專(zhuān)利名稱(chēng)：光盤(pán)設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于讀取記錄在光盤(pán)上的信息的光盤(pán)設(shè)備，尤其涉及一 種能夠校正因?yàn)楣獗P(pán)的翹曲而出現(xiàn)的彗形像差的光盤(pán)設(shè)備。
背景技術(shù)：
近年來(lái)，廣泛地傳播并普遍使用諸如壓縮盤(pán)(以下稱(chēng)為"CD")以及數(shù) 字通用盤(pán)(以下稱(chēng)為"DVD")這樣的光盤(pán)。此外，還采用光盤(pán)設(shè)備作為讀 取和播放記錄在光盤(pán)上的信息(例如聲音信息或視頻信息)的設(shè)備。例如， CD播放器、DVD播放器或者連接個(gè)人計(jì)算機(jī)的CD-ROM驅(qū)動(dòng)器就是廣為 人知的光盤(pán)設(shè)備。
光盤(pán)設(shè)備包括光學(xué)拾取裝置，用于向光盤(pán)投射光束并讀取信息。光學(xué)拾 取裝置向安裝在轉(zhuǎn)盤(pán)上旋轉(zhuǎn)的光盤(pán)的信息記錄表面投射光束。此外，通過(guò)光 接收元件(例如設(shè)置在光學(xué)拾取裝置中的光電二極管)接收光盤(pán)的反射光。 此外，通過(guò)光接收元件將光轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，基于獲得的電信號(hào)，記錄在光盤(pán) 上的信息被輸出。
為了準(zhǔn)確地讀取光盤(pán)信息，光盤(pán)的信息記錄表面與光束的聚焦點(diǎn)必須在 光盤(pán)上的信息讀取位置達(dá)到一致。因此，光盤(pán)的信息記錄表面與設(shè)置在光學(xué) 拾取裝置中的物鏡之間的距離必須保持預(yù)定的位置關(guān)系。為了保持適當(dāng)?shù)木?離，在光學(xué)拾取裝置中設(shè)置致動(dòng)器，用于在相對(duì)于信息記錄表面垂直或水平 的方向上驅(qū)動(dòng)物鏡。此外，還設(shè)置用于驅(qū)動(dòng)致動(dòng)器的聚焦伺服機(jī)構(gòu)，以使得 物鏡與信息記錄表面之間的距離可以保持恒定。
由于各種因素，光盤(pán)的信息記錄表面有時(shí)候會(huì)出現(xiàn)翹曲。此外，在光盤(pán) 已被安裝在轉(zhuǎn)盤(pán)上時(shí)，其外周附近的部分由于自身的重量有時(shí)候會(huì)下垂。當(dāng) 翹曲或下垂輕微時(shí)，光束的光軸與信息記錄表面能夠維持基本上垂直的關(guān) 系。因此，能夠通過(guò)設(shè)置在光學(xué)拾取裝置中的上述致動(dòng)器，以在與信息記錄 表面垂直的方向上驅(qū)動(dòng)物鏡的方式來(lái)讀取信息。
但是，當(dāng)信息記錄表面的翹曲或下垂嚴(yán)重，或者當(dāng)盤(pán)的旋轉(zhuǎn)軸傾斜時(shí)， 光束的光軸與信息記錄表面有時(shí)候嚴(yán)重偏離它們之間的垂直關(guān)系。這導(dǎo)致盤(pán) 上應(yīng)當(dāng)被讀取的信息軌道不能讀出的缺陷。為了消除此缺陷，現(xiàn)有技術(shù)的光 盤(pán)設(shè)備中設(shè)置有傾斜伺服機(jī)構(gòu)(即傾斜校正部)，其能夠檢測(cè)光盤(pán)的傾斜， 以保持光束的光軸與信息記錄表面之間的垂直關(guān)系。
例如，傾斜伺服機(jī)構(gòu)能夠基于安裝在光盤(pán)設(shè)備中的傾斜傳感器所感測(cè)的
傾斜現(xiàn)象(appearance)的程度，來(lái)調(diào)節(jié)光學(xué)拾取裝置或者物鏡的傾斜。但 是，當(dāng)再次將這樣的傳感器安裝在光盤(pán)設(shè)備中時(shí)，就會(huì)出現(xiàn)這樣的問(wèn)題光 盤(pán)設(shè)備的內(nèi)部結(jié)構(gòu)容易變復(fù)雜，而且其制造成本增加。
關(guān)于上述問(wèn)題，專(zhuān)利文獻(xiàn)1 (JP-A-2000-311369)公開(kāi)了一種傾斜校正 裝置，其能夠不受電性偏移和光學(xué)偏移的影響而進(jìn)行傾斜校正，并且能夠不 受出軌校正(detrack correction)的影響，獨(dú)立地只進(jìn)行傾斜校正。
專(zhuān)利文獻(xiàn)1的傾斜校正裝置包括光電傳感器，用于接收光點(diǎn)反射的光； 獲取器件，用于從光電傳感器獲取輸出的差信號(hào)；以及傾斜控制器件，利用 所獲得的差信號(hào)的幅度作為指數(shù)，控制信息介質(zhì)與光頭(head)之間的相對(duì) 傾斜，以使得該指數(shù)可接近極值。
此外，關(guān)于上述問(wèn)題，專(zhuān)利文獻(xiàn)2 GP-A-2002-083438)公開(kāi)了一種光 學(xué)記錄/播放設(shè)備，能夠檢測(cè)出用于傾斜校正的檢測(cè)信號(hào)，不需要對(duì)光盤(pán)采取 任何特別措施，也不需要采用任何特殊器件或部件用于驅(qū)動(dòng)，并且不會(huì)擾亂 用戶的使用感覺(jué)(use sense)。
專(zhuān)利文獻(xiàn)2的光學(xué)記錄/播放設(shè)備包括用于將光線會(huì)聚在介質(zhì)上的器 件，該介質(zhì)設(shè)置有第一區(qū)和第二區(qū)，第一區(qū)具有凹部或槽，第二區(qū)為平坦的。 此外，該設(shè)備利用光線會(huì)聚器件形成的光點(diǎn)對(duì)介質(zhì)進(jìn)行聚焦伺服控制。當(dāng)進(jìn) 行控制時(shí)，該設(shè)備操作傾斜校正部，使得在介質(zhì)的反射光的檢測(cè)電平 (detection level)中，第一區(qū)中反射光的檢測(cè)電平與第二區(qū)中反射光的檢測(cè) 電平之間的差可達(dá)到最大值。
此外，關(guān)于上述問(wèn)題，專(zhuān)利文獻(xiàn)3 (JP-A-2006-196100)公開(kāi)了一種傾 斜調(diào)節(jié)裝置，其在光學(xué)拾取裝置的傾斜調(diào)節(jié)過(guò)程中，即使當(dāng)循跡誤差(tracking error)信號(hào)和RF信號(hào)的信號(hào)電平低，以及循跡誤差信號(hào)和RF信號(hào)幅度的最 大值與最小值之間的差值小時(shí)，也能夠提高近似精度。
專(zhuān)利文獻(xiàn)3的傾斜調(diào)節(jié)裝置能夠檢測(cè)使循跡誤差信號(hào)幅度最大化的傾斜 程度，同時(shí)改變光學(xué)拾取裝置的傾斜程度。在這種情況下，當(dāng)光盤(pán)為未記錄 盤(pán)時(shí)，在循跡關(guān)閉狀態(tài)下改變光學(xué)拾取裝置的傾斜程度，當(dāng)光盤(pán)為已記錄盤(pán) 時(shí)，在循跡打開(kāi)狀態(tài)下改變光學(xué)拾取裝置的傾斜程度。順便提及，當(dāng)循跡誤 差信號(hào)幅度的最大值與最小值之間的差值小時(shí)，循跡誤差信號(hào)的信號(hào)電平被 放大到預(yù)定信號(hào)電平，從而檢測(cè)出使循跡誤差信號(hào)幅度最大化的傾斜程度。
