的數(shù)據(jù)，讀取通道15將該數(shù)據(jù)存 儲在SRAM緩沖器16中(步驟101 )。由此，開始由Cl解碼器17進(jìn)行的Cl糾正的處理。在LTO的情況下，如上所述，由于在C1碼中有偶數(shù)C1和奇數(shù)Cl,所 以從8行的數(shù)據(jù)得到16個C1碼。因此，C1解碼器17計算這16個C1碼的 校驗子(syndrome )(步驟102 )。接著，Cl解碼器17從Cl碼的校驗子計算錯誤位置和值，并且糾正被 存儲在SRAM緩沖器16中的Cl碼(步驟103)。然后，通過該糾正，判斷 是否C1碼的某些字節(jié)已被糾正(步驟104)。其結(jié)果，在未被糾正的情況下或者在1 -2字節(jié)被糾正的情況下("0-2 字節(jié)糾正，，的情況)，原樣進(jìn)入步驟107。另一方面，在3字節(jié)已被糾正的情況 下("3字節(jié)糾正，，的情況)，對該C1碼附加3字節(jié)糾正標(biāo)記(步驟105)。而 且，在不能糾正的情況下("不能糾正，，的情況)，對該C1碼附加不能糾正標(biāo) 記(步驟106)。之后，Cl解碼器17判斷是否已處理了偶數(shù)Cl和奇數(shù)Cl的對(pair)(步 驟107),如果未處理，則重復(fù)步驟103 - 106的處理。由此，對于各個偶數(shù) Cl、奇數(shù)Cl,在成為了 3字節(jié)糾正或者不能糾正的情況下，附加表示該情況 的標(biāo)i己。參照圖5說明對這樣的子數(shù)據(jù)組的標(biāo)記的附加。如圖所示，在子數(shù)據(jù)組 中，設(shè)置有可以對每行附加四個標(biāo)記的存儲區(qū)域。這四個標(biāo)記，是偶數(shù)Cl 的不能糾正標(biāo)記和3字節(jié)糾正標(biāo)記、奇數(shù)C1的不能糾正標(biāo)記和3字節(jié)糾正標(biāo)記。這些標(biāo)記構(gòu)成為例如初始值為"o"，在附加有關(guān)的標(biāo)記時值為"r。其次，再次返回圖4繼續(xù)說明Cl糾正的動作。在步驟107中，判斷為 已處理了偶數(shù)C1和奇數(shù)C1的對時，將該處理后的一行的數(shù)據(jù)從SRAM緩沖 器16傳送到DRAM緩沖器18 (步驟108 )。然后，最后判斷在SRAM緩沖器16中是否已沒有未處理的Cl碼(步驟109)。其結(jié)果，如果有未處理的C1碼，則返回步驟103。另一方面，如果沒 有未處理的C1碼，則結(jié)束處理。而且，該圖4的動作如上所述，設(shè)為對圖2的CQ0-7的前半部分的處 理，同樣的處理對CQO ~ 7的后半部分以及CQ組1 ~ 63進(jìn)行。由此，在DRAM 緩沖器18中進(jìn)行C1糾正，并且根據(jù)需要存儲被附加了標(biāo)記的子數(shù)據(jù)組。在以上的糾正中，在每行，對于偶數(shù)C1、奇數(shù)C1分別進(jìn)行糾正。然后， 偶數(shù)C1的糾正結(jié)果和奇數(shù)C1的糾正結(jié)果作為對連續(xù)誤差的糾正結(jié)果如果是 發(fā)生率高的組合時，即使例如設(shè)為是可糾正，也判斷為誤糾正，并且在此后 敘述的C2糾正中進(jìn)行消失糾正。由此，可以降低對于連續(xù)誤差的誤糾正概率。在圖6中表示本實施方式的C1糾正的結(jié)果和在C2糾正中是否進(jìn)行消失 糾正的3于應(yīng)信息。當(dāng)然，如果偶數(shù)C1和奇數(shù)C1的任意一個都為不能糾正，則在C2糾正 中進(jìn)行消失糾正。此外，在本實施方式中，在偶數(shù)C1和奇數(shù)C1的其中一個 是3字節(jié)糾正的情況下，根據(jù)另 一 個的糾正結(jié)果來決定是否在C 2糾正中進(jìn)行 消失糾正。具體來說，考慮到在另一個是不能糾正或者3字節(jié)糾正的情況下，3字 節(jié)糾正為誤糾正的可能性高，在C2糾正中進(jìn)行消失糾正(施加斜線的部分)。 