專利名稱：光學(xué)信息再現(xiàn)裝置及利用該裝置的光學(xué)信息再現(xiàn)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明的實(shí)施例涉及光學(xué)信息再現(xiàn)裝置，更具體地說(shuō)，涉及一種可以利用參考光束和一對(duì)輔助光束檢測(cè)傾斜誤差并校正檢測(cè)到的傾斜誤差的光學(xué)信息再現(xiàn)裝置及光學(xué)信息再現(xiàn)方法。
背景技術(shù)：
作為光學(xué)數(shù)據(jù)處理裝置，已知有數(shù)字多功能盤(DVD)、高清晰度DVD(HD-DVD)、藍(lán)光盤(BD)、近場(chǎng)光學(xué)信息處理裝置以及全息光學(xué)信息處理裝置。
全息光學(xué)信息處理裝置通過(guò)以相互交叉的方式向記錄介質(zhì)照射被光學(xué)調(diào)制的信號(hào)光束和用于在所述記錄介質(zhì)上形成干涉圖案的參考光束來(lái)記錄數(shù)據(jù)。
全息光學(xué)信息處理裝置通過(guò)以下步驟來(lái)再現(xiàn)所記錄的數(shù)據(jù)僅向記錄介質(zhì)照射參考光束；通過(guò)利用檢測(cè)器來(lái)檢測(cè)從記錄介質(zhì)再現(xiàn)的再現(xiàn)光束；并且處理所檢測(cè)到的再現(xiàn)光束。
全息光學(xué)信息處理裝置可以通過(guò)利用各種復(fù)用方法按照三維方式在光學(xué)信息記錄介質(zhì)的同一位置處重復(fù)地記錄數(shù)據(jù)。因此，可以顯著地提高面積有限的光學(xué)信息記錄介質(zhì)的存儲(chǔ)容量。復(fù)用方法的示例可包括角度復(fù)用方法、相位碼復(fù)用方法、波長(zhǎng)復(fù)用方法、分維(fractal)復(fù)用方法、移位復(fù)用方法以及旋轉(zhuǎn)(peristrophic)復(fù)用方法。
光學(xué)信息不可能僅存儲(chǔ)在存儲(chǔ)介質(zhì)上的一個(gè)位置處。也就是說(shuō)，各種光學(xué)信息可記錄在記錄介質(zhì)上的各個(gè)位置處。從而，應(yīng)將記錄介質(zhì)移動(dòng)到用于再現(xiàn)光學(xué)信息的位置處以再現(xiàn)存儲(chǔ)在記錄介質(zhì)中的光學(xué)信息。例如，當(dāng)記錄介質(zhì)是盤型時(shí)，在盤轉(zhuǎn)動(dòng)的同時(shí)再現(xiàn)光學(xué)信息。
在Psaltis等人提交的題為“NON-VOLATILE READOUT OF SHIFTMULTIPLEXED HOLOGRAMS”的美國(guó)專利No.5,978,112中描述了一種移動(dòng)記錄介質(zhì)的方法。
該美國(guó)專利公開了一種傾斜記錄介質(zhì)的結(jié)構(gòu)和方法。也就是說(shuō)，依據(jù)在記錄光學(xué)信息時(shí)該光學(xué)信息在記錄介質(zhì)上的記錄位置，使得能夠利用移位伺服來(lái)移動(dòng)記錄介質(zhì)。
如在該美國(guó)專利中所述，連續(xù)移動(dòng)以再現(xiàn)光學(xué)信息的記錄介質(zhì)必須進(jìn)行機(jī)械運(yùn)動(dòng)，例如轉(zhuǎn)動(dòng)和平移運(yùn)動(dòng)。因而，可連續(xù)地改變參考光束和記錄介質(zhì)的傾角。
當(dāng)像該美國(guó)專利一樣采用體積全息照相時(shí)，參考光束應(yīng)入射到角度選擇性較大的體全息區(qū)域上，以提高再現(xiàn)光束的再現(xiàn)效率。
當(dāng)入射到存儲(chǔ)有光學(xué)信息的記錄介質(zhì)上的參考光束的入射角處在布拉格(Brag)角范圍內(nèi)時(shí)，提高了響應(yīng)于參考光束而再現(xiàn)的再現(xiàn)光束的再現(xiàn)效率。
根據(jù)記錄介質(zhì)的傾角來(lái)確定參考光束的入射角。入射到記錄介質(zhì)上的參考光束的衍射效率取決于參考光束的入射角(即，記錄介質(zhì)的傾角)。當(dāng)依據(jù)記錄介質(zhì)的傾角而變化的參考光束的入射角偏離布拉格角的范圍時(shí)，再現(xiàn)光束的再現(xiàn)效率顯著降低。
因此，當(dāng)在記錄介質(zhì)上記錄數(shù)據(jù)時(shí)或者當(dāng)從記錄介質(zhì)再現(xiàn)數(shù)據(jù)時(shí)，必須檢測(cè)參考光束與記錄介質(zhì)之間是否出現(xiàn)傾斜誤差并且必須校正該傾斜誤差。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的實(shí)施例被設(shè)計(jì)用于解決上述問(wèn)題。本發(fā)明的某些方面的優(yōu)點(diǎn)在于提供了一種可以通過(guò)在再現(xiàn)光學(xué)信息時(shí)向記錄介質(zhì)輸入輔助光束來(lái)檢測(cè)記錄介質(zhì)的傾角并且校正傾斜誤差的光學(xué)信息再現(xiàn)裝置和光學(xué)信息再現(xiàn)方法。
根據(jù)本發(fā)明的一方面，提供了一種光學(xué)信息再現(xiàn)裝置，該光學(xué)信息再現(xiàn)裝置包括光源；分束器，其將從所述光源發(fā)射的光束分為參考光束和臨時(shí)光束；臨時(shí)光束分束器，其將所述臨時(shí)光束分為一對(duì)輔助光束；入射光學(xué)系統(tǒng)，其向記錄有光學(xué)信息的記錄介質(zhì)輸入所述參考光束和所述輔助光束；再現(xiàn)光束檢測(cè)器，其檢測(cè)響應(yīng)于所述參考光束再現(xiàn)的再現(xiàn)光束；以及輔助光束檢測(cè)器，其檢測(cè)由光學(xué)信息衍射的輔助光束的光強(qiáng)，以讀出所述記錄介質(zhì)的傾角。