專利名稱：內(nèi)存測試裝置及內(nèi)存測試方法
內(nèi)存測試裝置及內(nèi)存測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明提供一種內(nèi)存測試裝置及內(nèi)存測試方法，特別是一種高效且準(zhǔn)確的 內(nèi)存測試裝置及內(nèi)存測試方法。背景技術(shù)：
內(nèi)核占用內(nèi)存的區(qū)域是隨機(jī)、不連續(xù)的；相應(yīng)地，待測內(nèi)存的區(qū)域也是隨 機(jī)、不連續(xù)的。目前的測試方法，是在待測內(nèi)存的區(qū)域隨機(jī)調(diào)用一測試頁框， 然后對該測試頁框下的內(nèi)存進(jìn)行測試；待該測試頁框的測試完成以后，再隨機(jī) 調(diào)用一測試頁框并進(jìn)行測試；內(nèi)存的測試需不斷地重復(fù)上述的步驟。但是，各測試頁框之間不存在連續(xù)性，便會使得有些內(nèi)存區(qū)域被重復(fù)測試， 而有些內(nèi)存區(qū)域卻未被測試到，從而導(dǎo)致測試結(jié)果不夠準(zhǔn)確。若保證盡可能多 的內(nèi)存區(qū)域被測試，需采用長時間的測試，但測試效率較低。
發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的主要目的在于提供一種高效且準(zhǔn)確的內(nèi)存測試裝置及內(nèi)存測試方法。為達(dá)到以上目的，本發(fā)明提供一種內(nèi)存測試裝置，適用于測試一內(nèi)存，且 該內(nèi)存測試裝置包括一調(diào)整模塊，該調(diào)整模塊耦合該內(nèi)存，且該調(diào)整模塊將內(nèi) 存劃分成一內(nèi)核占用模塊及一待測內(nèi)存模塊，其中，該待測內(nèi)存模塊的物理地 址連續(xù)；該調(diào)整模塊耦合一構(gòu)建模塊，且該構(gòu)建模塊為待測內(nèi)存模塊構(gòu)建字符 設(shè)備；該構(gòu)建模塊耦合一測試模塊，且該測試模塊依序?qū)ψ址O(shè)備進(jìn)行測試。本發(fā)明提供一種內(nèi)存測試方法，適用于測試一內(nèi)存，并通過一內(nèi)存測試裝 置以達(dá)成，其中，該內(nèi)存測試裝置包括一調(diào)整模塊、 一構(gòu)建模塊及一測試模塊， 且該調(diào)整模塊耦合該內(nèi)存；且該內(nèi)存測試方法包括以下步驟調(diào)整模塊將內(nèi)存 劃分成一內(nèi)核占用模塊及一待測內(nèi)存模塊，其中，該待測內(nèi)存模塊的物理地址 連續(xù)；構(gòu)建模塊為待測內(nèi)存模塊構(gòu)建字符設(shè)備；測試模塊依序?qū)ψ址O(shè)備進(jìn)行 測試。相較于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明內(nèi)存測試裝置及內(nèi)存測試方法可令待測內(nèi)存模塊 的物理地址連續(xù)，且可依序測試，以避免長時間的重復(fù)測試以及內(nèi)存被漏測， 從而保證內(nèi)存測試的高效性且準(zhǔn)確性。
圖1是本發(fā)明內(nèi)存測試裝置的原理方框圖。 圖2是本發(fā)明內(nèi)存測試方法的流程圖。
