專(zhuān)利名稱(chēng)：衰減量調(diào)整電路和方法、光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置、地址信息獲取法的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于調(diào)整對(duì)應(yīng)于從光盤(pán)反射的光(返回光)的再生(reproduction)信號(hào)的衰減量的衰減量調(diào)整電路和衰減量調(diào)整方法。本發(fā)明還涉及一種用于檢測(cè)光盤(pán)上的物理地址信息的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置和地址信息獲取方法。
背景技術(shù)：
通常，在可記錄光盤(pán)中，在將激光束照射在溝槽上以在光盤(pán)中寫(xiě)入數(shù)據(jù)時(shí)，有必要準(zhǔn)確地檢測(cè)每個(gè)徑向位置的線(xiàn)速度和溝槽中的物理位置。線(xiàn)速度用于例如光盤(pán)的旋轉(zhuǎn)控制及產(chǎn)生記錄用的主時(shí)鐘。溝槽中的物理位置用于例如確定以位(bit)為單位的準(zhǔn)確記錄位置及獲取光盤(pán)上的物理地址信息。
通常，溝槽由螺旋形溝槽和螺旋形凸區(qū)(land)形成。溝槽和凸區(qū)具有相對(duì)于光盤(pán)的圓周方向(軌跡方向)按固定周期彎曲的圖案。根據(jù)介質(zhì)的預(yù)成格式的類(lèi)型，在溝槽中形成例如具有比上述擺動(dòng)圖案周期短的周期的擺動(dòng)圖案的標(biāo)記(marker)、空心形狀的預(yù)置凹坑(pre-pit)或橫貫于溝槽的分叉形狀的凸區(qū)預(yù)置凹坑。
處理具有這種結(jié)構(gòu)的光盤(pán)的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置將激光束照射在旋轉(zhuǎn)著的光盤(pán)的溝槽上，并根據(jù)光盤(pán)反射的光檢測(cè)溝槽中記錄的數(shù)據(jù)、對(duì)應(yīng)于長(zhǎng)周期擺動(dòng)圖案的信息(線(xiàn)速度)、對(duì)應(yīng)于標(biāo)記的信息(溝槽中的物理地址信息)等。
在向光盤(pán)寫(xiě)入數(shù)據(jù)時(shí)，光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置基于所記錄的數(shù)據(jù)，交替地照射與讀出情況下相比具有極高功率的激光束(寫(xiě)入級(jí)激光束)和具有與讀出情況下的功率相等的低功率的激光束(讀出級(jí)激光束)。因此，在溝槽中形成具有相對(duì)低反射率的凹坑，并且僅當(dāng)照射寫(xiě)入級(jí)激光束時(shí)才將數(shù)據(jù)寫(xiě)入光盤(pán)中。
在這種情況下，當(dāng)照射的光的光強(qiáng)度更大及照射表面上的反射率更大時(shí)，從光盤(pán)反射的光的光強(qiáng)度也更大。然而，寫(xiě)入級(jí)和讀出級(jí)的激光束的光強(qiáng)度之間的差別遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于溝槽中反射率之間的差別。因此，激光束的光強(qiáng)度的大小遠(yuǎn)大于從光盤(pán)反射的光的光強(qiáng)度的大小。因此，寫(xiě)入級(jí)激光束的照射形成凹坑的期間內(nèi)的反射光(寫(xiě)入級(jí)激光束的反射光)的光強(qiáng)度遠(yuǎn)大于不由讀出級(jí)激光束的照射形成凹坑的期間內(nèi)的反射光(讀出級(jí)激光束的反射光)的光強(qiáng)度。因此，對(duì)應(yīng)于寫(xiě)入級(jí)激光束的反射光的再生信號(hào)很可能飽和。尤其近些年來(lái)，由于光盤(pán)速度加快和容量增加，寫(xiě)入級(jí)激光束的光強(qiáng)度也增加。因此，對(duì)應(yīng)于寫(xiě)入級(jí)激光束的反射光的再生信號(hào)極有可能飽和。
因此，期望例如擴(kuò)展檢波器(pickup)、用于處理檢波器的輸出信號(hào)的集成電路等的動(dòng)態(tài)范圍的上限。然而，要擴(kuò)展檢波器、集成電路等的動(dòng)態(tài)范圍的上限，則必須增加向檢波器、集成電路等供電的電源的電壓。其結(jié)果是，耗電量增加。
還期望例如均勻地衰減對(duì)應(yīng)于寫(xiě)入級(jí)激光束的反射光和讀出級(jí)激光束的反射光的再生信號(hào)的振幅電平。然而，在這種情況下，當(dāng)寫(xiě)入級(jí)激光束照射在標(biāo)記上時(shí)與包括在反射光中的對(duì)應(yīng)于標(biāo)記的光(寫(xiě)入時(shí)的標(biāo)記的反射光)相對(duì)應(yīng)的再生信號(hào)的振幅電平不等于當(dāng)讀出級(jí)激光束照射在標(biāo)記上時(shí)與包括在反射光中的對(duì)應(yīng)于標(biāo)記的光(讀出時(shí)的標(biāo)記的反射光)相對(duì)應(yīng)的再生信號(hào)的振幅電平。因此，與預(yù)定的限制電平相比，很難對(duì)這些再生信號(hào)進(jìn)行二值化。其結(jié)果是，要檢測(cè)溝槽中的物理地址信息非常困難。
因此，從前，例如JP-A-2002-334446所述，衰減器進(jìn)行的衰減處理僅應(yīng)用于對(duì)應(yīng)于寫(xiě)入級(jí)激光束的反射光的再生信號(hào)。

發(fā)明內(nèi)容
在JP-A-2002-334446的說(shuō)明中，可以衰減對(duì)應(yīng)于寫(xiě)入級(jí)激光束的反射光的再生信號(hào)的振幅電平，從而穩(wěn)定、精確地檢測(cè)溝槽中的物理地址信息。然而，其并未明確地提及應(yīng)當(dāng)衰減哪一級(jí)的振幅電平，以及如果存在最優(yōu)電平，如何找到最優(yōu)電平。事實(shí)上，在當(dāng)前情況下，本領(lǐng)域的技術(shù)人員沒(méi)有發(fā)現(xiàn)最優(yōu)電平的定性方法，并一直探索著最優(yōu)電平。因此，過(guò)去，由于不容易找到最優(yōu)電平，很難穩(wěn)定、精確地檢測(cè)溝槽中的物理地址信息。
因此，期望提供一種衰減量調(diào)整電路、光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置、衰減量調(diào)整方法和地址信息獲取方法，從而可以容易地選擇對(duì)應(yīng)于寫(xiě)入級(jí)激光束的反射光的再生信號(hào)的振幅電平的最優(yōu)衰減量，其結(jié)果是，可以穩(wěn)定、精確地檢測(cè)在溝槽中的物理地址信息。
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，提供一種用于光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置的衰減量調(diào)整電路，該光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置處理包括由擺動(dòng)圖案形成的溝槽和表示溝槽中的物理位置的多個(gè)標(biāo)記的光盤(pán)。衰減量調(diào)整電路包括檢波器，檢波器包括交替地將寫(xiě)入級(jí)和讀出級(jí)激光束照射在光盤(pán)上的光照射單元，以及接收照射在光盤(pán)上的激光束的反射光并將反射光轉(zhuǎn)換為再生信號(hào)的光接收單元。衰減量調(diào)整電路還包括根據(jù)從與從檢波器的光接收單元輸出的再生信號(hào)中的寫(xiě)入級(jí)激光束的反射光相對(duì)應(yīng)的寫(xiě)入波形的上升沿開(kāi)始的位置，對(duì)寫(xiě)入波形的振幅電平進(jìn)行衰減的寫(xiě)入波形衰減單元。
