專利名稱：再現(xiàn)條件控制方法、光盤、光盤驅(qū)動裝置和程序的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及用于在光盤驅(qū)動裝置中防止或抑制可寫光盤的記錄 狀態(tài)惡化的技術。
背景技術：
例如，在特開2006 — 309921號公報中，公開了一種能夠在短時 間內(nèi)高精度地評價光記錄介質(zhì)的再現(xiàn)耐久性的光記錄介質(zhì)評價方法。 具體地說，求出用于將記錄層加熱到記錄工作溫度的工作激光功率、 根據(jù)數(shù)據(jù)再現(xiàn)時的周圍溫度和再現(xiàn)激光功率以及工作激光功率求得 數(shù)據(jù)再現(xiàn)時照射了預定再現(xiàn)激光功率的激光束時的記錄層溫度、求出 數(shù)據(jù)再現(xiàn)時的再現(xiàn)激光功率與再現(xiàn)耐久次數(shù)的關系，并根據(jù)數(shù)據(jù)再現(xiàn) 時的再現(xiàn)激光功率與再現(xiàn)耐久次數(shù)的關系求出數(shù)據(jù)再現(xiàn)時的記錄層 溫度與上述再現(xiàn)耐久次數(shù)的關系。但是，對怎樣才能在保持耐久性的 同時進行再現(xiàn)沒有進行考察。專利文獻l:特開2006 — 309921號公報發(fā)明內(nèi)容為了對記錄在光盤上的信息進行再現(xiàn)對該光盤照射再現(xiàn)功率的 激光，但在標準上必須能夠耐受100萬次以上的再現(xiàn)功率激光照射。 在以往的CD或DVD中這并不是很大的問題，但是，對于像Blu-ray 標準或HD —DVD標準那樣的大容量光盤，如使用波長較短的激光， 則即使是再現(xiàn)功率那樣的比記錄功率小的功率輸出量也存在著具有 破壞色素耦合的能量的傾向，因此，在可寫光盤中，易于發(fā)生因反復 再現(xiàn)引起的記錄狀態(tài)的惡化，因而再現(xiàn)耐久性的問題增大。在商品化的所有光盤驅(qū)動器和光盤本身的組合中，理想的形式原本是具有足夠的再現(xiàn)耐久性、在任何再現(xiàn)環(huán)境中都不會發(fā)生再現(xiàn)惡化 或在記錄再現(xiàn)系統(tǒng)中不會達到發(fā)生問題的水平，但是，實際上，在光 盤驅(qū)動器的激光器或光盤中存在著生產(chǎn)時的個體偏差或老化，而且溫 度等外部環(huán)境的變化也產(chǎn)生影響，因此，在現(xiàn)有技術中，很難確保足夠的安全裕量。因此，本發(fā)明的目的是提供一種用于確保可寫光盤的再現(xiàn)耐久性 的技術。本發(fā)明的第 一 方式的再現(xiàn)條件控制方法，包括對光盤連續(xù)照射功 率電平低于標記形成電平的激光并檢測來自光盤的返回光的信號狀 態(tài)的變化的步驟、根據(jù)信號狀態(tài)的變化來變更設定對光盤的再現(xiàn)條件 的步驟。這樣，通過對光盤進行適應性控制，可以確保光盤的再現(xiàn)耐 久性。本發(fā)明的第二方式的再現(xiàn)條件控制方法，包括對光盤的預定光道 照射功率電平低于標記形成電平的激光并檢測來自光盤的預定光道 的返回光的信號狀態(tài)即初始信號狀態(tài)的步驟、對光盤的預定光道連續(xù) 照射預定時間或預定次數(shù)的功率電平低于標記形成電平的激光并檢 測來自光盤的預定光道的返回光的信號狀態(tài)即第二信號狀態(tài)的步驟、 根據(jù)初始信號狀態(tài)和第二信號狀態(tài)計算信號狀態(tài)的變化量或變化率 的步驟、利用表示信號狀態(tài)的變化量或變化率與對光盤的再現(xiàn)條件的 補償量的關系的數(shù)據(jù)確定與所計算出的信號狀態(tài)的變化量或變化率 對應的再現(xiàn)條件的補償量的步驟、設定使其反映出所確定的再現(xiàn)條件 的補償量后的再現(xiàn)條件的步驟。可以看出，信號狀態(tài)的變化量或變化 率越大，該光盤的再現(xiàn)耐久性越低。因此，如果準備好表示信號狀態(tài) 的變化量或變化率與對光盤的再現(xiàn)條件的補償量的關系的數(shù)據(jù)，就可 以調(diào)整到適當?shù)脑佻F(xiàn)條件并能確保再現(xiàn)耐久性。本發(fā)明的第三方式的再現(xiàn)條件控制方法，包括對光盤的預定光道 照射功率電平低于標記形成電平的激光并檢測來自光盤的預定光道 的返回光的信號狀態(tài)即初始信號狀態(tài)的第一檢測步驟、對光盤的預定 光道連續(xù)照射功率電平低于標記形成電平的激光并檢測來自光盤的預定光道的返回光的信號狀態(tài)即第二信號狀態(tài)的第二檢測步驟、根據(jù) 初始信號狀態(tài)和第二信號狀態(tài)計算信號狀態(tài)的變化量或變化率的步 驟、當信號狀態(tài)的變化量或變化率超過預定閾值時利用表示時間或激 光照射次數(shù)與對光盤的再現(xiàn)條件的補償量的關系的數(shù)據(jù)確定與第一 檢測步驟和第二檢測步驟之間的時間或激光照射次數(shù)對應的再現(xiàn)條 件的補償量的步驟、設定使其反映出所確定的再現(xiàn)條件補償量后的再 現(xiàn)條件的步驟。此處，激光照射次數(shù)假定為盤轉(zhuǎn)動一周而激光反復照 射同一位置的次數(shù)?？梢钥闯?，如信號狀態(tài)的變化量或變化率在激光 照射時間短或激光照射次數(shù)少時超過預定閾值，則該光盤的再現(xiàn)耐久 性低。因此，如果準備好表示時間或激光照射次數(shù)與對光盤的再現(xiàn)條 件的補償量的關系的數(shù)據(jù)，就可以調(diào)整到適當?shù)脑佻F(xiàn)條件并能確保再 現(xiàn)耐久性。本發(fā)明的第四方式的再現(xiàn)條件控制方法，包括按預定記錄條件對 光盤的預定光道進行數(shù)據(jù)記錄的步驟、對預定光道照射功率電平低于 標記形成電平的激光并檢測來自預定光道的返回光的信號狀態(tài)即初 始信號狀態(tài)的步驟、對光盤的預定光道連續(xù)照射預定時間或預定次數(shù) 的功率電平低于標記形成電平的激光并檢測來自光盤的預定光道的 返回光的信號狀態(tài)即第二信號狀態(tài)的步驟、根據(jù)初始信號狀態(tài)和第二 信號狀態(tài)計算信號狀態(tài)的變化量或變化率的步驟、利用表示信號狀態(tài) 的變化量或變化率與對光盤的再現(xiàn)條件的補償量的關系的數(shù)據(jù)確定 與所計算出的信號狀態(tài)的變化量或變化率對應的再現(xiàn)條件的補償量 的步驟、設定使其反映出所確定的再現(xiàn)條件補償量后的再現(xiàn)條件的步 驟。例如，通過實際上在測試記錄區(qū)域記錄預定符號圖案，可以在接 近實際再現(xiàn)的環(huán)境中取得信號狀態(tài)的變化量或變化率。即，可以更適 當?shù)剡M行再現(xiàn)條件的調(diào)整。本發(fā)明的第五方式的再現(xiàn)條件控制方法，包括按預定記錄條件對 光盤的預定光道進行數(shù)據(jù)記錄的步驟、對預定光道照射功率電平低于 標記形成電平的激光并檢測來自預定光道的返回光的信號狀態(tài)即初 始信號狀態(tài)的第一檢測步驟、對預定光道連續(xù)照射功率電平低于標記號狀態(tài)的第二檢測步驟、根據(jù)初始信號狀態(tài)和第二信號狀態(tài)計算信號 狀態(tài)的變化量或變化率的步驟、當信號狀態(tài)的變化量或變化率超過預 定閾值時利用表示時間或激光照射次數(shù)與對光盤的再現(xiàn)條件的補償 量的關系的數(shù)據(jù)確定與第 一檢測步驟和第二檢測步驟之間的時間或 激光照射次數(shù)對應的再現(xiàn)條件的補償量的步驟、設定使其反映出所確 定的再現(xiàn)條件的補償量后的再現(xiàn)條件的步驟。另外，本發(fā)明的第一方式 第三方式中的信號狀態(tài)，有時也可以 是反射率電平。本發(fā)明的第一、第四和第五方式中的信號狀態(tài)，有時也可以是數(shù)據(jù)記錄中的預定符號的電壓電平、(3值、非對稱值、顫動 值、差錯值中的任何一個。并且，上述的再現(xiàn)條件，有時也可以是再現(xiàn)時的激光功率電平或 主軸電動才幾的專爭速。本發(fā)明的第六方式的再現(xiàn)條件控制方法，包括從存儲了關于對光 盤連續(xù)照射功率電平低于標記形成電平的激光后作為結(jié)果產(chǎn)生的來 自光盤的返回光的信號狀態(tài)變化的信息的光盤驅(qū)動器內(nèi)的存儲器或 光盤讀出關于該信號狀態(tài)變化的信息的步驟、根據(jù)關于信號狀態(tài)變化 的信息來變更設定對光盤的再現(xiàn)條件的步驟。