專利名稱：光記錄介質(zhì)的記錄裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種光記錄介質(zhì)的記錄裝置，更特別地，涉及一種光記錄介質(zhì)的記錄裝置，其中當(dāng)照射激光以在光記錄介質(zhì)上記錄信息時，用作激光強度調(diào)整的指標(biāo)的評價函數(shù)響應(yīng)激光的反射光進行調(diào)整。
背景技術(shù)：
相關(guān)申請的交叉引用本發(fā)明包括了與2006年1月25日向日本專利局提交的日本專利申請JP2006-015867相關(guān)的主題，在此將其全部內(nèi)容引入作為參考。
在相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域中已知各種光記錄介質(zhì)，例如其上可以記錄數(shù)字信息的光盤。
特別地，作為使用有機染料形成的其上可以一次性記錄數(shù)字信息的一次寫入光記錄介質(zhì)，已知CD-R(可記錄光盤)、DVD+R、DVD-R(可記錄數(shù)字通用光盤)等等。同時，作為使用相變型材料形成的其上可以重寫數(shù)據(jù)的可擦除型光記錄介質(zhì)，已知CD-RW(可重寫光盤)、DVD-RW(可重寫數(shù)字通用光盤)、DVD-RAM(數(shù)字通用光盤-隨機存取存儲器)、BD-RE(可重寫藍光盤)等等。
盡管所述光記錄介質(zhì)通常在嚴格管理的生產(chǎn)線上制造，然而有時會出現(xiàn)不同制造商的制造方法間差異導(dǎo)致的染料成分或合金成分的分散或者制造批量之間的差異。
特別地，使用有機染料形成的一次寫入光記錄介質(zhì)有時遭受翹曲或表面撓曲，或者所述翹曲或表面撓曲的狀態(tài)有時根據(jù)制造過程或用戶的使用狀態(tài)或存儲狀態(tài)而發(fā)生變化。需要注意的是，光記錄介質(zhì)的翹曲是光記錄介質(zhì)變形為像展開的傘形的狀態(tài)。同時，光記錄介質(zhì)的表面撓曲是當(dāng)旋轉(zhuǎn)光記錄介質(zhì)時，響應(yīng)旋轉(zhuǎn)角度，其記錄表面像波浪一樣橫向撓曲的狀態(tài)。
如果以這種方式發(fā)生記錄層或光記錄介質(zhì)的染料或合金成分的分散，或者光記錄介質(zhì)的翹曲或表面撓曲，那么即使光記錄介質(zhì)的制造商和母模是相同的，在光記錄介質(zhì)的記錄表面上的信息的記錄狀態(tài)也變得不同。因此，在再現(xiàn)信息時，不是總能得到再現(xiàn)信號的固有品質(zhì)，導(dǎo)致難以進行數(shù)據(jù)的解碼。
因此，作為調(diào)整用于在光記錄介質(zhì)上進行記錄的激光的強度以便再現(xiàn)信號的品質(zhì)可保持固定的方法，已知的各種控制方法包括OPC(最佳功率校準)和運行OPC。
根據(jù)OPC，在記錄數(shù)據(jù)之前，向作為光記錄介質(zhì)的試寫入?yún)^(qū)域的PCA(功率校準區(qū)域)照射預(yù)定圖案的激光以執(zhí)行試寫入。然后，再現(xiàn)以這種方式寫入的數(shù)據(jù)，并根據(jù)某一評價基準確定最優(yōu)的激光強度，從而提高記錄品質(zhì)。
同時，根據(jù)運行OPC，當(dāng)向光記錄介質(zhì)照射用于記錄的激光以記錄所需信息時，檢測激光的反射光，并響應(yīng)檢測到的反射光的強度，校正要照射的激光強度。
應(yīng)用OPC和運行OPC，從而一旦開始在光記錄介質(zhì)上記錄信息，光記錄介質(zhì)的PCA中的OPC就執(zhí)行一次，并以O(shè)PC確定的激光強度開始在光記錄介質(zhì)上記錄信息。以后，激光強度由運行OPC調(diào)整為適當(dāng)?shù)臓顟B(tài)。
需要注意的是，光記錄介質(zhì)可能遭受在制造過程中形成記錄介質(zhì)期間其內(nèi)周和外周部分分散的困擾，并且激光的最佳強度常常沿著光記錄介質(zhì)的直徑方向不同。
