專利名稱：擺動信號讀出方法及光盤設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及讀出記錄在屬于是記錄介質(zhì)的光盤上的擺動信號的 一種方法及執(zhí)行該讀出方法的光盤設(shè)備。
背景技術(shù)：
自從操作光盤的設(shè)備，即光盤設(shè)備首次投入實用以來，已經(jīng)很 長時間了。這種光盤設(shè)備能用激光再現(xiàn)光盤上記錄的信息或用激光在 光盤上記錄信息。作為記錄介質(zhì)(光盤)，現(xiàn)在普及的是符合數(shù)字通用
盤(DVD)標準的光盤。
在DVD標準的光盤中，除了 ROM型只重放光盤之外，在能夠只 寫一次的一次寫入多次讀出光盤或能被反復地重寫的可重寫光盤的 信息記錄表面(盤的表面)上成形記錄軌道(引導溝槽或與溝槽反極性 的平坦部分)。
盡管事先在記錄軌道記錄了物理地址，但還是需要通過使用其 中以固定周期擺動(彎曲)該記錄軌道的擺頻調(diào)制系統(tǒng)來形成記錄軌 道，以降低檢測和讀出(再現(xiàn))已記錄物理地址的導引頭部(或某個特 定位置)所需的時間.
在記錄為物理地址的信息被完全讀出并且該記錄的信息內(nèi)容被 解譯時，自然能夠得知當前的物理地址。然而，通過特性化(反相一 個具體部分的相位)例如記錄軌道的擺動相位，將能以更短的時間檢
測出該物理地址的導引頭(或者特定)位置。
例如，日本專利申請公開2005-166118 (
，圖5)披露了一 種按WDU或WAP單元來頻分的擺動周期計數(shù)器，以便獲得同步。
另外，日本專利申請公開2005-190561 (
，圖4)披露了一
種技術(shù)，通過比較相變點的檢測結(jié)果和同步模式來檢測同步位置。
而且，日本專利申請公開2005-166112 (圖l)中披露了一種技術(shù)，
通過在〃與〃電路中獲得符號一致性來實現(xiàn)調(diào)整，其中該〃與〃電路用于 確定從邊緣電平獲得的同步到達檢測結(jié)果與規(guī)定的同步模式按符號 彼此重合的定時。
但是，由于信號轉(zhuǎn)換系統(tǒng)中出現(xiàn)的缺陷(數(shù)據(jù)缺失或損壞)、噪 音等原因，即便使用上述文件的任意方法之一或組合，也難于把能檢 測擺動同步(完成擺動的PLL鎖定)所要求的時間降低一個確切的固
定時間。
而且，通過使用上述文件的任意方法之一或組合，既不能得到
減少引起擺動同步相移(其中在擺動的PLL鎖定操作之時錯誤地鎖定 到不同相位)的因素的方法，也不能得到提高物理地址讀出(再現(xiàn)) 精度的構(gòu)思。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的一個目的是提供一種檢測方法以及施行一種讀出方法 的光盤設(shè)備，該檢測方法檢測記錄在屬于是記錄介質(zhì)的光盤上的預制 凹槽擺動中的同步模式和以固定周期出現(xiàn)的擺動同步。
根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提供一種光盤設(shè)備，所述光盤設(shè)備檢 測與預先制備的用于判定的模式一致的包括在擺動周期模式中的反 相部分的展現(xiàn)模式組合、確定是否啟動PLL同步來將一致程度分類成 多個狀態(tài)、并通過根據(jù)所述狀態(tài)的一個預定處理過程來實現(xiàn)PLL同 步。
本發(fā)明其他目的和優(yōu)點將在以后的描述中闡明，并且其中的一 部分將被明確描述出，或通過實踐本發(fā)明得出。本發(fā)明的目的和優(yōu)點 可通過如下具體說明的技術(shù)手段及其組合裝置來體現(xiàn)并獲得。


