專利名稱：一種利用閃存的方法
技術領域：
本發(fā)明涉及存儲技術領域，特別是涉及一種利用閃存的方法。
背景技術：
閃存(FlashMemory, Flash),作為一種非揮發(fā)性的半導體存儲芯片， 它在沒有電流供應的條件下也能夠長久地保存數(shù)據(jù)，而揮發(fā)性的內(nèi)存(如 DDR、 SDRAM或者RDRAM)只要停止電流供應，那么數(shù)據(jù)便無法保存。因 此，閃存成為了各類便攜型數(shù)字設備的存儲介質(zhì)的基礎，普遍應用于數(shù)碼電 視、數(shù)碼便攜式攝像機、移動電話、數(shù)碼相機、掌上電腦(Personal Digital Assistant , PDA)、游戲機、MP3播放器等設備中。
閃存由許多個塊(block)組成，每個塊(block)包括64頁(page)，每 一個頁(page)包括4個扇區(qū)(sector)。閃存的寫入4乘作必須在空白區(qū)域進 行，如果目標區(qū)域已經(jīng)有數(shù)據(jù)，必須先4察除后寫入，因此當對閃存進行讀寫 的次數(shù)多了， 一個塊中就可能出現(xiàn)壞扇區(qū)。為了防止由于將婆:據(jù)寫到壞扇區(qū)， 而造成數(shù)據(jù)的丟失，通常采用的方法為在使用閃存前，對閃存先進行初始 化掃描，只要一個塊中出現(xiàn)一個壞扇區(qū)，即將整個塊標記為壞塊，然后將凄t 據(jù)存儲到好塊中，該方法通過防止將數(shù)據(jù)寫到壞扇區(qū)來實現(xiàn)數(shù)據(jù)的安全存儲。
4旦是，如上所述，運用這種方法，只要一個塊中出現(xiàn)壞扇區(qū)時，即將整 個塊標記為壞塊，對整個塊都進行屏蔽，那么在該塊沒有完全壞掉的時，這 個塊中的好扇區(qū)會被屏蔽掉，由于該方法無法對出現(xiàn)壞扇區(qū)的塊中的好扇區(qū) 進行有效利用，造成了有限的閃存存儲資源的浪費。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明解決的問^A提供一種利用閃存的方法，可以充分地 利用閃存中的好扇區(qū)進行數(shù)據(jù)存儲，提高閃存存儲資源的利用率。為此，本發(fā)明提供了一種利用閃存的方法，包括以下步驟 掃描閃存，4艮據(jù)閃存的質(zhì)量，對閃存進行分類； . 才艮據(jù)閃存分類的結果，存儲相應重要程度的數(shù)據(jù)； 根據(jù)掃描結果，設置壞扇區(qū)所在頁為禁止寫入頁，沒有壞扇區(qū)的頁為正 常頁；
當掃描出的壞扇區(qū)數(shù)小于或等于預設值時，對正常頁執(zhí)行第一預定操
作；
當掃描出的壞扇區(qū)數(shù)大于預設值時，對正常頁執(zhí)行第二預定操作。
優(yōu)選地，根據(jù)閃存的質(zhì)量，對閃存進行掃描分類具體為
按照閃存類型抽取部分閃存樣品；
用讀或寫操作模式掃描閃存樣品，獲得各個閃存的特性；
根據(jù)閃存的特性，對閃存進行掃描；
才艮據(jù)掃描結果，將閃存劃分為不同的等級。
優(yōu)選地，所述閃存的特性為所述閃存的奇數(shù)塊的壞塊比例高于偶數(shù)塊的 壞塊比例，或者為偶數(shù)塊的壞塊比例高于奇數(shù)塊的壞塊比例，或者為閃存按 順序寫入時不出錯，隨機寫入時出錯。
優(yōu)選地，當所述閃存的特性為閃存的奇數(shù)塊的壞塊比例高于偶數(shù)塊的壞 塊比例時，對偶數(shù)塊掃描一次，對奇數(shù)塊進行多次掃描。
優(yōu)選地，當所述閃存的特性為閃存偶數(shù)塊的壞塊比例高于奇數(shù)塊的壞塊 比例的閃存時，對奇數(shù)塊進行一次掃描，對偶數(shù)塊進行多次掃描。
優(yōu)選地，當所述閃存的特性為所述閃存按順序寫入不出錯，隨機寫入 出錯，對閃存進行多次掃描。