但是，專(zhuān)利文獻(xiàn)1-3中所公開(kāi)的裝置中進(jìn)行的傾斜調(diào)節(jié)處理需要重復(fù)進(jìn) 行處理時(shí)間周期較長(zhǎng)的檢測(cè)處理(例如，當(dāng)物鏡的傾斜程度改變時(shí)，檢測(cè)循 跡誤差信號(hào)幅度的處理)多次，還需要根據(jù)檢測(cè)處理結(jié)果獲得適當(dāng)?shù)膬A斜校 正程度。因此會(huì)出現(xiàn)這樣的問(wèn)題完成傾斜調(diào)節(jié)處理的時(shí)間周期變長(zhǎng)，檢測(cè) 處理的內(nèi)容容易變復(fù)雜。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種光盤(pán)設(shè)備，其不需要再增加傾斜傳感器或者用 于傾斜伺服的類(lèi)似裝置就能夠獲得適當(dāng)?shù)膬A斜校正程度，并且處理容易，時(shí) 間周期短。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的光盤(pán)設(shè)備包括物鏡，用于向光盤(pán)的記錄 表面投射光束，并接收所述光盤(pán)的反射光；致動(dòng)器，用于在所述光盤(pán)的徑向 上移動(dòng)所述物鏡；光接收部，用于將從所述光盤(pán)反射的反射光轉(zhuǎn)換為電信號(hào)； 以及傾斜校正部，基于所述光接收部將接收的反射光轉(zhuǎn)換為電信號(hào)獲得的反 射信號(hào)以及包含在所述反射信號(hào)中的循跡誤差信號(hào)，校正所述光盤(pán)出現(xiàn)的傾 斜；其特征在于所述傾斜校正部包括傾斜現(xiàn)象程度檢測(cè)部，當(dāng)利用所述致 動(dòng)器在所述光盤(pán)的徑向上移動(dòng)所述物鏡時(shí)，通過(guò)所述光接收部檢測(cè)所述反射 信號(hào)和所述循跡誤差信號(hào)，在預(yù)定期間內(nèi)檢測(cè)所述反射信號(hào)的值達(dá)到最大值 的時(shí)刻與所述循跡誤差信號(hào)的值變?yōu)榱愕臅r(shí)刻之間的時(shí)間差，以及檢測(cè)所述 時(shí)間差除以所述循跡誤差信號(hào)的一個(gè)周期的時(shí)間期間獲得的值，并將其作為 傾斜現(xiàn)象程度；相關(guān)信息記錄部，其中記錄相關(guān)信息，所述相關(guān)信息表示傾 斜現(xiàn)象程度與所述傾斜校正部降低所述傾斜現(xiàn)象程度所需的傾斜校正程度 之間的關(guān)系；以及校正程度指令部，從所述相關(guān)信息記錄部讀取所述相關(guān)信 息，基于所述相關(guān)信息和所述傾斜現(xiàn)象程度檢測(cè)部檢測(cè)的傾斜現(xiàn)象程度，確
定傾斜校正程度，以及將所確定的傾斜校正程度提供給所述傾斜校正部；所
述傾斜校正部基于所述校正程度指令部給出的傾斜校正程度校正所述光盤(pán) 出現(xiàn)的傾斜
根據(jù)上述構(gòu)造，本發(fā)明的光盤(pán)設(shè)備包括物鏡、在光盤(pán)的徑向上移動(dòng)物鏡 的致動(dòng)器以及進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換的光電檢測(cè)器(即光接收部)。光電檢測(cè)器將從 全部光接收區(qū)接收的所有光線經(jīng)光電轉(zhuǎn)換獲得的反射信號(hào)和利用多個(gè)分開(kāi) 的光接收區(qū)獲得的循跡誤差信號(hào)輸出。傾斜校正電路(即傾斜校正部)利用 上述信號(hào)進(jìn)行各種控制。
此外，根據(jù)上述構(gòu)造，本發(fā)明的光盤(pán)設(shè)備包括的傾斜現(xiàn)象程度檢測(cè)電路 (即傾斜現(xiàn)象程度檢測(cè)部)在預(yù)定時(shí)間內(nèi)，例如當(dāng)啟動(dòng)光盤(pán)的旋轉(zhuǎn)加速過(guò)程 時(shí)，在光盤(pán)的徑向上移動(dòng)物鏡的同時(shí)檢測(cè)全部反射信號(hào)和循跡誤差信號(hào)。此 外，傾斜現(xiàn)象程度檢測(cè)電路檢測(cè)反射信號(hào)的值達(dá)到最大值的時(shí)刻與循跡誤差 信號(hào)的值變?yōu)榱愕臅r(shí)刻之間的時(shí)間差。此外，傾斜現(xiàn)象程度檢測(cè)電路獲取所 述時(shí)間差除以所述循跡誤差信號(hào)的一個(gè)周期的時(shí)間期間獲得的值，并將其作 為傾斜現(xiàn)象程度。
此外，根據(jù)上述構(gòu)造，本發(fā)明的光盤(pán)設(shè)備預(yù)先將相關(guān)信息記錄在例如
ROM這樣的記錄介質(zhì)(即相關(guān)信息記錄部)中，相關(guān)信息中傾斜現(xiàn)象程度 與降低所述傾斜現(xiàn)象程度所需的傾斜校正程度相關(guān)聯(lián)。校正程度指令電路 (即校正程度指令部)讀取所述相關(guān)信息，比較所讀取的相關(guān)信息與傾斜現(xiàn) 象程度檢測(cè)電路所檢測(cè)的當(dāng)前傾斜現(xiàn)象程度，確定所需的傾斜校正程度。所 確定的傾斜校正程度提供給傾斜校正電路，用于傾斜校正電路進(jìn)行傾斜校 正。
此外，本發(fā)明的光盤(pán)設(shè)備其特征在于致動(dòng)器包括傾斜和移動(dòng)機(jī)構(gòu)，能 夠改變物鏡的徑向傾斜角，傾斜校正部基于校正程度指令部給出的傾斜校正 程度，確定致動(dòng)器的驅(qū)動(dòng)信號(hào)電平，以傾斜和移動(dòng)物鏡。
根據(jù)上述構(gòu)造，在本發(fā)明的光盤(pán)設(shè)備中，致動(dòng)器具有傾斜和移動(dòng)的功能， 以改變物鏡的徑向傾斜角。此外，傾斜校正部根據(jù)傾斜校正確定用于指示致 動(dòng)器傾斜和移動(dòng)物鏡的驅(qū)動(dòng)信號(hào)的大小，以進(jìn)行傾斜校正。
此外，本發(fā)明的光盤(pán)設(shè)備其特征在于還包括液晶器件，用于校正像差； 傾斜校正部基于所述校正程度指令部給出的傾斜校正程度確定要施加在所述液晶器件中的電極上的電壓，以校正像差。
根據(jù)上述構(gòu)造，本發(fā)明的光盤(pán)設(shè)備包括液晶器件，用于校正由于光盤(pán)的 傾斜造成的彗形像差(即像差)。此外，傾斜校正電路根據(jù)傾斜校正程度確 定要施加在液晶器件中的電極上的電壓的大小，以減少彗形像差，從而校正 傾斜。