結(jié)合在說明書中并構(gòu)成說明書一部分的附圖示出了本發(fā)明的實 施例，并且與上面給出的概括描述及下面給出的實施例的詳細描述一 起用于解釋本發(fā)明的原理。
圖1是根據(jù)本發(fā)明實施例的光盤設(shè)備的實例示意圖2是根據(jù)本發(fā)明圖1所示光盤設(shè)備實施例的擺動處理電路單 元的實例示意圖3是根據(jù)本發(fā)明實施例的實例示意圖，示出加到符合高清晰 度(HD)DVD標準的盤的擺動(WD)信號和使用相位調(diào)制嵌入信息的情 況的調(diào)制規(guī)則；
圖4是根據(jù)本發(fā)明實施例的加到符合HD DVD標準的盤的一個擺 動格式的實例示意圖5是根據(jù)本發(fā)明實施例的用于檢測使用圖2所示擺動處理電 路單元的一個同步碼的一個實例流程圖6是根據(jù)本發(fā)明實施例的在檢測圖5所示同步碼的處理過程 中的狀態(tài)過渡的實例示意圖7是根據(jù)本發(fā)明實施例的使用在用于檢測圖5所示同步碼的 處理過程中的一個同步字段的同步模式的實例示意圖8是根據(jù)本發(fā)明實施例的通過使用圖7所示同步字段的同步 模式來校正同步相位的實例示意圖；以及
圖9是根據(jù)本發(fā)明實施例的通過使用圖7所示同步字段的同步 模式來校正同步相位的實例示意圖。
具體實施例方式
以下將參照附圖來描述本發(fā)明的實施例的實例。 根據(jù)本發(fā)明的一個實施例提供一種檢測方法以及施行該檢測方 法的光盤設(shè)備，所述的檢測方法檢測在屬于是記錄介質(zhì)的光盤上的擺 動預制凹槽中以固定周期出現(xiàn)的同步模式和擺動同步。
圖1示出能夠施行本發(fā)明實施例的一種光盤設(shè)備的實例。 圖1所示的光盤設(shè)備1包括光頭單元ll，用于以具有預定波 長的激光照射光盤101的記錄面；托架12，用于支持光頭單元11以 便在沿著光盤記錄面的徑向上的預定范圍內(nèi)可任意地移動；信號處理
塊15，用于通過處理從該光盤的記錄面反射的激光以及從光頭單元
11獲得的激光等而獲得預定的信號。順便說明，雖然沒有詳細描述，
但光頭單元ll包括半導體激光器單元，用于輸出激光；物鏡，用于把激光會聚在光盤的記錄面并捕獲由該光盤反射的反射激光；光檢 測單元(光電二極管-IC(PDIC))，用于從由該物鏡捕獲的反射激光中 獲得預定的信號；若干光學單元，用于在上述單元之間導引激光；等 等。
信號處理塊15從由該PDIC光電轉(zhuǎn)換的信號中獲得記錄在記錄軌道上的信息，并且處理用于調(diào)整(聚焦控制)在物鏡和該光盤的記錄 面之間的距離的信號以及調(diào)整(軌道控制)在通過物鏡會聚到記錄軌 道的激光和該記錄軌道之間的未對準的信號。
該信號處理塊15包括總線151、連接到總線151的系統(tǒng)控制電 路單元(主控單元)152、伺服控制器153等等。順便說明，至少一個 數(shù)據(jù)處理電路單元154和一個擺動處理電路單元155被連接到該系統(tǒng) 控制電路單元152。另外，RF電路單元156連接到該數(shù)據(jù)處理電路單 元，并且來自該光頭單元11的電壓轉(zhuǎn)換后的光電轉(zhuǎn)換輸出信號被通 過前置放大器157輸入到該RF電路元件156。順便說明，無疑可與 PDIC集成地提供前置放大器157。
在上述信號處理塊15中，通過RF電路單元156從該PDIC的(電 壓轉(zhuǎn)換后的)輸出中獲得RF信號(再現(xiàn)信號)。