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種光學(xué)信息再現(xiàn)方法，該光學(xué)信息再現(xiàn)方法包括以下步驟向存儲(chǔ)有復(fù)用的光學(xué)信息的記錄介質(zhì)輸入?yún)⒖脊馐洼o助光束；檢測(cè)由光學(xué)信息衍射的輔助光束，來(lái)測(cè)量所述記錄介質(zhì)的傾角；將所述記錄介質(zhì)的測(cè)得的傾角與設(shè)定值進(jìn)行比較；確定所述記錄介質(zhì)的傾角；基于所述記錄介質(zhì)的所確定的傾角，來(lái)設(shè)定所述參考光束的入射角；以及基于所述參考光束的所設(shè)定的入射角來(lái)校正所述參考光束的入射角。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種光學(xué)信息再現(xiàn)方法，該光學(xué)信息再現(xiàn)方法包括以下步驟向存儲(chǔ)有復(fù)用的光學(xué)信息的記錄介質(zhì)輸入?yún)⒖脊馐?；在傾斜所述參考光束的同時(shí)掃描光學(xué)信息；根據(jù)掃描到的光學(xué)信息來(lái)檢測(cè)響應(yīng)于所述參考光束而發(fā)射最大光強(qiáng)的光學(xué)信息，并且將發(fā)射最大光強(qiáng)的所述光學(xué)信息的位置設(shè)置為基準(zhǔn)位置；基于所述基準(zhǔn)位置設(shè)置信號(hào)區(qū)域；以及基于所述信號(hào)區(qū)域中的光學(xué)信息相對(duì)于所述基準(zhǔn)位置的位置來(lái)控制所述參考光束的入射角。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種光學(xué)信息再現(xiàn)方法，該光學(xué)信息再現(xiàn)方法包括以下步驟向存儲(chǔ)有光學(xué)信息的記錄介質(zhì)輸入多個(gè)輔助光束；檢測(cè)由所述記錄介質(zhì)衍射的輔助光束；將檢測(cè)到的輔助光束與輔助光束的設(shè)定值進(jìn)行比較；以及基于比較結(jié)果計(jì)算所述記錄介質(zhì)的傾角。


圖1是例示了根據(jù)本發(fā)明示例性實(shí)施例的光學(xué)信息再現(xiàn)裝置的結(jié)構(gòu)的圖。
圖2是例示了根據(jù)本發(fā)明另一示例性實(shí)施例的光學(xué)信息記錄/再現(xiàn)裝置的結(jié)構(gòu)的圖，其中示意性地示出了記錄光學(xué)信息時(shí)的光路。
圖3是例示了根據(jù)本發(fā)明另一示例性實(shí)施例的光學(xué)信息記錄/再現(xiàn)裝置的結(jié)構(gòu)的圖，其中示意性地示出了再現(xiàn)光學(xué)信息時(shí)的光路。
圖4是例示了根據(jù)本發(fā)明示例性實(shí)施例的光學(xué)信息再現(xiàn)方法的流程圖。
圖5是例示了根據(jù)本發(fā)明示例性實(shí)施例的光學(xué)信息再現(xiàn)方法中的光束輸入步驟的流程圖。
圖6和圖7是例示了在根據(jù)本發(fā)明示例性實(shí)施例的光學(xué)信息再現(xiàn)方法中用于校正傾斜誤差的光強(qiáng)-角度選擇曲線的示意圖。
圖8是例示了根據(jù)本發(fā)明示例性實(shí)施例的光學(xué)信息再現(xiàn)方法中的檢測(cè)處理的流程圖。
圖9到圖10是例示了根據(jù)本發(fā)明示例性實(shí)施例的光學(xué)信息再現(xiàn)方法中的輔助光束檢測(cè)處理的圖。
具體實(shí)施例方式
下面，將參照附圖來(lái)詳細(xì)地描述光學(xué)信息再現(xiàn)裝置、光學(xué)信息記錄/再現(xiàn)裝置以及利用所述裝置的光學(xué)信息再現(xiàn)方法。
在以下描述中，考慮元件的功能來(lái)定義其名稱。因而，不應(yīng)將元件的名稱理解為限定技術(shù)構(gòu)件，在本領(lǐng)域中也可稱作其他名稱。
首先，將參照?qǐng)D1來(lái)描述光學(xué)信息再現(xiàn)裝置的示例。如圖所示，光學(xué)信息再現(xiàn)裝置100包括光源110、偏振光束分束器120、臨時(shí)光束分束器130、交疊光學(xué)系統(tǒng)140、聚焦光學(xué)系統(tǒng)160以及讀出單元170。
光源110發(fā)射具有預(yù)定波長(zhǎng)的光束L。從光源110發(fā)射的光束L優(yōu)選地為被形成為平行光束且為具有優(yōu)異相干性的平面波類型的激光束。例如，光束L優(yōu)選地具有適于存儲(chǔ)全息數(shù)據(jù)的波長(zhǎng)。
偏振光束分束器120將從光源110發(fā)射的光束分為用于再現(xiàn)光學(xué)信息的參考光束R以及用于生成第一輔助光束A1和第二輔助光束A2的臨時(shí)光束A。偏振光束分束器120具有用于起偏并對(duì)光束L進(jìn)行分束的偏振分束面120a。偏振光束分束器120a用于透射臨時(shí)光束(P偏振光束)A并反射參考光束(S偏振光束)S。
可以設(shè)置特別的光源調(diào)節(jié)元件124，該光源調(diào)節(jié)元件124用于調(diào)節(jié)由偏振光束分束器120分束出的參考光束R以及第一輔助光束A1和第二輔助光束A2。光源調(diào)節(jié)元件124可被提供為偏振片、感光濾波器等等。光源調(diào)節(jié)元件124被設(shè)置為精確地調(diào)節(jié)參考光束R以及第一輔助光束A1和第二輔助光束A2的光強(qiáng)和均勻度，并且可在參考光束R和臨時(shí)光束A的特性得到保證時(shí)不設(shè)置該光源調(diào)節(jié)元件124。
可以使用非偏振光束分束器(未示出)來(lái)代替偏振光束分束器120。在這種情況下，可以使用S偏振片和P偏振片來(lái)代替光源調(diào)節(jié)元件124，S偏振片和P偏振片分別用于將由非偏振光束分束器所分束出的參考光束R和臨時(shí)光束A起偏為S偏振光束和P偏振光束。
臨時(shí)光束分束器130用于將由偏振光束分束器120分束出的臨時(shí)光束A分為第一輔助光束A1和第二輔助光束A2。臨時(shí)光束分束器130設(shè)置在臨時(shí)光束A所通過(guò)的路徑上。臨時(shí)光束分束器130可被提供為棱鏡分光鏡、全息分光鏡等等。
