專利名稱：光盤記錄方法和光盤記錄裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光盤記錄方法和光盤記錄裝置。更具體地，本發(fā)明涉及一種 用于在光盤上記錄數(shù)據(jù)的光盤記錄方法和一種光盤記錄裝置，所述光盤包括在其上記錄擺動信號(wobble signal)的溝槽軌道(groove track)和具有攜帶 軌道位置信息的岸臺預錄凹坑(land pre-pit)的岸臺軌道(landtrack)。
背景技術(shù)：
諸如可記錄/可重寫數(shù)字多用途盤(DVD-R7R，W)的光盤通常在其記錄表 面上具有在其上記錄擺動信號的溝槽軌道和具有攜帶軌道位置信息的岸臺預 錄凹坑的岸臺軌道。當使用光盤記錄裝置將期望的數(shù)據(jù)寫入這樣的光盤時，光拾取器(optical pickup)從溝槽軌道讀取擺動信號，以根據(jù)擺動信號生成記錄基準時鐘信號。 數(shù)據(jù)基于該基準時鐘信號被寫入光盤。在光盤記錄裝置中，光拾取器還從岸臺軌道讀取預錄凹坑信號，以根據(jù) 該預錄凹坑信號再現(xiàn)具有與擺動信號具有預定相位關(guān)系的地址/數(shù)據(jù)信息。數(shù) 據(jù)基于該地址/數(shù)據(jù)信息被寫入光盤。隨著高密度光盤近來的發(fā)展，有使溝槽軌道和岸臺軌道之間的軌道間距 (pitch)變窄的趨勢。因此，當光束從光拾取器照射到光盤上時，由于來自 相鄰的溝槽軌道的信號泄露，擺動信號的相位很可能變化。導致擺動信號的 相位的這樣的變化的相鄰的溝槽軌道的影響被稱為"串擾(crosstalk)"。因為串擾引起的相移具有不固定的值，且根據(jù)相鄰的溝槽軌道的形狀周 期性地波動，所以難以通過簡單地施加偏移而取消該相移。由于該相移，在 將預定數(shù)據(jù)寫入光盤時，記錄位置可能不位于標準范圍內(nèi)。圖12示出了相位比較基準計數(shù)器和預錄凹坑信號之間的關(guān)系。如圖12 所示，相位比較基準計數(shù)器響應(yīng)于預錄凹坑信號操作。在時間t0，擺動信號 不受串擾的影響，且不具有對于預錄凹坑信號的相差。然而，在時間tl，擺
動信號受串擾的影響，并具有對于預錄凹坑信號的相差。圖13示出了相位比較。如圖13所示，如果記錄操作在時間t0開始并在 時間t2結(jié)束，記錄結(jié)束位置相對于記錄開始位置的間隔對應(yīng)于受串擾影響最 大的n個信道時鐘的時間段。另一方面，如果記錄操作在時間tl開始并在時 間t2結(jié)束，在記錄操作的結(jié)束，響應(yīng)于受串擾影響最大的n個信道時鐘，擺 動信號在相反的方向上受串擾影響最大，最大相差等于nx2個信道時鐘。為了解決這樣的問題，反饋擺動信號和預錄凹坑信號之間的相差以校正 擺動信號的相移的方法已被提出(參見，例如，日本未審專利申請公開號 2005-322407 )。發(fā)明內(nèi)容在反饋擺動信號和預錄凹坑信號之間的相差以校正擺動信號的相移的情 況下，預錄凹坑信號是必需的。然而，隨著近來的高速記錄或再現(xiàn)、或多記 錄層，在預定數(shù)據(jù)的記錄期間或在預定數(shù)據(jù)的記錄之后，預錄凹坑信號的讀 取速率可被降低，導致相移校正失敗。因此期望提供一種能夠高速處理并具有多記錄層的光盤，其在記錄期間 不依靠預錄凹坑信號的質(zhì)量。根據(jù)本發(fā)明的實施例，提供了 一種用于基于用于記錄的第一基準時鐘信 號在光盤上記錄預定數(shù)據(jù)的光盤記錄方法，所述光盤包括具有在其上記錄擺 動信號的溝槽軌道和具有攜帶軌道位置信息的岸臺預錄凹坑的岸臺軌道，基 于從光盤再現(xiàn)的擺動信號生成第一基準時鐘信號。