在數(shù)據(jù)處理電路單元154中，從由RF電路單元156所獲得的RF 信號中提取記錄在光盤上的數(shù)據(jù)(控制信息和記錄的數(shù)據(jù))。而且，在 該數(shù)據(jù)處理電路單元154中，產(chǎn)生寫入數(shù)據(jù)/用于把數(shù)據(jù)寫入一個可 寫光盤的控制信號，例如激光調(diào)制信號等。
擺動處理電路單元155用于檢測形成在光盤101的記錄面上的 一個軌道(預制凹槽)的特定位置，或檢測一個記錄標記串，并獲得同 步信號。擺動處理電路單元155包括例如擺動(WD)計數(shù)器部分201、 擺動單元(WDU)計數(shù)器單元202、鑒相器單元203、地址檢測電路單元 204、狀態(tài)計數(shù)器單元205、同步碼檢測單元206等，如圖2詳細所 示。順便說明，每一單元都可被制備作為主控單元的硬件或可通過使 用對應于每一特定單元的電路或小規(guī)模IC來實現(xiàn)。
例如在系統(tǒng)控制電路單元152中，根據(jù)由數(shù)據(jù)處理電路單元154 獲得的控制信息來設(shè)置用于控制旋轉(zhuǎn)光盤的盤電機13的速度或控制用于移動托架12 (即沿著光盤的記錄面移動光頭單元11)的托架電
機14的進給速率的受控變量。事實上，該盤電機13的轉(zhuǎn)速和該托架 電機14的進給速率無疑是通過連接到該伺服控制器153的電機驅(qū)動 器158和159直接控制的。
順便說明，控制光頭單元11的物鏡(或用于保持物鏡的致動器) 的位置的方式是當根據(jù)設(shè)置在伺服控制器153中的受控變量移動或 移位磁驅(qū)動單元(線圈/磁體)(沒示出)或者使其變形時，相對于光盤 的記錄軌道來說該物鏡的位置是在一個固定允許誤差之內(nèi)。而且，當 欲設(shè)置該物鏡(致動器)的受控變量時，當利用從前置放大器157直接 提供到伺服控制器153的信號分量時，一個比固定速度更高的隨動速 度顯然是安全的。
圖3示出用于符合高清晰度(HD)DVD標準的一個盤的擺動(WD)
信號，具體地說是一種在使用相位調(diào)制嵌入信息的情況下的調(diào)制規(guī)則
的實例，其中該盤的記錄密度比記錄介質(zhì)即該光盤的數(shù)字通用盤(DVD)
標準進一步提高。
擺動(WD)信號在實質(zhì)上規(guī)定為正弦波，其中設(shè)置了正常相位波 (NPW)和反相位波(IPW)。順便說明，"0〃被設(shè)置在NPW(正常相位波) 中作為比特(調(diào)制)信息，而〃1〃被設(shè)置在IPW(反相位波)中作為比特 (調(diào)帝J)信息。
而且如圖3顯見，在擺動信號被更新同時照射光盤的激光束點 的位置被固定的一種狀態(tài)中，即在由盤的旋轉(zhuǎn)所移動的該擺動通過該 激光束點中位置的方向被假定為是由該箭頭指示的方向、即順時針方 向的情況中，84個擺動(WD)信號構(gòu)成一個單元(WDU)，該84個擺動 (WD)信號的每一個都是包括該信號幅度的最大值和最小值的1T擺動 信號。T表示一個波長，并還稱為擺動數(shù)。順便說明，通過組合NPW 和IPW的擺動數(shù)，能夠表示(能夠被嵌入的)同步模式和地址信息等。
圖4示出一種擺動格式的實例。
在HD DVD標準的光盤中，R(只可寫一次)/RW(可重寫)/RAM(可 重寫)標準的任意之一都按照四個擺動(4T)的單元把"r或"0"的信息 (比特)分配到擺動相位。而且，信息(比特)即相變部分被斷續(xù)地排列在盤的整個記錄區(qū)域中。
每一個單元(wdu)被規(guī)定為下列之一
