專利名稱：燒錄功率補償系統(tǒng)及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種燒錄功率補償系統(tǒng)及方法，尤其涉及光盤機以最佳功率測試的功
率進行燒錄中，利用補償功率以維持燒錄品質(zhì)的系統(tǒng)及方法。
背景技術(shù)：
可燒錄型的光盤一般通過讀取頭發(fā)出的激光光束，照射在光盤上形成凹洞或相變形等記號，利用有記號及無記號間反射光量的差異，形成0與1的數(shù)字信號，達到記錄數(shù)據(jù)的目的。激光光束功率的大小，需使光盤上記號的反射光量維持一定水準，功率太大或不足均會影響記號深淺形狀，改變記號的光反射量，造成有記號及無記號間的反射光量差異難以識別，以致無法讀取而燒錄失敗。 如圖l所示，為現(xiàn)有技術(shù)的光盤數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。光盤IO由內(nèi)圈至外圈，依序分為測試區(qū)(Power Calibration Area)ll、導入?yún)^(qū)(Lead-in Area) 12、使用者數(shù)據(jù)區(qū)(User DataArea)13及導出區(qū)(Lead-out Area) 14等。其中，測試區(qū)11提供燒錄時實際測試激光光束功率的區(qū)域。由于各種廠牌的光盤因制程、技術(shù)、涂層及材料成份等差異，對激光光束的感應(yīng)靈敏度不同，光盤制造廠商在導入?yún)^(qū)12記錄指定的激光光束功率Pi及表示記號燒錄品質(zhì)的非對稱參數(shù)(Asymmetry) P i。使用者數(shù)據(jù)區(qū)13為實際燒錄數(shù)據(jù)的區(qū)域，而導出區(qū)14提供光盤終止的標記。 由于每一光盤機及光盤均存在個別的特性差異，一般光盤機在燒錄前，先讀取導入?yún)^(qū)12廠商指定的激光光束功率Pi及非對稱參數(shù)Pi。以預(yù)設(shè)的差值，對指定的功率Pi各向上及向下加減7個差值，形成15個等差的測試功率。接著在測試區(qū)11，以15個測試功率實際燒錄數(shù)據(jù)，然后讀出每一測試功率燒錄記號，并檢測其非對稱參數(shù)P。選擇最接近廠商指定非對稱參數(shù)13 i的功率，作為該光盤的燒錄功率，以完成最佳功率測試控制(Optim咖Power Control,簡稱0PC)。 然而，最佳功率測試控制由等差階段式的15個測試功率中，選擇最接近廠商指定非對稱參數(shù)P i的測試功率，離最佳燒錄品質(zhì)的非對稱參數(shù)P i尚有一段差距，并無法確保燒錄記號獲得最佳品質(zhì)。此外，最佳功率測試控制是在內(nèi)圈完成。執(zhí)行燒錄時，因光盤內(nèi)外圈移動速度不同、倍數(shù)區(qū)間讀速的轉(zhuǎn)換或燒錄溫度的變化等，將造成燒錄記號的非對稱參數(shù)P無法維持一定，而影響燒錄記號品質(zhì)。 為了調(diào)整激光光束功率，維持一定的非對稱參數(shù)13 ，臺灣公告第1276083號「燒錄光盤的方法及相關(guān)系統(tǒng)」專利申請，事先針對不同廠牌種類的光盤、光盤機、轉(zhuǎn)速及燒錄速度等進行測試，形成不同非對稱參數(shù)P差異量與其對應(yīng)功率補償量的數(shù)據(jù)庫，存儲在光盤機中，以便非對稱參數(shù)P改變時，對照出對應(yīng)的功率補償量進行激光光束功率補償。但是，數(shù)據(jù)庫需測試現(xiàn)存所有的光盤機及光盤，建置的工作太過于繁復(fù)。且新廠牌及新種類的光盤機或光盤一直不斷的出現(xiàn)，舊機種及光盤無法立即適用。另外，即使相同廠牌、種類的光盤機或光盤，因制程、組裝、材料或均勻度的誤差，亦會造成各別光盤機或光盤的特性變異，無法適用事先存儲的數(shù)據(jù)，讓燒錄記號的品質(zhì)不能維持一定，甚至無法讀取而導致燒錄失敗。