這樣，有時也可以從光 盤驅(qū)動裝置內(nèi)的存儲器或光盤讀出而不是由光盤驅(qū)動裝置計算關于 該信號狀態(tài)變化的信息。此外，有時也可以從光盤驅(qū)動裝置內(nèi)的存儲 器或光盤讀出并設定考慮了再現(xiàn)耐久性的再現(xiàn)條件。本發(fā)明的第七方式的光盤，記錄了表示對該光盤連續(xù)照射功率電 平低于標記形成電平的激光后作為結(jié)果產(chǎn)生的來自光盤的返回光的 信號狀態(tài)的變化量或變化率與對光盤的再現(xiàn)條件的補償量的關系的 數(shù)據(jù)。如果備有這樣的光盤，就可以進行如上所述的處理，并能設定 適當?shù)脑佻F(xiàn)條件，從而可以確保再現(xiàn)耐久性。本發(fā)明的第八方式的光盤，記錄了表示對該光盤連續(xù)照射功率電光的信號狀態(tài)的變化量或變化率超過了預定閾值時的從激光照射開始起的時間或激光照射次數(shù)與對光盤的再現(xiàn)條件的補償量的關系的數(shù)據(jù)。本發(fā)明的第九方式的光盤驅(qū)動裝置，具有存儲器，該存儲器記錄 有表示對光盤連續(xù)照射功率電平低于標記形成電平的激光后作為結(jié) 果產(chǎn)生的來自光盤的返回光的信號狀態(tài)的變化量或變化率與對光盤 的再現(xiàn)條件的補償量的關系的數(shù)據(jù)。本發(fā)明的第十方式的光盤驅(qū)動裝置，具有存儲器，該存儲器記錄 有表示對該光盤連續(xù)照射功率電平低于標記形成電平的激光后作為 結(jié)果產(chǎn)生的來自預定光道的返回光的信號狀態(tài)的變化量或變化率超 過了預定閾值時的從激光照射開始起的時間或激光照射次數(shù)與對光 盤的再現(xiàn)條件的補償量的關系的數(shù)據(jù)。本發(fā)明的第十一方式的光盤，記錄了關于對光盤連續(xù)照射功率電 平低于標記形成電平的激光后作為結(jié)果產(chǎn)生的來自光盤的返回光的 信號狀態(tài)變化的信息、和對光盤的再現(xiàn)條件中的至少任意一個。按照 這種方式，可以進行如上所述的處理，并能設定適當?shù)脑佻F(xiàn)條件，從 而可以確保再現(xiàn)耐久性。本發(fā)明的第十二方式的光盤驅(qū)動裝置，具有存儲器，該存儲器存 儲關于對光盤連續(xù)照射功率電平低于標記形成電平的激光后作為結(jié) 果產(chǎn)生的來自光盤的返回光的信號狀態(tài)變化的信息、和根據(jù)信號狀態(tài) 的變化決定且能夠防止或抑制上述光盤的再現(xiàn)質(zhì)量的惡化的數(shù)據(jù)再 現(xiàn)條件中的至少任意一個。可以生成用于使處理器執(zhí)行本發(fā)明的方法的程序，該程序，例如存儲在軟盤、CD — ROM等光盤、磁性光盤、半導體存儲器、硬盤等 記錄介質(zhì)或存儲裝置、或處理器的非易失性存儲器內(nèi)。另外，有時也 可以通過網(wǎng)絡以數(shù)字信號發(fā)布。此外，關于處理過程中的數(shù)據(jù)，暫時 保存在處理器的存儲器等存儲裝置內(nèi)。按照本發(fā)明，能夠確保可寫光盤的再現(xiàn)耐久性。


圖1是表示本發(fā)明實施方式的驅(qū)動器系統(tǒng)的功能框圖。圖2是表示本發(fā)明第一實施方式的處理流程的圖。圖3是示意性地示出再現(xiàn)信號的電壓電平的時間變化的圖。圖4是表示信號狀態(tài)變化量和再現(xiàn)功率補償量的關系的示意圖。圖5是表示信號狀態(tài)變化量和再現(xiàn)時主軸轉(zhuǎn)速補償量的關系的示意圖。圖6是表示本發(fā)明第二實施方式的處理流程的圖。 圖7是表示本發(fā)明第三實施方式的處理流程的圖。 圖8是表示發(fā)生再現(xiàn)惡化時的電壓電平的時間變化的示意圖。 圖9是表示再現(xiàn)耐久性指標和再現(xiàn)功率補償量的關系的示意圖。 圖10是表示再現(xiàn)耐久性指標和再現(xiàn)時主軸轉(zhuǎn)速補償量的關系的 示意圖。圖11是表示本發(fā)明第四實施方式的處理流程的圖。 圖12是表示再現(xiàn)信號的電壓電平的圖。 圖13是表示本發(fā)明第五實施方式的處理流程的圖。 圖14是表示光盤所存儲的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)的圖。
具體實施方式
[實施方式1]用圖1說明本發(fā)明的第一實施方式的驅(qū)動器系統(tǒng)的功能框圖。本 實施方式的驅(qū)動器系統(tǒng)，包括光盤驅(qū)動裝置100、具有電視接收機等 的顯示部和遙控器等操作部的輸入輸出系統(tǒng)(未圖示)。光盤驅(qū)動裝置100,包括存儲處理過程中的數(shù)據(jù)、處理結(jié)果數(shù)據(jù)、 處理的參照數(shù)據(jù)等的存儲器127、由包含記錄用于使其進行以下說明 的處理的程序的存儲電路126的CPU(中央處理裝置Central Processing Unit)等構(gòu)成的控制電路125 、作為與輸入輸出系統(tǒng)的接口 的接口部(以下簡記為I/F) 128、 4企測作為再現(xiàn)信號的RF信號的振 幅電平等的特性值檢測部124、進行用于對是否從作為再現(xiàn)信號的RF 信號讀出了任意長度的符號進行解碼的處理等的均衡器131和數(shù)據(jù)解調(diào)電路123、傳感部110、對從控制電路125輸出的應記錄的數(shù)據(jù)進 行預定調(diào)制并將其輸出到激光二極管(以下簡記為LD)驅(qū)動器121 的數(shù)據(jù)調(diào)制電路129、 LD驅(qū)動器121、光盤150的旋轉(zhuǎn)控制部和主軸 電動機133、以及傳感部110用的伺服控制電路132等。此外，從RF 信號讀出的符號的長度，例如，在Blu-ray標準下為2T 8T和同步符 號9T。而在HD-DVD標準下為2T~ IIT和同步符號13T。另外，傳感部110包括物鏡114、光束分離器116、檢測透鏡115、 視準透鏡113、 LDlll、光電4企測器(PD) 112。在傳感部110中， 按照伺服控制電路132的控制使未圖示的執(zhí)行元件工作，進行聚焦和 跟蹤?？刂齐娐?25與存儲器127、 LD驅(qū)動器121、特性值檢測部124、 I/F128、數(shù)據(jù)調(diào)制電路129、伺服控制電路132等連接。另外，特性 值檢測部124與PD112、控制電路125等連接。LD驅(qū)動器121，與 數(shù)據(jù)調(diào)制電路129、控制電路125及LD111連接?？刂齐娐?25，還 通過I/F128與輸入輸出系統(tǒng)連接。以下，說明對光盤150記錄數(shù)據(jù)時的處理的概要。首先，控制電 路125,使數(shù)據(jù)調(diào)制電路129對應記錄在光盤150上的數(shù)據(jù)實施預定 調(diào)制處理，數(shù)據(jù)調(diào)制電路129將調(diào)制處理后的數(shù)據(jù)輸出到LD驅(qū)動器 121。此外，控制電路125，通過伺服控制電路132進行控制，使主軸 電動機133以預定轉(zhuǎn)速旋轉(zhuǎn)。LD驅(qū)動器121,根據(jù)指定的記錄條件 (策略和參數(shù))，用接收到的數(shù)據(jù)驅(qū)動LD111,輸出激光。激光通過 視準透鏡113、光束分離器116、物鏡114照射到光盤150，在光盤 150上形成標記和間隔。此外，在本實施方式中，也可以是不能記錄 數(shù)據(jù)的光盤驅(qū)動裝置100。另外，說明對光盤150所記錄的數(shù)據(jù)進行再現(xiàn)時的處理的概要。 LD驅(qū)動器121，根據(jù)來自控制電路125的指示，驅(qū)動LD111輸出激 光。此外，控制電路125，還通過伺服控制電路132進行控制，使主 軸電動機133以預定轉(zhuǎn)速旋轉(zhuǎn)。激光通過視準透鏡113、光束分離器 116、物鏡114照射到光盤150。來自光盤150的反射光。通過物鏡114、光束分離器116、檢測透鏡115輸入到PD112。 PD112將來自光 盤150的反射光轉(zhuǎn)換為電信號，并輸出到特性值檢測部124等。均衡 器131和數(shù)據(jù)解調(diào)電路123等，對所輸出的再現(xiàn)信號進行預定解碼處 理，并將解碼后的數(shù)據(jù)通過控制電路125和I/F128輸出到輸入輸出系 統(tǒng)的顯示部，使其顯示再現(xiàn)數(shù)據(jù)。