專利名稱：光學(xué)拾取頭裝置及具有該光學(xué)拾取頭裝置的驅(qū)動器裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及對例如雙層光盤等光記錄介質(zhì)進(jìn)行信息的記錄、重放及刪除中 的至少一種用的光學(xué)拾取頭裝置及具有該光學(xué)拾取頭裝置的驅(qū)動器裝置。
背景技術(shù)：
在進(jìn)行信息的記錄、重放及刪除中的至少一種操作的光記錄介質(zhì)中，多采用CD(Compact Disc，小型光盤)、DVD(Digital Versatile Disc,數(shù)字通用光 盤)、及MD(MiniDisc，迷你光盤)等光盤。在這些光記錄介質(zhì)的信息記錄層中 形成軌道部，在進(jìn)行信息的記錄、重放及刪除中的至少一種操作時，必須使聚 焦照射在信息記錄層上的光點跟蹤高速旋轉(zhuǎn)的光記錄介質(zhì)的軌道部。作為使光點跟蹤光記錄介質(zhì)的軌道部、即進(jìn)行跟蹤控制的方法，可以采用 檢測多個受光部的光通量差的、推挽法(以下，記作為「PP法」)或差動推挽法 (以下，記作為「DPP法」)等。PP法是使被光記錄介質(zhì)的軌道部反射的光利用相對于軌道部的中心對稱 配置的多個受光部分成多個進(jìn)行受光，根據(jù)多個這些受光部的輸出差來檢測偏 道量，并將它作為跟蹤誤差信號之一的、相對于軌道部的位置信號的推挽信號 (以下，記作為「PP信號」)進(jìn)行檢測。在沒有上述輸出差時，判斷為正在道上。在采用PP法的以往的光學(xué)拾取頭裝置中，揭示了為了達(dá)到小型化、薄型 化及高可靠性而采用全息圖的技術(shù)。以下，說明采用PP法的以往的光學(xué)拾取 頭裝置。圖9所示為將以往的光學(xué)拾取頭裝置800簡化后的構(gòu)成圖。圖10所 示為將圖9所示的以往的光學(xué)拾取頭裝置800的光集成化單元的一部分放大后 的立體圖。圖9所示的以往的光學(xué)拾取頭裝置800，由包含全息圖801的光集成化單 元、以及將從光集成化單元出射的光聚焦在光記錄介質(zhì)上并將來自光記錄介質(zhì) 的反射光向光集成化單元引導(dǎo)的光學(xué)系統(tǒng)構(gòu)成。在光學(xué)拾取頭裝置800中，來 自半導(dǎo)體激光芯片802的出射光利用全息圖801進(jìn)行衍射，其中的0級衍射光 通過耦合透鏡803、 4分之1(以下，記作為「1/4」)波片804、開口光闌805 及物鏡806，聚焦照射在雙層光盤807等光記錄介質(zhì)的信息記錄層808上。然 后，其返回光通過物鏡806、開口光闌805、 1/4波片804及耦合透鏡803，向 全息圖801引導(dǎo)。這里，對于圖9所示的三維直角坐標(biāo)系中的X、 Y及Z軸進(jìn)行定義。Z軸是 沿著從半導(dǎo)體激光芯片802發(fā)射、聚焦在雙層光盤807上的光的軸線方向延伸 的軸。X軸是在與Z軸垂直的假想平面內(nèi)、沿著連接雙層光盤807的中心與聚 焦位置的線段的延伸方向設(shè)置的軸，與雙層光盤807的半徑方向一致。以下， 將X軸的延伸方向記作為徑向(X)方向。Y軸是在與Z軸垂直的前述假想平面內(nèi)、 沿著與前述x軸垂直的方向延伸的軸，與對于雙層光盤807上形成的軌道的切 線方向一致。以下，將Y軸的延伸方向記作為軌道(Y)方向。這些3軸方向的 定義在本說明書中通用。全息圖801如圖IO所示，利用沿光盤的徑向(X)方向延伸的分割線L6、以 及從該分割線L6的中心沿著與光盤的軌道(Y)方向相對應(yīng)的方向延伸的分割線 L7，分割成3個分割區(qū)域801a、 801b及801c。由全息圖801的分割區(qū)域801a 產(chǎn)生的衍射光，聚焦在受光元件809a與809b的分割線L8上，由分割區(qū)域801b 及801c產(chǎn)生的衍射光，分別聚焦在受光元件809c及809d上。然后，若將受 光元件809a、 809b、 809c、 809d的輸出信號分別設(shè)為Hl、 H2、 H3、 H4，則利 用單刀口法，通過(H1-H2)的運算求出聚焦誤差信號。然后，利用PP法，通過 (H3-H4)的運算求出跟蹤誤差信號之一的PP信號。另外，通過(H1+H2+H3+H4) 的運算，求出信息信號。在使用這樣的全息圖801的、例如特開平9-161282號公報所揭示的光學(xué) 拾取頭裝置中，通過對上述構(gòu)成再設(shè)置聚焦誤差信號校正用的受光元件，則即 使在各記錄重放層間的距離小的DVD中，也得到不產(chǎn)生偏置的聚焦誤差信號。但是，在PP法中，當(dāng)物鏡移動時，由于受光部中的返回光的位置發(fā)生變 化，因此存在即使沒有產(chǎn)生偏道、但跟蹤誤差信號中也產(chǎn)生偏置的問題。另一方面，在DPP法中，利用配置在發(fā)射光的光源與光記錄介質(zhì)之間的衍 射光柵，將從光源發(fā)射的光分為l個主光束及2個副光束，向光記錄介質(zhì)照射， 在主光束及2個副光束的各光束中，如上所述那樣進(jìn)行跟蹤控制，檢測PP信 號。這樣，由于不僅用主光束，還用2個副光束來進(jìn)行跟蹤控制，因此能夠抑 制PP法中產(chǎn)生的偏置。但是，在DPP法中，由于從光源發(fā)射的l個光生成3 個光束，因此用于信息的記錄或重放的主光束的光通量相對于從光源發(fā)射的光 通量要減少，光利用效率降低。其結(jié)果，存在信息的記錄或重放速度降低、妨 礙記錄及重放實現(xiàn)高速化的問題。因此，提出了各種各樣的方法，這些方法雖然是單光束的PP法，但是通 過采用與物鏡的移動相對應(yīng)的物鏡移動信號等，來校正PP法中產(chǎn)生的偏置。 例如在特開平8-306057號公報中，揭示了一種光學(xué)頭，該光學(xué)頭利用6分割 檢測器接受來自信息記錄介質(zhì)的反射光束，計算各受光區(qū)域的光檢測信號，使 得抵消與物鏡在跟蹤方向的移動相對應(yīng)的反射光束的移動，通過這樣能夠減少 隨著物鏡的移動而產(chǎn)生的跟蹤誤差信號的偏置。近年來，作為光記錄介質(zhì)，多采用形成信息記錄層的透光層的厚度為0. lmm 的BD(Blu-rayDisc，藍(lán)光光盤)。該BD的信息記錄層與透光層表面的間隔(以 下，有時記作為「透光層厚度」)小至0.075mm 0. 100mm，因此與使用透光層 厚度較大的DVD等情況相比，因透光層表面的反射光而引起的散射光的影響增 大，存在不能正確進(jìn)行聚焦控制及跟蹤控制的可能性。在特開平9-161282號公報及特開平8-306057號公報等所揭示的以往的光 學(xué)拾取頭裝置中，不能解決因使用BD而產(chǎn)生的上述那樣的問題。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明正是鑒于上述那樣的問題而進(jìn)行的，其目的在于提供光學(xué)拾取頭裝 置及具有該光學(xué)拾取頭裝置的驅(qū)動器裝置，它能夠使裝置小型化，又得到高的 光利用效率，即使在使用透光層厚度小的光記錄介質(zhì)時，也能夠減小因光記錄 介質(zhì)的透光層表面的反射光而引起的散射光的影響的程度，能夠正確進(jìn)行聚焦 控制及跟蹤控制。本發(fā)明是光學(xué)拾取頭裝置，用于對具有記錄信息用的信息記錄層及透光層 的光記錄介質(zhì)，進(jìn)行信息的記錄、重放及刪除中的至少一種，具備 光源；8
使來自光源的光束聚焦在光記錄介質(zhì)的信息記錄層上的物鏡； 設(shè)置在光源與物鏡之間的耦合透鏡；設(shè)置在光源與耦合透鏡之間并將來自光記錄介質(zhì)的反射光進(jìn)行衍射而分 成0級衍射光及士 1級衍射光的衍射元件；包含接受0級衍射光的第l受光元件、以及接受土1級衍射光的第2受光 元件及第3受光元件的光檢測部；將來自衍射元件的衍射光向第l受光元件、第2受光元件及第3受光元件 引導(dǎo)的分光部；以及計算部，該計算部根據(jù)第1受光元件的輸出信號生成重放信號及推挽信號， 并根據(jù)第2受光元件的輸出信號生成聚焦誤差信號，并且根據(jù)第3受光元件的 輸出信號生成物鏡移動信號，設(shè)物鏡的焦距為fl，耦合透鏡的焦距為f2，透光層厚度的最大值為t，透 光層的折射率為n，這時將第3受光元件配置在光檢測部上的以0級衍射光的 光軸作為中心、半徑(2Xt/n) X (f2/fl)的圓區(qū)域的外側(cè)。根據(jù)本發(fā)明，本發(fā)明的光學(xué)拾取頭裝置，對具有記錄信息用的信息記錄層 及透光層的光記錄介質(zhì)，進(jìn)行信息的記錄、重放及刪除中的至少一種操作。光 學(xué)拾取頭裝置具備光源；使來自光源的光束聚焦在光記錄介質(zhì)的信息記錄層 上的物鏡；設(shè)置在光源與物鏡之間的耦合透鏡；設(shè)置在光源與耦合透鏡之間， 并將來自光記錄介質(zhì)的反射光進(jìn)行衍射而分成0級衍射光及±1級衍射光的衍 射元件；包含接受0級衍射光的第l受光元件、以及接受士1級衍射光的第2 受光元件及第3受光元件的光檢測部；將來自衍射元件的衍射光向第1受光元 件、第2受光元件及第3受光元件引導(dǎo)的分光部；以及計算部，該計算部根據(jù) 第1受光元件的輸出信號生成重放信號及推挽信號，并根據(jù)第2受光元件的輸 出信號生成聚焦誤差信號，并且根據(jù)第3受光元件的輸出信號生成物鏡移動信 號。通過這樣，能夠從包含第l受光元件、第2受光元件及第3受光元件的1 個光檢測部得到重放信號、推挽信號、聚焦誤差信號及物鏡移動信號，能夠使 裝置小型化。另外，由于能夠使用來自光記錄介質(zhì)的反射光中的O級衍射光及 士1級衍射光，得到上述各信號，因此能夠得到高的光利用效率。