為了反映在光記錄介質(zhì)的內(nèi)周和外周部分的激光強度的適當(dāng)差異，當(dāng)執(zhí)行運行OPC時，使用評價函數(shù)。
評價函數(shù)由特性曲線表示，該特性曲線表示關(guān)于激光強度的坑的深度信息。在運行OPC中，激光強度根據(jù)該特性曲線進行調(diào)整，從而信息可以以高品質(zhì)寫入光記錄介質(zhì)。
需要注意的是，盡管在運行OPC中，檢測在用激光在光記錄介質(zhì)上記錄信息時激光的反射光，以執(zhí)行激光強度的調(diào)整，然而由于檢測到的反射光不同于讀出記錄信息時的反射光，因此可能反射光不能正確地反映記錄狀態(tài)。
因此，近來還存在以下描述的對策，從而可以應(yīng)用具有更適當(dāng)強度的激光執(zhí)行記錄過程。具體而言，當(dāng)正在進行在光記錄介質(zhì)上的信息記錄過程時，中斷該過程，并再現(xiàn)在所述中斷之前記錄的信息，基于再現(xiàn)所述記錄過程的再現(xiàn)時的反射光的檢測結(jié)果，執(zhí)行激光強度的調(diào)整。描述的這種方法例如在日本專利公開No.2004-234812中公開。

發(fā)明內(nèi)容
然而，即使在光記錄介質(zhì)上的信息記錄過程被中斷，并且然后應(yīng)用強度調(diào)整的激光重新啟動，由于運行OPC包括根據(jù)用于記錄的激光的反射光進行的激光強度調(diào)整，因此還存在這樣的可能性重啟之后，激光強度可能偏離通過運行OPC校正的適當(dāng)強度。因此，存在這樣的可能性如果記錄過程被中斷，頻繁地重復(fù)激光的重新調(diào)整和記錄過程的重新啟動，記錄過程的處理時間可能變得非常長。
然而，由于用于運行OPC的適當(dāng)?shù)脑u價函數(shù)根據(jù)待用光記錄介質(zhì)的類型而不同，因此優(yōu)選地為每一種類型的光記錄介質(zhì)都準備適當(dāng)?shù)暮瘮?shù)。然而，由于光記錄介質(zhì)的制造分散，所準備的評價函數(shù)可能并不適于光記錄介質(zhì)。
因此，需要提供一種光記錄介質(zhì)的記錄裝置，可以通過該記錄裝置執(zhí)行記錄過程，同時盡可能長時間地保持適當(dāng)?shù)募す鈴姸取?br> 根據(jù)本發(fā)明的實施例，提供了一種光記錄介質(zhì)的記錄裝置，包括光拾取部分，配置成向光記錄介質(zhì)照射激光以在光記錄介質(zhì)上執(zhí)行信息記錄或從中再現(xiàn)信息；控制部分，配置成控制光拾取部分；以及存儲部分，配置成預(yù)先存儲評價函數(shù)，該評價函數(shù)用于在將要在光記錄介質(zhì)上記錄信息時，響應(yīng)于激光的反射光調(diào)整激光強度；控制部分可用于在記錄過程的中途中斷在光記錄介質(zhì)上的信息記錄過程，并再現(xiàn)中斷之前記錄的信息，然后基于再現(xiàn)時的反射光檢測結(jié)果調(diào)整該評價函數(shù)。
在該光記錄介質(zhì)記錄裝置中，在記錄過程的中途中斷在光記錄介質(zhì)上的信息記錄過程，并再現(xiàn)在中斷之前記錄的信息。此后，基于再現(xiàn)時反射光的檢測結(jié)果調(diào)整評價函數(shù)。因此，在恢復(fù)記錄過程之后，可以基于適當(dāng)?shù)脑u價函數(shù)調(diào)整激光強度，并可以在光記錄介質(zhì)的全部區(qū)域?qū)崿F(xiàn)穩(wěn)定的高品質(zhì)的記錄過程。
該光記錄介質(zhì)記錄裝置可以被配置成在存儲部分中預(yù)先存儲多個評價函數(shù)，且控制部分通過基于再現(xiàn)時反射光的檢測結(jié)果選擇評價值之一，來調(diào)整評價函數(shù)。
在該光記錄介質(zhì)記錄裝置中，由于預(yù)先存儲了多個評價函數(shù)，并通過基于再現(xiàn)時反射光的檢測結(jié)果選擇所存儲的評價值之一，來調(diào)整評價函數(shù)。因此，即使光記錄介質(zhì)具有一些制造分散，也可以響應(yīng)于該分散使用適當(dāng)?shù)脑u價函數(shù)。
