專利名稱：：具有包絡(luò)線異常檢出器功能的光盤驅(qū)動器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明涉及光盤驅(qū)動器。
背景技術(shù)：
：遵照DVD及藍(lán)光光盤(Blu-raydisc)(以下稱其為BD)等的規(guī)格的光盤裝置及盤片的顯著特征之一是記錄媒體可換，可以在不同機(jī)種間互相交換盤片進(jìn)行記錄及重放。然而，在現(xiàn)實(shí)中有時出現(xiàn)在記錄的盤片的表面上帶有傷痕及污點(diǎn)，重放極為困難的情況。另外，本發(fā)明的應(yīng)用范圍并不限定于BD，但在以下的說明中以BD為前提，并且用語也以在BD中使用的為基本。在重放時，即使存在缺陷及污點(diǎn)等，狀態(tài)不佳的盤片，也要極力設(shè)法不產(chǎn)生讀出錯誤。比如，重放信號基本上受到遮蔽的盤片的表面上存在污點(diǎn)的情況下，通過使用在專利文獻(xiàn)1(日本專利特開2003-30850號公報)中記述的缺陷檢出技術(shù)，可以使其影響保持為最小限度。同樣的方法，一般被用于光盤中是在本領(lǐng)域技術(shù)人員公知的事實(shí)。其概要為，如圖2所示，監(jiān)視重放信號的topenvelope,在其振幅大于等于一定時間，小于等于閾值時輸出缺陷檢出信號(defectdetectionsignal)。于是，就可以通過在輸出缺陷檢出信號之間，保持(hold)跟蹤及聚焦等的控制，也保持重放信號處理系統(tǒng)的PLL(phaselockedloop:鎖相環(huán))等而防止這些缺陷引起的不希望的動作，可以使其影響保持為最小限度。除去在流重放時streamread等，一般，在發(fā)生讀出錯誤時，為了取得該RUB(騰cwdingaaitWock)的數(shù)據(jù)，進(jìn)行讀出重試。以往，在讀出重試之際，不確定讀出錯誤的要因，而是按照預(yù)先準(zhǔn)備的重試參數(shù)列表(retryparameterHst)試行。因此，不見得可以有效地進(jìn)行適用于讀出錯誤的原因的試行。除了盤片上的缺陷等的局部要因之外，還存在像兩層盤片(duallayerdisc)層間干涉(inter-layerinterference)等由于盤片結(jié)構(gòu)引起等等在極廣范圍中使重放性能劣化的現(xiàn)象。在圖3中示出由于層間干涉被擾亂的重放信號的例子。這是可改寫(rewritable)的兩層的Bhi-ray盤片的L1層，即靠近表面一側(cè)的層的重放時的例子。可知，由于層間干涉，本來應(yīng)該是大致平坦的上下的包絡(luò)線都受到;f艮大的千擾。在LI層重放時，重放光在該層聚焦。重放光的一部分透過LI層，在L0層反射，其一部分達(dá)到光頭的光檢出器(photodetector)。由于發(fā)自L0、LI兩層的光同時到達(dá)光檢出器，發(fā)生由兩光產(chǎn)生的干涉。另外，一般L0層和L1層的間隔在盤片上的每個位置略有不同。在這種情況下重放盤片時，由于光檢出器上的來自L0、Ll層的光產(chǎn)生的干涉圖形與時間一起變化。其結(jié)果，產(chǎn)生如圖3所示的重放信號的干擾。在存在圖3所示的信號紊亂時，與存在缺陷時一樣，記錄在該地點(diǎn)的信號不能正確地譯碼而成為猝發(fā)錯誤(bursterror)。在圖3所示的例子中為數(shù)百字節(jié)長度的猝發(fā)錯誤。這是按照Blu-rayDisc系統(tǒng)的糾錯碼(errorcorrectioncode)的能力而言，在重放時完全不會招致障礙的長度。然而，當(dāng)在盤片的切線方向上重放層間隔的變化大的區(qū)域時，因?yàn)榘l(fā)生比在光檢出器上的干涉情況急劇的變化，出現(xiàn)如圖3所示的信號的紊亂的頻率變高，在一個記錄單元塊(recordingunitblock(RUB))中多次出現(xiàn)。在這種情況下，不能忽視引起讀出錯誤的概率。