然后，設(shè)物鏡的焦距為n，耦合透鏡的焦距為f2，透光層厚度的最大值為t，透光層的折射率為n，這時將第3受光元件配置在光檢測部上的以0級 衍射光的光軸作為中心、半徑(2Xt/n) X (f2/fl)的圓區(qū)域的外側(cè)。通過這樣，由于能夠減少利用第3受光元件的光記錄介質(zhì)的透光層表面的 反射光的受光量，因此即使在使用透光層厚度小的光記錄介質(zhì)時，也能夠減小 因光記錄介質(zhì)的透光層表面的反射光而引起的散射光的影響的程度，即使在使 用±1級衍射光來進(jìn)行聚焦控制及跟蹤控制時，也能夠正確進(jìn)行這些控制。另外在本發(fā)明中，最好衍射元件的衍射效率這樣構(gòu)成使得O級衍射光的 光通量相對于土l級衍射光的各自的光通量成為8倍 12倍。根據(jù)本發(fā)明，對于重放信號能夠確保足夠的SN比，能夠確保得到高質(zhì)量的 重放信號用的足夠的光通量，而且利用土l級衍射光得到聚焦誤差信號及物鏡 移動信號。另外在本發(fā)明中，衍射元件這樣構(gòu)成利用與光記錄介質(zhì)的半徑方向平行 的3個分割線分割成第1區(qū)域、第2區(qū)域、以及另外的2個區(qū)域，再將另外的 2個區(qū)域利用與對于光記錄介質(zhì)上形成的軌道的切線方向平行的分割線分別進(jìn) 行2分割，形成第3區(qū)域、第4區(qū)域、第5區(qū)域、第6區(qū)域，從而具有6個區(qū) 域。計算部最好根據(jù)基于第1區(qū)域、第2區(qū)域、第3區(qū)域、第4區(qū)域、第5區(qū) 域及第6區(qū)域中的0級衍射光的第l受光元件的輸出信號，生成推挽信號，根 據(jù)基于第3區(qū)域、第4區(qū)域、第5區(qū)域及第6區(qū)域中的士l級衍射光的第3受 光元件的輸出信號，生成物鏡移動信號，根據(jù)推挽信號與物鏡移動信號之差， 計算跟蹤誤差信號。根據(jù)本發(fā)明，在單光束的PP法中，能夠不像DPP法那樣減少主光束的光通 量，得到更不容易產(chǎn)生偏置的跟蹤誤差信號。另外在本發(fā)明中，將第2受光元件最好配置在光檢測部上的以0級衍射光 的光軸作為中心、半徑(2Xt/n)X(f2/fl)的圓區(qū)域的外側(cè)。根據(jù)本發(fā)明，由于能夠減少利用第2受光元件的光記錄介質(zhì)的透光層表面 的反射光的受光量，因此即使在使用透光層厚度小的光記錄介質(zhì)時，也能夠更 進(jìn)一步減小因光記錄介質(zhì)的透光層表面的反射光而引起的散射光的影響的程
度，即使在使用士l級衍射光來進(jìn)行聚焦控制及跟蹤控制時，也能夠更正確進(jìn) 行這些控制。另外本發(fā)明是光學(xué)拾取頭裝置，用于對具有記錄信息用的信息記錄層及透 光層的光記錄介質(zhì)，進(jìn)行信息的記錄、重放及刪除中的至少一種，具備 光源；使來自光源的光束聚焦在光記錄介質(zhì)的信息記錄層上的物鏡； 設(shè)置在光源與物鏡之間的耦合透鏡；設(shè)置在光源與耦合透鏡之間，并將來自光記錄介質(zhì)的反射光進(jìn)行衍射而分 成0級衍射光及士l級衍射光的衍射元件；包含接受0級衍射光的第l受光元件、以及接受土1級衍射光的第2受光 元件及第3受光元件的光檢測部；將來自衍射元件的衍射光，向第l受光元件、第2受光元件及第3受光元 件引導(dǎo)的分光部；以及計算部，該計算部根據(jù)第1受光元件的輸出信號生成重放信號及推挽信號， 并根據(jù)第2受光元件的輸出信號生成聚焦誤差信號，并且根據(jù)第3受光元件的 輸出信號生成物鏡移動信號，設(shè)物鏡的焦距為fl，耦合透鏡的焦距為f2，透光層厚度的最大值為t，透 光層的折射率為n，這時將第2受光元件配置在光檢測部上的以0級衍射光的 光軸作為中心、半徑(2Xt/n)X(f2/fl)的圓區(qū)域的外側(cè)。根據(jù)本發(fā)明，本發(fā)明的光學(xué)拾取頭裝置，對具有記錄信息用的信息記錄層 及透光層的光記錄介質(zhì)，進(jìn)行信息的記錄、重放及刪除中的至少一種操作。光 學(xué)拾取頭裝置具備光源；使來自光源的光束聚焦在光記錄介質(zhì)的信息記錄層 上的物鏡；設(shè)置在光源與物鏡之間的耦合透鏡；設(shè)置在光源與耦合透鏡之間， 并將來自光記錄介質(zhì)的反射光進(jìn)行衍射而分成0級衍射光及土1級衍射光的衍 射元件；包含接受O級衍射光的第1受光元件、以及接受士1級衍射光的第2 受光元件及第3受光元件的光檢測部；將來自衍射元件的衍射光，向第l受光 元件、第2受光元件及第3受光元件引導(dǎo)的分光部；以及計算部，該計算部根 據(jù)第1受光元件的輸出信號生成重放信號及推挽信號，并根據(jù)第2受光元件的 輸出信號生成聚焦誤差信號，并且根據(jù)第3受光元件的輸出信號生成物鏡移動信號。通過這樣，能夠從包含第l受光元件、第2受光元件及第3受光元件的1 個光檢測部得到重放信號、推挽信號、聚焦誤差信號及物鏡移動信號，能夠使裝置小型化。另外，由于能夠使用來自光記錄介質(zhì)的反射光中的o級衍射光及士1級衍射光，得到上述各信號，因此能夠得到高的光利用效率。然后，設(shè)物鏡的焦距為fl，耦合透鏡的焦距為f2，透光層厚度的最大值 為t，透光層的折射率為n，這時將第2受光元件配置在光檢測部上的以0級 衍射光的光軸作為中心、半徑(2Xt/n)X(f2/fl)的圓區(qū)域的外側(cè)。通過這樣，由于能夠減少利用第2受光元件的光記錄介質(zhì)的透光層表面的 反射光的受光量，因此即使在使用透光層厚度小的光記錄介質(zhì)時，也能夠減小 因光記錄介質(zhì)的透光層表面的反射光而引起的散射光的影響的程度，即使在使 用±1級衍射光來進(jìn)行聚焦控制及跟蹤控制時，也能夠正確進(jìn)行這些控制。另外本發(fā)明是光學(xué)拾取頭裝置，用于對具有記錄信息用的信息記錄層及透 光層的光記錄介質(zhì)，進(jìn)行信息的記錄、重放及刪除中的至少一種，具備光源；使來自光源的光束聚焦在光記錄介質(zhì)的信息記錄層上的物鏡； 設(shè)置在光源與物鏡之間的耦合透鏡；設(shè)置在光源與耦合透鏡之間，并將來自光記錄介質(zhì)的反射光進(jìn)行衍射而分 成0級衍射光及士l級衍射光的衍射元件；包含接受O級衍射光的第l受光元件、以及接受士1級衍射光的第2受光 元件及第3受光元件的光檢測部；將來自衍射元件的衍射光，向第l受光元件、第2受光元件及第3受光元 件引導(dǎo)的分光部；設(shè)置在光檢測部與耦合透鏡之間的光路，并將光記錄介質(zhì)的透光層表面的 反射光的外周部分進(jìn)行遮光的開口限制部；以及計算部，該計算部根據(jù)第1受光元件的輸出信號生成重放信號及推挽信號， 并根據(jù)第2受光元件的輸出信號生成聚焦誤差信號，并且根據(jù)第3受光元件的 輸出信號生成物鏡移動信號，開口限制部設(shè)置開口，并將開口的大小設(shè)定為使得光記錄介質(zhì)的透光層
表面的反射光不入射至第3受光元件。根據(jù)本發(fā)明，本發(fā)明的光學(xué)拾取頭裝置，對具有記錄信息用的信息記錄層 及透光層的光記錄介質(zhì)，進(jìn)行信息的記錄、重放及刪除中的至少一種操作。光 學(xué)拾取頭裝置具備光源；使來自光源的光束聚焦在光記錄介質(zhì)的信息記錄層 上的物鏡；設(shè)置在光源與物鏡之間的耦合透鏡；設(shè)置在光源與耦合透鏡之間， 并將來自光記錄介質(zhì)的反射光進(jìn)行衍射而分成0級衍射光及土1級衍射光的衍 射元件；包含接受0級衍射光的第l受光元件、以及接受土1級衍射光的第2 受光元件及第3受光元件的光檢測部；將來自衍射元件的衍射光，向第l受光 元件、第2受光元件及第3受光元件引導(dǎo)的分光部；設(shè)置在光檢測部與耦合透 鏡之間的光路中，并將光記錄介質(zhì)的透光層表面的反射光的外周部分進(jìn)行遮光 的開口限制部；以及計算部，該計算部根據(jù)第l受光元件的輸出信號生成重放 信號及推挽信號，并根據(jù)第2受光元件的輸出信號生成聚焦誤差信號，并且根 據(jù)第3受光元件的輸出信號生成物鏡移動信號。通過這樣，能夠從包含第l受光元件、第2受光元件及第3受光元件的1 個光檢測部得到重放信號、推挽信號、聚焦誤差信號及物鏡移動信號，能夠使 裝置小型化。另外，由于能夠使用來自光記錄介質(zhì)的反射光中的O級衍射光及 士1級衍射光，得到上述各信號，因此能夠得到高的光利用效率。然后，開口限制部設(shè)置開口，將開口的大小設(shè)定為使得光記錄介質(zhì)的透 光層表面的反射光不入射至第3受光元件。通過這樣，即使由于光檢測部的尺寸的限制等，而不能將第3受光元件配 置在光檢測部上的以0級衍射光的光軸作為中心、半徑(2Xt/n) X (f2/fl)的圓 區(qū)域的外側(cè)時，也由于能夠減少利用第3受光元件的光記錄介質(zhì)的透光層表面 的反射光的受光量，因此即使在使用透光層厚度小的光記錄介質(zhì)時，也能夠減 小因光記錄介質(zhì)的透光層表面的反射光而引起的散射光的影響的程度，即使在 使用±1級衍射光來進(jìn)行聚焦控制及跟蹤控制時，也能夠正確進(jìn)行這些控制。另外在本發(fā)明中，最好將開口的大小設(shè)定為使得光檢測部上的光記錄介 質(zhì)的透光層表面的反射光的大小，大于能夠包括第1受光元件的最小的圓區(qū)域。根據(jù)本發(fā)明，能夠使第l受光元件上的、來自透光層表面的反射光通量沒 有大的變化，即使在物鏡移動時，也能夠得到偏置少的推挽信號。