優(yōu)選地，所述第一預定才乘作為在每個正常頁中的三個扇區(qū)寫入需要存 儲的數(shù)據(jù)，在余下的一個扇區(qū)寫入特定數(shù)據(jù)。
優(yōu)選地，所述特定數(shù)據(jù)通過對其他三個扇區(qū)中寫入的數(shù)據(jù)執(zhí)行異或運算 獲得。
優(yōu)選地，所述第二預定操作為將需要存儲的數(shù)據(jù)寫入每個正常頁的四 個扇區(qū)。優(yōu)選地，所述預設值根據(jù)所存儲數(shù)據(jù)的重要性進行設定。 優(yōu)選地，根據(jù)掃描結果，設置壞扇區(qū)所在頁為禁止寫入頁，沒有壞扇區(qū) 的頁為正常頁之后還包括步驟
設置一組預定數(shù)目的正常頁為替換頁；
當掃描出禁止寫入頁時，用替換頁將其替換。
優(yōu)選地，還包括步驟將替換出的禁止寫入頁放在替換頁組之后。 與現(xiàn)有技術相比，本發(fā)明在根據(jù)閃存質(zhì)量對閃存進行分類，在分類的基 礎上進行相應重要程度數(shù)據(jù)的存儲，并將沒有壞扇區(qū)的頁設置為正常頁，根 據(jù)壞扇區(qū)數(shù)的數(shù)量對正常頁執(zhí)行相應存儲操作，從而有效地利用了閃存中壞 扇區(qū)之外的正常頁進行數(shù)據(jù)存儲，而不是一個塊中出現(xiàn)壞扇區(qū)時對整個塊禁 止寫入，有效地利用一個閃存中沒有出現(xiàn)壞扇區(qū)的頁，提高了閃存的利用率。


圖1是本發(fā)明提供的一種利用閃存方法的實施例的流程圖2為對閃存進行掃描分類的方法流程圖3為一個正常頁中存儲數(shù)據(jù)A、 B、 C、 D的示意圖4為一個正常頁的扇區(qū)中存儲數(shù)據(jù)E的示意圖5為本發(fā)明對閃存中的禁止寫入頁進行動態(tài)補償?shù)牧鞒虉D。
具體實施例方式
為使本領域技術人員更好地理解本發(fā)明，下面結合具體實施例對本發(fā)明 提供的利用閃存的方法作具體說明。
信息是通過語言、文字、聲音、圖形、圖像等信號表示，信息不能獨立 存在，它需要轉化為某種物理形式存在，即我們通常所說的數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)是各 種各樣的物理符號及其組合，它反映了信息的內(nèi)容。數(shù)據(jù)的形式會隨著物理 媒介的改變而發(fā)生變化。比如， 一首歌，用磁帶錄制下來，用CD刻錄出來， 他們都可以傳遞歌曲。在磁帶上，數(shù)據(jù)是磁性強度不同的磁信號，在光盤上， 他們是深淺不同的凹坑。但是他們記錄的信息是相同的。在計算機領域，計算機的基本功能是對數(shù)據(jù)進行運算和加工處理，數(shù)據(jù)
的類型有兩種 一種是數(shù)值數(shù)據(jù)，如3.1416、 -2.71828......,另一種是非數(shù)
值數(shù)據(jù)(信息)，如A、 b、 +、=......。無論哪一種數(shù)據(jù)在計算機中都是用
二進制數(shù)碼表示的。計算機中只有二進制數(shù)值，所有的符號都是用二進制數(shù) 值代碼表示的，數(shù)的正、負號也是用二進制代碼表示。數(shù)值的最高位用"0"、 'T，分別表示數(shù)的正、負號。 一個數(shù)(連同符號)在計算機中的表示形式稱為 機器數(shù)，數(shù)值處理采用二進制運算，非數(shù)值處理采用二進制編碼，它們具有 運算簡單、電路實現(xiàn)方便、成本低廉等優(yōu)點。
基于計算機領域中的數(shù)據(jù)是用二進制數(shù)碼來表示，本發(fā)明提供了 一種利 用閃存的方法，保證數(shù)據(jù)存儲安全的同時，充分地利用閃存中的好扇區(qū)進行 數(shù)據(jù)存儲，提高閃存存儲資源的利用率。參見圖1,具體步驟如下
步驟S101:根據(jù)閃存的質(zhì)量，對閃存進行掃描分類。