相反，如果同樣是3字節(jié)糾正，另一個是0-2字節(jié)糾正時，考慮到是誤糾正 的可能性低，所以采用基于3字節(jié)糾正的糾正結(jié)果來進(jìn)行以后的處理。而且，雖然不是對應(yīng)信息中包含的內(nèi)容，但是作為參考在圖6的右欄外 表示了對于連續(xù)誤差的C1糾正結(jié)果的每個組合的發(fā)生率。即，本實施方式在 Cl糾正的結(jié)果的組合中，對于發(fā)生率為1%以上的情況，在C2糾正中進(jìn)行 消失糾正。以下，參照圖7對這樣的C2糾正的動作進(jìn)行說明。首先，將圖5所示的子數(shù)據(jù)組的標(biāo)記部分從DRAM緩沖器18傳送到 SRAM緩沖器19 (步驟201)。由此，C2解碼器20存儲被附加了不能糾正標(biāo) 記的Cl碼的位置(消失位置)(步驟202 )。而且，存儲包含有被附加了 3字 節(jié)糾正標(biāo)記的Cl碼、和被附加了不能糾正或者3字節(jié)糾正標(biāo)記的Cl碼的行 的位置(消失位置)(步驟203 )。接著，將子數(shù)據(jù)組的數(shù)據(jù)部分從DRAM緩沖器18傳送到SRAM緩沖器 19(步驟204)。由于SRAM緩沖器19與DRAM緩沖器18相比容量少，所以子數(shù)據(jù)組的數(shù)據(jù)部分被分為幾列而傳送到SRAM緩沖器19， C2解碼器20 對存儲在SRAM緩沖器19中的某幾列的每一列進(jìn)行步驟205 ~ 209的處理。即，首先，C2解碼器20計算C2碼的校驗子(步驟205 )。而且，在步 驟202或者203中判斷在是否存儲了消失位置(步驟206 )。其結(jié)果，在判斷出已存儲了消失位置的情況下，根據(jù)消失位置和校驗子 計算錯誤位置和值，并且糾正SRAM緩沖器19中存儲的C2碼(步驟207)。 更詳細(xì)地說，從消失位置求消失位置多項式，根據(jù)該消失位置多項式和校驗 子計算錯誤位置和值，并糾正C2碼。另一方面，在判斷為未存儲消失位置的 情況下，根據(jù)校驗子計算錯誤位置和值，并且糾正存儲在SRAM緩沖器19 中的C2碼(步驟208)。即，在消失位置存在的情況下，進(jìn)行不僅隨機誤差而且連續(xù)誤差也進(jìn)入 視野的糾錯，在沒有消失位置的情況下，進(jìn)行僅隨機誤差進(jìn)入視野的糾錯。 而且，雖然未圖示，但是，這里在判斷為不能糾正的情況下，不進(jìn)行糾正而 對磁帶驅(qū)動器10的未圖示的控制單元報告錯誤。之后，在控制單元的控制下， 磁帶驅(qū)動器IO進(jìn)行錯誤恢復(fù)處理，如果不能恢復(fù)，則對主機機器報告錯誤。接著，C2解碼器20判斷在SRAM緩沖器19內(nèi)是否已沒有未處理的C2 碼(步驟209)。其結(jié)果，如果有未處理的C2碼，則返回步驟205。另一方面， 如果沒有未處理的C2碼，則將處理完的C2碼從SRAM緩沖器19寫回至 DRAM緩沖器18 (步驟210)。然后，判斷在DRAM緩沖器18內(nèi)是否還有未處理的C2碼(步驟211)。 其結(jié)果，如果還有未處理的C2碼，則返回步驟204。另一方面，如果沒有未 處理的C2碼，則結(jié)束處理。然后，最后，DRAM緩沖器18內(nèi)的數(shù)據(jù)經(jīng)由主機I/F21被發(fā)送到主機機器。通過以上處理，本實施方式的動作結(jié)束。而且，在本實施方式中，設(shè)為對行方向的Cl碼進(jìn)行C1糾正，然后對列 方向的C2碼進(jìn)行C2糾正，但是不限于這樣的結(jié)構(gòu)。即，作為第一糾正的對 象的碼列、和作為第二糾正對象的碼列不一定是行方向、列方向，任何方向 都可以。而且，在本實施方式中，由于以最小代碼間距dmin-7為前提，所以作 為糾正結(jié)果，考慮"0-2字節(jié)糾正"、"3字節(jié)糾正"、"不能糾正"，進(jìn)行了按照圖6所示的對應(yīng)關(guān)系的動作，但是不限于此。即，在對于成對的碼列的糾正 的程度為規(guī)定水平以上或者不能糾正的情況下，可以將規(guī)定水平以上的糾正 作為誤糾正來處理。