根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例，提供一種包括衰減量調(diào)整電路和地址信息檢測(cè)電路的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置。地址信息檢測(cè)電路包括從寫(xiě)入波形衰減單元衰減的再生信號(hào)提取對(duì)應(yīng)于標(biāo)記的信號(hào)分量，并獲取溝槽中的物理地址信息的地址信息獲取單元。
在根據(jù)實(shí)施例的衰減量調(diào)整電路和光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置中，寫(xiě)入波形衰減單元根據(jù)從與從光接收單元輸出的再生信號(hào)中的寫(xiě)入級(jí)激光束的反射光相對(duì)應(yīng)的寫(xiě)入波形的上升沿開(kāi)始的位置，對(duì)寫(xiě)入波形的振幅電平進(jìn)行衰減。
根據(jù)本發(fā)明的再一個(gè)實(shí)施例，提供一種包括以下步驟(A)～(D)的衰減量調(diào)整方法。
(A)驅(qū)動(dòng)光盤(pán)旋轉(zhuǎn)的步驟，光盤(pán)具有由擺動(dòng)圖案形成的溝槽以及表示溝槽中物理位置的多個(gè)標(biāo)記；(B)在正在旋轉(zhuǎn)的光盤(pán)上交替地照射寫(xiě)入級(jí)激光束和讀出級(jí)激光束的步驟；(C)接收照射在光盤(pán)上的激光束的反射光并將反射光轉(zhuǎn)換為再生信號(hào)的步驟；(D)根據(jù)從與再生信號(hào)中的寫(xiě)入級(jí)激光束的反射光相對(duì)應(yīng)的寫(xiě)入波形的上升沿開(kāi)始的位置，對(duì)寫(xiě)入波形的振幅電平進(jìn)行衰減的步驟。
根據(jù)本發(fā)明的再一個(gè)實(shí)施例，提供一種包括衰減量調(diào)整方法的(A)到(D)步驟，還包括在這些步驟之后，從已進(jìn)行過(guò)衰減的再生信號(hào)提取對(duì)應(yīng)于標(biāo)記的信號(hào)分量，并獲取溝槽中的物理地址信息的步驟的地址信息獲取方法。
在根據(jù)實(shí)施例的衰減量調(diào)整方法和地址信息獲取方法中，根據(jù)從與再生信號(hào)中的寫(xiě)入級(jí)激光束的反射光相對(duì)應(yīng)的寫(xiě)入波形的上升沿的位置，對(duì)寫(xiě)入波形的振幅電平進(jìn)行衰減。
在根據(jù)實(shí)施例的衰減量調(diào)整電路和光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置中，寫(xiě)入波形衰減單元根據(jù)對(duì)應(yīng)于從光接收單元輸出的再生信號(hào)中的寫(xiě)入級(jí)激光束的反射光的寫(xiě)入波形的上升沿開(kāi)始的位置，衰減寫(xiě)入波形的振幅電平。因此，即使寫(xiě)入波形振幅電平在寫(xiě)入波形上升、下降等時(shí)發(fā)生較大變化，也可能將全部寫(xiě)入波形都衰減到最優(yōu)電平。用這種方式可以容易地選擇寫(xiě)入波形振幅電平的最優(yōu)衰減量。其結(jié)果是，可以穩(wěn)定、精確地檢測(cè)溝槽中的物理地址信息。
在根據(jù)實(shí)施例的衰減量調(diào)整方法和地址信息獲取方法中，根據(jù)從對(duì)應(yīng)于再生信號(hào)中的寫(xiě)入級(jí)激光束的反射光的寫(xiě)入波形的上升沿開(kāi)始的位置，衰減寫(xiě)入波形振幅電平。因此，即使寫(xiě)入波形振幅電平在寫(xiě)入波形上升、下降等時(shí)發(fā)生較大變化，也可能將全部寫(xiě)入波形都衰減到最優(yōu)電平。用這種方式可以容易地選擇寫(xiě)入波形振幅電平的最優(yōu)衰減量。其結(jié)果是，可以穩(wěn)定、精確地檢測(cè)溝槽中的物理地址信息。


圖1是根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置的功能框圖；圖2是圖1中光檢測(cè)器和信號(hào)處理單元的內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖；圖3是衰減器的內(nèi)部結(jié)構(gòu)的實(shí)例圖；圖4是衰減器的內(nèi)部結(jié)構(gòu)的另一個(gè)實(shí)例圖；圖5A是沿光盤(pán)的軌跡方向的剖面圖；圖5B是沿光盤(pán)的徑向的剖面圖；圖6A和圖6B是光盤(pán)的平面結(jié)構(gòu)圖；圖7-1中的(A)～(C)是用于說(shuō)明光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置的操作的波形圖；圖7-2中的(D)～(H)是用于說(shuō)明光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置的操作的波形圖；圖8是根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置的功能框圖；圖9是圖8中的衰減器的內(nèi)部結(jié)構(gòu)的實(shí)例圖；圖10-1中的(A)～(C)是用于說(shuō)明衰減器的功能的波形圖；圖10-2中的(D)～(F)是用于說(shuō)明衰減器的功能的波形圖；圖11中的(A)～(D)是用于說(shuō)明低通濾波器的功能的波形圖；圖12是用于說(shuō)明衰減水平和放大量之間關(guān)系的曲線(xiàn)圖；圖13-1中的(A)～(C)是用于說(shuō)明光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置的操作的波形圖；圖13-2中的(D)～(G)是用于說(shuō)明光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置的操作的波形圖；圖14是圖1中光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置的變形例的圖；以及圖15是圖8中光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置的變形例的圖。
具體實(shí)施例方式
下文中將參考附圖詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施例。
第一實(shí)施例圖1是示出根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置的每個(gè)功能塊的圖。圖2是示出稍后所述光檢測(cè)器12和信號(hào)處理單元20的內(nèi)部結(jié)構(gòu)的圖。光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置是能夠在使用有機(jī)色素(organic dye)的記錄系統(tǒng)的可重寫(xiě)光盤(pán)100(例如，DVD±R)中寫(xiě)入記錄數(shù)據(jù)，并當(dāng)在光盤(pán)100上檢測(cè)表示物理位置的物理地址(絕對(duì)地址)的同時(shí)，讀出記錄在光盤(pán)100中的記錄數(shù)據(jù)的裝置。
圖3和圖4是示出稍后說(shuō)明的衰減器21的內(nèi)部結(jié)構(gòu)的例子的圖。圖5A是示出沿光盤(pán)100的沒(méi)有寫(xiě)入記錄數(shù)據(jù)的部分的徑向的截面結(jié)構(gòu)(沿圖5B中箭頭B-B方向的截面結(jié)構(gòu))的圖。圖5B是示出沿光盤(pán)100的寫(xiě)入了記錄數(shù)據(jù)的部分的圓周方向(軌跡方向)的截面結(jié)構(gòu)(沿圖5A中箭頭A-A方向的截面結(jié)構(gòu))的圖。圖6A和圖6B是示出光盤(pán)100的平面結(jié)構(gòu)的實(shí)例的圖。
如圖5A所示，光盤(pán)100從數(shù)據(jù)表面(激光束照射側(cè)的表面)按順序包括例如，基底110、有機(jī)彩色物質(zhì)(organic coloring matter)形成的記錄層111、反射層112和保護(hù)層113。在基底110中以螺旋形狀形成用于引導(dǎo)激光束的引導(dǎo)槽，即所謂的溝槽114。沿溝槽114的兩側(cè)形成凸區(qū)115。溝槽114和凸區(qū)115具有相對(duì)于光盤(pán)100的軌跡方向以固定周期擺動(dòng)的圖案。這種擺動(dòng)圖案用于例如檢測(cè)激光束對(duì)數(shù)據(jù)表面進(jìn)行掃描的速度(線(xiàn)速度)。檢測(cè)到的線(xiàn)速度用于例如光盤(pán)的旋轉(zhuǎn)控制及產(chǎn)生記錄用主時(shí)鐘。