在由偏振光束分束器120所分離的參考光束R的光路上還設(shè)置有用于把參考光束R導(dǎo)向交疊光學(xué)系統(tǒng)140的多個(gè)反射鏡126。反射鏡126優(yōu)選地為用于調(diào)節(jié)參考光束R的光路的Galvano鏡。
交疊光學(xué)系統(tǒng)140用于平行于光軸地交疊第一輔助光束A1和第二輔助光束A2以及參考光束R。交疊光學(xué)系統(tǒng)140包括光束交疊器件142、折射鏡150以及聚焦透鏡146。
光束交疊器件142具有用于透射第一輔助光束A1和第二輔助光束A2并且反射參考光束R的交疊面142a。通過(guò)交疊面142a透射第一輔助光束A1和第二輔助光束A2并且反射參考光束R，從而使得光束交疊。
通過(guò)光束交疊器件142交疊的參考光束R以及第一輔助光束A1和第二輔助光束A2通過(guò)折射鏡150入射到聚焦光學(xué)系統(tǒng)160。折射鏡150優(yōu)選地由Galvano鏡形成。
聚焦光學(xué)系統(tǒng)160用于將交疊的參考光束R以及第一輔助光束A1和第二輔助光束A2輸入到記錄介質(zhì)D。聚焦光學(xué)系統(tǒng)160包括多個(gè)聚焦透鏡162。第一輔助光束A1和第二輔助光束A2的通過(guò)聚焦光學(xué)系統(tǒng)160的光路優(yōu)選地具有相同長(zhǎng)度。入射到記錄介質(zhì)D上的第一輔助光束A1和第二輔助光束A2的光強(qiáng)應(yīng)盡可能地彼此相等或者在誤差范圍內(nèi)彼此相等。
讀出單元170用于讀出入射到記錄介質(zhì)D上的參考光束R以及第一輔助光束A1和第二輔助光束A2。讀出單元170包括讀出光束分束器172、再現(xiàn)光束檢測(cè)器174以及輔助光束檢測(cè)器176。
讀出光束分束器172用于對(duì)在第一輔助光束A1和第二輔助光束A2以及參考光束R通過(guò)記錄介質(zhì)D時(shí)再現(xiàn)的再現(xiàn)光束進(jìn)行分束。讀出光束分束器172將第一輔助光束A1和第二輔助光束A2透射到輔助光束檢測(cè)器176，并且將參考光束R反射到再現(xiàn)光束檢測(cè)器174。
再現(xiàn)光束檢測(cè)器174用于檢測(cè)響應(yīng)于參考光束R而從記錄介質(zhì)D再現(xiàn)的再現(xiàn)光束。再現(xiàn)光束檢測(cè)器174可采用具有諸如CCD(電荷耦合器件)和CMOS(互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體)器件的像素陣列的圖像感測(cè)器件。
輔助光束檢測(cè)器176檢測(cè)在利用參考光束再現(xiàn)光學(xué)信息時(shí)隨參考光束R一同衍射的第一輔助光束A1和第二輔助光束A2的強(qiáng)度和位置。輔助光束檢測(cè)器176基于檢測(cè)結(jié)果確定參考光束R和記錄介質(zhì)D的傾斜誤差。輔助光束檢測(cè)器176采用排列為與通過(guò)記錄介質(zhì)D的第一輔助光束A1和第二輔助光束A2的移動(dòng)區(qū)域相對(duì)應(yīng)的多個(gè)光電二極管P1、...、和Pn(參見圖9和圖10)。
光電二極管P1、...、和Pn的排列應(yīng)長(zhǎng)于第一輔助光束A1和第二輔助光束A2的入射點(diǎn)之間的距離d與第一輔助光束A1和第二輔助光束A2在傾斜時(shí)的移動(dòng)距離的總長(zhǎng)度?？山M合并排列至少幾個(gè)到幾十個(gè)光電二極管P1、...、和Pn。可采用CCD或CMOS器件作為輔助光束檢測(cè)器176?？梢赃m于實(shí)施例地修改并采用任何部分。
由輔助光束檢測(cè)器176檢測(cè)到的第一輔助光束A1和第二輔助光束A2的強(qiáng)度和位置用來(lái)確定第一輔助光束A1和第二輔助光束A2通過(guò)的記錄介質(zhì)D的傾角。
當(dāng)?shù)谝惠o助光束A1和第二輔助光束A2在通過(guò)記錄介質(zhì)D的同時(shí)隨參考光束R一同被折射時(shí)，可測(cè)量第一輔助光束A1和第二輔助光束A2的光強(qiáng)和位置來(lái)確定記錄介質(zhì)D的傾角。
下面，將簡(jiǎn)要地描述在光學(xué)信息再現(xiàn)裝置中對(duì)光學(xué)信息的再現(xiàn)。
從光源110發(fā)射光束L來(lái)再現(xiàn)光學(xué)信息。通過(guò)偏振光束分束器120將所發(fā)射的光束L分束為參考光束R和臨時(shí)光束A。通過(guò)光源調(diào)節(jié)元件124來(lái)調(diào)節(jié)所分束的參考光束R和臨時(shí)光束A的特性(例如，強(qiáng)度、均勻度以及偏振性)。通過(guò)臨時(shí)光束分束器130將經(jīng)調(diào)節(jié)的臨時(shí)光束A分束為第一輔助光束A1和第二輔助光束A2。
所分束的第一輔助光束A1和第二輔助光束A2入射到交疊光學(xué)系統(tǒng)140上，以與參考光束R交疊。入射到交疊光學(xué)系統(tǒng)140上的第一輔助光束A1和第二輔助光束A2與參考光束R交疊以平行于光軸并傳播到折射鏡150。通過(guò)折射鏡150將參考光束R以及與參考光束相交疊的第一輔助光束A1和第二輔助光束A2入射到記錄介質(zhì)D上。
入射到記錄介質(zhì)D上的參考光束R被形成在記錄介質(zhì)D上的干涉圖案折射，從而生成再現(xiàn)光束。通過(guò)再現(xiàn)光束檢測(cè)器174來(lái)讀出再現(xiàn)光束。
第一輔助光束A1和第二輔助光束A2入射到參考光束R入射的記錄介質(zhì)D上的同一位置處。此時(shí)，參考光束R可隨第一輔助光束A1和第二輔助光束A2一同入射，或者可僅入射第一輔助光束A1和第二輔助光束A2。入射的第一輔助光束A1和第二輔助光束A2的強(qiáng)度應(yīng)盡可能地彼此相等或者在誤差范圍內(nèi)彼此相等。