所述方法包括以下步驟 從光盤再現(xiàn)預錄凹坑信號；根據(jù)預錄凹坑信號生成第二基準時鐘信號；使用 第二基準時鐘信號檢測第 一基準時鐘信號的相移量；以及基于所檢測的相移 量的平均值校正第 一基準時鐘信號。根據(jù)本發(fā)明的另 一實施例，提供了 一種用于在光盤上記錄預定數(shù)據(jù)的光 盤記錄裝置，所述光盤包括具有在其上記錄擺動信號的溝槽軌道和具有攜帶 軌道位置信息的岸臺預錄凹坑的岸臺軌道。所述裝置包括用于從光盤再現(xiàn) 擺動信號的擺動信號再現(xiàn)部件；第一基準時鐘信號生成部件，用于根據(jù)擺動信號生成用于記錄的第一基準時鐘信號，基于第一基準時鐘信號將預定數(shù)據(jù) 記錄在光盤上；預錄凹坑信號再現(xiàn)部件，用于從光盤再現(xiàn)預錄凹坑信號；第 二基準時鐘信號生成部件，用于^^艮據(jù)預錄凹坑信號生成第二基準時鐘信號；
移位量檢測部件，用于使用第二基準時鐘信號檢測第一基準時鐘信號的相移量；以及校正部件，用于基于由移位量檢測部件檢測的相移量的平均值校正第一基準時鐘信號。移位量檢測部件可包括最大移位量檢測部件，用于檢測最大相移量； 以及最小移位量檢測部件，用于檢測最小相移量。相移量的平均值可以是由 最大移位量檢測部件檢測的最大相移量和由最小移位量檢測部件檢測的最小 相移量之間的中間值。移位量檢測部件可包括加法部件，用于累積預定次數(shù)的相移量。相移量 的平均值可以是由加法部件累積的相移量的平均值。移位量檢測部件可包括間隔檢測部件，用于檢測在其上相移量變化的 間隔；幅值檢測部件，用于檢測相移量的變化的幅值。所述校正部件可基于 所述間隔和所述幅值校正第一基準時鐘信號。光盤記錄裝置還可包括相位缺陷檢測部件，用于檢測擺動信號的相位缺 陷。當相位缺陷檢測部件檢測擺動信號的相位缺陷時，可忽略所檢測的相位 缺陷中由移位量檢測部件檢測的相移量。光盤記錄裝置還可包括射頻(RF)信號再現(xiàn)部件，用于當光盤具有在 其上記錄的數(shù)據(jù)時，從光盤的數(shù)據(jù)被記錄的區(qū)域再現(xiàn)RF信號；第三基準時 鐘信號生成部件，用于基于RF信號生成第三基準時鐘信號。移位量^^測部 件可使用第三基準時鐘信號檢測第 一基準時鐘信號的相移量。根據(jù)本發(fā)明的實施例，當基于擺動信號生成用于記錄的第一基準時鐘信 號時，基于預錄凹坑信號生成第二基準時鐘信號，并且基于第二基準時鐘信 號檢測第 一基準時鐘信號的相移量。所檢測的相移量的平均值用于校正第一 基準時鐘信號，借此可生成受串擾影響較小的第一基準時鐘信號。因此，記 錄操作可以在沒有任何串擾影響的情況下開始，并在沒有任何串擾影響的情 況下結(jié)束。具體地，使用第一基準時鐘信號將數(shù)據(jù)記錄在光盤上，在使用第一基準 時鐘信號開始在光盤上的數(shù)據(jù)記錄之前，使用第二基準時鐘信號校正第一基 準時鐘信號。因此，即使在將數(shù)據(jù)記錄在光盤上期間不能檢測到預錄凹坑信 號時，仍可消除或減少串擾的影響。此外，在由于數(shù)據(jù)被記錄在光盤上，生成第二基準時鐘信號困難的情況 下，可使用基于RF信號的第三基準時鐘信號令人滿意地校正第一基準時鐘信號。