例如在圖6A中，在光盤(pán)100中形成具有比上述擺動(dòng)圖案的擺動(dòng)周期短的周期的擺動(dòng)圖案(FM調(diào)制部116)。在圖6B中，在凸區(qū)115中形成小空洞(凸區(qū)預(yù)置凹坑117)。FM調(diào)制部116和凸區(qū)預(yù)置凹坑117形成用于獲得光盤(pán)100上的物理地址的標(biāo)記。當(dāng)用激光束的射束點(diǎn)與溝槽14一起掃描標(biāo)記時(shí)，對(duì)應(yīng)于標(biāo)記的類(lèi)似尖脈沖的分量包含在通過(guò)掃描獲得的反射的光(返回光)中。因此，通過(guò)提取這種類(lèi)似于脈沖的分量，可以獲得溝槽114的物理地址。
在寫(xiě)入前的光盤(pán)100中，溝槽114沿軌跡方向具有均勻的底面。然而，如圖5B所示，在寫(xiě)入后的光盤(pán)100中，在溝槽114底面上形成凹部114A和凸部114B。凸部114B和凹部114A之間的反射層112的高度差為例如激光束的1/4波長(zhǎng)。凸部114B與稍后說(shuō)明的檢波器10相聯(lián)系地設(shè)置在凸部114B能夠?qū)⑷肷湓谕共?14B上的光反射而幾乎不衰減光的位置上。因此，根據(jù)鄰近凹部114A的凸部114B上反射的光的干涉作用，凹部114A衰減在凹部114A上反射的光。
光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置包括檢波器10、信號(hào)處理單元20、控制單元30和主軸電動(dòng)機(jī)40。
檢波器10是一種裝置，用于在光盤(pán)100上照射激光束，并且接收所照射的激光束的反射光，從而將反射光轉(zhuǎn)換成再生信號(hào)(稍后說(shuō)明)。檢波器10具有例如激光器11(光照射單元)、光檢測(cè)器12(光接收單元)、物鏡(未示出)和光學(xué)系統(tǒng)(未示出)。
激光器11是例如605納米大小的紅色半導(dǎo)體激光器或405納米大小的藍(lán)-紫色半導(dǎo)體激光器。激光器11根據(jù)對(duì)應(yīng)于記錄數(shù)據(jù)的激光器驅(qū)動(dòng)信號(hào)30D在光盤(pán)100上照射激光束。當(dāng)記錄數(shù)據(jù)寫(xiě)入光盤(pán)100時(shí)，激光器11基于激光器驅(qū)動(dòng)信號(hào)30D，從基底110側(cè)向溝槽114上交替地照射具有數(shù)倍于讀出時(shí)強(qiáng)度(讀出級(jí))的強(qiáng)度(寫(xiě)入級(jí))的激光束和讀出級(jí)激光束。因此，激光器11在溝槽114上照射寫(xiě)入級(jí)激光束，使得包含在記錄層111中的有機(jī)彩色物質(zhì)吸收激光束，造成局部發(fā)熱，用產(chǎn)生的熱使基底110變形。其結(jié)果是，激光束11在溝槽114中形成凹部114A和凸部114B，從而在光盤(pán)100中寫(xiě)入記錄數(shù)據(jù)。
光檢測(cè)器12具有與激光器11相同材料形成的光接收元件12A～12D。光檢測(cè)器12在將反射光分為四部分的同時(shí)在光接收元件12A～12D中接收照射在光盤(pán)100上的激光束的反射光。光檢測(cè)器12將在各光接收元件12A～12D中所接收的光轉(zhuǎn)換成光電流，并且根據(jù)這些光電流產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于光電流的大小的電壓(再生信號(hào)10A～10D)。
將物鏡設(shè)置在檢波器10中的激光束輸出端，使用例如二軸機(jī)構(gòu)(未示出)使物鏡沿軌跡方向和調(diào)焦方向(垂直于光盤(pán)100數(shù)據(jù)表面的方向)上可以移動(dòng)。根據(jù)調(diào)焦驅(qū)動(dòng)信號(hào)30A和軌跡驅(qū)動(dòng)信號(hào)30B驅(qū)動(dòng)該二軸機(jī)構(gòu)。光學(xué)系統(tǒng)通過(guò)物鏡向光盤(pán)100的數(shù)據(jù)表面照射激光束，并將所反射的光引向光檢測(cè)器12。將整個(gè)檢波器10保持為可通過(guò)例如螺紋機(jī)構(gòu)(未示出)沿光盤(pán)100的徑向移動(dòng)。根據(jù)螺紋驅(qū)動(dòng)信號(hào)30C驅(qū)動(dòng)該螺紋機(jī)構(gòu)。
上述再生信號(hào)10A～10D具有對(duì)應(yīng)于所反射光的光強(qiáng)度的信號(hào)波形。所反射光的光強(qiáng)度是從激光器11照射的激光束的光強(qiáng)度和光盤(pán)100的照射表面(數(shù)據(jù)表面)的反射率的函數(shù)。激光束的光強(qiáng)度對(duì)應(yīng)于激光器驅(qū)動(dòng)信號(hào)30D的脈沖波形。照射表面的反射率對(duì)應(yīng)于溝槽114中的凹部114A和凸部114B的反射率。然而，寫(xiě)入級(jí)和讀出級(jí)的激光束的光強(qiáng)度之間的差別遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于照射表面的反射率之間的差別。因此，激光束的光強(qiáng)度的大小遠(yuǎn)大于再生信號(hào)10A～10D的大小。因此，如圖7-1(A)～(C)所示，在再生信號(hào)(10A+10D)中，在用寫(xiě)入級(jí)激光束基于激光器驅(qū)動(dòng)信號(hào)30D照射來(lái)形成凹部114A的期間內(nèi)對(duì)應(yīng)于反射光(寫(xiě)入級(jí)激光束的反射光)的信號(hào)波形(寫(xiě)入波形S1)的振幅電平遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于在不由讀出級(jí)激光束基于激光器驅(qū)動(dòng)信號(hào)30D照射來(lái)形成凹部114A的期間內(nèi)對(duì)應(yīng)于反射光(讀出級(jí)激光束的反射光)的信號(hào)波形(讀出波形S2)的振幅電平。在開(kāi)始將寫(xiě)入級(jí)激光束照射在光盤(pán)100上的初始階段，記錄層111并未立即產(chǎn)發(fā)熱，溝槽114中也未立即形成凹部114A。因此，盡管光盤(pán)100的反射率不穩(wěn)定地變化，但是反射率通常像凸部114B的反射率一樣高。根據(jù)溝槽114中凹部114A的形成，光盤(pán)100的反射率趨于逐漸下降。因此，如圖7-1(C)所示，再生信號(hào)(10A+10D)和(10B+10C)的寫(xiě)入波形S1是振幅電平起先時(shí)較大，然后逐漸下降的波形。
如圖7-1C)所示，與凸區(qū)預(yù)置凹坑117相關(guān)聯(lián)地產(chǎn)生的尖脈沖波形P1是用于獲得溝槽114的物理地址的波形。波形P1可以包括在寫(xiě)入波形S1中或可以包括在讀出波形S2中。當(dāng)波形P1包括在寫(xiě)入波形S1中時(shí)，由寫(xiě)入級(jí)激光束照射在凸區(qū)預(yù)置凹坑117上產(chǎn)生波形P1。因此，在這種情況下波形P1的振幅非常高。另一方面，當(dāng)波形P1包括在讀出波形S2中時(shí)，由讀出級(jí)激光束照射在凸區(qū)預(yù)置凹坑117上產(chǎn)生波形P1。因此，在這種情況下波形P1的振幅比包括在寫(xiě)入波形S1中的波形P1的振幅低得多。以這種方式，包括在再生信號(hào)(10A+10D)中的波形P1的振幅存在很大波動(dòng)。因此，如稍后所述，當(dāng)從再生信號(hào)(10A+10D)減去再生信號(hào)(10B+10C)以獲得推挽信號(hào)20D時(shí)，很難僅通過(guò)以預(yù)定振幅電平對(duì)推挽信號(hào)20D進(jìn)行二值化來(lái)提取波形P1。因此，要使通過(guò)以預(yù)定振幅電平對(duì)推挽信號(hào)20D進(jìn)行二值化來(lái)提取波形P1成為可能，必須適當(dāng)?shù)卣{(diào)整再生信號(hào)(10A+10D)和(10B+10C)的波形。