在這種情況下，光記錄介質(zhì)的記錄可以被配置成執(zhí)行在光記錄介質(zhì)上的信息記錄過程之前，控制部分使得多個測試數(shù)據(jù)記錄在光記錄介質(zhì)上提供的試寫入?yún)^(qū)域中，同時改變激光強度，并使用存儲在存儲部分中的評價函數(shù)中預(yù)定的一個評價記錄狀態(tài)，而不管光記錄介質(zhì)的類型，并且當(dāng)執(zhí)行在光記錄介質(zhì)上的信息記錄過程時根據(jù)再現(xiàn)測試數(shù)據(jù)時反射光的檢測結(jié)果確定激光強度。
在該光記錄介質(zhì)記錄裝置中，在執(zhí)行在光記錄介質(zhì)上的信息記錄過程之前，將多個測試數(shù)據(jù)記錄在光記錄介質(zhì)上提供的試寫入?yún)^(qū)域中，同時改變激光強度。然后，不管光記錄介質(zhì)的類型，應(yīng)用存儲部分中存儲的預(yù)定評價函數(shù)之一評價記錄狀態(tài)。此后，當(dāng)執(zhí)行在光記錄介質(zhì)上的信息記錄過程時，根據(jù)再現(xiàn)測試數(shù)據(jù)時反射光的檢測結(jié)果確定激光強度。因此，可以應(yīng)用光記錄介質(zhì)的試寫入?yún)^(qū)域有效地指定適當(dāng)?shù)募す鈴姸取?br> 或者，該光記錄介質(zhì)記錄裝置可以配置成在執(zhí)行在光記錄介質(zhì)上的信息記錄過程之前，控制部分使得多個測試數(shù)據(jù)記錄在光記錄介質(zhì)上提供的試寫入?yún)^(qū)域中，同時改變激光強度，并使用存儲在存儲部分中的預(yù)定評價函數(shù)中與光記錄介質(zhì)的類型相對應(yīng)的評價函數(shù)來評價記錄狀態(tài)，并根據(jù)再現(xiàn)測試數(shù)據(jù)時反射光的檢測結(jié)果，確定當(dāng)執(zhí)行在光記錄介質(zhì)上的信息記錄過程時激光的強度。
在該光記錄介質(zhì)記錄裝置中，在執(zhí)行在光記錄介質(zhì)上的信息記錄過程之前，將多個測試數(shù)據(jù)記錄在光記錄介質(zhì)上提供的試寫入?yún)^(qū)域中，同時改變激光強度。然后，使用存儲在存儲部分中的預(yù)定評價函數(shù)中與光記錄介質(zhì)的類型相應(yīng)的評價函數(shù)評價記錄狀態(tài)。此后，根據(jù)再現(xiàn)測試數(shù)據(jù)時反射光的檢測結(jié)果，確定當(dāng)執(zhí)行在光記錄介質(zhì)上的信息記錄過程時激光的強度。因此，可以應(yīng)用光記錄介質(zhì)的試寫入?yún)^(qū)域有效地指定適當(dāng)?shù)募す鈴姸取?br> 控制部分可以通過產(chǎn)生校正評價函數(shù)來調(diào)整評價函數(shù)，所述校正評價函數(shù)通過根據(jù)再現(xiàn)時反射光的檢測結(jié)果、借助于評價函數(shù)的平移或類似手段來校正評價函數(shù)而獲得。
在該光記錄介質(zhì)記錄裝置中，通過產(chǎn)生校正評價函數(shù)來調(diào)整評價函數(shù)，所述校正評價函數(shù)通過根據(jù)再現(xiàn)時反射光的檢測結(jié)果、借助于評價函數(shù)的平移或類似手段來校正評價函數(shù)而獲得。因此，預(yù)先準備的評價函數(shù)的數(shù)目可以最小化。因此，可以降低存儲部分的存儲容量，并可以期望控制部分的控制效率增強。
當(dāng)激光強度超出與在光記錄介質(zhì)上記錄信息的開始時刻的激光強度相應(yīng)的預(yù)定范圍時，控制部分可以通過根據(jù)評價函數(shù)調(diào)整激光強度來中斷記錄過程。