另外在本發(fā)明中，最好開口限制部與衍射元件形成一體化，相對于開口至 少一個方向是非對稱形狀。根據(jù)本發(fā)明，能夠省去對衍射元件及開口限制部的位置各自分別進(jìn)行調(diào)整 的時間，提高操作性。另外本發(fā)明是驅(qū)動器裝置，具有前述光學(xué)拾取頭裝置。根據(jù)本發(fā)明，本發(fā)明的驅(qū)動器裝置通過具有前述光學(xué)拾取頭裝置，則在使 用透光層厚度小的光記錄介質(zhì)時，即使在使用土l級衍射光來進(jìn)行聚焦控制及 跟蹤控制的情況下，也能夠?qū)崿F(xiàn)能夠穩(wěn)定正確進(jìn)行這些控制的驅(qū)動器裝置。


根據(jù)下述的詳細(xì)說明及附圖，將更明確本發(fā)明的目的、特征、及優(yōu)點。 圖l所示為將本發(fā)明的第1實施形態(tài)的光學(xué)拾取頭裝置簡化后的構(gòu)成圖。 圖2所示為將圖1所示的光學(xué)拾取頭裝置的光集成化單元的一部分放大后 的立體圖。圖3所示為偏光全息圖的分割區(qū)域的簡圖。圖4所示為光檢測器中的第1、第2及第3受光元件的配置狀態(tài)的簡圖。 圖5所示為將本發(fā)明的第2實施形態(tài)的光學(xué)拾取頭裝置簡化后的構(gòu)成圖。 圖6所示為開口限制元件的構(gòu)成的簡圖。圖7所示為在半導(dǎo)體激光芯片的光出射口與開口限制元件的距離不同時， 開口限制元件的孔徑大小與光檢測器上的光束尺寸的關(guān)系的曲線。圖8所示為信息記錄重放裝置即驅(qū)動器裝置的構(gòu)成方框圖。圖9所示為將以往的光學(xué)拾取頭裝置簡化后的構(gòu)成圖。圖IO所示為將圖9所示的以往的光學(xué)拾取頭裝置的光集成化單元的一部 分放大后的立體圖。
具體實施方式
以下參考附圖，詳細(xì)說明本發(fā)明的理想實施形態(tài)。以下舉出實施形態(tài)，來具體說明本發(fā)明，但本發(fā)明只要不超出其要點，則 無特別限定。本發(fā)明的光學(xué)拾取頭裝置，用于對具有記錄信息用的信息記錄層及透光層 的光記錄介質(zhì)，進(jìn)行信息的記錄、重放及刪除中的至少一種操作，光學(xué)拾取頭裝置具備光源；使來自光源的光束聚焦在光記錄介質(zhì)的信息記錄層上的物鏡; 設(shè)置在光源與物鏡之間的耦合透鏡；設(shè)置在光源與耦合透鏡之間，并將來自光 記錄介質(zhì)的反射光進(jìn)行衍射而分成0級衍射光及士l級衍射光的衍射元件；包 含接受0級衍射光的第1受光元件、以接受士l級衍射光的第2受光元件及第 3受光元件的光檢測部；將來自衍射元件的衍射光，向第l受光元件、第2受 光元件及第3受光元件引導(dǎo)的分光部；以及計算部，該計算部根據(jù)第l受光元 件的輸出信號生成重放信號及推挽信號，并根據(jù)第2受光元件的輸出信號生成 聚焦誤差信號，并且根據(jù)第3受光元件的輸出信號生成物鏡移動信號。通過這樣，能夠從包含第l受光元件、第2受光元件及第3受光元件的1 個光檢測部得到重放信號、推挽信號、聚焦誤差信號及物鏡移動信號，能夠使 裝置小型化。另外，由于能夠使用來自光記錄介質(zhì)的反射光中的O級衍射光及 士1級衍射光，得到上述各信號，因此能夠得到高的光利用效率。另外在本發(fā)明的光學(xué)拾取頭裝置中，作為光記錄介質(zhì)，例如在使用透光層 厚度小至0. 075咖 0. 100mm的BD等情況下，存在因光記錄介質(zhì)的透光層表面 的反射光而引起的散射光的影響的程度增大的問題。因此，若對接受士l級衍 射光的第2或第3受光元件入射光記錄介質(zhì)的透光層表面的反射光，則存在不 能正確進(jìn)行聚焦控制及跟蹤控制等的可能性。為此，在本發(fā)明的光學(xué)拾取頭裝置中，規(guī)定第2或第3受光元件的配置位 置，使得透光層表面的反射光不入射至第2或第3受光元件。艮P，設(shè)物鏡的焦距為fl，耦合透鏡的焦距為f2，透光層厚度的最大值為t， 透光層的折射率為n,這時使得第2或第3受光元件配置在光檢測部上的以0 級衍射光的光軸作為中心、半徑(2Xt/n)X (f2/fl)的圓區(qū)域的外側(cè)。通過這樣，由于能夠減少利用第2或第3受光元件的光記錄介質(zhì)的透光層 表面的反射光的受光量，因此即使在使用透光層厚度小的光記錄介質(zhì)時，也能 夠減小因光記錄介質(zhì)的透光層表面的反射光而引起的散射光的影響的程度，即 使在使用士l級衍射光來進(jìn)行聚焦控制及跟蹤控制時，也能夠正確進(jìn)行控制。另外，在第3受光元件由于光檢測部的尺寸的限制等，而不能像上述那樣
配置時，在上述光學(xué)拾取頭裝置的構(gòu)成中，進(jìn)一步在光檢測部與耦合透鏡之間 的光路中設(shè)置將光記錄介質(zhì)的透光層表面的反射光的外周部分進(jìn)行遮光的開 口限制部，并且開口限制部設(shè)置開口，將開口的大小設(shè)定為使得光記錄介質(zhì) 的透光層表面的反射光不入射至第3受光元件。通過這樣，由于能夠減少利用 第3受光元件的光記錄介質(zhì)的透光層表面的反射光的受光量，因此即使在使用 透光層厚度小的光記錄介質(zhì)時，也能夠減小因光記錄介質(zhì)的透光層表面的反射 光而引起的散射光的影響的程度，即使在使用土l級衍射光來進(jìn)行聚焦控制及 跟蹤控制時，也能夠正確進(jìn)行控制。以下參照附圖，說明本發(fā)明的實施形態(tài)。(第1實施形態(tài))圖1所示為將本發(fā)明的第1實施形態(tài)的光學(xué)拾取頭裝置100簡化后的構(gòu)成 圖。圖2所示為將圖1所示的光學(xué)拾取頭裝置100的光集成化單元101的一部分放大后的立體圖。光學(xué)拾取頭裝置IOO如圖l所示那樣構(gòu)成，即包含光集成化單元101; 將從光集成化單元101出射的光形成為實質(zhì)上平行光的耦合透鏡102;將通過耦合透鏡102的光從直線偏振光變換為圓偏振光的1/4波片103;將來自光集 成化單元101的光束聚焦在進(jìn)行信息的記錄、重放及刪除中的至少一種操作的 雙層光盤104的第1信息記錄層104a(L0層)或第2信息記錄層104b(Ll層)的 物鏡105;根據(jù)物鏡105的固有的數(shù)值孔徑，來調(diào)節(jié)光束直徑的孔徑光闌106; 以及運算器117。這些各構(gòu)成部分被未圖示的殼體包圍，加以保護(hù)。對光學(xué)拾取頭裝置100適用的作為光記錄介質(zhì)的雙層光盤104這樣構(gòu)成-包含第l及第2信息記錄層104a及l(fā)'04b;以及由聚碳酸酯等構(gòu)成的、形成第 l及第2信息記錄層104a及104b的透光層104c。另外，在圖1中，將透光層 104c的表面表示為104d。在透光層104c中，相對于物鏡105位于較遠(yuǎn)一側(cè)位置的信息記錄層是第1 信息記錄層104a(L0層)，相對于物鏡105位于較近一側(cè)位置的信息記錄層是 第2信息記錄層104b (Ll層)。在第1及第2信息記錄層104a及104b上形成 記錄數(shù)字信號的被稱為凹坑的微小凹凸，根據(jù)有無該凹坑，用雙層光盤104反 射的光的強(qiáng)度相應(yīng)變化。在上述構(gòu)成中，是采用雙層光盤104作為光記錄介質(zhì)， 但不特別跟定于此，也可以是單層光盤或多層光盤。作為光記錄介質(zhì)，例如可以舉出有CD、 DVD、 BD等，但在本實施形態(tài)中使用BD。在本實施形態(tài)使用的雙層光盤104中，透光層104c的厚度為0. 100mm，第 1信息記錄層104a(L0層)與第2信息記錄層104b(Ll層)的間隔為0. 025mm。 因而，從第1信息記錄層104a(L0層)到透光層表面104d的厚度為0. 100mm， 從第2信息記錄層104b(Ll層)到透光層表面104d的厚度為0. 075mm。另外， 透光層104c的折射率n為1. 59。將耦合透鏡102、 1/4波片103、孔徑光闌106、以及物鏡105，按此順序 排列設(shè)置在光集成化單元101與雙層光盤104之間。因而，耦合透鏡102設(shè)置 在光集成化單元101與物鏡105之間。1/4波片103、孔徑光闌106及物鏡105被保持架107保持并固定，使得 面對位于上方位置的雙層光盤104。保持架107例如由合成樹脂材料構(gòu)成，是 形成為圓筒形狀的構(gòu)件，將1/4波片103、孔徑光闌106及物鏡105周圍部分 進(jìn)行保持。對保持架107設(shè)置執(zhí)行器108，該執(zhí)行器108用來校正因雙層光盤 104的面擺動及偏心而導(dǎo)致的位置偏移，使得光點的焦點高精度地聚焦在雙層 光盤104的第1信息記錄層104a或第2信息記錄層104b上。作為執(zhí)行器108， 是一般使用的執(zhí)行器，無特別限定，但例如可以舉出有將保持架107穿過并支 持在沿垂直方向豎直設(shè)置的軸上、而沿平行于軸的方向即聚焦方向及沿繞軸的 方向即圓周方向驅(qū)動的動圈方式或動磁體方式的軸滑動型執(zhí)行器等。在對第l信息記錄層104a(L0層)或第2信息記錄層104b(Ll)層的目標(biāo)道 部分進(jìn)行物鏡105的聚焦控制及跟蹤控制時，利用執(zhí)行器108對1/4波片103、 孔徑光闌106及物鏡105進(jìn)行一體驅(qū)動。光集成化單元101如圖1及圖2所示那樣構(gòu)成包含向著雙層光盤104出 射光的半導(dǎo)體激光芯片109;設(shè)置在半導(dǎo)體激光芯片109與耦合透鏡102之間 的、將來自雙層光盤104的反射光進(jìn)行衍射而分成0級衍射光及士1級衍射光 的偏光全息圖110;包含接受0級衍射光的第l受光元件llla llld、接受± 1級衍射光的第2受光元件111e lllh及第3受光元件111i lllp的光檢測 器112;以及將來自偏光全息圖110的衍射光向第1受光元件111a llld、第 2受光元件111e lllh及第3受光元件111i lllp引導(dǎo)的分光元件113。