入射到記錄介質(zhì)D上的第一輔助光束A1和第二輔助光束A2通過(guò)記錄介質(zhì)D并由輔助光束檢測(cè)器176來(lái)檢測(cè)。輔助光束檢測(cè)器176檢測(cè)所檢測(cè)到的第一輔助光束A1和第二輔助光束A2的強(qiáng)度和位置。
由輔助光束檢測(cè)器176檢測(cè)到的第一輔助光束A1和第二輔助光束A2的強(qiáng)度和位置被用作讀出參考光束R的入射角和記錄介質(zhì)D的傾角的數(shù)據(jù)。
下面將參照?qǐng)D2和圖3來(lái)描述光學(xué)信息記錄/再現(xiàn)裝置的示例。光學(xué)信息記錄/再現(xiàn)裝置200具有將用于生成記錄光學(xué)信息的信號(hào)光束S的光學(xué)系統(tǒng)添加到上述光學(xué)信息再現(xiàn)裝置100中的結(jié)構(gòu)。將不再詳細(xì)描述與光學(xué)信息再現(xiàn)裝置100相同的結(jié)構(gòu)。
如圖2和圖3所示，光學(xué)信息記錄/再現(xiàn)裝置200包括光源210、非偏振光束分束器220a、偏振光束分束器220b、臨時(shí)光束分束器230a、交疊光學(xué)系統(tǒng)240、折射鏡250、聚焦光學(xué)系統(tǒng)260以及讀出單元270。
光源210、偏振光束分束器220b、臨時(shí)光束分束器230、交疊光學(xué)系統(tǒng)240、折射鏡250、聚焦光學(xué)系統(tǒng)260以及讀出單元270類似于上述光學(xué)信息再現(xiàn)裝置中的那些元件，因而略去對(duì)它們的詳細(xì)描述。
非偏振光束分束器220a用于對(duì)從光源210發(fā)射的光束L進(jìn)行分束以形成信號(hào)光束S和參考光束R。一束分束光束由光源調(diào)節(jié)元件222a起偏以形成信號(hào)光束S。所分束的另一光束入射到偏振光束分束器220b上并被分束為參考光束R和臨時(shí)光束A。
通過(guò)光源調(diào)節(jié)元件222a將由非偏振光束分束器220a所分束出的一束光束起偏為P偏振光束以形成信號(hào)光束S。在信號(hào)光束S的光路上設(shè)置有光閘(shutter)224a、空間光調(diào)制器228以及傅立葉變換透鏡229。
光閘224a在從記錄介質(zhì)D再現(xiàn)光學(xué)信息時(shí)切斷信號(hào)光束S的光路?？臻g光調(diào)制器228將數(shù)據(jù)加載到信號(hào)光束S上。傅立葉變換透鏡229通過(guò)傅立葉變換來(lái)變換信號(hào)光束S，并將經(jīng)變換的信號(hào)光束S輸入到記錄介質(zhì)D。
空間光調(diào)制器228可以采用代表有源矩陣器件的TFT LC(薄膜晶體管型液晶)器件、代表無(wú)源矩陣器件的STN LC(超扭曲向列型液晶)器件、Ferro LC器件、PDLC(聚合物分散液晶)器件或者等離子體選址LC器件。
下面將描述光學(xué)信息記錄/再現(xiàn)裝置的記錄和再現(xiàn)操作。
首先描述記錄光學(xué)信息的操作。從光源210發(fā)射光束L。通過(guò)非偏振光束分束器220a將所發(fā)射的光束L分束為用于生成信號(hào)光束S和參考光束R的一對(duì)光束。通過(guò)光源調(diào)節(jié)元件222a將所分束的一束光束起偏為P偏振光束，并將其轉(zhuǎn)換為信號(hào)光束S。
在信號(hào)光束S通過(guò)空間光調(diào)制器228的同時(shí)，利用空間光調(diào)制器228將數(shù)據(jù)加載到信號(hào)光束S上。其上加載有數(shù)據(jù)的信號(hào)光束S通過(guò)傅立葉變換透鏡229入射到記錄介質(zhì)上。
由非偏振光束分束器220a分束的另一光束入射到偏振光束分束器220b上，并被分束為參考光束R和臨時(shí)光束A。臨時(shí)光束A無(wú)需用來(lái)記錄光學(xué)信息，由此被光閘224b橫斷(intersected)。
由偏振光束分束器220b分束出的參考光束R通過(guò)多個(gè)反射鏡226入射到交疊光學(xué)系統(tǒng)240上。入射到交疊光學(xué)系統(tǒng)240上的參考光束R通過(guò)折射鏡250和聚焦光學(xué)系統(tǒng)260入射到記錄介質(zhì)D上。
通過(guò)入射到記錄介質(zhì)D上的信號(hào)光束S和參考光束R在記錄介質(zhì)D上形成全息干涉圖案。該全息干涉圖案是用于再現(xiàn)記錄介質(zhì)D的數(shù)據(jù)。
下面將描述再現(xiàn)光學(xué)信息的操作。從光源210發(fā)射光束L。通過(guò)非偏振光束分束器220a將所發(fā)射的光束L分束為用于生成信號(hào)光束S和參考光束R的一對(duì)光束。通過(guò)光閘224a來(lái)橫斷用于生成信號(hào)光束S的光束。
由非偏振光束分束器220a分束出的另一光束入射到偏振光束分束器220b上，并被分束為參考光束R和臨時(shí)光束A。參考光束R通過(guò)多個(gè)反射鏡226入射到交疊光學(xué)系統(tǒng)240上。
通過(guò)輔助光束分束光學(xué)系統(tǒng)230將臨時(shí)光束A分束為第一輔助光束A1和第二輔助光束A2。第一輔助光束A1和第二輔助光束A2入射到交疊光學(xué)系統(tǒng)240上并與參考光束R相交疊。通過(guò)折射鏡250將交疊的第一輔助光束A1和第二輔助光束A2以及參考光束R導(dǎo)向聚焦光學(xué)系統(tǒng)260。
參考光束R以及第一輔助光束A1和第二輔助光束A2通過(guò)聚焦光學(xué)系統(tǒng)260入射到記錄介質(zhì)D上。利用形成在記錄介質(zhì)D上的干涉圖案將入射到記錄介質(zhì)D上的參考光束R轉(zhuǎn)換為再現(xiàn)光束。通過(guò)記錄介質(zhì)D的再現(xiàn)光束以及第一輔助光束A1和第二輔助光束A2入射到讀出光學(xué)系統(tǒng)270上。
通過(guò)讀出光束分束器272將入射到讀出光學(xué)系統(tǒng)270上的再現(xiàn)光束以及第一輔助光束A1和第二輔助光束A2彼此分離開。通過(guò)再現(xiàn)光束檢測(cè)器274來(lái)讀出再現(xiàn)光束，通過(guò)輔助光束檢測(cè)器276來(lái)讀出第一輔助光束A1和第二輔助光束A2。