在該光記錄介質(zhì)記錄裝置中，當(dāng)激光強度超出與在光記錄介質(zhì)上記錄信息的開始時刻的激光強度相應(yīng)的預(yù)定范圍時，通過根據(jù)評價函數(shù)調(diào)整激光強度而中斷記錄處理。因此，可以僅僅當(dāng)需要所述中斷時，才中斷記錄過程。因此，中斷的次數(shù)可以最小化，并且記錄過程可以高效地執(zhí)行。
本發(fā)明的上述和其它特征和優(yōu)點將從以下說明和所附權(quán)利要求以及相關(guān)的附圖中變得明顯，其中附圖中相同的部件或元件由相同的附圖標(biāo)記表示。


圖1是根據(jù)本發(fā)明的實施例的光記錄介質(zhì)記錄裝置的方框圖；圖2是圖示光記錄介質(zhì)記錄裝置的光記錄介質(zhì)記錄電路的控制處理器的控制過程的流程圖，其中存在多個評價函數(shù)；圖3是圖示光記錄介質(zhì)記錄裝置中應(yīng)用的β和不對稱值的圖；圖4A和4B是圖示評價函數(shù)的控制目標(biāo)值確定方法的圖；圖5是圖示評價函數(shù)調(diào)整方法的圖，其中在光記錄介質(zhì)記錄裝置中應(yīng)用多個評價值；圖6是圖示光記錄介質(zhì)記錄裝置的光記錄介質(zhì)記錄電路的控制處理器的控制過程的流程圖，其中存在單個評價函數(shù)；以及圖7是圖示評價函數(shù)調(diào)整方法的圖，其中在光記錄介質(zhì)記錄裝置中應(yīng)用一個評價值。
具體實施例方式
根據(jù)本發(fā)明的光記錄介質(zhì)記錄裝置包括光拾取部分，配置成向光記錄介質(zhì)照射激光以在光記錄介質(zhì)上執(zhí)行信息記錄或從中再現(xiàn)信息；控制部分，配置成控制光拾取部分；以及存儲部分，配置成預(yù)先存儲評價函數(shù)，該評價函數(shù)用于當(dāng)將要在光記錄介質(zhì)上記錄信息時，響應(yīng)于激光的反射光，調(diào)整激光強度。在該光記錄介質(zhì)記錄裝置中，控制部分在記錄過程的中途中斷在光記錄介質(zhì)上信息記錄過程，并再現(xiàn)在中斷之前記錄的信息，然后基于再現(xiàn)時反射光的檢測結(jié)果，調(diào)整所述評價函數(shù)。
簡言之，基于記錄過程時的記錄狀態(tài)調(diào)整待用于運行OPC的評價函數(shù)。然后，當(dāng)恢復(fù)記錄過程時，可以基于適當(dāng)?shù)脑u價函數(shù)執(zhí)行激光強度的調(diào)整。因此，可以執(zhí)行穩(wěn)定的高品質(zhì)的記錄過程。特別地，由于評價函數(shù)被調(diào)整，因此可以對光記錄介質(zhì)的全部區(qū)域執(zhí)行高品質(zhì)的記錄過程。
以下，描述本發(fā)明的優(yōu)選實施例。圖1顯示了一種光記錄介質(zhì)記錄裝置，其包括應(yīng)用了本發(fā)明的光記錄介質(zhì)記錄電路。
參照圖1，該光記錄介質(zhì)記錄裝置包括用于驅(qū)動光記錄介質(zhì)10旋轉(zhuǎn)的主軸馬達11，以及用于向由主軸馬達11旋轉(zhuǎn)的光記錄介質(zhì)10上照射激光并從光記錄介質(zhì)10接收照射光的反射光的光拾取部分12。
主軸馬達11由伺服處理器13控制的第一馬達驅(qū)動器14驅(qū)動。
光拾取部分12包括用于向光記錄介質(zhì)10的記錄表面照射激光的激光二極管(未示出)，以及用于接收激光的反射光的多個光接收元件(未示出)。激光二極管由激光器驅(qū)動器16控制以照射具有所需強度的激光，該激光器驅(qū)動器16由用作控制部分的控制處理器15控制。
用作存儲所需評價函數(shù)的存儲部分的存儲器17連接到控制處理器15，從而控制處理器15根據(jù)存儲器17中存儲的評價函數(shù)執(zhí)行激光的強度控制。
光接收元件接收照射在光記錄介質(zhì)10的記錄表面上的激光的反射光，并輸出RF(射頻)信號。輸出的RF信號輸入至RF放大器18并被其放大，并輸入到控制處理器15和伺服處理器13。