特性值檢測部124,在通常的再現(xiàn) 中不使用。以下，用圖2~圖5說明本實施方式的處理。首先，用戶將光盤 150 (可至少1次寫入數(shù)據(jù)的光盤)裝在光盤驅(qū)動裝置100內(nèi)。然后， 控制電路125,讀出預先存儲在存儲器127等內(nèi)的數(shù)據(jù)再現(xiàn)位置(例 如測試區(qū)域內(nèi)的預定光道)、激光功率電平和主軸電動機133的轉(zhuǎn)速 等的初始設定信息，并對LD驅(qū)動器121或伺服控制電路132等進行 設定(步驟Sl)。此外，激光功率電平，設定為比記錄激光功率電 平即標記形成電平低的值，但最好是采用比通常的再現(xiàn)激光功率電平 高的值。這是為了使其在短時間內(nèi)產(chǎn)生以下說明的再現(xiàn)信號的變化。 另外，也可以不在數(shù)據(jù)再現(xiàn)位置寫入預定符號。接著，控制電路125使LD驅(qū)動器121對上述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)位置開 始激光照射(步驟S3)。激光照射連續(xù)地進行。在開始激光照射后， 由PD112將來自光盤150的返回光轉(zhuǎn)換為電信號，并輸出到特性值檢 測部124。特性值4企測部124, 4企測由返回光產(chǎn)生的信號狀態(tài)，并在 輸出到控制電路125的同時由控制電路125將其存儲在存儲器127內(nèi) (步驟S5)。步驟S5在緊接步驟S3之后、和經(jīng)過預定時間后或預 定次數(shù)激光照射后至少實施2次。也可以通過實施更多次步驟S5來 確定信號狀態(tài)的變化方式、例如直線型、飽和型或指數(shù)函數(shù)型等。此外，在沒有發(fā)生再現(xiàn)惡化的情況下，如圖3的曲線圖(縱軸表 示電壓電平，橫軸表示時間)的實線Ref.所示，在特性值檢測部124 中，檢測出大致恒定的電壓電平。電壓電平，反映出光盤150的反射 率電平，此處，表示反射率恒定。與此相反，當因進行反復再現(xiàn)而發(fā) 生信號惡化時，電壓電平發(fā)生變化。一4殳地說，當光盤150為Lowto High (低電平至高電平)型式時，如虛線所示，向高電壓側(cè)變化。而當光盤150為High to Low (高電平至低電平)型式時，如單點劃線 所示，向低電壓側(cè)變化。即，反射率改變。另外，也可以不直接使用由來自光盤150的反射光產(chǎn)生的電壓電 平，而是計算任何其他的指標并將該指標值用作信號狀態(tài)。因此，將緊接在步驟S3之后檢測出的電壓電平作為基準信號狀 態(tài)或初始信號狀態(tài)預先存儲在存儲器127內(nèi)，并在經(jīng)過預定時間后確 定產(chǎn)生了怎樣的信號狀態(tài)。在步驟S5的檢測結(jié)束的時刻，控制電路125使LD驅(qū)動器121 結(jié)束激光照射。然后，控制電路125,導出所檢測的信號狀態(tài)的變化 特性(步驟S7)。具體地說，計算作為基準信號狀態(tài)(初始信號狀 態(tài))的第一電壓電平與作為經(jīng)過預定時間后的信號狀態(tài)(第二信號狀 態(tài))的第二電壓電平之差即變化量、或變化率即[(第一電壓電平-第 二電壓電平)/第一電壓電平]。如上所述，也可以同時確定信號狀態(tài) 的變化方式。之后，控制電路125確定與所導出的信號狀態(tài)的變化特性對應的 再現(xiàn)條件的補償量(步驟S9)。例如，在存儲器127內(nèi)，預先存儲 信號狀態(tài)的變化特性和應使用的補償量的對應表、或從信號狀態(tài)的變 化特性計算應使用的補償量的公式的數(shù)據(jù)，利用該對應表或公式，確 定與所導出的信號狀態(tài)的變化特性對應的補償量。當變化特性中包含 變化方式時，例如準備與各型式對應的對應表或公式。此外，以下也 將說明，也可以不在存儲器127內(nèi)而是在光盤150上預先記錄對應表 或7>式，并乂人光盤150讀出。例如，對再現(xiàn)惡化程度大的光盤150必須較大幅度地降低激光功 率電平，但對再現(xiàn)惡化程度不怎么大的光盤150也可以采用不過于降 低激光功率電平的方式。具體地說，如圖4的曲線圖(縱軸表示再現(xiàn) 功率補償量，橫軸表示信號狀態(tài)變化量)所示，信號狀態(tài)變化量和再 現(xiàn)功率補償量的關系由向右下方下降的曲線表示。其原因是，由于以 與通常的再現(xiàn)條件"相加"為前提，因此向負的方向增大。即，如信 號狀態(tài)變化量增加，則再現(xiàn)功率補償量的絕對值增加。此外，當信號狀態(tài)變化量在預定閾值以下時，無需變更再現(xiàn)功率，因此補償量為0。另外，如補償量過大，則數(shù)據(jù)再現(xiàn)時的再現(xiàn)信號的C/N比惡化，因此 最好還要設定補償?shù)纳舷?。此外，圖4的曲線圖中示出的曲線只是一 例，有時也可以用其他形狀的曲線表示。另外，對再現(xiàn)惡化程度大的光盤150，可以使主軸電動機133的 轉(zhuǎn)速或轉(zhuǎn)數(shù)更大以縮短激光照射的時間，對再現(xiàn)惡化程度不怎么大的 光盤150，也可以采用不過于增大主軸電動機133的轉(zhuǎn)速的方式。具 體地說，如圖5的曲線圖(縱軸表示再現(xiàn)時主軸轉(zhuǎn)速補償量，橫軸表 示信號狀態(tài)變化量)所示，信號狀態(tài)變化量和再現(xiàn)時主軸轉(zhuǎn)速補償量 的關系由向右上方上升的曲線表示。此外，當信號狀態(tài)變化量在預定 閾值以下時，無需變更主軸電動機133的轉(zhuǎn)速，因此補償量為0。另 外，如補償量過大，則數(shù)據(jù)再現(xiàn)時的再現(xiàn)信號的C/N比惡化，因此最 好還要設定補償量的上限。此外，圖5的曲線圖中示出的曲線只是一 例，有時也可以用其他形狀的曲線表示。這樣，在再現(xiàn)條件中，有時是再現(xiàn)時的激光功率電平，有時也可 以是主軸電動機133的轉(zhuǎn)速，但也可以調(diào)整其他的再現(xiàn)條件。另外， 如圖4或圖5所示的關系，既可以用列表形式的數(shù)據(jù)保持，也可以用 公式的形式保持。接著，控制電路125對LD驅(qū)動器121或伺服控制電路132設定 使通常的再現(xiàn)條件中反映出所確定的再現(xiàn)條件補償量的再現(xiàn)條件(步 驟Sll)。即，通過將補償量與通常的再現(xiàn)條件相加，確定用于其后 的數(shù)據(jù)再現(xiàn)的再現(xiàn)條件，并當激光功率電平為再現(xiàn)條件時對LD驅(qū)動 器121進行設定，當主軸電動機133的轉(zhuǎn)速為再現(xiàn)條件時對伺服控制 電路132進行設定。通過在實施數(shù)據(jù)再現(xiàn)前實施上述的處理，可以防止或抑制再現(xiàn)惡 化。即，能夠確保對可寫入數(shù)據(jù)的光盤150的再現(xiàn)耐久性。[實施方式2]本發(fā)明的第二實施方式的驅(qū)動器系統(tǒng)的功能框圖與圖1中示出的 第一實施方式的功能框圖相同。只是，實施如圖6所示的處理。首先，用戶將光盤150 (可至少1次寫入數(shù)據(jù)的光盤)裝在光盤 驅(qū)動裝置100內(nèi)。然后，控制電路125，讀出預先存儲在存儲器127 等內(nèi)的數(shù)據(jù)再現(xiàn)位置(例如測試區(qū)域內(nèi)的預定光道)、激光功率電平 和主軸電動才幾133的轉(zhuǎn)速等的初始設定信息，并對LD驅(qū)動器121或 伺服控制電路132等進行設定(步驟S21)。此外，激光功率電平，通常的再現(xiàn)激光功率電平高的值。另外，也可以不在數(shù)據(jù)再現(xiàn)位置寫 入預定符號。接著，控制電路125使LD驅(qū)動器121對上述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)位置開 始激光照射(步驟S23)。激光照射連續(xù)地進行。在開始激光照射后， 由PD112將來自光盤150的返回光轉(zhuǎn)換為電信號，并輸出到特性值檢 測部124。特性值-險測部124，；險測由返回光產(chǎn)生的信號狀態(tài)，并在 輸出到控制電路125的同時由控制電路125將其存儲在存儲器127內(nèi) (步驟S25)。關于信號狀態(tài)與第一實施方式中說明過的相同。