發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明要解決的課題，是可以避免盤片表面上的指紋及兩層盤片的層間干涉等引起的讀出錯誤以及避免由其引起的重放性能降低。為了解決上迷課題，在基于本發(fā)明的光盤裝置中，檢測出包絡(luò)線的異常，計測其出現(xiàn)次數(shù)。并且，具有在讀出錯誤時設(shè)定與讀出錯誤原因相應(yīng)的重放條件的手段，在檢測出包絡(luò)線異常時，設(shè)定對具有包絡(luò)線異常的重放信號進(jìn)行譯碼適合的重放條件。采用本發(fā)明，可以提高處理因?yàn)楸P片表面上的指紋及兩層盤片的層間干涉等的重放信號包絡(luò)線異常而引起的讀出錯誤的能力。圖l示出基于本發(fā)明的光盤驅(qū)動器的構(gòu)成概略的圖。圖2示出缺陷檢出法。圖3示出由層間干涉引起的重放信號的素亂的一個例子的圖。圖4示出包絡(luò)線異常的檢出方法的圖。圖5示出谷的檢出方法的困。圖6示出峰的檢出方法的困。圖7示出包絡(luò)線異常地點(diǎn)的計數(shù)法的圖。圖8示出進(jìn)行讀出錯誤要因判別，根據(jù)其進(jìn)行讀出重試的光盤驅(qū)動器的構(gòu)成概略的圖。圖9示出使用要因判別的讀出重試的步驟的圖。圖IO示出由指紋引起的包絡(luò)線異常的例子的圖。圖ll示出用于與指故相對應(yīng)的重試列表的例子的圖。圖12示出用于與偏移相對應(yīng)的重試列表的例子的圖。圖13示出用于與缺陷相對應(yīng)的重試列表的例子的圖。圖14示出用于與SNR不足相對應(yīng)的重試列表的例子的圖。圖15示出層間干涉出現(xiàn)頻率監(jiān)視的方法的圖。附圖標(biāo)記說明1:光盤、2:拾取器、3:AFE-IC、4:DSP、5:ADC、6:包絡(luò)線異常檢出器、7:包絡(luò)線異常計數(shù)器、8:擺動模塊、9:固件、10:RUB、11:包絡(luò)線異常地點(diǎn)、12:存儲器、100:讀出信道、102:ECC譯碼器、103:缺陷檢出器、104:控制器具體實(shí)施例方式下面參照附圃對本發(fā)明的實(shí)施方式進(jìn)行說明。實(shí)施例1圖l示出基于本發(fā)明的光盤驅(qū)動器的構(gòu)成概略的圖。在圖1中，只示出與本發(fā)明相關(guān)聯(lián)有必要說明的部分，其他部分在圖示中省略。同樣，關(guān)于各部分的詳細(xì)情況，關(guān)于本領(lǐng)域技術(shù)人員可以容易理解的部分的說明予以省略。首先，對動作的概要進(jìn)行說明。記錄在光盤l中的信息，由拾取器2變換為以光學(xué)方式讀出的電信號(重放信號)。重放信號，在AFE(analogfroatend模擬前端)(C3中被放大到一定的振幅后，在DSP(digitalsignalprocessor))4中的ADC(analogtodigitalconverter模數(shù)變換器)5中變換為數(shù)字信號。在本發(fā)明中，使用包絡(luò)線異常檢出器6從該數(shù)字化后的信號檢出重放信號的包絡(luò)線異常。檢出的具體說明見后述。包絡(luò)線異常計數(shù)器7計數(shù)所檢出的包絡(luò)線異常地點(diǎn)的數(shù)目。指示計數(shù)的開始、停止、復(fù)位等的信號由擺動模塊(wobblemodule)8供給。另外，DSP由控制整個驅(qū)動器的固件(firmware)9完成各種設(shè)定。下面利用掛4對包絡(luò)線異常的檢出進(jìn)行說明。此處設(shè)只有上側(cè)的包絡(luò)線存在異常的情況。包絡(luò)線異常檢出器6—直不斷地對重放信號的上側(cè)、下側(cè)各個包絡(luò)線水平進(jìn)行監(jiān)視。而且，可以對上側(cè)、下側(cè)各個包絡(luò)線振幅(單側(cè)振幅)設(shè)定上限閾值(upperthreshold)和下限閾值(lowerthreshold)。