采用由輔助光束檢測(cè)器276檢測(cè)到的第一輔助光束A1和第二輔助光束A2的強(qiáng)度和位置作為讀出參考光束R的入射角和記錄介質(zhì)D的傾角的數(shù)據(jù)。
下面將描述用于在上述光學(xué)信息再現(xiàn)裝置和光學(xué)信息記錄/再現(xiàn)裝置中校正記錄介質(zhì)的傾斜誤差的方法。以光學(xué)信息再現(xiàn)裝置中的附圖標(biāo)記來(lái)指示構(gòu)件。這些構(gòu)件也可通過(guò)光學(xué)信息記錄/再現(xiàn)裝置中的附圖標(biāo)記來(lái)指示。另選的是，它們可以包括在本發(fā)明的變型例中。
將參照?qǐng)D4來(lái)描述根據(jù)示例性實(shí)施例的光學(xué)信息再現(xiàn)方法。
如圖4所示，在光學(xué)信息再現(xiàn)方法中，參考光束R入射到記錄介質(zhì)D上。第一輔助光束A1和第二輔助光束A2可隨入射到記錄介質(zhì)D上的參考光束R一起入射(光束輸入步驟(S110))。
按照角度復(fù)用方法在記錄介質(zhì)D上形成全息干涉圖案以產(chǎn)生光束的衍射。第一輔助光束A1和第二輔助光束A2入射到記錄介質(zhì)D上的同一位置處。入射的第一輔助光束A1和第二輔助光束A2的強(qiáng)度應(yīng)盡可能地彼此相等或者在誤差范圍內(nèi)彼此相等。
入射到記錄介質(zhì)D上的第一輔助光束A1和第二輔助光束A2在通過(guò)記錄介質(zhì)D的同時(shí)由形成在記錄介質(zhì)D上的干涉圖案衍射。通過(guò)輔助光束檢測(cè)器176來(lái)檢測(cè)被衍射的第一輔助光束A1和第二輔助光束A2(檢測(cè)步驟(S120))。在檢測(cè)第一輔助光束A1和第二輔助光束A2時(shí)，測(cè)量第一輔助光束A1和第二輔助光束A2的光強(qiáng)和位置。利用設(shè)置在輔助光束檢測(cè)器176上的多個(gè)光電二極管P1、...、和Pn來(lái)感測(cè)第一輔助光束A1和第二輔助光束A2(參見圖9和圖10)。
當(dāng)完全讀出第一輔助光束A1和第二輔助光束A2時(shí)，將第一輔助光束A1和第二輔助光束A2的讀出信息與第一輔助光束A1和第二輔助光束A2的先前設(shè)定信息進(jìn)行比較，以確定其間的差值是否小于設(shè)定誤差值(比較步驟(S130))。設(shè)定誤差值是滿足最佳工作狀態(tài)的值，并可預(yù)先將與除設(shè)定誤差值之外的差值相關(guān)聯(lián)的工作狀態(tài)存儲(chǔ)在查找表中。
當(dāng)差值小于設(shè)定誤差值時(shí)，進(jìn)行通過(guò)將參考光束R輸入到記錄介質(zhì)110而再現(xiàn)光學(xué)信息的處理。當(dāng)差值大于設(shè)定誤差值時(shí)，判定由記錄介質(zhì)D的傾角確定的參考光束R的入射角不是“布拉格角”，由此記錄介質(zhì)D的傾角不正確(判斷步驟(S140))。
通過(guò)重復(fù)地將第一輔助光束A1和第二輔助光束A2輸入到同一位置并且重復(fù)地將檢測(cè)到的值與設(shè)定誤差值進(jìn)行比較，可以更準(zhǔn)確地確定存儲(chǔ)介質(zhì)D的傾角。
通過(guò)將第一輔助光束A1和第二輔助光束A2的檢測(cè)到的值與設(shè)定值進(jìn)行比較，設(shè)置了參考光束R的入射角(入射角設(shè)置步驟(S150))。通過(guò)將隨參考光束R一同入射的第一輔助光束A1和第二輔助光束A2的光強(qiáng)進(jìn)行比較，可以計(jì)算參考光束R的入射角。通過(guò)第一輔助光束A1和第二輔助光束A2的比較，可基于第一輔助光束A1與第二輔助光束A2之間出現(xiàn)小差值或最小差值的位置來(lái)確定參考光束R的入射角。
對(duì)記錄介質(zhì)D的傾斜誤差進(jìn)行校正以形成參考光束R的預(yù)設(shè)入射角(校正步驟(S160))?？赏ㄟ^(guò)對(duì)記錄介質(zhì)D的傾角進(jìn)行校正或者對(duì)參考光束R的入射角進(jìn)行校正來(lái)執(zhí)行對(duì)記錄介質(zhì)D的傾斜誤差的校正。
將參照?qǐng)D5來(lái)詳細(xì)描述光學(xué)信息再現(xiàn)方法的光束輸入步驟(S110)。
在光束輸入步驟(S110)中，通過(guò)傾斜入射到記錄介質(zhì)D上的參考光束R(或者第一輔助光束A1和第二輔助光束A2)來(lái)掃描按照角度復(fù)用方法存儲(chǔ)在參考光束R入射的位置處的光學(xué)信息(掃描步驟(S112))。
假設(shè)入射到記錄介質(zhì)D上的參考光束R以及第一輔助光束A1和第二輔助光束A2具有相同的光強(qiáng)。“θ”表示第一輔助光束A1和第二輔助光束A2入射到記錄介質(zhì)D上的角度。
圖6和圖7中示出了掃描到的光學(xué)信息的光強(qiáng)-角度選擇曲線。
圖6是例示了當(dāng)沒(méi)有復(fù)用存儲(chǔ)在記錄介質(zhì)中的光學(xué)信息時(shí)的光強(qiáng)-角度選擇曲線的示意圖。如圖所示，當(dāng)以相同角度入射的第一輔助光束A1和第二輔助光束A2的光強(qiáng)位于峰值曲線的兩個(gè)斜坡上的相同位置處時(shí)，記錄介質(zhì)D的傾角被形成為使得入射到記錄介質(zhì)D上的參考光束R的衍射效率最大，這意味著由記錄介質(zhì)D的傾角確定的參考光束R的入射角位于“布拉格角”。
圖7是例示了當(dāng)復(fù)用存儲(chǔ)在記錄介質(zhì)中的光學(xué)信息時(shí)的光強(qiáng)-角度選擇曲線的示意圖。如圖所示，當(dāng)以相同角度入射的第一輔助光束A1和第二輔助光束A2的光強(qiáng)以預(yù)定差值t定位時(shí)，由記錄介質(zhì)D的傾角確定的參考光束R的入射角不位于“布拉格角”處，這意味著參考光束R的衍射效率降低。