圖1是示出根據(jù)本發(fā)明的實施例的光盤記錄裝置的基本系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的示意性框圖；圖2是示出相位比較的例子的圖示；圖3是示出記錄基準時鐘再現(xiàn)PLL的記錄狀態(tài)和順序的圖示； 圖4是示出擺動相位比較基準的調(diào)整的圖示； 圖5是示出本發(fā)明的實施例的優(yōu)點的圖示；圖6是示出根據(jù)本發(fā)明的另一實施例的光盤記錄裝置的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的示意 性框圖；圖7是示出根據(jù)本發(fā)明的另一實施例的光盤記錄裝置的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的示意 性框圖；圖8是示出相位誤差峰值的檢測的例子的圖示；圖9是示出根據(jù)本發(fā)明的另一實施例的光盤記錄裝置的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的示意 性框圖；圖10是示出根據(jù)本發(fā)明的另一實施例的光盤記錄裝置的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的示 意性框圖；圖11是示出記錄基準時鐘再現(xiàn)PLL的記錄狀態(tài)和順序的圖示；圖12是示出相關(guān)技術(shù)的系統(tǒng)的問題的時序圖；圖13是示出相關(guān)技術(shù)的系統(tǒng)的另 一問題的時序圖。
具體實施方式
圖1是示出根據(jù)本發(fā)明的實施例的光盤記錄裝置的基本系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的示意 性框圖。該光盤記錄裝置包括光拾取器1 ，其將激光照射到充當記錄介質(zhì)的光盤D 上，以讀取從光盤D的信號記錄表面反射的激光。光拾取器l輸出包括從溝 槽軌道讀取的擺動信號和從岸臺軌道讀取的預錄凹坑信號的擺動/預錄凹坑 信號N1。將擺動/預錄凹坑信號Nl輸入到信號放大器10。信號放大器10放大擺 動/預錄凹坑信號Nl，并輸出放大的擺動/預錄凹坑信號NIO。
將放大的擺動/預錄凹坑信號N10輸入到擺動濾波器電路30用于期望的 濾波處理。經(jīng)過濾波處理的放大的擺動/預錄凹坑信號N10被輸入到擺動提取 電路31以提取擺動信號N31,擺動相位比較器32基于擺動信號N31生成用 于擺動信號基準的第一相位控制信號N32。放大的擺動/預錄凹坑信號N10也被輸入到預錄凹坑濾波器電路20用于 期望的濾波處理。將經(jīng)過濾波處理的放大的擺動/預錄凹坑信號N10輸入到預 錄凹坑提取電路21,以提取預錄凹坑信號N21,預錄凹坑相位比較器22基 于預錄凹坑信號N21生成用于預錄凹坑信號基準的第二相位控制信號N22。圖2示出了擺動相位比較器32中的時序。由于一個擺動周期一般對應(yīng) 186個信道時鐘的時間段，擺動相位比較器32基于在從相位比較基準開始的 186個信道時鐘的間隔上提供的相位比較計數(shù)器的輸出。在圖2中，在擺動 信號N31的上升沿執(zhí)行相位比較。如果擺動相位比較器32具有小于186/2的 計數(shù)值，將所測量的值確定為相位誤差值。如果擺動相位比較器32具有不小 于186/2的計數(shù)值，將計數(shù)值減去186所得的值確定為誤差值。光盤記錄裝置還包括由通用中央處理單元(CPU)實現(xiàn)的定序器 (s叫uencer) 40。定序器40輸出相位控制信號選擇信號N40，該信號用于選 擇要輸入到根據(jù)其狀態(tài)生成記錄基準時鐘信號的鎖相環(huán)(PLL)的相位控制 信號，該PLL用于生成用于在光盤D上記錄的基準時鐘信號或記錄狀況。如果將第 一相位控制信號N32輸出為基于相位控制信號選擇信號N40由 選擇輸出電路41選擇并輸出的相位控制信號N41,第一PLL電路G1生成第 一基準時鐘信號。如果第二相位控制信號N22從選擇輸出電路41輸出，第 二 PLL電路G2生成第二基準時鐘信號。