就是說，將包絡(luò)線向外側(cè)膨脹而使振幅大于上限閾值的異常稱為"^(peak),并將振幅減小到小于下限閾值的異常稱為谷(valley)。所以，在圖4的例子中，上側(cè)包絡(luò)線示出峰和谷兩個異常。圖4使用包絡(luò)線進(jìn)行說明。在專利文獻(xiàn)2(日本專利特開平8-96361號公報)中記述有使用數(shù)字信號處理從AD變換(AnalogtoDigitalconversioii)所得到的采樣信號直接求出包絡(luò)線，由此檢出包絡(luò)線的異常的方法。采用此技術(shù)時，與以往的采用模擬信號處理(analogsignalppocessin參的缺陷檢出方式比較，也可以捕捉極其迅速的現(xiàn)象。然而，園為此方式需要很多以信道時鐘(channelclock)動作的元件，存在功耗及電路設(shè)計復(fù)雜化的問題。于是，在本實(shí)施例中，利用如圖5所示的更簡易的方法檢出包絡(luò)線的異常。就是說，在檢出谷時，就計數(shù)采樣值x小于閾值min的時間t，在其越過指定的期間時作為檢測出谷。然后，在觀測到大于等于閾值時，作為谷結(jié)束。因?yàn)橐灾胤判盘柋旧碜鳛閷ο螅谥付〞r間閾值之時，必須考慮重放信號的特性來決定。就是說，因?yàn)樽疃虡?biāo)記(shortestmarks)連續(xù)出現(xiàn)通常是充分的，必須避免設(shè)定過短的時間閾值。下面利用困6對峰的檢出進(jìn)行說明。在檢出峰時，采樣值越過閾值后，通常不會出現(xiàn)在峰的部分中全部采樣值連續(xù)超過閾值。于是，在采樣值x越過閾值max后啟動計時器，在指定時間(interval)內(nèi)未再次觀察到比閾值大的采樣值時，就判斷為峰結(jié)束。在出現(xiàn)時，就將計時器(timer)復(fù)位(reset)，再次轉(zhuǎn)移到監(jiān)視采樣值。于是，在判定峰結(jié)束的時刻，在峰的持續(xù)時間大于等于指定值的場合，就判定是峰。下面對包絡(luò)線異常地點(diǎn)的計數(shù)和要因判別進(jìn)行說明。如圖5及6所示，在判定存在峰或谷時，使包絡(luò)線異常計數(shù)器7的計數(shù)值增加1。計數(shù)對象預(yù)先選擇峰或谷，或者是峰和谷兩者之一。最大出現(xiàn)間隔，是控制包絡(luò)線異常計數(shù)的持續(xù)的變量，在檢出包絡(luò)線異常之后，即使是越過最大出現(xiàn)間隔也未檢出下一個包絡(luò)線異常時，使包絡(luò)線異常計數(shù)器復(fù)位。就圖7的例子而言，在檢出最初的包絡(luò)線異常變成1的包絡(luò)線異常計數(shù)器在最大出現(xiàn)間隔經(jīng)過后返回到0就是為此。在圖7中，IO表示RUB，ll表示包絡(luò)線異常地點(diǎn)。出現(xiàn)數(shù)目閾值，是在包絡(luò)線異常計數(shù)器取大于等于該值時設(shè)置指紋檢出標(biāo)志的閾值。通過使用這些，可以判別以像指紋這樣短的間隔發(fā)生包絡(luò)線異常的情況和由于塵埃等間斷地發(fā)生的情況。就圖7的例子而言，出現(xiàn)數(shù)目閾值因?yàn)橹付?,在第2個包絡(luò)線異常群中計數(shù)第3個時刻時，設(shè)置指統(tǒng)檢出標(biāo)志(fmgerprintdetectionflag)。另外，包絡(luò)線異常計數(shù)器7，在RUB邊界自動復(fù)位。復(fù)位信號，來自擺動模塊(wobbleniodiile)8。擺動模塊(wobWemodute)8，分析來自盤片的擺動信號，識別RUB邊界。這是作為本領(lǐng)域技術(shù)人員在以BD處理記錄型盤片時都知道的情況，在此不詳細(xì)斜述。另外，在重放專用盤片中沒有擺動。此時，使用ECC(糾錯碼errorcorrectioncode)譯碼器(decoder)分析結(jié)果識別RUB邊界。