因此，已知光盤機在燒錄功率補償?shù)南到y(tǒng)及方法上，仍有問題亟待解決。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在提供一種燒錄功率補償系統(tǒng)，由檢測單元監(jiān)控燒錄記號的非對稱參數(shù)P ，利用計算單元近似成的線性測試功率函數(shù)，獲得功率補償量，控制功率補償單元調(diào)整燒錄功率，將燒錄記號的非對稱參數(shù)P控制在可接受的范圍內(nèi)。 本發(fā)明的另一目的在提供一種燒錄功率補償方法，通過將最佳功率測試的數(shù)據(jù)，近似成線性測試功率函數(shù)，利用指定的非對稱參數(shù)，取得精確的燒錄功率，以提升燒錄品質(zhì)。 本發(fā)明的再一 目的在提供一種燒錄功率補償方法，利用近似成線性測試功率函數(shù)，因應(yīng)燒錄中非對稱參數(shù)的變化，快速計算出燒錄功率補償量，以維持燒錄品質(zhì)。
為了達到前述發(fā)明的目的，本發(fā)明的燒錄功率補償系統(tǒng)，由控制單元控制主軸馬達轉(zhuǎn)動可錄式的光盤，并控制讀取頭投射激光光束至光盤，讀取或燒錄光盤的記號。將讀取或燒錄記號的數(shù)據(jù)暫存存儲單元。計算單元將最佳功率測試控制的測試功率及對應(yīng)的非對稱參數(shù)，近似成線性測試功率函數(shù)，并計算檢測單元檢測的非對稱參數(shù)差值及對應(yīng)的功率補償量。利用功率補償單元調(diào)整激光光束功率，以控制燒錄記號的品質(zhì)在可接受范圍內(nèi)。
本發(fā)明的燒錄功率補償方法，首先讀取指定激光光束功率，進行最佳功率測試；將該最佳功率測試的測試值近似成線性的測試功率函數(shù)；讀取指定非對稱參數(shù)，代入該測試功率函數(shù)計算出最佳燒錄功率，作為現(xiàn)行的燒錄功率；進行燒錄數(shù)據(jù)；檢查燒錄品質(zhì)，檢測已燒錄記號的非對稱參數(shù)；計算該檢測的非對稱參數(shù)與目標非對稱參數(shù)的差值；利用測試功率函數(shù)計算非對稱參數(shù)差值相對應(yīng)的功率補償量；以功率補償量補償現(xiàn)行的激光光束功率。 本發(fā)明的測試功率函數(shù)為
y = a*x+b
其中a，b為系數(shù)
y為激光光功率功率
x為非對稱參數(shù)。 利用現(xiàn)行燒錄功率Pn、檢測非對稱參數(shù)Pn及目標非對稱參數(shù)P t代入，求取目標燒錄功率Pt = a*(|3 t-Pn)+Pn，以獲得功率補償量=Pt-Pn。并可利用計算非對稱參數(shù)與目標非對稱參數(shù)的差值后，進一步檢查非差值是否大于預(yù)定值？假如差值不大于預(yù)定值，維持現(xiàn)行功率，假如差值大于預(yù)定值，再進行功率補償量。


圖1為現(xiàn)有技術(shù)的光盤數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)圖。 圖2為本發(fā)明燒錄功率補償系統(tǒng)的功能方塊圖。 圖3為本發(fā)明最佳功率測試控制的流程圖。 圖4為本發(fā)明最佳功率測試控制測試值的分布圖。 圖5為本發(fā)明燒錄功率補償方法的流程圖。
主要元件符號說明
5
20燒錄功率補償系統(tǒng)21控制單元22主軸馬達23讀取頭24存儲單元25檢測單元26計算單元27功率補償單元30光盤31測試區(qū)32導入?yún)^(qū)33使用者數(shù)據(jù)區(qū)34導出區(qū)
具體實施例方式