為了更有效地利用有限的閃存資源，可以根據(jù)數(shù)據(jù)的重要性程度將數(shù)據(jù) 存儲到對應質(zhì)量的閃存，即將重要的數(shù)據(jù)存儲到質(zhì)量高的閃存，將重要性較 低的數(shù)據(jù)存儲到質(zhì)量較低的閃存。
為了區(qū)分閃存的質(zhì)量，使用戶可以根據(jù)數(shù)據(jù)的重要性程度將數(shù)據(jù)存儲到 對應質(zhì)量的閃存，更好地利用有限的閃存資源，從而需要將閃存的質(zhì)量分為 不同的等級。參見圖2，具體進行閃存分類的流程為
步驟S101A:按照閃存類型抽取部分閃存樣品。
閃存的類型主要有儲存容量大的數(shù)據(jù)存儲型(NAND)和處理速度快 的代碼存儲型(NOR)。
即使為同一種類型的閃存，由于在不同的生產(chǎn)批次生產(chǎn)，閃存特性可能 也不相同，因此，抽取的閃存樣品需要為同一批次。
步驟S101B:用讀或寫操作模式掃描閃存樣品。
需要說明的是，在閃存未進行初始化之前，只能通過讀或寫的操作模式 掃描閃存，從而得出閃存特性。
步驟S101C:根據(jù)掃描結果，獲得各個閃存的特性。閃存的特性例如為奇數(shù)塊的壞塊數(shù)高于偶數(shù)塊的壞塊數(shù)或者偶數(shù)塊的 壞塊數(shù)高于奇數(shù)塊的壞塊數(shù)。
通過安裝在測試單元中的量產(chǎn)模塊，對閃存進行掃描，從而可以得出閃 存的特性。一^L來說， 一個測試單元可與多個測試架連4^,在一個測試架i殳 置一個閃存，因此，將特性相同的多個閃存設置在一個測試單元連接的測試
架上，可以才艮據(jù)相同的測試方法對多個閃存同時進行測試，^v而可以節(jié)約測
試閃存的成本和時間。例如奇數(shù)塊的壞塊比例高于偶數(shù)塊的壞塊比例的閃 存，或者偶數(shù)塊的壞塊比例高于奇數(shù)塊的壞塊比例的閃存，可以作為特性相 同的閃存一起設置于與測試單元連4^的測試架上。 上述的測試架通常由控制芯片廠家生產(chǎn)提供。 測試單元可以為電腦主機或其他具有控制、測試功能的裝置。 步驟S101D:根據(jù)閃存的特性，對閃存進行掃描。
當閃存的特性為奇數(shù)塊的壞塊比例高于偶數(shù)塊的壞塊比例時，對偶數(shù) 塊掃描一次，對奇數(shù)塊進行多次掃描。
當閃存的特性為偶數(shù)塊的壞塊比例高于奇數(shù)塊的壞塊比例的閃存時， 對奇數(shù)塊進行一次掃描，對偶數(shù)塊進行多次掃描。
當閃存的特性為閃存按順序寫入時不出錯，隨機寫入時出錯，對整個 閃存進行多次掃描。
步驟S101E: 4艮據(jù)掃描結果，將閃存劃分為不同的等級。
具體為將沒有壞塊的閃存劃分為一級閃存；
當一個閃存中掃描出的壞塊比例小于或等于預設值時，劃分該閃存為二 級閃存；
當 一個閃存中掃描出的壞塊比例大于預設值時，劃分該閃存為三級閃存。
當然，用戶可以才艮據(jù)需要將閃存劃分為多個等級。 步驟S102:根據(jù)閃存分類的結果，存儲相應重要程度的數(shù)據(jù)。如上所述，通過將閃存劃分為不同的等級，將相應重要程度的數(shù)據(jù)存儲 到對應等級的閃存中，可以更有效地利用有限的閃存資源，使用戶能夠才艮據(jù) 數(shù)據(jù)的重要性程度將數(shù)據(jù)存儲到對應質(zhì)量的閃存。
步驟S103: 4艮據(jù)掃描結果，設置壞扇區(qū)所在頁為禁止寫入頁，沒有壞扇 區(qū)的頁為正常頁。
步驟S104:當掃描出的壞扇區(qū)數(shù)小于或等于預設值時，對正常頁執(zhí)行第 一預定操作；當掃描出的壞扇區(qū)數(shù)大于預設值時，對正常頁執(zhí)行第二預定操 作。
在數(shù)據(jù)存儲前，需要對閃存進行初始化掃描。