下面參照?qǐng)D7來(lái)進(jìn)行描述。通過(guò)利用角度復(fù)用方法來(lái)掃描以角度復(fù)用方法存儲(chǔ)在記錄介質(zhì)D中的光學(xué)信息(掃描步驟(S112))。將掃描到的光學(xué)信息中具有最大光強(qiáng)的光學(xué)信息的位置設(shè)置為基準(zhǔn)位置Rmax(基準(zhǔn)位置設(shè)置步驟(S114))。
采用基準(zhǔn)位置Rmax來(lái)設(shè)置掃描到的光學(xué)信息中用作基準(zhǔn)的光學(xué)信息?；鶞?zhǔn)位置Rmax用作再現(xiàn)經(jīng)角度復(fù)用的信息中的其他光學(xué)信息的基準(zhǔn)。
在設(shè)置光學(xué)信息的基準(zhǔn)位置Rmax之后，基于基準(zhǔn)位置Rmax來(lái)設(shè)置再現(xiàn)光束的信號(hào)區(qū)域1(信號(hào)區(qū)域設(shè)置步驟(S116))。信號(hào)區(qū)域1用于通過(guò)根據(jù)基準(zhǔn)位置Rmax排除在經(jīng)角度復(fù)用的多條光學(xué)信息之間生成的噪聲而容易地在經(jīng)角度復(fù)用的多條光學(xué)信息之間移動(dòng)。
信號(hào)區(qū)域1可由先前針對(duì)基準(zhǔn)位置Rmax設(shè)置的恒定值k來(lái)確定。恒定值k是0和1之間的值，信號(hào)區(qū)域1中的再現(xiàn)光束的位置始終低于基準(zhǔn)位置Rmax。恒定值k可依據(jù)裝置的設(shè)置狀態(tài)而改變，并可設(shè)置為依據(jù)掃描到的光學(xué)信息的平均光強(qiáng)而可變。
在如上所述設(shè)置基準(zhǔn)位置Rmax時(shí)，可通過(guò)利用第一輔助光束A1和第二輔助光束A2的對(duì)應(yīng)于基準(zhǔn)位置Rmax的最大光強(qiáng)A1max和A2max來(lái)逆向地確定基準(zhǔn)位置Rmax。
由于第一輔助光束的基準(zhǔn)位置A1max與第二輔助光束的基準(zhǔn)位置A2max之間存在恒定間隙，所以可通過(guò)讀出第一輔助光束的基準(zhǔn)位置A1max與第二輔助光束的基準(zhǔn)位置A2max來(lái)逆向地計(jì)算基準(zhǔn)位置Rmax。
在利用第一輔助光束和第二輔助光束的基準(zhǔn)位置A1max和A2max來(lái)確定基準(zhǔn)位置Rmax時(shí)，將同時(shí)滿足R＜k*Rmax且A1＜k*A1max及A2＜k*A2max并且滿足Rmax＞A1max和Rmax＞A2max且A1max＝A2max的位置設(shè)置為基準(zhǔn)位置Rmax。
對(duì)基準(zhǔn)位置Rmax的逆向確定可用來(lái)在再現(xiàn)光學(xué)信息時(shí)當(dāng)參考光束R由于各種誤差或外部影響而偏離特定光學(xué)信息時(shí)找出再現(xiàn)的光學(xué)信息。
按照這種方式，完成了將參考光束R輸入到信號(hào)區(qū)域1的光束輸入步驟(S110)。
下面將參照?qǐng)D8和圖9來(lái)詳細(xì)描述光學(xué)信息再現(xiàn)方法的檢測(cè)步驟(S120)。
通過(guò)輔助光束檢測(cè)器176來(lái)檢測(cè)通過(guò)記錄介質(zhì)D的第一輔助光束A1和第二輔助光束A2。輔助光束檢測(cè)器176包括多個(gè)光電二極管P1、...、和Pn，并且通過(guò)將這些光電二極管P1、...、和Pn劃分為多個(gè)檢測(cè)單元(U1、...、和Un)來(lái)檢測(cè)第一輔助光束A1和第二輔助光束A2(檢測(cè)單元?jiǎng)澐植襟E(S122)；參見圖9和圖10)。
檢測(cè)單元U1、...、和Un檢測(cè)通過(guò)記錄介質(zhì)D的第一輔助光束A1和第二輔助光束A2，從而從檢測(cè)單元U1、...、和Un中找出具有最大檢測(cè)值的檢測(cè)單元和具有次最大值的檢測(cè)單元U2。在找出具有最大檢測(cè)值的檢測(cè)單元和具有次最大值的檢測(cè)單元U2之后，將檢測(cè)單元U1和U2的檢測(cè)值相互比較(檢測(cè)值比較步驟(S124))。
由于存在第一輔助光束A1和第二輔助光束A2中的每一個(gè)都準(zhǔn)確地入射到一個(gè)光電二極管Pn上的情況以及一個(gè)輔助光束A1或A2以交疊的方式入射到兩個(gè)光電二極管Pn和Pn+1上的情況，所以需要對(duì)檢測(cè)單元Un進(jìn)行設(shè)置。
可能出現(xiàn)如圖9所示由一個(gè)光電二極管Pn來(lái)檢測(cè)第一輔助光束A1和第二輔助光束A2中的每一個(gè)的情況，以及由多個(gè)光電二極管Pn和Pn+1按照交疊的方式來(lái)檢測(cè)輔助光束A1和A2中的一個(gè)或更多個(gè)的情況。
當(dāng)由一個(gè)光電二極管來(lái)檢測(cè)第一輔助光束A1和第二輔助光束A2之一時(shí)，從排列在輔助光束檢測(cè)器176中的光電二極管P1、...、和Pn中選擇具有最大檢測(cè)值的光電二極管(下文中稱作“P2”)。將光電二極管P2和位于光電二極管P2的兩側(cè)的兩個(gè)光電二極管設(shè)置為第一檢測(cè)單元U1，并且通過(guò)將3個(gè)相鄰光電二極管結(jié)合起來(lái)而將光電二極管劃分為檢測(cè)單元U2、...、和Un。
計(jì)算檢測(cè)單元U1和U2的光強(qiáng)，然后找出具有最大光強(qiáng)的檢測(cè)單元U1和具有次最大光強(qiáng)的檢測(cè)單元U2。然后，將第一檢測(cè)單元U1的光強(qiáng)與第二檢測(cè)單元U2的光強(qiáng)相比較。
如圖10所示，當(dāng)輔助光束A1和A2以交疊的方式聚焦在一個(gè)或更多個(gè)光電二極管P1、...、和Pn上時(shí)，通過(guò)按照與將輔助光束A1和A2聚焦到一個(gè)光電二極管上相同的方式將光電二極管P1、...、和Pn劃分為檢測(cè)單元U2、...和Un，可以測(cè)量第一輔助光束A1和第二輔助光束A2的光強(qiáng)。