進(jìn)而，在本實施方式中，將一個碼列按照偶數(shù)號、奇數(shù)號的基準(zhǔn)分為兩 個部分，分別對它們進(jìn)行了第一糾正。但是，不一定需要按照偶數(shù)號和奇數(shù) 號的基準(zhǔn)分為兩個部分列，而且，部分列的數(shù)量也不限于兩個。即，也可以 是以下結(jié)構(gòu)，即將一個碼列分為多個部分列，分別對這些多個部分列進(jìn)行第 一糾正，根據(jù)該糾正的結(jié)果的組合進(jìn)行第二糾正。如上所述，在本實施方式中，通過參照成對的兩個Cl糾正的結(jié)果，判斷是否為誤糾正。然后，對該判斷結(jié)果中為誤糾正的行，在C2糾正中進(jìn)行消失糾正。由此，即使對隨機誤差選擇高糾正能力，也可以不使對于連續(xù)誤差 的誤糾正的概率上升。接著，利用曲線說明本發(fā)明的效果。圖8是表示連續(xù)誤差的發(fā)生率和C2糾正中的誤糾正概率的關(guān)系的曲線圖。在圖8(a)中，表示采用了以往的方式的情況。由該曲線可知，與在 Cl糾正中進(jìn)行2字節(jié)糾正的情況相比，進(jìn)行3字節(jié)糾正時在C2糾正中產(chǎn)生 誤糾正的概率高。另一方面，在圖8(b)中，表示采用了本發(fā)明的方式的情況?？芍?Cl糾正中進(jìn)行3字節(jié)糾正時的誤糾正概率與進(jìn)行2字節(jié)糾正時的無糾正概率 相比稍微上升，但是它們基本相等。而且，圖9是表示隨機誤差發(fā)生率和不能糾正的發(fā)生率的關(guān)系的曲線圖。在圖9(a)中，表示與進(jìn)行了 2字節(jié)糾正的情況相比，進(jìn)行了3字節(jié)糾 正時，降低了不能糾正發(fā)生的概率。另一方面，在圖9(b)中，表示即使如本發(fā)明那樣在一定條件下對3字 節(jié)糾正進(jìn)行了消失糾正，對于隨機誤差的不能糾正的發(fā)生率的降低效果也相 同。
權(quán)利要求
1、一種裝置，用于糾正包含第一方向的第一字節(jié)列和第二方向的第二字節(jié)列的積碼塊中的錯誤，其中包括第一解碼器，糾正所述第一字節(jié)列中的偶數(shù)號的字節(jié)構(gòu)成的第一部分列、和所述第一字節(jié)列中的奇數(shù)號的字節(jié)構(gòu)成的第二部分列的各個部分列中的錯誤；以及第二解碼器，根據(jù)所述第一部分列中的糾正的第一程度和所述第二部分列中的糾正的第二程度的組合，糾正所述第二字節(jié)列。
2、 如權(quán)利要求l所述的裝置，在所述第一程度和所述第二程度中， 一個在規(guī)定的水平以上，另一個不 能糾正的情況下，所述第二解碼器在將所述第一字節(jié)列的位置設(shè)為消失位置 后，糾正所述第二字節(jié)列。
3、 如權(quán)利要求2所述的裝置，所述第一字節(jié)列的最小代碼間距為7，所述規(guī)定的水平為3字節(jié)糾正。
4、 如權(quán)利要求1所述的裝置，在所述第一程度和所述第二程度中， 一個在第一水平以上，另一個在第 二水平以上的情況下，所述第二解碼器在將所述第一字節(jié)列的位置設(shè)為消失 位置后，糾正所述第二字節(jié)列。
5、 如權(quán)利要求4所述的裝置，所述第一字節(jié)列的最小代碼間距為7，所述第一水平和所述第二水平的 任意一個都為3字節(jié)糾正。
6、 如權(quán)利要求l所述的裝置，還包括 ^f茲頭，讀出被記錄在帶介質(zhì)上的數(shù)據(jù)；以及讀取通道，通過將由所述磁頭讀出的數(shù)據(jù)配置在存儲器上的規(guī)定的位置， 生成所述積碼塊。
7、 一種裝置，用于糾正包含第一方向的第一碼列和第二方向的第二碼列 的積碼塊中的錯誤，其中包括第一解碼器，糾正構(gòu)成所述第一碼列的多個部分列的每一個中的錯誤；以及第二解碼器，根據(jù)所述多個部分列的糾正程度的組合來糾正所述第二碼列。