首先， 將緊接在步驟S23之后的信號狀態(tài)作為基準信號狀態(tài)或初始信號狀 態(tài)檢測。另外，從初次的步驟S23執(zhí)行起開始測量經(jīng)過時間或?qū)す?照射次數(shù)進行計數(shù)。然后，控制電路125判斷經(jīng)過時間是否達到了預定時間或激光照 射次數(shù)是否達到了預定次數(shù)(步驟S27)。當經(jīng)過時間尚未達到預定 時間時、或激光照射次數(shù)尚未達到預定次數(shù)時，返回步驟S25。另一 方面，當經(jīng)過時間達到了預定時間時、或激光照射次數(shù)達到了預定次 數(shù)時，控制電路125使LD驅(qū)動器121結(jié)束激光照射。然后，控制電 路125，導出所檢測的信號狀態(tài)的變化特性(步驟S29)。具體地說， 計算作為基準信號狀態(tài)(初始信號狀態(tài))的第一電壓電平與作為經(jīng)過 預定時間后的信號狀態(tài)(第二信號狀態(tài))的第二電壓電平之差即變化 量、或變化率即[(第一電壓電平-第二電壓電平)/第一電壓電平]。 如第一實施方式中所述，也可以同時確定信號狀態(tài)的變化方式。之后，控制電路125確定與所導出的信號狀態(tài)的變化特性對應的 再現(xiàn)條件的補償量(步驟S31)。例如，在存儲器127內(nèi)，預先存儲信號狀態(tài)的變化特性和應使用的補償量的對應表、或從信號狀態(tài)的變 化特性計算應使用的補償量的公式的數(shù)據(jù)，利用該對應表或公式，確 定與所導出的信號狀態(tài)的變化特性對應的補償量。當變化特性中包含 變化方式時，例如準備與各型式對應的對應表或7>式。此外，也可以不在存儲器127內(nèi)而是在光盤150上預先記錄對應表或公式，并從光 盤150讀出。對于步驟S31,也與第一實施方式中的步驟S9相同。與第一實施方式中同樣，再現(xiàn)條件有時是再現(xiàn)時的激光功率電 平，有時也可以是主軸電動機133的轉(zhuǎn)速，但也可以調(diào)整其他的再現(xiàn) 條件。接著，控制電路125,對LD驅(qū)動器121或伺服控制電路132設(步驟S33)。即，通過將補償量與通常的再現(xiàn)條件相加，確定用于 其后的數(shù)據(jù)再現(xiàn)的再現(xiàn)條件，并當激光功率電平為再現(xiàn)條件時對LD 驅(qū)動器121進行設定，當主軸電動機133的轉(zhuǎn)速為再現(xiàn)條件時對伺服 控制電路132進行設定。通過在實施數(shù)據(jù)再現(xiàn)前實施上述的處理，可以防止或抑制再現(xiàn)惡 化。即能夠確保對可寫入數(shù)據(jù)的光盤150的再現(xiàn)耐久性。[實施方式3]本發(fā)明的第三實施方式的驅(qū)動器系統(tǒng)的功能框圖與圖1中示出的 第一實施方式的功能框圖相同。只是，實施如圖7所示的處理。首先，用戶將光盤150 (可至少1次寫入數(shù)據(jù)的光盤)裝在光盤 驅(qū)動裝置100內(nèi)。然后，控制電路125,讀出預先存儲在存儲器127 等內(nèi)的數(shù)據(jù)再現(xiàn)位置(例如測試區(qū)域內(nèi)的預定光道)、激光功率電平 和主軸電動機133的轉(zhuǎn)速等的初始設定信息，并對LD驅(qū)動器121或 伺服控制電路132等進行設定(步驟S41)。此外，激光功率電平， 設定為比記錄激光功率電平即標記形成電平低的值，但最好是采用比 通常的再現(xiàn)激光功率電平高的值。另外，也可以不在數(shù)據(jù)再現(xiàn)位置寫 入預定符號。接著，控制電路125使LD驅(qū)動器121對上述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)位置開始激光照射(步驟S43)。激光照射連續(xù)地進行。在開始激光照射后， 由PD112將來自光盤150的返回光轉(zhuǎn)換為電信號，并輸出到特性值檢 測部124。特性值4企測部124,;險測由返回光產(chǎn)生的信號狀態(tài)，并在 輸出到控制電路125的同時由控制電路125將其存儲在存儲器127內(nèi) (步驟S45)。關于信號狀態(tài)與第一實施方式中說明過的相同。首先， 將緊接在步驟S43之后的信號狀態(tài)作為基準信號狀態(tài)或初始信號狀 態(tài)才企測。另外，從初次的步驟S43^丸行起開始測量經(jīng)過時間或?qū)す?照射次數(shù)進行計數(shù)。然后，控制電路125判斷信號狀態(tài)是否達到了目標電平(步驟 S47)。目標電平，在LowtoHigh的光盤150時為對基準信號狀態(tài)追 加了預定比率ct (例如5%)的電平。HightoLow的光盤150時為使 基準信號狀態(tài)減少預定比率a的電平。即，發(fā)生再現(xiàn)惡化后判斷信號 狀態(tài)是否從基準信號狀態(tài)改變了預定比率a以上。當信號狀態(tài)尚未達到目標電平時，控制電路125判斷經(jīng)過時間是 否達到了預定時間或激光照射次數(shù)是否達到了預定次數(shù)(步驟S49 )。 當經(jīng)過時間尚未達到預定時間時、或激光照射次數(shù)尚未達到預定次數(shù) 時，返回步驟S45。另一方面，當經(jīng)過時間達到了預定時間時、或激 光照射次數(shù)達到了預定次數(shù)時，由于再現(xiàn)惡化程度小，因此是雖然已 達到了經(jīng)過時間或激光照射次數(shù)，但信號狀態(tài)尚未改變到目標電平的 情況，在這種情況下中止激光照射并轉(zhuǎn)入到步驟S51。另外，當信號狀態(tài)達到了目標電平時，控制電路125使LD驅(qū)動 器121結(jié)束激光照射。然后，控制電路125，導出光盤150的再現(xiàn)耐 久性指標(步驟S51)。如圖8的曲線圖(縱軸表示歸一化后的電壓，橫軸表示時間或轉(zhuǎn) 數(shù))的曲線a或b所示，在光盤150為Low to High型式的情況下， 當發(fā)生了再現(xiàn)惡化時，如激光的照射時間或次數(shù)增加則電壓上升。在 易于發(fā)生再現(xiàn)惡化的光盤150的情況下，如曲線b所示，達到目標電 平(例如l+cc )的時間b (稱為惡化時間)短或次數(shù)b (稱為惡化次 數(shù))少。另一方面，在不易發(fā)生再現(xiàn)惡化的光盤150的情況下，如曲線a所示，達到目標電平(例如l+cc)的惡化時間a長或惡化次數(shù)a 多。因此，惡化時間或惡化次數(shù)，可以用作再現(xiàn)耐久性指標。在光盤 150為Highto Low型式的情況下，惡化時間或惡化次數(shù)，也可以用 作再現(xiàn)耐久性指標。當在步驟S49中判定為達到了預定時間或預定次數(shù)時，將預定時 間或預定次數(shù)加上適當?shù)闹?包括0)后的值用作惡化時間或惡化次 數(shù)。之后，控制電路125確定與所導出的再現(xiàn)耐久性指標對應的再現(xiàn) 條件的補償量(步驟S53)。例如，在存儲器127內(nèi)，預先存儲再現(xiàn) 耐久性指標和應使用的補償量的對應表、或從再現(xiàn)耐久性指標計算應 使用的補償量的公式的數(shù)據(jù)，利用該對應表或公式，確定與所導出的 再現(xiàn)耐久性指標對應的補償量。此外，也可以不在存儲器127內(nèi)而是 在光盤150上預先記錄對應表或公式，并從光盤150讀出。當再現(xiàn)條件為激光功率時，進行如圖9所示的補償量的確定。圖 9的曲線圖，縱軸表示再現(xiàn)功率補償量，橫軸表示再現(xiàn)耐久性指標。 這樣，當再現(xiàn)耐久性指標為小的值時，再現(xiàn)功率補償量的絕對值增大， 當再現(xiàn)耐久性指標增加時，再現(xiàn)功率補償量的絕對值成比例地減小， 當再現(xiàn)耐久性指標增加到一定程度時，再現(xiàn)功率補償量變?yōu)?。另外， 如補償量過大，則數(shù)據(jù)再現(xiàn)時的再現(xiàn)信號的C/N比惡化，因此最好還 要設定補償?shù)纳舷?。此外，圖9的曲線只是一例，有時也可以用其他 形狀的曲線表示。當再現(xiàn)條件為主軸電動機133的轉(zhuǎn)速或轉(zhuǎn)數(shù)時，進行如圖10所 示的補償量的確定。圖10中，縱軸表示再現(xiàn)主軸轉(zhuǎn)速補償量，橫軸 表示再現(xiàn)耐久性指標。這樣，當再現(xiàn)耐久性指標為小的值時，再現(xiàn)主 軸轉(zhuǎn)速補償量為大的值，當再現(xiàn)耐久性指標增加時，再現(xiàn)主軸轉(zhuǎn)速補 償量隨著其增加而趨于0。