光拾取部分12通過由伺服處理器13控制的第二馬達驅(qū)動器19控制螺紋馬達(thread motor)20，從而螺紋馬達20在光記錄介質(zhì)10的直徑方向上向后和向前移動光拾取部分12。特別地，光拾取部分12連接到螺桿21，該螺桿21為了互鎖移動而通過螺紋部件22連接于螺紋馬達20的輸出軸，使得通過螺紋馬達20旋轉(zhuǎn)螺桿21，來沿著螺桿21前后移動光拾取部分12。
進一步地，光拾取部分12可以由伺服處理器13控制的致動器驅(qū)動器23進行調(diào)整，從而調(diào)整其與光記錄介質(zhì)10的距離。
控制處理器15用作以上述方式配置的光記錄介質(zhì)記錄裝置的控制部分，該控制處理器15基于圖2中圖示的流程圖，在執(zhí)行運行OPC的同時執(zhí)行在光記錄介質(zhì)上的信息記錄過程。此處假定用作存儲部分的存儲器17中存儲有多個評價函數(shù)。進一步地，在控制部分預(yù)先設(shè)置的預(yù)定時刻執(zhí)行記錄過程的中斷。
首先，該光記錄介質(zhì)記錄裝置在開始在光記錄介質(zhì)上記錄所需信息時執(zhí)行OPC(最佳功率校準)。
在OPC中，執(zhí)行在PCA(功率校準區(qū)域)中的步進寫入(步驟S1)，其中PCA是光記錄介質(zhì)10的試寫入?yún)^(qū)域。步進寫入是這樣一個記錄過程從控制處理器15輸出預(yù)定圖案的測試數(shù)據(jù)，并且對于每一固定的時間段以固定的時間間隔改變將輸出的激光強度，以執(zhí)行對PCA的寫入。
通常于光記錄介質(zhì)10的最內(nèi)圓周部分和最外圓周部分都提供PCA。光記錄介質(zhì)10的最內(nèi)圓周部分和最外圓周部分用于，在該步進寫入期間基于將在運行OPC中應(yīng)用的各種評價函數(shù)采集數(shù)據(jù)。
在由該步進寫入進行的記錄過程結(jié)束之后，控制處理器15再現(xiàn)在各個條件寫入的測試數(shù)據(jù)，并根據(jù)再現(xiàn)信號計算β和/或?qū)ΨQ值(步驟S2)。
β和/或?qū)ΨQ值代表再現(xiàn)信號的振幅對稱的偏移量，并用從光拾取部分12中輸出的RF信號的波形(作為光記錄介質(zhì)10的再現(xiàn)結(jié)果)進行表示，如圖3中所示，通過以下表達式表示不對稱值＝[(I14H+I14L)/2-(I3H+I3L)/2]/I14β＝[(RFAv-I14L)/2-(I14H+RFAv)/2]/I14控制處理器15指定用來從計算出的β和/或不對稱值獲得最佳記錄狀態(tài)的激光強度(步驟S3)。然后，控制處理器15為各個評價函數(shù)指定目標(biāo)值，利用所述目標(biāo)值，可以輸出具有指定強度的激光(步驟S4)。
評價函數(shù)中的目標(biāo)值的指定是對激光強度的指定，使用該激光強度的指定，在通過繪制不同激光強度(功率)下的β值而獲得的β曲線上獲得了最優(yōu)β值，所述曲線如圖4A中所示。該指定進一步指定控制目標(biāo)值，借助于此，可針對該控制目標(biāo)值從圖4B中圖示的評價函數(shù)的輸出特性曲線輸出具有指定強度的激光。
進一步地，控制處理器15根據(jù)計算出的β和/或不對稱值以及指定的激光強度指定最適當(dāng)?shù)脑u價函數(shù)(步驟S5)。
在本實施例中，對于多個評價函數(shù)中的每個，執(zhí)行激光強度的指定和評價函數(shù)的指定。然而，也可以僅使用對于光記錄介質(zhì)10是適合的評價函數(shù)，來進行這種指定，所述適合的評價函數(shù)通過在開始在光記錄介質(zhì)10上記錄所需信息時，讀取記錄在光記錄介質(zhì)10上的光記錄介質(zhì)10的標(biāo)識信息、根據(jù)光記錄介質(zhì)10的類型來指定。