測(cè)量由輔助光束檢測(cè)器176檢測(cè)到的第一輔助光束A1和第二輔助光束A2之間的距離d。通過(guò)計(jì)算檢測(cè)到最大光強(qiáng)的光電二極管與檢測(cè)到次最大光強(qiáng)的光電二極管之間的距離，可獲得第一輔助光束A1與第二輔助光束A2之間的距離。可以比第一輔助光束A1與第二輔助光束A2之間的預(yù)設(shè)距離更準(zhǔn)確地確定第一輔助光束A1與第二輔助光束A2之間的檢測(cè)距離。
當(dāng)記錄介質(zhì)D的傾角太大時(shí)，由于第一輔助光束A1和第二輔助光束A2之一可能偏離輔助光束檢測(cè)器176的區(qū)域，所以要測(cè)量第一輔助光束A1和第二輔助光束A2之間的距離。在這種情況下，輔助光束檢測(cè)器176可檢測(cè)一個(gè)輔助光束和由輔助光束檢測(cè)器176檢測(cè)到的另一光束(例如，在衍射時(shí)生成的噪聲光束)作為輔助光束。
按照這種方式，通過(guò)利用響應(yīng)于參考光束R以及第一輔助光束A1和第二輔助光束A2再現(xiàn)的光束，可以計(jì)算入射到記錄介質(zhì)D上的參考光束R的入射角或者參考光束R所入射到的記錄介質(zhì)D的傾角。
可以基于入射到記錄介質(zhì)D上的參考光束R的計(jì)算出的入射角或者參考光束R所入射到的記錄介質(zhì)D的計(jì)算出的傾角，來(lái)控制參考光束R的入射角或記錄介質(zhì)D的傾角。
如前所述，在根據(jù)本發(fā)明示例性實(shí)施例的光學(xué)信息再現(xiàn)裝置、光學(xué)信息記錄/再現(xiàn)裝置以及光學(xué)信息再現(xiàn)方法中，通過(guò)使得參考光束和一對(duì)輔助光束通過(guò)記錄介質(zhì)、檢測(cè)通過(guò)記錄介質(zhì)的參考光束和輔助光束以確定記錄介質(zhì)的傾角、以及確定是否出現(xiàn)傾斜誤差，可以來(lái)校正傾斜誤差。
權(quán)利要求
1.一種光學(xué)信息再現(xiàn)裝置，該光學(xué)信息再現(xiàn)裝置包括光源；分束器，其將從所述光源發(fā)射的光束分束為參考光束和臨時(shí)光束；臨時(shí)光束分束器，其將所述臨時(shí)光束分束為一對(duì)輔助光束；入射光學(xué)系統(tǒng)，其向記錄有光學(xué)信息的記錄介質(zhì)輸入所述參考光束和所述輔助光束；再現(xiàn)光束檢測(cè)器，其檢測(cè)響應(yīng)于所述參考光束而再現(xiàn)的再現(xiàn)光束；以及輔助光束檢測(cè)器，其檢測(cè)由所述光學(xué)信息衍射的所述輔助光束的光強(qiáng)，以讀出所述記錄介質(zhì)的傾角。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)信息再現(xiàn)裝置，其中，所述再現(xiàn)光束檢測(cè)器檢測(cè)響應(yīng)于所述參考光束而再現(xiàn)的再現(xiàn)光束、將所述再現(xiàn)光束具有最大光強(qiáng)的位置設(shè)置為基準(zhǔn)位置、并基于所述基準(zhǔn)位置來(lái)設(shè)置信號(hào)區(qū)域。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光學(xué)信息再現(xiàn)裝置，其中，所述輔助光束檢測(cè)器將入射到所述信號(hào)區(qū)域上的所述一對(duì)輔助光束的光強(qiáng)相互進(jìn)行比較，并設(shè)置所述參考光束的入射角。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的光學(xué)信息再現(xiàn)裝置，其中，將所述參考光束的入射角設(shè)置為使得所述輔助光束之間的光強(qiáng)差減小。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)信息再現(xiàn)裝置，其中，所述輔助光束相對(duì)于所述參考光束成一傾角入射到所述記錄介質(zhì)上的不同位置處。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光學(xué)信息再現(xiàn)裝置，其中，記錄在所述記錄介質(zhì)中的光學(xué)信息是全息干涉圖案，并且所述輔助光束入射到所述參考光束入射的位置處，并隨所述參考光束一同被衍射。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)信息再現(xiàn)裝置，其中，所述參考光束和所述輔助光束入射到所述記錄介質(zhì)上的同一位置處，并且其中，所述光學(xué)信息再現(xiàn)裝置還包括分束器，該分束器將從所述記錄介質(zhì)再現(xiàn)的所述再現(xiàn)光束與通過(guò)所述記錄介質(zhì)的所述輔助光束分開。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的光學(xué)信息再現(xiàn)裝置，其中，所述輔助光束檢測(cè)器包括沿控制所述參考光束的傾斜方向排列的多個(gè)光電二極管。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的光學(xué)信息再現(xiàn)裝置，其中，所述光電二極管的排列長(zhǎng)度大于所述輔助光束的入射位置之間的距離和在控制所述傾角時(shí)所述參考光束的入射位置的移動(dòng)距離的總長(zhǎng)度。