(根據(jù)不同要因的列表方式和要因檢出)下面對指紋檢出標(biāo)志的使用法進(jìn)行說明。在本實(shí)施例中，對在執(zhí)行讀出重試時判別讀出錯誤，進(jìn)行基于該結(jié)果的重試處理的方法進(jìn)行說明。指紋檢出標(biāo)志，用于讀出錯誤要因判別。讀出錯誤要因，大致可分為指紋、缺陷(defect)、偏移(deviation)、SNR不足四種。于是，對于其中的缺陷及偏移，可以以歷來具有的足夠的可靠性來檢出。采用本發(fā)明，指紋也可以高準(zhǔn)確度檢出。另外，指紋檢出標(biāo)志也可以檢出雖然是指紋以外的現(xiàn)象但對重放信號產(chǎn)生與指紋一樣的影響的情況。即是前面的多層媒體中的層間千涉及帶有狹小間隔的多個傷痕等等。另外，如后所述，因?yàn)閷τ谝赃@些為原因引起的讀出錯誤的處理方法大多與指紋的情況相同，故作為與指紋相同范疇處理，只要未特別聲明，在表現(xiàn)為指紋的情況下，也包含層間干涉等。以下，只要未特別聲明，所謂的讀出錯誤的要因，指的是指紋、缺陷、偏移、SNR不足中的任何一個。于是，通過對每個要因適用準(zhǔn)備好的重試參數(shù)列表，可以進(jìn)行比以往更有效的重試動作。圖8示出根據(jù)讀出錯誤不同要因進(jìn)行重試處理的光盤驅(qū)動器的構(gòu)成概略圖。在困8中只示出與本發(fā)明相關(guān)聯(lián)有必要說明的部分，其他部分在圖示中省略。同樣，對于各部分的詳細(xì)情況，也是省略關(guān)于本領(lǐng)域技術(shù)人員容易理解的部分的說明。記錄于光盤l中的信息，使用拾取器2進(jìn)行光學(xué)重放，在變換為電信號之后，輸入到信號處理系統(tǒng)即讀出信道100。在讀出信道中進(jìn)行二值化之后，由糾錯碼譯碼器(ECCdecoder)102進(jìn)行糾錯處理等而取出用戶數(shù)據(jù)。糾錯碼譯碼器(ECCdecoder)102將出錯報告(errorreport)發(fā)送到控制器104，對在控制器104中檢出的符號錯誤數(shù)目進(jìn)行計數(shù)。這是通常的重放動作的概要，一般這些作業(yè)是由LSI內(nèi)置的順序(sequencel)自動進(jìn)行的。下面對讀出錯誤的要因檢出及其后的讀出重試的動作進(jìn)行說明。此處，為了簡單起見，要檢出的要因只作為缺陷進(jìn)行說明。圖9為對該時的讀出參數(shù)的設(shè)定及其契機(jī)進(jìn)行說明的圖。最上部分的圖示出進(jìn)行重放的RUB(recordingunitblock),其下的圖表示缺陷檢出標(biāo)志的狀態(tài)，最下方的困示出該時使用的重放參數(shù)組。現(xiàn)在，設(shè)在與RUB(n-2)、RUB(n-l)、RUB(n)連續(xù)重放之間在RUB(n)中發(fā)生讀出錯誤。在讀出錯誤發(fā)生時，控制器104開始重試動作。在第1次重試時，進(jìn)行單純重試。為了再次讀出RUB(n),必須進(jìn)行查找。在查找(seek)動作中，使拾取器返回到目的簇(cluster)之前數(shù)個簇的位置，從該處循跡到達(dá)目的簇。此時，如圖9所示，在查找結(jié)束時，使缺陷檢出標(biāo)志復(fù)位。于是，在第l次的重試結(jié)束時刻，通過參照缺陷檢出標(biāo)志，判別對象區(qū)域內(nèi)有無缺陷。缺陷檢出，使用缺陷檢出器103進(jìn)行。這是如圖2所示監(jiān)視重放信號的topenvelope,在其振幅大于等于一定時間、小于等于閾值時輸出缺陷檢出信號的電路。于是，在缺陷檢出信號在大于等于一定期間持續(xù)而輸出時，就設(shè)置缺陷檢出標(biāo)志。另外，使缺陷檢出標(biāo)志從檢出缺陷的起到復(fù)位為止的期間維持高電平。由此，可以保障第l次重試結(jié)束時刻的缺陷檢出標(biāo)志的狀態(tài)從查找結(jié)束起至進(jìn)行重試的該簇的結(jié)束為止的期間反映缺陷檢出的有無。