8、 如權(quán)利要求7所述的裝置，在所述多個部分列中的一個部分列的糾正程度為規(guī)定的水平以上時，如 果其它部分列的糾正程度為不能糾正，則所述第二解碼器在將所述第 一碼列 的位置設(shè)為消失位置后，糾正所述第二碼列。
9、 如權(quán)利要求7所述的裝置，在所述多個部分列中的一個部分列的糾正程度為規(guī)定的水平以上時，如 果其它部分列的糾正程度也為該水平以上，則所述第二解碼器在將所述第一 碼列的位置設(shè)為消失位置后，糾正所述第二碼列。
10、 如權(quán)利要求7所述的裝置，所述多個部分列的每一個通過收集被分散在所述第 一碼列中的片斷而構(gòu)成。
11、 一種方法，用于識別包含第一方向的第一碼列和第二方向的第二碼 列的積碼塊中的誤糾正，該方法包括對構(gòu)成所述第一碼列的多個部分列的每一個中的錯誤進(jìn)行 糾正的步驟；存儲所述多個部分列中的糾正程度的步驟；以及在對所述多個部分列中的一個部分列存儲的糾正程度為規(guī)定的水平以上 的情況下，通過參照對所述多個部分列中的其它部分列存儲的糾正程度，判 斷所述第一碼列是否已被誤糾正的步驟。
12、 如權(quán)利要求11所述的方法，在所述判斷的步驟中，在對所述其它部分列存儲的糾正程度為不能糾正 的情況下，判斷為所述第一碼列已被誤糾正。
13、 如權(quán)利要求11所述的方法，在所述判斷的步驟中，在對所述其它部分列存儲的糾正程度為所述規(guī)定 的水平以上的情況下，判斷為所述第一碼列已被誤糾正。
14、 如;f又利要求11所述的方法，所述多個部分列的每一個通過收集被分散在所述第一碼列中的片斷而構(gòu)成。
15、 如權(quán)利要求11所述的方法，還包括在判斷為所述第一碼列已被誤糾正的情況下，在將該第一碼列的位置設(shè) 為消失位置后，糾正所述第二碼列的步驟。
16、 一種程序，使計算機識別包含第一方向的第一碼列和第二方向的第 二碼列的積碼塊中的錯誤，該程序使計算機執(zhí)行對構(gòu)成所述第 一碼列的多個部分列的每一個中的錯誤進(jìn)行糾正的處理；以及在所述多個部分列中的一個部分列的糾正程度為規(guī)定的水平以上的情況 下，通過參照所述多個部分列中的其它部分列的糾正程度，判斷所述第一碼 列是否已被誤糾正的處理。
17、 如權(quán)利要求16所述的程序，在所述判斷的處理中，在所述其它部分列的糾正程度為不能糾正的情況 下，判斷為所述第一碼列已被誤糾正。
18、 如權(quán)利要求16所述的程序，在所述判斷的處理中，在所述其它部分列的糾正程度為所述規(guī)定的水平 以上的情況下，判斷為所述第一碼列已被誤糾正。
19、 如權(quán)利要求16所述的程序，所述多個部分列的每一個通過收集被分散在所述第一碼列中的片斷而構(gòu)成。
20、 如權(quán)利要求16所述的程序，還使計算機執(zhí)行 在判斷為所述第一碼列已被誤糾正的情況下，在將該第一碼列的位置設(shè)為消失位置后，糾正所述第二碼列的處理。
全文摘要
本發(fā)明即使對隨機誤差選擇高糾正能力，也不會使對于超過檢測能力的長度的連續(xù)誤差的誤糾正的概率上升。本發(fā)明提供用于對行方向的C1碼和列方向的C2碼構(gòu)成的積碼塊的錯誤進(jìn)行糾正的裝置。首先，C1解碼器對C1碼中的偶數(shù)號的字節(jié)構(gòu)成的偶數(shù)C1、和C1碼中的奇數(shù)號的字節(jié)構(gòu)成的奇數(shù)C1的每一個進(jìn)行C1糾正。例如，在設(shè)C1碼的最小代碼間距為7時，C1糾正被進(jìn)行直至3字節(jié)。接著，C2解碼器在對于偶數(shù)C1和奇數(shù)C1的C1糾正的結(jié)果的任意一個為不能糾正的情況下，在一個為3字節(jié)糾正而另一個為不能糾正或者3字節(jié)糾正的情況下，在C2糾正中進(jìn)行消失糾正。
文檔編號G11B20/18GK101228583SQ20068001647
公開日2008年7月23日 申請日期2006年6月8日 優(yōu)先權(quán)日2005年6月10日
發(fā)明者田中啟介 申請人:國際商業(yè)機器公司