具體實施方式請參閱圖l所示，本發(fā)明提供一種內(nèi)存測試裝置100，適用于測試一內(nèi)存200，且該內(nèi)存測試裝置100包括一調(diào)整模塊30，該調(diào)整模塊30耦合該內(nèi)存200， 且該調(diào)整模塊30將內(nèi)存200劃分成一內(nèi)核占用模塊201及一待測內(nèi)存模塊202， 其中，該待測內(nèi)存模塊202的物理地址連續(xù)；該調(diào)整模塊30耦合一構(gòu)建模塊40， 且該構(gòu)建模塊40為待測內(nèi)存模塊202構(gòu)建字符設(shè)備；該構(gòu)建模塊40耦合一測 試模塊50，且該測試模塊50依序?qū)ψ址O(shè)備進(jìn)行測試。請參閱圖1及圖2所示，該內(nèi)存測試方法通過圖1所示的內(nèi)存測試裝置100 達(dá)成，且該內(nèi)存測試方法包括以下步驟步驟301:調(diào)整模塊30將內(nèi)存200劃分成一內(nèi)核占用模塊201及一待測內(nèi)存模 塊202，其中，該待測內(nèi)存模塊202的物理地址連續(xù)； 步驟302:構(gòu)建模塊40為待測內(nèi)存模塊202構(gòu)建字符設(shè)備； 步驟303:測試模塊50依序?qū)ψ址O(shè)備進(jìn)行測試。本發(fā)明內(nèi)存測試裝置100及內(nèi)存測試方法可令待測內(nèi)存模塊202的物理地 址連續(xù)，且可依序測試，可避免長時間的重復(fù)測試以及內(nèi)存200被漏測，從而 保證內(nèi)存200測試的高效性且準(zhǔn)確性。
權(quán)利要求
1. 一種內(nèi)存測試裝置，適用于測試一內(nèi)存，其特征在于該內(nèi)存測試裝置包括一調(diào)整模塊，耦合該內(nèi)存，且該調(diào)整模塊將內(nèi)存劃分成一內(nèi)核占用模塊及一待測內(nèi)存模塊，其中，該待測內(nèi)存模塊的物理地址連續(xù)；一構(gòu)建模塊，耦合該調(diào)整模塊，且該構(gòu)建模塊為待測內(nèi)存模塊構(gòu)建字符設(shè)備；一測試模塊，耦合該構(gòu)建模塊，且該測試模塊依序?qū)ψ址O(shè)備進(jìn)行測試。
2. —種內(nèi)存測試方法，適用于測試一內(nèi)存，并通過一內(nèi)存測試裝置以達(dá)成， 其中，該內(nèi)存測試裝置包括一調(diào)整模塊、 一構(gòu)建模塊及一測試模塊，且該調(diào)整 模塊耦合該內(nèi)存；其特征在于該內(nèi)存測試方法包括以下步驟 調(diào)整模塊將內(nèi)存劃分成一內(nèi)核占用模塊及一待測內(nèi)存模塊，其中，該待測內(nèi)存 模塊的物理地址連續(xù)； 構(gòu)建模塊為待測內(nèi)存模塊構(gòu)建字符設(shè)備； 測試模塊依序?qū)ψ址O(shè)備進(jìn)行測試。
全文摘要
本發(fā)明提供一種內(nèi)存測試裝置及內(nèi)存測試方法，適用于測試一內(nèi)存，其中，該內(nèi)存測試裝置包括一調(diào)整模塊、一構(gòu)建模塊及一測試模塊，且該調(diào)整模塊耦合該內(nèi)存；而該內(nèi)存測試方法通過上述內(nèi)存測試裝置以達(dá)成，且該內(nèi)存測試方法包括以下步驟調(diào)整模塊將內(nèi)存劃分成一內(nèi)核占用模塊及一待測內(nèi)存模塊，其中，該待測內(nèi)存模塊的物理地址連續(xù)；構(gòu)建模塊為待測內(nèi)存模塊構(gòu)建字符設(shè)備；測試模塊依序?qū)ψ址O(shè)備進(jìn)行測試。如此一來，本發(fā)明內(nèi)存測試裝置及內(nèi)存測試方法可令待測內(nèi)存模塊的物理地址連續(xù)，且可依序測試，以避免長時間的重復(fù)測試以及內(nèi)存被漏測，從而保證內(nèi)存測試的高效性且準(zhǔn)確性。
文檔編號G11C29/04GK101256844SQ20071013728
公開日2008年9月3日 申請日期2007年7月19日 優(yōu)先權(quán)日2007年3月1日
發(fā)明者郭文孝 申請人:環(huán)達(dá)電腦(上海)有限公司