之所以將復(fù)位缺陷檢出標(biāo)志的定時設(shè)定為在該簇之前是因?yàn)橐灿杏捎谖挥谠摯刂暗娜毕莸挠绊懓l(fā)生跳轉(zhuǎn)到目的以外的軌跡的結(jié)果讀出錯誤的情況之故。在第l次重試(單純重試)就存在讀出錯誤時，進(jìn)行基于要因檢出標(biāo)志的結(jié)果的重試動作?，F(xiàn)在，因?yàn)闄z出的要因只是缺陷，就成為缺陷及其以外的分類。根據(jù)不同要因的重試時重放參數(shù)列表，記栽為S((要因編號)，(試行編號))。另外，將通常重放時的重放參數(shù)列表記載為S(O,0)。在把缺陷的要因編號作為1,其以外的編號作為2時，在設(shè)置缺陷檢出標(biāo)志時，在第2次以下的重試中，以參數(shù)列表S(l,0)，S(l,1)，S(l，2)這樣的順序一直執(zhí)行讀出到成功為止。另夕卜，對于本領(lǐng)域技術(shù)人員可以容易理解控制器104由作為硬件的微機(jī)(沮icroco加puter)、反饋控制用調(diào)節(jié)器(feedbackcoatroHer)、通用存儲器(universalmemory)等構(gòu)成，由固件控制動作，并且，也包含重試時的讀出參數(shù)組等。在圍8的例子中，只使用缺陷作為要因判別。對此即使增加指紋檢出機(jī)構(gòu)、循跡《tracking)及聚焦(focusing)的偏移檢出器也基本適用上述的說明。在這種情況下，要因的分類為指紋、缺陷、偏移、SNR不足及其他。偏移，在循跡反饋控制電路中的誤差信號的振幅超過一定值時被檢出。循跡和聚焦的偏移可以個別檢出。然而，因?yàn)槌蔀槠频脑虻淖x出錯誤的發(fā)生頻率，循跡偏移一方相當(dāng)大，在此考慮系統(tǒng)的簡化將有關(guān)循跡及聚焦偏移的重試列表合成為一個，無論檢出哪一個都執(zhí)行同一列表。檢出對象的要因有多個，并且，可以同時將其檢出。為了同時檢出多個讀出錯誤要因的情況，確定檢出優(yōu)先順序。在同時檢出缺陷和偏移時，以缺陷為優(yōu)先。這是因?yàn)樵谥胤殴恻c(diǎn)結(jié)束通過長缺陷之后立即產(chǎn)生很大循跡誤差(trackingerror)的情況很多，即使在本質(zhì)上的讀出錯誤要因是缺陷也經(jīng)常會發(fā)生同時檢出偏移的情況之故。另外，指紋同時具有由于局部光減少而引起的缺陷性的要素和由于使讀出光折射而產(chǎn)生的偏移性的要素。缺陷性的光減少，由于持續(xù)期間短，多半不會設(shè)置缺陷檢出標(biāo)志，但也有根據(jù)指紋的狀況檢出缺陷的情況。另一方面，沒有通過偏移及缺陷檢出指紋的情況。所以，在與指紋同時檢出缺陷或偏移時，指紋優(yōu)先。(根據(jù)不同要因列表內(nèi)容)在此，對根據(jù)不同要因的重試列表的內(nèi)容進(jìn)行說明。首先，對檢出指紋標(biāo)志的情況予以說明。在圖10中示出對帶有指紋的區(qū)域進(jìn)行重放時的重放信號的一個例子?？芍诒容^短的區(qū)間出現(xiàn)多個谷。在存在這種包絡(luò)線異常的情況，有時使在AFE-IC內(nèi)的AGC(自動增益控制)放大器(a鵬pl繊er)的動作精度降低。為了降低其影響，使AGC輸入的高通濾波器的截止頻率(cu^offfr，iieiicy)比通常的高。另外，因?yàn)樵谥讣y中包含皮脂，有時由于讀出光通過不均勻的皮脂層中循跡信號發(fā)生紊亂，錯誤地跳轉(zhuǎn)到相鄰軌跡。在這種情況下降低循跡控制的反饋增益(feedbackgain)具有效果。另外，降低倍速(speed)也有效。如上所述，有時在短的區(qū)間中出現(xiàn)多個層間干涉的結(jié)果，設(shè)置指紋標(biāo)志。在這種情況下，對AGC放大器的動作的影響也與指紋一樣。因此，在判定讀出錯誤要因?yàn)橹讣y時，可以在改變這些參數(shù)的同時重復(fù)重試動作一直到讀出成功為止?？紤]以上內(nèi)容而生成的與指紋相對應(yīng)的重試列表的例子(BD4X)示于圖11。