用于地址字段的wdu，包括用于對應被表示為擴大的部分a的三
比特的一個地址和一個ipw的數(shù)據(jù)，
用于單位字段的wdu，其中被表示為擴大的部分b的相變部分被 全部缺失(無規(guī)定)，以及
用于同步字段的wdu，被表示為擴大的部分c的 6T (ipw) -4T (npw)-6T (ipw)被加在該同步字段的導引頭。
順便說明，全部17個wdu構(gòu)成一個地址單元〃wap〃。該wap是 一種格式，其中收集了多個單元的比特，以便表示一個物理地址。
順
便說明，同步字段總被分配到一個wap的引導頭。g卩，在任意數(shù)目的 wdu字串中的其引導頭處具有同步字段的17個wdu被作為一個wap 管理。
換言之，同步字段的wdu被用于表示一個wap導引頭同步碼， 使用在該地址字段中的每一 WDU通過第一組的四個擺動的反相(IPW) 表示一個同步位置，并且隨后的4擺動x3組的擺動相位表示3比特 的數(shù)據(jù)。
當要解調(diào)這種hd dvd擺動數(shù)據(jù)時，必須在沒有甚至一個擺動誤 差的條件下來正確地檢測該反相部分(ipw)的擺動位置。
另一方面，要求即使當由于盤上的缺陷、由信號傳送系統(tǒng)的損 壞狀態(tài)不利地引起的該擺動信號的s/n比(信噪比)中的劣化而造成 相變點中的擺動缺失時，也能夠校正這樣一個不利的狀態(tài)，從而恢復 該地址(使得該物理地址能夠被獲取)。
但在后一要求中，如果過度地進行校正，則擺動檢測位置上的 準確性將下降。
因此，自然要求擺動檢測位置上的準確性(擺動檢測位置上的精 度)和解調(diào)性能彼此適合。
下面將參照圖2描述使用該信號處理塊的擺動處理電路來檢測擺動的方法。
通過鑒相器電路單元203從盤上檢測的擺動信號中提取碼信息，
并將該信息輸入到地址檢測電路單元204和同步碼檢測電路單元 206。從同步碼檢測電路單元206輸出的同步碼檢測標志信息被輸入 到狀態(tài)計數(shù)器單元205，并且管理該同步碼的檢測狀態(tài)。順便說明， 同步碼檢測標志信息還被使用在地址檢測電路單元204中。
同步碼檢測電路單元206中的檢測條件將根據(jù)從狀態(tài)計數(shù)器單 元205輸出的同步狀態(tài)而切換。
另一方面，擺動信號(WD)被輸入到該擺動計數(shù)器部分201，并且 在其中計數(shù)該擺動波數(shù)。在擺動計數(shù)部分201中，在計數(shù)值為對應于 一個WDU的84(0至83)時清除計數(shù)值，同時(每次該計數(shù)器部分201 被清除時)，該擺動單元(WDU)計數(shù)器(WDU計數(shù)器)單元202遞增1。 在WDU計數(shù)器單元202中，在計數(shù)值為對應于WAP的17(0至16)時 清除計數(shù)值，同時(每次該計數(shù)器單元202被清除時)，清除定時信 息被輸入到同步碼檢測電路單元206。如將被稍后描述的那樣，該同 步碼檢測電路單元206還可以輸出一個同步碼位置校正信號，該同步 碼位置校正信號可用于校正WDU計數(shù)器單元202中的計數(shù)值。
圖5示出在檢測同步碼時使用的狀態(tài)轉(zhuǎn)換表。
如圖5所示，根據(jù)同步狀態(tài)把狀態(tài)轉(zhuǎn)換劃分成四個狀態(tài)。狀態(tài)0 指示同步完全沒有獲得的一個狀態(tài)。狀態(tài)1指示檢測到一個WDU的狀 態(tài)。狀態(tài)2指示能夠檢測到連續(xù)WDU并且實現(xiàn)WDU同步的一個狀態(tài)。 狀態(tài)3指示檢測到WAP的最高處的一個WDU并且完全實現(xiàn)WAP同步的 一種狀態(tài)。