在圖1中，第一和第二 PLL電路 G1和G2包括濾波器電路50和壓控振蕩器(VCO)電路51。第一PLL電路G1中的分頻器53使第一基準時鐘信號分頻，以生成相位 比較基準。第二PLL電路G2中的分頻器52使第二基準時鐘信號分頻，以生 成相位比較基準。圖3示出了本實施例的光盤記錄裝置的操作順序的例子。在光盤記錄裝 置中，在生成用于記錄的第一基準時鐘信號的第一PLL電路G1在光盤D上 的記錄之前被鎖定以前，定序器40將用于預錄凹坑信號基準的第二相位控制 信號N22設(shè)置為要輸入到用于生成基準時鐘信號的PLL的相位控制信號。因 此，在使用用于預錄凹坑信號基準的第二相位控制信號N22的基準時鐘信號
的再現(xiàn)期間，基準時鐘信號不受串擾的影響。最大移位量(最大相位誤差)檢測電路60檢測最大相位誤差，即，使用 由第二 PLL電路G2生成的第二參考時鐘信號的擺動信號的最大相移量。最 小移位量(最小相位誤差)檢測電路61檢測擺動信號的最小相位誤差。相位誤差分析電路62將由最大移位量檢測電路60檢測的最大相位誤差 與由最小移位量檢測電路61檢測的最小相位誤差之間的中間值確定為平均 移位量，并檢測由串擾導致的相移波動的中心位置，即，不受任何串擾影響 的理想擺動相位控制基準點。將平均移位量輸入到擺動相位比較器32作為相位控制基準偏移信息，以 調(diào)整用于擺動信號基準的第一相位控制信號N32。由串擾導致的相移波動的中心位置也可使用數(shù)字信號處理器(DSP)從 最大和最小值的記錄來確定。因此，可以以更高的精確度確定中心位置。如圖4所示，通過將由相位誤差分析電路62檢測的相位控制基準點的偏 移量施加到相位比較計數(shù)器以移動相位比較基準，來調(diào)整第一相位控制信號 N32。如果基于由相位誤差分析電路62檢測的相位控制基準點的調(diào)整沒有執(zhí) 行，如圖5的部分(a)或(b)所示，在預錄凹坑信號和擺動信號的相位比 較基準之間存在偏移，導致記錄位置的更大的位移的可能性。通過基于相位 控制基準點的調(diào)整，如圖5的部分(c)所示，擺動信號的相位比較基準可與 用于預錄凹坑信號的相位比較基準相符合，因此，當未執(zhí)行調(diào)整時記錄位置 的位移可被減小到一半。在上述實施例中，使用最大移位量檢測電路60和最小移位量檢測電路 61確定平均移位量。根據(jù)本發(fā)明的另一方面，如圖6所示，積分器70可被 提供以累積預定次數(shù)的相移量，以確定相移的累積的量。相位誤差分析電路 62，確定累積的相移量的平均值，以檢測平均移位量。所檢測的平均移位量可 被用作相位控制基準點的偏移量。積分器70允許使用簡單結(jié)構(gòu)使用于擺動信號的相位比較基準與用于預 錄凹坑信號的相位比較基準相符合，當未執(zhí)行調(diào)整時記錄位置的位移可被減 小到一半。在根據(jù)本發(fā)明的另一實施例的光盤記錄裝置中，如圖7所示，可分析從 擺動相位比較器32輸出的周期性的相移波動以確定偏移，可將該偏移加到周 期性的相移波動，以減少串擾的影響。具體地，光盤記錄裝置包括間隔檢測(串擾間隔分析)電路80,其檢 測在其上由于串擾相移量變化的間隔；以及幅值檢測(相位誤差峰值檢測) 電路81,其檢測相移量變化的幅值。周期性的相移波動被分析，將偏移以與 周期性相移波動方向相反的方向施加到相位比較器32用于擺動信號。因此， 如圖5的部分(d)所示，由串擾導致的周期性的相移波動可被取消。如圖8所示，用于擺動信號的相位比較基準的移位量由于串擾周期性地 波動，而峰值在恒定間隔上出現(xiàn)。因此，通過將當前移位量的峰值位置與先 前移位量的峰值位置相比較，檢測移位量的變化的幅值。進行串擾的頻率分 析以提供有關(guān)峰值檢測的時序的信息。