首先，改變期望最有效果的AGC放大器輸入的高通濾波器(high-passfilter)的截止頻率，其后改變循跡增益(trackinggain)及兩者的組合進(jìn)行嘗試。之后，在使倍速下降后同樣在改變AGC放大器輸入的高通濾波器的截止頻率和循跡增益的同時進(jìn)行嘗試。在圖12中示出與偏移相對應(yīng)的重試列表的例子(BD4X)。如上所述，考慮系統(tǒng)的簡化將有關(guān)循跡及聚焦偏移的重試列表整理為一個，無論檢出哪一個都執(zhí)行同一列表。作為與偏移相對應(yīng)的有效的參數(shù)，以循跡及聚焦的反饋控制增益的增加和重放倍速降低為主。因?yàn)橹胤疟端偈球?qū)動的重要性能，雖然作為重試參數(shù)預(yù)料有效，但為了極力避免倍速下降，配置在列表的下位。重試列表的參數(shù)，從配置在列表的上位的參數(shù)起順序應(yīng)用，一直到讀出成功。其次，對與缺陷的對應(yīng)列表進(jìn)行說明。作為由缺陷引起的讀出錯誤的發(fā)生情況，主要是缺陷的長度越接近糾錯界限越長的情況和由于缺陷循跡偏離使其他軌跡上的簇重放的情況。關(guān)于前者，因?yàn)樵诿看螄L試時出錯數(shù)目在統(tǒng)計上有擺動，可以期待單純重試也有相當(dāng)?shù)男Ч?。關(guān)于后者，為了抑制缺陷突入時的反饋系統(tǒng)的過度擺動，可以期待通過降低反饋增益進(jìn)行改善。在缺陷通過中，保持循跡及聚焦的控制系統(tǒng)的動作。然而，可以保持的時間，由于硬件的制約，是有限的，因?yàn)橛袝r降低倍速反而有不利的情況，所以不降低倍速。考慮以上內(nèi)容而生成的重試列表的例子示于圖13。對各嘗試內(nèi)容各重復(fù)3次。通常，在缺陷通過時，還保持自適應(yīng)平衡器(adaptiveequalizer)及自適應(yīng)維特比譯碼器(adaptiveviterbidecoder)的自適應(yīng)動作。在缺陷剛剛通過之后，由于過渡響應(yīng)的影響使重放信號的波形的振幅及直流偏置電平(DCoffsetlevel)改變。為了使對這些的對應(yīng)高速化，使自適應(yīng)平衡器及自適應(yīng)維特比譯碼器的學(xué)習(xí)時間常數(shù)(studytimeconstant)減小也可以期待具有一定的效杲。因?yàn)榫劢乖鲆嬉灿械玫叫Ч那闆r，故將其配置于列表的下位。下面對與SNR不足及其他要因相對應(yīng)的重試列表進(jìn)行說明。在圖14中示出BD4X的例子。因?yàn)樵谠擈?qū)動的重放信號處理系統(tǒng)中裝載有自適應(yīng)平衡器和維特比譯碼器，在SNR不足時，即使增大針對最短標(biāo)記空間(marksandspace)的提升量(boost)，也不能期待對二值化系統(tǒng)有直接的效杲。然而，特別是在像BD這樣的最短標(biāo)記空間信號的抖動惡劣的系統(tǒng)中，有時通過增加最短標(biāo)記空間信號的提升量，可以抑制兩值化系統(tǒng)的動作時鐘抖動(clockjitter)，改善出錯率。這是為了使二值化系統(tǒng)的動作時鐘使用數(shù)字PLL從重放信號生成。在減小重放倍速時，重放信號處理系統(tǒng)的帶寬變窄，輸入到噪聲功率(noisepower)減小的結(jié)果，可以期待出錯率得到改善。但是，因?yàn)閺难b置性能的觀點(diǎn)出發(fā)應(yīng)該盡量避免使重放倍速下降，故將其配置在列表的下位。另外，本發(fā)明，根據(jù)局面，在記錄時也有效。在光盤中，在記錄時也可以在重放系統(tǒng)中觀測從盤片的記錄面發(fā)出的反射光強(qiáng)度。此時，在記錄光束通過指紋及傷痕等之上時，與重放時一樣，反射光的強(qiáng)度改變。所以，可以由此推定妨礙重放的因素存在怎樣的程度。其結(jié)果，可以推定重放時的符號錯誤數(shù)目的程度。利用這一點(diǎn)，可以了解在不進(jìn)行檢驗(yàn)讀出(verifyread)時由于盤片質(zhì)量的原因造成的記錄不良地點(diǎn)。