半導(dǎo)體激光芯片109設(shè)置在與形成為板狀的心柱114的厚度方向平行的表 面?zhèn)?。在本實施形態(tài)中，作為半導(dǎo)體激光芯片109，雖使用發(fā)出與BD相對應(yīng)的 振蕩波長為405nm的藍(lán)紫光的半導(dǎo)體激光芯片，但不特別限定于此，也可以使 用對DVD進(jìn)行信息的記錄及重放用的發(fā)出振蕩波長為650nm的紅色光的半導(dǎo)體 激光芯片、或發(fā)出與CD相對應(yīng)的振蕩波長為780nm的紅色光的半導(dǎo)體激光芯 片。半導(dǎo)體激光芯片109相當(dāng)于光源。偏光全息圖110設(shè)置在玻璃基板115的內(nèi)部，玻璃基板115設(shè)置在分光元 件113的上面。偏光全息圖110是根據(jù)偏振光方向有選擇地進(jìn)行光的透射作用 或衍射作用的元件，使得從半導(dǎo)體激光芯片109向雙層光盤104發(fā)射的徑向(X) 方向的直線偏振光的出射光透過，但將被雙層光盤104反射、利用1/4波片103 變換為軌道(Y)方向的直線偏振光的反射光進(jìn)行衍射而分光。圖3所示為偏光 全息圖IIO的分割區(qū)域的簡圖。偏光全息圖IIO如圖3所示那樣構(gòu)成，即利用 與徑向(X)方向平行的3個分割線L1、 L2及L3分割成第l區(qū)域110a、第2區(qū) 域110b、以及另外的2個區(qū)域，前述另外的2個區(qū)域利用與軌道(Y)方向平行 的分割線L4及L5分別進(jìn)行2分割，形成第3區(qū)域110c、第4區(qū)域110d、第5 區(qū)域110e及第6區(qū)域f，從而具有6個區(qū)域。由于偏光全息圖110的上述6個 區(qū)域110a 110f分別向不同的方向?qū)碜噪p層光盤104的反射光根據(jù)偏振光 方向進(jìn)行衍射而分成0級衍射光及士l級衍射光，因此共計產(chǎn)生13個衍射光。偏光全息圖110的衍射效率，最好構(gòu)成為-l級衍射光O級衍射光+1 級衍射光=1: 8: 1 1: 12: 1。即，最好構(gòu)成為0級衍射光的光通量相對于± 1級衍射光的各自的光通量為8倍 12倍。通過這樣，對于重放信號(RF信號)， 能夠確保足夠的SN比，能夠確保為了得到高質(zhì)量的重放信號用的足夠的光通 量，而且利用士l級衍射光得到聚焦誤差信號及物鏡移動信號。所謂上述SN比， 是信號功率與噪聲功率之比，表示信號分量中含有的噪聲量，該值越大，表示性能越好。圖4所示為光檢測器112中的第1、第2及第3受光元件111a lllp的配 置狀態(tài)的簡圖。第K第2及第3受光元件111a lllp配置在光檢測器112上， 光檢測器112設(shè)置在垂直于心柱114的厚度方向的上表面。第l、第2及第3 受光元件111a lllp例如是利用光電二極管實現(xiàn)的光電變換元件，根據(jù)接受
的光，通過光電變換，將光變換為電信號，檢測出雙層光盤104上形成的凹坑 的信號。如圖4所示，將第l受光元件llla llld設(shè)置在光檢測器112的中 心部。然后，將第2受光元件llle及l(fā)llf、與第2受光元件lllg及l(fā)llh沿 軌道(Y)方向排列設(shè)置，使得夾住第l受光元件llla llld。然后，將第3受 光元件llli、 IIU、 lllk、 1111、與第3受光元件lllm、 llln、 lllo、 lllp 沿徑向(X)方向排列設(shè)置，使得夾住前述8個受光元件llla lllh。光檢測器 112相當(dāng)于光檢測部。然后，參照圖l,為了避免與半導(dǎo)體激光芯片109及第1、第2及第3受 光元件111a lllp的外部接觸，安裝帽殼116，使其包圍心柱114。通過這樣， 半導(dǎo)體激光芯片109及第1、第2及第3受光元件111a lllp利用帽殼116進(jìn) 行密封。分光元件113設(shè)置在帽殼116的上面。分光元件113具有相對于Z軸的延 伸方向傾斜45度的長方形的第1反射面113a及第2反射面113b，根據(jù)光的偏 振光方向，使光透射或反射，將來自半導(dǎo)體激光芯片109的出射光(去路光)與 由雙層光盤104產(chǎn)生的反射光(回路光)進(jìn)行分光。即第1反射面113a使得從 半導(dǎo)體激光芯片109向雙層光盤104發(fā)射的徑向(X)方向的直線偏振光的出射 光透過，但將被雙層光盤104反射、利用1/4波片103變換為軌道(Y)方向的 直線偏振光再利用偏光全息圖IIO進(jìn)行衍射的光利用第1反射面113a沿直角 進(jìn)行反射。然后，第2反射面113b將利用第l反射面113a反射的來自雙層光 盤104的反射光沿直角進(jìn)行反射，向配置在光檢測器112的第1、第2及第3 受光元件111a lllp引導(dǎo)。分光元件113相當(dāng)于分光部。運算器117與光檢測器112的第1、第2及第3受光元件111a lllp連接， 根據(jù)從這些受光元件輸出的輸出信號進(jìn)行運算，生成重放信號、主推挽信號(以 下，記作為「MPP信號」)、聚焦誤差信號、物鏡移動信號、跟蹤誤差信號等各 信號。運算器117相當(dāng)于計算部。以下，詳細(xì)敘述上述各信號的生成方法。偏光全息圖110的第1區(qū)域110a 110f的0級衍射光被第1受光元件111a llld接受。將用這些第1受光元件 llla、 lllb、 lllc、 llld檢測的輸出信號分別表示為Sl、 S2、 S3、 S4。然后， 用第1受光元件111a lllp檢測的輸出信號提供給運算器117，計算差動(S1+S2)-(S3+S4)，生成MPP信號。另外，同樣進(jìn)行(S1+S2+S3+S4)的整個衍射 光中的運算，從而得到重放信號(RF信號)。偏光全息圖110的第1區(qū)域110a的-1級衍射光，聚焦在第2受光元件llle 與lllf的分割線上。另外，偏光全息圖110的第2區(qū)域110b的+ l級衍射光， 聚焦在第2受光元件lllg與lllh的分割線上。將用這些第2受光元件llle、 lllf、 lllg、 lllh檢測的輸出信號分別表示為S5、 S6、 S7、 S8。然后，用上 述第2受光元件111e lllh檢測的輸出信號提供給運算器117，計算差動 (S5+S8)-(S6+S7)，利用雙刀口法生成聚焦誤差信號。在上述雙刀口法中，將 偏光全息圖110的第1區(qū)域110a的-1級衍射光及第2區(qū)域110b的+ 1級衍射 光，利用偏光全息圖IIO通過收斂或發(fā)散以縮小在分割線上那樣進(jìn)行調(diào)節(jié)，使 得光均勻入射至各自的第2受光元件llle及l(fā)llf和lllg及l(fā)llh。然后，在 雙層光盤104遠(yuǎn)離時或靠近時，上述各衍射光在某一方的受光元件、即llle 或lllf、或者lllg或lllh上擴(kuò)展，利用它能夠得到聚焦誤差信號。另外，偏 光全息圖110的第1區(qū)域110a的+ 1級衍射光及第2區(qū)域110b的-1級衍射光 不進(jìn)行上述那樣的調(diào)節(jié)，不能充分縮小在受光元件的分割線上。因而，第l區(qū) 域110a的+ 1級衍射光及第2區(qū)域110b的-1級衍射光分別入射至不存在受光 元件的區(qū)域的111A及111B，不能用于生成聚焦誤差信號。這樣，通過利用雙 刀口法算出聚焦誤差信號，從而在光檢測器U2產(chǎn)生位置偏移時，對聚焦誤差 信號也不容易產(chǎn)生偏置，能夠進(jìn)行穩(wěn)定的聚焦控制。偏光全息圖110的第3區(qū)域 第6區(qū)域的110c、 110d、 110e、 110f的-1 級衍射光，分別被第3受光元件llli、 1111、 lllj、 lllk接受。另外，偏光 全息圖110的第3區(qū)域 第6區(qū)域的110c、 110d、 110e、 110f的+l級衍射光， 分別被第3受光元件lllp、 lllm、 lllo、 llln接受。第3受光元件lllk與llln 利用金屬導(dǎo)線等在光檢測器112的內(nèi)部連接，將用各自的受光元件lllk與llln 檢測的輸出相加，提供給運算器117。在第3受光元件lllj與lllo、 1111與 lllm、 llli與lllp中也同樣，將輸出進(jìn)行相加。將這樣相加的(lllk+llln)、 (lllj + lllo)、 (llll+lllm)、 (111i+lllp)的輸出信號分別表示為S9、 SIO、 Sll、 S12。然后，用上述4組的第3受光元件檢測的輸出信號提供給運算器117，計 算差動(S9+S11)-(S10+S12)，生成物鏡移動信號。