而當再現(xiàn)耐久性指標增加到一定程度時， 再現(xiàn)主軸轉(zhuǎn)速補償量變?yōu)?。另外，如補償量過大，則數(shù)據(jù)再現(xiàn)時的 再現(xiàn)信號的C/N比惡化，因此最好還要設定補償?shù)纳舷?。此外，圖 10的曲線只是一例，有時也可以用其他形狀的曲線表示。接著，控制電路125對LD驅(qū)動器121或伺服控制電路132設定 反映出所確定的再現(xiàn)條件補償量的再現(xiàn)條件(步驟S55)。即，通過 將補償量與通常的再現(xiàn)條件相加，確定用于其后的數(shù)據(jù)再現(xiàn)的再現(xiàn)條 件，并當激光功率電平為再現(xiàn)條件時對LD驅(qū)動器121進行設定，當 主軸電動機133的轉(zhuǎn)速為再現(xiàn)條件時對伺服控制電路132進行設定。通過在實施數(shù)據(jù)再現(xiàn)前實施上述的處理，可以防止或抑制再現(xiàn)惡 化。即，能夠確保對可寫入數(shù)據(jù)的光盤150的再現(xiàn)耐久性。[實施方式4]本發(fā)明的第四實施方式的驅(qū)動器系統(tǒng)的功能框圖與圖1中示出的 第一實施方式的功能框圖相同。在第一~第三實施方式中，公開了通 過對沒有進行數(shù)據(jù)記錄的區(qū)域照射激光而可以間接地確定出再現(xiàn)惡 化的程度的方法，但在本實施方式中將公開一種在進行測試記錄并實 際上寫入預定符號之后進行再現(xiàn)，并實際確定出再現(xiàn)惡化的程度的方 法。以下，用圖11和圖12說明處理。首先，用戶將光盤150 (可至少1次寫入數(shù)據(jù)的光盤)裝在光盤 驅(qū)動裝置100內(nèi)。然后，控制電路125,讀出預先存儲在存儲器127 等內(nèi)的數(shù)據(jù)再現(xiàn)位置(例如測試區(qū)域內(nèi)的預定光道)、記錄激光功率 電平、再現(xiàn)激光功率電平和主軸電動機133的轉(zhuǎn)速等的初始設定信息， 并對LD驅(qū)動器121或伺服控制電路132等進行設定(步驟S61 )。 此外，再現(xiàn)激光功率電平，設定為比記錄激光功率電平即標記形成電 平低的值，但最好是采用比通常的再現(xiàn)激光功率電平高的值。然后，控制電路125對數(shù)據(jù)調(diào)制電路129輸出預定符號串，并通 過LD驅(qū)動器121和LDlll將預定符號串記錄在光盤150的預定光道 上(步驟S63 )。接著，控制電路125通過使LD驅(qū)動器121以按如上所述的方式 設定的再現(xiàn)激光功率電平開始對前面所述的預定光道照射激光，開始 數(shù)據(jù)再現(xiàn)(步驟S65)。激光照射連續(xù)地進行。在開始激光照射后， 由PD112將來自光盤150的返回光轉(zhuǎn)換為電信號，并輸出到特性值檢 測部124。特性值檢測部124,檢測由返回光產(chǎn)生的再現(xiàn)信號的信號狀態(tài)，并輸出到控制電路125。例如，Blu-ray標準的Low to High型式時的再現(xiàn)信號(2T ~ 8T 符號)的電壓電平如圖12所示。在圖12中，縱軸表示電壓，橫軸表 示時間。如果是Low to High型式，當再現(xiàn)2T標記時可以得到I2H 電平，當再現(xiàn)2T間隔時可以得到I2L電平，當再現(xiàn)3T標記時可以得 到I3H電平，當再現(xiàn)3T間隔時可以得到I3L電平。當再現(xiàn)8T標記時 可以得到I8H電平，當再現(xiàn)8T間隔時可以得到I8L電平。如果因反 復進行數(shù)據(jù)再現(xiàn)而發(fā)生再現(xiàn)惡化，則與第一 第三實施方式同樣，這 些電壓電平，當光盤150為Low to High型式時向高電壓側(cè)變化，當 光盤150為HightoLow型式時向低電壓側(cè)變化。此外，在很多情況 下其變化量還隨符號而不同，符號間失去均衡，因而形成了記錄質(zhì)量 惡化的情況。因此，例如可以由特性值檢測部124對1個符號檢測電 壓電平(也稱振幅電平)并直接用作信號狀態(tài)評價指標。也可以對多 個符號檢測電壓電平，并對這些值進行任何一種運算，計算出信號狀 態(tài)評〗介值。另夕卜，不只是電壓電平，也可以采用眾所周知的P值、非對稱值、 顫動值、差錯率值等評價指標作為信號狀態(tài)評價指標。在這種情況下， 為了由控制電路125計算這些指標，由特性值檢測部124檢測必要的 特性值，并輸出到控制電路125?？刂齐娐?25利用特性值檢測部124的輸出來計算預定信號狀態(tài) 評價指標，并存儲在存儲器127內(nèi)(步驟S67)。將緊接在實施了步 驟S65之后計算出的信號狀態(tài)評價指標的值用作信號狀態(tài)評價指標 的基準值或初始值。另外，從步驟S65實施起開始測量經(jīng)過時間或?qū)す庹丈浯螖?shù)進 行計數(shù)。然后，控制電路125判斷經(jīng)過時間是否達到了預定時間或激光照 射次數(shù)是否達到了預定次數(shù)(步驟S69)。當經(jīng)過時間尚未達到預定 時間時、或激光照射次數(shù)尚未達到預定次數(shù)時，返回步驟S67。另一 方面，當經(jīng)過時間達到了預定時間時、或激光照射次數(shù)達到了預定次數(shù)時，控制電路125使LD驅(qū)動器121結(jié)束激光照射。然后，控制電 路125,導出信號狀態(tài)評價指標的變化特性(步驟S71 )。具體地說， 計算信號狀態(tài)評價指標的基準值(初始信號狀態(tài))與最后實施的步驟 S67中計算出的信號狀態(tài)評價指標的值(第二信號狀態(tài))之差即變化 量、或變化率即[(初始信號狀態(tài)-第二信號狀態(tài))/初始信號狀態(tài)]。 例如，也可以確定信號狀態(tài)評價指標的變化曲線的形狀等變化方式。之后，控制電路125確定與所導出的信號狀態(tài)評價指標的變化特 性對應的再現(xiàn)條件的補償量(步驟S73)。例如，在存儲器127內(nèi)， 預先存儲信號狀態(tài)評價指標的變化特性和應使用的補償量的對應表、 或根據(jù)信號狀態(tài)評價指標的變化特性計算應使用的補償量的公式的 數(shù)據(jù)，利用該對應表或公式，確定與所導出的信號狀態(tài)評價指標的變 化特性對應的補償量。當變化特性中包含變化方式時，例如準備與各 型式對應的對應表或公式。此外，也可以不在存儲器127內(nèi)而是在光 盤150上預先記錄對應表或公式，并從光盤150讀出。關于再現(xiàn)條件，與第一實施方式中同樣為再現(xiàn)時的激光功率電平 或主軸電動機133的轉(zhuǎn)速。因此，信號狀態(tài)評價指標的變化特性與再 現(xiàn)功率補償量的關系，與圖4中所述的信號狀態(tài)變化量與再現(xiàn)功率補 償量的關系基本相同。同樣，信號狀態(tài)評價指標的變化特性與再現(xiàn)時 的主軸轉(zhuǎn)速補償量的關系，與圖5中所述的信號狀態(tài)變化量與再現(xiàn)時 的主軸轉(zhuǎn)速補償量的關系基本相同。與第一實施方式同樣，在再現(xiàn)條件中，有時是再現(xiàn)時的激光功率 電平，有時也可以是主軸電動才幾133的轉(zhuǎn)速，-f旦也可以調(diào)整其他的再 現(xiàn)條件。接著，控制電路125對LD驅(qū)動器121或伺服控制電路132設定 使通常的再現(xiàn)條件中反映出所確定的再現(xiàn)條件補償量的再現(xiàn)條件(步 驟S75)。即，通過將補償量與通常的再現(xiàn)條件相加，確定用于其后 的數(shù)據(jù)再現(xiàn)的再現(xiàn)條件，并當激光功率電平為再現(xiàn)條件時對LD驅(qū)動 器121進行設定，當主軸電動機133的轉(zhuǎn)速為再現(xiàn)條件時對伺服控制 電路132進行設定。通過在實施數(shù)據(jù)再現(xiàn)前實施上述的處理，可以防止或抑制再現(xiàn)惡化。即，能夠確保對可寫入數(shù)據(jù)的光盤150的再現(xiàn)耐久性。 [實施方式5]本發(fā)明的第五實施方式的驅(qū)動器系統(tǒng)的功能框圖與圖1中示出的 第一實施方式的功能框圖相同。在本實施方式中也是在進行測試記錄 并實際上寫入預定符號之后進行再現(xiàn)，并實際確定再現(xiàn)惡化的程度。 以下，用圖13"i兌明處理。