此方式的優(yōu)點(diǎn)是，由于不需要檢驗(yàn)讀出，可以在實(shí)現(xiàn)與流記錄(streamwrite)時相同的傳送速度的同時了解記錄不良地點(diǎn)。檢出記錄不良地點(diǎn)時的處理預(yù)先指定。處理的內(nèi)容，通常是進(jìn)行記錄不良RUB的交替處理或停止記錄中的任何一個。實(shí)施例2在大多數(shù)的情況下，指紋及傷痕存在于盤片表面的一部分。與此相對，兩層盤片的層間干涉根據(jù)盤片的狀況，有可能在盤片上在很寬范圍內(nèi)大量出現(xiàn)，根據(jù)情況，也可能幾乎全面出現(xiàn)。在這種情況，作為層間干涉的原因的讀出錯誤在盤片上到處出現(xiàn)而成為多發(fā)。在這種情況下，如果對每個讀出錯誤都重復(fù)上述這樣的重試動作，就會出現(xiàn)平均傳輸率(datatranxferrate)降低等問題。因此，在本實(shí)施例中，即使是在不觀測讀出錯誤時，使用指紋標(biāo)志監(jiān)視層間千涉的出現(xiàn)數(shù)目，在判斷為出現(xiàn)幾率高的情況使重放參數(shù)自動切換到合適的參數(shù)，可以使讀出錯誤難以發(fā)生。下面對層間干涉的出現(xiàn)頻率監(jiān)視進(jìn)行說明。層間干涉的空間出現(xiàn)間隔，取決于兩個記錄層間隔的空間變化率。就是說，因?yàn)樵趯娱g隔急劇變化的地點(diǎn)干涉條件也急劇變化，出現(xiàn)間隔變窄。由于層間干涉的原因發(fā)生讀出錯誤，是在1RUB內(nèi)存在多個層間干涉引起的包絡(luò)線異常的情況。另外，假如只有層間干涉是錯誤的原因時，可以認(rèn)為在1RUB內(nèi)的總錯誤字節(jié)數(shù)目大概與在該RUB內(nèi)出現(xiàn)的層間干涉引起的包絡(luò)線異常地點(diǎn)的數(shù)目成正比。所以，通過對在1RUB內(nèi)出現(xiàn)的包絡(luò)線異常地點(diǎn)的數(shù)目持續(xù)監(jiān)視，可以了解層間干涉的情形。就是說，對最大出現(xiàn)間隔與RUB同樣進(jìn)行計測。圖15示出持續(xù)監(jiān)視包絡(luò)線異常地點(diǎn)的數(shù)目的方法。在多數(shù)情況下，因?yàn)閷UB連續(xù)進(jìn)行重放，所以將包絡(luò)線異常計數(shù)器的值在每次重放RUB時，逐次傳送到存儲器12保存。在此動作中，也可準(zhǔn)備專用的硬件，但在本實(shí)施例中使用固件9進(jìn)行。其理由是因?yàn)榛厮輩⒄帐褂霉碳慕Y(jié)果的數(shù)目及傳輸對象的地址(address)等可以更靈活地指定之故。另外，同時將各RUB的符號錯誤的數(shù)目逐次傳送到存儲器進(jìn)行保存。這是為了了解從實(shí)際上觀測的錯誤數(shù)目到出現(xiàn)讀出錯誤的余量之故。固件9，對這些數(shù)值一直進(jìn)行監(jiān)視。此處，判斷應(yīng)該改變重放條件的指定條件為在連續(xù)的5RUB內(nèi)以大于等于3的包絡(luò)線異常的出現(xiàn)數(shù)目和符號錯誤的數(shù)目一起超過規(guī)定值(出現(xiàn)數(shù)目的規(guī)定值3，符號錯誤的規(guī)定值IOOO)的情況。通過使用出現(xiàn)數(shù)目和符號錯誤數(shù)目兩者進(jìn)行判斷，提高改變重放條件的妥當(dāng)性。另外，在判定中使用的RUB的數(shù)目確定為5，也許因?yàn)楸P片的外周部的RUB的數(shù)目大概為5。在判斷層間干涉引起的包絡(luò)線異常的出現(xiàn)頻繁時改變的重放參數(shù)，是AGC放大器輸入的高通濾波器的截止頻率和循跡增益。固件在檢出超過上述指定條件的包絡(luò)線異常和符號錯誤時，指示DSP使AGC放大器的輸入的高通濾波器的截止頻率成為比通常的高，提高循跡增益這樣的重放條件的改變。在BD4X重放時，分別為50Hz和十ldB。