信號(hào)處理單元11是用于適當(dāng)?shù)卣{(diào)整再生信號(hào)(10A+10D)和(10B+10C)的波形，從而使通過(guò)以預(yù)定振幅電平對(duì)推挽信號(hào)20D進(jìn)行二值化來(lái)提取波形P1成為可能的單元。信號(hào)處理單元11并行地具有兩個(gè)包括衰減器21、放大器22、開(kāi)關(guān)23和增益控制器24的模塊。光檢測(cè)器12和運(yùn)算器25分別連接于這兩個(gè)模塊的前級(jí)和后級(jí)。
在每個(gè)模塊中，衰減器21和放大器22的輸入端相互連接，二者的輸出端分別連接到開(kāi)關(guān)23的兩個(gè)輸入端。開(kāi)關(guān)23的輸出端連接到增益控制器24的輸入端。各個(gè)模塊的增益控制器24的輸出端分別連接到運(yùn)算器25的兩個(gè)輸入端。一個(gè)模塊中的衰減器21和放大器22的輸入端連接到光檢測(cè)器12的光接收元件12A和12D。另一個(gè)模塊中的衰減器21和放大器22的輸入端連接到光檢測(cè)器12的光接收元件12B和12C。
開(kāi)關(guān)23是例如半導(dǎo)體開(kāi)關(guān)。開(kāi)關(guān)23基于開(kāi)關(guān)信號(hào)30G以時(shí)分方式選擇衰減器21和放大器22之一的輸出，并將該輸出輸入到增益控制器24。具體來(lái)說(shuō)，在向衰減器21輸入寫(xiě)入波形S1的期間以及這些期間前后的短時(shí)期中，開(kāi)關(guān)23將來(lái)自衰減器21側(cè)的輸出輸入到增益控制器24。在其它時(shí)期中，即，除讀出波形S2中的寫(xiě)入波形S1附近的波形之外的部分的波形被輸入到放大器22中的時(shí)期，開(kāi)關(guān)23將來(lái)自放大器22側(cè)的輸出輸入到增益控制器24。換句話(huà)說(shuō)，開(kāi)關(guān)23將通過(guò)時(shí)間上交替地連接衰減器21衰減的信號(hào)波形和放大器22放大的信號(hào)波形而獲得的開(kāi)關(guān)輸出23A輸入到增益控制器24。如果可能，開(kāi)關(guān)23可以?xún)H在寫(xiě)入波形S1輸入到衰減器21的時(shí)期內(nèi)將來(lái)自衰減器21側(cè)的輸出輸入到增益控制器24，并可以?xún)H在讀出波形S2輸入到放大器22的時(shí)期內(nèi)將來(lái)自放大器22側(cè)的輸出輸入到增益控制器24。
如圖3所示，衰減器21具有例如衰減器ATT1～ATT6、開(kāi)關(guān)SW1和計(jì)數(shù)器21A。衰減器ATT1～ATT6例如是其末端編號(hào)越大，衰減水平越小的衰減器。衰減器ATT1～ATT6相互并行布置。衰減器ATT1～ATT6的輸入端相互連接在一起，其輸出端分別互相并行地連接到開(kāi)關(guān)SW1。開(kāi)關(guān)SW1具有與衰減器ATT1～ATT6相同數(shù)目的開(kāi)關(guān)。開(kāi)關(guān)SW1中的開(kāi)關(guān)的輸入端分別相互并行地連接到衰減器ATT1～ATT6。開(kāi)關(guān)SW1中的開(kāi)關(guān)的輸出端相互連接在一起。開(kāi)關(guān)SW1根據(jù)例如計(jì)數(shù)器21A的計(jì)數(shù)值接通其中的一個(gè)開(kāi)關(guān)。計(jì)數(shù)器21A從用于切換開(kāi)關(guān)SW1的開(kāi)關(guān)信號(hào)30G從“L”變化到“H”的時(shí)刻對(duì)信道時(shí)鐘30F的時(shí)鐘數(shù)計(jì)數(shù)，并將計(jì)數(shù)值輸入到開(kāi)關(guān)SW1。當(dāng)開(kāi)關(guān)信號(hào)30G從“H”變化到“L”時(shí)，計(jì)數(shù)器21A將計(jì)數(shù)值設(shè)置回0。
因此，衰減器21根據(jù)例如信道時(shí)鐘數(shù)切換衰減器ATT1～ATT6，并對(duì)寫(xiě)入波形S1進(jìn)行衰減，其衰減量對(duì)應(yīng)于再生信號(hào)(10A+10D)和(10B+10C)的寫(xiě)入波形S1的振幅電平的大小(參見(jiàn)圖7-1(C)、圖7-2(F)和圖7-2(G))。換句話(huà)說(shuō)，即使寫(xiě)入波形S1的形狀根據(jù)例如寫(xiě)入波形S1的時(shí)間寬度而變化，衰減器21也能夠?qū)?xiě)入波形S1衰減適當(dāng)?shù)乃p量。通過(guò)適當(dāng)?shù)馗淖冃诺罆r(shí)鐘30F的頻率、切換衰減器ATT1～ATT6的計(jì)數(shù)值等，衰減器21可以任意地設(shè)置衰減器ATT1～ATT6的開(kāi)關(guān)頻率。
因此，可以仔細(xì)地控制衰減量。
除圖3中所示結(jié)構(gòu)之外，如圖4所示，衰減器21可以具有例如衰減器ATT1～ATT6、開(kāi)關(guān)SW2和計(jì)數(shù)器21A。衰減器ATT1～ATT6例如是其末端編號(hào)越大，衰減水平越大的衰減器。衰減器ATT1～ATT6按該順序串聯(lián)連接。衰減器ATT1的輸入端連接到光檢測(cè)器12的輸出端。衰減器ATT1～ATT6的輸出端分別連接到其后一級(jí)的衰減器，并且分開(kāi)連接到開(kāi)關(guān)SW2的輸入端。開(kāi)關(guān)SW2具有一個(gè)包括與衰減器ATT1～ATT6的數(shù)目相同數(shù)目的輸入端和一個(gè)輸出端的開(kāi)關(guān)。開(kāi)關(guān)SW2中的開(kāi)關(guān)的輸入端分別相互并行地連接到衰減器ATT1～ATT6。開(kāi)關(guān)SW2根據(jù)例如來(lái)自計(jì)數(shù)器21A的計(jì)數(shù)值接通其中開(kāi)關(guān)的輸入端中的一個(gè)。以這種方式，衰減器21可以采用各種形式。
放大器22例如是具有固定放大量的放大器。放大器22將再生信號(hào)(10A+10D)和(10B+10C)的讀出波形S2放大固定的放大量(參見(jiàn)圖7-1(C)和圖7-2(G))。
增益控制器24例如是AGC(Auto Gain Controller，自動(dòng)增益控制器)。增益控制器24將開(kāi)關(guān)23(開(kāi)關(guān)輸出23A和23B處理后的再生信號(hào))的輸出的振幅電平放大到最優(yōu)電平，從而設(shè)置對(duì)后一級(jí)的運(yùn)算器25最優(yōu)的振幅電平的輸出(例如，圖7-2(G)所示的增益控制電平G)。
運(yùn)算器25根據(jù)來(lái)自一個(gè)模塊的增益控制器24的輸出(受控輸出24A)和來(lái)向另一個(gè)模塊的增益控制器24的輸出(受控輸出24B)產(chǎn)生相當(dāng)于記錄數(shù)據(jù)的RF信號(hào)20A、用于控制移動(dòng)物鏡的二軸機(jī)構(gòu)的調(diào)焦誤差信號(hào)20B和軌跡誤差信號(hào)20C、包括擺動(dòng)圖案的信息和溝槽114的標(biāo)記的推挽信號(hào)20D。
控制單元30例如是DSP(Digital Signal Processor，數(shù)字信號(hào)處理器)?？刂茊卧?0對(duì)信號(hào)應(yīng)用適合于來(lái)自運(yùn)算器25和其它路徑的各種信號(hào)的處理。具體來(lái)說(shuō)，控制單元30處理來(lái)自運(yùn)算器25的RF信號(hào)20A，從而產(chǎn)生記錄在光盤(pán)100中的記錄數(shù)據(jù)?？刂茊卧?0處理來(lái)自運(yùn)算器25的調(diào)焦誤差信號(hào)20B和軌跡誤差信號(hào)20C，從而產(chǎn)生用于控制檢波器10中的二軸機(jī)構(gòu)的調(diào)焦驅(qū)動(dòng)信號(hào)30A和軌跡驅(qū)動(dòng)信號(hào)30B，以及用于控制螺紋機(jī)構(gòu)的螺紋驅(qū)動(dòng)信號(hào)30C?？刂茊卧?0處理來(lái)自運(yùn)算器25的推挽信號(hào)20D，從而產(chǎn)生線(xiàn)速度和物理地址信息，并根據(jù)這些種信息產(chǎn)生用于控制主軸電動(dòng)機(jī)40的主軸驅(qū)動(dòng)信號(hào)30E。此外，控制單元30基于來(lái)自其它路徑的記錄數(shù)據(jù)產(chǎn)生激光器驅(qū)動(dòng)信號(hào)30D。