首先，用戶將光盤150 (可至少1次寫入數(shù)據(jù)的光盤)裝在光盤 驅(qū)動裝置100內(nèi)。然后，控制電路125,讀出預先存儲在存儲器127 等內(nèi)的數(shù)據(jù)再現(xiàn)位置(例如測試區(qū)域內(nèi)的預定光道)、記錄激光功率 電平、再現(xiàn)激光功率電平和主軸電動機133的轉(zhuǎn)速等的初始設定信息， 并對LD驅(qū)動器121或伺服控制電路132等進行設定(步驟S81 )。 此外，再現(xiàn)激光功率電平，設定為比記錄激光功率電平即標記形成電 平低的值，但最好是采用比通常的再現(xiàn)激光功率電平高的值。然后，控制電路125對數(shù)據(jù)調(diào)制電路129輸出預定符號串，并通 過LD驅(qū)動器121和LDlll將預定符號串記錄在光盤150的預定光道 上(步驟S83 )。接著，控制電路125通過使LD驅(qū)動器121以按如上所述的方式 設定的再現(xiàn)激光功率電平開始對上述的預定光道照射激光，開始數(shù)據(jù) 再現(xiàn)(步驟S85 )。激光照射連續(xù)地進行。在開始激光照射后，由PD112 將來自光盤150的返回光轉(zhuǎn)換為電信號，并輸出到特性值檢測部124。 特性值檢測部124，檢測由返回光產(chǎn)生的再現(xiàn)信號的信號狀態(tài)，并輸 出到控制電路125。該處理與第四實施方式的步驟S65相同。即，例 如可以由特性值4全測部124對1個符號沖企測電壓電平并直接用作信號 狀態(tài)評價指標。也可以對多個符號檢測電壓電平，并對這些值進行任 何一種運算，計算出信號狀態(tài)評價值。另外，不只是電壓電平，也可 以采用眾所周知的(3值、非對稱值、顫動值、差錯率值等評價指標作 為信號狀態(tài)評價指標?？刂齐娐?25，利用特性值檢測部124的輸出，計算預定信號狀態(tài)評價指標，并存儲在存儲器127內(nèi)(步驟S87)。將緊接在實施了 步驟S85之后計算出的信號狀態(tài)評價指標的值用作信號狀態(tài)評價指 標的基準值或初始值。另外，從步驟S85實施起開始測量經(jīng)過時間或?qū)す庹丈浯螖?shù)進 行計數(shù)。然后，控制電路125，判斷信號狀態(tài)評價指標的值是否達到了目 標電平(步驟S89)。目標電平，在信號狀態(tài)評價指標隨再現(xiàn)惡化的 發(fā)生而增加的情況下，為對信號狀態(tài)評價指標的基準值追加了預定比 率a (例如5%)的電平。在信號狀態(tài)評價指標隨再現(xiàn)惡化的發(fā)生而 減小的情況下，為對信號狀態(tài)評價指標的基準值減少預定比率cc的電 平。即，發(fā)生再現(xiàn)惡化后判斷信號狀態(tài)是否從信號狀態(tài)評價指標的基 準值改變了預定比率a以上。當信號狀態(tài)評價指標的值尚未達到了目標電平時，控制電路125, 判斷經(jīng)過時間是否達到了預定時間或激光照射次數(shù)是否達到了預定 次數(shù)(步驟S91)。當經(jīng)過時間尚未達到預定時間時、或激光照射次 數(shù)尚未達到預定次數(shù)時，返回步驟S87。另一方面，當經(jīng)過時間達到 了預定時間時、或激光照射次數(shù)達到了預定次數(shù)時，由于再現(xiàn)惡化程 度小，雖然此時已達到了經(jīng)過時間或預定次數(shù)，但信號狀態(tài)尚未改變 到目標電平，在這種情況下中止激光照射并轉(zhuǎn)入到步驟S93。另夕卜，當信號狀態(tài)評價指標的值達到了目標電平時，控制電路125 使LD驅(qū)動器121結(jié)束激光照射。然后，控制電路125,導出光盤150 的再現(xiàn)耐久性指標(步驟S93)。關于再現(xiàn)耐久性指標，采用與第三 實施方式相同的方案。即，再現(xiàn)惡化程度大時信號狀態(tài)評價指標的值 會很快地達到目標電平，再現(xiàn)惡化程度小時信號狀態(tài)評價指標的值不 容易達到目標電平，根據(jù)這種性質(zhì)，將達到目標電平前的時間即惡化 時間或用于達到目標電平的激光照射次數(shù)即惡化次數(shù)用作再現(xiàn)耐久 性指標。當在步驟S91中判定為達到了預定時間或預定次數(shù)時，將預定時 間或預定次數(shù)加上適當?shù)闹?包括O)后的值用作惡化時間或惡化次數(shù)。之后，控制電路125,確定與所導出的再現(xiàn)耐久性指標對應的再現(xiàn)條件的補償量(步驟S95)。例如，在存儲器127內(nèi)，預先存儲再 現(xiàn)耐久性指標和應使用的補償量的對應表、或根據(jù)再現(xiàn)耐久性指標計 算應使用的補償量的公式的數(shù)據(jù)，利用該對應表或公式，確定與所導 出的再現(xiàn)耐久性指標對應的補償量。此外，也可以不在存儲器127內(nèi) 而是在光盤150上預先記錄對應表或7>式，并從光盤150讀出。該處 理，與第三實施方式的步驟S53相同。即，當再現(xiàn)條件為再現(xiàn)激光功 率電平時，再現(xiàn)耐久性指標的值越小補償量的絕對值越大，再現(xiàn)耐久 性指標的值如果增大則補償量趨于0。在再現(xiàn)條件為主軸電動機133 的轉(zhuǎn)速的情況下，當再現(xiàn)耐久性指標為小的值時，再現(xiàn)主軸轉(zhuǎn)速補償 量為大的值，當再現(xiàn)耐久性指標增加時，再現(xiàn)主軸轉(zhuǎn)速補償量隨著其 增加而趨近于0。接著，控制電路125，對LD驅(qū)動器121或伺服控制電路132設 定反映出所確定的再現(xiàn)條件補償量的再現(xiàn)條件(步驟S97)。即，通 過將補償量與通常的再現(xiàn)條件相加，確定用于其后的數(shù)據(jù)再現(xiàn)的再現(xiàn) 條件，并當激光功率電平為再現(xiàn)條件時對LD驅(qū)動器121進行設定， 當主軸電動機133的轉(zhuǎn)速為再現(xiàn)條件時對伺服控制電路132進行設 定。通過在實施數(shù)據(jù)再現(xiàn)前實施上述的處理，可以防止或抑制再現(xiàn)惡 化。即，能夠確保對可寫入數(shù)據(jù)的光盤150的再現(xiàn)耐久性。 [其他的實施方式]在如上所述的實施方式中，連續(xù)地實施激光照射并在檢測出再現(xiàn) 信號的變化后實施各種處理。但是，該處理需花費較長的時間。因此， 例如，也可以將步驟S7 (第一實施方式)或S29 (第二實施方式)中 的變化特性、步驟S51 (第三實施方式)或步驟S93的再現(xiàn)耐久性指 標、步驟S71 (第四實施方式)的與信號狀態(tài)評價指標的變化特性相 當?shù)闹殿A先存儲在光盤驅(qū)動裝置100的存儲器127內(nèi)并讀出該值來使 用。另外，這些值也可以按光盤150的每種類型存儲。同樣，還可以在光盤150內(nèi)記錄有關該光盤150的值。并且，也可以將再現(xiàn)條件的補償量本身或補償后的再現(xiàn)條件本身 預先存儲在存儲器127或光盤150內(nèi)。另外，用于決定目標電平的比率、預定時間或預定次數(shù)的值，也 可以預先存儲在存儲器127或光盤150內(nèi)。當如上所述由光盤150保存時，預先保存在如圖14所示的Lead— in(導入)區(qū)i或內(nèi)。Lead—in區(qū)i或，大致可分為系統(tǒng)Lead_in區(qū)i或、 連接區(qū)域和數(shù)據(jù)Lead—in區(qū)域，系統(tǒng)Lead—in區(qū)域，包括起始區(qū)、 緩沖區(qū)、控制數(shù)據(jù)區(qū)、緩沖區(qū)。連接區(qū)域包括連接區(qū)。并且，數(shù)據(jù) Lead — in區(qū)域，包括保護光道區(qū)、盤測試區(qū)、驅(qū)動測試區(qū)、保護光道 區(qū)、RMD復制區(qū)、記錄管理區(qū)、R—物理格式信息區(qū)、參考碼區(qū)。在 本實施方式中，在系統(tǒng)Lead—in區(qū)域的控制數(shù)據(jù)區(qū)內(nèi)，包含記錄條件 數(shù)據(jù)區(qū)170。例如，在記錄條件數(shù)據(jù)區(qū)170內(nèi)預先保存著如上所述的 數(shù)據(jù)。以上說明了本發(fā)明的實施方式，但本發(fā)明并不限于此。例如，圖 1的功能框圖只是為說明實施方式而示出的，因此，有時也不一定與 實際的電路或模塊一致。另外，關于處理流程，只要處理結(jié)構(gòu)相同也 可以交換處理順序或并行沖丸行。
權(quán)利要求