另外，在重放條件改變之前和之后兩種場合中的任何一種之中，在發(fā)生讀出錯誤之后的讀出重試之際解除上述條件，進(jìn)行與實(shí)施例1相同的步驟。本發(fā)明可以提供減小由于重放信號的包絡(luò)線異常引起的重放性能降低的光盤驅(qū)動器。權(quán)利要求1.一種光盤驅(qū)動器，其特征在于包括拾取器，以光學(xué)方式讀出記錄于光盤的信息并將其變換為重放信號，和信號處理部，對上述重放信號進(jìn)行處理，其中，上述信號處理部具有包絡(luò)線異常檢測部，檢測上述重放信號的包絡(luò)線異常點(diǎn)；和計數(shù)部，對上述包絡(luò)線異常點(diǎn)的出現(xiàn)數(shù)進(jìn)行計數(shù)。2.如權(quán)利要求1所述的光盤驅(qū)動器，其特征在于包括使由上述計數(shù)部對上述包絡(luò)線異常點(diǎn)的出現(xiàn)數(shù)進(jìn)行計數(shù)的區(qū)間的開始位置和/或結(jié)束位置與信息的記錄單位同步的單元。3.如權(quán)利要求1所述的光盤驅(qū)動器，其特征在于包括讀出錯誤主要因素檢測單元，在讀出錯誤時，作為讀出錯誤主要因素而檢測包絡(luò)線異常及其他主要因素；和存儲部，在讀出錯誤主要因素之外，將確定讀出重試時的重放條件的重試列表進(jìn)行存儲，其中，在讀出出錯時，從上述重試列表中選擇、應(yīng)用重放條件，進(jìn)行讀出重試，所述重放條件適于由上述讀出錯誤主要因素檢測單元檢測出的讀出錯誤主要因素的狀況。4.如權(quán)利要求1所述的光盤驅(qū)動器，其特征在于包括計數(shù)上述重放信號的符號出錯數(shù)的單元；存儲單元，存儲在每個記錄單位中包絡(luò)線異常點(diǎn)的出現(xiàn)數(shù)及符號出錯數(shù)；和在存儲于上迷存儲單元中的包絡(luò)線異常點(diǎn)的出現(xiàn)數(shù)和符號出錯數(shù)滿足預(yù)先指定的條件的時刻，改變重放條件的單元。5.如權(quán)利要求1所述的光盤驅(qū)動器，其特征在于上述包絡(luò)線異常檢測部，作為檢測重放信號的包絡(luò)線的谷的單元，具有比較單元，在各個時刻比較重放信號的采樣值和定義上述谷的閾值的大小關(guān)系；和基于由上述比較單元比較的上述大小關(guān)系，來計測重放信號的采樣值連續(xù)低于定義上述谷的閾值的期間的單元。6.如權(quán)利要求1所述的光盤驅(qū)動器，其特征在于該包絡(luò)線異常檢測部，作為檢測重放信號的包絡(luò)線的峰的單元，具有比較單元，在各個時刻比較重放信號的采樣值和定義上述峰的閾值的大小關(guān)系；和在利用上述比較單元判定為重放信號的采樣值超過定義上述峰的閾值之后，發(fā)生在小于上述閾值之后，在預(yù)先指定的期間內(nèi)再次超過定義上述峰的閣值的情況時，計測以上述判定時為起點(diǎn)的上述情況的持續(xù)時間的單元。全文摘要本發(fā)明涉及具有包絡(luò)線異常檢出器功能的光盤驅(qū)動器。本發(fā)明解決的課題是檢出源于光盤的盤片表面上的指紋及兩層盤片的層間干涉等引起的重放信號包絡(luò)線的異常，通過進(jìn)行適當(dāng)?shù)奶幚肀苊庾x出錯誤，提高光盤驅(qū)動器的重放性能。具有檢出包絡(luò)線異常的包絡(luò)線異常檢出器(6)和計測包絡(luò)線異常的出現(xiàn)次數(shù)的包絡(luò)線異常計數(shù)器(7)。設(shè)定在讀出重試時與讀出錯誤要因相應(yīng)的重放條件，并設(shè)定在包絡(luò)線異常檢出時適合于對具有包絡(luò)線異常的重放信號進(jìn)行譯碼時的重放條件。文檔編號G11B7/005GK101197143SQ20071000576公開日2008年6月11日申請日期2007年2月13日優(yōu)先權(quán)日2006年12月5日發(fā)明者菊川敦,黒川貴弘申請人:株式會社日立制作所;日立樂金資料儲存股份有限公司