在將物鏡105不移動的狀態(tài)的物鏡移動信號設(shè)為(s9+sll)-(sl0+sl2)時， 若物鏡105向徑向(X)方向外側(cè)僅移動AX，則偏光全息圖110中的來自雙層光 盤104的反射光也向徑向(X)方向外側(cè)僅移動AX。因而，由偏光全息圖110的 第4區(qū)域110d及第6區(qū)域110f產(chǎn)生的衍射光的光通量增加，由第3區(qū)域110c 及第5區(qū)域110e產(chǎn)生的衍射光的光通量減少。這時，若設(shè)各區(qū)域中的光通量 的增加量及減少量為Ax，則物鏡移動信號成為(s9+Ax +sll+Ax)-(slO-Ax +sl2-Ax)二(s9+sll)-(slO+sl2)+4Ax。反之，若物鏡向徑向(X)方向內(nèi)側(cè)僅移 動AX，則由偏光全息圖110的第4區(qū)域110d及第6區(qū)域110f產(chǎn)生的衍射光 的光通量減少，由第3區(qū)域110c及第5區(qū)域110e產(chǎn)生的衍射光的光通量增加。 其結(jié)果，物鏡移動信號成為(s9-Ax +sll-Ax)-(slO+厶x +S12+A X) = (s9+sll)-(slO+sl2)-4Ax。由于光通量的增加量及減少量的Ax量與物鏡 105的移動量實質(zhì)上成正比，因此若物鏡105沿徑向(X)方向移動，則由于上述 那樣物鏡移動信號中產(chǎn)生與物鏡105的移動量成正比的輸出變化，因此能夠檢 測出與物鏡105的移動量成正比的信號。另外，跟蹤誤差信號能夠利用運算器117通過計算上述MPP信號與物鏡移 動信號之差{(Sl+S2)-(S3+S4)} - a {(S9+S11)-(S10+S12)}來生成。上述a是表示物鏡移動信號的靈敏度的系數(shù)，該值取決于偏光全息圖110 中的各衍射光的衍射效率、以及光檢測器112的各受光元件的靈敏度。a的值 最好為2 3，該值越小，物鏡移動信號的靈敏度越高。這樣，使用上述得到的推挽信號及物鏡移動信號，進(jìn)行求得跟蹤誤差信號 的運算，通過這樣在單光束的PP法中，不會像DPP法那樣使主光束的光通量 減少，能夠得到更難生成偏置的跟蹤誤差信號。在對于雙層光盤104的第1信息記錄層104a(L0層)或第2信息記錄層 104b(Ll層)，進(jìn)行信息的記錄、重放及刪除中的至少一種操作時，例如，在對 于第l信息記錄層104a(L0層)進(jìn)行信息的記錄、重放及刪除中的至少一種操 作時，存在來自與第1信息記錄層104a不同的其它信息記錄層即第2信息記 錄層104b(Ll層)的反射光入射至光檢測器112上的受光元件111的可能性。 特別是，由于偏光全息圖110中的0級衍射光的光通量與士1級衍射光相比， 為8 12倍大，因此來自第2信息記錄層104b的反射光中的0級衍射光的影
響大。所以，最好將第2及第3受光元件llle lllp如以下那樣配置，使得 來自第2信息記錄層104b的反射光中的0級衍射光不進(jìn)入接受士l級衍射光用 的第2及第3受光元件111e lllp。艮P，設(shè)物鏡105的焦距為fl，耦合透鏡102的焦距為f2，雙層光盤104 的第l信息記錄層104a(L0層)與第2信息記錄層104b(Ll)層的間隔為s,透 光層104c的折射率為n，這時將第2及第3受光元件111e lllp配置在光檢 測器112上的以來自第1信息記錄層104a的反射光中的0級衍射光的光軸作 為中心、半徑R2用(2Xs/n) (f2/fl)表示的圓區(qū)域的外側(cè)。通過這樣配置，在對包含多個信息記錄層104a、 104b的雙層光盤104進(jìn) 行信息的記錄、重放及刪除中的至少一種操作時，能夠防止來自與進(jìn)行信息的 記錄、重放及刪除中的至少一種操作的信息記錄層不同的其它信息記錄層的反 射光入射至第2及第3受光元件llle lllp。因而，能夠進(jìn)行穩(wěn)定的聚焦控制 及跟蹤控制。偏光全息圖IIO相當(dāng)于衍射元件。在本實施形態(tài)中作為雙層光盤104使用的BD如上所述，從第1信息記錄 層104a(L0層)到透光層表面104d的厚度為0. 100mm，從第2信息記錄層 104b(Ll層)到透光層表面104d的厚度為0. 075mm，各信息記錄層104a、畫 與透光層表面104d的間隔(透光層厚度)小。因此，光檢測器112上的來自透 光層表面104d的反射光的面積與透光層厚度為0. 6mm的DVD相比，約為1/8 1/6倍。來自透光層表面104d的反射光對于信號光、即來自第l及第2信息記錄 層104a、 104b的反射光，成為散射光。所謂前述散射光，是由于正規(guī)的折射 及反射以外的因素而產(chǎn)生的對成像及聚焦產(chǎn)生有害作用的光。因此，若如上所 述，光檢測器112上的來自透光層表面104d的反射光的面積約為1/8 1/6倍， 則與DVD相比，因散射光產(chǎn)生的影響的程度成為每單位面積36倍 64倍的大 小。這樣，使用BD時，與使用DVD時相比，存在容易受到來自透光層表面104d 的反射光的影響的問題。特別是，在偏光全息圖IIO的衍射效率為-l級衍射 光O級衍射光+1級衍射光=1: 8: 1 1: 12: 1那樣構(gòu)成的本實施形態(tài)的光 學(xué)拾取頭裝置中，由于±1級衍射光的光通量相對于O級衍射光的光通量非常
少，因此若來自透光層表面104d的反射光入射至接受士l級衍射光的第2及第 3受光元件111e lllp，則散射光對于信號光的影響變得非常大。因而，在使 用±1級衍射光進(jìn)行聚焦控制及跟蹤控制時，存在這些控制不正確的可能性。因此，將第3受光元件111i lllp如以下那樣配置，使得透光層表面104d 的反射光不入射至接受土l級衍射光用的第3受光元件111i lllp。即，設(shè)物鏡105的焦距為fl，耦合透鏡102的焦距為f2，透光層厚度的 最大值為t，透光層104c的折射率為n，這時將第3受光元件111i lllp配 置在光檢測器112上的以來自第l信息記錄層104a的反射光或來自第2信息 記錄層104b的反射光中的0級衍射光的光軸作為中心、半徑R3為(2Xt/n) X (f2/fl)的圓區(qū)域的外側(cè)。通過這樣，由于能夠減少利用第3受光元件111i lllp的雙層光盤104 的透光層表面104d的反射光的受光量，因此即使在使用透光層厚度小的光記 錄介質(zhì)時，也能夠減小因光記錄介質(zhì)的透光層表面的反射光而引起的散射光的 影響的程度，即使在使用土l級衍射光來進(jìn)行聚焦控制及跟蹤控制時，也能夠 正確進(jìn)行這些控制。另外，所謂透光層厚度的最大值t，是表示從光入射側(cè)來看，透光層表面 104d與處于最遠(yuǎn)離的位置的信息記錄層的間隔，在本實施形態(tài)中，是透光層表 面104d與第1信息記錄層104a(L0層)的間隔的0. lmm。在決定上述第3受光元件111i lllp的配置位置時，作為使用透光層厚 度的最大值t的理由，是由于在考慮透光層表面104d的反射光在光檢測器112 上的大小的情況下，透光層厚度大的信息記錄層、在本實施形態(tài)中為第l信息 記錄層104a(L0層)重放時，與透光層厚度小的信息記錄層、在本實施形態(tài)中 為第2信息記錄層104b(Ll層)重放時相比，光檢測器112上的來自透光層表 面104d的反射光的大小比較大，因散射光產(chǎn)生的影響比較大。因此，通過使 用透光層厚度的最大值t，能夠更確實得到上述效果。另外，將第2受光元件111e lllh也最好配置在光檢測器112上的以來 自第l信息記錄層104a的反射光或來自第2信息記錄層104b的反射光中的0 級衍射光的光軸作為中心、半徑R3為(2Xt/n) X (f2/fl)的圓區(qū)域的外側(cè)。通過這樣，由于能夠減少利用第2受光元件111e lllh的雙層光盤104
的透光層表面104d的反射光的受光量，因此即使在使用透光層厚度小的光記錄介質(zhì)時，也能夠更進(jìn)一歩減小因光記錄介質(zhì)的透光層表面的反射光而引起的 散射光的影響的程度，即使在使用士l級衍射光來進(jìn)行聚焦控制及跟蹤控制時， 也能夠更正確進(jìn)行控制。在本發(fā)明中，雖然最好將第2受光元件llle lllh及第3受光元件llli lllp都配置在半徑R3為(2Xt/n) X (f2/fl)的圓區(qū)域的外側(cè)，但是只要至少將 第3受光元件111i lllp如上述那樣配置即可。以下敘述該理由。在對第2受光元件111e lllh入射透光層表面104d的 反射光時，若設(shè)因前述反射光通量而引起的輸出信號的變化量為A，則聚焦誤 差信號用(S5+AA+S8+AB)-(S6+AC+S7+AD)表示。這時，由于AA"AC, AB "△D，所以能夠抵消因透光層表面104d的反射光所產(chǎn)生的散射光而引起的影 響。另一方面，假定在對第3受光元件111i lllp入射透光層表面104d的反 射光時，若設(shè)因前述反射光通量而引起的輸出信號的變化量為A，則物鏡移動 信號用(S9+AE+S11+AF)-(S10+AG+S12+AH)表示。這時，相對于AE、 AF來 說，AG、 AH的增減變成相反。即，由于AE、 AF的值為正時，AG、 AH的 值變?yōu)樨?fù)；AE、 AF的值為負(fù)時，厶G、 AH的值變?yōu)檎?，因此因透光層表?104d的反射光所產(chǎn)生的散射光而引起的影響沒有被抵消。所以，在物鏡移動時， 透光層表面104d的反射光的位置在第2及第3受光元件111e lllp上移動的 情況下，與聚焦誤差信號相比，物鏡移動信號中容易產(chǎn)生偏置。因而，最好至 少將第3受光元件配置在半徑R3為(2Xt/n) X (f2/f 1)的圓區(qū)域的外側(cè)。另外，第2受光元件llle lllh與第3受光元件llli lllp相比，雖然 不容易受到因透光層表面104d的反射光所產(chǎn)生的散射光而引起的影響，但在 透光層厚度以100tim為中心產(chǎn)生數(shù)um誤差時，能發(fā)現(xiàn)受光元件上的透光層表 面104d的反射光的大小及強(qiáng)度產(chǎn)生誤差，存在對聚焦誤差信號產(chǎn)生干擾的可 能性。因而，最好將第2受光元件llle lllh及第3受光元件llli lllp都 配置在半徑R3為(2Xt/n) X (f2/fl)的圓區(qū)域的外側(cè)。另外，在上述構(gòu)成中，是在第2及第3受光元件llle lllp中，只要至 少設(shè)定第3受光元件111i lllp的配置位置即可，但也可以是僅將第2受光