圖1為示出本發(fā)明的光盤(pán)設(shè)備的方框圖2為示出本發(fā)明的光學(xué)拾取裝置的光學(xué)系統(tǒng)的方框圖3為示出本發(fā)明的光盤(pán)設(shè)備的旋轉(zhuǎn)加速過(guò)程(spinup process)的處理 流程的流程圖4為示出本發(fā)明的光盤(pán)設(shè)備的尋軌過(guò)程(seekprocess)的處理流程的 流程圖5為示出本發(fā)明的光盤(pán)設(shè)備的傾斜校正過(guò)程的處理流程的流程圖6A為示出未出現(xiàn)傾斜時(shí)光盤(pán)的記錄表面的模式圖(model diagram);
圖6B為示出未出現(xiàn)傾斜時(shí)從光盤(pán)的記錄表面獲得的全部反射信號(hào)的模 式圖6C為示出未出現(xiàn)傾斜時(shí)從光盤(pán)的記錄表面獲得的TE信號(hào)的模式圖7A為示出當(dāng)出現(xiàn)傾斜時(shí)光盤(pán)的記錄表面的模式圖7B為示出當(dāng)出現(xiàn)傾斜時(shí)從光盤(pán)的記錄表面獲得的全部反射信號(hào)的模 式圖7C為示出當(dāng)出現(xiàn)傾斜時(shí)從光盤(pán)的記錄表面獲得的TE信號(hào)的模式圖；1
圖8A為示出當(dāng)出現(xiàn)傾斜時(shí)從光盤(pán)的記錄表面獲得的全部反射信號(hào)隨時(shí) 間的變化的模式圖8B為示出當(dāng)出現(xiàn)傾斜時(shí)從光盤(pán)的記錄表面獲得的TE信號(hào)隨時(shí)間的變
化的模式圖9為示出本發(fā)明的傾斜校正過(guò)程中采用的相關(guān)信息的示意圖10為示出現(xiàn)有技術(shù)光盤(pán)設(shè)備的旋轉(zhuǎn)加速過(guò)程的處理流程的流程圖11為示出現(xiàn)有技術(shù)光盤(pán)設(shè)備的尋軌過(guò)程的處理流程的流程圖。
具體實(shí)施例方式
以下參照附圖描述本發(fā)明的實(shí)施例。順便提及，這里所述的實(shí)施例僅為 實(shí)例，本發(fā)明并不受限于這些實(shí)施例。
圖1為根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的光盤(pán)播放器(diskplayer) 100 (即光盤(pán)設(shè) 備)的方框圖。光盤(pán)播放器100包括光學(xué)拾取裝置1、 RF放大器31、 DSP (數(shù)字信號(hào)處理器)32、播放處理電路(playback process circuit) 33、輸出 電路34、系統(tǒng)控制器41、驅(qū)動(dòng)器42、進(jìn)給馬達(dá)51、主軸馬達(dá)52、顯示單元 61以及操控單元(manipulation unit) 71。
光學(xué)拾取裝置1向光盤(pán)91投射光束，并讀取記錄在光盤(pán)91 (CD、 DVD 或者BD)上的各種信息項(xiàng)(informationitem)，例如聲音信息和視頻信息。 該光學(xué)拾取裝置1設(shè)置有用于CD的激光二極管、用于DVD的激光二極管 以及用于BD的激光二極管。
RF放大器31、 DSP (數(shù)字信號(hào)處理器)32、播放處理電路33以及輸出 電路34用于將從光學(xué)拾取裝置1獲得的聲音信息和視頻信息等轉(zhuǎn)換為聲音 和圖像，然后將聲音和圖像分別輸出到揚(yáng)聲器和監(jiān)視器(未示出)。
RF放大器31將來(lái)自光學(xué)拾取裝置1的聲音信號(hào)和圖像信號(hào)等放大。DSP 32和播放處理電路33對(duì)來(lái)自RF放大器31的信號(hào)進(jìn)行各種信息處理(例如 視頻處理)，以用于播放。輸出電路34進(jìn)行D/A轉(zhuǎn)換等處理，以將來(lái)自播 放處理電路33的信號(hào)輸出到揚(yáng)聲器和監(jiān)視器(未示出)。
系統(tǒng)控制器41和驅(qū)動(dòng)器42用于基于通過(guò)操控單元71接收的操控指令 (instruction manipulation)，來(lái)控制光學(xué)拾取裝置1、進(jìn)給馬達(dá)51以及主軸 馬達(dá)52的操作。系統(tǒng)控制器41接收來(lái)自操控單元71的信息，將該信息傳 送給DSP32，并將來(lái)自DSP32的信息傳送給顯示單元61。驅(qū)動(dòng)器42基于 來(lái)自DSP32的指令控制光學(xué)拾取裝置1、進(jìn)給馬達(dá)51以及主軸馬達(dá)52的操 作。
進(jìn)給馬達(dá)51由驅(qū)動(dòng)器42驅(qū)動(dòng)，而驅(qū)動(dòng)器42基于DSP 32的指令操作。 這樣，光學(xué)拾取裝置1沿光盤(pán)91的徑向移動(dòng)。主軸馬達(dá)52通過(guò)驅(qū)動(dòng)器42 在光盤(pán)91的旋轉(zhuǎn)方向上驅(qū)動(dòng)光盤(pán)91。此外，驅(qū)動(dòng)器42基于DSP32的指令 對(duì)光學(xué)拾取裝置1中所包括的物鏡17進(jìn)行聚焦控制。
操控單元71供用戶向光盤(pán)播放器100發(fā)出各種指令，例如播放光盤(pán)91 。
顯示單元61利用液晶面板等器件向用戶顯示保留在光盤(pán)播放器100中的各 種信息項(xiàng)。
圖2為示出根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的光學(xué)拾取裝置1的光學(xué)系統(tǒng)的示意 圖。光學(xué)拾取裝置l向光盤(pán)91 (例如CD)投射光束并接收反射光。這樣就 可以讀取記錄在光盤(pán)91的記錄表面上的信息。順便提及，光盤(pán)91 (其中的 信息項(xiàng)能夠被光學(xué)拾取裝置1讀取)的種類(lèi)不限于本實(shí)施例中所指出的種類(lèi)， 而是能夠在不脫離本發(fā)明范圍的界限內(nèi)作出各種改變。
光學(xué)拾取裝置1包括第一光源lla、第二光源llb、 二向棱鏡12、準(zhǔn)直 透鏡13、分束器14、立鏡(upstandmirror) 15、液晶器件16、物鏡l7、檢 測(cè)透鏡18、光電檢測(cè)器I9 (即光接收部)、致動(dòng)器21、信號(hào)產(chǎn)生電路22、 傾斜校正電路23 (即傾斜校正部)、循跡控制電路24、傾斜現(xiàn)象程度檢測(cè) 電路25 (即傾斜現(xiàn)象程度檢測(cè)部)、相關(guān)信息記錄單元26 (即相關(guān)信息記 錄部)以及校正程度指令電路27 (即校正程度指令部)。下面描述構(gòu)成光學(xué) 拾取裝置1的各個(gè)部分的細(xì)節(jié)。