通過以這種方式僅使用對于光記錄介質(zhì)10是最佳的評價函數(shù)來執(zhí)行OPC，可以有效地利用PCA指定適當(dāng)?shù)募す鈴姸取?br> 或者，可以總是使用預(yù)定評價函數(shù)指定激光強度來執(zhí)行步進寫入，而不管光記錄介質(zhì)10的類型。當(dāng)總是僅僅使用預(yù)定評價函數(shù)時，可以有利于OPC的控制，并可以有效地利用PCA指定適當(dāng)?shù)募す鈴姸取?br> 在激光強度的指定和評價函數(shù)的指定之后，控制處理器15將要從光拾取部分12輸出的激光的強度設(shè)置為由OPC指定的強度，并開始在光記錄介質(zhì)10上記錄所需信息的過程(步驟S6)。
在記錄過程結(jié)束之前，控制處理器15執(zhí)行運行OPC，并根據(jù)由運行OPC指定的評價函數(shù)控制激光強度。如果不再有要記錄的信息，則控制處理器15結(jié)束記錄過程(步驟S7)。
另一方面，如果在記錄過程期間到達預(yù)先設(shè)定的預(yù)定時刻，則控制處理器15中斷記錄過程(步驟S8)。
在本實施例中，當(dāng)檢測到光拾取部分12在光記錄介質(zhì)10的直徑方向上移動預(yù)定尺寸時，在步驟S8執(zhí)行記錄過程的中斷。然而，另外，可以在每經(jīng)過預(yù)定時間段之后或者響應(yīng)于檢測到完成預(yù)定量信息的記錄，執(zhí)行所述記錄過程的中斷。
否則，可以響應(yīng)于檢測到激光強度超出預(yù)定的強度范圍，來執(zhí)行記錄過程的中斷，其中根據(jù)由運行OPC的激光強度控制根據(jù)預(yù)先指定的激光強度設(shè)定該強度范圍。
通過以這種方式根據(jù)激光強度執(zhí)行記錄過程的中斷決定，可以僅僅當(dāng)由于不正常的激光強度而決定需要中斷記錄過程時，才中斷記錄過程。因此，可以減少中斷的次數(shù)，并可以高效地執(zhí)行記錄過程。
需要注意的是，用作中斷決定的依據(jù)的強度范圍可以是根據(jù)環(huán)境要求的任意強度范圍。優(yōu)選地，參照由中斷決定中斷的激光輸出的開始時刻的強度設(shè)定該范圍。
如果在步驟S8要中斷記錄過程的時刻沒有到來，則控制處理器15將處理返回到步驟S6以進行運行OPC。
如果記錄過程在步驟S8被中斷，則控制處理器15再現(xiàn)在中斷之前記錄在光記錄介質(zhì)10上的信息(步驟S9)。然后，控制處理器15根據(jù)再現(xiàn)信號計算β和/或不對稱值(步驟S10)。
然后，如果在步驟S11確定在步驟S10得到的β和/或不對稱值落入在步驟S2得到的β和/或不對稱值的允許范圍內(nèi)，則控制處理器15將處理返回至步驟S6以恢復(fù)運行OPC。
另一方面，如果在步驟S11確定β和/或不對稱值超出該允許的范圍，則控制處理器15改變評價函數(shù)(步驟S12)。特別地，參照圖5，控制處理器15平移在中斷之前所應(yīng)用的評價函數(shù)，使得如此校正的評價函數(shù)可以通過記錄過程開始時的運行OPC目標(biāo)值和中斷后通過測量計算得出的β值之間的交叉點。然后，控制處理器15選擇存儲器17(用作存儲部分)中存儲的評價函數(shù)之一，將其作為要使用的新評價函數(shù)，該評價函數(shù)表現(xiàn)出與校正的評價函數(shù)的誤差最小。
然后，控制處理器15將處理返回至步驟S6，從而根據(jù)新的評價函數(shù)恢復(fù)運行OPC。
通過以這種方式檢測β和/或不對稱值的變化，并當(dāng)β和/或不對稱值的變化量顯著時改變評價函數(shù)，可以使用在光記錄介質(zhì)10上記錄信息的時刻具有最高可控制性的評價函數(shù)，調(diào)整激光的輸出強度。因此，可以在光記錄介質(zhì)10的全部區(qū)域上執(zhí)行具有高品質(zhì)的穩(wěn)定記錄過程。
特別地，由于預(yù)先準備多個評價函數(shù)，因此即使光記錄介質(zhì)10具有制造分散，也可以應(yīng)用對于該分散適合的記錄過程。
當(dāng)根據(jù)新的評價函數(shù)恢復(fù)在光記錄介質(zhì)10上的記錄過程時，輸出的激光強度可能突然發(fā)生變化，并使得記錄特性惡化。因此，輸出的激光強度低速變化。