元件111e lllh配置在半徑R3為(2Xt/n) X (f2/f 1)的圓區(qū)域的外側(cè)而構(gòu)成。 通過這樣，由于能夠減少利用第2受光元件111e lllh的雙層光盤104的透 光層表面104d的反射光的受光量，因此即使在使用透光層厚度小的光記錄介 質(zhì)時，也能夠減小因光記錄介質(zhì)的透光層表面的反射光而引起的散射光的影響 的程度，即使在使用土l級衍射光來進(jìn)行聚焦控制及跟蹤控制時，也能夠正確 進(jìn)行控制。以下，說明光學(xué)拾取頭裝置ioo的動作。從半導(dǎo)體激光芯片109出射的徑向(X)方向的直線偏振光，透過分光元件 113的第1反射面113a，從光集成化單元101出射。出射的光利用耦合透鏡102 形成實質(zhì)上平行光，由利用1/4波片103變換成圓偏振光后，入射至物鏡105， 利用物鏡105聚焦照射在雙層光盤104上。聚焦照射的光透過雙層光盤104的 透光層104c，聚焦在第l信息記錄層104a(L0層)或第2信息記錄層104b(Ll 層)上。然后，被雙層光盤104的第1信息記錄層104a或第2信息記錄層104b 反射的圓偏振光，再次透過物鏡105，利用1/4波片103變換成軌道(Y)方向的 直線偏振光后，透過耦合透鏡102，入射至光集成化單元101。入射至光集成 化單元101的光利用偏光全息圖110的第1區(qū)域110a 第6區(qū)域進(jìn)行衍射而分 成0級衍射光及士1級衍射光，形成共計13個衍射光。這些衍射光利用分光元 件113的第1反射面113a及第2反射面113b分別沿直角進(jìn)行反射，向配置在 光檢測器112上的第1、第2及第3受光元件llla lllp引導(dǎo)。然后，利用運 算器117如以下所示那樣，生成重放信號、MPP信號、聚焦誤差信號、物鏡移 動信號、跟蹤誤差信號等，根據(jù)這些信號，利用未圖示的控制部進(jìn)行聚焦控制 及跟蹤控制。(第2實施形態(tài))在第l實施形態(tài)的光學(xué)拾取頭裝置100中，規(guī)定了第3受光元件llli lllp 的配置位置，使得透光層表面104d的反射光不入射至接受士l級衍射光用的第 3受光元件111i lllp。但是，也有時因光檢測器112的組件尺寸的限制，不 能將第3受光元件111i lllp配置在規(guī)定的位置。本發(fā)明的第2實施形態(tài)的光學(xué)拾取頭裝置200，能夠應(yīng)對上述那樣的情況，通過縮小光檢測器112上的、透光層表面104d的反射光的大小，從而減小透 光層表面104d的反射光對聚焦誤差信號及跟蹤誤差信號產(chǎn)生的影響，能夠正 確進(jìn)行聚焦控制及跟蹤控制。以下，說明本發(fā)明的第2實施形態(tài)的光學(xué)拾取頭裝置200。在本發(fā)明的第 2實施形態(tài)的光學(xué)拾取頭裝置200中，除了對光集成化單元101新設(shè)置開口限 制元件201這一點以外，與第l實施形態(tài)相同。以下，對于與第l實施形態(tài)相 同的部分，附加同一標(biāo)號，并省略說明。開口限制元件201相當(dāng)于開口限制部。圖5所示為將本發(fā)明的第2實施形態(tài)的光學(xué)拾取頭裝置200簡化后的構(gòu)成 圖，圖6所示為開口限制元件201的構(gòu)成的簡圖。在光學(xué)拾取頭裝置200中，如圖5所示，偏光全息圖IIO設(shè)置在玻璃基板 115的上部，在偏光全息圖IIO的上面和玻璃基板115的上面，設(shè)置開口限制 元件201。這樣，偏光全息圖110與開口限制元件201形成一體化而構(gòu)成。開口限制元件201是將雙層光盤104的透光層表面104d的反射光的外周 部分進(jìn)行遮光的元件，如圖6所示，包含遮光部201a及圓孔201b而構(gòu)成。圓 孔201b相當(dāng)于幵口。作為將透光層表面104d的反射光的外周部分進(jìn)行遮光的理由，是由于雙 層光盤104的透光層表面104d的反射光是來自比第1信息記錄層104a(L0層) 或第2信息記錄層104b(Ll層)更接近光檢測器112的位置的反射光，因此利 用從物鏡105返回光檢測器112的回路的光學(xué)系統(tǒng)沒有被縮小為一點。因此， 不能使用能夠僅將散射光分量進(jìn)行遮光的遮光膜等。另外，由于透光層表面 104d的反射光與信號光即來自第l信息記錄層104a(L0層)或第2信息記錄層 104b(Ll)層的返回光(反射光)形成同一光軸，因此將來自透光層表面104d的 反射光的外周部分進(jìn)行遮光的方法，能夠最有效地減小透光層表面104d的反 射光的大小。遮光部201a是相對于圓孔201b在單側(cè)形成凸出形狀的膜狀或板狀的構(gòu)件。這樣，通過開口限制元件201與偏光全息圖IIO形成為一體化，相對于圓 孔201b至少在一個方向是非對稱形狀，從而能夠省去對偏光全息圖110及開 口限制元件201的位置各自分別進(jìn)行調(diào)整的時間，提高操作性。另外，能夠容
易進(jìn)行偏光全息圖110對于光學(xué)拾取頭裝置200沿上下方向及左右方向的移 動、以及正反的判別，提高操作性。作為遮光部201a的構(gòu)成材料，如果是能夠?qū)㈦p層光盤104的透光層表面 104d的反射光進(jìn)行遮光的材料，則沒有特別限定，例如可以舉出有在鋁蒸鍍后 進(jìn)行黑色氧化鋁膜處理的材料等。另外，作為遮光部201a，在使用反射膜時，由于存在反射膜的反射光成為 散射光的成因的可能性，因此最好是能夠吸收從光源的半導(dǎo)體激光芯片109出 射的振蕩波長為405nni的藍(lán)紫光的材料、例如黑色鉻等。另外，在上述構(gòu)成中，使開口限制元件201的形狀是相對于圓孔201b在 單側(cè)是凸出形狀而構(gòu)成，但不是特別限定于此，只要是相對于圓孔201b至少 在一個方向是非對稱形狀即可。另外，在上述構(gòu)成中，幵口限制元件201是與 偏光全息圖IIO形成一體化，但不是特別限定于此，也可以沒有形成一體化。 在這種情況下，開口限制元件201的形狀也可以相對于圓孔201b是對稱的形 狀，例如是矩形。圓孔201b是設(shè)置在開口限制元件201的中心部的圓形孔，是為了使信號 光透過而設(shè)置的。圓孔201b的大小是這樣設(shè)定，使得雙層光盤104的透光層表面104d的反 射光不入射至第3受光元件111i lllp。如上所述，第3受光元件111i lllp與第2受光元件111e lllh相比， 容易受到因透光層表面104d的反射光所產(chǎn)生的散射光而引起的影響。因而， 通過上述那樣設(shè)定圓孔201b的大小，由于能夠減少利用第3受光元件111i lllp的雙層光盤104的透光層表面104d的反射光的受光量，因此即使在使用 透光層厚度小的光記錄介質(zhì)時，也能夠減小因光記錄介質(zhì)的透光層表面的反射 光而引起的散射光的影響的程度，即使在使用士l級衍射光來進(jìn)行聚焦控制及 跟蹤控制時，也能夠正確進(jìn)行控制。另外如上所述，在透光層厚度以lOOura為中心產(chǎn)生數(shù)um誤差時，能發(fā)現(xiàn) 受光元件上的透光層表面104d的反射光的大小及強(qiáng)度產(chǎn)生誤差，存在對聚焦 誤差信號產(chǎn)生干擾的可能性。因而，更加好的是這樣設(shè)定圓孔201b的大小，使得雙層光盤104的透光
層表面104d的反射光不入射至第2受光元件111e lllh及第3受光元件 111i lllp。通過這樣，即使在使用透光層厚度小的光記錄介質(zhì)時，也能夠更進(jìn)一步減 小因光記錄介質(zhì)的透光層表面的反射光而引起的散射光的影響的程度，即使在 使用±1級衍射光來進(jìn)行聚焦控制及跟蹤控制時，也能夠更正確進(jìn)行控制。另外，在上述構(gòu)成中，將圓孔201b的大小設(shè)定為使得雙層光盤104的 透光層表面104d的反射光在第2及第3受光元件111e lllp中至少不入射至 第3受光元件111i lllp,但也可以設(shè)定為僅不入射至第2受光元件111e lllh而構(gòu)成。通過這樣，由于能夠減少利用第2受光元件llle lllh的雙層 光盤104的透光層表面104d的反射光的受光量，因此即使在使用透光層厚度 小的光記錄介質(zhì)時，也能夠減小因光記錄介質(zhì)的透光層表面的反射光而引起的 散射光的影響的程度，即使在使用士l級衍射光來進(jìn)行聚焦控制及跟蹤控制時， 也能夠正確進(jìn)行控制。另外，最好將圓孔201b的大小設(shè)定為使得光檢測器112上的雙層光盤 104的透光層表面104d的反射光的大小，大于能夠包括第1受光元件111a llld的最小的圓區(qū)域。艮口，最好使得光檢測器112上的、來自透光層表面104d的反射光的半徑， 大于能夠包括第1受光元件111a llld的最小的圓的半徑Rl。使得來自透光層表面104d的反射光不入射至第1受光元件111a llld是 不可能的。因此，通過上述那樣設(shè)定圓孔201b的大小，能夠使得第l受光元 件111a llld上的、來自透光層表面104d的反射光通量沒有大的變化。因而， 即使在物鏡105移動時，也能夠得到偏置少的MPP信號。另外，在上述構(gòu)成中，圓孔201b是構(gòu)成為圓形而，但不是特別限定于比， 只要是能夠?qū)⑼腹鈱颖砻?04d的反射光的外周部分進(jìn)行遮光的形狀即可。在 這種情況下，例如可以舉出有橢圓形或多邊形等。作為設(shè)置開口限制元件201的位置，不限定于上述構(gòu)成，只要是設(shè)置在光 檢測器112與耦合透鏡102之間的光路中而構(gòu)成即可。