下面示出狀態(tài)轉(zhuǎn)換的條件。
在沒有實現(xiàn)同步的狀態(tài)中，重復進行模式一致確定，直到檢測 到與圖6中由〃全部〃、〃S0"、 "S1〃和"S2〃所示模式一致的任何數(shù)據(jù)為
止。順便說明，圖6中的"x"意指隨意性(g卩"r和"o"任何之一都可被
采用)。
當實現(xiàn)與任何模式的一致時(當檢測到數(shù)據(jù)一致模式)，起動擺 動(WD)計數(shù)器部分201，從而把狀態(tài)移到屬于是WDU檢測狀態(tài)的狀態(tài)
在狀態(tài)1中，在該擺動計數(shù)器部分201的計數(shù)值已經(jīng)變?yōu)?4(對 應于一個WDU的擺動數(shù))的倍數(shù)的位置處，同步碼檢測電路單元206 的同步檢測門被打開，并且確定這些同步碼模式是否彼此一致(模式 一致確定)。即，通過狀態(tài)l的門控處理，避免同步碼的錯誤檢測。
當在門控位置正常執(zhí)行同步碼模式一致時，獲得實現(xiàn)WDU同步 的狀態(tài)，并且狀態(tài)移到下一個狀態(tài)，即狀態(tài)2。
在狀態(tài)2中，在擺動計數(shù)器也已經(jīng)計數(shù)了 84的倍數(shù)的一個位置， 確定該同步字段模式是否彼此一致(模式一致確定)。當在狀態(tài)2中檢 測到一個同步字段模式時，意味著實現(xiàn)了 WAP同步，狀態(tài)移到狀態(tài)3。
順便說明，當在狀態(tài)1或2中的一個指定的擺動計數(shù)數(shù)目內(nèi)不 能探測到一致的模式時，提供其中把狀態(tài)返回到狀態(tài)0的一個轉(zhuǎn)移， 并且從頭開始再次進行同步。這作為應對其中由于噪音、盤缺陷等原 因而在一個不正確位置實現(xiàn)同步的情況的措施是很有價值的。
實例1的出色之處在于對傳輸系統(tǒng)中的盤的缺陷或噪音的抵抗 力，以及能夠快速和正確地檢測擺動同步。
如上述實例1中那樣，根據(jù)圖6所示的同步模式一致確定來檢 測同步碼。
更具體地，在狀態(tài)0(S0)和狀態(tài)l(Sl)中，執(zhí)行嚴格的擺動模式 一致確定，從而減小極度同步滑動的產(chǎn)生。
相反，當狀態(tài)從狀態(tài)2移動到下一個狀態(tài)時，擺動計數(shù)器部分
201的同步檢測位置如在實例1中那樣被保護，從而弱化了一致模式
確定條件。例如，即使當缺少四擺動(擺動單元)中的一個擺動時，也 可以根據(jù)其他三個擺動的極性進行校正(在由圖6的部分D指示的區(qū)
域中，在這五個模式的第二到第五的四個連續(xù)擺動中，雖然一個擺動 的極性不同于其他擺動的極性，但采用其中如圖6所示的四個擺動彼 此一致的第一模式)。就是說，在質(zhì)量等級不一定是充分的低擺動狀 態(tài)中，在執(zhí)行管理的同時提高了模式一致的可能性，以便不引起錯誤的檢測。
順便說明，在狀態(tài)2中，例如能夠在一個單位字段(緊隨對應于 單位字段的WDU)之后檢測屬于是如圖7所示的同步字段的同步模式 的"6T-4T-6T"模式，用于升級到狀態(tài)3、即WAP同步完成(OK)的條件 被加到狀態(tài)2(如果檢測到由圖6中的"全部"指示的一個模式)。