控制處理器15重復(fù)從步驟S6到步驟S12的處理步驟，并當(dāng)在步驟S7檢測到記錄過程結(jié)束時結(jié)束該處理。
現(xiàn)在，參照圖6詳細描述在存儲器17中僅僅預(yù)先存儲一個評價函數(shù)時，在光記錄介質(zhì)上的信息記錄過程。需要注意的是，假定在由控制部分預(yù)先設(shè)定的預(yù)定時刻執(zhí)行對記錄處理過程的中斷，這與此前描述的應(yīng)用多個評價函數(shù)的記錄過程相似。
首先，光學(xué)記錄介質(zhì)記錄裝置通過在PCA中執(zhí)行步進寫入，在開始光記錄介質(zhì)上的所需信息記錄時執(zhí)行OPC，其中PCA是光記錄介質(zhì)10的試寫入?yún)^(qū)域(步驟T1)。
在步進寫入進行的記錄過程結(jié)束之后，控制處理器15再現(xiàn)在各種條件下寫入的測試數(shù)據(jù)，并根據(jù)再現(xiàn)信號計算β和/或不對稱值(步驟T2)。
控制處理器15指定激光強度，借助于此從計算出的β和/或不對稱值得到的最佳記錄狀態(tài)(步驟T3)。然后，控制處理器15指定可以用來輸出指定強度的激光的評價函數(shù)的目標(biāo)值(步驟T4)。
此后，控制處理器15將要從光拾取部分12輸出的激光的強度設(shè)置為OPC指定的強度，并開始在光記錄介質(zhì)10上記錄所需信息的過程(步驟T5)。
在記錄過程結(jié)束之前，控制處理器15執(zhí)行運行OPC，并根據(jù)評價函數(shù)控制激光強度。如果不再有要被記錄的信息，則控制處理器15結(jié)束記錄過程(步驟T6)。
另一方面，當(dāng)預(yù)先設(shè)定的預(yù)定時刻在記錄處理狀態(tài)中到來時，控制處理器15中斷記錄過程(步驟T7)。
如果在步驟T7中記錄過程被中斷的時刻沒有到來，則控制處理器15將處理返回至步驟T5以繼續(xù)運行OPC。
如果記錄過程在步驟T7被中斷，則控制處理器15再現(xiàn)在中斷之前記錄在光記錄介質(zhì)10上的信息(步驟T8)。然后，控制處理器15根據(jù)再現(xiàn)信號計算β和/或不對稱值(步驟T9)。
然后，如果在步驟T10確定在步驟T9得到的β和/或不對稱值落入在步驟T2中得到的β和/或不對稱值的允許范圍內(nèi)，則控制處理器15將處理返回至步驟T5以恢復(fù)運行OPC。
另一方面，如果在步驟T10確定β和/或不對稱值超出允許范圍，則控制處理器15改變評價函數(shù)。特別地，參照圖7，控制處理器15平移在中斷之前應(yīng)用的評價函數(shù)，使得如此校正的評價函數(shù)可以通過開始記錄過程時的運行OPC目標(biāo)值和中斷后通過測量計算出的β值之間的交叉點。
然后，控制處理器15設(shè)定已校正的評價函數(shù)，將其作為新的目標(biāo)值，由于該校正的評價函數(shù)，校正評價函數(shù)的β值變得與在步驟T2得到的值相等(步驟T11)。
然后，控制處理器15將處理返回至步驟T5，從而根據(jù)新的目標(biāo)值的控制目標(biāo)值恢復(fù)運行OPC。
以這種方式，在準備一個評價值的情況下，通過根據(jù)β值平移評價函數(shù)來調(diào)整可用于獲得期望β值的控制目標(biāo)值，可以在光記錄介質(zhì)10的全部區(qū)域中執(zhí)行高品質(zhì)的穩(wěn)定的記錄過程。
控制處理器15重復(fù)從步驟T5到步驟T11的處理步驟，然后當(dāng)在步驟T6檢測到記錄過程結(jié)束點時結(jié)束該處理。
雖然已經(jīng)應(yīng)用特定術(shù)語說明了本發(fā)明的優(yōu)選實施例，然而所述說明是用于示例的目的，并應(yīng)該理解可以在不脫離以下權(quán)利要求的精神實質(zhì)和范圍的情況下作出改變和變更。
權(quán)利要求