主軸電動(dòng)機(jī)40是用于基于主軸驅(qū)動(dòng)信號(hào)30E驅(qū)動(dòng)光盤(pán)旋轉(zhuǎn)的電動(dòng)機(jī)。
下文中將說(shuō)明根據(jù)本實(shí)施例的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置寫(xiě)入時(shí)的操作。下面將說(shuō)明對(duì)圖6B中的光盤(pán)100進(jìn)行寫(xiě)入。然而，也可以對(duì)圖6A中光盤(pán)100進(jìn)行寫(xiě)入。
首先，控制單元30產(chǎn)生激光器驅(qū)動(dòng)信號(hào)30D，并將激光器驅(qū)動(dòng)信號(hào)30D輸出到激光器11(見(jiàn)圖7-1(A))。然后，根據(jù)來(lái)自控制單元30的激光器驅(qū)動(dòng)信號(hào)30D，驅(qū)動(dòng)激光器11發(fā)光。數(shù)倍于讀出級(jí)激光束強(qiáng)度的寫(xiě)入級(jí)激光束和讀出級(jí)激光束交替地從基底110側(cè)照射在溝槽114上。因此，激光束由包括在記錄層111中的有機(jī)彩色物質(zhì)吸收，從而引起局部發(fā)熱。發(fā)熱使基底110變形。其結(jié)果是，在溝槽114中形成凹部114A和凸部114B(見(jiàn)圖7-1(B))。以這種方式，記錄數(shù)據(jù)被寫(xiě)入光盤(pán)100。在這種情況下，反射光被光檢測(cè)器12吸收，并轉(zhuǎn)換為再生信號(hào)(10A+10D)和(10B+10C)(見(jiàn)圖7-1(C))。
基于開(kāi)關(guān)信號(hào)30G，根據(jù)開(kāi)關(guān)23的切換操作，以時(shí)分方式切換再生信號(hào)(10A+10D)和(10B+10C)的路徑(見(jiàn)圖7-1(C)和圖7-2(D))。具體來(lái)說(shuō)，在對(duì)應(yīng)于寫(xiě)入波形S1的時(shí)期和該時(shí)期前后較短的時(shí)期內(nèi)選擇衰減器21側(cè)的路徑，在除了這些時(shí)期之外的時(shí)期內(nèi)，即與除了讀出波形S2中鄰近寫(xiě)入波形S1的部分的波形之外的部分的波形相對(duì)應(yīng)的時(shí)期，選擇放大器22側(cè)的路徑。
在這種情況下，在衰減器21中，基于開(kāi)關(guān)信號(hào)30G和信道時(shí)鐘30F，衰減器ATT1～ATT6連續(xù)地切換到與寫(xiě)入波形S1的振幅電平相對(duì)應(yīng)的大小(見(jiàn)圖7-1(C)～圖7-2(F))。因此，由衰減器21將寫(xiě)入波形S1和讀出波形S2中鄰近寫(xiě)入波形S1的部分的波形衰減與衰減器ATT1～ATT6的衰減水平相對(duì)應(yīng)的衰減量。另一方面，由放大器22將除讀出波形S2中鄰近寫(xiě)入波形S1的部分的波形之外的部分的波形放大固定的量(見(jiàn)圖7-2(G))。
增益控制器24將開(kāi)關(guān)輸出23A和23B放大到增益控制電平G，并將放大的受控輸出24A和24B輸入到運(yùn)算器25(見(jiàn)圖7-2(H))。運(yùn)算器25基于受控輸出24A和24B產(chǎn)生RF信號(hào)20A、調(diào)焦誤差信號(hào)20B、軌跡誤差信號(hào)20C和推挽信號(hào)20D，并將這些信號(hào)輸出到控制單元30。
控制單元30處理來(lái)自運(yùn)算器25的RF信號(hào)20A，從而產(chǎn)生記錄在光盤(pán)100中的記錄數(shù)據(jù)?？刂茊卧?0處理來(lái)自運(yùn)算器25的調(diào)焦誤差信號(hào)20B和軌跡誤差信號(hào)20C，從而產(chǎn)生調(diào)焦驅(qū)動(dòng)信號(hào)30A、軌跡驅(qū)動(dòng)信號(hào)30B和螺紋驅(qū)動(dòng)信號(hào)30C。
此外，控制單元30處理推挽信號(hào)20D，從而產(chǎn)生線(xiàn)速度和物理地址信息，并根據(jù)這些種信息產(chǎn)生用于控制主軸電動(dòng)機(jī)40的主軸驅(qū)動(dòng)信號(hào)30E。具體來(lái)說(shuō)，控制單元30檢測(cè)推挽信號(hào)20D的基本頻率并基于基本頻率計(jì)算線(xiàn)速度?？刂茊卧?0通過(guò)以預(yù)定振幅電平(例如，圖7-2(H)中的限制電平S)對(duì)推挽信號(hào)20D進(jìn)行二值化來(lái)提取波形P1，然后基于預(yù)定算法根據(jù)波形P1計(jì)算物理地址信息。
因此，在該實(shí)施例中，當(dāng)衰減器21對(duì)從光檢測(cè)器12輸出的再生信號(hào)(10A+10D)和(10B+10C)中的寫(xiě)入波形S1的振幅電平進(jìn)行衰減時(shí)，根據(jù)信道時(shí)鐘數(shù)切換衰減器ATT1～ATT6，從而以對(duì)應(yīng)于再生信號(hào)(10A+10D)和(10B+10C)中的寫(xiě)入波形S1的振幅電平的大小的衰減量對(duì)寫(xiě)入波形S1進(jìn)行衰減。因此，即使寫(xiě)入波形S1的振幅電平在寫(xiě)入波形S1上升的時(shí)刻、在寫(xiě)入波形S1下降的時(shí)刻等發(fā)生巨大改變，也可以將寫(xiě)入波形S1衰減到最優(yōu)電平。尤其是，因?yàn)樵趯?xiě)入波形S1上升時(shí)在不穩(wěn)定部分將衰減量設(shè)置得很大，所以可以向增益控制器24輸入穩(wěn)定的波形。其結(jié)果是，可以改善獲取地址的性能。
以這種方式，在該實(shí)施例中，可以容易地選擇寫(xiě)入波形S1的振幅電平的最優(yōu)衰減量。其結(jié)果是，可以穩(wěn)定、精確地檢測(cè)出溝槽114中的物理地址信息。
在衰減寫(xiě)入波形S1的過(guò)程中，可以使開(kāi)關(guān)輸出23A和23C的信號(hào)電平避免噪聲電平。這使得可以更穩(wěn)定、精確地檢測(cè)溝槽114中的物理地址信息。
第二實(shí)施例圖8是示出根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置的每個(gè)功能塊的圖。該實(shí)施例與上述實(shí)施例的主要不同在于光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置包括衰減器41和低通濾波器26。因此，主要說(shuō)明與上述實(shí)施例的差別，而酌情省略?xún)蓚€(gè)實(shí)施例相同之處的說(shuō)明。
類(lèi)似于根據(jù)上述實(shí)施例的衰減器21，衰減器41包括衰減器ATT1～ATT6。然而，例如，如圖9中所示，衰減器41還包括衰減器ATT7～ATT10和開(kāi)關(guān)SW3。
開(kāi)關(guān)SW3使用基于衰減量控制信號(hào)30I選擇的一個(gè)衰減器，對(duì)使用衰減器ATT1～ATT6和開(kāi)關(guān)SW1進(jìn)行了衰減處理的寫(xiě)入波形S1進(jìn)行進(jìn)一步的衰減(見(jiàn)圖10-1(A)和圖10-1(C)～圖10-2(F))。衰減器ATT 7～ATT10和開(kāi)關(guān)SW3是用于將寫(xiě)入波形S1的振幅電平作為整體進(jìn)行調(diào)整的裝置。在這點(diǎn)上，衰減器ATT7～ATT10和開(kāi)關(guān)SW3在功能上不同于調(diào)整單個(gè)寫(xiě)入波形S1的振幅電平的衰減器ATT1～ATT6和開(kāi)關(guān)SW1。