另外，除了上述的轉(zhuǎn)換之外，當在所有的同步狀態(tài)的任一狀態(tài) 中檢測到由"6T-4T-6T"模式(圖7所示的任意模式)構(gòu)成的一個完美 一致模式和在上述模式之前和之后的擺動極性，則通過跳過中間狀態(tài) 來提供移動到狀態(tài)3(完全鎖定狀態(tài))的一個轉(zhuǎn)換。這種狀態(tài)具有的一 個優(yōu)點是縮短了該同步處理的時間(完成PLL鎖定所要求的時間)。
實例2的出色之處在于抵抗在傳送系統(tǒng)中的盤的缺陷或噪音的 能力，并且能夠快速和正確地檢測擺動同步。
在PLL鎖定處理中(當狀態(tài)是小于狀態(tài)2 (S2)時)，當能夠檢測到 包括圖7所示模式的五個類型的正常數(shù)據(jù)時，該擺動計數(shù)器部分201 的計數(shù)值被校正為一個"初始檢測的值"，從而校正擺動同步相位，這 是本發(fā)明重要的特征之一。即，在狀態(tài)O(SO)或l(Sl)中，即使當在 一個不正確的相位(即在一個不正確的位置)中的同步檢測完成(同步 實現(xiàn))時，也變得有可能通過下面描述的處理來把該同步恢復到正常 位置。
如圖8所示，當檢測到"4T-8T-4T-4T"的檢測位置"延遲了一個 擺動〃時，能夠通過把〃1〃添加到擺動計數(shù)器部分201的計數(shù)值來校正 該同步相位。同樣如圖9所示，當檢測到〃6T-4T-6T-4T"的檢測位置"
超前一個擺動"時，能夠通過從擺動計數(shù)器部分2oi的計數(shù)值減"r
來校正該同步相位。
通過探測可能有時發(fā)生在擺動鎖定處理中的擺動同步相位滑動 來提高同步位置精度和可靠性，并且自動地把同步相位校正到正常的 擺動相位。
如上已經(jīng)描述的那樣，根據(jù)本發(fā)明的任意一個實施例，實例3
在抵抗盤的缺陷或該傳送系統(tǒng)中的噪音的能力上出色，并且能夠快速 和正確地檢測擺動同步。
而且，通過探測可能時常發(fā)生在擺動鎖定處理中的擺動同步相 位滑動將提高同步位置的精確性和可靠性，并且自動地將同步相位校 正到正常的擺動相位。
因此，縮短了再現(xiàn)記錄在光盤上的數(shù)據(jù)所需的時間，并且提高 了用戶的便利。
本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以很容易了解其它優(yōu)點并進行修改。因此， 本發(fā)明并不僅限于這里的描述和展示的具體細節(jié)和具有代表性的實 施例。.因此，在不背離本發(fā)明思想的精神和范圍的基礎(chǔ)上可以根據(jù)所 附的權(quán)利要求或等同物作各種修改。
例如，存儲介質(zhì)不局限于硬盤驅(qū)動器，并顯然可以結(jié)合使用電 機來旋轉(zhuǎn)記錄介質(zhì)盤的一個存儲器系統(tǒng)，例如使用光盤的光盤驅(qū)動 器。
權(quán)利要求
1.一種光盤設(shè)備，其特征在于包括包括至少一個光源、透鏡和光檢測器的光頭，用于接收反射光并獲得對應于所述光的輸出信號，所述反射光是來自由一個記錄介質(zhì)的信息記錄區(qū)反射的光源的光；第一信號處理部分，用于從來自所述光檢測器的輸出信號中獲得預先記錄在一個信息記錄區(qū)上的具有周期性模式的第一信息；和第二信號處理部分，用于獲得記錄在跟隨由所述第一信號處理部分檢測的所述第一信息的特定位置之后的一個位置的第二信息，其特征在于所述第一信號處理部分根據(jù)所述周期模式的相位被反相的所在位置的組合來標識所述第一信息的引導頭位置。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1的光盤設(shè)備，其特征在于所述第一信號處理部分根據(jù)屬于是預先制備的多個模式中每一 個的周期模式的相位被反相的所在位置的組合的條件來檢測所述第 一信息的一個特定位置。