1.一種光記錄介質(zhì)記錄裝置，包括光拾取部分，配置成向光記錄介質(zhì)照射激光以在光記錄介質(zhì)上記錄信息或從中再現(xiàn)信息；控制部分，配置成控制所述光拾取部分；以及存儲部分，配置成預(yù)先存儲評價函數(shù)，所述評價函數(shù)用于當(dāng)將要在光記錄介質(zhì)上記錄信息時，響應(yīng)于激光的反射光來調(diào)整激光強度；其中所述控制部分可用于在記錄過程的中途，中斷在光記錄介質(zhì)上記錄信息的過程，并再現(xiàn)在中斷之前記錄的信息，然后根據(jù)再現(xiàn)時反射光的檢測結(jié)果調(diào)整評價函數(shù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的光記錄介質(zhì)記錄裝置，其中在所述存儲部分中預(yù)先存儲多個評價函數(shù)，所述控制部分通過根據(jù)再現(xiàn)時反射光的檢測結(jié)果選擇評價值之一來調(diào)整評價函數(shù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2的光記錄介質(zhì)記錄裝置，其中，在執(zhí)行在光記錄介質(zhì)上的信息記錄過程之前，所述控制部分使得多個測試數(shù)據(jù)記錄在光記錄介質(zhì)上提供的試寫入?yún)^(qū)域中，同時改變激光強度，并且不管光記錄介質(zhì)的類型，使用存儲在所述存儲部分中的評價函數(shù)中預(yù)定的一個評價記錄狀態(tài)，并根據(jù)再現(xiàn)測試數(shù)據(jù)時反射光的檢測結(jié)果，確定當(dāng)執(zhí)行在光記錄介質(zhì)上的信息記錄過程時激光的強度。
4.根據(jù)權(quán)利要求2的光記錄介質(zhì)記錄裝置，其中，在執(zhí)行在光記錄介質(zhì)上的信息記錄過程之前，所述控制部分使得多個測試數(shù)據(jù)記錄在光記錄介質(zhì)上提供的試寫入?yún)^(qū)域中，同時改變激光強度，并使用存儲在所述存儲部分中的預(yù)定評價函數(shù)中與光記錄介質(zhì)的類型相對應(yīng)的評價函數(shù)評價記錄狀態(tài)，并根據(jù)再現(xiàn)測試數(shù)據(jù)時反射光的檢測結(jié)果，確定當(dāng)執(zhí)行在光記錄介質(zhì)上的信息記錄過程時激光的強度。
5.根據(jù)權(quán)利要求1的光記錄介質(zhì)記錄裝置，其中所述控制部分通過產(chǎn)生校正評價函數(shù)來調(diào)整評價函數(shù)，所述校正評價函數(shù)通過根據(jù)再現(xiàn)時反射光的檢測結(jié)果、借助于評價函數(shù)的平移或類似手段來校正評價函數(shù)而得到。
6.根據(jù)權(quán)利要求1到5中的任一個的光記錄介質(zhì)記錄裝置，其中當(dāng)激光強度超出預(yù)定范圍時，所述控制部分通過根據(jù)評價函數(shù)調(diào)整激光強度而中斷記錄過程，所述預(yù)定范圍與開始在光記錄介質(zhì)上記錄信息的時刻的激光強度相對應(yīng)。
全文摘要
本申請公開了一種光記錄介質(zhì)記錄裝置，包括光拾取部分，配置成向光記錄介質(zhì)照射激光以在光記錄介質(zhì)上記錄信息或從中再現(xiàn)信息；控制部分，配置成控制光拾取部分；以及存儲部分，配置成預(yù)先存儲評價函數(shù)，所述評價函數(shù)用于當(dāng)將要在光記錄介質(zhì)上記錄信息時，響應(yīng)于激光的反射光來調(diào)整激光強度；控制部分可用于在記錄處理過程的中途中斷在光記錄介質(zhì)上記錄信息的過程，并再現(xiàn)在中斷之前記錄的信息，然后根據(jù)再現(xiàn)時反射光的檢測結(jié)果，調(diào)整評價函數(shù)。
文檔編號G11B7/09GK101034566SQ20071010062
公開日2007年9月12日 申請日期2007年1月25日 優(yōu)先權(quán)日2006年1月25日
發(fā)明者山本拓矢 申請人:索尼株式會社