需要說明的是，運用本發(fā)明提供的方法，在本次(即當前)需要對閃存 進行數(shù)據(jù)存儲時，在初始化掃描中如果發(fā)現(xiàn)一個塊的某個頁中出現(xiàn)壞扇區(qū)， 則將該頁標記為禁止寫入頁，禁止對出現(xiàn)問題的壞扇區(qū)所在頁進行寫入操作， 當然，該禁止寫入頁依然可以進行讀取操作。
在這里，禁止寫入頁之外的其他頁為正常頁，由于不存在壞扇區(qū)，本發(fā) 明對其進行數(shù)據(jù)寫入、讀取操作。
需要說明的是，掃描出的壞塊數(shù)體現(xiàn)了該閃存的穩(wěn)定性，壞塊數(shù)越多， 則該閃存越不穩(wěn)定。
所述的預設值可以根據(jù)所存儲數(shù)據(jù)的重要性進行調(diào)整設定，可以為閃存 總塊數(shù)的一半、三分之一或其他預"i殳定的值。
基于閃存的每個頁中包括有4個扇區(qū)，所述第一預定操作為在每個正 常頁中的三個扇區(qū)寫入需要存儲的數(shù)據(jù)，在余下的一個扇區(qū)寫入特定數(shù)據(jù)， 該特定數(shù)據(jù)通*于其他三個扇區(qū)中寫入的數(shù)據(jù)執(zhí)行異或運算后得到。
這里，異或是用于邏輯運算的數(shù)學運算符。
例如，本次需要存儲時，在一個正常頁中的三個扇區(qū)分別寫入要存儲的 數(shù)據(jù)A、 B、 C，在余下的扇區(qū)存儲特定數(shù)據(jù)D,那么使所述特定數(shù)據(jù)D= A B C。圖3為在一個正常頁中存儲數(shù)據(jù)A、 B、 C、 D的示意圖。由于特 定數(shù)據(jù)D二A④B十C,那么根據(jù)異或運算法則，B=A@D C, C = A D B， A=B C D;所以下次對閃存進行讀取數(shù)據(jù)B時，如果B數(shù)據(jù)所在的扇區(qū)損壞時，可以運算得到B; C數(shù)據(jù)所在的扇區(qū)損壞時，可以運算得到C; A 數(shù)據(jù)所在的扇區(qū)損壞時，可以運算得到A。
計算機中數(shù)據(jù)的存儲是一字節(jié)(8BIT)來存儲的，假設A為十進制數(shù)1, 存儲時轉化成二進制為00000001; B為十進制數(shù)2，存儲時轉化成二進制為 00000010; C為十進制數(shù)4，存儲時轉化成二進制為00000100,那么對A、 B、 C執(zhí)行異或運算，D=A B C, D會被存儲為二進制00000111,十進制 值為7。
由于閃存的每個頁中包括有4個扇區(qū)，本次需要將數(shù)據(jù)寫入閃存時，通 過在每個正常頁的三個扇區(qū)用來存儲需要寫入的數(shù)據(jù)， 一個扇區(qū)用來存儲特 定數(shù)據(jù)，從而即使在下次進行閃存數(shù)據(jù)讀取時，掃描出數(shù)據(jù)存儲頁中的某個 扇區(qū)出現(xiàn)損壞，而將壞扇區(qū)所在頁設置為禁止寫入頁時，由于可以對禁止寫 入頁進行讀寫操作，因此仍然可以還原得到在該扇區(qū)所存儲的數(shù)據(jù)，達到安 全存儲數(shù)據(jù)的目的。
目前在使用閃存前，對閃存先進行初始化掃描，只要一個塊中出現(xiàn)一個 壞扇區(qū)，即將整個塊標記為壞塊，從而對該塊進行屏蔽。本發(fā)明在本次存儲 數(shù)據(jù)時，通過執(zhí)行第一預定操作，使得不需由于閃存一個頁中有一個壞扇區(qū) 時，而對該頁所在的整個閃存塊執(zhí)行屏蔽操作，本發(fā)明只是禁止對出現(xiàn)問題 的頁進行寫入操作，從而有效利用了一個塊中其他頁剩余的好扇區(qū)，提高了 閃存的利用率。
所述第二預定操作為將需要存儲的數(shù)據(jù)寫入一個頁的四個扇區(qū)。在本 次需要對閃存存儲數(shù)據(jù)時，通過這個操作，只要在一個頁的四個扇區(qū)中還存 在一個好的扇區(qū)，那么就能保證下次使用閃存時，能夠讀到所存儲的數(shù)據(jù)， 使數(shù)據(jù)不會丟失。假定需要存儲的數(shù)據(jù)為E，圖4為在一個頁的扇區(qū)中存儲 數(shù)據(jù)E的示意圖。