圖10-1(C)～圖10-2(F)示出在使用隨著其末端編號(hào)的增大而具有更大的衰減的衰減器ATT7～ATT10時(shí)開(kāi)關(guān)輸出23A的波形。圖10-1(C)示出A當(dāng)使用衰減器ATT7時(shí)開(kāi)關(guān)輸出23A的波形。由衰減器41衰減的寫(xiě)入波形S1的振幅電平比由放大器22放大的讀出波形S2的振幅電平大得多。圖10-2(D)示出當(dāng)使用衰減器ATT8時(shí)開(kāi)關(guān)輸出23A的波形。由衰減器41衰減的寫(xiě)入波形S1的振幅電平比由放大器22放大的讀出波形S2的振幅電平略微地大些。圖10-2(E)示出在使用衰減器ATT9時(shí)開(kāi)關(guān)輸出23A的波形。由衰減器41衰減的寫(xiě)入波形S1的振幅電平基本等于由放大器22放大的讀出波形S2的振幅電平。圖10-2(F)示出在使用衰減器ATT10時(shí)開(kāi)關(guān)輸出23A的波形。由衰減器41衰減的寫(xiě)入波形S1的振幅電平略微小于由放大器22放大的讀出波形S2的振幅電平。
低通濾波器26包括一個(gè)電路，該電路能夠基于開(kāi)/關(guān)信號(hào)30H打開(kāi)和關(guān)閉用于衰減包括在開(kāi)關(guān)23的輸出(開(kāi)關(guān)輸出23A和23B)中的高頻分量并傳輸其中的低頻分量的功能。具體來(lái)說(shuō)，當(dāng)開(kāi)/關(guān)信號(hào)30H為開(kāi)時(shí)，低通濾波器26對(duì)包括于與寫(xiě)入級(jí)激光束開(kāi)始照射在光盤(pán)100上時(shí)的反射光相對(duì)應(yīng)的信號(hào)波形中的高頻分量，以及包括于開(kāi)關(guān)輸出23A和23B中波形P1中的高頻分量二者進(jìn)行衰減(見(jiàn)圖11(A)～(D))。另一方面，當(dāng)開(kāi)/關(guān)信號(hào)30H為關(guān)時(shí)，低通濾波器26傳輸開(kāi)關(guān)輸出23A和23B，而不對(duì)輸出進(jìn)行衰減。以這種方式，低通濾波器26也在開(kāi)/關(guān)信號(hào)30H為開(kāi)時(shí)對(duì)包括在波形P1中的高頻分量進(jìn)行衰減。因此，僅當(dāng)調(diào)整衰減器41的衰減水平時(shí)，需要打開(kāi)低通濾波器26的功能，而當(dāng)如稍后所述從運(yùn)算器25中的推挽信號(hào)20D提取出波形P1時(shí)，需要關(guān)閉低通濾波器26的功能。
與上述實(shí)施例中一樣，增益控制器24例如是AGC(自動(dòng)增益控制器)。增益控制器24將低通濾波器26的輸出(濾波器輸出26A和26B處理后的再生信號(hào))的振幅電平放大到最優(yōu)電平，從而將輸出設(shè)置為對(duì)后一級(jí)的運(yùn)算器25最優(yōu)的振幅電平(例如，圖11(A)～(D)所示的增益控制電平G)。在增益控制器24中，隨著輸入到增益控制器24的濾波器輸出26A和26B的振幅電平遠(yuǎn)離最優(yōu)振幅電平，放大量ΔG越大。反之，隨著輸入到增益控制器24的濾波器輸出26A和2 6B的振幅電平接近最優(yōu)振幅電平，放大量ΔG越小。因此，例如，可以分別用很小的放大量(ΔG1)放大圖11(A)中的濾波器輸出26A到最優(yōu)電平，用略大于ΔG1的放大量(ΔG2)放大圖11(B)中的濾波器輸出26A到最優(yōu)電平，以及用略大于ΔG2的放大量(ΔG3)放大圖11(C)中的濾波器輸出26A到最優(yōu)電平。然而，可以用基本等于ΔG3的放大量(ΔG4)放大圖11(D)中的濾波器輸出26A到最優(yōu)電平。換句話(huà)說(shuō)，可以看出，當(dāng)由衰減器41衰減的寫(xiě)入波形S1的振幅電平基本等于或小于由放大器22放大的讀出波形S2的振幅電平時(shí)，增益控制器24中的放大量ΔG是飽和的(見(jiàn)圖12)。
下文中將說(shuō)明根據(jù)本實(shí)施例的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置寫(xiě)入時(shí)的操作。將說(shuō)明向圖6B中的光盤(pán)100進(jìn)行的寫(xiě)入。然而，也可以向圖6A中的光盤(pán)100進(jìn)行寫(xiě)入。省略在上述實(shí)施例中說(shuō)明了的使用衰減器ATT1～ATT6和開(kāi)關(guān)SW1進(jìn)行衰減處理的過(guò)程的說(shuō)明。
首先，在向光盤(pán)100寫(xiě)入記錄數(shù)據(jù)之前，設(shè)置衰減器41的后一級(jí)的衰減量。具體來(lái)說(shuō)，首先，控制單元30產(chǎn)生測(cè)試用激光器驅(qū)動(dòng)信號(hào)30D，并將該測(cè)試用激光器驅(qū)動(dòng)信號(hào)30D輸出到激光器11(見(jiàn)圖13-1(A))。然后，基于來(lái)自控制單元30的測(cè)試用激光器驅(qū)動(dòng)信號(hào)30D來(lái)驅(qū)動(dòng)激光器11發(fā)光。數(shù)倍于讀出級(jí)激光束強(qiáng)度的寫(xiě)入級(jí)激光束和讀出級(jí)激光束交替地從基底110側(cè)照射在測(cè)試用溝槽114上。因此，激光束被包含于記錄層111中的有機(jī)彩色物質(zhì)吸收，從而使得局部發(fā)熱。發(fā)熱使基底110變形。其結(jié)果是，在溝槽114中形成凹部114A和凸部114B(見(jiàn)圖13-1(B))。以這種方式，測(cè)試用記錄數(shù)據(jù)被寫(xiě)入光盤(pán)100中。
在這種情況下，反射光由光檢測(cè)器12吸收，并轉(zhuǎn)換為再生信號(hào)(10A+10D)和(10B+10C)(見(jiàn)圖13-1(C))。
基于開(kāi)關(guān)信號(hào)30G，根據(jù)開(kāi)關(guān)23的切換操作，以時(shí)分方式切換再生信號(hào)(10A+10D)和(10B+10C)的路徑(見(jiàn)圖13-2(D))。具體來(lái)說(shuō)，在對(duì)應(yīng)于寫(xiě)入波形S1的時(shí)期和該時(shí)期前后的短時(shí)期內(nèi)選擇衰減器41側(cè)的路徑，在除了這些時(shí)期之外的時(shí)期內(nèi)，即與除了讀出波形S2中鄰近寫(xiě)入波形S1的部分的波形之外的部分的波形相對(duì)應(yīng)的時(shí)期，選擇放大器22側(cè)的路徑。在這種情況下，針對(duì)每個(gè)寫(xiě)入波形S1，衰減器41根據(jù)衰減控制信號(hào)30I逐步地從具有最小衰減的衰減器(ATT7)切換到具有較大衰減的衰減器(ATT8、ATT9和ATT10)。因此，由衰減器41將寫(xiě)入波形S1和讀出波形S2中鄰近寫(xiě)入波形S1的部分的波形衰減對(duì)應(yīng)于每個(gè)衰減水平的衰減量。另一方面，由放大器22將除讀出波形S2中鄰近波形S1的部分的波形之外的部分的波形放大固定的量(見(jiàn)圖10-1(C)～圖10-2(F))。
接著，在通過(guò)低通濾波器26對(duì)高頻分量進(jìn)行衰減之后(見(jiàn)圖11(A)～(D))，由增益控制器2 4將開(kāi)關(guān)輸出23A和23B放大到增益控制電平G。在這種情況下，基于受控輸出24A和24B，運(yùn)算器25計(jì)算將濾波器輸出26A和26B放大到增益控制電平G所需的放大量ΔG開(kāi)始飽和時(shí)的衰減量(衰減量下限)，以及放大量ΔG完全飽和時(shí)的衰減量(衰減量上限)。運(yùn)算器25產(chǎn)生用于將衰減量控制為衰減量下限和衰減量上限之間的衰減量(例如，ATT9時(shí)的衰減量)的衰減控制信號(hào)30I，并將衰減控制信號(hào)30I輸入到衰減器41。然后，將衰減器41的衰減器固定為衰減器ATT9。
在此，“當(dāng)放大量ΔG開(kāi)始飽和時(shí)”意指當(dāng)圖12中的衰減水平逐漸增大時(shí)，衰減水平和放大量ΔG之間的直接比例關(guān)系被破壞的時(shí)刻(在圖12中的ATT8時(shí))?！爱?dāng)放大量ΔG完全飽和”意指放大量ΔG很少變化的時(shí)間(圖12中的ATT10時(shí))。