第一光源1 la為能夠發(fā)射與DVD對(duì)應(yīng)的650 nm波段光束的半導(dǎo)體激光 器。第二光源llb為能夠發(fā)射與BD對(duì)應(yīng)的405 nm波段光束的半導(dǎo)體激光器。 順便提及，本實(shí)施例中，光源lla和光源llb均采用僅發(fā)射單波長(zhǎng)光束的半 導(dǎo)體激光器。但是，本發(fā)明不限于這種半導(dǎo)體激光器，也可以采用例如具有 兩個(gè)光發(fā)射點(diǎn)的雙波長(zhǎng)整體式半導(dǎo)體激光器，從而能夠發(fā)射兩種波長(zhǎng)的光 束。
二向棱鏡12使得用于DVD的第一光源lla發(fā)射的光束透射通過(guò)，而將 用于BD的第二光源llb發(fā)射的光束反射。此外，二向棱鏡12使得第一光源 lla和第二光源lib發(fā)射的光束的光軸一致。透射通過(guò)二向棱鏡12或者被二 向棱鏡12反射的光束被傳輸?shù)綔?zhǔn)直透鏡13。
準(zhǔn)直透鏡13將通過(guò)二向棱鏡12的光束轉(zhuǎn)換為平行光。這里，"平行光" 表示第一光源lla和第二光源lib發(fā)射的光束的所有光路與準(zhǔn)直透鏡13的 光軸基本上平行的光線。經(jīng)準(zhǔn)直透鏡13轉(zhuǎn)換為平行光的光束被傳輸?shù)椒质?器14。
分束器14充當(dāng)分光元件，其將入射光束分離，并使得從準(zhǔn)直透鏡13傳 輸?shù)墓馐干渫ㄟ^(guò)，從而將透射光束導(dǎo)向光盤(pán)91一側(cè)；同時(shí)，分束器14將
從光盤(pán)91反射的反射光線反射，從而將反射光線導(dǎo)向光電檢測(cè)器19 一側(cè)。透射通過(guò)分束器14的光束被傳輸?shù)搅㈢R15。
立鏡15將透射通過(guò)分束器14的光束反射，從而將反射光束導(dǎo)向光盤(pán)91 。 該立鏡15處于這樣的狀態(tài)它相對(duì)于來(lái)自分束器14的光束的光軸傾斜45。， 而經(jīng)立鏡15反射的光束的光軸與光盤(pán)91的記錄表面基本上垂直。經(jīng)立鏡15 反射的光束被傳輸?shù)揭壕骷?6。
液晶器件16利用這樣一種性質(zhì)控制其折射率的變化通過(guò)向夾在透明 電極(未示出)之間的液晶(未示出)上施加電壓，液晶分子會(huì)改變它們的 定位方向。這樣，就能夠控制透射通過(guò)液晶器件16的光束的相位。因?yàn)椴?置了液晶器件16，就可以校正由于保護(hù)光盤(pán)91的記錄表面的保護(hù)層的厚度 差異、光盤(pán)91的徑向傾斜等原因造成的球面像差或者彗形像差。通過(guò)液晶 器件16的光束被傳輸?shù)轿镧R17。
物鏡17將透射通過(guò)液晶器件16的光束會(huì)聚在光盤(pán)91的記錄表面上。 此外，物鏡17制作為通過(guò)下文所述的致動(dòng)器21，可以在例如圖2所示的上、 下方向和左、右方向上移動(dòng)，并且是基于聚焦伺服信號(hào)和循跡伺服信號(hào)控制 其位置。
順便提及，在本實(shí)施例中，液晶器件16也是安裝在致動(dòng)器21上，從而 能夠和物鏡17 —起移動(dòng)。但是，液晶器件16不必總是安裝在致動(dòng)器21上， 根據(jù)光學(xué)系統(tǒng)的構(gòu)造，液晶器件6的構(gòu)造可變。
從光盤(pán)91反射的反射光依次通過(guò)物鏡17和液晶器件16，被立鏡15反 射后再被分束器14反射，然后被檢測(cè)透鏡18會(huì)聚在設(shè)置于光電檢測(cè)器19 上的光接收元件上。
光電檢測(cè)器19利用光接收元件(例如光電二極管)將接收的光信息轉(zhuǎn) 換為電信號(hào)。經(jīng)轉(zhuǎn)換獲得的電信號(hào)被傳輸給下文所述的信號(hào)產(chǎn)生電路22，用 于產(chǎn)生各種信號(hào)。
致動(dòng)器21根據(jù)驅(qū)動(dòng)器42產(chǎn)生并輸出的透鏡驅(qū)動(dòng)信號(hào)，進(jìn)行循跡操作， 在光盤(pán)91的徑向上移動(dòng)物鏡17。這里，雖然不限于此，但致動(dòng)器21可以在 其中使驅(qū)動(dòng)電流(即透鏡驅(qū)動(dòng)信號(hào))流過(guò)由永磁體(未示出)形成的磁場(chǎng)內(nèi) 的線圈(未示出)，從而通過(guò)洛倫茲力驅(qū)動(dòng)物鏡17。
此外，致動(dòng)器21還進(jìn)行傾斜操作以及聚焦操作，該傾斜操作傾斜并移動(dòng)物鏡17，使得從物鏡17投射的激光束的光軸可擺動(dòng)，該聚焦操作移動(dòng)物
鏡17，使得物鏡17靠近或遠(yuǎn)離光盤(pán)91 。
信號(hào)產(chǎn)生電路22接收光電檢測(cè)器19的輸出信號(hào)，并且由該輸出信號(hào)產(chǎn) 生各種信號(hào)，例如記錄在光盤(pán)91的記錄表面上的數(shù)據(jù)的播放信號(hào)、用于進(jìn) 行聚焦控制的聚焦伺服信號(hào)以及用于進(jìn)行循跡控制的TE信號(hào)(即循跡誤差 信號(hào))。產(chǎn)生的信號(hào)分別輸出到對(duì)應(yīng)的功能部分。
傾斜校正電路23接收來(lái)自光盤(pán)91的全部反射信號(hào)(即反射信號(hào))以及 TE信號(hào)(當(dāng)信號(hào)產(chǎn)生電路22產(chǎn)生上述信號(hào)以后)，并基于這些信號(hào)確定傾 斜校正程度。此外，傾斜校正電路23基于所確定的傾斜校正程度，通過(guò)驅(qū) 動(dòng)液晶器件16或者致動(dòng)器21進(jìn)行傾斜校正。
循跡控制電路24接收信號(hào)產(chǎn)生電路22產(chǎn)生的TE信號(hào)，基于此信號(hào)進(jìn) 行物鏡17的循跡控制。具體而言，循跡控制電路24根據(jù)TE信號(hào)或者從尋 軌控制電路(未示出)接收的軌道跳動(dòng)信號(hào)(trackjump signal)，確定物鏡 17的徑向位置，并利用致動(dòng)器21在徑向上移動(dòng)物鏡17。
當(dāng)處于循跡控制停止的狀態(tài)，在光學(xué)拾取裝置1已在光盤(pán)91的徑向上 移動(dòng)的情況下，傾斜現(xiàn)象程度檢測(cè)電路25根據(jù)全部反射信號(hào)值變?yōu)樽畲蟮?時(shí)刻與TE信號(hào)值變?yōu)榱愕臅r(shí)刻之間的時(shí)間差，來(lái)檢測(cè)傾斜現(xiàn)象的程度。順 便提及，下面將描述檢測(cè)傾斜現(xiàn)象程度的過(guò)程的細(xì)節(jié)。
相關(guān)信息記錄單元26中記錄信息(即相關(guān)信息)，該信息表示由傾斜 現(xiàn)象程度檢測(cè)電路25檢測(cè)的傾斜現(xiàn)象程度與將該傾斜現(xiàn)象程度歸零必需的 校正程度(即傾斜校正程度)之間的關(guān)系。具體而言，使用表示傾斜現(xiàn)象程 度At與傾斜校正程度之間比例關(guān)系的圖形信息，如圖9所示?；蛘?，也可以 采用這樣的方案使用記錄相關(guān)聯(lián)的傾斜現(xiàn)象程度與傾斜校正程度的表格信 息。順便提及，該信息優(yōu)選為例如基于對(duì)光盤(pán)播放器100進(jìn)行的多次測(cè)試的 測(cè)試結(jié)果而生成。