有關(guān)本發(fā)明為達成上述目的，所采用的技術(shù)手段及其功效，茲舉優(yōu)選實施例，并配合附圖加以說明如下。 請參考圖2，為本發(fā)明燒錄功率補償系統(tǒng)的功能方塊圖。圖2顯示本發(fā)明燒錄功率補償系統(tǒng)20包含控制單元21、主軸馬達22、讀取頭23、存儲單元24、檢測單元25、計算單元26及功率補償單元27等。其中控制單元21為一微處理器，用以控制主軸馬達22轉(zhuǎn)動一光盤30。光盤30為一可錄式光盤，由內(nèi)圈至外圈包含測試區(qū)31、導入?yún)^(qū)32、使用者數(shù)據(jù)區(qū)33及導出區(qū)34?？刂茊卧?1另控制讀取頭23投射激光光束至光盤30，并沿著光盤30的徑向移動，讀取或燒錄光盤30的記號。存儲單元24用以暫存讀取或燒錄的記號數(shù)據(jù)。
此外，檢測單元25受控制單元21控制，用以檢測讀取記號的非對稱參數(shù)13 。而控制單元21控制計算單元26，針對最佳功率測試控制的15個測試功率及對應(yīng)的非對稱參數(shù)P，以線性近似(Linear Fitting)的方式，計算成線性的測試功率函數(shù)。計算單元26并可根據(jù)檢測單元25檢測已燒錄記號的非對稱參數(shù)P，計算非對稱參數(shù)13與預(yù)設(shè)目標非對稱參數(shù)P t的差值及其對應(yīng)的功率補償量，經(jīng)由功率補償單元27，補償讀取頭23投射的激光光束功率，將燒錄記號的品質(zhì)控制在可接受的范圍內(nèi)。 請同時參考圖2、圖3及圖4，圖3為本發(fā)明進行最佳功率測試控制的流程，圖4為本發(fā)明最佳功率測試控制測試值分布圖。本發(fā)明燒錄功率補償系統(tǒng)20開始燒錄時，如圖3所示，首先在步驟Rl，由控制單元21控制讀取頭23至導入?yún)^(qū)32，讀取廠商指定的激光光功率Pi及非對稱參數(shù)Pi。利用廠商指定的激光光功率Pi，在內(nèi)圈的測試區(qū)31開始進行最佳功率測試控制，并讀取及記錄測試值至存儲單元24。 15個激光光功率及其相對應(yīng)非對稱參數(shù)P的測試值，分布如圖4所示的非對稱參數(shù)e-功率座標圖。進入步驟R2，再由控制單元21取出存儲單元24記錄的測試值，傳輸至計算單元26，控制計算單元26以線性近似(Linear Fitting)的方式，計算成線性的測試功率函數(shù)
y = a氺x+b
其中a， b為系數(shù)
y為功率 x為非對稱參數(shù)P 而可獲得該光盤機及光盤適用的特定測試功率函數(shù)。 接著在步驟R3，由控制單元21將測試功率函數(shù)y存儲在存儲單元24。再進入步驟R4，讀出指定的非對稱參數(shù)Pi。進入步驟R5，藉控制單元21控制計算單元26，以存儲單元24存儲的測試功率函數(shù)y = a朽+b，代入指定的非對稱參數(shù)P i計算出最佳燒錄功率Pm。然后進入步驟R6，將最佳燒錄功率Pm經(jīng)功率補償單元27，調(diào)整讀取頭23發(fā)射激光光的功率至最佳燒錄功率Pm，完成最佳功率測試控制。 本發(fā)明燒錄功率補償方法，可通過將最佳功率測試的數(shù)據(jù)，近似成線性測試功率函數(shù)。利用指定的非對稱參數(shù)，取得較精確的最佳燒錄功率Pm。由最佳燒錄功率Pm實際燒錄記號所產(chǎn)生的非對稱參數(shù)P ，會比由等差階段式的15個測試功率選擇出功率，較接近指定的非對稱參數(shù)Pi，而達到提升燒錄品質(zhì)的目的。 請同時參考圖2、圖4及圖5，圖5為本發(fā)明燒錄功率補償方法的流程。如圖5所示，在步驟SI本發(fā)明開始燒錄數(shù)據(jù)。在步驟S2先完成前述的本發(fā)明最佳功率測試控制流程，取得近似線性測試功率函數(shù)及調(diào)整至最佳功率。再進入步驟S3進行實際燒錄數(shù)據(jù)至使用者數(shù)據(jù)區(qū)33。進入步驟S4，在燒錄過程中，可能因存儲單元24所存燒錄數(shù)據(jù)不足、光盤改變轉(zhuǎn)速或燒錄倍速、或溫度變化等暫停燒錄，進行燒錄品質(zhì)檢查時，由控制單元21控制檢測單元25在讀取頭23讀取燒錄記號時，檢測燒錄記號的非對稱參數(shù)13 。