1.一種再現(xiàn)條件控制方法，其特征在于，包括對光盤連續(xù)照射功率電平低于標記形成電平的激光，并檢測來自上述光盤的返回光的信號狀態(tài)的變化的步驟；和根據(jù)上述信號狀態(tài)的變化來變更設定對光盤的再現(xiàn)條件的步驟。
2. —種再現(xiàn)條件控制方法，其特征在于，包括 對光盤的預定光道照射功率電平低于標記形成電平的激光，并檢步驟；按預定時間或預定次數(shù)對上述光盤的上述光道連續(xù)照射功率電 平低于上述標記形成電平的激光，并檢測來自上述光盤的上述光道的 返回光的信號狀態(tài)即第二信號狀態(tài)的步驟；根據(jù)上述初始信號狀態(tài)和上述第二信號狀態(tài)來計算信號狀態(tài)的 變化量或變化率的步驟；利用表示信號狀態(tài)的變化量或變化率與對上述光盤的再現(xiàn)條件 的補償量的關系的數(shù)據(jù)，來確定與所計算出的上述信號狀態(tài)的變化量 或變化率對應的上述再現(xiàn)條件的補償量的步驟；以及設定反映出所確定的上述再現(xiàn)條件的補償量后的再現(xiàn)條件的步驟。
3. —種再現(xiàn)條件控制方法，其特征在于，包括對光盤的預定光道照射功率電平低于標記形成電平的激光，并檢 測來自上述光盤的上述光道的返回光的信號狀態(tài)即初始信號狀態(tài)的 第一檢測步驟；對上述光盤的上述光道連續(xù)照射功率電平低于上述標記形成電 平的激光，并檢測來自上述光盤的預定光道的返回光的信號狀態(tài)即第 二信號狀態(tài)的第二檢測步驟；根據(jù)上述初始信號狀態(tài)和上述第二信號狀態(tài)來計算信號狀態(tài)的 變化量或變化率的步驟；當上述信號狀態(tài)的變化量或變化率超過預定閾值時，利用表示時 間或激光照射次數(shù)與對上述光盤的再現(xiàn)條件的補償量之間的關系的 數(shù)據(jù)來確定與上述第 一檢測步驟和上述第二檢測步驟之間的時間或激光照射次數(shù)對應的上述再現(xiàn)條件的補償量的步驟；以及設定反映出所確定的上述再現(xiàn)條件的補償量后的再現(xiàn)條件的步驟。
4. 一種再現(xiàn)條件控制方法，其特征在于，包括按預定記錄條件對光盤的預定光道進行數(shù)據(jù)記錄的步驟；對上述光道照射功率電平低于標記形成電平的激光，并檢測來自 上述光道的返回光的信號狀態(tài)即初始信號狀態(tài)的步驟；按預定時間或預定次數(shù)對上述光盤的上述光道連續(xù)照射功率電 平低于上述標記形成電平的激光，并檢測來自上述光盤的上述光道的 返回光的信號狀態(tài)即第二信號狀態(tài)的步驟；根據(jù)上述初始信號狀態(tài)和上述第二信號狀態(tài)來計算信號狀態(tài)的 變化量或變化率的步驟；利用表示信號狀態(tài)的變化量或變化率與對上述光盤的再現(xiàn)條件 的補償量之間的關系的數(shù)據(jù)來確定與所計算出的上述信號狀態(tài)的變 化量或變化率對應的上述再現(xiàn)條件的補償量的步驟；以及設定反映出所確定的上述再現(xiàn)條件的補償量后的再現(xiàn)條件的步驟。
5. —種再現(xiàn)條件控制方法，其特征在于，包括按預定記錄條件對光盤的預定光道進行數(shù)據(jù)記錄的步驟； 對上述光道照射功率電平低于標記形成電平的激光，并檢測來自上述光道的返回光的信號狀態(tài)即初始信號狀態(tài)的第一檢測步驟；對上述光道連續(xù)照射功率電平低于上述標記形成電平的激光，并檢測來自上述光道的返回光的信號狀態(tài)即第二信號狀態(tài)的第二檢測步驟；根據(jù)上述初始信號狀態(tài)和上述第二信號狀態(tài)來計算信號狀態(tài)的 變化量或變化率的步驟；當上述信號狀態(tài)的變化量或變化率超過預定閾值時，利用表示時 間或激光照射次數(shù)與對上述光盤的再現(xiàn)條件的補償量之間的關系的 數(shù)據(jù)，來確定與上述第 一檢測步驟和上述第二檢測步驟之間的時間或激光照射次數(shù)對應的上述再現(xiàn)條件的補償量的步驟；以及設定反映出所確定的上述再現(xiàn)條件的補償量后的再現(xiàn)條件的步驟。
6. 根據(jù)權(quán)利要求1 ~3中任何一項所述的再現(xiàn)條件控制方法，其特 征在于上述信號狀態(tài)是反射率電平。
7. 根據(jù)權(quán)利要求1 、 4或5所述的再現(xiàn)條件控制方法，其特征在于 上述信號狀態(tài)是上述數(shù)據(jù)記錄中的預定符號的電壓電平、(3值、非對稱值、顫動值、差錯值中的任何一個。
8. 根據(jù)權(quán)利要求1 ~5中任何一項所述的再現(xiàn)條件控制方法，其特 征在于
9. 一種再現(xiàn)條件控制方法，包括從存儲了關于對光盤連續(xù)照射功率電平低于標記形成電平的激 光后作為結(jié)果產(chǎn)生的來自上述光盤的返回光的信號狀態(tài)變化的信息 的光盤驅(qū)動器內(nèi)的存儲器或上述光盤讀出關于該信號狀態(tài)變化的信 息的步驟；和根據(jù)關于上述信號狀態(tài)變化的信息來變更設定對上述光盤的再 現(xiàn)條件的步驟。
10. —種光盤，其特征在于記錄有表示對光盤連續(xù)照射功率電平低于標記形成電平的激光 后作為結(jié)果產(chǎn)生的來自上述光盤的返回光的信號狀態(tài)的變化量或變 化率與對上述光盤的再現(xiàn)條件的補償量之間的關系的數(shù)據(jù)。
11. 一種光盤，其特征在于記錄有表示對光盤的預定光道連續(xù)照射功率電平低于標記形成 電平的激光后作為結(jié)果產(chǎn)生的來自上述光道的返回光的信號狀態(tài)的變化量或變化率超過預定閾值時的從激光照射開始起的時間或激光 照射次數(shù)與對上述光盤的再現(xiàn)條件的補償量之間的關系的數(shù)據(jù)。
12. —種光盤驅(qū)動裝置，其特征在于具有存儲器，該存儲器記錄有表示對光盤連續(xù)照射功率電平低于 標記形成電平的激光后作為結(jié)果產(chǎn)生的來自上述光盤的返回光的信 號狀態(tài)的變化量或變化率與對上述光盤的再現(xiàn)條件的補償量之間的 關系的數(shù)據(jù)。
13. —種光盤驅(qū)動裝置，其特征在于具有存儲器，該存儲器記錄有表示對光盤的預定光道連續(xù)照射功返回光的信號狀態(tài)的變化量或變化率超過預定閾值時的從激光照射 開始起的時間或激光照射次數(shù)與對上述光盤的再現(xiàn)條件的補償量之 間的關系的數(shù)據(jù)。
14. 一種光盤，其特征在于記錄有關于對光盤連續(xù)照射功率電平低于標記形成電平的激光 后作為結(jié)果產(chǎn)生的來自上述光盤的返回光的信號狀態(tài)變化的信息和 對上述光盤的數(shù)據(jù)再現(xiàn)條件中的至少任意一個。
15. —種光盤驅(qū)動裝置，其特征在于具有存儲器，該存儲器存儲關于對光盤連續(xù)照射功率電平低于標狀態(tài)變化的信息和根據(jù)上述信號狀態(tài)的變化而決定且能防止或抑制 上述光盤的再現(xiàn)質(zhì)量的惡化的數(shù)據(jù)再現(xiàn)條件中的至少任意一個。
16. —種光盤驅(qū)動裝置，其特征在于，具有對光盤連續(xù)照射功率電平低于標記形成電平的激光，并檢測來自 上述光盤的返回光的信號狀態(tài)的變化的單元；和根據(jù)上述信號狀態(tài)的變化來變更設定對上述光盤的再現(xiàn)條件的 單元。
17. —種光盤驅(qū)動裝置，其特征在于，具有對光盤的預定光道照射功率電平低于標記形成電平的激光，并檢測來自上述光盤的上述光道的返回光的信號狀態(tài)即初始信號狀態(tài)的單元；按預定時間或預定次數(shù)對上述光盤的上述光道連續(xù)照射功率電 平低于上述標記形成電平的激光.并檢測來自上述光盤的上述光道的返回光的信號狀態(tài)即第二信號狀態(tài)的單元；根據(jù)上述初始信號狀態(tài)和上述第二信號狀態(tài)來計算信號狀態(tài)的 變化量或變化率的單元；利用表示信號狀態(tài)的變化量或變化率與對上述光盤的再現(xiàn)條件 的補償量之間的關系的數(shù)據(jù)，來確定與所計算出的上述信號狀態(tài)的變 化量或變化率對應的上述再現(xiàn)條件的補償量的單元；以及設定反映出所確定的上述再現(xiàn)條件的補償量后的再現(xiàn)條件的單元。