校正程度指令電路27從相關(guān)信息記錄單元26讀取相關(guān)信息，并參照所 讀取的相關(guān)信息以及從傾斜現(xiàn)象程度檢測(cè)電路25接收的傾斜現(xiàn)象程度。此 外，校正程度指令電路27獲取將從傾斜現(xiàn)象程度檢測(cè)電路25接收的傾斜現(xiàn) 象程度歸零所需的傾斜校正程度。所獲取的傾斜校正程度提供給傾斜校正電 路23。傾斜校正電路23基于給出的傾斜校正程度，調(diào)節(jié)物鏡17的傾斜或者 待施加于液晶器件16的電壓大小。
以下參照?qǐng)D6A、圖6B、圖6C、圖7A以及圖7B描述由于本實(shí)施例中 的光學(xué)拾取裝置1的移動(dòng)而造成的輸出信號(hào)的變化。圖6A、圖6B和圖6C 示出當(dāng)光學(xué)拾取裝置l從光盤(pán)91的徑向中心向其徑向外緣(即沿著箭頭a所 示的方向)移動(dòng)時(shí)，從信號(hào)產(chǎn)生電路22輸出的全部反射信號(hào)以及TE信號(hào)關(guān) 于光盤(pán)91的信息記錄表面的變化。順便提及，在這種情況下，循跡控制電 路24的循跡控制保持停止。
"全部反射信號(hào)"表示光電檢測(cè)器19檢測(cè)的所有光量的總和的變化。 通常，當(dāng)物鏡17的中心軸與存在于光盤(pán)91的信息記錄表面上的軌道的中心 一致時(shí)，全部反射信號(hào)達(dá)到最大值。此外，"TE信號(hào)"表示循跡誤差現(xiàn)象 程度的變化，循跡誤差現(xiàn)象程度根據(jù)將光電檢測(cè)器19分區(qū)得到的各個(gè)光接 收區(qū)所接收的光量的差計(jì)算出來(lái)。通常，當(dāng)物鏡17的中心軸與軌道的中心 一致時(shí)，TE信號(hào)變?yōu)榱?。但是，?dāng)光盤(pán)91出現(xiàn)傾斜時(shí)，以上結(jié)論不再適用。
圖6A示出光盤(pán)91的信息記錄表面的截面圖。圖6B示出當(dāng)光學(xué)拾取裝 置1在圖示箭頭a的方向上移動(dòng)時(shí)從信息記錄表面檢測(cè)到的全部反射信號(hào)的 變化。圖6C示出當(dāng)光學(xué)拾取裝置1在圖示箭頭a的方向上移動(dòng)時(shí)從信息記錄 表面檢測(cè)到的TE信號(hào)的變化。
各個(gè)示意圖中共同所繪出的虛線CNT表示光盤(pán)91各個(gè)軌道的中心位 置。在圖6A、圖6B和圖6C中，光盤(pán)91沒(méi)有傾斜，圖6A中信息記錄表面 與光盤(pán)91的徑向平行。因此，當(dāng)物鏡17的中心軸與虛線CNT—致時(shí)，也 就是與各個(gè)軌道的中心位置一致時(shí)，全部反射信號(hào)達(dá)到最大值，而TE信號(hào) 變?yōu)榱恪?br> 圖7A、圖7B和圖7C示出當(dāng)光學(xué)拾取裝置1從光盤(pán)91的徑向中心向其 徑向外緣(即沿著箭頭oc所示的方向)移動(dòng)時(shí)，全部反射信號(hào)(圖7B)以及 TE信號(hào)(圖7C)關(guān)于光盤(pán)91的信息記錄表面(圖7A)的變化。
與圖6A不同，在圖7A中，光盤(pán)91傾斜，因此信息記錄表面與光盤(pán)91 的徑向不平行。在這種情況下，與圖6B同樣地，當(dāng)物鏡17的中心軸與虛線 CNT—致時(shí)，全部反射信號(hào)達(dá)到最大值。但是，與圖6C不同，TE信號(hào)在偏 離虛線CNT的位置(圖7C的實(shí)例中，在位于虛線CNT右側(cè)的虛線TE0處) 變?yōu)榱?。這樣，當(dāng)光盤(pán)91傾斜時(shí)，全部反射信號(hào)達(dá)到最大值的徑向位置與TE信號(hào)變?yōu)榱愕膹较蛭恢弥g出現(xiàn)偏差。
圖8A和圖8B示出在出現(xiàn)圖7A所示的傾斜并且循跡控制停止的狀態(tài)下， 當(dāng)光學(xué)拾取裝置1從光盤(pán)91的徑向中心向其徑向外緣移動(dòng)時(shí)，各個(gè)信號(hào)基 于時(shí)間軸的變化。
圖8A示出當(dāng)光學(xué)拾取裝置1在光盤(pán)91的徑向上移動(dòng)時(shí)，從信息記錄表 面檢測(cè)的全部反射信號(hào)基于時(shí)間軸的變化。圖8B示出當(dāng)光學(xué)拾取裝置1在 光盤(pán)91的徑向上移動(dòng)時(shí)，從信息記錄表面檢測(cè)的TE信號(hào)基于時(shí)間軸的變化。 順便提及，圖8A和圖8B中的時(shí)間軸為共同的，'因此其中的虛線，例如圖 8A和圖8B中共同示出的虛線tl表示同樣的時(shí)間。
在圖8A和圖8B中，虛線tl表示全部反射信號(hào)達(dá)到最大值的時(shí)間，也 就是物鏡17的中心軸通過(guò)圖7A中的虛線CNT的位置的時(shí)間。虛線t2表示 TE信號(hào)變?yōu)榱愕臅r(shí)間，也就是物鏡17的中心軸通過(guò)圖7A中的虛線TE0的 位置的時(shí)間。此外，周期T表示TE信號(hào)變化一個(gè)周期的期間長(zhǎng)度。在圖8A 和圖8B所示的實(shí)例中，圖7A所示的傾斜在信息記錄表面中出現(xiàn)，因此虛線 tl和t2不一致。
以下參照?qǐng)D1和圖2的方框圖以及圖10和圖11的流程圖描述現(xiàn)有技術(shù) 的光盤(pán)播放器100的傾斜校正過(guò)程。這里，將旋轉(zhuǎn)加速過(guò)程(spinupprocess) 和尋軌過(guò)程(seekprocess)作為現(xiàn)有技術(shù)中傾斜校正過(guò)程產(chǎn)生的過(guò)程來(lái)進(jìn)行 示例。
圖10為示出當(dāng)現(xiàn)有技術(shù)的光盤(pán)播放器100進(jìn)行光盤(pán)91的旋轉(zhuǎn)加速過(guò)程 時(shí)處理流程的流程圖。"旋轉(zhuǎn)加速過(guò)程"用于使光盤(pán)91進(jìn)入允許光盤(pán)訪問(wèn) (例如讀取或?qū)懭?的狀態(tài)。
例如當(dāng)系統(tǒng)控制器41感測(cè)到光盤(pán)91插入光盤(pán)播放器100時(shí)，啟動(dòng)旋轉(zhuǎn) 加速過(guò)程。在步驟S110，當(dāng)感測(cè)到光盤(pán)91插入后，系統(tǒng)控制器41啟動(dòng)進(jìn)給 馬達(dá)51和主軸馬達(dá)52。