在步驟S5，檢查非對稱參數(shù)P與預(yù)設(shè)目標非對稱參數(shù)P t的差值A(chǔ) 13 ，是否大于預(yù)定值？假如差值A(chǔ) |3不大于預(yù)定值，表示燒錄記號的品質(zhì)在可接受范圍內(nèi)，直接進入步驟S8，檢查燒錄數(shù)據(jù)是否已燒錄完成？假如未燒錄完成，回至步驟S3繼續(xù)燒錄數(shù)據(jù)，假如已燒錄完成則進入步驟S9，結(jié)束燒錄作業(yè)。假如差值A(chǔ) |3大于預(yù)定值，表示燒錄記號的品質(zhì)已降低，進入步驟S6代入P參數(shù)至存儲單元24存儲的測試功率函數(shù)y = a*x+b，由控制單元21控制計算單元26，快速計算出目標燒錄功率及功率補償量。接著進入步驟S7，傳輸功率補償量至功率補償單元27，以適時調(diào)整現(xiàn)行的激光光束功率，完成階段功率補償作業(yè)。然后進入步驟S8，檢查燒錄數(shù)據(jù)是否已燒錄完成？假如未燒錄完成，回至步驟S3繼續(xù)燒錄數(shù)據(jù)，假如已燒錄完成則進入步驟S9，結(jié)束燒錄作業(yè)。 就步驟S6中，計算單元26計算功率補償量的過程，舉例如圖4所示，當以現(xiàn)行燒錄功率Pn進行燒錄時，讀取燒錄記號所檢測到對應(yīng)的非對稱參數(shù)Pn。假如Pn參數(shù)超出預(yù)設(shè)的目標非對稱參數(shù)Pt—預(yù)定范圍，燒錄品質(zhì)已降低，因此需調(diào)整非對稱參數(shù)Pn至預(yù)設(shè)的Pt參數(shù)。其中目標非對稱參數(shù)Pt可與指定非對稱參數(shù)Pi相同。假設(shè)目標非對稱參數(shù)Pt相對應(yīng)的未知功率為目標燒錄功率Pt，將現(xiàn)行的(Pn，Pn)與調(diào)整目標(et，Pt)代入測試功率函數(shù)y = a*x+b中，獲得
Pt = a* ( P t- P n) +Pn 因此，由現(xiàn)行燒錄功率Pn、非對稱參數(shù)13 n及預(yù)設(shè)的目標非對稱參數(shù)P t，即可通過測試功率函數(shù)提供的非對稱參數(shù)變化量及功率補償量間比例關(guān)系，由非對稱參數(shù)差值A(chǔ) |3 = (Pt-l3n)，快速的計算出目標燒錄功率Pt及其對應(yīng)功率補償量AP= (Pt-Pn)，補
償現(xiàn)行的激光光束功率，以調(diào)整非對稱參數(shù)P 。 因此，本發(fā)明燒錄功率補償系統(tǒng)及方法，即可通過檢測單元監(jiān)控燒錄記號的非對稱參數(shù)13 ，利用計算單元近似成的線性測試功率函數(shù)，因應(yīng)燒錄中非對稱參數(shù)的變化，快速計算功率補償量，控制功率補償單元調(diào)整燒錄功率，將燒錄記號的非對稱參數(shù)|3控制在可接受的范圍內(nèi)，以維持燒錄品質(zhì)。 以上所述者，僅用以方便說明本發(fā)明的優(yōu)選實施例，本發(fā)明的范圍不限于這些優(yōu)選實施例，凡依本發(fā)明所做的任何變更，在不脫離本發(fā)明的精神下，皆屬本發(fā)明權(quán)利要求書要求保護的范圍。
權(quán)利要求
一種燒錄功率補償系統(tǒng)，包含一控制單元，控制主軸馬達轉(zhuǎn)動可錄式的光盤，另控制讀取頭投射激光光束至光盤，讀取或燒錄光盤的記號；一存儲單元，由控制單元控制，暫存該讀取或燒錄記號的數(shù)據(jù)；一檢測單元，由控制單元控制檢測記號的非對稱參數(shù)；一計算單元，由控制單元控制將最佳功率測試控制的測試功率及其對應(yīng)的非對稱參數(shù)，近似成線性測試功率函數(shù)，并以線性測試功率函數(shù)，計算檢測單元檢測的非對稱參數(shù)與預(yù)設(shè)目標非對稱參數(shù)的差值及差值對應(yīng)的功率補償量；以及一功率補償單元，接收計算單元的功率補償量，調(diào)整讀取頭的激光光束功率。