作為設(shè)置開口限制元件 201的位置，可以舉出有設(shè)置在偏光全息圖110與耦合透鏡102之間的光路中 或偏光全息圖110與分光元件113之間的光路中而構(gòu)成等，但最好滿足以下的條件。信號光即來自第1信息記錄層104a(L0層)或第2信息記錄層104b(Ll)層 的返回光(反射光)的光束直徑、與透光層表面104d的反射光的光束直徑，越 靠近光檢測器112—側(cè)，其差越變大。因而，若考慮到光束直徑之差，想要將 透光層104c的反射光的外周部分高效率地進(jìn)行遮光，則最好設(shè)置開口限制元 件201，使其位于更靠近光檢測器112的位置。但是，若將開口限制元件201 設(shè)置在光檢測器112的附近、例如光檢測器112與分光元件113之間等，則存 在來自偏光全息圖110的±1級衍射光被遮光部201a遮光的可能性。另外，若將開口限制元件201設(shè)置在耦合透鏡102的附近，則存在信號光 即來自第l信息記錄層104a(L0層)或第2信息記錄層104b(Ll)層的返回光(反 射光)、與透光層表面104d的反射光不能完全分離的可能性。若考慮到上述問題，則作為設(shè)置開口限制元件201的位置，在設(shè)耦合透鏡 102的焦距為f2時，最好是從半導(dǎo)體激光芯片109的光出射口的、沿著面向耦 合透鏡102的中心的方向的距離d為0. 25Xf2以上到0. 50Xf2以下之間的位 置。以下，說明半導(dǎo)體激光芯片109的光出射口與開口限制元件201的距離d 及開口限制元件201的圓孔201b的半徑(以下，記作為「孔徑」)的大小的設(shè) 定方法。圖7所示為設(shè)物鏡105的焦距f 1為1. 18mm、耦合透鏡102的焦距f2 為15.4ram時在半導(dǎo)體激光芯片109的光出射口與開口限制元件201的距離d 為不同的情況下、開口限制元件201的孔徑大小與光檢測器112上的光束尺寸 的關(guān)系的曲線。在圖7所示的曲線中，橫軸表示開口限制元件201的孔徑大小，縱軸表示 光檢測器112上的光束尺寸。另外，圖7所示的6條曲線a f表示半導(dǎo)體激 光芯片109的光出射口與開口限制元件201的距離d在不同的情況下的曲線， a表示距離d是4mm時的曲線，b表示距離d是5mm時的曲線，c表示距離d是 6mm時的曲線，d表示距離d是7mm時的曲線，e表示距離d是8mm時的曲線， f表示距離d是9mm時的曲線。例如，在距離d是5mm的情況下，在想要將光檢測器112上的光束尺寸的 半徑調(diào)整為O. 4mm時，則如曲線b所示，只要將孔徑設(shè)定為約0. 55mm即可。 另外，在如曲線a f所示那樣距離d不同時，分別設(shè)定雙層光盤104的 透光層表面104d的反射光、信號光不被遮光那樣的孔徑的最小值。因此，開 口限制元件201越靠近耦合透鏡102，即距離d的值越大，則光檢測器112上的光束尺寸的最小值增大。例如，在距離d是9mm時，由于能夠設(shè)定的孔徑的最小值為0.8ram，因此 如曲線f所示，不能將光檢測器112上的光束尺寸調(diào)整為0. 52nmi以下。因而， 為了減小光檢測器112上的光束尺寸，最好盡可能減小距離d。若考慮到上述這一點，則在設(shè)物鏡105的焦距fl為1. 18mm、耦合透鏡102 的焦距f2為15.4mm時，為了使光檢測器112上的光束尺寸為0. 4ram以下，最 好將半導(dǎo)體激光芯片109的光出射口與開口限制元件201的距離d設(shè)定在4mm 以上、7mm以下的范圍內(nèi)。另外，開口限制元件201的孔徑大小最好如上述那 樣適當(dāng)設(shè)定，使得在上述距離d的范圍內(nèi)，成為所希望的光束尺寸。這時，為了使雙層光盤104的透光層104c的反射光不入射至第3受光元 件llli lllp，設(shè)定開口限制元件201的孔徑大小，使得光檢測器112上的、 透光層表面104d的反射光的半徑大小小于第3受光元件111i lllp與光檢測 器112上的信號光的0級衍射光的光軸中心的距離。再有，最好設(shè)定開口限制元件201的孔徑大小，使得光檢測器112上的、 透光層表面104d的反射光的半徑大小大于能夠包括第1受光元件111a llld 的最小的圓的半徑R1。另外，在上述構(gòu)成中，敘述了在設(shè)物鏡105的焦距fl為1. 18mm、耦合透 鏡102的焦距f2為15. 4rom時的距離d及孔徑大小的設(shè)定方法，但即使在上述 焦距fl及f2為不同值時，也能夠通過使用同樣的方法，來設(shè)定距離d及孔徑 大小。如上所述，本發(fā)明的光學(xué)拾取頭裝置100、 200，具備半導(dǎo)體激光芯片109; 將來自半導(dǎo)體激光芯片109的光束聚焦在雙層光盤104的第1或第2信息記錄 層104a、 104b上的物鏡105;設(shè)置在半導(dǎo)體激光芯片109與物鏡105之間的耦 合透鏡102;設(shè)置在半導(dǎo)體激光芯片109與耦合透鏡102之間，并將來自雙層 光盤104的反射光進(jìn)行衍射而分成0級衍射光及土l級衍射光的偏光全息圖 110;包含接受O級衍射光的第1受光元件111a llld、以及接受士l級衍射 光的第2受光元件111e lllh及第3受光元件111i lllp的光檢測器112; 將來自偏光全息圖110的衍射光，向第1 第3受光元件llla lllp引導(dǎo)的分 光元件113;以及計算器117，該計算器117根據(jù)第l受光元件llla llld的 輸出信號生成重放信號及推挽信號，并根據(jù)第2受光元件111e lllh的輸出 信號生成聚焦誤差信號，并且根據(jù)第3受光元件111i lllp的輸出信號生成 物鏡移動信號。通過這樣，能夠從包含第1 第3受光元件111a lllp的1個光檢測器 112得到重放信號、推挽信號、聚焦誤差信號及物鏡移動信號，能夠使裝置小 型化。另外，由于能夠使用來自雙層光盤104的反射光中的0級衍射光及土1 級衍射光，得到上述各信號，因此能夠得到高的光利用效率。然后，在光學(xué)拾取頭裝置100中，設(shè)物鏡105的焦距為fl，耦合透鏡102 的焦距為f2，透光層厚度的最大值為t，透光層104c的折射率為n，這時將第 3受光元件llli lllp配置在光檢測器112上的以0級衍射光的光軸作為中心、 半徑(2Xt/n) X (f2/fl)的圓區(qū)域的外側(cè)。通過這樣，由于能夠減少利用第3受光元件111i lllp的雙層光盤104 的透光層表面104d的反射光的受光量，因此即使在使用透光層厚度小的光記 錄介質(zhì)時，也能夠減小因光記錄介質(zhì)的透光層表面的反射光而引起的散射光的 影響的程度，即使在使用士l級衍射光來進(jìn)行聚焦控制及跟蹤控制時，也能夠 正確進(jìn)行這些控制。另外，在光學(xué)拾取頭裝置100中，也可以將第2受光元件llle lllh配 置在光檢測器112上的以0級衍射光的光軸作為中心、半徑(2Xt/n)X (f2/fl) 的圓區(qū)域的外側(cè)。通過這樣，由于能夠減少利用第2受光元件llle lllh的 雙層光盤104的透光層表面104d的反射光的受光量，因此即使在使用透光層 厚度小的光記錄介質(zhì)時，也能夠減小因光記錄介質(zhì)的透光層表面的反射光而引 起的散射光的影響的程度，即使在使用土l級衍射光來進(jìn)行聚焦控制及跟蹤控 制時，也能夠正確進(jìn)行控制。另外，在第3受光元件111i lllp因光檢測器112的尺寸的限制等而不 能如上述那樣配置時，在光學(xué)拾取頭裝置200中，對上述光學(xué)拾取頭裝置100 的構(gòu)成再設(shè)置開口限制元件201 ，該開口限制元件201設(shè)置在光檢測器112與
耦合透鏡102之間的光路中，將雙層光盤104的透光層表面104d的反射光的 外周部分進(jìn)行遮光，開口限制元件201設(shè)置圓孔201b，圓孔201b的大小是這 樣設(shè)定，使得雙層光盤104的透光層表面104d的反射光不入射至第3受光元 件111i lllp。通過這樣，由于能夠減少利用第3受光元件111i lllp的雙 層光盤104的透光層表面104d的反射光的受光量，因此即使在使用透光層厚 度小的光記錄介質(zhì)時，也能夠減小因光記錄介質(zhì)的透光層表面的反射光而引起 的散射光的影響的程度，即使在使用土l級衍射光來進(jìn)行聚焦控制及跟蹤控制 時，也能夠正確進(jìn)行控制。另外，在本實施形態(tài)中，是將半導(dǎo)體激光芯片109及光檢測器112設(shè)置在 心柱114上、并利用帽殼116進(jìn)行密封而構(gòu)成，但不是特別限定于此，例如也 可以是使用露出在外部的狀態(tài)的單體的半導(dǎo)體激光芯片109、及組件化的光檢 測器112而構(gòu)成。圖8所示為信息記錄重放裝置即驅(qū)動器裝置10的構(gòu)成方框圖。驅(qū)動器裝 置10能夠?qū)庥涗浗橘|(zhì)、例如BD等雙層光盤104記錄信息，能夠重放光記錄 介質(zhì)中記錄的信息。驅(qū)動器裝置IO是這樣構(gòu)成，即包含光學(xué)拾取頭裝置IOO或200;運算電路部ll;重放電路部12;控制電路部13;輸入裝置14;聚焦伺服用執(zhí)行器15;跟蹤伺服用執(zhí)行器16、以及主軸電動機(jī)17。在光學(xué)拾取頭裝置100或200中，根據(jù)來自控制電路部13的指令，從光 源即半導(dǎo)體激光芯片109出射的光，通過耦合透鏡102、 1/4波片103、物鏡 105，聚焦在光記錄介質(zhì)即雙層光盤104的第1信息記錄層104a或第2信息記 錄層104b上。然后，用雙層光盤104反射的光入射至光集成化單元101，利用 偏光全息圖110進(jìn)行衍射而分成0級衍射光及土1級衍射光。這些衍射光被光 檢測器112的第1、第2及第3受光元件111a lllp接受，利用來啟各受光元 件的輸出信號，生成重放信號、MPP信號、聚焦誤差信號、物鏡移動信號及跟 蹤誤差信號等。將這些信號向運算電路部ll輸出。運算電路部11根據(jù)從光學(xué)拾取頭裝置100或200供給的前述各信號，生 成重放雙層光盤104中記錄的信息用的數(shù)據(jù)檢測信號，將生成的數(shù)據(jù)檢測信號 向重放電路部12輸出。另外運算電路部ll檢測聚焦誤差信號，同時檢測跟蹤 誤差信號。然后，運算電路部ll將聚焦誤差信號及跟蹤誤差信號向控制電路