在下一步驟S120，光學(xué)拾取裝置1的第一光源1 la或者第二光源1 lb開(kāi) 始向光盤(pán)91投射光束。光電檢測(cè)器19對(duì)產(chǎn)生的反射光進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換，由此 所獲得的信號(hào)被傳輸?shù)絉F放大器31和DSP32。在步驟S130，進(jìn)給馬達(dá)51 基于以上信號(hào)啟動(dòng)聚焦控制。此外，在步驟S140，循跡控制電路24和進(jìn)給 馬達(dá)51基于以上信號(hào)啟動(dòng)循跡控制。當(dāng)啟動(dòng)聚焦控制和循跡控制后，在步驟S150，進(jìn)行處理以獲得在上述兩
個(gè)控制處理中要用到的控制參數(shù)。例如在循跡控制中，基于信號(hào)產(chǎn)生電路22 輸出的TE信號(hào)獲得用于確定光學(xué)拾取裝置1的徑向位置的控制參數(shù)。
隨后，在步驟S160，進(jìn)行處理以獲得傾斜校正程度。該處理以這樣的方
式進(jìn)行當(dāng)物鏡17的傾斜角在預(yù)定范圍內(nèi)變化時(shí)，或者當(dāng)要提供給液晶器
件16的電壓變化時(shí)，傾斜校正電路23檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生電路22輸出的全部反 射信號(hào)和TE信號(hào)。
當(dāng)包含在全部反射信號(hào)中的播放信號(hào)達(dá)到最佳值時(shí)，傾斜校正電路23 基于物鏡17的傾斜角或者提供給液晶器件16的電壓獲得傾斜校正程度。所 獲得的傾斜校正程度暫時(shí)記錄在存儲(chǔ)器等器件中。順便提及，為了提高精度， 優(yōu)選重復(fù)多次獲得傾斜校正程度的處理，并對(duì)所獲得的傾斜校正程度取平均 值。
隨后，在步驟S170，傾斜校正電路23基于記錄的傾斜校正程度，通過(guò) 控制液晶器件16或者致動(dòng)器21來(lái)進(jìn)行傾斜校正。隨后，在步驟S180，光學(xué) 拾取裝置1開(kāi)始從光盤(pán)91的信息記錄表面讀取地址信息。之后，斷續(xù)進(jìn)行 地址信息的讀取，以允許對(duì)于光盤(pán)91的光盤(pán)訪問(wèn)。然后，旋轉(zhuǎn)加速過(guò)程結(jié) 束。
圖11為示出當(dāng)現(xiàn)有技術(shù)的光盤(pán)播放器100對(duì)光盤(pán)91進(jìn)行尋軌過(guò)程時(shí)的 處理流程的流程圖。例如當(dāng)系統(tǒng)控制器41感測(cè)到用于從光盤(pán)91讀取特定信 息的播放過(guò)程指令時(shí)，啟動(dòng)尋軌過(guò)程。當(dāng)啟動(dòng)尋軌過(guò)程后，在步驟S210，系 統(tǒng)控制器41首先獲取光學(xué)拾取裝置1投射光束的當(dāng)前軌道的地址信息(即 當(dāng)前地址)。此外，在步驟S220，系統(tǒng)控制器41確定當(dāng)前地址與指示的地 址(即目標(biāo)地址)是否一致。
如果一致，就不必進(jìn)行尋軌過(guò)程，因此，該過(guò)程結(jié)束。如果不一致，則 在步驟S230，系統(tǒng)控制器41確定目標(biāo)地址與當(dāng)前地址之間的差是否超過(guò)預(yù) 先設(shè)定的預(yù)定值。順便提及，關(guān)于該預(yù)定值的適用值，例如可提及這樣一種 方法將地址差轉(zhuǎn)換為軌道數(shù)目，根據(jù)軌道數(shù)目將地址差的預(yù)定值設(shè)定在大 約100。
如果沒(méi)有超過(guò)預(yù)定值，則在步驟S235，跳過(guò)當(dāng)前軌道，以進(jìn)行短距離尋 軌過(guò)程。在短距離尋軌過(guò)程中，不必再進(jìn)行傾斜校正過(guò)程，因此在軌道跳動(dòng)后，處理流程再次轉(zhuǎn)移到步驟S210。此外，再次檢查當(dāng)前地址與目標(biāo)地址之 間的距離。
相反地，如果在步驟S230超過(guò)預(yù)定值，則啟動(dòng)長(zhǎng)距離尋軌過(guò)程。當(dāng)進(jìn) 行長(zhǎng)距離尋軌過(guò)程時(shí)，需要再進(jìn)行傾斜校正過(guò)程。因此，在步驟S240，首先 停止循跡控制電路24的循跡控制。隨后，在步驟S250，系統(tǒng)控制器41改變 光盤(pán)91的旋轉(zhuǎn)數(shù)，在步驟S260，系統(tǒng)控制器41移動(dòng)光學(xué)拾取裝置1的螺紋 (thread)，在步驟S270,系統(tǒng)控制器41根據(jù)光盤(pán)91的徑向位置進(jìn)行傾斜 校正過(guò)程。
順便提及，步驟S270的傾斜校正過(guò)程的內(nèi)容與圖10中步驟S160和步 驟S170的內(nèi)容相同，因此省略其描述。完成傾斜校正后，在步驟S280，啟 動(dòng)循跡控制電路24的循跡控制。此外，處理流程再次轉(zhuǎn)移到步驟S210。這 樣，系統(tǒng)控制器41再次檢查當(dāng)前地址與目標(biāo)地址之間的距離。
以下參照?qǐng)D1和圖2的方框圖以及圖3和圖4的流程圖描述根據(jù)本發(fā)明 實(shí)施例的光盤(pán)播放器100中傾斜校正過(guò)程產(chǎn)生的處理。圖3為示出當(dāng)本發(fā)明 的光盤(pán)播放器100進(jìn)行光盤(pán)91的旋轉(zhuǎn)加速過(guò)程時(shí)的處理流程的流程圖。順 便提及，與現(xiàn)有技術(shù)的處理流程的處理步驟內(nèi)容相同的處理步驟采用與圖10 中相同的步驟標(biāo)號(hào)。
步驟SllO至S130分別進(jìn)行與現(xiàn)有技術(shù)的光盤(pán)播放器100同樣的處理， 因此省略其描述。在步驟S130之后的步驟S135，進(jìn)行本發(fā)明的傾斜校正流 程。順便提及，下面將描述本發(fā)明的傾斜校正流程的細(xì)節(jié)。
在進(jìn)行傾斜校正流程之后，以與現(xiàn)有技術(shù)同樣的方式進(jìn)行步驟S140和 S150的處理。但是，由于在步驟S135進(jìn)行了傾斜校正流程，所以不必進(jìn)行 現(xiàn)有技術(shù)的步驟S160和S170，故可省略這些步驟。最后，在步驟S180，系 統(tǒng)控制器41啟動(dòng)地址讀取處理，由此結(jié)束該處理流程。
圖4為示出當(dāng)根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的光盤(pán)播放器100對(duì)光盤(pán)91進(jìn)行尋軌 過(guò)程時(shí)的處理流程的流程圖。順便提及，與現(xiàn)有技術(shù)的處理流程的處理步驟 內(nèi)容相同的處理步驟采用與圖11中相同的步驟標(biāo)號(hào)。
步驟S210至S260分別進(jìn)行與現(xiàn)有技術(shù)的光盤(pán)播放器100同樣的處理， 因此省略其描述。本發(fā)明中，在步驟S260之后的步驟S265，進(jìn)行本發(fā)明的 傾斜校正流程。順便提及，下面將描述傾斜校正流程的細(xì)節(jié)。