2. 如權(quán)利要求1所述的燒錄功率補償系統(tǒng)，其中該光盤包含一導入?yún)^(qū)記錄指定非對稱 參數(shù)，預(yù)設(shè)的目標非對稱參數(shù)等于指定非對稱參數(shù)。
3. 如權(quán)利要求2所述的燒錄功率補償系統(tǒng)，其中該計算單元以指定非對稱參數(shù)代入線 性測試功率函數(shù)，計算出最佳功率測試控制的最佳燒錄功率。
4. 如權(quán)利要求1所述的燒錄功率補償系統(tǒng)，其中該存儲單元存儲該測試功率函數(shù)。
5. 如權(quán)利要求1所述的燒錄功率補償系統(tǒng)，其中該計算單元檢查檢測的非對稱參數(shù)與 目標非對稱參數(shù)的差值，控制燒錄記號的品質(zhì)在可接受范圍內(nèi)。
6. —種燒錄功率補償方法，其步驟包含(1) 讀取指定激光光束功率，進行最佳功率測試；(2) 將該最佳功率測試的測試值近似成線性的測試功率函數(shù)；(3) 讀取指定非對稱參數(shù)，代入該測試功率函數(shù)計算出最佳燒錄功率，作為現(xiàn)行的燒錄 功率；(4) 進行燒錄數(shù)據(jù)；(5) 檢查燒錄品質(zhì)，檢測已燒錄記號的非對稱參數(shù)；(6) 計算該檢測的非對稱參數(shù)與目標非對稱參數(shù)的差值；(7) 利用測試功率函數(shù)計算非對稱參數(shù)差值相對應(yīng)的功率補償量；(8) 以功率補償量補償現(xiàn)行的激光光束功率；及(9) 完成功率補償作業(yè)。
7. 如權(quán)利要求6所述的燒錄功率補償方法，其中該最佳功率測試的測試值為15個激光 光功率及其相對應(yīng)非對稱參數(shù)。
8. 如權(quán)利要求6所述的燒錄功率補償方法，其中該測試功率函數(shù)為y = a*x+b，其中a， b為系數(shù)，y為激光光功率功率，x為非對稱參數(shù)。
9. 如權(quán)利要求8所述的燒錄功率補償方法，其中該步驟(7)由現(xiàn)行燒錄功率Pn、檢測 非對稱參數(shù)Pn及目標非對稱參數(shù)Pt，求取目標燒錄功率Pt 二W(l3t-l3n)+Pn，以獲得 功率補償量=Pt-Pn。
10. 如權(quán)利要求6所述的燒錄功率補償方法，其中該目標非對稱參數(shù)為預(yù)設(shè)值。
11. 如權(quán)利要求9所述的燒錄功率補償方法，其中為目標非對稱參數(shù)等于指定非對稱 參數(shù)。
12. 如權(quán)利要求6所述的燒錄功率補償方法，其中該步驟(6)計算差值后進一步包含步驟(6-1)檢查非對稱參數(shù)的差值，是否大于預(yù)定值？假如差值不大于預(yù)定值，進入步驟 (9)，假如差值大于預(yù)定值，則進入步驟(7)。
13.如權(quán)利要求6所述的燒錄功率補償方法，其中該步驟(9)完成功率補償作業(yè)后，進 一步包含步驟(9-l)檢查燒錄數(shù)據(jù)是否已完成？假如未燒錄完成，回至步驟(4)繼續(xù)燒錄 數(shù)據(jù)，假如已燒錄完成則進入結(jié)束燒錄作業(yè)。
全文摘要
一種燒錄功率補償系統(tǒng)及方法，由控制單元控制進行最佳功率測試。計算單元將測試功率及對應(yīng)的非對稱參數(shù)，近似成線性測試功率函數(shù)，用以計算檢測單元檢測的非對稱參數(shù)差值及對應(yīng)的功率補償量。功率補償單元利用功率補償量調(diào)整激光光束功率，以提升燒錄的品質(zhì)。
文檔編號G11B7/1267GK101770786SQ200810190369
公開日2010年7月7日 申請日期2008年12月31日 優(yōu)先權(quán)日2008年12月31日
發(fā)明者黃朝群, 黃識忠 申請人:廣明光電股份有限公司