10.一種光學(xué)信息再現(xiàn)方法，該光學(xué)信息再現(xiàn)方法包括以下步驟向存儲(chǔ)有復(fù)用的光學(xué)信息的記錄介質(zhì)輸入?yún)⒖脊馐洼o助光束；檢測(cè)由光學(xué)信息衍射的輔助光束，來(lái)測(cè)量所述記錄介質(zhì)的傾角；將所述記錄介質(zhì)的所測(cè)量的傾角與設(shè)定值進(jìn)行比較；確定所述記錄介質(zhì)的傾角；根據(jù)所述記錄介質(zhì)的所確定的傾角，來(lái)設(shè)置所述參考光束的入射角；并且，根據(jù)所述參考光束的所設(shè)定的入射角來(lái)校正所述參考光束的入射角。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的光學(xué)信息再現(xiàn)方法，其中，輸入?yún)⒖脊馐洼o助光束的所述步驟包括以下步驟利用所述參考光束掃描所述記錄介質(zhì)的光學(xué)信息；根據(jù)掃描到的光學(xué)信息來(lái)設(shè)置響應(yīng)于所述參考光束而發(fā)射最大光強(qiáng)的基準(zhǔn)位置；以及根據(jù)所述基準(zhǔn)位置來(lái)設(shè)置響應(yīng)于所述參考光束而發(fā)射預(yù)定光強(qiáng)的信號(hào)區(qū)域。
12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的光學(xué)信息再現(xiàn)方法，其中，檢測(cè)輔助光束的所述步驟包括以下步驟檢測(cè)多個(gè)輔助光束；將具有最大檢測(cè)值的輔助光束與具有次最大檢測(cè)值的輔助光束相互進(jìn)行比較；并且基于比較結(jié)果計(jì)算所述記錄介質(zhì)的傾角。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的光學(xué)信息再現(xiàn)方法，其中，校正參考光束的入射角的所述步驟包括如下步驟將所述參考光束的入射角設(shè)置為使得所比較的輔助光束之間的光強(qiáng)差減小。
14.一種光學(xué)信息再現(xiàn)方法，該光學(xué)信息再現(xiàn)方法包括以下步驟向存儲(chǔ)有復(fù)用的光學(xué)信息的記錄介質(zhì)輸入?yún)⒖脊馐?；在傾斜所述參考光束的同時(shí)掃描所述光學(xué)信息；根據(jù)掃描到的光學(xué)信息來(lái)檢測(cè)響應(yīng)于所述參考光束而發(fā)射最大光強(qiáng)的光學(xué)信息，并且將發(fā)射最大光強(qiáng)的所述光學(xué)信息的位置設(shè)置為基準(zhǔn)位置；根據(jù)所述基準(zhǔn)位置設(shè)置信號(hào)區(qū)域；以及根據(jù)所述信號(hào)區(qū)域中的光學(xué)信息相對(duì)于所述基準(zhǔn)位置的位置來(lái)控制所述參考光束的入射角。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的光學(xué)信息再現(xiàn)方法，其中，輸入?yún)⒖脊馐乃霾襟E包括以下步驟將多個(gè)輔助光束輸入到所述信號(hào)區(qū)域中與所述參考光束相同的位置處；檢測(cè)所述輔助光束的光強(qiáng)；以及通過(guò)將所述輔助光束的光強(qiáng)相互進(jìn)行比較來(lái)計(jì)算所述參考光束的入射角。
16.根據(jù)權(quán)利要求14所述的光學(xué)信息再現(xiàn)方法，其中，計(jì)算參考光束的入射角的步驟包括如下步驟通過(guò)將具有最大檢測(cè)值的輔助光束與具有次最大檢測(cè)值的輔助光束相互進(jìn)行比較，來(lái)計(jì)算所述參考光束的入射角。
17.一種光學(xué)信息再現(xiàn)方法，該光學(xué)信息再現(xiàn)方法包括以下步驟向存儲(chǔ)有光學(xué)信息的記錄介質(zhì)輸入多個(gè)輔助光束；檢測(cè)由所述記錄介質(zhì)衍射的輔助光束；將檢測(cè)到的輔助光束與所述輔助光束的設(shè)定值進(jìn)行比較；以及根據(jù)比較結(jié)果計(jì)算所述記錄介質(zhì)的傾角。
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的光學(xué)信息再現(xiàn)方法，其中，比較檢測(cè)到的輔助光束的步驟包括如下步驟將具有最大檢測(cè)值的輔助光束與具有次最大檢測(cè)值的輔助光束相互進(jìn)行比較。
19.根據(jù)權(quán)利要求17所述的光學(xué)信息再現(xiàn)方法，其中，輸入多個(gè)輔助光束的所述步驟包括如下步驟向存儲(chǔ)有光學(xué)信息的所述記錄介質(zhì)輸入用于再現(xiàn)光學(xué)信息的參考光束；在傾斜所述參考光束的同時(shí)掃描所述光學(xué)信息；根據(jù)掃描到的光學(xué)信息檢測(cè)響應(yīng)于所述參考光束而發(fā)射最大光強(qiáng)的光學(xué)信息，并將發(fā)射最大光強(qiáng)的所述光學(xué)信息的位置設(shè)置為基準(zhǔn)位置；以及基于所述基準(zhǔn)位置設(shè)置信號(hào)區(qū)域。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種光學(xué)信息再現(xiàn)裝置及利用該裝置的光學(xué)信息再現(xiàn)方法。所述光學(xué)信息再現(xiàn)裝置包括光源；分束器，其將從所述光源發(fā)射的光束分束為參考光束和臨時(shí)光束；臨時(shí)光束分束器，其將所述臨時(shí)光束分束為一對(duì)輔助光束；入射光學(xué)系統(tǒng)，其向記錄有光學(xué)信息的記錄介質(zhì)輸入所述參考光束和所述輔助光束；再現(xiàn)光束檢測(cè)器，其檢測(cè)響應(yīng)于所述參考光束而再現(xiàn)的再現(xiàn)光束，將具有最大光強(qiáng)的再現(xiàn)光束的位置設(shè)置為基準(zhǔn)位置，并且根據(jù)所述參考光束來(lái)設(shè)置信號(hào)區(qū)域；以及輔助光束檢測(cè)器，其將入射到所述信號(hào)區(qū)域的輔助光束的光強(qiáng)相互進(jìn)行比較并設(shè)置所述參考光束的入射角。因此，可以在從記錄介質(zhì)再現(xiàn)數(shù)據(jù)時(shí)檢測(cè)傾斜誤差并校正該傾斜誤差。
文檔編號(hào)G11B7/00GK101051211SQ20071008918
公開日2007年10月10日 申請(qǐng)日期2007年3月21日 優(yōu)先權(quán)日2006年4月6日
發(fā)明者丁奎一 申請(qǐng)人:大宇電子株式會(huì)社