由于在步驟S265進(jìn)行了傾斜校正流程，所以不必進(jìn)行現(xiàn)有技術(shù)光盤(pán)播
放器100執(zhí)行的步驟S270，故可省略該步驟。最后，在步驟S280，循跡控 制電路24啟動(dòng)循跡控制，由此處理流程轉(zhuǎn)移到步驟S210。
以下參照?qǐng)D1和圖2的方框圖、圖5的流程圖以及圖8A和圖8B的模式 圖描述根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的光盤(pán)播放器100的傾斜校正流程。順便提及，該 傾斜校正流程是這樣一種處理流程，其詳細(xì)示出圖3中的步驟S135和圖4 中的步驟S265的內(nèi)容。由于步驟S135和步驟S265的處理內(nèi)容相同，所以 結(jié)合圖5所示的一個(gè)流程圖來(lái)描述。
圖5的處理流程以這樣的方式啟動(dòng)在圖3的步驟S135或者圖4的步 驟S265指示傾斜校正流程的啟動(dòng)。首先，在步驟S310，系統(tǒng)控制器41檢查 光盤(pán)播放器100是否處于循跡控制電路24的循跡控制停止并且進(jìn)給馬達(dá)51 等的聚焦控制在進(jìn)行的狀態(tài)。當(dāng)不是處于上述狀態(tài)時(shí)，停止循跡控制和/或啟 動(dòng)聚焦控制，從而使光盤(pán)播放器100進(jìn)入上述狀態(tài)。
隨后，在步驟S320，當(dāng)光學(xué)拾取裝置1通過(guò)進(jìn)給馬達(dá)51在光盤(pán)91的徑 向上移動(dòng)時(shí)，傾斜現(xiàn)象程度檢測(cè)電路25向信息記錄表面投射光束。此外， 利用光電檢測(cè)器19和信號(hào)產(chǎn)生電路22啟動(dòng)全部反射信號(hào)和TE信號(hào)的測(cè)量。
隨后，在步驟S330，傾斜現(xiàn)象程度檢測(cè)電路25根據(jù)TE信號(hào)的波形測(cè) 量單個(gè)周期的長(zhǎng)度。在圖8B所示的實(shí)例中，圖8B中的周期T為T(mén)E信號(hào)單 個(gè)周期的長(zhǎng)度。
隨后，在步驟S340，傾斜現(xiàn)象程度檢測(cè)電路25獲取由信號(hào)產(chǎn)生電路22 得到的全部反射信號(hào)的值達(dá)到最大值的時(shí)間(=tl)。在圖8A和圖8B所示的 實(shí)例中，圖8A和圖8B共有的虛線tl表示上述時(shí)間。順便提及，如圖8B所 示，新的時(shí)間tl是隨著時(shí)間流逝相繼被感測(cè)的(在圖中向右觀察)。因此， 傾斜現(xiàn)象程度檢測(cè)電路25總是保存最新的時(shí)間tl，并且優(yōu)選將過(guò)去的預(yù)定 時(shí)間周期內(nèi)檢測(cè)到的多個(gè)時(shí)間tl記錄在存儲(chǔ)器等器件中。
隨后，在步驟S350，傾斜現(xiàn)象程度檢測(cè)電路25獲取由信號(hào)產(chǎn)生電路22 得到的TE信號(hào)變?yōu)榱愕臅r(shí)間(-t2)。在圖8A和圖8B所示的實(shí)例中，圖8A 和圖8B共有的虛線t2表示上述時(shí)間。與時(shí)間tl類(lèi)似，新的時(shí)間t2也是隨 著時(shí)間被感測(cè)。因此，傾斜現(xiàn)象程度檢測(cè)電路25總是保存最新的時(shí)間t2， 并且優(yōu)選將過(guò)去的預(yù)定時(shí)間周期內(nèi)檢測(cè)到的多個(gè)時(shí)間t2記錄在存儲(chǔ)器等器件中。
隨后，在步驟S360，傾斜現(xiàn)象程度檢測(cè)電路25根據(jù)獲得的周期T和時(shí) 間tl、 t2計(jì)算傾斜現(xiàn)象程度(^At)。具體而言，傾斜現(xiàn)象程度At按照以下的公
式計(jì)算
At = (t2 —tl)/(周期T)
順便提及，當(dāng)對(duì)于時(shí)間t2存在多個(gè)時(shí)間tl時(shí)，優(yōu)選使用時(shí)間差的絕對(duì) 值小的時(shí)間tl。在圖8B所示的實(shí)例中，位于虛線t2左側(cè)的虛線tl對(duì)應(yīng)于優(yōu) 選的時(shí)間tl，而位于虛線t2右側(cè)的虛線tl被忽略。其原因在于位于虛線 t2右側(cè)的虛線tl代表在不同軌道處全部反射信號(hào)的值達(dá)到最大值的時(shí)間。
隨后，在步驟S370，傾斜現(xiàn)象程度檢測(cè)電路25確定步驟S320至S360 的處理是否已進(jìn)行了預(yù)先設(shè)定的預(yù)定次數(shù)。如果確定處理沒(méi)有進(jìn)行預(yù)定次 數(shù)，則處理流程轉(zhuǎn)移到步驟S320，從而重復(fù)進(jìn)行獲得傾斜現(xiàn)象程度的處理。 相反地，如果確定處理進(jìn)行了預(yù)定次數(shù)，則處理流程轉(zhuǎn)移到后續(xù)步驟S380。
隨后，在步驟S380，校正程度指令電路27從記錄單元(例如存儲(chǔ)器) 讀取傾斜校正數(shù)據(jù)(即相關(guān)信息)。傾斜校正數(shù)據(jù)表示傾斜現(xiàn)象程度At與將 該程度At歸零(即用于校正傾斜)所需的傾斜校正程度之間的關(guān)系，例如圖 9所示。
"傾斜校正程度"例如表示用于改變物鏡17的傾斜所要提供給致動(dòng)器 21的驅(qū)動(dòng)信號(hào)電平的大小，或者表示要提供給液晶器件16的電極的電壓的 大小。順便提及，在圖9中，圖形數(shù)據(jù)被示出作為傾斜校正數(shù)據(jù)的實(shí)例，但 是傾斜校正數(shù)據(jù)也可以采用表格數(shù)據(jù)的形式，其中傾斜現(xiàn)象程度At與傾斜校 正程度相關(guān)聯(lián)，并且以穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)示出。
隨后，在步驟S390，校正程度指令電路27利用讀取的傾斜校正數(shù)據(jù)， 確定用于將在步驟S360獲得的程度At歸零的傾斜校正程度。順便提及，通 常將前述的步驟S360進(jìn)行多次，作為步驟S370的處理的分支。因此，禾, 例如經(jīng)多次而獲得的程度At的平均值，來(lái)確定傾斜校正程度。或者，也可以 采用這樣的方法分別確定與所有獲得的傾斜現(xiàn)象程度At對(duì)應(yīng)的傾斜校正程 度，再計(jì)算多個(gè)所確定的傾斜校正程度的平均值。
隨后，在步驟S400，校正程度指令電路27將步驟S390獲得的傾斜校正 程度提供給傾斜校正電路23。之后，傾斜校正電路23利用給出的傾斜校正程度進(jìn)行傾斜校正。具體而言，例如，用于基于給出的傾斜校正程度來(lái)傾斜 和移動(dòng)物鏡17的驅(qū)動(dòng)信號(hào)被傳輸給致動(dòng)器21?；蛘?，基于傾斜校正程度， 控制要提供給液晶器件16的電壓，從而控制液晶器件16進(jìn)行的彗形像差校 正的校正程度。然后，傾斜校正過(guò)程結(jié)束。