根據(jù)本發(fā)明的另一實施例，如圖9所示，可提供檢測擺動信號的相位缺 陷的充當相位缺陷檢測器的缺陷檢測電路90。當缺陷檢測電路90在從擺動 相位比較器32輸出的擺動信號的相位中檢測到缺陷時，忽略所檢測的缺陷部 分中所檢測的移位量，以阻止由于在介質(zhì)等上的劃痕(scratch)導致的缺陷 信號的故障的發(fā)生。擺動信號的質(zhì)量可由介質(zhì)上的劃痕以及串擾引起的相移而被降級。如果信號質(zhì)量較低，可能不能正確地檢測相移量。基于這樣的不正確的 相位誤差的分析可提供由串擾引起的相移波動的中心的不精確的檢測。因此， 通過檢測和消除缺陷的相位誤差，由串擾引起的相移波動的中心可被更精確 地檢測。此外，在光盤記錄裝置中，當光盤D是非空的并記錄有預定數(shù)據(jù)時，從 數(shù)據(jù)已經(jīng)被記錄的區(qū)域讀取預錄凹坑信號是困難的。因此，可能不能生成基 于預錄凹坑信號的第二基準時鐘信號。為了解決此問題，如圖IO所示，將放大的信號N10，輸入到RF信號濾波 器點100用于預定的濾波處理。將經(jīng)過濾波處理的放大的信號N100輸入到 RF信號提取電路101,以提取RF信號N101, RF信號相位比較器102基于 RF信號N101生成用于RF信號基準的第三相位控制信號N102。使用第三相位控制信號N102而不是第二相位控制信號N22鎖定PLL電 路，從而校正第 一相位控制信號N32 。圖11示出了使用RF信號的光盤記錄裝置的操作順序的例子。在該光盤 記錄裝置中，在生成用于記錄的第一基準時鐘信號的第一 PLL電路G1在光 盤D上的記錄之前被鎖定以前，定序器40將用于RF信號基準的第三相位控 制信號N102設(shè)置為要輸入到用于生成基準時鐘信號的PLL的相位控制信號。 因此，在使用用于RF信號基準的第三相位控制信號N102的基準時鐘信號的 再現(xiàn)期間，基準時鐘信號不受串擾的影響。通過使用用于RF信號基準的第三相位控制信號N102，即使從光盤D的 記錄的區(qū)域或從適合高速記錄的或具有多層的高速多層介質(zhì)來檢測預錄凹坑 信號是困難的，基于RF信號而不是預錄凹坑信號將相位控制基準調(diào)整到擺 動相位比較器。這保證了精確的校正。本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)理解在附加的權(quán)利要求或其等價物的范圍內(nèi)，可依 靠設(shè)計需要或其它因素產(chǎn)生各種修改、組合、子組合以及改造。相關(guān)申請的交叉引用
權(quán)利要求
1.一種基于用于記錄的第一基準時鐘信號在光盤上記錄預定數(shù)據(jù)的光盤記錄方法，所述光盤包括具有在其上記錄擺動信號的溝槽軌道和具有攜帶軌道位置信息的岸臺預錄凹坑的岸臺軌道，所述第一基準時鐘信號基于從所述光盤再現(xiàn)的所述擺動信號而生成，所述方法包括以下步驟從所述光盤再現(xiàn)預錄凹坑信號；根據(jù)所述預錄凹坑信號生成第二基準時鐘信號；使用所述第二基準時鐘信號檢測所述第一基準時鐘信號的相移量；以及基于所檢測的相移量的平均值校正所述第一基準時鐘信號。