18.—種光盤驅(qū)動裝置，其特征在于，具有實施對光盤的預定光道照射功率電平低于標記形成電平的激光 并檢測來自上述光盤的上述光道的返回光的信號狀態(tài)即初始信號狀 態(tài)的第 一檢測處理、和對上述光盤的上述光道連續(xù)照射功率電平低于的信號狀態(tài)即第二信號狀態(tài)的第二檢測處理的單元；根據(jù)上述初始信號狀態(tài)和上述第二信號狀態(tài)來計算信號狀態(tài)的 變化量或變化率的單元；當上述信號狀態(tài)的變化量或變化率超過預定閣值時，利用表示時 間或激光照射次數(shù)與對上述光盤的再現(xiàn)條件的補償量之間的關系的 數(shù)據(jù)，來確定與上述第一檢測處理和上述第二檢測處理之間的時間或 激光照射次數(shù)對應的上述再現(xiàn)條件的補償量的單元；以及設定反映出所確定的上述再現(xiàn)條件的補償量后的再現(xiàn)條件的單凡,
19.一種光盤驅(qū)動裝置，其特征在于，具有按預定記錄條件對光盤的預定光道進行數(shù)據(jù)記錄的單元；對上述光道照射功率電平低于標記形成電平的激光并檢測來自上述光道的返回光的信號狀態(tài)即初始信號狀態(tài)，且按預定時間或預定 次數(shù)對上述光盤的上述光道連續(xù)照射功率電平低于上述標記形成電的單元；根據(jù)上述初始信號狀態(tài)和上述第二信號狀態(tài)來計算信號狀態(tài)的 變化量或變化率的單元；利用表示信號狀態(tài)的變化量或變化率與對上述光盤的再現(xiàn)條件 的補償量之間的關系的數(shù)據(jù)，來確定與所計算出的上述信號狀態(tài)的變 化量或變化率對應的上述再現(xiàn)條件的補償量的單元；以及設定反映出所確定的上述再現(xiàn)條件的補償量后的再現(xiàn)條件的單元。
20. —種光盤驅(qū)動裝置，其特征在于，具有按預定記錄條件對光盤的預定光道進行數(shù)據(jù)記錄的單元； 實施對上述光道照射功率電平低于標記形成電平的激光并4企測 來自上述光道的返回光的信號狀態(tài)即初始信號狀態(tài)的第一檢測處理、 和對上述光道連續(xù)照射功率電平低于上述標記形成電平的激光并檢 測來自上述光道的返回光的信號狀態(tài)即第二信號狀態(tài)的第二檢測處 理的單元；根據(jù)上述初始信號狀態(tài)和上述第二信號狀態(tài)來計算信號狀態(tài)的 變化量或變化率的單元；當上述信號狀態(tài)的變化量或變化率超過預定閾值時，利用表示時 間或激光照射次數(shù)與對上述光盤的再現(xiàn)條件的補償量之間的關系的 數(shù)據(jù)，來確定與上述第一檢測處理和上述第二檢測處理之間的時間或 激光照射次數(shù)對應的上述再現(xiàn)條件的補償量的單元；以及設定反映出所確定的上述再現(xiàn)條件的補償量后的再現(xiàn)條件的單元。
21. —種光盤驅(qū)動裝置，其特征在于，具有從存儲了關于對光盤連續(xù)照射功率電平低于標記形成電平的激 光后作為結(jié)果產(chǎn)生的來自上述光盤的返回光的信號狀態(tài)變化的信息的光盤驅(qū)動器內(nèi)的存儲器或上述光盤中讀出關于該信號狀態(tài)變化的信息的單元；和根據(jù)關于上述信號狀態(tài)變化的信息來變更設定對上述光盤的再 現(xiàn)條件的單元。
22. —種程序，用于使處理器執(zhí)行對光盤連續(xù)照射功率電平低于標記形成電平的激光，并檢測來自 上述光盤的返回光的信號狀態(tài)的變化的步驟；和根據(jù)上述信號狀態(tài)的變化來變更設定對上述光盤的再現(xiàn)條件的步驟。
23. —種程序，用于使處理器執(zhí)行對光盤的預定光道照射功率電平低于標記形成電平的激光，并檢 測來自上述光盤的上述光道的返回光的信號狀態(tài)即初始信號狀態(tài)的 步驟；按預定時間或預定次數(shù)對上述光盤的上述光道連續(xù)照射功率電 平低于上述標記形成電平的激光，并檢測來自上述光盤的上述光道的 返回光的信號狀態(tài)即第二信號狀態(tài)的步驟；根據(jù)上述初始信號狀態(tài)和上述第二信號狀態(tài)來計算信號狀態(tài)的 變化量或變化率的步驟；利用表示信號狀態(tài)的變化量或變化率與對上述光盤的再現(xiàn)條件 的補償量之間的關系的數(shù)據(jù)來確定與所計算出的上述信號狀態(tài)的變 化量或變化率對應的上述再現(xiàn)條件的補償量的步驟；以及設定反映出所確定的上述再現(xiàn)條件的補償量后的再現(xiàn)條件的步驟。
24. —種程序，用于使處理器執(zhí)行對光盤的預定光道連續(xù)照射功率電平低于標記形成電平的激光態(tài)的第一檢測步驟；對上述光盤的上述光道連續(xù)照射功率電平低于上述標記形成電 平的激光并檢測來自上述光盤的上述光道的返回光的信號狀態(tài)即第二信號狀態(tài)的第二檢測步驟；根據(jù)上述初始信號狀態(tài)和上述第二信號狀態(tài)來計算信號狀態(tài)的 變化量或變化率的步驟；當上述信號狀態(tài)的變化量或變化率超過預定閾值時利用表示時 間或激光照射次數(shù)與對上述光盤的再現(xiàn)條件的補償量之間的關系的 數(shù)據(jù)來確定與上述第 一檢測步驟和上述第二檢測步驟之間的時間或 激光照射次數(shù)對應的上述再現(xiàn)條件的補償量的步驟；以及設定反映出所確定的上述再現(xiàn)條件的補償量后的再現(xiàn)條件的步驟。
25. —種程序，用于使處理器執(zhí)行按預定記錄條件對光盤的預定光道進行數(shù)據(jù)記錄的步驟； 對上述光道連續(xù)照射功率電平低于標記形成電平的激光并檢測 來自上述光道的返回光的信號狀態(tài)即初始信號狀態(tài)的步驟；平低于上述標記形成電平的激光并檢測來自上述光盤的上述光道的 返回光的信號狀態(tài)即第二信號狀態(tài)的步驟；根據(jù)上述初始信號狀態(tài)和上述第二信號狀態(tài)來計算信號狀態(tài)的 變化量或變化率的步驟；利用表示信號狀態(tài)的變化量或變化率與對上述光盤的再現(xiàn)條件 的補償量之間的關系的數(shù)據(jù)來確定與所計算出的上述信號狀態(tài)的變 化量或變化率對應的上述再現(xiàn)條件的補償量的步驟；以及設定反映出所確定的上述再現(xiàn)條件的補償量后的再現(xiàn)條件的步驟。
26. —種程序，用于使處理器執(zhí)行按預定記錄條件對光盤的預定光道進行數(shù)據(jù)記錄的步驟； 對上述光道連續(xù)照射功率電平低于標記形成電平的激光并檢測來自上述光道的返回光的信號狀態(tài)即初始信號狀態(tài)的第一檢測步驟； 對上述光道連續(xù)照射功率電平低于上述標記形成電平的激光并檢測來自上述光道的返回光的信號狀態(tài)即第二信號狀態(tài)的第二檢測步驟；根據(jù)上述初始信號狀態(tài)和上述第二信號狀態(tài)來計算信號狀態(tài)的變化量或變化率的步驟；當上述信號狀態(tài)的變化量或變化率超過預定閾值時利用表示時 間或激光照射次數(shù)與對上述光盤的再現(xiàn)條件的補償量之間的關系的 數(shù)據(jù)來確定與上述第 一檢測步驟和上述第二檢測步驟之間的時間或 激光照射次數(shù)對應的上述再現(xiàn)條件的補償量的步驟；以及設定反映出所確定的上述再現(xiàn)條件的補償量后的再現(xiàn)條件的步驟。
27. —種程序，用于使處理器執(zhí)行從存儲了關于對光盤連續(xù)照射功率電平低于標記形成電平的激 光后作為結(jié)果產(chǎn)生的來自上述光盤的返回光的信號狀態(tài)變化的信息信息的步驟；和根據(jù)關于上述信號狀態(tài)變化的信息來變更設定對上述光盤的再 現(xiàn)條件的步驟。
28. —種處理器，其特征在于，具有存儲有權(quán)利要求22至27中任意一項所述的程序的存儲器。
全文摘要
本發(fā)明提供一種再現(xiàn)條件控制方法、光盤、光盤驅(qū)動裝置和程序，用于確?？蓪懝獗P的再現(xiàn)耐久性。本申請的再現(xiàn)條件控制方法包括對光盤連續(xù)照射功率電平低于標記形成電平的激光并檢測來自光盤的返回光的信號狀態(tài)的變化的步驟和根據(jù)信號狀態(tài)的變化來變更設定對光盤的再現(xiàn)條件的步驟。這樣，通過對再現(xiàn)條件進行適應性控制，可以確保光盤的再現(xiàn)耐久性。
文檔編號G11B7/125GK101404163SQ20081016602
公開日2009年4月8日 申請日期2008年9月28日 優(yōu)先權(quán)日2007年10月2日
發(fā)明者垣本博哉, 染井秀德 申請人:太陽誘電株式會社