根據(jù)上述構(gòu)造，不必像現(xiàn)有技術(shù)那樣，通過(guò)改變傾斜校正程度多次來(lái)獲 得優(yōu)化播放信號(hào)的傾斜校正程度，并且能夠縮短處理時(shí)間周期。此外，不需 要再增加任何器件用于傾斜校正。此外，由于處理時(shí)間周期短，所以能夠隨 時(shí)進(jìn)行傾斜校正過(guò)程，并且能夠在例如環(huán)境溫度變化的時(shí)候進(jìn)行。此外，能 夠利用由校正程度指令電路給出的傾斜校正程度進(jìn)行傾斜校正，不需要改變 已有傾斜校正電路的功能。
雖然通過(guò)優(yōu)選實(shí)施例描述了本發(fā)明，但是本發(fā)明并不限于上述實(shí)施例， 在其技術(shù)原理的范圍內(nèi)，能夠作出各種改變并實(shí)施。
因此，本發(fā)明也可以采用以下方案
(A) 在上述實(shí)施例中，旋轉(zhuǎn)加速過(guò)程和尋軌過(guò)程示例作為傾斜校正流程 (圖5)產(chǎn)生的過(guò)程，但是也可以采用這樣的方案當(dāng)任何其它過(guò)程中必須
進(jìn)行傾斜校正時(shí)，都可以進(jìn)行本發(fā)明的傾斜校正流程。
(B) 在實(shí)施例中，在進(jìn)行圖4所示的尋軌過(guò)程中，在步驟S260移動(dòng)螺紋 之后的步驟S265進(jìn)行傾斜校正流程。對(duì)此，也可以采用這樣的方案緊接 著步驟S260，設(shè)定一定的時(shí)間周期(例如幾個(gè)ms至幾十個(gè)ms)作為穩(wěn)定信 號(hào)的穩(wěn)定時(shí)間(settling time)。
(C) 在實(shí)施例中，將用于傾斜和移動(dòng)物鏡17的致動(dòng)器21以及液晶器件 16示例作為傾斜校正電路23的控制的主體。但是也可以采用這樣的方案 基于本發(fā)明的傾斜校正流程所獲得的傾斜校正程度，傾斜校正電路23向任 何其它傾斜校正裝置發(fā)出傾斜校正指令。
(D) 在實(shí)施例中，將光盤(pán)播放器IOO示例作為具有光學(xué)拾取裝置1的光 盤(pán)設(shè)備，但是也可以在任何其它具有光學(xué)拾取裝置1的光盤(pán)設(shè)備、例如像 CD-R驅(qū)動(dòng)器這樣的光盤(pán)記錄設(shè)備中實(shí)施本發(fā)明。
(E) 為了進(jìn)行循跡控制，上述實(shí)施例包括信號(hào)產(chǎn)生電路22、傾斜校正電 路23、循跡控制電路24、傾斜現(xiàn)象程度檢測(cè)電路25以及校正程度指令電路
27，但是也可以采用這樣的方案在處理單元(例如微處理器)中運(yùn)行與上 述多個(gè)電路功能相同的程序，從而實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的傾斜校正過(guò)程。
權(quán)利要求
1、一種光盤(pán)設(shè)備，包括物鏡，用于向光盤(pán)的記錄表面投射光束，并接收所述光盤(pán)的反射光；致動(dòng)器，用于在所述光盤(pán)的徑向上移動(dòng)所述物鏡；光接收部，用于將從所述光盤(pán)反射的反射光轉(zhuǎn)換為電信號(hào)；以及傾斜校正部，基于所獲得的反射信號(hào)以及包含在所述反射信號(hào)中的循跡誤差信號(hào)，校正所述光盤(pán)出現(xiàn)的傾斜，其中，所述反射信號(hào)是通過(guò)所述光接收部將接收的反射光轉(zhuǎn)換為電信號(hào)獲得的，所述傾斜校正部包括傾斜現(xiàn)象程度檢測(cè)部，當(dāng)利用所述致動(dòng)器在所述光盤(pán)的徑向上移動(dòng)所述物鏡時(shí)，通過(guò)所述光接收部來(lái)檢測(cè)所述反射信號(hào)和所述循跡誤差信號(hào)；在預(yù)定期間內(nèi)檢測(cè)所述反射信號(hào)的值達(dá)到最大值的時(shí)刻與所述循跡誤差信號(hào)的值變?yōu)榱愕臅r(shí)刻之間的時(shí)間差；以及檢測(cè)所述時(shí)間差除以所述循跡誤差信號(hào)的一個(gè)周期的時(shí)間期間獲得的值，并將其作為傾斜現(xiàn)象程度；相關(guān)信息記錄部，其中記錄相關(guān)信息，所述相關(guān)信息表示傾斜現(xiàn)象程度與所述傾斜校正部降低所述傾斜現(xiàn)象程度所需的傾斜校正程度之間的關(guān)系；以及校正程度指令部，從所述相關(guān)信息記錄部讀取所述相關(guān)信息；基于所述相關(guān)信息和所述傾斜現(xiàn)象程度檢測(cè)部檢測(cè)的傾斜現(xiàn)象程度，確定傾斜校正程度；以及將所確定的傾斜校正程度提供給所述傾斜校正部；其中，所述傾斜校正部基于所述校正程度指令部給出的傾斜校正程度校正所述光盤(pán)出現(xiàn)的傾斜。
2、 如權(quán)利要求1所述的光盤(pán)設(shè)備，其中所述致動(dòng)器具有傾斜和移動(dòng)的功能，以改變所述物鏡的徑向傾斜角；及 所述傾斜校正部基于所述校正程度指令部給出的傾斜校正程度，確定用 于所述致動(dòng)器的驅(qū)動(dòng)信號(hào)電平，以傾斜和移動(dòng)所述物鏡。
3、 如權(quán)利要求1或2所述的光盤(pán)設(shè)備，包括 液晶器件，用于校正像差；其中，所述傾斜校正部基于所述校正程度指令部給出的傾斜校正程度， 確定要施加在所述液晶器件中的電極上的電壓，以校正所述像差。
全文摘要
本發(fā)明提供一種光盤(pán)設(shè)備，當(dāng)在光盤(pán)的徑向上移動(dòng)物鏡時(shí)檢測(cè)全部反射信號(hào)和循跡誤差信號(hào)，在預(yù)定時(shí)間期間內(nèi)檢測(cè)全部反射信號(hào)的值達(dá)到最大值的時(shí)刻與循跡誤差信號(hào)的值變?yōu)榱愕臅r(shí)刻之間的時(shí)間差。此外，獲取所述時(shí)間差除以循跡誤差信號(hào)的一個(gè)周期的時(shí)間期間獲得的值，作為傾斜現(xiàn)象程度。讀取將傾斜現(xiàn)象程度和與其對(duì)應(yīng)的傾斜校正程度相關(guān)聯(lián)的相關(guān)信息，比較所讀取的相關(guān)信息與傾斜現(xiàn)象程度檢測(cè)電路所檢測(cè)的當(dāng)前傾斜現(xiàn)象程度，從而確定傾斜校正所需的傾斜校正程度。將傾斜校正程度通知傾斜校正電路，用于進(jìn)行傾斜校正。本發(fā)明能夠縮短處理時(shí)間，不需再增加任何器件用于傾斜校正，并能夠隨時(shí)進(jìn)行傾斜校正過(guò)程，且不需改變已有傾斜校正電路的功能。
文檔編號(hào)G11B7/095GK101197151SQ20071018652
公開(kāi)日2008年6月11日 申請(qǐng)日期2007年12月4日 優(yōu)先權(quán)日2006年12月4日
發(fā)明者清水真彌 申請(qǐng)人:船井電機(jī)株式會(huì)社