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1的光盤設(shè)備，其特征在于在檢測到屬于是預先制備的多個模式中每一個的周期模式的相 位被反相的所在位置的組合的條件中的至少一個已經(jīng)變?yōu)橐恢聲r，所 述第一信號處理部分檢測所述第一信息的一個特定位置。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3的光盤設(shè)備，其特征在于所述第一信號處理部分檢測制備在所述第一信息的引導頭或特 定位置的用于確定的模式作為屬于是預先制備的多個模式中每一個 的周期模式的相位被反相所在位置的組合的條件。
5. 根據(jù)權(quán)利要求3的光盤設(shè)備，其特征在于- 當所述第一信號處理部分檢測到制備在所述第一信息的引導頭 或特定位置的用于確定的模式己經(jīng)完全變?yōu)榕c屬于是預先制備的多 個模式中每一個的周期模式的相位被反相的所在位置的組合的條件一致時，所述第一信號處理部分使得所述第二信號處理部分立即開始 信號處理。
6. 根據(jù)權(quán)利要求1的光盤設(shè)備，特征在于還包括 第三信號處理部分，當檢測到屬于是預先制備的多個模式中每一個的周期模式的相位被反相器的所在位置的組合條件至少之一已 經(jīng)變?yōu)橐恢聲r，所述第三信號處理部分用于根據(jù)所述第二信息的內(nèi)容 來檢驗所述第一信息的特定位置，以便檢測所述第一信息的被檢測到 的特定位置是不正確的。
7. 根據(jù)權(quán)利要求3的光盤設(shè)備，特征在于還包括 第三信號處理部分，當檢測到屬于是預先制備的多個模式中每一個的周期模式的相位被反相器的所在位置的組合條件至少之一已 經(jīng)變?yōu)橐恢聲r，所述第三信號處理部分用于根據(jù)所述第二信息的內(nèi)容 來檢驗所述第一信息的特定位置，以便檢測所述第一信息的被檢測到 的特定位置是不正確的。
8. —種光盤設(shè)備，其特征在于包括包括至少一個光源、透鏡和光檢測器的光頭，用于接收反射光 并獲得對應于所述光的輸出信號，所述反射光是來自從一個記錄介質(zhì) 的信息記錄區(qū)反射的光源的光；鑒相器單元，用于從光檢測器的輸出信號中檢測由預先記錄在該信息記錄區(qū)上的擺動周期模式的布局所標識的一個反相部分；第一計數(shù)器單元，用于從所述光檢測器的輸出信號中計數(shù)預先記錄在所述信息記錄區(qū)上的擺動周期模式的重復的數(shù)目；第二計數(shù)單元，用于按照一個預定數(shù)的單元從所述第一計數(shù)器 單元的計數(shù)結(jié)果中計數(shù)所述擺動周期模式的重復數(shù)目； 地址檢測單元，用于根據(jù)由所述鑒相器單元檢測的反相部分的 展現(xiàn)模式來檢測所述反相部分的展現(xiàn)模式的一個組合與預先制備的 用于確定的一個模式相一致；狀態(tài)計數(shù)單元，用于根據(jù)與由所述地址檢測單元檢測的用于確 定的所述模式相一致的程度來確定一個位置是在PLL同步位置的附 近、PLL同步位置、或PLL同步被啟動的位置；以及同步碼檢測單元，用于根據(jù)來自所述狀態(tài)計數(shù)單元的輸出和來 自所述第二計數(shù)單元的輸出而實現(xiàn)PLL同步。
9. 根據(jù)權(quán)利要求8的光盤設(shè)備，其特征在于 所述狀態(tài)計數(shù)單元檢測在PLL同步位置附近的位置、是PLL同步位置的位置、以及PLL同步被啟動的位置中的至少一個，這些位置 是根據(jù)在被檢測的反相部分的展現(xiàn)模式和預先制備的用于確定的模 式之間的一致程度而確定的。