接著，在衰減器41的衰減器固定為衰減器ATT9并且關(guān)閉低通濾波器26的功能的狀態(tài)下，實(shí)際的記錄數(shù)據(jù)被寫(xiě)入光盤(pán)100中。具體來(lái)說(shuō)，首先，控制單元30產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于記錄數(shù)據(jù)的激光器驅(qū)動(dòng)信號(hào)30D，并將激光器驅(qū)動(dòng)信號(hào)30D輸出到激光器11(見(jiàn)圖13-1(A))。然后，基于來(lái)自控制單元30的激光器驅(qū)動(dòng)信號(hào)30D驅(qū)動(dòng)激光器11發(fā)光。數(shù)倍于讀出級(jí)激光束強(qiáng)度的寫(xiě)入級(jí)激光束和讀出級(jí)激光束交替地從基底110側(cè)照射在用于記錄的凹坑114上。因此，激光束被包含在記錄層111中的有機(jī)彩色物質(zhì)吸收，從而引起局部發(fā)熱。發(fā)熱使基底110變形。其結(jié)果是，在溝槽114中形成凹部114A和凸部114B(見(jiàn)圖13-1(B))。以這種方式，實(shí)際的記錄數(shù)據(jù)被寫(xiě)入光盤(pán)100中。
在這種情況下，實(shí)時(shí)地檢測(cè)記錄數(shù)據(jù)是否精確地寫(xiě)入光盤(pán)100的預(yù)定區(qū)域中。具體來(lái)說(shuō)，首先，反射光被光檢測(cè)器12吸收，并且轉(zhuǎn)換為再生信號(hào)(10A+10D)和(10B+10C)(見(jiàn)圖13-1(C))。
基于開(kāi)關(guān)信號(hào)30G，根據(jù)開(kāi)關(guān)23的切換操作，以時(shí)分方式切換再生信號(hào)(10A+10D)和(10B+10C)的路徑(見(jiàn)圖13-2(D))。具體來(lái)說(shuō)，在對(duì)應(yīng)于寫(xiě)入波形S1的時(shí)期和該時(shí)期前后的短時(shí)期內(nèi)選擇衰減器41側(cè)的路徑，在除了這些時(shí)期之外的時(shí)期內(nèi)，即與除讀出波形S2中鄰近寫(xiě)入波形S1的部分的波形之外的部分的波形相對(duì)應(yīng)的時(shí)期，選擇放大器22側(cè)的路徑。在這種情況下，因?yàn)樗p器41固定為衰減水平3的衰減器，所以衰減水平3的衰減器對(duì)寫(xiě)入波形S1和讀出波形S2中鄰近寫(xiě)入波形S1的部分的波形進(jìn)行衰減。另一方面，由放大器將除讀出波形S2中鄰近寫(xiě)入波形S1的部分的波形之外的部分的波形放大固定的量(見(jiàn)圖13-2(E))。其結(jié)果是，由衰減器41衰減的寫(xiě)入波形S1的振幅電平基本等于由放大器22放大的讀出波形S2的振幅電平。
接著，通過(guò)處于關(guān)閉狀態(tài)的低通濾波器26傳輸開(kāi)關(guān)輸出23A和23B，然后開(kāi)關(guān)輸出23A和23B被當(dāng)作濾波器輸出26A和26B輸入到增益控制器24(見(jiàn)圖13-2(F))。由增益控制器24將濾波器輸出26A和2 6B放大到增益控制電平G(見(jiàn)圖13-2(G))。將放大的受控輸出24A和24B輸入到運(yùn)算器25。
運(yùn)算器25基于受控輸出24A和24B產(chǎn)生RF信號(hào)20A、調(diào)焦誤差信號(hào)20B、軌跡誤差信號(hào)20C和推挽信號(hào)20D，并將這些信號(hào)輸出到控制單元30。
控制單元30處理來(lái)自運(yùn)算器25的RF信號(hào)20A，從而產(chǎn)生記錄在光盤(pán)100中的記錄數(shù)據(jù)?？刂茊卧?0處理來(lái)自運(yùn)算器25的調(diào)焦誤差信號(hào)20B和軌跡誤差信號(hào)20C，從而產(chǎn)生調(diào)焦驅(qū)動(dòng)信號(hào)30A、軌跡驅(qū)動(dòng)信號(hào)30B和螺紋驅(qū)動(dòng)信號(hào)30C。
此外，控制單元30處理推挽信號(hào)20D，從而產(chǎn)生線(xiàn)速度和物理地址信息，并根據(jù)這些種信息產(chǎn)生用于控制主軸電動(dòng)機(jī)40的主軸驅(qū)動(dòng)信號(hào)30E。具體來(lái)說(shuō)，控制單元30檢測(cè)推挽信號(hào)20D的基本頻率并基于基本頻率計(jì)算線(xiàn)速度?？刂茊卧?0通過(guò)以預(yù)定振幅電平(例如，圖13-2(G)的限制電平S)對(duì)推挽信號(hào)20D進(jìn)行二值化來(lái)提取波形P1，然后基于預(yù)定算法根據(jù)波形P1計(jì)算物理地址信息。
因此，在該實(shí)施例中，當(dāng)衰減器41對(duì)從光檢測(cè)器12輸出的再生信號(hào)(10A+10D)和(10B+10C)中的寫(xiě)入波形S1的振幅電平進(jìn)行衰減時(shí)，衰減器41使用衰減器ATT1～ATT6和開(kāi)關(guān)SW1對(duì)寫(xiě)入波形S1進(jìn)行衰減處理。衰減器41使用作為用于設(shè)置衰減量的衰減控制信號(hào)30I的控制信號(hào)，對(duì)經(jīng)過(guò)衰減處理的寫(xiě)入波形S1進(jìn)行更進(jìn)一步的衰減處理，所述控制信號(hào)用于進(jìn)行控制，使當(dāng)衰減器41的衰減量逐漸增加時(shí)，衰減量處于將濾波器輸出23B和23D放大到增益控制電平G所需的放大量開(kāi)始飽和時(shí)的衰減量下限和放大量完全飽和時(shí)的衰減量上限之間的衰減量。因此，可以將寫(xiě)入波形S1衰減到更優(yōu)的電平。尤其是，因?yàn)樵趯?xiě)入波形S1上升時(shí)的不穩(wěn)定部分中衰減量設(shè)置得較大，所以可以將穩(wěn)定的波形輸入到增益控制器24。其結(jié)果是，可以改善獲取地址的性能。
以這種方式，在該實(shí)施例中，可以非常容易地選擇寫(xiě)入波形S1的振幅電平的最優(yōu)衰減。其結(jié)果是，可以非常穩(wěn)定、精確地檢測(cè)溝槽114中的物理地址信息。
通過(guò)所引用的實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了說(shuō)明。然而，本發(fā)明不限制于實(shí)施例，而可以對(duì)實(shí)施例進(jìn)行各種變形。
例如，在實(shí)施例中，將包括在衰減器21的前一級(jí)中的衰減器的數(shù)目設(shè)置為6，而將包括在衰減器21的后一級(jí)中的衰減器的數(shù)目設(shè)置為4。然而，可優(yōu)選地根據(jù)再生信號(hào)(10A+10D)的波形酌情對(duì)衰減器的數(shù)目進(jìn)行增加、減少或其它調(diào)整。
在實(shí)施例中，放大器22與衰減器21并聯(lián)設(shè)置。然而，當(dāng)噪聲電平充分低于讀出波形的振幅電平時(shí)，可以去除放大器22，并可以與衰減器21并聯(lián)地設(shè)置不帶放大的布線(xiàn)。
在實(shí)施例中，光檢測(cè)器12的輸出(再生信號(hào))被組合為10A+10D和10B+10C，然后輸入到衰減器21和放大器22。然而，如圖14和15所示，輸出10A、10B、10C和10D可以分別地輸入到衰減器21和放大器22。
本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)該理解，根據(jù)設(shè)計(jì)要求和其它因素可以進(jìn)行各種變形、組合、子組合和替換，只要它們?cè)谒綑?quán)利要求或等同的范圍內(nèi)即可。
本發(fā)明包含涉及2006年2月14日在日本專(zhuān)利局提交的日本專(zhuān)利申請(qǐng)JP 2006-036601的主題，該申請(qǐng)的全部?jī)?nèi)容通過(guò)引用包含于此。
權(quán)利要求