需要說明的是，目前的存儲方法為如果一個塊的一個扇區(qū)壞掉了，整 個壞都要屏蔽掉，這樣嚴重減少閃存能夠用來存儲數(shù)據(jù)的容量，浪費閃存存 儲資源。而運用本發(fā)明提供的方法，在本次需要存儲數(shù)據(jù)時，在掃描中發(fā)現(xiàn) 有壞扇區(qū)，僅禁止對壞扇區(qū)所在頁進行寫入操作，仍然可以對所在頁的其他好扇區(qū)進行讀取操作，且通過執(zhí)行第二預定操作，只要下次使用閃存時，閃 存塊中存儲數(shù)據(jù)的頁的四個扇區(qū)中還存在一個好的扇區(qū)，就能保證用戶可以 讀取到所存儲的數(shù)據(jù)，因此，本次存儲數(shù)據(jù)時，通過執(zhí)行第二預定操作，使 得下次使用閃存時，只有對數(shù)據(jù)存儲頁的扇區(qū)的掃描結果全是壞扇區(qū)時，才 無法讀取到該頁所存儲的數(shù)據(jù)，從而有效提高了所存儲數(shù)據(jù)的安全性。
為了更好地使用閃存，保證數(shù)據(jù)的存儲安全，本發(fā)明可以對已經(jīng)進行分 類的閃存，即在上述步驟S103之后，利用替換頁對閃存中的禁止寫入頁進行
動態(tài)補償，來減少閃存出錯的概率。參見圖5，具體進行動態(tài)補償?shù)牧鞒倘缦?br> 步驟S501:設置一組預定數(shù)目的正常頁為替換頁。
替換頁需要為本次掃描閃存掃描出的沒有壞扇區(qū)的正常頁，用于替換壞 扇區(qū)所在頁(即禁止寫入頁)。
所述預定數(shù)目與閃存的容量成正比、與閃存的質(zhì)量等級成反比關系。例 如對于兩個容量相同的閃存，質(zhì)量等級高的閃存的替換頁的預定數(shù)目小于 質(zhì)量等級低的閃存的替換頁預定數(shù)目；對于兩個質(zhì)量等IM目同的閃存，容量 大的閃存的替換頁預定數(shù)目大于容量小的閃存的替換頁預定數(shù)目。
步驟S502:當掃描出禁止寫入頁時，用替換頁將其替換。
通過上述動態(tài)補償?shù)姆椒ǎ梢源_保數(shù)據(jù)只在正常頁進行寫入和讀取才喿 作，從而保證數(shù)據(jù)的存儲安全。
對于已經(jīng)精確分類質(zhì)量等級的閃存，質(zhì)量等級高的閃存的壞扇區(qū)數(shù)量并 不多，本發(fā)明采用替換頁動態(tài)補償壞扇區(qū)所在頁(即禁止寫入頁)的方法， 對使用過程中由于閃存的不穩(wěn)定性而出現(xiàn)的壞扇區(qū)進行處理，使用戶在好的 存儲頁中進行數(shù)據(jù)存儲，進一步保證數(shù)據(jù)的存儲安全。
可以理解的是，本次掃描出的一個壞扇區(qū)，在下次掃描時可能顯示為好 扇區(qū)，那么下次使用閃存時，該扇區(qū)所在頁可能為正常頁，因而在執(zhí)行步驟 S502之后，可以將替換出的禁止寫入頁放在替換頁組之后，那么下次使用閃 存時，該禁止寫入頁可能成為正常頁而作為替換扇區(qū)使用。
以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實施方式，并不用以限制本發(fā)明。應當指出， 對于本技術領域的普通技術人員來說，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可
ii以做出若干修改，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本發(fā)明 的保護范圍之內(nèi)。
權利要求
1、一種利用閃存的方法，其特征在于，包括以下步驟掃描閃存，根據(jù)閃存的質(zhì)量，對閃存進行分類；根據(jù)閃存分類的結果，存儲相應重要程度的數(shù)據(jù)；根據(jù)掃描結果，設置壞扇區(qū)所在頁為禁止寫入頁，沒有壞扇區(qū)的頁為正常頁；當掃描出的壞扇區(qū)數(shù)小于或等于預設值時，對正常頁執(zhí)行第一預定操作；當掃描出的壞扇區(qū)數(shù)大于預設值時，對正常頁執(zhí)行第二預定操作。