10. 根據(jù)權(quán)利要求8的光盤設(shè)備，其特征在于 所述狀態(tài)計數(shù)單元檢測所述反相部分的展現(xiàn)模式與引導頭確定模式和預先準備的用于確定的模式的特定位置確定模式中的至少一 個一致。
11. 根據(jù)權(quán)利要求8的光盤設(shè)備，其特征在于當所述反相部分的檢測的展現(xiàn)模式與一個引導頭確定模式和預 先準備的用于確定的所述模式的一個特定位置確定模式都一致時，所 述狀態(tài)計數(shù)單元喚醒所述同步碼檢測單元。
12. 根據(jù)權(quán)利要求8的光盤設(shè)備，其特征在于根據(jù)由所述地址檢測單元檢測的所述反相部分的展現(xiàn)模式的組 合，所述同步碼檢測單元校正所述第一計數(shù)單元的輸出，以便檢測到在不正確位置實現(xiàn)了 PLL同步。
13. 根據(jù)權(quán)利要求8的光盤設(shè)備，其特征在于一經(jīng)檢測到用于確定的模式中的至少一個已經(jīng)變?yōu)橐恢?，所?同步碼檢測單元將根據(jù)由所述地址檢測單元檢測的所述反相部分的 展現(xiàn)模式的組合來校正所述第一計數(shù)單元的輸出，以便檢測到在不正 確的位置實現(xiàn)了 PLL同步。
14. 根據(jù)權(quán)利要求9的光盤設(shè)備，其特征在于一經(jīng)檢測到用于確定的模式中的至少一個已經(jīng)變?yōu)橐恢?，所?同步碼檢測單元將根據(jù)由所述地址檢測單元檢測的所述反相部分的 展現(xiàn)模式的組合來校正所述第一計數(shù)單元的輸出，以便檢測到在不正確的位置實現(xiàn)了 PLL同步。
15. —種用于檢測光盤中的記錄層上的擺動的方法，其特征在于包括步驟從對應于記錄介質(zhì)的信息記錄區(qū)所反射的反射光的一個輸出信 號中檢測由預先記錄在該信息記錄區(qū)上的擺動周期模式的布局所標識的一個反相部分；從對應于記錄介質(zhì)的信息記錄區(qū)所反射的反射光的輸出信號中 計數(shù)預先記錄在所述信息記錄區(qū)上的擺動周期模式的重復的數(shù)目(擺動數(shù)目)；以一個預定數(shù)量為單位對計數(shù)獲得的所述擺動周期模式的重復 數(shù)目進行計數(shù)；根據(jù)所述反相部分的檢測的展現(xiàn)模式，獲得在所述反相部分的 展現(xiàn)模式和預先制備的用于確定的模式之間的一致程度；根據(jù)獲得的與用于確定的所述模式相一致的程度來確定一個位 置是在PLL同步位置的附近、PLL同步位置、或PLL同步被啟動的位置；以及根據(jù)與用于確定的模式的確定的一致程度以及通過按照一個預 定數(shù)的單位計數(shù)擺動周期模式所獲得的計數(shù)結(jié)果來實現(xiàn)PLL同步。
全文摘要
本發(fā)明提供一種光盤設(shè)備，所述光盤設(shè)備檢測包括在擺動周期模式中的反相部分的展現(xiàn)模式組合與預先制備的用于確定的模式的一致性、確定是否啟動PLL同步來將各個一致程度分類成多個狀態(tài)、并通過根據(jù)所述狀態(tài)的一個預定處理過程來實現(xiàn)PLL同步。
文檔編號G11B27/19GK101174450SQ200710165250
公開日2008年5月7日 申請日期2007年10月31日 優(yōu)先權(quán)日2006年10月31日
發(fā)明者荒川信一郎 申請人:株式會社東芝