1.一種衰減量調(diào)整電路，包括光照射單元，其交替地將寫(xiě)入級(jí)激光束和讀出級(jí)激光束照射在具有由擺動(dòng)圖案形成的溝槽和表示所述溝槽中的物理位置的多個(gè)標(biāo)記的光盤(pán)上；光接收單元，其接收照射在所述光盤(pán)上的激光束的反射光并將所述反射光轉(zhuǎn)換為再生信號(hào)；以及寫(xiě)入波形衰減單元，其根據(jù)從與再生信號(hào)中的寫(xiě)入級(jí)激光束的反射光相對(duì)應(yīng)的寫(xiě)入波形的上升沿開(kāi)始的位置，對(duì)所述寫(xiě)入波形的振幅電平進(jìn)行衰減。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的衰減量調(diào)整電路，其特征在于，所述寫(xiě)入波形衰減單元根據(jù)從所述寫(xiě)入波形的所述上升沿開(kāi)始的位置，在隨著時(shí)間逐步減少衰減量的同時(shí)對(duì)所述寫(xiě)入波形的所述振幅電平進(jìn)行衰減。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的衰減量調(diào)整電路，其特征在于，所述寫(xiě)入波形衰減單元基于衰減量控制信號(hào)對(duì)已進(jìn)行過(guò)衰減的所述寫(xiě)入波形的所述振幅電平進(jìn)行進(jìn)一步衰減，以及所述衰減量調(diào)整電路還包括高頻衰減單元，其衰減所述寫(xiě)入波形已進(jìn)行過(guò)衰減的所述再生信號(hào)的高頻分量；放大單元，其將所述高頻分量已進(jìn)行過(guò)衰減的所述再生信號(hào)的所述振幅電平放大到預(yù)定電平；以及衰減控制信號(hào)產(chǎn)生單元，其用于產(chǎn)生當(dāng)所述寫(xiě)入波形衰減單元的衰減量逐漸增大時(shí)，將所述衰減量控制為所述放大單元的放大量開(kāi)始飽和時(shí)的衰減量和所述放大量飽和時(shí)的衰減量之間的衰減量的衰減量控制信號(hào)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的衰減量調(diào)整電路，其特征在于，所述高頻衰減單元對(duì)包含在所述光接收單元從所述激光束的所述反射光轉(zhuǎn)換的所述再生信號(hào)中的所述寫(xiě)入波形的高頻分量進(jìn)行衰減。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的衰減量調(diào)整電路，其特征在于，還包括讀出波形放大單元，其放大與所述再生信號(hào)中的所述讀出級(jí)激光束的反射光相對(duì)應(yīng)的讀出波形的振幅電平。
6.一種光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置，包括衰減量調(diào)整電路；以及地址信息檢測(cè)電路，其中，所述衰減量調(diào)整電路包括光照射單元，其交替地將寫(xiě)入級(jí)激光束和讀出級(jí)激光束照射在具有由擺動(dòng)圖案形成的溝槽和表示所述溝槽中的物理位置的多個(gè)標(biāo)記的光盤(pán)上；光接收單元，其接收照射在所述光盤(pán)上的激光束的反射光并將所述反射光轉(zhuǎn)換為再生信號(hào)；以及寫(xiě)入波形衰減單元，其根據(jù)從與所述再生信號(hào)中的所述寫(xiě)入級(jí)激光束的反射光相對(duì)應(yīng)的寫(xiě)入波形的上升沿開(kāi)始的位置，對(duì)所述寫(xiě)入波形的振幅電平進(jìn)行衰減，以及所述地址信息檢測(cè)電路包括從由所述寫(xiě)入波形衰減單元衰減過(guò)的所述再生信號(hào)提取對(duì)應(yīng)于所述標(biāo)記的信號(hào)分量，并獲取所述溝槽中的物理地址信息的地址信息獲取單元。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置，其特征在于，所述衰減量調(diào)整電路還包括高頻衰減單元，其衰減所述寫(xiě)入波形已進(jìn)行過(guò)衰減的所述再生信號(hào)的高頻分量；以及放大單元，其將所述高頻分量已進(jìn)行過(guò)衰減的所述再生信號(hào)的所述振幅電平放大到預(yù)定電平，所述地址信息檢測(cè)電路還包括衰減控制信號(hào)產(chǎn)生單元，其用于產(chǎn)生當(dāng)所述寫(xiě)入波形衰減單元的衰減量逐漸增大時(shí)，將所述衰減量控制為所述放大單元的放大量開(kāi)始飽和時(shí)的衰減量和所述放大量飽和時(shí)的衰減量之間的衰減量的衰減量控制信號(hào)；以及驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)產(chǎn)生單元，其產(chǎn)生當(dāng)所述地址信息獲取單元提取對(duì)應(yīng)于所述標(biāo)記的所述信號(hào)分量時(shí)，用于打開(kāi)和關(guān)閉所述高頻衰減單元的功能的驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)，以及所述地址信息獲取單元從由所述放大單元放大的再生信號(hào)提取對(duì)應(yīng)于所述標(biāo)記的所述信號(hào)分量，并獲取所述溝槽中的物理地址信息。
8.一種衰減量調(diào)整方法，包括以下步驟進(jìn)行驅(qū)動(dòng)以便旋轉(zhuǎn)光盤(pán)，所述光盤(pán)具有由擺動(dòng)圖案形成的溝槽以及表示所述溝槽中的物理位置的多個(gè)標(biāo)記；在正在旋轉(zhuǎn)的所述光盤(pán)上交替地照射寫(xiě)入級(jí)激光束和讀出級(jí)激光束；接收照射在所述光盤(pán)上的所述激光束的反射光，并將所述反射光轉(zhuǎn)換為再生信號(hào)；以及根據(jù)從與所述再生信號(hào)中的所述寫(xiě)入級(jí)激光束的反射光相對(duì)應(yīng)的寫(xiě)入波形的上升沿開(kāi)始的位置，對(duì)所述寫(xiě)入波形的振幅電平進(jìn)行衰減。
9.一種地址信息獲取方法，包括以下步驟進(jìn)行驅(qū)動(dòng)以便旋轉(zhuǎn)光盤(pán)，所述光盤(pán)具有由擺動(dòng)圖案形成的溝槽以及表示所述溝槽中的物理位置的多個(gè)標(biāo)記；在正在旋轉(zhuǎn)的所述光盤(pán)上交替地照射寫(xiě)入級(jí)激光束和讀出級(jí)激光束；接收照射在所述光盤(pán)上的所述激光束的反射光，并將所述反射光轉(zhuǎn)換為再生信號(hào)；根據(jù)從與所述再生信號(hào)中的所述寫(xiě)入級(jí)激光束的反射光相對(duì)應(yīng)的寫(xiě)入波形的上升沿開(kāi)始的位置，對(duì)所述寫(xiě)入波形的振幅電平進(jìn)行衰減；以及從已進(jìn)行過(guò)衰減的所述再生信號(hào)提取對(duì)應(yīng)于所述標(biāo)記的信號(hào)分量，并獲取所述溝槽中的物理地址信息。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種衰減量調(diào)整電路和方法、光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置、地址信息獲取法。衰減量調(diào)整電路，包括光照射單元，所述光照射單元交替地將寫(xiě)入級(jí)激光束和讀出級(jí)激光束照射在具有由擺動(dòng)圖案形成的溝槽和表示所述溝槽中的物理位置的多個(gè)標(biāo)記的光盤(pán)上；光接收單元，所述光接收單元接收照射在所述光盤(pán)上的激光束的反射光并將所述反射光轉(zhuǎn)換為再生信號(hào)；以及寫(xiě)入波形衰減單元，其根據(jù)從對(duì)應(yīng)于再生信號(hào)中的寫(xiě)入級(jí)激光束的反射光的寫(xiě)入波形的上升沿開(kāi)始的位置，對(duì)所述寫(xiě)入波形的振幅電平進(jìn)行衰減。
文檔編號(hào)G11B7/135GK101022019SQ20071008017
公開(kāi)日2007年8月22日 申請(qǐng)日期2007年2月14日 優(yōu)先權(quán)日2006年2月14日
發(fā)明者武田直人 申請(qǐng)人:索尼株式會(huì)社