2、 如權利要求1所述的方法，其特征在于，根據(jù)閃存的質(zhì)量，對閃存 進行掃描分類具體為按照閃存類型抽取部分閃存樣品；用讀或寫操作模式掃描閃存樣品，獲得各個閃存的特性；根據(jù)閃存的特性，對閃存進行掃描；才艮據(jù)掃描結果，將閃存劃分為不同的等級。
3、 如權利要求2所述的方法，其特征在于，所述閃存的特性為所述閃 存的奇數(shù)塊的壞塊比例高于偶數(shù)塊的壞塊比例，或者為偶數(shù)塊的壞塊比例高 于奇數(shù)塊的壞塊比例，或者為閃存按順序寫入時不出錯，隨機寫入時出錯。
4、 如權利要求2或3所述的方法，其特征在于，當所述閃存的特性為 閃存的奇數(shù)塊的壞塊比例高于偶數(shù)塊的壞塊比例時，對偶數(shù)塊掃描一次，對 奇數(shù)塊進行多次掃描。
5、 如權利要求2或3所述的方法，其特征在于，當所述閃存的特性為 閃存偶數(shù)塊的壞塊比例高于奇數(shù)塊的壞塊比例的閃存時，對奇數(shù)塊進行一次 掃描，對偶數(shù)塊進行多次掃描。
6、 如權利要求2或3所述的方法，其特征在于，當所述閃存的特性為 所述閃存按順序寫入不出錯，隨機寫入出錯，對閃存進行多次掃描。
7、 如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一預定操作為在 每個正常頁中的三個扇區(qū)寫入需要存儲的數(shù)據(jù)，在余下的一個扇區(qū)寫入特定 數(shù)據(jù)。
8、 如權利要求7所述的方法，其特征在于，所述特定數(shù)據(jù)通過對其他 三個扇區(qū)中寫入的數(shù)據(jù)執(zhí)行異或運算獲得。
9、 如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二預定操作為將 需要存儲的數(shù)據(jù)寫入每個正常頁的四個扇區(qū)。
10、 如權利要求l所述的方法，其特征在于，所述預設值根據(jù)所存儲數(shù) 據(jù)的重要性進行設定。
11、 如權利要求l所述的方法，其特征在于，才艮據(jù)掃描結果，設置壞扇 區(qū)所在頁為禁止寫入頁，沒有壞扇區(qū)的頁為正常頁之后還包括步驟設置一組預定數(shù)目的正常頁為替換頁； 當掃描出禁止寫入頁時，用替換頁將其替換。
12、 如權利要求11所述的方法，其特征在于，還包括步驟將替換出的 禁止寫入頁放在替換頁組之后。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種利用閃存的方法，包括步驟掃描閃存，根據(jù)閃存的質(zhì)量，對閃存進行分類；根據(jù)閃存分類的結果，存儲相應重要程度的數(shù)據(jù)；根據(jù)掃描結果，設置壞扇區(qū)所在頁為禁止寫入頁，沒有壞扇區(qū)的頁為正常頁；當掃描出的壞扇區(qū)數(shù)小于或等于預設值時，對正常頁執(zhí)行第一預定操作；當掃描出的壞扇區(qū)數(shù)大于預設值時，對正常頁執(zhí)行第二預定操作。本發(fā)明在根據(jù)閃存質(zhì)量對閃存進行分類，在分類的基礎上進行相應重要程度數(shù)據(jù)的存儲，并將沒有壞扇區(qū)的頁設置為正常頁，根據(jù)壞扇區(qū)數(shù)的數(shù)量對正常頁執(zhí)行相應存儲操作，從而有效地利用了閃存中壞扇區(qū)之外的正常頁進行數(shù)據(jù)存儲，提高了閃存的利用率。
文檔編號G11C16/06GK101441891SQ20071018731
公開日2009年5月27日 申請日期2007年11月19日 優(yōu)先權日2007年11月19日
發(fā)明者勤 范 申請人:芯邦科技(深圳)有限公司