部13輸出。重放電路部12將從運算電路部ll輸出的數(shù)據(jù)檢測信號進(jìn)行平均化(均衡) 處理后，變換成數(shù)字信號。然后，進(jìn)行糾錯處理等，將信號進(jìn)行解調(diào)，將解調(diào) 的信號作為重放信號，向揚聲器等外部的輸出裝置輸出?？刂齐娐凡?3根據(jù)從運算電路部11輸出的聚焦誤差信號，控制聚焦伺服 用執(zhí)行器15，使光學(xué)拾取頭裝置100或200的物鏡105沿Z軸方向移動，進(jìn)行 調(diào)整光束光點的聚焦位置的聚焦控制，使得激光的光束光點的焦點落在雙層光 盤104的第l信息記錄層104a或第2信息記錄層104b上。另外，控制電路部 13根據(jù)從運算電路部11輸出的跟蹤誤差信號，控制跟蹤伺服用執(zhí)行器16，使 光學(xué)拾取頭裝置100或200的物鏡105的位置沿雙層光盤104的徑向(X)方向 移動，進(jìn)行調(diào)整光束光點與軌道的位置關(guān)系的跟蹤控制，使得激光的光束光點 跟蹤雙層光盤104的信息記錄層上的軌道。另外，控制電路部13根據(jù)由輸入裝置14輸入的指令，從半導(dǎo)體激光芯片 109將光出射，同時控制主軸電動機(jī)17，使雙層光盤以規(guī)定的速度旋轉(zhuǎn)。這樣，本發(fā)明的驅(qū)動器裝置10，通過具備本發(fā)明的光學(xué)拾取頭裝置100或 200，在使用透光層厚度小的光記錄介質(zhì)時，即使在使用土l級衍射光來進(jìn)行聚 焦控制及跟蹤控制的情況下，也能夠?qū)崿F(xiàn)能夠穩(wěn)定正確地進(jìn)行這些控制的驅(qū)動 器裝置。本發(fā)明在不超出其精神或主要特征的情況下，能夠以其它的各種形態(tài)實 施。因而，前述實施形態(tài)在所有方面不過僅是舉例表示，本發(fā)明的范圍是權(quán)利 要求的范圍所示的范圍，不受說明書正文的任何約束。再有，屬于權(quán)利要求范 圍的變形或變更，全部是本發(fā)明的范圍內(nèi)的內(nèi)容。
權(quán)利要求
1. 一種光學(xué)拾取頭裝置，用于對具有記錄信息用的信息記錄層及透光層的光記錄介質(zhì)進(jìn)行信息的記錄、重放及刪除中的至少一種，其特征在于，具備光源；使來自光源的光束聚焦在光記錄介質(zhì)的信息記錄層上的物鏡；設(shè)置在光源與物鏡之間的耦合透鏡；設(shè)置在光源與耦合透鏡之間，并將來自光記錄介質(zhì)的反射光進(jìn)行衍射而分成0級衍射光及±1級衍射光的衍射元件；包含接受0級衍射光的第1受光元件、以及接受±1級衍射光的第2受光元件及第3受光元件的光檢測部；將來自衍射元件的衍射光向第1受光元件、第2受光元件及第3受光元件引導(dǎo)的分光部；以及計算部，該計算部根據(jù)第1受光元件的輸出信號生成重放信號及推挽信號，并根據(jù)第2受光元件的輸出信號生成聚焦誤差信號，并且根據(jù)第3受光元件的輸出信號生成物鏡移動信號，設(shè)物鏡的焦距為f1，耦合透鏡的焦距為f2，透光層厚度的最大值為t，透光層的折射率為n，這時將第3受光元件配置在光檢測部上的以0級衍射光的光軸作為中心、半徑(2×t/n)×(f2/f1)的圓區(qū)域的外側(cè)。
2. 如權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾取頭裝置，其特征在于， 衍射元件的衍射效率這樣構(gòu)成使得0級衍射光的光通量相對于土1級衍射光的各自的光通量成為8倍 12倍。
3. 如權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾取頭裝置，其特征在于， 衍射元件這樣構(gòu)成利用與光記錄介質(zhì)的半徑方向平行的3個分割線分割成第1區(qū)域、第2區(qū)域、以及另外的2個區(qū)域，再將另外的2個區(qū)域利用與對 于光記錄介質(zhì)上形成的軌道的切線方向平行的分割線分別進(jìn)行2分割，形成第 3區(qū)域、第4區(qū)域、第5區(qū)域、第6區(qū)域，從而具有6個區(qū)域， 計算部根據(jù)基于第1區(qū)域、第2區(qū)域、第3區(qū)域、第4區(qū)域、第5區(qū)域及 第6區(qū)域中的0級衍射光的第1受光元件的輸出信號，生成推挽信號，根據(jù)基 于第3區(qū)域、第4區(qū)域、第5區(qū)域及第6區(qū)域中的土l級衍射光的第3受光元 件的輸出信號，生成物鏡移動信號，根據(jù)推挽信號與物鏡移動信號之差，計算 跟蹤誤差信號。
4. 如權(quán)利要求l所述的光學(xué)拾取頭裝置，其特征在于，將第2受光元件配置在光檢測部上的以0級衍射光的光軸作為中心、半徑 (2Xt/n) X (f2/fl)的圓區(qū)域的外側(cè)。
5. —種光學(xué)拾取頭裝置，用于對具有記錄信息用的信息記錄層及透光層的 光記錄介質(zhì)，進(jìn)行信息的記錄、重放及刪除中的至少一種，其特征在于，具備光源；使來自光源的光束聚焦在光記錄介質(zhì)的信息記錄層上的物鏡； 設(shè)置在光源與物鏡之間的耦合透鏡；設(shè)置在光源與耦合透鏡之間，并將來自光記錄介質(zhì)的反射光進(jìn)行衍射而分 成0級衍射光及士l級衍射光的衍射元件；包含接受0級衍射光的第1受光元件、以及接受土l級衍射光的第2受光 元件及第3受光元件的光檢測部；將來自衍射元件的衍射光向第l受光元件、第2受光元件及第3受光元件 引導(dǎo)的分光部；以及計算部，該計算部根據(jù)第l受光元件的輸出信號生成重放信號及推挽信號， 并根據(jù)第2受光元件的輸出信號生成聚焦誤差信號，并且根據(jù)第3受光元件的 輸出信號生成物鏡移動信號，設(shè)物鏡的焦距為fl，耦合透鏡的焦距為f2，透光層厚度的最大值為t，透 光層的折射率為n，這時將第2受光元件配置在光檢測部上的以0級衍射光的 光軸作為中心、半徑(2Xt/n)X(f2/fl)的圓區(qū)域的外側(cè)。
6. —種光學(xué)拾取頭裝置，用于對具有記錄信息用的信息記錄層及透光層的 光記錄介質(zhì)，進(jìn)行信息的記錄、重放及刪除中的至少一種，其特征在于，具備 光源；使來自光源的光束聚焦在光記錄介質(zhì)的信息記錄層上的物鏡； 設(shè)置在光源與物鏡之間的耦合透鏡；設(shè)置在光源與耦合透鏡之間，并將來自光記錄介質(zhì)的反射光進(jìn)行衍射而分 成0級衍射光及土l級衍射光的衍射元件；包含接受0級衍射光的第l受光元件、以及接受土1級衍射光的第2受光 元件及第3受光元件的光檢測部；將來自衍射元件的衍射光，向第l受光元件、第2受光元件及第3受光元 件引導(dǎo)的分光部；設(shè)置在光檢測部與耦合透鏡之間的光路中，并將光記錄介質(zhì)的透光層表面 的反射光的外周部分進(jìn)行遮光的開口限制部；以及計算部，該計算部根據(jù)第l受光元件的輸出信號生成重放信號及推挽信號， 并根據(jù)第2受光元件的輸出信號生成聚焦誤差信號，并且根據(jù)第3受光元件的 輸出信號生成物鏡移動信號，開口限制部設(shè)置開口，并將開口的大小設(shè)定為使得光記錄介質(zhì)的透光層 表面的反射光不入射至第3受光元件。
7. 如權(quán)利要求6所述的光學(xué)拾取頭裝置，其特征在于，將開口的大小設(shè)定為使得光檢測部上的光記錄介質(zhì)的透光層表面的反射 光的大小，大于能夠包括第l受光元件的最小的圓區(qū)域。
8. 如權(quán)利要求6所述的光學(xué)拾取頭裝置，其特征在于， 開口限制部與衍射元件形成一體化，相對于開口至少一個方向是非對稱形狀。
9. 一種驅(qū)動器裝置，其特征在于， 具有權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾取頭裝置。
10. —種驅(qū)動器裝置，其特征在于， 具有權(quán)利要求5所述的光學(xué)拾取頭裝置。
11. 一種驅(qū)動器裝置，其特征在于， 具有權(quán)利要求6所述的光學(xué)拾取頭裝置。
全文摘要
本發(fā)明提供光學(xué)拾取頭裝置及具有該光學(xué)拾取頭裝置的驅(qū)動器裝置。設(shè)物鏡(105)的焦距為f1，耦合透鏡(102)的焦距為f2，透光層厚度的最大值為t，透光層(104c)的折射率為n，這時將接受來自偏光全息圖(110)的±1級衍射光的第2受光元件(111e～111h)或第3受光元件(111i～111p)配置在光檢測器(112)上的以0級衍射光的光軸作為中心、半徑(2×t/n)×(f2/f1)的圓區(qū)域的外側(cè)。
文檔編號G11B7/135GK101399061SQ20081021361
公開日2009年4月1日 申請日期2008年8月22日 優(yōu)先權(quán)日2007年9月27日
發(fā)明者宮崎修 申請人:夏普株式會社