2. —種用于在光盤上記錄預定數(shù)據(jù)的光盤記錄裝置，所述光盤包括具有 在其上記錄擺動信號的溝槽軌道和具有攜帶軌道位置信息的岸臺預錄凹坑的 岸臺軌道，所述裝置包括用于從所述光盤再現(xiàn)所述擺動信號的擺動信號再現(xiàn)部件； 第一基準時鐘信號生成部件，用于根據(jù)所述擺動信號生成用于記錄的第 一基準時鐘信號，所述預定數(shù)據(jù)基于所述第一基準時鐘信號記錄在所述光盤上；預錄凹坑信號再現(xiàn)部件，用于從所述光盤再現(xiàn)預錄凹坑信號； 第二基準時鐘信號生成部件，用于根據(jù)所述預錄凹坑信號生成第二基準 時鐘信號；移位量^^測部件，用于使用所述第二基準時鐘信號檢測所述第一基準時 鐘信號的相移量；以及校正部件，用于基于由所述移位量檢測部件檢測的相移量的平均值校正 所述第一基準時鐘信號。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2的所述光盤記錄裝置，其中所述移位量檢測部件包括最大移位量檢測部件，用于檢測最大相移量； 以及最小移位量檢測部件，用于檢測最小相移量；以及相移量的平均值是由所述最大移位量^^測部件檢測的所述最大相移量和 由所述最小移位量檢測部件檢測的所述最小相移量之間的中間值。
4. 根據(jù)權(quán)利要求2的所述光盤記錄裝置，其中 所述移位量檢測部件包括加法部件，用于累積預定次數(shù)的所述相移量； 所述相移量的平均值是由所述加法部件累積的所述相移量的平均值。
5. 根據(jù)權(quán)利要求2至4的任意一項的所述光盤記錄裝置，其中 所述移位量檢測部件包括間隔檢測部件，用于檢測在其上所述相移量變化的間隔，以及 幅值檢測部件，用于檢測所述相移量的變化的幅值；以及 所述校正部件基于所述間隔和所述幅值校正所述第一基準時鐘信號。
6. 根據(jù)權(quán)利要求2至5的任意一項的所述光盤記錄裝置，還包括相位缺 陷檢測部件，用于檢測所述擺動信號的相位缺陷，其中當所述相位缺陷檢測部件檢測所述擺動信號的相位缺陷時，在所檢 測的相位缺陷中的由所述移位量;^測部件^r測的相移量^^皮忽略。
7. 根據(jù)權(quán)利要求2至6的任意一項的所述光盤記錄裝置，還包括 射頻信號再現(xiàn)部件，用于當所述光盤具有在其上記錄的數(shù)據(jù)時，從所述光盤的、其中記錄有數(shù)據(jù)的區(qū)域再現(xiàn)射頻信號；以及第三基準時鐘信號生成部件，用于基于所述射頻信號生成第三基準時鐘 信號，其中所述移位量檢測部件使用所述第三基準時鐘信號檢測所述第 一基準 時鐘信號的相移量。
8. —種用于在光盤上記錄預定數(shù)據(jù)的所述光盤記錄裝置，所述光盤包括 具有在其上記錄擺動信號的溝槽軌道和具有攜帶軌道位置信息的岸臺預錄凹 坑的岸臺軌道，所述裝置包括從所述光盤再現(xiàn)所述擺動信號的擺動信號再現(xiàn)單元；第一基準時鐘信號生成器，其根據(jù)所述擺動信號生成用于記錄的第一基 準時鐘信號，所述預定數(shù)據(jù)基于所述第一基準時鐘信號記錄在所述光盤上；從所述光盤再現(xiàn)預錄凹坑信號的預錄凹坑信號再現(xiàn)單元；第二基準時鐘信號生成器，用于根據(jù)所述預錄凹坑信號生成第二基準時 鐘信號；移位量檢測器，其使用所述第二基準時鐘信號檢測所述第一基準時鐘信 號的相移量；以及校正器，其基于由所述移位量檢測器檢測的所述相移量的平均值校正所 述第一基準時鐘信號。
全文摘要
一種基于用于記錄的第一基準時鐘信號在光盤上記錄預定數(shù)據(jù)的光盤記錄方法，所述光盤包括具有在其上記錄擺動信號的溝槽軌道和具有攜帶軌道位置信息的岸臺預錄凹坑的岸臺軌道，基于從光盤再現(xiàn)的擺動信號生成第一基準時鐘信號，所述方法包括以下步驟從光盤再現(xiàn)預錄凹坑信號；根據(jù)預錄凹坑信號生成第二基準時鐘信號；使用第二基準時鐘信號檢測第一基準時鐘信號的相移量；以及基于所檢測的相移量的平均值校正第一基準時鐘信號。
文檔編號G11B7/005GK101110224SQ20071013710
公開日2008年1月23日 申請日期2007年7月19日 優(yōu)先權(quán)日2006年7月19日
發(fā)明者中世古哲司, 長部久夫 申請人:索尼株式會社